JP7361362B2 - 網膜電位測定装置 - Google Patents

Description

本明細書に開示する技術は、網膜電位測定装置に関する。詳細には、光源からの光を眼に対して照射し、その光刺激により生じる網膜電位の変動を測定する網膜電位測定装置に関する。

ヒトの眼球、特に網膜には、一定の電位（以下、網膜電位ともいう）が存在している。網膜電位は、光刺激によって変動することが知られており、この光刺激によって生じる網膜電位の変動を測定する網膜電位測定装置が開発されている。網膜電位測定装置を用いて、網膜電位の変動を測定した網膜電位図（ＥＲＧ）を取得し、この網膜電位図を用いて網膜の電気生理学的検査を行うことができる。例えば、特許文献１に網膜電位測定装置の一例が開示されている。

網膜電位測定装置を用いた網膜の電気生理学的検査として、網膜の錐体及び杆体の機能を測定するための複数種類の検査がある。例えば、暗順応下における測定として、錐体と杆体の混合応答を測定するフラッシュＥＲＧや杆体の応答を測定する杆体ＥＲＧが知られている。明順応下における測定として、錐体の応答を測定する錐体ＥＲＧや錐体系の応答を測定するフリッカーＥＲＧが知られている。各測定では、網膜に与える光刺激の光量や光刺激を与えるタイミングが異なっている。

特開２０１１－８７６０９号公報

網膜電位測定装置を用いた網膜の電気生理学的検査では、複数種類の検査のそれぞれについて複数回の測定が行われる。従来の網膜電位測定装置を用いた検査では、網膜に与える光刺激の光量や点灯のタイミングが異なるため、検査の種類毎に、当該種類の検査について複数回の測定を行っている。ここで、同一種類の検査について複数回の測定を行うときは、直前の光刺激の影響が無くなってから次の光刺激を与えなければならないため、連続して行われる測定の間にある程度の間隔を空けなければならない。このため、全ての種類の検査を行うために長時間を要し、検査者にも被検査者にも負担になっている。

本明細書は、網膜電位測定装置において、複数種類の検査を行うために必要となる時間を低減する技術を開示する。

本明細書に開示する網膜電位測定装置は、光刺激によって網膜電位を測定する。網膜電位測定装置は、被検眼の網膜電位を検出する網膜電位検出部と、被検眼に光刺激を照射する光刺激照射部と、光刺激照射部から照射される光刺激を制御する制御部と、を備えている。制御部は、第１のパターンで光刺激を照射させる第１の検査と、第１のパターンとは異なる第２のパターンで光刺激を照射させる第２の検査と、を含む検査群を連続して実行可能に構成されている。連続して実行される検査群の間には、第１の所定の間隔が設けられている。

上記の網膜電位測定装置では、第１の検査と第２の検査を含む検査群が連続して実行可能となっている。検査群には第１の検査と第２の検査が含まれているため、第１の検査のみ又は第２の検査のみを連続して行う必要は無く、第１の検査と第２の検査を同時若しくは比較的に短い時間間隔で実行することができる。このため、連続して実行される検査群の間には、第１の所定の間隔が設けられているが、全体として検査が行われていない時間を短くすることができる。このため、連続して実行される検査群のうち、先に実行される検査群の影響がなくなってから、後の検査群を実行することを担保しながら、検査を行うために必要となる時間を低減することができる。

実施例に係る網膜電位測定装置の概略構成を示す模式図。 測定装置の概略構成を示す図であって、測定装置を被検者側から見た斜視図。 測定装置の概略構成を示す図であって、測定装置を検査者側から見た正面図。 フラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンの一例（フラッシュＥＲＧの測定回数と杆体ＥＲＧの測定回数が同じ場合）を示す図であって、（ａ）は従来のフラッシュＥＲＧを実行するための光刺激の照射パターンであり、（ｂ）は従来の杆体ＥＲＧを実行するための光刺激の照射パターンであり、（ｃ）はフラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンの一例（左眼又は右眼のみの測定）であり、（ｄ）はフラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンの他の一例（左眼と右眼の交互測定）である。 フラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンの他の一例（フラッシュＥＲＧの測定回数と杆体ＥＲＧの測定回数が異なる場合）を示す図であって、（ａ）は従来のフラッシュＥＲＧを実行するための光刺激の照射パターンであり、（ｂ）は従来の杆体ＥＲＧを実行するための光刺激の照射パターンであり、（ｃ）はフラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンの一例（左眼又は右眼のみの測定）であり、（ｄ）はフラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンの他の一例（左眼と右眼の交互測定）である。 錐体ＥＲＧとフリッカーＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンの一例を示す図であって、（ａ）は従来のフリッカーＥＲＧを実行するための光刺激の照射パターンであり、（ｂ）は従来の錐体ＥＲＧを実行するための光刺激の照射パターンであり、（ｃ）は錐体ＥＲＧとフリッカーＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンの一例（左眼又は右眼のみの測定）であり、（ｄ）は錐体ＥＲＧとフリッカーＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンの他の一例（左眼と右眼の交互測定）である。 錐体ＥＲＧとフリッカーＥＲＧを含む検査群を実行したときの測定結果の一例を示す図であり、（ａ）は基線揺れを含む補正前の原波形を示し、（ｂ）は基線揺れのない補正後の波形を示し、（ｃ）は（ｂ）のうち錐体ＥＲＧの測定結果を示し、（ｄ）は（ｂ）のうちフリッカーＥＲＧの測定結果を示す。

以下に説明する実施例の主要な特徴を列記しておく。なお、以下に記載する技術要素は、それぞれ独立した技術要素であって、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。

（特徴１）本明細書に開示する網膜電位測定装置では、検査群には、第１の検査に続いて第２の検査を実行する期間が含まれていてもよい。第１の検査に続いて第２の検査を実行する期間では、第１の検査と第２の検査との間に、第２の所定の間隔が設けられていてもよい。このような構成によると、第１の検査と第２の検査を含む検査群を実行する際に、先に実行される検査による光刺激（例えば、第１の光刺激）の影響がなくなってから、後に実行される検査による光刺激（例えば、第２の光刺激）を被検眼に与えることができる。このため、第１の検査と第２の検査の測定精度を向上することができる。また、第１の検査と第２の検査は異なる種類であるため、第２の所定の間隔は比較的に短い時間とすることができる。その結果、第１の検査と第２の検査の間に第２の所定の間隔を設定しても、検査時間の長時間化を抑制することができる。

（特徴２）本明細書に開示する網膜電位測定装置では、第１のパターンの光刺激の光量は、第２のパターンの光刺激の光量より小さくされていてもよい。制御部が検査群を実行するときは、第１の検査を実行してから第２の検査を実行してもよい。このような構成によると、光量の小さい光刺激を先に照射してから、光量の大きい光刺激が照射される。光刺激が照射されてからその光刺激による影響がなくなるまでにかかる時間は、その光刺激の光量の大きさに応じて長くなる。このため、光量の小さい光刺激を先に照射することによって、第１のパターンの光刺激と第２の光刺激を照射する間の間隔を短くすることができ、測定時間全体の長さを短くすることができる。

（特徴３）本明細書に開示する網膜電位測定装置では、第１のパターンの光刺激は、単発の光を照射する光刺激であってもよく、第２のパターンの光刺激は、連続して複数回の光を照射する光刺激であってもよい。制御部が前記検査群を実行するときは、第１のパターンの光刺激を照射してから第２のパターンの光刺激を照射させてもよい。このような構成によると、単発の光刺激を先に照射してから、連続の光刺激が照射される。これによって、１回の測定において第１の検査と第２の検査をほぼ同時に行うことができ、２種類の検査の測定時間を短縮することができる。

（特徴４）本明細書に開示する網膜電位測定装置では、光刺激照射部は、右の被検眼に光刺激を照射する第１照射部分と、左の被検眼に光刺激を照射する第２照射部分と、を備えていてもよい。制御部は、第１照射部分に照射させる光刺激の照射タイミングと、第２照射部分に照射させる光刺激の照射タイミングとがずれるように、第１照射部分及び第２照射部分を制御してもよい。このような構成によると、第１照射部分に光刺激が照射されるタイミングと、第２照射部分に光刺激を照射されるタイミングがずれた状態となる。これにより、第１照射部分に照射された光刺激の影響がなくなるまでの間に、第２照射部分に光刺激が照射される。このため、左右の被検眼を測定する測定時間を短くすることができる。

（特徴５）本明細書に開示する網膜電位測定装置では、光刺激照射部は、第１照射部分と第２照射部分を一体的に保持するフレームをさらに備えていてもよい。第１照射部分は、右の被検眼の周囲を覆う形状であってもよい。第２照射部分は、左の被検眼の周囲を覆う形状であってもよい。第１照射部分及び第２照射部分の被検眼と対向する部分は、その長径が右の被検眼と左の被検眼とを結ぶ直線と略平行となる略楕円形状を有していてもよい。左右の瞳孔の間の距離は、被検者毎に異なっている。第１照射部分及び第２照射部分の被検眼と対向する部分を略楕円状にすることによって、被検者の左右の瞳孔の間の距離に関わらず、左右の眼を第１照射部分及び第２照射部分によって覆うことができる。このため、汎用性を高くすることができる。

以下、実施例に係る網膜電位測定装置１０について説明する。網膜電位測定装置１０は、被検眼に光刺激を与えることによって、被検眼の網膜電位を測定する。図１に示すように、網膜電位測定装置１０は、右眼用光刺激照射部２０ａと、左眼用光刺激照射部２０ｂと、右眼用電極４０ａと、左眼用電極４０ｂと、接地電極４０ｃと、制御部５０と、表示部３０と、各種スイッチ３２を備えている。

右眼用光刺激照射部２０ａ、左眼用光刺激照射部２０ｂ、制御部５０、表示部３０及び各種スイッチ３２は、測定装置１２に設けられている。図２及び図３に示すように、測定装置１２は、本体１４と、右眼用光刺激照射部２０ａと、左眼用光刺激照射部２０ｂと、表示部３０と、各種スイッチ３２と、ハンドル３４と、コネクタ３６と、本体１４に内蔵される制御部５０（図１参照）を備えている。

本体１４は、略平板状であり、一方の面１４ａに右眼用光刺激照射部２０ａ及び左眼用光刺激照射部２０ｂが配置されており（図２参照）、他方の面１４ｂに表示部３０及び各種スイッチ３２が配置されている（図３参照）。本体１４は、右眼用光刺激照射部２０ａ及び左眼用光刺激照射部２０ｂと一体化されており、光刺激照射部２０ａ、２０ｂは本体１４によって予め定められた位置関係で保持されている。

図２に示すように、右眼用光刺激照射部２０ａと左眼用光刺激照射部２０ｂは、本体１４の面１４ａに、左右に（図２ではＸ方向に）並んで配置されている。右眼用光刺激照射部２０ａは、筒状であり、円筒部２１ａと底部２２ａを有している。右眼用光刺激照射部２０ａは、底部２２ａ側が本体１４の面１４ａに接続している。右眼用光刺激照射部２０ａは、その軸線が面１４ａに対して垂直になるように配置されている。右眼用光刺激照射部２０ａの面１４ａに接続していない端部には、当接部２４ａが設けられている。被検眼の網膜電位を測定する際には、当接部２４ａが被検眼（すなわち、右の被検眼Ｒ）の周囲に当接する。これによって、右の被検眼Ｒを右眼用光刺激照射部２０ａで覆い、外部の光が右の被検眼Ｒに入射し難い状態となる。

また、右眼用光刺激照射部２０ａの底部２２ａは、底部２２ａの中心が面１４ａ側に位置する凹部を有する球面となっている。すなわち、右眼用光刺激照射部２０ａの内部は、ドーム状となっている。円筒部２１ａの上方には、光刺激用光源２３ａが配置されている。光刺激用光源２３ａは、下方に向かって光を照射するように配置されている。光刺激用光源２３ａは、制御部５０によって制御され、検査の種類に応じた光量及び照射パターンの光を照射する。光刺激用光源２３ａから光が照射されると、右眼用光刺激照射部２０ａのドーム状の内表面で反射されて、その反射光が光刺激として右の被検眼Ｒに入射する。また、右眼用光刺激照射部２０ａの底部２２ａには、固視用光源２６ａと、カメラ２７ａと、赤外光照明２８ａが、左右に（すなわち、Ｘ方向に）並んで配置されている。詳細には、本体１４の中央側から側方に向かって、固視用光源２６ａ、カメラ２７ａ、赤外光照明２８ａに順に配置されている。固視用光源２６ａからの光を被検者に固視させることで、被検眼の移動を抑制する。カメラ２７ａは、被検眼を正面から撮影する。撮影された画像は、制御部５０に入力される。赤外光照明２８ａは、暗順応下でカメラ２７ａによって被検眼を撮影する際の照明光（赤外光）を照射する。左眼用光刺激照射部２０ｂは、右眼用光刺激照射部２０ａと同一の形状及び構成を有している。

右眼用光刺激照射部２０ａ及び左眼用光刺激照射部２０ｂは、その軸線に沿って見たときに略楕円形状となっており、右眼用光刺激照射部２０ａの長径と左眼用光刺激照射部２０ｂの長径が同一直線上に位置するように配置されている。測定の際には、右の被検眼Ｒが右眼用光刺激照射部２０ａにより覆われ、かつ、左の被検眼Ｌが左眼用光刺激照射部２０ｂに覆われるように、測定装置１２を固定する。本実施例の右眼用光刺激照射部２０ａ及び左眼用光刺激照射部２０ｂは、楕円状となっている。このため、被検者の左右の瞳孔の間の距離が長い場合であっても、左右の被検眼を覆うことができると共に、被検者の左右の瞳孔の間の距離が短い場合であっても、左右の被検眼を覆うことができる。このため、被検者の左右の瞳孔の間の距離に関わらず、同一の測定装置１２を用いて測定することができ、汎用性が高められている。

図３に示すように、表示部３０は、本体１４の面１４ｂに配置されている。表示部３０は、制御部５０から出力された情報を表示する。具体的には、表示部３０は、測定した被検眼の網膜電位図（ＥＲＧ）や、カメラ２７で撮影された被検眼の画像を表示する。各種スイッチ３２は、本体１４の面１４ｂに配置されている。各種スイッチ３２は、検査者が測定装置１２を操作するために用いられ、例えば、各種スイッチ３２としては、電源スイッチ、検査の種類を選択する選択スイッチ、測定開始スイッチ等を挙げることができる。測定時には、本体１４の面１４ｂが検査者に対向する。このため、検査者は、各種スイッチ３２を操作したり、被検眼の状態や測定後の網膜電位図を表示部３０によって確認したりすることができる。

図２及び図３に示すように、ハンドル３４は、本体１４の下面（すなわち、本体１４の－Ｚ方向）の中央に接続されている。ハンドル３４は、本体１４の面１４ｂ側に僅かに傾いている。測定時には、検査者がハンドル３４を用いて測定装置１２を被検者に対して固定する。コネクタ３６は、本体１４の下面の側方側（図２及び図３では－Ｘ方向側）に設けられている。コネクタ３６は、コード（図示省略）を介して右眼用電極４０ａ、左眼用電極４０ｂ及び接地電極４０ｃと電気的に接続される。

右眼用電極４０ａ、左眼用電極４０ｂ及び接地電極４０ｃ（図１に図示）は、銀等の導電性材質からなる電極板を有しており、コード（図示省略）と電気的に接続している。右眼用電極４０ａ、左眼用電極４０ｂ及び接地電極４０ｃは、粘着層を有しており、被検者の皮膚に固定できるようになっている。具体的には、右眼用電極４０ａは、右の被検眼Ｒの下眼瞼に固定され、左眼用電極４０ｂは、左の被検眼Ｌの下眼瞼に固定され、接地電極４０ｃは、被検者の頬や耳などに固定される。右眼用電極４０ａ及び左眼用電極４０ｂを下眼瞼等の被検眼の近傍の皮膚に固定することによって、被検眼の電位を検出する。右眼用電極４０ａ、左眼用電極４０ｂ及び接地電極４０ｃで検出された電位は、コードを介してコネクタ３６から本体１４の制御部５０にそれぞれ入力される。接地電極４０ｃは、測定装置１２のグランド電位と被検者の電位を一致させるために用いられる。

制御部５０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ（マイクロプロセッサ）によって構成されている。制御部５０は、右眼用光刺激照射部２０ａ、左眼用光刺激照射部２０ｂ、右眼用電極４０ａ、左眼用電極４０ｂ、接地電極４０ｃ、表示部３０及び各種スイッチ３２に接続されている。制御部５０は、右眼用光刺激照射部２０ａ及び左眼用光刺激照射部２０ｂから出力される光刺激を制御している。制御部５０には、右眼用電極４０ａ、左眼用電極４０ｂ及び接地電極４０ｃから検出された電位が入力される。制御部５０は、入力した電位から被検眼の網膜電位図を生成し、表示部３０に出力する。また、制御部５０は、各種スイッチ３２からの入力を受け付ける。

網膜電位測定装置１０を用いた被検眼の網膜電位の測定は、以下の手順で実行される。まず、検査者は、右の被検眼Ｒの下眼瞼に右眼用電極４０ａを貼付け、左の被検眼Ｌの下眼瞼に左眼用電極４０ｂを貼付け、頬又は耳に接地電極４０ｃを貼付ける。次いで、検査者は、右の被検眼Ｒが右眼用光刺激照射部２０ａにより覆われ、かつ、左の被検眼Ｌが左眼用光刺激照射部２０ｂに覆われるように、測定装置１２を支持する。次いで、検査者は、各種スイッチのうち、検査の種類を選択する選択スイッチを操作して実行する検査の種類を選択し、測定開始スイッチをオンする。すると、制御部５０は、選択された検査の種類に応じて、後述する照射パターンで右眼用光刺激照射部２０ａ及び左眼用光刺激照射部２０ｂから光刺激が照射されるように、右眼用光刺激照射部２０ａ及び左眼用光刺激照射部２０ｂを制御する。なお、後述する照射パターンは、メモリ（図示省略）に予め記憶されている。制御部５０は、光刺激の照射に応じて右眼用電極４０ａ及び左眼用電極４０ｂから入力される電位を測定し、メモリ内に記録する。

本実施例では、被検眼の下眼瞼に固定された右眼用電極４０ａ及び左眼用電極４０ｂにおいて網膜電位を検出する。下眼瞼に電極を固定して電位を検出する場合には、角膜に直接電極を固定する場合と比較して、取得される応答波形の振幅が小さく、応答波形に対してノイズが相対的に大きくなる。このため、左右の被検眼のうちの一方の網膜電位を測定する際には、他方の網膜電位の測定値をノイズ除去のために用いる。具体的には、左右の被検眼Ｒ、Ｌの網膜電位の測定を同時に行わず、別個のタイミングで測定する。そして、例えば、右の被検眼Ｒの網膜電位を測定する際に、右眼用電極４０ａ及び左眼用電極４０ｂの両方から電位を検出する。このとき、右眼用電極４０ａから検出された電位から、左眼用電極４０ｂから検出された電位を除いた差分を、右の被検眼Ｒの網膜電位とする。右の被検眼Ｒの網膜電位を測定する際には、左の被検眼Ｌには光刺激が与えられない。このため、左眼用電極４０ｂで検出された電位は、例えば、眼球運動や瞬目等に起因するノイズと言える。したがって、右眼用電極４０ａから検出された電位から左眼用電極４０ｂから検出された電位を除くことによって、右の被検眼Ｒの網膜電位が精度よく算出される。

次に、本実施例の網膜電位測定装置１０を用いて被検眼の網膜電位を測定する際に、右眼用光刺激照射部２０ａ及び左眼用光刺激照射部２０ｂから照射される光刺激について説明する。本実施例の網膜電位測定装置１０では、被検眼に与える光刺激のパターンが異なる２種類の検査を同時に行う。被検眼に与える光刺激のパターンが異なる２種類の検査とは、例えば、暗順応下で行われる、錐体と杆体の混合応答を測定するフラッシュＥＲＧと、杆体の応答を測定する杆体ＥＲＧである。また、明順応下で行われる、錐体の応答を測定する錐体ＥＲＧと、錐体系の応答を測定するフリッカーＥＲＧである。以下では、同時に行う第１の検査（例えば、フラッシュＥＲＧ）と第２の検査（例えば、杆体ＥＲＧ）を、第１の検査と第２の検査を含む検査群と称することがある。各検査は、応答波形に含まれるノイズを除去するために、連続して複数回実行し、取得した複数の応答波形を加算して平均化している。特に、上述したように、下眼瞼に電極を固定して電位を検出する場合には、角膜に直接電極を固定する場合と比較して、取得される応答波形の振幅が小さいため、応答波形に対してノイズが相対的に大きくなる。このため、複数の応答波形を加算平均する必要がある。従来では、例えば、暗順応下の検査であるフラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを行う場合には、先に杆体ＥＲＧのみを複数回実行し、その後、フラッシュＥＲＧのみを複数回実行していた。直前の測定の影響を排除するため、複数回の杆体ＥＲＧを測定する際は、各測定間に間隔を空けて行われ、また、複数回のフラッシュＥＲＧを測定する際にも、各測定間に間隔を空けて行われる。このため、２種類の検査を完了するまでに長時間を要し、検査者及び被検者に負担がかかっていた。本実施例の網膜電位測定装置１０では、暗順応下における２種類の検査を同時に行い、また、明順応下における２種類の検査を同時に行う。以下に、２種類の検査を同時に行うための光刺激の照射パターンについて説明する。

まず、図４を参照して、暗順応下において、フラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンについて説明する。図４では、横軸は時間を表し、縦軸は相対的な光刺激の大きさを表している。なお、図４では、フラッシュＥＲＧ及び杆体ＥＲＧを連続して３回実行する場合を例に説明する。

比較例として、図４（ａ）は、フラッシュＥＲＧのみを実行するための光刺激の照射パターン（すなわち、従来のフラッシュＥＲＧを実行するための光刺激の照射パターン）を示しており、図４（ｂ）は、杆体ＥＲＧのみを実行するための光刺激の照射パターン（すなわち、従来の杆体ＥＲＧを実行するための光刺激の照射パターン）を示している。フラッシュＥＲＧでは、標準的な光量（例えば、３ｃｄｓ／ｍ²）の光刺激を単発で照射する。このため、フラッシュＥＲＧを連続して実行する場合には、先のフラッシュＥＲＧの光刺激の影響をなくすために、１０秒以上間隔を空けて光刺激を照射する。また、杆体ＥＲＧでは、比較的弱い光量（例えば、０．０１ｃｄｓ／ｍ²）の光刺激を単発で照射する。このため、杆体ＥＲＧを連続して実行する場合には、２秒以上間隔を空けて光刺激を照射する。フラッシュＥＲＧ及び杆体ＥＲＧをそれぞれ別個で３回ずつ実行する場合、図４（ａ）及び図４（ｂ）に示すような間隔及び大きさで光刺激が照射される。

図４（ｃ）は、本実施例の網膜電位測定装置１０における、フラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンを示している。図４（ｃ）に示すように、先に杆体ＥＲＧの光刺激を照射し、続けてフラッシュＥＲＧの光刺激を照射する。杆体ＥＲＧの光刺激はフラッシュＥＲＧの光刺激より小さいため、フラッシュＥＲＧの測定では、先に照射した杆体ＥＲＧの光刺激の影響をほとんど受けることがない。そして、フラッシュＥＲＧの光刺激の照射の後、フラッシュＥＲＧを連続して実行する場合の間隔を空けて（すなわち、１０秒以上間隔を空けて）、２回目の杆体ＥＲＧの光刺激とフラッシュＥＲＧの光刺激を続けて照射する。フラッシュＥＲＧの光刺激の照射から１０秒以上間隔を空けると、先に照射されたフラッシュＥＲＧの光刺激の影響がなくなる。このため、２回目の杆体ＥＲＧの測定とフラッシュＥＲＧの測定が実行できる。そして、上記の間隔で杆体ＥＲＧの光刺激とフラッシュＥＲＧの光刺激の照射を繰り返す。このように杆体ＥＲＧの光刺激とフラッシュＥＲＧの光刺激を短い時間間隔で照射することによって、フラッシュＥＲＧのみを実行する場合とほとんど同じ測定時間で、フラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行することができる。このため、フラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを実行するための測定時間を短縮することができ、検査者及び被検者の負担を低減することができる。なお、本実施例では、図４（ｃ）で示す光刺激の照射パターンは、右の被検眼Ｒ及び左の被検眼Ｌのいずれか一方のみを測定する場合を示しているが、後述するように、左右の被検眼に同じタイミングで光刺激を照射する場合には、図４（ｃ）で示す光刺激の照射パターンを用いることができる。

また、図４（ｄ）に示すように、フラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行する際には、右の被検眼Ｒに光刺激を照射するタイミングと、左の被検眼Ｌに光刺激を照射するタイミングをずらして、左右の被検眼を同時に測定してもよい。具体的には、まず、右の被検眼Ｒに杆体ＥＲＧの光刺激とフラッシュＥＲＧの光刺激を続けて照射する。その後、右の被検眼Ｒに対してフラッシュＥＲＧを連続して実行する場合の間隔（すなわち、１０秒以上の間隔）を空けている間に、左の被検眼Ｌに杆体ＥＲＧの光刺激とフラッシュＥＲＧの光刺激を続けて照射する。すなわち、一方の被検眼に対して１０秒以上の間隔を空けている間に、他方の被検眼に杆体ＥＲＧの光刺激とフラッシュＥＲＧの光刺激を続けて照射する。このようなタイミングでの光刺激の照射を繰り返す。このように左右の被検眼に対して光刺激を照射するタイミングをずらすことによって、左右の被検眼の一方のみについてフラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行する場合とほとんど同じ測定時間で、左右の被検眼の両方についてフラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行することができる。

また、上述したように、本実施例では、左右の被検眼のうちの一方の電位を測定する際には、他方の被検眼の電位の測定値がノイズ除去のために用いられる。上述のように左右の被検眼に交互に光刺激を照射すると、左右の被検眼に対して同時に光刺激が照射されないため、一方の被検眼の電位を測定する際に、他方の被検眼の電位の測定値をノイズ除去のために用いることができる。なお、左右の被検眼に同じタイミングで光刺激を照射する場合、後述するように、３つの電極４０ａ～４０ｃに加え、被検者に対するさらに１つ以上の電極の貼付けと電位検出用回路が必要になる。このため、左右の被検眼に交互に光刺激を照射することによって、部品点数を増加させることなく、左右の被検眼の網膜電位の測定時間を短縮することができる。

なお、フラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行する際には、フラッシュＥＲＧの測定回数と杆体ＥＲＧの測定回数が同一でなくてもよい。以下に、図５を参照して、フラッシュＥＲＧの測定回数と杆体ＥＲＧの測定回数が異なる場合の例として、フラッシュＥＲＧを３回実行し、杆体ＥＲＧを５回実行する場合について説明する。図５では、横軸は時間を表し、縦軸は相対的な光刺激の大きさを表している。また、比較例として、図５（ａ）は、フラッシュＥＲＧのみを３回実行するための光刺激の照射パターンを示しており、図５（ｂ）は、杆体ＥＲＧのみを５回実行するための光刺激の照射パターンを示している。

図５（ｃ）は、本実施例の網膜電位測定装置１０における、フラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンを示している。杆体ＥＲＧの測定回数は、フラッシュＥＲＧの測定回数より２回多い。このため、図５（ｃ）に示すように、まず、杆体ＥＲＧの光刺激を２回照射する。このとき、２回の杆体ＥＲＧの光刺激の間には、杆体ＥＲＧを連続して実行する場合の間隔である２秒以上の間隔を空ける。２回目の杆体ＥＲＧの光刺激の照射の後、再び２秒以上の間隔を空け、３回目の杆体ＥＲＧの光刺激を照射し、続けてフラッシュＥＲＧの光刺激を照射する。その後、図４で示した例と同様に、フラッシュＥＲＧを連続して実行する場合の間隔である１０秒以上の間隔を空けて、杆体ＥＲＧの光刺激とフラッシュＥＲＧの光刺激の照射を繰り返す。このように、フラッシュＥＲＧの測定回数と杆体ＥＲＧの測定回数が同一でない場合であっても、フラッシュＥＲＧと杆体ＥＲＧを別個に実行した場合の測定時間の合計より測定時間を短縮することができる。

また、図５（ｄ）に示すように、フラッシュＥＲＧの測定回数と杆体ＥＲＧの測定回数が異なる場合にも、左右の被検眼に光刺激を照射するタイミングをずらして、左右の被検眼の網膜電位を同時に測定してもよい。具体的には、先に照射する２回の杆体ＥＲＧの光刺激について、左右の被検眼で照射タイミングをずらす。その後、２回の杆体ＥＲＧの光刺激の照射後に実行される杆体ＥＲＧの光刺激とフラッシュＥＲＧの光刺激の照射についても、左右の被検眼で照射タイミングをずらす。このように、フラッシュＥＲＧの測定回数と杆体ＥＲＧの測定回数が異なる場合であっても、左右の被検眼の網膜電位の測定時間を短縮することができる。

次に、図６を参照して、明順応下において、錐体ＥＲＧとフリッカーＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンについて説明する。図６においても、横軸は時間を表し、縦軸は相対的な光刺激の大きさを表している。

比較例として、図６（ａ）は、フリッカーＥＲＧのみを実行するための光刺激の照射パターン（すなわち、従来のフリッカーＥＲＧを実行するための光刺激の照射パターン）を示しており、図４（ｂ）は、錐体ＥＲＧのみを実行するための光刺激の照射パターン（すなわち、従来の錐体ＥＲＧを実行するための光刺激の照射パターン）を示している。フリッカーＥＲＧでは、標準的な光量（例えば、３ｃｄｓ／ｍ²）の光刺激を連続で（例えば、約３０Ｈｚで）照射する。錐体ＥＲＧでは、標準的な光量（例えば、３ｃｄｓ／ｍ²）の光刺激を単発で照射する。このため、錐体ＥＲＧを連続して実行する場合には、先の錐体ＥＲＧの光刺激の影響をなくすために、０．５秒以上間隔を空けて光刺激を照射する。フリッカーＥＲＧ及び錐体ＥＲＧをそれぞれ実行する場合、図６（ａ）及び図６（ｂ）に示すような間隔で光刺激が照射される。

図６（ｃ）は、錐体ＥＲＧとフリッカーＥＲＧを含む検査群を実行するための光刺激の照射パターンを示している。図６（ｃ）に示すように、先に錐体ＥＲＧの光刺激を照射し、続けてフリッカーＥＲＧの光刺激を連続して（本実施例では、６回）照射する。錐体ＥＲＧとフリッカーＥＲＧでは、光量は同一であり、照射タイミングが単発であるか連続であるかという点で異なっている。単発の光刺激を照射する錐体ＥＲＧを先に実行することによって、連続で光刺激を照射するフリッカーＥＲＧの影響を受けることなく、錐体ＥＲＧの測定を実行できる。そして、フリッカーＥＲＧの光刺激の照射の後、フリッカーＥＲＧの光刺激による影響がなくなるまで間隔を空けて、２回目の錐体ＥＲＧの光刺激とフリッカーＥＲＧの光刺激を続けて照射する。具体的には、錐体ＥＲＧの光刺激は、錐体ＥＲＧを連続して実行する場合の間隔（例えば、０．５秒以上）と同じ間隔で照射され、フリッカーＥＲＧの光刺激は、錐体ＥＲＧの光刺激の間に照射される。フリッカーＥＲＧの光刺激は、錐体ＥＲＧの光刺激に続けて照射されるため、フリッカーＥＲＧの光刺激の照射の後、次の錐体ＥＲＧまでの間に光刺激が照射されない時間が生じ、フリッカーＥＲＧの光刺激による影響がなくなる。そして、上記の間隔で錐体ＥＲＧの光刺激とフリッカーＥＲＧの光刺激の照射を繰り返す。

上述したように、上記の間隔で錐体ＥＲＧの光刺激とフリッカーＥＲＧの光刺激の照射を繰り返すと、フリッカーＥＲＧの光刺激による影響のない測定結果を得ることができる。しかしながら、フリッカーＥＲＧの光刺激の照射の後、次の錐体ＥＲＧまでの間の時間が短くなる（例えば、０．５秒以下となる）ため、錐体ＥＲＧの測定としては影響が生じることがある。例えば、図７（ａ）に示すように、測定結果の波形に滑らかな傾きが生じることがある（以下、このような傾きを「基線揺れ」ともいう）。制御部５０は、このような基線揺れを除去するために、取得した測定値を補正してもよい。例えば、図７（ａ）に示すように、制御部５０は、取得した原波形１００について近似曲線１０２を算出する。そして、制御部５０は、最小二乗法によって近似曲線１０２の基線揺れを除去する。すると、図７（ｂ）に示すように、基線揺れのない補正結果が得られる。なお、補正方法は、最小二乗法に限定されるものではなく、公知の方法を用いることができる。図７（ｂ）では、最初のピークが錐体ＥＲＧの光刺激による測定結果を示し、２回目以降のピークがフリッカーＥＲＧの光刺激の測定結果を示す。したがって、図７（ｃ）及び図７（ｄ）に示すように、最初のピークと２回目以降のピークを分割することによって、錐体ＥＲＧの光刺激による測定結果（すなわち、図７（ｃ））と、フリッカーＥＲＧの光刺激の測定結果（すなわち、図７（ｄ））を取得することができる。

このように錐体ＥＲＧの光刺激とフリッカーＥＲＧの光刺激を照射することによって、錐体ＥＲＧとフリッカーＥＲＧを同時に実行することができる。このため、錐体ＥＲＧとフリッカーＥＲＧを実行するための測定時間を短縮することができ、検査者及び被検者の負担を低減することができる。

なお、本実施例では、錐体ＥＲＧの光刺激を、錐体ＥＲＧを連続して実行する場合の間隔（例えば、０．５秒以上）と同じ間隔で照射し、その間にフリッカーＥＲＧの光刺激を照射したが、このような構成に限定されない。例えば、錐体ＥＲＧの光刺激に続けてフリッカーＥＲＧの光刺激を照射した後、次の錐体ＥＲＧの光刺激を照射するまでの間に、錐体ＥＲＧを連続して実行する場合の間隔（例えば、０．５秒以上）を空けてもよい。このように照射すると、上記の構成（すなわち、図６（ｃ）で示すパターン）より測定時間全体は長くなる一方、フリッカーＥＲＧの光刺激による影響も、錐体ＥＲＧの光刺激による影響もない測定結果を得ることができる。このため、制御部５０は、上記の基線揺れの除去の処理を省略することができる。

また、図６（ｄ）に示すように、錐体ＥＲＧとフリッカーＥＲＧを含む検査群についても、右の被検眼Ｒに光刺激を照射するタイミングと、左の被検眼Ｌに光刺激を照射するタイミングをずらして、左右の被検眼を同時に測定してもよい。具体的には、右の被検眼Ｒに１回目の錐体ＥＲＧの光刺激とフリッカーＥＲＧの光刺激を照射し、その後、左の被検眼Ｌに１回目の錐体ＥＲＧの光刺激とフリッカーＥＲＧの光刺激を照射する。そして、左の被検眼Ｌへの１回目の錐体ＥＲＧの光刺激とフリッカーＥＲＧの光刺の照射が終了した後、右の被検眼Ｒに２回目の錐体ＥＲＧの光刺激とフリッカーＥＲＧの光刺激を照射する。これを、所定の回数繰り返す。この場合には、錐体ＥＲＧとフリッカーＥＲＧを含む検査群を連続して実行するために必要な間隔より、錐体ＥＲＧとフリッカーＥＲＧを含む検査群を１回実行する測定時間のほうが長いことがある。このため、左右の被検眼を同時に（交互に）測定すると、左右の被検眼の一方のみを測定するより測定時間が長くなることがある（図６（ｃ）及び図６（ｄ）参照）。しかしながら、左右の被検眼を別個に測定した場合の合計時間より、左右の被検眼を同時に（交互に）測定した場合の測定時間のほうが大幅に短い。このため、左右の被検眼の網膜電位の測定時間を短縮することができる。

なお、本実施例では、網膜電位測定装置１０は、右眼用電極４０ａと左眼用電極４０ｂの２個の電極を用いて被検眼の網膜電位を測定していたが、このような構成に限定されない。被検眼の網膜電位の測定の際に用いる電極の数は、特に限定されない。例えば、被検者の額やこめかみ等にさらに電極を貼り付け、４個以上の電極を用いて被検眼の網膜電位を測定してもよい。この場合には、追加の電極によって検出された電位を用いて眼球運動や瞬目等に起因するノイズを除去することができるため、左右の被検眼に同じタイミングで光刺激を照射することが可能となる。すなわち、図４（ｃ）、図５（ｃ）及び図６（ｃ）のタイミングで左右の被検眼に同時に光刺激を照射することができる。このため、左右の被検眼の網膜電位の測定時間をさらに短縮することができる。また、本実施例では、下眼瞼等の被検眼の近傍の皮膚に固定した電極から網膜電位を検出していたが、このような構成に限定されない。被検眼の網膜電位を測定できればよく、例えば、角膜に直接固定した電極から網膜電位を検出してもよい。

また、本実施例では、測定装置１２が右眼用光刺激照射部２０ａ、左眼用光刺激照射部２０ｂ、表示部３０、各種スイッチ３２及び制御部５０を備えていたが、このような構成に限定されない。例えば、光刺激照射部と制御部は別体で構成されていてもよい。また、光刺激照射部が被検眼に当接する部分の形状は楕円状でなくてもよい。

実施例で説明した網膜電位測定装置１０に関する留意点を述べる。実施例の右眼用電極４０ａ及び左眼用電極４０ｂは、「網膜電位検出部」の一例であり、右眼用光刺激照射部２０ａは、「第１照射部分」の一例であり、左眼用光刺激照射部２０ｂは、「第２照射部分」の一例であり、本体１４は、「フレーム」の一例である。

以上、本明細書に開示の技術の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。

１０：網膜電位測定装置
１２：測定装置
２０ａ：右眼用光刺激照射部
２０ｂ：左眼用光刺激照射部
４０ａ：右眼用電極
４０ｂ：左眼用電極
５０：制御部
Ｒ：右の被検眼
Ｌ：左の被検眼

Claims (6)

1. 光刺激によって網膜電位を測定する網膜電位測定装置であって、
   被検眼の網膜電位を検出する網膜電位検出部と、
   前記被検眼に光刺激を照射する光刺激照射部と、
   前記光刺激照射部から照射される光刺激を制御する制御部と、を備えており、
   前記光刺激照射部は、光源と、ドーム状の内表面と、を備えており、
   前記内表面は、前記光源から照射された光を反射して、前記被検眼に入射させるように構成されており、
   前記制御部は、第１のパターンで前記光刺激を照射させる第１の検査と、前記第１のパターンとは異なる第２のパターンで前記光刺激を照射させる第２の検査と、を含む検査群を連続して実行可能に構成されており、
   連続して実行される前記検査群の間には、第１の所定の間隔が設けられている、網膜電位測定装置。
2. 前記検査群には、前記第１の検査に続いて前記第２の検査を実行する期間が含まれており、
   前記第１の検査に続いて前記第２の検査を実行する期間では、前記第１の検査と前記第２の検査との間に、第２の所定の間隔が設けられている、請求項１に記載の網膜電位測定装置。
3. 前記第１のパターンの光刺激の光量は、前記第２のパターンの光刺激の光量より小さくされており、
   前記制御部が前記検査群を実行するときは、前記第１の検査を実行してから前記第２の検査を実行する、請求項１又は２に記載の網膜電位測定装置。
4. 前記第１のパターンの光刺激は、単発の光を照射する光刺激であり、
   前記第２のパターンの光刺激は、連続して複数回の光を照射する光刺激であり、
   前記制御部が前記検査群を実行するときは、前記第１のパターンの光刺激を照射してから前記第２のパターンの光刺激を照射させる、請求項１又は２に記載の網膜電位測定装置。
5. 前記光刺激照射部は、右の被検眼に前記光刺激を照射する第１照射部分と、左の被検眼に前記光刺激を照射する第２照射部分と、を備えており、
   前記制御部は、前記第１照射部分に照射させる前記光刺激の照射タイミングと、前記第２照射部分に照射させる前記光刺激の照射タイミングとがずれるように、前記第１照射部分及び前記第２照射部分を制御する、請求項１～４のいずれか一項に記載の網膜電位測定装置。
6. 前記光刺激照射部は、前記第１照射部分と前記第２照射部分を一体的に保持するフレームをさらに備えており、
   前記第１照射部分は、前記右の被検眼の周囲を覆う形状であり、
   前記第２照射部分は、前記左の被検眼の周囲を覆う形状であり、
   前記第１照射部分及び前記第２照射部分の前記被検眼と対向する部分は、その長径が前記右の被検眼と前記左の被検眼とを結ぶ直線と略平行となる略楕円形状を有している、請求項５に記載の網膜電位測定装置。
   

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