JP7530252B2 - 眼科装置及びその制御方法 - Google Patents
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Description
本発明は、被検眼の断層像を撮影可能な眼科装置及びその制御方法に関する。
光コヒーレンストモグラフィ（Optical Coherence Tomography：ＯＣＴ）を用いた被検眼の断層像撮影を行う眼科装置が知られている（特許文献１参照）。この眼科装置は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を被検眼に照射して、被検眼からの測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系を備えている。この干渉光学系には、測定光を走査する光走査部と、測定光及び参照光の少なくとも一方の光路長を変更するコーナーキューブ或いはリフレクタ等の光路長変更部と、が設けられている。これら光走査部及び光路長変更部を制御することで、被検眼の所望の部位を測定光で走査して所望の部位の断層像が得られる。そして、この眼科装置を用いることで、被検眼の前眼部と後眼部との間の眼内距離、例えば角膜頂点と眼底の中心窩との間の眼軸長を測定することができる。
例えば特許文献２に記載の眼科装置は、干渉光学系により被検眼の角膜と眼底とをそれぞれ測定光で走査して、角膜の断層像である角膜断層像及び眼底の断層像である眼底断層像を撮影する。そして、この眼科装置は、角膜断層像及び眼底断層像と、角膜断層像及び眼底断層像の各々の撮影時の参照光の光路長（例えば光路長変更部の位置）と、に基づき被検眼の眼軸長を測定する。
非特許文献１には、被検眼の眼軸長の測定後に、この眼軸長の測定結果と、角膜断層像と、被検眼の眼底の一点の像とをモニタに同時表示させる眼科装置が開示されている。
"ZEISS IOLMaster 700"、［online］、［令和2年9月2日検索］、インターネット〈https://www.zeiss.com/meditec/int/product-portfolio/optical-biometers/iolmaster-700.html〉
ところで、上記特許文献１、特許文献２、及び非特許文献１に記載の眼科装置を用いて、被検眼の眼内距離、例えば眼軸長を正確に測定するためには、この測定中（測定光による角膜及び眼底の走査中）に被検眼の固視ができている（安定している）必要がある。しかしながら、上記特許文献１及び特許文献２に記載の眼科装置では、眼内距離（眼軸長）の測定中に被検眼の固視ができているか否か、すなわち被検眼の固視状態を確認することができない。
また、非特許文献１に記載の眼科装置では、被検眼の眼軸長の測定後にモニタに表示される角膜断層像等に基づき測定光による角膜の走査時（角膜断層像の撮影時）の被検眼の固視状態を確認可能であるが、測定光による眼底の走査時（眼底断層像の撮影時）の被検眼の固視状態を確認することができない。従って、非特許文献１に記載の眼科装置では、測定光による眼底の走査時に、眼底の中心窩の位置があるべき位置（例えば眼底断層像の中心位置）にあるか否かを確認することができない。さらに、非特許文献１に記載の眼科装置では、被検眼の眼軸長の測定中にリアルタイムで被検眼の固視状態を確認することができない。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、被検眼の眼内距離の測定中に被検眼の固視状態を確認可能な眼科装置及びその制御方法を提供することを目的とする。
本発明の目的を達成するための眼科装置は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を被検眼に照射して、被検眼からの測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出する干渉光学系であって、且つ測定光を走査する光走査部と、測定光及び参照光の少なくとも一方の光路長を変更する光路長変更部と、を有する干渉光学系と、光走査部及び光路長変更部を制御して、被検眼の後眼部を測定光で走査する第１走査制御と、被検眼の前眼部を測定光で走査する第２走査制御と、を実行させる走査制御部と、第１走査制御の下で干渉光学系が検出した干渉光の検出信号に基づき、後眼部の第１断層像を生成する第１断層像生成部と、第２走査制御の下で干渉光学系が検出した検出信号に基づき、前眼部の第２断層像を生成する第２断層像生成部と、第１走査制御中に第１断層像生成部が生成した第１断層像を表示部に表示させ、且つ第２走査制御中に第２断層像生成部が生成した第２断層像を表示部に表示させる表示制御部と、を備える。
この眼科装置によれば、第１走査制御中及び第２走査制御中の被検眼の固視状態をリアルタイムで確認することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、表示制御部が、第１走査制御中に、後眼部の特定部位の像が表示部の画面内で表示されるべき位置を示すガイドラインを表示部に表示させる。これにより、第１走査制御中の被検眼の固視状態を確認することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、表示制御部が、特定部位として後眼部の中心窩の像が表示されるべき位置を示すガイドラインを表示部に表示させる。これにより、第１走査制御中に被検眼の固視ができているか否かを確認することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、第１断層像内から特定部位の像を検出する特定部位検出部を備え、表示制御部が、第１走査制御中に、特定部位検出部の検出結果に基づき、第１断層像内の特定部位を識別可能に表示部に表示させる。これにより、第１走査制御中の被検眼の固視状態を確認することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、第１走査制御で干渉光学系により検出された検出信号と、第２走査制御で干渉光学系により検出された検出信号と、第１走査制御及び第２走査制御における光路長の差とに基づき、前眼部と後眼部との間の眼内距離を演算する眼内距離演算部を備える。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、眼内距離演算部が演算した眼内距離と、第１断層像生成部が生成した第１断層像と、第２断層像生成部が生成した第２断層像と、を表示部に同時表示させる同時表示制御部を備える。これにより、第１走査制御時及び第２走査制御時の被検眼の固視状態を確認することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、同時表示制御部が、眼内距離の大きさに応じて第１断層像と第２断層像との表示間隔を変更する。これにより、眼内距離の大きさを視覚的に示すことができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、被検眼が左右眼である場合に、左右眼ごとに、走査制御部による第１走査制御及び第２走査制御と、第１断層像生成部による第１断層像の生成と、第２断層像生成部による第２断層像の生成と、表示制御部による第１断層像及び第２断層像の表示部への表示と、眼内距離演算部による眼内距離の演算と、が繰り返し実行され、同時表示制御部は、左右眼ごとの眼内距離、第１断層像、及び第２断層像を表示部に同時表示させる。これにより、第１走査制御時及び第２走査制御時の左右眼の固視状態を同時に確認することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、同時表示制御部が、左右眼ごとに眼内距離、第１断層像、及び第２断層像を並べて表示部に表示させ、且つ左右眼ごとに眼内距離の大きさに応じて第１断層像と第２断層像との表示間隔を変更する。これにより、左右眼ごとの眼軸長の長短を視覚的に示すことができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、後眼部が被検眼の眼底であり且つ前眼部が被検眼の角膜である場合、眼内距離演算部が、眼内距離として被検眼の眼軸長を演算する。
本発明の目的を達成するための眼科装置の制御方法は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を被検眼に照射して、被検眼からの測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出する干渉光学系であって、且つ測定光を走査する光走査部と、測定光及び参照光の少なくとも一方の光路長を変更する光路長変更部と、を有する干渉光学系を備える眼科装置の制御方法において、光走査部及び光路長変更部を制御して、被検眼の後眼部を測定光で走査する第１走査制御と、被検眼の前眼部を測定光で走査する第２走査制御と、を実行させる走査制御ステップと、第１走査制御の下で干渉光学系が検出した干渉光の検出信号に基づき、後眼部の第１断層像を生成する第１断層像生成ステップと、第２走査制御の下で干渉光学系が検出した検出信号に基づき、前眼部の第２断層像を生成する第２断層像生成ステップと、第１走査制御中に第１断層像生成ステップで生成した第１断層像を表示部に表示させ、且つ第２走査制御中に第２断層像生成ステップで生成した第２断層像を表示部に表示させる表示制御ステップと、を有する。
本発明は、被検眼の眼内距離の測定中に被検眼の固視状態を確認することができる。
［眼科装置の光学系の構成］
図１は、オートレフケラトメータとＯＣＴ装置とを組み合わせた眼科装置１０００（複合機）の光学系の概略図である。図１に示すように、眼科装置１０００は、被検眼Ｅの眼屈折力測定（レフ測定）及び角膜形状測定（ケラト測定）と、ＯＣＴを用いた被検眼Ｅの断層像の撮影及び眼内パラメータの測定と、を実行する。
図１は、オートレフケラトメータとＯＣＴ装置とを組み合わせた眼科装置１０００（複合機）の光学系の概略図である。図１に示すように、眼科装置１０００は、被検眼Ｅの眼屈折力測定（レフ測定）及び角膜形状測定（ケラト測定）と、ＯＣＴを用いた被検眼Ｅの断層像の撮影及び眼内パラメータの測定と、を実行する。
なお、眼内パラメータとしては、被検眼Ｅの眼軸長、角膜厚、前房深度、水晶体厚、角膜前面の強主経線曲率半径、角膜前面の弱主経線曲率半径、角膜後面の強主経線曲率半径、角膜後面の弱主経線曲率半径、水晶体前面の強主経線曲率半径、水晶体前面の弱主経線曲率半径、水晶体後面の強主経線曲率半径、及び水晶体後面の弱主経線曲率半径などが例として挙げられる。
眼科装置１０００は、アライメント系１と、ケラト測定系３と、固視投影系４と、前眼部観察系５と、レフ測定光学系（レフ測定投射系６及びレフ測定受光系７）と、ＯＣＴ光学系８と、を含む。また、眼科装置１０００は、これら各光学系等を収容する測定ヘッド１００２（装置本体ともいう）を備える。
（前眼部観察系５）
前眼部観察系５は、被検眼Ｅの前眼部の観察像Ｐ１を取得、より具体的には動画撮影する。前眼部観察系５は、前眼部照明光源５０、対物レンズ５１、ダイクロイックフィルタ５２、絞り５３（テレセン絞り）、リレーレンズ５５，５６、ダイクロイックフィルタ７６、結像レンズ５８、及び撮像素子５９を備える。また、前眼部観察系５は、対物レンズ５１から撮像素子５９に至る観察系光路ＬＰ１を有する。
前眼部観察系５は、被検眼Ｅの前眼部の観察像Ｐ１を取得、より具体的には動画撮影する。前眼部観察系５は、前眼部照明光源５０、対物レンズ５１、ダイクロイックフィルタ５２、絞り５３（テレセン絞り）、リレーレンズ５５，５６、ダイクロイックフィルタ７６、結像レンズ５８、及び撮像素子５９を備える。また、前眼部観察系５は、対物レンズ５１から撮像素子５９に至る観察系光路ＬＰ１を有する。
前眼部照明光源５０は、被検眼Ｅの前眼部に不可視光の照明光、例えば波長９４０ｎｍの赤外光を照射する。前眼部により反射された照明光である観察系戻り光は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックフィルタ５２を透過し、絞り５３に形成された孔部を通過し、リレーレンズ５５，５６を通過し、ダイクロイックフィルタ７６を透過する。
ダイクロイックフィルタ５２は、所謂ロングパスフィルタであり、前眼部観察系５で用いられる波長９４０ｎｍ付近の光を透過し、後述のレフ測定光学系及びＯＣＴ光学系８で用いられる波長８４０ｎｍ付近の光を反射する。これにより、ダイクロイックフィルタ５２は、前眼部観察系５の光路からレフ測定光学系及びＯＣＴ光学系８の双方の光路を分岐（波長分離）させる。また、ダイクロイックフィルタ５２は、レフ測定光学系及びＯＣＴ光学系８の双方の光路を前眼部観察系５の光路に合成する。
なお、ダイクロイックフィルタ５２における各光路を分岐及び合成する面は、対物レンズ５１の光軸に対して傾斜して配置される。また、ダイクロイックフィルタ５２の代わりに、波長９４０ｎｍ付近の光を透過し且つ波長８４０ｎｍ付近の光を反射（遮断）する各種の光学素子を用いてもよい。
ダイクロイックフィルタ７６は、前眼部観察系５で用いられる波長９４０ｎｍ付近の光を透過し、後述のレフ測定光学系及びＯＣＴ光学系８で用いられる波長８４０ｎｍ付近の光を反射する。これにより、ダイクロイックフィルタ７６は、前眼部観察系５の光路と、この前眼部観察系５の光路から分岐したレフ測定光学系（レフ測定受光系７）の光路と、を合成する。ダイクロイックフィルタ７６を透過した観察系戻り光は、結像レンズ５８により撮像素子５９の撮像面に結像される。
撮像素子５９は、公知のエリアセンサ（エリアイメージセンサ）であり、前眼部観察系５及びレフ測定光学系（レフ測定受光系７）とで共用される。この撮像素子５９の撮像面は、前眼部観察系５を経由する光学系において瞳孔共役位置に配置されている。なお、瞳孔共役位置は、被検眼Ｅに対する眼科装置１０００のアライメントが完了した状態での被検眼Ｅの瞳孔と光学的に略共役な位置であり、瞳孔と光学的に共役な位置又はその近傍を意味するものとする。撮像素子５９は、結像レンズ５８により撮像面に結像された観察系戻り光を所定のレートで撮像及び信号出力を行う。
撮像素子５９から出力された撮像信号（映像信号）は、後述の処理部９に入力される。処理部９は、被検眼Ｅの前眼部の観察時には、撮像素子５９から出力された撮像信号に基づく観察像Ｐ１（前眼部像）を表示部２７０に表示させる。なお、観察像Ｐ１は、例えば赤外動画像である。
表示部２７０は、例えばタッチパネル式の液晶モニタ等が用いられ、観察像Ｐ１の表示を行う。また、表示部２７０は、ユーザインターフェイス部として機能したり、或いは後述の処理部９の制御部２１０（図３参照）による制御の下で各種情報を表示したりする。
（アライメント系１）
アライメント系１は、被検眼Ｅに対する前眼部観察系５（対物レンズ５１）の光軸に平行なＺ方向（前後方向、作動距離方向）におけるＺアライメントと、光軸に垂直な方向［左右方向（Ｘ方向）、上下方向（Ｙ方向）］のＸＹアライメントと、に用いられる。このアライメント系１は、ステレオカメラ１４を含む。
アライメント系１は、被検眼Ｅに対する前眼部観察系５（対物レンズ５１）の光軸に平行なＺ方向（前後方向、作動距離方向）におけるＺアライメントと、光軸に垂直な方向［左右方向（Ｘ方向）、上下方向（Ｙ方向）］のＸＹアライメントと、に用いられる。このアライメント系１は、ステレオカメラ１４を含む。
ステレオカメラ１４は、一対のカメラにより構成されており、被検眼Ｅの前眼部を互いに異なる方向から撮影して、前眼部の一対の撮影画像であるステレオ画像Ｐ２（図４参照）を後述の処理部９に出力する。処理部９は、詳しくは後述するが、ステレオカメラ１４から入力されたステレオ画像Ｐ２に基づき、被検眼Ｅに対する測定ヘッド１００２のＸＹＺ方向のオートアライメントを行う。なお、ステレオカメラ１４を構成するカメラの数は３以上でもよい。
（ケラト測定系３）
ケラト測定系３は、被検眼Ｅの角膜Ｃｒの形状測定に用いられる。ケラト測定系３は、対物レンズ５１から撮像素子５９までを前眼部観察系５と共用すると共に、赤外光である角膜形状測定用のパターン光（リング状光束）を角膜Ｃｒに投射するためのケラト板３１及びケラトリング光源３２を有する。
ケラト測定系３は、被検眼Ｅの角膜Ｃｒの形状測定に用いられる。ケラト測定系３は、対物レンズ５１から撮像素子５９までを前眼部観察系５と共用すると共に、赤外光である角膜形状測定用のパターン光（リング状光束）を角膜Ｃｒに投射するためのケラト板３１及びケラトリング光源３２を有する。
ケラト板３１は、対物レンズ５１と被検眼Ｅとの間に配置されている。ケラト板３１の背面側（対物レンズ５１側）にはケラトリング光源３２が設けられている。ケラト板３１には、対物レンズ５１の光軸を中心とする円周上に沿ってケラトリング光源３２からの光を透過するケラトパターン（透過部）が形成されている。なお、ケラトパターンは、対物レンズ５１の光軸を中心とする円弧状（円周の一部）に形成されていてもよい。ケラトリング光源３２からの光でケラト板３１を照明することにより、角膜Ｃｒに対して角膜形状測定用のパターン光が投射される。
角膜Ｃｒからの反射光（ケラトリング像）は、撮像素子５９により被検眼Ｅの前眼部の観察像Ｐ１と共に検出される。処理部９は、このケラトリング像を基に公知の演算を行うことで、角膜Ｃｒの形状を表す角膜形状パラメータを算出する。
（レフ測定光学系：レフ測定投射系６及びレフ測定受光系７）
レフ測定光学系は、被検眼Ｅの屈折力値を測定するレフ測定に用いられる。このレフ測定光学系は、レフ測定投射系６及びレフ測定受光系７を含む。レフ測定投射系６は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに対して不可視光（赤外光）のリング状のパターン光を投射する。レフ測定受光系７は、被検眼Ｅからのパターン光の戻り光であるレフ系戻り光を受光する。
レフ測定光学系は、被検眼Ｅの屈折力値を測定するレフ測定に用いられる。このレフ測定光学系は、レフ測定投射系６及びレフ測定受光系７を含む。レフ測定投射系６は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに対して不可視光（赤外光）のリング状のパターン光を投射する。レフ測定受光系７は、被検眼Ｅからのパターン光の戻り光であるレフ系戻り光を受光する。
レフ測定投射系６は、レフ測定受光系７の光路上に設けられた孔開きプリズム６５によって分岐された光路に設けられる。なお、孔開きプリズム６５に形成されている孔部は、瞳孔共役位置に配置される。レフ測定投射系６は、対物レンズ５１及びダイクロイックフィルタ５２を前眼部観察系５と共用すると共に、レフ測定光源６１と、リレーレンズ６２と、円錐プリズム６３と、リング絞り６４と、孔開きプリズム６５と、ロータリープリズム６６と、ダイクロイックフィルタ６７と、を備える。
レフ測定受光系７は、対物レンズ５１から孔開きプリズム６５までをレフ測定投射系６と共用し、且つダイクロイックフィルタ７６から撮像素子５９までを前眼部観察系５と共用する。また、レフ測定受光系７は、リレーレンズ７１、反射ミラー７２、リレーレンズ７３、合焦レンズ７４、及び反射ミラー７５を備える。さらに、レフ測定受光系７は、観察系光路ＬＰ１の途中（ダイクロイックフィルタ５２）から分岐した分岐光路ＬＰ２を有する。
レフ測定光源６１は、例えば高輝度光源であるＳＬＤ（Super Luminescent Diode）光源が用いられ、波長８３０ｎｍ～８９０ｎｍ（本実施形態では８４０ｎｍとする）の不可視光（赤外光）を出射する。また、レフ測定光源６１は、光軸方向に移動可能であり眼底共役位置に配置される。なお、眼底共役位置とは、アライメントが完了した状態での被検眼Ｅの眼底Ｅｆと光学的に略共役な位置であり、眼底Ｅｆと光学的に共役な位置又はその近傍を意味するものとする。
レフ測定光源６１から出力された光は、リレーレンズ６２を通過し、円錐プリズム６３の円錐面に入射する。円錐面に入射した光は偏向され、円錐プリズム６３の底面から出射する。円錐プリズム６３の底面から出射した光は、リング絞り６４に形成されたリング状の透光部を通過する。この透光部を通過したリング状のパターン光（リング状光束）は、孔開きプリズム６５の孔部の周囲に形成された反射面により反射され、ロータリープリズム６６を通過し、ダイクロイックフィルタ６７により反射される。
ダイクロイックフィルタ６７は、レフ測定光学系によるレフ測定時と、ＯＣＴ光学系８によりＯＣＴ測定時と、において差し替えられる。ダイクロイックフィルタ６７は、レフ測定時には波長８４０ｎｍ付近の光を反射し且つ後述の固視投影系４からの視標光を透過するフィルタが用いられ、ＯＣＴ測定時には波長８４０ｎｍ付近の光を透過するフィルタが用いられる。これにより、ダイクロイックフィルタ６７は、レフ測定光学系の光路からＯＣＴ光学系８の光路を分岐（分離）させると共に、これら両光路を合成する。
ダイクロイックフィルタ６７により反射された光は、ダイクロイックフィルタ５２により反射され、対物レンズ５１を通過し、被検眼Ｅに投射される。ロータリープリズム６６は、眼底Ｅｆの血管及び疾患部位等に対するパターン光の光量分布を平均化したり、レフ測定光源６１に起因するスペックルノイズを低減したりするために用いられる。
眼底Ｅｆに投射されたリング状のパターン光の戻り光であるレフ系戻り光は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックフィルタ５２及びダイクロイックフィルタ６７により反射される。ダイクロイックフィルタ６７により反射されたレフ系戻り光は、ロータリープリズム６６を通過し、孔開きプリズム６５の孔部を通過し、リレーレンズ７１を通過し、反射ミラー７２により反射され、リレーレンズ７３及び合焦レンズ７４を通過する。
合焦レンズ７４は、レフ測定受光系７の光軸に沿って移動可能である。合焦レンズ７４を通過した光は、反射ミラー７５により反射され、ダイクロイックフィルタ７６により反射され、結像レンズ５８により撮像素子５９の撮像面に結像される。なお、撮像素子５９の撮像面は、レフ測定受光系７を経由する光学系において眼底共役位置に配置される。処理部９は、撮像素子５９から出力される撮像信号に基づき公知の演算を行うことで被検眼Ｅの屈折力値を演算する。屈折力値は、例えば球面度数、乱視度数及び乱視軸角度、又は等価球面度数を含む。
なお、レフ測定光源６１及び合焦レンズ７４は、後述の処理部９の制御の下、レフ測定光学系を用いて得られた被検眼Ｅの屈折力値に基づき、眼底Ｅｆとレフ測定光源６１と撮像素子５９とが共役となるような位置に、それぞれ光軸方向に移動される（上記特許文献１参照）。
（固視投影系４）
固視投影系４は、ダイクロイックフィルタ８３により後述のＯＣＴ光学系８の光路から分岐された光路に設けられている。
固視投影系４は、ダイクロイックフィルタ８３により後述のＯＣＴ光学系８の光路から分岐された光路に設けられている。
固視投影系４は、固視標を被検眼Ｅに呈示する。固視投影系４の光路には、固視ユニット４０が配置されている。固視ユニット４０は、後述の処理部９からの制御を受け、固視投影系４の光路に沿って移動可能である。固視ユニット４０は、固視投影系４の光路（光軸）に沿って移動可能であり、液晶パネル４１を含む。ダイクロイックフィルタ８３と固視ユニット４０との間に、リレーレンズ４２が配置されている。
液晶パネル４１は、後述の処理部９の制御の下、固視標を表すパターンを表示する。この液晶パネル４１は、固視標を表すパターンの表示位置を任意に変更可能である。これにより、被検眼Ｅの固視位置を変更できる。被検眼Ｅの固視位置としては、眼底Ｅｆの黄斑部を中心とする画像を取得するための位置、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための位置、及び黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための位置などがある。
また、液晶パネル４１は、後述の処理部９の制御の下、既述のレフ測定光源６１及び合焦レンズ７４の移動に連動して光軸方向に移動される（特許文献１参照）。
液晶パネル４１からの視標光は、リレーレンズ４２を通過し、ダイクロイックフィルタ８３を透過し、リレーレンズ８２を通過し、反射ミラー８１により反射され、ダイクロイックフィルタ６７を透過し、ダイクロイックフィルタ５２により反射される。ダイクロイックフィルタ５２により反射された視標光は、対物レンズ５１を通過して眼底Ｅｆに投射される。これにより、被検眼Ｅの固視（視線方向の固定）が実行される。
（ＯＣＴ光学系８）
ＯＣＴ光学系８は、本発明の干渉光学系に相当するものであり、被検眼ＥのＯＣＴ測定を行うための光学系である。ＯＣＴ光学系８は、レフ測定光学系から分岐して設けられている。ＯＣＴ光学系８は、ダイクロイックフィルタ５２により前眼部観察系５の光路から分岐（波長分離）され且つダイクロイックフィルタ６７によりレフ測定光学系の光路から分岐された分岐光路ＬＰ３を有する。なお、既述の固視投影系４の光路は、ダイクロイックフィルタ８３によりＯＣＴ光学系８の分岐光路ＬＰ３に合成（結合）される。これにより、ＯＣＴ光学系８及び固視投影系４のそれぞれの光軸を同軸で結合することができる。
ＯＣＴ光学系８は、本発明の干渉光学系に相当するものであり、被検眼ＥのＯＣＴ測定を行うための光学系である。ＯＣＴ光学系８は、レフ測定光学系から分岐して設けられている。ＯＣＴ光学系８は、ダイクロイックフィルタ５２により前眼部観察系５の光路から分岐（波長分離）され且つダイクロイックフィルタ６７によりレフ測定光学系の光路から分岐された分岐光路ＬＰ３を有する。なお、既述の固視投影系４の光路は、ダイクロイックフィルタ８３によりＯＣＴ光学系８の分岐光路ＬＰ３に合成（結合）される。これにより、ＯＣＴ光学系８及び固視投影系４のそれぞれの光軸を同軸で結合することができる。
ＯＣＴ光学系８は、対物レンズ５１、ダイクロイックフィルタ５２，６７、反射ミラー８１、リレーレンズ８２、ダイクロイックフィルタ８３、反射ミラー８４、リレーレンズ８５、合焦レンズ８７、光スキャナー８８、コリメータレンズユニット８９、及びＯＣＴユニット１００を有する。
図２は、ＯＣＴユニット１００の光学系の概略図である。図２及び既述の図１に示すように、ＯＣＴユニット１００のＯＣＴ光源１０１は、一般的なスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置の光源と同様に出射光の波長を掃引（走査）可能な波長掃引型（波長走査型）光源であって、共振器を含むレーザー光源を含む。ＯＣＴ光源１０１は、人眼では視認できない近赤外の波長域において、出力波長を時間的に変化させる。
ＯＣＴユニット１００には、スウェプトソースＯＣＴを実行するための光学系が設けられている。この光学系は、干渉光学系を含む。この干渉光学系は、ＯＣＴ光源１０１からの光Ｌ０を測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割する機能と、被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光であるＯＣＴ系戻り光ＬＳ１と参照光路を経由した参照光ＬＲとを重ね合わせて干渉光ＬＣを生成する機能と、この干渉光ＬＣを検出する機能とを備える。干渉光学系により得られた干渉光ＬＣの検出結果（検出信号）は、干渉光ＬＣのスペクトルを示す信号であり、処理部９に送られる。
ＯＣＴ光源１０１は、例えば出射光（光Ｌ０）の波長を、レフ測定光源６１から出射される光の波長域と同一（略同一、重複、一部重複を含む）の波長域の波長８６０ｎｍ付近（本実施形態では８４０ｎｍとする）を基準として高速で変化させる。ＯＣＴ光源１０１から出力された光Ｌ０は、光ファイバー１０２により偏波コントローラ１０３に導かれてその偏光状態が調整される。偏光状態が調整された光Ｌ０は、光ファイバー１０４によりファイバーカプラー１０５に導かれ、ファイバーカプラー１０５によって測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。
参照光ＬＲは、光ファイバー１１０によりコリメータ１１１に導かれて平行光束に変換され、光路長補正部材１１２及び分散補償部材１１３を経由し、コーナーキューブ１１４に導かれる。光路長補正部材１１２は、参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長とを合わせるよう作用する。分散補償部材１１３は、参照光ＬＲと測定光ＬＳとの間の分散特性を合わせるよう作用する。
コーナーキューブ１１４（リトロリフレクタ）及びコーナーキューブ移動機構１１５は、本発明の光路長変更部に相当する。コーナーキューブ１１４は、コーナーキューブ移動機構１１５により、参照光ＬＲの入射方向に沿って移動自在に保持されている。コーナーキューブ移動機構１１５は、コーナーキューブ１１４を参照光ＬＲの入射方向に沿って移動させるアクチュエータであり、それにより参照光ＬＲの光路長を変更する。
コーナーキューブ１１４を経由した参照光ＬＲは、分散補償部材１１３及び光路長補正部材１１２を経由し、コリメータ１１６によって平行光束から集束光束に変換され、光ファイバー１１７に入射する。光ファイバー１１７に入射した参照光ＬＲは、偏波コントローラ１１８に導かれてその偏光状態が調整され、光ファイバー１１９によりアッテネータ１２０に導かれて光量が調整され、光ファイバー１２１によりファイバーカプラー１２２に導かれる。
一方、ファイバーカプラー１０５により生成された測定光ＬＳは、光ファイバーｆ１により導かれてコリメータレンズユニット８９により平行光束に変換される。平行光束に変換された測定光ＬＳは、合焦レンズ８７、リレーレンズ８５、及び反射ミラー８４を経由し、ダイクロイックフィルタ８３により反射される。
合焦レンズ８７は、光軸方向（対物レンズ５１の光軸方向、ＯＣＴ光学系８の光軸方向）に移動可能である。合焦レンズ８７は、後述の処理部９の制御の下、合焦レンズ７４の移動に連動して光軸方向に移動される。また、合焦レンズ８７は、ＯＣＴ測定よりも前に実施された被検眼Ｅのレフ測定結果に基づき、光ファイバーｆ１の端面が計測部位（眼底Ｅｆ又は前眼部）と光学系に共役となるように位置調整される。
光スキャナー８８は、本発明の光走査部に相当するものであり、例えば、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）スキャナー、ガルバノミラー、ポリゴンミラー、回転ミラー、ダボプリズム、ダブルダボプリズム、及びローテーションプリズムなどが用いられる。この光スキャナー８８は、測定光ＬＳを２次元的に偏向、例えばＯＣＴ光学系８の光軸に直交する水平方向及び垂直方向に撮影部位（角膜Ｃｒ、眼底Ｅｆ等）を走査（スキャン）するように測定光ＬＳを偏向する。このような測定光ＬＳの走査態様としては、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、及び螺旋スキャンなどがある。
ダイクロイックフィルタ８３により反射された測定光ＬＳは、リレーレンズ８２を通過し、反射ミラー８１により反射され、ダイクロイックフィルタ６７を透過し、ダイクロイックフィルタ５２により反射され、対物レンズ５１により屈折されて被検眼Ｅに入射する。被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光であるＯＣＴ系戻り光ＬＳ１（本発明の戻り光に相当）は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバーカプラー１０５に導かれ、さらに光ファイバー１２８を経由してファイバーカプラー１２２に到達する。
ファイバーカプラー１２２は、光ファイバー１２８を介して入射されたＯＣＴ系戻り光ＬＳ１と、光ファイバー１２１を介して入射された参照光ＬＲとの干渉光ＬＣを生成する。また、ファイバーカプラー１２２は、所定の分岐比（例えば１：１）で干渉光ＬＣを分岐することにより、一対の干渉光ＬＣを生成する。一対の干渉光ＬＣは、それぞれ光ファイバー１２３，１２４を通じて検出器１２５に導かれる。
検出器１２５は、例えばバランスドフォトダイオードである。バランスドフォトダイオードは、一対の干渉光ＬＣをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを含み、これらフォトディテクタにより得られた一対の検出結果の差分を出力する。検出器１２５は、この出力（検出信号）をデータ収集機器（Data Acquisition System）であるＤＡＱ１３０に送る。
ＤＡＱ１３０には、ＯＣＴ光源１０１からクロックＫＣが供給される。ＯＣＴ光源１０１は、所定の波長範囲内で掃引される光Ｌ０の各波長の出力タイミングに同期してクロックＫＣを生成する。ＯＣＴ光源１０１は、例えば、各出力波長の光Ｌ０を分岐することにより得られた２つの分岐光の一方を光学的に遅延させた後、これらの合成光を検出した結果に基づいてクロックＫＣを生成する。ＤＡＱ１３０は、検出器１２５から入力される検出信号をクロックＫＣに基づきサンプリングする。
また、ＤＡＱ１３０は、検出器１２５からの検出信号のサンプリング結果を処理部９の演算処理部２２０（図３参照）に送る。演算処理部２２０は、例えば一連の波長走査毎に（Ａライン毎に）、サンプリングデータに基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことにより、各Ａラインにおける反射強度プロファイルを形成する。更に、演算処理部２２０は、各Ａラインの反射強度プロファイルを画像化することにより画像データ（Ｂスキャン像）を形成する。
［処理部９の構成］
図３は、処理部９の機能ブロック図である。
図３は、処理部９の機能ブロック図である。
図３に示すように、処理部９は、各種のプロセッサ（Processor）及びメモリ等から構成された演算回路を備える。各種のプロセッサには、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、及びプログラマブル論理デバイス［例えばＳＰＬＤ（Simple Programmable Logic Devices）、ＣＰＬＤ（Complex Programmable Logic Device）、及びＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Arrays）］等が含まれる。なお、処理部９の各種機能は、１つのプロセッサにより実現されてもよいし、同種または異種の複数のプロセッサで実現されてもよい。この処理部９は、不図示の記憶回路又は記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、制御部２１０及び演算処理部２２０として機能する。
また、処理部９には、既述の眼科装置１０００の各部の他に、移動機構２００と、移動機構４０Ｄ，８０Ｄと、移動機構６１Ｄ，７４Ｄと、操作部２８０と、通信部２９０と、が接続されている。
（移動機構２００）
移動機構２００は、本発明の相対移動機構に相当するものであり、被検眼Ｅに対して測定ヘッド１００２をＸＹＺ方向（前後左右上下方向）に相対移動させる。この移動機構２００には、測定ヘッド１００２を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構と、が設けられている。アクチュエータは、例えばパルスモータにより構成される。伝達機構は、例えば歯車の組み合わせ或いはラックアンドピニオンなどによって構成される。移動機構２００は、制御部２１０（主制御部２１１）の制御の下、測定ヘッド１００２の移動を行う。
移動機構２００は、本発明の相対移動機構に相当するものであり、被検眼Ｅに対して測定ヘッド１００２をＸＹＺ方向（前後左右上下方向）に相対移動させる。この移動機構２００には、測定ヘッド１００２を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構と、が設けられている。アクチュエータは、例えばパルスモータにより構成される。伝達機構は、例えば歯車の組み合わせ或いはラックアンドピニオンなどによって構成される。移動機構２００は、制御部２１０（主制御部２１１）の制御の下、測定ヘッド１００２の移動を行う。
（移動機構４０Ｄ，８０Ｄ，６１Ｄ，７４Ｄ）
移動機構４０Ｄは、固視ユニット４０（液晶パネル４１）を固視投影系４の光軸方向（対物レンズ５１の光軸方向）に移動させる。移動機構８０Ｄは、ＯＣＴ光学系８の合焦レンズ８７をＯＣＴ光学系８の光軸方向（対物レンズ５１の光軸方向）に移動させる。移動機構６１Ｄは、レフ測定投射系６のレフ測定光源６１をその光軸方向に移動させる。移動機構７４Ｄは、レフ測定受光系７の合焦レンズ７４をその光軸方向に移動させる。
移動機構４０Ｄは、固視ユニット４０（液晶パネル４１）を固視投影系４の光軸方向（対物レンズ５１の光軸方向）に移動させる。移動機構８０Ｄは、ＯＣＴ光学系８の合焦レンズ８７をＯＣＴ光学系８の光軸方向（対物レンズ５１の光軸方向）に移動させる。移動機構６１Ｄは、レフ測定投射系６のレフ測定光源６１をその光軸方向に移動させる。移動機構７４Ｄは、レフ測定受光系７の合焦レンズ７４をその光軸方向に移動させる。
各移動機構４０Ｄ，８０Ｄ，６１Ｄ，７４Ｄは、移動機構２００と同様に、駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とを含む。各移動機構４０Ｄ，８０Ｄ，６１Ｄ，７４Ｄは、具体的な説明は省略するが、制御部２１０（主制御部２１１）の制御の下、固視ユニット４０、合焦レンズ８７、レフ測定光源６１、及び合焦レンズ７４の移動をそれぞれ行う（上記特許文献１参照）。
（操作部２８０）
操作部２８０は、眼科装置１０００の各種操作の入力を受け付ける。操作部２８０は、眼科装置１０００に設けられた各種のハードウェアキー（操作レバー、ボタン、及びスイッチなど）を含む。また、操作部２８０には、タッチパネル式の表示部２７０の表示画面に表示される各種のソフトウェアキー（ボタン、アイコン、及びメニューなど）も含まれる。
操作部２８０は、眼科装置１０００の各種操作の入力を受け付ける。操作部２８０は、眼科装置１０００に設けられた各種のハードウェアキー（操作レバー、ボタン、及びスイッチなど）を含む。また、操作部２８０には、タッチパネル式の表示部２７０の表示画面に表示される各種のソフトウェアキー（ボタン、アイコン、及びメニューなど）も含まれる。
（通信部２９０）
通信部２９０は、図示しない外部装置と通信するための機能を有する。通信部２９０は、外部装置との接続形態に応じた通信インターフェイスを備える。外部装置の例として、レンズの光学特性を測定する眼鏡レンズ測定装置がある。また、外部装置は、任意の眼科装置、記録媒体から情報を読み取る装置（リーダ）、或いは記録媒体に情報を書き込む装置（ライタ）などでもよい。さらに、外部装置は、病院情報システム（Hospital Information System：HIS）サーバ、ＤＩＣＯＭ（Digital Imaging and Communications in Medicine）サーバ、医師端末、モバイル端末、個人端末、及びクラウドサーバなどでもよい。さらにまた、外部装置は眼科装置１０００の遠隔操作を行う遠隔操作装置であってもよい。なお、通信部２９０は、例えば処理部９に設けられていてもよい。
通信部２９０は、図示しない外部装置と通信するための機能を有する。通信部２９０は、外部装置との接続形態に応じた通信インターフェイスを備える。外部装置の例として、レンズの光学特性を測定する眼鏡レンズ測定装置がある。また、外部装置は、任意の眼科装置、記録媒体から情報を読み取る装置（リーダ）、或いは記録媒体に情報を書き込む装置（ライタ）などでもよい。さらに、外部装置は、病院情報システム（Hospital Information System：HIS）サーバ、ＤＩＣＯＭ（Digital Imaging and Communications in Medicine）サーバ、医師端末、モバイル端末、個人端末、及びクラウドサーバなどでもよい。さらにまた、外部装置は眼科装置１０００の遠隔操作を行う遠隔操作装置であってもよい。なお、通信部２９０は、例えば処理部９に設けられていてもよい。
（制御部２１０）
制御部２１０は、既述のプロセッサを含み、眼科装置１０００の各部を制御する。制御部２１０は、主制御部２１１と、記憶部２１２と、を含む。記憶部２１２は、眼科装置１０００を制御するためのコンピュータプログラムと、各種のデータと、を記憶する。
制御部２１０は、既述のプロセッサを含み、眼科装置１０００の各部を制御する。制御部２１０は、主制御部２１１と、記憶部２１２と、を含む。記憶部２１２は、眼科装置１０００を制御するためのコンピュータプログラムと、各種のデータと、を記憶する。
記憶部２１２に記憶されるコンピュータプログラムには、眼科装置１０００の各部の作動を制御する制御プログラムと、眼科装置１０００に各種測定及び計測を実行させるための制御プログラムと、演算処理部２２０による演算処理用の制御プログラムと、が含まれる。このようなコンピュータプログラムに従って主制御部２１１が動作することにより、制御部２１０は制御処理を実行する。
また、記憶部２１２に記憶されるデータとしては、例えば他覚測定の測定結果（屈折力値、角膜形状）、断層像の画像データ、眼底像の画像データ、及び被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤ（identification）及び氏名などの被検者に関する情報と、被検眼Ｅが左右眼のいずれであるかを示す左右眼情報などの被検眼Ｅに関する情報を含む。
さらに本実施形態の記憶部２１２には、被検眼Ｅの眼軸長の測定結果を示す後述の眼軸長測定情報３２０（図１０参照）が記憶される。
主制御部２１１は、眼科装置１０００の各種制御を行う。この各種制御には、被検眼Ｅに対する測定ヘッド１００２のアライメントに係るアライメント制御、被検眼Ｅの角膜形状の測定（ケラト測定）に係るケラト測定制御、被検眼Ｅの眼屈折力の測定（レフ測定）に係るレフ測定制御、及び被検眼ＥのＯＣＴ測定（断層像撮影及び眼内パラメータ演算）に係るＯＣＴ測定制御などの公知の制御が複数含まれる。なお、ケラト測定制御及びレフ測定制御については公知技術（例えば特許文献１参照）であるので、ここでは具体的な説明は省略する。
（アライメント制御）
主制御部２１１は、ＯＣＴ測定前にアライメント系１及び移動機構２００を制御して、アライメント制御を行う。例えば、主制御部２１１は、アライメント系１のステレオカメラ１４による被検眼Ｅの前眼部の撮影を実行させ、ステレオカメラ１４により撮影されたステレオ画像Ｐ２に基づき被検眼Ｅの３次元位置を公知の手法（例えば特開２０１３－２４８３７６号公報参照）で検出するアライメント検出を行う。そして、主制御部２１１は、アライメント検出結果に基づき移動機構２００を駆動して、測定ヘッド１００２を前後左右上下に移動させることで、被検眼Ｅに対する測定ヘッド１００２のオートアライメントを実行させる。
主制御部２１１は、ＯＣＴ測定前にアライメント系１及び移動機構２００を制御して、アライメント制御を行う。例えば、主制御部２１１は、アライメント系１のステレオカメラ１４による被検眼Ｅの前眼部の撮影を実行させ、ステレオカメラ１４により撮影されたステレオ画像Ｐ２に基づき被検眼Ｅの３次元位置を公知の手法（例えば特開２０１３－２４８３７６号公報参照）で検出するアライメント検出を行う。そして、主制御部２１１は、アライメント検出結果に基づき移動機構２００を駆動して、測定ヘッド１００２を前後左右上下に移動させることで、被検眼Ｅに対する測定ヘッド１００２のオートアライメントを実行させる。
（ＯＣＴ測定制御）
主制御部２１１は、オートアライメントの完了後、ＯＣＴ光学系８及び演算処理部２２０を制御して被検眼ＥのＯＣＴ測定を行うＯＣＴ測定制御を行う。なお、主制御部２１１は、ＯＣＴ測定制御を開始する前に、固視投影系４の液晶パネル４１を制御して固視標を被検眼Ｅに呈示する。また、主制御部２１１は、コーナーキューブ移動機構１１５を駆動してコーナーキューブ１１４を移動させることで、参照光ＬＲの光路長を、例えば眼底Ｅｆの断層像の撮影に対応した光路長に変更したり、或いは角膜Ｃｒの断層像の撮影に対応した光路長に変更したりする。
主制御部２１１は、オートアライメントの完了後、ＯＣＴ光学系８及び演算処理部２２０を制御して被検眼ＥのＯＣＴ測定を行うＯＣＴ測定制御を行う。なお、主制御部２１１は、ＯＣＴ測定制御を開始する前に、固視投影系４の液晶パネル４１を制御して固視標を被検眼Ｅに呈示する。また、主制御部２１１は、コーナーキューブ移動機構１１５を駆動してコーナーキューブ１１４を移動させることで、参照光ＬＲの光路長を、例えば眼底Ｅｆの断層像の撮影に対応した光路長に変更したり、或いは角膜Ｃｒの断層像の撮影に対応した光路長に変更したりする。
主制御部２１１は、ＯＣＴ光学系８を制御して、ＯＣＴユニット１００のＯＣＴ光源１０１を点灯させると共に、光スキャナー８８の動作を開始させることで、被検眼Ｅの所定の部位（前眼部、眼底Ｅｆ、又は両者）を測定光ＬＳで走査させる。また、主制御部２１１は、ＯＣＴ光学系８を制御して、検出器１２５による一対の干渉光ＬＣの検出及び検出信号の出力と、ＤＡＱ１３０による検出信号のサンプリングとを実行させた後、この検出信号のサンプリング結果を演算処理部２２０に入力させる。さらに、主制御部２１１は、演算処理部２２０に対して、検出信号のサンプリング結果に基づく断層像の形成及び眼内パラメータの演算を実行させる。
（演算処理部２２０）
演算処理部２２０は、眼屈折力演算部２２１Ａと、角膜形状演算部２２１Ｂと、画像形成部２２２と、データ処理部２２３と、眼内距離演算部２２４と、を含む。
演算処理部２２０は、眼屈折力演算部２２１Ａと、角膜形状演算部２２１Ｂと、画像形成部２２２と、データ処理部２２３と、眼内距離演算部２２４と、を含む。
眼屈折力演算部２２１Ａは、主制御部２１１の制御の下、被検眼Ｅのレフ測定時に撮像素子５９により撮像された眼底Ｅｆの撮影画像（リング像）を公知の手法で解析して、被検眼Ｅの屈折力値（球面度数、乱視度数、及び乱視軸角度）を演算する。また、角膜形状演算部２２１Ｂは、主制御部２１１の制御の下、被検眼Ｅのケラト測定時に撮像素子５９により撮像された観察像Ｐ１を公知の手法で解析して、被検眼Ｅの角膜形状（角膜屈折力、角膜乱視度、及び角膜乱視軸角度）を演算する。
画像形成部２２２は、主制御部２１１の制御の下、ＯＣＴ測定時に検出器１２５及びＤＡＱ１３０を経て入力された検出信号のサンプリング結果に基づき、従来のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴと同様のフィルタ処理及び高速フーリエ変換処理などを実行して、被検眼Ｅの断層像の画像データ（Ｂスキャン像）を形成する。
データ処理部２２３は、主制御部２１１の制御の下、画像形成部２２２により形成された断層像に対して各種のデータ処理（画像処理）及び解析処理を施す。例えば、データ処理部２２３は、各断層像に対して輝度補正及び分散補正等の補正処理を実行する。また、データ処理部２２３は、前眼部観察系５を用いて得られた被検眼Ｅの前眼部の観察像Ｐ１に対しても各種の画像処理及び解析処理を施す。
眼内距離演算部２２４は、主制御部２１１の制御の下、被検眼Ｅの前眼部（角膜Ｃｒ）の任意領域（部位）と後眼部（眼底Ｅｆ）の任意領域との眼内距離の演算を行う。この眼内距離には、角膜Ｃｒの角膜頂点と眼底Ｅｆの中心窩Ｆｃ（図５参照）との間の距離である眼軸長が含まれる。従って、上述の主制御部２１１によるＯＣＴ測定制御には、被検眼Ｅの眼内パラメータとして被検眼Ｅの眼軸長を測定する眼軸長測定制御が含まれる。
図４は、眼軸長測定制御を実行する場合の主制御部２１１の機能ブロック図である。なお、図４では、眼軸長測定制御に直接的に関係の無い眼科装置１０００の構成及び主制御部２１１及び演算処理部２２０の機能については図示を省略している。
図４に示すように、主制御部２１１は、眼軸長測定制御を実行する場合、すなわち操作部２８０等で被検眼Ｅの眼軸長の測定開始操作がなされた場合に、画像取得部３００、アライメント制御部３０２、走査制御部３０４、断層像生成制御部３０６、特定部位検出部３０８、表示制御部３１０、及びプレビュー画面生成部３１２として機能する。なお、測定開始操作には、被検眼情報（患者ＩＤ、左右眼の識別情報）の入力操作も含まれる。
画像取得部３００は、被検眼Ｅの眼軸長の測定開始操作に応じて前眼部観察系５から被検眼Ｅの前眼部の観察像Ｐ１を取得して表示制御部３１０へ出力する。以下、画像取得部３００は、被検眼Ｅの眼軸長の測定が完了するまでの間、前眼部観察系５からの観察像Ｐ１の取得と、表示制御部３１０への観察像Ｐ１の出力とを実行する。
アライメント制御部３０２は、被検眼Ｅの眼軸長の測定開始操作に応じて、上記のアライメント制御に記載した通り、ステレオカメラ１４からのステレオ画像Ｐ２の取得と、アライメント検出と、オートアライメントと、を実行する。また、アライメント制御部３０２は、被検眼Ｅの眼軸長の測定が完了するまでの間、ステレオカメラ１４からのステレオ画像Ｐ２の取得と、表示制御部３１０へのステレオ画像Ｐ２の出力とを実行する。
走査制御部３０４は、ＯＣＴ光学系８の制御、すなわち測定光ＬＳによる被検眼Ｅの走査を制御する。走査制御部３０４は、測定ヘッド１００２のオートアライメント完了後、コーナーキューブ移動機構１１５及び光スキャナー８８を制御して、測定光ＬＳにより眼底Ｅｆを走査（Ｂスキャン）する第１走査制御と、測定光ＬＳにより角膜Ｃｒを走査（Ｂスキャン）する第２走査制御と、を順番に実行する。第１走査制御では、ＯＣＴ光学系８が眼底Ｅｆに対する測定光ＬＳの走査（Ｂスキャン）と干渉光ＬＣの検出とを複数回実行する。また、第２走査制御では、ＯＣＴ光学系８が角膜Ｃｒに対する測定光ＬＳの走査（Ｂスキャン）と干渉光ＬＣの検出とを複数回実行する。
なお、第１走査制御及び第２走査制御（コーナーキューブ１１４の移動による参照光ＬＲの光路長変更を含む）については公知技術であるので、ここでは具体的な説明は省略する（例えば特許文献２等参照）。また、第１走査制御後に第２走査制御を実行する代わりに、第２走査制御後に第１走査制御を実行してもよい。
断層像生成制御部３０６は、既述の画像形成部２２２と共に本発明の第１断層像生成部及び第２断層像生成部として機能する。
具体的には断層像生成制御部３０６は、第１走査制御が開始された場合には、検出器１２５及びＤＡＱ１３０を経て入力された検出信号のサンプリング結果に基づき、画像形成部２２２を制御して眼底Ｅｆの断層像である眼底断層像Ｐ３（本発明の第１断層像に相当）の生成を行う。これにより、第１走査制御において測定光ＬＳによる眼底Ｅｆの走査（Ｂスキャン）が実行されるごとに、画像形成部２２２により新たな眼底断層像Ｐ３が生成される。眼底断層像Ｐ３は、画像形成部２２２から表示制御部３１０へ逐次出力される。
また、断層像生成制御部３０６は、第２走査制御が開始された場合には、検出器１２５及びＤＡＱ１３０を経て入力された検出信号のサンプリング結果に基づき、画像形成部２２２を制御して角膜Ｃｒの断層像である角膜断層像Ｐ４（本発明の第２断層像に相当）の生成を行う。これにより、第２走査制御において測定光ＬＳによる角膜Ｃｒの走査（Ｂスキャン）が実行されるごとに、画像形成部２２２により新たな角膜断層像Ｐ４が生成される。角膜断層像Ｐ４は、画像形成部２２２から表示制御部３１０へ逐次出力される。
特定部位検出部３０８は、第１走査制御時において、画像形成部２２２により眼底断層像Ｐ３が生成されるごとに、公知の画像解析法を用いて、眼底断層像Ｐ３内から被検眼Ｅ（眼底Ｅｆ）の特定部位の像である中心窩Ｆｃ（図５参照）の像を検出する。なお、中心窩Ｆｃは視神経乳頭よりも小さな陥凹形状であるので、眼底断層像Ｐ３から小さな窪み形状を検出することで中心窩Ｆｃの像を容易に検出可能である。そして、特定部位検出部３０８は、眼底断層像Ｐ３内から中心窩Ｆｃの像を検出するごとに、眼底断層像Ｐ３内での中心窩Ｆｃの像の位置及び範囲を示す中心窩検出情報を表示制御部３１０へ出力する。
［第１ライブ表示画面４００Ａ］
表示制御部３１０は、第１走査制御が開始された場合には、第１走査制御中の被検眼Ｅの状態を示す第１ライブ表示画面４００Ａを生成して表示部２７０に表示させる。具体的には表示制御部３１０は、操作部２８０から入力される被検眼情報と、画像取得部３００から逐次入力される観察像Ｐ１と、アライメント制御部３０２から逐次入力されるステレオ画像Ｐ２と、断層像生成制御部３０６から逐次入力される眼底断層像Ｐ３と、特定部位検出部３０８から眼底断層像Ｐ３ごとに入力される中心窩検出情報と、に基づき、第１ライブ表示画面４００Ａを生成して表示部２７０に表示させる。
表示制御部３１０は、第１走査制御が開始された場合には、第１走査制御中の被検眼Ｅの状態を示す第１ライブ表示画面４００Ａを生成して表示部２７０に表示させる。具体的には表示制御部３１０は、操作部２８０から入力される被検眼情報と、画像取得部３００から逐次入力される観察像Ｐ１と、アライメント制御部３０２から逐次入力されるステレオ画像Ｐ２と、断層像生成制御部３０６から逐次入力される眼底断層像Ｐ３と、特定部位検出部３０８から眼底断層像Ｐ３ごとに入力される中心窩検出情報と、に基づき、第１ライブ表示画面４００Ａを生成して表示部２７０に表示させる。
図５は、被検眼Ｅの固視ができている場合（アライメントが適切である場合）の第１ライブ表示画面４００Ａの一例を説明するための説明図である。図６は、図５中の眼底断層像表示領域４０８の拡大図である。図７は、被検眼Ｅの固視ができていない場合の第１ライブ表示画面４００Ａの一例を説明するための説明図である。図５から図７と、既述の図４とに示すように、第１ライブ表示画面４００Ａは、左右眼情報領域４０２と、観察像表示領域４０４と、ステレオ画像表示領域４０６と、眼底断層像表示領域４０８と、を含む。
左右眼情報領域４０２は、被検眼Ｅが左右眼のいずれであるかを表示する領域である。表示制御部３１０は、操作部２８０から入力された被検眼情報に基づき、左右眼情報領域４０２の表示を制御する。ここで、図５及び図７中の左右眼情報領域４０２は、被検眼Ｅが右眼であることを示している。なお、左右眼情報領域４０２の表示態様については、被検眼Ｅが左右眼のいずれであるかを判別可能であれば特に限定はされない。
観察像表示領域４０４は、観察像Ｐ１を表示する領域である。表示制御部３１０は、画像取得部３００から逐次入力される観察像Ｐ１に基づき、観察像表示領域４０４に観察像Ｐ１をライブ表示させる。これにより、第１走査制御中の観察像Ｐ１（前眼部）をリアルタイムで確認することができる。
ステレオ画像表示領域４０６は、ステレオ画像Ｐ２を表示する領域である。表示制御部３１０は、アライメント制御部３０２から逐次入力されるステレオ画像Ｐ２に基づき、ステレオ画像表示領域４０６にステレオ画像Ｐ２をライブ表示させる。これにより、第１走査制御中のステレオ画像Ｐ２（前眼部）をリアルタイムで確認することができる。
眼底断層像表示領域４０８は、眼底断層像Ｐ３を表示する領域である。表示制御部３１０は、断層像生成制御部３０６から逐次入力される眼底断層像Ｐ３に基づき、眼底断層像表示領域４０８に眼底断層像Ｐ３をライブ表示させる。これにより、第１走査制御中の眼底断層像Ｐ３をリアルタイムで確認することができる。
この際に表示制御部３１０は、特定部位検出部３０８から眼底断層像Ｐ３ごとに入力される中心窩検出情報に基づき、眼底断層像Ｐ３内の中心窩Ｆｃの位置を示す指標４１０を、眼底断層像表示領域４０８内の眼底断層像Ｐ３上に重畳表示させる。これにより、眼底断層像表示領域４０８に表示される眼底断層像Ｐ３内の中心窩Ｆｃの像を容易に識別することができる。
なお、表示制御部３１０が、眼底断層像表示領域４０８内の眼底断層像Ｐ３上に指標４１０を重畳表示させる代わりに、中心窩Ｆｃを識別可能な各種表示態様で眼底断層像表示領域４０８内の眼底断層像Ｐ３の表示を行ってもよい。
また、表示制御部３１０は、眼底断層像表示領域４０８内に２種類の第１ガイドライン４１２及び第２ガイドライン４１４を表示させる。
第１ガイドライン４１２は、本発明のガイドラインに相当するものであり、眼底断層像表示領域４０８内（表示部２７０の画面内）で中心窩Ｆｃの像が表示されるべき位置、例えば眼底断層像表示領域４０８の中央部を示す。これにより、眼底断層像Ｐ３内の中心窩Ｆｃの像の位置が、第１ガイドライン４１２で規定される位置範囲内にあるか（図５及び図６参照）或いはこの位置範囲外にあるか（図７参照）に基づき、第１走査制御中の被検眼Ｅの固視ができているか否か、すなわち固視状態を容易に確認することができる。
第２ガイドライン４１４は、眼底断層像表示領域４０８を上下方向に２分割したラインである。眼底断層像表示領域４０８内で眼底断層像Ｐ３（眼底Ｅｆの断面を示す領域）が第２ガイドライン４１４よりも上方に位置するように眼底断層像Ｐ３の撮影を行うことで、眼底断層像Ｐ３の画質が良好になる。このため、第２ガイドライン４１４は、眼底断層像表示領域４０８内で眼底断層像Ｐ３が表示されるべき位置を示す。
［第２ライブ表示画面４００Ｂ］
図８は、第２ライブ表示画面４００Ｂの一例を説明するための説明図である。図８及び既述の図４に示すように、表示制御部３１０は、第２走査制御が開始された場合には、第２走査制御中の被検眼Ｅの状態を示す第２ライブ表示画面４００Ｂを生成して表示部２７０に表示させる。具体的には表示制御部３１０は、操作部２８０から入力される被検眼情報と、画像取得部３００から逐次入力される観察像Ｐ１と、アライメント制御部３０２から逐次入力されるステレオ画像Ｐ２と、断層像生成制御部３０６から逐次入力される角膜断層像Ｐ４と、に基づき、第２ライブ表示画面４００Ｂを生成して表示部２７０に表示させる。
図８は、第２ライブ表示画面４００Ｂの一例を説明するための説明図である。図８及び既述の図４に示すように、表示制御部３１０は、第２走査制御が開始された場合には、第２走査制御中の被検眼Ｅの状態を示す第２ライブ表示画面４００Ｂを生成して表示部２７０に表示させる。具体的には表示制御部３１０は、操作部２８０から入力される被検眼情報と、画像取得部３００から逐次入力される観察像Ｐ１と、アライメント制御部３０２から逐次入力されるステレオ画像Ｐ２と、断層像生成制御部３０６から逐次入力される角膜断層像Ｐ４と、に基づき、第２ライブ表示画面４００Ｂを生成して表示部２７０に表示させる。
第２ライブ表示画面４００Ｂは、第１ライブ表示画面４００Ａと同様の左右眼情報領域４０２、観察像表示領域４０４、及びステレオ画像表示領域４０６の他に、角膜断層像表示領域４２０と、を含む。
角膜断層像表示領域４２０は、角膜断層像Ｐ４を表示する領域である。表示制御部３１０は、断層像生成制御部３０６から逐次入力される角膜断層像Ｐ４に基づき、角膜断層像表示領域４２０に角膜断層像Ｐ４をライブ表示させる。これにより、第２走査制御中の角膜断層像Ｐ４をリアルタイムで確認することができる。その結果、観察像Ｐ１及び角膜断層像Ｐ４に基づき、第２走査制御中の被検眼Ｅの固視ができているか否か、すなわち固視状態を容易に確認することができる。
なお、図示は省略するが、角膜断層像表示領域４２０に角膜断層像Ｐ４をライブ表示させる場合に、角膜断層像Ｐ４内の特定部位の像、例えば角膜頂点の像を識別可能に表示させてもよい。この場合には、画像形成部２２２により角膜断層像Ｐ４が生成されるごとに、特定部位検出部３０８が角膜断層像Ｐ４内から角膜頂点の像の検出を行う。
また、図示は省略するが、角膜断層像表示領域４２０内に、例えば角膜頂点の像が表示されるべき位置を示す第１ガイドライン４１２と、角膜断層像表示領域４２０内で角膜断層像Ｐ４が表示されるべき位置を示す第２ガイドライン４１４と、を表示させてもよい。
［眼内距離演算部２２４］
図４に戻って、眼内距離演算部２２４は、第１走査制御及び第２走査制御の完了後に、被検眼Ｅの眼軸長を演算する。眼内距離演算部２２４は、第１走査制御でＯＣＴ光学系８により検出されたＢスキャンごとの検出信号（眼底断層像Ｐ３）と、第２走査制御でＯＣＴ光学系８により検出されたＢスキャンごとの検出信号（角膜断層像Ｐ４）と、第１走査制御における参照光ＬＲの光路長及び第２走査制御における参照光ＬＲの光路長の光路長差（コーナーキューブ１１４の移動量）と、を取得する。そして、眼内距離演算部２２４は、これらの取得結果に基づき、被検眼Ｅの眼軸長を演算する。なお、眼軸長の具体的な演算方法については公知技術（例えば上記特許文献２参照）であるので、ここでは説明は省略する。
図４に戻って、眼内距離演算部２２４は、第１走査制御及び第２走査制御の完了後に、被検眼Ｅの眼軸長を演算する。眼内距離演算部２２４は、第１走査制御でＯＣＴ光学系８により検出されたＢスキャンごとの検出信号（眼底断層像Ｐ３）と、第２走査制御でＯＣＴ光学系８により検出されたＢスキャンごとの検出信号（角膜断層像Ｐ４）と、第１走査制御における参照光ＬＲの光路長及び第２走査制御における参照光ＬＲの光路長の光路長差（コーナーキューブ１１４の移動量）と、を取得する。そして、眼内距離演算部２２４は、これらの取得結果に基づき、被検眼Ｅの眼軸長を演算する。なお、眼軸長の具体的な演算方法については公知技術（例えば上記特許文献２参照）であるので、ここでは説明は省略する。
被検眼Ｅが左右眼（両眼）である場合には、左右眼ごとに、主制御部２１１の各部（画像取得部３００から表示制御部３１０）と眼内距離演算部２２４とが繰り返し作動する。これにより、左右眼ごとに、既述のオートアライメントと、第１走査制御及び第２走査制御と、眼底断層像Ｐ３及び角膜断層像Ｐ４の生成と、中心窩Ｆｃの像の検出と、第１ライブ表示画面４００Ａ及び第２ライブ表示画面４００Ｂの表示と、眼軸長の演算と、が繰り返し実行される。
［プレビュー画面生成部３１２及びプレビュー画面５００］
プレビュー画面生成部３１２は、表示制御部３１０と共に本発明の同時表示制御部として機能する。このプレビュー画面生成部３１２は、眼内距離演算部２２４による被検眼Ｅ（左右眼）の眼軸長の演算完了後に作動して、眼内距離演算部２２４による左右眼の眼軸長の演算結果と、画像形成部２２２により形成された左右眼ごとの眼底断層像Ｐ３及び角膜断層像Ｐ４とに基づき、プレビュー画面５００を生成する。そして、プレビュー画面生成部３１２は、表示制御部３１０を介して、表示部２７０にプレビュー画面５００を表示させる。
プレビュー画面生成部３１２は、表示制御部３１０と共に本発明の同時表示制御部として機能する。このプレビュー画面生成部３１２は、眼内距離演算部２２４による被検眼Ｅ（左右眼）の眼軸長の演算完了後に作動して、眼内距離演算部２２４による左右眼の眼軸長の演算結果と、画像形成部２２２により形成された左右眼ごとの眼底断層像Ｐ３及び角膜断層像Ｐ４とに基づき、プレビュー画面５００を生成する。そして、プレビュー画面生成部３１２は、表示制御部３１０を介して、表示部２７０にプレビュー画面５００を表示させる。
図９は、プレビュー画面５００の一例を説明するための説明図である。図９に示すように、プレビュー画面５００は、被検眼Ｅである左右眼ごとに、眼軸長と眼底断層像Ｐ３と角膜断層像Ｐ４とを同時表示した画面である。このプレビュー画面５００は、右眼用表示領域５００Ｒと左眼用表示領域５００Ｌとを含む。
右眼用表示領域５００Ｒには、画面上方から画面下方に向かって、左右眼情報領域５０２Ｒと、眼軸長表示領域５０４Ｒと、右眼の角膜断層像Ｐ４と、右眼の眼底断層像Ｐ３とが並べて表示される。また、左眼用表示領域５００Ｌには、画面上方から画面下方に向かって、左右眼情報領域５０２Ｌと、眼軸長表示領域５０４Ｌと、左眼の角膜断層像Ｐ４と、左眼の眼底断層像Ｐ３とが並べて表示される。
左右眼情報領域５０２Ｒには、被検眼Ｅが「右眼」であることを示す表示（例えば「Ｒ」）がなされる。また、左右眼情報領域５０２Ｌには、被検眼Ｅが「左眼」であることを示す表示（例えば「Ｌ」）がなされる。
眼軸長表示領域５０４Ｒには、被検眼Ｅ（右眼）の眼軸長の演算結果が表示される。また、眼軸長表示領域５０４Ｌには、被検眼Ｅ（左眼）の眼軸長の演算結果が表示される。
このようにプレビュー画面５００において、被検眼Ｅ（左右眼）ごとに眼軸長の演算結果と角膜断層像Ｐ４と眼底断層像Ｐ３とを並べて表示することで、左右眼ごとに第１走査制御時及び第２走査制御時の被検眼Ｅの固視状態を確認することができる。その結果、左右眼ごとの眼軸長が精度よく測定された否かを確認することができる。
図１０は、記憶部２１２に記憶される眼軸長測定情報３２０の一例を示した説明図である。図１０及び既述の図４に示すように、主制御部２１１は、表示部２７０によるプレビュー画面５００の表示後に、操作部２８０において被検眼Ｅ（左右眼）の眼軸長の測定結果の記憶操作がなされると、左右眼ごとの眼軸長、眼底断層像Ｐ３、及び角膜断層像Ｐ４を記憶部２１２内の眼軸長測定情報３２０に記憶させる。具体的には主制御部２１１は、既述の被検眼情報（患者ＩＤ及び左右眼情報）と、左右眼ごとの眼軸長、眼底断層像Ｐ３、及び角膜断層像Ｐ４とを対応付けて眼軸長測定情報３２０に記憶させる。これにより、被検眼Ｅの眼軸長測定時の眼底断層像Ｐ３及び角膜断層像Ｐ４が後で確認可能になる。
［眼科装置の作用］
図１１は、上記構成の眼科装置１０００による被検眼Ｅの眼軸長の測定処理の流れを示すフローチャートである（本発明の眼科装置の制御方法に相当）。
図１１は、上記構成の眼科装置１０００による被検眼Ｅの眼軸長の測定処理の流れを示すフローチャートである（本発明の眼科装置の制御方法に相当）。
被検者の顔が不図示の顔支持部に支持された後、検者が操作部２８０に対して被検眼Ｅ（左右眼の一方）の眼軸長の測定開始操作を入力すると、主制御部２１１が、画像取得部３００、アライメント制御部３０２、走査制御部３０４、断層像生成制御部３０６、特定部位検出部３０８、表示制御部３１０、及びプレビュー画面生成部３１２として機能する（ステップＳ１）。これにより、画像取得部３００が、前眼部観察系５からの観察像Ｐ１の取得と、表示制御部３１０への観察像Ｐ１の出力とを繰り返し実行する。
また、測定開始操作に応じて、アライメント制御部３０２が、ステレオカメラ１４からのステレオ画像Ｐ２の取得と、アライメント検出と、移動機構２００による測定ヘッド１００２のオートアライメントと、を実行する（ステップＳ２）。なお、アライメント制御部３０２は、オートアライメントの完了後もステレオカメラ１４からのステレオ画像Ｐ２の取得と、表示制御部３１０へのステレオ画像Ｐ２の出力とを繰り返し実行する。
オートアライメントが完了すると、走査制御部３０４が、ＯＣＴ光学系８の各部を制御して、公知のオートオプティマイズ（眼底オートフォーカス及びＯＣＴ撮影位置の最適化）を実行した後（ステップＳ３）、測定光ＬＳにより眼底Ｅｆを走査（Ｂスキャン）する第１走査制御を開始する（ステップＳ４、本発明の走査制御ステップに相当）。これにより、検出器１２５による干渉光ＬＣの検出及び検出信号の出力と、ＤＡＱ１３０による検出信号のサンプリングとが実行される（ステップＳ５）。
そして、断層像生成制御部３０６が、検出器１２５及びＤＡＱ１３０を経て入力された検出信号のサンプリング結果に基づき、画像形成部２２２を制御して眼底断層像Ｐ３を生成すると共に、この眼底断層像Ｐ３を表示制御部３１０へ出力する（ステップＳ６、本発明の第１断層像生成ステップに相当）。この際に、特定部位検出部３０８が眼底断層像Ｐ３内から中心窩Ｆｃの像を検出して、その検出結果である中心窩検出情報を表示制御部３１０へ出力する。
次いで、表示制御部３１０が、既述の図５から図７に示したように、被検眼情報と、観察像Ｐ１と、ステレオ画像Ｐ２と、眼底断層像Ｐ３と、中心窩検出情報と、に基づき、第１ライブ表示画面４００Ａを生成して表示部２７０に表示させる（ステップＳ７、本発明の表示制御ステップに相当）。この際に、表示制御部３１０は、眼底断層像表示領域４０８内の眼底断層像Ｐ３に対して中心窩Ｆｃの位置を示す指標４１０を重畳表示させると共に、眼底断層像表示領域４０８内に第１ガイドライン４１２及び第２ガイドライン４１４を表示させる。これにより、第１ライブ表示画面４００Ａ（特に眼底断層像表示領域４０８）に基づき、第１走査制御中の被検眼Ｅの固視状態（アライメント状態）を容易に確認することができる。
以下、第１走査制御が完了するまでの間、上述のステップＳ５からステップＳ７の処理が繰り返し実行される（ステップＳ８でＮＯ）。
第１走査制御が完了すると（ステップＳ８でＹＥＳ）、走査制御部３０４がコーナーキューブ移動機構１１５を駆動して、コーナーキューブ１１４を眼底断層像Ｐ３のＯＣＴ撮影に対応した位置から角膜断層像Ｐ４のＯＣＴ撮影に対応した位置に移動させて、参照光ＬＲの光路長を変更する（ステップＳ９）。
コーナーキューブ１１４の移動完了後、走査制御部３０４が、ＯＣＴ光学系８の各部を制御して、測定光ＬＳにより角膜Ｃｒを走査（Ｂスキャン）する第２走査制御を開始する（ステップＳ１０、本発明の走査制御ステップに相当）。これにより、検出器１２５による干渉光ＬＣの検出及び検出信号の出力と、ＤＡＱ１３０による検出信号のサンプリングとが実行される（ステップＳ１１）。
そして、断層像生成制御部３０６が、検出器１２５及びＤＡＱ１３０を経て入力された検出信号のサンプリング結果に基づき、画像形成部２２２を制御して角膜断層像Ｐ４を生成すると共に、この角膜断層像Ｐ４を表示制御部３１０へ出力する（ステップＳ１２、本発明の第２断層像生成ステップに相当）。
次いで、表示制御部３１０が、既述の図８に示したように、被検眼情報と、観察像Ｐ１と、ステレオ画像Ｐ２と、角膜断層像Ｐ４と、に基づき、第２ライブ表示画面４００Ｂを生成して表示部２７０に表示させる（ステップＳ１３、本発明の表示制御ステップに相当）。これにより、第２ライブ表示画面４００Ｂ（特に観察像Ｐ１及び角膜断層像Ｐ４）に基づき、第２走査制御中の被検眼Ｅの固視状態（アライメント状態）を容易に確認することができる。
以下、第２走査制御が完了するまでの間、上述のステップＳ１１からステップＳ１３の処理が繰り返し実行される（ステップＳ１４でＮＯ）。
第２走査制御が完了すると、眼内距離演算部２２４が、第１走査制御でＯＣＴ光学系８により検出されたＢスキャンごとの検出信号（眼底断層像Ｐ３）と、第２走査制御でＯＣＴ光学系８により検出されたＢスキャンごとの検出信号（角膜断層像Ｐ４）と、既述の光路長差と、に基づき、被検眼Ｅの眼軸長を演算する（ステップＳ１５）。以上で左右眼の一方の眼軸長の測定が完了する。
次いで、左右眼の他方についても上述のステップＳ１からステップＳ１５の処理を経て眼軸長が測定される（ステップＳ１６でＮＯ）。
左右眼の眼軸長の測定が完了すると、プレビュー画面生成部３１２が、既述の図９に示したように、被検眼Ｅ（左右眼）の眼軸長の演算結果と、左右眼の眼底断層像Ｐ３及び角膜断層像Ｐ４とに基づき、プレビュー画面５００を生成する。そして、プレビュー画面生成部３１２は、表示制御部３１０を介して、表示部２７０にプレビュー画面５００を表示させる（ステップＳ１７）。これにより、左右眼の眼軸長の測定結果（演算結果）を眼軸長測定情報３２０に記憶させる前においても、第１走査制御中及び第２走査制御中の被検眼Ｅの固視状態を左右眼ごとに確認することができる。その結果、必要に応じて被検眼Ｅ（左右眼）の眼軸長の再測定の実施を検者に促すことができる。
そして、操作部２８０にて被検眼Ｅ（左右眼）の眼軸長の測定結果の記憶操作がなされると、既述の図１０に示したように、主制御部２１１が、左右眼ごとの眼軸長の演算結果、角膜断層像Ｐ４、及び眼底断層像Ｐ３を記憶部２１２内の眼軸長測定情報３２０に記憶させる（ステップＳ１８）。
以上のように本実施形態では、被検眼Ｅの眼軸長の測定のために第１走査制御と第２走査制御とを行う場合に、第１走査制御中には眼底断層像Ｐ３を含む第１ライブ表示画面４００Ａを表示部２７０に表示し且つ第２走査制御中には角膜断層像Ｐ４を含む第２ライブ表示画面４００Ｂを表示部２７０に表示することができる。その結果、被検眼Ｅの眼軸長の測定中（第１走査制御中及び第２走査制御中）の被検眼Ｅの固視状態（アライメント状態）を容易に確認することができる。
また、本実施形態では、被検眼Ｅ（左右眼）の眼軸長の測定が完了した場合に、左右眼ごとの眼軸長と眼底断層像Ｐ３と角膜断層像Ｐ４とを含むプレビュー画面５００を表示部２７０に表示することで、被検眼Ｅの眼軸長の測定時の固視状態を容易に確認することができる。その結果、左右眼ごとの眼軸長の測定結果を記憶部２１２に記憶させるか、或いは眼軸長の測定をやり直すかを決定することができる。
［プレビュー画面５００の変形例］
図１２は、プレビュー画面生成部３１２が生成するプレビュー画面５００の変形例を説明するための説明図である。既述の図９に示したように上記実施形態のプレビュー画面５００では、被検眼Ｅ（左眼）に対応する角膜断層像Ｐ４及び眼底断層像Ｐ３の表示間隔と、被検眼Ｅ（右眼）に対応する角膜断層像Ｐ４及び眼底断層像Ｐ３の表示間隔と、が等間隔である。
図１２は、プレビュー画面生成部３１２が生成するプレビュー画面５００の変形例を説明するための説明図である。既述の図９に示したように上記実施形態のプレビュー画面５００では、被検眼Ｅ（左眼）に対応する角膜断層像Ｐ４及び眼底断層像Ｐ３の表示間隔と、被検眼Ｅ（右眼）に対応する角膜断層像Ｐ４及び眼底断層像Ｐ３の表示間隔と、が等間隔である。
これに対して、図１２に示すように、プレビュー画面生成部３１２が、プレビュー画面５００を生成する場合に、左右眼ごとの眼軸長に応じて左右眼ごとの角膜断層像Ｐ４と眼底断層像Ｐ３との表示間隔を変更させてもよい。これにより、被検眼Ｅ（右眼）の眼軸長の長短に応じて右眼に対応する角膜断層像Ｐ４及び眼底断層像Ｐ３の表示間隔が増減する。また、被検眼Ｅ（左眼）の眼軸長の長短に応じて左眼に対応する角膜断層像Ｐ４及び眼底断層像Ｐ３の表示間隔が増減する。その結果、プレビュー画面５００により、左右眼ごとの眼軸長の長短を視覚的に示すことができる。
［その他］
上記実施形態では、コーナーキューブ１１４を移動させて参照光ＬＲの光路長を変更することで第１走査制御と第２走査制御とを切り替えているが、各種の光路長変更部を用いて測定光ＬＳの光路長を変更したり或いは測定光ＬＳ及び参照光ＬＲの双方の光路長を変更したりすることで、第１走査制御と第２走査制御とを切り替えてもよい。
上記実施形態では、コーナーキューブ１１４を移動させて参照光ＬＲの光路長を変更することで第１走査制御と第２走査制御とを切り替えているが、各種の光路長変更部を用いて測定光ＬＳの光路長を変更したり或いは測定光ＬＳ及び参照光ＬＲの双方の光路長を変更したりすることで、第１走査制御と第２走査制御とを切り替えてもよい。
上記実施形態では、第１ライブ表示画面４００Ａにおいて眼底断層像Ｐ３の他に観察像Ｐ１及びステレオ画像Ｐ２のライブ表示を行っているが、少なくとも眼底断層像Ｐ３のライブ表示が可能であればその表示態様は特に限定はされない。また、第２ライブ表示画面４００Ｂについても同様に少なくとも角膜断層像Ｐ４のライブ表示が可能であればその表示態様は特に限定はされない。
上記実施形態では、被検眼Ｅ（左右眼）の眼軸長の測定完了後にプレビュー画面５００の生成及び表示を行っているが、左眼の眼軸長の測定完了後と右眼の眼軸長の測定完了とにそれぞれプレビュー画面５００の生成及び表示を行ってもよい。この場合にプレビュー画面生成部３１２は、例えば、左眼に対応するプレビュー画面５００として既述の左眼用表示領域５００Ｌの生成及び表示制御を行い、右眼に対応するプレビュー画面５００として既述の右眼用表示領域５００Ｒの生成及び表示制御を行う（図９及び図１２参照）。さらに眼軸長（眼内距離）に応じて眼底断層像Ｐ３と角膜断層像Ｐ４との表示間隔を変更してもよい（図１２参照）。
上記実施形態では、被検眼Ｅの眼内距離として眼軸長の測定を行っているが、被検眼Ｅの前眼部の任意領域の前眼部断層像と後眼部の任意領域の後眼部断層像とを取得して、前眼部の任意領域と後眼部の任意領域との間の眼内距離を測定する場合にも本発明を適用可能である。また、この場合には、特定部位検出部３０８が後眼部断層像内から中心窩Ｆｃ以外の特定部位の像を検出して、この検出結果に基づき表示制御部３１０が後眼部断層像内の特定部位の像を識別可能に表示してもよい。
上記実施形態では、レフ測定及びＯＣＴ測定を行う眼科装置１０００を例に挙げて説明したが、少なくともＯＣＴ測定が可能な眼科装置であって且つ被検眼Ｅの眼内距離（眼軸長等）の測定に用いられる眼科装置であればその種類は特に限定はされない。
１ アライメント系
３ ケラト測定系
４ 固視投影系
５ 前眼部観察系
６ レフ測定投射系
７ レフ測定受光系
８ ＯＣＴ光学系
９ 処理部
１４ ステレオカメラ
３１ ケラト板
３２ ケラトリング光源
４０ 固視ユニット
４０Ｄ 移動機構
４１ 液晶パネル
４２ リレーレンズ
５０ 前眼部照明光源
５１ 対物レンズ
５２ ダイクロイックフィルタ
５３ 絞り
５５ リレーレンズ
５６ リレーレンズ
５８ 結像レンズ
５９ 撮像素子
６１ レフ測定光源
６１Ｄ 移動機構
６２ リレーレンズ
６３ 円錐プリズム
６４ リング絞り
６５ 孔開きプリズム
６６ ロータリープリズム
６７ ダイクロイックフィルタ
７１ リレーレンズ
７２ 反射ミラー
７３ リレーレンズ
７４ 合焦レンズ
７４Ｄ 移動機構
７５ 反射ミラー
７６ ダイクロイックフィルタ
８０Ｄ 移動機構
８１ 反射ミラー
８２ リレーレンズ
８３ ダイクロイックフィルタ
８４ 反射ミラー
８５ リレーレンズ
８７ 合焦レンズ
８８ 光スキャナー
８９ コリメータレンズユニット
１００ ＯＣＴユニット
１０１ ＯＣＴ光源
１０２ 光ファイバー
１０３ 偏波コントローラ
１０４ 光ファイバー
１０５ ファイバーカプラー
１１０ 光ファイバー
１１１ コリメータ
１１２ 光路長補正部材
１１３ 分散補償部材
１１４ コーナーキューブ
１１５ コーナーキューブ移動機構
１１６ コリメータ
１１７ 光ファイバー
１１８ 偏波コントローラ
１１９ 光ファイバー
１２０ アッテネータ
１２１ 光ファイバー
１２２ ファイバーカプラー
１２３ 光ファイバー
１２４ 光ファイバー
１２５ 検出器
１２８ 光ファイバー
２００ 移動機構
２１０ 制御部
２１１ 主制御部
２１２ 記憶部
２２０ 演算処理部
２２１Ａ 眼屈折力演算部
２２１Ｂ 角膜形状演算部
２２２ 画像形成部
２２３ データ処理部
２２４ 眼内距離演算部
２７０ 表示部
２８０ 操作部
２９０ 通信部
３００ 画像取得部
３０２ アライメント制御部
３０４ 走査制御部
３０６ 断層像生成制御部
３０８ 特定部位検出部
３１０ 表示制御部
３１２ プレビュー画面生成部
３２０ 眼軸長測定情報
４００Ａ 第１ライブ表示画面
４００Ｂ 第２ライブ表示画面
４０２ 左右眼情報領域
４０４ 観察像表示領域
４０６ ステレオ画像表示領域
４０８ 眼底断層像表示領域
４１０ 指標
４１２ 第１ガイドライン
４１４ 第２ガイドライン
４２０ 角膜断層像表示領域
５００ プレビュー画面
５００Ｌ 左眼用表示領域
５００Ｒ 右眼用表示領域
５０２Ｌ 左右眼情報領域
５０２Ｒ 左右眼情報領域
５０４Ｌ 眼軸長表示領域
５０４Ｒ 眼軸長表示領域
１０００ 眼科装置
１００２ 測定ヘッド
Ｃｒ 角膜
Ｅ 被検眼
Ｅｆ 眼底
Ｆｃ 中心窩
ＫＣ クロック
Ｌ０ 光
ＬＣ 干渉光
ＬＰ１ 観察系光路
ＬＰ２ 分岐光路
ＬＰ３ 分岐光路
ＬＲ 参照光
ＬＳ 測定光
ＬＳ１ ＯＣＴ系戻り光
Ｐ１ 観察像
Ｐ２ ステレオ画像
Ｐ３ 眼底断層像
Ｐ４ 角膜断層像
ｆ１ 光ファイバー
３ ケラト測定系
４ 固視投影系
５ 前眼部観察系
６ レフ測定投射系
７ レフ測定受光系
８ ＯＣＴ光学系
９ 処理部
１４ ステレオカメラ
３１ ケラト板
３２ ケラトリング光源
４０ 固視ユニット
４０Ｄ 移動機構
４１ 液晶パネル
４２ リレーレンズ
５０ 前眼部照明光源
５１ 対物レンズ
５２ ダイクロイックフィルタ
５３ 絞り
５５ リレーレンズ
５６ リレーレンズ
５８ 結像レンズ
５９ 撮像素子
６１ レフ測定光源
６１Ｄ 移動機構
６２ リレーレンズ
６３ 円錐プリズム
６４ リング絞り
６５ 孔開きプリズム
６６ ロータリープリズム
６７ ダイクロイックフィルタ
７１ リレーレンズ
７２ 反射ミラー
７３ リレーレンズ
７４ 合焦レンズ
７４Ｄ 移動機構
７５ 反射ミラー
７６ ダイクロイックフィルタ
８０Ｄ 移動機構
８１ 反射ミラー
８２ リレーレンズ
８３ ダイクロイックフィルタ
８４ 反射ミラー
８５ リレーレンズ
８７ 合焦レンズ
８８ 光スキャナー
８９ コリメータレンズユニット
１００ ＯＣＴユニット
１０１ ＯＣＴ光源
１０２ 光ファイバー
１０３ 偏波コントローラ
１０４ 光ファイバー
１０５ ファイバーカプラー
１１０ 光ファイバー
１１１ コリメータ
１１２ 光路長補正部材
１１３ 分散補償部材
１１４ コーナーキューブ
１１５ コーナーキューブ移動機構
１１６ コリメータ
１１７ 光ファイバー
１１８ 偏波コントローラ
１１９ 光ファイバー
１２０ アッテネータ
１２１ 光ファイバー
１２２ ファイバーカプラー
１２３ 光ファイバー
１２４ 光ファイバー
１２５ 検出器
１２８ 光ファイバー
２００ 移動機構
２１０ 制御部
２１１ 主制御部
２１２ 記憶部
２２０ 演算処理部
２２１Ａ 眼屈折力演算部
２２１Ｂ 角膜形状演算部
２２２ 画像形成部
２２３ データ処理部
２２４ 眼内距離演算部
２７０ 表示部
２８０ 操作部
２９０ 通信部
３００ 画像取得部
３０２ アライメント制御部
３０４ 走査制御部
３０６ 断層像生成制御部
３０８ 特定部位検出部
３１０ 表示制御部
３１２ プレビュー画面生成部
３２０ 眼軸長測定情報
４００Ａ 第１ライブ表示画面
４００Ｂ 第２ライブ表示画面
４０２ 左右眼情報領域
４０４ 観察像表示領域
４０６ ステレオ画像表示領域
４０８ 眼底断層像表示領域
４１０ 指標
４１２ 第１ガイドライン
４１４ 第２ガイドライン
４２０ 角膜断層像表示領域
５００ プレビュー画面
５００Ｌ 左眼用表示領域
５００Ｒ 右眼用表示領域
５０２Ｌ 左右眼情報領域
５０２Ｒ 左右眼情報領域
５０４Ｌ 眼軸長表示領域
５０４Ｒ 眼軸長表示領域
１０００ 眼科装置
１００２ 測定ヘッド
Ｃｒ 角膜
Ｅ 被検眼
Ｅｆ 眼底
Ｆｃ 中心窩
ＫＣ クロック
Ｌ０ 光
ＬＣ 干渉光
ＬＰ１ 観察系光路
ＬＰ２ 分岐光路
ＬＰ３ 分岐光路
ＬＲ 参照光
ＬＳ 測定光
ＬＳ１ ＯＣＴ系戻り光
Ｐ１ 観察像
Ｐ２ ステレオ画像
Ｐ３ 眼底断層像
Ｐ４ 角膜断層像
ｆ１ 光ファイバー
Claims (10)
- 光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検眼に照射して、前記被検眼からの測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系であって、且つ前記測定光を走査する光走査部と、前記測定光及び前記参照光の少なくとも一方の光路長を変更する光路長変更部と、を有する干渉光学系と、
前記光走査部及び前記光路長変更部を制御して、前記被検眼の後眼部を前記測定光で走査する第１走査制御と、前記被検眼の前眼部を前記測定光で走査する第２走査制御と、を実行させる走査制御部と、
前記第１走査制御の下で前記干渉光学系が検出した前記干渉光の検出信号に基づき、前記後眼部の第１断層像を生成する第１断層像生成部と、
前記第２走査制御の下で前記干渉光学系が検出した前記検出信号に基づき、前記前眼部の第２断層像を生成する第２断層像生成部と、
前記被検眼に固視標を呈示する固視投影系と、
前記第１走査制御中に前記第１断層像生成部が生成した前記第１断層像を前記被検眼の固視状態を示す指標として表示部に表示させ、且つ前記第２走査制御中に前記第２断層像生成部が生成した前記第２断層像を前記被検眼の固視状態を示す指標として表示部に表示させる表示制御部と、
を備え、
前記表示制御部が、前記第１走査制御中に、前記被検眼が前記固視標を固視できている場合に前記後眼部の特定部位の像が前記表示部の画面内で表示されるべき位置範囲を示すガイドラインを前記表示部に表示させる眼科装置。 - 前記表示制御部が、前記特定部位として前記後眼部の中心窩の像が表示されるべき位置を示す前記ガイドラインを前記表示部に表示させる請求項１に記載の眼科装置。
- 前記第１断層像内から前記特定部位の像を検出する特定部位検出部を備え、
前記表示制御部が、前記第１走査制御中に、前記特定部位検出部の検出結果に基づき、前記第１断層像内の前記特定部位を識別可能に前記表示部に表示させる請求項１又は２に記載の眼科装置。 - 前記第１走査制御で前記干渉光学系により検出された前記検出信号と、前記第２走査制御で前記干渉光学系により検出された前記検出信号と、前記第１走査制御及び前記第２走査制御における前記光路長の差とに基づき、前記前眼部と前記後眼部との間の眼内距離を演算する眼内距離演算部を備える請求項１から３のいずれか１項に記載の眼科装置。
- 前記眼内距離演算部が演算した前記眼内距離と、前記第１断層像生成部が生成した前記第１断層像と、前記第２断層像生成部が生成した前記第２断層像と、を前記表示部に同時表示させる同時表示制御部を備える請求項４に記載の眼科装置。
- 前記同時表示制御部が、前記眼内距離の大きさに応じて前記第１断層像と前記第２断層像との表示間隔を変更する請求項５に記載の眼科装置。
- 前記被検眼が左右眼である場合に、前記左右眼ごとに、前記走査制御部による前記第１走査制御及び前記第２走査制御と、前記第１断層像生成部による前記第１断層像の生成と、前記第２断層像生成部による前記第２断層像の生成と、前記表示制御部による前記第１断層像及び前記第２断層像の前記表示部への表示と、前記眼内距離演算部による前記眼内距離の演算と、が繰り返し実行され、
前記同時表示制御部は、前記左右眼ごとの前記眼内距離、前記第１断層像、及び前記第２断層像を前記表示部に同時表示させる請求項５又は６に記載の眼科装置。 - 前記同時表示制御部が、前記左右眼ごとに前記眼内距離、前記第１断層像、及び前記第２断層像を並べて前記表示部に表示させ、且つ前記左右眼ごとに前記眼内距離の大きさに応じて前記第１断層像と前記第２断層像との表示間隔を変更する請求項７に記載の眼科装置。
- 前記後眼部が前記被検眼の眼底であり且つ前記前眼部が前記被検眼の角膜である場合、前記眼内距離演算部が、前記眼内距離として前記被検眼の眼軸長を演算する請求項４から８のいずれか１項に記載の眼科装置。
- 光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検眼に照射して、前記被検眼からの測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系であって、且つ前記測定光を走査する光走査部と、前記測定光及び前記参照光の少なくとも一方の光路長を変更する光路長変更部と、を有する干渉光学系と、
前記被検眼に固視標を呈示する固視投影系と、
を備える眼科装置の制御方法において、
前記光走査部及び前記光路長変更部を制御して、前記被検眼の後眼部を前記測定光で走査する第１走査制御と、前記被検眼の前眼部を前記測定光で走査する第２走査制御と、を実行させる走査制御ステップと、
前記第１走査制御の下で前記干渉光学系が検出した前記干渉光の検出信号に基づき、前記後眼部の第１断層像を生成する第１断層像生成ステップと、
前記第２走査制御の下で前記干渉光学系が検出した前記検出信号に基づき、前記前眼部の第２断層像を生成する第２断層像生成ステップと、
前記第１走査制御中に前記第１断層像生成ステップで生成した前記第１断層像を前記被検眼の固視状態を示す指標として表示部に表示させ、且つ前記第２走査制御中に前記第２断層像生成ステップで生成した前記第２断層像を前記被検眼の固視状態を示す指標として表示部に表示させる表示制御ステップと、
を有し、
前記表示制御ステップでは、前記第１走査制御中に、前記被検眼が前記固視標を固視できている場合に前記後眼部の特定部位の像が前記表示部の画面内で表示されるべき位置範囲を示すガイドラインを前記表示部に表示させる眼科装置の制御方法。
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Applications Claiming Priority (1)
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2020
- 2020-09-15 JP JP2020154556A patent/JP7530252B2/ja active Active
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