JP7371107B2 - 電磁的に修正された基準仕様を用いた高強度振動試験およびその方法 - Google Patents
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- 振動トランスデューサの少なくとも2つの個別に制御可能なグループと少なくとも2つの制御センサトランスデューサであって、前記振動トランスデューサの少なくとも2つの個別に制御可能なグループは音響トランスデューサであり、前記少なくとも2つの制御センサトランスデューサは制御マイクロホンである、または、前記少なくとも2つの個別に制御可能な振動トランスデューサのグループは、加振器であり、前記少なくとも2つの制御センサトランスデューサは、加速度計または他の機械振動感知トランスデューサである、トランスデューサと、
前記振動トランスデューサの少なくとも2つの個別に制御可能なグループと前記少なくとも2つの制御センサトランスデューサに結合されたコントローラとを備え、
前記コントローラは、
所定の初期基準仕様または以前に修正された初期基準仕様を利用して、完全な試験レベルよりも実質的に低いレベルで、MIMO制御を使用して振動プレ試験を実行し、
完全な試験レベルよりも実質的に低いレベルでの振動プレ試験中の実際のシステム性能に基づいて、修正された基準仕様を作成するように構成された、振動試験システム。 - 前記コントローラは、前記以前に修正された初期基準仕様を利用して振動予備試験を実行するように構成され、前記以前に修正された初期基準仕様は、前記完全な試験レベルよりも実質的に低いレベルでの振動プレ試験中に実際のシステム性能に基づいて前記修正された基準仕様を作成するために、前記所定の初期基準仕様を手動で修正することによって得られ、前記コントローラは、修正されていない所定の初期基準仕様を用いて得られる修正された基準仕様を利用する振動試験を実行する場合よりも小さいシステム駆動力を要求する前記修正された基準仕様を利用して振動試験を実行するようにさらに構成される、請求項1に記載の振動試験システム。
- 前記コントローラは、同じ試験設備および試験条件が与えられた場合に、使用中の前記所定の初期基準仕様の機能として、修正されていない基準仕様を用いて振動試験を実行する場合よりも小さいシステム駆動力を要求する、前記修正された基準仕様を利用して振動試験を実行するようにさらに構成される、請求項1に記載の振動試験システム。
- 前記修正された基準仕様を利用することにより、前記所定の初期基準仕様の機能として、要求されるシステム駆動力がより少なく、かつ、試験の実施中に試験システムおよび被試験物に損傷を与えるリスクがより少なく、前記所定の初期基準仕様に近い対応を可能にする、請求項3に記載の振動試験システム。
- 前記コントローラは、
基準スペクトル密度行列[Grr(f)]として表現される、所定の初期基準仕様または以前に修正された初期基準仕様を利用し、
前記所定の初期基準仕様または以前に修正された初期基準仕様を利用して、完全な試験レベルを実質的に下回るMIMO制御を使用し、制御応答スペクトル密度行列[Gcc(f)]によって表現される、振動プレ試験下で動作中の制御位置応答を測定し、
修正されたスペクトル密度行列[Gmod_rr(f)]として表現される前記修正された基準仕様を作成することにより前記修正された基準仕様を作成する、請求項1に記載の振動試験システムであって、
前記修正されたスペクトル密度行列[Gmod_rr(f)]の対角要素は、前記基準スペクトル密度行列[Grr(f)]内のものと同じであり、前記修正されたスペクトル密度行列[Gmod_rr(f)]の下側の対角要素のそれぞれは、前記基準スペクトル密度行列[Grr(f)]の下側の対角要素に[Kijk]の因子を乗じたものに等しく、これは、前記所定の初期基準仕様または前記以前に修正された初期基準仕様によって表される各制御位置ペア間の積を低レベル動作中に前記実際に測定された制御位置応答によって表される各制御位置ペア間の積で割ることによって表される比率であり、前記修正されたスペクトル密度行列[Gmod_rr(f)]の上対角行は、前記修正されたスペクトル密度行列[Gmod_rr(f)]の下対角列の複素共役転置に等しい、請求項1に記載の振動試験システム。 - 前記基準スペクトル密度行列[Grr(f)]の対角要素との対応の度合をトレードオフするために、初期基準スペクトル密度行列の選択された非対角コヒーレンス要素の値をわずかに手動で増加させることによって、前記以前に修正された初期基準仕様が得られ、前記制御応答スペクトル密度行列[Gcc(f)]は、同じ試験設備と試験条件を与えられた、修正されていない所定の初期基準仕様を用いて得られた修正されたスペクトル密度行列[Gmod_rr(f)]で実行する試験と比較して、選択された周波数範囲内で要求されるシステム駆動力をさらに低減するために、前記以前に修正された初期基準仕様を用いて得られた前記修正されたスペクトル密度行列[Gmod_rr(f)]を用いることから生ずる後続の試験にある、請求項5に記載の振動試験システム。
- 振動トランスデューサの少なくとも2つの個別に制御可能なグループと少なくとも2つの制御センサトランスデューサとを有するシステムを用いて、所定の初期基準仕様または以前に修正された初期基準仕様を利用して、完全な試験レベルを実質的に下回るMIMO制御を使用して振動プレ試験を実行するステップであって、前記振動トランスデューサの少なくとも2つの個別に制御可能なグループは音響トランスデューサであり、前記少なくとも2つの制御センサトランスデューサは制御マイクロホンである、または、前記少なくとも2つの個別に制御可能な振動トランスデューサのグループは、加振器であり、前記少なくとも2つの制御センサトランスデューサは、加速度計または他の機械振動感知トランスデューサであるステップと、
完全な試験レベルを実質的に下回る振動プレ試験中の実際のシステム性能に基づいて、修正された基準仕様を作成するステップとを含む、被試験物を振動試験する方法。 - 前記修正された基準仕様を用いて振動試験を実行するステップをさらに含む、請求項7に記載の方法。
- 前記修正された基準仕様を利用することにより、前記所定の初期基準仕様の機能として、要求されるシステム駆動力がより少なく、かつ、試験の前記実行中に試験システムおよび被試験物への損傷のリスクがより少なく、前記所定の初期基準仕様により近い対応を可能にする、請求項8に記載の方法。
- 前記修正された基準仕様を作成するステップは、
前記所定の初期基準仕様又は以前に修正された初期基準仕様を利用するステップであって、前記所定の初期基準仕様又は以前に修正された初期基準仕様を基準スペクトル密度行列[Grr(f)]として表現するステップと、
前記所定の初期基準仕様または前記以前に修正された基準を利用して、完全な試験レベルよりも実質的に低いレベルで、MIMO制御を用いて、振動プレ試験下で動作中の制御位置応答を測定するステップであって、前記制御位置応答は、制御応答スペクトル密度行列[Gcc(f)]によって表現されるステップと、
修正されたスペクトル密度行列[Gmod_rr(f)]として表現される前記修正された基準仕様を作成するステップであって、前記修正されたスペクトル密度行列[Gmod_rr(f)]の対角要素は、前記基準スペクトル密度行列[Grr(f)]内のものと同じであり、前記修正されたスペクトル密度行列[Gmod_rr(f)]の下側の対角要素のそれぞれは、前記基準スペクトル密度行列[Grr(f)]の下側の対角要素に[Kijk]の因子を乗じたものに等しく、これは、前記所定の初期基準仕様によって表される各制御位置ペア間の積を低レベル動作中に前記実際に測定された制御位置応答によって表される各制御位置ペア間の積で割ることによって表される比率であり、前記修正されたスペクトル密度行列[Gmod_rr(f)]の上対角行は、前記修正されたスペクトル密度行列[Gmod_rr(f)]の下対角列の複素共役転置に等しい、ステップとを含む請求項7に記載の方法。
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