JP7621659B2 - 分析装置、および分析方法 - Google Patents

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Description

特許法第30条第2項適用 [ウェブサイト]令和3年9月3日掲載 https://www.jssspn.org/2021/program_timetable
特許法第30条第2項適用 [ウェブサイト]令和3年9月8日掲載 https://chat.lincbiz.jp/a005590/
特許法第30条第2項適用 [発 表]令和3年9月14日開催、日本土壌肥料学会2021年度北海道大会
特許法第30条第2項適用 [ウェブサイト]令和3年12月5日掲載 https://www.jstage.jst.go.jp/article/dohikouen/67/0/67_138_2/_article/-char/ja
本発明は分析装置、および分析方法に関する。
試料中の目的物質の同位体存在比を測定するために、質量分析計が用いられる。
特許文献1には、試料に関する元素又は種の濃縮安定同位体スパイクを試料に導入し、スパイクと試料を平衡にした上で、質量分析を行うことが記載されている。また、得られた同位体比の情報をマイクロプロセッサに送達すること、およびマイクロプロセッサがコントローラを介して、その分析方法の運転制御を行なうことが記載されている。
特表2004-526952号公報
安定同位体比質量分析計等、質量分析計で測定する装置においては、導入する試料の量によって、測定値が変動するという問題があった。
本発明は、試料の導入量によらず、安定した分析結果を得ることができる分析装置および分析方法を提供する。
本発明によれば、
対象ガスにおける対象元素の濃度または物質量を測定する測定部と、
測定された前記対象元素の濃度または物質量を用いて希釈ガスの流量を算出する流量算出部と、
前記流量算出部が算出した流量に従って前記希釈ガスの流量を制御することにより、前記対象ガスを希釈する希釈部と、
希釈された前記対象ガスが導入され、前記対象ガスにおける前記対象元素の同位体分析を行う同位体分析部とを備える
分析装置が提供される。
本発明によれば、
対象ガスにおける対象元素の濃度または物質量を測定する測定工程と、
測定された前記対象元素の濃度または物質量を用いて希釈ガスの流量を算出する流量算出工程と、
前記流量算出工程で算出された流量に従って前記希釈ガスの流量を制御することにより、前記対象ガスを希釈する希釈工程と、
希釈された前記対象ガスにおける前記対象元素の同位体分析を行う同位体分析工程とを含む
分析方法が提供される。
本発明によれば、試料の導入量によらず、安定した分析結果を得ることができる分析装置および分析方法を提供できる。
第1の実施形態に係る分析装置の機能構成を例示するブロック図である。 測定部で得られる検出結果を例示するグラフである。 希釈部の構成を例示する図である。 流量算出部および取得部を実現するための計算機を例示する図である。 第1の実施形態に係る分析方法の流れを例示するフローチャートである。 第2の実施形態に係る分析装置の機能構成を例示するブロック図である。 実施例に係る分析結果を示すグラフである。 比較例に係る分析結果を示すグラフである。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。
(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係る分析装置10の機能構成を例示するブロック図である。本図において、ガスの流れを破線矢印で示している。本実施形態に係る分析装置10は、測定部110、流量算出部130、希釈部150および同位体分析部170を備える。測定部110は、対象ガスにおける対象元素の濃度または物質量(いわゆるモル数)を測定する。流量算出部130は、測定された対象元素の濃度または物質量を用いて希釈ガスの流量を算出する。希釈部150は、流量算出部130が算出した流量に従って希釈ガスの流量を制御することにより、対象ガスを希釈する。同位体分析部170には、希釈された対象ガスが導入される。そして、同位体分析部170は、対象ガスにおける対象元素の同位体分析を行う。以下に詳しく説明する。
安定同位体比質量分析計(Isotope Ratio Mass Spectrometer:IRMS)等による分析では、分析計へ導入する対象元素の物質量に依存して測定値が変動するという問題があった。この問題への対処法として、導入する対象元素の物質量を特定の値に保って測定する方法がある。このためには、試料の事前測定が必要となる。すなわち、事前測定により試料中の対象元素の濃度を特定し、特定された濃度を用いて、導入すべき試料の量を算出する。そして、算出した量となるよう秤量した試料を、分析計へ導入して同位体比を測定する。しかし、この方法では、手間と時間がかかるほか、微量の試料を正確に秤量するのが困難な場合がある。秤量の誤差は、分析結果の不正確さにつながる。
さらに、分析計による分析結果を補正することも考えられる。すなわち、導入する対象元素の物質量と、測定値に生じる真値からのズレとの関係を事前に把握しておく。その上で、測定において導入した対象元素の物質量を、この関係に照らし合わせることにより、補正すべきズレを特定する。そして、分析計で得られた測定値に対し、ズレを打ち消す演算をすることで、測定値を補正する。しかしこの方法では、導入する対象元素の物質量と、測定値における真値からのズレとの関係を事前に把握しておく必要がある。
本実施形態に係る分析装置10では、流量算出部130は、対象ガスにおける対象元素の濃度または物質量を用いて希釈ガスの流量を算出する。希釈部150は、流量算出部130が算出した流量に従って希釈ガスの流量を制御することにより、対象ガスを希釈する。そうすることにより、試料の仕込み量や濃度によらず、適切な量の対象元素が同位体分析部170へ導入され、正しい分析結果が得られる。
分析装置10の各機能構成部について以下に詳しく説明する。本図の例において、分析装置10は、前処理部100、取得部190、および記憶部180をさらに備える。
本実施形態において、分析装置10に導入される試料は固体でも良いし、液体でも良いし、気体でもよい。分析装置10に導入される試料の量や濃度は任意であり、事前に調整されたり測定されたりする必要はない。本図の例において、試料は前処理部100に導入される。前処理部100では、試料の前処理が行われ、対象元素を含む対象ガスが生成される。前処理部100はたとえばオートサンプラー、酸化炉、還元炉、除水器、および分離カラム(ガスクロマトグラフのカラム等)のうち少なくともいずれかを含む。試料が固体または液体である場合、前処理部100はたとえば試料を燃焼させて対象元素を含むガスを発生させる。また、前処理部100は、水分等、分析において不要な成分を分離除去する。試料が気体である場合、前処理部100はたとえば試料において水分等、分析において不要な成分を分離除去する。こうして前処理部100で生成された対象ガスは測定部110に導入される。ただし、試料をそのまま対象ガスとできる場合、分析装置10は前処理部100を備えず、試料である対象ガスが測定部110に直接導入されても良い。
試料は、分析の対象とする対象試料の他、含有元素やその同位体比が既知である標準試料であり得る。対象元素は特に限定されないが、たとえばC、N、S、O、およびHのうちいずれかであり得る。
測定部110では、対象ガスにおける対象元素の濃度が測定される。測定部110の構成は特に限定されないが、測定部110はたとえば、電子捕捉型検出器等の元素検出器を含む。この元素検出器は、ガスクロマトグラフの元素検出器であり得る。また、測定部110は、検出器からの信号を処理する計算機をさらに含んでも良い。測定部110が行う測定は非同位体測定であってよい。すなわち、測定部110は同位体同士を区別して測定する必要はない。測定部110は、対象元素を含む分子の濃度または物質量を測定し、その結果を用いて対象元素の濃度または物質量を算出しても良い。たとえば、対象元素がNであり、対象ガスがNOである場合、測定部110は対象ガスにおけるNOの濃度を測定し、測定された濃度に2を乗じた値を対象元素の濃度として算出できる。または、測定部110は対象ガスにおけるNOの物質量を測定し、測定された物質量に2を乗じた値を対象元素の物質量として算出できる。
図2は、測定部110で得られる検出結果を例示するグラフである。測定部110はたとえば以下のようにして対象ガスにおける対象元素の物質量を特定する。本例において、元素検出器からは所定の周期Tごとに検出値Sが出力される。周期Tは特に限定されないが、たとえば0.05秒以上1秒以下である。検出値Sは、元素検出器で検出された対象元素の検出数を示す。測定部110において、時刻tから時刻tまでの間、対象元素を含む対象ガスが測定部110を通過し、対象元素が検出されるとする。ここで測定部110は、検出値Sを時刻tから時刻tで積分することにより、積分値Iを得る。測定部110は、分析の対象とする対象ガスについてこのように得られた積分値Iと、標準試料を予め同様に測定することにより得られた積分値Iとを比較する。そうすることにより、測定部110は、分析の対象とする対象ガスにおける対象元素の物質量を特定する。なお、標準試料による対象ガスについて、対象元素の物質量は既知であるとする。
測定部110は、対象ガスにおける対象元素の物質量を、対象ガスの体積で除することで、対象ガスにおける対象元素の濃度を算出しても良い。測定部110が算出する濃度は、たとえば時刻tから時刻tまでの平均濃度であっても良い。
または測定部110は、積分値を用いる方法の代わりに、検出値Sの最大値Smaxを用いて分析の対象とする対象ガスにおける対象元素の物質量を特定してもよい。すなわち、測定部110は、時刻tから時刻tまでの検出値Sの最大値Smaxを特定する。測定部110は、分析の対象とする対象ガスについてこのように得られた最大値Smax1と、標準試料を予め同様に測定することにより得られた最大値Smax0とを比較する。そうすることにより、測定部110は、分析の対象とする対象ガスにおける対象元素の物質量nを特定する。
なお、測定部110の構成や機能、処理は対象ガスにおける対象元素の濃度または物質量が測定できる限り特に限定されない。たとえば測定部110は同位体分析を行っても良い。その場合、測定部110は同位体分析部170を兼ねても良い。
測定部110で測定された濃度または物質量は、流量算出部130に送られる。一方、取得部190は所定の値αを示す情報を取得し、流量算出部130へ送る。流量算出部130は、測定部110から取得した対象元素の濃度または物質量と取得部190から取得した所定の値αを示す情報とを用いて希釈ガスの流量を算出する。
取得部190はたとえばユーザに入力された所定の値αを示す情報を取得することができる。具体的には、分析装置10のユーザは分析装置10に対して、同位体分析部170に導入すべき対象元素の量(物質量)を入力する。たとえば分析装置10において、同位体分析部170に導入する対象元素の量の推奨値が定められており、ユーザはその推奨値を分析装置10に入力する。取得部190はその入力された値を所定の値αとして受け付ける。
また、取得部190は、予め記憶部180に保持された所定の値αを示す情報を読み出して取得しても良い。記憶部180は分析装置10に備えられていても良いし、記憶部180の外部に設けられていても良い。
その他の例として、所定の値αは、元素ごとに定められていても良い。その場合、取得部190は、所定の値αと元素とを対応付けた第1参照情報と、対象元素を示す情報とを取得する。そして取得部190は、第1参照情報と、対象元素を示す情報とを用いて、所定の値αを特定する。第1参照情報は記憶部180に予め保持されており、取得部190は記憶部180から第1参照情報を読み出して取得できる。また、取得部190は、ユーザに入力された対象元素を示す情報を取得することができる。具体的には、分析装置10のユーザは分析装置10に対して対象元素を入力する操作を行う。たとえば分析装置10のディスプレイに対象元素の候補となる複数の元素が選択肢として表示され、ユーザがそれらの元素から対象元素を選択する操作を行う。取得部190はその選択された元素を対象元素として受け付ける。取得部190は、第1参照情報において、対象元素に対応する所定の値αを特定する。
また、対象ガスが、試料に含まれる対象物質を用いて(たとえば燃焼させて)発生される場合、取得部190は、所定の値αと対象物質とを対応付けた第2参照情報と、対象物質を示す情報とを取得する。そして取得部190は、第2参照情報と、対象物質を示す情報とを用いて、所定の値αを特定する。第2参照情報は記憶部180に予め保持されており、取得部190は記憶部180から第2参照情報を読み出して取得できる。また、取得部190は、ユーザに入力された対象物質を示す情報を取得することができる。具体的には、分析装置10のユーザは分析装置10に対して対象物質を示す情報を入力する操作を行う。対象物質を示す情報はたとえば分子名や分子の化学式であり得る。たとえば分析装置10のディスプレイに対象物質の候補となる複数の物質が選択肢として表示され、ユーザがそれらの物質から対象物質を選択する操作を行う。取得部190はその選択された物質を対象物質として受け付ける。取得部190は、第2参照情報において、対象物質に対応する所定の値αを特定する。
流量算出部130は、たとえば同位体分析部170への対象元素の導入量(物質量)が所定の値αとなるよう、希釈ガスの流量を算出する。所定の値αは物質量を示す値である。流量算出部130は、分析の対象とする対象ガスにおける、対象元素の物質量を、所定の値αで除する事により、希釈倍率βを算出する。また、測定部110が対象ガスにおける対象元素の濃度を算出する場合、流量算出部130は、その濃度に希釈部150に導入する対象ガスの体積を乗ずることにより、対象ガスにおける対象元素の物質量を算出した上で、同様に希釈倍率βを算出できる。
図3は、希釈部150の構成を例示する図である。本図の例において希釈部150はフローコントローラ151およびオーブンスプリット152を備える。オーブンスプリット152には、測定部110から出力された対象ガスと、希釈ガスとが導入される。そしてオーブンスプリット152からは希釈ガスによって希釈された対象ガスが出力される。オーブンスプリット152から出力された対象ガスは同位体分析部170に導入される。希釈ガスは特に限定されないが、たとえばHeである。希釈された対象ガスのうち、一部のみが同位体分析部170に導入され、残りはオーブンスプリット152にて排出される。すなわち、本図の例では、希釈部150に導入された対象元素のうち、一部のみが同位体分析部170へ導入される。
希釈部150に導入される対象ガスの流量をQとしたとき、流量算出部130は、Q=(β-1)×Qの関係を用いて希釈ガスの流量Qを算出する。
希釈部150に導入される対象ガスの流量をQは、予め定められた固定値であっても良いし、流量計153により測定される流量を流量算出部130が取得して用いても良い。後者の場合、流量計153は、希釈部150に導入される対象ガスの流量を測定するように設けられている。ただし、対象ガスの流量Qは各測定において一定であることが好ましい。
流量算出部130で算出された希釈ガスの流量を示す情報は、フローコントローラ151に入力される。フローコントローラ151は、流量算出部130から取得したこの情報に示された流量で、希釈ガスをオーブンスプリット152に導入するよう、希釈ガスの流量を制御する。希釈ガスは少なくとも、対象元素を含む対象ガス(たとえば図2の例において時刻tから時刻tまでの間に測定されたガス)がオーブンスプリット152に流入している間、流量Qでオーブンスプリット152に導入される。
対象元素を含む対象ガスが測定部110で測定されてから、希釈部150に到達するまでの間で、流量算出部130は流量Qを算出することができる。対象元素を含む対象ガスが測定部110で測定されてから、希釈部150に到達するまでの時間は、測定部110と希釈部150との間に分離カラムを追加すること等により、必要に応じて調整する事ができる。
以上では、測定部110で測定された対象ガスそのものが同位体分析部170で同位体分析される例について説明したが、他の例として、同じ組成の対象ガスを複数回発生させる等して、複数回測定部110に導入してもよい。たとえば、測定部110に導入された第1の対象ガスに対し、測定部110において濃度または物質量の測定が行われる。測定された濃度または物質量を用いて、流量算出部130が希釈ガスの流量Qを算出する。そして、第1の対象ガスとは別途測定部110に導入した第2の対象ガスに対し、算出された流量Qにて希釈が行われ、同位体分析部170での分析が行われる。このようにすれば、希釈ガスの流量Qを算出するための時間を長く確保することができる。なお、第1の対象ガスと第2の対象ガスとにおいて、対象元素の濃度または物質量は同じであることが好ましい。ただし、第1の対象ガスと第2の対象ガスとの対象元素の濃度比または物質量比が既知であれば、第1の対象ガスと第2の対象ガスとにおいて、対象元素の濃度または物質量は同じでなくともよい。その場合、流量算出部130はその濃度比または物質量比を用いて希釈ガスの流量Qを算出する。
オーブンスプリット152からは希釈された対象ガスが出力され、同位体分析部170へ導入される。同位体分析部170で行われる分析方法は特に限定されないが、同位体分析部170はたとえば磁場を用いて同位体比を特定する。同位体分析部170はIRMSであり得る。詳しくは、同位体分析部170は、同位体分析部170に導入されたガス中の原子または分子をイオン化する。そして、発生したイオン粒子を加速した上でイオン粒子に磁場を印加して、質量ごとの分離を行う。同位体分析部170には、イオン粒子を質量ごとに検出する複数の検出器が設けられている。同位体は互いに質量が異なるので、各検出器の出力に基づいて同位体比を得ることができる。このような磁場を用いた分析法では、複数の検出器における特性の違いやイオン化の程度の違いの影響で、測定される同位体比が導入量に依存しやすい。したがって、本実施形態に係る分析装置10により希釈ガスの流量を制御して、対象ガスを希釈することが特に有効である。
流量算出部130および取得部190のハードウエア構成について以下に説明する。流量算出部130および取得部190は、流量算出部130および取得部190それぞれを実現するハードウエア(例:ハードワイヤードされた電子回路など)で実現されてもよいし、ハードウエアとソフトウエアとの組み合わせ(例:電子回路とそれを制御するプログラムの組み合わせなど)で実現されてもよい。以下、流量算出部130および取得部190のそれぞれがハードウエアとソフトウエアとの組み合わせで実現される場合について、さらに説明する。
図4は、流量算出部130および取得部190を実現するための計算機1000を例示する図である。計算機1000は任意の計算機である。例えば計算機1000は、SoC(System On Chip)、Personal Computer(PC)、サーバマシン、タブレット端末、又はスマートフォンなどである。計算機1000は、流量算出部130および取得部190を実現するために設計された専用の計算機であってもよいし、汎用の計算機であってもよい。
計算機1000は、バス1020、プロセッサ1040、メモリ1060、ストレージデバイス1080、入出力インタフェース1100、及びネットワークインタフェース1120を有する。バス1020は、プロセッサ1040、メモリ1060、ストレージデバイス1080、入出力インタフェース1100、及びネットワークインタフェース1120が、相互にデータを送受信するためのデータ伝送路である。ただし、プロセッサ1040などを互いに接続する方法は、バス接続に限定されない。プロセッサ1040は、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、又は FPGA(Field-Programmable Gate Array)などの種々のプロセッサである。メモリ1060は、RAM(Random Access Memory)などを用いて実現される主記憶装置である。ストレージデバイス1080は、ハードディスク、SSD(Solid State Drive)、メモリカード、又は ROM(Read Only Memory)などを用いて実現される補助記憶装置である。
入出力インタフェース1100は、計算機1000と入出力デバイスとを接続するためのインタフェースである。例えば入出力インタフェース1100には、キーボードなどの入力装置や、ディスプレイなどの出力装置が接続される。
ネットワークインタフェース1120は、計算機1000をネットワークに接続するためのインタフェースである。この通信網は、例えば LAN(Local Area Network)や WAN(Wide Area Network)である。ネットワークインタフェース1120がネットワークに接続する方法は、無線接続であってもよいし、有線接続であってもよい。
ストレージデバイス1080は、流量算出部130および取得部190のそれぞれを実現するプログラムモジュールを記憶している。プロセッサ1040は、これら各プログラムモジュールをメモリ1060に読み出して実行することで、各プログラムモジュールに対応する機能を実現する。
また、記憶部180が分析装置10の内部に設けられる場合、例えば記憶部180は、ストレージデバイス1080を用いて実現される。
同位体分析部170に計算機が含まれる場合、その計算機のハードウエア構成は、流量算出部130および取得部190と同様に、例えば図4によって表される。ただし、同位体分析部170に含まれる計算機1000のストレージデバイス1080には、同位体分析部170の機能を実現するためのプログラムモジュールがさらに記憶される。また、測定部110に計算機が含まれる場合、その計算機のハードウエア構成は、流量算出部130および取得部190と同様に、例えば図4によって表される。ただし、測定部110に含まれる計算機1000のストレージデバイス1080には、測定部110の機能を実現するためのプログラムモジュールがさらに記憶される。流量算出部130および取得部190を実現する計算機1000は、同位体分析部170に含まれる計算機および測定部110に含まれる計算機の少なくとも一方を兼ねても良い。
図5は、本実施形態に係る分析方法の流れを例示するフローチャートである。本実施形態に係る分析方法は、測定工程S10、流量算出工程S20、希釈工程S30、および同位体分析工程S40を含む。測定工程S10では、対象ガスにおける対象元素の濃度または物質量が測定される。流量算出工程S20では、測定された対象元素の濃度または物質量を用いて希釈ガスの流量が算出される。希釈工程S30では、流量算出工程S20で算出された流量に従って希釈ガスの流量を制御することにより、対象ガスが希釈される。同位体分析工程S40では、希釈された対象ガスにおける対象元素の同位体分析が行われる。
本実施形態に係る分析方法では、対象試料の安定同位体比と標準試料の安定同位体比とがそれぞれ測定されてもよい。その場合、両試料について得られた安定同位体比の比較が同位体分析部170において行われ、対象試料の安定同位体比が補正される。そして、補正後の安定同位体比が最終的な対象試料の測定結果として出力される。なお、対象試料と標準試料の安定同位体比の測定では、所定の値αは同じとする。
次に、本実施形態の作用および効果について説明する。本実施形態によれば、流量算出部130は、測定された対象元素の濃度または物質量を用いて希釈ガスの流量を算出する。希釈部150は、流量算出部130が算出した流量に従って希釈ガスの流量を制御することにより、対象ガスを希釈する。そして、同位体分析部170には、希釈された対象ガスが導入される。したがって、試料の導入量によらず、安定した分析結果を得ることができる。
(第2の実施形態)
図6は第2の実施形態に係る分析装置10の機能構成を例示するブロック図である。本図において、ガスの流れを破線矢印で示している。本実施形態に係る分析装置10は、以下に説明する点を除いて第1の実施形態に係る分析装置10と同じである。
本実施形態に係る分析装置10では、測定部110の手前でガス流路がスプリッター等により分岐している。対象ガスは所定の割合で分離され、一部が測定部110へ導入され、残りの一部が希釈部150に導入される。本図の例において、対象ガスは前処理部100と測定部110の間で分離される。測定部110へ導入される対象ガスにおける対象元素の濃度と、希釈部150に導入される対象ガスの濃度とは同じである。本実施形態において測定部110の出力と希釈部150の入力は接続されていない。
測定部110では、第1の実施形態で説明したのと同様に対象元素の濃度または物質量が測定される。流量算出部130は、測定部110で測定された濃度または物質量を用いて希釈ガスの流量を算出する。流量算出部130が測定部110から濃度を取得する場合、流量算出部130はその濃度を用いて第1の実施形態で説明したのと同様に、希釈ガスの流量を算出できる。流量算出部130が測定部110から物質量を取得する場合、流量算出部130は、分岐における分離比率、すなわち測定部110へ導入される対象ガスの体積と、希釈部150に導入される対象ガスの体積との比をさらに用いて、希釈部150に導入される対象ガスにおける物質量を特定し、希釈ガスの流量を算出できる。
なお、本実施形態においても。流量算出部130における算出処理の時間を確保するよう、対象ガスが希釈部150に到達するまでの時間は、分離カラムを追加すること等により必要に応じて調整する事ができる。また、本実施形態においても、複数回対象ガスを発生させてもよい。すなわち、まずは第1の対象ガスを全て測定部110へ導き測定を行う。その測定結果を用いて測定された濃度または物質量を用いて、流量算出部130が希釈ガスの流量Qを算出する。そして、第1の対象ガスとは別途前処理部100から出力された第2の対象ガスを、分岐を切り替えることにより、すべて希釈部150へ導入する。希釈部150では算出された流量Qにて希釈が行われ、同位体分析部170での分析が行われる。このようにすれば、希釈ガスの流量Qを算出するための時間を長く確保することができる。なお、第1の対象ガスと第2の対象ガスとにおいて、対象元素の濃度または物質量は同じであることが好ましい。ただし、第1の対象ガスと第2の対象ガスとの対象元素の濃度比または物質量比が既知であれば、第1の対象ガスと第2の対象ガスとにおいて、対象元素の濃度または物質量は同じでなくともよい。その場合、流量算出部130はその濃度比または物質量比を用いて希釈ガスの流量Qを算出する。
本実施形態によれば、第1の実施形態と同様の作用、効果を得られる。
以下、本実施形態を、実施例を参照して詳細に説明する。なお、本実施形態は、これらの実施例の記載に何ら限定されるものではない。
(実施例)
図7は、実施例に係る分析結果を示すグラフである。本実施例では、実施形態に係る分析方法で分析を行った。実施例では、試料としてNOガスを用いた。本グラフは、オープンスプリットに導入する前のNOガスにおけるNOの含有量(横軸)と、分析装置で測定されたNO-δ15N値(縦軸)との関係を示している。
本実施例では、オープンスプリットに導入する前のNOガスにおけるNOの含有量を0.206μmolから2.163μmolまでの範囲で変化させ、各含有量について測定を行った。本実施例では前処理として、濃縮およびCOとの分離を行った。前処理後のガスを、オープンスプリットを介して同位体分析部に導入した。オープンスプリット中には、マスフローコントローラに接続されたキャピラリを挿入し、NOガスにおけるNOの濃度に基づき流量がコントロールされた希釈ガスを導入した。そうすることで、全ての測定において同位体分析部に導入されるNOの量は同じとした。希釈倍率は3.5~16倍であった。
本図に示す結果から分かるように、オープンスプリットに導入されるNOの量が変化した場合でも、NO-δ15N値の変動が小さかった。したがって、得られたNO安定同位体比は、分析装置に導入されるNOの量に関わらずほぼ一定となった。
(比較例)
図8は、比較例に係る分析結果を示すグラフである。比較例では、希釈を行わなかった。比較例でも、試料としてNOガスを用いた。本グラフは、オープンスプリットに導入する前のNOガスにおけるNOの含有量(横軸)と、分析装置で測定されたNO-δ15N値(縦軸)との関係を示している。
本比較例では、オープンスプリットに導入した試料におけるNOの含有量を0.022μmolから0.893μmolまでの範囲で変化させ、各含有量について測定を行った。前処理として、濃縮およびCOとの分離を行った。前処理後のガスを、オープンスプリットを介して同位体分析部に導入した。オープンスプリット中には、希釈ガスを導入しなかった。すなわち、オープンスプリットに導入した試料におけるNOの含有量と、同位体分析部に導入されるNOの量はほぼ同じであった。
本図に示す結果から分かるように、オープンスプリットに導入されるNOの量が変化すると、NO-δ15N値が大きく変動した。
以上より、実施形態に係る分析方法によって、試料の導入量によらず、安定した分析結果を得ることができることが示された。
以上、図面を参照して本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。
10 分析装置
100 前処理部
110 測定部
130 流量算出部
150 希釈部
151 フローコントローラ
152 オーブンスプリット
153 流量計
170 同位体分析部
180 記憶部
190 取得部
1000 計算機
1020 バス
1040 プロセッサ
1060 メモリ
1080 ストレージデバイス
1100 入出力インタフェース
1120 ネットワークインタフェース

Claims (7)

  1. 対象ガスにおける対象元素の濃度または物質量を測定する測定部と、
    測定された前記対象元素の濃度または物質量を用いて希釈ガスの流量を算出する流量算出部と、
    前記流量算出部が算出した流量に従って前記希釈ガスの流量を制御することにより、前記対象ガスを希釈する希釈部と、
    希釈された前記対象ガスが導入され、前記対象ガスにおける前記対象元素の同位体分析を行う同位体分析部とを備える
    分析装置。
  2. 請求項1に記載の分析装置において、
    前記流量算出部は、前記同位体分析部への前記対象元素の導入量が所定の値となるよう、前記希釈ガスの流量を算出する
    分析装置。
  3. 請求項2に記載の分析装置において、
    前記所定の値を示す情報を取得する取得部をさらに備える
    分析装置。
  4. 請求項3に記載の分析装置において、
    前記取得部は、
    前記所定の値と元素とを対応付けた第1参照情報と、前記対象元素を示す情報とを取得し、
    前記第1参照情報と、前記対象元素を示す情報とを用いて、前記所定の値を特定する
    分析装置。
  5. 請求項3に記載の分析装置において、
    前記対象ガスは、対象物質を用いて発生され、
    前記取得部は、
    前記所定の値と前記対象物質とを対応付けた第2参照情報と、前記対象物質を示す情報とを取得し、
    前記第2参照情報と、前記対象物質を示す情報とを用いて、前記所定の値を特定する
    分析装置。
  6. 請求項1から5のいずれか一項に記載の分析装置において、
    前記同位体分析部は磁場を用いて同位体比を特定する
    分析装置。
  7. 対象ガスにおける対象元素の濃度または物質量を測定する測定工程と、
    測定された前記対象元素の濃度または物質量を用いて希釈ガスの流量を算出する流量算出工程と、
    前記流量算出工程で算出された流量に従って前記希釈ガスの流量を制御することにより、前記対象ガスを希釈する希釈工程と、
    希釈された前記対象ガスにおける前記対象元素の同位体分析を行う同位体分析工程とを含む
    分析方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009531677A (ja) 2006-03-31 2009-09-03 サーモ・フィッシャー・サイエンティフィク・(ブレーメン)・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング 同位体比の分析方法および装置
JP2016212101A (ja) 2015-04-30 2016-12-15 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー 同位体比測定のための流れ低減システム
JP2016540200A (ja) 2013-11-08 2016-12-22 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー 同位体比分析計用のガス吸気システム
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6082226B2 (ja) * 2012-10-23 2017-02-15 冬樹 門叶 炭素14測定用試料作製システム

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009531677A (ja) 2006-03-31 2009-09-03 サーモ・フィッシャー・サイエンティフィク・(ブレーメン)・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング 同位体比の分析方法および装置
JP2016540200A (ja) 2013-11-08 2016-12-22 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー 同位体比分析計用のガス吸気システム
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