JPH01118753A - チップ部品電極検査装置 - Google Patents
チップ部品電極検査装置Info
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- JPH01118753A JPH01118753A JP62144834A JP14483487A JPH01118753A JP H01118753 A JPH01118753 A JP H01118753A JP 62144834 A JP62144834 A JP 62144834A JP 14483487 A JP14483487 A JP 14483487A JP H01118753 A JPH01118753 A JP H01118753A
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- Pending
Links
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、チップ抵抗部品の製造ラインにおいて、チ
ップ抵抗電極皮膜の欠如を検査するチップ抵抗電極検査
装置に間するものである。
ップ抵抗電極皮膜の欠如を検査するチップ抵抗電極検査
装置に間するものである。
従来、チップ抵抗部品のチップ抵抗電極皮膜の欠如を検
査するのは、作業者の目視検査によって良否を判別する
方法が多かった。
査するのは、作業者の目視検査によって良否を判別する
方法が多かった。
このような目視検査の方法では、チップ抵抗部品が小さ
い為にチップ抵抗電極皮膜の微細な欠如を検査するのは
、多大な神経と労力を費やしていた、特にチップ抵抗基
板が白色セラミック材料で形成され、チップ抵抗電極皮
膜がアルミ銀ペーストなどの白色又は銀色材料である為
に、作業者が目視により、チップ抵抗電極皮膜が欠如し
て白色セラミック材料が露出した不良箇所を発見する事
が難しく、更にその欠如面積から良否を正確に判別検査
することは、極めて困難であるなどの問題点があった。
い為にチップ抵抗電極皮膜の微細な欠如を検査するのは
、多大な神経と労力を費やしていた、特にチップ抵抗基
板が白色セラミック材料で形成され、チップ抵抗電極皮
膜がアルミ銀ペーストなどの白色又は銀色材料である為
に、作業者が目視により、チップ抵抗電極皮膜が欠如し
て白色セラミック材料が露出した不良箇所を発見する事
が難しく、更にその欠如面積から良否を正確に判別検査
することは、極めて困難であるなどの問題点があった。
この発明はこのような欠点を無くすために、チップ部品
基板の裏面にカラー光線を照射してチップ部品基板の内
部を拡散照明おこない、チップ部品基板の端面又は上面
に皮膜された電極皮膜部を、光学レンズとカラー撮像素
子によって撮像をおこないカラー映像電気信号を得る、
そのカラー映像電気信号から電極皮膜欠如部分のカラー
映像信号のみを抽出して、その抽出信号を累積計数して
面積の計測をおこない電極皮膜欠如の良否を判別出力す
るチップ部品電極検査装置を提案せんとするものである
。
基板の裏面にカラー光線を照射してチップ部品基板の内
部を拡散照明おこない、チップ部品基板の端面又は上面
に皮膜された電極皮膜部を、光学レンズとカラー撮像素
子によって撮像をおこないカラー映像電気信号を得る、
そのカラー映像電気信号から電極皮膜欠如部分のカラー
映像信号のみを抽出して、その抽出信号を累積計数して
面積の計測をおこない電極皮膜欠如の良否を判別出力す
るチップ部品電極検査装置を提案せんとするものである
。
この発明によれば、チップ抵抗電極皮膜が欠如して白色
セラミック材料が露出した不良箇所のカラー映像信号の
みを抽出して、その抽出信号を累積計数して面積の計測
をおこない電極皮膜欠如の良否を判別出力するから、極
めて正確にチップ部品電極検査ができる。
セラミック材料が露出した不良箇所のカラー映像信号の
みを抽出して、その抽出信号を累積計数して面積の計測
をおこない電極皮膜欠如の良否を判別出力するから、極
めて正確にチップ部品電極検査ができる。
以下、図面を参照してこの発明を実施例にもとずき詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は本発明によるチップ部品電極検査装置の一実施
例を示す図である。
例を示す図である。
第１図において、チップ抵抗部品（１）のセラミック基
板部（ｌａ）裏面に、赤色のカラー光’ａ （３）と照
射レンズ（４）を用いて赤色のカラー光線（２）を照射
して、セラミック基板部（１ａ）の内部を赤色に拡散照
明する。
板部（ｌａ）裏面に、赤色のカラー光’ａ （３）と照
射レンズ（４）を用いて赤色のカラー光線（２）を照射
して、セラミック基板部（１ａ）の内部を赤色に拡散照
明する。
チップ抵抗部品（１）の端面に皮膜された電極皮膜部（
１ｂ）の検査すべき範囲を、光学レンズ（６）とカラー
撮像素子（７）を用いて撮像をおこないカラー映像電気
信号を得る。
１ｂ）の検査すべき範囲を、光学レンズ（６）とカラー
撮像素子（７）を用いて撮像をおこないカラー映像電気
信号を得る。
上記のカラー映像電気信号から、電極皮膜部（１ｂ）が
欠如してセラミック基板部（Ｉａ）が露出することによ
り露出部分が赤色となる部分すなわち電極皮膜欠如部（
ｌｃ）の、赤色カラー映像信号のみをカラー映像信号抽
出部（８）で抽出をおこない、その抽出信号を面積計数
部（９）で累積計数をおこない、その面積の計測値を良
否判別出力部（ｌＯ）で判別して電極皮膜欠如部（１ｃ
）の良否を検査出力する。
欠如してセラミック基板部（Ｉａ）が露出することによ
り露出部分が赤色となる部分すなわち電極皮膜欠如部（
ｌｃ）の、赤色カラー映像信号のみをカラー映像信号抽
出部（８）で抽出をおこない、その抽出信号を面積計数
部（９）で累積計数をおこない、その面積の計測値を良
否判別出力部（ｌＯ）で判別して電極皮膜欠如部（１ｃ
）の良否を検査出力する。
以上説明したように、この発明によれば、チップ抵抗電
極皮膜が欠如してセラミック基板が露出する為に欠如部
分が赤色となり、不良箇所部分の赤色カラー映像信号の
みを抽出して、その抽出信号を累積計数して面積の計測
をおこない電極皮膜欠如の良否を判別出力するから、チ
ップ抵抗電極皮膜がアルミ銀ベーストなどの白色又は銀
色材料であっても同等影響される事なく、極めて正確且
つ迅速なチップ部品電極検査装置が得られた。
極皮膜が欠如してセラミック基板が露出する為に欠如部
分が赤色となり、不良箇所部分の赤色カラー映像信号の
みを抽出して、その抽出信号を累積計数して面積の計測
をおこない電極皮膜欠如の良否を判別出力するから、チ
ップ抵抗電極皮膜がアルミ銀ベーストなどの白色又は銀
色材料であっても同等影響される事なく、極めて正確且
つ迅速なチップ部品電極検査装置が得られた。
第１図は、本発明のチップ部品電極検査装置の一実施例
を示す構成図である。 図において、（１）はチップ抵抗部品、（１ａ）はセラ
ミック基板部、（１ｂ）は電極皮膜部、（ｌｃ）は電極
皮膜欠如部、（ｌｄ）は抵抗皮膜部、（２）はカラー光
線、（３）はカラー光源、（４）は照射レンズ、（５）
は光源点灯電源部、（６）は光学レンズ、（７）はカラ
ー撮像素子、（８）はカラー映像信号抽出部、（９）は
面積計数部、（１０）は良否判別出力部である。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
を示す構成図である。 図において、（１）はチップ抵抗部品、（１ａ）はセラ
ミック基板部、（１ｂ）は電極皮膜部、（ｌｃ）は電極
皮膜欠如部、（ｌｄ）は抵抗皮膜部、（２）はカラー光
線、（３）はカラー光源、（４）は照射レンズ、（５）
は光源点灯電源部、（６）は光学レンズ、（７）はカラ
ー撮像素子、（８）はカラー映像信号抽出部、（９）は
面積計数部、（１０）は良否判別出力部である。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- チップ部品基板の裏面にカラー光線を照射して、チッ
プ部品基板の内部を拡散照明する手段と、チップ部品基
板の端面又は上面に皮膜された電極皮膜部を、光学レン
ズとカラー撮像素子によって撮像をおこないカラー映像
電気信号を得る手段と、上記手段で得るカラー映像電気
信号から電極皮膜欠如部分のカラー映像信号のみを抽出
して、その抽出信号を累積計数して面積の計測をおこな
い電極皮膜欠如の良否を判別出力する手段とを備えた事
を特徴とするチップ部品電極検査装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62144834A JPH01118753A (ja) | 1987-06-10 | 1987-06-10 | チップ部品電極検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62144834A JPH01118753A (ja) | 1987-06-10 | 1987-06-10 | チップ部品電極検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01118753A true JPH01118753A (ja) | 1989-05-11 |
Family
ID=15371521
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62144834A Pending JPH01118753A (ja) | 1987-06-10 | 1987-06-10 | チップ部品電極検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01118753A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007201331A (ja) * | 2006-01-30 | 2007-08-09 | Sanyo Electric Co Ltd | 光起電力モジュール |
| CN111693778A (zh) * | 2020-05-25 | 2020-09-22 | 珠海格力电器股份有限公司 | 贴片电阻异常检测方法、装置、系统、设备和存储介质 |
-
1987
- 1987-06-10 JP JP62144834A patent/JPH01118753A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007201331A (ja) * | 2006-01-30 | 2007-08-09 | Sanyo Electric Co Ltd | 光起電力モジュール |
| CN111693778A (zh) * | 2020-05-25 | 2020-09-22 | 珠海格力电器股份有限公司 | 贴片电阻异常检测方法、装置、系统、设备和存储介质 |
| CN111693778B (zh) * | 2020-05-25 | 2021-07-20 | 珠海格力电器股份有限公司 | 贴片电阻异常检测方法、装置、系统、设备和存储介质 |
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