JP7454763B2 - Electronic component mounting equipment and production data creation system - Google Patents

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Description

本発明は、生産データに基づきワークに電子部品を搭載する電子部品搭載装置および生産データを作成する生産データ作成システムに関する。 The present invention relates to an electronic component mounting device that mounts electronic components on a workpiece based on production data, and a production data creation system that creates production data.

電子部品搭載装置は、基板などのワークに半導体チップ、チップ部品、パッケージングされたLSIなどの電子部品を搭載して、部品や実装基板を生産する。電子部品搭載装置は、基板に電子部品を搭載する際の荷重、温度などの因子のプロセス条件を含む生産データに基づき基板に電子部品を搭載する。基板と電子部品には、最適な搭載状態が得られる最適なプロセス条件があり、予め基板と電子部品を使用した実験やシミュレーションで求めたプロセス条件が生産で使用される。 Electronic component mounting equipment mounts electronic components such as semiconductor chips, chip components, and packaged LSIs onto a workpiece such as a board to produce components and mounting boards. Electronic component mounting equipment mounts electronic components on a board based on production data including process conditions such as load and temperature when mounting electronic components on a board. There are optimal process conditions for substrates and electronic components that provide optimal mounting conditions, and process conditions determined in advance through experiments and simulations using substrates and electronic components are used in production.

特許文献1では、所定の範囲内からランダムに因子の値を決定したプロセス条件を設定して、設定された複数のプロセス条件と予め取得されている部材の形状、材質等の部材条件からシミュレーションで搭載状態を予測している。そして、複数のシミュレーション結果から搭載状態を評価して、評価結果から最適なプロセス条件を探索する一連の処理をコンピュータで実行するシミュレーション方法が開示されている。 In Patent Document 1, process conditions are set in which factor values are randomly determined from within a predetermined range, and a simulation is performed based on a plurality of set process conditions and member conditions such as member shape and material obtained in advance. The loading status is predicted. A simulation method is disclosed in which a computer executes a series of processes for evaluating the mounting state from a plurality of simulation results and searching for optimal process conditions from the evaluation results.

特開2005-72576号公報Japanese Patent Application Publication No. 2005-72576

しかしながら、特許文献1を含む従来技術では、すでに部材条件が存在する基板や電子部品ではシミュレーションにより最適化したプロセス条件を決定することができるものの、部材条件が存在しない新しい基板や電子部品が納入されてから短時間で製品を出荷する必要がある生産現場では、プロセス条件を変えて現物の基板に電子部品を搭載して搭載状態を観察し、最適なプロセス条件を求める実験を実施する必要がある場合がある。 However, in the conventional technology including Patent Document 1, although it is possible to determine optimized process conditions through simulation for substrates and electronic components for which component conditions already exist, new substrates and electronic components for which component conditions do not exist are delivered. In production sites where products need to be shipped in a short period of time, it is necessary to change process conditions, mount electronic components on actual boards, observe the mounting conditions, and conduct experiments to find the optimal process conditions. There are cases.

その場合、プロセス条件が異なる複数の生産データを予め準備して、オペレータが実行する生産データを変えてプロセス条件を異ならせながら基板に電子部品を搭載する実験を実施する必要がある。そのため、オペレータの作業量が多くなって作業ミスをするリスクがあり、効率的かつ確実に生産データを作成するための実験を実施するためには更なる改善の余地があった。 In that case, it is necessary to prepare in advance a plurality of pieces of production data with different process conditions, and to conduct an experiment in which electronic components are mounted on a board while changing the process conditions by changing the production data executed by the operator. Therefore, there is a risk that the amount of work required by the operator will increase and there will be a risk of making mistakes, and there is room for further improvement in order to conduct experiments for efficiently and reliably creating production data.

そこで本発明は、生産データを作成するための実験を効率的に実施することができる電子部品搭載装置および生産データ作成システムを提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide an electronic component mounting device and a production data creation system that can efficiently conduct experiments for creating production data.

本発明の電子部品搭載装置は、生産データに基づきワークに電子部品を搭載する電子部品搭載装置であって、前記電子部品が搭載された前記ワークを生産するために使用する生産データと、前記生産データを求めるための実験で使用する実験用生産データと、を少なくとも記憶する記憶部と、前記生産データに基づき所定の条件で前記ワークに前記電子部品を搭載する第1モードと、前記実験用生産データに基づき条件を変更しながら前記ワークに前記電子部品を搭載する第2モードと、のいずれかで前記ワークに前記電子部品を搭載する部品搭載部と、を備えた。 The electronic component mounting apparatus of the present invention is an electronic component mounting apparatus that mounts electronic components on a workpiece based on production data, and includes production data used to produce the workpiece on which the electronic component is mounted, and a first mode for mounting the electronic component on the workpiece under predetermined conditions based on the production data; and a first mode for mounting the electronic component on the workpiece under predetermined conditions based on the production data; The present invention includes a second mode in which the electronic component is mounted on the workpiece while changing conditions based on data, and a component mounting section that mounts the electronic component on the workpiece in either of the following modes.

本発明の生産データ作成システムは、生産データに基づきワークに電子部品を搭載する電子部品搭載装置において使用される前記生産データを作成する生産データ作成システムであって、前記生産データを求めるための実験で使用する実験用生産データを構成する実験情報を少なくとも記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶された情報に基づき、前記実験用生産データを作成する実験用生産データ作成部と、電子部品搭載装置が前記実験用生産データに基づき条件を変更しながら前記電子部品を搭載した前記ワークに搭載された前記電子部品の評価結果に基づいて、前記電子部品搭載装置が所定の条件で前記ワークに前記電子部品を搭載する生産データを作成する生産データ作成部と、を備えた。 The production data creation system of the present invention is a production data creation system that creates the production data used in an electronic component mounting device that mounts electronic components on a workpiece based on production data, and the production data creation system is a production data creation system that creates the production data used in an electronic component mounting device that mounts electronic components on a workpiece based on production data. a storage unit that stores at least experimental information constituting experimental production data used in the storage unit; an experimental production data creation unit that creates the experimental production data based on the information stored in the storage unit; and an electronic component mounting unit. While changing the conditions based on the experimental production data, the electronic component mounting device applies the electronic component to the workpiece under predetermined conditions based on the evaluation results of the electronic component mounted on the workpiece on which the electronic component is mounted. It is equipped with a production data creation department that creates production data for mounting electronic components.

本発明によれば、生産データを作成するための実験を効率的に実施することができる。 According to the present invention, experiments for creating production data can be efficiently carried out.

本発明の一実施の形態の電子部品搭載システムの構成説明図Configuration explanatory diagram of an electronic component mounting system according to an embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の電子部品搭載装置の構成説明図Configuration explanatory diagram of an electronic component mounting device according to an embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の電子部品搭載装置の制御系の構成を示すブロック図A block diagram showing the configuration of a control system of an electronic component mounting device according to an embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の管理コンピュータ(生産データ作成システム)の処理系の構成を示すブロック図A block diagram showing the configuration of a processing system of a management computer (production data creation system) according to an embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の電子部品搭載装置のタッチパネルに表示された基本情報入力画面の一例の説明図An explanatory diagram of an example of a basic information input screen displayed on a touch panel of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の電子部品搭載装置のタッチパネルに表示された実験条件入力画面の一例の説明図An explanatory diagram of an example of an experiment condition input screen displayed on a touch panel of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の電子部品搭載装置のタッチパネルに表示された実験用生産データ確認画面の一例の説明図An explanatory diagram of an example of an experimental production data confirmation screen displayed on a touch panel of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の電子部品搭載装置のタッチパネルに表示された評価結果入力画面の一例の説明図An explanatory diagram of an example of an evaluation result input screen displayed on a touch panel of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の電子部品搭載装置のタッチパネルに表示された計測結果表示画面の一例の説明図An explanatory diagram of an example of a measurement result display screen displayed on a touch panel of an electronic component mounting device according to an embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の電子品搭載方法のフロー図Flow diagram of an electronic component mounting method according to an embodiment of the present invention

以下に図面を用いて、本発明の一実施の形態を詳細に説明する。以下で述べる構成、形状等は説明のための例示であって、電子部品搭載装置、搭載評価装置、管理コンピュータの仕様に応じ、適宜変更が可能である。以下では、全ての図面において対応する要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。図2では、水平面内で互いに直交する2軸方向として、基板搬送方向のX方向(図2における紙面垂直方向)、基板搬送方向に直交するY方向(図2における左右方向)が示される。また、図2では、水平面と直交する高さ方向としてZ方向(図2における上下方向)が示される。Z方向は、電子部品搭載装置が水平面上に設置された場合の上下方向である。 An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. The configuration, shape, etc. described below are examples for explanation, and can be changed as appropriate depending on the specifications of the electronic component mounting device, the mounting evaluation device, and the management computer. Hereinafter, corresponding elements in all drawings will be denoted by the same reference numerals, and redundant explanation will be omitted. In FIG. 2, the X direction of the substrate transport direction (direction perpendicular to the plane of the paper in FIG. 2) and the Y direction (horizontal direction in FIG. 2) perpendicular to the substrate transport direction are shown as two axial directions perpendicular to each other in the horizontal plane. Further, in FIG. 2, the Z direction (vertical direction in FIG. 2) is shown as a height direction perpendicular to the horizontal plane. The Z direction is the vertical direction when the electronic component mounting device is installed on a horizontal surface.

まず図1を参照して、電子部品搭載システム1の構成を説明する。電子部品搭載システム1は、電子部品搭載装置M1、搭載評価装置M2、管理コンピュータ3を、相互に通信ネットワーク2によって接続する構成となっている。電子部品搭載装置M1は、トレイ上に載置された状態、または粘着シート上に貼着された状態の半導体チップなどの電子部品Dを基板B(ワーク)に搭載する機能を有している。 First, with reference to FIG. 1, the configuration of the electronic component mounting system 1 will be explained. The electronic component mounting system 1 has a configuration in which an electronic component mounting device M1, a mounting evaluation device M2, and a management computer 3 are interconnected through a communication network 2. The electronic component mounting device M1 has a function of mounting an electronic component D such as a semiconductor chip placed on a tray or stuck on an adhesive sheet onto a substrate B (work).

基板Bは、電子部品Dのバンプなどの端子が接続される電極が形成された複数の個別基板Baから構成されている。電子部品搭載装置M1は、搬入(矢印a)された基板Bの個別基板Baに電子部品Dをそれぞれ搭載する(矢印b)。量産時には、電子部品Dが搭載された個別基板Baは基板Bから切り出されて(矢印c)、それぞれが新たな部品や基板などとなる。電子部品搭載装置M1が基板Bに電子部品Dを搭載するプロセス条件を評価する時は、電子部品Dが搭載された基板Bは搭載評価装置M2に搬入され(矢印d)、電子部品Dと個別基板Ba(基板B)との接合状態などが評価される。 The substrate B is composed of a plurality of individual substrates Ba on which electrodes to which terminals such as bumps of the electronic component D are connected are formed. The electronic component mounting apparatus M1 mounts the electronic components D on the individual boards Ba of the board B that has been carried in (arrow a) (arrow b). During mass production, the individual substrates Ba on which the electronic components D are mounted are cut out from the substrate B (arrow c), and each becomes a new component or substrate. When the electronic component mounting device M1 evaluates the process conditions for mounting the electronic component D onto the board B, the board B on which the electronic component D is mounted is carried into the mounting evaluation device M2 (arrow d), and is separated from the electronic component D. The bonding state with the substrate Ba (substrate B) and the like are evaluated.

図1において、搭載評価装置M2は、電子部品Dのバンプが基板Bの電極と接合されている強度であるシェア強度、接合されたバンプのバンプ高さ、電子部品Dのバンプが電極に接合した転写面積、接合したバンプの抵抗値、実装精度などを評価する。搭載評価装置M2は、これらの評価を実行するために機能の異なる複数の機構を有している。または、機能の異なる複数の搭載評価装置M2が、それぞれ評価を実行する場合もある。例えば、基板Bの上面を撮像するカメラを備えた搭載評価装置M2は、電子部品Dが剥離された基板Bの電極上のバンプの跡を撮像して、転写面積や実装精度を評価する。以下、機能の異なる複数の搭載評価装置M2を総称して搭載評価装置M2と称する。 In FIG. 1, the mounting evaluation device M2 measures the shear strength, which is the strength at which the bumps of electronic component D are joined to the electrodes of substrate B, the bump height of the joined bumps, and the strength at which the bumps of electronic component D are joined to the electrodes. Evaluate the transfer area, resistance value of the bonded bumps, mounting accuracy, etc. The on-board evaluation device M2 has a plurality of mechanisms with different functions in order to execute these evaluations. Alternatively, a plurality of on-board evaluation devices M2 with different functions may each perform the evaluation. For example, the mounting evaluation device M2 equipped with a camera that images the upper surface of the substrate B images the traces of bumps on the electrodes of the substrate B from which the electronic component D has been peeled off, and evaluates the transfer area and mounting accuracy. Hereinafter, the plurality of onboard evaluation devices M2 having different functions will be collectively referred to as the onboard evaluation device M2.

次に図2を参照して、電子部品搭載装置M1の全体構成と機能を説明する。電子部品搭載装置M1は、基板B(ワーク)に半導体チップなどの電子部品Dを搭載する機能を有している。基台4上には、部品供給ステージ5、および基板保持ステージ6がY方向に配置されている。また、電子部品搭載装置M1は、各部を制御する制御装置7を備えている。 Next, with reference to FIG. 2, the overall configuration and functions of the electronic component mounting apparatus M1 will be described. The electronic component mounting device M1 has a function of mounting an electronic component D such as a semiconductor chip onto a substrate B (work). A component supply stage 5 and a substrate holding stage 6 are arranged on the base 4 in the Y direction. Further, the electronic component mounting apparatus M1 includes a control device 7 that controls each part.

部品供給ステージ5は、部品供給部移動部8の上部に部品供給部9を設けて構成されている。部品供給部移動部8は制御装置7によって制御されており、部品供給部9をX方向、Y方向に移動させる。部品供給部9の上部には、複数の電子部品Dが保持されている。電子部品Dはトレイ上に載置された状態、または粘着シート上に貼着された状態で部品供給部9の上部に保持される。 The component supply stage 5 is configured by providing a component supply section 9 above a component supply section moving section 8 . The component supply section moving section 8 is controlled by the control device 7, and moves the component supply section 9 in the X direction and the Y direction. A plurality of electronic components D are held in the upper part of the component supply section 9. The electronic component D is held at the upper part of the component supply unit 9 while being placed on a tray or adhered to an adhesive sheet.

図2において、基板保持ステージ6は、基板保持部移動部10の上部に基板保持部11を設けて構成されている。基板保持部移動部10は制御装置7によって制御されており、基板保持部11をX方向、Y方向に移動させる。基板保持部11は、制御装置7によって制御される一対の搬送レール11aを備えている。基板保持部11は、搬送レール11aにより基板Bを搬入して電子部品Dが搭載される位置に位置決めして保持する。また、基板保持部11は、電子部品Dが搭載された基板Bを搬送レール11aにより搬出する。 In FIG. 2, the substrate holding stage 6 is configured by providing a substrate holding part 11 above a substrate holding part moving part 10. The substrate holder moving unit 10 is controlled by the control device 7, and moves the substrate holder 11 in the X direction and the Y direction. The substrate holding section 11 includes a pair of transport rails 11a controlled by the control device 7. The board holding unit 11 carries the board B using the transport rail 11a, positions it at a position where the electronic component D is mounted, and holds the board B. Further, the board holding unit 11 carries out the board B on which the electronic component D is mounted using the transport rail 11a.

基板保持部11には、搬送レール11aによって保持された基板Bを加熱する基板加熱部12と、基板加熱部12によって加熱された基板保持部11のステージ温度を計測するステージ温度計12aが設置されている。基板加熱部12は、制御装置7によって制御されており、基板保持部11を指定されたステージ温度となるように加熱する。ステージ温度計12aが計測したステージ温度は、制御装置7に送信される。 The substrate holding section 11 is provided with a substrate heating section 12 that heats the substrate B held by the transport rail 11a, and a stage thermometer 12a that measures the stage temperature of the substrate holding section 11 heated by the substrate heating section 12. ing. The substrate heating section 12 is controlled by the control device 7 and heats the substrate holding section 11 to a specified stage temperature. The stage temperature measured by the stage thermometer 12a is transmitted to the control device 7.

図2において、電子部品Dは、電子部品Dの裏面に形成されたバンプDaが上方となる向きで部品供給部9上に保持されている。部品供給ステージ5の上方には、ピックアップヘッド13が設置されている。ピックアップヘッド13は、部品供給部9上の電子部品Dを吸着して取り出す機能を有している。ピックアップヘッド13は、制御装置7により制御されるピックアップヘッド駆動部14によってX軸を回転軸として回転する(矢印e)。また、ピックアップヘッド13は、後述する受け渡し位置まで移動する(矢印f)。すなわち、ピックアップヘッド13は、受け渡し位置において、バンプDaが下方となる向きで電子部品Dを保持している。 In FIG. 2, the electronic component D is held on the component supply section 9 with the bump Da formed on the back surface of the electronic component D facing upward. A pickup head 13 is installed above the component supply stage 5. The pickup head 13 has a function of sucking and taking out the electronic component D on the component supply section 9. The pickup head 13 is rotated about the X-axis as a rotation axis by a pickup head drive unit 14 controlled by the control device 7 (arrow e). Further, the pickup head 13 moves to a delivery position (arrow f), which will be described later. That is, the pickup head 13 holds the electronic component D at the delivery position with the bump Da facing downward.

ピックアップヘッド13、および基板保持ステージ6の上方には、ボンディングヘッド15が設置されている。ボンディングヘッド15は、制御装置7により制御されるボンディングヘッド駆動部16により、Y方向に移動する(矢印g、矢印h)。ボンディングヘッド15の下端には、電子部品Dを吸着して保持するツール17が設けられている。ボンディングヘッド15、ボンディングヘッド駆動部16は、受け渡し位置においてピックアップヘッド13からツール17が電子部品Dを吸着して受け取り、基板保持部11が保持する基板Bの搭載位置まで電子部品Dを移動させ、電子部品Dを基板Bに搭載する機能を有している。 A bonding head 15 is installed above the pickup head 13 and the substrate holding stage 6. The bonding head 15 is moved in the Y direction by a bonding head drive section 16 controlled by the control device 7 (arrow g, arrow h). A tool 17 for sucking and holding the electronic component D is provided at the lower end of the bonding head 15. The bonding head 15 and the bonding head drive unit 16 have the tool 17 adsorb and receive the electronic component D from the pickup head 13 at the delivery position, move the electronic component D to the mounting position of the board B held by the board holding unit 11, It has a function of mounting the electronic component D on the board B.

ボンディングヘッド15には、ツール17によって吸着された電子部品Dを加熱する部品加熱部18と、部品加熱部18によって加熱されたツール17のツール温度を計測するツール温度計18aが設置されている。部品加熱部18は、制御装置7によって制御されており、ツール17を指定されたツール温度となるように加熱する。ツール温度計18aが計測したツール温度は、制御装置7に送信される。 The bonding head 15 is equipped with a component heating section 18 that heats the electronic component D sucked by the tool 17, and a tool thermometer 18a that measures the temperature of the tool 17 heated by the component heating section 18. The component heating unit 18 is controlled by the control device 7 and heats the tool 17 to a specified tool temperature. The tool temperature measured by the tool thermometer 18a is transmitted to the control device 7.

図2において、ボンディングヘッド15には、ツール17を昇降させるツール昇降機構19が設置されている。また、ボンディングヘッド15には、電子部品Dを保持するツール17をツール昇降機構19が基板Bに押し付ける荷重を計測する圧力センサ19aが設置されている。ツール昇降機構19は制御装置7によって制御されており、ツール17が指定された荷重で電子部品Dを基板Bに搭載するようにツール17を下降させる。圧力センサ19aが計測した荷重は、制御装置7に送信される。 In FIG. 2, a tool elevating mechanism 19 for elevating the tool 17 is installed in the bonding head 15. Furthermore, a pressure sensor 19a is installed in the bonding head 15 to measure the load with which the tool 17 holding the electronic component D is pressed against the substrate B by the tool elevating mechanism 19. The tool elevating mechanism 19 is controlled by the control device 7, and lowers the tool 17 so that the tool 17 mounts the electronic component D on the board B with a specified load. The load measured by the pressure sensor 19a is transmitted to the control device 7.

ボンディングヘッド15には、ツール17を超音波振動させる超音波発振器20が設置されている。超音波発振器20は制御装置7によって制御されており、電子部品Dを超音波圧着により基板Bに搭載する場合は、指定された超音波パワー、振幅、周波数でツール17を超音波振動させる。電子部品搭載装置M1は、制御装置7に接続されたタッチパネル21を備えている。タッチパネル21は、表示部に表示された操作ボタンで制御装置7へのデータ入力や電子部品搭載装置M1の操作を行うことができる。 An ultrasonic oscillator 20 that causes the tool 17 to vibrate ultrasonically is installed in the bonding head 15 . The ultrasonic oscillator 20 is controlled by the control device 7, and when mounting the electronic component D on the substrate B by ultrasonic pressure bonding, the tool 17 is ultrasonically vibrated with specified ultrasonic power, amplitude, and frequency. The electronic component mounting device M1 includes a touch panel 21 connected to the control device 7. The touch panel 21 can input data to the control device 7 and operate the electronic component mounting device M1 using operation buttons displayed on the display section.

このように、基板保持ステージ6は、基板加熱部12、ステージ温度計12aを備えている。また、ボンディングヘッド15は、部品加熱部18、ツール温度計18a、ツール昇降機構19、圧力センサ19a、超音波発振器20を備えている。部品供給ステージ5、基板保持ステージ6、ピックアップヘッド13、ピックアップヘッド駆動部14、ボンディングヘッド15、ボンディングヘッド駆動部16は、基板Bに電子部品Dを搭載する部品搭載部22(図3参照)である。 In this way, the substrate holding stage 6 includes the substrate heating section 12 and the stage thermometer 12a. The bonding head 15 also includes a component heating section 18, a tool thermometer 18a, a tool lifting mechanism 19, a pressure sensor 19a, and an ultrasonic oscillator 20. The component supply stage 5, the substrate holding stage 6, the pickup head 13, the pickup head drive section 14, the bonding head 15, and the bonding head drive section 16 are a component mounting section 22 (see FIG. 3) that mounts the electronic component D on the substrate B. be.

次に図3を参照して、電子部品搭載装置M1の制御系の構成について説明する。電子部品搭載装置M1が備える制御装置7には、部品搭載部22、タッチパネル21、搭載通信部23が接続されている。搭載通信部23は、通信ネットワーク2を介して搭載評価装置M2、管理コンピュータ3との間でデータの送受信を行う。制御装置7は、搭載記憶部24、搭載制御部25、実験用生産データ作成部26、実験シミュレーション部27、評価結果取得部28、評価結果入力シート作成部29、生産データ作成部30、計測結果表示処理部31を備えている。搭載記憶部24は記憶装置であり、生産データ24a、実験情報24b、装置情報24c、実験用生産データ24d、計測結果24e、評価結果24fなどが記憶されている。 Next, with reference to FIG. 3, the configuration of the control system of the electronic component mounting apparatus M1 will be described. A component mounting section 22, a touch panel 21, and a mounting communication section 23 are connected to the control device 7 included in the electronic component mounting apparatus M1. The onboard communication unit 23 sends and receives data to and from the onboard evaluation device M2 and the management computer 3 via the communication network 2. The control device 7 includes a mounting storage section 24, a mounting control section 25, an experimental production data creation section 26, an experiment simulation section 27, an evaluation result acquisition section 28, an evaluation result input sheet creation section 29, a production data creation section 30, and a measurement result. A display processing section 31 is provided. The onboard storage unit 24 is a storage device, and stores production data 24a, experimental information 24b, device information 24c, experimental production data 24d, measurement results 24e, evaluation results 24f, and the like.

生産データ24aは、電子部品Dが搭載された基板Bを生産(量産)するために使用するデータであり、基板の種類(基板名)毎に、基板Bにおける電子部品Dの搭載位置(XY座標)、部品搭載部22により電子部品Dを基板Bに搭載する量産時のプロセス条件(ステージ温度、ツール温度、荷重、超音波パワーなどの値)が記憶されている。実験用生産データ24dは、生産データ24aを求めるための実験で使用するデータであり、部品搭載部22により電子部品Dを基板Bに搭載する複数の実験用のプロセス条件、各プロセス条件で電子部品Dを基板Bに搭載する搭載位置が記憶されている。すなわち、実験用生産データ24dには、基板Bに電子部品Dを搭載する複数の条件と、その条件で基板Bに電子部品Dを搭載する搭載位置とを関連付けた情報が含まれている。 The production data 24a is data used to produce (mass produce) the board B on which the electronic component D is mounted, and for each type of board (board name), the mounting position (XY coordinates) of the electronic component D on the board B. ), process conditions (values of stage temperature, tool temperature, load, ultrasonic power, etc.) during mass production in which electronic components D are mounted on substrate B by component mounting section 22 are stored. The experimental production data 24d is data used in an experiment to obtain the production data 24a, and includes process conditions for a plurality of experiments in which the electronic component D is mounted on the board B by the component mounting section 22, and the electronic component under each process condition. The mounting position where D is mounted on the board B is stored. That is, the experimental production data 24d includes information associating a plurality of conditions for mounting the electronic component D on the board B and a mounting position for mounting the electronic component D on the board B under the conditions.

図3において、搭載制御部25は、内部処理部として第1モードで部品搭載部22を制御する第1モード処理部25aと、第2モードで部品搭載部22を制御する第2モード処理部25bとを備えている。第1モード処理部25aは、生産データ24aに基づいて部品搭載部22を制御して、所定のプロセス条件で基板Bの搭載位置に電子部品Dを搭載する。第2モード処理部25bは、実験用生産データに基づいて部品搭載部22を制御して、プロセス条件を変更しながら基板Bの搭載位置に電子部品Dを搭載する。 In FIG. 3, the mounting control unit 25 includes a first mode processing unit 25a that controls the component mounting unit 22 in the first mode as an internal processing unit, and a second mode processing unit 25b that controls the component mounting unit 22 in the second mode. It is equipped with The first mode processing section 25a controls the component mounting section 22 based on the production data 24a, and mounts the electronic component D at the mounting position of the board B under predetermined process conditions. The second mode processing section 25b controls the component mounting section 22 based on the experimental production data, and mounts the electronic component D at the mounting position of the substrate B while changing the process conditions.

このように、部品搭載部22は、生産データ24aに基づき所定の条件で基板Bに電子部品Dを搭載する第1モードと、実験用生産データ24dに基づき条件を変更しながら基板Bに電子部品Dを搭載する第2モードと、のいずれかで基板Bに電子部品Dを搭載する。また、第2モードにおいて部品搭載部22は、実験用生産データ24dで指定された基板Bの搭載位置に指定された条件で電子部品Dを搭載する。 In this way, the component mounting section 22 has two modes: the first mode in which the electronic component D is mounted on the board B under predetermined conditions based on the production data 24a, and the first mode in which the electronic component D is mounted on the board B while changing the conditions based on the experimental production data 24d. The electronic component D is mounted on the board B in either of the second mode in which the electronic component D is mounted. Furthermore, in the second mode, the component mounting section 22 mounts the electronic component D at the mounting position of the board B specified by the experimental production data 24d under the specified conditions.

図3において、搭載制御部25は、部品搭載部22が基板Bに電子部品Dを搭載する際にステージ温度計12a、ツール温度計18a、圧力センサ19aが計測した結果を取得して、計測結果24eとして搭載記憶部24に記憶させる。すなわち、ステージ温度計12a、ツール温度計18a、圧力センサ19aは、生産データ24aに基づいて設定されたプロセス条件、または実験用生産データ24dに基づいて設定された実験用のプロセス条件の部品搭載部22における実測値を計測する計測部である。 In FIG. 3, the mounting control unit 25 acquires the results measured by the stage thermometer 12a, tool thermometer 18a, and pressure sensor 19a when the component mounting unit 22 mounts the electronic component D on the board B, and obtains the measurement results. It is stored in the on-board storage unit 24 as 24e. That is, the stage thermometer 12a, the tool thermometer 18a, and the pressure sensor 19a are used in the component mounting section under the process conditions set based on the production data 24a or the experimental process conditions set based on the experimental production data 24d. This is a measurement unit that measures the actual measurement value at 22.

実験情報24bは、生産データ24aを求めるための実験で使用する実験用生産データ24dを構成する情報である。具体的には、実験情報24bには、基板Bに搭載された電子部品Dの評価結果24fに対して影響を及ぼす実験因子と、実験因子が取り得る値の範囲と、実験因子が範囲から選択できる水準数などが含まれる。装置情報24cは、電子部品搭載装置M1が備える部品搭載部22の構成に関する情報である。具体的には、装置情報24cには、部品搭載部22が熱圧着を可能な構成か、超音波圧着を可能な構成か、などの部品搭載部22の構成を特定する情報が含まれる。 The experimental information 24b is information that constitutes the experimental production data 24d used in the experiment to obtain the production data 24a. Specifically, the experimental information 24b includes experimental factors that influence the evaluation result 24f of the electronic component D mounted on the board B, the range of values that the experimental factors can take, and the experimental factors selected from the range. This includes the number of possible levels. The device information 24c is information regarding the configuration of the component mounting section 22 included in the electronic component mounting device M1. Specifically, the device information 24c includes information specifying the configuration of the component mounting section 22, such as whether the component mounting section 22 is configured to allow thermocompression bonding or ultrasonic compression bonding.

図3において、実験用生産データ作成部26は、実験情報24b、装置情報24cを含む搭載記憶部24(記憶部)に記憶された情報に基づき、実験用生産データ24dを作成する。実験用生産データ作成部26により作成された実験用生産データ24dは、搭載記憶部24に記憶される。部品搭載部22は、作成された実験用生産データ24dに基づき、基板Bに電子部品Dを搭載する。 In FIG. 3, the experimental production data creation unit 26 creates experimental production data 24d based on information stored in the onboard storage unit 24 (storage unit) including experiment information 24b and device information 24c. The experimental production data 24d created by the experimental production data creation section 26 is stored in the on-board storage section 24. The component mounting section 22 mounts the electronic component D on the board B based on the created experimental production data 24d.

ここで図5~図7を参照して、実験用生産データ作成部26による実験用生産データ24dの作成の詳細について説明する。図5において、まず実験用生産データ作成部26は、オペレータが実験用生産データ24dを作成するための基本情報を入力する基本情報入力画面50をタッチパネル21(表示部)に表示させる。基本情報入力画面50には、「基板名」入力枠51、「装置情報」入力枠52、「繰り返し回数」入力枠53、「搭載方法」入力枠54、「戻る」ボタン55、「次へ」ボタン56が表示されている。 Here, details of creation of the experimental production data 24d by the experimental production data creation section 26 will be described with reference to FIGS. 5 to 7. In FIG. 5, first, the experimental production data creation section 26 causes the touch panel 21 (display section) to display a basic information input screen 50 through which the operator inputs basic information for creating the experimental production data 24d. The basic information input screen 50 includes a “board name” input frame 51, a “device information” input frame 52, a “repetition count” input frame 53, a “mounting method” input frame 54, a “back” button 55, and a “next” button. A button 56 is displayed.

図5において、オペレータが「基板名」入力枠51のドロップダウンボタン51aを操作することで、実験対象の基板Bの種類(基板名)が選択される。ここでは、基板Bの種類として「Q1」が選択されている。オペレータが「装置情報」入力枠52のドロップダウンボタン52aを操作することで、装置情報24cに含まれる電子部品Dを基板Bに搭載する際の搭載方法(熱圧着、超音波圧着など)が選択される。ここでは、搭載方法として超音波圧着が選択されている。オペレータが「繰り返し回数」入力枠53のドロップダウンボタン53aを操作することで、実験用の各プロセス条件で電子部品Dを基板Bに搭載する繰り返し回数が選択される。ここでは、繰り返し回数として「3」が選択されている。 In FIG. 5, when the operator operates the drop-down button 51a of the "board name" input frame 51, the type (board name) of the board B to be tested is selected. Here, "Q1" is selected as the type of substrate B. By operating the drop-down button 52a in the "device information" input frame 52, the operator selects the mounting method (thermal compression bonding, ultrasonic compression bonding, etc.) for mounting the electronic component D included in the device information 24c onto the board B. be done. Here, ultrasonic crimping is selected as the mounting method. When the operator operates the drop-down button 53a of the "number of repetitions" input frame 53, the number of repetitions for mounting the electronic component D on the board B under each experimental process condition is selected. Here, "3" is selected as the number of repetitions.

オペレータが「搭載方法」入力枠54のドロップダウンボタン54aを操作することで、実験条件を搭載位置に割り付ける割り付け方法が選択される。割り付け方法としては、実験条件の番号順に連続的に割り付ける方法、基板B上の搭載位置に起因する影響をキャンセルするランダム(または所定のルール)で割り付ける方法などがある。ここでは、条件番号順に割り付ける方法が選択されている。「戻る」ボタン55が操作されると、前の画面に遷移する。「次へ」ボタン56が操作されると、次の実験条件入力画面に遷移する。 When the operator operates the drop-down button 54a in the "mounting method" input frame 54, an allocation method for allocating experimental conditions to mounting positions is selected. Examples of the allocation method include a method of sequentially allocating in the numerical order of the experimental conditions, and a method of randomly allocating (or according to a predetermined rule) that cancels the influence caused by the mounting position on the board B. Here, the method of allocating in order of condition number is selected. When the "back" button 55 is operated, the screen changes to the previous screen. When the "Next" button 56 is operated, the screen transitions to the next experimental condition input screen.

図6において、基本情報入力画面50において「次へ」ボタン56が操作されると、実験用生産データ作成部26は、オペレータが実験用生産データ24dを作成するための実験条件を入力する実験条件入力画面57をタッチパネル21に表示させる。実験条件入力画面57には、「実験条件」入力枠58、「戻る」ボタン59、「次へ」ボタン60が表示されている。「実験条件」入力枠58には、実験情報24bに含まれる実験因子、水準数、実験因子が取り得る値の範囲の入力枠が表示されている。 In FIG. 6, when the "Next" button 56 is operated on the basic information input screen 50, the experimental production data creation section 26 sets the experimental conditions for inputting experimental conditions for the operator to create the experimental production data 24d. An input screen 57 is displayed on the touch panel 21. The experimental condition input screen 57 displays an “experimental condition” input frame 58, a “back” button 59, and a “next” button 60. The "experimental conditions" input frame 58 displays input frames for the experimental factors included in the experimental information 24b, the number of levels, and the range of values that the experimental factors can take.

オペレータが「実験因子」入力枠のドロップダウンボタンを操作すると、基本情報入力画面50の「装置情報」入力枠52で選択された超音波圧着に対応する実験因子が表示される。ここでは、実験因子の選択肢としてステージ温度、荷重、荷重印加時間、ツール温度、超音波パワーが表示されている。オペレータは、表示された実験因子の中から実験に使用する実験因子を選択する。オペレータは、「水準数」入力枠のドロップダウンボタンを操作して水準数を入力する。また、オペレータは、「範囲」入力枠の下限値入力欄と上限値入力欄に実験因子の上限値と下限値を入力する。なお、オペレータが「実験因子」入力枠で実験因子を選択すると、「範囲」入力枠に下限値入力欄、上限値入力欄、実験因子の単位が表示される。 When the operator operates the drop-down button in the "experimental factor" input frame, the experimental factor corresponding to the ultrasonic crimping selected in the "apparatus information" input frame 52 of the basic information input screen 50 is displayed. Here, stage temperature, load, load application time, tool temperature, and ultrasonic power are displayed as experimental factor options. The operator selects an experimental factor to be used in the experiment from among the displayed experimental factors. The operator inputs the number of levels by operating the drop-down button in the "number of levels" input frame. Further, the operator inputs the upper limit value and lower limit value of the experimental factor into the lower limit value input field and upper limit value input field of the "range" input frame. Note that when the operator selects an experimental factor in the "experimental factor" input frame, a lower limit value input field, an upper limit value input field, and the unit of the experimental factor are displayed in the "range" input frame.

図6において、「戻る」ボタン59が操作されると、前の基本情報入力画面50に遷移する。「次へ」ボタン60が操作されると、次の実験用生産データ確認画面に遷移する。実験条件入力画面57において「次へ」ボタン60が操作されると、実験用生産データ作成部26は、入力された実験因子、範囲、水準数に基づいて、実験計画法などを用いて実験用のプロセス条件を決定する。すなわち、実験用生産データ作成部26は、装置情報36cに応じた実験因子を選択して実験用生産データ24dを作成する。 In FIG. 6, when the "back" button 59 is operated, the screen changes to the previous basic information input screen 50. When the "Next" button 60 is operated, the screen changes to the next experimental production data confirmation screen. When the "Next" button 60 is operated on the experimental condition input screen 57, the experimental production data creation unit 26 uses experimental design, etc. to create experimental production data based on the input experimental factors, ranges, and number of levels. Determine process conditions. That is, the experimental production data creation unit 26 selects experimental factors according to the device information 36c and creates experimental production data 24d.

また、実験シミュレーション部27は、決定された実験用のプロセス条件で作成された実験用生産データ24dに基づく電子部品Dを基板Bに搭載するのにかかる合計時間を算出する。具体的には、実験シミュレーション部27は、各プロセス条件で指定された繰り返し回数だけ電子部品Dを基板Bに搭載する作業に要する時間、ステージ温度やツール温度の変更に要する時間などをそれぞれ予測して、合計時間を算出する。 Furthermore, the experimental simulation unit 27 calculates the total time required to mount the electronic component D on the board B based on the experimental production data 24d created under the determined experimental process conditions. Specifically, the experiment simulation unit 27 predicts the time required to mount the electronic component D on the board B for the number of repetitions specified by each process condition, the time required to change the stage temperature and tool temperature, etc. and calculate the total time.

図7において、実験条件入力画面57において「次へ」ボタン60が操作されると、実験用生産データ作成部26は、オペレータが実験用生産データ24dを作成するための実験用のプロセス条件を確認する実験用生産データ確認画面61をタッチパネル21に表示させる。実験用生産データ確認画面61には、「予想実験時間」表示枠62、「実験条件」表示枠63、「搭載位置」表示枠64、「戻る」ボタン65、「次へ」ボタン66が表示されている。「予想実験時間」表示枠62には、実験シミュレーション部27によって算出された合計時間の予想値(予想実験時間)が表示されている。ここでは、「100min」と予想されている。 In FIG. 7, when the "Next" button 60 is operated on the experimental condition input screen 57, the experimental production data creation unit 26 confirms the experimental process conditions for the operator to create the experimental production data 24d. An experimental production data confirmation screen 61 is displayed on the touch panel 21. The experimental production data confirmation screen 61 displays an "expected experiment time" display frame 62, an "experiment conditions" display frame 63, a "loading position" display frame 64, a "back" button 65, and a "next" button 66. ing. The "expected experiment time" display frame 62 displays the expected value of the total time (expected experiment time) calculated by the experiment simulation section 27. Here, it is expected to be "100 min".

「実験条件」表示枠63には、条件番号毎に、搭載位置、実験用生産データ作成部26が決定したプロセス条件(実験因子の値)が表示されている。「搭載位置」表示枠64には、基板名「Q1」の基板Bに形成されている、X方向に6列(1~6)、Y方向に8行(A~H)の合計48個の個別基板Baに割り当てたプロセス条件の条件番号が各格子内に表示されている。基本情報入力画面50の「搭載方法」入力枠54において「条件番号順」が選択されているため、個別基板Baには、搭載位置A1から搭載位置H6への順番で昇順に繰り返し回数だけプロセス条件が割り当てられている。 The "experimental conditions" display frame 63 displays the mounting position and the process conditions (values of experimental factors) determined by the experimental production data creation unit 26 for each condition number. The “mounting position” display frame 64 displays a total of 48 pieces, 6 columns (1 to 6) in the X direction and 8 rows (A to H) in the Y direction, formed on the board B with the board name “Q1”. Condition numbers of process conditions assigned to individual substrates Ba are displayed in each grid. Since "Condition number order" is selected in the "Mounting method" input frame 54 of the basic information input screen 50, the process conditions are applied to the individual substrates Ba as many times as the number of repetitions in ascending order from the mounting position A1 to the mounting position H6. is assigned.

図7において、「戻る」ボタン65が操作されると、前の実験条件入力画面57に遷移する。例えば、「予想実験時間」表示枠62に表示された予想実験時間が許容される時間を超過する場合は、実験条件入力画面57に戻って実験条件が見直される。「次へ」ボタン66が操作されると、実験用のプロセス条件が確定され、実験用生産データ作成部26は、確定したプロセス条件、搭載位置に基づいて、実験用生産データ24dを作成して搭載記憶部24に記憶させる。 In FIG. 7, when the "back" button 65 is operated, the screen changes to the previous experimental condition input screen 57. For example, if the expected experiment time displayed in the "expected experiment time" display frame 62 exceeds the allowable time, the screen returns to the experiment condition input screen 57 and the experiment conditions are reviewed. When the "Next" button 66 is operated, the experimental process conditions are determined, and the experimental production data creation section 26 creates experimental production data 24d based on the determined process conditions and mounting position. The information is stored in the on-board storage unit 24.

図3において、電子部品搭載装置M1が実験用生産データ24dに基づいて第2モードで電子部品Dを搭載した基板Bは、搭載評価装置M2によって電子部品Dの搭載状態が評価される。評価結果取得部28は、第2モードで基板Bに搭載された電子部品Dの評価結果24fを取得するための評価結果入力画面をタッチパネル21に表示させる。 In FIG. 3, on the board B on which the electronic component mounting device M1 has mounted the electronic component D in the second mode based on the experimental production data 24d, the mounting state of the electronic component D is evaluated by the mounting evaluation device M2. The evaluation result acquisition unit 28 causes the touch panel 21 to display an evaluation result input screen for acquiring the evaluation result 24f of the electronic component D mounted on the board B in the second mode.

ここで図8を参照して、評価結果取得部28による評価結果24fの取得について説明する。評価結果入力画面67には、「評価結果」入力枠68、「書き出し」ボタン69、「読み込み」ボタン70、「戻る」ボタン71、「次へ」ボタン72が表示されている。「評価結果」入力枠68には、搭載位置毎に、条件番号と、評価結果を入力するための複数の入力欄が表示されている。搭載位置、条件番号は、実験用生産データ確認画面61の「搭載位置」表示枠64、「実験条件」表示枠63に対応している。評価結果には、搭載評価装置M2において評価されるシェア強度、バンプ高さ、転写面積、バンプの抵抗値などが入力される。 Here, with reference to FIG. 8, acquisition of the evaluation result 24f by the evaluation result acquisition unit 28 will be described. The evaluation result input screen 67 displays an “evaluation result” input frame 68, an “export” button 69, a “read” button 70, a “back” button 71, and a “next” button 72. The "evaluation result" input frame 68 displays a plurality of input fields for inputting condition numbers and evaluation results for each mounting position. The mounting position and condition number correspond to the "mounting position" display frame 64 and the "experimental condition" display frame 63 on the experimental production data confirmation screen 61. The evaluation results include the shear strength, bump height, transfer area, bump resistance value, etc. evaluated by the mounting evaluation device M2.

「書き出し」ボタン69が操作されると、評価結果入力シート作成部29は、「評価結果」入力枠68に表示されている評価結果を入力するための評価結果入力シートを作成する。評価結果入力シートは、例えば、評価結果を入力するフィールドをカンマで区切ったcsv形式で作成される。評価を担当するオペレータは、ノートパソコンなどを使用して搭載評価装置M2などによる評価結果を評価結果入力シートに入力する。または、搭載評価装置M2が評価結果を評価結果入力シートに記録する。「読み込み」ボタン70が操作されると、評価結果が入力された評価結果入力シートを選択する画面が表示される。評価結果入力シートが選択されると、「評価結果」入力枠68の入力欄に評価結果が入力される。 When the "export" button 69 is operated, the evaluation result input sheet creation section 29 creates an evaluation result input sheet for inputting the evaluation results displayed in the "evaluation result" input frame 68. The evaluation result input sheet is created, for example, in a csv format in which fields for inputting evaluation results are separated by commas. The operator in charge of the evaluation inputs the evaluation results by the on-board evaluation device M2 or the like into the evaluation result input sheet using a laptop computer or the like. Alternatively, the on-board evaluation device M2 records the evaluation results on the evaluation result input sheet. When the "read" button 70 is operated, a screen for selecting an evaluation result input sheet into which evaluation results have been input is displayed. When the evaluation result input sheet is selected, the evaluation result is input into the input field of the "evaluation result" input frame 68.

図8において、「評価結果」入力枠68への評価結果の入力は、「読み込み」ボタン70の操作による入力済みの評価結果入力シートの選択の他、オペレータが「評価結果」入力枠68の入力欄に直接数値を入力することもできる。また、搭載評価装置M2が評価結果を評価結果入力シートに記録する場合、評価結果取得部39は、通信ネットワーク2を介して、搭載評価装置M2から直接評価結果を取得する。 In FIG. 8, the evaluation results can be input into the "evaluation result" input frame 68 by selecting an already input evaluation result input sheet by operating the "load" button 70, or by inputting the evaluation results into the "evaluation result" input frame 68 by the operator. You can also enter numerical values directly into the fields. Furthermore, when the on-board evaluation device M2 records the evaluation results on the evaluation result input sheet, the evaluation result acquisition unit 39 directly obtains the evaluation results from the on-board evaluation device M2 via the communication network 2.

また、搭載評価装置M2がカメラによる基板Bの電極上のバンプの跡の撮像結果を評価結果として記録している場合は、評価結果取得部39はカメラによる撮像結果を画像認識して転写面積や実装精度を算出し、算出結果を「評価結果」入力枠68の入力欄に入力する。「評価結果」入力枠68には、搭載位置の順番で評価結果を入力するため、搭載評価装置M2などによる評価結果を入力する際の作業ミスを防止することができる。 In addition, when the mounted evaluation device M2 records the image of the bump trace on the electrode of the substrate B by the camera as the evaluation result, the evaluation result acquisition unit 39 performs image recognition of the image taken by the camera to calculate the transfer area and the like. The mounting accuracy is calculated and the calculation result is input into the input field of the “evaluation result” input frame 68. Since the evaluation results are input into the "evaluation result" input frame 68 in the order of the mounting position, it is possible to prevent operational errors when inputting the evaluation results by the mounting evaluation device M2 or the like.

図8において、「戻る」ボタン71が操作されると、前の画面に遷移する。「次へ」ボタン72が操作されると、評価結果24fが搭載記憶部24に記憶されると伴に、生産データ作成部41が評価結果24fに基づき、生産データ24aを作成する。生産データ作成部41は、取得された評価結果24fに基づき応答曲面法などの統計処理を実行して最適な量産用のプロセス条件を決定し、決定したプロセス条件に基づき生産データ24aを作成する。作成された生産データ24aは、搭載記憶部24に記憶される。 In FIG. 8, when the "back" button 71 is operated, the screen changes to the previous screen. When the "Next" button 72 is operated, the evaluation result 24f is stored in the mounting storage section 24, and the production data creation section 41 creates production data 24a based on the evaluation result 24f. The production data creation unit 41 executes statistical processing such as response surface method based on the acquired evaluation results 24f to determine optimal process conditions for mass production, and creates production data 24a based on the determined process conditions. The created production data 24a is stored in the mounting storage section 24.

このように、電子部品搭載装置M1は、搭載位置に則って、第2モードで基板Bに搭載された電子部品Dの評価結果24fを取得する評価結果取得部28と、取得された評価結果24fに基づき、生産データ24aを作成する生産データ作成部30とを備えている。これにより、評価結果24fの入力作業ミスを防止して、容易に生産データ24aを作成することができる。 In this way, the electronic component mounting apparatus M1 includes the evaluation result acquisition unit 28 that acquires the evaluation result 24f of the electronic component D mounted on the board B in the second mode according to the mounting position, and the evaluation result 24f that is acquired. The production data creation section 30 creates production data 24a based on the above. Thereby, it is possible to prevent errors in inputting the evaluation results 24f and easily create the production data 24a.

図3において、計測結果表示処理部31は、搭載記憶部24に記憶された実験用生産データ24dと計測結果24eとに基づいて、タッチパネル21(表示部)に実験用のプロセス条件と計測部によって計測された実測値を表示する計測結果表示画面73を表示させる。図9において、計測結果表示画面73には、「実験条件」選択ボタン74、「第1計測結果」表示枠75、「第2計測結果」表示枠76、「戻る」ボタン77、「次へ」ボタン78が表示されている。「実験条件」選択ボタン74が操作されると、「第1計測結果」表示枠75および「第2計測結果」表示枠76に表示される計測結果24eが変更される。 In FIG. 3, the measurement result display processing unit 31 displays the experimental process conditions and the measurement unit on the touch panel 21 (display unit) based on the experimental production data 24d and measurement results 24e stored in the on-board storage unit 24. A measurement result display screen 73 that displays the measured actual values is displayed. In FIG. 9, the measurement result display screen 73 includes an "experiment condition" selection button 74, a "first measurement result" display frame 75, a "second measurement result" display frame 76, a "back" button 77, and a "next" button. A button 78 is displayed. When the "experimental conditions" selection button 74 is operated, the measurement results 24e displayed in the "first measurement result" display frame 75 and the "second measurement result" display frame 76 are changed.

「第1計測結果」表示枠75および「第2計測結果」表示枠76には、条件番号毎に、計測された項目、実験用生産データ24dに設定されている条件値、繰り返し毎の計測値が表示されている。ここでは、ステージ温度計12aによって計測されたステージ温度、圧力センサ19aによって計測された荷重の計測値が表示されている。このように、計測結果24eと条件値が一覧で表示されることで、オペレータは計測結果24eが正常か否かを容易に判断することができる。「戻る」ボタン77が操作されると前の画面に遷移し、「次へ」ボタン78が操作されると次の画面に遷移する。 The “first measurement result” display frame 75 and the “second measurement result” display frame 76 display, for each condition number, the measured item, the condition value set in the experimental production data 24d, and the measurement value for each repetition. is displayed. Here, the stage temperature measured by the stage thermometer 12a and the measured value of the load measured by the pressure sensor 19a are displayed. In this way, by displaying the measurement result 24e and condition values in a list, the operator can easily determine whether the measurement result 24e is normal or not. When the "back" button 77 is operated, the screen changes to the previous screen, and when the "next" button 78 is operated, the screen changes to the next screen.

上記説明したように、本実施の形態の電子部品搭載装置M1は、生産データ24aを求めるための実験で使用する実験用生産データ24dを構成する実験情報24bを少なくとも記憶する記憶部(搭載記憶部24)と、記憶部に記憶された情報に基づき、実験用生産データ24dを作成する実験用生産データ作成部26と、作成された実験用生産データ24dに基づき、基板B(ワーク)に電子部品Dを搭載する部品搭載部22と、を備えている。これによって、オペレータが実験用生産データ24dを電子部品搭載装置M1に入力する際の人為ミスを防止することができ、複数のプロセス条件に対応する実験用生産データ24dを容易に作成することができる。 As explained above, the electronic component mounting apparatus M1 of the present embodiment has a storage section (mounting storage section 24), an experimental production data creation unit 26 that creates experimental production data 24d based on the information stored in the storage unit, and an electronic component on the board B (workpiece) based on the created experimental production data 24d. A component mounting section 22 on which D is mounted is provided. This makes it possible to prevent human errors when an operator inputs the experimental production data 24d into the electronic component mounting device M1, and to easily create experimental production data 24d that corresponds to multiple process conditions. .

また、本実施の形態の電子部品搭載装置M1は、電子部品Dが搭載された基板B(ワーク)を生産するために使用する生産データ24aと、生産データ24aを求めるための実験で使用する実験用生産データ24dと、を少なくとも記憶する記憶部(搭載記憶部24)と、生産データ24aに基づき所定のプロセス条件で基板Bに電子部品Dを搭載する第1モードと、実験用生産データ24dに基づきプロセス条件を変更しながら基板Bに電子部品Dを搭載する第2モードと、のいずれかで基板Bに電子部品Dを搭載する部品搭載部22と、を備えている。これによって、生産データ24aを作成するための実験を効率的に実施することができる。 Further, the electronic component mounting apparatus M1 of the present embodiment includes production data 24a used to produce the board B (workpiece) on which the electronic component D is mounted, and an experiment used in an experiment to obtain the production data 24a. a first mode in which the electronic component D is mounted on the board B under predetermined process conditions based on the production data 24a; A second mode in which the electronic component D is mounted on the substrate B while changing process conditions based on the process conditions; and a component mounting section 22 in which the electronic component D is mounted on the substrate B in either of the following modes. Thereby, experiments for creating the production data 24a can be efficiently carried out.

次に図4を参照して、管理コンピュータ3の情報処理系の構成について説明する。ここでは、管理コンピュータ3の有する機能のうち、実験用生産データと量産用の生産データを作成する機能について説明する。管理コンピュータ3が備える管理処理装置32には、入力部33、管理表示部34、管理通信部35が接続されている。 Next, with reference to FIG. 4, the configuration of the information processing system of the management computer 3 will be described. Here, among the functions of the management computer 3, the function of creating experimental production data and mass production production data will be described. An input section 33, a management display section 34, and a management communication section 35 are connected to a management processing device 32 included in the management computer 3.

入力部33は、キーボード、タッチパネル、マウスなどの入力装置であり、操作コマンドやデータ入力時などに用いられる。管理表示部34は液晶パネルなどの表示装置であり、各種データを表示する他、入力部33による操作のための操作画面、データ入力画面などを表示画面に表示する。管理通信部35は、通信ネットワーク2を介して電子部品搭載装置M1、搭載評価装置M2との間でデータの送受信を行う。 The input unit 33 is an input device such as a keyboard, touch panel, or mouse, and is used for inputting operation commands and data. The management display section 34 is a display device such as a liquid crystal panel, and in addition to displaying various data, it also displays an operation screen for operations by the input section 33, a data input screen, etc. on the display screen. The management communication unit 35 transmits and receives data to and from the electronic component mounting apparatus M1 and the mounting evaluation apparatus M2 via the communication network 2.

図4において、管理処理装置32は、管理記憶部36、実験用生産データ作成部37、実験シミュレーション部38、評価結果取得部39、評価結果入力シート作成部40、生産データ作成部41、計測結果表示処理部42を備えている。管理記憶部36は記憶装置であり、生産データ36a、実験情報36b、装置情報36c、実験用生産データ36d、評価結果36eなどが記憶されている。生産データ36a、実験情報36b、装置情報36c、実験用生産データ36d、評価結果36eは、搭載記憶部24に記憶されている生産データ24a、実験情報24b、装置情報24c、実験用生産データ24d、評価結果24fと同様であり、詳細な説明は省略する。 In FIG. 4, the management processing device 32 includes a management storage section 36, an experimental production data creation section 37, an experiment simulation section 38, an evaluation result acquisition section 39, an evaluation result input sheet creation section 40, a production data creation section 41, and a measurement result A display processing section 42 is provided. The management storage unit 36 is a storage device, and stores production data 36a, experiment information 36b, device information 36c, experimental production data 36d, evaluation results 36e, and the like. Production data 36a, experimental information 36b, equipment information 36c, experimental production data 36d, and evaluation results 36e are the production data 24a, experimental information 24b, equipment information 24c, experimental production data 24d, and This is the same as the evaluation result 24f, and detailed explanation will be omitted.

実験用生産データ作成部37、実験シミュレーション部38、評価結果取得部39、評価結果入力シート作成部40、生産データ作成部41、計測結果表示処理部42は、制御装置7が備える実験用生産データ作成部26、実験シミュレーション部27、評価結果取得部28、評価結果入力シート作成部29、生産データ作成部30、計測結果表示処理部31と同様であり、詳細な説明は省略する。実験用生産データ作成部37によって作成された実験用生産データ36dは、管理通信部35(送信部)を介して電子部品搭載装置M1に送信される。 The experimental production data creation section 37, the experiment simulation section 38, the evaluation result acquisition section 39, the evaluation result input sheet creation section 40, the production data creation section 41, and the measurement result display processing section 42 generate experimental production data included in the control device 7. It is the same as the creation section 26, the experiment simulation section 27, the evaluation result acquisition section 28, the evaluation result input sheet creation section 29, the production data creation section 30, and the measurement result display processing section 31, and detailed explanation will be omitted. The experimental production data 36d created by the experimental production data creation section 37 is transmitted to the electronic component mounting apparatus M1 via the management communication section 35 (transmission section).

このように、管理コンピュータ3は、生産データ36aを求めるための実験で使用する実験用生産データ36dを構成する実験情報36bを少なくとも記憶する記憶部(管理記憶部36)と、記憶部に記憶された情報に基づき、実験用生産データ36dを作成する実験用生産データ作成部37と、作成された実験用生産データ36dを電子部品搭載装置M1に送信する送信部(管理通信部35)と、を備えた、生産データ作成システムである。これによって、複数のプロセス条件に対応する実験用生産データ36dを容易に作成することができる。 In this way, the management computer 3 has a storage unit (management storage unit 36) that stores at least the experimental information 36b that constitutes the experimental production data 36d used in the experiment to obtain the production data 36a, and An experimental production data creation section 37 that creates experimental production data 36d based on the information obtained, and a transmission section (management communication section 35) that transmits the created experimental production data 36d to the electronic component mounting apparatus M1. It is a production data creation system equipped with Thereby, experimental production data 36d corresponding to a plurality of process conditions can be easily created.

また、管理コンピュータ3は、実験用生産データ36dを構成する実験情報36bを少なくとも記憶する記憶部(管理記憶部36)と、記憶部に記憶された情報に基づき、実験用生産データ36dを作成する実験用生産データ作成部37と、電子部品搭載装置M1が実験用生産データ36dに基づき条件を変更しながら電子部品Dを搭載した基板B(ワーク)に搭載された電子部品Dの評価結果36eに基づいて、電子部品搭載装置M1が所定の条件で基板Bに電子部品Dを搭載する生産データ36aを作成する生産データ作成部41と、を備えた、生産データ作成システムである。これによって、生産データ36aを作成するための実験を効率的に実施して、生産データ36aを容易に作成することができる。 The management computer 3 also includes a storage unit (management storage unit 36) that stores at least the experimental information 36b constituting the experimental production data 36d, and creates experimental production data 36d based on the information stored in the storage unit. The experimental production data creation unit 37 and the electronic component mounting device M1 change the conditions based on the experimental production data 36d to obtain the evaluation result 36e of the electronic component D mounted on the board B (workpiece) on which the electronic component D is mounted. This production data creation system includes a production data creation unit 41 that creates production data 36a for electronic component mounting apparatus M1 to mount electronic components D on board B under predetermined conditions. Thereby, it is possible to efficiently conduct an experiment for creating the production data 36a and easily create the production data 36a.

また、実験用生産データ36dには、基板B(ワーク)に電子部品Dを搭載する複数のプロセス条件と、その条件で基板Bに電子部品Dを搭載する搭載位置とを関連付けた情報が含まれている。そして、生産データ作成システム(管理コンピュータ3)は、プロセス条件と搭載位置とを関連付けた情報に基づいて、実験用生産データ36dに基づいて基板Bに搭載された電子部品Dの評価結果36eを記録するための評価結果入力用データ(評価結果入力シート)を作成する評価結果入力用データ作成部(評価結果入力シート作成部40)と、評価結果入力用データに則って作成された評価結果36eを取得する評価結果取得部39と、を備えている。これによって、評価結果36eの取得が容易となる。 In addition, the experimental production data 36d includes information that associates a plurality of process conditions for mounting the electronic component D on the board B (workpiece) and a mounting position for mounting the electronic component D on the board B under those conditions. ing. Then, the production data creation system (management computer 3) records the evaluation result 36e of the electronic component D mounted on the board B based on the experimental production data 36d, based on the information relating the process conditions and the mounting position. An evaluation result input data creation unit (evaluation result input sheet creation unit 40) that creates evaluation result input data (evaluation result input sheet) for The evaluation result acquisition unit 39 is provided. This makes it easy to obtain the evaluation result 36e.

次に図10のフローに沿って、電子部品搭載装置M1における電子部品搭載方法について説明する。電子部品搭載装置M1において、新たな基板Bに新たな電子部品Dを搭載する場合、実験により算出された最適なプロセス条件に基づく生産データ24aが作成され、作成された生産データ24aに基づいて電子部品Dが基板Bに搭載される。 Next, an electronic component mounting method in the electronic component mounting apparatus M1 will be described along the flow shown in FIG. When mounting a new electronic component D on a new board B in the electronic component mounting apparatus M1, production data 24a is created based on the optimal process conditions calculated through experiments, and electronic component mounting is performed based on the created production data 24a. Part D is mounted on board B.

まず、オペレータは、タッチパネル21に表示された基本情報入力画面50(図5参照)を使用して、基板Bの種類(基板名)、搭載方法(超音波圧着)、繰り返し回数、プロセス条件の搭載位置への割り付け方法(条件番号順)などの基本情報を入力する(ST1)。次いでオペレータは、タッチパネル21に表示された実験条件入力画面57(図6参照)を使用して、実験因子、水準数、実験因子が取り得る値の範囲(最大値、最小値)などの実験条件を入力する(ST2)。次いで実験用生産データ作成部26は、入力された実験条件などに基づいて、実験用生産データ24dを作成する。次いで第2モード処理部25bは、第2モードでプロセス条件を変更しながら基板Bに電子部品Dを搭載する(ST4)。 First, the operator uses the basic information input screen 50 (see FIG. 5) displayed on the touch panel 21 to enter the type of board B (board name), mounting method (ultrasonic crimping), number of repetitions, and process conditions. Basic information such as the method of allocation to positions (in order of condition number) is input (ST1). Next, the operator uses the experimental condition input screen 57 (see FIG. 6) displayed on the touch panel 21 to enter experimental conditions such as experimental factors, the number of levels, and the range of values that the experimental factors can take (maximum value, minimum value). is input (ST2). Next, the experimental production data creation section 26 creates experimental production data 24d based on the input experimental conditions and the like. Next, the second mode processing unit 25b mounts the electronic component D on the substrate B while changing the process conditions in the second mode (ST4).

図10において、次いでオペレータは、搭載評価装置M2により電子部品Dの搭載状態を評価する(ST5)。次いで評価結果取得部28は、搭載評価装置M2による評価結果24fを取得する(ST6)。次いで生産データ作成部30が、評価結果24fに基づいて生産データ24aを作成する(ST7)。生産データ24aが作成されると、第1モード処理部25aは、第1モードで量産用のプロセス条件により基板Bに電子部品Dを搭載する(ST8)。これによって、複数のプロセス条件に対応する実験用生産データ24dを容易に作成でき、また、生産データ24aを作成するための実験を効率的に実施することができる。 In FIG. 10, the operator then evaluates the mounting state of the electronic component D using the mounting evaluation device M2 (ST5). Next, the evaluation result acquisition unit 28 acquires the evaluation result 24f by the on-board evaluation device M2 (ST6). Next, the production data creation unit 30 creates production data 24a based on the evaluation result 24f (ST7). When the production data 24a is created, the first mode processing unit 25a mounts the electronic component D on the substrate B in the first mode under the process conditions for mass production (ST8). Thereby, the experimental production data 24d corresponding to a plurality of process conditions can be easily created, and an experiment for creating the production data 24a can be efficiently carried out.

なお、上記はワークである基板Bに半導体チップなどの電子部品Dを搭載する電子部品搭載装置M1の実験用生産データ、生産データの作成について説明したが、電子部品搭載装置M1が基板Bに搭載する電子部品Dは、パッケージングされていない半導体チップに限定されることはない。例えば、電子部品DはパッケージングされたLSIであってもよい。また、電子部品Dの搭載対象は、基板Bに限定されることはない。例えば、電子部品D(ワーク)の上面に他の電子部品Dを搭載する電子部品搭載であってもよい。 The above description describes the creation of experimental production data and production data for the electronic component mounting device M1 that mounts an electronic component D such as a semiconductor chip on the substrate B, which is a workpiece. The electronic component D is not limited to an unpackaged semiconductor chip. For example, the electronic component D may be a packaged LSI. Further, the target for mounting the electronic component D is not limited to the board B. For example, electronic component mounting may be performed in which another electronic component D is mounted on the top surface of the electronic component D (work).

本発明の電子部品搭載装置および生産データ作成システムは、生産データを作成するための実験を効率的に実施することができるという効果を有し、電子部品を基板に実装する分野において有用である。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The electronic component mounting apparatus and production data creation system of the present invention have the effect of being able to efficiently conduct experiments for creating production data, and are useful in the field of mounting electronic components on boards.

3 管理コンピュータ(生産データ作成システム)
12a ステージ温度計(計測部)
18a ツール温度計(計測部)
19a 圧力センサ(計測部)
21 タッチパネル(表示部)
B 基板(ワーク)
D 電子部品
M1 電子部品搭載装置
3 Management computer (production data creation system)
12a Stage thermometer (measuring part)
18a Tool thermometer (measuring part)
19a Pressure sensor (measurement part)
21 Touch panel (display section)
B Substrate (work)
D Electronic component M1 Electronic component mounting device

Claims (11)

生産データに基づきワークに電子部品を搭載する電子部品搭載装置であって、
前記電子部品が搭載された前記ワークを生産するために使用する生産データと、前記生産データを求めるための実験で使用する実験用生産データと、を少なくとも記憶する記憶部と、
前記生産データに基づき所定の条件で前記ワークに前記電子部品を搭載する第1モードと、前記実験用生産データに基づき条件を変更しながら前記ワークに前記電子部品を搭載する第2モードと、のいずれかで前記ワークに前記電子部品を搭載する部品搭載部と、を備えた、電子部品搭載装置。
An electronic component mounting device that mounts electronic components on a workpiece based on production data,
a storage unit that stores at least production data used to produce the workpiece on which the electronic component is mounted, and experimental production data used in an experiment to obtain the production data;
a first mode in which the electronic component is mounted on the workpiece under predetermined conditions based on the production data; and a second mode in which the electronic component is mounted on the workpiece while changing conditions based on the experimental production data. An electronic component mounting device comprising: a component mounting section that mounts the electronic component on the workpiece.
前記実験用生産データには、前記ワークに前記電子部品を搭載する複数の条件と、前記条件で前記ワークに前記電子部品を搭載する搭載位置とを関連付けた情報が含まれ、
前記第2モードにおいて前記部品搭載部は、前記実験用生産データで指定された前記ワークの前記搭載位置に指定された前記条件で前記電子部品を搭載する、請求項1に記載の電子部品搭載装置。
The experimental production data includes information associating a plurality of conditions for mounting the electronic component on the workpiece and a mounting position for mounting the electronic component on the workpiece under the conditions,
The electronic component mounting apparatus according to claim 1, wherein in the second mode, the component mounting section mounts the electronic component at the mounting position of the workpiece specified by the experimental production data under the specified conditions. .
前記実験用生産データに基づいて設定された条件の実測値を計測する計測部と、
表示部と、を備え、
前記記憶部は、前記部品搭載部が前記ワークに前記電子部品を搭載する際に前記計測部が計測した計測結果を記憶し、
前記表示部は、前記実験用生産データと前記計測結果に基づいて、前記設定された条件と前記計測された実測値とを表示する、請求項1または2に記載の電子部品搭載装置。
a measurement unit that measures actual values of conditions set based on the experimental production data;
comprising a display section;
The storage unit stores measurement results measured by the measurement unit when the component mounting unit mounts the electronic component on the workpiece,
The electronic component mounting apparatus according to claim 1 or 2, wherein the display section displays the set conditions and the measured actual values based on the experimental production data and the measurement results.
前記実験用生産データを構成する実験情報に基づき、前記実験用生産データを作成する実験用生産データ作成部を、さらに備えた、請求項1から3のいずれかに記載の電子部品搭載装置。 The electronic component mounting apparatus according to any one of claims 1 to 3, further comprising an experimental production data creation section that creates the experimental production data based on experimental information constituting the experimental production data. 前記実験情報は、前記ワークに搭載された前記電子部品の評価結果に対して影響を及ぼす実験因子と、前記実験因子が取り得る値の範囲と、前記実験因子が前記範囲から選択できる水準数と、を含む、請求項4に記載の電子部品搭載装置。 The experimental information includes an experimental factor that influences the evaluation result of the electronic component mounted on the workpiece, a range of values that the experimental factor can take, and the number of levels that the experimental factor can select from the range. The electronic component mounting apparatus according to claim 4, comprising: . 前記実験用生産データ作成部は、前記電子部品搭載装置の装置情報に応じた前記実験因子を選択して前記実験用生産データを作成する、請求項5に記載の電子部品搭載装置。 The electronic component mounting device according to claim 5 , wherein the experimental production data creation unit creates the experimental production data by selecting the experimental factors according to device information of the electronic component mounting device. 前記第2モードで前記ワークに搭載された前記電子部品の評価結果に基づき、前記生産データを作成する生産データ作成部を、さらに備えた、請求項1から6のいずれかに記載の電子部品搭載装置。 The electronic component mounting according to any one of claims 1 to 6, further comprising a production data creation unit that creates the production data based on the evaluation result of the electronic component mounted on the workpiece in the second mode. Device. 前記実験用生産データには、前記ワークに前記電子部品を搭載する複数の条件と、前記条件で前記ワークに前記電子部品を搭載する搭載位置とを関連付けた情報が含まれ、
前記搭載位置に則って、前記第2モードで前記ワークに搭載された前記電子部品の評価結果を取得する評価結果取得部と、
取得された前記評価結果に基づき、前記生産データを作成する生産データ作成部と、をさらに備えた、請求項1から6のいずれかに記載の電子部品搭載装置。
The experimental production data includes information associating a plurality of conditions for mounting the electronic component on the workpiece and a mounting position for mounting the electronic component on the workpiece under the conditions,
an evaluation result acquisition unit that acquires an evaluation result of the electronic component mounted on the workpiece in the second mode according to the mounting position;
The electronic component mounting apparatus according to any one of claims 1 to 6, further comprising a production data creation unit that creates the production data based on the acquired evaluation results.
生産データに基づきワークに電子部品を搭載する電子部品搭載装置において使用される前記生産データを作成する生産データ作成システムであって、
前記生産データを求めるための実験で使用する実験用生産データを構成する実験情報を少なくとも記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された情報に基づき、前記実験用生産データを作成する実験用生産データ作成部と、
電子部品搭載装置が前記実験用生産データに基づき条件を変更しながら前記電子部品を搭載した前記ワークに搭載された前記電子部品の評価結果に基づいて、前記電子部品搭載装置が所定の条件で前記ワークに前記電子部品を搭載する生産データを作成する生産データ作成部と、を備えた、生産データ作成システム。
A production data creation system that creates production data used in an electronic component mounting device that mounts electronic components on a workpiece based on production data, the system comprising:
a storage unit that stores at least experimental information constituting experimental production data used in an experiment to obtain the production data;
an experimental production data creation unit that creates the experimental production data based on the information stored in the storage unit;
The electronic component mounting device changes the conditions based on the experimental production data, and based on the evaluation results of the electronic component mounted on the workpiece on which the electronic component is mounted, the electronic component mounting device changes the conditions under predetermined conditions. A production data creation system, comprising: a production data creation unit that creates production data for mounting the electronic component on a workpiece.
前記実験用生産データには、前記ワークに前記電子部品を搭載する複数の条件と、前記条件で前記ワークに前記電子部品を搭載する搭載位置とを関連付けた情報が含まれ、
前記搭載位置に則って、前記実験用生産データに基づいて前記ワークに搭載された前記電子部品の評価結果を取得する評価結果取得部と、をさらに備えた、請求項9に記載の生産データ作成システム。
The experimental production data includes information associating a plurality of conditions for mounting the electronic component on the workpiece and a mounting position for mounting the electronic component on the workpiece under the conditions,
10. Production data creation according to claim 9, further comprising: an evaluation result acquisition unit that acquires evaluation results of the electronic component mounted on the workpiece based on the experimental production data in accordance with the mounting position. system.
前記実験用生産データには、前記ワークに前記電子部品を搭載する複数の条件と、前記条件で前記ワークに前記電子部品を搭載する搭載位置とを関連付けた情報が含まれ、
前記条件と前記搭載位置とを関連付けた情報に基づいて、前記実験用生産データに基づいて前記ワークに搭載された前記電子部品の評価結果を記録するための評価結果入力用データを作成する評価結果入力用データ作成部と、
前記評価結果入力用データに則って作成された前記評価結果を取得する評価結果取得部と、をさらに備えた、請求項9に記載の生産データ作成システム。
The experimental production data includes information associating a plurality of conditions for mounting the electronic component on the workpiece and a mounting position for mounting the electronic component on the workpiece under the conditions,
evaluation results for creating evaluation result input data for recording evaluation results of the electronic components mounted on the workpiece based on the experimental production data, based on information relating the conditions and the mounting positions; an input data creation section;
The production data creation system according to claim 9, further comprising: an evaluation result acquisition unit that acquires the evaluation results created in accordance with the evaluation result input data.
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