JPH01151961A - 粉体分級法 - Google Patents
粉体分級法Info
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- JPH01151961A JPH01151961A JP31092887A JP31092887A JPH01151961A JP H01151961 A JPH01151961 A JP H01151961A JP 31092887 A JP31092887 A JP 31092887A JP 31092887 A JP31092887 A JP 31092887A JP H01151961 A JPH01151961 A JP H01151961A
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- classification
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Landscapes
- Cyclones (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、石炭、フライアッシェその他の粉体の分級方
法に関する。
法に関する。
最近、粉体な扱う工業界では、高度の粉体処理技術が求
められつつある。その内でも粉体の分級装置につい【は
、精度の高い分級装置が開発されつへある。
められつつある。その内でも粉体の分級装置につい【は
、精度の高い分級装置が開発されつへある。
粉体の分級の重要なポイントは、目標の粒度分布を得る
ための装置の設定条件であり、その条件でどの程度まで
目標に近づけることができるかが決まる。
ための装置の設定条件であり、その条件でどの程度まで
目標に近づけることができるかが決まる。
以下に第2図を用いて、従来の粉体分級法の一例を説明
する。図は、従来の粉体分級法に用いる分級装置の模式
的*e、図で先ず、ホッパー1に分級に供する粉体試料
2を入れる。次いで、吸引ゾロアー3により振動式のフ
ィーダー4を通してサイクロン5に粉体試料2を導入す
る。そしてサイクロン5により粗粒と微粒とに分級し、
粗粒粒子を採集器6に補集する。微粒粒子は吸引ブロア
ー3内の図示しないバグフィルタにて捕集される。
する。図は、従来の粉体分級法に用いる分級装置の模式
的*e、図で先ず、ホッパー1に分級に供する粉体試料
2を入れる。次いで、吸引ゾロアー3により振動式のフ
ィーダー4を通してサイクロン5に粉体試料2を導入す
る。そしてサイクロン5により粗粒と微粒とに分級し、
粗粒粒子を採集器6に補集する。微粒粒子は吸引ブロア
ー3内の図示しないバグフィルタにて捕集される。
詳しくはこの過程でサイクロン5内の粉体試料2は、気
流により旋回分散しながら遠心力と流体抵抗により分級
され、分級された粗粒は採集器6に落下補集され、微粒
は、吸引ブロアー3の図示しないバグフィルタ−に補集
されるものである。
流により旋回分散しながら遠心力と流体抵抗により分級
され、分級された粗粒は採集器6に落下補集され、微粒
は、吸引ブロアー3の図示しないバグフィルタ−に補集
されるものである。
次いで、分級した粉体試料の粒度分布を求めるため、粗
粒と微粒とを図示省略した粒度分布測定装置で分析する
。
粒と微粒とを図示省略した粒度分布測定装置で分析する
。
このようKして分級した粉体の粒度分布を求めていた。
上記従来の方法では石炭やフライアラン二などを試験や
分析のために目的の粒度分布に分級あるいは分級により
粗粒あるいは微粒をカットしようとする場合、以下に示
す問題がある。
分析のために目的の粒度分布に分級あるいは分級により
粗粒あるいは微粒をカットしようとする場合、以下に示
す問題がある。
(1)分級中における粒度分布を知る事ができないため
、分級後、粒度分布を測定し目標の粒度に分級できたか
否かを知ることになる。
、分級後、粒度分布を測定し目標の粒度に分級できたか
否かを知ることになる。
(2120ミクロンから10ミクロン付近における分級
あるいはそれよりも微粒側の分級は、技術的に不確実性
が伴い、目標から外れることが多い。この場合、再度分
級操作を行なう必要がある。従って、時間の浪費と粉体
試料の無駄をまねくことになる。
あるいはそれよりも微粒側の分級は、技術的に不確実性
が伴い、目標から外れることが多い。この場合、再度分
級操作を行なう必要がある。従って、時間の浪費と粉体
試料の無駄をまねくことになる。
本発明は上記問題点の解決手段として、サイクロンを用
いた乾式気流分級機による粉体の分級法において、分級
中の粉体を採集器から連続的に取り出して粒度分布を測
定し、その測定値を、予め目標の粒度分布の設定値を入
力したコンビエータに入力して上記設定値と測定値との
差を電気信号に変換し、同電気信号によって上記サイク
ロン内の流速を調整する流速調整手段に入力してサイク
ロン内の流速を調整することを特命とする粉体分級法を
提供しようとするものである。
いた乾式気流分級機による粉体の分級法において、分級
中の粉体を採集器から連続的に取り出して粒度分布を測
定し、その測定値を、予め目標の粒度分布の設定値を入
力したコンビエータに入力して上記設定値と測定値との
差を電気信号に変換し、同電気信号によって上記サイク
ロン内の流速を調整する流速調整手段に入力してサイク
ロン内の流速を調整することを特命とする粉体分級法を
提供しようとするものである。
本発明は上記のように構成されるので次の作用を有する
。即ち、分級機における粒度の主要な決定ファクタであ
るサイクロンの流速を調整する流速調整手段に、分級中
の粉体の粒度分布を連続的に測定して得た値と目標値と
の差を電気信号で入力し、刻々に流速調整するので分級
中に(分級後ではない事前に)結果を目標の粒度分布に
近づけることができる。
。即ち、分級機における粒度の主要な決定ファクタであ
るサイクロンの流速を調整する流速調整手段に、分級中
の粉体の粒度分布を連続的に測定して得た値と目標値と
の差を電気信号で入力し、刻々に流速調整するので分級
中に(分級後ではない事前に)結果を目標の粒度分布に
近づけることができる。
本発明の一実施例の方法について第1図により説明する
。
。
先ず、図の構成と実施方法のあらましを説明する。なお
、第1図のホッパー1、粉体試料2、吸引プロワ−3,
フイーダー4、サイクロン5及び採集器6は第2図と同
様の構成につき説明は省略する。図において、分取管7
は、採集器6に接続されている。−次分散槽8には、攪
拌機9が装備されており分散液10が流入する。二次分
散槽11には、攪拌機12が装備されておりポンプ13
によって吸引すると、粉体試料2を分散液10で分散さ
せた混液はセル14内を通過する。セル14の側面には
、レーザー15、他面には受光器16が設置されている
。
、第1図のホッパー1、粉体試料2、吸引プロワ−3,
フイーダー4、サイクロン5及び採集器6は第2図と同
様の構成につき説明は省略する。図において、分取管7
は、採集器6に接続されている。−次分散槽8には、攪
拌機9が装備されており分散液10が流入する。二次分
散槽11には、攪拌機12が装備されておりポンプ13
によって吸引すると、粉体試料2を分散液10で分散さ
せた混液はセル14内を通過する。セル14の側面には
、レーザー15、他面には受光器16が設置されている
。
受光器16の電気信号を受けとり、分級目標値を入力す
るコンビエータ17は吸引調姫弁18に電気信号を送り
、向弁18の開度を調整する。
るコンビエータ17は吸引調姫弁18に電気信号を送り
、向弁18の開度を調整する。
次に上記方法について手順側に詳しく説明する。
(11ホッパー1に粉体試料2を入れる。
(2)吸引ブロアー3を起動する。
(3)粉体試料2はフィーダー4により徐々にサイクロ
ン5内へ導かれる。
ン5内へ導かれる。
(4)サイクロン5内において、粉体試料2は気iKよ
り、旋回分散しながら遠心力と流体抵抗により分級され
る。
り、旋回分散しながら遠心力と流体抵抗により分級され
る。
(5)分級された粗粒は、採集器6に落下捕集され、一
部は、分取管7を通って一次分散槽8に入る。
部は、分取管7を通って一次分散槽8に入る。
(6)−次分散槽8に分散液10が入って攪拌機9で粒
子を攪拌、分散させる。
子を攪拌、分散させる。
(7)粉体試料2と分散液10の混合物は、二次分散槽
11内に入り、攪拌機12によってさらに攪拌分散され
ポンプ13で吸引されてセル14内を通過する。
11内に入り、攪拌機12によってさらに攪拌分散され
ポンプ13で吸引されてセル14内を通過する。
(8)レーザー15が発光した光はセル14内を照射し
セル14内の粒子によって回折し受光!16に受光され
粒度の測定を行なう。
セル14内の粒子によって回折し受光!16に受光され
粒度の測定を行なう。
(9)受光器16で計測された粒度の値をコンビー−タ
17に入力し、あらかじめコンピュータ17に人力して
おいた目標の平均粒径(50%径)との差を求める。
17に入力し、あらかじめコンピュータ17に人力して
おいた目標の平均粒径(50%径)との差を求める。
αOコンビエータ17で求めた粒度分布の目標値と測定
値との差を電気信号で吸引調整弁18に送り開弁18の
開度を調整する。
値との差を電気信号で吸引調整弁18に送り開弁18の
開度を調整する。
αυ 吸引調整弁18の開度は目標とする粒度分布すな
わち平均粒径により次のように調整される。
わち平均粒径により次のように調整される。
(al 吸引調整弁18を開m1lKする程、サイク
ロン5内の流速が速くなり、吸引ブロアー3の図示しな
いバグフィルタ−には微粒のみが捕集され、採集器6に
は粗粒を主とした微粒を含むものが捕集される。
ロン5内の流速が速くなり、吸引ブロアー3の図示しな
いバグフィルタ−には微粒のみが捕集され、採集器6に
は粗粒を主とした微粒を含むものが捕集される。
Tbl 吸引趣整弁18を閉側にする程、サイクロン
5内の流速が遅くなり、ある程度の微粒も採集器6に粗
粒と同伴して捕集される。
5内の流速が遅くなり、ある程度の微粒も採集器6に粗
粒と同伴して捕集される。
吸引ブロアー3の図示しないバグフィルタ−には上記(
alの場合よりさらに微粒の粉体のみが捕集される。
alの場合よりさらに微粒の粉体のみが捕集される。
以上説明したように、本実施例の方法によれば、吸引ブ
ロアー3のバグフィルタ−には所望粒度の微粉が、採集
66には比較的粗粉が、目標値の選択のみによって精確
にかつ自動的に集められる。
ロアー3のバグフィルタ−には所望粒度の微粉が、採集
66には比較的粗粉が、目標値の選択のみによって精確
にかつ自動的に集められる。
なお、上記実施例では粒度の測定にレーザーや受光器を
用いたが、測定手段はこれらに限られるものではなく、
たとえば他の光線、電磁波、超音波その他の手段が合目
的に用いられてよい。流速調整手段も吸引調整弁に限ら
れる必要はなく、ダンパ、吐出速度調整可能なポンプ、
ファンその他適宜な手段が用いられてよい。
用いたが、測定手段はこれらに限られるものではなく、
たとえば他の光線、電磁波、超音波その他の手段が合目
的に用いられてよい。流速調整手段も吸引調整弁に限ら
れる必要はなく、ダンパ、吐出速度調整可能なポンプ、
ファンその他適宜な手段が用いられてよい。
本発明は上記のように構成されるので次の効果を有する
。
。
(1)分級中の粒度の状態を知る事ができ1粒度分布の
測定値により、吸引条件であるサイクロン内の流速を自
動的に変更し目標値に沿うよう調整することが可能であ
る。
測定値により、吸引条件であるサイクロン内の流速を自
動的に変更し目標値に沿うよう調整することが可能であ
る。
(2) 10ミクロン以下の微粒域でも確実に分級す
ることが可能である。
ることが可能である。
(3)−回の分級作業で目標値に近い粒度分布が得られ
るので再分級等の必要がなくなり、分級に要する時間の
労費と粉体の無駄がなくなる。
るので再分級等の必要がなくなり、分級に要する時間の
労費と粉体の無駄がなくなる。
第1図は、本発明の一実施例の方法に用いる分級機の模
式的構成図、第2図は従来の方法に用いる粉体分級装置
の構成図である。
式的構成図、第2図は従来の方法に用いる粉体分級装置
の構成図である。
Claims (1)
- サイクロンを用いた乾式気流分級機による粉体の分級法
において、分級中の粉体を採集器から連続的に取り出し
て粒度分布を測定し、その測定値を、予め目標の粒度分
布の設定値を入力したコンピュータに入力して上記設定
値と測定値との差を電気信号に変換し、同電気信号によ
って上記サイクロン内の流速を調整する流速調整手段に
入力してサイクロン内の流速を調整することを特徴とす
る粉体分級法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31092887A JPH01151961A (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 粉体分級法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31092887A JPH01151961A (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 粉体分級法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01151961A true JPH01151961A (ja) | 1989-06-14 |
Family
ID=18011071
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31092887A Pending JPH01151961A (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 粉体分級法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01151961A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7574930B2 (en) * | 2002-02-15 | 2009-08-18 | Implant Sciences Corporation | Trace chemical sensing |
JP2014526967A (ja) * | 2011-07-28 | 2014-10-09 | キュー チップ リミテッド | ビーズ収集装置及び方法 |
JP2015155584A (ja) * | 2014-02-21 | 2015-08-27 | セイコーエプソン株式会社 | シート製造装置およびシートの製造方法 |
-
1987
- 1987-12-10 JP JP31092887A patent/JPH01151961A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7574930B2 (en) * | 2002-02-15 | 2009-08-18 | Implant Sciences Corporation | Trace chemical sensing |
JP2014526967A (ja) * | 2011-07-28 | 2014-10-09 | キュー チップ リミテッド | ビーズ収集装置及び方法 |
US9625211B2 (en) | 2011-07-28 | 2017-04-18 | Midatech Pharma (Wales) Limited | Bead collection device and method |
JP2015155584A (ja) * | 2014-02-21 | 2015-08-27 | セイコーエプソン株式会社 | シート製造装置およびシートの製造方法 |
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