JPH01151961A - 粉体分級法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、石炭、フライアッシェその他の粉体の分級方
法に関する。

〔従来の技術〕

最近、粉体な扱う工業界では、高度の粉体処理技術が求
められつつある。その内でも粉体の分級装置につい【は
、精度の高い分級装置が開発されつへある。

粉体の分級の重要なポイントは、目標の粒度分布を得る
ための装置の設定条件であり、その条件でどの程度まで
目標に近づけることができるかが決まる。

以下に第２図を用いて、従来の粉体分級法の一例を説明
する。図は、従来の粉体分級法に用いる分級装置の模式
的＊ｅ、図で先ず、ホッパー１に分級に供する粉体試料
２を入れる。次いで、吸引ゾロアー３により振動式のフ
ィーダー４を通してサイクロン５に粉体試料２を導入す
る。そしてサイクロン５により粗粒と微粒とに分級し、
粗粒粒子を採集器６に補集する。微粒粒子は吸引ブロア
ー３内の図示しないバグフィルタにて捕集される。

詳しくはこの過程でサイクロン５内の粉体試料２は、気
流により旋回分散しながら遠心力と流体抵抗により分級
され、分級された粗粒は採集器６に落下補集され、微粒
は、吸引ブロアー３の図示しないバグフィルタ−に補集
されるものである。

次いで、分級した粉体試料の粒度分布を求めるため、粗
粒と微粒とを図示省略した粒度分布測定装置で分析する
。

このようＫして分級した粉体の粒度分布を求めていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記従来の方法では石炭やフライアラン二などを試験や
分析のために目的の粒度分布に分級あるいは分級により
粗粒あるいは微粒をカットしようとする場合、以下に示
す問題がある。

（１）分級中における粒度分布を知る事ができないため
、分級後、粒度分布を測定し目標の粒度に分級できたか
否かを知ることになる。

（２１２０ミクロンから１０ミクロン付近における分級
あるいはそれよりも微粒側の分級は、技術的に不確実性
が伴い、目標から外れることが多い。この場合、再度分
級操作を行なう必要がある。従って、時間の浪費と粉体
試料の無駄をまねくことになる。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は上記問題点の解決手段として、サイクロンを用
いた乾式気流分級機による粉体の分級法において、分級
中の粉体を採集器から連続的に取り出して粒度分布を測
定し、その測定値を、予め目標の粒度分布の設定値を入
力したコンビエータに入力して上記設定値と測定値との
差を電気信号に変換し、同電気信号によって上記サイク
ロン内の流速を調整する流速調整手段に入力してサイク
ロン内の流速を調整することを特命とする粉体分級法を
提供しようとするものである。

〔作　用〕

本発明は上記のように構成されるので次の作用を有する
。即ち、分級機における粒度の主要な決定ファクタであ
るサイクロンの流速を調整する流速調整手段に、分級中
の粉体の粒度分布を連続的に測定して得た値と目標値と
の差を電気信号で入力し、刻々に流速調整するので分級
中に（分級後ではない事前に）結果を目標の粒度分布に
近づけることができる。

〔実施例〕

本発明の一実施例の方法について第１図により説明する
。

先ず、図の構成と実施方法のあらましを説明する。なお
、第１図のホッパー１、粉体試料２、吸引プロワ−３，
フイーダー４、サイクロン５及び採集器６は第２図と同
様の構成につき説明は省略する。図において、分取管７
は、採集器６に接続されている。−次分散槽８には、攪
拌機９が装備されており分散液１０が流入する。二次分
散槽１１には、攪拌機１２が装備されておりポンプ１３
によって吸引すると、粉体試料２を分散液１０で分散さ
せた混液はセル１４内を通過する。セル１４の側面には
、レーザー１５、他面には受光器１６が設置されている
。

受光器１６の電気信号を受けとり、分級目標値を入力す
るコンビエータ１７は吸引調姫弁１８に電気信号を送り
、向弁１８の開度を調整する。

次に上記方法について手順側に詳しく説明する。

（１１ホッパー１に粉体試料２を入れる。

（２）吸引ブロアー３を起動する。

（３）粉体試料２はフィーダー４により徐々にサイクロ
ン５内へ導かれる。

（４）サイクロン５内において、粉体試料２は気ｉＫよ
り、旋回分散しながら遠心力と流体抵抗により分級され
る。

（５）分級された粗粒は、採集器６に落下捕集され、一
部は、分取管７を通って一次分散槽８に入る。

（６）−次分散槽８に分散液１０が入って攪拌機９で粒
子を攪拌、分散させる。

（７）粉体試料２と分散液１０の混合物は、二次分散槽
１１内に入り、攪拌機１２によってさらに攪拌分散され
ポンプ１３で吸引されてセル１４内を通過する。

（８）レーザー１５が発光した光はセル１４内を照射し
セル１４内の粒子によって回折し受光！１６に受光され
粒度の測定を行なう。

（９）受光器１６で計測された粒度の値をコンビー−タ
１７に入力し、あらかじめコンピュータ１７に人力して
おいた目標の平均粒径（５０％径）との差を求める。

αＯコンビエータ１７で求めた粒度分布の目標値と測定
値との差を電気信号で吸引調整弁１８に送り開弁１８の
開度を調整する。

αυ　吸引調整弁１８の開度は目標とする粒度分布すな
わち平均粒径により次のように調整される。

（ａｌ　　吸引調整弁１８を開ｍ１ｌＫする程、サイク
ロン５内の流速が速くなり、吸引ブロアー３の図示しな
いバグフィルタ−には微粒のみが捕集され、採集器６に
は粗粒を主とした微粒を含むものが捕集される。

Ｔｂｌ　　吸引趣整弁１８を閉側にする程、サイクロン
５内の流速が遅くなり、ある程度の微粒も採集器６に粗
粒と同伴して捕集される。

吸引ブロアー３の図示しないバグフィルタ−には上記（
ａｌの場合よりさらに微粒の粉体のみが捕集される。

以上説明したように、本実施例の方法によれば、吸引ブ
ロアー３のバグフィルタ−には所望粒度の微粉が、採集
６６には比較的粗粉が、目標値の選択のみによって精確
にかつ自動的に集められる。

なお、上記実施例では粒度の測定にレーザーや受光器を
用いたが、測定手段はこれらに限られるものではなく、
たとえば他の光線、電磁波、超音波その他の手段が合目
的に用いられてよい。流速調整手段も吸引調整弁に限ら
れる必要はなく、ダンパ、吐出速度調整可能なポンプ、
ファンその他適宜な手段が用いられてよい。

〔発明の効果〕

本発明は上記のように構成されるので次の効果を有する
。

（１）分級中の粒度の状態を知る事ができ１粒度分布の
測定値により、吸引条件であるサイクロン内の流速を自
動的に変更し目標値に沿うよう調整することが可能であ
る。

（２）　　１０ミクロン以下の微粒域でも確実に分級す
ることが可能である。

（３）−回の分級作業で目標値に近い粒度分布が得られ
るので再分級等の必要がなくなり、分級に要する時間の
労費と粉体の無駄がなくなる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例の方法に用いる分級機の模
式的構成図、第２図は従来の方法に用いる粉体分級装置
の構成図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. サイクロンを用いた乾式気流分級機による粉体の分級法
   において、分級中の粉体を採集器から連続的に取り出し
   て粒度分布を測定し、その測定値を、予め目標の粒度分
   布の設定値を入力したコンピュータに入力して上記設定
   値と測定値との差を電気信号に変換し、同電気信号によ
   って上記サイクロン内の流速を調整する流速調整手段に
   入力してサイクロン内の流速を調整することを特徴とす
   る粉体分級法。