JP7471018B2 - 光パルスランタイム法において後方散乱ヒストグラムデータを解析する方法及びデータ処理のための装置 - Google Patents
光パルスランタイム法において後方散乱ヒストグラムデータを解析する方法及びデータ処理のための装置 Download PDFInfo
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Description
後方散乱ヒストグラムデータを受信するステップと、受信された後方散乱ヒストグラムデータを解析するステップと、を備える。
後方散乱ヒストグラムデータを受信するステップと、受信された後方散乱ヒストグラムデータを解析するステップと、を備える。
いくつかの例示的実施形態では、LIDARデータは、通常は、拡散後方散乱、物体での光反射、周囲光、その環境における他の光源からの干渉光信号などからの信号寄与を含む。これらのデータは、基本的には周知であるように、ヒストグラムに表示可能である。
一部の例示的実施形態では、ヒストグラム累積部はさらに、後方散乱ヒストグラムデータを生成するための特定の時間閾値を超える時間間隔の受信された時間相関ヒストグラムデータを考慮しないように設定される。
例えば、後方散乱についての通常の信号形態は、特徴的ピーク又は一連のピークを短距離において探索することによって特定可能であり、位置、信号形態及び強度が評価される。例えば、後方散乱は、送信機(そこから光パルスが放射される)と受信機(例えば、複数の光検出受信要素を有する受信マトリクス)の間の視差を有する光ランタイム測定のためのLIDARシステムを有する例示的実施形態において、システム依存の信号形態及びピークの位置を有する。このような例示的実施形態では、通常の信号形態を特定するために、ピークの強度が物体に対応するか否かが確認され得る。通常の基準後方散乱信号を、例えば、図1、図2及び図3に示し、より詳細を以下にさらに説明する。例えば、シングルビームLIDARシステムとマルチビームLIDARシステムとの区別がなされ得る(シングルビームシステムは一度に1個の光パルス(ビーム)のみを放射し、独国特許出願公開第102017222971号に記載されるLIDARシステムなどのマルチビームシステムは異なる位置から複数の光パルスを同時に放射可能である)。
一部の例示的実施形態では、後方散乱ヒストグラムデータを解析する方法は、受信された後方散乱ヒストグラムデータから周囲光量を特定するのに用いられる。
第1の周囲光量を取得するために、開始時間の前に存在する複数の時間間隔の受信された後方散乱ヒストグラムデータから算術平均を計算するステップ、
第2の周囲光量を取得するために、特定の時間閾値を超える受信された後方散乱ヒストグラムデータから特定の基準を満たす極小値を決定するステップ、及び
第1の周囲光量と第2の周囲光量との比較から周囲光量を特定するステップであって、周囲光量が2つの周囲光量の小さい方として特定される、ステップ。
2 受信マトリクス
3 装置
20、30、40、50 方法
21、31、41、51 後方散乱ヒストグラムデータを受信する
22、32、42、52 受信後方散乱ヒストグラムデータを解析する
23、53 後方散乱信号を特定するために、受信後方散乱ヒストグラムデータと予め規定された基準後方散乱信号との間の類似性測定値を計算する
24 信号減衰係数を取得するために、変換関数を後方散乱信号に適用する
25 変換関数を実験的に決定する
33、43、54 受信後方散乱ヒストグラムデータから周囲光量を特定する
34 周囲光量を特定するために、開始時間の前に存在する複数の時間間隔の受信後方散乱ヒストグラムデータから算術平均を計算する
35 周囲光量を特定するために、特定の時間閾値を超える複数の時間間隔の受信後方散乱ヒストグラムデータから算術平均を計算する
36 周囲光量を特定するために、開始時間の前に存在する複数の時間間隔の受信後方散乱ヒストグラムデータから及び特定の時間閾値を超える複数の時間間隔の受信後方散乱ヒストグラムデータから算術平均を計算する
44 周囲光量を特定するために、特定の時間閾値を超える受信後方散乱ヒストグラムデータから特定の基準を満たす極小値を決定する
45 第1の周囲光量を特定するために、開始時間の前に存在する複数の時間間隔の受信後方散乱ヒストグラムデータから及び特定の時間閾値を超える複数の時間間隔の受信後方散乱ヒストグラムデータから算術平均を計算し、第2の周囲光量を特定するために、特定の時間閾値を超える受信後方散乱ヒストグラムデータから特定の基準を満たす極小値を決定し、第1の周囲光量と第2の周囲光量の比較から周囲光量を特定し、周囲光量が2つの周囲光量の小さい方として特定される
55 後方散乱信号及び周囲光量に基づいて光ランタイム測定の有効検出範囲を決定する
56 光ランタイム測定の有効検出範囲を予め規定された関数の補助により決定する
57 光ランタイム測定の有効検出範囲を特性図から決定する
58 光ランタイム測定の有効検出範囲を予め規定された基準値との比較により決定する
A0~A127 評価部
EN×M、E0,0~E127,255 光検出受信要素
HA0~HAX ヒストグラム累積部
S0~S255 列
Z0~Z127 行
Claims (13)
- 光パルスランタイム法において後方散乱ヒストグラムデータを解析する方法(20、30、40、50)であって、
後方散乱ヒストグラムデータを受信するステップ(21、31、41、51)と、
受信された前記後方散乱ヒストグラムデータを解析するステップ(22、32、42、52)と、
を備え、
前記受信された後方散乱ヒストグラムデータを解析するステップが、前記受信された後方散乱ヒストグラムデータから周囲光量を特定するステップ(33、43、54)であり、
前記周囲光量を特定するために、特定の時間閾値を超える前記受信された後方散乱ヒストグラムデータから特定の基準を満たす極小値が決定される(44)、方法(20、30、40、50)。 - 前記受信された後方散乱ヒストグラムデータを解析するステップが、
後方散乱信号を特定するために、前記受信された後方散乱ヒストグラムデータと予め規定された基準後方散乱信号との間の類似性測定値を計算するステップ(23、53)
を備える、請求項1に記載の方法(20、30、40、50)。 - 前記受信された後方散乱ヒストグラムデータを解析するステップが、
前記後方散乱信号及び前記周囲光量に基づいて光ランタイム測定の有効検出範囲を決定するステップ(55)
を備える、請求項2に記載の方法(20、30、40、50)。 - 信号減衰係数を決定するための変換関数が前記後方散乱信号に適用され(24)、
前記変換関数は、実験的に決定された関数であり(25)、
信号減衰係数は、後方散乱によってもたらされる光出力における距離依存的な割合の減少であり、
請求項3に記載の方法(20、30、40、50)。 - 前記周囲光量を特定するために、光パルス放射の開始時間の前に存在する複数の時間間隔の前記受信された後方散乱ヒストグラムデータから算術平均が計算される(34)、請求項1に記載の方法(20、30、40、50)。
- 前記周囲光量を特定するために、特定の時間閾値を超える複数の時間間隔の前記受信された後方散乱ヒストグラムデータから算術平均が計算される(35)、請求項1に記載の方法(20、30、40、50)。
- 前記周囲光量を特定するために、光パルス放射の開始時間の前に存在する複数の時間間隔の前記受信された後方散乱ヒストグラムデータから及び特定の時間閾値を超える複数の時間間隔の前記受信された後方散乱ヒストグラムデータから算術平均が計算される(36)、請求項1に記載の方法(20、30、40、50)。
- 前記周囲光量を特定するステップが、
第1の周囲光量を取得するために、光パルス放射の開始時間の前に存在する複数の時間間隔の前記受信された後方散乱ヒストグラムデータから算術平均を計算するステップと、
第2の周囲光量を取得するために、特定の時間閾値を超える前記受信された後方散乱ヒストグラムデータから特定の基準を満たす極小値を決定するステップと、
前記第1の周囲光量と前記第2の周囲光量の比較から前記周囲光量を特定するステップであって、前記周囲光量が2つの前記周囲光量の小さい方として特定される、ステップ(45)と、
を備える、請求項1に記載の方法(20、30、40、50)。 - 前記光ランタイム測定の前記有効検出範囲が、予め規定された関数の補助により決定される(56)、請求項3に記載の方法(20、30、40、50)。
- 前記光ランタイム測定の前記有効検出範囲が、システムの入出力変数間の関係を表す特性図から決定される(57)、請求項3に記載の方法(20、30、40、50)。
- 前記光ランタイム測定の前記有効検出範囲が、予め規定された基準値との比較により決定される(58)、請求項3に記載の方法(20、30、40、50)。
- 請求項1から11のいずれか一項に記載の方法を実行するための手段を備える、データ処理のための装置(3)。
- 周囲光量に対応しない極小値が決定された場合、前記周囲光量に対応しない極小値のみを、周囲光を特定するために考慮する、請求項1に記載の方法(20、30、40、50)。
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