JP7522398B2 - 赤外測定装置 - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 188
- 229910021392 nanocarbon Inorganic materials 0.000 claims description 117
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 44
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 27
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 24
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 11
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 claims description 7
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 claims description 6
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 24
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 15
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 11
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 8
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 7
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 6
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 6
- 238000002267 linear dichroism spectroscopy Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 2
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000007572 expansion measurement Methods 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 2
- 230000005457 Black-body radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000000609 electron-beam lithography Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002074 nanoribbon Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 229920005594 polymer fiber Polymers 0.000 description 1
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 238000010079 rubber tapping Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical group [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002109 single walled nanotube Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
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Description
先端にナノカーボン光源を有するプローブと、
前記ナノカーボン光源による試料の照射によって生じた前記プローブの変位を検出する変位検出システムと、
前記変位に基づいて前記試料に生じた熱膨張を測定する測定器と、
測定された前記熱膨張に基づいて前記試料の特性または内部構造を解析する情報処理装置と、
を有する。
図7は、第1実施形態の赤外測定装置50の模式図である。赤外測定装置50は、先端にナノカーボン光源10を有するプローブ15と、ナノカーボン光源10による試料20の照射で生じるプローブ15の変位を検出する変位検出システム51と、変位に基づいて試料20に生じた熱膨張を測定する熱膨張測定器55と、熱膨張に基づいて試料20の特性または内部構造を解析する情報処理装置35とを有する。
図9は、第2実施形態の赤外測定装置50Bの模式図である。第2実施形態では、試料20に生じる熱膨張に加えて、ナノカーボン光源10による近接場を利用して測定の感度をさらに向上する。
図10は、第3実施形態の赤外測定で用いられるナノカーボン光源10C付きのプローブ15Cの模式図である。ナノカーボン光源10Cは、直線偏光を出力する。ナノカーボン光源10Cは、プローブ15Cの突起17の発光面に、所定の方向に配向したカーボンナノチューブの配列を設けることで形成される。プローブ15Cが、図1のような錐形の突起17Aを有する場合は、角体の側面または底面にカーボンナノチューブの配列が設けられる。電極12、及び13を介してナノカーボン光源10Cが通電加熱されると、カーボンナノチューブの配向方向に振動する直線偏光が得られる。
12、13 電極
15、15A、15B、15C プローブ
16 カンチレバー
161 第1の主面
162 第2の主面
17A、17B 突起
20、20C 試料
50、50A、30B、30C 赤外測定装置
31 光学素子
33 赤外検出器
34 信号測定器
35 情報処理装置
36 駆動機構
51 変位検出システム
55 熱膨張測定器
Claims (8)
- 先端に設けられたナノカーボン光源と、前記ナノカーボン光源が設けられたカンチレバーと、を有するプローブと、
前記ナノカーボン光源による試料への赤外光の照射によって生じた前記ナノカーボン光源と前記試料との間の距離の変位を検出する変位検出システムと、
前記変位に対応して前記試料に生じた熱膨張を測定する測定器と、
測定された前記熱膨張に対応した前記試料の前記赤外光の吸収に基づいて前記試料の特性または内部構造を解析する情報処理装置と、
を有する赤外測定装置。 - 前記ナノカーボン光源は、第2の角周波数でオン・オフ変調される、請求項1に記載の赤外測定装置。
- 前記ナノカーボン光源と前記試料の間の距離を第1の角周波数で変化させる駆動機構と、
前記ナノカーボン光源から出射される光によって照射された前記試料の透過光または反射光を検出する赤外検出器と、
前記赤外検出器の出力から前記第1の角周波数で現れる近接場成分を抽出し測定する信号測定器と、
をさらに有し、
前記第1の角周波数に対応して、前記ナノカーボン光源の近接場及び遠隔場によって、前記試料に前記赤外光が照射される、請求項1に記載の赤外測定装置。 - 前記ナノカーボン光源は、第2の角周波数でオン・オフ変調され、
前記信号測定器は、前記第1の角周波数のN倍(Nは自然数)の角周波数と、前記第2の角周波数のN倍(Nは自然数)の角周波数とに同期して、前記近接場成分を測定する、
請求項3に記載の赤外測定装置。 - 前記駆動機構は、前記ナノカーボン光源を前記試料に対して相対的に走査し、
前記情報処理装置は、前記試料の赤外吸収スペクトルの分布を生成する、
請求項3または4に記載の赤外測定装置。 - 前記プローブは、前記カンチレバーの第1の主面から突出する突起を有し、
前記ナノカーボン光源は前記突起の先端またはその近傍に設けられている、
請求項1~5のいずれか1項に記載の赤外測定装置。 - 前記プローブは、前記ナノカーボン光源から特定波長の光を取り出すフィルタ、
を有する、請求項1~6のいずれか1項に記載の赤外測定装置。 - 前記ナノカーボン光源は、直線偏光された前記赤外光を前記試料に照射する、請求項1~7のいずれか1項に記載の赤外測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020137412A JP7522398B2 (ja) | 2020-08-17 | 2020-08-17 | 赤外測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020137412A JP7522398B2 (ja) | 2020-08-17 | 2020-08-17 | 赤外測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022033488A JP2022033488A (ja) | 2022-03-02 |
JP7522398B2 true JP7522398B2 (ja) | 2024-07-25 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020137412A Active JP7522398B2 (ja) | 2020-08-17 | 2020-08-17 | 赤外測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7522398B2 (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120204296A1 (en) | 2011-01-05 | 2012-08-09 | Craig Prater | Multiple modulation heterodyne infrared spectroscopy |
JP2015535601A (ja) | 2012-11-27 | 2015-12-14 | スー,シャオジ | ホモダイン検波を用いて近接場赤外光散乱から吸収スペクトルを取得する方法 |
WO2019176705A1 (ja) | 2018-03-16 | 2019-09-19 | 学校法人慶應義塾 | 赤外分析装置、赤外分析チップ、及び赤外イメージングデバイス |
JP2020112575A (ja) | 2016-10-29 | 2020-07-27 | ブルカー ナノ インコーポレイテッドBruker Nano,Inc. | 化学的撮像用の原子間力顕微鏡赤外線分光法及び装置 |
-
2020
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120204296A1 (en) | 2011-01-05 | 2012-08-09 | Craig Prater | Multiple modulation heterodyne infrared spectroscopy |
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