JPH01112165A - 移動光散乱体の速度測定装置 - Google Patents

移動光散乱体の速度測定装置

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JPH01112165A
JPH01112165A JP63119073A JP11907388A JPH01112165A JP H01112165 A JPH01112165 A JP H01112165A JP 63119073 A JP63119073 A JP 63119073A JP 11907388 A JP11907388 A JP 11907388A JP H01112165 A JPH01112165 A JP H01112165A
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ゲルハルト・ライム
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    • G01P5/00Measuring speed of fluids, e.g. of air stream; Measuring speed of bodies relative to fluids, e.g. of ship, of aircraft
    • G01P5/26Measuring speed of fluids, e.g. of air stream; Measuring speed of bodies relative to fluids, e.g. of ship, of aircraft by measuring the direct influence of the streaming fluid on the properties of a detecting optical wave

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、測定点に周期的な強度分布を与えるレーザビ
ーム及び物体が散乱する光に対する検出装置により、移
動する光散乱体の速度全測定する装置に関する。
〔従来の技術〕
上記の装置はレーザ風速計として公知である。
この装置は特に流速の測定に用いられ、その場合流れる
流体は光を散乱する粒子を有する。周期的光の強度分布
は、公知技術により2つの干渉性し−ザ部分ビームが測
定点に虚の干渉しまを作ることによって発生される。測
定点を横断通過する粒子が散乱する光に対するパルスの
繰返数ば、ドツプラー効果によって速度に依存する。パ
ルス繰返数は公知技術により、物体が散乱する光に対す
る検出装置によって測定評価することができる。
安定な干渉じまを得るには、部分ビームの光が十分なコ
ヒーレンス長さを持たなければならない。
このため従来は大きな場所を取る高価なレーザ装置が実
際に使用されて来た。レーザダイオードを使用すること
も西ドイツ特許出願公開公報第3435423号により
既に公知の事である。その場合、レーザダイオードが送
り出す光に対して十分なコヒーレンス長さを得て、測定
点に安定な干渉じまを作るために、特別の対策が講じら
れる。
いずれにしても測定は外的影響に著しく左右されるから
、適当な制御機構によって外的影響を一定に保たなけれ
ばならない。
〔発明が解決しようとする課題〕
これに対して本発明の根底にあるのは、外的影響に比較
的左右されない測定が極めて小さな空間で可能であるよ
うに、冒頭に述べた種類の装置を改良する1zとである
〔課題を解決するための手段、作用、発明の効果〕冒頭
に述べた種類の装置において、本発明に基づき実の周期
的強度分布を発生するレーザダイオードアレイを設け、
このレーザダイオードアレイに複数個のレーザダイオー
ドを所定の相互間隔で配列し、それらからの発光を集光
光学装置によって測定点に集束するように構成すること
によって上記の課題が解決される。
従って本発明に基づく装置は、測定点に周期的強度分布
を発生するための別の、驚くべき簡単な原理に基づくも
のである。従来は干渉しまを作るために、単一のレーザ
光源の元金2つの部分ビームに分割したが、本発明装置
は唯1つのビームしか必要でない。但し、このビームは
レーザダイオードアレイの所定の相互間隔で配列された
多数のレーザダイオードに由来する。集束光学装置によ
って多数のレーザダイオードの光が測定点に結像される
。従って、測定点には強度の最大の実の周期的系が生じ
、強度の最大は Δx==M・3 の間隔を有する。ここにsiレーザダイオードアレイの
レーザダイオードの間隔、Mは像倍率を表す。
強度の最大は、レーデ風速計と異なり、測定点の実の光
バリヤ系を形成し、移動する物体がここを通過する。光
バリヤ金横断する時に散乱した光はパルス繰返数fPで
変調される。ここで、f p ” v /ΔX が成り立ち、Vは移動する粒子の速度を表す。
測定評価のために、前方散乱光も後方散乱光も利用する
ことができる。特に後方散乱の測定評価を行なうように
すると流速測定用送受信装置を極めて小型化できる。本
発明に基づく装置は、唯1つの送信ビームしか必要とせ
ず、測定部を極めて簡単な構造にすることができるのが
特徴である。
流速の測定のために、直径数ミリメートルのすこぶる小
さな検査用ンンズしが必要でないから、アクセスしにく
い区域で使用することが可能である。
光に対する干渉性はあ捷り要求されない。非干渉性の光
を使用することもできる。本発明方性全固体表面の速度
測定のために使用することもできる。
その場合は後方散乱光の測定評価が行われる。
極めて高い出力のレーザダイオードアレイ全実現するこ
とができるから、高速度測定を行うこともできる。流れ
測定を行うには極微粒子で既に十分である。
本発明装置は二次元多層アレイ(zweidimens
ionalemehrstretfige array
s −multi 5trips arrays)全使
用することによって、二次元速度測定も簡単に行うこと
ができる。
すこぶる有利な実施態様においては、測定点に非対称の
強度分布が生じるように、レーザダイオードアレイの少
くとも1個所のレーザダイオードが発生しないようにな
っている。
線状レーザダイオードアレイのレーデダイオードの配列
は、複数個の光バリヤとみなすことができる周期的強度
分布の全体を粒子が規則的に通過6一 するように行われる。その結果、光バリアに対応する周
期的強度分布を有する散乱光信号が発生する。ところが
光バリヤの1つが働かないときは、特徴的な散乱光が発
生する。本発明に基づき、非対称の強度分布が生じるよ
うな場所でレーザダイオ−ドアソイのレーザダイオード
が放射しなければ、粒子が逆向き流れた時に散乱光の強
度分布が異なったものになる。従って、本発明に基づく
構造のレーザダイオードアレイは、従来は得ることがは
なはだ難しかった、粒子運動の方向識別を簡単に行うこ
とができる。干渉によって生じる従来の虚の静止強度分
布の場合にこのような方向識別が不可能であることは直
ちに明らかである。レーザダイオードアレイを使用する
ことによって初めて測定点の、本発明に基づく非対称強
度分布が簡単に可能である。
レーザダイオードアレイが発光しない場所は、レーザダ
イオードアレイの中央区域に選定することが好ましい。
それによって測定信号の識別が容易になるからである。
レーザダイオードアレイの発光ダイオードの発生を抑制
することは可能である。しかし単数個又は複数個のレー
ザダイオードが発光しない、それ自体が欠陥品のレーザ
ダイオードアレイを使用することも、それによって異な
る流れ方向に対する非対称配列が保証される限り、可能
である。但し、非対称が必要であるから、レーザダイオ
ードアレイにおいて端のダイオード、又は奇数個のレー
ザダイオードの場合に中央のダイオードを抑制したので
は、本発明に基づく効果が得られない。
同様の事が二次元レーザダイオードアレイに当てはまる
好適な実施態様においては、レーザダイオードアレイが
電気制御により発光方向を変更できるレーザダイオード
から成る。制御装置でレーザダイオードを適当に制御す
ることによって、周期的強度分布が成る角度範囲内で旋
回される。それによって「放射ロープ」全走査し、こう
して測定点の空間的運動を生起することが可能である。
放出方向が電子制御により変化させられるレーデダイオ
ードは、例えばAppl、Phys、Lett (応用
物理学論集)33(8)、1978年10月15日、7
02−704頁により公知である。放出方向の変更は、
レーザダイオードに対する2つのポンピング電流の比1
1/12を変えることによって得られる。
〔実施例〕
次に図面に示す実施例に基づいて本発明を詳述する。
第1図は、第3図に基づいて詳述するレーザダイオード
アレイ1から送出された光が集束光学装置2により測定
点3に集束されることを示す。測定ビームは、流体の流
速Vの方向と一致する方向Xに、第2図に示す近視野強
度分布(Intensitaets−Nahfeldv
ertsilung ) 4を示す。レーザダイオード
アレイ1のレーザダイオードの数に相当する数の強度の
最大値が存在し、流速Vで移動する粒子がこの最大値の
部分を通過するようになっている。
前方散乱光を測定する几めに光の前進方向に配設された
レンズ5が使用される。レンズ5はアバランシェダイオ
ードとして構成されたホトダイオ−ドアの入力に散乱光
を集束する。流れている流体を透過した測定光束は、レ
ンズ5の後方のビームトラップ6によって阻止される。
後方散乱光を測定するために環状鋼8が設けられる。そ
の環の中心は送信光束の光学軸にあるから、送信光束は
環状鋼8を自由に貫通することができる。他方、後方散
乱光は斜設された環状鋼8によって遮断され、レンズ9
に到達する。レンズ9はホトダイオード?VC対応する
ホトダイオード10の入力に散乱光を集束する。
第2図に、10個のレーザダイオードを有する線状レー
ザダイオードアレイ1が発生した近視野強度分布(燈火
強度)を示す。その場合、4番目のレーザダイオードが
発光しない。このレーザダイオードが発光した場合の放
射強度を第2図に破線で記入した。この4番目のレーザ
ダイオードが発光しないことによって、非対称の近視野
強度分布が生じ、このため流体又は粒子が残りの9個の
最大強度部分を左から右へ飛行したか又は右から左へ飛
行したかを、散乱光に対して区別することが可能である
第3図は、第1図の配列で使用したレーザダイオードア
レイ1の構造を示す。レーザダイオードアレイに7個の
レーザダイオード11が一定の相互間隔日で直線状によ
って並べられている。レーザダイオード11は共通の基
板12の上に配設されているから、その放射は一般に位
相結合され、その際位相差が例えば0度又は180度で
ある。
7個のV−ザダイオード11の内のレーデダイオード1
1′は例えば欠陥があるため又はカバーされているため
、放射しない。その結果放射強度の近視野強度分布はレ
ーザダイオード11′の部位に空白を有する。近視野強
度分布を第3図に併せて示す。近視野強度分布には、そ
れぞれが相互の空間間隔8を有する6個の最大強度の部
分がある。その場合、発光しないレーザダイオード11
’によって生じる空白も併せて考慮する。この近視野分
布は集束光学装置2で測定点3に結像することにより、
第2図に相当する近視野強度分布4として結像される。
その場合Mが像倍率を表すとすれば、結像の最大強度の
間隔はΔxdM・3である。
第4図において、レーザダイオードアレイ13はレーザ
ダイオード1ノを二次元に配列したもので、図示の実施
例ではそれぞれ7個のレーデダイオード11の6つの層
(5trelfen ) 14がある。
各層14はレーザダイオードアレイ1の単一の層に相当
する。層14の相互の間隔はDである9すなわち、レー
ザダイオードアレイは、X方向に相互の間隔8.1方向
に相互の間隔Di有し、6×7個の最大強度を示す近視
野強度分布が得られる。
この近視野強度分布が像倍率Mで測定点3に結像される
から、X方向の速度成分の測定だけでなく、2方向の速
度成分の測定も可能である。こうして平面x−zで斜め
に移動する粒子の真の速度も測定することができる。ま
たレーザダイオードアレイ13には複数個の発光しない
レーザダイオード11′があり、レーザダイオードアレ
イ13でのその分布によって、レーザダイオードアレイ
13によって測定点3に形成される光バリヤ金各粒子が
横断する方向に応じて、種々異なる測定信号が散乱光に
より発生するから、粒子の流れ方向を識別することがで
きる。
第5図は、第1図の配列とおおむね同様の配列を示す。
従って同一部分には同じ参照番号を使用する。
この場合、レーザダイオードアレイ1のレーデダイオー
ド11は制御装置16により回路網15を介して電流制
御され、レーザダイオードアレイ1の各位相結合レーザ
ダイオード11は所定の放出方向に発光する。従って、
V−ザダイオードアVイ1によって測定点3に生じる強
度分布全+α。
−αの角度範囲で調整することができる。制御電流を変
化することによって、測定中に測定点3の強度分布を変
動させることも可能である。こうして本発明装置による
測定の可能性が補充され、例えば方向の識別が可能にな
り、また速度の場の測定即ち角度範囲+α、−αの異な
る測定点3の局部速度の検出を行なうための電子走査が
可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図はV−ザダイオードアレイと前方及び後方散乱光
を検出するための各々1個の検出装置を有する速度測定
装置の構成図、第2図は測定点の強度分布図(近視野強
度分布図)、第3図はレーザダイオードアレイと当該の
近視野分布の構成図、第4図は二次元レーザダイオード
アレイの略図、第5図は強度分布を旋回するための制御
装置を備えた第1図と同様の構成図を示す。 1・・・レーザダイオードアレイ、2・・・集束光学装
置、3・・・測定点、4・・・強度分布、5・・・レン
ズ、6・・・ビームトラッゾ、7・・・ホトダイオード
、8・・・環状鏡、9・・・レンズ、10・・・ホトダ
イオード、11゜11′・・・レーザダイオード、13
・・・レーザダイオードアレイ、1イ・・・層、15・
・・回路網、16・・・制御装置、S・・・V−ザダイ
オードのX方向の間隔、D・・・レーデダイオードの2
方向の間隔、M・・・像倍率。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)測定点(3)に周期的強度分布(4)を発生するレ
    ーザビーム及び物体の散乱光検出装置(5、7:8、9
    、10)を用いて光散乱体の速度を測定する装置におい
    て、複数個のレーザダイオード(11)を所定の相互間
    隔(s、D)をもって配列され周期的な光の強度分布を
    有するレーザダイオードアレイ(1、13)と、該レー
    ザダイオード(11)から送出された光を測定点(3)
    に集束させる集束光学装置(2)とを具備する移動光散
    乱体の速度測定装置。 2)前記レーザダイオードアレイ(13)が二次元多層
    アレイとして構成されていることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項に記載の移動光散乱体の速度測定装置。 3)前記測定点(3)に非対称の強度分布を生じさせる
    ため、前記レーザダイオードアレイ(1、13)の少く
    とも1つのレーザダイオード(11′)が発光しないよ
    うに構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項又は第2項に記載の移動光散乱体の速度測定装置。 4)前記レーザダイオードアレイ(1、13)の光の放
    出方向を所定角(+α、−α)の範囲で旋回する制御装
    置(16)を設けたことを特徴とする特許請求の範囲第
    1項乃至第3項のいずれかの1項に記載の移動光散乱体
    の速度測定装置。
JP63119073A 1987-05-15 1988-05-16 移動光散乱体の速度測定装置 Expired - Lifetime JPH0726974B2 (ja)

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JPH0726974B2 JPH0726974B2 (ja) 1995-03-29

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CA (1) CA1316705C (ja)
DE (2) DE3736805A1 (ja)
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LV (1) LV5691A3 (ja)
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