JP7365377B2 - Measuring device and method - Google Patents

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Description

本開示は、計測装置及び計測方法に関する。 The present disclosure relates to a measuring device and a measuring method.

構造部品の加工には、切削工具が用いられることが知られている。 It is known that cutting tools are used to process structural parts.

例えば、特許文献1には、工作機械で使用される切削工具の先端部の突出量を調整する技術が開示されている。 For example, Patent Document 1 discloses a technique for adjusting the amount of protrusion of the tip of a cutting tool used in a machine tool.

特開2002-166338号公報Japanese Patent Application Publication No. 2002-166338

構造部品には、皿形状の加工が必要となることがある。
このような皿形状の加工には、カウンターシンクと呼ばれる切削工具が用いられるが、適切な深さの皿形状を加工するため、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量の調整が必要となる。
しかし、カウンターシンクの刃は、カウンターシンクの軸方向に対し傾斜している。
このため、特許文献1に開示されるような技術では、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整しにくい。
Structural parts may require dishing.
A cutting tool called a countersink is used to process such a dish shape, but in order to process a dish shape with an appropriate depth, it is necessary to adjust the amount of protrusion of the countersink blade relative to the microstopper.
However, the blade of the countersink is inclined with respect to the axial direction of the countersink.
Therefore, with the technique disclosed in Patent Document 1, it is difficult to adjust the amount of protrusion of the blade of the countersink relative to the microstopper.

本開示は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整しやすい計測装置及び計測方法を提供することを目的とする。 An object of the present disclosure is to provide a measuring device and a measuring method that can easily adjust the amount of protrusion of a countersink blade with respect to a microstopper.

上記課題を解決するために、本開示に係る計測装置は、カウンターシンクの刃と当接可能な第一当接部を有する計測探子を備える計測部と、マイクロストッパーの当り面と当接可能な第二当接部を有する基台と、を備え、前記基台に対し、前記計測探子が、前記カウンターシンクの軸方向に移動可能である。 In order to solve the above problems, a measuring device according to the present disclosure includes a measuring section that includes a measuring probe that has a first contacting section that can come into contact with a blade of a countersink, and a measuring probe that can come into contact with a contacting surface of a microstopper. a base having a second contact portion, and the measurement probe is movable in the axial direction of the countersink with respect to the base.

本開示に係る計測方法は、基台に対しカウンターシンクの軸方向に移動可能である計測探子の第一当接部に、前記カウンターシンクの刃を当て、マイクロストッパーの当り面が前記基台の第二当接部に当接するまで、前記計測探子を押し込む。 In the measurement method according to the present disclosure, the blade of the countersink is applied to a first contact portion of a measurement probe that is movable in the axial direction of the countersink relative to the base, and the contact surface of the microstopper is aligned with the base. Push the measurement probe until it contacts the second contact portion.

本開示の計測装置及び計測方法によれば、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整しやすい。 According to the measuring device and measuring method of the present disclosure, it is easy to adjust the amount of protrusion of the blade of the countersink relative to the microstopper.

本開示のある実施形態に係る計測装置の斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of a measuring device according to an embodiment of the present disclosure. 図1におけるII-II線断面図である。2 is a sectional view taken along line II-II in FIG. 1. FIG. 本開示のある実施形態に係る計測方法のフローチャートである。3 is a flowchart of a measurement method according to an embodiment of the present disclosure. 本開示のある実施形態に係る仮調整されたカウンターシンクを準備するステップにおける計測装置の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the measurement device in a step of preparing a temporarily adjusted countersink according to an embodiment of the present disclosure. 本開示のある実施形態に係る刃を当接するステップにおける計測装置の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the measuring device in a step of abutting a blade according to an embodiment of the present disclosure. 本開示のある実施形態に係るカウンターシンクを押すステップにおける計測装置の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the measuring device at a step of pushing a countersink according to an embodiment of the present disclosure. 本開示のある実施形態に係る当り面を当接するステップにおける計測装置の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the measuring device in a step of abutting a contact surface according to an embodiment of the present disclosure.

以下、本開示の各実施形態について、図面を用いて説明する。すべての図面において同一または相当する構成には同一の符号を付し、共通する説明は省略する。 Hereinafter, each embodiment of the present disclosure will be described using the drawings. In all the drawings, the same or corresponding structures are given the same reference numerals, and common explanations are omitted.

<実施形態>
ある実施形態に係る計測装置について、図1~図7を参照しながら説明する。
<Embodiment>
A measuring device according to a certain embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 7.

(計測装置の全体構成)
図1に示すように、計測装置1は、計測部10と、基台20と、を備える。
例えば、計測装置1は、航空機等の構造部品に対し皿形状の加工を施すための工具セットを調整するための設備であってもよい。
例えば、計測装置1は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の位置を調整するための設備であってもよい。
例えば、計測装置1は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を計測するための設備であってもよい。
(Overall configuration of measuring device)
As shown in FIG. 1, the measuring device 1 includes a measuring section 10 and a base 20.
For example, the measuring device 1 may be equipment for adjusting a tool set for processing a structural part of an aircraft or the like into a dish shape.
For example, the measuring device 1 may be a facility for adjusting the position of the countersink blade relative to the microstopper.
For example, the measuring device 1 may be a facility for measuring the amount of protrusion of a blade of a countersink with respect to a microstopper.

(工具セットの構成)
図2に示すように、工具セットTSは、カウンターシンクCSと、マイクロストッパーMSと、を備える。
カウンターシンクCSは、構造部品に皿形状の加工を施すための切削工具である。
マイクロストッパーMSは、カウンターシンクCSを支持するための支持構造であるとともに、皿形状の切削を所定の深さで停止させるための機構である。
例えば、マイクロストッパーMSは、一端に当り面MCを有する。
例えば、当り面MCは、マイクロストッパーMSが備える中空円柱形状の樹脂MPの下面であってもよい。
マイクロストッパーMSは、カウンターシンクCSの軸方向DAについて、当り面MCに対する刃TTの突出量APが所定値となる位置で、カウンターシンクCSを固定支持する。
このような工具セットTSで皿形状の切削を行うと、当り面MCが構造部品の一面に当たる位置まで切削を行うことができる。
このため、カウンターシンクCSにより加工される構造部品の皿形状の深さは、当り面MCに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APに一致する。
例えば、カウンターシンクCSは、切削方向を先導するためのパイロット部PTを有してもよい。
例えば、パイロット部PTは、カウンターシンクCSの軸方向DAに、刃TTの先端からさらに延びる棒形状を有してもよい。
(Composition of tool set)
As shown in FIG. 2, the tool set TS includes a countersink CS and a microstopper MS.
The countersink CS is a cutting tool for machining a structural component into a dish shape.
The microstopper MS is a support structure for supporting the countersink CS, and is also a mechanism for stopping dish-shaped cutting at a predetermined depth.
For example, the microstopper MS has a contact surface MC at one end.
For example, the contact surface MC may be the lower surface of the hollow cylindrical resin MP included in the microstopper MS.
The micro stopper MS fixedly supports the countersink CS at a position where the protrusion amount AP of the blade TT with respect to the contact surface MC is a predetermined value in the axial direction DA of the countersink CS.
When cutting into a dish shape with such a tool set TS, cutting can be performed to a position where the contact surface MC contacts one surface of the structural component.
Therefore, the depth of the plate shape of the structural component processed by the countersink CS matches the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the contact surface MC.
For example, the countersink CS may have a pilot part PT for guiding the cutting direction.
For example, the pilot part PT may have a rod shape that further extends from the tip of the blade TT in the axial direction DA of the countersink CS.

(計測部の構成)
計測部10は、計測探子11を備える。
計測探子11は、カウンターシンクCSの刃TTと当接可能な第一当接部111を有する。
計測探子11は、基台20に対し、カウンターシンクCSの軸方向DAに移動可能である。
例えば、計測探子11は、基台20に対し、カウンターシンクCSの軸方向DAについて進退可能であってもよい。
例えば、軸方向DAは、上下方向であってもよい。
(Configuration of measurement section)
The measurement section 10 includes a measurement probe 11.
The measurement probe 11 has a first contact portion 111 that can come into contact with the blade TT of the countersink CS.
The measurement probe 11 is movable in the axial direction DA of the countersink CS with respect to the base 20.
For example, the measurement probe 11 may be able to move forward and backward relative to the base 20 in the axial direction DA of the countersink CS.
For example, the axial direction DA may be a vertical direction.

例えば、計測探子11は、基台20上方から、基台20の開口202に嵌め込み可能であってもよい。
例えば、計測探子11は、基台20の開口202に対し、軸方向DAに出没可能であってもよい。
例えば、計測探子11は、基台20の開口202と同軸な中心軸112を有してもよい。
例えば、計測探子11は、基台20の開口202と同軸な円柱形状を有してもよい。
例えば、計測探子11は、カウンターシンクCSの刃TTで軸方向DAに押されることにより、基台20の開口202内に沈む込みように構成されてもよい。
For example, the measurement probe 11 may be able to be fitted into the opening 202 of the base 20 from above the base 20.
For example, the measurement probe 11 may be able to move in and out of the opening 202 of the base 20 in the axial direction DA.
For example, the measurement probe 11 may have a central axis 112 that is coaxial with the opening 202 of the base 20.
For example, the measurement probe 11 may have a cylindrical shape coaxial with the opening 202 of the base 20.
For example, the measurement probe 11 may be configured to sink into the opening 202 of the base 20 by being pushed in the axial direction DA by the blade TT of the countersink CS.

例えば、第一当接部111は、皿形状で凹んでいてもよい。
例えば、第一当接部111は、軸方向DAに凹んでいてもよい。
例えば、第一当接部111は、カウンターシンクCSの刃TTに近い側から、計測探子11の内側に向かって窄んで凹む皿形状を有してもよい。
For example, the first contact portion 111 may be dish-shaped and recessed.
For example, the first contact portion 111 may be recessed in the axial direction DA.
For example, the first contact portion 111 may have a dish shape that narrows toward the inside of the measurement probe 11 from the side closer to the blade TT of the countersink CS.

例えば、計測探子11は、第一当接部111から軸方向DAに延びる逃がし孔113を有してもよい。
例えば、逃がし孔113は、第一当接部111の皿形状の凹みに連通して、第一当接部111から計測探子11の内側に向かってさらに延びてもよい。
例えば、逃がし孔113は、第一当接部111に、カウンターシンクCSの刃TTが当接した状態において、カウンターシンクCSのパイロット部PTから計測探子11を逃がすように、パイロット部PTより太く長い形状を有してもよい。
For example, the measurement probe 11 may have a relief hole 113 extending from the first contact portion 111 in the axial direction DA.
For example, the escape hole 113 may communicate with a dish-shaped recess of the first contact portion 111 and further extend from the first contact portion 111 toward the inside of the measurement probe 11 .
For example, the escape hole 113 is thicker and longer than the pilot part PT so that the measurement probe 11 can escape from the pilot part PT of the countersink CS when the blade TT of the countersink CS is in contact with the first contact part 111. It may have a shape.

例えば、計測部10は、マイクロメーター12と、延伸部13と、弾性機構14と、をさらに備えてもよい。 For example, the measuring section 10 may further include a micrometer 12, a stretching section 13, and an elastic mechanism 14.

マイクロメーター12は、軸方向DAにおける計測探子11の相対位置を計測するための変位計である。
マイクロメーター12は、計測面121と、表示部122と、基部123と、を備える。
マイクロメーター12において、計測面121は、基部123から軸方向DAに進退可能である。
例えば、計測面121は、中心が計測探子11の中心軸112上に位置する円形状を有してもよい。
例えば、マイクロメーター12は、軸方向DAにおける計測探子11の相対位置として、軸方向DAにおける計測面121の相対位置を計測してもよい。
例えば、マイクロメーター12は、計測面121を延伸部13の下端に当接させることにより、軸方向DAにおける計測探子11の相対位置を計測可能であってもよい。
例えば、マイクロメーター12は、予め記憶させた基準位置をゼロ値として、基準位置に対する軸方向DAにおける計測探子11の相対位置を計測してもよい。
例えば、マイクロメーター12は、計測された計測探子11の相対位置を表示部122に表示してもよい。
The micrometer 12 is a displacement meter for measuring the relative position of the measurement probe 11 in the axial direction DA.
The micrometer 12 includes a measurement surface 121, a display section 122, and a base section 123.
In the micrometer 12, the measurement surface 121 can move forward and backward from the base 123 in the axial direction DA.
For example, the measurement surface 121 may have a circular shape whose center is located on the central axis 112 of the measurement probe 11.
For example, the micrometer 12 may measure the relative position of the measurement surface 121 in the axial direction DA as the relative position of the measurement probe 11 in the axial direction DA.
For example, the micrometer 12 may be able to measure the relative position of the measurement probe 11 in the axial direction DA by bringing the measurement surface 121 into contact with the lower end of the extension portion 13.
For example, the micrometer 12 may measure the relative position of the measurement probe 11 in the axial direction DA with respect to the reference position, using a pre-stored reference position as a zero value.
For example, the micrometer 12 may display the measured relative position of the measurement probe 11 on the display unit 122.

延伸部13は、計測探子11から計測面121に向かって、軸方向DAに延びる円柱形状を有する。
例えば、延伸部13は、計測探子11の開口202に対する出没に連動して、軸方向DAに進退してもよい。
例えば、延伸部13の上端が、開口202内で計測探子11と結合されてもよい。
例えば、延伸部13の下端が、計測面121と対向していてもよい。
例えば、延伸部13は、計測探子11と同軸であってもよい。
The extending portion 13 has a cylindrical shape extending in the axial direction DA from the measurement probe 11 toward the measurement surface 121.
For example, the extending portion 13 may move back and forth in the axial direction DA in conjunction with the movement of the measurement probe 11 into and out of the opening 202 .
For example, the upper end of the extension section 13 may be coupled to the measurement probe 11 within the opening 202.
For example, the lower end of the extending portion 13 may face the measurement surface 121.
For example, the extending portion 13 may be coaxial with the measurement probe 11.

弾性機構14は、基台20に対し、軸方向DAについて、計測探子11に付勢を与える。
弾性機構14は、計測探子11が開口202内に沈む込み方向と反対方向に向かって、計測探子11に付勢を与える。
例えば、弾性機構14は、カウンターシンクCSの刃TTに向かって、計測探子11に付勢を与えてもよい。
例えば、弾性機構14の上端が、計測探子11の下面を押し上げるように、弾性機構14が計測探子11に付勢を与えてもよい。
例えば、弾性機構14は、延伸部13が貫通するように、計測探子11と同軸に設けられたコイルバネであってもよい。
例えば、弾性機構14は、計測探子11と同軸であってもよい。
The elastic mechanism 14 applies bias to the measurement probe 11 in the axial direction DA with respect to the base 20.
The elastic mechanism 14 biases the measurement probe 11 in a direction opposite to the direction in which the measurement probe 11 sinks into the opening 202 .
For example, the elastic mechanism 14 may bias the measurement probe 11 toward the blade TT of the countersink CS.
For example, the elastic mechanism 14 may bias the measurement probe 11 so that the upper end of the elastic mechanism 14 pushes up the lower surface of the measurement probe 11.
For example, the elastic mechanism 14 may be a coil spring provided coaxially with the measurement probe 11 so that the extension portion 13 passes through it.
For example, the elastic mechanism 14 may be coaxial with the measurement probe 11.

(基台の構成)
上記のとおり、基台20は、開口202を有する。
例えば、開口202には、弾性機構14が収容されてもよい。
例えば、開口202には、計測探子11が軸方向DAに出没可能に収容されてもよい。
例えば、開口202内に、延伸部13が軸方向DAに延びていてもよい。
例えば、開口202は、円柱形状を有してもよい。
(Base configuration)
As described above, the base 20 has the opening 202.
For example, the opening 202 may house the elastic mechanism 14.
For example, the measurement probe 11 may be housed in the opening 202 so as to be retractable in the axial direction DA.
For example, the extending portion 13 may extend within the opening 202 in the axial direction DA.
For example, opening 202 may have a cylindrical shape.

基台20は、マイクロストッパーMSの当り面MCと当接可能な第二当接部201をさらに有する。
例えば、第二当接部201は、当り面MCと対向する平面であってもよい。
例えば、第二当接部201は、中心が計測探子11の中心軸112上に位置する中空円であってもよい。
The base 20 further includes a second contact portion 201 that can come into contact with the contact surface MC of the micro stopper MS.
For example, the second contact portion 201 may be a plane facing the contact surface MC.
For example, the second contact portion 201 may be a hollow circle whose center is located on the central axis 112 of the measurement probe 11 .

例えば、基台20は、弾性機構14の下端を載置可能なように、開口202の下端において、開口202外周から開口202の中心に向かって突出する突出部203をさらに有してもよい。
例えば、基台20は、マイクロメーター12を収容可能な中空部204を有してもよい。
例えば、基台20は、マイクロメーター12の基部123を底205に固定している固定台206を有してもよい。
例えば、開口202は、第二当接部201を有する面から中空部204まで、基台20を軸方向DAに貫通する孔であってもよい。
For example, the base 20 may further include a protrusion 203 that protrudes from the outer periphery of the opening 202 toward the center of the opening 202 at the lower end of the opening 202 so that the lower end of the elastic mechanism 14 can be placed thereon.
For example, the base 20 may have a hollow portion 204 that can accommodate the micrometer 12.
For example, the base 20 may include a fixed base 206 that secures the base 123 of the micrometer 12 to the bottom 205.
For example, the opening 202 may be a hole that penetrates the base 20 in the axial direction DA from the surface having the second contact portion 201 to the hollow portion 204.

例えば、基台20は、パイロット部PTの外径をチェック可能なパイロットチェック孔207をさらに備えてもよい。 For example, the base 20 may further include a pilot check hole 207 that can check the outer diameter of the pilot part PT.

(動作)
本実施形態の計測装置1の動作について説明する。
本動作は、計測方法の実施形態に相当する。
作業者は、図3に示す各ステップを実施する。
(motion)
The operation of the measuring device 1 of this embodiment will be explained.
This operation corresponds to an embodiment of the measurement method.
The operator performs each step shown in FIG.

例えば、作業者は、まず、基準突出量AP0を予め設定してもよい(ST01:基準突出量を設定するステップ)。
例えば、いくつかの皿形状を実際に加工することにより、すでに適切な深さの皿形状を加工できる状態に調整された工具セット(マスター)について、作業者は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を計測装置1で計測し、基準突出量AP0として設定してもよい。
例えば、作業者は、基準突出量AP0の設定として、基準突出量AP0をゼロ値として、マイクロメーター12に記憶させてもよい。
For example, the operator may first set the reference protrusion amount AP0 in advance (ST01: step of setting the reference protrusion amount).
For example, with a tool set (master) that has already been adjusted to be able to machine a dish shape with an appropriate depth by actually machining several dish shapes, the operator can adjust the countersink blade against the micro stopper. The amount of protrusion may be measured by the measuring device 1 and set as the reference amount of protrusion AP0.
For example, the operator may set the standard protrusion amount AP0 to a zero value and store it in the micrometer 12.

ST01の実施に続いて、作業者は、図4に示すように、仮調整されたカウンターシンクCSを準備する(ST02:仮調整されたカウンターシンクを準備するステップ)。
例えば、ST02において、作業者は、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを仮調整してもよい。
例えば、ST02において、作業者は、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APが仮調整された工具セットTSを準備してもよい。
Following the implementation of ST01, the operator prepares a provisionally adjusted countersink CS, as shown in FIG. 4 (ST02: step of preparing a provisionally adjusted countersink).
For example, in ST02, the operator may temporarily adjust the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS.
For example, in ST02, the operator may prepare a tool set TS in which the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS has been temporarily adjusted.

ST02の実施に続いて、作業者は、カウンターシンクCSを基台20に載せる(ST03:載せるステップ)。
例えば、作業者は、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APが仮調整された工具セットTSを基台20に載せてもよい。
Following the implementation of ST02, the operator places the countersink CS on the base 20 (ST03: step of placing).
For example, the operator may place the tool set TS on the base 20 in which the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS relative to the microstopper MS has been temporarily adjusted.

ST03の実施に続いて、作業者は、図5に示すように、基台20に対しカウンターシンクCSの軸方向DAに移動可能である計測探子11の第一当接部111に、カウンターシンクCSの刃TTを当てる(ST04:刃を当てるステップ)。
例えば、ST04において、作業者は、仮調整されたカウンターシンクCSの刃TTを、第一当接部111に当接してもよい。
Following the implementation of ST03, as shown in FIG. Apply the blade TT (ST04: step of applying the blade).
For example, in ST04, the operator may contact the temporarily adjusted blade TT of the counter sink CS with the first contact portion 111.

ST04の実施に続いて、作業者は、図6に示すように、計測探子11を押し込む(ST05:計測探子を押し込むステップ)。
ST05において、作業者は、図7に示すように、マイクロストッパーMSの当り面MCが、基台20の第二当接部201に当接するまで、計測探子11を押し込む。
例えば、ST05において、作業者は、刃TTを第一当接部111に当接させたまま、計測探子11を軸方向DAに押し込んでもよい。
Following the implementation of ST04, the operator pushes in the measurement probe 11, as shown in FIG. 6 (ST05: step of pushing in the measurement probe).
In ST05, the operator pushes the measurement probe 11 until the contact surface MC of the microstopper MS contacts the second contact portion 201 of the base 20, as shown in FIG.
For example, in ST05, the operator may push the measurement probe 11 in the axial direction DA while keeping the blade TT in contact with the first contact portion 111.

ST05の実施に続いて、作業者は、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを、基準突出量AP0と比較する(ST06:比較するステップ)。
例えば、ST06において、作業者は、図7に示す状態において、基準突出量AP0に対する突出量APの差を計測してもよい。
例えば、ST06において、作業者は、基準突出量AP0に対する突出量APの差として、基準突出量AP0がゼロ値として記憶されたマイクロメーター12の計測値を読み取ってもよい。
例えば、ST06において、作業者は、基準突出量AP0に対する突出量APの差が許容値内であるか否かを判定してもよい。その際、許容値は、機構部品に対し、加工すべき皿形状の深さに許容される値であってもよい。
例えば、ST06において、作業者は、許容値内であるか否かの判定として、基準突出量AP0に対する突出量APの差がゼロ値であるか否かを判定してもよい。
Following ST05, the operator compares the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS with the reference protrusion amount AP0 (ST06: step of comparing).
For example, in ST06, the operator may measure the difference between the protrusion amount AP and the reference protrusion amount AP0 in the state shown in FIG.
For example, in ST06, the operator may read the measurement value of the micrometer 12 in which the standard protrusion amount AP0 is stored as a zero value, as the difference between the protrusion amount AP and the standard protrusion amount AP0.
For example, in ST06, the operator may determine whether the difference between the protrusion amount AP and the reference protrusion amount AP0 is within a tolerance value. In this case, the tolerance value may be a value that is allowed for the depth of the dish shape to be machined for the mechanical component.
For example, in ST06, the operator may determine whether the difference between the protrusion amount AP and the reference protrusion amount AP0 is a zero value to determine whether the protrusion amount AP0 is within the allowable value.

基準突出量AP0に対する突出量APの差が許容値内である場合(ST06:Yes)、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整が完了したとして、計測方法を終了する。
基準突出量AP0に対する突出量APの差が許容値内でない場合(ST06:No)、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整し(ST07:突出量を調整するステップ)、ST03に戻る。
If the difference between the protrusion amount AP and the reference protrusion amount AP0 is within the allowable value (ST06: Yes), it is assumed that the adjustment of the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the micro stopper MS has been completed, and the measurement method is ended.
If the difference between the protrusion amount AP and the reference protrusion amount AP0 is not within the allowable value (ST06: No), adjust the protrusion amount AP of the blade TT of the counter sink CS with respect to the micro stopper MS (ST07: step of adjusting the protrusion amount), Return to ST03.

(作用及び効果)
本実施形態によれば、軸方向DAにおける計測探子11の相対位置が、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APに関連する。
このため、作業者は、軸方向DAにおける計測探子11の位置を計測することによって、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを計測することができる。
したがって、計測装置1によれば、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整しやすい。
(action and effect)
According to this embodiment, the relative position of the measurement probe 11 in the axial direction DA is related to the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS.
Therefore, the operator can measure the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS by measuring the position of the measurement probe 11 in the axial direction DA.
Therefore, according to the measuring device 1, it is easy to adjust the protrusion amount AP of the blade TT of the counter sink CS with respect to the micro stopper MS.

一般に構造部品の締結には、ボルトが用いられることがある。その際、構造部品には、ボルトの挿入するための加工が必要になる。
例えば、皿頭のボルトの挿入穴には、皿形状の加工が必要となる。
例えば、突出し頭のボルトの挿入穴には、フィレットリリーフと呼ばれる皿形状の逃がしを設ける必要がある。
構造部品に適切な深さの皿形状を加工するには、切削工具として、マイクロストッパーに固定されたカウンターシンクが用いられる。カウンターシンクは、カウンターシンクの軸方向に対し傾斜している刃を、軸方向周りに回転させて構造部品の表面を切削し、皿形状を加工する。皿形状が規定深さとなるまで構造部品の表面が切削されると、マイクロストッパーの当り面が構造部品の表面に当接する。このため、規定深さの形状を加工することができる。
したがって、規定深さの皿形状を加工するにはマイクロストッパーに対し、カウンターシンクの刃の突出量が適切に調整される必要がある。
Generally, bolts are sometimes used to fasten structural parts. In this case, the structural parts require processing to insert bolts.
For example, a hole for inserting a countersunk bolt requires processing into a countersunk shape.
For example, it is necessary to provide a dish-shaped relief called a fillet relief in the insertion hole of a bolt with a protruding head.
To machine the dish shape of the appropriate depth in the structural part, a countersink fixed to a microstop is used as a cutting tool. The counter sink cuts the surface of a structural component by rotating a blade that is inclined with respect to the axial direction of the counter sink around the axial direction, thereby processing the dish shape. When the surface of the structural component is cut until the dish shape reaches a specified depth, the contact surface of the microstopper comes into contact with the surface of the structural component. Therefore, it is possible to process a shape with a specified depth.
Therefore, in order to process a dish shape with a specified depth, it is necessary to appropriately adjust the amount of protrusion of the countersink blade relative to the microstopper.

比較例1として、カウンターシンクの刃に直接マイクロメーターの計測面を当接させることで、作業者がマイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整したとする。
しかし、カウンターシンクの刃は、カウンターシンクの軸方向に対し傾斜しているため、比較例1では、作業者は、カウンターシンクの刃の位置を一意的に特定することが難しい。
これに対し、本実施形態によれば、計測探子11の位置を計測することで、カウンターシンクの刃の位置を特定できるため、作業者は、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを計測しやすい。
As Comparative Example 1, it is assumed that an operator adjusts the amount of protrusion of the countersink blade relative to the microstopper by bringing the measurement surface of the micrometer into direct contact with the countersink blade.
However, since the blade of the countersink is inclined with respect to the axial direction of the countersink, in Comparative Example 1, it is difficult for the operator to uniquely identify the position of the blade of the countersink.
On the other hand, according to the present embodiment, the position of the blade of the countersink can be specified by measuring the position of the measurement probe 11. Easy to measure AP.

比較例2として、構造部品に対し実際に皿形状を加工し、加工された皿形状の深さを計測することで、作業者は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整したとする。
しかし、比較例2では、実際の皿形状の加工には少なくとも切削加工が必要であるため、作業者は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整するのに身体的負荷が掛る。
これに対し、本実施形態によれば、実際の皿形状の加工を行うことなく、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整できるため、作業者にとって、身体的負荷が低減される。
As Comparative Example 2, assume that the operator adjusts the amount of protrusion of the countersink blade relative to the microstopper by actually machining a dish shape on a structural part and measuring the depth of the machined dish shape. .
However, in Comparative Example 2, since at least cutting is required to actually process the dish shape, the operator is physically burdened to adjust the amount of protrusion of the countersink blade relative to the microstopper.
In contrast, according to the present embodiment, the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS relative to the microstopper MS can be adjusted without actually machining the dish shape, so the physical load on the worker is reduced. be done.

本実施形態の一例によれば、マイクロメーター12により、作業者は、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを数値で評価できる。
このため、作業者は、勘やコツに頼らず、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整できる。
According to an example of the present embodiment, the micrometer 12 allows the operator to numerically evaluate the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS.
Therefore, the operator can adjust the protrusion amount AP of the blade TT of the counter sink CS with respect to the micro stopper MS without relying on intuition or tricks.

本実施形態の一例によれば、計測探子11が、基台20の開口202に対し軸方向DAに出没可能であるため、計測装置1は、計測探子11にカウンターシンクCSを軸方向DAに押し付けやすい構造を有する。
このため、計測装置1によれば、作業者は、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを計測しやすい。
According to an example of the present embodiment, since the measurement probe 11 can move in and out of the opening 202 of the base 20 in the axial direction DA, the measurement device 1 presses the countersink CS against the measurement probe 11 in the axial direction DA. It has a simple structure.
Therefore, according to the measuring device 1, the operator can easily measure the protrusion amount AP of the blade TT of the counter sink CS with respect to the micro stopper MS.

本実施形態の一例によれば、第一当接部111は、皿形状で凹んでいるため、第一当接部111が、カウンターシンクCSの刃TTと広く当接可能な構造を有する。
このため、計測される突出量APが安定した値を示しやすい。
According to an example of the present embodiment, the first abutting part 111 is dish-shaped and concave, so that the first abutting part 111 has a structure that can make wide contact with the blade TT of the countersink CS.
Therefore, the measured protrusion amount AP tends to show a stable value.

本実施形態の一例によれば、第一当接部111から軸方向DAに延びる逃がし孔113を有するため、第一当接部111がカウンターシンクCSの刃TTと当接する際に、計測装置1は、カウンターシンクCSのパイロット部PTを逃がすことができる構造を有する。
このため、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APの計測において、パイロット部PTが干渉しにくい。
According to an example of the present embodiment, since the first contact part 111 has the relief hole 113 extending in the axial direction DA, when the first contact part 111 contacts the blade TT of the countersink CS, the measuring device 1 has a structure that allows the pilot part PT of the countersink CS to escape.
Therefore, in measuring the protrusion amount AP of the blade TT of the counter sink CS with respect to the micro stopper MS, the pilot part PT is unlikely to interfere.

本実施形態の一例によれば、基準突出量AP0を予め設定し、マイクロストッパーMSに対する刃TTの突出量APを、基準突出量AP0と比較するため、作業者は、予め設定された基準に近づけるように、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整しやすい。 According to an example of the present embodiment, the standard protrusion amount AP0 is set in advance and the protrusion amount AP of the blade TT with respect to the microstopper MS is compared with the standard protrusion amount AP0, so that the operator approaches the preset standard. As such, it is easy to adjust the protrusion amount AP of the blade TT of the counter sink CS with respect to the micro stopper MS.

本実施形態の一例によれば、比較において、基準突出量AP0に対する突出量APの差を計測するため、作業者は、マイクロストッパーMSに対しカウンターシンクCSの突出量APを調整すべきか否か、どの程度調整すべきかを把握しやすい。 According to an example of the present embodiment, in order to measure the difference in the protrusion amount AP with respect to the reference protrusion amount AP0 in the comparison, the operator determines whether or not the protrusion amount AP of the countersink CS should be adjusted with respect to the micro stopper MS. It is easy to understand how much adjustment should be made.

本実施形態の一例によれば、差が許容値内になるように、突出量APを調整するため、作業者は、すでに適切な深さの皿形状を加工できる状態に調整された基準に倣い、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整できる。 According to an example of the present embodiment, in order to adjust the protrusion amount AP so that the difference is within an allowable value, the operator follows a standard that has already been adjusted to a state where a plate shape with an appropriate depth can be machined. , the protrusion amount AP of the blade TT of the counter sink CS relative to the micro stopper MS can be adjusted.

<変形例>
上述の実施形態の一例では、計測部10は、変位計としてマイクロメーター12を備えるが、軸方向DAにおける計測探子11の相対位置を計測できるなら、どのような変位計を備えてもよい。
変形例として、計測部10は、変位計として、レーザ変位計を備えてもよい。
<Modified example>
In the example of the embodiment described above, the measurement unit 10 includes the micrometer 12 as a displacement meter, but any displacement meter may be used as long as it can measure the relative position of the measurement probe 11 in the axial direction DA.
As a modification, the measurement unit 10 may include a laser displacement meter as the displacement meter.

上述の実施形態の一例では、マイクロメーター12の基部123は、固定台206により、基台20の底205に固定されているが、マイクロメーター12の基部123が、基台20に固定されるなら、どのように構成されてもよい。
変形例として、マイクロメーター12の基部123は、基台20の上部から垂下する腕部に固定されることにより、基台20に固定されてもよい。
In the example of the embodiment described above, the base 123 of the micrometer 12 is fixed to the bottom 205 of the base 20 by the fixing base 206, but if the base 123 of the micrometer 12 is fixed to the base 20, , may be configured in any way.
As a modification, the base 123 of the micrometer 12 may be fixed to the base 20 by being fixed to an arm hanging down from the top of the base 20.

上述の実施形態の一例では、ST07を実施した後、ST03に戻っているが、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整できるならどのように実施されてもよい。
変形例として、計測探子11を押し込んだ状態(例えば、図7に示す状態)で刃TTの突出量APを調整できるなら、ST07を実施した後、ST06に戻ってもよい。
In the example of the embodiment described above, the process returns to ST03 after performing ST07, but the process may be performed in any manner as long as the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS relative to the microstopper MS can be adjusted.
As a modification, if the protrusion amount AP of the blade TT can be adjusted with the measurement probe 11 pushed in (for example, the state shown in FIG. 7), the process may return to ST06 after performing ST07.

以上、本開示の実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、開示の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、開示の要旨を逸脱しない範囲で種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、開示の範囲や要旨に含まれる。 Although the embodiments of the present disclosure have been described above, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the disclosure. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, substitutions, and changes can be made without departing from the gist of the disclosure. These embodiments and variations thereof are included within the scope and gist of the disclosure.

<付記>
上述の実施形態に記載の計測装置1及び計測方法は、例えば以下のように把握される。
<Additional notes>
The measuring device 1 and the measuring method described in the above embodiment can be understood, for example, as follows.

(1)第1の態様に係る計測装置1は、カウンターシンクCSの刃TTと当接可能な第一当接部111を有する計測探子11を備える計測部10と、マイクロストッパーMSの当り面MCと当接可能な第二当接部201を有する基台20と、を備え、前記基台20に対し、前記計測探子11が、前記カウンターシンクCSの軸方向DAに移動可能である。 (1) The measuring device 1 according to the first aspect includes a measuring section 10 including a measuring probe 11 having a first contacting section 111 that can come into contact with the blade TT of a countersink CS, and a contacting surface MC of a microstopper MS. and a base 20 having a second contact portion 201 that can be brought into contact with the base 20, and the measurement probe 11 is movable in the axial direction DA of the countersink CS with respect to the base 20.

本態様によれば、軸方向DAにおける計測探子11の相対位置が、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APに関連する。
このため、作業者は、軸方向DAにおける計測探子11の位置を計測することによって、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを計測することができる。
したがって、計測装置1によれば、作業者は、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整しやすい。
According to this aspect, the relative position of the measurement probe 11 in the axial direction DA is related to the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS.
Therefore, the operator can measure the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS by measuring the position of the measurement probe 11 in the axial direction DA.
Therefore, according to the measuring device 1, the operator can easily adjust the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS.

(2)第2の態様に係る計測装置1は、前記計測部10が、マイクロメーター12をさらに備える(1)の計測装置1である。 (2) A measuring device 1 according to a second aspect is the measuring device 1 according to (1), in which the measuring section 10 further includes a micrometer 12.

本態様によれば、作業者は、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを数値で評価できる。
このため、作業者は、勘やコツに頼らず、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整できる。
According to this aspect, the operator can numerically evaluate the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS.
Therefore, the operator can adjust the protrusion amount AP of the blade TT of the counter sink CS with respect to the micro stopper MS without relying on intuition or tricks.

(3)第3の態様に係る計測装置1は、前記計測探子11が、前記基台20の開口202に対し前記軸方向DAに出没可能である(1)又は(2)の計測装置1である。 (3) The measurement device 1 according to the third aspect is the measurement device 1 according to (1) or (2), in which the measurement probe 11 can move in and out of the opening 202 of the base 20 in the axial direction DA. be.

本態様によれば、計測装置1は、計測探子11にカウンターシンクCSを軸方向DAに押し付けやすい構造を有する。
このため、計測装置1によれば、作業者は、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを計測しやすい。
According to this aspect, the measurement device 1 has a structure that allows the countersink CS to be easily pressed against the measurement probe 11 in the axial direction DA.
Therefore, according to the measuring device 1, the operator can easily measure the protrusion amount AP of the blade TT of the counter sink CS with respect to the micro stopper MS.

(4)第4の態様に係る計測装置1は、前記第一当接部111が、皿形状で凹んでいる(1)又は(3)のいずれかの計測装置1である。 (4) The measuring device 1 according to the fourth aspect is the measuring device 1 according to either (1) or (3), in which the first contact portion 111 is recessed in a dish shape.

本態様によれば、第一当接部111が、カウンターシンクCSの刃TTと広く当接可能な構造を有する。
このため、計測される突出量APが安定した値を示しやすい。
According to this aspect, the first contact portion 111 has a structure that can widely contact the blade TT of the countersink CS.
Therefore, the measured protrusion amount AP tends to show a stable value.

(5)第5の態様に係る計測装置1は、前記計測探子11が、前記第一当接部111から前記軸方向DAに延びる逃がし孔113を有する(1)又は(4)のいずれかの計測装置1である。 (5) The measuring device 1 according to the fifth aspect has the above-mentioned measurement probe 11 having a relief hole 113 extending from the first contact portion 111 in the axial direction DA (1) or (4). This is a measuring device 1.

本態様によれば、第一当接部111がカウンターシンクCSの刃TTと当接する際に、計測装置1は、カウンターシンクCSのパイロット部PTを逃がすことができる構造を有する。
このため、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APの計測において、パイロット部PTが干渉しにくい。
According to this aspect, the measuring device 1 has a structure that allows the pilot part PT of the countersink CS to escape when the first contact part 111 contacts the blade TT of the countersink CS.
Therefore, in measuring the protrusion amount AP of the blade TT of the counter sink CS with respect to the micro stopper MS, the pilot part PT is unlikely to interfere.

(6)第6の態様に係る計測方法は、基台20に対しカウンターシンクCSの軸方向DAに移動可能である計測探子11の第一当接部111に、前記カウンターシンクCSの刃TTを当て、マイクロストッパーMSの当り面MCが前記基台20の第二当接部201に当接するまで、前記計測探子11を押し込む。 (6) In the measurement method according to the sixth aspect, the blade TT of the countersink CS is attached to the first contact portion 111 of the measurement probe 11 which is movable in the axial direction DA of the countersink CS with respect to the base 20. The measurement probe 11 is pushed in until the contact surface MC of the microstopper MS contacts the second contact portion 201 of the base 20.

本態様によれば、軸方向DAにおける計測探子11の相対位置が、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APに関連する。
このため、作業者は、軸方向DAにおける計測探子11の位置を計測することによって、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを計測することができる。
したがって、計測方法によれば、作業者は、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整しやすい。
According to this aspect, the relative position of the measurement probe 11 in the axial direction DA is related to the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS.
Therefore, the operator can measure the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS by measuring the position of the measurement probe 11 in the axial direction DA.
Therefore, according to the measurement method, the operator can easily adjust the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS.

(7)第7の態様に係る計測方法は、基準突出量AP0を予め設定し、前記マイクロストッパーMSに対する前記刃TTの突出量APを、前記基準突出量AP0と比較する(6)の計測方法である。 (7) The measurement method according to the seventh aspect is the measurement method according to (6), in which a reference protrusion amount AP0 is set in advance, and the protrusion amount AP of the blade TT with respect to the microstopper MS is compared with the reference protrusion amount AP0. It is.

本態様によれば、作業者は、予め設定された基準に近づけるように、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整しやすい。 According to this aspect, the operator can easily adjust the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS so that it approaches a preset standard.

(8)第8の態様に係る計測方法は、前記比較において、前記基準突出量AP0に対する前記突出量APの差を計測する(7)の計測方法である。 (8) The measuring method according to the eighth aspect is the measuring method according to (7), in which the difference between the protrusion amount AP and the reference protrusion amount AP0 is measured in the comparison.

本態様によれば、作業者は、マイクロストッパーMSに対しカウンターシンクCSを調整すべきか否か、どの程度調整すべきかを把握しやすい。 According to this aspect, it is easy for the operator to understand whether or not to adjust the countersink CS to the microstopper MS and to what extent the countersink CS should be adjusted.

(9)第9の態様に係る計測方法は、前記差が許容値内になるように、前記突出量APを調整する(7)の計測方法である。 (9) A measuring method according to a ninth aspect is the measuring method according to (7), in which the protrusion amount AP is adjusted so that the difference falls within an allowable value.

本態様によれば、作業者は、すでに適切な深さの皿形状を加工できる状態に調整された基準に倣い、マイクロストッパーMSに対するカウンターシンクCSの刃TTの突出量APを調整できる。 According to this aspect, the operator can adjust the protrusion amount AP of the blade TT of the countersink CS with respect to the microstopper MS, following the standard that has already been adjusted so that a dish shape with an appropriate depth can be processed.

1 計測装置
10 計測部
11 計測探子
12 マイクロメーター
13 延伸部
14 弾性機構
20 基台
111 第一当接部
112 中心軸
113 逃がし孔
121 計測面
122 表示部
123 基部
201 第二当接部
202 開口
203 突出部
204 中空部
205 底
206 固定台
207 パイロットチェック孔
AP 突出量
CS カウンターシンク
DA 軸方向
MC 当り面
MP 樹脂
MS マイクロストッパー
PT パイロット部
TS 工具セット
TT 刃
1 Measuring device 10 Measuring part 11 Measuring probe 12 Micrometer 13 Extension part 14 Elastic mechanism 20 Base 111 First contact part 112 Central axis 113 Escape hole 121 Measurement surface 122 Display part 123 Base part 201 Second contact part 202 Opening 203 Projecting part 204 Hollow part 205 Bottom 206 Fixing base 207 Pilot check hole AP Projection amount CS Counter sink DA Axial direction MC Contact surface MP Resin MS Micro stopper PT Pilot part TS Tool set TT Blade

Claims (11)

カウンターシンクの刃と当接可能な第一当接部を有する計測探子を備える計測部と、
マイクロストッパーの当り面と当接可能な第二当接部を有する基台と、を備え、
前記基台に対し、前記計測探子が、前記カウンターシンクの軸方向に移動可能であり、
前記第一当接部が、皿形状で凹んでいる計測装置。
a measurement section including a measurement probe having a first contact section that can come into contact with the blade of the countersink;
A base having a second contact part that can come into contact with the contact surface of the micro stopper,
The measurement probe is movable in the axial direction of the countersink with respect to the base ,
The measuring device in which the first contact portion is recessed in a dish shape .
前記計測部が、マイクロメーターをさらに備え
前記基台が、前記マイクロメーターを収容可能な中空部を有してい
請求項1に記載の計測装置。
The measurement unit further includes a micrometer ,
The measuring device according to claim 1 , wherein the base has a hollow portion that can accommodate the micrometer .
前記計測部が、延伸部と、弾性機構と、をさらに備え、 The measuring section further includes a stretching section and an elastic mechanism,
前記マイクロメーターが、計測面を備え、 The micrometer includes a measurement surface,
前記延伸部は、前記計測探子から前記計測面に向かって、前記軸方向に延び、 The extending portion extends in the axial direction from the measurement probe toward the measurement surface,
前記弾性機構は、前記基台に対し、前記軸方向について、前記計測探子に付勢を与え、 the elastic mechanism biases the measurement probe in the axial direction with respect to the base;
前記延伸部は、前記弾性機構を貫通している The extending portion passes through the elastic mechanism.
請求項2に記載の計測装置。 The measuring device according to claim 2.
前記基台が、前記弾性機構が収容されている開口と、前記開口の外周から前記開口の中心に向かって突出する突出部と、をさらに有し、 The base further includes an opening in which the elastic mechanism is housed, and a protrusion protruding from the outer periphery of the opening toward the center of the opening,
前記弾性機構が、前記突出部に載置されている The elastic mechanism is placed on the protrusion.
請求項3に記載の計測装置。 The measuring device according to claim 3.
前記計測探子が、前記開口に対し前記軸方向に出没可能である請求項に記載の計測装置。 The measurement device according to claim 4 , wherein the measurement probe can move in and out of the opening in the axial direction. 前記皿形状が、前記刃に近い側から、前記計測探子の内側に向かって窄んで凹んでいる請求項1からのいずれか一項に記載の計測装置。 The measuring device according to any one of claims 1 to 5 , wherein the dish shape is narrowed and concave toward the inside of the measurement probe from the side closer to the blade . 前記計測探子が、前記第一当接部から前記軸方向に延びる逃がし孔を有する請求項1からのいずれか一項に記載の計測装置。 The measurement device according to any one of claims 1 to 6 , wherein the measurement probe has an escape hole extending in the axial direction from the first contact portion. 基台に対しカウンターシンクの軸方向に移動可能である計測探子の第一当接部に、前記カウンターシンクの刃を当て、
マイクロストッパーの当り面が前記基台の第二当接部に当接するまで、前記計測探子を押し込み、
前記第一当接部が、皿形状で凹んでいる計測方法。
applying the blade of the countersink to a first contact portion of a measurement probe that is movable in the axial direction of the countersink relative to the base;
pushing the measurement probe until the contact surface of the microstopper contacts the second contact portion of the base;
A measurement method in which the first contact portion is recessed in a dish shape .
基準突出量を予め設定し、
前記マイクロストッパーに対する前記刃の突出量を、前記基準突出量と比較する請求項に記載の計測方法。
Set the standard protrusion amount in advance,
The measuring method according to claim 8 , wherein the amount of protrusion of the blade relative to the microstopper is compared with the reference amount of protrusion.
前記比較において、前記基準突出量に対する前記突出量の差を計測する請求項に記載の計測方法。 10. The measuring method according to claim 9 , wherein in the comparison, a difference between the protrusion amount and the reference protrusion amount is measured. 前記差が許容値内になるように、前記突出量を調整する請求項10に記載の計測方法。 The measuring method according to claim 10 , wherein the protrusion amount is adjusted so that the difference is within an allowable value.
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