JP7428819B2 - 外観検査のためのモデル作成装置及び外観検査装置 - Google Patents

外観検査のためのモデル作成装置及び外観検査装置 Download PDF

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Description

本発明は、外観検査のためのモデル作成装置及び外観検査装置に関する。
工場等の製造現場では、製造ラインにおいて製造される製品の外観検査を行っている(例えば、特許文献1)。製品の外観検査を行うためには、製品を撮像した画像に基づいて正常な製品の画像であるか、または異常な製品の画像であるかを分類する機械学習のモデルを作成しておく必要がある。
このような機械学習のモデルを作成する際には、予め、多くの正常な製品の画像と、多くの異常な製品の画像とを、それぞれ収集する。そして、収集した画像を用いて機械学習を行う。異常な製品の画像については、画像の中の更にどの部分に異常があるのかまでをも特定したいケースが多い。そのような場合には、異常な製品の画像内の異常個所を示すラベル画像を予め作成する必要がある。
特開2014-190821号公報
製造現場で製造される製品の多くは正常な製品である。そのため、正常な製品の画像を収集することは容易である。これに対して、異常な製品が製造される頻度は比較的低い。そのため、異常な製品の画像を多数収集することは困難である。意図的に異常な製品を製造することで異常な製品の画像を多数収集することもできなくもないが、廃棄する製品を増やすことになるためコスト面で問題がある。
また、製品の異常には、例えば、削り残しや削りすぎ、工具の摩耗による表面の品質の低下、部分的な破損等、多くの種類がある。しかしながら、上記したように異常な製品が製造される頻度は低いため、これらの様々な製品の異常を検出できる機械学習のモデルを作成するために必要とされる画像を収集することはやはり困難である。更に、これらの異常が製品の異なる位置に現れる場合もあるため、異常な製品の異常個所を示すラベル画像を収集することまで考えると、多大な労力をかける必要がある。
そこで、正常な製品の画像に基づいて、容易に外観検査に用いるモデルを作成する技術が望まれている。
本発明の一態様によるモデル作成装置は、正常な製品の画像から、異常な製品の画像と、異常個所を示すラベル画像とを自動的に作成する。そして、作成した異常な製品の画像と、元の正常な製品の画像とを用いて、外観検査に用いる1つのモデルを作成する。作成するモデルは、異常な製品の画像から、元の正常な製品の画像、並びに、異常箇所を示す画像及び異常確率を示す画像の少なくともいずれかを推定するモデルである。かかるモデルの作成には、表現学習の特徴を生かした学習方法を用いる。より具体的には、通常のラベル画像に加えて、当該ラベル画像に関連する他の画像を学習モデルの出力データに加えることで、効率的且つ効果的な学習を行う。本発明の一態様によるモデル作成装置は、上記工程を実行することで1乃至複数の正常な製品の画像に基づいて外観検査に用いるモデルを自動的に作成することができる。
そして、本発明の一態様は、外観検査に用いるモデルを作成するモデル作成装置であって、正常画像データを取得するデータ取得部と、正常画像データに対する画像の加工を行うことで異常画像データを作成する異常画像作成部と、前記異常画像作成部による画像の加工内容に基づいて異常箇所を示すラベル画像データを作成するラベル画像作成部と、前記異常画像データを入力データとし、前記異常画像データを作成する元となった正常画像データ及び前記ラベル画像データを出力データとする教師データを作成し、該教師データに基づく機械学習を行うことで学習モデルを作成するように機械学習装置に指令する学習指令部と、を備えたモデル作成装置である。
本発明の他の態様は、製品の画像に基づいて該製品の外観検査を行う外観検査装置であって、前記製品の画像データを取得するデータ取得部と、異常画像データと該異常画像データを作成する元となった正常画像データ及び異常箇所を示すラベル画像データとの相関性を学習した学習モデルを用いて、前記製品の画像データから、修復画像データ及び異常箇所を示すラベル画像データの推定を行うように機械学習装置に指令し、推定された修復画像データ及び異常箇所を示すラベル画像データを出力する推定指令部と、を備えた外観検査装置である。
本発明の一態様により、異常な製品の画像の収集コストを大幅に削減できる。そのため、外観検査に用いるモデルの作成作業に掛かるコストを大幅に削減することができる。
一実施形態によるモデル作成装置の概略的なハードウェア構成図。 一実施形態によるモデル作成装置の概略的な機能ブロック図。 所定の幾何学的な画像を用いて異常画像データを作成する例。 マスキングの例を示す図。 製品の画像を変形する例を示す図。 製品の画像を変形する他の例を示す図。 ラベル画像の作成例を示す図である。 一変形例によるモデル作成装置の概略的な機能ブロック図。 他の変形例によるモデル作成装置の概略的な機能ブロック図。 一実施形態による外観検査装置の概略的な機能ブロック図。
以下、本発明の実施形態を図面と共に説明する。
図1は本発明の一実施形態によるモデル作成装置の要部を示す概略的なハードウェア構成図である。
本実施形態によるモデル作成装置1は、例えば、制御用プログラムに基づいて産業機械を制御する制御装置として実装することができ、または、制御用プログラムに基づいて産業機械を制御する制御装置に併設されたパソコンや、有線/無線のネットワークを介して制御装置と接続されたパソコン、セルコンピュータ、フォグコンピュータ6、クラウドサーバ7の上に実装することができる。本実施形態では、モデル作成装置1を、ネットワーク介して制御装置と接続されたパソコンの上に実装した例を示す。
本実施形態によるモデル作成装置1が備えるCPU11は、モデル作成装置1を全体的に制御するプロセッサである。CPU11は、バス22を介してROM12に格納されたシステム・プログラムを読み出し、該システム・プログラムに従ってモデル作成装置1全体を制御する。RAM13には一時的な計算データや表示データ、及び外部から入力された各種データ等が一時的に格納される。
不揮発性メモリ14は、例えば図示しないバッテリでバックアップされたメモリやSSD(Solid State Drive)等で構成され、モデル作成装置1の電源がオフされても記憶状態が保持される。不揮発性メモリ14には、インタフェース15を介して外部機器72から読み込まれたデータ、入力装置71を介して入力されたデータ、ネットワーク5を介して産業機械3から取得されたデータ等が記憶される。記憶されるデータには、例えば産業機械3に取り付けられた視覚センサ等のセンサ4により撮像された製品の画像データが含まれていてよい。不揮発性メモリ14に記憶されたデータは、実行時/利用時にはRAM13に展開されても良い。また、ROM12には、公知の解析プログラムなどの各種システム・プログラムがあらかじめ書き込まれている。
インタフェース15は、モデル作成装置1のCPU11とUSB装置等の外部機器72と接続するためのインタフェースである。外部機器72側からは、例えば各産業機械により製造される製品に係るデータ(例えば、正常な製品の画像データや、製品の形状を示すCADデータ等)を読み込むことができる。また、モデル作成装置1内で編集したデータ等は、外部機器72を介してCFカード等の外部記憶手段に記憶させることができる。
インタフェース20は、モデル作成装置1のCPUと有線乃至無線のネットワーク5とを接続するためのインタフェースである。ネットワーク5には、産業機械3やフォグコンピュータ、クラウドサーバ等が接続され、モデル作成装置1との間で相互にデータのやり取りを行っている。
表示装置70には、メモリ上に読み込まれた各データ、プログラム等が実行された結果として得られたデータ、後述する機械学習装置2から出力されたデータ等がインタフェース17を介して入力して表示される。また、キーボードやポインティングデバイス等から構成される入力装置71は、作業者による操作に基づく指令,データ等をインタフェース18を介してCPU11に渡す。
インタフェース21は、CPU11と機械学習装置2とを接続するためのインタフェースである。機械学習装置2は、機械学習装置2全体を統御するプロセッサ201と、システム・プログラム等を記憶したROM202、機械学習に係る各処理における一時的な記憶を行うためのRAM203、及び学習モデル等の記憶に用いられる不揮発性メモリ204を備える。機械学習装置2は、インタフェース21を介してモデル作成装置1で取得可能なデータ(例えば、正常な製品の画像データ、異常な製品の画像データ、ラベルデータ等)を観測することができる。また、モデル作成装置1は、インタフェース21を介して機械学習装置2から出力される処理結果を取得し、取得した結果を記憶したり、表示したり、他の装置にネットワーク5等を介して送信する。
図2は、本発明の一実施形態によるモデル作成装置1が備える機能を概略的なブロック図として示したものである。
本実施形態によるモデル作成装置1が備える各機能は、図1に示したモデル作成装置1が備えるCPU11がシステム・プログラムを実行し、モデル作成装置1の各部の動作を制御することにより実現される。
本実施形態のモデル作成装置1は、データ取得部100、異常画像作成部110、前処理部120、ラベル画像作成部130、及び学習指令部140を備える。また、モデル作成装置1に接続された機械学習装置2は、学習部206を備える。更に、モデル作成装置1のRAM13乃至不揮発性メモリ14には、データ取得部100が産業機械3等から取得したデータを記憶するための領域として取得データ記憶部300が予め用意されている。また、機械学習装置2のRAM203乃至不揮発性メモリ204上には、学習部206が作成した学習モデル212を記憶するための領域として学習モデル記憶部210が予め用意されている。
データ取得部100は、図1に示したモデル作成装置1が備えるCPU11がROM12から読み出したシステム・プログラムを実行し、主としてCPU11によるRAM13、不揮発性メモリ14を用いた演算処理と、インタフェース15、18又は20による入力制御処理とが行われることで実現される。データ取得部100は、産業機械3に取り付けられたセンサ4により撮像された製品の画像データを取得するようにしてもよいし、または、ネットワーク5を介して産業機械3から直接データを取得しても良いし、さらには、外部機器72や、フォグコンピュータ6、クラウドサーバ7等が取得して記憶しているデータを取得しても良い。データ取得部100が取得するデータは、少なくとも正常な製品の画像データ(以下、正常画像データとする)を含む。データ取得部100が取得するデータは、異常な製品の画像データ(以下、異常画像データとする)を含んでいても良いが、その場合、データ取得部100が取得する画像データには、正常画像データであることを示すラベルと、異常画像データであることを示すラベルが付与されていることが望ましい。データ取得部100は、例えばオペレータが目視で確認した正常画像データを、オペレータの操作に基づいて取得するようにしても良い。また、オペレータの操作を受け付けて、取得した画像データに対して、正常画像データであることを示すラベルと、異常画像データであることを示すラベルを付与できるようにしても良い。データ取得部100が取得した製品の画像データは、取得データ記憶部300に記憶される。
異常画像作成部110は、図1に示したモデル作成装置1が備えるCPU11がROM12から読み出したシステム・プログラムを実行し、主としてCPU11によるRAM13、不揮発性メモリ14を用いた演算処理が行われることで実現される。異常画像作成部110は、取得データ記憶部300に記憶された正常画像データに基づいて、異常画像データを作成する。異常画像作成部110は、例えば、正常画像データ内の製品の画像の一部に所定の図形を重畳することで異常画像データを作成しても良いし、または、正常画像データに対して、画像の一部の色相・彩度・明度を変更したり、モザイクをかけたりする等の画像の加工を行うことで異常画像データを作成しても良いし、更には、正常画像データ内の製品の画像に所定の図形を追加乃至削減(変形)することで異常画像データを作成しても良い。
図3は、正常画像データ内の製品の画像の一部に所定の図形(幾何学的な図形)を重畳して異常画像データを作成する例である。
重畳する所定の図形は、予めモデル作成装置1のRAM13乃至不揮発性メモリ14に記憶しておいても良いし、異常画像データを作成する段階で所定の図形として幾何学的形状の図形を作成するようにしても良い。所定の図形の色は、製品の色とは異なるものであれば、製品の色に類似した色であっても良い。製品の画像のどの位置に所定の図形を重畳するかについては、例えば乱数値を算出して決定しても良い。このようにして追加された所定の図形は、製品の加工品質が低下している部分や、製品内の欠損している部分等を表現する。
異常画像作成部110は、所定の図形を製品の画像に重畳する際には、所定の透過度で半透明合成するようにしても良いし、または、所定の図形を重畳する代わりに、製品の画像に重畳する所定の図形の範囲の色相や彩度、明度を変更したり、モザイクをかけたりしても良い。いずれの手法であっても、通常の製品の加工とは異なる加工がされた部分(品質が低下している部分)を表現することができる。
異常画像作成部110は、正常画像データ内の製品の画像の一部に所定の図形を重畳する際に、製品の形状を考えて所定の図形に対してマスク処理を施しても良い。例えば、図4に例示されるように、所定の図形の一部が製品の画像からはみ出る場合に、所定の図形に対してマスク処理を施して、製品の画像と重畳する部分のみが表示されるようにしても良い。正常画像データの内の製品の画像の範囲については、エッジ処理等を組み合わせた既知の手法で正常画像データから抽出するようにしても良い。また、正常画像データの内の製品の画像の範囲については、CADデータ等に基づくマッチング処理により正常画像データから抽出するようにしても良い。
図5は、正常画像データ内の製品の画像に所定の図形を追加することで異常画像データを作成する例である。
追加する所定の図形は、正常画像データ内の製品の画像に隣接して配置されることが望ましい。追加する所定の図形の形状は、予めモデル作成装置1のRAM13乃至不揮発性メモリ14に記憶しておいても良いし、異常画像データを作成する段階で所定の図形として幾何学的形状の図形を作成するようにしても良い。追加する所定の図形は、正常画像データ内の製品の画像に隣接して配置されることが望ましい。追加される所定の図形の色は、製品の色に類似した色であって良い。また、製品の画像のどの位置に所定の図形を追加するかについては、例えば乱数値を算出して決定しても良い。このようにして追加された所定の図形は、製品の削り残しや大きなバリ等を表現する。
図6は、正常画像データ内の製品の画像から所定の図形を削減することで異常画像データを作成する例である。
削減する所定の図形の形状は、予めモデル作成装置1のRAM13乃至不揮発性メモリ14に記憶しておいても良いし、異常画像データを作成する段階で所定の図形として幾何学的形状の図形を作成するようにしても良い。削減する所定の図形は、正常画像データの内の製品の画像の端部を削減するものであることが望ましい。削減する所定の図形の色は、正常画像データ内の背景色に類似した色であって良い。また、製品の画像のどの位置を削減するかについては、例えば乱数値を算出して決定しても良い。このようにして削減された所定の図形は、製品の欠損や削り過ぎ等を表現する。
異常画像作成部110は、取得データ記憶部300に記憶される複数の正常画像データに基づいて異常画像データを作成しても良いしまたは、1つの正常画像データに基づいて、所定の図形の形状や重畳する位置、追加や削減する図形の形状や位置等を変化させた複数の異常画像データを作成して良い。異常画像作成部110は、機械学習装置2が異常画像データ内の製品の異常個所を学習するために十分な数の異常画像を作成する。この学習に十分な数は、予めオペレータにより設定しておくと良い。
前処理部120は、図1に示したモデル作成装置1が備えるCPU11がROM12から読み出したシステム・プログラムを実行し、主としてCPU11によるRAM13、不揮発性メモリ14を用いた演算処理が行われることで実現される。前処理部120は、取得データ記憶部300に記憶される正常画像データや、異常画像作成部110が作成した異常画像データに対して、所定の画像処理を施す。前処理部120が異常画像データに対して施す所定の画像処理は、少なくとも正常画像データ/異常画像データの特徴を抽出しやすい画像処理方法を含む。例えば、前処理部120は、正常画像データ/異常画像データに写っている物体や異常箇所の輪郭を識別しやすくなるように、正常画像データ/異常画像データに対してエッジ強調処理を施しても良い。また、前処理部120は、正常画像データ/異常画像データに写っている物体の姿勢や向きが略同一になるように、2次元乃至3次元の回転処理を施しても良い。前処理部120は、正常画像データ/異常画像データに写っている物体の各部位の範囲が明確になるように、正常画像データ/異常画像データの輝度や彩度を調整する処理を施しても良い。このように、人の視覚系(ヒューマンビジョン)が自動的に行っている処理を正常画像データ/異常画像データに加えることで、学習や推定の精度をある程度向上させることができる。なお、前処理部120は必ずしも必須の構成ではないが、前処理部120を設けることで、画像に基づく学習に必要なデータの数を削減することができる。
ラベル画像作成部130は、図1に示したモデル作成装置1が備えるCPU11がROM12から読み出したシステム・プログラムを実行し、主としてCPU11によるRAM13、不揮発性メモリ14を用いた演算処理が行われることで実現される。ラベル画像作成部130は、異常画像データの作成に用いられた所定の図形に基づいて異常箇所を示すラベル画像データを作成する。ラベル画像データは、図7に例示されるように、画像データの内で所定の図形が占める箇所を第1の色彩(例えば白)、それ以外の箇所を第2の色彩(例えば黒)の画像データとして作成すればよい。このようにして作成したラベル画像データは、第1の色彩で示される箇所を製品の画像の中の異常箇所として示すものとなる。
学習指令部140は、図1に示したモデル作成装置1が備えるCPU11がROM12から読み出したシステム・プログラムを実行し、主としてCPU11によるRAM13、不揮発性メモリ14を用いた演算処理と、インタフェース21を用いた入出力制御処理が行われることで実現される。学習指令部140は、前処理部120により前処理が施された異常画像データと、該異常画像データを作成する元となった正常画像データ、及びラベル画像作成部130が作成したラベル画像データに基づいた学習を行うことで学習モデルを作成するように機械学習装置2に指令する。学習指令部140は、例えば異常画像データを入力データとし、該異常画像データを作成する元となった正常画像データ、及びラベル画像データを出力データとした教師データを複数作成し、作成した教師データに基づいて学習を行うように機械学習装置2に指令する。
ここで、出力データとして、ラベル画像データだけではなく、該異常画像データを作成する元となった正常画像データも用いることに留意されたい。通常の学習では、異常画像データからラベル画像を推論するモデルを作成すれば良い。しかしながら、そのような学習をする場合、単純に学習を進めても異常画像データ内の異常箇所の特徴をうまく発見することができない場合が多い。そこで、出力データとして、異常箇所を示すラベル画像データに正常画像データを加えることで、異常画像データから正常画像データ及びラベル画像データを並列して推定する学習モデルを作成させる。このようにすることで、学習モデル内に正常画像データの特徴表現を抽出する構造が作成され、その構造がラベル画像データを推定する際にも用いられるようになる。そのため、精度よく異常箇所を示すラベル画像データを推定することが可能となる。また、出力データ側に正常画像データを置くことで、実際に外観検査を行う場合に、産業機械3で撮像された画像データ(正常画像データであるか異常画像データであるかがわからない画像データ)のみを学習モデルの入力として異常箇所を示すラベル画像データを推定することを可能とする学習モデルを作成できる。ラベル画像データを推定するために正常画像データを利用する場合、例えば入力データ側に正常画像データを置くやり方もあるが、そのようにして作成された学習モデルでは、産業機械3で撮像された画像データに加えて正常な品から撮像された正常画像データを用意しないと異常箇所を示すラベル画像データを推定することができない。この点においても、本実施形態により作成される学習モデルは優れていると考えられる。
機械学習装置2が備える学習部206は、図1に示した機械学習装置2が備えるプロセッサ201がROM202から読み出したシステム・プログラムを実行し、主としてプロセッサ201によるRAM203、不揮発性メモリ204を用いた演算処理が行われることにより実現される。学習部206は、学習指令部140から受けた指令に応じ、教師データを用いた機械学習を行うことで学習モデル212を作成する。学習部206は、作成した学習モデル212を学習モデル記憶部210に記憶する。学習部206が行う機械学習は公知の教師あり学習である。学習モデル212は、例えば多層ニューラルネットワーク等が挙げられる。学習部206が作成する学習モデル212は、異常画像データと、元の正常画像データ及び異常箇所を示すラベル画像データとの相関性を学習したモデルである。学習モデル212は、異常画像データから、元の正常画像データ及び異常箇所を示すラベル画像データを推定するモデルとなる。なお、機械学習の技術により画像データから他の画像データを推定する技術については、既に十分に公知となっているため本明細書による詳細な説明は省略する。
上記構成を備えた本実施形態によるモデル作成装置1は、容易に収集可能な正常画像データに基づいて異常画像データを作成し、作成した異常画像データに基づいた機械学習を行ことで、外観検査に用いるモデルを自動的に作成することができる。そのため、機械学習を行うに際して異常な製品の画像の収集コストを大幅に削減でき、効率の良い機械学習を行うことができる。モデル作成装置1は、異常画像データに基づいて、正常画像データと、異常箇所を示すラベル画像データとを推定できる1つの学習モデルを作成する。この学習モデル内には、学習の過程で正常画像データを推定する構造と、ラベル画像データを推定する構造とが自然と形成され、それぞれが推定する特徴表現を互いに活用するものとなる。そのため、効率的且つ効果的に学習を進めることができる。また、1つの学習モデルで正常画像データの推定と、異常箇所を示すラベル画像データの推定が行えるため、プロセッサやメモリ、不揮発性メモリなどのコンピュータ資源を効率的に用いることができる。
本実施形態によるモデル作成装置1の一変形例として、ラベル画像作成部130は、ラベル画像データとして異常画像データ内の画素毎に所定のラベルやカテゴリ(本発明においては、製品の画像の異常箇所)に属する確率を色の違いなどで表すものとして作成しても良い。この場合、学習指令部140は、異常画像データを入力データとし、該異常画像データを作成する元となった正常画像データ、及び異常箇所の異常確率を示すラベル画像データを出力データとした教師データを複数作成し、作成した教師データに基づいて学習を行うように機械学習装置2に指令する。この時、学習モデル212は、画像データ内の画素に対してラベルやカテゴリ(本発明においては、製品の画像の異常箇所)を関連付けする公知のセマンティックセグメンテーション(Semantic Segmentation)の技術を用いて実装しても良い。また、学習モデル212は、画像データ内の画素毎に製品の画像の異常箇所である確率を示すように公知の画像回帰分析を行うようにしても良い。なお、上記した機械学習に係る技術については、既に十分に公知となっているため本明細書による詳細な説明は省略する。
本変形例によるモデル作成装置1は、産業機械3で撮像された画像データに基づいて、該画像データ内の異常箇所を、その異常確率に応じた所定の色で示すラベル画像データを推定する。このような場合においても、出力データ側に正常画像データを置くことで、効率的且つ効果的に学習を進めることができる。
なお、ラベル画像作成部130は、ラベル画像データとして、異常箇所を示すラベル画像データと、画像内の異常箇所の異常確率を示すラベル画像データとの両方を作成するようにしても良い。この場合、学習指令部140は、異常画像データを入力データとし、該異常画像データを作成する元となった正常画像データ、異常箇所を示すラベル画像データ、及び異常箇所の異常確率を示すラベル画像データを出力データとした教師データを複数作成し、作成した教師データに基づいて学習を行うように機械学習装置2に指令する。このような構成とすることで、学習モデル212内には、学習の過程で正常画像データを推定する構造、異常箇所を示すラベル画像データを推定する構造、及び異常箇所の異常確率を示すラベル画像データを推定する構造がそれぞれ自然と形成され、それぞれが推定する特徴表現を互いに活用するものとなる。そのため、より効率的且つ効果的に学習を進めることが期待される。
本実施形態によるモデル作成装置の他の変形例として、図8に例示されるように、モデル作成装置1は機械学習装置2を内蔵していても良い。
また、図9に例示されるように、ネットワーク5を介してモデル作成装置1と機械学習装置2が接続される形態をとることもできる。後者の場合、機械学習装置2は、フォグコンピュータ6やクラウドサーバ7などのコンピュータ内に実装しても良い。このようにすることで、機械学習装置2を複数のオペレータ間で共有して用いることが可能となり、機械学習装置2の導入コストを低減することができる。
図10は、本発明のモデル作成装置1が作成した学習モデル212を用いて製品の外観検査を行う外観検査装置9の備える機能を概略的なブロック図として示したものである。本実施形態による外観検査装置9は、モデル作成装置1と同様に、制御装置やパソコン、セルコンピュータ、フォグコンピュータ6、クラウドサーバ7等の上に実装することができる。以下では、モデル作成装置1と同様に、外観検査装置9が図1に示されたハードウェアを備えたパソコンの上に実装されているものとして説明する。
本実施形態の外観検査装置9は、データ取得部100、前処理部120、推定指令部160を備える。また、外観検査装置9に接続された機械学習装置2は、推定部207を備える。更に、機械学習装置2のRAM203乃至不揮発性メモリ204上には、モデル作成装置1で作成された学習モデル212を記憶した領域として学習モデル記憶部210が予め用意されている。
本実施形態による外観検査装置9が備える前処理部120は、上記したモデル作成装置1が備える前処理部120と同様の機能を備える。
本実施形態による外観検査装置9が備えるデータ取得部100は、図1に示したモデル作成装置1が備えるCPU11がROM12から読み出したシステム・プログラムを実行し、主としてCPU11によるRAM13、不揮発性メモリ14を用いた演算処理と、インタフェース15、18又は20による入力制御処理とが行われることで実現される。データ取得部100は、産業機械3に取り付けられたセンサ4により撮像された製品の画像データを取得するようにしても良いし、または、ネットワーク5を介して産業機械3から直接データを取得しても良いし、さらには、外部機器72や、フォグコンピュータ6、クラウドサーバ7等が取得して記憶しているデータを取得しても良い。データ取得部100が取得するデータは、正常な製品の画像データ及び異常な製品の画像データを含み得る。
推定指令部160は、図1に示したモデル作成装置1が備えるCPU11がROM12から読み出したシステム・プログラムを実行し、主としてCPU11によるRAM13、不揮発性メモリ14を用いた演算処理と、インタフェース21を用いた入出力制御処理が行われることで実現される。推定指令部160は、データ取得部100が取得した画像データに基づいて、該画像データの異常箇所を修復した正常画像データ(以下、修復画像データと呼ぶ)及び該画像データ内の異常箇所を示すラベル画像データを推定するように機械学習装置2に指令する。推定指令部160は、指令に応じて機械学習装置2で推定された修復画像データ及び異常箇所を示すラベル画像データを受け取る。そして、受け取った修復画像データ及びラベル画像データを表示装置70表示出力する。推定指令部160は推定された修復画像データ及び異常箇所を示すラベル画像データを、ネットワークを介して他のコンピュータに送信出力するようにしても良い。
機械学習装置2が備える推定部207は、図1に示した機械学習装置2が備えるプロセッサ201がROM202から読み出したシステム・プログラムを実行し、主としてプロセッサ201によるRAM203、不揮発性メモリ204を用いた演算処理が行われることにより実現される。推定部207は、推定指令部160から受けた指令に応じ、画像データに基づいて学習モデル212を用いた推定処理を実行する。推定部207は、例えば推定指令部160から入力された画像データを学習モデル212の入力データとし、学習モデル212から出力された修復画像データ及び異常箇所を示すラベル画像データを推定されたデータとして推定指令部160に出力する。
上記構成を備えた本実施形態による外観検査装置9は、学習モデルを用いた1ステップの処理で製品の画像から正常な製品の画像及び異常箇所を示す画像を推定する。推定に用いるモデルは、上記したモデル作成装置1で作成されたものであり、その作成において異常画像データの収集に掛ける労力が必要なくなり、モデルの作成に掛かるコストが従来と比較して大幅に削減される。これは、新たな品の製造を行う場合等に、比較的早期に精度良く外観検査を行えるモデルが作成されることを意味する。そのため、製品開発の初期の段階から機械学習を用いた精度良い外観検査を開始することができる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上述した実施の形態の例のみに限定されることなく、適宜の変更を加えることにより様々な態様で実施することができる。
1 モデル作成装置
2 機械学習装置
3 産業機械
4 センサ
5 ネットワーク
6 フォグコンピュータ
7 クラウドサーバ
9 外観検査装置
11 CPU
12 ROM
13 RAM
14 不揮発性メモリ
15,17,18,20,21 インタフェース
22 バス
70 表示装置
71 入力装置
72 外部機器
100 データ取得部
110 異常画像作成部
120 前処理部
130 ラベル画像作成部
140 学習指令部
160 推定指令部
201 プロセッサ
202 ROM
203 RAM
204 不揮発性メモリ
206 学習部
207 推定部
210 学習モデル記憶部
212 学習モデル
300 取得データ記憶部

Claims (4)

  1. 外観検査に用いるモデルを作成するモデル作成装置であって、
    正常画像データを取得するデータ取得部と、
    正常画像データに対する画像の加工を行うことで異常画像データを作成する異常画像作成部と、
    前記異常画像作成部による画像の加工内容に基づいて異常箇所を示すラベル画像データを作成するラベル画像作成部と、
    前記異常画像データを入力データとし、前記異常画像データを作成する元となった正常画像データ及び前記ラベル画像データを出力データとする教師データを作成し、該教師データに基づく機械学習を行うことで学習モデルを作成するように機械学習装置に指令する学習指令部と、
    を備えたモデル作成装置。
  2. 前記機械学習装置を備え、該機械学習装置は、
    学習指令部の指令に応じ、前記学習モデルを作成する学習部を備える、
    請求項1に記載のモデル作成装置。
  3. 前記ラベル画像データは、異常箇所の異常確率を示すラベル画像データである、
    請求項1に記載のモデル作成装置。
  4. 製品の画像に基づいて該製品の外観検査を行う外観検査装置であって、
    前記製品の画像データを取得するデータ取得部と、
    異常画像データと該異常画像データを作成する元となった正常画像データ及び異常箇所を示すラベル画像データとの相関性を学習した学習モデルを用いて、前記製品の画像データから、修復画像データ及び異常箇所を示すラベル画像データの推定を行うように機械学習装置に指令し、推定された修復画像データ及び異常箇所を示すラベル画像データを出力する推定指令部と、
    を備えた外観検査装置。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020184069A1 (ja) 2019-03-08 2020-09-17 日本電気株式会社 画像処理方法、画像処理装置、プログラム
JP2020155086A (ja) 2019-03-15 2020-09-24 日鉄テックスエンジ株式会社 画像処理装置、画像処理方法及び画像処理プログラム

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014190821A (ja) 2013-03-27 2014-10-06 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 欠陥検出装置および欠陥検出方法
JP6792842B2 (ja) * 2017-06-06 2020-12-02 株式会社デンソー 外観検査装置、変換データ生成装置、及びプログラム
US10789703B2 (en) * 2018-03-19 2020-09-29 Kla-Tencor Corporation Semi-supervised anomaly detection in scanning electron microscope images
JP7106391B2 (ja) * 2018-08-22 2022-07-26 株式会社Ye Digital 画像判定方法、画像判定装置および画像判定プログラム
KR102638267B1 (ko) * 2018-12-03 2024-02-21 삼성전자주식회사 반도체 웨이퍼 불량 분석 시스템 및 그것의 동작 방법
JP7176965B2 (ja) * 2019-02-01 2022-11-22 株式会社キーエンス 画像検査装置
JP7287791B2 (ja) * 2019-02-01 2023-06-06 株式会社キーエンス 画像検査装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020184069A1 (ja) 2019-03-08 2020-09-17 日本電気株式会社 画像処理方法、画像処理装置、プログラム
JP2020155086A (ja) 2019-03-15 2020-09-24 日鉄テックスエンジ株式会社 画像処理装置、画像処理方法及び画像処理プログラム

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