JP7492543B2 - 可撓性基板に対する負荷測定を行う方法及び装置 - Google Patents
可撓性基板に対する負荷測定を行う方法及び装置 Download PDFInfo
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Description
本出願は、「METHODS AND APPARATUS TO PERFORM LOAD MEASUREMENTS ON FLEXIBLE SUBSTRATES」と題する2019年6月24日に出願された米国仮特許出願第62/865,634号及び2020年5月29日に出願された米国特許出願第16/887,960号の利益を主張する。米国仮特許出願第62/865,634号及び米国特許出願第16/887,960号の全体は、引用することにより明確に本明細書の一部をなす。
上述の実施形態は下記のようにも記載され得るが下記には限定されない。
[構成1]
可撓性基板試験システムであって、
試験対象の可撓性基板の第1の部分を静止状態に保持するように構成された第1の基板支持構造と、
前記可撓性基板の第2の部分を保持するように構成された第2の基板支持構造と、
前記可撓性基板を折り曲げ、該可撓性基板を展開するように前記第2の基板支持構造を動かすように構成されたアクチュエータと、
前記可撓性基板に対する負荷を測定するように構成されたロードセルと、
を備える、可撓性基板試験システム。
[構成2]
前記可撓性基板を折り曲げ、該可撓性基板を展開するように前記第2の基板支持構造の運動を誘導するように構成された第1のガイドを更に備える、構成1に記載の可撓性基板試験システム。
[構成3]
前記第1のガイドは、前記可撓性基板の第1の所定の曲げ半径に従って前記第2の基板支持構造の前記運動を誘導するように構成される、構成2に記載の可撓性基板試験システム。
[構成4]
前記第1のガイドは、前記可撓性基板の第2の所定の曲げ半径に従って前記第2の基板支持構造の前記運動を誘導するように構成された第2のガイドと交換可能である、構成3に記載の可撓性基板試験システム。
[構成5]
前記第1のガイドは、前記第2の基板支持構造に取り付けられたカム従動子を誘導するように構成された溝を有する第1のガイドプレートを備える、構成2に記載の可撓性基板試験システム。
[構成6]
前記第1のガイドプレートは、前記第2の基板支持構造に結合され、アクチュエータ溝内に位置決めされたアクチュエータピンを誘導するように構成された前記アクチュエータ溝を備え、前記アクチュエータは、前記アクチュエータピンを動かすことによって前記第2の基板支持構造を動かすように構成される、構成5に記載の可撓性基板試験システム。
[構成7]
前記第1のガイドは、前記第2の基板支持構造の前記運動又は重量に起因して、前記可撓性基板に対し追加の応力を引き起こすことなく、前記第2の基板支持構造の前記運動を誘導するように構成される、構成2に記載の可撓性基板試験システム。
[構成8]
前記第2の基板支持構造に、該第2の基板支持構造の、前記第1のガイドと反対側に結合された第2のガイドを更に備え、前記第2のガイドプレートは、前記可撓性基板を折り曲げ、該可撓性基板を展開するように前記第2の基板支持構造の運動を誘導するように構成される、構成2に記載の可撓性基板試験システム。
[構成9]
前記ロードセルに向かう前記第1の基板支持構造の変位を制限するように構成された負荷制限器を更に備える、構成1に記載の可撓性基板試験システム。
[構成10]
前記ロードセルからの負荷情報に基づいて前記可撓性基板に対する前記負荷を求めるように構成された制御回路部を更に備える、構成1に記載の可撓性基板試験システム。
[構成11]
前記制御回路部は、前記可撓性基板の折り曲げ又は展開中に前記ロードセルによって測定される動的負荷に基づいて、前記可撓性基板に対する前記負荷を求めるように構成される、構成10に記載の可撓性基板試験システム。
[構成12]
前記制御回路部は、前記可撓性基板の折り曲げ又は展開の完了時に前記ロードセルによって測定された静的負荷に基づいて前記可撓性基板に対する前記負荷を求めるように構成される、構成10に記載の可撓性基板試験システム。
[構成13]
前記第2の基板支持構造を第1の方向に動かして前記可撓性基板を折り曲げるか、又は第2の方向に動かして前記可撓性基板を展開するように前記アクチュエータを制御するように構成された制御回路部を更に備える、構成1に記載の可撓性基板試験システム。
[構成14]
前記第1の基板支持構造を保持し、前記ロードセルが前記負荷を測定するように構成される方向における前記第1の基板支持構造の運動を制限するように構成された並進リンク機構を更に備える、構成1に記載の可撓性基板試験システム。
[構成15]
前記ロードセルは、前記可撓性基板の前記第1の部分に対する前記負荷を測定するように構成される、構成1に記載の可撓性基板試験システム。
[構成16]
前記ロードセルは、前記可撓性基板の前記第2の部分に対する前記負荷の少なくとも一部分を測定するように構成される、構成1に記載の可撓性基板試験システム。
[構成17]
前記第2の基板支持構造の重量、及び折り曲げ又は展開中の前記基板支持構造の慣性負荷について、前記ロードセルからの負荷測定値を補償し、前記ロードセルからの負荷情報及び前記補償に基づいて、前記可撓性基板に対する前記負荷の少なくとも一部分を求めるように構成された制御回路部を更に備える、構成16に記載の可撓性基板試験システム。
[構成18]
前記可撓性基板の前記第1の部分に対する前記負荷の一部分を測定するように構成された第2のロードセルを更に備える、構成16に記載の可撓性基板試験システム。
[構成19]
可撓性基板に対する負荷を測定する方法であって、
基板支持構造を介して、試験対象の可撓性基板の第1の部分を静止状態に保持することと、
アクチュエータを介して、前記可撓性基板を折り曲げ、又は該可撓性基板を展開するように前記可撓性基板の第2の部分を動かすことと、
前記動かした結果として生じる前記可撓性基板に対する負荷を測定することと、
を含む、方法。
[構成20]
可撓性基板試験システムであって、
試験対象の可撓性基板の第1の側部を静止状態に保持するように構成された第1の表面を備える第1のプレートと、
前記第1のプレートを保持し、前記プレートの前記第1の表面に平行な方向における前記プレートの運動を制限するように構成された並進リンク機構と、
前記可撓性基板の第2の側部を保持するように構成された第2の表面を備える第2のプレートと、
前記可撓性基板を折り曲げ、該可撓性基板を展開するように前記第2の表面の運動を誘導するように構成された第1のガイドプレートと、
前記可撓性基板を折り曲げ、該可撓性基板を展開するように前記第1のガイドプレートに従って前記第2のプレートを動かすように構成されたアクチュエータと、
前記アクチュエータが前記第2のプレートを動かす間、前記第1のプレートに対する負荷を測定するように構成されたロードセルと、
を備える、可撓性基板試験システム。
Claims (19)
- 可撓性基板試験システムであって、
試験対象の可撓性基板の第1の部分を静止状態に保持するように構成された第1の基板支持構造と、
前記可撓性基板の第2の部分を保持するように構成された第2の基板支持構造と、
前記可撓性基板を折り曲げ、該可撓性基板を展開するように前記第2の基板支持構造を動かすように構成されたアクチュエータと、
前記可撓性基板に対する負荷を測定するように構成されたロードセルと、
前記第1の基板支持構造を保持し、前記ロードセルが前記負荷を測定するように構成された方向における前記第1の基板支持構造の運動を制限するように構成された並進リンク機構と、
を備える、可撓性基板試験システム。 - 前記可撓性基板を折り曲げ、該可撓性基板を展開するように前記第2の基板支持構造の運動を誘導するように構成された第1のガイドを更に備える、請求項1に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記第1のガイドは、前記可撓性基板の第1の所定の曲げ半径に従って前記第2の基板支持構造の前記運動を誘導するように構成される、請求項2に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記第1のガイドは、前記可撓性基板の第2の所定の曲げ半径に従って前記第2の基板支持構造の前記運動を誘導するように構成された第2のガイドと交換可能である、請求項3に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記第1のガイドは、前記第2の基板支持構造に取り付けられたカム従動子を誘導するように構成された溝を有する第1のガイドプレートを備える、請求項2に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記第1のガイドプレートは、前記第2の基板支持構造に結合され、アクチュエータ溝内に位置決めされたアクチュエータピンを誘導するように構成された前記アクチュエータ溝を備え、前記アクチュエータは、前記アクチュエータピンを動かすことによって前記第2の基板支持構造を動かすように構成される、請求項5に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記第1のガイドは、前記第2の基板支持構造の前記運動又は重量に起因して、前記可撓性基板に対し追加の応力を引き起こすことなく、前記第2の基板支持構造の前記運動を誘導するように構成される、請求項2に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記第2の基板支持構造に、該第2の基板支持構造の、前記第1のガイドと反対側に結合された第2のガイドを更に備え、前記第2のガイドは、前記可撓性基板を折り曲げ、該可撓性基板を展開するように前記第2の基板支持構造の運動を誘導するように構成される、請求項2に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記ロードセルに向かう前記第1の基板支持構造の変位を制限するように構成された負荷制限器を更に備える、請求項1に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記ロードセルからの負荷情報に基づいて前記可撓性基板に対する前記負荷を求めるように構成された制御回路部を更に備える、請求項1に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記制御回路部は、前記可撓性基板の折り曲げ又は展開中に前記ロードセルによって測定される動的負荷に基づいて、前記可撓性基板に対する前記負荷を求めるように構成される、請求項10に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記制御回路部は、前記可撓性基板の折り曲げ又は展開の完了時に前記ロードセルによって測定された静的負荷に基づいて前記可撓性基板に対する前記負荷を求めるように構成される、請求項10に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記第2の基板支持構造を第1の方向に動かして前記可撓性基板を折り曲げるか、又は第2の方向に動かして前記可撓性基板を展開するように前記アクチュエータを制御するように構成された制御回路部を更に備える、請求項1に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記ロードセルは、前記可撓性基板の前記第1の部分に対する前記負荷を測定するように構成される、請求項1に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記ロードセルは、前記可撓性基板の前記第2の部分に対する前記負荷の少なくとも一部分を測定するように構成される、請求項1に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記第2の基板支持構造の重量、及び折り曲げ又は展開中の前記基板支持構造の慣性負荷について、前記ロードセルからの負荷測定値を補償し、前記ロードセルからの負荷情報及び前記補償に基づいて、前記可撓性基板に対する前記負荷の少なくとも一部分を求めるように構成された制御回路部を更に備える、請求項15に記載の可撓性基板試験システム。
- 前記可撓性基板の前記第1の部分に対する前記負荷の一部分を測定するように構成された第2のロードセルを更に備える、請求項15に記載の可撓性基板試験システム。
- 可撓性基板に対する負荷を測定する方法であって、
基板支持構造を介して、試験対象の可撓性基板の第1の部分を静止状態に保持することと、
ロードセルが前記負荷を測定するように構成された方向における前記基板支持構造の運動を制限するように、前記基板支持構造を保持することと、
アクチュエータを介して、前記可撓性基板を折り曲げ、又は該可撓性基板を展開するように前記可撓性基板の第2の部分を動かすことと、
前記動かした結果として生じる前記可撓性基板に対する負荷を測定することと、
を含む、方法。 - 可撓性基板試験システムであって、
試験対象の可撓性基板の第1の側部を静止状態に保持するように構成された第1の表面を備える第1のプレートと、
前記第1のプレートを保持し、前記プレートの前記第1の表面に平行な方向における前記プレートの運動を制限するように構成された並進リンク機構と、
前記可撓性基板の第2の側部を保持するように構成された第2の表面を備える第2のプレートと、
前記可撓性基板を折り曲げ、該可撓性基板を展開するように前記第2の表面の運動を誘導するように構成された第1のガイドプレートと、
前記可撓性基板を折り曲げ、該可撓性基板を展開するように前記第1のガイドプレートに従って前記第2のプレートを動かすように構成されたアクチュエータと、
前記アクチュエータが前記第2のプレートを動かす間、前記第1のプレートに対する負荷を測定するように構成されたロードセルと、
を備え、
前記並進リンク機構は、前記ロードセルが前記負荷を測定するように構成された方向における前記第1のプレートの運動を制限するように更に構成される、可撓性基板試験システム。
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