JPH01169900A - アーキング検出回路 - Google Patents
アーキング検出回路Info
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- JPH01169900A JPH01169900A JP62328780A JP32878087A JPH01169900A JP H01169900 A JPH01169900 A JP H01169900A JP 62328780 A JP62328780 A JP 62328780A JP 32878087 A JP32878087 A JP 32878087A JP H01169900 A JPH01169900 A JP H01169900A
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- Japan
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- arc
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 22
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 claims description 18
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 3
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/10—Nuclear fusion reactors
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野〕
本発明は中性粒子入射装置の保護装置に係わシ。
特にアーキング検出回路に関する。
（従来の技術〕
中性粒子入射装置（以下ＮＢＩと略す）は核融合プラズ
マの加熱装置として使用するもので、その内部にソース
プラズマ発生機構がアシ、そこでイオン化した粒子を高
電圧で加速した後、荷電粒子を中性化して高エネルギー
の中性粒子を得る装置である。ここでソースプラズマ発
生機構はフィラメントにて水素Ｈ２や重水素Ｄ３等のガ
スを加熱し、アーク放電を起してイオン化した粒子を得
ている。アーク放電の発生はフィラメントとアーク電極
間に直流電圧を印加することによりひき起こされるもの
で、この直流電圧を印加する電源をアーク電源と呼んで
いる。また通常フィラメントは複数本に分割して構成し
てあシ、フィラメントとアーク電極間でのアーク放電は
、各フィラメントとアーク電極間で均等な放電を行なう
ことが望ましい。
マの加熱装置として使用するもので、その内部にソース
プラズマ発生機構がアシ、そこでイオン化した粒子を高
電圧で加速した後、荷電粒子を中性化して高エネルギー
の中性粒子を得る装置である。ここでソースプラズマ発
生機構はフィラメントにて水素Ｈ２や重水素Ｄ３等のガ
スを加熱し、アーク放電を起してイオン化した粒子を得
ている。アーク放電の発生はフィラメントとアーク電極
間に直流電圧を印加することによりひき起こされるもの
で、この直流電圧を印加する電源をアーク電源と呼んで
いる。また通常フィラメントは複数本に分割して構成し
てあシ、フィラメントとアーク電極間でのアーク放電は
、各フィラメントとアーク電極間で均等な放電を行なう
ことが望ましい。
第４図は、ＮＢＩのソースプラズマ発生回路例を示すも
ので１本図を元に説明する。第４図において、１１はア
ーク電源、１２は限流抵抗、１３はＮＢＩ 、 １３１
はフィラメント、１３２はアーク電極を示している。別
途設けられたフィラメント電源によりフィラメント１３
ノの周囲ガスを加熱すると、アーク電源１１から各分岐
した限流抵抗１２を介してアーク電流が流れてアーク放
電が発生する。限流抵抗１２は安定なアーク放電の維持
の為、また各フィラメント１３ノに流れるアーク電流均
等化の為に設けられているものである。しかしながら、
わずかなフィラメント温度のバラツキ等により、各フィ
ラメント１３１とアーク電極間で均等なアーク放電がで
きなくなると、特定のフィラメントにアーク放電が集中
し、その結果アーク電流が一部のフィラメントに集中し
て流れる。
ので１本図を元に説明する。第４図において、１１はア
ーク電源、１２は限流抵抗、１３はＮＢＩ 、 １３１
はフィラメント、１３２はアーク電極を示している。別
途設けられたフィラメント電源によりフィラメント１３
ノの周囲ガスを加熱すると、アーク電源１１から各分岐
した限流抵抗１２を介してアーク電流が流れてアーク放
電が発生する。限流抵抗１２は安定なアーク放電の維持
の為、また各フィラメント１３ノに流れるアーク電流均
等化の為に設けられているものである。しかしながら、
わずかなフィラメント温度のバラツキ等により、各フィ
ラメント１３１とアーク電極間で均等なアーク放電がで
きなくなると、特定のフィラメントにアーク放電が集中
し、その結果アーク電流が一部のフィラメントに集中し
て流れる。
以下ここではこの現象をアーキングと呼ぶ。このような
アーキング現象の発生あるいは維持は一部のフィラメン
トに損傷を与えることになシ、フィラメント断線の原因
となりている。
アーキング現象の発生あるいは維持は一部のフィラメン
トに損傷を与えることになシ、フィラメント断線の原因
となりている。
これらフィラメントの損傷、断線を防止する為には、各
分岐したアーク電流のバラツキを監視して、所定値以上
にアーク電流のバラツキが大きくなった場合にはアーキ
ングが発生したと判定するアーキング検出回路を設けて
アーキングが発生した場合にはアーク電流の通電を中止
する保護方式を採用するのが良い、第２図は従来のアー
キング検出回路を示し、１４１〜１４ｎは各分岐回路の
電流検出器、１５１ｐ・１５２はマルチプレクサで電流
検出器１４１〜１４ｎｔ−順々にテンプルしてピーク値
ホールド回路１６と比較器１７に入力する。ピーク値ホ
ールド回路１６では電流検出器１４１〜１４ｎで検出し
た最大値を保持して比較器１７に出力する。比較器１７
ではピーク値ホールド回路１６で保持した最大値とマル
チプレクサ１５１の出力の差を検出し、この差が大きく
なった場合にはアーキングと判定する回路である。
分岐したアーク電流のバラツキを監視して、所定値以上
にアーク電流のバラツキが大きくなった場合にはアーキ
ングが発生したと判定するアーキング検出回路を設けて
アーキングが発生した場合にはアーク電流の通電を中止
する保護方式を採用するのが良い、第２図は従来のアー
キング検出回路を示し、１４１〜１４ｎは各分岐回路の
電流検出器、１５１ｐ・１５２はマルチプレクサで電流
検出器１４１〜１４ｎｔ−順々にテンプルしてピーク値
ホールド回路１６と比較器１７に入力する。ピーク値ホ
ールド回路１６では電流検出器１４１〜１４ｎで検出し
た最大値を保持して比較器１７に出力する。比較器１７
ではピーク値ホールド回路１６で保持した最大値とマル
チプレクサ１５１の出力の差を検出し、この差が大きく
なった場合にはアーキングと判定する回路である。
（発明が解決しようとする問題点）
このように従来のアーキング検出回路では分岐した各々
の電流を順々に検出して判定する必要があり１分岐数が
増した場合に回路が非常に複雑となシ、高価になるとい
う欠点がありた。
の電流を順々に検出して判定する必要があり１分岐数が
増した場合に回路が非常に複雑となシ、高価になるとい
う欠点がありた。
本発明の目的は、分岐した各電流値に相当する信号のう
ち最大値と最小値の差を非常に単純な回路で実現するこ
とで安価なアーキング検出回路を供給することを目的と
する。
ち最大値と最小値の差を非常に単純な回路で実現するこ
とで安価なアーキング検出回路を供給することを目的と
する。
（問題点を解決するための手段）
上記目的を達成するため、第１の発明はアーク電源から
複数の限流抵抗を介して各アーク放電用１！極にアーク
電流を供給し、各アーク電流のバラツキによりアーク放
電の部分集中を検出するアーキング検出回路において、
複数に分岐した限流抵抗の各一端にｎ相ダイオードブリ
ッヂ回路を接続し、ｎ相ブリップ回路の出力により各分
岐したアーク電流の最大値と最小値の差を検出し、その
検出レベルの大小によりアーク放電の部分集中を判定す
る構成とするものである。
複数の限流抵抗を介して各アーク放電用１！極にアーク
電流を供給し、各アーク電流のバラツキによりアーク放
電の部分集中を検出するアーキング検出回路において、
複数に分岐した限流抵抗の各一端にｎ相ダイオードブリ
ッヂ回路を接続し、ｎ相ブリップ回路の出力により各分
岐したアーク電流の最大値と最小値の差を検出し、その
検出レベルの大小によりアーク放電の部分集中を判定す
る構成とするものである。
また、第２の発明では、複数に分岐した限姫抵抗の各一
端にれ相ダイオードブリッヂ回路を接続し、ｎ相ブリッ
ヂ回路の出力により各分岐したアーク電流の最大値と最
小値の差を検出し、その差の検出信号を信号伝送回路を
介して低圧部に伝送した後、低圧部にてその検出レベル
の大小によりアーク放電の部分集中を判定する構成とし
たものである。
端にれ相ダイオードブリッヂ回路を接続し、ｎ相ブリッ
ヂ回路の出力により各分岐したアーク電流の最大値と最
小値の差を検出し、その差の検出信号を信号伝送回路を
介して低圧部に伝送した後、低圧部にてその検出レベル
の大小によりアーク放電の部分集中を判定する構成とし
たものである。
（作用）
したがりて、かかる構成のアーキング検出回路にあって
は限流抵抗器の電圧降下はそれに流れる電流の値により
左右され、電圧降下の最大のものと最小のものどの差を
利用してアーキングの検出が可能となるので、非常に単
純な回路にて実現できる。
は限流抵抗器の電圧降下はそれに流れる電流の値により
左右され、電圧降下の最大のものと最小のものどの差を
利用してアーキングの検出が可能となるので、非常に単
純な回路にて実現できる。
（実施例）
本発明の一実施例を第１図を元に説明する。第１図にお
いて第４図と同一符号は同一のものを示し、１８はｎ相
ダイオードブリッヂ回路、１９は抵抗、２０は比較器で
ある。ｎ相ダイオードブリップ回路１８の入力は各分岐
した限流抵抗の一端に接続しである。今仮に図中→印の
方向に電流が流れ、限流抵抗１２１の電流が最大値を示
し、限流抵抗１２２の電流が最小値を示した場合、Ａ点
を基準にして限流抵抗の一端の電位は、限流抵抗１２１
の一端の電位が最も高く、限流抵抗１２２の一端の電位
が最も低くなる。この場合ｎ相ダイオードブリッヂ回路
１８の中で限流抵抗１２１に接続したダイオード１８ノ
と限流抵抗１２２に接続したダイオード１８４の両者が
導通し抵抗１９０両端に電位差を生じせしめる。この電
位差は各分岐した電流の最大値と最小値の差に相当する
もので、比較器２０によルこの差が所足値以上の場合に
アーキングが発生したことが検出できる。
いて第４図と同一符号は同一のものを示し、１８はｎ相
ダイオードブリッヂ回路、１９は抵抗、２０は比較器で
ある。ｎ相ダイオードブリップ回路１８の入力は各分岐
した限流抵抗の一端に接続しである。今仮に図中→印の
方向に電流が流れ、限流抵抗１２１の電流が最大値を示
し、限流抵抗１２２の電流が最小値を示した場合、Ａ点
を基準にして限流抵抗の一端の電位は、限流抵抗１２１
の一端の電位が最も高く、限流抵抗１２２の一端の電位
が最も低くなる。この場合ｎ相ダイオードブリッヂ回路
１８の中で限流抵抗１２１に接続したダイオード１８ノ
と限流抵抗１２２に接続したダイオード１８４の両者が
導通し抵抗１９０両端に電位差を生じせしめる。この電
位差は各分岐した電流の最大値と最小値の差に相当する
もので、比較器２０によルこの差が所足値以上の場合に
アーキングが発生したことが検出できる。
アーク電源やアーキング検出回路は通常、大地から高電
位となる部分に設置されて込る。この為、第４図の比較
器２０で行なうアーキング発生の検出レベルは容易に変
更できない。第２図はアーキング発生の判定レベルを容
易に変更できるようにしたもので、抵抗１９の両端の電
位差を信号伝送回路２１等により大地側に伝送し、大地
側に設けた比較器２０でこの差を検出することにより可
変抵抗器２２等により容易にアーキング発生の判定レベ
ルを変更することができる。
位となる部分に設置されて込る。この為、第４図の比較
器２０で行なうアーキング発生の検出レベルは容易に変
更できない。第２図はアーキング発生の判定レベルを容
易に変更できるようにしたもので、抵抗１９の両端の電
位差を信号伝送回路２１等により大地側に伝送し、大地
側に設けた比較器２０でこの差を検出することにより可
変抵抗器２２等により容易にアーキング発生の判定レベ
ルを変更することができる。
以上のように本発明によれば、フィラメントの分岐数が
増加してもダイオードグリップ回路の相数を増すだけで
各分岐電流の最大値と最小値の差を容易に得ることがで
き、安価なアーキング検出回路の供給が可能となる。ま
た各分岐電流の最大値と最小値の差の信号をダイオード
と抵抗だけで検出できるので、光絶縁等の信号伝送回路
を用いることにより比較器を低圧部で使用しアーキング
検出の判定レベルの変更を容易に行なうことがでｄｉ、
鬼。
増加してもダイオードグリップ回路の相数を増すだけで
各分岐電流の最大値と最小値の差を容易に得ることがで
き、安価なアーキング検出回路の供給が可能となる。ま
た各分岐電流の最大値と最小値の差の信号をダイオード
と抵抗だけで検出できるので、光絶縁等の信号伝送回路
を用いることにより比較器を低圧部で使用しアーキング
検出の判定レベルの変更を容易に行なうことがでｄｉ、
鬼。
第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２図は本発
明の他の実施例を示す回路図、第３図はＮＢＩのソース
プラズマ発生回路例を示す図、第４図は従来のアーキン
グ検出回路図である。 １１・・・アーク電源、１２・・・限流抵抗、１２１〜
１２ｎ・・・限流抵抗、１３・・・ＮＢ１，１３１・・
・フィラメント、１３２・・・アーク電極、１４１−１
４ｎ、、。 電流検出器、１５１，１５２・・・マルチプレクサ、１
６・・・ピーク値ホールド回路、１７・・・比較器、１
８・・・ｎ相ダイオードブリッヂ回路、１９・・・抵抗
、２０・・・比較器、２１・・・信号伝送回路、２２・
・・可変抵抗器。 出願人代理人 弁理士 鈴 江武 彦第１図 第２図 第４図
明の他の実施例を示す回路図、第３図はＮＢＩのソース
プラズマ発生回路例を示す図、第４図は従来のアーキン
グ検出回路図である。 １１・・・アーク電源、１２・・・限流抵抗、１２１〜
１２ｎ・・・限流抵抗、１３・・・ＮＢ１，１３１・・
・フィラメント、１３２・・・アーク電極、１４１−１
４ｎ、、。 電流検出器、１５１，１５２・・・マルチプレクサ、１
６・・・ピーク値ホールド回路、１７・・・比較器、１
８・・・ｎ相ダイオードブリッヂ回路、１９・・・抵抗
、２０・・・比較器、２１・・・信号伝送回路、２２・
・・可変抵抗器。 出願人代理人 弁理士 鈴 江武 彦第１図 第２図 第４図
Claims (2)
- （１）アーク電源から複数の限流抵抗を介して各アーク
放電用電極にアーク電流を供給し、各アーク電流のバラ
ツキによりアーク放電の部分集中を検出するアーキング
検出回路において、複数に分岐した限流抵抗の各一端に
ｎ相ダイオードブリッヂ回路を接続し、ｎ相ブリッヂ回
路の出力により各分岐したアーク電流の最大値と最小値
の差を検出し、その検出レベルの大小によりアーク放電
の部分集中を判定することを特徴とするアーキング検出
回路。 - （２）アーク電源から複数の限流抵抗を介して各アーク
放電用電極にアーク電流を供給し、各アーク電流のバラ
ツキによりアーク放電の部分集中を検出するアーキング
検出回路において、複数に分岐した限流抵抗の各一端に
ｎ相ダイオードブリッヂ回路を接続し、ｎ相ブリッヂ回
路の出力により各分岐したアーク電流の最大値と最小値
の差を検出し、その差の検出信号を信号伝送回路を介し
て低圧部に伝送した後、低圧部にてその検出レベルの大
小によりアーク放電の部分集中を判定したことを特徴と
するアーキング検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62328780A JPH0786542B2 (ja) | 1987-12-25 | 1987-12-25 | アーキング検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62328780A JPH0786542B2 (ja) | 1987-12-25 | 1987-12-25 | アーキング検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01169900A true JPH01169900A (ja) | 1989-07-05 |
| JPH0786542B2 JPH0786542B2 (ja) | 1995-09-20 |
Family
ID=18214045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62328780A Expired - Lifetime JPH0786542B2 (ja) | 1987-12-25 | 1987-12-25 | アーキング検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0786542B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5947731A (ja) * | 1982-09-10 | 1984-03-17 | Hitachi Ltd | 投影露光装置におけるオ−トフオ−カス機構 |
| JPS62208629A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-12 | Nec Kyushu Ltd | 縮小投影型露光装置 |
| JPS62169353U (ja) * | 1986-04-18 | 1987-10-27 |
-
1987
- 1987-12-25 JP JP62328780A patent/JPH0786542B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5947731A (ja) * | 1982-09-10 | 1984-03-17 | Hitachi Ltd | 投影露光装置におけるオ−トフオ−カス機構 |
| JPS62208629A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-12 | Nec Kyushu Ltd | 縮小投影型露光装置 |
| JPS62169353U (ja) * | 1986-04-18 | 1987-10-27 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0786542B2 (ja) | 1995-09-20 |
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