JPH01173173A - Recognizing device containing position correcting function - Google Patents

Recognizing device containing position correcting function

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JPH01173173A
JPH01173173A JP62332037A JP33203787A JPH01173173A JP H01173173 A JPH01173173 A JP H01173173A JP 62332037 A JP62332037 A JP 62332037A JP 33203787 A JP33203787 A JP 33203787A JP H01173173 A JPH01173173 A JP H01173173A
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JP
Japan
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chip
recognition
window frame
image
center
Prior art date
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Pending
Application number
JP62332037A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kunihiro Nishiyama
西山 國裕
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP62332037A priority Critical patent/JPH01173173A/en
Publication of JPH01173173A publication Critical patent/JPH01173173A/en
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To obtain the center between recognizing objects and to automatically lead a chip into a window frame by inverting the logic of the binary level of an image signal. CONSTITUTION:A converting part 15 converts the image signal received from a taking-in device into a black/white binary level. An image arithmetic processing part 16 gives an arithmetic operation to the converted digital signal and obtains the center between two recognizing objects from the pattern information received previously. A data inverting part 21 inverts selectively the logic of the binarized image signal inputted to th part 16. In case no chip is included in a window frame, the recognizing object is changed into a street from a chip with inversion of the logic of the binarized image signal inputted to the part 16. Then the position correction data is obtained based on the obtained data. Thus the chip is moved into the window frame with position correction and the position of the chip can be automatically corrected at the time of first position.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体チップ(以下チップと略す)等の中心
位置、不良マーク、ワレなどを認識する認識装置におい
て、認識対象物を認識範囲内に導く位置補正機能を備え
た認識装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention is a recognition device that recognizes the center position, defective marks, cracks, etc. of a semiconductor chip (hereinafter abbreviated as a chip), etc., in which a recognition target is guided into a recognition range. The present invention relates to a recognition device equipped with a position correction function.

従来の技術 近年、半導体関係の発達は特にめざましく、メモリーI
CEみるように超高集積化に一段と拍車がかかっている
。又、一方で、専用回路を集積化し他の素子と組み合わ
せたハイブリッドICの生産も多く、チップを基板上に
装着するボンディング技術と共にチップの中心位置、良
・不良、ワレなどを自動的に認識する認識技術が重要視
されて来ている。。
Conventional technology In recent years, semiconductor-related developments have been particularly remarkable, and memory I
As seen in CE, ultra-high integration is gaining momentum. On the other hand, there is also a lot of production of hybrid ICs that integrate dedicated circuits and combine them with other elements, and along with the bonding technology that attaches the chip to the substrate, it automatically recognizes the center position of the chip, whether it is good or bad, and whether it is cracked. Recognition technology is gaining importance. .

以下1図面を参照しながら従来例として、ダイ・ボンデ
ィング装置用認識装置について説明を行う。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A recognition device for a die bonding apparatus will be described below as a conventional example with reference to one drawing.

第4図は、ダイ・ボンディング装置の概略構成を示すも
のである。第4図において、1はエキスバンドされたウ
ェハーで、2はエキスバンドされたウェハーを固定する
ウェハーリングである。3は認識用カメラ、4は照明用
のハーフミラ一部、6は光を導く光ファイバー、6は照
明用光源である。フは認識用カメラ3よりの信号を受け
、認識処理を行なう認識装置である。8はモニタ用のテ
レビである。9はエキスバンドされたチップである。テ
レビ画面上で、10.11はネトリートで、チップ9と
チップ9のすき間である。12は窓枠で、この認識装置
の認識境界線を示し、四角で囲まれた内側が認識範囲で
ある。13はx−Yテ=プルで、チップ9の送υを行な
う。14はヘッドで、チップ9を吸着して移載し、基板
15に装着する。
FIG. 4 shows a schematic configuration of the die bonding apparatus. In FIG. 4, 1 is an expanded wafer, and 2 is a wafer ring for fixing the expanded wafer. 3 is a recognition camera, 4 is a part of a half mirror for illumination, 6 is an optical fiber that guides light, and 6 is a light source for illumination. F is a recognition device that receives signals from the recognition camera 3 and performs recognition processing. 8 is a television for monitoring. 9 is an expanded chip. On the TV screen, 10.11 is netorito, the gap between chips 9 and 9. A window frame 12 indicates the recognition boundary line of this recognition device, and the inside of the rectangle is the recognition range. Reference numeral 13 is an x-Y table for feeding the chip 9. A head 14 picks up the chip 9, transfers it, and attaches it to the substrate 15.

ダイ・ボンディング装置は、ウェハーリング2上のチッ
プ9をとシ、基板16上に装着するものであるが、この
チップ9にdあらかじめ電気的な機能をチエツクし、不
良品であれば、チップ9上に赤黒等のマークをして不良
表示がなされている。
The die bonding device attaches the chip 9 on the wafer ring 2 onto the substrate 16.The chip 9 is checked for electrical function in advance, and if it is defective, the chip 9 is removed. There is a red and black mark on the top to indicate that it is defective.

チップ9をウェハーリング2よシとる時に、この不良マ
ニクがないかの判断を行ない良品のみを基板115に装
着する。この良・不良の判断を認識装置7にて行なう。
When the chip 9 is removed from the wafer ring 2, it is determined whether there are any defective chips and only good chips are mounted on the substrate 115. The recognition device 7 makes this judgment as to whether the product is good or bad.

上記Mfi装置7の内部構成を示す第6図において、1
6は画像信号(アナログ)を白・黒の二値レベルに変換
する二値化変換部、16は二値化された画像信号を演算
処理する画像演算処理部である。17紘画像信号や二値
化変換された信号をモニタへ出力するモニタコントロー
ル部でアル。18は操作パネルである。19は操作パネ
ル18や外部コントローラとの信号をやシ取りするイン
タ−7iイス部である。2oはインターフェイス簡9か
ら送られて来た信号により画像演算処理部16やモニタ
コントロール部17の制御を行なう中央制御部である。
In FIG. 6 showing the internal configuration of the Mfi device 7, 1
Reference numeral 6 denotes a binarization converter that converts the image signal (analog) into binary levels of white and black, and 16 an image arithmetic processing unit that performs arithmetic processing on the binarized image signal. 17 Hiro This is the monitor control section that outputs the image signal and the binarized signal to the monitor. 18 is an operation panel. Reference numeral 19 denotes an interface section 7i which receives signals from the operation panel 18 and an external controller. Reference numeral 2o denotes a central control section that controls the image calculation processing section 16 and the monitor control section 17 based on signals sent from the interface unit 9.

どの認識装置は、認識対象物の情報より面積や中心位置
を求め、良・不良を判断し。
Which recognition device determines the area and center position of the object to be recognized and determines whether it is good or bad.

中心位置データを送る。Send center position data.

以上のように構成されたダイ・ボンディング装置の認識
装置について、以下その動作を第6図の動作概略フロー
チャートに基づいて説明する。
The operation of the recognition device for the die bonding apparatus configured as described above will be explained below based on the schematic flowchart of the operation shown in FIG.

まず、x−yテーブル13を認識位置Aから矢印aの如
く横方向に移動させ、ウェハーリング2の交換を行ない
、新しいウェハーをX−Yテーブル13にセットする(
図示せず)。次に、認識用カメラ3の下部の認識位置A
へX−Yテーブル13を矢印すの如く移動させる。位置
決め終了後、モニタテレビ8で、テップ9が窓枠12に
接することなく入っているか確認する。もし、窓枠12
にチップ9が接していたり、第7図の!の状態のように
窓枠12内にチップ9が入っていなかったシすると、手
動でX−Yテーブル13を移動させ、第7図の■の状態
のように、チップ9が内部に入るように窓枠12を移動
させる。窓枠12 (! 、 y)とチップサイズ(x
、ya)及びストリートサイズ(xbs yb)の関係
は第7図のように、Xa<X<2xa+zb ya<y<2ya+yb の条件を満足しておく事が必要である。もし満足してな
い場合は窓枠12内にテップ9が2ヶ入ってしまい、チ
ップの中心座標が2ヶ発生し、チップ9の取りのこしや
、行又は列がくるう事になる。
First, move the x-y table 13 laterally from the recognition position A as indicated by arrow a, replace the wafer ring 2, and set a new wafer on the x-y table 13 (
(not shown). Next, the recognition position A at the bottom of the recognition camera 3
Move the X-Y table 13 as shown by the arrow. After the positioning is completed, it is confirmed on the monitor television 8 whether the tip 9 has entered without touching the window frame 12. If window frame 12
Chip 9 is in contact with the ! in Figure 7! If the chip 9 is not inside the window frame 12 as shown in the state shown in Figure 7, manually move the X-Y table 13 so that the chip 9 is placed inside the window frame 12 as shown in the state shown in Figure 7. Move the window frame 12. Window frame 12 (!, y) and chip size (x
, ya) and the street size (xbs yb), as shown in FIG. 7, it is necessary to satisfy the following condition: Xa<X<2xa+zb ya<y<2ya+yb. If it is not satisfied, two chips 9 will be placed within the window frame 12, resulting in two chip center coordinates, and the chip 9 will be left behind, or the row or column will be rotated.

窓枠12内にチップ9が入った事を確認すると、ダイ・
ボンディング装置のスタートスイッチ(図示なし)を押
し、機械動作を開始する。スタートスイッチ(図示なし
)が押されると認識装置7により、良・不良の判断を行
なうと共に後述の如く中心位置の処理を行ない中心位置
データを送る。
After confirming that the chip 9 has entered the window frame 12, the die
Press the start switch (not shown) on the bonding device to start machine operation. When a start switch (not shown) is pressed, the recognition device 7 determines whether the product is good or bad, performs center position processing as described later, and sends center position data.

もし不良品であればX−Yテーブル13を移動させ、次
のチップ9aを位置決めする。
If the chip is defective, the X-Y table 13 is moved to position the next chip 9a.

移動距離は、X方向  xa+xb=xとy方向  y
a+yb=Yとする。
The moving distance is X direction xa+xb=x and y direction y
Let a+yb=Y.

ここで第8図、第9図に基づいて中心位置認識の概要を
のさる。第8図に示すように、認識用カメラ3よシ送ら
れて来た画像信号を二値化変換部16で処理し、入力さ
れた画像処理信号をする値(T)ILA)で切シニ値化
、する。二値化されたデータを画像演算処理部16へ送
シ投影処理を行ない、第9図のようにX方向とy方向の
投影データに分類する。分類されたデータをある値(T
HLD)でスライスし、ノイズの除却を行なった後、チ
ップサイズ(xa、ya)よシX方向のセンター(xc
)とy方向のセンター(yC)を求めチップのセンター
(c 、 c )を求める。
Here, an outline of center position recognition will be given based on FIGS. 8 and 9. As shown in FIG. 8, the image signal sent from the recognition camera 3 is processed by the binarization converter 16, and the input image processing signal is converted into a value (T to become, to do. The binarized data is sent to the image calculation processing section 16 for projection processing, and is classified into X-direction and y-direction projection data as shown in FIG. The classified data is set to a certain value (T
After slicing with the chip size (xa, ya) and the center in the X direction (xc
) and the center in the y direction (yC) to find the center of the chip (c, c).

認識終了後の位置データをもらい、X−Yテーブル13
を吸着位置(吸着り具14が下降した位置)へ移動させ
る。吸着位置に位置決めが終了した終了信号で、吸着工
具14を9二ノ〉−1上へ移動■させると共に下降■さ
せ、チップ9を吸着し、吸着工具14を上昇■させる。
After receiving the position data after recognition is completed, set the X-Y table 13.
is moved to the suction position (the position where the suction tool 14 is lowered). At the completion signal indicating that the positioning at the suction position is completed, the suction tool 14 is moved upward by 92〉-1 and lowered (■), the chip 9 is suctioned, and the suction tool 14 is raised (■).

吸着工具14を■。■The suction tool 14.

■、■と動作させてチップ9の装着動作を行なわせる。The chip 9 is mounted by performing operations ① and ②.

X−Yテーブル13は吸着工具14が上昇したタイミン
グで次のテップ9aを認識すべく認識位置へに位゛置決
めする。X−Yテーブル13の位置決め終了信号で認識
装置7は次のチップ9aの認識に移る。以上の位置決め
、認識、ヘッド動作をくり返し、第一ボジシ日ン(ウェ
ハーリング2の交換後初めて認識した位置)に戻るとウ
ェハーリング2上の良品チップがなくなる。9エバーリ
ング2の交換を行なう動作に移る。この時、もし、交換
用のウェハーリング2aがなければ動作を終了する。交
換用のウエノ・−リング2aがある時は、X−Yテーブ
ル13の位置決め動作に移9次のサイクルに進む。
The X-Y table 13 is positioned at the recognition position to recognize the next step 9a at the timing when the suction tool 14 is raised. Upon receiving the positioning end signal of the XY table 13, the recognition device 7 moves on to recognition of the next chip 9a. After repeating the above positioning, recognition, and head operation, and returning to the first position (the position recognized for the first time after replacing the wafer ring 2), there are no more good chips on the wafer ring 2. 9 Move on to the operation of replacing the ever ring 2. At this time, if there is no replacement wafer ring 2a, the operation ends. When there is a Ueno-ring 2a for replacement, the process moves to the positioning operation of the X-Y table 13 and proceeds to the ninth cycle.

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記のような動作では、ウェハー1とウ
ェハーりング2の位置関係が一義的に定まっていないの
で、ウェハーリング2の交換後に第一ボジシ四ンに移動
させた時、第7図の■の状態になる事は極めてまれであ
り、自動化は困難である。しかし、数チップ例えば4テ
ツプを窓枠内に入るようにすれば、第一ポジションに移
動させた時に窓枠内に完全に1ケのチップを入れる事は
可能であシ、そのチップを基準に認識する事はできるが
、チップ数が増えれば、チップの分だけ認識処理するの
に時間を必要とするという問題がある。
Problems to be Solved by the Invention However, in the above-described operation, the positional relationship between the wafer 1 and the wafer ring 2 is not uniquely determined. When this occurs, it is extremely rare for the state shown in (■) in Figure 7 to occur, and automation is difficult. However, if you place several chips, for example 4 steps, within the window frame, it is possible to place one chip completely within the window frame when you move it to the first position, and use that chip as a reference. Although recognition is possible, there is a problem in that as the number of chips increases, it takes more time to process the recognition for each chip.

又、多品種のチップを同一の認識装置で認識しようとし
た時、チップサイズ(”6 t 1’6 )やストリー
トサイズ(xb、 yb)に大小があるため、第一ボジ
シッンで自動的に認識するためには、窓枠内に数チップ
が入るようにしなければならないが、このようにすると
認識するのに時間がかかるだけではなく、小さいチップ
を認識しようとした時に窓枠を小さくしてもレンズの倍
率が固定であれば、大きいチップと小さいチップでは同
じ面積ΔSであっても小さいチップの持つ情報量が大き
くなシ、不良判定や、中心位置に誤差を生じやすく、精
度も悪くなる。
Also, when trying to recognize various types of chips with the same recognition device, the chip size (6t 1'6) and street size (xb, yb) are different in size, so it is not possible to recognize them automatically at the first recognition. In order to do this, it is necessary to fit several chips within the window frame, but this not only takes time to recognize, but also makes it difficult to recognize small chips even if the window frame is made smaller. If the magnification of the lens is fixed, even if a large chip and a small chip have the same area ΔS, the small chip will have a large amount of information, and errors in defect determination and center position will easily occur, resulting in poor accuracy.

本発明は上記従来の欠点に鑑み、第一ポジションに位置
決めした時に自動的に濾識位置の補正を行ない、チップ
を窓枠に接しないように導き、ダイ・ボンディング装置
の自動化をはかると共に、多品種チップであっても1チ
ツプ認識する事により認識時間の短縮と精度を向上する
事のできる位置補正機能付認識装置を提供することを目
的とするものである。
In view of the above-mentioned conventional drawbacks, the present invention automatically corrects the filtering position when positioned at the first position, guides the chip so that it does not touch the window frame, automates the die bonding equipment, and achieves multiple functions. It is an object of the present invention to provide a recognition device with a position correction function that can shorten recognition time and improve accuracy by recognizing one chip even if the type of chip is different.

問題点を解決するための手段 本発明は上記目的を達成するために、認識装置が、取り
込み装置からの画像信号を白・黒の二値レベルに変換す
る変換部と、変換されたディジタル信号を演算してあら
かじめ入力したパターン情報により中心を求める処理を
行う画像演算処理部と、認識対象物の画像情報及び画像
演算処理された処理情報をモニタするモニタコン)o−
ル部と、画像情報を教示するための操作盤と、外部機器
とのインターフェイス部と、前記画像演算処理部へ入力
される二値化された画像信号の論理を選択的に反転させ
るデータ反転部とを備えていることを特徴とする。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, the present invention includes a recognition device that includes a conversion section that converts an image signal from a capture device into binary levels of white and black, and a conversion section that converts an image signal from a capture device into a binary level of black and white, and a conversion section that converts the converted digital signal an image calculation processing unit that calculates and calculates the center using pattern information input in advance, and a monitor controller that monitors image information of the recognition target and processed information that has been subjected to image calculation processing)
a control panel for teaching image information, an interface section with external equipment, and a data inversion section that selectively inverts the logic of the binarized image signal input to the image processing section. It is characterized by having the following.

作  用 上記梼成によって、チップが窓枠に入っていない場合に
、画像演算処理部へ入る二値化された画像信号の論理を
反転させる事により、認識対象物をチップよシストリー
トに変え、得られたデータを基にして位置補正データを
作成し、チップを窓枠内へ位置補正することができ、第
一ポジション時のチップの位置補正を自動的に行なうこ
とができる。
Effect By the above formation, when the chip is not in the window frame, by inverting the logic of the binarized image signal that enters the image processing unit, the recognition target is changed from a chip to a street. Based on the obtained data, position correction data can be created to correct the position of the chip within the window frame, and the position of the chip at the first position can be automatically corrected.

実施例 以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。
EXAMPLE An example of the present invention will be described below with reference to the drawings.

尚、従来例と同一部については同一番号で示すことKす
る。
Note that parts that are the same as those of the conventional example are indicated by the same numbers.

第1図は、本発明の一実施例における位置補正機能付認
識装置の内部構成図を示す。第1図において、21は二
値化データの反転回路であシ、従来臼11”黒”0”と
していたのをこの反転回路21を通すことにより白“0
”黒”1”とする。
FIG. 1 shows an internal configuration diagram of a recognition device with a position correction function according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 21 is an inversion circuit for binary data. Conventionally, the mill 11 was set to "black" 0, but by passing it through this inversion circuit 21, white "0" is set.
Set it to “black” 1.

22は画像演算処理部16へ入力されるデータを切替え
るデータ切替信号である。
Reference numeral 22 denotes a data switching signal for switching the data input to the image calculation processing section 16.

以上のように構成された位置補正機能付認識装置につい
て、以下その動作で第6図で説明した従来例と異なった
所(第6図のA部)を第2図のフローチャートに基づい
て説明する。
Regarding the recognition device with a position correction function configured as above, the difference in its operation from the conventional example explained in FIG. 6 (section A in FIG. 6) will be explained below based on the flowchart in FIG. 2. .

まず、ウェハーリング2を交換してX−Yテーブル13
を第一ポジシロンに位置決めする。次に認識動作を行な
いチップのセンターデータを求める。もし、この時セン
ターデータが求まらなければ第7図のIの状態にある事
がわかるので、データ切替信号22を出力し、二値化デ
ータを反転しこれを画像演算処理部16へ入力する。画
像演算処理部16では、投影処理を行ない、第3図のよ
うなX方向、y方向の投影データに分類し、分類された
データをある値(Ti(L )でスライスし、ノイズの
除却を行なう。ストリートサイズ(xb、yb)よりX
方向のストリートセンター(!、) とy方向のストリ
ートセンター(y8)が求まシ最終データであるストリ
ートセンター(8C)が求まる。次にストリートセンタ
ー(sc)データとチップサイズ(!6 t 1a)及
びストリートサイズ(xb、yb)よシ位1d補正量が
求まる。
First, replace the wafer ring 2 and replace the X-Y table 13.
is positioned at the first position. Next, a recognition operation is performed to obtain the center data of the chip. If the center data cannot be obtained at this time, it is known that the state is in the state I in FIG. do. The image calculation processing unit 16 performs projection processing, classifies the data into X-direction and y-direction projection data as shown in FIG. 3, slices the classified data at a certain value (Ti(L)), and removes noise. Do it.X from street size (xb, yb)
The street center in the direction (!,) and the street center in the y direction (y8) are found, and the final data, the street center (8C), is found. Next, the position 1d correction amount is determined from the street center (sc) data, chip size (!6t 1a), and street size (xb, yb).

xa十xb X=X+□−xd ya+yb ’l =”l +−Vd 5a    2 位置補正量が求まればX−Yテーブル13を認識位置へ
移動させる。位置決め終了信号で、認識動作を行ない、
良・不良を判断すると共にチップのセンターを求める。
xa ten xb
Determine whether the chip is good or bad and find the center of the chip.

チップのセンターが求マレば、機械動作を起動する。If the center of the chip is aligned, the machine will start operating.

以上のように本実施例によれば、画像演算処理部に入る
情報を加工(反転処理)することにより、チップセンタ
ーが認識できない場合はストリートセンターを求める事
によりテップサイズ、ストリートサイズ及び認識のセン
ター位置よシ、チップの位置補正を行なう事ができ、自
動位置補正を実現することができる。
As described above, according to this embodiment, by processing (inversion processing) the information that enters the image calculation processing unit, if the chip center cannot be recognized, the street center is determined, thereby determining the tip size, the street size, and the recognition center. The position of the chip can be corrected from position to position, and automatic position correction can be realized.

発明の効果 以上のように本発明によれば、画像信号の二値レベルの
論理を反転する事により認識対象物間のセンターを求め
て窓枠内にチップを自動的に導くことができ、その実用
的効果は大なるものがある。
Effects of the Invention As described above, according to the present invention, by inverting the logic of the binary level of the image signal, it is possible to find the center between the objects to be recognized and automatically guide the chip within the window frame. The practical effects are significant.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の認識装置の内部構成図、第
2図は同動作の従来例と異なる部分のフローチャート、
第3図は認識範囲内の反転二値画面の投影データ図、第
4図はダイ・ボンディング装置の概略構成図、第6図は
従来例の認識装置の内部構成図、第6図は動作概略フロ
ーチャート、第7図は窓枠とチップの位置関係図、第8
図は画像信号と二値化図、第9図は認識範囲内の二値画
面と投影データ図である。 3・・・・・・認識用カメラ、7・・・・・・認識装置
、8・・・・・・モニタ用テyビ1.9・・・・・・テ
ラ7”、10.11・・・・・・ストリート、12・・
・・・・窓枠、16・・・・・・二値化変換部、16・
・・・・・画像演算処理部、17・・・・・・モニタコ
ントロール部、18・・・・・・操作パネル、19・・
・・・・インターフェイス部、20・・・・・・中央制
御部、21・・・・・・反転回路、22・・・・・・デ
ータ切替信号。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 7′−閘嵐駿! 第2図 第3図 第5図 第7図 廓l 第8図 第9図 ミ
FIG. 1 is an internal configuration diagram of a recognition device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a flowchart of a portion of the same operation that differs from a conventional example.
Figure 3 is a projection data diagram of an inverted binary screen within the recognition range, Figure 4 is a schematic configuration diagram of the die bonding device, Figure 6 is an internal configuration diagram of a conventional recognition device, and Figure 6 is an outline of its operation. Flowchart, Figure 7 is a diagram of the positional relationship between the window frame and the chip, Figure 8
The figure shows an image signal and a binary image, and FIG. 9 shows a binary screen within the recognition range and projection data. 3...Recognition camera, 7...Recognition device, 8...Monitor TV 1.9...Terra 7", 10.11. ...Street, 12...
...Window frame, 16...Binarization conversion section, 16.
...Image calculation processing unit, 17...Monitor control section, 18...Operation panel, 19...
. . . Interface section, 20 . . . Central control section, 21 . . . Inverting circuit, 22 . . . Data switching signal. Name of agent: Patent attorney Toshio Nakao and 1 other person No. 1
Figure 7' - Shun Ranran! Figure 2 Figure 3 Figure 5 Figure 7 Figure 8 Figure 9 Mi

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  認識対象物の状態を取り込む取り込み装置と、前記取
り込み装置よりの画像情報を処理する認識装置と、前記
認識装置に送られた前記認識対象物の画像情報及び前記
認識装置の処理情報をモニタするモニタ装置よりなり、
前記認識装置は、取り込み装置より送られた画像情報を
白・黒の二値レベルに変換する変換部と、変換されたデ
ィジタル情報を演算してあらかじめ入力したパターン情
報により中心を求める処理を行う画像演算処理部と、認
識対象物の画像情報及び画像演算処理された処理情報を
モニタするモニタコントロール部と、画像情報を教示す
るための操作盤と、外部機器とのインターフェイス部と
、前記画像演算処理部へ入る二値化された画像情報の論
理を選択的に反転させるデータ反転部とを備えているこ
とを特徴とする位置補正機能付認識装置。
A capture device that captures the state of the recognition target, a recognition device that processes image information from the capture device, and a monitor that monitors the image information of the recognition target sent to the recognition device and processing information of the recognition device. Consisting of equipment,
The recognition device includes a conversion unit that converts the image information sent from the capture device into a binary level of black and white, and an image processing unit that calculates the converted digital information and calculates the center using pattern information input in advance. an arithmetic processing unit, a monitor control unit that monitors the image information of the recognition target and the processed information processed by the image arithmetic processing, an operation panel for teaching the image information, an interface unit with external equipment, and the image arithmetic processing unit. 1. A recognition device with a position correction function, comprising: a data inversion section that selectively inverts the logic of binarized image information input to the section.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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