JP7431000B2 - ophthalmology equipment - Google Patents

ophthalmology equipment Download PDF

Info

Publication number
JP7431000B2
JP7431000B2 JP2019164130A JP2019164130A JP7431000B2 JP 7431000 B2 JP7431000 B2 JP 7431000B2 JP 2019164130 A JP2019164130 A JP 2019164130A JP 2019164130 A JP2019164130 A JP 2019164130A JP 7431000 B2 JP7431000 B2 JP 7431000B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
pattern
receiving
aperture
patterned
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019164130A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2021040851A (en
Inventor
誠 藤野
康文 福間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP2019164130A priority Critical patent/JP7431000B2/en
Publication of JP2021040851A publication Critical patent/JP2021040851A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7431000B2 publication Critical patent/JP7431000B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Description

この発明は、眼科装置に関する。 TECHNICAL FIELD This invention relates to an ophthalmological device.

近年、スクリーニングにおいて眼科装置を用いた眼科検査が行われる。このような眼科装置は、自己検診への応用も期待されており、より一層の小型化、軽量化が望まれる。 In recent years, ophthalmological examinations using ophthalmological equipment are performed during screening. Such an ophthalmological device is also expected to be applied to self-examination, and further miniaturization and weight reduction are desired.

例えば、特許文献1及び特許文献2には、スリット光を用いて被検眼をパターン照明し、その戻り光をCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサで検出するように構成された眼科装置が開示されている。この眼科装置は、照明パターンと、CMOSイメージセンサによる受光タイミングとを調整することにより、簡素な構成で被検眼の画像を取得することが可能である。 For example, Patent Document 1 and Patent Document 2 disclose an ophthalmological apparatus configured to pattern-illuminate a subject's eye using slit light and detect the returned light with a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) image sensor. ing. This ophthalmological apparatus can acquire an image of the eye to be examined with a simple configuration by adjusting the illumination pattern and the timing of light reception by the CMOS image sensor.

米国特許第7831106号明細書US Patent No. 7831106 米国特許第8237835号明細書US Patent No. 8237835

従来の手法では、照明側(投影側)の発光ピクセル単位で光変調が行われ、受光側の受光ピクセル(受光素子)単位で戻り光が受光される。それにより、照明側において配列された発光ピクセルに対して受光側において配列された受光ピクセルが1対1に対応していない場合、受光ムラ(照明-受光ムラ)が生じ、取得された画像に例えばモアレ縞が現れる。 In the conventional method, light modulation is performed in units of light-emitting pixels on the illumination side (projection side), and returned light is received in units of light-receiving pixels (light-receiving elements) on the light-receiving side. As a result, if there is not a one-to-one correspondence between the light-emitting pixels arranged on the illumination side and the light-receiving pixels arranged on the light-receiving side, uneven light reception (illumination-light reception unevenness) will occur, and the acquired image will be affected by e.g. Moiré stripes appear.

コスト面又は技術面の観点だけではなく、部品選択範囲が制限される等の観点から、現実的には、発光ピクセルと受光ピクセルとを1対1に対応付けることは困難であると考えられる。 In reality, it is considered difficult to provide a one-to-one correspondence between light-emitting pixels and light-receiving pixels, not only from the viewpoint of cost or technology, but also because the range of parts selection is limited.

この場合、例えば、取得された画像に対して画像処理(平滑化、ノイズ除去、輝度調整等)を行うことにより、画像に現れるモアレ縞の影響を低減することが考えられる。しかしながら、画像に対して画像処理を行うことで、画像の精細度及びS/N比が低減する、あるいは、アーチファクトが発生するなど、画像が劣化する可能性がある。 In this case, it is conceivable to reduce the influence of moiré fringes appearing in the image by, for example, performing image processing (smoothing, noise removal, brightness adjustment, etc.) on the acquired image. However, by performing image processing on an image, there is a possibility that the image deteriorates, such as a reduction in the definition and S/N ratio of the image, or the generation of artifacts.

また、例えば、照明側の発光ピクセルの構造及び受光側の受光ピクセルの構造の少なくとも一方を精細化することが考えられる。しかしながら、素子の高コスト化及び画像処理の処理負荷の増大を招く。 Furthermore, for example, it is conceivable to refine at least one of the structure of the light-emitting pixel on the illumination side and the structure of the light-receiving pixel on the light-receiving side. However, this increases the cost of the device and increases the processing load of image processing.

この発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、簡素な構成で、画質の劣化を低減するための新たな技術を提供することにある。 The present invention was made to solve such problems, and its purpose is to provide a new technique for reducing image quality deterioration with a simple configuration.

いくつかの実施形態の第1態様は、パターン光を被検眼に投影する投影部と、前記被検眼からの前記パターン光の戻り光を受光し、前記戻り光の受光結果に基づいて開口形状に対応した前記被検眼の画像を取得する取得部と、を含み、前記投影部は、少なくとも前記開口形状の開口方向に対応する第1方向に略平行な方向に延びる投影形状のパターン光を発生するパターン光発生部と、前記パターン光を拡散する拡散部と、を含む眼科装置である。 A first aspect of some embodiments includes a projection unit that projects pattern light onto an eye to be examined, a projection unit that receives return light of the pattern light from the eye to be examined, and an aperture shape based on a result of receiving the return light. an acquisition unit that acquires a corresponding image of the subject's eye, and the projection unit generates pattern light in a projection shape extending at least in a direction substantially parallel to a first direction corresponding to an opening direction of the opening shape. The ophthalmologic apparatus includes a patterned light generating section and a diffusing section that diffuses the patterned light.

いくつかの実施形態の第2態様では、第1態様において、前記拡散部は、前記第1方向に前記パターン光を拡散する。 In a second aspect of some embodiments, in the first aspect, the diffusion section diffuses the patterned light in the first direction.

いくつかの実施形態の第3態様では、第2態様において、前記拡散部は、前記第1方向のパターン光の拡散範囲が前記第1方向に交差する第2方向のパターン光の拡散範囲より広くなるように前記パターン光を拡散する。 In a third aspect of some embodiments, in the second aspect, the diffusion section has a diffusion range for the patterned light in the first direction that is wider than a diffusion range for the patterned light in a second direction intersecting the first direction. The patterned light is diffused so that

いくつかの実施形態の第4態様では、第1態様~第3態様のいずれかにおいて、前記拡散部は、前記戻り光の受光面におけるピクセルサイズ比をQとしたとき、前記パターン光の受光ムラ低減比が0.285×Q以下になるように前記パターン光の光量分布の平滑化を行う。 In a fourth aspect of some embodiments, in any of the first to third aspects, the diffusing section is configured to reduce light reception unevenness of the patterned light, where Q is a pixel size ratio on the light receiving surface of the returned light. The light amount distribution of the patterned light is smoothed so that the reduction ratio is 0.285×Q or less.

いくつかの実施形態の第5態様では、第1態様~第3態様のいずれかにおいて、前記拡散部は、前記戻り光の受光面におけるピクセルサイズ比をQとしたとき、前記パターン光の受光ムラ低減比が0.76×Q以下になるように前記パターン光の光量分布の平滑化を行う。 In a fifth aspect of some embodiments, in any of the first to third aspects, the diffusing section is configured to reduce light reception unevenness of the patterned light, where Q is a pixel size ratio on the light receiving surface of the returned light. The light amount distribution of the patterned light is smoothed so that the reduction ratio is 0.76×Q or less.

いくつかの実施形態の第6態様では、第1態様~第5態様のいずれかにおいて、前記拡散部は、前記パターン光の光路に配置された拡散フィルタを含む。 In a sixth aspect of some embodiments, in any of the first to fifth aspects, the diffusion section includes a diffusion filter disposed in the optical path of the patterned light.

いくつかの実施形態の第7態様では、第1態様~第6態様のいずれかにおいて、前記拡散部は、前記パターン光の光路に配置された複屈折板を含む。 In a seventh aspect of some embodiments, in any of the first to sixth aspects, the diffusing section includes a birefringent plate disposed in the optical path of the patterned light.

いくつかの実施形態の第8態様では、第1態様~第7態様のいずれかにおいて、前記拡散部は、前記パターン光の光路に配置された回折光学素子を含む。 In an eighth aspect of some embodiments, in any of the first to seventh aspects, the diffusing section includes a diffractive optical element disposed in the optical path of the patterned light.

いくつかの実施形態の第9態様では、第1態様~第8態様のいずれかにおいて、前記拡散部は、前記パターン光の光路に配置された光学レンズを含み、前記光学レンズの収差を用いて前記パターン光を拡散する。 In a ninth aspect of some embodiments, in any of the first to eighth aspects, the diffusion section includes an optical lens disposed in the optical path of the patterned light, and uses the aberration of the optical lens. Diffusing the pattern light.

いくつかの実施形態の第10態様では、第9態様において、前記光学レンズの光軸は、前記パターン光の光路に対して傾斜するように配置されている。 In a tenth aspect of some embodiments, in the ninth aspect, the optical axis of the optical lens is arranged to be inclined with respect to the optical path of the pattern light.

いくつかの実施形態の第11態様では、第1態様~第10態様のいずれかにおいて、前記拡散部は、前記パターン光の光路に対して傾斜するように配置された平行平面板を含む。 In an eleventh aspect of some embodiments, in any of the first to tenth aspects, the diffusion section includes a plane parallel plate arranged to be inclined with respect to the optical path of the patterned light.

いくつかの実施形態の第12態様では、第1態様~第11態様のいずれかにおいて、前記パターン光発生部は、光源と、前記光源からの光を空間的に変調することにより前記パターン光を生成する空間光変調器と、を含む。 In a twelfth aspect of some embodiments, in any of the first to eleventh aspects, the patterned light generating section includes a light source and a light source that generates the patterned light by spatially modulating the light from the light source. and a spatial light modulator for generating the spatial light modulator.

いくつかの実施形態の第13態様では、第1態様~第12態様のいずれかにおいて、前記取得部は、前記戻り光を受光するイメージセンサを含み、前記イメージセンサによる前記戻り光の受光結果をローリングシャッター方式により読み出すことにより前記被検眼の画像を取得する。 In a thirteenth aspect of some embodiments, in any one of the first to twelfth aspects, the acquisition unit includes an image sensor that receives the return light, and receives a result of reception of the return light by the image sensor. An image of the eye to be examined is acquired by reading out using a rolling shutter method.

なお、上記した複数の態様に係る構成を任意に組み合わせることが可能である。 Note that it is possible to arbitrarily combine the configurations according to the plurality of aspects described above.

この発明によれば、簡素な構成で、画質の劣化を低減するための新たな技術を提供することができる。 According to the present invention, a new technique for reducing deterioration in image quality can be provided with a simple configuration.

実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration example of an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration example of an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態の比較例に係る眼科装置の動作説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of the operation of an ophthalmologic apparatus according to a comparative example of the embodiment. 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of the operation of the ophthalmologic apparatus according to the embodiment. 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of the operation of the ophthalmologic apparatus according to the embodiment. 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of the operation of the ophthalmologic apparatus according to the embodiment. 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of the operation of the ophthalmologic apparatus according to the embodiment. 実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration example of an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置の動作例のフロー図である。It is a flow diagram of an example of operation of an ophthalmological device concerning an embodiment. 実施形態の変形例に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。It is a schematic diagram showing an example of composition of an ophthalmologic device concerning a modification of an embodiment.

この発明に係る眼科装置の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書に記載された文献の記載内容を、以下の実施形態の内容として適宜援用することが可能である。 An example of an embodiment of an ophthalmologic apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Note that the contents of the documents described in this specification can be appropriately cited as the contents of the following embodiments.

実施形態に係る眼科装置は、パターン光を被検眼に投影する投影系と、被検眼からのパターン光の戻り光を受光する受光系とを含み、受光系により得られた戻り光の受光結果に基づいて被検眼の眼底の画像を取得することが可能である。パターン光は、例えば、光を空間的に変調することにより生成される。いくつかの実施形態では、眼科装置は、上記と同様の構成を用いて、被検眼の前眼部の画像を取得する。 The ophthalmological apparatus according to the embodiment includes a projection system that projects pattern light onto an eye to be examined, and a light receiving system that receives return light of the pattern light from the eye to be examined, and the ophthalmological apparatus includes It is possible to obtain an image of the fundus of the eye to be examined based on the following. Patterned light is generated, for example, by spatially modulating light. In some embodiments, the ophthalmological device uses a configuration similar to that described above to obtain images of the anterior segment of the subject's eye.

例えば、投影系は、受光側の開口形状の開口方向(開口方向に対応する方向)に略平行な方向に延びるスリット状(ライン状)のパターン光を被検眼に投影する。眼科装置は、受光系により得られた戻り光の受光結果から、開口形状に対応した受光像を取得する。このとき、投影系は、空間的に変調することにより生成されたパターン光を開口方向に略平行な方向に拡散させて被検眼に投影する。受光系では、例えば、ローリングシャッター方式により戻り光の受光結果が読み出される。それにより、投影系の発光ピクセルの配置と受光系の受光ピクセルの配置とが1対1に対応していない場合でも、取得された画像に現れる受光ムラの影響を低減し、画質の劣化を防止することができる。 For example, the projection system projects onto the subject's eye a slit-shaped (line-shaped) pattern of light extending in a direction substantially parallel to the aperture direction (direction corresponding to the aperture direction) of the aperture shape on the light receiving side. The ophthalmological apparatus acquires a received light image corresponding to the shape of the aperture from the result of receiving the returned light obtained by the light receiving system. At this time, the projection system diffuses the patterned light generated by spatial modulation in a direction substantially parallel to the aperture direction and projects it onto the eye to be examined. In the light receiving system, the result of receiving the returned light is read out using, for example, a rolling shutter method. As a result, even if the arrangement of light-emitting pixels in the projection system and the arrangement of light-receiving pixels in the light-receiving system do not correspond one-to-one, the effect of uneven light reception that appears in the acquired image is reduced and image quality deterioration is prevented. can do.

なお、この明細書において、「光を空間的に変調する」とは、例えば、1次元空間、2次元空間、又は3次元空間において光の波長、強度、偏光方向、又は位相等を変化させることを意味し、例えば、光源と空間光変調器とを用いて実現されたり、自発光デバイスを用いて実現されたりする。また、特に明記しない限り、パターン光の「方向」、開口形状又は受光像の「方向」、及び開口方向のそれぞれは、絶対座標系における各位置での方向を意味するものではなく、所定の光学面(例えば、受光系における受光面)上の方向を意味するものとする。 In this specification, "spatially modulating light" refers to, for example, changing the wavelength, intensity, polarization direction, phase, etc. of light in one-dimensional space, two-dimensional space, or three-dimensional space. For example, it is realized using a light source and a spatial light modulator, or it is realized using a self-emitting device. Furthermore, unless otherwise specified, the "direction" of the pattern light, the "direction" of the aperture shape or received light image, and the aperture direction do not mean the direction at each position in the absolute coordinate system, but rather It means a direction on a surface (for example, a light receiving surface in a light receiving system).

[光学系の構成]
図1及び図2に、実施形態に係る眼科装置の構成例のブロック図を示す。図1及び図2は、主に、実施形態に係る眼科装置1の光学系の構成例のブロック図を表す。図1及び図2において、同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
[Optical system configuration]
FIGS. 1 and 2 show block diagrams of exemplary configurations of ophthalmological apparatuses according to embodiments. 1 and 2 mainly represent block diagrams of exemplary configurations of the optical system of the ophthalmologic apparatus 1 according to the embodiment. In FIG. 1 and FIG. 2, the same parts are given the same reference numerals, and the explanation will be omitted as appropriate.

眼科装置1は、受光側の開口形状に対応したパターン光を被検眼Eに投影し、その戻り光を受光することにより開口形状に対応した被検眼Eの画像(眼底)の画像を取得することが可能である。 The ophthalmological apparatus 1 projects a pattern of light corresponding to the aperture shape on the light-receiving side onto the eye E to be examined, and receives the returned light to obtain an image of the image (fundus) of the eye E to be examined corresponding to the aperture shape. is possible.

眼科装置1は、投影系10と、受光系20と、画像処理部30と、画像出力部40とを含む。 The ophthalmological apparatus 1 includes a projection system 10, a light receiving system 20, an image processing section 30, and an image output section 40.

投影系10は、受光系20の開口形状に対応した開口方向(開口方向に対応した方向)に略平行な方向に延びる投影形状(例えば、スリット状、ライン状)を有するパターン光を、開口方向に直交する方向に順次に被検眼Eに投影する。受光系20は、投影系10により被検眼Eに投影されたパターン光の戻り光を順次に受光する。画像処理部30は、受光系20による戻り光の受光結果から、開口形状を開口方向に直交する方向(又は開口交差方向)にシフトしつつ開口形状に対応した受光像を順次に取得することで、被検眼Eの眼底の画像を取得する。 The projection system 10 projects pattern light having a projection shape (for example, slit shape, line shape) extending in a direction substantially parallel to the aperture direction (direction corresponding to the aperture direction) corresponding to the aperture shape of the light receiving system 20 in the aperture direction. The images are sequentially projected onto the subject's eye E in a direction perpendicular to . The light receiving system 20 sequentially receives the returned light of the pattern light projected onto the eye E by the projection system 10. The image processing unit 30 sequentially acquires received light images corresponding to the aperture shape while shifting the aperture shape in a direction perpendicular to the aperture direction (or an aperture cross direction) from the result of the return light received by the light receiving system 20. , an image of the fundus of the eye E to be examined is acquired.

(投影系10)
投影系10は、パターン光発生部11と、平滑化部12と、光学系13とを含む。
(Projection system 10)
Projection system 10 includes a pattern light generating section 11, a smoothing section 12, and an optical system 13.

(パターン光発生部11)
パターン光発生部11は、空間的に光を変調することにより所定の投影形状のパターン光を発生する。パターン光発生部11は、光変調を空間的に制御することにより所望の投影形状のパターン光を発生することが可能である。すなわち、パターン光発生部11は、2次元的に配列された複数の発光ピクセルを備え、ピクセル化されたパターン光発生器としての機能を実現する。例えば、パターン光発生部11は、後述の制御部からの制御を受け、任意に投影形状を変更可能なパターン光を発生する。それにより、被検眼Eにおける撮影部位において、パターン光の投影位置及び投影範囲を変更することができる。
(Pattern light generating section 11)
The pattern light generating section 11 generates pattern light having a predetermined projection shape by spatially modulating light. The pattern light generating section 11 can generate pattern light having a desired projection shape by spatially controlling light modulation. That is, the pattern light generating section 11 includes a plurality of light emitting pixels arranged two-dimensionally, and realizes a function as a pixelated pattern light generator. For example, the pattern light generation section 11 generates pattern light whose projection shape can be arbitrarily changed under control from a control section described below. Thereby, the projection position and projection range of the pattern light can be changed in the imaging region of the eye E to be examined.

この実施形態では、パターン光発生部11は、後述の制御部から制御を受け、少なくとも開口方向(すなわち、開口方向に対応した方向)に略平行な方向に延びる投影形状のパターン光を発生することが可能である。 In this embodiment, the pattern light generating section 11 is controlled by a control section to be described later, and generates pattern light in a projected shape extending at least in a direction substantially parallel to the aperture direction (that is, a direction corresponding to the aperture direction). is possible.

図2に示すように、パターン光発生部11は、光源11Aと、光学系11Bと、空間光変調器11Cとを含む。このような構成を有するパターン光発生部11の例として、プロジェクタがある。すなわち、パターン光発生部11は、プロジェクタのタイプに対応した光源11A、光学系11B、及び空間光変調器11Cを含む。光源11Aは、被検眼Eの撮影部位(例えば、眼底、前眼部)と光学的に略共役な位置に配置可能である。 As shown in FIG. 2, the pattern light generator 11 includes a light source 11A, an optical system 11B, and a spatial light modulator 11C. A projector is an example of the pattern light generating section 11 having such a configuration. That is, the pattern light generating section 11 includes a light source 11A, an optical system 11B, and a spatial light modulator 11C that correspond to the type of projector. The light source 11A can be placed at a position that is optically substantially conjugate with the imaging site of the eye E (for example, the fundus of the eye, the anterior segment of the eye).

いくつかの実施形態では、光源11Aは、赤外領域又は近赤外領域の光、可視領域の光を切り替えて出力可能な光源である。例えば、光源11Aは、アライメント動作や合焦制御時に赤外領域又は近赤外領域の光を出力し、撮影動作時に可視領域の光を出力する。この場合、パターン光発生部11は、アライメント動作用の視標又は合焦制御時のインジケータをパターン光として出力することが可能である。 In some embodiments, the light source 11A is a light source that can switch and output light in the infrared region or near-infrared region, and light in the visible region. For example, the light source 11A outputs light in an infrared region or near-infrared region during an alignment operation or focusing control, and outputs light in a visible region during a photographing operation. In this case, the pattern light generator 11 can output an optotype for alignment operation or an indicator during focus control as pattern light.

いくつかの実施形態では、パターン光発生部11は、デジタルマイクロミラーデバイスを用いたDLP(Digital Light Processing(登録商標))方式のプロジェクタの機能を有する。この場合、第1構成例では、赤外領域又は近赤外領域の光に対して単一のデジタルマイクロミラーデバイスが用いられる。第2構成例では、白色光源からの光に対してRGBの色成分に共通のデジタルマイクロミラーデバイスが用いられる。第3構成例では、白色光源からの光に対してRGBの色成分毎にデジタルマイクロミラーデバイスが用いられる。 In some embodiments, the pattern light generator 11 has the function of a DLP (Digital Light Processing (registered trademark)) projector using a digital micromirror device. In this case, in the first configuration example, a single digital micromirror device is used for light in the infrared region or near-infrared region. In the second configuration example, a digital micromirror device common to RGB color components is used for light from a white light source. In the third configuration example, a digital micromirror device is used for each RGB color component for light from a white light source.

第1構成例では、光源11Aは、例えば、赤外領域又は近赤外領域の光を発光するLED(Light Emitting Diode)光源を含む。また、光学系11Bは、リレー光学系と、光学レンズとを含む。また、空間光変調器11Cは、複数のミラー素子が2次元に配列されたデジタルマイクロミラーデバイスを含む。複数のミラー素子のそれぞれは、独立に制御可能である。なお、空間光変調器11Cは、デジタルマイクロミラーデバイスにより空間的に変調された光を投影するための投影レンズを含むことができる。 In the first configuration example, the light source 11A includes, for example, an LED (Light Emitting Diode) light source that emits light in an infrared region or a near-infrared region. Further, the optical system 11B includes a relay optical system and an optical lens. Moreover, the spatial light modulator 11C includes a digital micromirror device in which a plurality of mirror elements are two-dimensionally arranged. Each of the plurality of mirror elements is independently controllable. Note that the spatial light modulator 11C can include a projection lens for projecting light spatially modulated by the digital micromirror device.

第2構成例では、光源11Aは、白色光源又はRGBの各色成分の光を出力可能な光源を含む。また、光学系11Bは、光源11Aからの光から時分割でRGBの各色成分の光を出力するためのカラーホイールと、リレー光学系と、光学レンズとを含む。また、空間光変調器11Cは、複数のミラー素子が2次元に配列されたデジタルマイクロミラーデバイスを含む。なお、空間光変調器11Cは、デジタルマイクロミラーデバイスにより空間的に変調された光を投影するための投影レンズを含むことができる。 In the second configuration example, the light source 11A includes a white light source or a light source capable of outputting light of each color component of RGB. Further, the optical system 11B includes a color wheel, a relay optical system, and an optical lens for time-divisionally outputting light of each color component of RGB from the light from the light source 11A. Moreover, the spatial light modulator 11C includes a digital micromirror device in which a plurality of mirror elements are two-dimensionally arranged. Note that the spatial light modulator 11C can include a projection lens for projecting light spatially modulated by the digital micromirror device.

第3構成例では、光源11Aは、白色光源又はRGBの各色成分の光を出力可能な光源を含む。また、光学系11Bは、リレー光学系と、光学レンズとを含む。また、空間光変調器11Cは、RGBの色成分毎に設けられた複数のデジタルマイクロミラーデバイスを含む。なお、空間光変調器11Cは、デジタルマイクロミラーデバイスにより空間的に変調された光を投影するための投影レンズを含むことができる。 In the third configuration example, the light source 11A includes a white light source or a light source capable of outputting light of each RGB color component. Further, the optical system 11B includes a relay optical system and an optical lens. Moreover, the spatial light modulator 11C includes a plurality of digital micromirror devices provided for each RGB color component. Note that the spatial light modulator 11C can include a projection lens for projecting light spatially modulated by the digital micromirror device.

いくつかの実施形態では、パターン光発生部11は、LCoS(Liquid Crystal on Silicon)を用いた反射型液晶方式のプロジェクタの機能を有する。この場合、光源11Aは、白色光源を含む。また、光学系11Bは、1以上の反射ミラーと、1以上のダイクロイックミラーと、1以上の偏光ビームスプリッタとを含む。また、空間光変調器11Cは、RGBの色成分毎に反射型の液晶パネルと、色成分毎に空間的に変調された光を合成するためのクロスダイクロイックプリズムと、合成された光を投影するための投影レンズとを含む。 In some embodiments, the pattern light generator 11 has the function of a reflective liquid crystal projector using LCoS (Liquid Crystal on Silicon). In this case, the light source 11A includes a white light source. Further, the optical system 11B includes one or more reflective mirrors, one or more dichroic mirrors, and one or more polarizing beam splitters. In addition, the spatial light modulator 11C includes a reflective liquid crystal panel for each RGB color component, a cross dichroic prism for combining spatially modulated light for each color component, and a projector for projecting the combined light. and a projection lens for.

いくつかの実施形態では、パターン光発生部11は、透過型液晶方式のプロジェクタの機能を有する。この場合、光源11Aは、白色光源を含む。また、光学系11Bは、1以上の反射ミラーと、1以上のダイクロイックミラーとを含む。また、空間光変調器11Cは、RGBの色成分毎に透過型の液晶パネルと、色成分毎に空間的に変調された光を合成するためのクロスダイクロイックプリズムと、合成された光を投影するための投影レンズとを含む。 In some embodiments, the pattern light generator 11 has the function of a transmissive liquid crystal projector. In this case, the light source 11A includes a white light source. Further, the optical system 11B includes one or more reflective mirrors and one or more dichroic mirrors. In addition, the spatial light modulator 11C includes a transmissive liquid crystal panel for each RGB color component, a cross dichroic prism for combining spatially modulated light for each color component, and a cross dichroic prism for projecting the combined light. and a projection lens for.

いくつかの実施形態では、パターン光発生部11は、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)を用いた公知のプロジェクタの機能を有する。 In some embodiments, the pattern light generator 11 has the function of a known projector using MEMS (Micro Electro Mechanical Systems).

なお、上記のようなプロジェクタの構成は公知であるため、詳細な説明を省略する。パターン光発生部11は、投影形状(投影位置及び投影範囲)を任意に変更可能な照明パターンに対応したパターン光(照明光)を出力可能なものであってよい。 Note that since the configuration of the projector as described above is well known, detailed explanation will be omitted. The pattern light generator 11 may be capable of outputting pattern light (illumination light) corresponding to an illumination pattern whose projection shape (projection position and projection range) can be arbitrarily changed.

パターン光発生部11は、後述の制御部から制御を受け、任意の投影形状のパターン光を発生する。投影形状は、例えば、後述の操作部を用いてユーザが設定可能である。ユーザが操作部を用いて、形状パターン、外形、サイズなどを指定すると、制御部は、指定された形状パターンなどに基づいて照明パターンを特定し、特定された照明パターンに基づいて空間光変調器11Cを制御することが可能である。 The pattern light generating section 11 is controlled by a control section, which will be described later, and generates pattern light having an arbitrary projection shape. The projection shape can be set by the user using, for example, an operation unit described below. When the user uses the operation unit to specify a shape pattern, external shape, size, etc., the control unit specifies an illumination pattern based on the specified shape pattern, etc., and adjusts the spatial light modulator based on the specified illumination pattern. 11C.

(平滑化部12)
平滑化部12は、スリット方向(すなわち、受光系20の開口方向、又は開口方向に対応した方向)にパターン光を拡散することにより、スリット方向にパターン光の光量分布を平滑化する。すなわち、平滑化部12は、パターン光をスリット方向に平滑化する。具体的には、平滑化部12は、スリット方向の拡散特性とスリット方向に直交(交差)する方向の拡散特性とが異なるようにパターン光を平滑化する。ここで、パターン光のスリット方向成分について所定の入射角θ0に対する透過光の透過角θ1が、パターン光のスリット方向に直交する方向成分について所定の入射角θ0に対する透過光の透過角θ2より大きい。
(Smoothing unit 12)
The smoothing unit 12 smoothes the light amount distribution of the pattern light in the slit direction by diffusing the pattern light in the slit direction (that is, the aperture direction of the light receiving system 20 or a direction corresponding to the aperture direction). That is, the smoothing section 12 smoothes the pattern light in the slit direction. Specifically, the smoothing unit 12 smoothes the pattern light so that the diffusion characteristics in the slit direction are different from the diffusion characteristics in a direction perpendicular to (crossing) the slit direction. Here, the transmission angle θ1 of the transmitted light relative to the predetermined incident angle θ0 for the slit direction component of the pattern light is larger than the transmission angle θ2 of the transmitted light relative to the predetermined incident angle θ0 for the directional component of the pattern light perpendicular to the slit direction.

いくつかの実施形態では、平滑化部12は、後述の制御部からの制御を受け、パターン光の拡散範囲(拡散特性、拡散の度合い)を変更する。いくつかの実施形態では、平滑化部12は、被検眼Eの画像の画質に応じてパターン光の拡散範囲を変更する。 In some embodiments, the smoothing unit 12 changes the diffusion range (diffusion characteristics, degree of diffusion) of the pattern light under control from a control unit described below. In some embodiments, the smoothing unit 12 changes the diffusion range of the pattern light depending on the image quality of the image of the eye E to be examined.

図3及び図4に、実施形態に係る受光ムラの説明図を表す。図3は、実施形態の比較例における受光ムラを模式的に表す。図4は、実施形態に係る受光ムラを模式的に表す。 3 and 4 are explanatory diagrams of uneven light reception according to the embodiment. FIG. 3 schematically represents uneven light reception in a comparative example of the embodiment. FIG. 4 schematically represents uneven light reception according to the embodiment.

図3は、投影系のパターン光発生部において配列された発光ピクセルPILに対して、受光系のイメージセンサにおいて配列された受光ピクセルPDTが1対1に対応していない場合を模式的に表す。図4は、実施形態において、パターン光発生部11において配列された発光ピクセルPILに対して、イメージセンサ22において配列された受光ピクセルPDTが1対1に対応していない場合に、平滑化部12がパターン光を拡散する場合を模式的に表す。 FIG. 3 schematically represents a case where the light-receiving pixels PDT arranged in the image sensor of the light-receiving system do not correspond one-to-one to the light-emitting pixels PIL arranged in the pattern light generating section of the projection system. FIG. 4 shows that in the embodiment, when the light receiving pixels PDT arranged in the image sensor 22 do not have a one-to-one correspondence to the light emitting pixels PIL arranged in the pattern light generating part 11, the smoothing part 12 This schematically represents the case where the pattern light is diffused.

図3に示すように発光ピクセルPILの配置が受光ピクセルPDTの配置に対応していない場合、受光側(受光系20)において受光されるパターン光の戻り光の受光レベル(光量レベル)Paは受光素子(受光ピクセル)毎にムラ(ばらつき)が生じる。これに対して、図4では、平滑化部12は、上記のように、スリット方向にパターン光を拡散する。それにより、発光ピクセルPILの配置が受光ピクセルPDTの配置に対応していない場合であっても、上記のパターン光の拡散により受光系20において受光されるパターン光の戻り光の受光レベル(光量レベル)Pbは平滑化される。従って、受光素子(受光ピクセル)毎の受光レベルのムラが低減される。 As shown in FIG. 3, when the arrangement of the light-emitting pixels PIL does not correspond to the arrangement of the light-receiving pixels PDT, the light-receiving level (light amount level) Pa of the return light of the pattern light received on the light-receiving side (light-receiving system 20) is Unevenness (dispersion) occurs for each element (light-receiving pixel). In contrast, in FIG. 4, the smoothing section 12 diffuses the pattern light in the slit direction as described above. As a result, even if the arrangement of the light emitting pixels PIL does not correspond to the arrangement of the light receiving pixels PDT, the light reception level (light intensity level) of the return light of the pattern light received in the light receiving system 20 due to the diffusion of the pattern light described above ) Pb is smoothed. Therefore, unevenness in the light reception level for each light receiving element (light receiving pixel) is reduced.

このように、平滑化部12によるパターン光の拡散(平滑化)の作用によって、被検眼Eの画像に現れるムラの影響を低減することができる。 In this way, the influence of unevenness appearing in the image of the eye E can be reduced by the effect of the diffusion (smoothing) of the pattern light by the smoothing unit 12.

いくつかの実施形態では、平滑化部12は、スリット方向のパターン光の拡散範囲が、スリット方向に直交(交差)する方向のパターン光の拡散範囲より広くなるようにパターン光を平滑化する。すなわち、平滑化部12は、開口方向(スリット方向)に直交する方向の受光素子が、拡散されたパターン光を受光しないようにパターン光を平滑化する。それにより、開口方向に直交する方向の平滑化による不鮮明化に起因した画質の低下を防止することができる。 In some embodiments, the smoothing unit 12 smoothes the pattern light so that the diffusion range of the pattern light in the slit direction is wider than the diffusion range of the pattern light in a direction perpendicular to (crossing) the slit direction. That is, the smoothing unit 12 smoothes the pattern light so that the light receiving elements in the direction orthogonal to the aperture direction (slit direction) do not receive the diffused pattern light. This makes it possible to prevent image quality from deteriorating due to blurring due to smoothing in a direction perpendicular to the aperture direction.

図5及び図6に、実施形態に係る平滑化部12の動作説明図を示す。図5及び図6は、説明の便宜上、投影系10の発光ピクセルの1次元的な構造、及び受光系20のイメージセンサ22における受光ピクセルの1次元的な構造を模式的に表す。 5 and 6 are explanatory diagrams of the operation of the smoothing section 12 according to the embodiment. For convenience of explanation, FIGS. 5 and 6 schematically represent the one-dimensional structure of the light-emitting pixels of the projection system 10 and the one-dimensional structure of the light-receiving pixels in the image sensor 22 of the light-receiving system 20.

図5は、投影側(投影系10)の発光ピクセルから発生した光が受光側(受光系20)の受光ピクセルによってそのまま受光される場合の発光ピクセル及び受光ピクセルの配置を模式的に表したものである。図6は、投影側の発光ピクセルから発生した光の一部が受光側の受光ピクセルによって受光される場合の発光ピクセル及び受光ピクセルの配置を模式的に表したものである。 FIG. 5 schematically represents the arrangement of the light emitting pixels and the light receiving pixels when the light generated from the light emitting pixels on the projection side (projection system 10) is directly received by the light receiving pixels on the light receiving side (light receiving system 20). It is. FIG. 6 schematically shows the arrangement of the light-emitting pixels and the light-receiving pixels when a part of the light generated from the light-emitting pixels on the projection side is received by the light-receiving pixels on the light-receiving side.

図5及び図6において、投影側において、発光ピクセルPILのスリット方向のピクセル周期(発光ピクセル周期)をΛiとし、発光ピクセルPILのスリット方向のサイズをPiとし、発光ピクセルPILのピクセル間ギャップをGiとする。Λiは、次の式(1)のように表される。 5 and 6, on the projection side, the pixel period (light emitting pixel period) of the light emitting pixel PIL in the slit direction is Λi, the size of the light emitting pixel PIL in the slit direction is Pi, and the interpixel gap of the light emitting pixel PIL is Gi. shall be. Λi is expressed as in the following equation (1).

Λi=Pi+Gi ・・・(1) Λi=Pi+Gi...(1)

同様に、受光側において、投影系10における光学倍率及び受光系20における光学倍率を考慮したとき、受光ピクセルPDTの開口方向のピクセル周期(受光ピクセル周期)をΛdとし、受光ピクセルPDTの開口方向のサイズをPdとし、受光ピクセルPDTのピクセル間ギャップをGdとする。Λdは、次の式(2)のように表される。 Similarly, on the light receiving side, when considering the optical magnification in the projection system 10 and the optical magnification in the light receiving system 20, the pixel period in the aperture direction of the light receiving pixel PDT (light receiving pixel period) is Λd, and the pixel period in the aperture direction of the light receiving pixel PDT is Λd. The size is assumed to be Pd, and the interpixel gap of the light receiving pixel PDT is assumed to be Gd. Λd is expressed as in the following equation (2).

Λd=Pd+Gd ・・・(2) Λd=Pd+Gd...(2)

ここで、Pi<Pdである場合の第1のケースと、Pi=Pdである場合の第2のケースと、Pi>Pdである場合の第3のケースとが考えられる。 Here, a first case where Pi<Pd, a second case where Pi=Pd, and a third case where Pi>Pd are considered.

第1のケースは、投影側の発光ピクセル密度が受光側の受光ピクセル密度より低いことを意味する。すなわち、投影側に比べて受光側の解像度が高くなり、コスト高を招くだけで、現実的に採用することが難しいケースであると考えられる。 The first case means that the light emitting pixel density on the projection side is lower than the light receiving pixel density on the light receiving side. In other words, the resolution on the light-receiving side is higher than that on the projection side, which only increases costs and is considered to be a case that is difficult to practically adopt.

第2のケースでは、図5に示すように、受光ピクセルの全体には、発光ピクセルからの光が照射されるため、発光効率(照明効率)ηは、次の式(3)のように表される。 In the second case, as shown in Figure 5, the entire light-receiving pixel is irradiated with light from the light-emitting pixel, so the luminous efficiency (illumination efficiency) η is expressed as the following equation (3). be done.

η=1 ・・・(3) η=1...(3)

これに対して、第3のケースでは、図6に示すように、受光ピクセルにおいて、発光ピクセルのピクセル間ギャップに対応する部分では、発光ピクセルからの光が照射されないため、発光効率ηは、次の式(4)のように表される。 On the other hand, in the third case, as shown in FIG. 6, in the light-receiving pixel, the part corresponding to the inter-pixel gap of the light-emitting pixel is not irradiated with light from the light-emitting pixel, so the luminous efficiency η is as follows. It is expressed as in equation (4).

η=(Pd-Gi)/Pd=(1-Gi/Pd) ・・・(4) η=(Pd-Gi)/Pd=(1-Gi/Pd)...(4)

すなわち、Gi/Pdに起因した受光レベルの低下により、取得された画像には受光ムラが現れる。 That is, due to the decrease in the light reception level caused by Gi/Pd, uneven light reception appears in the acquired image.

このように投影側の発光ピクセル周期Λiと受光側の受光ピクセル周期Λdの双方が、画像の解像度に実質的に影響を与えるため、発光ピクセル周期Λiと受光ピクセル周期Λdは同程度であることが実用的であると考えられる。具体的には、受光側の受光ピクセル周期Λdは、投影側の発光ピクセル周期Λiに対して0.3~3.0倍程度である。いくつかの実施形態では、高精細の照明素子が高価であり、照明素子の制御が複雑であることを考慮すると、受光側の受光ピクセル周期Λdは、投影側の発光ピクセル周期Λiに対して0.3~1.0倍である。 In this way, both the light-emitting pixel period Λi on the projection side and the light-receiving pixel period Λd on the light-receiving side substantially affect the resolution of the image, so it is possible that the light-emitting pixel period Λi and the light-receiving pixel period Λd are approximately the same. considered practical. Specifically, the light-receiving pixel period Λd on the light-receiving side is about 0.3 to 3.0 times the light-emitting pixel period Λi on the projection side. In some embodiments, the receiving pixel period Λd on the receiving side is 0 with respect to the emitting pixel period Λi on the projecting side, considering that high-definition lighting elements are expensive and controlling the lighting elements is complex. .3 to 1.0 times.

ここで、投影側の1次元方向(スリット方向)の開口率をRiとし、受光側の1次元方向(開口方向)の開口率をRdとすると、Riは次の式(5)のように表され、Rdは次の式(6)のように表される。 Here, if the aperture ratio in the one-dimensional direction (slit direction) on the projection side is Ri, and the aperture ratio in the one-dimensional direction (aperture direction) on the light-receiving side is Rd, then Ri can be expressed as in the following equation (5). and Rd is expressed as in the following equation (6).

Ri=Gi/Λi ・・・(5)
Rd=Gd/Λd ・・・(6)
Ri=Gi/Λi...(5)
Rd=Gd/Λd...(6)

また、イメージセンサ22の受光面におけるピクセルサイズ比をQとすると、Qは、次の式(7)のように表される。 Furthermore, when the pixel size ratio on the light receiving surface of the image sensor 22 is Q, Q is expressed as in the following equation (7).

Q=Λd/Λi ・・・(7) Q=Λd/Λi...(7)

上記のように、受光側の受光ピクセル周期Λdは、投影側の発光ピクセル周期Λiに対して0.3~1.0倍であるとすると、ピクセルサイズ比Qは1以下であり、Pi>Pd又はPi=Pdの場合、最大の発光効率はη=1である。 As mentioned above, if the light-receiving pixel period Λd on the light-receiving side is 0.3 to 1.0 times the light-emitting pixel period Λi on the projection side, the pixel size ratio Q is 1 or less, and Pi>Pd Or when Pi=Pd, the maximum luminous efficiency is η=1.

これに対して、最小の発光効率ηは、式(2)、(5)、(6)を用いて次の式(8)のように表される。 On the other hand, the minimum luminous efficiency η is expressed as the following equation (8) using equations (2), (5), and (6).

η=1-Gi/Pd=1-(Λi×Ri)/(Λd×(1-Rd)) ・・・(8) η=1-Gi/Pd=1-(Λi×Ri)/(Λd×(1-Rd)) ...(8)

以上のように、投影側の発光ピクセルの配置及び受光側の受光ピクセルの配置に対応して、式(8)で表される受光ムラが発生する。 As described above, light reception unevenness expressed by equation (8) occurs depending on the arrangement of light-emitting pixels on the projection side and the arrangement of light-receiving pixels on the light-receiving side.

撮影部位に応じて、画像に描出されるムラの許容範囲が異なる。例えば、眼底の形態及び血管が描出される眼底像において、受光ムラを所定の低減量RD以下に抑える必要がある。眼底像における階調つぶれの一般的な許容範囲と投影系10及び受光系20のコストとを合理的に考慮すると、低減量RDは0.03~0.08の範囲である。 The allowable range of unevenness depicted in the image differs depending on the region to be imaged. For example, in a fundus image in which the shape of the fundus and blood vessels are depicted, it is necessary to suppress uneven light reception to a predetermined reduction amount RD or less. If the general allowable range of gradation collapse in the fundus image and the cost of the projection system 10 and the light receiving system 20 are rationally considered, the reduction amount RD is in the range of 0.03 to 0.08.

低減量RD=0.03は、例えばコストの観点で決められる。例えば、RD<0.02の場合、画質が許容される範囲であるにもかかわらず、コストが高くなる一方である。 The reduction amount RD=0.03 is determined, for example, from the viewpoint of cost. For example, when RD<0.02, the cost increases even though the image quality is within an acceptable range.

低減量RD=0.08は、例えば、眼底像の画像特性の観点で決められる。例えば、RD>0.08の場合、眼底像として許容されない画質となる。 The reduction amount RD=0.08 is determined, for example, from the viewpoint of the image characteristics of the fundus image. For example, when RD>0.08, the image quality is unacceptable as a fundus image.

ここで、式(8)の第2項をATとすると、ATを低減量RD以下に抑えるためには、次の式(9)のように表される受光ムラ低減比Z以下になるようにパターン光を拡散(平滑化)する必要がある。 Here, assuming that the second term of equation (8) is AT, in order to suppress AT to the reduction amount RD or less, the light receiving unevenness reduction ratio Z expressed as the following equation (9) or less should be set. It is necessary to diffuse (smooth) the pattern light.

Z=RD/AT=RD×(Λd×(1-Rd))/(Λi×Ri)
=RD×Q×(1-Rd)/Ri ・・・(9)
Z=RD/AT=RD×(Λd×(1-Rd))/(Λi×Ri)
=RD×Q×(1-Rd)/Ri...(9)

以上は、簡略化のための発光ピクセル及び受光ピクセルのそれぞれが1次元構造である場合を例に説明したが、実際のピクセル構造は2次元構造である。 The above description has been made using an example in which each of the light-emitting pixel and the light-receiving pixel has a one-dimensional structure for the sake of simplification, but the actual pixel structure is a two-dimensional structure.

図7に、投影系10の発光ピクセルPILの2次元的な構造、及び受光系20のイメージセンサ22における受光ピクセルPDTの2次元的な構造を模式的に表す。図7は、説明の便宜上、イメージセンサ22の受光面における発光ピクセルPILの2次元的な配列及び受光ピクセルPDTの2次元的な配列を模式的に表す。 FIG. 7 schematically represents the two-dimensional structure of the light-emitting pixel PIL of the projection system 10 and the two-dimensional structure of the light-receiving pixel PDT in the image sensor 22 of the light-receiving system 20. For convenience of explanation, FIG. 7 schematically represents a two-dimensional arrangement of light-emitting pixels PIL and a two-dimensional arrangement of light-receiving pixels PDT on the light-receiving surface of the image sensor 22.

図7に示すような発光ピクセルPIL及び受光ピクセルPDTの配置においては、式(8)の第2項をATとすると、2×ATを低減量RD以下に抑える必要がある。そのためには、平滑化部12は、次の式(10)のように表される受光ムラ低減比Z以下になるようにパターン光を拡散(平滑化)する必要がある。 In the arrangement of the light-emitting pixel PIL and the light-receiving pixel PDT as shown in FIG. 7, when the second term of equation (8) is AT, it is necessary to suppress 2×AT to the reduction amount RD or less. For this purpose, the smoothing unit 12 needs to diffuse (smooth) the pattern light so that it becomes equal to or less than the light reception unevenness reduction ratio Z expressed as the following equation (10).

Z=RD/(2×AT)=RD×(Λd×(1-Rd))/(Λi×Ri)
=1/2×RD×Q×(1-Rd)/Ri ・・・(10)
Z=RD/(2×AT)=RD×(Λd×(1-Rd))/(Λi×Ri)
=1/2×RD×Q×(1-Rd)/Ri...(10)

例えば、Ri=Rd=0.05とし、Q=0.3とした場合、受光ムラ低減量RD=0.03のとき、受光ムラ低減比Zは、次の式(11)のようになる。 For example, when Ri=Rd=0.05 and Q=0.3, when the light reception unevenness reduction amount RD=0.03, the light reception unevenness reduction ratio Z is as shown in the following equation (11).

Z=RD/(2×AT)=0.5×0.03×0.3×95/5=0.0855
・・・(11)
Z=RD/(2×AT)=0.5×0.03×0.3×95/5=0.0855
...(11)

この場合、式(11)に示すように受光ムラを1/12程度、あるいはそれ以下に抑える必要がある。 In this case, as shown in equation (11), it is necessary to suppress the unevenness of light reception to about 1/12 or less.

例えば、Ri=Rd=0.05とし、Q=1.0とした場合、受光ムラ低減量RD=0.06のとき、受光ムラ低減比Zは、次の式(12)のようになる。 For example, when Ri=Rd=0.05 and Q=1.0, when the light reception unevenness reduction amount RD=0.06, the light reception unevenness reduction ratio Z is as shown in the following equation (12).

Z=RD/(2×AT)=0.5×0.06×1.0×95/5=0.57
・・・(12)
Z=RD/(2×AT)=0.5×0.06×1.0×95/5=0.57
...(12)

この場合、式(12)に示すように受光ムラを1/2程度、あるいはそれ以下に抑える必要がある。 In this case, as shown in equation (12), it is necessary to suppress the unevenness of light reception to about 1/2 or less.

以上のように、投影系10の光学倍率及び受光系20の光学倍率を考慮したときの投影側の発光ピクセル構造及び受光側の受光ピクセル構造に依存して、平滑化部12は、パターン光を平滑化する。 As described above, the smoothing unit 12 adjusts the pattern light depending on the light emitting pixel structure on the projection side and the light receiving pixel structure on the light receiving side when considering the optical magnification of the projection system 10 and the optical magnification of the light receiving system 20. Smooth.

例えば、Ri=Rd=0.05、受光ムラ低減量RD=0.03~0.08において、イメージセンサ22の受光面におけるピクセルサイズ比Qを用いて、平滑化部12は、次のような受光ムラ低減比Z以下になるようにスリット方向にパターン光を平滑化する。 For example, when Ri=Rd=0.05 and the amount of light reception unevenness reduction RD=0.03 to 0.08, the smoothing unit 12 uses the pixel size ratio Q on the light reception surface of the image sensor 22 as follows. The pattern light is smoothed in the slit direction so that it becomes equal to or less than the light reception unevenness reduction ratio Z.

いくつかの実施形態では、RD=0.03のとき、受光ムラ低減比Zは、式(13)のように表される。 In some embodiments, when RD=0.03, the light reception unevenness reduction ratio Z is expressed as in equation (13).

Z=0.5×0.03×Q×95/5=0.285×Q ・・・(13) Z=0.5×0.03×Q×95/5=0.285×Q...(13)

この場合、平滑化部12は、受光ムラ低減比が0.285×Q以下になるようにスリット方向にパターン光を平滑化する。それにより、投影側の発光ピクセルの配列と受光側の受光ピクセルの配列とにかかわらず、上記のようにコスト高を招くことなく、受光ムラに起因した被検眼Eの眼底像の画質の劣化を防止することができるようになる。 In this case, the smoothing unit 12 smoothes the pattern light in the slit direction so that the light reception unevenness reduction ratio becomes 0.285×Q or less. As a result, regardless of the arrangement of the light-emitting pixels on the projection side and the arrangement of the light-receiving pixels on the light-receiving side, the image quality of the fundus image of the eye E to be examined can be prevented from deteriorating due to uneven light reception, without increasing the cost as described above. It will be possible to prevent this.

いくつかの実施形態では、RD=0.08のとき、受光ムラ低減比Zは、式(14)のように表される。 In some embodiments, when RD=0.08, the light reception unevenness reduction ratio Z is expressed as in equation (14).

Z=0.5×0.08×Q×95/5=0.76×Q ・・・(14) Z=0.5×0.08×Q×95/5=0.76×Q...(14)

この場合、平滑化部12は、受光ムラ低減比が0.76×Q以下になるようにスリット方向にパターン光を平滑化する。それにより、投影側の発光ピクセルの配列と受光側の受光ピクセルの配列とにかかわらず、眼底像としての画質の許容範囲内において、低コストで、受光ムラの影響を受けることなく被検眼Eの眼底像の画質の劣化を防止することができるようになる。 In this case, the smoothing unit 12 smoothes the pattern light in the slit direction so that the light reception unevenness reduction ratio is 0.76×Q or less. As a result, regardless of the arrangement of the light-emitting pixels on the projection side and the arrangement of the light-receiving pixels on the light-receiving side, it is possible to obtain the image of the eye E at low cost and without being affected by uneven light reception, within the allowable range of image quality as a fundus image. It becomes possible to prevent deterioration of the image quality of the fundus image.

いくつかの実施形態では、平滑化部12は、パターン光の光路に配置された拡散フィルタ(光学的ローパスフィルタ)を含む。拡散フィルタは、スリット方向の拡散範囲がスリット方向に直交する方向の拡散範囲よりも広くなるようにパターン光を拡散する。それにより、パターン光の光量分布がスリット方向に平滑化される。拡散フィルタの例として、レンズ拡散板がある。いくつかの実施形態では、平滑化部12は、拡散範囲が異なる複数の拡散フィルタを含み、後述の制御部からの制御を受け、複数の拡散フィルタを選択的にパターン光の光路に配置することによりパターン光の拡散範囲を変更する。 In some embodiments, the smoothing unit 12 includes a diffusion filter (optical low-pass filter) placed in the optical path of the patterned light. The diffusion filter diffuses the pattern light so that the diffusion range in the slit direction is wider than the diffusion range in the direction perpendicular to the slit direction. Thereby, the light amount distribution of the pattern light is smoothed in the slit direction. An example of a diffusion filter is a lens diffusion plate. In some embodiments, the smoothing unit 12 includes a plurality of diffusion filters having different diffusion ranges, and selectively arranges the plurality of diffusion filters in the optical path of the pattern light under control from a control unit described below. to change the diffusion range of the pattern light.

いくつかの実施形態では、平滑化部12は、パターン光の光路に配置され複屈折率を有する複屈折板を含む。複屈折板は、スリット方向の屈折範囲(拡散範囲)がスリット方向に直交する方向の屈折範囲よりも広くなるようにパターン光を屈折させる(拡散させる)。それにより、パターン光の光量分布がスリット方向に平滑化される。いくつかの実施形態では、平滑化部12は、屈折範囲が異なる複数の複屈折板を含み、後述の制御部からの制御を受け、複数の複屈折板を選択的にパターン光の光路に配置することによりパターン光の屈折範囲を変更する。 In some embodiments, the smoothing unit 12 includes a birefringent plate disposed in the optical path of the patterned light and having a birefringence index. The birefringent plate refracts (diffuses) the patterned light so that the refraction range (diffusion range) in the slit direction is wider than the refraction range in the direction perpendicular to the slit direction. Thereby, the light amount distribution of the pattern light is smoothed in the slit direction. In some embodiments, the smoothing unit 12 includes a plurality of birefringent plates having different refraction ranges, and selectively arranges the plurality of birefringence plates in the optical path of the patterned light under control from a control unit described below. By doing so, the refraction range of the pattern light is changed.

いくつかの実施形態では、平滑化部12は、パターン光の光路に配置された回折光学素子を含む。回折光学素子は、スリット方向の回折範囲(拡散範囲)がスリット方向に直交する方向の回折範囲よりも広くなるようにパターン光を回折させる(拡散させる)。回折光学素子として、フレネル(Fresnel)回折を利用した回折光学素子、タルボ(Talbot)効果を用いた回折光学素子などがある。それにより、パターン光の光量分布がスリット方向に平滑化される。いくつかの実施形態では、平滑化部12は、回折範囲が異なる複数の回折光学素子を含み、後述の制御部からの制御を受け、複数の回折光学素子を選択的にパターン光の光路に配置することによりパターン光の回折範囲を変更する。 In some embodiments, the smoothing unit 12 includes a diffractive optical element placed in the optical path of the patterned light. The diffractive optical element diffracts (diffuses) the patterned light so that the diffraction range (diffusion range) in the slit direction is wider than the diffraction range in the direction perpendicular to the slit direction. Examples of the diffractive optical element include a diffractive optical element using Fresnel diffraction and a diffractive optical element using the Talbot effect. Thereby, the light amount distribution of the pattern light is smoothed in the slit direction. In some embodiments, the smoothing unit 12 includes a plurality of diffractive optical elements having different diffraction ranges, and selectively arranges the plurality of diffractive optical elements in the optical path of the patterned light under control from a control unit described below. By doing so, the diffraction range of the pattern light is changed.

いくつかの実施形態では、平滑化部12は、パターン光の光路に配置された1以上の光学レンズを含み、1以上の光学レンズの少なくとも1つの収差を用いてスリット方向にパターン光を拡散する。それにより、パターン光の光量分布がスリット方向に平滑化される。いくつかの実施形態では、1以上の光学レンズの少なくとも1つの光軸は、パターン光の光路に対して傾斜するように配置される。いくつかの実施形態では、平滑化部12は、投影系10の光軸に対して、1以上の光学レンズの少なくとも1つの光軸の傾斜角度を変更するための機構を含み、後述からの制御部からの制御を受け、当該機構は、投影系10の光軸に対して1以上の光学レンズの少なくとも1つの光軸の傾斜角度を変更する。 In some embodiments, the smoothing unit 12 includes one or more optical lenses disposed in the optical path of the patterned light, and uses at least one aberration of the one or more optical lenses to diffuse the patterned light in the slit direction. . Thereby, the light amount distribution of the pattern light is smoothed in the slit direction. In some embodiments, the optical axis of at least one of the one or more optical lenses is arranged to be oblique to the optical path of the patterned light. In some embodiments, the smoothing unit 12 includes a mechanism for changing the inclination angle of at least one optical axis of the one or more optical lenses with respect to the optical axis of the projection system 10, and the smoothing unit 12 includes a mechanism for changing the inclination angle of at least one optical axis of the one or more optical lenses, and controls as described below. The mechanism changes the inclination angle of at least one optical axis of the one or more optical lenses with respect to the optical axis of the projection system 10 under control from the projection system 10 .

いくつかの実施形態では、平滑化部12は、パターン光の光路に配置された1以上の光学レンズを含み、1以上の光学レンズの少なくとも1つは、その光軸が投影系10の光軸に対して所定の距離だけ離れるように配置される。それにより、パターン光をスリット方向に拡散することが可能になり、パターン光の光量分布がスリット方向に平滑化される。いくつかの実施形態では、平滑化部12は、投影系10の光軸に対して、1以上の光学レンズの少なくとも1つの光軸の距離を当該光軸に直交する方向に変更するための機構を含み、後述からの制御部からの制御を受け、当該機構は、投影系10の光軸に対して1以上の光学レンズの少なくとも1つの光軸の距離を変更する。 In some embodiments, the smoothing unit 12 includes one or more optical lenses disposed in the optical path of the patterned light, and at least one of the one or more optical lenses has an optical axis that is aligned with the optical axis of the projection system 10. are placed a predetermined distance apart from each other. Thereby, it becomes possible to diffuse the pattern light in the slit direction, and the light amount distribution of the pattern light is smoothed in the slit direction. In some embodiments, the smoothing unit 12 includes a mechanism for changing the distance of at least one optical axis of the one or more optical lenses with respect to the optical axis of the projection system 10 in a direction perpendicular to the optical axis. The mechanism changes the distance of at least one optical axis of the one or more optical lenses with respect to the optical axis of the projection system 10 under control from a control unit to be described later.

いくつかの実施形態では、平滑化部12は、パターン光の光路に対して傾斜するように配置された平行平面板を含む。平行平面板は、入射するパターン光の光軸(光路)をスリット方向に変更する。それにより、パターン光の光量分布がスリット方向に平滑化される。いくつかの実施形態では、平滑化部12は、投影系10の光軸に対して平行平面板の傾斜角度を変更するための機構を含み、後述からの制御を受け、当該機構は、投影系10の光軸に対して平行平面板の傾斜角度を変更する。 In some embodiments, the smoothing unit 12 includes a plane-parallel plate arranged so as to be inclined with respect to the optical path of the patterned light. The parallel plane plate changes the optical axis (optical path) of the incident pattern light toward the slit direction. Thereby, the light amount distribution of the pattern light is smoothed in the slit direction. In some embodiments, the smoothing unit 12 includes a mechanism for changing the inclination angle of the plane parallel plate with respect to the optical axis of the projection system 10, and is controlled as described below. The inclination angle of the parallel plane plate is changed with respect to the optical axis of 10.

いくつかの実施形態では、平滑化部12は、出射面に対して傾斜している光学面にパターン光が入射するように配置されたウェッジプリズムを含む。ウェッジプリズムは、光学面に入射したパターン光を屈折させ、出射面から出射させることによりパターン光を屈折させる(拡散させる)。それにより、パターン光の光量分布がスリット方向に平滑化される。いくつかの実施形態では、平滑化部12は、投影系10の光軸に対して、ウェッジプリズムの光学面及び出射面の少なくとも一方の傾斜角度を変更するための機構を含み、後述からの制御を受け、当該機構は、投影系10の光軸に対してウェッジプリズムの光学面及び出射面の少なくとも一方の傾斜角度を変更する。 In some embodiments, the smoothing unit 12 includes a wedge prism arranged so that the pattern light is incident on an optical surface that is inclined with respect to the exit surface. The wedge prism refracts (diffuses) the pattern light that is incident on the optical surface and emits it from the exit surface. Thereby, the light amount distribution of the pattern light is smoothed in the slit direction. In some embodiments, the smoothing unit 12 includes a mechanism for changing the inclination angle of at least one of the optical surface and the exit surface of the wedge prism with respect to the optical axis of the projection system 10, and the smoothing unit 12 includes a mechanism for changing the inclination angle of at least one of the optical surface and the exit surface of the wedge prism, In response to this, the mechanism changes the inclination angle of at least one of the optical surface and the output surface of the wedge prism with respect to the optical axis of the projection system 10.

いくつかの実施形態では、平滑化部12は、上記の2以上の部材を任意に組み合わせた構成を有する。具体的には、平滑化部12は、拡散フィルタ、複屈折板、回折光学素子、1以上の光学レンズ、平行平面板、及びウェッジプリズムの少なくとも2つを含む。いくつかの実施形態では、平滑化部12は、更に、投影系10の光軸に対して1以上の光学レンズの少なくとも1つの傾斜角度を変更する機構、又は投影系10の光軸に対して1以上の光学レンズの少なくとも1つの光軸の距離を変更する機構を含む。 In some embodiments, the smoothing section 12 has a configuration in which two or more of the above members are arbitrarily combined. Specifically, the smoothing unit 12 includes at least two of a diffusion filter, a birefringent plate, a diffractive optical element, one or more optical lenses, a plane parallel plate, and a wedge prism. In some embodiments, the smoothing unit 12 further includes a mechanism that changes the inclination angle of at least one of the one or more optical lenses with respect to the optical axis of the projection system 10, or a mechanism that changes the inclination angle of at least one of the one or more optical lenses with respect to the optical axis of the projection system 10. It includes a mechanism for changing the distance of at least one optical axis of one or more optical lenses.

(光学系13)
光学系13は、平滑化部12により平滑化されたパターン光をリレーするためのリレー光学系を含む。いくつかの実施形態では、光学系13は、更に、コリメートレンズと、光スキャナとを含む。この場合、光スキャナは、後述の制御部から制御を受け、パターン光を偏向することが可能である。
(Optical system 13)
The optical system 13 includes a relay optical system for relaying the pattern light smoothed by the smoothing section 12. In some embodiments, optical system 13 further includes a collimating lens and an optical scanner. In this case, the optical scanner can deflect the pattern light under control from a control section, which will be described later.

光学系13を経由したパターン光は、光合波分波器50によって反射され、光学系51に導かれる。 The pattern light that has passed through the optical system 13 is reflected by the optical multiplexer/demultiplexer 50 and guided to the optical system 51.

(光合波分波器50)
光合波分波器50は、投影系10からの光を光学系51に導くと共に、光学系51からの光を受光系20に導く。このような光合波分波器50の機能は、ビームスプリッタ、又はダイクロイックミラーにより実現可能である。
(Optical multiplexer/demultiplexer 50)
The optical multiplexer/demultiplexer 50 guides the light from the projection system 10 to the optical system 51 and guides the light from the optical system 51 to the light receiving system 20 . Such a function of the optical multiplexer/demultiplexer 50 can be realized by a beam splitter or a dichroic mirror.

(光学系51)
光学系51は、光合波分波器50と被検眼Eとの間に配置される。いくつかの光学系51は、対物レンズ、合焦機構、及び、被検眼Eの乱視状態を矯正する補正光学系の少なくとも1つを含む。いくつかの実施形態では、光学系51は、パターン光の焦点位置を前眼部の近傍に移動するための前置レンズを含む。この場合、前置レンズは、パターン光の光路に対して挿脱可能に設けられる。
(Optical system 51)
The optical system 51 is arranged between the optical multiplexer/demultiplexer 50 and the eye E to be examined. Some of the optical systems 51 include at least one of an objective lens, a focusing mechanism, and a correction optical system that corrects the astigmatic state of the eye E to be examined. In some embodiments, optical system 51 includes an anterior lens for moving the focal position of the patterned light closer to the anterior segment of the eye. In this case, the front lens is provided so that it can be inserted into and removed from the optical path of the pattern light.

合焦機構の例として、光軸方向(パターン光の光路の方向)に沿って移動可能な合焦レンズ、屈折率を変更可能な液体レンズ、屈折率を変更可能な液晶レンズ、光軸方向に沿って移動可能な対物レンズがある。 Examples of focusing mechanisms include a focusing lens that can be moved along the optical axis direction (the direction of the optical path of the patterned light), a liquid lens that can change the refractive index, a liquid crystal lens that can change the refractive index, and a liquid crystal lens that can change the refractive index. There is an objective lens that can be moved along.

合焦レンズ又は対物レンズは、自動又は手動で光軸方向に移動可能である。例えば、眼科装置1は、合焦レンズ及び対物レンズの少なくとも一方を光軸方向に移動する移動機構を含み、制御部が移動機構を制御することにより合焦レンズ及び対物レンズの少なくとも一方を光軸方向に移動することで合焦制御を行うことができる。また、例えば、ユーザが移動機構を操作することにより合焦レンズ及び対物レンズの少なくとも一方を光軸方向に移動することで、手動で合焦状態を調整することができる。 The focusing lens or objective lens can be moved in the optical axis direction automatically or manually. For example, the ophthalmological apparatus 1 includes a moving mechanism that moves at least one of the focusing lens and the objective lens in the optical axis direction, and the control unit controls the moving mechanism to move at least one of the focusing lens and the objective lens along the optical axis. Focusing can be controlled by moving in the direction. Further, for example, the user can manually adjust the focusing state by moving at least one of the focusing lens and the objective lens in the optical axis direction by operating the moving mechanism.

また、制御部は、液体レンズ又は液晶レンズを制御することにより屈折率を変更することで合焦制御を行うことができる。 Further, the control unit can perform focus control by changing the refractive index by controlling the liquid lens or liquid crystal lens.

補正光学系の例として、バリアブルクロスシリンダレンズがある。 An example of a correction optical system is a variable cross cylinder lens.

光合波分波器50により反射された投影系10からのパターン光は、光学系51を経由して被検眼Eに投影される。被検眼Eからのパターン光の戻り光は、光学系51を経由し、光合波分波器50により反射されて受光系20に導かれる。 The pattern light from the projection system 10 reflected by the optical multiplexer/demultiplexer 50 is projected onto the eye E via the optical system 51. The return light of the pattern light from the eye E to be examined passes through the optical system 51, is reflected by the optical multiplexer/demultiplexer 50, and is guided to the light receiving system 20.

(受光系20)
受光系20は、光学系21と、イメージセンサ22とを含む。
(Light receiving system 20)
The light receiving system 20 includes an optical system 21 and an image sensor 22.

(光学系21)
光学系21には、光合波分波器50によって反射された被検眼からのパターン光の戻り光が入射する。光学系21は、戻り光をイメージセンサ22の検出面に結像させる結像レンズを含む。いくつかの実施形態では、光学系21は、更に、戻り光をリレーするためのリレー光学系を含む。
(Optical system 21)
The return light of the pattern light from the eye to be examined reflected by the optical multiplexer/demultiplexer 50 is incident on the optical system 21 . The optical system 21 includes an imaging lens that forms an image of the returned light on the detection surface of the image sensor 22. In some embodiments, optical system 21 further includes a relay optical system for relaying the return light.

(イメージセンサ22)
イメージセンサ22は、ピクセル化された受光器としての機能を実現する。この実施形態では、イメージセンサ22は、CMOSイメージセンサを含む。すなわち、イメージセンサ22は、2次元的に配列された複数のフォトダイオード(受光素子)と、複数の垂直信号線と、水平信号線とを含む。複数の垂直信号線は、垂直方向のフォトダイオード群毎に設けられる。各垂直信号線は、受光結果に対応した電荷が蓄積されたフォトダイオード群と選択的に電気的に接続される。水平信号線は、複数の垂直信号線と選択的に電気的に接続される。これにより、ピクセル毎に設けられたフォトダイオードは、戻り光の受光結果に対応した電荷を蓄積し、蓄積された電荷は、例えば水平方向のフォトダイオード群毎に順次読み出される。すなわち、水平方向のライン毎に、各フォトダイオードに蓄積された電荷に対応した電圧が垂直信号線に供給される。複数の垂直信号線は、選択的に水平信号線と電気的に接続される。垂直方向に順次に上記の水平方向のライン毎の読み出し動作を行うことで、2次元的に配列された複数のフォトダイオードの受光結果を読み出す。
(Image sensor 22)
The image sensor 22 functions as a pixelated light receiver. In this embodiment, image sensor 22 includes a CMOS image sensor. That is, the image sensor 22 includes a plurality of two-dimensionally arranged photodiodes (light receiving elements), a plurality of vertical signal lines, and a horizontal signal line. A plurality of vertical signal lines are provided for each vertical photodiode group. Each vertical signal line is selectively electrically connected to a group of photodiodes in which charges corresponding to light reception results are accumulated. The horizontal signal line is selectively electrically connected to the plurality of vertical signal lines. Thereby, the photodiode provided for each pixel accumulates charges corresponding to the result of receiving the returned light, and the accumulated charges are sequentially read out for each photodiode group in the horizontal direction, for example. That is, a voltage corresponding to the charge accumulated in each photodiode is supplied to the vertical signal line for each horizontal line. The plurality of vertical signal lines are selectively electrically connected to the horizontal signal line. By sequentially performing the readout operation for each horizontal line in the vertical direction, the light reception results of the plurality of photodiodes arranged two-dimensionally are read out.

イメージセンサ22の受光面(検出面)は、被検眼Eの撮影部位(例えば、眼底、前眼部)と光学的に略共役な位置に配置可能である。すなわち、イメージセンサ22の受光面は、光源11Aと光学的に略共役な位置に配置可能である。 The light-receiving surface (detection surface) of the image sensor 22 can be placed at a position that is optically substantially conjugate with the imaging site of the eye E to be examined (for example, the fundus of the eye, the anterior segment of the eye). That is, the light receiving surface of the image sensor 22 can be placed at a position that is optically substantially conjugate with the light source 11A.

このようなイメージセンサ22に対する読み出し制御は、後述の制御部からの制御を受け実行することができる。 Such readout control for the image sensor 22 can be executed under control from a control section, which will be described later.

制御部は、イメージセンサ22に対して、いわゆるローリングシャッター方式で戻り光の受光結果を読み出すことができる。それにより、所望の開口形状に対応した読み出し制御を行うことで、当該開口形状に対応した受光像が取得される。このような制御については、例えば、米国特許第8237835号明細書等に開示されている。 The control unit can read the return light reception result from the image sensor 22 using a so-called rolling shutter method. Thereby, by performing readout control corresponding to the desired aperture shape, a received light image corresponding to the aperture shape is acquired. Such control is disclosed in, for example, US Pat. No. 8,237,835.

具体的には、制御部は、パターン光発生部11を制御することにより、少なくとも開口方向に対応する方向に略平行な方向に延びるスリット状(ライン状)のパターン光を、開口方向に対応する方向に直交する方向に順次に発生させることができる。制御部は、米国特許第8237835号明細書等に開示されているように、パターン光発生部11によるパターン光の発生タイミングと、ローリングシャッター方式でのイメージセンサ22からの戻り光の受光結果の読み取りタイミングとを同期させる。それにより、簡素な構成で、被検眼の画像を取得することが可能である。 Specifically, by controlling the pattern light generating section 11, the control section generates a slit-shaped (line-shaped) pattern light extending at least in a direction substantially parallel to the direction corresponding to the aperture direction. They can be generated sequentially in a direction orthogonal to the direction. As disclosed in U.S. Pat. No. 8,237,835, etc., the control section reads the timing of pattern light generation by the pattern light generation section 11 and the reception result of the return light from the image sensor 22 in a rolling shutter method. Synchronize the timing. Thereby, it is possible to obtain an image of the eye to be examined with a simple configuration.

いくつかの実施形態では、イメージセンサ22は、CCD(Charge-Coupled Device)イメージセンサを含む。 In some embodiments, the image sensor 22 includes a CCD (Charge-Coupled Device) image sensor.

イメージセンサ22がCCDイメージセンサを含む場合、イメージセンサ22は、2次元的に配列された複数のフォトダイオードと、2以上の垂直転送レジスタと、水平転送レジスタとを含む。2以上の垂直転送レジスタは、垂直方向のフォトダイオード群毎に設けられる。水平転送レジスタは、2以上の垂直転送レジスタと選択的に電気的に接続される。これにより、ピクセル毎に設けられたフォトダイオードは、戻り光の受光結果に対応した電荷を蓄積し、蓄積された電荷は、例えば垂直転送レジスタに読み出される。複数の垂直転送レジスタは、選択的に水平転送レジスタと電気的に接続される。例えば、1つの垂直転送レジスタに読み出された電荷に対応した信号が水平転送レジスタに転送され、転送された信号を水平転送レジスタから順次に読み出される。これを、複数の垂直転送レジスタについて繰り返すことで、2次元的に配列された複数のフォトダイオードの受光結果が読み出される。イメージセンサ22がCCDイメージセンサを含む場合、グローバルシャッター方式又はローリングシャッター方式により戻り光の受光結果に対応した画像が取得される。 When the image sensor 22 includes a CCD image sensor, the image sensor 22 includes a plurality of two-dimensionally arranged photodiodes, two or more vertical transfer registers, and a horizontal transfer register. Two or more vertical transfer registers are provided for each vertical photodiode group. The horizontal transfer register is selectively electrically connected to two or more vertical transfer registers. Thereby, the photodiode provided for each pixel accumulates charges corresponding to the result of receiving the returned light, and the accumulated charges are read out to, for example, a vertical transfer register. The plurality of vertical transfer registers are selectively electrically connected to the horizontal transfer registers. For example, a signal corresponding to a charge read out to one vertical transfer register is transferred to a horizontal transfer register, and the transferred signals are sequentially read out from the horizontal transfer register. By repeating this for a plurality of vertical transfer registers, the light reception results of a plurality of two-dimensionally arranged photodiodes are read out. When the image sensor 22 includes a CCD image sensor, an image corresponding to the result of receiving the returned light is acquired using a global shutter method or a rolling shutter method.

(画像処理部30)
画像処理部30は、イメージセンサ22により得られた受光像に対して、各種の画像処理や解析処理を施す。画像処理には、受光像に対するノイズ除去処理、受光像に描出された所定の部位を識別しやすくするための輝度補正処理がある。解析処理には、後述の合焦状態の特定処理、後述の合焦制御を行うための制御内容の特定処理がある。
(Image processing unit 30)
The image processing unit 30 performs various image processing and analysis processing on the received light image obtained by the image sensor 22. Image processing includes noise removal processing for the received light image and brightness correction processing for making it easier to identify a predetermined region depicted in the received light image. The analysis processing includes processing for specifying a focus state, which will be described later, and processing for specifying control contents for performing focus control, which will be described later.

画像処理部30は、制御部からの制御を受けてローリングシャッター方式によりイメージセンサ22から読み出された受光結果に基づいて、任意の開口形状に対応した受光像を取得することが可能である。画像処理部30は、開口形状に対応した受光像を順次に取得し、取得された複数の受光像から被検眼Eの画像を形成することが可能である。 The image processing section 30 is capable of acquiring a received light image corresponding to an arbitrary aperture shape based on the received light results read out from the image sensor 22 using a rolling shutter method under the control of the control section. The image processing unit 30 can sequentially acquire received light images corresponding to the aperture shape and form an image of the eye E from the acquired plurality of received light images.

なお、イメージセンサ22がCCDイメージセンサを含む場合、画像処理部30は、制御部からの制御を受けてグローバルシャッター方式によりイメージセンサ22から読み出された受光結果に基づいて、被検眼Eの画像を取得することが可能である。 Note that when the image sensor 22 includes a CCD image sensor, the image processing unit 30 generates an image of the eye E based on the light reception results read out from the image sensor 22 using a global shutter method under the control of the control unit. It is possible to obtain

いくつかの実施形態では、光学系21は、結像レンズとイメージセンサ22との間に配置される開口絞りを含む。この場合、イメージセンサ22の受光面には、開口絞りを通過した戻り光が結像される。従って、画像処理部30は、制御部からの制御を受けてグローバルシャッター方式によりイメージセンサ22から読み出された受光結果に基づいて、上記の開口絞りの開口形状に対応した受光像を取得することが可能である。 In some embodiments, optical system 21 includes an aperture stop located between the imaging lens and image sensor 22. In this case, the returned light that has passed through the aperture stop is imaged on the light receiving surface of the image sensor 22. Therefore, the image processing section 30 acquires a received light image corresponding to the aperture shape of the aperture diaphragm, based on the received light results read out from the image sensor 22 using the global shutter method under the control of the control section. is possible.

画像処理部30は、プロセッサを含み、記憶部等に記憶されたプログラムに従って処理を行うことで、上記の機能を実現する。 The image processing unit 30 includes a processor and implements the above functions by performing processing according to a program stored in a storage unit or the like.

本明細書において「プロセッサ」は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、プログラマブル論理デバイス(例えば、SPLD(Simple Programmable Logic Device)、CPLD(Complex Programmable Logic Device)、FPGA(Field Programmable Gate Array))等の回路を意味する。プロセッサは、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。 In this specification, a "processor" refers to, for example, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), an ASIC (Application Specific Integrated Circuit), a programmable logic device (for example, an S PLD (Simple Programmable Logic Device), CPLD (Complex It means a circuit such as a programmable logic device (programmable logic device) or FPGA (field programmable gate array). The processor realizes the functions according to the embodiment by, for example, reading and executing a program stored in a storage circuit or a storage device.

(画像出力部40)
画像出力部40は、後述の制御部の制御を受けて各種の情報を表示する。例えば、画像出力部40は、画像処理部30により得られた受光像を出力する。
(Image output unit 40)
The image output unit 40 displays various information under the control of a control unit described below. For example, the image output unit 40 outputs the received light image obtained by the image processing unit 30.

画像出力部40は、LCD(Liquid Crystal Display)等のフラットパネルディスプレイなどの表示デバイスを含んで構成される。 The image output unit 40 includes a display device such as a flat panel display such as an LCD (Liquid Crystal Display).

(その他の構成)
いくつかの実施形態では、眼科装置1は、更に、固視投影系を含む。例えば、固視投影系の光路は、図1に示す光学系の構成において、パターン光の光路に結合される。固視投影系は、内部固視標又は外部固視標を被検眼Eに提示することが可能である。内部固視標を被検眼Eに提示する場合、固視投影系は、制御部からの制御を受けて内部固視標を表示するLCDを含み、LCDから出力された固視光束を被検眼Eの眼底に投影する。LCDは、その画面上における固視標の表示位置を変更可能に構成されている。LCDにおける固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Eの眼底における固視標の投影位置を変更することが可能である。LCDにおける固視標の表示位置は、操作部を用いることによりユーザが指定可能である。
(Other configurations)
In some embodiments, the ophthalmic device 1 further includes a fixation projection system. For example, the optical path of the fixation projection system is coupled to the optical path of the pattern light in the configuration of the optical system shown in FIG. The fixation projection system can present an internal fixation target or an external fixation target to the eye E to be examined. When presenting an internal fixation target to the eye E, the fixation projection system includes an LCD that displays the internal fixation target under the control of the control unit, and the fixation light flux output from the LCD is directed to the eye E. projected onto the fundus of the eye. The LCD is configured to be able to change the display position of the fixation target on the screen. By changing the display position of the fixation target on the LCD, it is possible to change the projected position of the fixation target on the fundus of the eye E to be examined. The display position of the fixation target on the LCD can be specified by the user using the operation unit.

いくつかの実施形態では、固視投影系は、LCDに代えて、たとえば複数のLEDが配列されたパネルを含み、いずれかのLEDを点灯させることにより固視標の投影を行うように構成される。 In some embodiments, the fixation projection system includes, for example, a panel in which a plurality of LEDs are arranged instead of the LCD, and is configured to project the fixation target by lighting any of the LEDs. Ru.

また、被検眼Eの眼底における固視標の投影位置を変更することにより固視を誘導することができるため、観察方向を変更することも可能になる。 Furthermore, since fixation can be induced by changing the projection position of the fixation target on the fundus of the eye E, it is also possible to change the observation direction.

いくつかの実施形態では、眼科装置1は、アライメント系を含む。いくつかの実施形態では、アライメント系は、XYアライメント系と、Zアライメント系とを含む。XYアライメント系は、装置光学系(対物レンズ)の光軸に交差する方向に装置光学系と被検眼Eとの位置合わせを行うために用いられる。Zアライメント系は、眼科装置1(対物レンズ)の光軸の方向に装置光学系と被検眼Eとの位置合わせを行うために用いられる。 In some embodiments, ophthalmic device 1 includes an alignment system. In some embodiments, the alignment system includes an XY alignment system and a Z alignment system. The XY alignment system is used to align the apparatus optical system and the subject's eye E in a direction intersecting the optical axis of the apparatus optical system (objective lens). The Z alignment system is used to align the apparatus optical system and the subject's eye E in the direction of the optical axis of the ophthalmological apparatus 1 (objective lens).

例えば、XYアライメント系は、被検眼Eに輝点(赤外領域又は近赤外領域の輝点)を投影する。画像処理部30は、輝点が投影された被検眼Eの前眼部像を取得し、取得された前眼部像に描出された輝点像とアライメント基準位置との変位を求める。後述の制御部は、求められた変位がキャンセルされるように図示しない移動機構により装置光学系と被検眼Eとを光軸の方向と交差する方向に相対的に移動させる。 For example, the XY alignment system projects a bright spot (a bright spot in the infrared region or near-infrared region) onto the eye E to be examined. The image processing unit 30 acquires the anterior segment image of the subject's eye E onto which the bright spot is projected, and determines the displacement between the bright spot image depicted in the acquired anterior eye segment image and the alignment reference position. A control unit, which will be described later, uses a moving mechanism (not shown) to relatively move the device optical system and the eye E in a direction intersecting the direction of the optical axis so that the determined displacement is canceled.

例えば、Zアライメント系は、装置光学系の光軸から外れた位置から赤外領域又は近赤外領域のアライメント光を投影し、被検眼Eの前眼部で反射されたアライメント光を受光する。画像処理部30は、装置光学系に対する被検眼Eの距離に応じて変化するアライメント光の受光位置から、装置光学系に対する被検眼Eの距離を特定する。後述の制御部は、特定された距離が所望の作動距離になるように図示しない移動機構により装置光学系と被検眼Eとを光軸の方向に相対的に移動させる。 For example, the Z alignment system projects alignment light in the infrared region or near-infrared region from a position off the optical axis of the apparatus optical system, and receives the alignment light reflected from the anterior segment of the eye E to be examined. The image processing unit 30 identifies the distance of the eye E to be examined relative to the apparatus optical system from the light receiving position of the alignment light, which changes depending on the distance of the eye E to be examined relative to the apparatus optical system. A control unit, which will be described later, relatively moves the device optical system and the eye E in the direction of the optical axis using a moving mechanism (not shown) so that the specified distance becomes a desired working distance.

いくつかの実施形態では、アライメント系の機能は、装置光学系の光軸から外れた位置に配置された2以上の前眼部カメラにより実現される。例えば、特開2013-248376号公報に開示されているように、画像処理部30は、2以上の前眼部カメラで実質的に同時に取得された被検眼Eの前眼部像を解析して、公知の三角法を用いて被検眼Eの3次元位置を特定する。後述の制御部は、装置光学系の光軸が被検眼Eの軸に略一致し、かつ、被検眼Eに対する装置光学系の距離が所定の作動距離になるように図示しない移動機構により装置光学系と被検眼Eとを3次元的に相対的に移動させる。 In some embodiments, the functionality of the alignment system is accomplished by two or more anterior segment cameras positioned off-axis of the device optics. For example, as disclosed in Japanese Unexamined Patent Publication No. 2013-248376, the image processing unit 30 analyzes anterior segment images of the subject's eye E obtained substantially simultaneously with two or more anterior segment cameras. , the three-dimensional position of the eye E to be examined is specified using known trigonometry. The control unit, which will be described later, moves the device optical system using a moving mechanism (not shown) so that the optical axis of the device optical system substantially coincides with the axis of the eye E and the distance of the device optical system to the eye E becomes a predetermined working distance. The system and the eye E to be examined are moved relative to each other in three dimensions.

[制御系の構成]
次に、眼科装置1の制御系について、説明する。
[Control system configuration]
Next, the control system of the ophthalmologic apparatus 1 will be explained.

図8に、実施形態に係る眼科装置の制御系の構成例のブロック図を示す。図8において、図1及び図2と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。 FIG. 8 shows a block diagram of a configuration example of a control system of an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. In FIG. 8, the same parts as in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and descriptions thereof will be omitted as appropriate.

図3に示すように、眼科装置1の制御系は、制御部100を中心に構成されている。なお、制御系の構成の少なくとも一部が眼科装置1に含まれていてもよい。 As shown in FIG. 3, the control system of the ophthalmologic apparatus 1 is configured around a control section 100. Note that at least a part of the configuration of the control system may be included in the ophthalmologic apparatus 1.

(制御部100)
制御部100は、眼科装置1の各部を制御する。制御部100は、主制御部101と、記憶部102とを含む。主制御部101は、プロセッサを含み、記憶部102に記憶されたプログラムに従って処理を実行することで、眼科装置1の各部の制御処理を実行する。
(Control unit 100)
The control unit 100 controls each part of the ophthalmologic apparatus 1. Control unit 100 includes a main control unit 101 and a storage unit 102. The main control unit 101 includes a processor, and executes control processing for each unit of the ophthalmological apparatus 1 by executing processing according to a program stored in the storage unit 102.

(主制御部101)
主制御部101は、投影系10の制御、受光系20の制御、画像処理部30の制御、及び画像出力部40の制御を行う。
(Main control unit 101)
The main control section 101 controls the projection system 10, the light receiving system 20, the image processing section 30, and the image output section 40.

投影系10の制御には、パターン光発生部11の制御が含まれる。パターン光発生部11の制御には、光源11Aの制御、空間光変調器11Cの制御が含まれる。光源11Aの制御には、光源の点灯や消灯(又は光の波長領域)の切り替え、光源の光量の変更制御が含まれる。空間光変調器11Cの制御には、光源11Aからの光に対する空間的な振幅制御、位相制御、及び偏光制御、光源11Aからの光に対する時間的な振幅制御、位相制御、及び偏光制御が含まれる。 Control of the projection system 10 includes control of the pattern light generating section 11. Control of the pattern light generator 11 includes control of the light source 11A and control of the spatial light modulator 11C. Control of the light source 11A includes switching the light source on or off (or the wavelength range of the light), and changing the light amount of the light source. Control of the spatial light modulator 11C includes spatial amplitude control, phase control, and polarization control for the light from the light source 11A, and temporal amplitude control, phase control, and polarization control for the light from the light source 11A. .

投影系10が光スキャナを含む場合、主制御部101は、光スキャナを制御することが可能である。光スキャナの制御には、スキャン範囲(スキャン開始位置及びスキャン終了位置)及びスキャン速度の制御が含まれる。 When the projection system 10 includes an optical scanner, the main control unit 101 can control the optical scanner. Control of the optical scanner includes control of the scan range (scan start position and scan end position) and scan speed.

受光系20の制御には、イメージセンサ22の制御がある。イメージセンサ22の制御には、露光タイイング、感度、及びフレームレートの少なくとも1つの変更制御、ローリングシャッター方式又はグローバルシャッター方式による読み出し制御がある。 Control of the light receiving system 20 includes control of the image sensor 22. Control of the image sensor 22 includes control of changing at least one of exposure tying, sensitivity, and frame rate, and readout control using a rolling shutter method or a global shutter method.

画像処理部30の制御には、上記の画像処理の実行制御と、解析処理の実行制御とが含まれる。画像出力部40の制御には、上記の各種情報の表示制御が含まれる。 The control of the image processing unit 30 includes execution control of the above-mentioned image processing and execution control of analysis processing. Control of the image output unit 40 includes display control of the various information described above.

(記憶部102)
記憶部102は、各種のコンピュータプログラムやデータを記憶する。コンピュータプログラムには、眼科装置1を制御するための演算プログラムや制御プログラムが含まれる。
(Storage unit 102)
The storage unit 102 stores various computer programs and data. The computer program includes a calculation program and a control program for controlling the ophthalmologic apparatus 1.

(操作部110)
操作部110は、操作デバイス又は入力デバイスを含む。操作部110には、眼科装置1に設けられたボタンやスイッチ(たとえば操作ハンドル、操作ノブ等)や、操作デバイス(マウス、キーボード等)が含まれる。また、操作部110は、トラックボール、操作パネル、スイッチ、ボタン、ダイアルなど、任意の操作デバイスや入力デバイスを含んでいてよい。
(Operation unit 110)
The operation unit 110 includes an operation device or an input device. The operation unit 110 includes buttons and switches (for example, an operation handle, an operation knob, etc.) provided on the ophthalmologic apparatus 1, and operation devices (such as a mouse, a keyboard, etc.). Further, the operation unit 110 may include any operation device or input device such as a trackball, an operation panel, a switch, a button, a dial, or the like.

いくつかの実施形態では、画像出力部40及び操作部110の少なくとも一部が一体的に構成される。その具体例として、画像出力部40及び操作部110の機能は、タッチスクリーンにより実現される。 In some embodiments, at least a portion of the image output section 40 and the operation section 110 are configured integrally. As a specific example, the functions of the image output section 40 and the operation section 110 are realized by a touch screen.

投影系10は、実施形態に係る「投影部」の一例である。受光系20、及びイメージセンサ22を制御する制御部100は、実施形態に係る「取得部」の一例である。平滑化部12は、実施形態に係る「拡散部」の一例である。 The projection system 10 is an example of a "projection section" according to the embodiment. The control unit 100 that controls the light receiving system 20 and the image sensor 22 is an example of the “acquisition unit” according to the embodiment. The smoothing section 12 is an example of a "diffusion section" according to the embodiment.

[動作]
次に、眼科装置1の動作について説明する。
[motion]
Next, the operation of the ophthalmologic apparatus 1 will be explained.

図9に、実施形態に係る眼科装置1の動作例のフロー図を示す。記憶部102には、図9に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部101は、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図9に示す処理を実行する。 FIG. 9 shows a flow diagram of an example of the operation of the ophthalmologic apparatus 1 according to the embodiment. The storage unit 102 stores a computer program for implementing the processing shown in FIG. The main control unit 101 executes the processing shown in FIG. 9 by operating according to this computer program.

ここでは、図示しないアライメント系により被検眼Eに対して装置光学系のアライメントが完了し、図示しない固視投影系により所望の固視位置に導くように被検眼Eの眼底に対して固視標が投影されているものとする。 Here, alignment of the apparatus optical system with respect to the eye E to be examined is completed by an alignment system (not shown), and a fixation target is set to the fundus of the eye E to be examined so as to guide the eye to a desired fixation position by a fixation projection system (not shown). is projected.

(S1:パターン光を投影)
まず、主制御部101は、パターン光発生部11を制御することにより、受光側の開口形状に対応した開口方向に対応する方向に略平行な方向に延びる投影形状のパターン光を発生させる。
(S1: Project pattern light)
First, the main controller 101 controls the pattern light generator 11 to generate a projected pattern light extending in a direction substantially parallel to the direction of the aperture corresponding to the shape of the aperture on the light receiving side.

パターン光発生部11により発生されたパターン光は、平滑化部12によりスリット方向(受光側の開口形状に対応した開口方向に対応する方向に略平行な方向)に平滑化される。平滑化部12により平滑化されたパターン光は、光学系13、光合波分波器50、及び光学系51を経由し、被検眼Eに投影される。 The pattern light generated by the pattern light generating section 11 is smoothed by the smoothing section 12 in the slit direction (a direction substantially parallel to the direction corresponding to the aperture direction corresponding to the aperture shape on the light receiving side). The pattern light smoothed by the smoothing unit 12 is projected onto the eye E via the optical system 13, the optical multiplexer/demultiplexer 50, and the optical system 51.

(S2:受光像を取得)
次に、主制御部101は、画像処理部30に受光像を取得させる。
(S2: Obtain a received light image)
Next, the main control unit 101 causes the image processing unit 30 to acquire a received light image.

具体的には、投影系10により被検眼Eに投影されたパターン光は、被検眼Eにより反射される。被検眼Eからのパターン光の戻り光は、光学系51、光合波分波器50、及び光学系21を経由して、イメージセンサ22の受光面に結像する。主制御部101は、イメージセンサ22による戻り光の受光結果を、所定の開口形状に対応したローリングシャッター方式により読み出す。画像処理部30は、読み出された受光結果に基づいて、開口形状に対応した受光像を取得する。 Specifically, the pattern light projected onto the eye E by the projection system 10 is reflected by the eye E to be examined. The returned pattern light from the eye E passes through the optical system 51, the optical multiplexer/demultiplexer 50, and the optical system 21, and forms an image on the light receiving surface of the image sensor 22. The main control unit 101 reads out the result of the return light received by the image sensor 22 using a rolling shutter method corresponding to a predetermined aperture shape. The image processing unit 30 acquires a light reception image corresponding to the aperture shape based on the read light reception results.

(S3:次?)
主制御部101は、眼底における所望の範囲を撮影するための次のパターン光を被検眼Eに投影するか否かを判定する。例えば、主制御部101は、取得すべき眼底像に対応する撮影範囲とあらかじめ決められたパターン光の投影形状とに基づいて、被検眼Eにおけるパターン光の投影位置(投影範囲)のシフト順序を事前に決定する。主制御部101は、事前に決定された投影位置のシフト順序に従って次のパターン光を投影すべきか否かを判定する。
(S3: Next?)
The main control unit 101 determines whether to project the next pattern of light onto the eye E to photograph a desired range in the fundus. For example, the main control unit 101 determines the shift order of the projection position (projection range) of the pattern light on the eye E based on the imaging range corresponding to the fundus image to be acquired and the predetermined projection shape of the pattern light. Decide in advance. The main control unit 101 determines whether to project the next pattern of light according to a predetermined shift order of projection positions.

ステップS3において、次のパターン光を投影すると判定されたとき(S3:Y)、眼科装置1の動作はステップS14に移行する。一方、ステップS3において、次のパターン光を投影しないと判定されたとき(S3:N)、眼科装置1の動作はステップS15に移行する。 In step S3, when it is determined that the next pattern of light is to be projected (S3: Y), the operation of the ophthalmologic apparatus 1 moves to step S14. On the other hand, when it is determined in step S3 that the next pattern of light is not to be projected (S3:N), the operation of the ophthalmologic apparatus 1 moves to step S15.

(S14:投影位置を変更)
ステップS13において次のパターン光を投影すると判定されたとき(S13:Y)、主制御部101は、パターン光発生部11を制御することにより、事前に決定された投影位置のシフト順序に従って次の投影位置にパターン光が投影されるようにパターン光の投影形状(すなわち、投影位置及び投影範囲)を変更する。例えば、主制御部101は、スリット方向に直交する方向シフトした投影位置に上記と同様の投影形状のパターン光を投影するようにパターン光の投影形状を変更する。例えば、主制御部101は、スリット方向にシフトした投影位置、又は投影範囲の一部が重なるようにスリット方向にシフトした投影位置に上記と同様の投影形状のパターン光を投影するようにパターン光の投影形状を変更する。
(S14: Change projection position)
When it is determined in step S13 that the next pattern light is to be projected (S13: Y), the main control unit 101 controls the pattern light generation unit 11 to project the next pattern light according to the predetermined projection position shift order. The projection shape (ie, the projection position and projection range) of the pattern light is changed so that the pattern light is projected at the projection position. For example, the main control unit 101 changes the projection shape of the pattern light so that the pattern light having the same projection shape as above is projected at a projection position shifted in a direction perpendicular to the slit direction. For example, the main control unit 101 controls the pattern light to project pattern light having the same projection shape as described above at a projection position shifted in the slit direction or a projection position shifted in the slit direction so that a part of the projection range overlaps with the projection position. Change the projected shape of.

ステップS14に続いて、眼科装置1の動作はステップS11に移行する。 Following step S14, the operation of the ophthalmologic apparatus 1 moves to step S11.

(S15:合成)
ステップS13において次のパターン光を投影しないと判定されたとき(S13:N)、主制御部101は、ステップS11~ステップS14の処理の繰返し回数分の互いに開口位置(投影位置、投影範囲)が異なる受光像を上記のシフト順序に基づいて合成することにより、被検眼Eの1フレーム分の眼底像を形成する。
(S15: Synthesis)
When it is determined in step S13 that the next pattern light is not to be projected (S13: N), the main control unit 101 determines that the aperture positions (projection positions, projection ranges) are different from each other for the number of times the processes in steps S11 to S14 are repeated. By combining different received light images based on the above shift order, a fundus image for one frame of the eye E to be examined is formed.

以上で、眼科装置1の動作は終了である(エンド)。 This is the end of the operation of the ophthalmologic apparatus 1 (END).

<変形例>
実施形態に係る眼科装置の構成及び制御は、上記の態様に限定されるものではない。以下、実施形態の変形例について、実施形態との相違点を中心に説明する。
<Modified example>
The configuration and control of the ophthalmological apparatus according to the embodiments are not limited to the above aspects. Modifications of the embodiment will be described below, focusing on the differences from the embodiment.

(第1変形例)
実施形態では、パターン光発生部11が光源と非発光型のデバイスとを用いて、光源からの光を空間的に変調することによりパターン光を発生する場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。本変形例では、パターン光発生部が、自発光型のデバイスを含む。
(First modification)
In the embodiment, a case has been described in which the pattern light generation unit 11 generates pattern light by spatially modulating the light from the light source using a light source and a non-light emitting device, but the configuration according to the embodiment is not limited to this. In this modification, the pattern light generating section includes a self-emitting device.

図10に、実施形態の変形例に係るパターン光発生部の構成例のブロック図を示す。本変形例に係る眼科装置は、パターン光発生部11に代えて、図10に示すパターン光発生部11aを含む。 FIG. 10 shows a block diagram of a configuration example of a patterned light generation section according to a modification of the embodiment. The ophthalmological apparatus according to this modification includes a patterned light generating section 11a shown in FIG. 10 instead of the patterned light generating section 11.

本変形例に係るパターン光発生部11aは、自発光デバイス120と、光学系121とを含む。自発光デバイス120は、画素毎に変調された光を発生することで、ピクセル化されたパターン光発生器としての機能を実現する。自発光デバイス120の例として、ブラウン管(Cathode-Ray Tube:CRT)、プラズマディスプレイ(Plasma Display Panel:PDP)、有機EL(Organic Electro-Luminescence:OEL)、LED、無機EL(Inorganic Electro-Luminescence:IEL)、蛍光表示管(Vaccum Floorescent Display:VFD)、電界電子放出ディスプレイ(Field Emission Dsiplay:FED)などがある。 The patterned light generating section 11a according to this modification includes a self-emitting device 120 and an optical system 121. The self-emissive device 120 realizes a function as a pixelated pattern light generator by generating light that is modulated for each pixel. Examples of the self-luminous device 120 include a cathode-ray tube (CRT), a plasma display panel (PDP), an organic EL (OEL), an LED, and an inorganic EL. electro-luminescence: IEL ), vacuum fluorescent display (VFD), and field emission display (FED).

自発光デバイス120は、被検眼Eの撮影部位(例えば、眼底、前眼部)と光学的に略共役な位置に配置可能である。光学系121は、自発光デバイス120により空間的に変調された光を投影するための投影レンズを含む。 The self-luminous device 120 can be placed at a position that is optically approximately conjugate with the imaging site of the eye E to be examined (for example, the fundus of the eye, the anterior segment of the eye). Optical system 121 includes a projection lens for projecting light spatially modulated by self-emissive device 120.

本変形例に係る眼科装置の動作は、実施形態と同様であるため詳細な説明を省略する。 The operation of the ophthalmologic apparatus according to this modification is the same as that in the embodiment, so detailed explanation will be omitted.

[作用・効果]
実施形態に係る眼科装置の作用および効果について説明する。
[Action/Effect]
The functions and effects of the ophthalmological device according to the embodiment will be explained.

いくつかの実施形態に係る眼科装置(1)は、投影部(投影系10)と、取得部(受光系20、及びイメージセンサ22を制御する制御部100)とを含む。投影部は、パターン光を被検眼に投影する。取得部は、被検眼からのパターン光の戻り光を受光し、戻り光の受光結果に基づいて開口形状に対応した被検眼の画像を取得する。投影部は、パターン光発生部(11)と、拡散部(平滑化部12)とを含む。パターン光発生部は、少なくとも開口形状の開口方向に対応する第1方向に略平行な方向に延びる投影形状のパターン光を発生する。拡散部は、パターン光を拡散する。 The ophthalmological apparatus (1) according to some embodiments includes a projection section (projection system 10) and an acquisition section (light receiving system 20 and control section 100 that controls the image sensor 22). The projection unit projects the pattern light onto the eye to be examined. The acquisition unit receives the return light of the pattern light from the eye to be examined, and acquires an image of the eye to be examined corresponding to the aperture shape based on the reception result of the return light. The projection section includes a pattern light generation section (11) and a diffusion section (smoothing section 12). The pattern light generating section generates pattern light in a projected shape extending at least in a direction substantially parallel to a first direction corresponding to an opening direction of the aperture shape. The diffusion section diffuses the pattern light.

このような構成によれば、少なくとも開口形状の開口方向に対応する第1方向に略平行な方向に延びる投影形状のパターン光を拡散させて被検眼に投影し、被検眼からのパターン光の戻り光の受光結果に基づいて開口形状に対応した被検眼の画像が取得される。それにより、投影側の発光ピクセルの配列及び受光側の受光ピクセルの配列にかかわらず、簡素な構成で、受光ムラに起因した画質の劣化が低減された被検眼の画像を取得することが可能になる。 According to such a configuration, pattern light having a projection shape extending at least in a direction substantially parallel to the first direction corresponding to the aperture direction of the aperture shape is diffused and projected onto the eye to be examined, and the pattern light is returned from the eye to be examined. An image of the eye to be examined corresponding to the aperture shape is acquired based on the light reception results. As a result, regardless of the arrangement of light-emitting pixels on the projection side and the arrangement of light-receiving pixels on the light-receiving side, it is possible to obtain images of the eye to be examined with a simple configuration that reduces image quality deterioration caused by uneven light reception. Become.

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、拡散部は、第1方向にパターン光を拡散する。 In some embodiments of the ophthalmological device, the diffusing section diffuses the patterned light in a first direction.

このような構成によれば、第1方向にパターン光を拡散するようにしたので、投影側の発光ピクセルの配列及び受光側の受光ピクセルの配列にかかわらず、簡素な構成で、受光ムラに起因した画質の劣化が低減された被検眼の画像を取得することが可能になる。 According to this configuration, the pattern light is diffused in the first direction, so regardless of the arrangement of the light-emitting pixels on the projection side and the arrangement of the light-receiving pixels on the light-receiving side, the problem caused by uneven light reception can be avoided with a simple configuration. It becomes possible to obtain an image of the eye to be examined with reduced image quality deterioration.

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、拡散部は、第1方向のパターン光の拡散範囲が第1方向に交差する第2方向のパターン光の拡散範囲より広くなるようにパターン光を拡散する。 In the ophthalmological apparatus according to some embodiments, the diffusion unit diffuses the patterned light such that a diffusion range of the patterned light in the first direction is wider than a diffusion range of the patterned light in a second direction intersecting the first direction. .

このような構成によれば、第2方向の拡散による不鮮明化に起因した画質の低下を防止することができる。 According to such a configuration, it is possible to prevent image quality from deteriorating due to blurring due to diffusion in the second direction.

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、拡散部は、戻り光の受光面におけるピクセルサイズ比をQとしたとき、パターン光の受光ムラ低減比が0.285×Q以下になるようにパターン光の光量分布の平滑化を行う。 In the ophthalmological apparatus according to some embodiments, the diffusion unit spreads the patterned light so that the light reception unevenness reduction ratio of the patterned light is 0.285×Q or less, where Q is the pixel size ratio on the light receiving surface of the returned light. The light intensity distribution is smoothed.

このような構成によれば、投影側の発光ピクセルの配列と受光側の受光ピクセルの配列とにかかわらず、コスト高を招くことなく、受光ムラに起因した被検眼の画像の画質の劣化を防止することができるようになる。 With this configuration, regardless of the arrangement of the light-emitting pixels on the projection side and the arrangement of the light-receiving pixels on the light-receiving side, it is possible to prevent the deterioration of the image quality of the image of the subject's eye due to uneven light reception without increasing costs. You will be able to do this.

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、拡散部は、戻り光の受光面におけるピクセルサイズ比をQとしたとき、パターン光の受光ムラ低減比が0.76×Q以下になるようにパターン光の光量分布の平滑化を行う。 In the ophthalmological apparatus according to some embodiments, the diffusion unit spreads the patterned light so that the light reception unevenness reduction ratio of the patterned light is 0.76×Q or less, where Q is the pixel size ratio on the light receiving surface of the returned light. The light intensity distribution is smoothed.

このような構成によれば、投影側の発光ピクセルの配列と受光側の受光ピクセルの配列とにかかわらず、被検眼の眼底の形態を表す眼底像としての画質の許容範囲内において、低コストで、受光ムラの影響を受けることなく被検眼の画像の画質の劣化を防止することができるようになる。 With such a configuration, regardless of the arrangement of the light-emitting pixels on the projection side and the arrangement of the light-receiving pixels on the light-receiving side, it is possible to obtain a fundus image representing the morphology of the fundus of the eye to be examined at a low cost within the acceptable range of image quality. , it becomes possible to prevent deterioration of the image quality of the image of the eye to be examined without being affected by uneven light reception.

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、拡散部は、パターン光の光路に配置された拡散フィルタを含む。 In some embodiments of the ophthalmological device, the diffusion section includes a diffusion filter disposed in the optical path of the patterned light.

このような構成によれば、簡素な構成、且つ、低コストで、受光ムラに起因した画質の低下を防ぐことができるようになる。 According to such a configuration, it becomes possible to prevent deterioration in image quality due to uneven light reception with a simple configuration and at low cost.

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、拡散部は、パターン光の光路に配置された複屈折板を含む。 In some embodiments of the ophthalmic device, the diffuser includes a birefringent plate disposed in the optical path of the patterned light.

このような構成によれば、簡素な構成、且つ、低コストで、受光ムラに起因した画質の低下を防ぐことができるようになる。 According to such a configuration, it becomes possible to prevent deterioration in image quality due to uneven light reception with a simple configuration and at low cost.

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、拡散部は、パターン光の光路に配置された回折光学素子を含む。 In some embodiments of the ophthalmological device, the diffusing section includes a diffractive optical element disposed in the optical path of the patterned light.

このような構成によれば、簡素な構成、且つ、低コストで、受光ムラに起因した画質の低下を防ぐことができるようになる。 According to such a configuration, it becomes possible to prevent deterioration in image quality due to uneven light reception with a simple configuration and at low cost.

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、拡散部は、パターン光の光路に配置された光学レンズを含み、光学レンズの収差を用いてパターン光を拡散する。 In the ophthalmic apparatus according to some embodiments, the diffusing section includes an optical lens disposed in the optical path of the patterned light, and uses aberrations of the optical lens to diffuse the patterned light.

このような構成によれば、簡素な構成、且つ、低コストで、受光ムラに起因した画質の低下を防ぐことができるようになる。 According to such a configuration, it becomes possible to prevent deterioration in image quality due to uneven light reception with a simple configuration and at low cost.

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、光学レンズの光軸は、パターン光の光路に対して傾斜するように配置されている。 In the ophthalmological apparatus according to some embodiments, the optical axis of the optical lens is arranged to be inclined with respect to the optical path of the patterned light.

このような構成によれば、簡素な構成、且つ、低コストで、受光ムラに起因した画質の低下を防ぐことができるようになる。 According to such a configuration, it becomes possible to prevent deterioration in image quality due to uneven light reception with a simple configuration and at low cost.

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、拡散部は、パターン光の光路に対して傾斜するように配置された平行平面板を含む。 In the ophthalmological apparatus according to some embodiments, the diffusing section includes a plane-parallel plate arranged to be inclined with respect to the optical path of the patterned light.

このような構成によれば、簡素な構成、且つ、低コストで、受光ムラに起因した画質の低下を防ぐことができるようになる。 According to such a configuration, it becomes possible to prevent deterioration in image quality due to uneven light reception with a simple configuration and at low cost.

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、パターン光発生部は、光源(11A)と、光源からの光を空間的に変調することによりパターン光を生成する空間光変調器(11C)と、を含む。 In the ophthalmological apparatus according to some embodiments, the patterned light generation unit includes a light source (11A) and a spatial light modulator (11C) that generates patterned light by spatially modulating light from the light source. include.

このような構成によれば、簡素な構成で、所望の投影形状のパターン光を発生しつつ、受光ムラに起因した画質の低下を防ぐことができるようになる。 According to such a configuration, it is possible to generate pattern light having a desired projection shape with a simple configuration and to prevent deterioration in image quality due to uneven light reception.

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、取得部は、戻り光を受光するイメージセンサ(22)を含み、イメージセンサによる戻り光の受光結果をローリングシャッター方式により読み出すことにより被検眼の画像を取得する。 In the ophthalmological apparatus according to some embodiments, the acquisition unit includes an image sensor (22) that receives returned light, and acquires an image of the eye to be examined by reading out the result of receiving the returned light by the image sensor using a rolling shutter method. do.

このような構成によれば、簡素な構成で、且つ、低コストで、受光ムラに起因した画質の低下を防ぐことができるようになる。 According to such a configuration, it becomes possible to prevent deterioration in image quality due to uneven light reception with a simple configuration and at low cost.

以上に示された実施形態又はその変形例は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。 The embodiment shown above or its modification example is only an example for implementing the present invention. Those who wish to implement this invention can make arbitrary modifications, omissions, additions, etc. within the scope of the gist of this invention.

上記の実施形態又はその変形例において、眼科装置は、例えば、眼軸長測定機能、眼圧測定機能、光干渉断層撮影(OCT)機能、超音波検査機能など、眼科分野において使用可能な任意の機能を有していてもよい。なお、眼軸長測定機能は、光干渉断層計等により実現される。また、眼軸長測定機能は、被検眼に光を投影し、当該被検眼に対する光学系のZ方向(前後方向)の位置を調整しつつ眼底からの戻り光を検出することにより、当該被検眼の眼軸長を測定するようにしてもよい。眼圧測定機能は、眼圧計等により実現される。OCT機能は、光干渉断層計等により実現される。超音波検査機能は、超音波診断装置等により実現される。また、このような機能のうち2つ以上を具備した装置(複合機)に対してこの発明を適用することも可能である。 In the above embodiments or variations thereof, the ophthalmologic apparatus may have any function usable in the ophthalmology field, such as an axial length measurement function, an intraocular pressure measurement function, an optical coherence tomography (OCT) function, or an ultrasound examination function. It may have a function. Note that the axial length measurement function is realized by an optical coherence tomography device or the like. In addition, the axial length measurement function projects light onto the eye to be examined and detects the return light from the fundus while adjusting the position of the optical system in the Z direction (anterior-posterior direction) with respect to the eye to be examined. The axial length of the eye may be measured. The intraocular pressure measurement function is realized by a tonometer or the like. The OCT function is realized by optical coherence tomography or the like. The ultrasonic testing function is realized by an ultrasonic diagnostic device or the like. Further, the present invention can also be applied to a device (multifunction device) that has two or more of these functions.

いくつかの実施形態では、上記の眼科装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムが提供される。このようなプログラムを、コンピュータによって読み取り可能な任意の記録媒体に記憶させることができる。この記録媒体としては、たとえば、半導体メモリ、光ディスク、光磁気ディスク(CD-ROM/DVD-RAM/DVD-ROM/MO等)、磁気記憶媒体(ハードディスク/フロッピー(登録商標)ディスク/ZIP等)などを用いることが可能である。また、インターネットやLAN等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。 In some embodiments, a program is provided for causing a computer to execute the method for controlling an ophthalmological apparatus described above. Such a program can be stored in any computer-readable recording medium. Examples of this recording medium include semiconductor memory, optical disks, magneto-optical disks (CD-ROM/DVD-RAM/DVD-ROM/MO, etc.), magnetic storage media (hard disks/floppy (registered trademark) disks/ZIP, etc.), etc. It is possible to use It is also possible to send and receive this program via a network such as the Internet or LAN.

1 眼科装置
10 投影系
11、11a パターン光発生部
11A 光源
11C 空間光変調器
12 平滑化部
11B、13、21、51、121 光学系
20 受光系
22 イメージセンサ
30 画像処理部
40 画像出力部
50 光合波分波器
100 制御部
101 主制御部
102 記憶部
110 操作部
120 自発光デバイス
E 被検眼
1 Ophthalmological apparatus 10 Projection system 11, 11a Pattern light generating section 11A Light source 11C Spatial light modulator 12 Smoothing section 11B, 13, 21, 51, 121 Optical system 20 Light receiving system 22 Image sensor 30 Image processing section 40 Image output section 50 Optical multiplexer/demultiplexer 100 Control section 101 Main control section 102 Storage section 110 Operation section 120 Self-luminous device E Eye to be examined

Claims (10)

受光側の開口の開口方向に対応したスリット方向に形成されたスリット状のパターン光を被検眼に投影し、前記受光側に設けられたイメージセンサの受光面における前記開口の形状に対応して前記イメージセンサから前記被検眼からの前記パターン光の戻り光の受光結果をローリングシャッター方式により読み出す眼科装置であって、
前記パターン光を被検眼に投影する投影部と、
前記戻り光を受光し、前記戻り光の受光結果に基づいて前記受光面における前記開口の形状に対応した前記被検眼の画像を取得する取得部と、
を含み、
前記投影部は、
2次元的に配列された複数の発光ピクセルを含み、前記パターン光を発生するパターン光発生部と、
前記スリット方向のパターン光の拡散範囲が前記スリット方向に交差する方向のパターン光の拡散範囲より広くなるように前記パターン光を拡散する拡散部と、
を含む眼科装置。
A slit-shaped pattern of light formed in a slit direction corresponding to the aperture direction of the light-receiving side aperture is projected onto the eye to be examined, and a slit-like pattern of light is projected onto the eye to be examined, and the light is formed in a pattern corresponding to the shape of the aperture on the light-receiving surface of the image sensor provided on the light-receiving side. An ophthalmological apparatus that reads out a reception result of the return light of the patterned light from the eye to be examined from an image sensor using a rolling shutter method,
a projection unit that projects the pattern light onto the eye to be examined;
an acquisition unit that receives the returned light and acquires an image of the eye to be examined corresponding to the shape of the aperture on the light receiving surface based on the reception result of the returned light;
including;
The projection section is
a patterned light generating section that includes a plurality of light emitting pixels arranged two-dimensionally and generates the patterned light;
a diffusion unit that diffuses the pattern light such that a diffusion range of the pattern light in the slit direction is wider than a diffusion range of the pattern light in a direction crossing the slit direction;
ophthalmological equipment including;
前記イメージセンサは、2次元的に配列された複数の受光ピクセルを含み、
前記スリット方向に配列された発光ピクセルの発光ピクセル周期をΛiとし、前記開口方向に配列された受光ピクセルの受光ピクセル周期をΛdとしたとき、前記戻り光の受光面におけるピクセルサイズ比Qは、(Λd/Λi)であり、
前記イメージセンサにおける前記開口方向の開口率をRdとし、前記投影部における前記スリット方向の開口率をRiとし、前記スリット方向に配列された発光ピクセルのピクセル間ギャップをGiとし、前記受光ピクセルの前記開口方向のサイズをPdとしたとき、(Gi/Pd)に起因した受光レベルの低下を所定の低減量RD以下に抑えるための前記パターン光の受光ムラ低減比が(1/2×RD×Q×(1-Rd)/Ri)で表されるとき、RDが0.03であり、且つ、Rd及びRiが0.05であり、
前記拡散部は、前記受光ムラ低減比が0.285×Q以下になるように前記スリット方向に前記パターン光の光量分布の平滑化を行う
ことを特徴とする請求項1に記載の眼科装置。
The image sensor includes a plurality of light receiving pixels arranged two-dimensionally,
When the light-emitting pixel period of the light-emitting pixels arranged in the slit direction is Λi, and the light-receiving pixel period of the light-receiving pixels arranged in the aperture direction is Λd, the pixel size ratio Q on the light-receiving surface of the returned light is ( Λd/Λi),
The aperture ratio in the aperture direction in the image sensor is Rd, the aperture ratio in the slit direction in the projection section is Ri, the inter-pixel gap between light emitting pixels arranged in the slit direction is Gi, and the aperture ratio in the light receiving pixel is Rd. When the size in the aperture direction is Pd, the light receiving unevenness reduction ratio of the patterned light is (1/2 x RD x Q ×(1-Rd)/Ri), RD is 0.03, and Rd and Ri are 0.05,
The ophthalmologic apparatus according to claim 1, wherein the diffusion section smoothes the light amount distribution of the pattern light in the slit direction so that the light reception unevenness reduction ratio is 0.285×Q or less.
前記イメージセンサは、2次元的に配列された複数の受光ピクセルを含み、
前記スリット方向に配列された発光ピクセルの発光ピクセル周期をΛiとし、前記開口方向に配列された受光ピクセルの受光ピクセル周期をΛdとしたとき、前記戻り光の受光面におけるピクセルサイズ比Qは、(Λd/Λi)であり、
前記イメージセンサにおける前記開口方向の開口率をRdとし、前記投影部における前記スリット方向の開口率をRiとし、前記スリット方向に配列された発光ピクセルのピクセル間ギャップをGiとし、前記受光ピクセルの前記開口方向のサイズをPdとしたとき、(Gi/Pd)に起因した受光レベルの低下を所定の低減量RD以下に抑えるための前記パターン光の受光ムラ低減比が(1/2×RD×Q×(1-Rd)/Ri)で表されるとき、RDが0.08であり、且つ、Rd及びRiが0.05であり、
前記拡散部は、前記パターン光の受光ムラ低減比が0.76×Q以下になるように前記スリット方向に前記パターン光の光量分布の平滑化を行う
ことを特徴とする請求項1に記載の眼科装置。
The image sensor includes a plurality of light receiving pixels arranged two-dimensionally,
When the light-emitting pixel period of the light-emitting pixels arranged in the slit direction is Λi, and the light-receiving pixel period of the light-receiving pixels arranged in the aperture direction is Λd, the pixel size ratio Q on the light-receiving surface of the returned light is ( Λd/Λi),
The aperture ratio in the aperture direction in the image sensor is Rd, the aperture ratio in the slit direction in the projection section is Ri, the inter-pixel gap between light emitting pixels arranged in the slit direction is Gi, and the aperture ratio in the light receiving pixel is Rd. When the size in the aperture direction is Pd, the light receiving unevenness reduction ratio of the patterned light is (1/2 x RD x Q ×(1-Rd)/Ri), RD is 0.08, and Rd and Ri are 0.05,
The diffusion unit smoothes the light amount distribution of the patterned light in the slit direction so that the reception unevenness reduction ratio of the patterned light is 0.76×Q or less. Ophthalmology equipment.
前記拡散部は、前記パターン光の光路に配置された拡散フィルタを含む
ことを特徴とする請求項1~請求項3のいずれか一項に記載の眼科装置。
The ophthalmologic apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the diffusion section includes a diffusion filter placed in the optical path of the patterned light.
前記拡散部は、前記パターン光の光路に配置された複屈折板を含む
ことを特徴とする請求項1~請求項4のいずれか一項に記載の眼科装置。
The ophthalmologic apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the diffusion section includes a birefringence plate disposed in the optical path of the patterned light.
前記拡散部は、前記パターン光の光路に配置された回折光学素子を含む
ことを特徴とする請求項1~請求項5のいずれか一項に記載の眼科装置。
The ophthalmologic apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the diffusing section includes a diffractive optical element disposed in the optical path of the patterned light.
前記拡散部は、前記パターン光の光路に配置された光学レンズを含み、前記光学レンズの収差を用いて前記パターン光を拡散する
ことを特徴とする請求項1~請求項6のいずれか一項に記載の眼科装置。
Any one of claims 1 to 6, wherein the diffusion section includes an optical lens disposed on the optical path of the patterned light, and diffuses the patterned light using an aberration of the optical lens. The ophthalmological device described in .
前記光学レンズの光軸は、前記パターン光の光路に対して傾斜するように配置されている
ことを特徴とする請求項7に記載の眼科装置。
The ophthalmologic apparatus according to claim 7, wherein the optical axis of the optical lens is arranged to be inclined with respect to the optical path of the pattern light.
前記拡散部は、前記パターン光の光路に対して傾斜するように配置された平行平面板を含む
ことを特徴とする請求項1~請求項8のいずれか一項に記載の眼科装置。
The ophthalmologic apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein the diffusion section includes a parallel plane plate arranged to be inclined with respect to the optical path of the patterned light.
前記パターン光発生部は、
光源と、
前記光源からの光を空間的に変調することにより前記パターン光を生成する空間光変調器と、
を含む
ことを特徴とする請求項1~請求項9のいずれか一項に記載の眼科装置。
The pattern light generating section is
a light source and
a spatial light modulator that generates the patterned light by spatially modulating light from the light source;
The ophthalmological device according to any one of claims 1 to 9, characterized in that it comprises:
JP2019164130A 2019-09-10 2019-09-10 ophthalmology equipment Active JP7431000B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019164130A JP7431000B2 (en) 2019-09-10 2019-09-10 ophthalmology equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019164130A JP7431000B2 (en) 2019-09-10 2019-09-10 ophthalmology equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021040851A JP2021040851A (en) 2021-03-18
JP7431000B2 true JP7431000B2 (en) 2024-02-14

Family

ID=74862750

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019164130A Active JP7431000B2 (en) 2019-09-10 2019-09-10 ophthalmology equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7431000B2 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004290287A (en) 2003-03-26 2004-10-21 Topcon Corp Corneal endothelial cell imaging unit
JP2005237901A (en) 2004-03-01 2005-09-08 Nidek Co Ltd Ophthalmological device
WO2012172907A1 (en) 2011-06-14 2012-12-20 株式会社トプコン Slit-lamp microscope

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004290287A (en) 2003-03-26 2004-10-21 Topcon Corp Corneal endothelial cell imaging unit
JP2005237901A (en) 2004-03-01 2005-09-08 Nidek Co Ltd Ophthalmological device
WO2012172907A1 (en) 2011-06-14 2012-12-20 株式会社トプコン Slit-lamp microscope

Also Published As

Publication number Publication date
JP2021040851A (en) 2021-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5259484B2 (en) Fundus photographing device
JP7414852B2 (en) Ophthalmological device and its control method
JP5654271B2 (en) Ophthalmic equipment
JP2004329360A (en) Ophthalmologic instrument
JP6422629B2 (en) Fundus photographing device
JP2020006172A (en) Ocular fundus imaging apparatus
JP2011115301A (en) Fundus imaging apparatus
JP7431000B2 (en) ophthalmology equipment
JP7226426B2 (en) Fundus camera
US20230023425A1 (en) Ophthalmic apparatus
WO2021049428A1 (en) Ophthalmology device, and control method, and program therefor
WO2021132588A1 (en) Scanning optical fundus imaging device
JP7430999B2 (en) Ophthalmological device and its control method
JP7056242B2 (en) Fundus photography device
WO2021182321A1 (en) Ophthalmic device, and control method and program therefor
JP7435961B2 (en) fundus imaging device
WO2018186469A1 (en) Fundus photography device
JP7460406B2 (en) Ophthalmological device, its control method, and program
JP6937536B1 (en) Fundus photography device
WO2021187162A1 (en) Ophthalmology device, and control method and program therefor
JP2021040850A (en) Ophthalmologic apparatus and control method thereof
WO2021049243A1 (en) Ophthalmic device
WO2023067853A1 (en) Ophthalmologic device
JP2022059765A (en) Ophthalmologic apparatus, control method of ophthalmologic apparatus and program
JP6325684B2 (en) Observation device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220729

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230331

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230425

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230613

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230912

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231031

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240123

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20240201

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7431000

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150