JPH01102380A - 印刷回路板試験取付具 - Google Patents

印刷回路板試験取付具

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JPH01102380A
JPH01102380A JP62253935A JP25393587A JPH01102380A JP H01102380 A JPH01102380 A JP H01102380A JP 62253935 A JP62253935 A JP 62253935A JP 25393587 A JP25393587 A JP 25393587A JP H01102380 A JPH01102380 A JP H01102380A
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probe
test
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JP62253935A
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W Harte Thomas Jr
トーマス・ダブリユ・ハート・ジユニア
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XEBEC CORP
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XEBEC CORP
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は刺激信号を回路板の選択した点に加えて回路板
の他の点における応答を測定し、その応答を予期した応
答と比較して回路板の動作可能性を定めることができる
ようにするために印刷回路板を調べる装置に関するもの
である。本発明はさらに詳しくいえば、一定の中心間隔
を有するペース格子の導電性プローブと被試験印刷回路
板の無秩序に配位した導電性試験点との間に信号を伝え
る取付具に関するものである。
〔従来の技術〕
代表的な現状の回路板試験装置は、試験中の印刷回路板
に加えられる種々の刺激信号を発生する非常に多数のプ
ログラム可能な信号励振器を備えると共に、刺激信号に
応じて試験中の印刷回路板によって発生される信号を受
ける非常に多数のプログラム可能な信号受信器を備え、
さらにその応答信号を予期した応答と比較する手段を備
えている。普通は、そのような印刷回路板試験器は、2
、54 m (10Gミル)の中心間距離を有する四角
い配列に配置された導体または尖ったプローブ先端の配
列を備えている。特定の印刷回路板を試験する必要があ
るとき、普通は、その回路板は印刷回路板の表面に無秩
序に位置決めされた多数のプローブ点または試験点をも
っている。無負荷印刷回路板の場合、そのようなプロー
ブ点は、導電性フィードスルーのある場所であることが
多い。
この産業において遭遇する基本的間融がペース格子導体
またはプローブ点(4?定の印刷回路板の試験を遂行す
るようにプログラムされたもの)の種々の点と被試験印
刷回路板の無秩序に位置決めされたプローブ点または試
験点との間を確実にかつ経済的に接続する方法である。
特定の印刷回路板に数千のプローブ点が存在することが
あるので。
ベース格子の導電性点を被試験印刷回路板の無秩序に位
置決めされたプローブ点と一線に並べるように「手で設
計されている」トランスレータ板を用いることは、費用
がかかり過ぎる。
自動試験器のベース格子と印刷回路板試験点との間に信
号を伝える自動化技術が必要とされていた。しかし、従
来提供されたものは本明細書で「プローブピン」と称け
る長いまたは一体のばね付プローブを用いる中継装置で
ある。ブロープビンの上端は、被試験印刷回路板のグロ
ーブ点に接触する。試験印刷回路板のプローブ点と一線
に並んだ隙間穴を有する上側案内板が被試験印刷回路板
と一線に並べられている。下側案内板がベース格子の導
体と一線に並んだ隙間穴を備えている。
次にばね付グローブピンけ、上側案内板の穴を通って落
とされて、下側案内板の穴を通過し1種々のベース格子
の導体と接触する。隙間穴は、ばね付プローブピンが上
側及び下側案内板の両方にある案内穴を通過できること
を確実にする(上側及び下側板にある案内穴は1通常上
側板にある案内穴の穴が無秩序に置かれているために、
−線に揃っていないので)のに十分圧ばね付プローブビ
ンを傾げることができるに十分な大きさである。
前述の従来の方法を実織するいくつかの装置の基本的間
卸は、ベース格子のどの導体が試験中の印刷回路板のど
のプローブ点に電気的に接触するかを正確に決める精密
な方法がないことである。
従って、試験中の板(BUT)を働かせる試験アルゴリ
ズムは1本質的に「非確定的」である。この意味すると
ころは、刺激に応じて試験中の板によって発生される実
際の応答を比較する対象となる予想応答を発生するため
に回路設計データを使用できないことである。代りに1
種々の模様の試験刺激を「良好」と知られている特定の
印刷回路板に加えなければならない。結果として生ずる
応答は、引続き試験される板と比較する基礎として記憶
されて用いられる。さらに、ばね付プローブピンは、無
秩序に位置決めされた印刷回路板の試験点が2.54嘗
の中心間隔で並んだベース格子導体と一直線に並んでい
ないことによって生じたプローブピンの傾斜角が大きく
なり過ぎないように。
極めて長い必要がある。試験点の間隔が減るにつれて、
傾いたプローブピンによる方法は、ますます非実際的に
なる。
前述の方法に関するもう一つの間塵は、ベース格子と被
試験印刷回路板の底との間にかなり大量の空気が存在し
なければならないことである。この大量の空気は、試験
中の板を徨う真空シールされた圧力板と試験器のベース
格子との間の体積に真空を作って試験中の板をばね付プ
ローブピンの点に押付ける真空固定技術とやや相客れな
いものである。
自動試験器のベース格子導体信号を無秩序に位置決めさ
れた印刷回路板試験点に伝える改良された装置に対する
満たされていない要求が残っていることが明らかである
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明の目的は、自動印刷回路板試験器のベース格子信
号を試験中の印刷回路板の無秩序に位置決めされた試験
点または導体との間に移動させる安価な確定的装置を提
供することである。
本発明のもう一つの目的、印刷回路板試験器に用いる現
在の真空固定技術と非常に共存性のある確定的ベース格
子−試験点間中継装置を提供することである。
本発明のもう一つの目的は、試験信号を自動試験器のベ
ース格子と被試験印刷回路板のプローブ点との間で中継
する装置を製作する自動化技術を提・共することである
本発明のもう一つの目的は、一つの密度の信号導体を有
するベース格子導体配列とより高い密度の導体試験領域
を有する印刷回路板との間に電気信号を伝える自動化試
験装置を提供することである。
本発明のもう一つの目的は、自動印刷回路板試験装置で
用いる改良型プローブビンアセンブリを提供することで
ある。
〔問題点を解決するための手段〕
簡単に説明すると1本発明の一つの実施例によれば1本
発明は、試験信号を自動試験装置のベース格子導体から
印刷回路板の無秩序に位置決めされた試験点へ底面にベ
ース格子の試験信号導体と正確に一線に並んでそれらの
導体に接触するように構成された導電性パッドを備える
と共に、上面に被試験印刷回路板の無秩序に配列された
試験点と正確に一線に並んだ導電性パッドを有するトラ
ンスレータ板の中に垂直フィードスルーを設けることに
よって移動させる装置と方法を提供する。
このトランスレータ板は、トランスレータ板の上面であ
る導電性パッドと正確に一線に並んだ穴を有スるプロー
ブピン支持ジグの底に固定される。
ばね付二重プランジャプローブピンがピン支持取付具の
中の穴にばね付プランジャが中で移動するスリーブの下
端にあるへりによって保持されている。プローブピン支
持ジグには被試験印刷回路板を受けてそれをばね付プロ
ーブビンの上側プランジャと正確に一線に保持する凹部
または他の位置合わせ手段がある。ばね付プローブビン
の上側プランジャと下側プランジャの各々は、上点を有
し。
前記上点は印刷回路板のプローブ点に接触し、下点はト
ランスレータ板の上側パッドに接触している。トランス
レータ板を製作するためには、トランスレータ板の下側
パッドの所在場所を表すディジタル化したデータが被試
験印刷回路板のプローブ点の無秩序な所在場所を表すデ
ィジタル化データと比較されてトランスレータ板の上側
及び下側パッドの重なり合いの点を定める。交差情報が
トランスレータ板の各上側パッドをトランスレータ板の
あらかじめ定めた下側パッドに接続する導電性フィード
スルーの所在場所を決めるのに用いられる。印刷回路板
プローブ点の無秩序な所在場所を表すディジタル化デー
タはまたホトエツチングに用いられる版下を作るか、ま
たはトランスレータ板の上面に導電性パッドを作るのに
用いられ。
またディジタル化データはプローブピンが挿入されるプ
ローブピン支持取付具の穴をあけるのに用いられる。
本発明のもう一つの実施例においては1通常印刷回路板
の試験点の数は、利用できるベース格子プローブの数よ
りずっと少なく、用いられないベース格子プローブと関
連の電子部品の費用を節約するのが非常に望ましいので
、ベース格子プローブの半分が基盤目模様を残すように
省略されている。トランスレータ板の下面にあるベース
格子のプローブに接触しない導電性パッドと接触するパ
ッドとの間に選択的短絡が行われ、適当なフィードスル
ーがそのような短絡した下側導電性パッドからトランス
レータ板の重なり合う上側パッドに与えられる。
〔実施例〕
次に各図面、特に第1図〜5図を参照すると。
印刷回路板(PCB)取付具(試験アセンブリともいう
)1は、多数(普通4000ないしloo、ooo)の
導電性の尖った試験信号プローブ3を含む「ベース格子
」2を備えている。ばねの付いている試験信号プローブ
3の各々は、別々の信号源回路または信号受信回路にプ
ログラム可能に接続されている。種々のプログラム可能
な試験装置が市販されている。例えば、テストシステム
ズ社によって製造されているモデルT M 57 B 
B Tが49,000の導電性プローブを付けているベ
ース格子を与える。
普通は、ベース格子2の導電性プローブ3は個々の導電
性プローブの中心間の間隔を2.54讃にして矩形配列
に配列されている。
印刷回路板取付具1にはまた上面4Aと下面4B(第5
図も参照)を備えたトランスレータ板4がある。上面4
Aは、−括して弁開番号5で表した多数の丸い導電性パ
ッドが上に載っている。例えば、導電性パッド5は、直
径が2.03 sm (80ミル)であってもよい。そ
れらのパッドのそれぞれの所在場所は、続いて説明する
ように被試験印刷回路板のプローブ点の所在場所と正確
に一線に揃えられている。
第5図で最もよく見られるように、下面48には複数の
正方形の導電性パッド2Bが配置されている。導電性パ
ッド2Bは、2.54mの中心間隔をもっている。下面
の正方形パッド28の各々の中点は、トランスレータ板
4がベース格子2と正しく一線に並べられると、ベース
格子プローブ3のそれぞれのものの尖った先端と正確に
一線に揃えられている。
第1図、第3図及び第4図に最もよく見られるように、
導電性フィードスルー33が種々の上側導電性パッド5
のふち部分を特定の「重なり合う」下側パッド2Bにそ
れぞれ電気的に接続している。
再び第1図を参照すると、印刷回路板取付具1には多数
の垂直穴8を備えたプローブピン支持ジグ7がある。垂
直穴8の各々は、上佛トランスレータ板をパッドの対応
するものとを正確に一線に揃えられている。二重プラン
ジャばね付プローブピン9がプローブピン支持ジグ7の
垂直穴8の各々の中に配置されている。
代表的なプローブピン9の構造は、第2図を参照すると
、最もよくわかる。各プローブピン9は、プローブピン
支持ジグ7の下面にもたれてトランスレータ板4をプロ
ーブピン支持ジグ7の底面に対して一線に運べた関係で
固定すると(普通37のようなねじによって)、プロー
ブピン9を穴8の中に保持する下側へ9またはフランジ
21を備えた外側円筒形スリーブ20を備えている。
プローブピン9には試験中の板である印刷回路板13の
底にある試験点に接触する尖った上側チップ17を有す
る上側プランジャ17Aがある。
プランジャ17Aにはプランジ17Aとばね19との間
に確実な電気的及び機械的接続を行うように圧縮コイル
ばね19の上端が綿りにはまっている下側ニップル23
がある。従って、プランジャ17Aは、スリーブ20の
中で矢印26の方向に上下に動くことができる。プロー
ブピン9にはまた。そのプローブピン9が一線に揃えら
れている特定のトランスレータ板のパッド5に電気的に
接触する尖った下側チップ18を有する下側プランジャ
18Aがある。ニップル24がプランジャ18Aの上面
から上方に伸びて導電性コイル19の下端にしつかシ挿
入されて、それに良好な機械的及び電気的接続を行って
いる。コイルばね19の圧縮は、ニップル23を取巻く
肩22とニップル24を取巻く肩25によって抵抗され
る。デインプル35は、プランジャ17Aと18A及び
コイルばね19をスリーブ20の中に保持し、スリーブ
20はトランスレータ板4とプローブピン支持ジグ7を
備えたアセンブリ内にフランジ21によって保持されて
いる。
プローブピン支持ジグ7にはその上面に印刷回路板13
を受ける凹部lOがある。四部10は垂直壁11によっ
て限られている。凹部10の寸法は、印刷回路板13を
凹部lOの中に挿入できてそれによって印刷回路板13
を印刷回路板取付具1と正確に一線に並べることのでき
る璃当な公差で印刷回路板130寸法と正確に同じにす
ることができる。殆どの場合に、凹部10は印刷回路板
より犬きく、ツーリングピンなどを印刷回路板及びプロ
ーブピン支持ジグを正確に一線に並べるために用いる。
普通は、印刷回路板13には多数の平らな導体14と非
常に多数のフィードスルー15がある。
特に無負荷の印刷回路板の場合、試験をする主な目的は
、フィードスルーの連続性を検査することである。普通
は各フィードスルーの中心がプローブピン9の尖った上
端17と一線に並べられている。
印刷回路板13とベース格子2との間に真空を作ること
のできる適当な穴(図示なし)を設けることができる。
追出される空気の量が非常に少なく、真空固定技術を印
刷回路板取付具lと共同して都合よ〈実施できるように
する。
普通は、トランスレータ板4の厚さは1.57 m(6
2ミル)である。それは普通の印刷回路材料。
上側導体5及び元の「ブランク」板の最初に銅被覆した
表面をホトエツチングすることによって作られる下側導
体28とから構成できる。普通は。
プローブピン支持ジグ7は12.7 wa (0,5イ
ンチ)の厚さであってもよく、フェノール樹脂、ファイ
バグラス樹脂などの適当な絶縁構造材料で構成できる。
本発明によるトランスレータ板4を製作する方法によれ
ば、13のような印刷回路板を試験してもらおうと望む
買手は1.普通厳密に調べられる必要のあるフィードス
ルー15の各々の所在場所を示すデータを含む電気的に
読取りできる媒体を供給すると理解すべきである。その
ような媒体が供給されなければ、標本板についてフィー
ドスルー所在場所をそのようなデータの付いたそのよう
な媒体を得るためにディジタル化できる。前述のように
、普通はフィードスルーの所在場所は、ペース格子2の
導電性ばね付プローブ3の所在場所に対して無秩序であ
る。
4のような「ストック」トランスレータ板の供給が利用
できるようにしておく。ストツクトランスレータ板の下
側パッド28は、それらが常に同じなので、ホトエツチ
ング用の写真道具に既に輪郭を定められてしまっている
であろう。トランスレータ板の下側パッド2Bの各々の
所在場所に対応するディジタルデータは、もちろん、下
側パッド28が寸法及び中心間間隔がすべて同じなので
既知のものになる。このようなディジタルデータは1次
に、下側パッド28の各々にある仮想「サブスクエア」
30(第3図及び第5図)の所在場所を定める計算機プ
ログラムに送られる。各サブスクエアすなわち鎖線の四
角30は、普通は、そのパッド28の外側ふちから0.
254 m (10ミル)のところにある。丸い上側パ
ッド5の各々の中には「サブサークル」32、すなわち
破線の円がそのパッドのふちから普通0.254 ms
のところにある。
フィードスルー33の所在場所をさがす計算機プログラ
ムは、サブスクエア30とサブサークル31との間の交
差点を選択してそれによって対応する上側パッド5と下
側パッド28を接続する一つのフィードスルーの所在場
所を定める。この技術は、特定のペース格子プローブ3
と一つの印刷回路板試験点15との間に必要な横の「移
行」を与える。サブサークル31とサブスクエア30の
交さ点を定める機能を果たす計算機プログラムは極めて
簡単で、当業者によって容易に実現できる。
しかし1本明細書に添付した付録Aには米国アリシナ州
ケンブのハートロニツクス(Hottronix)社か
ら入手できるバートロエックスモデル4S32A計算機
用に書かれたフィードスルー所在場所を定めるためのプ
ログラムのプリントアウトがある。
サブサークルの破#32の各々と上側パッド5の外側ふ
ちとの間の距離は1代表的に0.254 mである。
−たん上述の計算機プログラムがフィードスルー33の
所望の所在場所を決定してしまうと、数値制御ドリル機
械を制御するのに用いられる電子的に読取りできる媒体
に記憶されたディジタルデータの形になっているこの情
報がフィードスルー33のためのフィードスルー穴をあ
けるのに用いられる。次に、  トンスレータ板4の導
電性フィードスルーを作るために標準のフィードスルー
メツキ手法が用いられる。
トランスレータ板の上側パッド5の位置選定は。
1枚の不透明フィルム内に2.03■(aoSル)の直
径の穴をあけるためにプローブ点またはフィードスルー
15(印刷回路板13の)の所在場所に対応する上述の
データを用いることKよって得られる。もちろん、その
ような穴はフィードスルー穴またはプローブ点15と正
確に一線に並べられている。このフィルムは次にトラン
スレータ板4の上面にあるホトレジストを感光させるた
めに用いられる。標準のホトエツチング技術を用いて。
ストックトランスレータ板の銅被機上面はエツチングで
取除かれて所望の場所に上側バットだけを残す。
プローブピン支持ジグ7は、裏返しにされて非常に多数
のプローブピン9がプローブピンをプローブピン支持ジ
グ7の中の穴8自動的に装荷させる撮動装置の中でプロ
ーブピン支持ジグ7の上に置かれる。本発明によれば、
普通たった12.7■の長さであるプローブピン9がこ
のやシ方で確実にかつ自動的に装荷できる。次に、トラ
ンスレータ板4は、プローブピン支持ジグ7の下面と一
線に並べてそれに固定される。この構造体は、次に必要
になるまで適宜な方法でいつでも保管できる。
必要になったとき、プローブピンを装荷して組立てたト
ランスレータ板4とプローブピン支持ジグ7をペース格
子2の上に容易に位置を合わせてペース格子2の上にお
ろし、個々の印刷回路板13を迅速に試験できる。
トランスレータ板のフィードスルーの所在場所を定める
計算機プログラムは、印刷回路板13のすべてのプロー
ブ点を一つのあらかじめ定めたペース格子のプローブ3
に正確にマツチさせるデータを与えるので、従来技術の
ペース格子導体と被試験印刷回路板のプローブ点との間
の非確定的関係が避けられる。多くの場合にこれによっ
て印刷回路板の予期した応答をあらかじめ確定的にする
ことができ、適当な予期した応答を得る仕事を簡単にす
る。
上述の技術は、被試験印刷回路板のプローブ点がトラン
スレータ板4の下側パッド28よシ著しく小さくなく、
互いに接近していない限りうまく行く。しかし、印刷回
路板の技術の現状が急速に進歩しているので、印刷回路
板によって、印刷回路板4の下側パッド28のずっと大
きな2.54 W(100ミル)中心間隔ではな(,1
,016m(40ミル)中心間隔または1.27 ms
 (50ミル)中心間隔に置かれているかなり多数のプ
ローブ点をもつことがある。そのように高密度のプロー
ブ点の場合、プローブ点のうちの二つを単一のパッドの
上で位置合せする状況が生ずる可能性がある。
第6図はこの状況を示しており1図の中で参照数字5−
1及び5−2は、トランスレータ板4にある上側パッド
に対応する。上側パッド5−1及び5−2は、直径が第
3図及び第4図に開示された− 上側パッドよシかなり
小さく、それらの中心間間隔はかなり小さくなっている
。第3〜5因にある33のような第6図のパッド5−1
及び5−2からの直接のフィードスルーは、共に同じ下
側パッドすなわちパッド28−1に接触する。
この間顕を避けるために、上側パッド5−2を下側パッ
ド28−1に接続するフィードスルー33−2だけを設
けた上側パッド5−1からの延長部 ゛体41が設けら
れて、それを隣接の下側パッド28−2の上の点に電気
的に接続している。この技術は、下側パッドよシ上側パ
ッド、例えば5−1゜5−2など、の数が多過ぎない限
シ及び利用できる下側パッド2Bの上方の点に達するた
めに互いに交差することが異なる上側パッドからの延長
部。
例えば41.Ic必要でない限り満足であろう。第6図
に関して説明した技術を用いることは延長部41のルー
ト及び延長部41の端と28−2のような下側パッドを
接続する33−1のようなフィードスルーの所在場所を
決める計算機アルゴリズムがさらに複雑なので、第1〜
5図に関して説明した技術を用いるほど簡単ではない。
さらにトランスレータ板4の上面にある模様をホトエッ
チするフィルムを簡単に穴あけすることは、きりもみに
よって簡単に達成できない。トランスレータ板の上面の
所望のホトエツチングを達成するためには延長部41に
対応するフィルム領域を露出またはカットする他の技術
を作らなければならない。
それにもかかわらず第6図に関して説明した技術はある
場合には有用であろう。
本発明のもう一つの望ましい特徴は、被試験印刷回路板
13の上で試験点15の密度が下にあるベース格子2よ
り殆ど常にずっと少ないということを利用できるよう圧
する。現在の商業的電子パッケージングの場合1個々の
素子は9通常7.62m (300ミル)以上離れてい
る列に2.54■(100ミル)の中心間隔でリードを
もっており。
互いに2.54m(100ミル)より近い印刷回路に決
して取付けられない。これは最大の実装密度の場合、下
にあるベース格子点の50%だけが印刷回路板13の上
の試験点に割当てられる。
第7図は、この場合には一つおきの試験点だけが基盤目
模様で設けられている下にあるベース格子2とともに動
作するトランスレータ板4を示している。ベース格子2
にある接点は、下側パッド28A(図面で斜線の引いで
あるもの)に接触するだけであり、一方パッド28Bは
、ペース格子2に接続された試験装置に接触しない。
計算機プログラムは、前述のように上側導体パッド5を
下側導体パッド28に接続するように穴のあいたフィー
ドスルー接点33を配置するために動作する。斜線を引
いたパッド28Aに接続されて終るフィードスルー接点
33は、導電性通路を確立される。次に、計算機プログ
ラムは、フィードスルー接点33が接続されているパッ
ド28Bを調べて1次にフィードスルー33が接続され
ていない隣接パッド28Aを見出す。それは9次にトラ
ンスレータ板4の上のパッド28をエツチングするのに
用いられるホトアートワークをそれらの二つのパッドを
一つに接続するように変更させる。
これはパッド28の配列の陰画写真像に穴32をあける
ことによって行うことができる。次にトランスレータ板
を加工するとき、導電性通路が32−1によって決めら
れた導電性通路を通り、かつ次に試験点15に接触する
プローブピン9に接触するパッド5−1に接続を行うフ
ィードスルー33−1を介してパッド28B−1に接続
されているパッド28A−1に接触するベース格子点3
から決められる。
〔発明の効果〕
この方法のかなりの利点は、下にある試験格子を設定す
る機械は、従来の試験装置によって必要とされた試験点
の半分をもってさえいればよいということである。代表
的な試験機械は、普通1試験点ととに5ドルないし10
ドルの固設である。
40、000の試験点から20.000の試験点へ減ら
すことは、1台の機械当りlO万ドルないし20万ドル
節約することができるであろう。幾つかの他の利点がば
ね付試験点3を押下げるのに必要な力を支えるよシ簡単
な機械的構造を可能にすることによって生ずる。代表的
なばね圧は、113.9(4オンス)であって、それに
よって4万点の下にあるグリッドに4.536 Kg 
(10,OOOボンド)の力を必要とする。
本発明をその特定の実施例を参照して説明したが当業者
は本発明の真の精神と範囲からそれることなく説明した
実施例に対する種々の変形を作ることができるであろう
。本明細書で説明したものだ等価であるすべての試験ア
センブリ及び方法は。
それらのそれぞれの要素またはステップが事実上同じ結
果を達成するために事実上同じ方法で事実上同じ機能を
果たすので1本明細書で説明した実施例に等価であると
考えられるという意味である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の試験取付具の部分斜視図。 第2図は第1図の試験取付具に用いられるプローブピン
の拡大断面図。 第3図は第1図の試験取付具に用いるトランスレータ板
の部分平面図。 第4図は第3囚の断面線4−4に沿って見た断面図。 第5図は第1図及び第3図のトランスレータ板4の部分
平面図。 第6図は代シのトランスレータ板の部分平面図。 第7図は下にあるまばらなチエツク盤ベース格子上で用
いるための代りのトランスレータ板の部分底面図である
。 !=の Y−二・ニア、亡にU】’6 ’、+)−二E
丘6−6 二Uxsm 7 手  続  補  正  書 (方式)%式% 1、事件の表示 昭和62年  特  許   願第 255955号3
、補正する者 事件との関係 特許出願人 4代理人 6、補正により増加する発明の数     (〉   
  発明7・ 補正の対象 願書の出願人の欄、委任状
、図面−r、9

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、自動試験器のベース格子のある試験信号導体と印刷
    回路板に本質的に無秩序に位置を定められている印刷回
    路板の複数の対応するそれぞれの導体試験領域との間に
    電気試験信号を伝える確定的試験装置において、 (a)各々が印刷回路板上の導電性試験領域のそれぞれ
    の領域に電気的に接触する上側接点と、ベース格子の試
    験信号導体のそれぞれの導体に電気的に接触する下側接
    点とを備えかつ上側接点と下側接点とを互いの方へ押し
    やる力に弾力的に対抗する内部手段を備えた複数のプロ
    ーブ手段と、 (b)プローブ手段を印刷回路板上の複数の導電性試験
    領域に一線に並んだ関係で支持するプローブ支持手段と
    、 (c)印刷回路板をプローブ手段の上側接点に押付けて
    上側接点が印刷回路板上の導電性試験領域とそれぞれ電
    気的に接触するようにする手段と、 (d)ベース格子の試験信号導体と一線に並んだ複数の
    導電性下側領域と印刷回路板の導電性試験領域と一線に
    並んだ複数の導電性上側領域とを有し、ベース格子の試
    験信号導体から電気刺激信号を受けてそれらの刺激信号
    をプローブ手段のあらかじめ定めたものの下側接点に伝
    えると共に電気刺激信号に応答して印刷回路板から受け
    た電気応答信号を受けてその応答信号を試験信号導体の
    あらかじめ定めたものに伝えるトランスレータ板手段と
    、(e)プローブ支持手段をトランスレータ板の上面の
    方に押しやつて下側接点とトランスレータ板の導電性上
    側領域との間に電気的接触を行わせる手段とを備えた確
    定的試験装置。 2、試験導体の下にある格子に対して本質的に無秩序に
    配置されている複数の導電性試験領域を有する印刷回路
    板を試験する方法において、 (a)印刷回路板の導電性試験領域の所在場所を表すデ
    ータを発生してそのデータを記憶媒体に記憶する段階と
    、 (b)前記記憶データに応じて印刷回路板の導電性試験
    領域と一線に並んだ関係にあるプローブ支持板内に穴を
    あける段階と、 (c)前記記憶データに従つて上側接点パッドの模様を
    トランスレータ板の上面に導電性試験領域とそれぞれ一
    線に並んだ関係で作る段階と、 (d)上側及び下側接点パッドの重なり合う領域を定め
    るためにトランスレータ板にある複数のフィードスルー
    の所在場所を前記記憶データを用いて定めてそれぞれの
    フィードスルーの所在場所を表すフィードスルー所在場
    所データを発生する段階と、 (e)前記フィードスルー所在場所データに従つて上側
    及び下側接点パッドの選択された重なり合い領域を通し
    て伸びるトランスレータ板の正常なフィードスルー穴を
    あける段階と、 (f)フィードスルー穴の中に導電性フィードスルーを
    形成する段階と、 (g)支持板の中にある穴にプローブピンを装荷する段
    階と、 (h)トランスレータ板の上面をプローブ支持板と一線
    に並べてトランスレータ板をプローブ支持板に取付けて
    プローブピンを支持板に保持しトランスレータ板の上側
    接点領域と対応するプローブピンとの間に電気的接触を
    行わせる段階とを備え、 前記トランスレータは、トランスレータ板 の下面にある試験格子導体とそれぞれ一線に並んだ下側
    接点パッドの配列を備えていることを特徴とする印刷回
    路板試験方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010145381A (ja) * 2008-12-22 2010-07-01 Nippon Mektron Ltd 基板検査装置及び検査治具の製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2010145381A (ja) * 2008-12-22 2010-07-01 Nippon Mektron Ltd 基板検査装置及び検査治具の製造方法

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