JPH01136065A - Mark display device for ultrasonic flaw detector - Google Patents

Mark display device for ultrasonic flaw detector

Info

Publication number
JPH01136065A
JPH01136065A JP62294154A JP29415487A JPH01136065A JP H01136065 A JPH01136065 A JP H01136065A JP 62294154 A JP62294154 A JP 62294154A JP 29415487 A JP29415487 A JP 29415487A JP H01136065 A JPH01136065 A JP H01136065A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
display
address
cursor
reflected wave
distance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62294154A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0561590B2 (en
Inventor
Yasuo Tanaka
康雄 田中
Eiki Izumi
和泉 鋭機
Shigenori Aoki
茂徳 青木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Construction Machinery Co Ltd filed Critical Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority to JP62294154A priority Critical patent/JPH01136065A/en
Publication of JPH01136065A publication Critical patent/JPH01136065A/en
Publication of JPH0561590B2 publication Critical patent/JPH0561590B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable positive recognition of a reflected wave as yardstick of measurement, by providing a mark applying means to apply a specified mark to the reflected wave displayed. CONSTITUTION:A signal received by a receiving section 2 is stored into a waveform memory 23 as digital signal. When a measuring range is specified from measuring range setting sections 36 and 37, out of data stored in the waveform memory 23, those within the measuring range are shifted to a display memory 32 to be displayed by a waveform display means 31. Then, from among reflected waves displayed, those specified are selected to compute a distance of a peak value of the reflected wave. An address corresponding to the distance involved of the display memory 32 is determined from the distance thus computed and a specified mark is applied to a display surface of a display section according to the address. This enables accurate recognition of the reflected wave as yardstick of measurement regardless of any change in the measuring range.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は超音波探傷器において、表示部に表示された反
射波のうちの特定のものにマークを付与する超音波探傷
器のマーク表示装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a mark display device for an ultrasonic flaw detector that attaches a mark to a specific reflected wave displayed on a display unit in an ultrasonic flaw detector. Regarding.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

超音波探傷器は、物体内部の傷の存在の有無を当該物体
を破壊することなく検査する装置として良く知られてい
る。この超音波探傷器を図により説明する。
Ultrasonic flaw detectors are well known as devices that inspect the presence or absence of flaws inside an object without destroying the object. This ultrasonic flaw detector will be explained using figures.

第18図は従来の超音波探傷器のブロック図である。図
で、■は被検査物体、ifは被検査物体l内に存在する
欠陥を示す。2は被検査物体1内に超音波を放射すると
ともに、反射してきた超音波に比例した電気信号を出力
する超音波探触子である。3は超音波探傷器であり、超
音波探触子2に対して超音波発生パルスを出力し、かつ
、超音波探触子2からの信号を受信し、この信号の波形
を表示する。
FIG. 18 is a block diagram of a conventional ultrasonic flaw detector. In the figure, ■ indicates the object to be inspected, and if indicates a defect existing in the object to be inspected l. 2 is an ultrasonic probe that emits ultrasonic waves into the object to be inspected 1 and outputs an electric signal proportional to the reflected ultrasonic waves. 3 is an ultrasonic flaw detector which outputs an ultrasonic generation pulse to the ultrasonic probe 2, receives a signal from the ultrasonic probe 2, and displays the waveform of this signal.

超音波探傷器3は次の各要素で構成されている。The ultrasonic flaw detector 3 is composed of the following elements.

即ち、4は超音波探傷器3の動作に時間的規制を与える
信号電圧を発生する同期回路、5は同期回路4の信号に
より超音波探触子2に超音波発生のためのパルスを出力
する送信部である。6′は超音波探触子2からの信号を
受信する受信部であり、抵抗器で構成される分圧器の組
合せより成る減衰回路6a、および増幅回路6b’で構
成される。
That is, 4 is a synchronous circuit that generates a signal voltage that temporally regulates the operation of the ultrasonic flaw detector 3, and 5 is a synchronous circuit that outputs pulses for generating ultrasonic waves to the ultrasonic probe 2 based on the signal from the synchronous circuit 4. This is the transmitter. 6' is a receiving section that receives the signal from the ultrasound probe 2, and is composed of an attenuation circuit 6a consisting of a combination of voltage dividers made up of resistors, and an amplification circuit 6b'.

7は増幅回路6b’ からの信号を整流する検波回路、
8は垂直軸増幅回路である。
7 is a detection circuit that rectifies the signal from the amplifier circuit 6b';
8 is a vertical axis amplifier circuit.

9は同期回路4からの同期信号により三角波を発生ずる
掃引回路、10は掃引回路9の三角波信号を増幅する増
幅回路である。1)は超音波探触子2からの信号波形を
表示する表示部であり、横軸は増幅回路10から出力さ
れる三角波で定まる時間軸とされ、縦軸は垂直軸増幅回
路8から出力される信号の大きさとされる。表示部1)
としては陰極線管が用いられ、その表面にはスケールが
表示されている。12は被検査物体1において、その表
面からの検査すべき範囲(測定範囲)を設定する測定範
囲設定部である。13は掃引開始信□号に遅れ時間をも
たせて表示部1)に表示される波形の位置を平行移動さ
せる遅延時間設定部である。
Reference numeral 9 represents a sweep circuit that generates a triangular wave based on the synchronization signal from the synchronization circuit 4, and reference numeral 10 represents an amplifier circuit that amplifies the triangular wave signal from the sweep circuit 9. 1) is a display section that displays the signal waveform from the ultrasound probe 2, the horizontal axis is the time axis determined by the triangular wave output from the amplifier circuit 10, and the vertical axis is the time axis determined by the triangular wave output from the amplifier circuit 8. It is considered to be the magnitude of the signal. Display section 1)
A cathode ray tube is used, and a scale is displayed on its surface. Reference numeral 12 denotes a measurement range setting section for setting the range to be inspected (measurement range) from the surface of the object 1 to be inspected. Reference numeral 13 denotes a delay time setting section that adds a delay time to the sweep start signal □ and moves the position of the waveform displayed on the display section 1) in parallel.

次に、上記従来の超音波探傷器の動作の概略を説明する
。同期回路4からの信号電圧により送信部5からパルス
が出力されると、超音波探触子2はこのパルスにより励
起されて被検査物体1に対して超音波を放射する。放射
された超音波の一部は被検査物体1の表面から直ちに超
音波探触子2に戻り、他は被検査物体1内を伝播し、被
検査物体lの底部に達し、ここで反射されて超音波探触
子2に戻る。一方、被検査物体lに欠陥1)が存在する
と、超音波は当該欠陥1rにおいても反射されて超音波
探触子2に戻る。これら超音波探触子2に戻った超音波
は超音波探触子2をその大きさに比例して励起し、超音
波探触子2からはこれに応じた電気信号が出力される。
Next, an outline of the operation of the conventional ultrasonic flaw detector described above will be explained. When a pulse is output from the transmitter 5 in response to a signal voltage from the synchronization circuit 4, the ultrasonic probe 2 is excited by the pulse and emits ultrasonic waves toward the object 1 to be inspected. A part of the emitted ultrasonic waves immediately returns to the ultrasonic probe 2 from the surface of the object to be inspected 1, and the rest propagates within the object to be inspected 1, reaches the bottom of the object to be inspected l, and is reflected there. and return to the ultrasonic probe 2. On the other hand, if a defect 1) exists in the object 1 to be inspected, the ultrasonic waves are also reflected from the defect 1r and return to the ultrasonic probe 2. These ultrasonic waves returned to the ultrasonic probe 2 excite the ultrasonic probe 2 in proportion to their magnitude, and the ultrasonic probe 2 outputs an electric signal corresponding to this.

この信号は減衰回路6aに入力され、処理に適した大き
さに調節され、増幅回路6b’ を経て検波回路7に入
力される。検波回路7は表示部1)の表示を片振り指示
とするため、入力信号を整流する。この際、当該信号に
混入している雑音成分も除去される。検波回路7の出力
信号は垂直軸増幅回路8を経て表示部1)に入力され、
その太きさが表示部1)の縦軸に表される。一方、掃引
回路9は同期回路4の同jtJl信号により三角波電圧
を発生し、この電圧は増幅回路10を経て表示部ll 
(陰極線管)の偏向電極に印加され、電子ビームを掃引
する。この掃引と前記垂直軸増幅回路8からの入力信号
により、表示部1)には超音波探触子2に戻った反射波
の波形が表示される。
This signal is input to an attenuation circuit 6a, adjusted to a size suitable for processing, and input to a detection circuit 7 via an amplifier circuit 6b'. The detection circuit 7 rectifies the input signal so that the display section 1) displays a one-sided swing instruction. At this time, noise components mixed in the signal are also removed. The output signal of the detection circuit 7 is inputted to the display section 1) via the vertical axis amplifier circuit 8,
The thickness is represented on the vertical axis of the display section 1). On the other hand, the sweep circuit 9 generates a triangular wave voltage based on the jtJl signal of the synchronization circuit 4, and this voltage passes through the amplifier circuit 10 to the display section ll.
Applied to the deflection electrode of a cathode ray tube (cathode ray tube), it sweeps the electron beam. Due to this sweep and the input signal from the vertical axis amplifier circuit 8, the waveform of the reflected wave returned to the ultrasound probe 2 is displayed on the display section 1).

このような超音波探傷器3を用いた探傷において、表示
部1)に表示される反射波の波形は、被検査物体1と超
音波探触子2との接触状態の如何によって変化する。こ
れを避けるため、通常、水浸法が採用されている。第1
9図は当該水浸法を説明する断面図である。図で、1は
被検査物体、1fは欠陥、2は超音波探触子であり、こ
れらは第18図に示すものと同じである。15は水槽、
16は水槽15内の水を示す。被検査物体1は水槽15
に沈められ、超音波探触子2は被検査物体lと水16を
介して対向せしめられる。超音波探触子2からの超音波
は水16を経て被検査物体1に射入し、被検査物体1の
各部からの反射波は水16を経て超音波探触子2に入力
されるので、表示部1)には安定した波形が表示される
ことになる。
In flaw detection using such an ultrasonic flaw detector 3, the waveform of the reflected wave displayed on the display section 1) changes depending on the state of contact between the object to be inspected 1 and the ultrasonic probe 2. To avoid this, a water immersion method is usually adopted. 1st
FIG. 9 is a sectional view illustrating the water immersion method. In the figure, 1 is an object to be inspected, 1f is a defect, and 2 is an ultrasonic probe, which are the same as those shown in FIG. 15 is an aquarium,
16 indicates water in the water tank 15. The object to be inspected 1 is a water tank 15
The ultrasonic probe 2 is immersed in the water 16, and the ultrasonic probe 2 is opposed to the object 1 to be inspected via the water 16. The ultrasonic waves from the ultrasonic probe 2 enter the object to be inspected 1 through the water 16, and the reflected waves from various parts of the object to be inspected 1 are input to the ultrasonic probe 2 through the water 16. , a stable waveform will be displayed on the display section 1).

第20図は表示された反射波の波形図である。FIG. 20 is a waveform diagram of the displayed reflected waves.

図で、横軸は時間、縦軸は反射波の大きさを示す。In the figure, the horizontal axis shows time and the vertical axis shows the magnitude of reflected waves.

Tは超音波探触子2から超音波が送信されたときに直ち
に反射される送信反射波、Sは被検査物体lの表面から
の反射波、Fは欠陥1fからの反射波、Bは被検査物体
1の底面からの反射波、B。
T is the transmitted reflected wave that is immediately reflected when the ultrasonic wave is transmitted from the ultrasonic probe 2, S is the reflected wave from the surface of the object to be inspected l, F is the reflected wave from the defect 1f, and B is the reflected wave from the defect 1f. Reflected wave from the bottom of inspection object 1, B.

は水槽15の底面からの反射波である。なお、被検査物
体1内における超音波の音速は一定であるので、横軸(
時間軸)は距離を表すことになり、この波形図から欠陥
1rの位置が判明する。
is a reflected wave from the bottom of the water tank 15. Note that since the sound speed of the ultrasonic wave within the inspected object 1 is constant, the horizontal axis (
The time axis) represents distance, and the position of the defect 1r can be determined from this waveform diagram.

ところで、一般に、被検査物体lを探傷する場合、必ず
しもその表面から底面まで全体を検査する必要はなく、
被検査物体1内のある深さ範囲(測定範囲)を表示部1
)に表示し、この範囲を検査すればよい場合が多い。こ
の場合には、測定範囲設定部12の粗調用つまみおよび
微調用つまみを操作して波形の拡張、縮小を行い、又、
遅延時間設定部13のつまみを操作して波形の移動を行
うことにより第20図に示す波形図のうちの所望の測定
範囲を表示部1)に表示する。これにより検査者は注意
して検査すべき領域を明確かつ容易に観察することがで
き、検査に要する時間や労力を軽減することができ、よ
り正確な検査を実施することができる。
By the way, in general, when inspecting an object to be inspected, it is not necessarily necessary to inspect the entire object from the surface to the bottom.
A certain depth range (measurement range) within the inspected object 1 is displayed on the display unit 1.
) and inspect this range. In this case, expand or reduce the waveform by operating the coarse adjustment knob and fine adjustment knob of the measurement range setting section 12, and
By operating the knob of the delay time setting section 13 to move the waveform, a desired measurement range in the waveform diagram shown in FIG. 20 is displayed on the display section 1). This allows the inspector to clearly and easily observe the area to be carefully inspected, reducing the time and effort required for inspection, and enabling more accurate inspection.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

ところで、上記超音波探傷器においては、前述のように
測定範囲設定部12および遅延時間設定部I3を操作す
ることにより表示部1)に所定の測定範囲を表示するが
、その測定範囲が表面の近傍、又は底面の近傍である場
合、表示部1)に常時反射波S又は反射波Bを表示して
欠陥1rの位置を正確に認識する手段が用いられる。し
かしながら、観測が一時中断された後再開されたり、観
測中途で観測者が交替するような場合、表示部1)に表
示されている反射波が反射波Sであるのか反射波Bであ
るのか、判断できなくなり混乱を生じる場合がある。こ
のような混乱は、例えば欠陥1rが複数あり、それらの
位置をより正確に観測するため表示範囲を狭くして表示
部1)から反射波S又は反射波Bが外れた場合、波形を
移動させて再び反射波S又は反射波Bを表示したときに
も生じ、この場合には観測者は被検査物体lのどの部分
を観測しているのか判らなくなる。
By the way, in the above-mentioned ultrasonic flaw detector, a predetermined measurement range is displayed on the display section 1) by operating the measurement range setting section 12 and the delay time setting section I3 as described above. If the defect is in the vicinity or near the bottom surface, a means is used to accurately recognize the position of the defect 1r by constantly displaying the reflected wave S or the reflected wave B on the display section 1). However, if the observation is resumed after being temporarily interrupted, or if the observer changes in the middle of the observation, it is difficult to determine whether the reflected wave displayed on the display section 1) is the reflected wave S or the reflected wave B. This may lead to inability to make decisions and confusion. Such confusion can be caused by, for example, if there are multiple defects 1r and the display range is narrowed in order to more accurately observe their positions, and the reflected wave S or reflected wave B deviates from the display section 1), the waveform may be moved. This also occurs when the reflected wave S or reflected wave B is displayed again, and in this case, the observer cannot tell which part of the object to be inspected I is observing.

さらに、誤ってゲインを小さくしてしまい、このため、
反射波が表示されるべき位置に表示されなくなったよう
な場合、観測者は超音波探傷器に故障が発生したものと
誤認し故障個所を探傷するための手間と時間を浪費する
ことになる。
Furthermore, I accidentally reduced the gain, which caused me to
If the reflected wave is no longer displayed at the position where it should be displayed, the observer may mistakenly assume that a failure has occurred in the ultrasonic flaw detector, resulting in wasted effort and time to detect the failure location.

さらに又、探傷が上記水浸法によらず、探触子2を直接
被検査物体lに接触して行なわれた場合、探傷子2の接
触が不良であったり、その接触面が粗い場合、反射波が
得られなくなる場合があり、この場合、観測者は接触が
良好でないのか、ゲインが不足しているのか、又は誤っ
た個所を探傷しているのか、あるいは超音波探傷器が故
障しているのか判断できなくなる。
Furthermore, when flaw detection is performed by directly contacting the probe 2 with the object to be inspected l without using the above-mentioned water immersion method, if the contact of the flaw probe 2 is poor or the contact surface is rough, In some cases, the reflected wave cannot be obtained, and in this case, the observer must check whether the contact is not good, the gain is insufficient, the flaw is being detected in the wrong place, or the ultrasonic flaw detector is malfunctioning. I can't tell if it's there or not.

以上のような欠点は、すべて反射波S、Bを確認できな
いことに起因するものであり、これを確認できれば解消
されるものと考えられる。
All of the above-mentioned drawbacks are due to the inability to confirm the reflected waves S and B, and it is thought that they can be resolved if this can be confirmed.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
その目的は、上記従来技術の問題点を解決し、所定の反
射波を確実に認識することができる超音波探傷器を提供
するにある。
The present invention was made in view of these circumstances, and
The purpose is to provide an ultrasonic flaw detector that solves the problems of the prior art described above and can reliably recognize a predetermined reflected wave.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記の目的を達成するため、本発明は、反射波S、B等
に所望の符号を付与するものであり、そのために、受信
部で得られた信号をディジタル的に処理する構成とされ
る。即ち、本発明は、超音波探触子に対して所定のパル
スを出力する送信部と、前記超音波探触子からの信号を
受信する受信部と、こめ受信部で受信された信号に基づ
いて当該信号の波形を表示する表示部とを備えた超音波
探傷器において、前記受信部で受イεされた入力信号を
所定のサンプリング周期で順次アドレスに記憶する波形
メモリと、前記表示部に表示するデータを記憶する表示
メモリと、前記表示部に表示すべき測定範囲に応じて前
記波形メモリのアドレスを選択する選択手段と、この選
択手段により選択されたアドレスのデータを対応する前
記表示メモリのアドレスに移送するデータ移送手段と、
前記表示メモリのデータを前記表示部に表示する波形表
示手段と、表示された反射波のうち所定の反射波を選択
する反射波選択手段と、選択された反射波の距離を演算
する演算手段と、演算された距離に対応する前記表示メ
モリのアドレスを決定するアドレス決定手段と、決定さ
れたアドレスに対応する前記表示部の位置に所定のマー
クを表示するマーク表示手段とを設けたことを特徴とす
る。
In order to achieve the above object, the present invention assigns a desired code to the reflected waves S, B, etc., and is configured to digitally process the signal obtained by the receiving section. That is, the present invention includes a transmitter that outputs a predetermined pulse to an ultrasound probe, a receiver that receives a signal from the ultrasound probe, and a receiver that outputs a predetermined pulse based on the signal received by the receiver. The ultrasonic flaw detector is equipped with a display section that displays the waveform of the signal at a predetermined sampling period, and a waveform memory that sequentially stores the input signal received by the reception section in addresses at a predetermined sampling period; a display memory for storing data to be displayed; a selection means for selecting an address of the waveform memory according to a measurement range to be displayed on the display; and a display memory for storing data at the address selected by the selection means. a data transfer means for transferring the data to the address of
waveform display means for displaying data in the display memory on the display section; reflected wave selection means for selecting a predetermined reflected wave from among the displayed reflected waves; and calculation means for calculating the distance of the selected reflected wave. , further comprising: address determining means for determining an address of the display memory corresponding to the calculated distance; and mark display means for displaying a predetermined mark at a position on the display section corresponding to the determined address. shall be.

〔作 用〕[For production]

受信部で受信された信号はディジタル信号として波形メ
モリに記j9される。そして、測定範囲に応じて波形メ
モリに記憶されたデータのうちの所定のデータが表示メ
モリに移され、表示メモリのデータが波形表示手段によ
り表示部に表示される。
The signal received by the receiving section is recorded in the waveform memory j9 as a digital signal. Then, predetermined data of the data stored in the waveform memory is transferred to the display memory according to the measurement range, and the data in the display memory is displayed on the display section by the waveform display means.

次いで、表示された反射波のうちの所定のものを選択し
、その反射波のピーク値の距離を演算する。
Next, a predetermined one is selected from among the displayed reflected waves, and the distance of the peak value of the reflected wave is calculated.

そして、この距離に基づいて表示メモリの当該距離に該
当するアドレスを求め、このアドレスに対応する表示部
の表示面に所定のマークを表示する。
Then, based on this distance, an address corresponding to the distance in the display memory is determined, and a predetermined mark is displayed on the display surface of the display section corresponding to this address.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。 Hereinafter, the present invention will be explained based on illustrated embodiments.

第1図は本発明の実施例に係る超音波探傷器のブロック
図である。図で、第18図に示す部分と同一部分には同
一符号を付して説明を省略する。
FIG. 1 is a block diagram of an ultrasonic flaw detector according to an embodiment of the present invention. In the figure, parts that are the same as those shown in FIG. 18 are given the same reference numerals, and explanations thereof will be omitted.

なお、超音波探傷器においては、反射波を検波して表示
する場合と、検波せずに表示する場合とがあるが、いづ
れの場合でも本発明は適用可能である。従って、以下で
は、第18図での増幅2H6b’と検波回路7とを合わ
せたものを増幅回路6bとして/受信部6を構成し/検
波を行なった実施例を示す。21は本実施例の超音波探
傷器を示す。
In addition, in the ultrasonic flaw detector, there are cases where reflected waves are detected and displayed, and cases where reflected waves are displayed without detection, and the present invention is applicable in either case. Therefore, in the following, an embodiment will be described in which a combination of the amplification 2H6b' and the detection circuit 7 in FIG. 18 is used as the amplifier circuit 6b, and the receiving section 6 is configured and detection is performed. Reference numeral 21 indicates an ultrasonic flaw detector of this embodiment.

この超音波探傷器21は次の各要素により構成されてい
る。即ち、22は受信部6の出力13号をディジタル値
に変換するA/D変換部、23はA/D変換部 22で
変換された値を記憶する波形メモリ、24は波形メモリ
23の各アドレスを順に指定してゆくアドレスカウンタ
である。25はタイミング回路であり、送信部5、A/
D変換部22およびアドレスカウンタ24へそれぞれ起
動信号を与える。このタイミング回路25の発振には水
晶発振子が用いられる。
This ultrasonic flaw detector 21 is composed of the following elements. That is, 22 is an A/D converter that converts the output No. 13 of the receiver 6 into a digital value, 23 is a waveform memory that stores the values converted by the A/D converter 22, and 24 is each address of the waveform memory 23. This is an address counter that sequentially specifies . 25 is a timing circuit, which connects the transmitter 5, A/
A start signal is given to the D converter 22 and address counter 24, respectively. A crystal oscillator is used for oscillation of this timing circuit 25.

26は所要の演算、制御を行うCPU (中央処理装置
)、27は演算のためのパラメータやデータ等を一時記
憶するRAM (ランダム・アクセス・メモリ)、28
はCPU26の処理子1頃を記憶するROM (リード
・オンリ・メモリ〉である。
26 is a CPU (central processing unit) that performs necessary calculations and control; 27 is a RAM (random access memory) that temporarily stores parameters and data for calculations; 28
is a ROM (read-only memory) that stores the first processor of the CPU 26.

30は被検査物体l内を超音波が伝播する速度(音速)
その他の値を入力するキーボード入力部である。31は
液晶表示部、32はCP [J 26の演算、制御の結
果得られたデータに基づいて液晶表示部3]の表示を制
御する表示部コントローラである。32mは表示部コン
トローラ32に設けられた表示メモリであり、この表示
メモリ32mには液晶表示部31に表示するデータが格
納される。
30 is the speed at which the ultrasonic wave propagates within the object to be inspected (sound speed)
This is a keyboard input section for inputting other values. 31 is a liquid crystal display section, and 32 is a display section controller that controls the display of the CP [liquid crystal display section 3 based on data obtained as a result of calculation and control of J26]. 32m is a display memory provided in the display unit controller 32, and data to be displayed on the liquid crystal display unit 31 is stored in this display memory 32m.

表示メモリ32mのアドレスの数は、液晶表示部31に
おける横方向に配列された液晶ドツトの数と同数である
。33はマーク設定部であり、反射波にマークを付する
ために用いられる。このマーク設定部は第2図を用いて
さらに後述する。34は表示部31にカーソルを表示す
る場合、当該カーソルの始点位置を定めるカーソル始点
設定部、35は当該カーソルの幅を指示するカーソル幅
設定部である。36は表示部31に波形を表示する場合
の表示始点を設定する表示始点設定部、37は測定範囲
を定める測定範囲設定部である。38は文字を選択して
設定する文字設定部である。
The number of addresses in the display memory 32m is the same as the number of liquid crystal dots arranged in the horizontal direction in the liquid crystal display section 31. 33 is a mark setting section, which is used to mark the reflected wave. This mark setting section will be further described later with reference to FIG. 34 is a cursor start point setting section that determines the starting point position of the cursor when the cursor is displayed on the display section 31, and 35 is a cursor width setting section that specifies the width of the cursor. 36 is a display start point setting section for setting a display start point when displaying a waveform on the display section 31, and 37 is a measurement range setting section for defining a measurement range. 38 is a character setting section for selecting and setting characters.

第2図は第1図に示すマーク設定部33におけるキース
イッチの配置図である。本実施例において、マーク設定
部33のキースイッチは、0〜9までの10個の数字キ
ースイッチ33a、「マーク」の表示があるマークキー
スイッチ33b、および「セット」の表示があるセット
キースイッチ33Cで構成されている。マーク二〜−−
スイッチ33bはマークを設定する処理動作を起動する
機能を有し、又、セットキースイッチ33cは入力終了
の信号を出力する機能を有する。
FIG. 2 is a layout diagram of key switches in the mark setting section 33 shown in FIG. 1. In this embodiment, the key switches of the mark setting section 33 include ten numeric key switches 33a from 0 to 9, a mark key switch 33b with a "mark" display, and a set key switch with a "set" display. It is composed of 33C. Mark 2--
The switch 33b has a function of starting a processing operation for setting a mark, and the set key switch 33c has a function of outputting an input end signal.

次に、本実施例の動作を説明する。本実施例においては
、第1図およびその説明からも判るように、受信部6で
受信された超音波信号波形はディジタル的に処理されて
波形メモリ23へ人力され(波形メモリ入力手段)、入
力された信号は測定始点設定部3Gおよび測定範囲設定
部37により所望の範囲の信号が選択されて液晶表示部
31に表示され(測定範囲表示手段)、表示された信号
波形のうらの所定の反射波をカーソル始点設定部34、
カーソル幅設定部35を操作してカーソルで選択しくカ
ーソル表示手段)、選択された反射波にマーク設定部3
3および文字設定部38により所望のマークを付与する
(マーク付与手段)という動作が実行される。以下、E
記波形メモリ入力手段、測定範囲表示手段、カーソル表
示手段およびマーク付与手段について説明する。
Next, the operation of this embodiment will be explained. In this embodiment, as can be seen from FIG. 1 and its explanation, the ultrasonic signal waveform received by the receiving section 6 is digitally processed and manually input to the waveform memory 23 (waveform memory input means), and then input. The measurement start point setting section 3G and the measurement range setting section 37 select signals in a desired range and display them on the liquid crystal display section 31 (measurement range display means). wave cursor start point setting section 34;
The cursor width setting section 35 is operated to select the cursor using the cursor display means), and the selected reflected wave is marked on the selected reflected wave by the cursor setting section 3.
3 and the character setting section 38 perform an operation of adding a desired mark (mark adding means). Below, E
The waveform memory input means, measurement range display means, cursor display means, and mark adding means will be explained.

(1)波形メモリ人力手段 まず最初に波形メモリ23へのデータの格納動作を第3
図に示す反射波の波形図、第4図に示す波形メモリ23
のブロック図を参照しながら説明する。タイミング回路
25から送信部5ヘトリガ信号が出力されると、送信部
5は超音波探触子2にパルスを出力し、超音波探触子2
から被検査物体1内に超音波が放射される。この超音波
の反射波は超音波探触子2により電気信号に変換され、
この信号は受信部6で受信される。受信部6は、受信し
た反射波信号を以後の処理に適した値として出力する。
(1) Waveform memory manual means First, the operation of storing data in the waveform memory 23 is
The waveform diagram of the reflected wave shown in the figure, the waveform memory 23 shown in Fig. 4
This will be explained with reference to the block diagram. When the trigger signal is output from the timing circuit 25 to the transmitter 5, the transmitter 5 outputs a pulse to the ultrasound probe 2.
Ultrasonic waves are radiated into the object 1 to be inspected. This reflected ultrasound wave is converted into an electrical signal by the ultrasound probe 2,
This signal is received by the receiving section 6. The receiving unit 6 outputs the received reflected wave signal as a value suitable for subsequent processing.

この出力された反射波信号は、所定のサンプリング周期
毎にA/D変換部22においてディジタル値に変換され
、この変換された値は順次波形メモリ23に記憶される
。この記憶は、アドレスカウンタ24が波形メモリ23
のアドレスを順次指定するごとによりなされる。反射波
信号のサンプリング、波形メモリ23のアドレス指定は
タイミング回路25から出力される起動信号により実行
される。このような反射波信号のサンプリングと、その
ディジタル値の波形メモリ23への収容を第3図および
第4図により説明する。
This output reflected wave signal is converted into a digital value in the A/D converter 22 at every predetermined sampling period, and the converted values are sequentially stored in the waveform memory 23. This memory is stored by the address counter 24 in the waveform memory 23.
This is done by sequentially specifying the addresses of . Sampling of the reflected wave signal and addressing of the waveform memory 23 are executed by a start signal output from the timing circuit 25. Sampling of such a reflected wave signal and storage of its digital value in the waveform memory 23 will be explained with reference to FIGS. 3 and 4.

第3図は反射波信号の波形図である。図で、横軸には時
間が、縦軸には反射波信号の大きさ(電圧)がとっであ
る。T、Fは第20図に示すものと同じ反射波を示す。
FIG. 3 is a waveform diagram of the reflected wave signal. In the figure, the horizontal axis represents time, and the vertical axis represents the magnitude (voltage) of the reflected wave signal. T and F indicate the same reflected waves as shown in FIG.

なお、第3図では横軸のみが極端に拡大して描かれてい
る。次に、第4図は波形メモリ23のブロック図である
。縦列に並べて示された各ブロックは波形メモリ23に
おけるデータの収容部を意味し、各収容部に記載された
D(0)、D(1)・−°−°°−°°−D 、、−、
、・D(1))・D(口◆1) ”””・・・はA/D
変換部22でディジタル値に変換された反射波信号のデ
ータである。これらデータを一般形としてり3.、で表
わす。又、各収容部の左側に記載された符号へ□6)、
A□1)+・・・・・・・・・A□n−1)+A、4.
ゎ1.  A□7゜1.・・・・・・・・・は対応する
収容部のアドレスを示す。これらアドレスを一般形とし
てAl4141で表わす。
In addition, in FIG. 3, only the horizontal axis is extremely enlarged. Next, FIG. 4 is a block diagram of the waveform memory 23. Each block shown in a column means a data storage section in the waveform memory 23, and the data written in each storage section are D(0), D(1)・-°-°°-°°-D, . -,
,・D(1))・D(mouth◆1) “””... is A/D
This is data of a reflected wave signal converted into a digital value by the converter 22. Take these data in general form.3. , is expressed as . Also, go to the code written on the left side of each storage section □6),
A□1)+・・・・・・A□n-1)+A, 4.
ゎ1. A□7゜1. . . . indicates the address of the corresponding storage section. These addresses are expressed in general form as Al4141.

今、第3図に示す時刻t0において、タイミング回路2
5からA/D変換部22およびアドレスカウンタ24に
起動信号が出力されると、A/[〕変換部22ではその
ときの反射波′rの電圧をA/D変換してデータD、。
Now, at time t0 shown in FIG.
5 outputs a start signal to the A/D converter 22 and the address counter 24, the A/[ ] converter 22 A/D converts the voltage of the reflected wave 'r at that time to obtain data D.

、を得る。又、アドレスカウンタ24は波形メモリ23
のアドレスAM(01を指定する。この結果、データD
、。、は波形メモリ23のアドレスA□。、に収容され
る。次いで、時間τ、経過後の時刻L1において、タイ
ミング回路25から再びA/D変換部22およびアドレ
スカウンタ24に起動信号が出力されると、同じくその
ときの反射波Tの電圧がA/D変換部22で変換されて
データD、1.が得られ、アドレスカウンタ24は次の
アドレスAM1))を措定するので、波形メモリ23の
アドレスA03.にデータD (1)が収容される。こ
の場合、時間τ、がサンプリング時間(例えば50ns
)となる。以下、同様にして反射波T、S、F、B、 
町旧・・のデータが波形メモリ23に記憶されることに
なる。
, get . Further, the address counter 24 is connected to the waveform memory 23.
Specify the address AM (01. As a result, the data D
,. , is the address A□ of the waveform memory 23. , accommodated in Next, at time L1 after time τ has elapsed, when the timing circuit 25 again outputs the activation signal to the A/D converter 22 and address counter 24, the voltage of the reflected wave T at that time is also A/D converted. The data D, 1. is obtained, and the address counter 24 assumes the next address AM1)), so the address A03 . Data D (1) is stored in . In this case, the time τ is the sampling time (for example, 50 ns
). Hereinafter, the reflected waves T, S, F, B,
The data of Town Old... will be stored in the waveform memory 23.

(II)測定範囲表示手段 上記のようにして波形メモリ23に記憶された波形のデ
ータは、それらのすべてが表示に用いられるのではなく
、所望の測定範囲のデータのみが表示に用いられる。即
ち、当該データのうちの所要のデータが選IHされて表
示部コントローラ32の表示メモリ32mに入力され、
これら入力されたデータに基づいて表示が行なわれるこ
とになる。
(II) Measurement Range Display Means Not all of the waveform data stored in the waveform memory 23 as described above is used for display, but only data in a desired measurement range is used for display. That is, required data from among the data is selected and input into the display memory 32m of the display controller 32,
Display will be performed based on these input data.

ここで、まず波形メモリ23、液晶表示部31、コント
ローラ32)表示メモリ32mの関係の概略について説
明する。液晶表示部31は横方向において、ある数の液
晶ドツトが配列されており、又、表示部コントローラ3
2には前述のように当該配列の数と同数のアドレスを有
する表示メモリ32mが設けられている。今、仮に液晶
ドツトの配列の数を200とすると、表示メモリ32m
のアドレス(これをAL(j)で表す)の数は、アドレ
スALT。、からアドレスAL(199)までの200
となる。又、波形メモリ23のアドレスA1!)のうち
、反射波T、S、F、B、BSまでが格納されているア
ドレスの数を例えば1000とする。一方、表示メモリ
の数は200であるので、全ての領域を表示するために
は、表示するデータを間引く必要がある。そこで、上記
1000のアドレス(アドレス八〇。、〜Al’+(9
99)) のうち5番目毎のアドレス(アドレスA0゜
l+  API+s++  AM+10)  ・・・・
・・・・・・・・AM (99+1> )を表示メモリ
32mのアドレスAL(J、に対応させ、そのデータを
表示メモリ32mの当該アドレスに転送し、表示部コン
トローラ32によりこれらのデータを液晶表示部31に
表示すれば各反射波T ” B sを表示することがで
きる。
First, the outline of the relationship among the waveform memory 23, liquid crystal display section 31, controller 32, and display memory 32m will be described. The liquid crystal display section 31 has a certain number of liquid crystal dots arranged in the horizontal direction, and the display section controller 3
2 is provided with a display memory 32m having the same number of addresses as the number of arrays, as described above. Now, if the number of liquid crystal dot arrays is 200, the display memory will be 32 m.
The number of addresses (denoted by AL(j)) is the address ALT. , 200 from address AL (199)
becomes. Also, address A1 of the waveform memory 23! ), the number of addresses storing reflected waves T, S, F, B, and BS is, for example, 1000. On the other hand, since the number of display memories is 200, it is necessary to thin out the data to be displayed in order to display all areas. Therefore, the above 1000 addresses (address 80., ~Al'+(9
99)) Every fifth address (address A0゜l+API+s++AM+10)...
......Make AM (99+1>) correspond to the address AL (J) of the display memory 32m, transfer the data to the corresponding address of the display memory 32m, and display these data by the display controller 32 on the liquid crystal display. If displayed on the display section 31, each reflected wave T''Bs can be displayed.

さて、以上の関係を基にして、次に所望の測定範囲の波
形表示の動作を第5図に示す波形図および第6図に示す
フローチャートを参照しながら説明する。第5図で、T
、S、F、B、Bsは第20図に示すものと同じ反射波
の波形である。−点鎖線で囲まれている部分31Aは液
晶表示部31に表示されるべき所望の測定範囲である。
Now, based on the above relationship, the operation of displaying the waveform of a desired measurement range will be explained next with reference to the waveform diagram shown in FIG. 5 and the flowchart shown in FIG. 6. In Figure 5, T
, S, F, B, and Bs are the same waveforms of reflected waves as shown in FIG. - The portion 31A surrounded by the dotted chain line is the desired measurement range to be displayed on the liquid crystal display section 31.

又、測定範囲31Aは液晶表示部31のうち波形表示を
する領域である。さらに、Cs、CEはそれぞれ液晶表
示部31に表示される前カーソルおよび後カーソルであ
る。31Bはこれら前カーソルC3と後カーソルCcと
で挟まれる領域を示し、測定範囲31A内において選択
される。xt、x2.x、は後述する距離’S+  I
R,l、とを画面上に表示する位置を示す。これら前カ
ーソルC5および後カーソルC4については後述する(
III)カーソル表示手段の項において説明する。第5
図に示される状態は、両カーソルCs、Ctに挟まれた
領域31Bをはさんでその両側近辺の部分の測定範囲1
)1の領域が液晶表示部31に表示されている状態を模
式的に示したものである。ここで、図示されている寸法
(距1idI>について述べる。
Further, the measurement range 31A is an area of the liquid crystal display section 31 that displays waveforms. Furthermore, Cs and CE are a front cursor and a back cursor displayed on the liquid crystal display section 31, respectively. 31B indicates an area sandwiched between the front cursor C3 and the rear cursor Cc, and is selected within the measurement range 31A. xt, x2. x is the distance 'S+I, which will be described later.
It shows the position where R, l, and are displayed on the screen. These previous cursor C5 and subsequent cursor C4 will be described later (
This will be explained in the section of III) cursor display means. Fifth
The state shown in the figure is the measurement range 1 in the vicinity of both sides of the area 31B sandwiched between the cursors Cs and Ct.
) 1 is schematically shown in a state where the region 1 is displayed on the liquid crystal display section 31. Here, the illustrated dimensions (distance 1idI>) will be described.

l、:始点(本例では、表面からの反射波Sのピーク位
置)から測定範囲31A左端までの距離 IR:測定範囲31Aの幅と対応する距離lcs:測定
範囲31Aの左端から前記前カーソルCsまでの距離 lct:測定範囲31Aの左端から後カーソルC0まで
の距離 1.1 :前カーソルC3と後カーソルC1との間の領
域31Bの幅(カーソル幅) ここで、距離l、の始点について説明する。この始点(
e、 =0)は本実施例では波形メモリ23にデータの
格納を開始した時点(送信パルス出力とデータ格納開始
を同時に行なうものと想定する。)からの経過時間と音
速(既知)とから計算により求める手法がとられる。な
お、このような距離計算の始点は、本実施例のように反
射波Sの位置に限ることはなく、任意の位置に設定する
ことができる。その場合には、対応する波形メモリ23
のアドレスを本実施例の表示メモリ32mの先頭アドレ
スに対応させればよい。以下の説明では、波形メモリ2
3の先頭アドレスに対応する位置が距離Oとされている
l: Distance from the starting point (in this example, the peak position of the reflected wave S from the surface) to the left end of the measurement range 31A IR: Distance corresponding to the width of the measurement range 31A lcs: From the left end of the measurement range 31A to the previous cursor Cs Distance lct: Distance from the left end of the measurement range 31A to the rear cursor C0 1.1: Width of the area 31B between the front cursor C3 and the rear cursor C1 (cursor width) Here, the starting point of the distance l will be explained. do. This starting point (
In this embodiment, e, =0) is calculated from the elapsed time from the time when data storage started in the waveform memory 23 (assuming that the transmission pulse output and data storage start are performed at the same time) and the sound speed (known). A method is used to find it. Note that the starting point of such distance calculation is not limited to the position of the reflected wave S as in this embodiment, and can be set at any position. In that case, the corresponding waveform memory 23
It is sufficient to make the address correspond to the first address of the display memory 32m of this embodiment. In the following explanation, waveform memory 2
The position corresponding to the first address of No. 3 is defined as distance O.

次いで、液晶表示部31に上記第5図に示すような波形
表示を行う場合の動作を以下に説明する。
Next, the operation when displaying a waveform as shown in FIG. 5 on the liquid crystal display section 31 will be described below.

最初に、キーボード入力部30に被検査物体l内を超音
波が伝播する音速(この音速を■、とする)を入力し、
又、測定始点設定部36および測定範囲設定部37によ
り、それぞれ始点から測定領域左端までの距離e8、及
び測定範囲31Aの幅NNを人力する。又、前記表示メ
モリ32mのアドレスAL(、)の数は液晶−表示部3
1に応じて定められた値であり、予め記憶されている。
First, input the speed of sound at which the ultrasonic wave propagates inside the object to be inspected l (this speed of sound is assumed to be ■) into the keyboard input section 30,
Further, the measurement start point setting section 36 and the measurement range setting section 37 manually set the distance e8 from the start point to the left end of the measurement area and the width NN of the measurement range 31A, respectively. Further, the number of addresses AL(,) of the display memory 32m is the same as that of the liquid crystal display section 3.
1, and is stored in advance.

このアドレスALTj)の数(前記原点設定の説明では
200個として例示されている)をに1−で表す。
The number of addresses (ALTj) (200 in the explanation of the origin setting) is represented by 1-.

上記測定始点設定部36および測定範囲設定部37はそ
れぞれロータリスイッチで構成されており、一方向、例
えば時計方向(正方向)のij’を位角度の回動により
定められた単位数値Δlが現在値に加算され、逆方向(
負方向)の単位角度の回動により減算される。このよう
な加算、減算は各ロークリスイッチの概作量をCPU2
6が読込むことにより行なわれ、これにより測定始点設
定部36に距離l、が、又、測定範囲設定部37に距月
l I!Rがそれぞれ設定され、これらの値1..(!
、lにより始点から測定範囲終点までの距ir、ItI
E(lE=ffs+7!*)が決定される。これらの数
値ns+lR1)Eは第5図に示す位置x、、X2.X
3にそれぞれ表示される。
The measurement start point setting section 36 and the measurement range setting section 37 are each constituted by a rotary switch, and the unit numerical value Δl determined by rotation of the position angle in one direction, for example, clockwise (positive direction), ij' is currently displayed. is added to the value and reversed (
is subtracted by rotation of unit angle in negative direction). Such additions and subtractions are performed by calculating the approximate amount of each low switch by CPU2.
6 is read, and thereby the distance l is stored in the measurement start point setting section 36, and the distance l I! is stored in the measurement range setting section 37. R are set respectively, and these values 1. .. (!
, l is the distance ir from the starting point to the end point of the measurement range, ItI
E(lE=ffs+7!*) is determined. These numerical values ns+lR1)E correspond to the positions x, , X2 . X
3 are displayed respectively.

上記各数値V5.125 、(IH、KLが定まると、
CPU26はROM28に記憶されている手順にしたが
ってこれら数値を順次読込む(第6図に示す手順P1)
)。
Each of the above numerical values V5.125, (Once IH and KL are determined,
The CPU 26 sequentially reads these numerical values according to the procedure stored in the ROM 28 (procedure P1 shown in FIG. 6).
).

次いで、液晶表示部31の測定範囲31Aの範囲に波形
を表示するには、波形メモリ23に記憶されているデー
タをどのようにとり出せばよいかが演算により求められ
る(手順P1□)。以下、この演算について説明する。
Next, in order to display the waveform within the measurement range 31A of the liquid crystal display section 31, it is calculated how to retrieve the data stored in the waveform memory 23 (step P1□). This calculation will be explained below.

波形メモリ23には、前述のように反射波T以下の反射
波のデータが記憶されている。しかし、前述のようにこ
の中で必要とされるのはこれら測定範囲31A内のデー
タであり、これら測定範囲31A内のデータを液晶表示
部31に表示すればよいことになる。そこで、上記演算
は、測定範囲31A内のデータを液晶表示部31に表示
するには、波形メモリ23における測定範囲内のデータ
を記憶するアドレスをどのように選択すればよいかを決
定するための演算であるということになる。
The waveform memory 23 stores data of reflected waves smaller than the reflected wave T as described above. However, as described above, what is needed is the data within these measurement ranges 31A, and it is sufficient to display the data within these measurement ranges 31A on the liquid crystal display section 31. Therefore, the above calculation is for determining how to select an address in the waveform memory 23 for storing data within the measurement range in order to display the data within the measurement range 31A on the liquid crystal display section 31. This means that it is a calculation.

例えば、被検査物体1の表面と底面との距離即ち反射波
Sと反射波Bとの距離をLSI、その間のデータを格納
する波形メモリ23のアドレスの数をΔK、反射波Sが
受信されてから反射波Bが受信されるまでの時間を【と
すると次式が成立する。
For example, LSI is the distance between the surface and bottom of the object to be inspected 1, that is, the distance between reflected waves S and B, ΔK is the number of addresses in the waveform memory 23 that stores data between them, and ΔK is the distance between the surface and bottom surface of the object to be inspected 1, that is, the distance between reflected waves S and B. Letting the time from when the reflected wave B is received be [, the following equation holds true.

2 LsI!= v’5  ・t = Vs  HΔK
 −r s  −・−・・・・・(tlV3  −  
τS 即ち、被検査物体1の距離LSHのデータを格納する波
形メモリ23のアドレスの数Δには上記(2)式で表さ
れることになる。したがって、距1fJl I Nの測
定範囲31Aにおけるアドレスの数Δに′は21、l Δに′ −□     ・・・・・・・・・・・・(3
1V3  −  τS となる。この(3)弐で、2/V、・τ、=βとすると
、 Δに’  −βIIR・・・・・・・・・・・・(4)
となる。
2 LsI! = v'5 ・t = Vs HΔK
−r s −・−・・・・(tlV3 −
τS That is, the number Δ of addresses in the waveform memory 23 that stores the data of the distance LSH of the object to be inspected 1 is expressed by the above equation (2). Therefore, the number Δ of addresses in the measurement range 31A with the distance 1fJl I N is 21, and the number Δ is ′ −□ ・・・・・・・・・・・・(3
1V3 − τS. In this (3) 2, if 2/V, τ, = β, then Δ' −βIIR・・・・・・・・・・・・(4)
becomes.

測定範囲31Aを液晶表示部31いっばいに表示するに
は、波形メモリ23における上記アドレスの数Δに′を
構成する各アドレスから表示メモリ23mのアドレスの
数KLだけ選択して表示メモリ23mのアドレスAL(
j、に対応させてやればよい。そこで、数Δに′ と数
KLの比率αをとると、 KL      vs ・ τ。
In order to display the measurement range 31A on the liquid crystal display section 31 all at once, select the number KL of addresses in the display memory 23m from each of the addresses constituting ' in the number Δ of addresses in the waveform memory 23, and change the address of the display memory 23m. AL(
All you have to do is make it correspond to j. Therefore, if we take the ratio α between the number Δ and the number KL, we get KL vs τ.

となる。即ち、波形メモリ23のアドレスA□□、がら
1/α毎に選択して表示メモリ32mのアドレスAL(
j)に対応させればよい。
becomes. That is, the address A□□ of the waveform memory 23 is selected every 1/α and the address AL(
j).

一方、反射波Sのピーク点(始点)から距離l、にある
測定領域の左端の波形メモリ23のアドレスは、当8亥
ピーク点のアドレスがAM+S)であること、および距
離l5間にあるアドレスの数が(4)式よりβ13であ
ることから、A1)(S。βls、であることが判る。
On the other hand, the address of the waveform memory 23 at the left end of the measurement area located at a distance l from the peak point (starting point) of the reflected wave S is that the address of the peak point is AM+S), and the address located between the distance l5. Since the number of is β13 from equation (4), it can be seen that A1)(S.βls).

したがって、測定範囲31Aを表示するためには、波形
メモリ23のアドレスAM+s+β!31からl/α毎
にアドレスを選択ずればよい(手順P13)。即ち、波
形メモリ23のアドレスAM(i)において、選択すべ
きアドレスの番号iは次式で表される。
Therefore, in order to display the measurement range 31A, the address of the waveform memory 23 must be AM+s+β! 31, addresses may be selected for each l/α (step P13). That is, in the address AM(i) of the waveform memory 23, the address number i to be selected is expressed by the following equation.

i=s+βIls+j/α    ・・・・・・・・・
・・・(6)(6)式でjは表示メモリ32mのアドレ
スの番号であり、KL=200の場合、j=0〜199
である。
i=s+βIls+j/α ・・・・・・・・・
...(6) In equation (6), j is the address number of the display memory 32m, and when KL=200, j=0 to 199
It is.

(6)式の演算において、数j/αは整数でない場合が
生じるので、この場合には4捨5人等の適宜の手法によ
り数iは整数化される(手順P14)。このようにして
波形メモリ23のアドレスのうち上記手段により選択し
たアドレスを表示メモリ32mの各アドレスに対応させ
、前者に記jfJされているデータを後者に転送する(
手順P、5)。そして、表示部コントローラ32により
表示メモリ32mの各アドレスのデータを表示部1)に
表示する(手順P16)ことにより所望の測定範囲31
Aを表示させることができる。
In the calculation of equation (6), the number j/α may not be an integer, so in this case, the number i is converted to an integer by an appropriate method such as 4 to 5 (step P14). In this way, the addresses selected by the above means among the addresses of the waveform memory 23 are made to correspond to each address of the display memory 32m, and the data written in the former is transferred to the latter (
Step P, 5). Then, the display unit controller 32 displays the data at each address of the display memory 32m on the display unit 1) (step P16), thereby setting the desired measurement range 31.
A can be displayed.

このように、測定始点設定部35および測定範囲設定部
37を操作することにより、反射波形の任意の部分を拡
大又は縮小して表示することが可能となる。
In this way, by operating the measurement start point setting section 35 and the measurement range setting section 37, it is possible to enlarge or reduce any part of the reflected waveform and display it.

(III)カーソル表示手段 次に、液晶表示部1)にカーソルを表示させる動作を、
さきの第5図に示した波形図および第7図に示すフロー
チャートを参照しながら説明する。
(III) Cursor display means Next, the operation of displaying the cursor on the liquid crystal display section 1) is as follows.
This will be explained with reference to the waveform diagram shown in FIG. 5 and the flowchart shown in FIG. 7.

カーソル表示は前述したように被検査物体lにおいて、
その測定範囲31A内における注意して観察すべき領域
31Bを明確にするために用いられる表示である。今、
第5図に示すような形態の表示がなされる場合、上記領
域31Bは前カーソルC8の位置(As + j!cs
) 〜後カーソルCEの位71 (is + 1et)
である。以下、このようなカーソル表示を行う場合につ
いて述べる。
As mentioned above, the cursor is displayed on the object to be inspected l.
This is a display used to clarify the area 31B within the measurement range 31A that should be carefully observed. now,
When displaying as shown in FIG. 5, the area 31B is located at the position of the previous cursor C8 (As + j!cs
) ~Last cursor CE digit 71 (is + 1et)
It is. A case in which such a cursor display is performed will be described below.

カーソル表示の実施はカーソル始点設定部34およびカ
ーソル幅設定部35を操作して行われる。
The cursor display is performed by operating the cursor start point setting section 34 and the cursor width setting section 35.

これらカーソル始点設定部34.カーソル幅設定部35
はいずれも0点が定められたロークリスイッチで構成さ
れ、その正方向の回動により数値(距離)が連続的に加
算され、負方向の回動により連続的に減算される。
These cursor starting point setting sections 34. Cursor width setting section 35
Both are composed of a low-point switch with a fixed zero point, and when the switch is rotated in the positive direction, a numerical value (distance) is continuously added, and when it is rotated in the negative direction, the value (distance) is continuously subtracted.

ところで、カーソルも液晶表示部31に表示されるので
あるから、当然、波形を表示する場合と同様に位置(i
s + NcsL (is +6cE)を表示メモリ3
2mのアドレスAL++1と対応させることが必要であ
る。以下、この対応について説明する。
By the way, since the cursor is also displayed on the liquid crystal display section 31, it is natural that the position (i
Display s + NcsL (is +6cE) Memory 3
It is necessary to make it correspond to the address AL++1 of 2m. This response will be explained below.

今、カーソルに始点設定部34で距離(e s −←1
2 cs)が、又、カーソル幅設定部35で距離l。
Now, set the cursor to the distance (es −←1
2 cs), and the distance l is also set in the cursor width setting section 35.

Cl1u =l−CE  Ncs)が指示されている場
合、距離!、は既知であるから、まず距Li1CSが演
算される(第7図に示す手順P21)。次に値l6.。
If Cl1u = l−CE Ncs) is indicated, the distance! Since , is known, the distance Li1CS is first calculated (step P21 shown in FIG. 7). Next, the value l6. .

βW +  lR+ KLが読込まれ(手順Pzz)、
表示メモリ32mにおける距Alcsに8亥当するアド
レス、即ち前カーソルCsのアドレスと、距jT+lC
Eに該当するアドレス、即ち後カーソルC1のアドレス
が演算により求められる(手順P2□)。これらのアド
レスは、表示メモリ32mにおけるアドレスの総DKL
に対する両カーソルのアドレスの比を、距離l、lに対
する両カーソルの距離の比に等しくすることにより得ら
れる。即ち、前カーソルC8のアドレスをAL(C3)
I後カーソルCEのアドレスをAL(CEIとすると、
これら各アドレスは、AL(C5I *、  AL(C
EI *を用いてlR で表される(7)、 (1’l1式の八L(C3I *
、At+c!+ *を整数化しく手順P24)、これに
より表示メモリ23mにおける前カーソルC8のアドレ
スAL(C8)および後カーソルC2のアドレスAL(
CE)が決定する。これら各アドレスには、既に波形デ
ータが記4gされているが、このデータはカーソルを意
味する破線表示のデータに変更される(手順P2.)。
βW + lR+ KL is read (procedure Pzz),
The address corresponding to the distance Alcs in the display memory 32m, that is, the address of the previous cursor Cs, and the distance jT+lC
The address corresponding to E, that is, the address of the rear cursor C1 is calculated (step P2□). These addresses are the total DKL of addresses in the display memory 32m.
is obtained by making the ratio of the addresses of both cursors to the distance l equal to the ratio of the distances of both cursors to l. That is, the address of the previous cursor C8 is AL(C3)
If the address of cursor CE after I is AL (CEI),
Each of these addresses is AL(C5I *, AL(C
(7), (1'l1 formula 8L(C3I*
, At+c! Convert +* to an integer (Step P24), thereby setting the address AL(C8) of the previous cursor C8 and the address AL(C8) of the previous cursor C2 in the display memory 23m.
CE) will decide. Although waveform data 4g has already been written at each of these addresses, this data is changed to data displayed with a broken line indicating a cursor (step P2.).

次いで、表示部コントローラ32を駆動して、アドレス
A L (C5) l A t <cEt のデータを
表示する(手順P26)と、表示部1)に第5図に示す
カーソルcs、ctが表示されることになる。
Next, when the display unit controller 32 is driven to display the data at the address A L (C5) l At <cEt (step P26), the cursors cs and ct shown in FIG. 5 are displayed on the display unit 1). That will happen.

以上、カーソル表示の動作を説明したが、本来、カーソ
ルは注意して観察したい領域を見易くするものであり、
一方、観察したい個所は同一個所に限定されないのが一
般的であるので、通常の使用態様においてはカーソル表
示はカーソル始点設定部34およびカーソル幅設定部3
5のロークリスイッチを連続的に回動させて移動させる
ことが多い。そこで、以下、このようなカーソル表示の
移動について、第8図、第1O図に示すフローチャート
、および第9図fat〜(e)、第1)図(al〜(C
1に示す波形図を参照しながら説明する。
The operation of the cursor display has been explained above, but the cursor is originally intended to make it easier to see the area that you want to carefully observe.
On the other hand, since the location to be observed is generally not limited to the same location, in normal usage, the cursor is displayed in the cursor start point setting section 34 and the cursor width setting section 3.
It is often moved by continuously rotating the low-pressure switch No. 5. Therefore, regarding the movement of the cursor display, the flowcharts shown in FIG. 8 and FIG.
This will be explained with reference to the waveform diagram shown in FIG.

最初に前カーソルC5と後カーソルC2の幅(ztn)
は変化せず、この幅を保持しながら両カーソルC,,C
Eを左右に移動させる場合の動作について説明する。こ
の場合には、カーソル始点++JL定部3のロークリス
イッチが操作される。CPO26はこのロークリスイッ
チが操作されたか否かを監視しく第8図の手順P:lI
)、操作されていない場合には、距離Rs、 12 c
s、(!−1,l、e CEを現在のままの値としく手
順P3□)、さきに第7図に示すフローチャートを用い
て説明したカーソル表示処理を実行する(手順P、3)
。なお、第8図および第10図に示すフローチャー1・
において、カーソル位置処理を実行する前の各距離はダ
ッシュを付して(j2s ’ 、 1lcs’ 、 N
w ’ 、 (IcE’ )表し、前記処理を実行した
後の各距離はダッシュを付さずに<1)s、 (lcs
、  1w、 gcl)表す。以下では、カーソル幅設
定部35.測定範囲設定部37は操作されていないので
1♂I!W’+  ρ□=28′である。
First, the width of the previous cursor C5 and the next cursor C2 (ztn)
does not change, and while maintaining this width both cursors C,,C
The operation when moving E left and right will be explained. In this case, the low reset switch of the cursor starting point ++JL fixed section 3 is operated. The CPO 26 monitors whether this low-return switch is operated or not.
), if not operated, distance Rs, 12 c
s, (!-1, l, e Set CE to the current value and execute the cursor display process explained earlier using the flowchart shown in Figure 7) (Step P, 3)
. Note that the flowchart 1 shown in FIGS. 8 and 10
In , each distance before performing cursor position processing is indicated with a dash (j2s', 1lcs', N
w', (IcE'), and each distance after performing the above processing is expressed as <1)s, (lcs
, 1w, gcl). Below, the cursor width setting section 35. Since the measurement range setting section 37 is not operated, 1♂I! W'+ρ□=28'.

カーソル始点設定部34のロークリスイッチが操作され
ると、手順P31でこれが判断される。次いで、当該ロ
ークリスイッチが正方向に回動されたか負方向に回動さ
れたかが判断される(手順P3a)。ロークリスイッチ
が正方向に回動された場合、即ち、カーソルC5,CE
を第5図で右方向に移動させる場合、ロークリスイッチ
の操作量が読込まれる(手順P3.)。以下、いずれの
方向のli作壇もカーソルCs 、CEを距離Δ1)移
動させる量として説明する。この距離Δβ1は現在の距
離’! CE’ に加算(IICE′  十Δx+)さ
れ、幅IRと比較される(手順P36)。
When the low refresh switch of the cursor start point setting section 34 is operated, this is determined in step P31. Next, it is determined whether the rotary switch has been rotated in the positive direction or in the negative direction (procedure P3a). When the low rotation switch is rotated in the positive direction, that is, cursor C5, CE
When moving to the right in FIG. 5, the operation amount of the low-return switch is read (step P3.). Hereinafter, the li position in any direction will be explained as the amount by which the cursor Cs and CE are moved by a distance Δ1). This distance Δβ1 is the current distance'! It is added to CE'(IICE' + Δx+) and compared with the width IR (step P36).

ここで、比較後の処理を第9図(a)〜(C)に示す波
形図により説明する。各図(第9図(dl、 (elも
含む。
Here, the processing after comparison will be explained with reference to waveform diagrams shown in FIGS. 9(a) to (C). Each figure (Figure 9 (dl, (also includes el).

)は液晶表示部31の表示面を示し、第5図に示す部分
と同一部分には同一符号が付されている。
) indicates the display surface of the liquid crystal display section 31, and the same parts as shown in FIG. 5 are given the same reference numerals.

第9図(atはカーソルCs、Cvが第5図に示す位置
と同じ位置にある状態を示し、これが現在位置とされ、
以後の説明はこ′の位置からのカーソルCs。
FIG. 9 (at indicates the state where the cursors Cs and Cv are at the same position as shown in FIG. 5, and this is considered the current position,
The following explanation is about the cursor Cs from this position.

C4の移動の説明となる。This will explain the movement of C4.

手順P36で((gcE’  +6g)<x*l と判
断された場合は、カーソルC,,CEが第9図fblに
示す位置となる場合であり、又((x CE’  +Δ
g+)=IR)と判断された場合は、カーソルC3,C
Eが第9図(C)に示す位置、即ぢ後カーソルC1が測
定範囲31Aの右端と一致する位置となる場合である。
If it is determined in step P36 that ((gcE' + 6g) <
If it is determined that g+)=IR), cursor C3, C
This is the case where E is the position shown in FIG. 9(C), and immediately the cursor C1 is at a position that coincides with the right end of the measurement range 31A.

これらの場合、距Kflt e St e wはそのま
まであり、又、距離N CSハ距1viI[(N C5
′トA f l ) ニ変更され、距離ICEは距離(
ffct’  +Δ1))に変更される(手順P3.)
。これらの距離に基づいてカーソル表示処理がなされ(
手順P33)、カーソルCs、Ctは右方向へ移動して
第9図(b)、 (C)に示すようなカーソル表示が現
れる。
In these cases, the distance Kflt e St e w remains the same, and the distance N CS is changed to the distance 1viI [(N C5
'To A f l ) D is changed, and the distance ICE is changed to the distance (
ffct' +Δ1)) (Step P3.)
. Cursor display processing is done based on these distances (
In step P33), the cursors Cs and Ct move to the right, and cursor displays as shown in FIGS. 9(b) and 9(C) appear.

手順Pff6で((bct’  +Δ*+)>X*)と
判断された場合は、後カーソルC1が測定範囲31Aの
右端からさらに右方へ外れる場合である。この場合には
、後カーソルCFが第9図(C1に示すように右端の位
置で停止したままとなる。即ち、距離IcEは”CE=
NR,距離ecsはI!cs−1*  (l、t′1)
cs′) =1!R=I!、とされる(手順P 3+1
)。
If it is determined in step Pff6 that ((bct'+Δ**)>X*), this means that the rear cursor C1 deviates further to the right from the right end of the measurement range 31A. In this case, the rear cursor CF remains stopped at the rightmost position as shown in FIG. 9 (C1). That is, the distance IcE is "CE=
NR, distance ecs is I! cs-1* (l, t'1)
cs′) =1! R=I! , (Procedure P 3+1
).

さて、手順P34ではロークリスイッチが負方向に回動
された場合、即ちカーソルC,,C,を第5図で左方向
に移動させる場合、ロータリスイッチの操作量(距離Δ
l、)が読込まれ(手順P3.)、値<lcs’  −
Δ1))の正負が判断される(手順P4゜)。ここで、
値(6cs’ −Δ1))が正であると判断される場合
は、カーソルC,,C,が第9図fdlに示す位置とな
る場合であり、値(j2cs’  −Δ1))がOであ
ると判断される場合は、カーソルCs 、 CEが第9
図(Q)に示す位置、即ち前カーソルCsが測定範囲の
左端と一致する位置となる場合である。これらの場合、
距FilNs、I!wはそのままであり、距PI l 
c sは距離(1゜′ −Δハ)に、距離1ctは距m
l (e CE’  +Δz+)に変更(手順P4.)
された後、手順P33の処理がなされ、カーソルCs、
C,は左方へ移動して第9図(d)、 (e)に示すよ
うなカーソル表示が現れる。
Now, in step P34, when the rotary switch is rotated in the negative direction, that is, when the cursors C, C, are moved to the left in FIG.
l, ) is read (step P3.), and the value <lcs' −
It is determined whether Δ1)) is positive or negative (step P4°). here,
When the value (6cs' - Δ1)) is judged to be positive, the cursor C,,C, is at the position shown in Figure 9 fdl, and the value (j2cs' - Δ1)) is O. If it is determined that there is a
This is the case where the position shown in Figure (Q) is the position where the previous cursor Cs coincides with the left end of the measurement range. In these cases,
Distance FilNs, I! w remains the same, and the distance PI l
c s is the distance (1゜' - Δc), and the distance 1ct is the distance m
Change to l (e CE' +Δz+) (Step P4.)
After that, the process of step P33 is performed, and the cursor Cs,
C, moves to the left and a cursor display as shown in FIGS. 9(d) and (e) appears.

手順paoで((6cs’  =ΔN)<0)と判断さ
れた場合は、前カーソルC3が測定範囲31Aの左端か
らさらに左方へ外れる場合である。この場合には、距離
βワ、はOに、又、距fFi17!ctはl6.=IC
E”   ”C5′=A’Wに変更(手順P 42)さ
れた後、手順P。の処理がなされ、前カーソルC8が表
示面の左端と一致してカーソルは停止する。以上のよう
な処理により、カーソル幅を変えずにカーソルC3,C
Eを移動することができる。
If it is determined in step pao that ((6cs'=ΔN)<0), this means that the previous cursor C3 is further leftward from the left end of the measurement range 31A. In this case, the distance βwa becomes O, and the distance fFi17! ct is l6. =IC
E""C5'=A'W (step P42), and then step P. The above process is performed, and the previous cursor C8 matches the left edge of the display screen, and the cursor stops. With the above processing, the cursors C3 and C can be moved without changing the cursor width.
E can be moved.

次に、前カーソルC3と後カーソルC9の幅(測定範囲
の幅)を変更する場合の動作について説明する。この場
合には、カーソル幅設定部35のロークリスイッチが操
作される。CPU26はこのロークリスイッチが操作さ
れたか否かを監視しく第10図の手順P s+)、操作
されていない場合には、距離lcs、 ”W、 1ct
を現在の値−のままとしく手順Pst’)、カーソル表
示処理を行う(手順P2.)。
Next, the operation when changing the width of the front cursor C3 and the rear cursor C9 (width of the measurement range) will be described. In this case, the low reset switch of the cursor width setting section 35 is operated. The CPU 26 monitors whether or not this low-return switch has been operated (step Ps+) in FIG. 10, and if it has not been operated, the distance lcs, "W, 1ct"
is left at its current value - (step Pst'), and cursor display processing is performed (step P2.).

カーソル幅設定部350ロークリスイツチが操作される
と、手順ps+でこれが判断され、次いでその操作方向
が判断される(手順P s4)。カーソル幅を正方向に
拡げるべくロータリスイッチが正方向に回動された場合
、ロークリスイッチの操作量が読込まれる(手順P1.
)。以下、いずれの方向の操作量もカーソル幅を距離Δ
12変化させる量として説明する。次に、距離I CE
′ に距離Δ12を加算した値と距r41 Rとが比較
される(手順Psb)。
When the cursor width setting section 350 row switch is operated, this is determined in step ps+, and then the direction of the operation is determined (step Ps4). When the rotary switch is rotated in the positive direction to increase the cursor width in the positive direction, the operation amount of the rotary switch is read (step P1.
). Below, for the operation amount in either direction, the cursor width is set to the distance Δ
12 will be explained as the amount of change. Next, the distance ICE
' and the distance Δ12 are compared with the distance r41R (procedure Psb).

この比較は、後カーソルC1を右方向に移動させること
によりカーソル幅を右方向に拡げた場合、後カーソルC
1が測定範囲31Aの右端から外れるか否かを判断する
ためのものである。距離(ICE′  +Δex)が距
離l5以下、即ら後カーソルC1が測定範囲31Aの右
端から外れない場合には、距離eCEを距離(1ct′
  +Δβ2)にそれぞれ変更する(手順P3.)。こ
の場合が第1)図(bl、 (C)の波形図に示されて
いる。第1)図(blの波形図は距離<lct’  十
Δ12)が距離e、1未満の場合、第1)図(C1の波
形図は距離((! CE’  +ΔXZ)が距離7!え
と等しい場合の波形図である。
This comparison shows that when the cursor width is expanded to the right by moving the rear cursor C1 to the right, the rear cursor C
1 is outside the right end of the measurement range 31A. If the distance (ICE' + Δex) is less than or equal to the distance l5, that is, if the rear cursor C1 does not deviate from the right end of the measurement range 31A, the distance eCE is changed to the distance (1ct'
+Δβ2) (Step P3.). This case is shown in the waveform diagrams in Figure 1) (bl and (C)). ) Figure (The waveform diagram of C1 is a waveform diagram when the distance ((! CE' +ΔXZ) is equal to the distance 7!).

なお、第1)図(alは第9図(a)と同じ波形図であ
る。
Note that FIG. 1) (al) is the same waveform diagram as in FIG. 9(a).

手順ps6において、後カーソルC4が測定範囲31A
の右端から外れると判断された場合には、距離EC1を
ffcE=ff1)としく手順Pse)、カーソル表示
処理を行ない(手順PS3)、さらにロークリスイッチ
を操作しても第1)図(C1に示す状態でカーソルを停
止せしめる。
In step ps6, the rear cursor C4 is in the measurement range 31A.
If it is determined that the distance EC1 is off the right edge of Stop the cursor in the state shown.

一方、手順PS4でロークリスイッチの操作方向が負方
向、即ちカーソル幅を縮小する方向であると判断された
場合、その操作量が読込まれ(手順P59)、次いで、
距離’! CE′から距離Δe2を減算した値がlcs
より大か否かが判断される(手順P 61))。この判
断はロークリスイッチの操作量(距離Δ12)が現在の
カーソル幅1゜′を越えるものであるか否かの判断であ
る。手順P、。で距離Δi2がカーソル幅ffw′以下
であると181)断された場合、距’41csはそのま
まとされ、距離1゜は距離(zw ’  −ΔXZ)、
距離1.は距離(10′=Δit”)に変更され(手順
P61)、カーソル表示処理がなされる。手順P61の
処理は、後カーソルCEを距離Δ12だけ左方へ移動さ
せてカーソル幅を縮小する処理である。
On the other hand, if it is determined in step PS4 that the operating direction of the low reswitch is in the negative direction, that is, in the direction of reducing the cursor width, the amount of operation is read (step P59), and then,
distance'! The value obtained by subtracting the distance Δe2 from CE' is lcs
It is determined whether or not the value is larger than that (step P61)). This judgment is a judgment as to whether or not the operation amount (distance Δ12) of the low reswitch exceeds the current cursor width of 1°'. Procedure P. If the distance Δi2 is less than or equal to the cursor width ffw', the distance '41cs is left as is, and the distance 1° is the distance (zw' - ΔXZ),
Distance 1. is changed to the distance (10'=Δit") (step P61), and the cursor display process is performed. The process of step P61 is a process of moving the rear cursor CE to the left by a distance of Δ12 to reduce the cursor width. be.

手順P60で距離(it ct” −ΔXZ)が距Ml
−csより大であると判断された場合には、距離lcs
In step P60, the distance (it ct" - ΔXZ) is the distance Ml
- If it is determined to be greater than cs, the distance lcs
.

lC7を距離lcsとし、又、距離Il、をOとしく手
順P1)、カーソル表示処理を行う。手順P、の処理は
後カーソルC1を前カーソルC8に重ねて1つのカーソ
ルだけの表示とする処理である。
The cursor display process is performed in step P1), with lC7 being the distance lcs and distance Il being O. The process in step P is a process in which the next cursor C1 is superimposed on the previous cursor C8 so that only one cursor is displayed.

このように、カーソル始点設定部34およびカーソル幅
設定部35のロークリスイッチを操作することにより、
カーソル位置を自由に移動させることができ、測定範囲
からさらに所望の領域を自由に選択することができる。
In this way, by operating the low switch of the cursor start point setting section 34 and the cursor width setting section 35,
The cursor position can be moved freely, and a desired area can be further freely selected from the measurement range.

(IV)マーク付与手段 次に、任意の波形にたいしてマークを付するマーク付与
手段について説明する。本実施例では表面波Sに文字r
AJを付与する例について述べる。
(IV) Marking means Next, the marking means for marking arbitrary waveforms will be explained. In this example, the surface wave S has the letter r.
An example of assigning AJ will be described.

最初に測定範囲始点設定部36および測定範囲設定部3
7により前述の測定範囲表示手段に述べた処理にしたが
って液晶表示部31に第20図に示される反射波T−B
sが表示される。この表示を行なった後第2図に示すマ
ーク設定部33のマ−クキ−スイッチ33bを押すこと
によりマーク設定処理が実行される。マーク設定処理を
第12図。
First, the measurement range starting point setting section 36 and the measurement range setting section 3
7, the reflected wave T-B shown in FIG.
s is displayed. After this display is performed, the mark setting process is executed by pressing the mark key switch 33b of the mark setting section 33 shown in FIG. FIG. 12 shows the mark setting process.

第15図、第16図に示すフローチャートおよび第13
図、第14図に示す表示部平面図を参照しながら説明す
る。
Flowcharts shown in FIGS. 15 and 16 and 13
This will be explained with reference to the display section plan view shown in FIG.

マークキースイッチ33bを押すと、第13図に示すよ
うにまず表示面に「エコーヲセンタクシテクダサイ」と
いうメツセージが表示される。このような表示手段は周
知であるので説明は省略する。同時に、前カーソルC8
と後カーソルC2が表示面に表示される。これらカーソ
ルの表示の初期状態はどのような状態であってもよいが
、例えば、前カーソルC8が表示面の左端にあり、かつ
、カーソルの幅l、1が測定範囲1)Iの適当な比率、
例えば1)5程度であるとエコーの選択操作が容易とな
る。次いで、表示面をみながらカーソル始点設定部34
およびカーソル幅設定部35を操作して前述のカーソル
表示手段における処理を実行し、第13図に示すように
前カーソルC3と後カーソルC4とで反射波Sを挟むカ
ーソル処理を行なう(第12図の手順P、1)。
When the mark key switch 33b is pressed, the message ``Please send an echo'' is displayed on the display screen as shown in FIG. Since such display means are well known, their explanation will be omitted. At the same time, previous cursor C8
and a backward cursor C2 are displayed on the display screen. The initial display state of these cursors may be in any state, but for example, the previous cursor C8 is at the left end of the display screen, and the cursor width l, 1 is an appropriate ratio of the measurement range 1) I. ,
For example, if the value is 1) about 5, the echo selection operation becomes easy. Next, while looking at the display screen, press the cursor start point setting section 34.
Then, the cursor width setting section 35 is operated to execute the process in the cursor display means described above, and as shown in FIG. Step P,1).

次に、両カーソルCS、CEで挟まれた領域における波
形のピーク値のうちの最大のものが選択゛されとり出さ
れる(手順P、2)。この選択は次のようになされる。
Next, the largest peak value of the waveform in the area sandwiched between the cursors CS and CE is selected and extracted (step P, 2). This selection is made as follows.

即ち、距離’ C3r ’ CEに距pdl e sを
加算した値(l6.+βs)、(1cE+i’s)を値
Ls、Liとすると、これらを波形メモリ23のアドレ
スAM(LSl、A□El)に対応させることができる
。この対応は、 As<ts>” −β・Ls    ・・・・・・・・
・・・・・・・T9)AM(Lり” ”β・Lt   
 ・・・・・・・・・・・・・・・QO)を整数化する
ことにより得ることができる。このようにして得た波形
メモリ23のアドレスAM(LS)とアドレスAM(L
M+  との間のアドレスに格納されているデータD(
n)のうちの最大値を周知の手段で求める。そして、そ
の最大値を格納しているアドレスを求める(手順P1.
)。このアドレスをアドレスAM+16)とする。次い
で、アドレスAM+p)の距離1 (MK)を、波形メ
モリ23と距離の関係がら次式により求める(手順P、
4)。
That is, if the value (l6.+βs) and (1cE+i's) which are the addition of the distance pdl e s to the distance 'C3r' CE are the values Ls and Li, these are the address AM (LSl, A□El) of the waveform memory 23. can be made to correspond to This correspondence is As<ts>” −β・Ls ・・・・・・・・・
......T9) AM (Lri""β・Lt
It can be obtained by converting QO) into an integer. Address AM (LS) and address AM (L) of the waveform memory 23 obtained in this way.
Data D (
The maximum value of n) is determined by known means. Then, find the address storing the maximum value (Step P1.
). Let this address be address AM+16). Next, the distance 1 (MK) of the address AM+p) is determined by the following formula based on the relationship between the waveform memory 23 and the distance (Procedure P,
4).

1、□> =A、4<p>/β    ・・・・・・・
・・・・・・・・・・・00次に、反射波Sに付与する
マークの選択を行なう(手順P7.)。このマークの選
択は次のように実行される。マーク設定部33のセット
キースイッチ33cを押すと(この動作はカーソルC3
+CEで反射波Sを挟んだ時点で行なわれる。)、前記
距離” (MKIがRAM27の所定のアドレスに登録
されるとともに、第14図に示すように表示面に「マー
クヲセッテイシテクダサイ」というメツセージが表示さ
れる。そこで、この表示にし、たがい文字rAJが文字
設定部38を操作することにより選択される。文字設定
部38はロークリスイッチで構成されており、又、これ
に対応してROM28内に文字A−Zが格納されている
。これらの文字ANZの26文字の各アドレスをA C
(。。
1, □> = A, 4<p>/β ・・・・・・・・・
......00 Next, a mark to be added to the reflected wave S is selected (procedure P7). This mark selection is performed as follows. When the set key switch 33c of the mark setting section 33 is pressed (this operation is performed when the cursor C3
This is done at the time when the reflected wave S is sandwiched between +CE and CE. ), said distance" (MKI is registered at a predetermined address in the RAM 27, and the message "Please set mark" is displayed on the display screen as shown in FIG. 14. rAJ is selected by operating the character setting section 38. The character setting section 38 is composed of a low-return switch, and correspondingly, characters A to Z are stored in the ROM 28. Each address of the 26 characters of the character ANZ is A C
(..

〜A C(□、) とすると、文字設定部38のローク
リスイッチを1回転回動することにより当該アドレスA
C(。)〜Actzs+ が順次選択されてゆくことに
なる。ロークリスイッチの回動方向が時計方向(正方向
)であればその文字選択は、A−B−C・・・・・・Y
−Z−A  の順になされ、反時計方向(負方向)であ
れば逆の順でなされる。以下、文字選択の処理手順を第
15図に示すフローチャートにより説明する。なお、こ
れらの処理は当然ながらCPU26.RAM27.RO
M28を用いて実行される。
~A C(□,), by rotating the low-return switch of the character setting section 38 once, the address A is set.
C(.) to Actzs+ are sequentially selected. If the rotation direction of the low-return switch is clockwise (positive direction), the character selection is A-B-C...Y
-Z-A, and in the counterclockwise direction (negative direction), the reverse order is performed. The processing procedure for character selection will be explained below with reference to the flowchart shown in FIG. Note that these processes are naturally performed by the CPU 26. RAM27. R.O.
It is executed using M28.

まず、文字設定部38のロータリスイッチが回動された
か否かが判断され(手順Ps+)、回動されていなけれ
ばそのときのロークリスイッチの位置に対応する数kが
出力され(手順Pag)、k番目のアドレスA C(K
)に格納されている文字がとり出される(手順P s3
)。ロータリスイッチが回動されていると判断された場
合、その操作方向が正か負かが判断され(手順Psi)
、正と判断されるとその操作量Δl、が読込まれる(手
順P85)。
First, it is determined whether or not the rotary switch of the character setting section 38 has been rotated (procedure Ps+), and if it has not been rotated, a number k corresponding to the position of the rotary switch at that time is output (procedure Pag). , k-th address A C(K
) is retrieved (step P s3
). If it is determined that the rotary switch is being rotated, it is determined whether the operating direction is positive or negative (procedure Psi).
, is determined to be positive, the manipulated variable Δl is read (step P85).

そして、回動開始時の位71に′ に対応する数に操作
量Δl、が加算され、この加算値は定数に、(ロークリ
スイッチの1回転に対応する数値)と比較される(手順
P 1)6)。上記加算値が値に0より小さいとき(こ
の場合は文字選択が最終のアドレスを通過して再び最初
のアドレスから選択が始まることを意味する。)、演算
(k = k’  +Δβ、−に、)が実行され(手順
PI17)、これにより得られた値に相当するアI−レ
スに格納された文字がと゛り出される(手順pH3)。
Then, the manipulated variable Δl is added to the number corresponding to 71 at the start of rotation, and this added value is compared with a constant (number corresponding to one rotation of the low-return switch) (procedure P 1)6). When the above addition value is less than 0 (in this case, it means that character selection passes through the final address and starts selection again from the first address), the operation (k = k' + Δβ, -) ) is executed (procedure PI17), and the character stored in the address corresponding to the value thus obtained is retrieved (procedure pH3).

手順P[16で上記加算値が値に0以下であるときは当
該加39値に相当するアドレスの文字がとり出される(
手順Paa、  pHi)。
In step P[16, if the above addition value is less than or equal to 0, the character at the address corresponding to the addition value is extracted (
Procedure Paa, pHi).

手1)iQ P e 4でロークリスイッチが負の方向
に操作されたと判断されると、その操作量Δl、が読込
まれ(手順P、)、減算値(k′  −八CS)が0又
は正であるか否かが判断され(手順P9o)、そうであ
れば当該減1γ値に相当するアドレスに格納された文字
がとり出される(手順P ql、’ P B:I)。
Step 1) When it is determined that the low reswitch has been operated in the negative direction at iQP e 4, the operation amount Δl is read (procedure P,), and the subtraction value (k' - 8CS) is 0 or It is determined whether or not it is positive (procedure P9o), and if so, the character stored at the address corresponding to the reduced 1γ value is extracted (procedure P ql, 'P B:I).

手順P、。で加算値が負であると判断されたとき(この
場合は文字選択が最初のアドレスを通過し最終のアドレ
スから選択が始まっていることを意味する。)、演算に
=Ko −(ΔN、−に′)が実行され(手順P92)
、得られた値に相当するアドレスに格納された文字がと
り出される(手順P63)。
Procedure P. When the addition value is determined to be negative (in this case, it means that the character selection passes through the first address and starts from the final address), the operation =Ko - (ΔN, - ) is executed (step P92).
, the character stored at the address corresponding to the obtained value is extracted (step P63).

以上、第12図に示すフローチャートにおける手III
JI(P7sの処理について説明した。上記のようにし
て第15図に示すフローチャートの手順P82゜P 1
)71  P es+  P 91+  P qzのい
ずれかにより反射波Sに対応する文字rAJがとり出さ
れると、次にはこの文字rAJを表示面に表示する手段
が実行される。このような表示処理手段を第16図に示
すフローチャートを参照しながら説明する。この処理は
、第L2図に示すマーク設定処理における手順P74で
求めた距離l。K、を表示メモリ32mのアドレスA 
L (HK) に対応させる処理となる。
As described above, Step III in the flowchart shown in FIG.
JI (P7s processing has been explained. As described above, the procedure P82゜P1 of the flowchart shown in FIG.
)71 P es+ P 91+ P qz When the character rAJ corresponding to the reflected wave S is extracted, next, means for displaying this character rAJ on the display screen is executed. Such display processing means will be explained with reference to the flowchart shown in FIG. This process uses the distance l obtained in step P74 in the mark setting process shown in FIG. L2. Display memory 32m address A
The process corresponds to L (HK).

まず、距離β、□、が測定範囲(表示される範囲)にあ
るか否かの判定を行なう (手順P1o1)。この判定
は、l、≦1゜。≦(7!s+Il*)により行なう。
First, it is determined whether the distances β, □ are within the measurement range (displayed range) (procedure P1o1). This judgment is l, ≦1°. This is done by ≦(7!s+Il*).

距離7!(□、が測定範囲外であれば表示は行なわない
。測定範囲内にあるとき、この距離e (MKIが表示
メモリのどのアドレスに対応するかを51算する(手順
P1゜2)。この計算は次式により行なわれる。
Distance 7! (If □ is outside the measurement range, no display will be performed. If it is within the measurement range, calculate the address of the display memory to which this distance e (MKI corresponds) (Step P1゜2). This calculation is performed using the following equation.

4 (MK)  N S A L l□ビ=KLX  □・・・・・・・・・・・
・(1りR なお、Kt、は前述のように表示メモリ32mの全アド
レスの数である。再出された数A 1. (MKI ”
を整数化する(手1)1)jPIQs)ことによりアド
レスA L (MKI が決定される。次いで、このア
ドレスAL(MK)に相当する位置、即ち、第13図、
第14図において反射波Sのピーク位置と横軸(距離軸
又は時間軸)上で一致する位置に第12図の手順P?5
でとり出された文字「八」を表示するため、コントロー
ラ32に対して文字rAJのデータをセットする(手順
P1゜4)。そして、コントローラ32の制御により前
記のアドレスAL(MK)に相当する位置に文字「八」
を表示する(手順P1゜、)。
4 (MK) N S A L l Bi = KLX □・・・・・・・・・・・・
・(1R) Note that Kt is the number of all addresses in the display memory 32m as described above.The number A1. (MKI ”
The address A L (MKI) is determined by converting (Move 1) 1) jPIQs) into an integer. Next, the position corresponding to this address AL (MK), that is, FIG.
In FIG. 14, the step P in FIG. 12 is located at a position that coincides with the peak position of the reflected wave S on the horizontal axis (distance axis or time axis)? 5
In order to display the character "8" extracted in step P1, data of the character rAJ is set in the controller 32 (step P1°4). Then, under the control of the controller 32, the character "8" is placed in the position corresponding to the address AL (MK).
(Step P1゜,).

この表示は波形表示と重ならない位置、例えば表示面上
部になされるのが望ましい。
It is desirable that this display be made at a position that does not overlap with the waveform display, for example at the top of the display screen.

上記のマーク表示処理により反射波Sに文字「A」が付
されると、以後、測定範囲が変更されても、既に登録さ
れている距離10゜を用いて、変更の都度、手順))、
。1〜P1o5の処理を実行すれば、文字rAJは常に
反射波Sに付随して表示′ されることになる。
Once the letter "A" is added to the reflected wave S by the mark display process described above, from now on, even if the measurement range is changed, the already registered distance of 10° will be used and the procedure ()),
. If processes 1 to P1o5 are executed, the character rAJ will always be displayed accompanying the reflected wave S.

以下に1つの表示例を図により説明する。第17図(a
l〜fe)は表示部の平面図である。第17図(a)は
反射波T、S、13がH測できるように表示部に表示し
た図である。このように表示された反射波のうち、第1
7図(blに示すように、上述の処理により反射波Sに
対してその上部に文字rAJを表示する。なお、反射波
Bに対しても同様の処理によりその上部に文字rBJが
付与される。第17図(C)は測定範囲を変更して反射
波S近辺の測定を行なう場合の表示面を示す。この場合
も第16図に示すフローチャートの処理により反射波S
に文字「A」が付与される。この状態でゲインを低下さ
せたり、又は探触子2に接触不良が生じたりすると、第
17図(d)に示すように反射波Sが表示されなくなる
。しかし、文字rAJは超音波探傷器に故障が生じてい
なければ表示されたままの状態にある。したがって、第
17図(d)に示すような表示面が現れた場合、ゲイン
の不足か探触子2の接触不良であると判断することがで
きる。第17図(C1に示す状態から、今度は反射波B
の近辺を測定したい場合、測定始点設定部36を操作し
て波形の移動を行なえば、第17図telに示すように
反射波Bおよび文字rBJが現れる。これにより、この
反射波が反射波Bであることを確認することができる。
One display example will be explained below using a diagram. Figure 17 (a
1 to fe) are plan views of the display section. FIG. 17(a) is a diagram in which the reflected waves T, S, and 13 are displayed on the display section so that H measurement can be performed. Among the reflected waves displayed in this way, the first
As shown in Figure 7 (bl), the above process displays the letters rAJ on the top of the reflected wave S. Note that the same process adds the letters rBJ on the top of the reflected wave B. 17(C) shows the display screen when changing the measurement range and measuring the vicinity of the reflected wave S. In this case as well, the reflected wave S is
is given the letter "A". If the gain is reduced in this state or a contact failure occurs in the probe 2, the reflected wave S will no longer be displayed as shown in FIG. 17(d). However, the letters rAJ remain displayed unless a failure occurs in the ultrasonic flaw detector. Therefore, when a display screen as shown in FIG. 17(d) appears, it can be determined that the gain is insufficient or the probe 2 has a poor contact. FIG. 17 (From the state shown in C1, now the reflected wave B
When it is desired to measure the vicinity of , by operating the measurement start point setting section 36 to move the waveform, reflected wave B and letters rBJ appear as shown in FIG. 17 (tel). Thereby, it can be confirmed that this reflected wave is reflected wave B.

即ち、反射波Bを表示するには、波形に関係なく文字r
BJが現れるまで測定始点設定部36を操作すればよく
、操作が極めて容易となる。
That is, to display reflected wave B, the letter r is used regardless of the waveform.
It is only necessary to operate the measurement start point setting section 36 until BJ appears, making the operation extremely easy.

このように、本実施例では、所定の反射波に対して特定
の文字を付与するようにしたので、測定の目安となる所
定の反射波を確実に認識することができ、これにより、
観測者は現在測定している個所を正確に把握することが
でき、かつ、反射波が得られない場合、ゲインの不足や
探触子2の接触不良か、又は超音波探傷器の故障かを直
ちに判断することができる。
In this way, in this embodiment, specific characters are assigned to predetermined reflected waves, so that the predetermined reflected waves that serve as a guide for measurement can be reliably recognized.
The observer can accurately grasp the location currently being measured, and if no reflected waves are obtained, the observer can determine whether there is insufficient gain, poor contact with probe 2, or a malfunction of the ultrasonic flaw detector. You can make an immediate decision.

なお、上記実施例の説明では、表示部として液晶表示部
を例示して説明したが、液晶表示部に限ることはなく、
通常の陰極線管、プラズマ表示器等を用いることができ
る。又、反射波に対して文字(アルファベット)を付与
する例について説明したが、マークは、他の種の文字、
記号、標識であっても差し支えなく、特に正確な測定が
必要である場合、反射波のピーク位置に対応する個所の
線分又は矢印を付与すればその正確な位置を示すことが
できる。さらに、文字の設定をロークリスイッチで行な
う例について説明したが、所要表示マークのキースイッ
チを用いてもよく、又、第2図に示すようなO〜9のキ
ースイッチの組合せにより設定を行なってもよい。さら
に又、マーク付与に際して反射波T〜B、を表示する例
について説明したが、所定の反射波が判っている場合、
反射波T −B 、全部を表示する必要はなく、所定の
反射波を含む限られた範囲を表示してもよい。又、所定
の反射波の選択を指示するメツセージの表示とともにカ
ーソルも表示される例について説明したが、カーソルは
常時表示しておくこともできる。
In addition, in the description of the above embodiment, the liquid crystal display section was explained as an example of the display section, but the display section is not limited to the liquid crystal display section.
An ordinary cathode ray tube, plasma display, etc. can be used. In addition, although we have explained an example of adding letters (alphabet) to reflected waves, the mark can also be made using other types of letters, letters, etc.
It may be a symbol or a sign; if particularly accurate measurement is required, a line segment or arrow corresponding to the peak position of the reflected wave can be added to indicate the exact position. Furthermore, although we have explained an example in which characters are set using low-reswitches, key switches for the required display marks may also be used, or settings may be made using a combination of key switches 0 to 9 as shown in Figure 2. You can. Furthermore, an example of displaying the reflected waves T to B at the time of marking has been explained, but if a predetermined reflected wave is known,
It is not necessary to display the entire reflected wave T-B, and a limited range including a predetermined reflected wave may be displayed. Although an example has been described in which a cursor is displayed along with a message instructing selection of a predetermined reflected wave, the cursor can also be displayed at all times.

また、本実施例では、被検査物lの表面、底面からの反
射波S、 Bにマークを付与したが、標準的な欠陥を有
する試験片などでは欠陥波にマークを付与しても有効で
ある。
Furthermore, in this example, marks were attached to the reflected waves S and B from the surface and bottom of the object to be inspected, but it is also effective to attach marks to the defective waves for test pieces with standard defects. be.

〔発明の効果〕 以−ト述べたように、本発明では、所定の反射波に対し
てマークを付与するようにしたので、測定の目安となる
反射波を確実に認識することができ、これにより、観測
者は現観測位置を正確に把握することができ、又、反射
波が得られない場合、超音波探傷器の故障か否かの判断
を行なうことができ、チエツクのための時間や手間の浪
費を避けることができる。
[Effects of the Invention] As described above, in the present invention, since a mark is attached to a predetermined reflected wave, it is possible to reliably recognize the reflected wave that serves as a guide for measurement. This allows the observer to accurately grasp the current observation position, and if no reflected waves are obtained, it can be determined whether the ultrasonic flaw detector is malfunctioning or not, saving time and time for checking. You can avoid wasting your time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例に係る超音波探傷器のブロック
図、第2図は第1図に示す原点設定部のキースイッチの
配置図、第3図は反射波の一部の波形図、第4図は第1
図に示す波形メモリのブロック図、第5図は測定範囲、
カーソル表示及びマーク付与を説明する波形図、第6図
および第7図はそれぞれ測定範囲表示およびカーソル表
示の動作を説明するフローチャート、第8図はカーソル
位置処理を説明するフローチャート、第9図(a)。 う(、e) +b+、 fcL 扉Wカーソル位置処理の場合の表示
波形図、第10図はカーソル幅処理を説明するフローチ
ャート、第1)図(al、 (b)、 (C1はカーソ
ル幅処理の場合の表示波形図、第12図はマーク付、り
を説明するフローチャート、第13図および第14図は
マーク付与の場合の表示面の平面図、第15図および第
16図は第12図に示すフローチャートの一部を詳細に
説明するフローチャート、第17図(al、 (Ill
、 (C1,fdl、 (1!lはマークを付与した反
射波を説明する表示面の平面図、第18図は従来の超音
波探傷器のブロック図、第19図は水浸法を説明する断
面図、第20図は反射波の波形図である。 1・・・・・・・・・被検査物体、I[・・・・・・・
・・欠陥、2・・・・・・・・・超音波探触子、5・・
・・・・・・・送信部、6・・・・・・・・・受信部、
21・・・・・・・・・超音波床1)>器、22・・・
・・・・・・A/D変換部、23・・・・・・・・・波
形メモリ、24・・・・・・・・・アドレスカウンタ、
25・・・・・・・・・夕・イミング回路、26・・・
・・・・・・CPU、27・・・・・・・・・177\
M、28・・・・・・・・・1ぐOM、30・・・・・
・・・・キーボー1人力部、31・・・・・・・・・液
晶表示部、32・・・・・・・・・表示部コン)・lコ
ーラ、32m・・・・・・・・・表示メモリ、33・・
・・・・・・・マーク設定部、34・・・・・・・・・
カーソル始点設定部、35・・・・旧・・カーソル幅設
定部、36・・・・・・測定始点設定部、37・・・・
・・測定範囲設定部、38・・・・・・文)設定部。 第3図 ”M 第2図 15図 第6図 第7図 第9図 (c)             (d)(e) 1++図 (a)            (b)(C) 第12図 口==D 第13図 第14図 第16図 第17図 (a)         (b) (c)         (d) (e) 第19図 第20図
Fig. 1 is a block diagram of an ultrasonic flaw detector according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a layout diagram of the key switch of the origin setting section shown in Fig. 1, and Fig. 3 is a waveform diagram of a part of the reflected wave. , Figure 4 is the first
The block diagram of the waveform memory shown in the figure, Figure 5 shows the measurement range,
6 and 7 are flowcharts explaining the operation of measurement range display and cursor display, respectively. FIG. 8 is a flowchart explaining cursor position processing, and FIG. 9 (a) ). (, e) +b+, fcL Display waveform diagram for door W cursor position processing, Figure 10 is a flowchart explaining cursor width processing, Figure 1) (al, (b), (C1 is for cursor width processing) Figure 12 is a flowchart explaining the marking process, Figures 13 and 14 are plan views of the display surface when marks are added, and Figures 15 and 16 are Figure 12. A flowchart explaining in detail a part of the flowchart shown in FIG.
, (C1, fdl, (1!l is a plan view of the display surface explaining reflected waves with marks added, FIG. 18 is a block diagram of a conventional ultrasonic flaw detector, and FIG. 19 is an explanation of the water immersion method. The cross-sectional view and Fig. 20 are waveform diagrams of reflected waves. 1...Object to be inspected, I [......
...Defect, 2... Ultrasonic probe, 5...
...... Transmission section, 6...... Receiving section,
21... Ultrasonic bed 1) > device, 22...
...A/D conversion section, 23... Waveform memory, 24... Address counter,
25...Evening/timing circuit, 26...
...CPU, 27...177\
M, 28...1gu OM, 30...
・・・・Keyboard 1 manual power section, 31・・・・・・・Liquid crystal display section, 32・・・・・・・Display section controller)・l Cola, 32m・・・・・・・・Display memory, 33...
・・・・・・Mark setting section, 34・・・・・・・・・
Cursor start point setting section, 35... Old cursor width setting section, 36... Measurement start point setting section, 37...
...Measurement range setting section, 38...... sentence) setting section. Figure 3"M Figure 2 15 Figure 6 Figure 7 Figure 9 (c) (d) (e) 1++ Figure (a) (b) (C) Figure 12 Entrance==D Figure 13 Figure 14 Figure 16 Figure 17 (a) (b) (c) (d) (e) Figure 19 Figure 20

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)超音波探触子に対して所定のパルスを出力する送
信部と、前記超音波探触子からの信号を受信する受信部
と、この受信部で受信された信号に基づいて当該信号の
波形を表示する表示部とを備えた超音波探傷器において
、前記受信部で受信された入力信号を所定のサンプリン
グ周期で順次アドレスに記憶する波形メモリと、前記表
示部に表示するデータを記憶する表示メモリと、前記表
示部に表示すべき測定範囲に応じて前記波形メモリのア
ドレスを選択する選択手段と、この選択手段により選択
されたアドレスのデータを対応する前記表示メモリのア
ドレスに移送するデータ移送手段と、前記表示メモリの
データを前記表示部に表示する波形表示手段と、表示さ
れた反射波のうち所定の反射波を選択する反射波選択手
段と、選択された反射波の距離を演算する演算手段と、
演算された距離に対応する前記表示メモリのアドレスを
決定するアドレス決定手段と、決定されたアドレスに対
応する前記表示部の位置に所定のマークを表示するマー
ク表示手段とを設けたことを特徴とする超音波探傷器の
マーク表示装置。
(1) A transmitter that outputs a predetermined pulse to an ultrasound probe, a receiver that receives a signal from the ultrasound probe, and a signal that is transmitted based on the signal received by the receiver. In an ultrasonic flaw detector, the ultrasonic flaw detector is equipped with a waveform memory that sequentially stores input signals received by the receiving section in addresses at a predetermined sampling period, and data to be displayed on the display section. a display memory for displaying, a selection means for selecting an address of the waveform memory according to a measurement range to be displayed on the display section, and a selection means for transferring data at an address selected by the selection means to a corresponding address of the display memory. data transfer means; waveform display means for displaying data in the display memory on the display section; reflected wave selection means for selecting a predetermined reflected wave from among the displayed reflected waves; a computing means for computing;
The present invention is characterized by comprising an address determining means for determining an address of the display memory corresponding to the calculated distance, and a mark display means for displaying a predetermined mark at a position on the display section corresponding to the determined address. Mark display device for ultrasonic flaw detector.
(2)特許請求の範囲第(1)項において、前記反射波
選択手段は、前記所定の反射波の前後にカーソルを表示
するカーソル表示手段と、前記波形メモリにおけるこれ
ら2つのカーソルの間に記憶された最大値を記憶したア
ドレスを求める演算手段とで構成されていることを特徴
とする超音波探傷器のマーク表示装置。
(2) In claim (1), the reflected wave selection means includes cursor display means for displaying a cursor before and after the predetermined reflected wave, and a memory stored between these two cursors in the waveform memory. 1. A mark display device for an ultrasonic flaw detector, comprising: arithmetic means for determining an address storing a maximum value of the detected maximum value.
(3)特許請求の範囲第(1)項において、前記所定の
マークは、記憶部に記憶された複数のマークからマーク
選択手段により選択されることを特徴とする超音波探傷
器のマーク表示装置。
(3) A mark display device for an ultrasonic flaw detector according to claim (1), wherein the predetermined mark is selected by a mark selection means from a plurality of marks stored in a storage section. .
JP62294154A 1987-11-24 1987-11-24 Mark display device for ultrasonic flaw detector Granted JPH01136065A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62294154A JPH01136065A (en) 1987-11-24 1987-11-24 Mark display device for ultrasonic flaw detector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62294154A JPH01136065A (en) 1987-11-24 1987-11-24 Mark display device for ultrasonic flaw detector

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01136065A true JPH01136065A (en) 1989-05-29
JPH0561590B2 JPH0561590B2 (en) 1993-09-06

Family

ID=17804010

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62294154A Granted JPH01136065A (en) 1987-11-24 1987-11-24 Mark display device for ultrasonic flaw detector

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01136065A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017129444A (en) * 2016-01-20 2017-07-27 株式会社日立パワーソリューションズ Ultrasonic inspection method and device

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007315820A (en) 2006-05-23 2007-12-06 Central Res Inst Of Electric Power Ind Ultrasonic flaw inspection device and ultrasonic flaw inspection program

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017129444A (en) * 2016-01-20 2017-07-27 株式会社日立パワーソリューションズ Ultrasonic inspection method and device

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0561590B2 (en) 1993-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS62240856A (en) Ultrasonic flaw detector
WO1984003944A1 (en) Numerical value measuring instrument using oscilloscope device
KR0171606B1 (en) Ultrasonic inspection and imaging instrument
US6397681B1 (en) Portable ultrasonic detector
JPH01136065A (en) Mark display device for ultrasonic flaw detector
JP2003028846A (en) Ultrasonic flaw detector
JPH0614029B2 (en) Defect measuring device for ultrasonic flaw detector
JPH01136064A (en) Mark display device for ultrasonic flaw detector
JPS63150666A (en) Measurement range selecting device for ultrasonic flaw detector
KR910020434A (en) Ultrasound Imaging Device
CN202547616U (en) Christmas tree ultrasonic self-correction three-dimensional multi-spot corrosion detector
JP3487491B2 (en) Bevel flaw detection method and its waveform display method
JP2006337030A (en) Ultrasonic flaw detecting method and device
JPS60102553A (en) Electron scanning type ultrasonic flaw detection apparatus
JP2612351B2 (en) Ultrasonic inspection equipment
JPS6375511A (en) Ultrasonic thickness gauge
JPS63150667A (en) Origin setting device for ultrasonic flaw detector
JPH0614027B2 (en) Ultrasonic flaw detector measurement range setting device
JPS6375512A (en) Ultrasonic thickness gauge
JPS62245107A (en) Ultrasonic thickness meter
JPS61245010A (en) Ultrasonic thickness gauge
JPS61245008A (en) Ultrasonic thickness gauge
JPH09159655A (en) Portable rail flaw detecting device
JPS61245011A (en) Ultrasonic thickness gauge
JPS61266907A (en) Detector for surface condition

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees