JPH01116425A - 半導体圧力センサ - Google Patents
半導体圧力センサInfo
- Publication number
- JPH01116425A JPH01116425A JP27315687A JP27315687A JPH01116425A JP H01116425 A JPH01116425 A JP H01116425A JP 27315687 A JP27315687 A JP 27315687A JP 27315687 A JP27315687 A JP 27315687A JP H01116425 A JPH01116425 A JP H01116425A
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- Japan
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- diaphragm
- resistors
- resistor
- pressure
- bridge circuit
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- Pending
Links
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 1
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体圧力センサに関する。
第3図は従来の半導体圧力センサの構造を示す断面図で
ある。
ある。
この半導体圧力センサは、半導体チップによって形成さ
れたダイアフラム1を構造体2に接着した後、所定の電
気配線3を施し、この上から圧力導入筒4を有するキャ
ップ5を構造体2に接合し、ダイアフラム1を構造体2
とキャップ5よりなるパッケージ内に封入したものであ
る。
れたダイアフラム1を構造体2に接着した後、所定の電
気配線3を施し、この上から圧力導入筒4を有するキャ
ップ5を構造体2に接合し、ダイアフラム1を構造体2
とキャップ5よりなるパッケージ内に封入したものであ
る。
ダイアフラム1は、シリコンウェハに多数配列された単
位セルの第1主面に一部異方性エッチングや機械加工等
による凹部を設けて薄肉部を形成するとともに、第2主
面に感圧素子となるゲージ抵抗等によって第4図に示す
ようなホイットストーンブリッジ回路6を集積化し、こ
れを単位セル毎に分割したもので、シリコンを単に電気
的要素の母材としてのみならず剛性の高い機械的要素と
して用いることにより、圧力によって生じたダイアフラ
ムlの歪をホイットストーンブリッジ回路6の電圧出力
に基づいて検出するようになっている。
位セルの第1主面に一部異方性エッチングや機械加工等
による凹部を設けて薄肉部を形成するとともに、第2主
面に感圧素子となるゲージ抵抗等によって第4図に示す
ようなホイットストーンブリッジ回路6を集積化し、こ
れを単位セル毎に分割したもので、シリコンを単に電気
的要素の母材としてのみならず剛性の高い機械的要素と
して用いることにより、圧力によって生じたダイアフラ
ムlの歪をホイットストーンブリッジ回路6の電圧出力
に基づいて検出するようになっている。
しかしながら、このような従来の半導体圧力センサにあ
っては、半導体チップ上に構成されたホイットストーン
ブリッジ回路6の出力が温度依存性を有することから、
周囲の温度変化によって適正な圧力検出が確保し難いと
いう欠点があった。
っては、半導体チップ上に構成されたホイットストーン
ブリッジ回路6の出力が温度依存性を有することから、
周囲の温度変化によって適正な圧力検出が確保し難いと
いう欠点があった。
本発明の目的は、半導体チップ上の歪検出回路の温度依
存性を補償することができ、正確な圧力検出を確保する
ことのできる半導体圧力センサを提供することにある。
存性を補償することができ、正確な圧力検出を確保する
ことのできる半導体圧力センサを提供することにある。
本発明の半導体圧力センサは、このような目的を達成す
るために、圧力導入筒が設けられるパッケージと、この
パッケージ内に配置され、歪検出回路を集積化した半導
体チップと、前記歪検出回路の温度特性補償用の抵抗と
を備えたことを特徴としている。
るために、圧力導入筒が設けられるパッケージと、この
パッケージ内に配置され、歪検出回路を集積化した半導
体チップと、前記歪検出回路の温度特性補償用の抵抗と
を備えたことを特徴としている。
本発明によれば、温度特性補償用の抵抗によって歪検出
回路の温度特性が補償されることになり、周囲の温度変
動に影響されない適正な圧力検出を行うことができる。
回路の温度特性が補償されることになり、周囲の温度変
動に影響されない適正な圧力検出を行うことができる。
以下実施例につき本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の実施例による半導体圧力センサを示す
断面図である。
断面図である。
この半導体圧力センサは、半導体チップによって形成さ
れたダイアフラム11と、このダイアフラム11を保持
する構造体12と、ダイアフラム11に圧力を供給する
ための圧力導入筒14を有するキャップ15と、このキ
ャップ15の側壁に設けられた一対のトリマ抵抗16.
17とを備え、ダイアフラム11を構造体12とキャッ
プ15よりなるパッケージ内に封入したものである。
れたダイアフラム11と、このダイアフラム11を保持
する構造体12と、ダイアフラム11に圧力を供給する
ための圧力導入筒14を有するキャップ15と、このキ
ャップ15の側壁に設けられた一対のトリマ抵抗16.
17とを備え、ダイアフラム11を構造体12とキャッ
プ15よりなるパッケージ内に封入したものである。
ダイアフラム11には、第2図に示すように、感圧素子
となる4つの拡散抵抗R1〜R4より構成されたホイッ
トストーンブリッジ回路18が設けられている。この回
路では、抵抗R1と抵抗R2の接続端C1と、抵抗R3
と抵抗R4の接続端C3との間に電流を供給することに
より、抵抗R2と抵抗R3の接続端C2と、抵抗R4と
抵抗R1の接続端C4との間に生じる電圧を検出し、ダ
イアフラム11の歪量に基づく圧力値を求めるようにな
っている。
となる4つの拡散抵抗R1〜R4より構成されたホイッ
トストーンブリッジ回路18が設けられている。この回
路では、抵抗R1と抵抗R2の接続端C1と、抵抗R3
と抵抗R4の接続端C3との間に電流を供給することに
より、抵抗R2と抵抗R3の接続端C2と、抵抗R4と
抵抗R1の接続端C4との間に生じる電圧を検出し、ダ
イアフラム11の歪量に基づく圧力値を求めるようにな
っている。
また、構造体12には、ステム19に支持されたダイア
フラム装着部20が設けられるとともに、複数の端子2
1が設けられており、金線22によってダイアフラム1
1のホイットストーンブリッジ回路18に結線されてい
る。
フラム装着部20が設けられるとともに、複数の端子2
1が設けられており、金線22によってダイアフラム1
1のホイットストーンブリッジ回路18に結線されてい
る。
キャップ15は、構造体12の上面を覆う形状のもので
、圧力導入筒14の開口をダイアフラム11の上面に対
向させた状態で、構造体12に密着接合されるようにな
っている。
、圧力導入筒14の開口をダイアフラム11の上面に対
向させた状態で、構造体12に密着接合されるようにな
っている。
各トリマ抵抗16.17は、互いにキャップ15のちょ
うど反対側の側壁に配置され、各々の調整片168%1
7aをキャップ15の側壁より外部に突出させており、
この調整片16a、17aをドライバ等によって操作す
ることにより、外部から抵抗値を調整できるようになっ
ている。これらトリマ抵抗16.17のうち、一方のト
リマ抵抗16は、金線23によってホイットストーンプ
リッジ回路18に結線され、第2図に示すように、拡散
抵抗R1と並列に接続されている。また、他方のトリマ
抵抗16は、金線24によってホイットストーンブリッ
ジ回路18の拡散抵抗R1と拡散抵抗R4との間に直列
に接続されている。
うど反対側の側壁に配置され、各々の調整片168%1
7aをキャップ15の側壁より外部に突出させており、
この調整片16a、17aをドライバ等によって操作す
ることにより、外部から抵抗値を調整できるようになっ
ている。これらトリマ抵抗16.17のうち、一方のト
リマ抵抗16は、金線23によってホイットストーンプ
リッジ回路18に結線され、第2図に示すように、拡散
抵抗R1と並列に接続されている。また、他方のトリマ
抵抗16は、金線24によってホイットストーンブリッ
ジ回路18の拡散抵抗R1と拡散抵抗R4との間に直列
に接続されている。
このような半導体圧力センサでは、各トリマ抵抗16.
17の抵抗値を適当な値に設定することにより、ホイッ
トストーンブリッジ回路18の温度特性の補償を行うこ
とができる。すなわち、この手順を説明すると、まず、
半導体圧力センサを所定の低温下に置いた状態で、ホイ
ットストーンブリッジ回路18より出力される非加圧時
のオフセット電圧を零とするように一方のトリマ抵抗1
6の調整片16aを操作する。次に、半導体圧力センサ
を所定の高温下に置いた状態で、ホイットストーンブリ
ッジ回路18より出力されるオフセット電圧を零とする
ように他方のトリマ抵抗17の調整片17aを操作する
。これによってホイットストーンブリッジ回路18のオ
フセット電圧が高低2つの温度下で零となり、温度の変
動に対してホイットストーンブリッジ回路18の出力電
圧が一定に保持されることになる。
17の抵抗値を適当な値に設定することにより、ホイッ
トストーンブリッジ回路18の温度特性の補償を行うこ
とができる。すなわち、この手順を説明すると、まず、
半導体圧力センサを所定の低温下に置いた状態で、ホイ
ットストーンブリッジ回路18より出力される非加圧時
のオフセット電圧を零とするように一方のトリマ抵抗1
6の調整片16aを操作する。次に、半導体圧力センサ
を所定の高温下に置いた状態で、ホイットストーンブリ
ッジ回路18より出力されるオフセット電圧を零とする
ように他方のトリマ抵抗17の調整片17aを操作する
。これによってホイットストーンブリッジ回路18のオ
フセット電圧が高低2つの温度下で零となり、温度の変
動に対してホイットストーンブリッジ回路18の出力電
圧が一定に保持されることになる。
なお、以上の実施例では、温度特性補償用の抵抗として
トリマ抵抗16.17を設け、ホイットストーンブリッ
ジ回路18のオフセット電圧の実測によって抵抗値を決
定したが、所定の2つの温度下におけるホイットストー
ンブリッジ回路18のオフセット電圧が零となる抵抗値
を予め算出し、この抵抗値を有する抵抗を用意して前述
と同様の結線によってホイットストーンブリッジ回路に
外付けしてもよい。
トリマ抵抗16.17を設け、ホイットストーンブリッ
ジ回路18のオフセット電圧の実測によって抵抗値を決
定したが、所定の2つの温度下におけるホイットストー
ンブリッジ回路18のオフセット電圧が零となる抵抗値
を予め算出し、この抵抗値を有する抵抗を用意して前述
と同様の結線によってホイットストーンブリッジ回路に
外付けしてもよい。
以上説明したように、本発明によれば、温度特性補償用
の抵抗によって半導体チップ上の歪検出回路の温度依存
性を補償することができ、正確な圧力検出を確保するこ
とができる。
の抵抗によって半導体チップ上の歪検出回路の温度依存
性を補償することができ、正確な圧力検出を確保するこ
とができる。
第1図は本発明の一実施例による半導体圧力センサを示
す断面図、第°2図は同実施例の半導体圧力センサに設
けられた歪検出回路を示す回路図、第3図は半導体圧力
センサの従来例を示す断面図、第4図は同従来例の半導
体圧力センサに設けられt4歪検出回路を示す回路図で
ある。 11・・・・・・ダイアフラム(半導体チップ)、12
・・・・・・構造体、 14・・・・・・圧力導入筒、 15・・・・・・キャップ、 16.17・・・・・・トリマ抵抗、 18・・・・・・ホイットストーンブリッジ回路。 出 願 人 日本電気株式会社 代 理 人
す断面図、第°2図は同実施例の半導体圧力センサに設
けられた歪検出回路を示す回路図、第3図は半導体圧力
センサの従来例を示す断面図、第4図は同従来例の半導
体圧力センサに設けられt4歪検出回路を示す回路図で
ある。 11・・・・・・ダイアフラム(半導体チップ)、12
・・・・・・構造体、 14・・・・・・圧力導入筒、 15・・・・・・キャップ、 16.17・・・・・・トリマ抵抗、 18・・・・・・ホイットストーンブリッジ回路。 出 願 人 日本電気株式会社 代 理 人
Claims (1)
- 圧力導入筒が設けられるパッケージと、このパッケージ
内に配置され、歪検出回路を集積化した半導体チップと
、前記歪検出回路の温度特性補償用の抵抗とを備えたこ
とを特徴とする半導体圧力センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27315687A JPH01116425A (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 半導体圧力センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27315687A JPH01116425A (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 半導体圧力センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01116425A true JPH01116425A (ja) | 1989-05-09 |
Family
ID=17523890
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27315687A Pending JPH01116425A (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 半導体圧力センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01116425A (ja) |
-
1987
- 1987-10-30 JP JP27315687A patent/JPH01116425A/ja active Pending
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