JP7542544B2 - ディスプレイ用発光素子およびそれを有するディスプレイ装置 - Google Patents

ディスプレイ用発光素子およびそれを有するディスプレイ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7542544B2
JP7542544B2 JP2021545853A JP2021545853A JP7542544B2 JP 7542544 B2 JP7542544 B2 JP 7542544B2 JP 2021545853 A JP2021545853 A JP 2021545853A JP 2021545853 A JP2021545853 A JP 2021545853A JP 7542544 B2 JP7542544 B2 JP 7542544B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
led stack
led
transparent electrode
type semiconductor
semiconductor layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021545853A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2022519656A (ja
Inventor
ジュン イ,ソム
ソブ シン,チャン
ジュン イ,ホ
ギュ ジャン,ソン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seoul Viosys Co Ltd
Original Assignee
Seoul Viosys Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seoul Viosys Co Ltd filed Critical Seoul Viosys Co Ltd
Publication of JP2022519656A publication Critical patent/JP2022519656A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7542544B2 publication Critical patent/JP7542544B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0756Stacked arrangements of devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/10Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
    • H01L25/13Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/0004Devices characterised by their operation
    • H01L33/0008Devices characterised by their operation having p-n or hi-lo junctions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/08Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a plurality of light emitting regions, e.g. laterally discontinuous light emitting layer or photoluminescent region integrated within the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • H01L33/382Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape the electrode extending partially in or entirely through the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/40Materials therefor
    • H01L33/42Transparent materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Description

本開示は、ディスプレイ用発光素子およびディスプレイ装置に関するものであり、特に、複数のLEDの積層構造を有するディスプレイ用発光素子およびそれを有するディスプレイ装置に関する。
発光ダイオードは、無機光源であり、ディスプレイ装置、車両用ランプ、一般照明のような様々な分野に多様に用いられている。発光ダイオードは、寿命が長く、且つ消費電力が低く、応答速度が速いという長所があるため、既存の光源を速い速度で置き換えている。
一方、従来の発光ダイオードは、ディスプレイ装置においてバックライト光源として主に使用されてきた。しかし、近年、発光ダイオードを用いて直接イメージを具現するLEDディスプレイが開発されている。
ディスプレイ装置は、一般的に、青色、緑色および赤色の混合色を用いて多様な色を具現する。ディスプレイ装置は、多様なイメージを具現するために複数のピクセルを含み、各ピクセルは、青色、緑色および赤色のサブピクセルを備え、これらサブピクセルの色を通じて特定ピクセルの色が決められ、これらピクセルの組合せによってイメージが具現される。
LEDは、その材料によって多様な色の光を放出することができ、青色、緑色および赤色を放出する個別LEDチップを二次元平面上に配列してディスプレイ装置を提供できる。しかし、各サブピクセルに一つのLEDチップを配列する場合、LEDチップの個数が多くなるため実装工程に多くの時間がかかる。
また、サブピクセルを二次元平面上に配列するため、青色、緑色および赤色サブピクセルを含む一つのピクセルが占有する面積が相対的に広くなる。よって、制限された面積内にサブピクセルを配列するためには、各LEDチップの面積を減らす必要がある。しかし、LEDチップの大きさを減少させることは、LEDチップの実装を困難にする可能性があり、さらに、発光面積の減少を招く。
本開示が解決しようとする課題は、制限されたピクセル面積内で各サブピクセルの面積を増やせるディスプレイ用発光素子およびディスプレイ装置を提供することである。
本開示が解決しようとするまた別の課題は、実装工程時間を短縮できるディスプレイ用発光素子およびディスプレイ装置を提供することである。
本開示が解決しようとするまた別の課題は、工程歩留まりを増大させることのできるディスプレイ用発光素子およびディスプレイ装置を提供することである。
本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子は、第1のLED積層と、前記第1のLED積層の下に位置する第2のLED積層と、前記第2のLED積層の下に位置する第3のLED積層と、前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第1のLED積層の下面にオーミック接触する第1の透明電極と、前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第2のLED積層の上面にオーミック接触する第2の透明電極と、前記第2のLED積層と前記第3のLED積層との間に介在し、前記第3のLED積層の上面にオーミック接触する第3の透明電極と、前記第3のLED積層の第1の導電型半導体層上に配置されたn電極パッドと、前記第3の透明電極上に配置された下部p電極パッドと、前記第1のLED積層上に配置されたバンプパッドと、を含み、前記第1~第3のLED積層は、それぞれ第1の導電型半導体層、活性層および第2の導電型半導体層を含み、前記バンプパッドは第1~第3のバンプパッドと共通バンプパッドを含み、前記共通バンプパッドは、前記第1~第3のLED積層に共通して電気的に接続され、前記第1~第3のバンプパッドは、それぞれ前記第1~第3のLED積層に電気的に接続され、前記n電極パッドの上面は前記下部p電極パッドの上面と同じ高さに位置する。
本開示のまた別の実施例にかかるディスプレイ用発光素子は、第1のLED積層と、前記第1のLED積層の下に位置する第2のLED積層と、前記第2のLED積層の下に位置する第3のLED積層と、前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第1のLED積層の下面にオーミック接触する第1の透明電極と、前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第2のLED積層の上面にオーミック接触する第2の透明電極と、前記第2のLED積層と前記第3のLED積層との間に介在し、前記第3のLED積層の上面にオーミック接触する第3の透明電極と、前記第1のLED積層上に配置されたバンプパッドと、を含み、前記第1~第3のLED積層は、それぞれ第1の導電型半導体層、活性層および第2の導電型半導体層を含み、前記第1~第3透明電極の少なくとも一つの透明電極は、前記第1~第3のLED積層の第2の導電型半導体層の縁からリセスされる。
本開示の一実施例にかかるディスプレイ装置は、回路基板と、前記回路基板上に整列された複数の発光素子と、を含み、前記発光素子はそれぞれ上で説明した発光素子であり、前記バンプパッドは前記回路基板に電気的に接続される。
本開示の実施例にかかるディスプレイ装置を説明するための概略的な斜視図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイパネルを説明するための概略的な平面図である。 本開示の一実施例にかかる発光素子を説明するための概略的な平面図である。 図3aの切り取り線A-A’に沿って切り取った概略的な断面図である。 図3aの切り取り線B-B’に沿って切り取った概略的な断面図である。 図3aの切り取り線C-C’に沿って切り取った概略的な断面図である。 本開示の一実施例に従って成長基板上に成長した第1のLED積層を説明するための概略的な断面図である。 本開示の一実施例に従って成長基板上に成長した第2のLED積層を説明するための概略的な断面図である。 本開示の一実施例に従って成長基板上に成長した第3のLED積層を説明するための概略的な断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。 回路基板上に実装された発光素子を説明するための概略的な断面図である。 発光素子を回路基板に転写する方法を説明するための概略的な断面図である。 発光素子を回路基板に転写する方法を説明するための概略的な断面図である。 発光素子を回路基板に転写する方法を説明するための概略的な断面図である。
以下、添付の図面を参照して本開示の実施例を詳しく説明する。次に紹介する実施例は、本開示の属する技術分野の通常の技術者に本開示の思想が十分に伝わるようにするために例として提供するものである。よって、本開示は以下で説明する実施例に限定されるのではなく、他の形態に具現化することもできる。そして、図面において、構成要素の幅、長さ、厚さ等は便宜のために誇張して表現する場合もある。また、一つの構成要素が他の構成要素の「上部に」又は「上に」あると記載されている場合は、各部分が他の部分の「真上部」又は「真上に」ある場合だけでなく、各構成要素と他の構成要素との間にまた別の構成要素が介在する場合も含む。明細書全体に亘って、同じ参照番号は同じ構成要素を表す。
本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子は、第1のLED積層と、前記第1のLED積層の下に位置する第2のLED積層と、前記第2のLED積層の下に位置する第3のLED積層と、前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第1のLED積層の下面にオーミック接触する第1の透明電極と、前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第2のLED積層の上面にオーミック接触する第2の透明電極と、前記第2のLED積層と前記第3のLED積層との間に介在し、前記第3のLED積層の上面にオーミック接触する第3の透明電極と、前記第3のLED積層の第1の導電型半導体層上に配置されたn電極パッドと、前記第3の透明電極上に配置された下部p電極パッドと、前記第1のLED積層上に配置されたバンプパッドと、を含み、前記第1~第3のLED積層は、それぞれ第1の導電型半導体層、活性層および第2の導電型半導体層を含み、前記バンプパッドは第1~第3のバンプパッドと共通バンプパッドを含み、前記共通バンプパッドは、前記第1~第3のLED積層に共通して電気的に接続され、前記第1~第3のバンプパッドは、それぞれ前記第1~第3のLED積層に電気的に接続され、前記n電極パッドの上面は前記下部p電極パッドの上面と同じ高さに位置する。
本明細書では、説明の便宜のために第1のLED積層の下に第2のLED積層が配置され、第2のLED積層の下に第3のLED積層が配置されている例を説明しているが、発光素子はフリップボンディングすることができ、よって、これら第1~第3のLED積層の上下位置が逆になり得るということに留意する必要がある。
第1~第3のLED積層を相互に積層することにより、ピクセル面積を増やさないと共に、各サブピクセルの発光面積を増やすことができる。
さらに、前記n電極パッドの上面と下部p電極パッドの上面とを同じ高さに位置させることにより、これらのいずれか一つのパッドが損傷することを防ぐことができる。
一実施例において、前記第1のLED積層は前記第2のLED積層よりも長波長の光を放出し、前記第2のLED積層は前記第3のLED積層よりも長波長の光を放出することができる。例えば、前記第1、第2及び第3のLED積層は、それぞれ赤色光、緑色光および青色光を発することができる。他の実施例において、前記第1のLED積層は前記第3のLED積層よりも長波長の光を放出し、前記第2のLED積層は前記第3のLED積層よりも短波長の光を放出することができる。例えば、前記第1、第2及び第3のLED積層は、それぞれ赤色光、青色光および緑色光を発することができる。
一方、前記第1~第3のLED積層は、独立して駆動することができ、前記第1のLED積層で生成された光は、前記第2のLED積層および前記第3のLED積層を透過して外部に放出され、前記第2のLED積層で生成された光は、前記第3のLED積層を透過して外部に放出することができる。
一実施例において、前記第1~第3の透明電極のいずれかは、他の透明電極と他の材料で形成することができる。例えば、前記第1の透明電極はITO(indium-tin-oxide)で形成され、前記第2および第3の透明電極はZnOで形成することができる。
一方、前記第1~第3の透明電極は、それぞれ第2の導電型半導体層に接触することができ、前記第2および第3の透明電極は、それぞれ第2のLED積層の第2の導電型半導体層および第3のLED積層の第2の導電型半導体層よりも狭い面積を有するようにリセスすることができる。
第2および第3の透明電極をリセスさせることにより、製造工程の間、エッチングガスによって損傷することを防ぐことができる。
さらに、前記共通バンプパッドは、前記第1~第3のLED積層の第1の導電型半導体層に共通して電気的に接続することができ、前記第1~第3のバンプパッドは、それぞれ第1~第3のLED積層の第2の導電型半導体層に電気的に接続できる。しかし、本開示がこれに限定されるのではなく、前記共通バンプパッドが第1~第3のLED積層の第2の導電型半導体層に共通して電気的に接続され、前記第1~第3のバンプパッドがそれぞれ第1~第3のLED積層の第1の導電型半導体層に電気的に接続することもできる。
一方、前記発光素子は、前記第1~第3のLED積層の側面を覆う絶縁層をさらに含むことができ、前記第1~第3のLED積層の側面および第1の透明電極の側面は前記絶縁層に接し、前記第2および第3の透明電極の側面は前記絶縁層から離隔され得る。
前記発光素子の側面は、第3のLED積層の上面に対して75度~90度の範囲で傾斜させることができる。前記発光素子の側面の傾斜角を75度以上にすることにより、第1のLED積層の発光面積を確保することができる。
前記発光素子はまた、前記第2のLED積層と第3のLED積層間に介在した第1のボンディング層と、前記第1のLED積層と第2のLED積層間に介在した第2のボンディング層と、をさらに含むことができる。
これに加え、前記発光素子は、前記第2のLED積層および第1のボンディング層を貫通して、前記n電極パッド及び下部p電極パッドをそれぞれ露出させる下部貫通ホールと、前記n電極パッドに接続された下部共通コネクタと、前記下部p電極パッドに接続された下部pコネクタと、をさらに含むことができ、前記下部共通コネクタは前記LED積層の第1の導電型半導体層に電気的に接続すると共に、前記下部貫通ホールを通じて露出した前記n電極パッドに接続し、前記下部pコネクタは前記下部貫通ホールを通じて露出された下部p電極パッドに電気的に接続することができる。
また、前記発光素子は、前記第2の透明電極上に配置されて前記第2のLED積層の第2の導電型半導体層に電気的に接続する上部p電極パッドをさらに含むことができる。
さらに、前記発光素子は、前記第1のLED積層を貫通して第1の透明電極を露出させる貫通ホールと、前記第1のLED積層、前記第1の透明電極および前記第2のボンディング層を貫通してそれぞれ前記上部p電極パッド、前記下部pコネクタ、及び下部共通コネクタを露出させる貫通ホールと、及び前記第1のLED積層上に配置され、前記第1のLED積層を貫通する貫通ホールを通じて前記第1の透明電極、前記上部p電極パッド、前記下部pコネクタ、及び下部共通コネクタに電気的に接続する第1~第3の上部コネクタ及び上部共通コネクタと、をさらに含むことができ、前記バンプパッドはそれぞれ前記第1~第3の上部コネクタ及び上部共通コネクタ上に配置することができる。
一実施例において、前記バンプパッドはそれぞれ前記第1~第3の上部コネクタ及び上部共通コネクタの平坦な部分上に位置することができる。
また、前記発光素子は、前記第1~第3の上部コネクタ及び上部共通コネクタを覆う上部絶縁層をさらに含むことができ、前記上部絶縁層は、前記第1~第3の上部コネクタ及び上部共通コネクタを露出させる開口部を有することができ、前記バンプパッドはそれぞれ前記開口部内に配置することができる。
さらに、前記発光素子は、前記第1のLED積層と前記上部コネクタ間に配置された中間絶縁層をさらに含むことができ、前記中間絶縁層は、前記発光素子の側面および前記第1のLED積層を貫通する貫通ホールの側壁を覆い、前記第1の透明電極、前記上部p電極パッド、前記下部pコネクタ、及び下部共通コネクタを露出させる開口部を有することができる。
本開示において、前記第1~第3のLED積層は、成長基板から分離されたものでもよい。前記発光素子は、成長基板を保有しない。
本開示のまた別の実施例にかかる発光素子は、第1のLED積層と、前記第1のLED積層の下に位置する第2のLED積層と、前記第2のLED積層の下に位置する第3のLED積層と、前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第1のLED積層の下面にオーミック接触する第1の透明電極と、前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第2のLED積層の上面にオーミック接触する第2の透明電極と、前記第2のLED積層と前記第3のLED積層との間に介在し、前記第3のLED積層の上面にオーミック接触する第3の透明電極と、前記第1のLED積層上に配置されたバンプパッドと、を含み、前記第1~第3のLED積層は、それぞれ第1の導電型半導体層、活性層および第2の導電型半導体層を含み、前記第1~第3透明電極の少なくとも一つの透明電極は、前記第1~第3のLED積層の第2の導電型半導体層の縁からリセスされ得る。
さらに、前記発光素子は、前記第3のLED積層の第1の導電型半導体層上に配置されたn電極パッドと、前記第3の透明電極上に配置された下部p電極パッドと、をさらに含むことができ、前記n電極パッドの上面は前記下部p電極パッドの上面と同じ高さに位置し得る。
本開示の一実施例にかかるディスプレイ装置は、回路基板と、前記回路基板上に整列された複数の発光素子と、を含み、前記発光素子はそれぞれ上で説明した発光素子であり、前記バンプパッドは前記回路基板に電気的に接続される。
以下、図面を参照して本開示の実施例について具体的に説明する。
図1は、本開示の実施例にかかるディスプレイ装置を説明するための概略的な斜視図である。
本開示の発光素子は、特別限定されないが、特に、スマートウォッチ1000a、VRヘッドセット1000bのようなVRディスプレイ装置、又は拡張現実眼鏡1000cのようなARディスプレイ装置内に使用される。
ディスプレイ装置内には、イメージを具現するためのディスプレイパネルが実装される。図2は、本開示の一実施例にかかるディスプレイパネルを説明するための概略的な平面図である。
図2を参照すると、ディスプレイパネルは回路基板101及び発光素子100を含む。
回路基板101は、受動マトリックス駆動または能動マトリックス駆動のための回路を含み得る。一実施例において、回路基板101は内部に配線および抵抗を含むことができる。他の実施例において、回路基板101は配線、トランジスタ及びキャパシタを含むことができる。回路基板101はまた、内部に配置された回路に電気的接続を許容するためのパッドを上面に有し得る。
複数の発光素子100は、回路基板101上に整列される。それぞれの発光素子100は一つのピクセルを構成する。発光素子100は、バンプパッド73を有し、バンプパッド73が回路基板101に電気的に接続される。例えば、バンプパッド73は回路基板101上に露出されたパッドにボンディングされ得る。
発光素子100間の間隔は、少なくとも発光素子の幅よりも広くなり得る。
発光素子100の具体的な構成に対して、図3a、図3b、図3c及び図3dを参照して説明する。図3aは、本開示の一実施例にかかる発光素子100を説明するための概略的な平面図であり、図3b、図3c及び図3dは、それぞれ図3aの切り取り線A-A’、B-B’及びC-C’に沿って切り取った概略的な断面図である。説明の便宜のために、図3a、図3b、図3c及び図3dでバンプパッド73r,73b,73g,73cが上側に配置されたことを図示および説明するが、発光素子100は図2に示したように、回路基板101上にフリップボンディングされ、この場合、バンプパッド73r,73b,73g,73cが下側に配置される。
図3a、図3b、図3c及び図3dを参照すると、発光素子100は第1のLED積層23、第2のLED積層33、第3のLED積層43、第1の透明電極25、第2の透明電極35、第3の透明電極45、n電極パッド47a、下部p電極パッド47b、上部p電極パッド53g、下部pコネクタ53b、下部共通コネクタ53c、上部共通コネクタ63c、第1の上部コネクタ63r、第2の上部コネクタ63g、第3の上部コネクタ63b、第1のボンディング層49、第2のボンディング層59、下部絶縁層51、中間絶縁層61、上部絶縁層71及びバンプパッド73r,73b,73g,73cを含み得る。さらに、発光素子100は第1のLED積層23を貫通する貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4、第2のLED積層33を貫通する貫通ホール33h1,33h2を含み得る。
図3bに示したように、本開示の実施例は第1~第3のLED積層23,33,43が垂直方向に積層される。一方、各LED積層23,33,43は、互いに異なる成長基板上で成長したものだが、本開示の実施例において成長基板は最終発光素子100に残留せず全て除去される。よって、発光素子100は成長基板を含まない。しかし、本開示が必ずしもこれに限定されるのではなく、少なくとも一つの成長基板が含まれてもよい。
第1のLED積層23、第2のLED積層33及び第3のLED積層43は、それぞれ第1の導電型半導体層23a,33a,又は43a、第2の導電型半導体層23b,33b,又は43b及びこれらの間に介在した活性層(図示せず)を含む。活性層は、特に多重量子井戸構造を有し得る。
第1のLED積層23の下に第2のLED積層33が配置され、第2のLED積層33の下に第3のLED積層43が配置される。第1~第3のLED積層23,33,43で生成された光は、最終的に第3のLED積層43を通じて外部に放出される。
一実施例において、第1のLED積層23は第2および第3のLED積層33,43に比べて長波長の光を放出し、第2のLED積層33は第3のLED積層43に比べて長波長の光を放出し得る。例えば、第1のLED積層23は赤色光を発する無機発光ダイオードであり、第2のLED積層33は緑色光を発する無機発光ダイオードであり、第3のLED積層43は青色光を発する無機発光ダイオードであり得る。第1のLED積層23はAlGaInP系列の井戸層を含んでもよく、第2のLED積層33はAlGaInP系列またはAlGaInN系列の井戸層を含んでもよく、第3のLED積層43はAlGaInN系列の井戸層を含んでもよい。
第1のLED積層23は、第2および第3のLED積層33,43に比べて長波長の光を放出するため、第1のLED積層23で生成された光は、第2および第3のLED積層33,43を透過して外部に放出できる。また、第2のLED積層33は、第3のLED積層43に比べて長波長の光を放出するため、第2のLED積層33で生成された光は第3のLED積層43を透過して外部に放出できる。
別の実施例において、第1のLED積層23は第2および第3のLED積層33,43に比べて長波長の光を放出し、第2のLED積層33は第3のLED積層43に比べて短波長の光を放出できる。例えば、第1のLED積層23は赤色光を発する無機発光ダイオードで、第2のLED積層33は青色光を発する無機発光ダイオードで、第3のLED積層43は緑色光を発する無機発光ダイオードになり得る。第1のLED積層23はAlGaInP系列の井戸層を含んでもよく、第2のLED積層33はAlGaInN系列の井戸層を含んでもよく、第3のLED積層43はAlGaInP系列またはAlGaInN系列の井戸層を含んでもよい。
第2のLED積層33で生成された光の一部は、第3のLED積層43で吸収され得る。よって、第2のLED積層33から放出される光の光度を第1又は第3のLED積層23,43から放出される光の光度に比べて相対的に低くすることができる。これにより、第1~第3のLED積層23,33,43から放出される光の光度割合を制御することができる。
一方、各LED積層23,33又は43の第1の導電型半導体層23a,33a,43aはそれぞれn型半導体層であり、第2の導電型半導体層23b,33b,43bはp型半導体層である。また、本実施例において、第1のLED積層23の上面はn型半導体層23aであり、第2のLED積層33の上面はp型半導体層33bであり、第3のLED積層43の上面はp型半導体層43bである。つまり、第1のLED積層23だけ半導体層の順序が逆になっている。第2のLED積層33の半導体層を第3のLED積層43の半導体層と同じ順序で配置することにより、工程安定性を確保することができ、これについては製造方法を説明しながら下記で詳しく説明する。
第2のLED積層33は、第2の導電型半導体層33bが除去されて第1の導電型半導体層33aの上面を露出させるメサエッチング領域を含む。第3のLED積層43もまた、第2の導電型半導体層43bが除去されて第1の導電型半導体層43aの上面を露出させるメサエッチング領域を含む。これに対し、第1のLED積層23は、メサエッチング領域を含まない。貫通ホール33h1,33h2は、メサエッチング領域内に形成され得る。よって、貫通ホール33h1,33h2の側壁は段差のある構造を有し得る。これに対し、第1のLED積層23は、メサエッチング領域を含まないため、貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4は段差のある側壁を有さず、一定に傾斜した側壁を有し得る。
一方、第3のLED積層43は平坦な下部面を有し得るが、これに限定されない。例えば、第1の導電型半導体層43aの表面に凹凸を含むことができ、この凹凸によって光抽出効率を向上させることができる。第1の導電型半導体層43aの表面に形成された凹凸は、パターニングされたサファイア基板を分離することによって形成されたものでもよいが、必ずしもこれに限定されるのではなく、成長基板を分離した後にテクスチャリングを通じて追加形成されたものでもよい。第2のLED積層33もまた、表面がテクスチャリングされた第1の導電型半導体層33aを有し得る。
さらに、本実施例において、第1のLED積層23、第2のLED積層33及び第3のLED積層43は、互いに重なり合って、また、ほぼ同じ大きさの発光面積を有し得る。但し、貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4、及び貫通ホール33h1,33h2によって第1のLED積層23の発光面積が第2のLED積層33の発光面積よりも小さくてもよく、第2のLED積層33の発光面積が第3のLED積層43の発光面積よりも小さくてもよい。また、発光素子100の側面は、第1のLED積層23から第3のLED積層43に行くほど幅が広くなるように傾斜し得る。これによって、第3のLED積層43の発光面積が第1のLED積層23の発光面積よりもさらに大きくなり得る。第3のLED積層43の上面に対して発光素子100の側面が成す傾斜角は、約75度~90度になり得る。傾斜角が75度よりも小さいと第1のLED積層23の発光面積が小さすぎて発光素子100の大きさを減らすことが難しい。
第1の透明電極25は、第1のLED積層23と第2のLED積層33との間に配置される。第1の透明電極25は、第1のLED積層23の第2の導電型半導体層23bにオーミック接触し、第1のLED積層23で生成された光を透過させる。第1の透明電極25は、インジウムスズ酸化物(ITO)等の透明酸化物層や金属層を利用して形成できる。第1の透明電極25は、第1のLED積層23の第2の導電型半導体層23bの全面を覆うことができ、その側面は第1のLED積層23の側面と並んで配置できる。つまり、第1の透明電極25の側面は、第2のボンディング層59で覆われない場合がある。さらに、貫通ホール23h2,23h3,23h4は、第2の透明電極25を貫通し得る。よって、これら貫通ホールの側壁に第2の透明電極25が露出し得る。一方、貫通ホール23h1は、第1の透明電極25の上面を露出させる。しかし、本開示がこれに限定されるのではなく、第1のLED積層23の縁に沿って第1の透明電極25が部分的に除去されることにより、第1の透明電極25の側面が第2のボンディング層59で覆われてもよい。また、貫通ホール23h2,23h3,23h4が形成される領域で第1の透明電極25を予めパターニングして除去することにより、貫通ホール23h2,23h3,23h4の側壁に第1の透明電極25が露出しないようにすることができる。
一方、第2の透明電極35は、第2のLED積層33の第2の導電型半導体層33bにオーミック接触する。図示したように、第2の透明電極35は第1のLED積層23と第2のLED積層33との間で第2のLED積層33の上面に接触する。第2の透明電極35は、赤色光に透明な金属層または導電性酸化物層で形成できる。導電性酸化物層の例としては、SnO2、InO2、ITO、ZnO、IZO等を挙げることができる。特に、第2の透明電極35はZnOで形成できるが、ZnOは第2のLED積層33上に単結晶で形成することができるため金属層や他の導電性酸化物層に比べて、電気的および光学的特性に優れる。特に、ZnOは第2のLED積層33に対する接合力が強くレーザーリフトオフを用いて成長基板を分離しても損傷せず残る。
一方、第2の透明電極35は、第2のLED積層33の縁に沿って部分的に除去することができ、これにより、第2の透明電極35の外側の側面は、外部に露出せず、下部絶縁層51で覆われる。つまり、第2の透明電極35の側面は、第2のLED積層33の側面よりも内側にリセスされ、第2の透明電極35がリセスされた領域は、下部絶縁層51及び第2のボンディング層59で埋められる。一方、第2のLED積層33のメサエッチング領域近くでも第2の透明電極35がリセスされ、リセスされた領域は下部絶縁層51及び第2のボンディング層59で埋められる。
第3の透明電極45は、第3のLED積層33の第2の導電型半導体層43bにオーミック接触する。第3の透明電極45は、第2のLED積層33と第3のLED積層43の間に位置することができ、第3のLED積層43の上面に接触する。第3の透明電極45は、赤色光および緑色光に透明な金属層または導電性酸化物層で形成することができる。導電性酸化物層の例としては、SnO2、InO2、ITO、ZnO、IZO等を挙げることができる。特に、第3の透明電極45はZnOで形成できるが、ZnOは第3のLED積層43上に単結晶で形成され得るため、金属層や他の導電性酸化物層に比べて電気的および光学的特性に優れる。特に、ZnOは第3のLED積層43に対する接合力が強くレーザーリフトオフを用いて成長基板を分離しても損傷せず残る。
第3の透明電極45は、第3のLED積層43の縁に沿って部分的に除去することができ、これにより、第3の透明電極45の外側の側面は、外部に露出せず、第1のボンディング層49で覆われる。つまり、第3の透明電極45の側面は、第3のLED積層43の側面よりも内側にリセスされ、第3の透明電極45がリセスされた領域は、第1のボンディング層49で埋められる。一方、第3のLED積層43のメサエッチング領域近くでも第3の透明電極45がリセスされ、リセスされた領域は第1のボンディング層49で埋められる。
第2の透明電極35及び第3の透明電極45を上のようにリセスすることにより、これらの側面がエッチングガスに露出することを防ぐため、発光素子100の工程歩留まりを向上させることができる。
一方、本実施例において、第2の透明電極35及び第3の透明電極45は、同種の導電性酸化物層、例えば、ZnOで形成することができ、第1の透明電極25は第2および第3の透明電極35,45と異なる種類の導電性酸化物層、例えば、ITOで形成することができる。しかし、本開示はこれに限定されず、これら第1~第3の透明電極25,35,45は全て同種でもよく、少なくとも一つが別の種類でもよい。
第1~第3の透明電極25,35,45は、熱蒸着、スパッタリング、ソル-ゲル(sol-gel)法、水熱合成(Hydrothermal synthesis)等の技術を用いて形成できる。特に、水熱合成法のような化学的薄膜形成方法を通じて形成された透明電極は、多孔性薄膜で形成することができる。多孔性薄膜内のボイドは、LED積層の光抽出効率を向上させるように作用し、さらに、ストレスを緩和することができる。
ボイドは、LED積層の光学特性を強化するための位置に分布されるように制御できる。ボイドは、凡そ透明電極の1/2地点で第2の導電型半導体層側の近くに分布され得る。水熱合成法で形成された透明電極は、ボイドを有しつつ結晶性も有することができ、特に、単結晶で形成することができる。
一実施例において、ボイドは広い領域に亘って相対的に均一に分布することができる。ボイドが分布された透明電極は、ボイドがない透明電極に比べて改善された光抽出効率を表す。このような透明電極は、例えば、ZnO層またはドーピングされたZnO層でもよい。ドーピングされたZnO層は、例えば、銀(Ag)、インジウム(In)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、カドミウム(Cd)、ガリウム(Ga)、アルミニウム(Al)、マグネシウム(Mg)、チタニウム(Ti)、モリブデン(Mo)、ニッケル(Ni)、銅(Cu)、金(Au)、白金(Pt)、ロジウム(Rh)、イリジウム(Ir)、ルテニウム(Ru)及びパラジウム(Pd)の少なくとも一つをドーパントとして含むことができる。
一実施例において、ZnO層はまた、ZnOシード層とZnOバルク層を含み得る。ZnOシード層は、相対的に連続表面を有する。また、ZnOシード層とZnOバルク層は単結晶構造を形成する。一実施例において、ZnOシード層とZnOバルク層は、ZnOシード層とZnOバルク層間の如何なる界面も表れない。一実施例において、ZnOシード層は、数百オングストロームの厚さを有している。ZnOシード層は、例えば、200オングストローム以下の厚さを有し得る。一方、ZnOバルク層は1μm以下の厚さを有し得る。一実施例において、ZnOバルク層は8000オングストローム以下の厚さを有する。
n電極パッド47aは、第3のLED積層43の第1の導電型半導体層43aにオーミック接触する。n電極パッド47aは、第2の導電型半導体層43bを通じて露出された第1の導電型半導体層43a上に、つまり、メサエッチング領域に配置され得る。n電極パッド47aは、例えば、Cr/Au/Tiによって形成することができる。n電極パッド47aの上面は、第2の導電型半導体層43bの上面、さらに、第3の透明電極45の上面よりも高くなり得る。例えば、n電極パッド47aの厚さは、約2um以上になり得る。n電極パッド47aは、円錐台形状になり得るが、これに限定されるのではなく、四角錐台、円筒形、四角筒形等の多様な形状を有することができる。
下部p電極パッド47bは、n電極パッド47aと同じ材料で形成することができる。但し、下部p電極パッド47bの上面は、n電極パッド47aの上面と同じ高さに位置させることができ、よって、下部p電極パッド47bの厚さはn電極パッド47aよりも小さくなり得る。つまり、下部p電極パッド47bの厚さは、第2の透明電極45上に突出したn電極パッド47a部分の厚さと大体同じになり得る。例えば、下部p電極パッド47bの厚さは、約1.2um以下になり得る。下部p電極パッド47bの上面がn電極パッド47aの上面と同じ高さに位置するようにさせることにより、貫通ホール33h1,33h2を形成する際、下部p電極パッド47bとn電極パッド47aが同時に露出するようにできる。n電極パッド47aと下部p電極パッド47bの高さが異なる場合、いずれかの電極パッドがエッチング工程で大きく損傷する場合がある。よって、n電極パッド47aと下部p電極パッド47bの高さを大体同じに合わせることにより、いずれかの電極パッドが大きく損傷することを防ぐことができる。
第1のボンディング層49は、第2のLED積層33を第3のLED積層43に結合する。第1のボンディング層49は、第1の導電型半導体層33aと第3の透明電極45との間でこれらを結合させることができる。第1のボンディング層49は、第2の導電型半導体層43bに部分的に接することができ、メサエッチング領域に露出された第1の導電型半導体層43aに部分的に接し得る。さらに、第1のボンディング層49は、n電極パッド47a及び下部p電極パッド47bを覆うことができる。
第1のボンディング層49は、透明有機物層で形成されてもよく、透明無機物層で形成されてもよい。有機物層は、SU8、ポリメチルメタアクリレート(poly(methylmethacrylate):PMMA)、ポリイミド、パリレン、ベンゾシクロブテン(Benzocyclobutene:BCB)等を例として挙げることができ、無機物層は、Al2O3、SiO2、SiNx等を例として挙げることができる。また、第1のボンディング層49はスピン-オン-ガラス(SOG)で形成することもできる。
貫通ホール33h1及び貫通ホール33h2は、第2のLED積層33及び第1のボンディング層49を貫通してそれぞれn電極パッド47a及び下部p電極パッド47bを露出させる。上で説明した通り、貫通ホール33h1,33h2は、メサエッチング領域内に形成され得る。よって、貫通ホール33h1,33h2は段差のある側壁を有することができる。
下部絶縁層51は、第2のLED積層33上に形成され、第2の透明電極35を覆う。下部絶縁層51はまた、貫通ホール33h1,33h2の側壁を覆う。下部絶縁層51は、n電極パッド47a、下部p電極パッド47b、第1の導電型半導体層33a及び第2の透明電極35を露出させる開口部51aを有することができる。下部絶縁層51は、シリコン酸化膜またはシリコン窒化膜で形成することができ、例えば、約800nmの厚さに形成できる。
下部共通コネクタ53cは、下部絶縁層51上に配置され、下部絶縁層51の開口部51aを通じて露出された第1の導電型半導体層33a及びn電極パッド47aに接続できる。下部共通コネクタ53cは、第2のLED積層33のメサエッチング領域内で第1の導電型半導体層33aに接続し、さらに、貫通ホール33h1を通じてn電極パッド47aに接続する。
下部pコネクタ53bは、下部絶縁層51上に配置され、下部絶縁層51の開口部51aを通じて露出した下部p電極パッド47bに接続され得る。下部pコネクタ53bの少なくとも一部は、下部絶縁層51上に位置する。
一方、上部p電極パッド53gは、下部絶縁層51の開口部51a内で第2の透明電極35上に配置され得る。図3a及び図3cに示したように、上部p電極パッド53gは開口部51aに比べて幅が狭く、開口部51a内に配置され得る。しかし、本開示がこれに限定されるのではなく、上部p電極パッド53gの幅が開口部51aの幅よりも大きい場合もあり、上部p電極パッド53gの一部が下部絶縁層51上に位置してもよい。
下部共通コネクタ53c、下部pコネクタ53b及び上部p電極パッド53gは、同じ工程で同じ材料により一緒に形成できる。これらは、例えば、Ni/Au/Tiによって形成することができ、約2umの厚さに形成できる。
第2のボンディング層59は、第1のLED積層23を第2のLED積層33に結合する。図示したように、第2のボンディング層59は第1の透明電極25と下部絶縁層51との間に配置できる。第2のボンディング層59はまた、下部共通コネクタ53c、下部pコネクタ53b及び上部p電極パッド53gを覆うことができる。第2のボンディング層59はまた、下部絶縁層51の開口部51aを通じて露出された第2の透明電極35に部分的に接し得る。第2のボンディング層59は、前述の第1のボンディング層49について説明した材料と同じ材料で形成することができ、重複を避けるために詳しい説明は省略する。
一方、貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4は、第1のLED積層23を貫通する。貫通ホール23h1は、第1の透明電極25に電気的接続を許容するための通路を提供するために形成される。本実施例において、貫通ホール23h1は第1の透明電極25の上面を露出させ、第1の透明電極25を貫通しない。しかし、本開示がこれに限定されず、貫通ホール23h1が第1の透明電極25への電気的接続のための通路を提供する限り、第1の透明電極25を貫通する場合もある。
貫通ホール23h2,23h3,23h4は、第1のLED積層23を貫通するとともに、第2のボンディング層59を貫通し得る。貫通ホール23h2は上部p電極パッド53gを露出させ、貫通ホール23h3は下部pコネクタ53bを露出させ、貫通ホール23h4は下部共通コネクタ53cを露出させる。
貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4は、第1の導電型半導体層23a及び第2の導電型半導体層23bを同じ工程でエッチングして形成することができ、よって、貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4の側壁は段差のある構造を有さず、滑らかな傾斜面を有し得る。
中間絶縁層61は、第1のLED積層23を覆い、貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4の側壁を覆う。中間絶縁層61はまた、第1~第3のLED積層23,33,43の側面を覆うことができる。中間絶縁層61は、それぞれの貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4の底部を露出させる開口部61aを有するようにパターニングされ得る。前記開口部61aによって貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4内で第1の透明電極25、上部p電極パッド53g、下部pコネクタ53b及び下部共通コネクタ53cが露出される。さらに、中間絶縁層61は第1のLED積層23の上面、つまり、第1の導電型半導体層23aを露出させる開口部61bを有し得る。中間絶縁層61は、アルミニウム酸化膜、シリコン酸化膜またはシリコン窒化膜で形成でき、例えば、約800nmの厚さに形成できる。
第1の上部コネクタ63r、第2の上部コネクタ63g、第3の上部コネクタ63b及び上部共通コネクタ63cは、中間絶縁層61上に配置される。これら上部コネクタ63r,63g,63b,63cは、それぞれ中間絶縁層61の開口部61aを通じて露出された第1の透明電極25、上部p電極パッド53g、下部pコネクタ53b及び下部共通コネクタ53cに接続する。さらに、上部共通コネクタ63cは、開口部61bに露出された第1の導電型半導体層23aに接続できる。
第1の上部コネクタ63r、第2の上部コネクタ63g、第3の上部コネクタ63b及び上部共通コネクタ63cは、同じ工程で同じ材料により形成することができ、例えば、AuGe/Ni/Au/Tiによって形成できる。AuGeは、第1の導電型半導体層23aにオーミック接触できる。AuGeは、約100nmの厚さに形成することができ、Ni/Au/Tiは約2umの厚さに形成できる。AuGeの代わりにAuTeを使用することもできる。
上部絶縁層71は、中間絶縁層61を覆い、第1の上部コネクタ63r、第2の上部コネクタ63g、第3の上部コネクタ63b及び上部共通コネクタ63cを覆う。上部絶縁層71はまた、第1~第3のLED積層23,33,43の側面において中間絶縁層61を覆うことができる。上部絶縁層71は、第1の上部コネクタ63r、第2の上部コネクタ63g、第3の上部コネクタ63b及び上部共通コネクタ63cを露出させる開口部71aを有し得る。上部絶縁層71の開口部71aは、概ね、第1の上部コネクタ63r、第2の上部コネクタ63g、第3の上部コネクタ63b及び上部共通コネクタ63cの平らな面上に配置することができる。上部絶縁層71は、シリコン酸化膜またはシリコン窒化膜で形成することができ、中間絶縁層61よりも薄く、例えば、約400nmの厚さに形成できる。
バンプパッド73r,73g,73b,73cは、それぞれ上部絶縁層71の開口部71a内で第1の上部コネクタ63r、第2の上部コネクタ63g、第3の上部コネクタ63b及び上部共通コネクタ63c上に配置されてこれらに電気的に接続できる。
第1のバンプパッド73rは、第1の上部コネクタ63r及び第1の透明電極25を通じて第1のLED積層23の第2の導電型半導体層23bに電気的に接続できる。
第2のバンプパッド73gは、第2の上部コネクタ63g、上部p電極パッド53g及び第2の透明電極35を通じて、第2のLED積層33の第2の導電型半導体層33bに電気的に接続できる。
第3のバンプパッド73bは、第3の上部コネクタ63b、下部pコネクタ53b、下部p電極パッド47b及び第3の透明電極35を通じて第3のLED積層43の第2の導電型半導体層43bに電気的に接続できる。
共通バンプパッド73cは、上部共通コネクタ63cを通じて、第1のLED積層23の第1の導電型半導体層23aに電気的に接続され、また、下部共通コネクタ53cを通じて第2のLED積層33の第1の導電型半導体層33aに電気的に接続し、さらに、n電極パッド47aを通じて第3のLED積層43の第1の導電型半導体層43aに電気的に接続できる。
つまり、第1~第3のバンプパッド73r,73g,73bは、それぞれ第1~第3のLED積層23,33,43の第2の導電型半導体層23b,33b,43bに電気的に接続され、共通バンプパッド73cは第1~第3のLED積層23,33,43の第1の導電型半導体層23a,33a,43aに共通して電気的に接続される。
前記バンプパッド73r,73g,73b,73cは、上部絶縁層71の開口部71a内に配置することができ、バンプパッドの上面は平坦な面になり得る。バンプパッド73r,73g,73b,73cは、第1~第3の上部コネクタ63r,63g,63b及び上部共通コネクタ63cの平坦な面上に位置し得る。前記バンプパッド73r,73g,73b,73cは、Au/Inによって形成することができ、例えば、Auは3umの厚さに形成され、Inは約1umの厚さに形成できる。発光素子100は、Inを用いて回路基板101上のパッドにボンディングされ得る。本実施例において、Inを用いてバンプパッドをボンディングすることについて説明するが、Inに限定されず、Pb又はAuSnを用いてボンディングすることもできる。
本実施例において、バンプパッド73r,73g,73b,73cの上面が平坦である場合を説明および図示しているが、本開示がこれに限定されない。例えば、バンプパッド73r,73g,73b,73cの上面が不規則な面の場合もあり、バンプパッドの一部が上部絶縁層71上に位置する場合もある。
本実施例によると、第1のLED積層23はバンプパッド73r,73cに電気的に接続され、第2のLED積層33はバンプパッド73g,73cに電気的に接続され、第3のLED積層43はバンプパッド73b,73cに電気的に接続される。これにより、第1のLED積層23、第2のLED積層33及び第3のLED積層43のカソードが共通バンプパッド73cに電気的に接続され、アノードが第1~第3のバンプパッド73a,73b,73cにそれぞれ電気的に接続する。よって、第1~第3のLED積層23,33,43は、独立的に駆動し得る。
以下で説明する発光素子100の製造方法を通じて、発光素子100の構造についてもより詳しく理解できると考える。図4a、図4b及び図4cは、本開示の一実施例に従って成長基板上に成長した第1~第3のLED積層を説明するための概略的な断面図である。
先ず、図4aを参照すると、第1の基板21上に第1の導電型半導体層23a及び第2の導電型半導体層23bを含む第1のLED積層23が成長する。第1の導電型半導体層23aと第2の導電型半導体層23bとの間に活性層(図示せず)が介在し得る。
第1の基板21は、第1のLED積層23を成長させるために使用できる基板、例えば、GaAs基板になり得る。第1の導電型半導体層23a及び第2の導電型半導体層23bは、AlGaInAs系列またはAlGaInP系列の半導体層で形成でき、活性層は、例えば、AlGaInP系列の井戸層を含み得る。第1のLED積層23は、例えば、緑色光を発するようにAlGaInPの組成比が定められ得る。
第2の導電型半導体層23b上に第1の透明電極25が形成され得る。第1の透明電極25は、上で説明したように、第1のLED積層23で生成された光、例えば、赤色光を透過する金属層または導電性酸化物層で形成することができる。例えば、第1の透明電極25は、ITO(indium-tin oxide)で形成できる。
一方、第2の基板31上に第1の導電型半導体層33a及び第2の導電型半導体層33bを含む第2のLED積層33が成長する。第1の導電型半導体層33aと第2の導電型半導体層33bとの間に活性層(図示せず)が介在し得る。
第2の基板31は、第2のLED積層33を成長させるために使用できる基板、例えば、サファイア基板、GaN基板またはGaAs基板であり得る。第1の導電型半導体層33a及び第2の導電型半導体層33bは、AlGaInAs系列またはAlGaInP系列の半導体層、AlGaInN系列の半導体層で形成でき、活性層は、例えば、AlGaInP系列の井戸層またはAlGaInN系列の井戸層を含み得る。第2のLED積層33は、例えば、緑色光を発するようにAlGaInP又はAlGaInNの組成比を定めることができる。
第2の導電型半導体層33b上に第2の透明電極35が形成され得る。第2の透明電極35は、上で説明したように、第1のLED積層23で生成された光、例えば、赤色光を透過する金属層または導電性酸化物層で形成することができる。特に、第2の透明電極35は、ZnOで形成できる。
一方、第3の基板41上に第1の導電型半導体層43a及び第2の導電型半導体層43bを含む第3のLED積層43が成長する。第1の導電型半導体層43aと第2の導電型半導体層43bとの間に活性層(図示せず)が介在し得る。
第3の基板41は、第3のLED積層43を成長させるために使用できる基板、例えば、サファイア基板、SiC基板またはGaN基板であり得る。一実施例において、第3の基板41は平らなサファイア基板であり得るが、パターニングされたサファイア基板でもよい。第1の導電型半導体層43a及び第2の導電型半導体層43bは、AlGaInN系列の半導体層で形成することができ、活性層は、例えば、AlGaInN系列の井戸層を含み得る。第3のLED積層43は、例えば、青色光を発するようにAlGaInNの組成比を定めることができる。
第2の導電型半導体層43b上に第3の透明電極45が形成され得る。第3の透明電極45は、上で説明したように、第1および第2のLED積層23,33で生成された光、例えば、赤色光および緑色光を透過する金属層または導電性酸化物層で形成できる。特に、第3の透明電極45は、ZnOで形成することができる。
第1~第3のLED積層23,33,43は、それぞれ相互異なる成長基板21,31,41上で成長し、よって、その製造工程順序には制限はない。
以下では、成長基板21,31,41上に成長した第1~第3のLED積層23,33,43を用いて発光素子100を製造する方法を説明する。以下では、主に一つの発光素子100領域について図示および説明するが、当業者であれば成長基板21,31,41上に成長したLED積層23,33,43を用いて同じ製造工程で複数の発光素子100が一括して製造できることを理解できると考える。
図5a,5b,5c,5d,6a,6b,6c,6d,7a,7b,7c,7d,8a,8b,8c,8d,9a,9b,9c,9d,10a,10b,10c,10d,11a,11b,11c,11d,12a,12b,12c,12d,13a,13b,13c及び13dは、本開示の一実施例にかかるディスプレイ用発光素子100を製造する方法を説明するための概略的な平面図および断面図である。ここで、断面図は、それぞれ図3b、図3c及び図3dの断面図に対応するように図示した。
先ず、図5a、図5b、図5c及び図5dを参照すると、フォトリソグラフィーおよびエッチング技術を用いて第3の透明電極45及び第2の導電型半導体層43bをパターニングして第1の導電型半導体層43aを露出させる。この工程は、例えば、メサエッチング工程に該当する。フォトレジストパターンをエッチングマスクとして使用して行うことができる。例えば、エッチングマスクを形成した後、湿式エッチング技術で第3の透明電極45を先にエッチングし、次いで、同一エッチングマスクを用いて乾式エッチング技術で第2の導電型半導体層43bをエッチングできる。これにより、第3の透明電極45はメサエッチング領域からリセスできる。図5aには図面を簡略して表すために、メサの縁を図示し、第3の透明電極45の縁は図示していない。しかし、同じエッチングマスクを使用して第3の透明電極45を湿式エッチングするため、第3の透明電極45の縁がメサの縁からメサ内側にリセスされることを容易に理解することができる。同じエッチングマスクを用いるため、フォトリソグラフィー工程数が増加しなく、工程コストを節約することができる。しかし、本開示はこれに限定されず、メサエッチング工程のためのエッチングマスクと第3の透明電極45をエッチングするためのエッチングマスクをそれぞれ使用することもできる。
続いて、n電極パッド47a及び下部p電極パッド47bがそれぞれ第1の導電型半導体層43a及び第3の透明電極45上に形成される。n電極パッド47aと下部p電極パッド47bは互いに異なる厚さに形成できる。特に、n電極パッド47aと下部p電極パッド47bの上面が同じ高さに位置し得る。
図6a、図6b、図6c及び図6dを参照すると、図5a、図5b、図5c及び図5dを参照して説明した第3のLED積層43上に図4bを参照して説明した第2のLED積層33がボンディングされる。TBDB(temporary bonding/debonding)技術を用いて一時基板に第2のLED積層33をボンディングし、第2の基板31が第2のLED積層33から先に除去される。第2の基板31は、例えば、レーザーリフトオフ技術を用いて除去され得る。第2の基板31が除去された後、第1の導電型半導体層33aの表面に粗い面が形成され得る。その後、一時基板にボンディングされた第2のLED積層33の第1の導電型半導体層33aが、第3のLED積層43に向くように配置されて第3のLED積層43にボンディングされ得る。第2のLED積層33と第3のLED積層43は、第1のボンディング層49によって互いにボンディングされる。第2のLED積層33をボンディングした後、一時基板もレーザーリフトオフ技術を用いて除去することができる。これにより、第2の透明電極35が上面に配置された形態で第2のLED積層33が第3のLED積層43に配置され得る。
ITOは、レーザーリフトオフ技術を用いて第2の基板31を分離する際、第2のLED積層33から剥離され得る。よって、レーザーリフトオフ技術を用いて第2の基板31を除去する場合、第2の透明電極35は接合力に優れるZnOで形成されたものが有利となる。
次いで、第2の透明電極35及び第2の導電型半導体層33bをパターニングして第1の導電型半導体層33aを露出させる。第2の透明電極35及び第2の導電型半導体層33bは、フォトリソグラフィーおよびエッチング技術を用いてパターニングできる。この工程は、前述の第3の透明電極45及び第2の導電型半導体層43bをエッチングしたメサエッチング工程と同じ方法で湿式エッチング及び乾式エッチング技術を用いて行うことができる。
例えば、エッチングマスクを形成した後、湿式エッチング技術で第2の透明電極35を先にエッチングし、次いで同じエッチングマスクを用いて乾式エッチング技術で第2の導電型半導体層33bをエッチングできる。これにより、第2の透明電極35はメサエッチング領域からリセスされ得る。図6aには図面を簡略して表すためにメサの縁を図示し、第2の透明電極35の縁は図示していない。しかし、同じエッチングマスクを使用して第2の透明電極35を湿式エッチングするため、第2の透明電極35の縁がメサの縁からメサ内側にリセスされることを容易に理解できる。同じエッチングマスクを用いるため、フォトリソグラフィー工程数が増加せず、工程コストを節約することができる。しかし、本開示はこれに限定されず、メサエッチング工程のためのエッチングマスクと第2の透明電極35をエッチングするためのエッチングマスクをそれぞれ使用することもできる。
図6aに示した通り、第2のLED積層33のメサエッチング領域は、第3のLED積層43のメサエッチング領域と一部重なり得る。例えば、第2のLED積層33のメサエッチング領域の一部はn電極パッド47a上部に形成できる。また、メサエッチング領域のまた別の一部は、下部p電極パッド47b上部に位置し得る。これに加え、第2のLED積層33のメサエッチング領域の一部は、第3のLED積層43のメサ領域上に位置し得る。
図7a、図7b、図7c及び図7dを参照すると、第2のLED積層33を貫通する貫通ホール33h1,33h2が形成される。貫通ホール33h1,33h2は、第1のボンディング層49を貫通してn電極パッド47a及び下部p電極パッド47bを露出させる。貫通ホール33h1,33h2は、メサエッチング領域内に形成され得る。よって、貫通ホール33h1,33h2の側壁に段差のある構造が形成できる。
下部p電極パッド47bとn電極パッド47aの上面が同じ高さに位置し得るため、貫通ホール33h1,33h2を形成する間にいずれかのパッドが先に露出して損傷することを防ぐことができる。
図8a、図8b、図8c及び図8dを参照すると、第2のLED積層33上に下部絶縁層51が形成される。下部絶縁層51は、第2の透明電極35を覆い、第2の導電型半導体層33bを覆う。また、下部絶縁層51は、貫通ホール33h1,33h2の側壁を覆う。一方、下部絶縁層51は、第2の透明電極35、第1の導電型半導体層33a、n電極パッド47a及び下部p電極パッド47bを露出させる開口部51aを有する。
続いて、下部絶縁層51上に下部共通コネクタ53c、下部pコネクタ53b及び上部p電極パッド53gが形成される。下部共通コネクタ53c、下部pコネクタ53b及び上部p電極パッド53gは、同じ材料で一緒に形成することができる。
上部p電極パッド53gは、開口部51aに露出した第2の透明電極35上に配置できる。下部pコネクタ53bは、開口部51aを通じて露出した下部p電極パッド47bに接続すると共に、下部絶縁層51上に一部が配置される。下部共通コネクタ53cは、開口部51aを通じて露出した第1の導電型半導体層33a及びn電極パッド47aに接続し、下部絶縁層51上に一部が配置される。
図9a、図9b、図9c及び図9dを参照すると、図4aで説明した第1のLED積層23が第2のLED積層33にボンディングされる。第2のボンディング層59を用いて第1の透明電極25が第2のLED積層33に向くように第1のLED積層23と第2のLED積層33がボンディングされ得る。これにより、第2のボンディング層59は、第1の透明電極25に接するとともに、下部絶縁層51、下部pコネクタ53b、上部p電極パッド53g及び下部共通コネクタ53cに接し、さらに、上部p電極パッド53g周囲に露出した第2の透明電極35に接することができる。第1の基板21は、第1のLED積層23から除去される。第1の基板21は、例えば、エッチング技術を用いて除去できる。
図10a、図10b、図10c及び図10dを参照すると、第1のLED積層23を貫通する貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4が形成される。貫通ホール23h1は、第1の透明電極25を露出させ、貫通ホール23h2,23h3,23h4は、第2のボンディング層59を貫通してそれぞれ上部p電極パッド53g、下部pコネクタ53b及び下部共通コネクタ53cを露出させる。貫通ホール23h1と貫通ホール23h2,23h3,23h4は、深さが互いに異なるため、互いに異なる工程によって形成できる。一方、貫通ホール23h2,23h3,23h4は、深さがほぼ同じため、同じ工程で一緒に形成できる。
貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4は、第1のLED積層23全体を貫通するように形成することができ、よって、これら貫通ホールの側壁は、貫通ホール33h1,33h2と異なり、段差がないように形成することができる。
図11a、図11b、図11c及び図11dを参照すると、アイソレーション工程によって発光素子100領域を定義するための分離溝が形成される。分離溝は、第1~第3のLED積層23,33,43の周りに沿って第3の基板41を露出させることができる。発光素子領域間で第1のLED積層23、第1の透明電極25、第2のボンディング層59、下部絶縁層51、第2のLED積層33、第1のボンディング層49、第3のLED積層43を順に除去することにより、分離溝が形成できる。第2の透明電極35及び第3の透明電極45は、アイソレーション工程を行うあいだ露出されなく、よって、エッチングガスによって損傷しない。第2及び第3の透明電極35,45がZnOで形成される場合、ZnOはエッチングガスによって容易に損傷し得る。しかし、本開示は第2及び第3の透明電極35,45を予めリセスさせることにより、これらがエッチングガスに露出することを防ぐことができる。
本実施例において、アイソレーション工程を通じて第1~第3のLED積層23,33,43が順にパターニングされることを説明するが、本開示は必ずしもこれに限定されない。第2のLED積層33をボンディングする前に、分離溝が形成される領域で第3のLED積層43があらかじめ除去される場合もあり、第1のLED積層23をボンディングする前に、分離溝が形成される領域で第2のLED積層33があらかじめ除去される場合もある。この場合、第3のLED積層43が除去された領域は、第1のボンディング層49で埋めることができ、第2のLED積層33が除去された領域は、第2のボンディング層59で埋めることができる。これにより、アイソレーション工程で第2および第3のLED積層33,43は、露出されなくなり得る。
図12a、図12b、図12c及び図12dを参照すると、中間絶縁層61が第1のLED積層23上に形成される。中間絶縁層61は、分離溝を通じて露出した第1~第3のLED積層23,33,43の側面、第1および第2のボンディング層49,59の側面、第1の透明電極25の側面および下部絶縁層51の側面を覆うことができる。
中間絶縁層61はまた、貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4の側壁を覆うことができる。但し、中間絶縁層61は貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4の底を露出させる開口部61a及び第2のLED積層23の第1の導電型半導体層23aを露出させる開口部61bを有するようにパターニングされる。開口部61aは、貫通ホール23h1,23h2,23h3,23h4内で、第1の透明電極25、上部p電極パッド53g、下部pコネクタ53b及び下部共通コネクタ53cを露出させる。
中間絶縁層61上に第1~第3の上部コネクタ63r,63g,63b及び上部共通コネクタ63cが形成される。第1の上部コネクタ63rは第1の透明電極25に接続され、第2の上部コネクタ63gは上部p電極パッド53gに接続され、第3の上部コネクタ63bは下部pコネクタ53bに接続できる。一方、上部共通コネクタ63cは、下部共通コネクタ53cに接続できる。
図13a、図13b、図13c及び図13dを参照すると、中間絶縁層61及びコネクタ63r,63g,63b,63cを覆う上部絶縁層71が形成される。上部絶縁層71は、第1~第3のLED積層23,33,43の側面でも中間絶縁層61を覆うことができる。但し、上部絶縁層71は第1~第3の上部コネクタ63r,63g,63b及び上部共通コネクタ63cを露出させる開口部71aを有するようにパターニングすることができる。
次いで、前記開口部71a内にそれぞれバンプパッド73r,73g,73b,73cが形成される。第1のバンプパッド73rは、第1の上部コネクタ63r上に配置され、第2のバンプパッド73gは第2の上部コネクタ63g上に配置され、第3のバンプパッド73bは第3の上部コネクタ63b上に配置される。共通バンプパッド73cは上部共通コネクタ63c上に配置される。
続いて、発光素子100を回路基板101上にボンディングし、基板41を分離することにより、基板41から分離された発光素子100が完成する。回路基板101にボンディングされた発光素子100の概略的な断面図は図14に示した。
図14は、単一の発光素子100が回路基板101上に配置されたことを示しているが、回路基板101上には複数の発光素子100が実装される。それぞれの発光素子100は、青色光、緑色光および赤色光を放出できる一つのピクセルを構成し、回路基板101上に複数のピクセルが整列してディスプレイパネルが提供される。
一方、基板41上には複数の発光素子100が形成でき、これら発光素子100は一つずつ回路基板101に転写されるのではなく、集団で回路基板101上に転写できる。図15a、図15b、及び図15cは、発光素子を回路基板に転写する方法を説明するための概略的な断面図である。ここでは、基板41上に形成された発光素子100を集団で回路基板101に転写する方法を説明する。
図15aを参照すると、発光素子の製造方法を通じて説明した通り、図13a、図13b、図13c及び図13dの工程が完了したら、基板41上に複数の発光素子100が分離溝によって分離されて整列される。
一方、上面にパッドを有する回路基板101が提供される。パッドはディスプレイのためのピクセルの整列位置に対応するように回路基板101上に配列される。一般的に、基板41上に整列された発光素子100の間隔は、回路基板101内のピクセルの間隔に比べてより密である。
図15bを参照すると、発光素子100のバンプパッドを回路基板101上のパッドにボンディングする。バンプパッドとパッドは、Inボンディングを用いてボンディングできる。一方、ピクセル領域間に位置する発光素子100は、ボンディングされるパッドがないため、回路基板101から離れた状態を維持する。
次いで、基板41上にマスク201を配置し、レーザーを照射する。マスク201の光透過領域は、ボンディングされた発光素子100に対応するように配置され、よって、パッドにボンディングされた発光素子100に選択的にレーザーが照射される。その後、レーザーが照射された発光素子100を基板41から分離することにより、発光素子100が回路基板101に転写される。これにより、回路基板101上に発光素子100が整列されたディスプレイパネルが提供される。ディスプレイパネルは、図1を参照して説明したような多様なディスプレイ装置に実装することができる。
以上で、本開示の多様な実施例について説明したが、本開示はこれら実施例に限定されるのではない。また、一つの実施例について説明した事項や構成要素は、本開示の技術的思想から外れない限り、別の実施例にも適用できる。

Claims (21)

  1. 第1のLED積層と、
    前記第1のLED積層の下に位置する第2のLED積層と、
    前記第2のLED積層の下に位置する第3のLED積層と、
    前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第1のLED積層の下面にオーミック接触する第1の透明電極と、
    前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第2のLED積層の上面にオーミック接触する第2の透明電極と、
    前記第2のLED積層と前記第3のLED積層との間に介在し、前記第3のLED積層の上面にオーミック接触する第3の透明電極と、
    前記第3のLED積層の第1の導電型半導体層上に配置されたn電極パッドと、
    前記第3の透明電極上に配置された下部p電極パッドと、
    前記第1のLED積層上に配置されたバンプパッドと、を含み、
    前記第1~第3のLED積層は、それぞれ第1の導電型半導体層、活性層および第2の導電型半導体層を含み、
    前記バンプパッドは、第1~第3のバンプパッドと共通バンプパッドを含み、
    前記共通バンプパッドは、前記第1~第3のLED積層に共通して電気的に接続され、
    前記第1~第3のバンプパッドは、それぞれ前記第1~第3のLED積層に電気的に接続され、
    前記n電極パッドの上面は、前記下部p電極パッドの上面と同じ高さに位置するディスプレイ用発光素子。
  2. 前記第1、第2および第3のLED積層は、それぞれ赤色光、緑色光および青色光を発する、請求項1に記載のディスプレイ用発光素子。
  3. 前記第1~第3のLED積層は、独立的に駆動可能であり、
    前記第1のLED積層で生成された光は、前記第2のLED積層および前記第3のLED積層を透過して外部に放出され、
    前記第2のLED積層で生成された光は、前記第3のLED積層を透過して外部に放出される、請求項1に記載のディスプレイ用発光素子。
  4. 前記第1~第3の透明電極のいずれか一の透明電極は、前記第1~第3の透明電極の他の透明電極とは異なる材料で形成された、請求項1に記載のディスプレイ用発光素子。
  5. 前記第1の透明電極はITOで形成され、前記第2および第3の透明電極はZnOで形成された、請求項4に記載のディスプレイ用発光素子。
  6. 前記第1~第3の透明電極は、それぞれ第2の導電型半導体層に接触し、
    前記第2および第3の透明電極は、それぞれ第2のLED積層の第2の導電型半導体層および第3のLED積層の第2の導電型半導体層よりも狭い面積を有するようにリセスされた、請求項5に記載のディスプレイ用発光素子。
  7. 前記共通バンプパッドは、前記第1~第3のLED積層の第1の導電型半導体層に共通して電気的に接続され、
    前記第1~第3のバンプパッドは、それぞれ第1~第3のLED積層の第2の導電型半導体層に電気的に接続された、請求項6に記載のディスプレイ用発光素子。
  8. 前記第1~第3のLED積層の側面を覆う絶縁層をさらに含み、
    前記第1~第3のLED積層の側面および第1の透明電極の側面は、前記絶縁層に接し、前記第2および第3の透明電極の側面は前記絶縁層から離隔された、請求項6に記載のディスプレイ用発光素子。
  9. 側面が、第3のLED積層の上面に対して75度~90度の範囲で傾斜した、請求項1に記載のディスプレイ用発光素子。
  10. 前記第2のLED積層と第3のLED積層間に介在した第1のボンディング層と、
    前記第1のLED積層と第2のLED積層間に介在した第2のボンディング層と、をさらに含む、請求項1に記載のディスプレイ用発光素子。
  11. 前記第2のLED積層および第1のボンディング層を貫通して、前記n電極パッドおよび下部p電極パッドをそれぞれ露出させる下部貫通ホールと、
    前記n電極パッドに接続した下部共通コネクタと、
    前記下部p電極パッドに接続した下部pコネクタと、をさらに含み、
    前記下部共通コネクタは、前記LED積層の第1の導電型半導体層に電気的に接続するとともに、前記下部貫通ホールを通じて露出した前記n電極パッドに接続し、
    前記下部pコネクタは、前記下部貫通ホールを通じて露出した下部p電極パッドに電気的に接続する、請求項10に記載のディスプレイ用発光素子。
  12. 前記第2の透明電極上に配置されて前記第2のLED積層の第2の導電型半導体層に電気的に接続する上部p電極パッドをさらに含む、請求項11に記載のディスプレイ用発光素子。
  13. 前記第1のLED積層を貫通して第1の透明電極を露出させる貫通ホールと、
    前記第1のLED積層、前記第1の透明電極および前記第2のボンディング層を貫通して、それぞれ前記上部p電極パッド、前記下部pコネクタ、及び下部共通コネクタを露出させる貫通ホールと、
    前記第1のLED積層上に配置され、前記第1のLED積層を貫通する貫通ホールを通じて前記第1の透明電極、前記上部p電極パッド、前記下部pコネクタ、及び下部共通コネクタに電気的に接続する第1~第3の上部コネクタ及び上部共通コネクタと、をさらに含み、
    前記バンプパッドは、それぞれ前記第1~第3の上部コネクタ及び上部共通コネクタ上に配置された、請求項12に記載のディスプレイ用発光素子。
  14. 前記バンプパッドは、それぞれ前記第1~第3の上部コネクタ及び上部共通コネクタの平坦な部分上に位置する、請求項13に記載のディスプレイ用発光素子。
  15. 前記第1~第3の上部コネクタ及び上部共通コネクタを覆う上部絶縁層をさらに含み、
    前記上部絶縁層は、前記第1~第3の上部コネクタ及び上部共通コネクタを露出させる開口部を有し、
    前記バンプパッドは、それぞれ前記開口部内に配置された、請求項14に記載のディスプレイ用発光素子。
  16. 前記第1のLED積層と前記上部コネクタ間に配置された中間絶縁層をさらに含み、
    前記中間絶縁層は、前記発光素子の側面および前記第1のLED積層を貫通する貫通ホールの側壁を覆い、前記第1の透明電極、前記上部p電極パッド、前記下部pコネクタ、及び下部共通コネクタを露出させる開口部を有する、請求項15に記載のディスプレイ用発光素子。
  17. 前記第1~第3のLED積層は、成長基板から分離された、請求項1に記載のディスプレイ用発光素子。
  18. 第1のLED積層と、
    前記第1のLED積層の下に位置する第2のLED積層と、
    前記第2のLED積層の下に位置する第3のLED積層と、
    前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第1のLED積層の下面にオーミック接触する第1の透明電極と、
    前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第2のLED積層の上面にオーミック接触する第2の透明電極と、
    前記第2のLED積層と前記第3のLED積層との間に介在し、前記第3のLED積層の上面にオーミック接触する第3の透明電極と、
    前記第1のLED積層上に配置されたバンプパッドを含み、
    前記第1~第3のLED積層は、それぞれ第1の導電型半導体層、活性層および第2の導電型半導体層を含み、
    前記第1~第3の透明電極の少なくとも一つの透明電極は、前記第1~第3のLED積層の第2の導電型半導体層の縁からリセスされたディスプレイ用発光素子。
  19. 前記第3のLED積層の第1の導電型半導体層上に配置されたn電極パッドと、
    前記第3の透明電極上に配置された下部p電極パッドと、をさらに含み、
    前記n電極パッドの上面は、前記下部p電極パッドの上面と同じ高さに位置する、請求項18に記載のディスプレイ用発光素子。
  20. 回路基板と、
    前記回路基板上に整列された複数の発光素子と、を含み、
    前記発光素子はそれぞれ、
    第1のLED積層と、
    前記第1のLED積層の下に位置する第2のLED積層と、
    前記第2のLED積層の下に位置する第3のLED積層と、
    前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第1のLED積層の下面にオーミック接触する第1の透明電極と、
    前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第2のLED積層の上面にオーミック接触する第2の透明電極と、
    前記第2のLED積層と前記第3のLED積層との間に介在し、前記第3のLED積層の上面にオーミック接触する第3の透明電極と、
    前記第3のLED積層の第1の導電型半導体層上に配置されたn電極パッドと、
    前記第3の透明電極上に配置された下部p電極パッドと、
    前記第1のLED積層上に配置されたバンプパッドと、を含み、
    前記第1~第3のLED積層は、それぞれ第1の導電型半導体層、活性層および第2の導電型半導体層を含み、
    前記バンプパッドは、第1~第3のバンプパッドと共通バンプパッドを含み、
    前記共通バンプパッドは、前記第1~第3のLED積層に共通して電気的に接続され、
    前記第1~第3のバンプパッドは、それぞれ前記第1~第3のLED積層に電気的に接続され、
    前記n電極パッドの上面は、前記下部p電極パッドの上面と同じ高さに位置し、
    前記バンプパッドが前記回路基板にボンディングされた、ディスプレイ装置。
  21. 回路基板と、
    前記回路基板上に整列された複数の発光素子と、を含み、
    前記発光素子はそれぞれ、
    第1のLED積層と、
    前記第1のLED積層の下に位置する第2のLED積層と、
    前記第2のLED積層の下に位置する第3のLED積層と、
    前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第1のLED積層の下面にオーミック接触する第1の透明電極と、
    前記第1のLED積層と前記第2のLED積層との間に介在し、前記第2のLED積層の上面にオーミック接触する第2の透明電極と、
    前記第2のLED積層と前記第3のLED積層との間に介在し、前記第3のLED積層の上面にオーミック接触する第3の透明電極と、
    前記第1のLED積層上に配置されたバンプパッドを含み、
    前記第1~第3のLED積層は、それぞれ第1の導電型半導体層、活性層および第2の導電型半導体層を含み、
    前記第1~第3の透明電極の少なくとも一つの透明電極は、前記第1~第3のLED積層の第2の導電型半導体層の縁からリセスされ、
    前記バンプパッドが前記回路基板にボンディングされた、ディスプレイ装置。
JP2021545853A 2019-02-08 2020-02-06 ディスプレイ用発光素子およびそれを有するディスプレイ装置 Active JP7542544B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201962802784P 2019-02-08 2019-02-08
US62/802,784 2019-02-08
US16/782,594 US11362073B2 (en) 2019-02-08 2020-02-05 Light emitting device including multiple transparent electrodes for display and display apparatus having the same
US16/782,594 2020-02-05
PCT/KR2020/001703 WO2020162687A1 (ko) 2019-02-08 2020-02-06 디스플레이용 발광 소자 및 그것을 가지는 디스플레이 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2022519656A JP2022519656A (ja) 2022-03-24
JP7542544B2 true JP7542544B2 (ja) 2024-08-30

Family

ID=71945317

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021545853A Active JP7542544B2 (ja) 2019-02-08 2020-02-06 ディスプレイ用発光素子およびそれを有するディスプレイ装置

Country Status (8)

Country Link
US (3) US11362073B2 (ja)
EP (2) EP4407697A2 (ja)
JP (1) JP7542544B2 (ja)
KR (1) KR20210113983A (ja)
CN (2) CN118335864A (ja)
BR (1) BR112021014915A2 (ja)
MX (1) MX2021009292A (ja)
WO (1) WO2020162687A1 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11362073B2 (en) * 2019-02-08 2022-06-14 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device including multiple transparent electrodes for display and display apparatus having the same
US11211528B2 (en) * 2019-03-13 2021-12-28 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device for display and display apparatus having the same
US11437353B2 (en) * 2019-11-15 2022-09-06 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device for display and display apparatus having the same
KR20220100870A (ko) * 2019-11-15 2022-07-18 서울바이오시스 주식회사 디스플레이용 발광 소자 및 그것을 가지는 디스플레이 장치
US12040344B2 (en) * 2020-05-28 2024-07-16 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device and display apparatus having the same
EP4386726A1 (en) * 2021-09-03 2024-06-19 Sony Group Corporation Light-emitting device and electronic equipment
CN115394762B (zh) * 2022-05-17 2024-07-09 诺视科技(苏州)有限公司 一种具有透明衬底的像素级分立器件及其制作方法
KR102668393B1 (ko) * 2022-08-10 2024-05-24 엘지전자 주식회사 디스플레이 화소용 반도체 발광소자 패키지 및 이를 포함하는 디스플레이 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090078955A1 (en) 2007-09-26 2009-03-26 Iii-N Technlogy, Inc Micro-Emitter Array Based Full-Color Micro-Display
US20090272989A1 (en) 2008-05-01 2009-11-05 Frank Shum Light emitting device having stacked multiple leds
JP2015012244A (ja) 2013-07-01 2015-01-19 株式会社東芝 半導体発光素子
US20170288093A1 (en) 2016-04-04 2017-10-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Led light source module and display device

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011083923A2 (en) * 2010-01-07 2011-07-14 Seoul Opto Device Co., Ltd. Light emitting diode having electrode pads
KR101786082B1 (ko) 2011-01-27 2017-10-16 엘지이노텍 주식회사 발광 소자
KR101293647B1 (ko) * 2012-07-27 2013-08-13 삼성코닝정밀소재 주식회사 투명 전도성 산화물 박막 기판, 그 제조방법, 이를 포함하는 유기전계발광소자 및 광전지
CN109979925B (zh) * 2012-12-06 2024-03-01 首尔伟傲世有限公司 发光二极管
KR20180084652A (ko) * 2017-01-16 2018-07-25 서울바이오시스 주식회사 수직형 발광 다이오드
TWI778010B (zh) * 2017-01-26 2022-09-21 晶元光電股份有限公司 發光元件
KR20190001050A (ko) 2017-06-26 2019-01-04 주식회사 루멘스 칩 적층 구조를 갖는 led 픽셀 소자
KR102503578B1 (ko) 2017-06-30 2023-02-24 엘지전자 주식회사 반도체 발광 소자를 이용한 디스플레이 장치
US11362073B2 (en) * 2019-02-08 2022-06-14 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device including multiple transparent electrodes for display and display apparatus having the same

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090078955A1 (en) 2007-09-26 2009-03-26 Iii-N Technlogy, Inc Micro-Emitter Array Based Full-Color Micro-Display
US20090272989A1 (en) 2008-05-01 2009-11-05 Frank Shum Light emitting device having stacked multiple leds
JP2015012244A (ja) 2013-07-01 2015-01-19 株式会社東芝 半導体発光素子
US20170288093A1 (en) 2016-04-04 2017-10-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Led light source module and display device

Also Published As

Publication number Publication date
EP3923326C0 (en) 2024-04-10
EP4407697A2 (en) 2024-07-31
EP3923326A4 (en) 2022-11-02
US11362073B2 (en) 2022-06-14
CN113424314B (zh) 2024-04-26
CN118335864A (zh) 2024-07-12
EP3923326A1 (en) 2021-12-15
BR112021014915A2 (pt) 2021-09-28
US20200258872A1 (en) 2020-08-13
CN113424314A (zh) 2021-09-21
MX2021009292A (es) 2021-10-13
US20220367429A1 (en) 2022-11-17
US20220285329A1 (en) 2022-09-08
KR20210113983A (ko) 2021-09-17
JP2022519656A (ja) 2022-03-24
WO2020162687A1 (ko) 2020-08-13
EP3923326B1 (en) 2024-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7542544B2 (ja) ディスプレイ用発光素子およびそれを有するディスプレイ装置
JP7460650B2 (ja) ディスプレイ用発光素子及びそれを有するディスプレイ装置
CN113424315A (zh) 显示用发光元件转印方法及显示装置
US20240282803A1 (en) Light emitting device for display and display apparatus having the same
JP7520106B2 (ja) ディスプレイ用発光素子およびそれを有するディスプレイ装置
US12046587B2 (en) Light emitting device for display and display apparatus having the same
CN211088273U (zh) 显示器用发光元件以及具有该发光元件的显示装置
CN211654819U (zh) 显示器用发光元件以及具有该发光元件的显示装置
US11437353B2 (en) Light emitting device for display and display apparatus having the same

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20230202

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20231219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20240109

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240401

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240723

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20240820

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7542544

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150