JP7400645B2 - 探針の先端径の取得方法およびspm - Google Patents
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Description
[走査型プローブ顕微鏡の構成]
図1は、実施の形態に係るSPM100の構成を概略的に示す図である。SPM100は、探針(プローブ)と試料Sの表面との間に働く原子間力(引力または斥力)を利用して試料Sを観察する原子間力顕微鏡(AFM:Atomic Force Microscope)である。
図2は、情報処理装置20のハードウェア構成の一例を示す図である。情報処理装置20は、主たる構成要素として、CPU(Central Processing Unit)160と、ROM(Read Only Memory)162と、RAM(Random Access Memory)164と、HDD(Hard Disk Drive)166と、通信I/F(Interface)168と、表示I/F170と、入力I/F172とを有する。各構成要素はデータバスによって相互に接続されている。
観察装置80による試料Sの観測中に、探針3と試料Sとが接触する場合があり、探針3と試料Sとの接触回数が多くなると、探針3の先端の摩耗または探針3の先端への不純物の付着が生じる。探針3の先端の摩耗がまたは探針3の先端への不純物の付着が生じた状態で、探針3を用いた試料Sの測定が行われると、正確な測定を行うことができない。また、SPM100は、試料Sの弾性率を算出することが可能であり、探針3の先端径の正確な把握は、算出される弾性率の確からしさに直結する。このため、探針3の先端径を取得することが好ましい。なお、探針3の先端径は、「探針3の先端の曲率半径」または「探針3の曲率半径」とも称される。
r=Ri・sinθ (1)
また、sinθおよびcosθについて以下の式(2)が成立する。
式(1)を式(2)に代入すると、以下の式(3)が成立する。
また、高さZについては、以下の式(4)が成立する。
式(3)を式(4)に代入すると、以下の式(5)が成立する。
式(5)をRiについて解くと以下の式(6)が成立する。
また、Rt、Ri、およびRsについて以下の式(7)が成立する。
式(7)を式(6)に代入すると、以下の式(8)が成立する。
図5は、情報処理装置20の機能ブロック図の一例である。情報処理装置20は、第1入力部302と、生成部304と、処理部306と、第2入力部310と、記憶部312とを含む。
図6は、情報処理装置20のフローチャートの一例である。図6の処理は、算出モードに切り換えられたときに開始される。
第1の実施の形態では、既知試料が含む凸部の曲率半径Rsは所定値以上である構成を説明した。第2の実施の形態では、既知試料の凸部がカーボンナノチューブのような極めて細い形状であり、曲率半径Rsが所定値未満である構成(たとえば、曲率半径Rsがほぼ0である構成)の場合について説明する。
次に、式(9)により曲率半径Rtを算出できる理由を説明する。図7は、曲率半径Rtを算出できる理由を説明するための図である。図7において、円300と、半直線420とが示されている。円300は、探針3の曲率半径Rtにより形成される円である。半直線420は、曲率半径がほぼ0である凸部を半直線に近似したものである。さらに、図7において、探針3の先端3Aが凸部の表面に沿って移動する場合の先端3Aの軌跡410も示されている。また、凸部の先端では、先端3Aの軌跡410は、半円形状となり、この半円形状が、半円412として示されている。図7に示すように、円300の半径(つまり、曲率半径Rt)と、半円412の半径とは同一となる。つまり、図7において、Rt=Riとなる。よって、上記式(6)に、Rt=Riを代入することにより、式(9)が成立する。
上述の実施の形態では、情報処理装置20は、凸部P1および凸部Pnの測定に基づいて、曲率半径Rt1および曲率半径Rtnを算出し、これらの平均値Ravgを探針3の曲率半径として算出する構成を説明した。しかしながら、情報処理装置20は、曲率半径Rt1を探針3の曲率半径として算出するようにしてもよい。
(A) 上述の実施の形態の情報処理装置20は、高さZ1の入力をユーザから受付け、この高さZ1に基づいて、円相当半径r1を算出する構成を説明した。しかしながら、情報処理装置20は、円相当半径r1の入力をユーザから受付け、円相当半径r1に基づいて、高さZ1を算出するようにしてもよい。
上述した複数の例示的な実施の形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
ただし、Rtは探針の先端径であり、Zは凸部の高さであり、rは凸部の幅であり、Rsは凸部の曲率半径である。
ただし、Rtは探針の先端径であり、Zは凸部の高さであり、rは凸部の幅である。
Claims (8)
- SPMにおいて形状が既知である既知試料を探針で測定することによって前記探針の先端径を取得する方法であって、
前記既知試料の表面に凸部が形成されており、
前記方法は、
前記凸部の高さおよび該凸部の幅のうちいずれか一方の第1距離、および該凸部の曲率半径の入力をユーザから受付けるステップと、
前記凸部の表面に沿って前記探針を相対的に移動させて、前記凸部の先端から前記第1距離により規定される基準位置に前記探針が移動したときの、前記凸部の高さおよび該凸部の幅のうち他方の第2距離を特定するステップと、
前記第1距離、前記第2距離、および前記曲率半径に基づいて前記探針の先端径を取得するステップとを備える、方法。 - SPMにおいて形状が既知である既知試料を探針で測定することによって前記探針の先端径を取得する方法であって、
前記既知試料の表面に第1凸部と1以上の第2凸部が形成されており、
前記方法は、
前記第1凸部の高さおよび該第1凸部の幅のうちいずれか一方の第1距離、該第1凸部の曲率半径、および前記1以上の第2凸部の曲率半径の入力をユーザから受付けるステップと、
前記第1凸部の表面に沿って前記探針を相対的に移動させて、前記第1凸部の先端から前記第1距離により規定される基準位置に前記探針が移動したときの、前記第1凸部の高さおよび該第1凸部の幅のうち他方の第2距離を特定するステップと、
前記1以上の第2凸部の各々について表面に沿って前記探針を相対的に移動させて、前記基準位置に前記探針が移動したときの、前記基準位置から該第2凸部の先端までの高さである第3距離、および前記基準位置における該第2凸部の幅である第4距離を特定するステップと、
前記第1距離、前記第2距離、および前記第1凸部の曲率半径に基づいて第1の先端径を取得するステップと、
前記1以上の第2凸部の各々について、前記第3距離、前記第4距離、および前記1以上の第2凸部の曲率半径に基づいて第2の先端径を取得するステップと、
前記第1の先端径と、前記1以上の第2凸部の各々の前記第2の先端径とに基づいて前記探針の先端径を取得するステップとを備える、方法。 - 前記探針の先端径を取得するステップは、前記第1の先端径と、前記1以上の第2凸部の各々の前記第2の先端径との平均値を算出することにより前記探針の先端径を取得するステップを含む、請求項2に記載の方法。
- 前記探針の先端径を表示装置に表示させるステップをさらに備える、請求項1または請求項3に記載の方法。
- 前記受付けるステップは、凸部の高さおよび該凸部の曲率半径の入力を受付け、
前記第2距離は、凸部の高さ方向に垂直な平面における該凸部の断面を円形状に近似した際の該円形状の半径である、請求項1~請求項5のいずれか1項に記載の方法。 - 探針を有する観察装置と、
情報処理装置とを備え、
前記観察装置は、形状が既知である既知試料を前記探針で測定し、該測定の結果を示す測定信号を前記情報処理装置に出力し、
前記既知試料の表面に凸部が形成されており、
前記情報処理装置は、
前記凸部の高さおよび該凸部の幅のうちいずれか一方の第1距離、および該凸部の曲率半径の入力をユーザから受付け、
前記凸部の表面に沿って前記探針を相対的に移動させて、前記凸部の先端から前記第1距離により規定される基準位置に前記探針が移動したときの、前記凸部の高さおよび該凸部の幅のうち他方の第2距離を特定し、
前記第1距離、前記第2距離、および前記曲率半径に基づいて前記探針の先端径を取得する、SPM。 - 探針を有する観察装置と、
情報処理装置とを備え、
前記観察装置は、形状が既知である既知試料を前記探針で測定し、該測定の結果を示す測定信号を前記情報処理装置に出力し、
前記既知試料の表面に第1凸部と1以上の第2凸部が形成されており、
前記情報処理装置は、
前記第1凸部の高さおよび該第1凸部の幅のうちいずれか一方の第1距離、該第1凸部の曲率半径、および前記1以上の第2凸部の曲率半径の入力をユーザから受付け、
前記第1凸部の表面に沿って前記探針を相対的に移動させて、前記第1凸部の先端から前記第1距離により規定される基準位置に前記探針が移動したときの、前記第1凸部の高さおよび該第1凸部の幅のうち他方の第2距離を特定し、
前記1以上の第2凸部の各々について表面に沿って前記探針を相対的に移動させて、前記基準位置に前記探針が移動したときの、前記基準位置から該第2凸部の先端までの高さである第3距離、および前記基準位置における該第2凸部の幅である第4距離を特定し、
前記第1距離、前記第2距離、および前記第1凸部の曲率半径に基づいて第1の先端径を取得し、
前記1以上の第2凸部の各々について、前記第3距離、前記第4距離、および前記1以上の第2凸部の曲率半径に基づいて第2の先端径を取得し、
前記第1の先端径と、前記1以上の第2凸部の各々の前記第2の先端径との平均値を算出することにより、前記探針の先端径を取得する、SPM。
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