JP7434045B2 - 識別装置および識別方法 - Google Patents
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Description
本発明の識別装置および方法の実施例1について図1乃至図8を用いて説明する。
本発明の実施例2の識別装置および識別方法について図9および図10を用いて説明する。図9は本実施例2における識別装置の装置構成の一例を示す概略図、図10は本実施例2における識別方法の一連の手順を示すフローチャートである。
なお、本発明は、上記の実施例に限定されるものではなく、様々な変形が可能である。例えば、上記の実施例は、本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、本発明は、必ずしも説明した全ての構成を備える態様に限定されるものではない。
2…表面形状取得部
3…形状偏差評価部
4…形状照合部
5…管理コード認識部
10…表示部
11…記憶部
12…入力部(領域指定部)
21…撮像部
22…ラインレーザ
23…ステージ
101…部品
Claims (9)
- 部品を識別する識別装置であって、
前記部品の表面の点群データを取得する表面形状取得部と、
前記表面形状取得部で取得された点群データ同士の形状偏差を評価する形状偏差評価部と、
前記形状偏差評価部で評価された前記形状偏差に基づき、前記部品が特定の部品であるか否かを判定する形状照合部と、を備え、
前記形状照合部は、前記形状偏差の度数分布を生成し、前記度数分布の形状特徴量として前記部品の表面形状の差分値のヒストグラムの傾きを算出する
ことを特徴とする識別装置。 - 請求項1に記載の識別装置において、
前記部品の表面に付与された管理コードを認識する管理コード認識部を更に備えた
ことを特徴とする識別装置。 - 請求項1に記載の識別装置において、
前記形状偏差を評価する領域を指定する領域指定部を更に備えた
ことを特徴とする識別装置。 - 請求項1に記載の識別装置において、
前記形状偏差評価部は、前記形状偏差を評価する領域を複数とする
ことを特徴とする識別装置。 - 請求項4に記載の識別装置において、
前記形状照合部は、前記形状偏差評価部で指定された複数の領域全てが一致していると判定されたときに前記部品が特定の部品であると判定する
ことを特徴とする識別装置。 - 請求項1に記載の識別装置において、
前記形状偏差評価部では、前記形状偏差として、識別対象部品の点群データと候補部品の点群データとの最近傍点間距離を求める
ことを特徴とする識別装置。 - 部品を個体ごとに識別する識別方法であって、
前記部品の表面の点群データを取得する表面形状取得ステップと、
前記表面形状取得ステップで取得された点群データ同士の形状偏差を評価する形状偏差評価ステップと、
前記形状偏差評価ステップで評価された前記形状偏差に基づき、前記部品が特定の部品であるか否かを判定する形状照合ステップと、を有し、
前記形状照合ステップでは、前記形状偏差の度数分布を生成し、前記度数分布の形状特徴量として前記部品の表面形状の差分値のヒストグラムの傾きを算出する
ことを特徴とする識別方法。 - 請求項7に記載の識別方法において、
前記部品の表面に付与された管理コードを認識する管理コード認識ステップを更に有する
ことを特徴とする識別方法。 - 請求項7に記載の識別方法において、
前記形状照合ステップでは、前記形状偏差の度数分布を生成し、前記度数分布の形状特徴量を算出する
ことを特徴とする識別方法。
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JP2017161282A (ja) | 2016-03-08 | 2017-09-14 | 株式会社日立パワーソリューションズ | 放射性廃棄物管理システムおよび放射性廃棄物管理方法 |
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Patent Citations (4)
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Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
北明靖雄,外2名,距離アスペクト画像照合と階層化ICP照合による3次元物体認識,電気学会研究会資料,日本,電気学会,2006年08月12日,p5-10,IP-06-21,IIS-06-37 |
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