JPH01110244A - 成形製品や中間製品の均質度を測定する方法 - Google Patents
成形製品や中間製品の均質度を測定する方法Info
- Publication number
- JPH01110244A JPH01110244A JP62267876A JP26787687A JPH01110244A JP H01110244 A JPH01110244 A JP H01110244A JP 62267876 A JP62267876 A JP 62267876A JP 26787687 A JP26787687 A JP 26787687A JP H01110244 A JPH01110244 A JP H01110244A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bulk density
- test cell
- density
- reading
- thickness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000047 product Substances 0.000 title claims description 28
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract description 4
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 title 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000011161 development Methods 0.000 claims abstract description 5
- 239000013067 intermediate product Substances 0.000 claims description 12
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 claims description 8
- 238000002601 radiography Methods 0.000 claims description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 5
- 238000007639 printing Methods 0.000 abstract description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 abstract 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 9
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 6
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 4
- 239000008187 granular material Substances 0.000 description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000004663 powder metallurgy Methods 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 238000000235 small-angle X-ray scattering Methods 0.000 description 1
- 239000012265 solid product Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は焼結固体電子部品、セラミックス成形製品、高
分子成形製品、粉末冶金製品、−船釣粒体製品およびこ
れ等の中間製品の均質性、すなわち、嵩密度や嵩密度分
布を得ることにより、その製品の均質度を測定するため
の方法に関する。
分子成形製品、粉末冶金製品、−船釣粒体製品およびこ
れ等の中間製品の均質性、すなわち、嵩密度や嵩密度分
布を得ることにより、その製品の均質度を測定するため
の方法に関する。
従来、前記した成形製品あるいはその中間製品の均質度
を測定する方法としては、Ｘ線の回折像より焼結固体に
対する残留応力とか、印加応力を求める方法（「回折像
より焼結固体の残留応力、印加応力を求める従来の技術
」日本材料学会線：養賢堂１９６６年発行、Ｘ線応力測
定法２０９頁）がある。また、Ｘ線小角散乱法という方
法が同じく回折像を用いて嵩密度を測定する方法（「回
折像より嵩密度を測定する方法Ｊ Ａ、 Ｇｕｉｎｉｅ
ｒ：Ｎａｔｕｒｅ、１４２５６９（１９３８年））があ
る。
を測定する方法としては、Ｘ線の回折像より焼結固体に
対する残留応力とか、印加応力を求める方法（「回折像
より焼結固体の残留応力、印加応力を求める従来の技術
」日本材料学会線：養賢堂１９６６年発行、Ｘ線応力測
定法２０９頁）がある。また、Ｘ線小角散乱法という方
法が同じく回折像を用いて嵩密度を測定する方法（「回
折像より嵩密度を測定する方法Ｊ Ａ、 Ｇｕｉｎｉｅ
ｒ：Ｎａｔｕｒｅ、１４２５６９（１９３８年））があ
る。
ところで、前記した前者の測定方法にあっては、焼結固
体に対する方法であることから、粉体の成形体に対して
は高い精度が得られず、そのために実用化に至っていな
い。また、後者の測定方法にあっては、１回の測定では
嵩密度分布を得ることができないと共に、前者と同じく
粉体の成形体に対しては高い精度が得られず同様に実用
化されていない。
体に対する方法であることから、粉体の成形体に対して
は高い精度が得られず、そのために実用化に至っていな
い。また、後者の測定方法にあっては、１回の測定では
嵩密度分布を得ることができないと共に、前者と同じく
粉体の成形体に対しては高い精度が得られず同様に実用
化されていない。
従って、前記した２つの従来の方法を用いる限り、電子
産業、セラミックス産業等でのファインセラミックス製
品等の成形製品および中間製品の均質性についての管理
が行えないという問題があった。
産業、セラミックス産業等でのファインセラミックス製
品等の成形製品および中間製品の均質性についての管理
が行えないという問題があった。
本発明は前記した問題点を解決した成形製品および粉体
製品あるいは、それ等の中間製品についての嵩密度と嵩
密度分布を同時に測定して、製品の管理を容易ならしめ
んとするもので、その手段は、平均嵩密度および厚みが
判っているレファレンスセルを２つ用意して夫々の濃淡
画像を得ると共に画像処理して任意の点における濃淡度
の読みを得てＬａｍｂｅｒｔ−Ｂｅｅｒの法則を利用し
て成形製品によって決まる吸光係数と、対象の幾何学的
条件、Ｘ線等の放射線撮影、現像、焼付は条件等によっ
て決まる定数を得、次いで、未知のテストセルを用いて
前記と同様な手法で濃淡度の読みを得て、この読みと、
前記手法によって得た２つの未知数であった吸光係数お
よび定数、テストセルの厚みからＬａｍｂｅｒｔ−Ｂｅ
ｅｒの法則によって嵩密度を得ること、並にこのように
得られた嵩密度をテストセルの全面にわたってスキャニ
ングしながら求め集積することにより嵩密度分布を得る
成形製品や中間製品の均質度を測定する方法によってな
される。
製品あるいは、それ等の中間製品についての嵩密度と嵩
密度分布を同時に測定して、製品の管理を容易ならしめ
んとするもので、その手段は、平均嵩密度および厚みが
判っているレファレンスセルを２つ用意して夫々の濃淡
画像を得ると共に画像処理して任意の点における濃淡度
の読みを得てＬａｍｂｅｒｔ−Ｂｅｅｒの法則を利用し
て成形製品によって決まる吸光係数と、対象の幾何学的
条件、Ｘ線等の放射線撮影、現像、焼付は条件等によっ
て決まる定数を得、次いで、未知のテストセルを用いて
前記と同様な手法で濃淡度の読みを得て、この読みと、
前記手法によって得た２つの未知数であった吸光係数お
よび定数、テストセルの厚みからＬａｍｂｅｒｔ−Ｂｅ
ｅｒの法則によって嵩密度を得ること、並にこのように
得られた嵩密度をテストセルの全面にわたってスキャニ
ングしながら求め集積することにより嵩密度分布を得る
成形製品や中間製品の均質度を測定する方法によってな
される。
（発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面と共に説明する。
まず、嵩密度ρβ（ｇ／ｃｄ）は単位体積中の粉体重量
であるから、 ρ ＝ρ （１−ε） ・・・（１）β Ｐ で表わされる。
であるから、 ρ ＝ρ （１−ε） ・・・（１）β Ｐ で表わされる。
ここで、ρＰ：真密度（質量）、ε：空間率。
１−ε：充填率である。
そして、ある成形製品あるいは中間製品に放射線（例え
ばＸ線、以下Ｘ線とする）を透過させると、Ｘ線はその
進行方向上に存在する粉粒体によって吸収される。透過
率がＬａｍｂｅｒｔ−Ｂｅｅｒの法則に従うとすれば、
成形製品あるいは中間製品によるＸ線の透過率は、Ｘ線
の進行方向に存在する粉粒体の全容積に依存し、かつ、
その増加に対しである一定の関係をもって減少する。こ
の関係は、透過率の対数と、全容積（嵩密度×厚さ）と
の間に線形関係（−次間数的な関係）で表わされる。す
なわち、 ここで、Ｉｏ：入射Ｘ線強度、Ｉ：透過Ｘ線強度、Ｊ：
厚さ、Ｋ：成形製品あるいは中間製品によって決まる吸
光係数である。
ばＸ線、以下Ｘ線とする）を透過させると、Ｘ線はその
進行方向上に存在する粉粒体によって吸収される。透過
率がＬａｍｂｅｒｔ−Ｂｅｅｒの法則に従うとすれば、
成形製品あるいは中間製品によるＸ線の透過率は、Ｘ線
の進行方向に存在する粉粒体の全容積に依存し、かつ、
その増加に対しである一定の関係をもって減少する。こ
の関係は、透過率の対数と、全容積（嵩密度×厚さ）と
の間に線形関係（−次間数的な関係）で表わされる。す
なわち、 ここで、Ｉｏ：入射Ｘ線強度、Ｉ：透過Ｘ線強度、Ｊ：
厚さ、Ｋ：成形製品あるいは中間製品によって決まる吸
光係数である。
よって、この（２式を前記（１）式に代入すると、すな
わち、この（３）式から前記した透過率Ｉ ／ Ｉ ｏ
の対数と、全容積との間に線形関数があることがわかる
。
わち、この（３）式から前記した透過率Ｉ ／ Ｉ ｏ
の対数と、全容積との間に線形関数があることがわかる
。
而して、Ｘ線透過量は成形製品あるいは中間製品のＸ線
透過像（Ｘ線写真あるいは透過画像）に濃淡度として表
われる。従って、この濃淡度の読みに工夫を加え、前記
（１）！２］式を適用することによって、簡単に嵩密度
と嵩密度分布を測定することが可能としたのが本発明の
要旨である。
透過像（Ｘ線写真あるいは透過画像）に濃淡度として表
われる。従って、この濃淡度の読みに工夫を加え、前記
（１）！２］式を適用することによって、簡単に嵩密度
と嵩密度分布を測定することが可能としたのが本発明の
要旨である。
すなわち、濃淡度の読みからＸ線透過率および吸光係数
を定める方法は以下の通りである。
を定める方法は以下の通りである。
Ｘ線透過率（１／Ｉｏ）は濃淡度と比例関係にある。
そして、前記した（２）式より
■
が成立するようなｋおよびＫを求めることとなる。
なお、ｋ：対象の幾何学的条件、Ｘ線撮影、現像、焼付
は条件等によって決まる定数、Ｋ：対象の物質に一定で
ある吸光係数である。
は条件等によって決まる定数、Ｋ：対象の物質に一定で
ある吸光係数である。
そこで、前記におよびＫを求める方法について第１図と
共に説明する。
共に説明する。
１はシールドボックス、２は該シールドボックス１内に
設置されたＸ線照射器、３はＸ線フィルムである。そし
て、Ｘ線フィルム３の前には全体の平均嵩密度が判明し
ているレファレンスセル４にして、例えば、真密度が判
明している粉粒体を一定大きさの容器内に充填して圧縮
および焼結したものであるから、平均嵩密度ρ は算
出可能となっている。
設置されたＸ線照射器、３はＸ線フィルムである。そし
て、Ｘ線フィルム３の前には全体の平均嵩密度が判明し
ているレファレンスセル４にして、例えば、真密度が判
明している粉粒体を一定大きさの容器内に充填して圧縮
および焼結したものであるから、平均嵩密度ρ は算
出可能となっている。
β１
このように、レファレンスセル４をＸ線フィルム３の前
に配置し、Ｘ線透過像をＸ線フィルム３によって得る。
に配置し、Ｘ線透過像をＸ線フィルム３によって得る。
そして、このように得られたＸ線フィルム３の画像から
公知の画像処理機５により濃淡分布を得た後、該画像処
理機５にて平均濃淡度を測定し、その値を濃淡度の読み
Ｒ１とすると、前記した（４）式より、 Ｒ＋ −１ｏｑ ｋ−−Ｋ・ρ ・ｊ ・・・（５）
β１ が得られる。
公知の画像処理機５により濃淡分布を得た後、該画像処
理機５にて平均濃淡度を測定し、その値を濃淡度の読み
Ｒ１とすると、前記した（４）式より、 Ｒ＋ −１ｏｑ ｋ−−Ｋ・ρ ・ｊ ・・・（５）
β１ が得られる。
さらに、前記したレファレンスセル４を２枚重ね、すな
わち、厚さを２倍にして、前記と同じくＸ線透過像を得
ると共に画像処理機５により平均濃淡度を測定し、その
値を濃淡度の読みＲ２とすると、前記したと同様に、Ｒ
２１ｏｇｋ＝−Ｋ・ρ ・２ノ ・・・（６）β１ が得られる。
わち、厚さを２倍にして、前記と同じくＸ線透過像を得
ると共に画像処理機５により平均濃淡度を測定し、その
値を濃淡度の読みＲ２とすると、前記したと同様に、Ｒ
２１ｏｇｋ＝−Ｋ・ρ ・２ノ ・・・（６）β１ が得られる。
従って、［５）、［６］式の連立方程式をコンピュータ
６で解いてｋとＫを得ることができる。
６で解いてｋとＫを得ることができる。
なお、前記（６）式においては、（５）式においそ使用
したレファレンスセル４を２枚重ねたものについて説明
したが、平均嵩密度ρβ２が判っている別のレファレン
スセルを使用しても良い。そして、前記したと同様にＸ
線透過像を得た後に、画像処理機５によって平均濃淡度
を測定し、その濃度の読みをＲ’２とすると、 Ｒ’２−１００ ｋ＝−Ｋ・ρ ・」 ・・・（
刀β２ が得られる。
したレファレンスセル４を２枚重ねたものについて説明
したが、平均嵩密度ρβ２が判っている別のレファレン
スセルを使用しても良い。そして、前記したと同様にＸ
線透過像を得た後に、画像処理機５によって平均濃淡度
を測定し、その濃度の読みをＲ’２とすると、 Ｒ’２−１００ ｋ＝−Ｋ・ρ ・」 ・・・（
刀β２ が得られる。
この場合も、前記（５）式との連立方程式をコンピュー
タ６で解くことによりｋとＫとを得ることができる。
タ６で解くことによりｋとＫとを得ることができる。
ところで、前記した（５）、（６）式あるいは（５）。
（方式の連立方程式を解くとｋとＫの値が判るので、前
記した（４）式を変形した を求めることが可能となる。
記した（４）式を変形した を求めることが可能となる。
そこで、嵩密度、嵩密度分布を知ろうとするテストセル
を第１図におけるレファレンスセル４に代え載置すると
共にＸ線透過像をＸ線フィルム３によって得る。次いで
、このＸ線フィルム３を画像処理機５にかけて画像処理
を行い画像をスキャニングさせながら各点の濃淡度の読
みＲＸを得れば、テストセルの厚みＪが前もって判って
いることからコンピュータ６にて前記（８）式の計算が
行われ、従って、テストセルフのある部分における嵩密
度ρ が得られる。
を第１図におけるレファレンスセル４に代え載置すると
共にＸ線透過像をＸ線フィルム３によって得る。次いで
、このＸ線フィルム３を画像処理機５にかけて画像処理
を行い画像をスキャニングさせながら各点の濃淡度の読
みＲＸを得れば、テストセルの厚みＪが前もって判って
いることからコンピュータ６にて前記（８）式の計算が
行われ、従って、テストセルフのある部分における嵩密
度ρ が得られる。
ＲＸ
このように、ある点における嵩密度ρβ８が判れば、こ
れをテストセルフの全面にわたってスキャニングしなが
ら集積すれば第２図に示す如き嵩密度分布を得ることが
できるものである。
れをテストセルフの全面にわたってスキャニングしなが
ら集積すれば第２図に示す如き嵩密度分布を得ることが
できるものである。
なお、前記した方法はレファレンスセル４およびテスト
セルフの何れもＸ線等の放射線によって濃淡度の画像を
得たものについて説明したが、感圧紙濃淡画像を用いる
こともできる。これは、感圧紙上に対象粉粒体材料をセ
ットし、外部圧縮応力を印加することによって得られる
ものである。そして、得られた濃淡画像を前記したＸ線
フィルム３による濃淡画像と同様に画像処理機５によっ
て任意の点の濃淡度の読みが得られるので、［５）、（
６）または（５）ｉ７）式の連立方程式を作り、これを
コンピュータ６によって解けば嵩密度ρβが得られる。
セルフの何れもＸ線等の放射線によって濃淡度の画像を
得たものについて説明したが、感圧紙濃淡画像を用いる
こともできる。これは、感圧紙上に対象粉粒体材料をセ
ットし、外部圧縮応力を印加することによって得られる
ものである。そして、得られた濃淡画像を前記したＸ線
フィルム３による濃淡画像と同様に画像処理機５によっ
て任意の点の濃淡度の読みが得られるので、［５）、（
６）または（５）ｉ７）式の連立方程式を作り、これを
コンピュータ６によって解けば嵩密度ρβが得られる。
本発明は前記したように、簡単な測定および簡単な計算
によって成形製品および中間製品の嵩密度、嵩密度分布
を求めることができるので、この値からその製品の力学
的強度の品質管理が行え、従って、焼結固体製品、粉末
冶金製品、一般粉体製品、セラミックス製品等の管理が
容易に行える等の効果を有するものである。
によって成形製品および中間製品の嵩密度、嵩密度分布
を求めることができるので、この値からその製品の力学
的強度の品質管理が行え、従って、焼結固体製品、粉末
冶金製品、一般粉体製品、セラミックス製品等の管理が
容易に行える等の効果を有するものである。
第１図は本発明の方法に用いる試験装置のブロック図、
第２図は本発明方法によって得られた嵩密度分布線部で
ある。 ２・・・Ｘ線照射器、３・・・Ｘ線フィルム、４・・・
レファレンスセル、５・・・画像処理機、６・・・コン
ピュータ、７・・・テストセル。 ２・・・Ｘｌｌ照射器、３・・・Ｘ線フィルム
／。 ０ｍ ４・・・レファレンスセル、５・・・画像処理機６・・
・コンピュータ、７・・・テストセル第１図 第 ２ 図 Ｙ 臭イテ （Ｃｍ） 。 Ｘ 中（ｃｍ）
第２図は本発明方法によって得られた嵩密度分布線部で
ある。 ２・・・Ｘ線照射器、３・・・Ｘ線フィルム、４・・・
レファレンスセル、５・・・画像処理機、６・・・コン
ピュータ、７・・・テストセル。 ２・・・Ｘｌｌ照射器、３・・・Ｘ線フィルム
／。 ０ｍ ４・・・レファレンスセル、５・・・画像処理機６・・
・コンピュータ、７・・・テストセル第１図 第 ２ 図 Ｙ 臭イテ （Ｃｍ） 。 Ｘ 中（ｃｍ）
Claims (2)
- （１）平均嵩密度および厚みが判っているレファレンス
セルを２つ用意して夫々の濃淡画像を得ると共に画像処
理して任意の点における濃淡度の読みを得てＬａｍｂｅ
ｒｔ−Ｂｅｅｒの法則を利用して成形製品によって決ま
る吸光係数と、対象の幾何学的条件、放射線撮影、現像
、焼付け条件等によつて決まる定数を得、次いで、未知
のテストセルを用いて前記と同様な手法で濃淡度の読み
を得て、この読みと、前記手法によって得た２つの未知
数であった吸光係数および定数、テストセルの厚みから
Ｌａｍｂｅｒｔ−Ｂｅｅｒの法則によって嵩密度を得る
ことを特徴とする成形製品や中間製品の均質度を測定す
る方法。 - （２）平均嵩密度および厚みが判つているレファレンス
セルを２つ用意して夫々の濃淡画像を得ると共に画像処
理して任意の点における濃淡度の読みを得てＬａｍｂｅ
ｒｔ−Ｂｅｅｒの法則を利用して成形製品によつて決ま
る吸光係数と、対象の幾何学的条件、放射線撮影、現像
、焼付け条件等によつて決まる定数を得、次いで、未知
のテストセルを用いて前記と同様な手法で濃淡度の読み
を得て、この読みと、前記手法によって得た２つの未知
数であつた吸光係数および定数、テストセルの厚みから
Ｌａｍｂｅｒｔ−Ｂｅｅｒの法則によつて嵩密度を得る
と共に、前記テストセルにおける濃淡度の読みを、該テ
ストセルの全面をスキャニングしながら行い各点の嵩密
度を得、この嵩密度を集積することにより嵩密度分布を
得るようにしたことを特徴とする成形製品や中間製品の
均質度を測定する方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62267876A JPH01110244A (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | 成形製品や中間製品の均質度を測定する方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62267876A JPH01110244A (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | 成形製品や中間製品の均質度を測定する方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01110244A true JPH01110244A (ja) | 1989-04-26 |
Family
ID=17450854
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62267876A Pending JPH01110244A (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | 成形製品や中間製品の均質度を測定する方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01110244A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017073493A1 (ja) * | 2015-10-27 | 2017-05-04 | 住友ゴム工業株式会社 | 空気入りタイヤおよび架橋ゴム組成物 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS491008U (ja) * | 1972-04-03 | 1974-01-08 | ||
| JPS58135437A (ja) * | 1981-09-25 | 1983-08-12 | ガ−カ−エスエス・フオルシユングスツエントルム・ゲ−ストアハト・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | γ線伝送分析による多成分混合物の平均密度並びに体積配分の検出方法 |
-
1987
- 1987-10-23 JP JP62267876A patent/JPH01110244A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS491008U (ja) * | 1972-04-03 | 1974-01-08 | ||
| JPS58135437A (ja) * | 1981-09-25 | 1983-08-12 | ガ−カ−エスエス・フオルシユングスツエントルム・ゲ−ストアハト・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | γ線伝送分析による多成分混合物の平均密度並びに体積配分の検出方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017073493A1 (ja) * | 2015-10-27 | 2017-05-04 | 住友ゴム工業株式会社 | 空気入りタイヤおよび架橋ゴム組成物 |
| US10654316B2 (en) | 2015-10-27 | 2020-05-19 | Sumitomo Rubber Industries, Ltd. | Pneumatic tire and crosslinked rubber composition |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Anderson et al. | Rapid nondestructive bulk density and soil‐water content determination by computed tomography | |
| Ferguson et al. | Water content measurement in soil columns by gamma ray absorption | |
| CA2118404A1 (en) | Meter and Method for in Situ Measurement of the Electromagnetic Properties of Various Materials Using Cutoff Frequency Characterization and Analysis | |
| JP2022024012A (ja) | 多孔質フィルムの測定 | |
| GB2044443A (en) | A method of measuring the content of a substance in a film comprising at least one other substance | |
| US4487278A (en) | Instrument for providing automatic measurement of test weight | |
| Laufenberg | Using gamma radiation to measure density gradients in reconstituted wood products | |
| CA2634730C (en) | Single-point measurement of high-z additives in sheets | |
| CN114544717B (zh) | 一种ect定量监测水分传输方法 | |
| RU2110775C1 (ru) | Устройство для взвешивания непрерывно текущего гранулированного или порошкообразного материала | |
| JPH01110244A (ja) | 成形製品や中間製品の均質度を測定する方法 | |
| CA2062752A1 (en) | Method of obtaining accurate compositional information of multilayer compositions | |
| US4287470A (en) | Digital humidimeter | |
| US3809885A (en) | Sedimentometer | |
| Lindström et al. | Densitometric evaluation at quantitative microradiography | |
| US3368389A (en) | Method of determining percent solids in a saturated solution | |
| Brindley et al. | A technique for the photographic determination of the intensities of X-ray reflections from powders | |
| US3954002A (en) | Method for calibrating moisture content measuring instruments | |
| US5672876A (en) | Method and apparatus for measuring distribution of radioactive nuclide in subject | |
| JPS6253044B2 (ja) | ||
| RU2163378C2 (ru) | Устройство для исследования кристаллических компонентов | |
| JPS61175553A (ja) | 物質の密度測定法 | |
| JPS6333096B2 (ja) | ||
| Tripathi et al. | Capacitance technique for measuring moisture content using dielectric data an immersion method | |
| Boruch et al. | The use of dielectric properties of starch in measurements of its humidity |