JP7440984B2 - 高効率の回路シミュレーション方法、装置、機器及び記憶媒体 - Google Patents
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Description
[技術分野]
ターゲット回路におけるサブ回路モジュールを取得するステップと、
前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得するステップと、
各前記サブ回路モジュール間の論理関係に基づいて、各前記サブ回路モジュールにそれぞれ対応するフィッティング関数で前記ターゲット回路を代替してシミュレーション処理を行い、前記ターゲット回路のシミュレーション結果を取得するステップと、を含む回路シミュレーション方法を提供する。
ターゲット回路におけるサブ回路モジュールを取得するためのサブ回路取得モジュールと、
前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得するためのフィッティング処理モジュールと、
各前記サブ回路モジュール間の論理関係に基づいて、各前記サブ回路モジュールにそれぞれ対応するフィッティング関数で前記ターゲット回路を代替してシミュレーション処理を行い、前記ターゲット回路のシミュレーション結果を取得するためのシミュレーション処理モジュールと、を含む回路シミュレーション装置を提供する。
前記サブ回路モジュールのシミュレーション結果を取得するためのシミュレーション結果取得ユニットと、
前記サブ回路モジュールのシミュレーション結果に対する確認操作を受信すると、前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得するためのフィッティング関数取得ユニットと、を含む。
ターゲット回路における検証されていないサブ回路モジュールである候補サブ回路モジュールのシミュレーション結果を取得するための候補シミュレーション取得モジュールと、
前記候補サブ回路モジュールのシミュレーション結果の確認操作を受信すると、前記候補サブ回路モジュールをターゲット回路におけるサブ回路モジュールとして決定するためのサブ回路決定モジュールと、を含み、
前記フィッティング処理モジュールはさらに、
前記ターゲット回路に対するシミュレーション操作を受信すると、前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得することに用いられる。
前記サブ回路モジュールにおけるサブ回路パラメータを取得し、サブ回路パラメータに応じて前記サブ回路モジュールに対応するサブ回路行列を構築することと、
前記サブ回路行列に応じてサンプル入力データを処理し、前記サンプル入力データに対応する予測出力データを取得することと、
前記サンプル入力データ及び前記サンプル入力データに対応する予測出力データに応じて、線形回帰方法でフィッティングを行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を得ることとに用いられる。
前記サブ回路行列に対応する入力データ範囲を取得するためのデータ範囲取得ユニットと、
前記サブ回路行列に対応する入力データ範囲内でサンプリングを行い、前記サンプル入力データを取得する入力データサンプリングユニットと、をさらに含む。
前記サブ回路行列に対応する行列次数を取得するための行列次数取得サブユニットと、
前記サブ回路行列の行列次数に応じて、前記入力データ範囲を等分し、各等分値を前記サンプル入力データとして決定するための入力データ取得サブユニットと、をさらに含む。
第iサブ回路モジュールに対応する入力データを第iサブ回路モジュールに対応するフィッティング関数で処理し、前記第iサブ回路モジュールに対応する出力データを取得することに用いられ、前記第iサブ回路モジュールと第i+1サブ回路モジュールは論理接続関係を有する第1出力ユニットと、
前記第iサブ回路モジュールに対応する出力データを前記第i+1サブ回路モジュールに対応する入力データとして、前記第i+1サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数で処理し、前記第i+1サブ回路モジュールに対応する出力データを取得するための第2出力ユニットと、を含む。
曲線を直接直線化できないと、まず、変化範囲が小さい1つ又は2つの回帰係数を選択し、ループ変数を設定して所定のステップに従って可能な値域内で変動させ、ループごとにこれらの回帰係数は具体的な値を有し、曲線モデルに対して変数変換を行った後、直線回帰分析を行い、さらに得られた直線方程式の変数を復元し、応答の曲線方程式を得て、即ち、モデルにおける回帰係数の初期値を得る。
該第iサブ回路モジュールに対応する出力データを該第i+1サブ回路モジュールに対応する入力データとして、第i+1サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数で処理し、該第i+1サブ回路モジュールに対応する出力データを取得する。
ターゲット回路におけるサブ回路モジュールを取得するためのサブ回路取得モジュール601と、
前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得するためのフィッティング処理モジュール602と、
各前記サブ回路モジュール間の論理関係に基づいて、各前記サブ回路モジュールにそれぞれ対応するフィッティング関数で前記ターゲット回路を代替してシミュレーション処理を行い、前記ターゲット回路のシミュレーション結果を取得するためのシミュレーション処理モジュール603と、を含む。
前記サブ回路モジュールのシミュレーション結果を取得するためのシミュレーション結果取得ユニットと、
前記サブ回路モジュールのシミュレーション結果に対する確認操作を受信すると、前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得するためのフィッティング関数取得ユニットと、を含む。
ターゲット回路における検証されていないサブ回路モジュールである候補サブ回路モジュールのシミュレーション結果を取得するための候補シミュレーション取得モジュールと、
前記サブ回路モジュールのシミュレーション結果の確認操作を受信すると、前記候補サブ回路モジュールをターゲット回路におけるサブ回路モジュールとして決定するためのサブ回路決定モジュールと、を含み、
前記フィッティング処理モジュールはさらに、
前記ターゲット回路に対するシミュレーション操作を受信すると、前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得することに用いられる。
前記サブ回路モジュールにおけるサブ回路パラメータを取得し、サブ回路パラメータに応じて前記サブ回路モジュールに対応するサブ回路行列を構築することと、
前記サブ回路行列に応じてサンプル入力データを処理し、前記サンプル入力データに対応する予測出力データを取得することと、
前記サンプル入力データ及び前記サンプル入力データに対応する予測出力データに応じて、線形回帰方法でフィッティングを行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を得ることとに用いられる。
前記サブ回路行列に対応する入力データ範囲を取得するためのデータ範囲取得ユニットと、
前記サブ回路行列に対応する入力データ範囲内でサンプリングを行い、前記サンプル入力データを取得するための入力データサンプリングユニットと、をさらに含む。
前記サブ回路行列に対応する行列次数を取得するための行列次数取得サブユニットと、
前記サブ回路行列の行列次数に応じて、前記入力データ範囲を等分し、各等分値を前記サンプル入力データとして決定するための入力データ取得サブユニットと、をさらに含む。
第iサブ回路モジュールに対応する入力データを第iサブ回路モジュールに対応するフィッティング関数で処理し、前記第iサブ回路モジュールに対応する出力データを取得することに用いられ、前記第iサブ回路モジュールと前記第i+1サブ回路モジュールは論理接続関係を有する第1出力ユニットと、
前記第iサブ回路モジュールに対応する出力データを前記第i+1サブ回路モジュールに対応する入力データとして、第i+1サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数で処理し、前記第i+1サブ回路モジュールに対応する出力データを取得するための第2出力ユニットと、を含む。
Claims (10)
- 回路シミュレーション方法であって、
ターゲット回路におけるサブ回路モジュールを取得するステップと、
前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得するステップと、
各前記サブ回路モジュール間の論理関係に基づいて、各前記サブ回路モジュールにそれぞれ対応するフィッティング関数で前記ターゲット回路を代替してシミュレーション処理を行い、前記ターゲット回路のシミュレーション結果を取得するステップと、を含むことを特徴とする回路シミュレーション方法。 - 前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得する前記ステップは、
前記サブ回路モジュールのシミュレーション結果を取得するステップと、
前記サブ回路モジュールのシミュレーション結果に対する確認操作を受信すると、前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得するステップと、を含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - ターゲット回路におけるサブ回路モジュールを取得する前記ステップは、
ターゲット回路における検証されていないサブ回路モジュールである候補サブ回路モジュールのシミュレーション結果を取得するステップと、
前記候補サブ回路モジュールのシミュレーション結果の確認操作を受信すると、前記候補サブ回路モジュールをターゲット回路におけるサブ回路モジュールとして決定するステップと、を含み、
前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得する前記ステップは、
前記ターゲット回路に対するシミュレーション操作を受信すると、前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得する前記ステップは、
前記サブ回路モジュールにおけるサブ回路パラメータを取得し、サブ回路パラメータに応じて前記サブ回路モジュールに対応するサブ回路行列を構築するステップと、
前記サブ回路行列に応じてサンプル入力データを処理し、前記サンプル入力データに対応する予測出力データを取得するステップと、
前記サンプル入力データ及び前記サンプル入力データに対応する予測出力データに応じて、線形回帰方法によってフィッティングを行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を得るステップと、を含むことを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載の方法。 - 前記サブ回路行列に応じてサンプル入力データを処理し、前記サンプル入力データに対応する予測出力データを取得する前記ステップの前に、
前記サブ回路行列に対応する入力データ範囲を取得するステップと、
前記サブ回路行列に対応する入力データ範囲内でサンプリングを行い、前記サンプル入力データを取得するステップと、をさらに含むことを特徴とする請求項4に記載の方法。 - 前記サブ回路行列に対応する入力データ範囲内でサンプリングを行い、前記サンプル入力データを取得する前記ステップは、
前記サブ回路行列に対応する行列次数を取得するステップと、
前記サブ回路行列の行列次数に応じて、前記入力データ範囲を等分し、各等分値を前記サンプル入力データとして決定するステップと、を含むことを特徴とする請求項5に記載の方法。 - 各前記サブ回路モジュール間の論理関係に基づいて、各前記サブ回路モジュールにそれぞれ対応するフィッティング関数で前記ターゲット回路を代替してシミュレーション処理を行い、前記ターゲット回路のシミュレーション結果を取得する前記ステップは、
第iサブ回路モジュールに対応する入力データを第iサブ回路モジュールに対応するフィッティング関数で処理し、前記第iサブ回路モジュールに対応する出力データを取得するステップであって、前記第iサブ回路モジュールと第i+1サブ回路モジュールは論理接続関係を有するステップと、
前記第iサブ回路モジュールに対応する出力データを前記第i+1サブ回路モジュールに対応する入力データとして、前記第i+1サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数で処理し、前記第i+1サブ回路モジュールに対応する出力データを取得するステップと、を含むことを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載の方法。 - 回路シミュレーション装置であって、
ターゲット回路におけるサブ回路モジュールを取得するためのサブ回路取得モジュールと、
前記サブ回路モジュールに対して関数フィッティング処理を行い、前記サブ回路モジュールに対応するフィッティング関数を取得するためのフィッティング処理モジュールと、
各前記サブ回路モジュール間の論理関係に基づいて、各前記サブ回路モジュールにそれぞれ対応するフィッティング関数で前記ターゲット回路を代替してシミュレーション処理を行い、前記ターゲット回路のシミュレーション結果を取得するためのシミュレーション処理モジュールと、を含むことを特徴とする回路シミュレーション装置。 - 電子機器であって、プロセッサと、メモリとを含み、前記メモリには少なくとも1つの命令が記憶されており、前記少なくとも1つの命令は前記プロセッサによりロードして実行されることで、請求項1~3のいずれか1項に記載の回路シミュレーション方法を実現することを特徴とする電子機器。
- コンピュータ可読記憶媒体であって、少なくとも1つの命令が記憶されており、前記少なくとも1つの命令はプロセッサによりロードして実行されることで、請求項1~3のいずれか1項に記載の回路シミュレーション方法を実現することを特徴とするコンピュータ可読記憶媒体。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002215710A (ja) | 2001-01-24 | 2002-08-02 | Fujitsu Ltd | カスタムlsiにおける遅延特性解析方法 |
US20040236557A1 (en) | 2003-05-22 | 2004-11-25 | Shah Sunil C. | Method for simulation of electronic circuits and N-port systems |
JP2006146595A (ja) | 2004-11-19 | 2006-06-08 | Fujitsu Ltd | 遅延特性評価のための回路シミュレーション方法、回路シミュレーションプログラム及び回路シミュレーション装置 |
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Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1795450A (zh) * | 2003-05-22 | 2006-06-28 | 艾克斯姆系统公司 | 电子电路仿真和n-端口系统的方法 |
US8326591B1 (en) * | 2007-11-16 | 2012-12-04 | Cadence Design Systems, Inc. | Synchronized envelope and transient simulation of circuits |
CN102073757B (zh) * | 2010-12-17 | 2012-11-07 | 杭州电子科技大学 | 一种用于集成电路中电感模型的分析方法 |
CN102305910A (zh) * | 2011-06-22 | 2012-01-04 | 长沙河野电气科技有限公司 | 基于模糊神经网络的大规模直流模拟电路区间诊断方法 |
CN103366033B (zh) * | 2012-04-02 | 2017-04-12 | 济南概伦电子科技有限公司 | 统计电路仿真的方法和系统 |
CN106326509B (zh) * | 2015-06-29 | 2019-08-06 | 田宇 | 一种电路仿真方法和装置 |
US10169507B2 (en) * | 2016-11-29 | 2019-01-01 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Variation-aware circuit simulation |
CN106777608B (zh) * | 2016-12-02 | 2019-12-27 | 天津大学 | 精确快速低投入的fpga延时估计方法 |
CN110188381B (zh) * | 2019-04-18 | 2023-04-18 | 中国北方车辆研究所 | 一种用于电磁干扰预测的仿真模型的构建方法及系统 |
CN110133472B (zh) * | 2019-06-04 | 2020-05-19 | 华北电力大学 | 一种igbt芯片的非接触式工作参数测量方法 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002215710A (ja) | 2001-01-24 | 2002-08-02 | Fujitsu Ltd | カスタムlsiにおける遅延特性解析方法 |
US20040236557A1 (en) | 2003-05-22 | 2004-11-25 | Shah Sunil C. | Method for simulation of electronic circuits and N-port systems |
JP2006146595A (ja) | 2004-11-19 | 2006-06-08 | Fujitsu Ltd | 遅延特性評価のための回路シミュレーション方法、回路シミュレーションプログラム及び回路シミュレーション装置 |
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