JPH01120606U - - Google Patents

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JPH01120606U
JPH01120606U JP1363488U JP1363488U JPH01120606U JP H01120606 U JPH01120606 U JP H01120606U JP 1363488 U JP1363488 U JP 1363488U JP 1363488 U JP1363488 U JP 1363488U JP H01120606 U JPH01120606 U JP H01120606U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案に係る平滑性評価装置の実施例
を示す図、第２図は撮像装置から入力する画像例
を示す図、第３図は２値画像を例示する図、第４
図は抽出した縁線を例示する図、第５図は縁線に
ついてのラベル処理を例示する図、第６図は縁線
抽出のフローチヤート、第７図は本考案に係る平
滑性評価処理例を示すフローチヤート、第８図は
本考案に係る平滑性評価の原理説明図、第９図は
被検体形状によるスリツト光像の各種の例を示す
図、第１０図は従来の平滑性評価装置例を示す図
である。 １……被検体、２……スリツト、３……光源、
４……スリツト光像、５……撮像装置、１０……
信号処理部、１１……Ａ／Ｄ変換部、１２……２
値化部、１３……縁線抽出部、１４……評価部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 被検体の表面に複数のスリツト光像を投影する
    光像投影手段と、該スリツト光像を撮像して２値
    画像を生成する２値画像生成手段と、該２値画像
    から各スリツト光像の縁線データを抽出する縁線
    データ抽出手段と、該縁線データに基づき隣接す
    る縁線間の偏差を算出して該偏差に基づき被検体
    の平滑性を評価する評価手段とを備えることを特
    徴とする平滑性評価装置。
JP1988013634U 1988-02-05 1988-02-05 Expired - Lifetime JPH0544725Y2 (ja)

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JPH01120606U true JPH01120606U (ja) 1989-08-16
JPH0544725Y2 JPH0544725Y2 (ja) 1993-11-15

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010513925A (ja) * 2006-12-19 2010-04-30 ピルキングトン・ノースアメリカ・インコーポレイテッド 車両用成形ガラスのひずみを反射された光学像により自動的に定量分析する方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5584512U (ja) * 1979-12-19 1980-06-11
JPS60200141A (ja) * 1984-03-26 1985-10-09 Hitachi Ltd 鏡面物体の表面形状検出方式
JPS61223605A (ja) * 1985-03-29 1986-10-04 Fuji Photo Film Co Ltd 表面形状検査方法
JPS6298204A (ja) * 1985-10-25 1987-05-07 Omron Tateisi Electronics Co 物体認識方法およびその装置

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