JP7365268B2 - 光励起磁気センサ及び光励起磁気測定方法 - Google Patents
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Description
実施形態では、静磁場SMの強度を一定の時間間隔で変化させた。例えば、図7(a)のグラフG7aに示すように、静磁場SMの強度を変化させる時間間隔は、一定でなくてもよい。第1の強度(0.1)から第4の強度(0.4)までは、第1の時間間隔(0.05)とする。そして、第4の強度(0.4)から第7の強度(0.7)までは、第2の時間間隔(0.1)とする。図7(a)の例では、第2の時間間隔は、第1の時間間隔の2倍である。この制御によっても、測定可能な磁気の周波数帯域を拡大することができる。
図7(b)に示すように、静磁場SMの強度の変化幅は、一定でなくてもよい。第1の強度(0.1)から第4の強度(0.4)までは、第1の強度幅(0.1)で増加させる。そして、第4の強度(0.4)から第7の強度(1)までは、第2の強度幅(0.2)で増加させる。図7(b)の例では、第2の強度幅は、第1の強度幅の2倍である。この制御によっても、測定可能な磁気の周波数帯域を拡大することができる。
図8(a)のグラフG8aに示すように、コンピュータ10は、セル2の配置領域に発生する静磁場SMの強度を、第1の強度(0.2)と第2の強度(0.8)とに交互に切り替えてもよい。具体的には、コイル制御部10bは、第1の電流を出力させる第1の制御信号を第1の期間に提供する。この制御によって、静磁場SMの強度が第1の強度に設定される。次に、コイル制御部10bは、第2の電流を出力させる第2の制御信号を第2の期間に提供する。この制御によって、静磁場SMの強度が第2の強度に切り替わる。この場合には、静磁場SMの強度を矩形波状に変化させるものともいえる。この制御によっても、測定可能な磁気の周波数帯域を拡大することができる。
実施形態では、静磁場SMの強度はステップ状に変化させた。換言すると、静磁場SMの強度変化は、不連続であった。例えば、図8(b)のグラフG8bに示すように、コンピュータ10は、静磁場SMの強度を、連続的に変化させてもよい。具体的には、静磁場SMの強度を、第1の強度(0.1)から第2の強度(1)まで時間の経過とともに連続的に変化させる。この変化は、図8(b)に示すように一次関数として示される直線的であってもよいし、2次関数などのように曲線的であってもよい。例えば、コイル制御部10bは、コイルユニット6に提供する電流の大きさを連続的に増加させる。この制御によって、静磁場SMの強度が第1の強度(0.1)から第2の強度(1)に連続的に増加する。そして、静磁場SMの強度は、第2の強度(1)に達した後に第1の強度(0.1)まで連続的に減少させてもよい。例えば、コイル制御部10bは、コイルユニット6に提供する電流の大きさを連続的に減少させる。この制御によって、静磁場SMの強度が第2の強度(1)から第1の強度(0.1)に連続的に減少する。つまり、静磁場SMの強度は、第1の強度(0.1)から第2の強度(1)に増加させたのちに、第2の強度(1)から第1の強度(0.1)まで減少させる。この動作を一つの単位として繰り返すこととしてもよい。この場合には、静磁場SMの強度を三角波状に変化させるものともいえる。この制御によっても、測定可能な磁気の周波数帯域を拡大することができる。
また、静磁場SMの強度を連続的に変化させる態様では、図8(c)のグラフG8cに示すように、静磁場SMの強度を第1の強度(0.1)から第2の強度(1)に増加させる動作を一つの単位として繰り返してもよい。この場合には、静磁場SMの強度をノコギリ波状に変化させるものともいえる。この制御によっても、測定可能な磁気の周波数帯域を拡大することができる。
また、図9に示すように、コンピュータ10は、測定の結果に基づいて静磁場SMの強度を設定することとしてもよい。つまり、磁界パルスが検出された状態に注目して、強度を変化させる範囲を段階的に制限してもよい。具体的には、コンピュータ10は、第1のフェーズPH1として、静磁場SMの強度を第1の強度(0.2)から第5の強度(1)まで変化させる。この第1のフェーズPH1は磁気パルスが検出されるまで繰り返し実行する。例えば、出力信号が磁気パルスを示す信号成分を含むか否かを判定し、第3の強度(0.6)において磁気パルスが検出されたとする。そうすると、コンピュータ10は、第2のフェーズPH2に移行する。第2のフェーズPH2では、コンピュータ10は、強度変化の幅を第1のフェーズPH1より狭くする。例えば、静磁場SMの強度は、第3の強度(0.6)を中心として最小を第2の強度(0.4)とし、最大を第4の強度(0.8)とする。そしてこの幅において、強度の変化幅を第1のフェーズPH1よりも小さく設定する。例えば、強度の変化幅を第1のフェーズPH1の1/2とする。そして、この第2のフェーズPH2において、さらに磁気パルスの検出を行う。第2のフェーズPH2も第1のフェーズPH1と同様に、所定の条件が満たされるまで繰り返し行うこととしてよい。そして、第3の強度(0.6)と第4の強度(0.8)との中間の強度(0.7)において、注目する磁気パルスが検出されたとする。そうすると、コンピュータ10は、さらに第3のフェーズPH3に移行する。第3のフェーズPH3では、コンピュータ10は、静磁場SMの強度を、第4の強度と第5の強度との中間の強度(0.7)に設定する。第3のフェーズPH3では、磁気パルスが得られる最も適した条件が明らかになっているといえるので、静磁場SMの強度を変化させなくてもよい。この制御によっても、測定可能な周波数帯域を拡大することができる。さらに、注目する磁気パルスの測定精度を高めることもできる。
実施例1では、3つの周波数成分を含む入力信号G10a(図10(a))を設定し、静磁場SMの強度G10bを3段階に変化させながら、出力信号G10c(図10(b))を得た。さらに、出力信号G10cを周波数応答の特性から得られる倍率を用いて補正出力信号G10d(図10(c))を得た。入力信号G10aに対して出力信号G10cは、静磁場SMの強度G10bを変化させるごとに異なる波形を示した。また、出力信号G10cのピークの時間は、入力信号G10aの時間に対応するように見受けられたが、出力信号G10cのピークの強度は、入力信号G10aの強度とはずれていた。そこで、出力信号G10cに対してフーリエ変換を行い、周波数成分に分解したのちに、それぞれの成分に対して周波数応答の特性(図3参照)から得られる倍率を用いて補正した。その結果、補正出力信号G10dに示すように、おおむね入力信号G10aと同等とみなせる波形を復元できた。
実施例2では、入力信号G11a(図11(a))が含む周波数成分と、静磁場SMの強度に基づく共振周波数とのずれが大きい場合について、出力信号G11c(図11(b))及び補正出力信号G11d(図11(c))を確認した。出力信号G11c及び補正出力信号11dを得る処理の流れは、実施例1と同様である。その結果、入力信号G11aの周波数と共振周波数とのずれが極端に大きい場合には、出力信号G11cには、入力信号G11aに対応する成分をほとんど検出できない。しかし、静磁場SMの強度を変化させると共に補正を行うことによって、入力信号G11aにある程度対応する信号を得ることができた。
Claims (6)
- アルカリ金属が封入されたセルと、
前記アルカリ金属の原子を励起するためのポンプ光を発生する第1光源と、
前記原子の励起状態における所望の特性を検出するためのプローブ光を発生する第2光源と、
前記セルを通過した後の前記プローブ光に基づいて、前記セルが受けた磁気に関する出力信号を得る信号出力部と、
前記第1光源の光軸に沿う静磁場を前記セルを配置した領域に発生させる静磁場発生部と、
前記静磁場発生部の動作を制御すると共に前記セルが受けた磁気に関する情報を得る制御部と、を備え、
前記制御部は、前記静磁場の強度を第1の強度に設定する第1の制御信号を出力すると共に前記第1の制御信号を出力しているときに前記信号出力部が出力する信号を利用して前記セルが受けた磁気に関する情報を得る動作と、前記静磁場の強度を前記第1の強度とは異なる第2の強度に設定する第2の制御信号を出力すると共に前記第2の制御信号を出力しているときに前記信号出力部が出力する信号を利用して前記セルが受けた磁気に関する情報を得る動作と、を行う、光励起磁気センサ。 - アルカリ金属が封入されたセルと、
前記アルカリ金属の原子を励起するためのポンプ光を発生する第1光源と、
前記原子の励起状態における所望の特性を検出するためのプローブ光を発生する第2光源と、
前記セルを通過した後の前記プローブ光に基づいて、前記セルが受けた磁気に関する出力信号を得る信号出力部と、
前記第1光源の光軸に沿う静磁場を前記セルを配置した領域に発生させる静磁場発生部と、
前記静磁場発生部の動作を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記静磁場の強度を第1の強度に設定する第1の制御信号と、前記静磁場の強度を前記第1の強度とは異なる第2の強度に設定する第2の制御信号と、を出力し、
前記制御部は、前記第1の制御信号と前記第2の制御信号とを交互に出力する、光励起磁気センサ。 - アルカリ金属が封入されたセルと、
前記アルカリ金属の原子を励起するためのポンプ光を発生する第1光源と、
前記原子の励起状態における所望の特性を検出するためのプローブ光を発生する第2光源と、
前記セルを通過した後の前記プローブ光に基づいて、前記セルが受けた磁気に関する出力信号を得る信号出力部と、
前記第1光源の光軸に沿う静磁場を前記セルを配置した領域に発生させる静磁場発生部と、
前記静磁場発生部の動作を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記静磁場の強度を第1の強度に設定する第1の制御信号と、前記静磁場の強度を前記第1の強度とは異なる第2の強度に設定する第2の制御信号と、を出力し、
前記制御部は、前記静磁場の強度を前記第1の強度及び前記第2の強度とは異なる第3の強度に設定する第3の制御信号を出力し、
前記制御部は、前記第1の制御信号、前記第2の制御信号及び前記第3の制御信号の順に出力する動作を繰り返す、光励起磁気センサ。 - アルカリ金属が封入されたセルと、
前記アルカリ金属の原子を励起するためのポンプ光を発生する第1光源と、
前記原子の励起状態における所望の特性を検出するためのプローブ光を発生する第2光源と、
前記セルを通過した後の前記プローブ光に基づいて、前記セルが受けた磁気に関する出力信号を得る信号出力部と、
前記第1光源の光軸に沿う静磁場を前記セルを配置した領域に発生させる静磁場発生部と、
前記静磁場発生部の動作を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記静磁場の強度を第1の強度に設定する第1の制御信号と、前記静磁場の強度を前記第1の強度とは異なる第2の強度に設定する第2の制御信号と、を出力し、
前記制御部は、前記静磁場の強度を前記第1の強度及び前記第2の強度とは異なる第3の強度に設定する第3の制御信号を出力し、
前記制御部は、前記第1の制御信号、前記第2の制御信号、前記第3の制御信号、前記第2の制御信号、前記第1の制御信号の順に出力する動作を繰り返す、光励起磁気センサ。 - アルカリ金属が封入されたセルと、
前記アルカリ金属の原子を励起するためのポンプ光を発生する第1光源と、
前記原子の励起状態における所望の特性を検出するためのプローブ光を発生する第2光源と、
前記セルを通過した後の前記プローブ光に基づいて、前記セルが受けた磁気に関する出力信号を得る信号出力部と、
前記第1光源の光軸に沿う静磁場を前記セルを配置した領域に発生させる静磁場発生部と、
前記静磁場発生部の動作を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記静磁場の強度を第1の強度に設定する第1の制御信号と、前記静磁場の強度を前記第1の強度とは異なる第2の強度に設定する第2の制御信号と、を出力し、
前記制御部は、
前記第1の制御信号を出力した状態で得た前記出力信号が磁気パルスを示す信号成分を含むか否かを判定する第1の動作と、前記第2の制御信号を出力した状態で得た前記出力信号が磁気パルスを示す信号成分を含むか否かを判定する第2の動作と、を繰り返し、
前記第1の動作において前記出力信号が前記磁気パルスを示す信号成分を含む場合には、前記第1の動作から前記第2の動作への切り替えを行うことなく前記第1の動作を継続し、前記第2の動作において前記出力信号が前記磁気パルスを示す信号成分を含む場合には、前記第2の動作から前記第1の動作への切り替えを行うことなく前記第2の動作を継続する、光励起磁気センサ。 - アルカリ金属が封入されたセルに前記アルカリ金属の原子を励起するためのポンプ光を照射するとともに前記セルに前記原子の励起状態における所望の特性を検出するためのプローブ光を照射する工程と、
前記セルを配置した領域に第1の強度を有する静磁場を発生させた状態で、前記セルを通過した後の前記プローブ光に基づく出力信号を取得する工程と、
前記セルを配置した領域に前記第1の強度とは異なる第2の強度を有する静磁場を発生させた状態で、前記セルを通過した後の前記プローブ光に基づく出力信号を取得する工程と、を有する、光励起磁気測定方法。
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