JPH01115888A - Production of jig for producing semiconductor - Google Patents

Production of jig for producing semiconductor

Info

Publication number
JPH01115888A
JPH01115888A JP62272820A JP27282087A JPH01115888A JP H01115888 A JPH01115888 A JP H01115888A JP 62272820 A JP62272820 A JP 62272820A JP 27282087 A JP27282087 A JP 27282087A JP H01115888 A JPH01115888 A JP H01115888A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silicon carbide
silicon
porous
jig
metal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62272820A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshikazu Amino
俊和 網野
Masahide Matsuda
松田 正英
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP62272820A priority Critical patent/JPH01115888A/en
Publication of JPH01115888A publication Critical patent/JPH01115888A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Ceramic Products (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a jig for producing a semiconductor without exudation of metallic silicon, by forming a carbonaceous film on the surface of a calcined body member of porous silicon carbide before filling metallic silicon in filling thereof into open cells of the calcined body member of porous silicon carbide. CONSTITUTION:Silicon carbide powder having <=5mum average particle diameter is formed into a desired shape and the resultant green compact is calcined in a nonoxidizing atmosphere (e.g. nitrogen gas) to afford a porous silicon carbide member having a three-dimensional network skeleton. At least one surface of the resultant porous silicon carbide member is then coated with a carbonaceous material (e.g. phenolic resin), which is then carbonized in a nonoxidizing atmosphere to form a carbonaceous film. Thermally melted metallic silicon is subsequently filled in open cells of the porous compact and the carbonaceous film is heated and removed in an oxidizing atmosphere to provide a jig for producing semiconductors.

Description

【発明の詳細な説明】 (Je業上の利用分野) 本発明は、電子工業用の半導体素子を製造するために高
温炉内に収納されて、シリコンウェハーの支持台等とし
て使用される半導体製造用治具の製造方法に関するもの
てあり、特に電子工業用の耐熱性治具のうち例えば半導
体の拡散・酸化想理などに使用されるプロセス管等のガ
ス不浸透性か要求される用途及びウェハーポート等の強
度の要求される用途に適したシリコン滲み出しのない炭
化珪素質複合材料を容易に製造することのてきる炭化珪
素g1複合材料の製造方法に関するものである。
Detailed Description of the Invention (Field of Application in the Je Industry) The present invention is applied to semiconductor manufacturing, which is housed in a high-temperature furnace and used as a support for silicon wafers, etc., for manufacturing semiconductor elements for the electronic industry. This article relates to the manufacturing method of jigs for the electronics industry, especially for applications that require gas impermeability, such as process pipes used for semiconductor diffusion and oxidation, and wafers. The present invention relates to a method for producing a silicon carbide G1 composite material that can easily produce a silicon carbide composite material free from silicon exudation and suitable for applications requiring strength such as ports.

(従来の技術) 従来、この種の電子工業用の半導体製造用治具としては
、例えば石英質のもの、黒鉛基材表面に炭化珪素波−を
形成させた炭素、炭化珪素複合体、或いは炭化珪素成形
体に金属シリコンを充填させた複合体等が知られており
、それぞれの用途に応じて用いられている。
(Prior Art) Conventionally, this type of semiconductor manufacturing jig for the electronic industry has been made of, for example, quartz, carbon with silicon carbide waves formed on the surface of a graphite base material, silicon carbide composite, or carbide. Composites made of a silicon molded body filled with metallic silicon are known, and are used depending on their respective uses.

しかしなから、上記の石英質の半導体製造用治具は、耐
熱性に劣るものであり、使用時に軟化変形を生じ易い。
However, the quartz-based semiconductor manufacturing jig described above has poor heat resistance and is susceptible to softening and deformation during use.

また、黒鉛基材表面に炭化珪素被膜を形成させた炭素、
及び炭化珪素複合体は、予め黒鉛基材をハロゲンガス雰
囲気中で高温処理を施す等の方法によるため、多額を処
理費用に要し、経済的でない。
In addition, carbon with a silicon carbide coating formed on the surface of the graphite base material,
Since the silicon carbide composite is produced by a method such as subjecting a graphite base material to a high temperature treatment in a halogen gas atmosphere in advance, a large amount of treatment cost is required and it is not economical.

ところで、最近になってこのような欠点を解決し得る材
料として、多孔質炭化珪素焼結体部材の開放気孔中に金
属シリコンが充填された炭化珪素質複合材料が開発され
使用されている。
Recently, a silicon carbide composite material in which metallic silicon is filled into the open pores of a porous silicon carbide sintered body member has been developed and used as a material that can solve these drawbacks.

前述の如き炭化珪素質複合材料に充填される金属シリコ
ンは、一般に溶融状態て多孔質炭化珪素焼結体部材の開
放気孔中へ含没することにより充填される。しかしなが
ら、前記金属シリコンは凝固時に体精膨張を伴うことか
ら、含浸後の冷却養固時に多孔質炭化珪素焼結体部材か
ら一旦含浸された金属シリコンの一部が滲み出して表層
に金属シリコン層が生成し付着する欠点があった。
The silicon carbide composite material described above is generally filled with metallic silicon by being immersed in a molten state into the open pores of a porous silicon carbide sintered body member. However, since the metal silicon undergoes physical expansion during solidification, a part of the metal silicon once impregnated oozes out from the porous silicon carbide sintered body member during cooling and curing after impregnation, resulting in a metal silicon layer on the surface layer. There was a drawback that it generated and adhered.

L記の如き表層に金属シリコン層の存在しない炭化珪素
質複合材料を製造する方法としては、例えば表層の金属
シリコン層を機械的に研削除去する方法、或いは水酸化
ナトリウム水溶液中で煮沸して溶解除去する方法等が知
られている。
Methods for producing a silicon carbide composite material without a metal silicon layer on the surface layer as shown in L include, for example, a method of mechanically removing the metal silicon layer on the surface layer, or a method of boiling and dissolving it in an aqueous sodium hydroxide solution. There are known methods for removing it.

このような半導体製造用治具の製造方法としては、例え
ば特開昭51−85374号公報に示されたrプロセス
管と、それに挿入され得る寸法、形状のパドルと、前記
パドルに支持を得る少なくとも1つの舟形容器とからな
り、前記プロセス管、パドル及び舟形容器は5〜30重
量%の高純度シリコン金属を含有する焼結シリコンカー
バイドマトリックスを主体として成り、前記シリコン金
属は前記管、パドル及び舟形容器に気体不透過性を与え
てなる半導体拡散炉。」に係る発明が開示されている。
A method of manufacturing such a semiconductor manufacturing jig is, for example, disclosed in Japanese Patent Application Laid-open No. 51-85374, which includes an r process tube, a paddle having a size and shape that can be inserted into the tube, and at least one paddle that is supported by the paddle. a boat-shaped container, the process tube, paddle and boat are mainly composed of a sintered silicon carbide matrix containing 5-30% by weight of high purity silicon metal, and the silicon metal is connected to the tube, paddle and boat. A semiconductor diffusion furnace made of a container that is made gas impermeable. ” is disclosed.

しかしながら、この特開昭51−85374号公報にあ
つては、公報記載の焼結シリコンカーバイトマトリック
スは再結晶炭化珪素であり、出発原料として比較的粗雑
の炭化珪素粒子を使用するため表面粗度か大きく、複雑
な形状及び寸法精度の要求される焼結体を格別の機械加
工を施すことなく製造することが困難であった。また、
主として半導体等の高純度で製品汚染のない、耐熱性の
優れ、熱伝導性及び耐熱衝撃性に優れた半導体製造治具
を安価に提供することは困難であった。
However, in the case of JP-A-51-85374, the sintered silicon carbide matrix described in the publication is recrystallized silicon carbide, and since relatively coarse silicon carbide particles are used as the starting material, the surface roughness is low. It has been difficult to produce large sintered bodies that require complicated shapes and dimensional accuracy without special machining. Also,
It has been difficult to provide at a low cost a jig for manufacturing semiconductors, which is mainly made of high-purity semiconductors, is free from product contamination, has excellent heat resistance, and has excellent thermal conductivity and thermal shock resistance.

そこで、本発明者は、前述の如き従来知られた半導体用
治具に比較して、複雑な形状とすることができるととも
に、特に熱伝導性に優れ、良好な均熱性及び速い熱応答
性を得ることができ、耐薬品性に優れた半導体製造用治
具を開発すべく種々の研究を重ねてきた結果、珪素から
なるコーティング層を表面に形成することによって必要
な半導体製造治具を製造することができることを新規に
知見するに至り完成したのである。
Therefore, the present inventor has developed a tool that can be made into a more complex shape than the previously known semiconductor jigs as described above, has particularly excellent thermal conductivity, good thermal uniformity, and fast thermal response. As a result of various research efforts to develop semiconductor manufacturing jigs with excellent chemical resistance, we have succeeded in manufacturing the necessary semiconductor manufacturing jigs by forming a coating layer made of silicon on the surface. It was completed after discovering new things that could be done.

なお、表面に珪素からなるコーティング層を形成する方
法として種々の方法が適用できる。例えば、 (a)四塩化珪素を水素で還元して成膜する化学蒸着法
: (b)金属珪素を真空中で電子ビーム加熱して成膜する
物理蒸着法: (C)溶融させた金属シリコンの槽内に浸漬して成膜す
るデイツプ法: (d)金属シリコン及び昇温時に炭素の状態で残る炭素
質物質を有機溶剤に分散させたスラリーを塗布して加熱
融着する方法: などがある。
Note that various methods can be applied to form a coating layer made of silicon on the surface. For example, (a) chemical vapor deposition method in which a film is formed by reducing silicon tetrachloride with hydrogen; (b) physical vapor deposition method in which a film is formed by heating metal silicon in vacuum with an electron beam; (C) molten metal silicon (d) A method in which metal silicon and a carbonaceous substance that remains in the carbon state when heated are dispersed in an organic solvent are applied and heat fused by applying a slurry. be.

上記(c)のデイツプ法を採用する場合には、多孔質炭
化珪素焼結体部材の表面に溶融シリコンの付着を容易に
するために、含浸時に炭素の状態で残せる炭素質物質を
予め塗布しておく方法が開示されている。デイツプ法に
おけるL聞方法において得られた半導体製造用治具は、
所定の条件にて適宜焼成された後、シリコンウェハーと
の接触面を砥粒で研摩し、所定の表面粗度に調整される
When using the dip method in (c) above, a carbonaceous substance that can be left in the carbon state during impregnation is applied in advance to the surface of the porous silicon carbide sintered body member in order to facilitate the adhesion of molten silicon. A method is disclosed. The semiconductor manufacturing jig obtained by the L-length method in the dip method is
After being appropriately fired under predetermined conditions, the contact surface with the silicon wafer is polished with abrasive grains to adjust the surface roughness to a predetermined value.

この場合において、上記金属シリコンをデイツプする場
合、上部及び下部いずれかの浸漬においても浸漬されつ
る金属シリコンを炭化珪素部材に均一にかつ過不足なく
処理しうることは、特に部材の複雑かつ大きなものにつ
いては非常に困難である。
In this case, when dipping the metal silicon, it is important to be able to process the immersed metal silicon uniformly and accurately on the silicon carbide member even when dipping either the upper or lower part, especially when the part is complex and large. It is very difficult to

充分に金属シリコンを含浸するには、均一な温度分布に
おいて処理する必要かある。しかしながら、前記複雑か
つ大きなものについては、金属シリコン含浸時、特には
冷却過程において炉内の温度分布を均一な状態で降温す
ることは不可能で、析出は特に内表面に見られる。また
、雰囲気ガス及び送入ガスにて制御する方法でも非常に
困難である。金属シリコンを含浸しすぎると、多孔質炭
化珪素焼結体部材表面に不均一にしかも余分に析出融着
するため、焼成後の表面粗度研摩において多大の労力を
必要とし、半導体製造用治具の製造方法としての経済性
の観点より不適当と思われる。また、研摩処理がより必
要となるため、半導体製造用治具としての純度が確保し
にくくなる。
In order to satisfactorily impregnate metallic silicon, it is necessary to perform the treatment under uniform temperature distribution. However, for the complex and large materials mentioned above, it is impossible to reduce the temperature distribution in the furnace in a uniform state during impregnation with metallic silicon, especially during the cooling process, and precipitation is particularly observed on the inner surface. Furthermore, it is also very difficult to control the process using atmospheric gas and feed gas. If metal silicon is impregnated too much, it will precipitate and fuse unevenly and excessively on the surface of the porous silicon carbide sintered body, requiring a great deal of effort in polishing the surface roughness after firing, and making it difficult to use semiconductor manufacturing jigs. This seems to be inappropriate from an economic point of view as a manufacturing method. Furthermore, since more polishing is required, it becomes difficult to ensure purity as a jig for semiconductor manufacturing.

(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、前述の如き方法はいずれも一旦生成した
金属シリコン層を除去するための工程を必要とする方法
であり、2r程上煩雑であるばかりでなく、前者の機械
的に研削除去する方法は特に複雑な形状を有する治具を
製造することが困難であり、一方後者の水酸化ナトリウ
ム水溶液中で煮沸する方法は治具にナトリウムが残存し
易く、特に高純度の要求される治具に適用するには好ま
しくない方法であった。
(Problems to be Solved by the Invention) However, all of the above-mentioned methods require a step for removing the metal silicon layer once formed, and are not only as complicated as 2R, but also The latter method of mechanically grinding away is particularly difficult in manufacturing jigs with complex shapes, while the latter method of boiling in an aqueous sodium hydroxide solution tends to leave sodium in the jigs, especially when This method is not suitable for use in jigs that require high purity.

本発明は、上述の如き問題点を解決すべく種々研究した
結果、多孔質炭化珪素焼結体部材から冷却時に滲み出す
量に相当する金属シリコンを、凝固過程において炭化珪
素質複合材料から極めて容易に除去せしめることのでき
る方法を新規に知見するに至り、金属シリコンの滲み出
しのない炭化珪素質複合材料を得ることができる半導体
製造用治具の製造方法を提供することにある。
As a result of various studies to solve the above-mentioned problems, the present invention has been developed to extremely easily remove metallic silicon equivalent to the amount that oozes out from a porous silicon carbide sintered body member during cooling from a silicon carbide composite material during the solidification process. The object of the present invention is to provide a method for manufacturing a semiconductor manufacturing jig that can obtain a silicon carbide composite material without oozing of metal silicon.

(間・照点な解決するための手段) 本発明によれば、炭化珪素粉末を成形して生成形体とな
し、この生成形体を非酸化性雰囲気下で焼結した後、得
られた多孔質炭化珪素焼結体部材の開放気孔中に金属シ
リコンを充填して炭化珪素質複合材料を製造する方法に
おいて、少なくとも前記多孔質炭化珪素焼結体部材の開
放気孔中に金属シリコンを溶融させて含浸し充填する前
に、前記多孔質炭化珪素焼結体部材表面に予め炭素質物
質をコーティングすることにより、金属シリコンの滲み
出しのない炭化珪素質複合材料を製造することかできる
(Means for solving the problem) According to the present invention, silicon carbide powder is molded into a green body, and after sintering the green body in a non-oxidizing atmosphere, the resulting porous A method for manufacturing a silicon carbide-based composite material by filling open pores of a silicon carbide sintered body member with metallic silicon, which comprises melting and impregnating at least the open pores of the porous silicon carbide sintered body member. By coating the surface of the porous silicon carbide sintered body member with a carbonaceous material in advance before filling, it is possible to produce a silicon carbide-based composite material that does not seep out of metallic silicon.

次に本発明の詳細な説明する。Next, the present invention will be explained in detail.

本発明によれば、前記多孔質炭化珪素焼結体部材の開放
気孔中に金属シリコンを溶融させて含浸し充填する前に
、前記多孔I!1炭化珪素焼結体部材にR1質物質をコ
ーティングすることが必要である。
According to the present invention, before melting and impregnating and filling the open pores of the porous silicon carbide sintered body member with metal silicon, the porous I! It is necessary to coat the silicon carbide sintered body member with an R1 substance.

その理由は、前記多孔質炭化珪素焼結体部材に金属シリ
コンか含浸された時点で、焼結体の開放気孔中に金属シ
リコンは溶融状態て存在しているが、冷却時において焼
結体表面においてコーティングした炭素質物質で緻密な
炭素膜を形成することにより、!2固に伴って多孔質炭
化珪素焼結体部材からの滲み出しを防止することができ
るからである。
The reason for this is that when the porous silicon carbide sintered body member is impregnated with metal silicon, the metal silicon exists in a molten state in the open pores of the sintered body, but when it is cooled, the sintered body surface By forming a dense carbon film with the carbonaceous material coated in the! This is because it is possible to prevent seepage from the porous silicon carbide sintered body member due to hardening.

なお、前記金属シリコンを凝固せしめた後の多孔質炭化
珪素焼結体部材の表面炭化膜は、酸化性雰囲気下におい
て加熱することにより、格別の手段を用いることなく容
易に除去せしめることができる。
Incidentally, the surface carbonized film of the porous silicon carbide sintered body member after solidifying the metallic silicon can be easily removed without using special means by heating in an oxidizing atmosphere.

本発明によれば、平均粒径か5pm以下の炭化珪素粉末
を使用して生成形体とする従来知られた多孔質炭化珪素
焼結体部材に比較して、低密度でかつ取扱い性に優れた
高強度の多孔質体を製造することか重要であり、加圧成
形法により成形する場合には、出発原料として炭化珪素
粉末を分散媒液中で解膠剤とともに均一分散させた後、
凍結乾燥せしめた炭化珪素粉末を使用することが有利で
あり、また鋳込成形法により生成形体を成形する場合に
は、出発原料として炭化珪素粉末を分散媒液中で解膠剤
とともに均一分散させた懸濁液を使用することが有利で
あり、粉末の個々の粒子か極めて均一に分散した状態で
存在する生成形体を製造することができるため、結晶の
三次元網目構造を極めて微細゛でしかも均一に発達させ
ることができ、低密度でなおかつ高強度の多孔質体を製
造することができるからである。また、炭化珪素粉末を
分散媒液中に均一分散させる具体的手段として、振動ミ
ル、アトライター、ボールミル、コロイドミル及び高速
ミキサーの如き強い剪断力を尖えることのできる分散手
段を用いることか有利である。
According to the present invention, compared to the conventionally known porous silicon carbide sintered body member that uses silicon carbide powder with an average particle size of 5 pm or less to form a formed body, it has a lower density and is easier to handle. It is important to produce a porous body with high strength, and when molding is performed by pressure molding, silicon carbide powder as a starting material is uniformly dispersed in a dispersion medium together with a deflocculant, and then
It is advantageous to use freeze-dried silicon carbide powder, and when molding the resulting body by casting, the silicon carbide powder as a starting material is uniformly dispersed in a dispersion medium together with a deflocculant. It is advantageous to use solid suspensions, as it is possible to produce a product form in which the individual particles of the powder are present in a very homogeneous distribution, so that the three-dimensional network structure of the crystals can be very fine and This is because it can be developed uniformly, and a porous body with low density and high strength can be manufactured. Furthermore, as a specific means for uniformly dispersing the silicon carbide powder in the dispersion medium, it is advantageous to use a dispersion means that can sharpen strong shearing force, such as a vibration mill, attritor, ball mill, colloid mill, and high-speed mixer. It is.

本発明によれば、前記炭化珪素粉末を分散媒液中に均−
分散媒液の融点より低い温度に継続された雰囲気中へ懸
濁液を噴霧して速やかに凍結させることか有利である。
According to the present invention, the silicon carbide powder is uniformly dispersed in the dispersion medium.
It is advantageous to quickly freeze the suspension by spraying it into an atmosphere maintained at a temperature below the melting point of the dispersion medium.

本発明によれば、前記焼結温度を1400〜2100℃
とすることが必要である。その理由は、前記温度が14
00℃よりも低いと1粒と粒とを結合するネックを十分
に発達させることか困難で、高い強度を有する多孔質体
を得ることができず、一方2100℃より高いと、−旦
成長したネックのうち一定の大きさよりも小さなネック
がくびれだ形状となったり、著しい場合には消失したり
して、むしろ強度が低くなるからである。
According to the present invention, the sintering temperature is set at 1400 to 2100°C.
It is necessary to do so. The reason is that the temperature is 14
If the temperature is lower than 2100°C, it is difficult to sufficiently develop the neck that connects each grain, making it impossible to obtain a porous body with high strength. This is because necks smaller than a certain size may become constricted or, in severe cases, disappear, resulting in a decrease in strength.

本発明によれば、前記生成形体は炭化珪素を酸化せしめ
ることのない非酸化性雰囲気中、例えばアルゴン、ヘリ
ウム、ネオン、窒素、水素、−酸化炭素の中から選ばれ
る何れか少なくとも1種よりなるガス雰囲気中或いは真
空中で焼成される。
According to the present invention, the formed body is made of at least one selected from argon, helium, neon, nitrogen, hydrogen, and carbon oxide in a non-oxidizing atmosphere that does not oxidize silicon carbide. It is fired in a gas atmosphere or in a vacuum.

本発明によれば、前記生成形体は非酸化性雰囲気中で実
質的に収縮させることなく焼成することが有利である。
According to the invention, it is advantageous for the green body to be fired in a non-oxidizing atmosphere without substantial shrinkage.

その理由は、焼結時における収縮は多孔質体の強度を向
上させる上では望ましいか、焼成収縮すると開放気孔率
が減少したり、気孔か独立気孔化し易く、金属シリコン
の充填が困難になるばかりでなく、寸法精度の高い多孔
質体を焼成収縮を生起させて製造することは困難である
からである。
The reason for this is that shrinkage during sintering is desirable for improving the strength of the porous body, and shrinkage during sintering reduces open porosity and tends to cause pores to become independent, making it difficult to fill with metallic silicon. This is because it is difficult to produce a porous body with high dimensional accuracy by causing firing shrinkage.

なお、本発明によれば、金属シリコンの充填が容易でか
つ寸法精度の高い多孔質体を得る上で実質的に収縮させ
ることなく焼結する際の焼成収縮率は、2%以下とする
ことが好ましく、なかでも1%以下であることかより好
適である。
According to the present invention, in order to obtain a porous body that is easy to fill with metallic silicon and has high dimensional accuracy, the firing shrinkage rate when sintering without substantially shrinking is 2% or less. is preferable, and more preferably 1% or less.

また、本発明によれば、前記生成形体を焼成するに際し
、生成形体からの炭化珪素の揮散を抑制することが有利
である。その理由は、前記生成形体からの炭化珪素の揮
散を抑制することによって、炭化珪素の粒と粒とを結合
するネックを充分に発達させることができるからであり
、特に高強度で取扱い性に優れた多孔質体を製造する場
合には、炭化珪素の揮散率を5重量%以下に制御するこ
とが有利である。
Further, according to the present invention, when firing the green body, it is advantageous to suppress volatilization of silicon carbide from the green body. The reason for this is that by suppressing the volatilization of silicon carbide from the formed body, necks that connect silicon carbide grains can be sufficiently developed, resulting in particularly high strength and excellent handling properties. When manufacturing a porous body, it is advantageous to control the volatilization rate of silicon carbide to 5% by weight or less.

前記生成形体からの炭化珪素の揮散を抑制する方法とし
ては、外気の侵入を遮断することのできる耐熱性の容器
内に生成形体を挿入する方法か有効であり、前記耐熱性
の容器としては、黒鉛或いは炭化珪素などの材質からな
る耐熱性の容器を使用することが好適である。
An effective method for suppressing the volatilization of silicon carbide from the formed body is to insert the formed body into a heat-resistant container that can block the intrusion of outside air, and the heat-resistant container includes: It is preferable to use a heat-resistant container made of a material such as graphite or silicon carbide.

本発明によれば、低密度でなおかつ高強度−の多孔質体
に、効率よく、過剰金属シリコンを析出させることなく
含浸するために、炭素質物質を含浸またはコーティング
する必要がある。従来、炭素質物質な含浸またはコーテ
ィングする目的としては、炭化珪素質部材としての多孔
質焼結体の表面に溶融シリコンの付着を容易にするため
に使用処理されていた。しかしながら、本発明によれば
、前記目的としてはもちろん本発明の過剰金属シリコン
の析出な防Wするために炭素質物質を使用するものであ
る。特に半導体製造用治具として、ウェハーポート等に
使用される場合、前記ウェハーボートと接しうる治具表
面においては、表面状態しては面粗度を望ましくはRm
 a x≦154mとする必要がある。それには、金属
シリコン含浸においても析出を防市することが、研磨処
理に際しての純度を損することなく製造することが必要
となるのである。
According to the present invention, it is necessary to impregnate or coat a carbonaceous material in order to efficiently impregnate a low-density, high-strength porous body without precipitating excess metallic silicon. Conventionally, the purpose of impregnating or coating with a carbonaceous material was to facilitate the adhesion of molten silicon to the surface of a porous sintered body as a silicon carbide member. However, according to the present invention, the carbonaceous material is used not only for the above purpose but also for preventing the precipitation of excessive metallic silicon according to the present invention. In particular, when used as a jig for semiconductor manufacturing such as a wafer port, the surface of the jig that can come into contact with the wafer boat should preferably have a surface roughness of Rm.
It is necessary to satisfy a x≦154m. For this purpose, it is necessary to prevent precipitation even in metal silicon impregnation, and to manufacture the product without impairing purity during polishing.

具体的には、炭素質物質を炭化珪素焼結体部材表面に炭
素質物質を0.4〜1.0mmの炭化膜を形成できるよ
うに含浸またはコーティングする必要かある。
Specifically, it is necessary to impregnate or coat the surface of the silicon carbide sintered body member with a carbonaceous material so as to form a carbonized film of 0.4 to 1.0 mm.

本発明によれば、0.4〜1.0mm必要であり、これ
以、ヒ厚みを増すことは炭素質物質の含浸及びコーティ
ングの手間を増すばかりでなく、炭化膜及び珪素含浸時
に炭素質物質或いは炭化膜の脱落が生じ、均一炭化膜の
形成を阻害するものである。
According to the present invention, 0.4 to 1.0 mm is required, and increasing the thickness beyond this not only increases the effort of impregnating and coating the carbonaceous material, but also increases the amount of carbonaceous material used when impregnating the carbonized film and silicon. Alternatively, the carbonized film may fall off, inhibiting the formation of a uniform carbonized film.

炭素質物質としては、例えばフェノール樹脂。Examples of carbonaceous substances include phenolic resin.

リグニンスルホン酸塩、ポリビニールアルコール、コー
ンスターチ、糖蜜、コールタールピッチ、アルギン酸塩
等のような各種有機物質、或いはカー、ボンブラック、
アセチレンブラック等のような熱分解炭素が有利に使用
できる。また、上記有機物質及び熱分解炭素をそれぞれ
を併用しても差し支えない。
Various organic substances such as lignin sulfonate, polyvinyl alcohol, corn starch, molasses, coal tar pitch, alginates, etc., or car, bomb black, etc.
Pyrolytic carbons such as acetylene black and the like can be advantageously used. Furthermore, the above organic substances and pyrolytic carbon may be used in combination.

前記炭素質物質の含浸またはコーティングされた炭化珪
素焼結体部材を60〜80℃で乾燥する。これは炭素質
物質の含浸またはコーティングの際、それぞれの物質に
応じ、適宜規定の炭化膜を形成するために炭化率、粘性
調整用として使用された溶媒を乾燥、除去するものであ
る。また、炭化珪素焼結体部材の全表面をコーティング
しても何ら支障はない。しかしながら、−金属シリコン
含浸をデイツプ法で行なうにあたっては、溶融シリコン
の含浸口としてコーティングしない部分を設ける必要か
ある。
The silicon carbide sintered body member impregnated with or coated with the carbonaceous material is dried at 60 to 80°C. This is to dry and remove the solvent used to adjust the carbonization rate and viscosity in order to form a properly specified carbonized film depending on each material during impregnation or coating with a carbonaceous material. Further, there is no problem even if the entire surface of the silicon carbide sintered member is coated. However, when impregnating with metallic silicon by the dip method, it is necessary to provide an uncoated portion as an impregnation opening for molten silicon.

本発明によれば、前記乾燥された炭化珪素焼結体部材を
非酸化性雰囲気下において焼成炭化する。焼成温度は、
200〜300°C付近で保持した後、950℃以上に
することが好ましい。このことは、炭素質物質を充分炭
化させるには、炭素質物質の熱分解温度付近で十分保持
することにより、炭化膜が均一に形成されるからである
。また、300°Cまての昇温速度は、比較的ゆっくり
と昇温することが好ましい。このことは、昇温速度を上
げると、炭素質物質の炭化時に発泡を生じ均一な炭化膜
を得ることができないからであり、軟化性物質において
は前記発泡が顕著になる。炭素質物質の炭化により形成
された炭化膜は、炭化珪素部材の多孔体表面において含
浸される金属珪素の溶融珪素の表面からの析出を防止す
るものであるから、充分に表面多孔を埋めなければその
効果を発揮しえない。
According to the present invention, the dried silicon carbide sintered member is fired and carbonized in a non-oxidizing atmosphere. The firing temperature is
It is preferable to maintain the temperature at around 200 to 300°C and then raise the temperature to 950°C or higher. This is because, in order to sufficiently carbonize the carbonaceous material, a carbonized film can be formed uniformly by maintaining the temperature sufficiently near the thermal decomposition temperature of the carbonaceous material. Further, it is preferable that the temperature increase rate up to 300°C be relatively slow. This is because if the temperature increase rate is increased, foaming occurs during carbonization of the carbonaceous material, making it impossible to obtain a uniform carbonized film, and the foaming becomes noticeable in softening materials. The carbonized film formed by carbonization of the carbonaceous material prevents the metal silicon impregnated on the porous surface of the silicon carbide member from precipitating from the surface of the molten silicon, so it is necessary to sufficiently fill the surface pores. The effect cannot be demonstrated.

本発明によれば、前記金属シリコンを前記治具を構成す
る炭化珪素100重量部に対し、45〜135重量部充
填することが必要である。前記金属シリコンを充填する
理由は、金属シリコンは炭化珪素とのなじみが良く、金
属シリコンを多孔質体の開放気孔内に充填することによ
って強度を向上せしめることができるばかりてなく、金
属シリコンは熱伝導性に優れているため、多孔質体の開
放気孔中に金属シリコンを充填することにより、高い熱
伝導性及び気体不透過性を付与せしめた半導体製造用治
具となすことかできるからである。また、前記金属シリ
コンの充填量を45〜135重量部とすることか有利で
ある理由は、前記金属シリコンの充填量か45重量部よ
り少ないと、高い熱伝導性を有する半導体製造用治具と
なすことが困難であるからであり、一方充填量の上限は
多孔質体の開放気孔率によって決定される。
According to the present invention, it is necessary to fill 45 to 135 parts by weight of the metal silicon with respect to 100 parts by weight of silicon carbide constituting the jig. The reason for filling the metal silicon is that metal silicon has good compatibility with silicon carbide, and by filling the open pores of the porous body with metal silicon, the strength can be improved. Because it has excellent conductivity, by filling the open pores of a porous body with metal silicon, it can be used as a semiconductor manufacturing jig that provides high thermal conductivity and gas impermeability. . Further, the reason why it is advantageous to set the filling amount of the metal silicon to 45 to 135 parts by weight is that if the filling amount of the metal silicon is less than 45 parts by weight, the semiconductor manufacturing jig has high thermal conductivity. However, the upper limit of the filling amount is determined by the open porosity of the porous body.

前記金属シリコンの充填量は、55重量部以丘であるこ
とがより好適である。
More preferably, the filling amount of the metal silicon is 55 parts by weight or more.

前記金属シリコンを多孔質体の開放気孔中へ充填する方
法としては、金属シリコンを加熱溶融させて含浸する方
法か適用できる。
As a method for filling the open pores of the porous body with the metal silicon, a method of heating and melting the metal silicon to impregnate the porous body can be used.

本発明によれば、前記金属シリコン含浸体の残留炭化物
質を除去することが必要である。前記シリコン含浸にお
いて、過剰析出シリコンの防止としての炭化物は、含浸
体表面゛において残留することとなる。含浸時において
、炭化物と多孔体の界面において一部炭化珪素化される
が、そのほとんどの炭化物は残留物として存在する。
According to the invention, it is necessary to remove residual carbonized substances from the metal-silicon impregnated body. In the silicon impregnation, carbide to prevent excessive silicon precipitation remains on the impregnated body surface. During impregnation, a portion of the interface between the carbide and the porous body is converted into silicon carbide, but most of the carbide remains as a residue.

本発明によれば炭化物の除去方法としては、酸化雰囲気
下において酸化除去する方法か適用される酸化温度は、
800〜950 ’Cとすることか有利である。この理
由は、800℃以下において処理すると、炭化膜の酸化
速度か減少するため、酸化時間を要することとなり、9
50℃以上においては、部材である炭化珪素が酸化され
ることとなり好ましくない。
According to the present invention, as a method for removing carbides, a method of oxidation removal in an oxidizing atmosphere or an applied oxidation temperature is as follows:
Advantageously, the temperature is between 800 and 950'C. The reason for this is that if the treatment is performed at temperatures below 800°C, the oxidation rate of the carbide film will decrease, resulting in a longer oxidation time.
If the temperature is 50° C. or higher, silicon carbide, which is a member, will be oxidized, which is not preferable.

前記多孔質炭化珪素焼結体部材に炭素質物質を含浸また
はコーティングし、乾燥処理された部材を炭化及び金属
シリコン含浸する場合においては、同一容器内にて熱処
理しても何らかまわない。
When the porous silicon carbide sintered body member is impregnated or coated with a carbonaceous material and the dried member is carbonized and impregnated with metallic silicon, the heat treatment may be performed in the same container.

以下に、本発明を実施例及び比較例によって説明する。The present invention will be explained below with reference to Examples and Comparative Examples.

(実施例) 支臭豊」 出発原料として使用した炭化珪素粉末は、97.5重量
%がβ型結晶で残部は実質的に2H型結品よりなる炭化
珪素粉末であって、0.12重量%の遊離炭素、0.3
7重駿%の酸素。
(Example) The silicon carbide powder used as the starting material was a silicon carbide powder consisting of 97.5% by weight β-type crystals and the remainder substantially 2H-type crystals, and had a mass of 0.12% by weight. % free carbon, 0.3
7% oxygen.

1.2XlO−’重量%の鉄、1.4xlO−’重量%
のカルシウム、s x l 0−13重量%のナトリウ
ム、lXl0−’重量%のカリウム、及び痕跡量のアル
ミニウムを含有し、1.1gmの平均粒径を有していた
1.2XlO-'wt% iron, 1.4xlO-'wt%
of calcium, s x l 0-13% sodium, 1X10-' weight % potassium, and trace amounts of aluminum, and had an average particle size of 1.1 gm.

前記炭化珪素粉末100重量部に対し、ポリビニルアル
コール5重量部、モノエタノールアミン0.3重量部と
水100重量部を配合し、ボールミル中で5時間混合し
た後、凍結乾燥した。
5 parts by weight of polyvinyl alcohol, 0.3 parts by weight of monoethanolamine, and 100 parts by weight of water were blended with 100 parts by weight of the silicon carbide powder, mixed in a ball mill for 5 hours, and then freeze-dried.

この乾燥混合物を適量採取し、顆粒化した後、静水圧プ
レス機を用いて1300 k g / c rn’の圧
力で生成形体を形成した。この生成形体の形状は、18
0Φ×160Φ、長さが1700Lの円筒状て、密度は
1.73g/crn’ (54容積%)であった。
An appropriate amount of this dry mixture was taken, granulated, and then formed into a green body using an isostatic press at a pressure of 1300 kg/c rn'. The shape of this generated form is 18
It had a cylindrical shape of 0Φ×160Φ and a length of 1700L, and the density was 1.73g/crn' (54% by volume).

前記生成形体を黒鉛製ルツボに挿入し、タンマン型焼結
炉を用いて1気圧の主としてアルゴンガス雰囲気中で焼
結した。昇温過程は600℃/時曲で700℃まで昇温
し、次いで300℃/時間で1950℃まで昇温し、最
高温度1950℃て10Hr保持した、焼結中のCOガ
ス分圧は、室温〜1700℃が80Pa以下、1700
℃よりも高温域では300±50Paの範囲内となるよ
うにアルゴンガス流量を適宜調整して制御した。
The formed body was inserted into a graphite crucible and sintered in a Tamman type sintering furnace in an atmosphere of mainly argon gas at 1 atm. The temperature was raised to 700°C at a rate of 600°C/hour, then to 1950°C at a rate of 300°C/hour, and the maximum temperature was maintained at 1950°C for 10 hours. The CO gas partial pressure during sintering was at room temperature. ~1700℃ is 80Pa or less, 1700℃
The argon gas flow rate was appropriately adjusted and controlled so that the temperature was within the range of 300±50 Pa in the higher temperature range than ℃.

得られた焼結体は、密度が1.70g/crn’、開放
気孔率か47容積%の多孔質体で、β型炭化珪素の含有
率が92重脣%で、残部は主として4H型と6H型のα
型炭化珪素であった。また、この結晶構造は、走査型電
子time鏡によつて[察したところ、ブロック状の炭
化珪素結晶か比較的太いネックによって複雑に絡みあっ
て結合された三次元構造を有しており、生成形体に対す
る線収縮率はいずれの方向に対しても0.3±0.1%
の範囲内で、この焼結体の平均曲げ強度は13.8kg
/′mrrT′と高い強度を有しており、3xlO−’
重量%のアルミニウム、6X10−’重量%の鉄、及び
4xlO−’重量%のニッケルを含有していた。なお、
クロム、カルシウム、銅の含有量はいずれも痕跡量であ
り、ナトリウムとカリウムはいずれも1xlO−’重量
%未満であった。
The obtained sintered body is a porous body with a density of 1.70 g/crn', an open porosity of 47% by volume, and a content of β-type silicon carbide of 92% by weight, with the remainder being mainly 4H-type. 6H type α
It was silicon carbide. In addition, this crystal structure was observed using a scanning electronic time mirror and was found to have a three-dimensional structure in which block-shaped silicon carbide crystals or relatively thick necks are connected in a complex manner. The linear shrinkage rate for the shape is 0.3±0.1% in either direction.
Within the range, the average bending strength of this sintered body is 13.8 kg
/'mrrT' and has a high strength of 3xlO-'
It contained by weight % aluminum, 6 x 10-' weight % iron, and 4 x lO-' weight % nickel. In addition,
The contents of chromium, calcium, and copper were all in trace amounts, and both sodium and potassium were less than 1xlO-'% by weight.

そして1以上のような多孔質炭化珪素焼結体からなる炭
化珪素部材を用意する。
Then, a silicon carbide member made of one or more porous silicon carbide sintered bodies is prepared.

次いで、前記多孔質炭化珪素焼結体部材の表面に、硬化
型フェノールレジン(固形分45%)をはけにて内面に
コーテイング後、乾燥機にて60℃、10時間乾燥した
乾燥後におけるコーティング厚みは1mmであった。
Next, the inner surface of the porous silicon carbide sintered body member was coated with a hardening phenol resin (solid content 45%) using a brush, and then dried in a dryer at 60° C. for 10 hours to obtain a coating after drying. The thickness was 1 mm.

次いで、フェノールをコーティングした炭化珪素部材を
アルゴンガス気流中で60℃/時間の昇温速度で300
 ’Cまで加熱して1時間保持した後、120°C/時
間の昇温速度で500℃まで加熱し、その後1000℃
/時間の昇温速度で加熱し、最高950℃まで加熱して
前記多孔質炭化珪素焼結体部材の表面にコーティングさ
れたフェノールを炭化処庁した。炭化処理後の内面炭化
膜厚みは、約0.5mmであった。
Next, the silicon carbide member coated with phenol was heated at a heating rate of 60°C/hour for 300°C in an argon gas flow.
'C and held for 1 hour, then heated to 500°C at a heating rate of 120°C/hour, then to 1000°C.
The phenol coated on the surface of the porous silicon carbide sintered member was carbonized by heating to a maximum of 950° C./hour. The thickness of the inner carbonized film after the carbonization treatment was approximately 0.5 mm.

次いで、前記各炭化珪素部材に、純度が99.9999
重量%以上の金属シリコンを加熱炉内に設置し、アルゴ
ンガス気流中で600℃/時間の昇温速度で加熱し、最
高温度1600°Cで約12時間保持して前記多孔質炭
化珪素焼結体部材中へ金属シリコンを浸透させ、炭化珪
素複合体を得た。
Next, each silicon carbide member has a purity of 99.9999.
% or more by weight of metallic silicon is placed in a heating furnace, heated in an argon gas stream at a heating rate of 600°C/hour, and held at a maximum temperature of 1600°C for about 12 hours to sinter the porous silicon carbide. Metallic silicon was infiltrated into the body member to obtain a silicon carbide composite.

得られた前記複合体を酸化雰囲気にて950℃で10時
間加熱し、°酸化処理を施した。
The obtained composite was heated at 950° C. for 10 hours in an oxidizing atmosphere to undergo oxidation treatment.

得られた炭化珪素複合体は、内表面層への金属シリコン
の滲み出しによる金属シリコンが全く認められず、極め
て良好な表面性状を有しており。
The obtained silicon carbide composite has extremely good surface properties, with no metal silicon being observed at all due to seepage of metal silicon into the inner surface layer.

気孔率は2%で気体不透過性、寸法は金属シリコンを充
填する前に比較して0.3mm大きくなっただけであり
、平均曲げ強度は32. 1kg/mrn’と強く、熱
伝導率は0.23ca l/cm・sea℃と極めて良
好であり、半導体製造用治具としての用途に極めて優れ
ていることが認められた。
The porosity is 2% and gas impermeable, the dimensions are only 0.3 mm larger than before filling with metal silicon, and the average bending strength is 32. It had a strong thermal conductivity of 1 kg/mrn' and an extremely good thermal conductivity of 0.23 cal/cm·sea°C, and was recognized to be extremely suitable for use as a semiconductor manufacturing jig.

実施例2 実施例1と同様であるが、表1に示す如くフェノールレ
ジンによる炭化膜の厚みを変えることによって、多孔質
体の開放気孔中へ金属シリコンを浸透させた。
Example 2 Same as Example 1, but by changing the thickness of the carbonized film made of phenol resin as shown in Table 1, metal silicon was allowed to penetrate into the open pores of the porous body.

実施例3 実施例1と同様であるが、フェノールレジンによる炭化
膜を両面にコーティングすることによって、多孔質体の
開放気孔中への金属シリコンを浸透させた。得られた炭
化珪素質複合材料は、金属シリコンの滲み出しか両面と
も全く認められず、極めて良好な表面性状を有していた
Example 3 Same as Example 1, but metal silicon was allowed to penetrate into the open pores of the porous body by coating both sides with a carbonized film of phenol resin. The obtained silicon carbide composite material had extremely good surface properties, with no oozing of metallic silicon observed on either side.

皮九声 実施例1と同様であるが、前記生成形体をタンマン炉を
用いて焼結して得られた焼結体部材の表面にフェノール
レジンをコーティングすることなく金属シリコンを浸透
させ、炭化珪素複合体を得た。得られた炭化珪素複合体
は、内表面において金属シリコンの滲み出しによる金属
シリコン層が形成されていた。
The process is the same as in Example 1, but the surface of the sintered body member obtained by sintering the formed body using a Tammann furnace is infiltrated with metallic silicon without coating with phenol resin, and silicon carbide is formed. Obtained a complex. In the obtained silicon carbide composite, a metal silicon layer was formed on the inner surface due to seepage of metal silicon.

得られた炭化珪素質複合材料は、比較例で得られたもの
を除いて、いずれも金属シリコンの滲み出しが全く認め
られず、極めて良好な表面形状を有していた。
All of the silicon carbide composite materials obtained had extremely good surface shapes, with no oozing of metal silicon observed at all, except for those obtained in comparative examples.

(以下、余白) 表1 (発明の効果) 以上、詳述した通り、本発明に係る半導体製造用治具の
製造方法にあっては、電子工学用の耐熱性治具、例えば
半導体の拡散、酸処理などに使用されるプロセス管やウ
ェハーボード等の用途に適した、シリコン滲み出しのな
い炭化珪素質の半導体製造用治具を格別の処理を必要と
することなく、容易に製造することができるものてあっ
て産業E極めて有用である。
(The following is a blank space) Table 1 (Effects of the invention) As detailed above, in the method for manufacturing a semiconductor manufacturing jig according to the present invention, a heat-resistant jig for electronics, for example, semiconductor diffusion, It is possible to easily manufacture silicon carbide semiconductor manufacturing jigs that do not bleed silicon and are suitable for uses such as process tubes and wafer boards used in acid treatments, etc., without requiring any special treatment. There are things that can be done that are extremely useful for industry.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は円筒状の炭化珪素質多孔質体を立設した状態で
内面に炭素膜を形成した状態を示す縦断面図、第2図は
棒状の炭化珪素質多孔質体を立設した状態で表面に炭素
膜を形成した状態を示す縦断面図、第3図は多数の切込
みを有する炭化珪素質多孔質体なt設だ状態で切込み部
に炭素膜を形成した状態を示す縦断面図である。 符号の説明 10−・・黒鉛ルツボ、11−・・炭素膜、12−・・
金属シリコン、20・・・多孔質体。
Fig. 1 is a vertical cross-sectional view showing a state in which a cylindrical porous silicon carbide body is erected and a carbon film is formed on the inner surface, and Fig. 2 is a state in which a rod-shaped porous silicon carbide body is erected. Fig. 3 is a vertical cross-sectional view showing a state in which a carbon film is formed on the surface of a silicon carbide porous material having a large number of cuts, and a longitudinal cross-sectional view showing a state in which a carbon film is formed in the cut portions of a porous silicon carbide material having a large number of cuts. It is. Explanation of symbols 10--Graphite crucible, 11--Carbon film, 12-...
Metallic silicon, 20... Porous body.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1).平均粒径が5μm以下の炭化珪素粉末を成形して
所望の形状の生成形体となし、この生成形体を非酸化性
雰囲気下で焼結した後、得られた三次元網目状の骨格を
有する多孔質炭化珪素部材の少なくとも一部の面に炭素
質物質のコーティングを施した後、前記炭素質物質を非
酸化性雰囲気下で炭化させ、次いで金属シリコンを充填
せしめることを特徴とする半導体製造用治具の製造方法
。 2).前記金属シリコン含浸体の残留炭素物質を除去す
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体
製造用治具の製造方法。
[Claims] 1). Silicon carbide powder with an average particle size of 5 μm or less is molded into a formed body of a desired shape, and this formed body is sintered in a non-oxidizing atmosphere, and then the resulting porous material has a three-dimensional network skeleton. A semiconductor manufacturing treatment characterized by coating at least a part of a surface of a quality silicon carbide member with a carbonaceous substance, carbonizing the carbonaceous substance in a non-oxidizing atmosphere, and then filling it with metal silicon. Method of manufacturing ingredients. 2). 2. The method of manufacturing a semiconductor manufacturing jig according to claim 1, further comprising removing residual carbon substances from said metal silicon-impregnated body.
JP62272820A 1987-10-28 1987-10-28 Production of jig for producing semiconductor Pending JPH01115888A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62272820A JPH01115888A (en) 1987-10-28 1987-10-28 Production of jig for producing semiconductor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62272820A JPH01115888A (en) 1987-10-28 1987-10-28 Production of jig for producing semiconductor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01115888A true JPH01115888A (en) 1989-05-09

Family

ID=17519212

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62272820A Pending JPH01115888A (en) 1987-10-28 1987-10-28 Production of jig for producing semiconductor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01115888A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03295881A (en) * 1990-04-12 1991-12-26 Toshiba Ceramics Co Ltd Silicon carbide member and its production
WO2000076940A1 (en) * 1999-06-14 2000-12-21 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Composite material and semiconductor device using the same
JP2011162390A (en) * 2010-02-09 2011-08-25 Nihon Ceratec Co Ltd Method for producing composite material
JP2013010669A (en) * 2011-06-29 2013-01-17 Nihon Ceratec Co Ltd Method for producing composite material

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03295881A (en) * 1990-04-12 1991-12-26 Toshiba Ceramics Co Ltd Silicon carbide member and its production
WO2000076940A1 (en) * 1999-06-14 2000-12-21 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Composite material and semiconductor device using the same
US6737168B1 (en) 1999-06-14 2004-05-18 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Composite material and semiconductor device using the same
JP2011162390A (en) * 2010-02-09 2011-08-25 Nihon Ceratec Co Ltd Method for producing composite material
JP2013010669A (en) * 2011-06-29 2013-01-17 Nihon Ceratec Co Ltd Method for producing composite material

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4179299A (en) Sintered alpha silicon carbide ceramic body having equiaxed microstructure
US5494868A (en) Inverse shape replication method of making ceramic composite articles
US4346049A (en) Sintered alpha silicon carbide ceramic body having equiaxed microstructure
US2799912A (en) Processes for forming high temperature ceramic articles
US20070032371A1 (en) Silicon carbide based, porous structural material being heat-resistant and super-lightweight
JPH09510950A (en) Microwave sintering method
JPH01172290A (en) Heat resistant complex body and production thereof
US4657876A (en) Composite by infiltration
EP0192040B1 (en) Fluoride infiltrated carbide or nitride composite
US4019913A (en) Process for fabricating silicon carbide articles
EP0261070B1 (en) Ceramic foams
JPH0513116B2 (en)
JP4213612B2 (en) Method for producing porous structure
JPH01115888A (en) Production of jig for producing semiconductor
JPS61214424A (en) Heat-resisting jig and its manufacture
JPH08175871A (en) Silicon carbide-based sintered body and its production
JPH0359033B2 (en)
JP3688138B2 (en) Silicon impregnated silicon carbide material for semiconductor heat treatment and wafer boat using the same
JPH10253259A (en) Material of roller for roller hearth furnace and manufacture thereof
US4661461A (en) Composite of Si3 N4 by infiltration
JPS61163180A (en) High size precision and anti-abrasivity silicon carbide composite body and manufacture
US4689189A (en) Composite of Si3 N4 by infiltration
JPH0571541B2 (en)
JP2563782B2 (en) Method for manufacturing silicon carbide based jig for semiconductor manufacturing
JPH08183661A (en) Production of silicon carbide sintered compact