JP7427382B2 - interposer - Google Patents

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Description

本発明は、2つの電子部品(回路基板を含む)に挟まれて、それら2つの電子部品の各々に形成されている接続パッドに接してそれらの電子部品どうしを電気的に接続するインターポーザに関する。 The present invention relates to an interposer that is sandwiched between two electronic components (including a circuit board) and electrically connects the electronic components by contacting connection pads formed on each of the two electronic components.

従来より、2つの電子部品に挟まれて、それらの電子部品どうしを電気的に接続するインターポーザが知られている。このインターポーザは、配列された多数の貫通孔を有する板状のハウジングと、それら多数の貫通孔の各々に挿し込まれてハウジングに保持された多数のコンタクトとを備えている。 2. Description of the Related Art Interposers that are sandwiched between two electronic components and electrically connect the electronic components have been known. This interposer includes a plate-shaped housing having a large number of arranged through holes, and a large number of contacts that are inserted into each of the large number of through holes and held by the housing.

ここで、特許文献1には、プラスチック本体がオーバーモールドされた幅広の中央部から先端を除き一定幅のアームが上下に延びているコンタクトを備えたインターポーザが開示されている。 Here, Patent Document 1 discloses an interposer that includes a contact in which an arm having a constant width extends vertically from a wide central portion in which a plastic body is overmolded except for the tip.

特表2016-503946号公報Special table 2016-503946 publication

インターポーザを構成するコンタクトは、ハウジングの貫通孔内に配置されてハウジングに保持される基部を備えている。そして、そのコンタクトは、基部からハウジングの第1面および第2面にそれぞれ延出する2つのコンタクトビームを備えている。 The contacts constituting the interposer include a base portion that is disposed within the through hole of the housing and is held by the housing. The contact includes two contact beams extending from the base to the first and second surfaces of the housing, respectively.

それら2つのコンタクトビームは、上掲の特許文献1のように、例えば互いに同一形状に形成される。この特許文献1の場合、2つのコンタクトビームは、先端側ほど狭幅、すなわち先細りの形状を有する。また、それらのコンタクトビームは基部を貫通孔内に配置する必要上、基部よりも狭幅に形成される。また、隣接する貫通孔どうしを隔てる隔壁は、強度を保持するため、所定以上の厚みが必要である。このような事情から、隣接するコンタクトの間隔は隔壁以上の間隔となる。 The two contact beams are formed, for example, in the same shape as in Patent Document 1 listed above. In the case of this Patent Document 1, the two contact beams have a narrower width, that is, a tapered shape toward the tip end. Further, these contact beams are formed to have a narrower width than the base because it is necessary to arrange the base within the through hole. Further, the partition wall separating adjacent through holes needs to have a thickness of a predetermined value or more in order to maintain strength. Due to these circumstances, the distance between adjacent contacts is greater than the distance between the partition walls.

ところが、幅方向に隣接する2つのコンタクトを隔壁の厚みよりも狭めることが、電気的な特性の向上のために好ましいことがある。 However, in order to improve electrical characteristics, it may be preferable to make two contacts adjacent in the width direction narrower than the thickness of the partition wall.

本発明は、ハウジングの、隣接する貫通孔どうしを隔てる隔壁を所定厚み以上に保ちつつ、電気的な特性を向上させたインターポーザを提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an interposer in which electrical characteristics are improved while maintaining a partition wall separating adjacent through holes of a housing to a predetermined thickness or more.

上記目的を達成する本発明のインターポーザは、
2つの電子部品に挟まれて、該2つの電子部品の各々に形成されている接続パッドに接して該2つの電子部品どうしを電気的に接続するインターポーザであって、
前記2つの電子部品のうちの第1の電子部品側である上方を向いた上面と、前記2つの電子部品のうちの第2の電子部品側である下方を向いた下面と、上面と下面とに貫通する複数の貫通孔とを有するハウジング、および
貫通孔への圧入を担う左右に突き出た圧入部を有し上下方向および左右方向に平板状に広がる基部と、基部の上端につながりハウジング上面より外側に上方斜めに延出し先端部に第1の電気部品に接する第1の接点部を有する、左右方向の最大幅が基部の左右方向の最大幅よりも広い第1のコンタクトビームと、基部の下端につながりハウジング下面より外側に下方斜めに延出し先端部に第2の電気部品に接する第2の接点部を有する、左右の最大幅が基部の最大幅よりも狭い第2のコンタクトビームとを備えた複数のコンタクトを有し、
上記貫通孔が、
圧入部が貫通孔内に圧入された後の基部が接する平面状の第1の内壁面と、
第1の内壁面の左右それぞれの縁につながり、互いに向き合う第2の内壁面および第3の内壁面とを有し、
第2の内壁面と第3の内壁面が、
第2の内壁面と第3の内壁面双方の、第1の内壁面に隣接した第1部分の互いの間の間隔である第1の間隔が圧入部を壁面に食い込ませるだけの間隔を有し、
第2の内壁面と第3の内壁面双方の、上記第1部分に隣接した部分の互いの間の間隔が、圧入部が圧入された後の基部を、その基部の厚み方向に第1の内壁面との間に挟むように、第1の間隔よりも狭まり、
第2の内壁面と第3の内壁面双方の、圧入部が圧入された後の基部から離れた部分に、互いの間の間隔が第2のコンタクトビームの最大幅よりも広く、かつ、第1のコンタクトビームの最大幅よりも狭い部分を有することを特徴とする。
The interposer of the present invention that achieves the above object is
An interposer that is sandwiched between two electronic components and electrically connects the two electronic components by contacting connection pads formed on each of the two electronic components,
an upper surface facing upward that is a first electronic component side of the two electronic components; a lower surface facing downward that is a second electronic component side of the two electronic components; and an upper surface and a lower surface. a housing having a plurality of through-holes penetrating through the through-holes; a base having a press-fitting part protruding left and right that is responsible for press-fitting into the through-holes and spreading flat in the vertical direction and left-right direction; a first contact beam that extends outwardly and upwardly and has a first contact portion in contact with the first electric component at its tip portion, the maximum width in the left and right direction being wider than the maximum width in the left and right direction of the base; a second contact beam that is connected to the lower end and extends diagonally downward outward from the lower surface of the housing, has a second contact portion that contacts the second electrical component at the tip, and has a maximum width in the left and right sides that is narrower than the maximum width of the base; has multiple contacts with
The above-mentioned through hole is
a planar first inner wall surface that is in contact with the base after the press-fitting part is press-fitted into the through-hole ;
having a second inner wall surface and a third inner wall surface connected to the left and right edges of the first inner wall surface and facing each other;
The second inner wall surface and the third inner wall surface are
The first interval, which is the interval between the first portions of both the second inner wall surface and the third inner wall surface, which are adjacent to the first inner wall surface, is sufficient to allow the press -fit portion to bite into the wall surface. death,
The distance between the portions of both the second inner wall surface and the third inner wall surface adjacent to the first portion is such that the base portion after the press-fitting portion is press-fitted is the first portion in the thickness direction of the base portion. The gap is narrower than the first gap so as to be sandwiched between the inner wall surface and the inner wall surface.
The second inner wall surface and the third inner wall surface are provided with a second contact beam having a space between them that is wider than the maximum width of the second contact beam, and a second inner wall surface that is spaced apart from the base after the press-fitting part is press-fitted. The contact beam is characterized by having a narrower portion than the maximum width of the first contact beam.

本発明のインターポーザの場合、コンタクトを狭幅の第2のコンタクトビーム側から貫通孔に挿入して基部を貫通孔内に圧入する。こうすることで、隣接する貫通孔どうしの隔壁を所定厚み以上に保ちつつ、電気的な特性を向上させたインターポーザが実現する。 In the case of the interposer of the present invention, the contact is inserted into the through hole from the narrow second contact beam side, and the base is press-fitted into the through hole. By doing so, an interposer with improved electrical characteristics can be realized while maintaining the partition walls between adjacent through holes to a predetermined thickness or more.

ここで、本発明のインターポーザにおいて、互いに幅方向に隣接する2つの隣接コンタクトの第1のコンタクトビームどうしの最近接した部分の第1の間隔が2つの隣接コンタクトの基部が圧入される2つの貫通孔を隔てる隔壁の厚みよりも狭くなるように第1のコンタクトビームが幅広であることが好ましい。
Here, in the interposer of the present invention, the first distance between the closest portions of the first contact beams of two adjacent contacts that are adjacent to each other in the width direction is the two through holes into which the bases of the two adjacent contacts are press-fitted. Preferably, the first contact beam is wide so that it is narrower than the thickness of the partition wall separating the holes.

第1のコンタクトビームは、貫通孔への挿通が可能である必要はない。したがって、第1のコンタクトビームを、上記の第1の間隔が2つの貫通孔を隔てる隔壁の厚みよりも狭くなるように幅広とすることにより、電気的特性の改善が図られる。 The first contact beam does not need to be able to be inserted into the through hole. Therefore, by making the first contact beam wide so that the first interval is narrower than the thickness of the partition wall separating the two through holes, the electrical characteristics can be improved.

また、本発明のインターポーザにおいて、第1のコンタクトビームの、第1の接点部を有する先端部を除いた部分が、均一の第1の幅を有するとともに、第2のコンタクトビームの、第2の接点部を有する先端部を除いた部分が、均一の、上記の第1の幅よりも狭幅の第2の幅を有することが好ましい。 Further, in the interposer of the present invention, a portion of the first contact beam excluding the tip portion having the first contact portion has a uniform first width, and a portion of the second contact beam excluding the tip portion having the first contact portion has a uniform first width. Preferably, the portion excluding the tip portion having the contact portion has a uniform second width that is narrower than the first width.

第1のコンタクトビームおよび第2のコンタクトビームを均一の幅に形成すると、上掲の特許文献1のような先細りの形状のコンタクトビームと比べ、高速信号の伝送に優れたコンタクトとなる。したがって、そのコンタクトを採用することで、高速信号の伝送に優れたインターポーザが実現する。 When the first contact beam and the second contact beam are formed to have a uniform width, the contact beam is superior in high-speed signal transmission compared to the tapered contact beam as in Patent Document 1 mentioned above. Therefore, by employing this contact, an interposer excellent in high-speed signal transmission can be realized.

さらに、本発明のインターポーザにおいて、コンタクトが、幅方向に左右対称な構造を有することが好ましい。 Furthermore, in the interposer of the present invention, it is preferable that the contacts have a structure that is symmetrical in the width direction.

コンタクトビームは電子部品に押されて弾性的に変形する。ここで、コンタクトが幅方向に左右対称な構造を有すと、電気部品に押された時の力が幅方向左右に均等に分散するため、座屈等が生じにくく高い信頼性を確保できる。 The contact beam is pushed by the electronic component and deforms elastically. Here, if the contact has a structure that is symmetrical in the width direction, the force when pressed by an electric component is evenly distributed in the left and right directions in the width direction, so that buckling and the like are less likely to occur and high reliability can be ensured.

以上の本発明によれば、ハウジングの、隣接する貫通孔どうしを隔てる隔壁を所定厚み以上に保ちつつ、電気的な特性を向上させたインターポーザが実現する。 According to the present invention described above, an interposer is realized in which the partition wall separating adjacent through holes of the housing is maintained at a predetermined thickness or more and the electrical characteristics are improved.

本発明の一実施形態のインターポーザの斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of an interposer according to an embodiment of the present invention. 図1に示したインターポーザを構成している1つのコンタクトを示した図である。2 is a diagram showing one contact forming the interposer shown in FIG. 1. FIG. 図1に示したインターポーザを構成しているハウジングを示した図である。2 is a diagram showing a housing that constitutes the interposer shown in FIG. 1. FIG. 貫通孔の変形例を示した図である。It is a figure which showed the modification of a through-hole.

以下、本発明の実施の形態について説明する。 Embodiments of the present invention will be described below.

図1は、本発明の一実施形態のインターポーザの斜視図である。ここで、図1(A)はハウジングの第1面を上に向けた姿勢の斜視図、図1(B)はハウジングの第2面を上に向けた姿勢の斜視図である。インターポーザには例えば4000個ものコンタクトが配置されているが、同じ構造の繰り返しであり、ここではその一部分のみが示されている。 FIG. 1 is a perspective view of an interposer according to an embodiment of the present invention. Here, FIG. 1(A) is a perspective view of the housing with the first surface facing upward, and FIG. 1(B) is a perspective view of the housing with the second surface facing upward. For example, as many as 4,000 contacts are arranged in the interposer, but the same structure is repeated, and only a portion of them are shown here.

インターポーザ10は、板状のハウジング20と、複数のコンタクト30とを有する。ハウジング20には、その第1面20Aと第2面20Bとに貫通した、格子状に配列された複数の貫通孔21(図3を合わせて参照)が形成されている。そして、各貫通孔21に、コンタクト30が1つずつ圧入されている。 Interposer 10 includes a plate-shaped housing 20 and a plurality of contacts 30. The housing 20 is formed with a plurality of through holes 21 arranged in a grid pattern (see also FIG. 3), which penetrate through the first surface 20A and the second surface 20B. One contact 30 is press-fitted into each through hole 21.

図2は、図1に示したインターポーザを構成している1つのコンタクトを示した図である。ここで、図2(A)は斜視図、図2(B)は正面図である。 FIG. 2 is a diagram showing one contact making up the interposer shown in FIG. 1. Here, FIG. 2(A) is a perspective view, and FIG. 2(B) is a front view.

また、図3は、図1に示したインターポーザを構成しているハウジングを示した図である。ここで、図3(A)は斜視図、図3(B)は平面図である。 Moreover, FIG. 3 is a diagram showing a housing that constitutes the interposer shown in FIG. 1. Here, FIG. 3(A) is a perspective view, and FIG. 3(B) is a plan view.

このコンタクト30は、平板状の基部31と、基部31の上端および下端からそれぞれ延びる第1のコンタクトビーム32および第2のコンタクトビーム33とを有する。 The contact 30 has a flat base 31 and a first contact beam 32 and a second contact beam 33 extending from the upper and lower ends of the base 31, respectively.

基部31には、幅方向に突き出た圧入部311が設けられている。この圧入部311は、このコンタクト30が貫通孔21内に圧入されたときに貫通孔21の内壁面に食い込んで、コンタクト30を貫通孔21内に保持させる部分である。 The base portion 31 is provided with a press-fit portion 311 that protrudes in the width direction. The press-fitting portion 311 is a portion that bites into the inner wall surface of the through-hole 21 when the contact 30 is press-fitted into the through-hole 21 and holds the contact 30 within the through-hole 21 .

このコンタクト30は、基部31が貫通孔21の1つの内壁面211に沿うように、ハウジング20の第1面20A側から貫通孔21内に圧入される。 This contact 30 is press-fitted into the through hole 21 from the first surface 20A side of the housing 20 so that the base portion 31 is along one inner wall surface 211 of the through hole 21.

また、第1のコンタクトビーム32は、基部31からハウジング20の第1面20Aより外側に、第1面20Aに対し斜めに延出している。そして、その第1のコンタクトビーム32の延出した先端部には、第1の接点部321が設けられている。第1面20Aに対面する位置に、本発明の第1の電子部品の一例である、不図示のIC(Integrated Circuit)が搭載される。このICの第1面20A側を向いた面には、コンタクト20と同じ配列および同じピッチで配列された接続パッドが設けられている。そして、ICが搭載されると、各コンタクト30の各第1のコンタクトビーム32の先端部に設けられた各第1の接点部321が接続パッドに電気的に接触する。接触パッドに接触する接点部321の面は、接続パッド上を摺動できるよう丸められている。 Further, the first contact beam 32 extends from the base 31 outward from the first surface 20A of the housing 20 and diagonally with respect to the first surface 20A. A first contact portion 321 is provided at the extended tip of the first contact beam 32 . An IC (Integrated Circuit), not shown, which is an example of the first electronic component of the present invention, is mounted at a position facing the first surface 20A. Connection pads arranged in the same arrangement and pitch as the contacts 20 are provided on the surface facing the first surface 20A of this IC. Then, when the IC is mounted, each first contact portion 321 provided at the tip of each first contact beam 32 of each contact 30 comes into electrical contact with the connection pad. The surface of the contact portion 321 that contacts the contact pad is rounded so that it can slide over the connection pad.

この第1のコンタクトビーム32の、先端部を除く中央部分には開口322が形成されている。この第1のコンタクトビーム32は、この開口322によって2本のサブビーム323に分かれている。第1のコンタクトビーム32を、開口322を挟んだ2本のサブビーム323で構成することで、ICが搭載された際の弾性変形のばね力が調整されている。すなわち、第1のコンタクトビーム32の幅、すなわち2本のサブビーム323の、開口322から離れた側の側縁どうしの間の距離は、一定幅d1となっている。これに対し、開口322は、先端に向かう方ほど幅広に形成されている。これらの構成により、応力集中が生じにくい、先細りのサブビームが形成される。 An opening 322 is formed in the center of the first contact beam 32, excluding the tip. This first contact beam 32 is divided into two sub-beams 323 by this opening 322 . By configuring the first contact beam 32 with two sub-beams 323 with an opening 322 in between, the spring force of elastic deformation when an IC is mounted is adjusted. That is, the width of the first contact beam 32, that is, the distance between the side edges of the two sub-beams 323 on the side away from the opening 322 is a constant width d1. On the other hand, the opening 322 is formed wider toward the tip. These configurations form tapered sub-beams that are less prone to stress concentrations.

コンタクト30とICとの間では、例えば100GHzもの高速信号が伝送される。この高速信号の伝送には、コンタクトビーム全体の幅が重要である。すなわち、コンタクトビームが、間にスリットを挟んだ2本のサブビームで構成されているか、あるいは、スリットのない、一体のビームとして構成されているかは重要ではない。そこで、本実施形態では、第1のコンタクトビーム32を、開口322を間に挟んだ2本のサブビーム323で構成することで、一定幅d1に形成して高速信号伝送性能を確保するとともに、コンタクトビームのばね性を適度に調整している。 A high-speed signal of, for example, 100 GHz is transmitted between the contact 30 and the IC. The width of the entire contact beam is important for the transmission of this high-speed signal. That is, it does not matter whether the contact beam is composed of two sub-beams with a slit in between, or whether it is composed of a single beam without a slit. Therefore, in this embodiment, the first contact beam 32 is configured with two sub-beams 323 with an aperture 322 in between, thereby ensuring high-speed signal transmission performance by forming the first contact beam 32 to have a constant width d1, and ensuring high-speed signal transmission performance. The springiness of the beam has been adjusted appropriately.

また、第2のコンタクトビーム33は、基部31からハウジング20の第2面20Bより外側に、第2面20Bに対し斜めに延出している。そして、その第2のコンタクトビーム33の延出した先端部には、第2の接点部331が設けられている。ここで、このインターポーザ10は、その第2面20B側を、本発明の第2の電子部品の一例である回路基板(不図示)に向けた姿勢で、その回路基板に搭載される。この回路基板の、第2面20B側を向いた面には、コンタクト20と同じ配列および同じピッチで配列された接続パッドが設けられている。そして、このインターポーザ10が回路基板に搭載されると、各コンタクト30の各第2のコンタクトビーム33の先端部に設けられた各第2の接点部331が回路基板上の接続パッドに電気的に接触する。すなわち、このインターポーザ10は、一例として、このインターポーザ10が搭載される回路基板と、このインターポーザ10に搭載されるICとの間の信号伝送を仲介するインターポーザである。 Further, the second contact beam 33 extends from the base 31 outward from the second surface 20B of the housing 20 and diagonally with respect to the second surface 20B. A second contact portion 331 is provided at the extended tip of the second contact beam 33 . Here, the interposer 10 is mounted on a circuit board (not shown) with its second surface 20B facing the circuit board (not shown), which is an example of the second electronic component of the present invention. Connection pads arranged in the same arrangement and at the same pitch as the contacts 20 are provided on the surface of this circuit board facing the second surface 20B. When this interposer 10 is mounted on a circuit board, each second contact portion 331 provided at the tip of each second contact beam 33 of each contact 30 electrically connects to a connection pad on the circuit board. Contact. That is, this interposer 10 is, for example, an interposer that mediates signal transmission between a circuit board on which this interposer 10 is mounted and an IC mounted on this interposer 10.

この第2のコンタクトビーム33の、先端部を除く部分には開口332が形成されている。第2のコンタクトビーム33は、この開口332によって2本のサブビーム333に分かれている。第2のコンタクトビーム33を、開口332を挟んだ2本のサブビーム333で構成することで、ICが搭載された際の変形のばね力が調整されている。各サブビーム333が先細りの形状をなす点は、サブビーム323と同様である。すなわち、第2のコンタクトビーム33の幅、すなわち2本のサブビーム333の開口332から離れた側の側縁どうしの間の距離は、一定幅d2となっている。これに対し、開口332は、先端に向かうほど幅広に形成されている。 An opening 332 is formed in the second contact beam 33 except for its tip. The second contact beam 33 is divided into two sub-beams 333 by this opening 332. By configuring the second contact beam 33 with two sub-beams 333 with an opening 332 in between, the spring force of deformation when an IC is mounted is adjusted. Each sub-beam 333 has a tapered shape, similar to the sub-beam 323. That is, the width of the second contact beam 33, ie, the distance between the side edges of the two sub-beams 333 on the side away from the opening 332, is a constant width d2. On the other hand, the opening 332 is formed to become wider toward the tip.

ICと回路基板との間ではコンタクト30を介して高速信号が伝送される。この高速信号の伝送には、コンタクトビームの幅が一定であることが好ましい。そこで、本実施形態では、第1のコンタクトビーム32と同様、第2のコンタクトビーム33についても開口332を間に挟んだ2本のサブビーム333で構成している。これにより、一定幅に形成して高速信号伝送性能を確保するとともに、第2のコンタクトビームのばね性を適度に調整している。 High-speed signals are transmitted between the IC and the circuit board via contacts 30. For transmission of this high-speed signal, it is preferable that the width of the contact beam be constant. Therefore, in the present embodiment, like the first contact beam 32, the second contact beam 33 is also composed of two sub-beams 333 with an opening 332 in between. As a result, the second contact beam is formed to have a constant width to ensure high-speed signal transmission performance, and the springiness of the second contact beam is appropriately adjusted.

ここで、基部31の最大幅をd3としたとき、
d1>d3>d2
となっている。
Here, when the maximum width of the base 31 is d3,
d1>d3>d2
It becomes.

このコンタクト30は、第2のコンタクトビーム33がハウジング20の貫通孔21に挿し込まれて貫通孔21を通り抜け、基部31が貫通孔21内に圧入される。このため、第2のコンタクトビーム33の幅d2は、貫通孔21を通り抜けることができる幅である必要がある。また、基部31の幅d3は、貫通孔21内に圧入される必要があり、圧入部311が突き出ている分だけ貫通孔21よりも幅広となっている。 In this contact 30, the second contact beam 33 is inserted into the through hole 21 of the housing 20 and passes through the through hole 21, and the base portion 31 is press-fitted into the through hole 21. Therefore, the width d2 of the second contact beam 33 needs to be such that it can pass through the through hole 21. Further, the width d3 of the base portion 31 needs to be press-fitted into the through-hole 21, and is wider than the through-hole 21 by the amount by which the press-fit portion 311 protrudes.

ここで、図3(B)に示すように、貫通孔21の、圧入された基部31が接する側の内壁面211に沿う貫通孔21の幅w1は、その壁面211から離れた部分の貫通孔21の幅w2よりも幅広となっている。これは、第2のコンタクトビーム33は幅w2の部分を通り抜けることができる寸法であるとともに、基部31が圧入される部分を幅w1に広げた形状とすることによって、貫通孔21内での基部31の位置を安定化させるためである。 Here, as shown in FIG. 3(B), the width w1 of the through hole 21 along the inner wall surface 211 on the side where the press-fitted base 31 contacts It is wider than the width w2 of 21. This is because the second contact beam 33 has a size that allows it to pass through a portion of width w2, and the portion where the base portion 31 is press-fitted is widened to width w1, so that the base portion within the through hole 21 This is to stabilize the position of 31.

一方、第1のコンタクトビーム32は、貫通孔21には挿し込むことができない幅d1となっている。貫通孔21には、第2のコンタクトビーム33が挿し込まれる。したがって、第1のコンタクトビーム32を貫通孔21に挿し込む必要はない。このため、隣接する2つのコンタクト30の第1のコンタクトビーム32どうしの間隔x1(図1(A)参照)が、隣接する2つの第2のコンタクトビーム33どうしの間隔x2(図1(B)参照)よりも狭くなっている。また、隣接する2つの貫通孔21を隔てる隔壁22の厚みをx3(図3参照)とすると、
x2≧x3>x1
の関係を満たしている。
On the other hand, the first contact beam 32 has a width d1 that cannot be inserted into the through hole 21. A second contact beam 33 is inserted into the through hole 21 . Therefore, it is not necessary to insert the first contact beam 32 into the through hole 21. Therefore, the distance x1 between the first contact beams 32 of two adjacent contacts 30 (see FIG. 1(A)) is different from the distance x2 between the two adjacent second contact beams 33 (see FIG. 1(B)). (see). Further, if the thickness of the partition wall 22 separating two adjacent through holes 21 is x3 (see FIG. 3),
x2≧x3>x1
meets the relationship.

本実施形態の場合、これらの関係を満たすように第1のコンタクトビーム32を広い幅d1とし、幅方向に隣接するコンタクト30どうしの距離を近づけて特性インピーダンスを下げることで、電気的特性を向上させている。 In the case of this embodiment, the first contact beam 32 has a wide width d1 so as to satisfy these relationships, and the distance between adjacent contacts 30 in the width direction is reduced to lower the characteristic impedance, thereby improving electrical characteristics. I'm letting you do it.

なお、ここでは、第1のコンタクトビーム32を、先端部にある第1の接点部321の部分を除き一定幅d1とし、第2のコンタクトビーム33を、先端部にある第2の接点部331の部分を除き一定幅d2としている。そして、基部31、第1のコンタクトビーム32、および第2のコンタクトビーム33を、d1>d3>d2およびx2≧x3>x1を満たす幅としている。ただし、第1のコンタクトビーム32や第2のコンタクトビーム33がそれぞれ一定幅d1,d2である必要はない。一定幅ではないときは、第1のコンタクトビーム32や第2のコンタクトビーム33の各最大幅d1,d2どうし、および隣接する2つのコンタクトビーム32,33どうしの最近接間隔x1,x2どうし比較して、d1>d3>d2、x2≧x3>x1を満たせばよい。 Here, the first contact beam 32 has a constant width d1 except for the first contact portion 321 at the tip, and the second contact beam 33 has a constant width d1 except for the first contact portion 331 at the tip. It has a constant width d2 except for the part. The base portion 31, the first contact beam 32, and the second contact beam 33 have widths that satisfy d1>d3>d2 and x2≧x3>x1. However, it is not necessary that the first contact beam 32 and the second contact beam 33 have constant widths d1 and d2, respectively. When the width is not constant, the maximum widths d1 and d2 of the first contact beam 32 and the second contact beam 33 are compared, and the closest distances x1 and x2 between two adjacent contact beams 32 and 33 are compared. Therefore, it is sufficient to satisfy d1>d3>d2 and x2≧x3>x1.

図4は、貫通孔の変形例を示した図である。 FIG. 4 is a diagram showing a modification of the through hole.

貫通孔21の形状は、この図4に示されるようにw1=w2’に設定してもよい。この場合においても、第2コンタクトビーム33の幅d2と基部31の幅d3は、d3>d2の関係にある。 The shape of the through hole 21 may be set to w1=w2' as shown in FIG. Also in this case, the width d2 of the second contact beam 33 and the width d3 of the base 31 have a relationship of d3>d2.

10 インターポーザ
20 ハウジング
20A ハウジングの第1面
20B ハウジングの第2面
21 貫通孔
22 隣接する貫通孔を隔てる隔壁
30 コンタクト
31 基部
311 圧入部
32 第1のコンタクトビーム
321 第1の接点部
33 第2のコンタクトビーム
331 第2の接点部
d1 第1の幅
d2 第2の幅
x1 第1の間隔
x2 第2の間隔
10 Interposer 20 Housing 20A Housing first surface 20B Housing second surface 21 Through hole 22 Partition wall 30 separating adjacent through holes Contact 31 Base portion 311 Press-fit portion 32 First contact beam 321 First contact portion 33 Second Contact beam 331 Second contact portion d1 First width d2 Second width x1 First interval x2 Second interval

Claims (4)

2つの電子部品に挟まれて、該2つの電子部品の各々に形成されている接続パッドに接して該2つの電子部品どうしを電気的に接続するインターポーザであって、
前記2つの電子部品のうちの第1の電子部品側である上方を向いた上面と、前記2つの電子部品のうちの第2の電子部品側である下方を向いた下面と、該上面と該下面とに貫通する複数の貫通孔とを有するハウジング、および
前記貫通孔への圧入を担う左右に突き出た圧入部を有し上下方向および左右方向に平板状に広がる基部と、該基部の上端につながり前記上面より外側に上方斜めに延出し先端部に前記第1の電気部品に接する第1の接点部を有する、左右方向の最大幅が該基部の左右方向の最大幅よりも広い第1のコンタクトビームと、該基部の下端につながり前記下面より外側に下方斜めに延出し先端部に前記第2の電気部品に接する第2の接点部を有する、左右の最大幅が該基部の最大幅よりも狭い第2のコンタクトビームとを備えた複数のコンタクトを有し、
前記貫通孔が、
前記圧入部が前記貫通孔内に圧入された後の前記基部が接する平面状の第1の内壁面と、
前記第1の内壁面の左右それぞれの縁につながり、互いに向き合う第2の内壁面および第3の内壁面とを有し、
前記第2の内壁面と前記第3の内壁面が、
前記第2の内壁面と前記第3の内壁面双方の、前記第1の内壁面に隣接した第1部分の互いの間の間隔である第1の間隔が前記圧入部を壁面に食い込ませるだけの間隔を有し、
前記第2の内壁面と前記第3の内壁面双方の、前記第1部分に隣接した部分の互いの間の間隔が、前記圧入部が圧入された後の前記基部を、該基部の厚み方向に前記第1の内壁面との間に挟むように、前記第1の間隔よりも狭まり、
前記第2の内壁面と前記第3の内壁面双方の、前記圧入部が圧入された後の前記基部から離れた部分に、互いの間の間隔が前記第2のコンタクトビームの最大幅よりも広く、かつ、前記第1のコンタクトビームの最大幅よりも狭い部分を有することを特徴とするインターポーザ。
An interposer that is sandwiched between two electronic components and electrically connects the two electronic components by contacting connection pads formed on each of the two electronic components,
an upper surface facing upward that is the first electronic component side of the two electronic components; a lower surface facing downward that is the second electronic component side of the two electronic components; a housing having a plurality of through-holes penetrating through the lower surface; a base having a press-fitting part that protrudes from side to side for press-fitting into the through-holes and extending in a flat plate shape in the vertical direction and left-right direction; a first contact portion extending diagonally upward outward from the upper surface and having a first contact portion in contact with the first electric component at the tip portion, the maximum width in the left and right direction being wider than the maximum width in the left and right direction of the base portion; a contact beam, and a second contact portion connected to the lower end of the base, extending diagonally downward outward from the lower surface, and having a tip contacting the second electrical component, the maximum width in the left and right sides being greater than the maximum width of the base. a plurality of contacts with a narrow second contact beam;
The through hole is
a planar first inner wall surface that is in contact with the base after the press-fitting part is press-fitted into the through-hole ;
having a second inner wall surface and a third inner wall surface connected to the left and right edges of the first inner wall surface and facing each other;
The second inner wall surface and the third inner wall surface are
The first interval, which is the interval between first portions of both the second inner wall surface and the third inner wall surface, adjacent to the first inner wall surface, only allows the press-fit portion to bite into the wall surface. with an interval of
The distance between the portions of both the second inner wall surface and the third inner wall surface adjacent to the first portion is such that the distance between the base portion after the press-fitting portion is press-fitted is in the thickness direction of the base portion. narrower than the first interval so as to be sandwiched between the first inner wall surface and the first inner wall surface;
A distance between the second inner wall surface and the third inner wall surface is larger than the maximum width of the second contact beam at a portion of both the second inner wall surface and the third inner wall surface that are remote from the base after the press-fitting part is press-fitted. An interposer characterized by having a wide portion and a narrower portion than the maximum width of the first contact beam.
互いに幅方向に隣接する2つの隣接コンタクトの前記第1のコンタクトビームどうしの最近接した部分の第1の間隔が該2つの隣接コンタクトの前記基部が圧入される2つの貫通孔を隔てる隔壁の厚みよりも狭くなるように該第1のコンタクトビームが幅広であることを特徴とする請求項1に記載のインターポーザ。 The first distance between the closest portions of the first contact beams of two adjacent contacts that are adjacent to each other in the width direction is the thickness of a partition wall that separates two through holes into which the base portions of the two adjacent contacts are press-fitted. 2. The interposer of claim 1, wherein the first contact beam is wide so that it is narrower than the first contact beam. 前記第1のコンタクトビームの、前記第1の接点部を有する先端部を除いた部分が、均一の第1の幅を有するとともに、前記第2のコンタクトビームの、前記第2の接点部を有する先端部を除いた部分が、均一の、該第1の幅よりも狭幅の第2の幅を有することを特徴とする請求項1または2に記載のインターポーザ。 A portion of the first contact beam other than a tip portion having the first contact portion has a uniform first width, and the second contact beam has the second contact portion. 3. The interposer according to claim 1, wherein the portion excluding the tip has a uniform second width narrower than the first width. 前記コンタクトが、幅方向に左右対称な構造を有することを特徴とする請求項1から3のうちのいずれか1項に記載のインターポーザ。 The interposer according to claim 1, wherein the contact has a laterally symmetrical structure in the width direction.
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