JP7356957B2 - Physical quantity detection device - Google Patents

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Description

本開示は、物理量検出装置に関する。 The present disclosure relates to a physical quantity detection device.

従来から内燃機関の吸入空気の物理量を検出する物理量検出装置に関する発明が知られている(下記特許文献1)。特許文献1に記載された従来の物理量検出装置は、主通路内を流れる被計測気体の圧力などを検出するセンシング部を形成した流量センサと、半導体素子を駆動する電子部品と、流量以外のセンシング部を形成した物理量測定センサと、電子部品が実装される回路基板と、を備える(同第0009段落)。 2. Description of the Related Art An invention related to a physical quantity detection device for detecting a physical quantity of intake air of an internal combustion engine has been known (Patent Document 1 listed below). The conventional physical quantity detection device described in Patent Document 1 includes a flow rate sensor forming a sensing part that detects the pressure of the gas to be measured flowing in the main passage, an electronic component that drives a semiconductor element, and a sensing unit other than the flow rate. (paragraph 0009 of the same).

この従来の物理量検出装置は、前記基板に実装されたセンシング部を有する複数の物理量測定センサについて、センシング部を封止材で覆わない状態で接続端子部を封止材で封止するために、予め立体形状に形成された封止材を用いる。この従来の物理量検出装置は、立体形状に形成された封止材を、物理量測定センサを実装した基板上に設置した後、加熱成形してセンシング部を露出した状態で接続端子を封止することを特徴とする。 This conventional physical quantity detection device has the following steps in order to seal the connection terminal part with a sealing material without covering the sensing part with the sealing material for a plurality of physical quantity measuring sensors having a sensing part mounted on the substrate. A sealing material formed in advance into a three-dimensional shape is used. In this conventional physical quantity detection device, a sealing material formed in a three-dimensional shape is placed on a substrate on which a physical quantity measurement sensor is mounted, and then heated and molded to seal the connection terminal with the sensing part exposed. It is characterized by

特開2020-003439号公報Japanese Patent Application Publication No. 2020-003439

前記従来の物理量検出装置は、立体形状に形成された封止材を加熱成形して物理量測定センサの接続端子を封止するため、製造工程の簡略化および部品コストの低減に改善の余地がある。硬化性封止材を塗布して接続端子を封止する場合には、製造工程の簡略化および部品コストの低減が可能である。 The conventional physical quantity detection device seals the connection terminal of the physical quantity measurement sensor by heating and molding a sealing material formed into a three-dimensional shape, so there is room for improvement in simplifying the manufacturing process and reducing component costs. . When applying a curable sealant to seal the connection terminal, it is possible to simplify the manufacturing process and reduce component costs.

しかし、基板の表面からの高さが比較的に高いチップパッケージの接続端子を、硬化性封止材を塗布して封止する場合には、接続端子の間に空気だまりが発生しやすくなる。このような空気だまりは、硬化性封止材の硬化時に硬化性封止材の表面に移動して接続端子を露出させるおそれがある。 However, when the connection terminals of a chip package whose height from the surface of the substrate is relatively high are sealed by applying a curable sealant, air pockets are likely to occur between the connection terminals. Such air pockets may move to the surface of the curable sealant when the curable sealant is cured and expose the connection terminals.

本開示は、硬化性封止材を塗布してチップパッケージの接続端子を封止する場合に、空気だまりの発生を抑制することが可能な物理量検出装置を提供する。 The present disclosure provides a physical quantity detection device that can suppress the generation of air pockets when applying a curable sealing material to seal connection terminals of a chip package.

本開示の一態様は、主通路を流れる被計測気体の物理量を検出する物理量検出装置であって、前記主通路から前記被計測気体を取り込んで迂回させる副通路と、前記副通路を流れる前記被計測気体の流量を検出する流量センサと、前記流量センサを駆動させるチップパッケージと、前記チップパッケージの接続端子が実装される回路基板と、前記回路基板を収容する回路室と、前記接続端子を封止する硬化性封止材と、を備え、前記チップパッケージは、前記回路室に配置されて前記接続端子が設けられた基端部と、前記副通路に配置されて前記流量センサが設けられた先端部と、前記回路基板との間に空気通路を形成する底面とを有し、前記空気通路は、前記硬化性封止材と前記副通路との間を連通していることを特徴とする物理量検出装置である。 One aspect of the present disclosure is a physical quantity detection device that detects a physical quantity of a gas to be measured flowing through a main passage, comprising: a sub-passage for taking in the gas to be measured from the main passage and detouring the gas to be measured; A flow rate sensor that detects the flow rate of measurement gas, a chip package that drives the flow rate sensor, a circuit board on which connection terminals of the chip package are mounted, a circuit chamber that accommodates the circuit board, and a circuit chamber that seals the connection terminals. a curable encapsulant for sealing, the chip package having a proximal end disposed in the circuit chamber and provided with the connection terminal, and a proximal end disposed in the sub passageway and provided with the flow rate sensor. It has a tip and a bottom surface forming an air passage between it and the circuit board, and the air passage communicates between the curable sealant and the sub-passage. It is a physical quantity detection device.

本開示の上記一態様によれば、硬化性封止材を塗布してチップパッケージの接続端子を封止する場合に、空気だまりの発生を抑制することが可能な物理量検出装置を提供することができる。 According to the above aspect of the present disclosure, it is possible to provide a physical quantity detection device that can suppress the generation of air pockets when applying a curable sealant to seal connection terminals of a chip package. can.

本開示に係る物理量検出装置の一実施形態を示すシステム図。FIG. 1 is a system diagram showing an embodiment of a physical quantity detection device according to the present disclosure. 図1の物理量検出装置の正面図。FIG. 2 is a front view of the physical quantity detection device shown in FIG. 1; 図1の物理量検出装置の背面図。FIG. 2 is a rear view of the physical quantity detection device in FIG. 1; 図1の物理量検出装置の左側面図。FIG. 2 is a left side view of the physical quantity detection device in FIG. 1; 図1の物理量検出装置の右側面図。2 is a right side view of the physical quantity detection device in FIG. 1. FIG. 図1の物理量検出装置の上面図。FIG. 2 is a top view of the physical quantity detection device in FIG. 1; 図2Aの物理量検出装置の封止材を配置する前の正面図。FIG. 2B is a front view of the physical quantity detection device of FIG. 2A before a sealing material is placed. 図2Bの物理量検出装置のカバーを取り付ける前の背面図。FIG. 2B is a rear view of the physical quantity detection device of FIG. 2B before the cover is attached. 図3Bの物理量検出装置の変形例を示す背面図。FIG. 4 is a rear view showing a modification of the physical quantity detection device shown in FIG. 3B. 図3BのIII(D)-III(D)線に沿う物理量検出装置の断面図。A cross-sectional view of the physical quantity detection device along line III(D)-III(D) in FIG. 3B. 図2AのIII(E)-III(E)線に沿う物理量検出装置の断面図。FIG. 2A is a cross-sectional view of the physical quantity detection device taken along line III(E)-III(E) in FIG. 2A. 図3Bの物理量検出装置の回路基板の正面図。FIG. 3B is a front view of the circuit board of the physical quantity detection device of FIG. 3B. 図4Aの回路基板の右側面図。4B is a right side view of the circuit board of FIG. 4A. FIG. 図4AのIV(C)-IV(C)線に沿う回路基板の断面図。FIG. 4A is a cross-sectional view of the circuit board taken along line IV(C)-IV(C) in FIG. 4A. 図4AのIV(D)-IV(D)線に沿う回路基板の断面図。FIG. 4A is a cross-sectional view of the circuit board taken along line IV(D)-IV(D) in FIG. 4A. 図4Aの回路基板に実装されるチップパッケージの底面図。FIG. 4B is a bottom view of the chip package mounted on the circuit board of FIG. 4A.

以下、図面を参照して本開示に係る物理量検出装置の実施形態を説明する。 Hereinafter, embodiments of a physical quantity detection device according to the present disclosure will be described with reference to the drawings.

図1は、本開示に係る物理量検出装置の一実施形態を示すシステム図である。本実施形態の物理量検出装置100は、たとえば、電子燃料噴射方式の内燃機関制御システム1に使用される。内燃機関制御システム1は、たとえば、内燃機関10と、物理量検出装置100と、スロットルバルブ25と、スロットル角度センサ26と、アイドルエアコントロールバルブ27と、酸素センサ28と、制御装置4とを備えている。 FIG. 1 is a system diagram showing an embodiment of a physical quantity detection device according to the present disclosure. The physical quantity detection device 100 of this embodiment is used, for example, in an internal combustion engine control system 1 using an electronic fuel injection method. The internal combustion engine control system 1 includes, for example, an internal combustion engine 10, a physical quantity detection device 100, a throttle valve 25, a throttle angle sensor 26, an idle air control valve 27, an oxygen sensor 28, and a control device 4. There is.

物理量検出装置100は、たとえば、主通路22である吸気ボディの通路壁に設けられた取り付け孔から主通路22の内部に挿入され、主通路22の通路壁に固定された状態で使用される。物理量検出装置100は、エアクリーナ21を通して取り込まれて主通路22を流れる被計測気体2である吸入空気の物理量を検出して制御装置4へ出力する。物理量検出装置100は、主通路22の通路壁から主通路22を流れる被計測気体2の主流れ方向に沿う主通路22の中心線22aへ向けて主通路22の径方向に突出している。すなわち、主通路22における物理量検出装置100の突出方向は、たとえば、主通路22の中心線22aに直交する方向である。 For example, the physical quantity detection device 100 is inserted into the main passage 22 through a mounting hole provided in the passage wall of the intake body, which is the main passage 22, and is used while being fixed to the passage wall of the main passage 22. The physical quantity detection device 100 detects a physical quantity of intake air, which is the gas to be measured 2 taken in through the air cleaner 21 and flows through the main passage 22 , and outputs it to the control device 4 . The physical quantity detection device 100 protrudes in the radial direction of the main passage 22 from the passage wall of the main passage 22 toward the center line 22 a of the main passage 22 along the main flow direction of the gas to be measured 2 flowing through the main passage 22 . That is, the protruding direction of the physical quantity detection device 100 in the main passage 22 is, for example, a direction perpendicular to the center line 22a of the main passage 22.

スロットルバルブ25は、たとえば、被計測気体2の流れ方向において、吸気マニホールド24の上流側に配置されたスロットルボディ23に内蔵されている。制御装置4は、たとえば、アクセルペダルの操作量に基づいてスロットルバルブ25の開度を変化させ、内燃機関10のシリンダ11内の燃焼室へ流入する被計測気体2としての吸入空気の流量を制御する。スロットル角度センサ26は、スロットルバルブ25の開度を計測して制御装置4へ出力する。アイドルエアコントロールバルブ27は、スロットルバルブ25をバイパスする空気量を制御する。 The throttle valve 25 is built in, for example, a throttle body 23 disposed upstream of the intake manifold 24 in the flow direction of the gas to be measured 2 . The control device 4 changes the opening degree of the throttle valve 25 based on the operation amount of the accelerator pedal, for example, and controls the flow rate of intake air as the gas to be measured 2 flowing into the combustion chamber in the cylinder 11 of the internal combustion engine 10. do. The throttle angle sensor 26 measures the opening degree of the throttle valve 25 and outputs it to the control device 4 . Idle air control valve 27 controls the amount of air that bypasses throttle valve 25.

内燃機関10は、たとえば、シリンダ11と、ピストン12と、点火プラグ13と、燃料噴射弁14と、吸気弁15と、排気弁16と、回転角度センサ17と、を備えている。内燃機関10のピストン12の動作に基づいてエアクリーナ21を通して取り込まれた吸入空気は、主通路22を流れ、スロットルボディ23においてスロットルバルブ25により流量が制御される。スロットルボディ23を通過した吸入空気は、吸気マニホールド24を通過し、さらに吸気ポートに設けられた燃料噴射弁14を通過して、吸気弁15を介してシリンダ11内の燃焼室へ流入する。 The internal combustion engine 10 includes, for example, a cylinder 11, a piston 12, a spark plug 13, a fuel injection valve 14, an intake valve 15, an exhaust valve 16, and a rotation angle sensor 17. Intake air taken in through the air cleaner 21 based on the operation of the piston 12 of the internal combustion engine 10 flows through the main passage 22, and its flow rate is controlled by the throttle valve 25 in the throttle body 23. The intake air that has passed through the throttle body 23 passes through an intake manifold 24, further passes through a fuel injection valve 14 provided at an intake port, and flows into a combustion chamber within the cylinder 11 via an intake valve 15.

制御装置4は、物理量検出装置100から入力された被計測気体2としての吸入空気の物理量に基づいて燃料噴射弁14を制御して、吸入空気へ燃料を噴射させる。これにより、吸気マニホールド24を通過した吸入空気は、燃料噴射弁14から噴射された燃料と混合され、混合気の状態で燃焼室へ導かれる。制御装置4は、点火プラグ13の火花着火により燃焼室内の混合気を爆発的に燃焼させ、内燃機関10に機械エネルギを発生させる。 The control device 4 controls the fuel injection valve 14 based on the physical quantity of the intake air as the gas to be measured 2 inputted from the physical quantity detection device 100 to inject fuel into the intake air. As a result, the intake air that has passed through the intake manifold 24 is mixed with the fuel injected from the fuel injection valve 14, and is guided into the combustion chamber in the form of an air-fuel mixture. The control device 4 explosively burns the air-fuel mixture in the combustion chamber by spark ignition from the spark plug 13, and causes the internal combustion engine 10 to generate mechanical energy.

回転角度センサ17は、ピストン12、吸気弁15、および排気弁16の位置や状態、さらに内燃機関10の回転速度に関する情報を検出して制御装置4へ出力する。燃焼により発生したガスは、シリンダ11の燃焼室から排気弁16を介して排気管へ排出され、排気ガス3として排気管から車外へ排出される。酸素センサ28は、排気管に設けられ、排気管を流れる排気ガス3の酸素濃度を計測して制御装置4へ出力する。 The rotation angle sensor 17 detects information regarding the positions and states of the piston 12, the intake valve 15, and the exhaust valve 16, as well as the rotational speed of the internal combustion engine 10, and outputs the information to the control device 4. Gas generated by combustion is discharged from the combustion chamber of the cylinder 11 to the exhaust pipe via the exhaust valve 16, and is discharged as exhaust gas 3 to the outside of the vehicle from the exhaust pipe. The oxygen sensor 28 is provided in the exhaust pipe, measures the oxygen concentration of the exhaust gas 3 flowing through the exhaust pipe, and outputs the measured oxygen concentration to the control device 4 .

制御装置4は、物理量検出装置100によって検出された主通路22を流れる被計測気体2としての吸入空気の物理量、たとえば、流量、温度、湿度、圧力などに基づいて、内燃機関制御システム1の各部を制御する。具体的には、制御装置4がアクセルペダルの操作量に基づいてスロットルバルブ25の開度を制御すると、主通路22を流れる被計測気体2としての吸入空気の流量が変化する。制御装置4は、たとえば物理量検出装置100によって検出された被計測気体2の流量に基づいて、燃料噴射弁14から噴射する燃料の供給量を制御する。これにより、内燃機関10が発生する機械エネルギが制御される。 The control device 4 controls each part of the internal combustion engine control system 1 based on the physical quantities of the intake air as the gas to be measured 2 flowing through the main passage 22 detected by the physical quantity detection device 100, such as flow rate, temperature, humidity, pressure, etc. control. Specifically, when the control device 4 controls the opening degree of the throttle valve 25 based on the operation amount of the accelerator pedal, the flow rate of intake air as the gas to be measured 2 flowing through the main passage 22 changes. The control device 4 controls the amount of fuel injected from the fuel injection valve 14 based on the flow rate of the gas to be measured 2 detected by the physical quantity detection device 100, for example. Thereby, the mechanical energy generated by the internal combustion engine 10 is controlled.

制御装置4は、物理量検出装置100の出力である吸入空気の物理量と、回転角度センサ17の出力に基づいて計測された内燃機関10の回転速度とに基づいて、燃料噴射量や点火時期を演算する。これらの演算結果に基づいて、制御装置4は、燃料噴射弁14による燃料噴射量や、点火プラグ13の点火時期を制御する。 The control device 4 calculates the fuel injection amount and ignition timing based on the physical quantity of intake air, which is the output of the physical quantity detection device 100, and the rotation speed of the internal combustion engine 10, which is measured based on the output of the rotation angle sensor 17. do. Based on these calculation results, the control device 4 controls the amount of fuel injected by the fuel injection valve 14 and the ignition timing of the spark plug 13.

制御装置4は、実際には、さらに被計測気体2の温度、スロットルバルブ25の開度の変化状態、内燃機関10の回転速度の変化状態、排気ガス3の空燃比の状態に基づいて、燃料供給量や点火時期をきめ細かく制御している。制御装置4は、さらに内燃機関10のアイドル運転状態において、スロットルバルブ25をバイパスする空気量をアイドルエアコントロールバルブ27により制御し、アイドル運転状態での内燃機関10の回転速度を制御する。 In reality, the control device 4 further determines the fuel level based on the temperature of the gas to be measured 2, the changing state of the opening degree of the throttle valve 25, the changing state of the rotational speed of the internal combustion engine 10, and the state of the air-fuel ratio of the exhaust gas 3. The supply amount and ignition timing are precisely controlled. The control device 4 further controls the amount of air bypassing the throttle valve 25 using the idle air control valve 27 when the internal combustion engine 10 is in an idling operating state, and controls the rotational speed of the internal combustion engine 10 in the idling operating state.

内燃機関10の主要な制御量である燃料供給量や点火時期は、いずれも物理量検出装置100の出力を主パラメータとして演算される。したがって、物理量検出装置100の検出精度の向上や、経時変化の抑制、信頼性の向上が、車両の制御精度の向上や信頼性の確保に関して重要である。 The fuel supply amount and ignition timing, which are the main control variables of the internal combustion engine 10, are both calculated using the output of the physical quantity detection device 100 as a main parameter. Therefore, improving the detection accuracy, suppressing changes over time, and improving the reliability of the physical quantity detection device 100 are important in improving the control accuracy and ensuring reliability of the vehicle.

特に近年、車両の省燃費に関する要望が非常に高く、また排気ガス浄化に関する要望が非常に高い。これらの要望に応えるには、物理量検出装置100により検出される吸入空気の物理量の検出精度の向上が極めて重要である。また、物理量検出装置100が高い信頼性を維持していることも大切である。 Particularly in recent years, there has been a very high demand for fuel efficiency of vehicles, and also a very high demand for exhaust gas purification. In order to meet these demands, it is extremely important to improve the detection accuracy of the physical quantity of intake air detected by the physical quantity detection device 100. It is also important that the physical quantity detection device 100 maintains high reliability.

物理量検出装置100が搭載される車両は、温度や湿度の変化が大きい環境で使用される。物理量検出装置100は、その使用環境における温度や湿度の変化への対応や、塵埃や汚染物質などへの対応も、考慮されていることが望ましい。 A vehicle equipped with the physical quantity detection device 100 is used in an environment with large changes in temperature and humidity. It is desirable for the physical quantity detection device 100 to take into account measures such as changes in temperature and humidity in the environment in which it is used, as well as measures against dust and pollutants.

また、物理量検出装置100は、内燃機関からの発熱の影響を受ける吸気管に装着される。このため、内燃機関の発熱が吸気管を介して物理量検出装置100に伝わる。物理量検出装置100は、被計測気体2と熱伝達を行うことにより被計測気体2の流量を検出するので、外部からの熱の影響をできるだけ抑制することが重要である。 Further, the physical quantity detection device 100 is attached to an intake pipe that is affected by heat generated from the internal combustion engine. Therefore, heat generated by the internal combustion engine is transmitted to the physical quantity detection device 100 via the intake pipe. Since the physical quantity detection device 100 detects the flow rate of the gas to be measured 2 by performing heat transfer with the gas to be measured 2, it is important to suppress the influence of heat from the outside as much as possible.

以下、図2Aから図2E、図3Aから図3E、および図4Aから図4Eを参照して、本実施形態の物理量検出装置100について、より詳細に説明する。なお、これらの各図では、図1に示す主通路22における物理量検出装置100の突出方向に平行なX軸、主通路22の中心線22aに平行なY軸、および物理量検出装置100の厚さ方向に平行なZ軸からなる直交座標系を示す。なお、以下の説明では、主通路22の中心線22a(Y軸)に沿って被計測気体2が流れるものとする。 The physical quantity detection device 100 of this embodiment will be described in more detail below with reference to FIGS. 2A to 2E, 3A to 3E, and 4A to 4E. In addition, in each of these figures, the X-axis parallel to the protruding direction of the physical quantity detection device 100 in the main passage 22 shown in FIG. A rectangular coordinate system is shown with the Z-axis parallel to the direction. In the following description, it is assumed that the gas to be measured 2 flows along the center line 22a (Y-axis) of the main passage 22.

図2Aから図2Eは、それぞれ、図1の物理量検出装置100の正面図、背面図、左側面図、右側面図、および上面図である。物理量検出装置100は、たとえば、ハウジング110とカバー120とを備えている。 2A to 2E are a front view, a back view, a left side view, a right side view, and a top view of the physical quantity detection device 100 of FIG. 1, respectively. The physical quantity detection device 100 includes, for example, a housing 110 and a cover 120.

ハウジング110は、たとえば、合成樹脂材料を射出成型することによって製造される。カバー120は、たとえば、金属や合成樹脂を素材とする板状の部材である。カバー120は、たとえば、合成樹脂材料の成形品を使用することができる。ハウジング110とカバー120は、主通路22内に配置される物理量検出装置100の筐体を構成する。 Housing 110 is manufactured, for example, by injection molding a synthetic resin material. The cover 120 is a plate-shaped member made of metal or synthetic resin, for example. For the cover 120, for example, a molded product made of a synthetic resin material can be used. The housing 110 and the cover 120 constitute a casing of the physical quantity detection device 100 disposed within the main passage 22.

ハウジング110は、たとえば、フランジ111と、コネクタ112と、計測部113とを有している。 The housing 110 includes, for example, a flange 111, a connector 112, and a measuring section 113.

フランジ111は、図2Eに示すように、おおむね矩形の板状の形状を有し、対角線上の角部に一対の固定部111aを有している。固定部111aは、中央部にフランジ111を貫通して、固定ねじを挿通させる円筒状の貫通孔111bを有している。物理量検出装置100を主通路22に固定するには、主通路22に設けられた取り付け孔に計測部113を挿入する。そして、フランジ111の貫通孔111bに挿通させた固定ねじを主通路22のねじ穴に螺入して、フランジ111を主通路22の通路壁に固定する。これにより、物理量検出装置100が吸気ボディである主通路22に固定される。 As shown in FIG. 2E, the flange 111 has a generally rectangular plate shape and has a pair of fixing parts 111a at diagonal corners. The fixing part 111a has a cylindrical through-hole 111b in the center that passes through the flange 111 and into which a fixing screw is inserted. To fix the physical quantity detection device 100 to the main passage 22, the measuring section 113 is inserted into a mounting hole provided in the main passage 22. Then, the fixing screw inserted through the through hole 111b of the flange 111 is screwed into the screw hole of the main passage 22 to fix the flange 111 to the passage wall of the main passage 22. Thereby, the physical quantity detection device 100 is fixed to the main passage 22, which is the intake body.

コネクタ112は、フランジ111から突出し、吸気ボディである主通路22の外部に配置され、外部機器に接続される。図2Dに示すように、コネクタ112の内部には、複数の外部端子112aと補正用端子112bが設けられている。外部端子112aは、たとえば、物理量検出装置100の計測結果である流量や温度などの物理量の出力端子と、物理量検出装置100を動作させる直流電力を供給するための電源端子とを含む。 The connector 112 protrudes from the flange 111, is disposed outside the main passage 22 that is the intake body, and is connected to external equipment. As shown in FIG. 2D, inside the connector 112, a plurality of external terminals 112a and a correction terminal 112b are provided. The external terminal 112a includes, for example, an output terminal for physical quantities such as flow rate and temperature, which are measurement results of the physical quantity detection device 100, and a power supply terminal for supplying DC power to operate the physical quantity detection device 100.

補正用端子112bは、物理量検出装置100の製造後に物理量の計測を行い、それぞれの物理量検出装置100に対する補正値を求め、物理量検出装置100の内部のメモリに補正値を記憶するのに使用する。その後の物理量検出装置100による物理量の計測では、上記メモリに記憶された補正値に基づく補正データが使用され、補正用端子112bは使用されない。 The correction terminal 112b is used to measure a physical quantity after manufacturing the physical quantity detection apparatus 100, obtain a correction value for each physical quantity detection apparatus 100, and store the correction value in the internal memory of the physical quantity detection apparatus 100. In the subsequent measurement of the physical quantity by the physical quantity detection device 100, correction data based on the correction value stored in the memory is used, and the correction terminal 112b is not used.

計測部113は、主通路22の通路壁に固定されるフランジ111から主通路22の中心線22aに向けて、中心線22aに直交する主通路22の径方向に突出するように延びている。計測部113は、おおむね直方体形状の扁平な角形の形状を有している。計測部113は、主通路22における計測部113の突出方向(X軸方向)に長さを有し、主通路22における被計測気体2の主流れ方向(Y軸方向)に幅を有している。また、計測部113は、突出方向(X軸方向)および被計測気体2の主流れ方向(Y軸方向)に直交する方向(Z軸方向)に厚さを有している。このように、計測部113が被計測気体2の主流れ方向に沿う扁平な形状を有することで、被計測気体2に対する流体抵抗を低減することができる。 The measuring portion 113 extends from a flange 111 fixed to a passage wall of the main passage 22 toward the center line 22a of the main passage 22 so as to protrude in the radial direction of the main passage 22 perpendicular to the center line 22a. The measurement unit 113 has a flat rectangular shape that is generally a rectangular parallelepiped. The measuring section 113 has a length in the protruding direction (X-axis direction) of the measuring section 113 in the main passage 22 and a width in the main flow direction (Y-axis direction) of the gas to be measured 2 in the main passage 22. There is. Furthermore, the measurement section 113 has a thickness in the protruding direction (X-axis direction) and in the direction (Z-axis direction) perpendicular to the main flow direction (Y-axis direction) of the gas to be measured 2 . In this way, since the measuring section 113 has a flat shape along the main flow direction of the gas to be measured 2, fluid resistance to the gas to be measured 2 can be reduced.

計測部113は、正面113a、背面113b、上流側の側面113c、下流側の側面113d、および下面113eを有している。正面113aと背面113bは、計測部113の他の面よりも面積が大きく、計測部113の突出方向(X軸方向)および主通路22の中心線22a(Y軸方向)におおむね平行である。上流側の側面113cと下流側の側面113dは、正面113aと背面113bよりも面積が小さい細長い形状を有し、主通路22の中心線22a(Y軸方向)におおむね直交している。下面113eは、計測部113の他の面よりも面積が小さく、主通路22の中心線22a(Y軸方向)におおむね平行で計測部113の突出方向(X軸方向)におおむね直交している。 The measurement unit 113 has a front surface 113a, a back surface 113b, an upstream side surface 113c, a downstream side surface 113d, and a lower surface 113e. The front surface 113a and the back surface 113b have a larger area than other surfaces of the measuring section 113, and are generally parallel to the protruding direction of the measuring section 113 (X-axis direction) and the center line 22a of the main passage 22 (Y-axis direction). The upstream side surface 113c and the downstream side surface 113d have an elongated shape with a smaller area than the front surface 113a and the rear surface 113b, and are generally orthogonal to the centerline 22a (Y-axis direction) of the main passage 22. The lower surface 113e has a smaller area than the other surfaces of the measurement section 113, and is generally parallel to the center line 22a (Y-axis direction) of the main passage 22 and generally orthogonal to the protruding direction (X-axis direction) of the measurement section 113. .

計測部113は、上流側の側面113cに副通路入口114を有し、下流側の側面113dに第1出口115および第2出口116を有している。副通路入口114、第1出口115、および、第2出口116は、計測部113の突出方向(X軸方向)における中央よりも先端側の計測部113の先端部に設けられている。これにより、主通路22の内壁面から離れた主通路22の中央部付近の被計測気体2を副通路入口114から取り込むことができる。そのため、物理量検出装置100は、内燃機関10の熱の影響による計測精度の低下を抑制できる。 The measurement unit 113 has a sub passage inlet 114 on an upstream side surface 113c, and has a first outlet 115 and a second outlet 116 on a downstream side surface 113d. The sub-passage inlet 114, the first outlet 115, and the second outlet 116 are provided at the distal end of the measuring section 113 on the distal side of the center in the protruding direction (X-axis direction) of the measuring section 113. Thereby, the gas to be measured 2 near the center of the main passage 22, which is away from the inner wall surface of the main passage 22, can be taken in from the sub passage entrance 114. Therefore, the physical quantity detection device 100 can suppress a decrease in measurement accuracy due to the influence of heat of the internal combustion engine 10.

図3Aは、図2Aの物理量検出装置100の封止材119を配置する前の正面図である。図3Bは、図1の物理量検出装置100のカバー120を取り付ける前の背面図である。図3Cは、図3Bの物理量検出装置100の変形例を示す背面図である。図3Dは、図3BのIII(D)-III(D)線に沿う物理量検出装置100の断面図である。図3Eは、図2AのIII(E)-III(E)線に沿う物理量検出装置100の断面図である。 FIG. 3A is a front view of the physical quantity detection device 100 of FIG. 2A before the sealing material 119 is placed. FIG. 3B is a rear view of the physical quantity detection device 100 of FIG. 1 before the cover 120 is attached. FIG. 3C is a rear view showing a modification of the physical quantity detection device 100 of FIG. 3B. FIG. 3D is a cross-sectional view of the physical quantity detection device 100 taken along line III(D)-III(D) in FIG. 3B. FIG. 3E is a cross-sectional view of the physical quantity detection device 100 taken along line III(E)-III(E) in FIG. 2A.

図2Dに示すコネクタ112の外部端子112aは、たとえば図3Aに示すように、ボンディングワイヤ143を介して回路基板140のパッドに接続されている。回路基板140は、たとえば、ボンディングワイヤ143が接続される面に、保護回路144が実装されている。保護回路144は、回路内の電圧を安定させ、ノイズを除去する。これらボンディングワイヤ143および保護回路144は、図2Aに示すように、封止材119によって覆われて封止される。封止材119としては、たとえば、シリコーンゲルや、シリコーン系封止材よりも剛性が高いエポキシ系封止材を使用することができる。 The external terminal 112a of the connector 112 shown in FIG. 2D is connected to a pad of the circuit board 140 via a bonding wire 143, for example, as shown in FIG. 3A. For example, a protection circuit 144 is mounted on the surface of the circuit board 140 to which the bonding wire 143 is connected. Protection circuit 144 stabilizes the voltage within the circuit and eliminates noise. These bonding wires 143 and protection circuit 144 are covered and sealed with a sealing material 119, as shown in FIG. 2A. As the sealant 119, for example, silicone gel or an epoxy sealant having higher rigidity than a silicone sealant can be used.

ハウジング110は、図3Bに示すように、計測部113の背面113b側に、凹状の副通路溝117と、凹状の回路室118とを有している。図3Eに示すように、副通路溝117は、開口部がカバー120によって閉鎖されることで、カバー120とともに副通路130を形成する。副通路130は、主通路22を流れる被計測気体2を取り込んで迂回させる。主通路22を流れる被計測気体2は、たとえば図3Bに示すように、計測部113の上流側の側面113cに開口する副通路入口114から副通路130に取り込まれる。 As shown in FIG. 3B, the housing 110 has a concave auxiliary passage groove 117 and a concave circuit chamber 118 on the back surface 113b side of the measurement section 113. As shown in FIG. 3E, the opening of the sub passage groove 117 is closed by the cover 120, thereby forming a sub passage 130 together with the cover 120. The sub passage 130 takes in the gas to be measured 2 flowing through the main passage 22 and detours it. The gas to be measured 2 flowing through the main passage 22 is taken into the sub-passage 130 from the sub-passage entrance 114 that opens on the upstream side surface 113c of the measurement section 113, for example, as shown in FIG. 3B.

副通路溝117は、たとえば、第1副通路溝117aと、第2副通路溝117bとを有している。第1副通路溝117aは、図3Bに示すように、計測部113の上流側の側面113cに開口する副通路入口114から、計測部113の下流側の側面113dに開口する第1出口115まで、主通路22の中心線22a(Y軸方向)に沿って延びている。第1副通路溝117aは、たとえば図3Eに示すように、カバー120との間に第1副通路131を形成する。第1副通路131は、副通路入口114から取り込んだ被計測気体2を、第1出口115から主通路22へ戻す。 The sub passage groove 117 includes, for example, a first sub passage groove 117a and a second sub passage groove 117b. As shown in FIG. 3B, the first sub-passage groove 117a extends from the sub-passage entrance 114 that opens on the upstream side surface 113c of the measuring section 113 to the first outlet 115 that opens on the downstream side surface 113d of the measuring section 113. , extends along the center line 22a (Y-axis direction) of the main passage 22. The first sub passage groove 117a forms a first sub passage 131 with the cover 120, for example, as shown in FIG. 3E. The first sub-passage 131 returns the measured gas 2 taken in from the sub-passage inlet 114 to the main passage 22 from the first outlet 115.

第2副通路溝117bは、図3Bに示すように、第1副通路溝117aの途中から分岐して、計測部113の突出方向(X軸方向)に沿ってフランジ111へ向けて延びている。さらに、第2副通路溝117bは、反対方向へ折り返すようにU字状にカーブして計測部113の突出方向(X軸方向)に沿って計測部113の先端部へ向けて延びている。第2副通路溝117bは、計測部113の先端部で主通路22の中心線22a(Y軸方向)に沿う方向へカーブして、計測部113の下流側の側面113dに開口する第2出口116に接続されている。たとえば、図3Dに示すように、第2副通路溝117bは、開口部がカバー120によって閉鎖されることで、カバー120との間に第2副通路132を形成する。副通路130は、第1副通路131と第2副通路132とを含む。 As shown in FIG. 3B, the second sub passage groove 117b branches from the middle of the first sub passage groove 117a and extends toward the flange 111 along the protruding direction (X-axis direction) of the measuring section 113. . Further, the second sub passage groove 117b is curved in a U-shape so as to be folded back in the opposite direction, and extends toward the distal end of the measuring section 113 along the protruding direction (X-axis direction) of the measuring section 113. The second sub passage groove 117b is a second outlet that curves in a direction along the center line 22a (Y-axis direction) of the main passage 22 at the distal end of the measurement part 113 and opens on the downstream side surface 113d of the measurement part 113. 116. For example, as shown in FIG. 3D, the opening of the second sub-passage groove 117b is closed by the cover 120, thereby forming a second sub-passage 132 between the second sub-passage groove 117b and the cover 120. The sub-passage 130 includes a first sub-passage 131 and a second sub-passage 132.

回路室118は、ハウジング110の計測部113の背面113b側で、フランジ111に接続された計測部113の基端側に凹状に設けられ、回路基板140を収容している。回路室118は、副通路溝117の第1副通路溝117aよりも計測部113の基端側で、主通路22を流れる被計測気体2の主流れ方向(Y軸方向)における第2副通路溝117bの上流側に隣接して設けられている。 The circuit chamber 118 is provided in a concave shape on the rear surface 113b side of the measurement section 113 of the housing 110 and on the proximal end side of the measurement section 113 connected to the flange 111, and accommodates the circuit board 140. The circuit chamber 118 is located closer to the proximal end of the measurement unit 113 than the first sub-passage groove 117a of the sub-passage groove 117 and is a second sub-passage in the main flow direction (Y-axis direction) of the gas to be measured 2 flowing through the main passage 22. It is provided adjacent to the upstream side of the groove 117b.

図4Aは、図3Bの物理量検出装置100の回路基板140の正面図である。図4Bは、図4Aの回路基板140の右側面図である。図4Cは、図4AのIV(C)-IV(C)線に沿う回路基板140の断面図である。図4Dは、図4AのIV(D)-IV(D)線に沿う回路基板140の断面図である。図4Eは、図4Aの回路基板140に実装されるチップパッケージ150の底面図である。 FIG. 4A is a front view of the circuit board 140 of the physical quantity detection device 100 of FIG. 3B. FIG. 4B is a right side view of circuit board 140 of FIG. 4A. FIG. 4C is a cross-sectional view of the circuit board 140 taken along line IV(C)-IV(C) in FIG. 4A. FIG. 4D is a cross-sectional view of the circuit board 140 taken along line IV(D)-IV(D) in FIG. 4A. FIG. 4E is a bottom view of the chip package 150 mounted on the circuit board 140 of FIG. 4A.

チップパッケージ150は、図4Cに示すように、流量センサ151と電子部品152とが、たとえば熱硬化性樹脂のトランスファーモールドによって一体的に封止された構成を有している。チップパッケージ150は、たとえば、電子部品152によって流量センサ151を駆動させる。電子部品152は、たとえば、LSIであり、リードフレーム154を介して流量センサ151に接続され、流量センサ151を駆動させる。 As shown in FIG. 4C, the chip package 150 has a configuration in which a flow rate sensor 151 and an electronic component 152 are integrally sealed by, for example, transfer molding of thermosetting resin. Chip package 150 drives flow sensor 151 by electronic component 152, for example. The electronic component 152 is, for example, an LSI, is connected to the flow rate sensor 151 via a lead frame 154, and drives the flow rate sensor 151.

流量センサ151は、たとえば、熱式流量センサであり、図4Cおよび図4Eに示すように、回路基板140とチップパッケージ150の凹溝150cとの間に形成された計測通路132aを流れる被計測気体2の流量を計測する。計測通路132aは、たとえば、図3Bおよび図3Dに示すように、副通路溝117の第2副通路溝117b内、すなわち副通路130の第2副通路132内に形成される。 The flow rate sensor 151 is, for example, a thermal flow rate sensor, and as shown in FIGS. 4C and 4E, the gas to be measured flows through the measurement passage 132a formed between the circuit board 140 and the groove 150c of the chip package 150. Measure the flow rate of step 2. The measurement passage 132a is formed, for example, in the second sub passage groove 117b of the sub passage groove 117, that is, within the second sub passage 132 of the sub passage 130, as shown in FIGS. 3B and 3D.

図4Aに示すように、回路基板140には、チップパッケージ150の接続端子153が実装されている。接続端子153は、たとえば、リードフレーム154を介して電子部品152に接続されている。接続端子153は、たとえば、接合材142を介して回路基板140に実装されている。接合材142としては、たとえば、はんだ、はんだペースト、またはその他の導電部材を使用することができる。接続端子153は、図3Bまたは図3Cに示すように、硬化性封止材141によって封止されている。 As shown in FIG. 4A, connection terminals 153 of a chip package 150 are mounted on the circuit board 140. The connection terminal 153 is connected to the electronic component 152 via a lead frame 154, for example. The connection terminal 153 is mounted on the circuit board 140 via the bonding material 142, for example. As the bonding material 142, for example, solder, solder paste, or other conductive material can be used. The connection terminal 153 is sealed with a curable sealant 141, as shown in FIG. 3B or 3C.

硬化性封止材141としては、たとえば、シリコーン系封止材を用いることができる。硬化性封止材141として用いられるシリコーン系封止材の物性値は、たとえば、次のとおりである。硬化前の粘度は、たとえば、約25[Pa・s]から約60[Pa・s]程度である。チキソ比は、たとえば、約1.55程度である。密度は、たとえば、1[g/cm]から1.3[g/cm]である。標準硬化条件は、たとえば、約100[℃]から約140[℃]で約30分から約60分程度である。針入度は、たとえば、約11から約35程度である。線膨張係数は、約200[×10/℃]から約400[×10/℃]程度である。硬化後のヤング率は、たとえば、約0.03[MPa]から約2[MPa]である。ポアソン比は、たとえば、約0.4から約0.5程度である。 As the curable sealant 141, for example, a silicone sealant can be used. The physical property values of the silicone sealant used as the curable sealant 141 are as follows, for example. The viscosity before curing is, for example, about 25 [Pa·s] to about 60 [Pa·s]. The thixometry ratio is, for example, about 1.55. The density is, for example, 1 [g/cm 3 ] to 1.3 [g/cm 3 ]. Standard curing conditions are, for example, about 100 [° C.] to about 140 [° C.] for about 30 minutes to about 60 minutes. The penetration is, for example, about 11 to about 35. The coefficient of linear expansion is about 200 [×10 6 /°C] to about 400 [×10 6 /°C]. The Young's modulus after curing is, for example, about 0.03 [MPa] to about 2 [MPa]. Poisson's ratio is, for example, about 0.4 to about 0.5.

チップパッケージ150は、図3B、図4Aおよび図4Cに示すように、回路室118に配置されて接続端子153が設けられた基端部150bと、副通路130の第2副通路132に配置されて流量センサ151が設けられた先端部150aと、を有している。また、チップパッケージ150は、図4C、図4Dおよび図4Eに示すように、回路基板140との間に空気通路APを形成する底面150dを有している。換言すると、チップパッケージ150の底面150dは、回路基板140に接するチップパッケージ150の他の部分よりも、回路基板140の法線方向であるチップパッケージ150の高さ方向において高い位置、すなわち、回路基板140から離れた位置に形成されている。 As shown in FIGS. 3B, 4A, and 4C, the chip package 150 has a base end 150b disposed in the circuit chamber 118 and provided with a connection terminal 153, and a base end 150b disposed in the second sub-passage 132 of the sub-passage 130. and a distal end portion 150a provided with a flow rate sensor 151. Further, the chip package 150 has a bottom surface 150d that forms an air passage AP between the chip package 150 and the circuit board 140, as shown in FIGS. 4C, 4D, and 4E. In other words, the bottom surface 150d of the chip package 150 is at a higher position in the height direction of the chip package 150, which is the normal direction of the circuit board 140, than other parts of the chip package 150 that are in contact with the circuit board 140, that is, the bottom surface 150d of the chip package 150 is located at a higher position than other parts of the chip package 150 that are in contact with the circuit board 140. 140.

より詳細には、図4Dに示すように、チップパッケージ150の接続端子153は、底面150dに交差する基端部150bの側面から回路基板140の実装面140aに沿う方向へ突出して回路基板140へ向けて曲折されている。また、回路基板140へ向けて曲折された接続端子153は、回路基板140の実装面140aに沿うチップパッケージ150の幅方向WDにおいて、実装面140aに近づくほど基端部150bから遠ざかるように、実装面140aの法線方向に対して傾斜している。 More specifically, as shown in FIG. 4D, the connection terminals 153 of the chip package 150 protrude from the side surface of the base end 150b that intersects the bottom surface 150d in the direction along the mounting surface 140a of the circuit board 140, and are connected to the circuit board 140. It is bent towards. Furthermore, the connection terminals 153 bent toward the circuit board 140 are mounted in such a manner that the closer they get to the mounting surface 140a, the further away from the base end 150b, in the width direction WD of the chip package 150 along the mounting surface 140a of the circuit board 140. It is inclined with respect to the normal direction of the surface 140a.

さらに、接続端子153は、回路基板140の近傍で実装面140aに沿うように、チップパッケージ150の幅方向WDの外側へ向けて曲折され、回路基板140の実装面140aのランドに接している。図4Dに示すように、複数の接続端子153が回路基板140に接した状態で、チップパッケージ150の底面150dと回路基板140とが、間隔dをあけて対向している。そして、底面150dと回路基板140との間には、空気通路APが形成されている。 Furthermore, the connection terminal 153 is bent toward the outside in the width direction WD of the chip package 150 along the mounting surface 140a near the circuit board 140, and is in contact with a land on the mounting surface 140a of the circuit board 140. As shown in FIG. 4D, the bottom surface 150d of the chip package 150 and the circuit board 140 face each other with an interval d in a state where the plurality of connection terminals 153 are in contact with the circuit board 140. An air passage AP is formed between the bottom surface 150d and the circuit board 140.

ここで、接続端子153の幅は、たとえば、0.1[mm]から0.5[mm]程度であり、本実施形態では約0.3[mm]である。また、接続端子153の厚さは、たとえば0.1[mm]から0.5[mm]程度である。また、接続端子153のピッチは、たとえば、0.5[mm]から1[mm]程度であり、本実施形態では約0.75[mm]である。また、回路基板140に接する接続端子153の先端の下面から、基端部150bの側面から突出する接続端子153の基端の上面までの高さは、たとえば、1[mm]から2[mm]程度であり、本実施形態では約1.68[mm]である。 Here, the width of the connection terminal 153 is, for example, about 0.1 [mm] to 0.5 [mm], and in this embodiment is about 0.3 [mm]. Further, the thickness of the connection terminal 153 is, for example, about 0.1 [mm] to 0.5 [mm]. Further, the pitch of the connection terminals 153 is, for example, about 0.5 [mm] to 1 [mm], and in this embodiment is about 0.75 [mm]. Further, the height from the lower surface of the tip of the connecting terminal 153 in contact with the circuit board 140 to the upper surface of the base end of the connecting terminal 153 protruding from the side surface of the base end portion 150b is, for example, 1 [mm] to 2 [mm]. In this embodiment, it is about 1.68 [mm].

また、回路基板140は、図3Bおよび図4Aに示すように、回路室118から副通路130を形成する第2副通路溝117bへ向けて延びる延出部140bを有している。延出部140bは、主通路22を流れる被計測気体2の主流れ方向(Y軸方向)において、チップパッケージ150の先端部150aに沿って、回路室118から第2副通路溝117bへ延びている。 Further, the circuit board 140 has an extending portion 140b extending from the circuit chamber 118 toward the second sub-passage groove 117b forming the sub-passage 130, as shown in FIGS. 3B and 4A. The extending portion 140b extends from the circuit chamber 118 to the second sub-passage groove 117b along the tip portion 150a of the chip package 150 in the main flow direction (Y-axis direction) of the gas to be measured 2 flowing through the main passage 22. There is.

チップパッケージ150は、図4Cおよび図4Eに示すように、流量センサ151よりも先端側に当接部150eを有し、回路基板140の延出部140bとチップパッケージ150の当接部150eとが接している。この状態で、チップパッケージ150の底面150dと回路基板140とが間隔dをあけて対向し、底面150dと回路基板140との間に空気通路APが形成されている。チップパッケージ150の底面150dと回路基板140との間隔dは、たとえば、約0.01[mm]から約0.5[mm]程度の範囲で設定することができ、本実施形態では約0.1[mm]である。 As shown in FIGS. 4C and 4E, the chip package 150 has a contact portion 150e on the distal end side of the flow rate sensor 151, and the extended portion 140b of the circuit board 140 and the contact portion 150e of the chip package 150 are connected to each other. are in contact with each other. In this state, the bottom surface 150d of the chip package 150 and the circuit board 140 face each other with a distance d between them, and an air passage AP is formed between the bottom surface 150d and the circuit board 140. The distance d between the bottom surface 150d of the chip package 150 and the circuit board 140 can be set, for example, in a range of about 0.01 [mm] to about 0.5 [mm], and in this embodiment, about 0.01 mm. It is 1 [mm].

当接部150eは、たとえば、図4Eに示すように、凹溝150cに沿ってチップパッケージ150の幅方向WDに延びている。また、当接部150eは、たとえば、図4Cに示すように、チップパッケージ150の長さ方向LDに沿って所定の幅で回路基板140に接している。すなわち、当接部150eは、チップパッケージ150の幅方向WDを長手方向とし、チップパッケージ150の長さ方向LDを短手方向とするおおむね長方形の接触面を介して回路基板140に接している。 For example, as shown in FIG. 4E, the contact portion 150e extends in the width direction WD of the chip package 150 along the groove 150c. Further, the contact portion 150e is in contact with the circuit board 140 at a predetermined width along the length direction LD of the chip package 150, for example, as shown in FIG. 4C. That is, the contact portion 150e is in contact with the circuit board 140 via a generally rectangular contact surface whose longitudinal direction is the width direction WD of the chip package 150 and whose width direction is the length direction LD of the chip package 150.

硬化性封止材141は、たとえば、図3Bに示すように、チップパッケージ150の先端部150aに接続された基端部150bの一端を除く基端部150bの周囲に配置され、空気通路APと回路室118との間を封止している。なお、硬化性封止材141は、図3Cに示すように、チップパッケージ150の先端部150aに接続された基端部150bの一端とその反対側の端部を除いて、基端部150bの両側に配置してもよい。 For example, as shown in FIG. 3B, the curable sealing material 141 is disposed around the base end 150b excluding one end of the base end 150b connected to the distal end 150a of the chip package 150, and is connected to the air passage AP. The space between the circuit chamber 118 and the circuit chamber 118 is sealed. Note that, as shown in FIG. 3C, the curable sealing material 141 covers the base end 150b, except for one end of the base end 150b connected to the tip 150a of the chip package 150 and the opposite end thereof. May be placed on both sides.

図4Cおよび図4Dに示すように、チップパッケージ150の底面150dと回路基板140との間の空気通路APは、チップパッケージ150の基端部150bの周囲に配置された硬化性封止材141と計測通路132aとを連通している。ここで、計測通路132aは、図3Bおよび図3Dに示すように、副通路130の一部である第2副通路132を形成する第2副通路溝117bに連通している。すなわち、チップパッケージ150の底面150dと回路基板140との間の空気通路APは、硬化性封止材141と副通路130との間を連通している。 As shown in FIGS. 4C and 4D, the air passage AP between the bottom surface 150d of the chip package 150 and the circuit board 140 is connected to a curable sealant 141 disposed around the base end 150b of the chip package 150. It communicates with the measurement passage 132a. Here, the measurement passage 132a communicates with a second sub-passage groove 117b that forms a second sub-passage 132 that is a part of the sub-passage 130, as shown in FIGS. 3B and 3D. That is, the air passage AP between the bottom surface 150d of the chip package 150 and the circuit board 140 communicates between the curable sealing material 141 and the sub passage 130.

また、チップパッケージ150の基端部150bの側面は、図4Dに示すように、底面150dへ向けて幅方向WDの内側へ傾斜する傾斜面150fを有している。回路基板140の実装面140aに対する傾斜面150fの傾斜角度は、たとえば、60度以上かつ80度以下であり、本実施形態では約70度である。 Further, as shown in FIG. 4D, the side surface of the base end portion 150b of the chip package 150 has an inclined surface 150f that slopes inward in the width direction WD toward the bottom surface 150d. The angle of inclination of the inclined surface 150f with respect to the mounting surface 140a of the circuit board 140 is, for example, 60 degrees or more and 80 degrees or less, and in this embodiment is about 70 degrees.

図3Bまたは図3Cに示すように、すべての接続端子153を覆うように基端部150bの周囲に未硬化の硬化性封止材141を塗布すると、図4Dに示すように、傾斜面150fに沿って硬化性封止材141が基端部150bの幅方向WD内側へ入り込む。さらに、未硬化の硬化性封止材141は、回路基板140の実装面140aに接して回路室118と空気通路APとの間を封止するが、粘性を有しているため、チップパッケージ150の底面150dと回路基板140との間の空気通路APには、ほとんど入り込まない。 As shown in FIG. 3B or 3C, when the uncured curable sealing material 141 is applied around the proximal end portion 150b so as to cover all the connection terminals 153, as shown in FIG. 4D, the slanted surface 150f The curable sealing material 141 enters inside the base end portion 150b in the width direction WD along the line. Further, the uncured curable sealing material 141 seals between the circuit chamber 118 and the air passage AP in contact with the mounting surface 140a of the circuit board 140, but since it has viscosity, the chip package 150 The air hardly enters the air passage AP between the bottom surface 150d and the circuit board 140.

また、回路基板140の回路基板140には、チップパッケージ150の他に、温度センサ160、圧力センサ170、および湿度センサ180の少なくとも一つが実装されている。本実施形態において、回路基板140の回路基板140には、たとえば図4Aに示すように、温度センサ160、圧力センサ170、および湿度センサ180が実装されているが、いずれかのセンサを省略することも可能である。 Further, in addition to the chip package 150, at least one of a temperature sensor 160, a pressure sensor 170, and a humidity sensor 180 is mounted on the circuit board 140 of the circuit board 140. In this embodiment, as shown in FIG. 4A, for example, a temperature sensor 160, a pressure sensor 170, and a humidity sensor 180 are mounted on the circuit board 140 of the circuit board 140, but any one of the sensors may be omitted. is also possible.

温度センサ160は、たとえば、回路基板140に実装されたチップ型の温度センサである。温度センサ160は、たとえば図3Bおよび図4Aに示すように、計測部113の突出方向(X軸方向)において計測部113の先端へ向けて延びる回路基板140の延出部140cの先端部に配置されている。温度センサ160は、図2Aから図2Cに示すように、計測部113の温度計測通路190に配置され、主通路22から温度計測通路190に取り込まれた被計測気体2の温度を測定する。 The temperature sensor 160 is, for example, a chip-type temperature sensor mounted on the circuit board 140. As shown in FIGS. 3B and 4A, for example, the temperature sensor 160 is disposed at the tip of the extending portion 140c of the circuit board 140 that extends toward the tip of the measuring portion 113 in the protruding direction (X-axis direction) of the measuring portion 113. has been done. The temperature sensor 160 is arranged in the temperature measurement passage 190 of the measurement unit 113, as shown in FIGS. 2A to 2C, and measures the temperature of the gas to be measured 2 taken into the temperature measurement passage 190 from the main passage 22.

温度計測通路190は、図2Cに示すように、計測部113の上流側の側面113cに入口を有し、図2Aおよび図2Bに示すように、計測部113の正面113aと背面113bの双方に出口を有している。温度計測通路190は、主通路22を流れる被計測気体2を、計測部113の上流側の側面113cに開口する入口から取り込んで、計測部113の正面113aおよび背面113bに開口する出口から主通路22へ排出する。このような構成により、温度センサ160の放熱性を向上させることができる。 The temperature measurement passage 190 has an entrance on the upstream side surface 113c of the measurement section 113, as shown in FIG. 2C, and has an entrance on both the front surface 113a and the back surface 113b of the measurement section 113, as shown in FIGS. It has an exit. The temperature measurement passage 190 takes in the gas to be measured 2 flowing through the main passage 22 from an inlet opening on the upstream side surface 113c of the measurement part 113, and takes in the gas 2 to be measured flowing through the main passage 22 from an outlet opening on the front side 113a and the back side 113b of the measurement part 113. Discharge to 22. With such a configuration, the heat dissipation of the temperature sensor 160 can be improved.

圧力センサ170は、たとえば、回路基板140の実装面140aに実装されて回路室118内に配置されている。回路室118は、フランジ111の近傍でU字状にカーブする第2副通路溝117bの折り返し部、すなわち第2副通路132の折り返し部に連通している。これにより、回路室118に配置された圧力センサ170によって、主通路22を流れる被計測気体2の圧力を測定することが可能になる。 For example, the pressure sensor 170 is mounted on the mounting surface 140a of the circuit board 140 and is disposed within the circuit chamber 118. The circuit chamber 118 communicates with the folded portion of the second sub passage groove 117b that curves in a U-shape near the flange 111, that is, the folded portion of the second sub passage 132. This allows the pressure sensor 170 disposed in the circuit chamber 118 to measure the pressure of the gas to be measured 2 flowing through the main passage 22 .

湿度センサ180は、たとえば、図3Bおよび図4Aに示すように、回路基板140の実装面140aに実装され、回路室118よりも計測部113の先端側の区画された領域に配置されている。湿度センサ180は、被計測気体2の湿度を検出する。 For example, as shown in FIGS. 3B and 4A, the humidity sensor 180 is mounted on the mounting surface 140a of the circuit board 140, and is disposed in a partitioned area closer to the tip of the measurement unit 113 than the circuit chamber 118. Humidity sensor 180 detects the humidity of gas 2 to be measured.

以下、本実施形態の物理量検出装置100の作用について説明する。 Hereinafter, the operation of the physical quantity detection device 100 of this embodiment will be explained.

本実施形態の物理量検出装置100は、前述のように、主通路22を流れる被計測気体2の物理量を検出する装置である。物理量検出装置100は、主通路22から被計測気体2を取り込んで迂回させる副通路130と、その副通路130を流れる被計測気体2の流量を検出する流量センサ151とを備えている。また、物理量検出装置100は、流量センサ151を駆動させるチップパッケージ150と、そのチップパッケージ150の接続端子153が実装される回路基板140と、その回路基板140を収容する回路室118と、接続端子153を封止する硬化性封止材141と、を備えている。そして、チップパッケージ150は、回路室118に配置されて接続端子153が設けられた基端部150bと、副通路130に配置されて流量センサ151が設けられた先端部150aと、回路基板140との間に空気通路APを形成する底面150dとを有している。この空気通路APは、硬化性封止材141と副通路130との間を連通している。 As described above, the physical quantity detection device 100 of this embodiment is a device that detects the physical quantity of the gas to be measured 2 flowing through the main passage 22. The physical quantity detection device 100 includes a sub passage 130 that takes in the gas to be measured 2 from the main passage 22 and detours it, and a flow rate sensor 151 that detects the flow rate of the gas to be measured 2 flowing through the sub passage 130. The physical quantity detection device 100 also includes a chip package 150 that drives a flow rate sensor 151, a circuit board 140 on which a connection terminal 153 of the chip package 150 is mounted, a circuit chamber 118 that accommodates the circuit board 140, and a connection terminal. 153. The chip package 150 has a base end 150b disposed in the circuit chamber 118 and provided with a connection terminal 153, a distal end 150a disposed in the sub passage 130 and provided with a flow rate sensor 151, and a circuit board 140. and a bottom surface 150d forming an air passage AP therebetween. This air passage AP communicates between the curable sealing material 141 and the sub passage 130.

この構成により、硬化性封止材141を塗布してチップパッケージ150の接続端子153を封止する場合に、空気だまりの発生を抑制することが可能になる。より詳細には、チップパッケージ150は、流量センサ151を駆動させるための電子部品152を含み、設計上の制約により回路基板140の実装面140aの法線方向における高さが他のセンサや電子部品よりも高くなる。すると、図4Dに示すように、チップパッケージ150の接続端子153と回路基板140との間に形成される空間が大きくなる。そのため、接続端子153に未硬化の硬化性封止材141を塗布するときに、接続端子153の周囲や接続端子153とチップパッケージ150との間に空気だまりが発生しやすくなる。 With this configuration, when applying the curable sealing material 141 to seal the connection terminals 153 of the chip package 150, it is possible to suppress the generation of air pockets. More specifically, the chip package 150 includes an electronic component 152 for driving a flow rate sensor 151, and due to design constraints, the height in the normal direction of the mounting surface 140a of the circuit board 140 is higher than that of other sensors and electronic components. be higher than Then, as shown in FIG. 4D, the space formed between the connection terminals 153 of the chip package 150 and the circuit board 140 becomes larger. Therefore, when applying the uncured curable sealing material 141 to the connection terminal 153, air pockets are likely to occur around the connection terminal 153 or between the connection terminal 153 and the chip package 150.

また、チップパッケージ150と回路基板140との間に空気が封入されるおそれがある。このような空気だまりが発生した状態で、硬化性封止材141を加熱して硬化させると、たとえば、空気の膨張や硬化性封止材141の比重の変化にともない、空気だまりの空気が未硬化の硬化性封止材141中を移動することがある。このような空気が硬化性封止材141の表面に達すると、接続端子153を硬化性封止材141から露出させるおそれがある。硬化性封止材141から露出した接続端子153は、副通路130から回路室118に導入される被計測気体2に暴露され、被計測気体2に含まれる水滴、ダスト、腐食性ガスによって腐食して、物理量検出装置100の信頼性を低下させるおそれがある。 Furthermore, there is a possibility that air may be trapped between the chip package 150 and the circuit board 140. If the curable encapsulant 141 is heated and cured in a state where such an air pocket is generated, the air in the air pocket may be removed due to expansion of the air or changes in the specific gravity of the curable encapsulant 141, for example. It may move through the cured curable sealant 141 . If such air reaches the surface of the curable sealant 141, there is a possibility that the connection terminal 153 may be exposed from the curable sealant 141. The connection terminals 153 exposed from the curable sealing material 141 are exposed to the gas to be measured 2 introduced into the circuit chamber 118 from the sub passage 130, and are corroded by water droplets, dust, and corrosive gas contained in the gas to be measured 2. Therefore, the reliability of the physical quantity detection device 100 may be reduced.

これに対し、本実施形態の物理量検出装置100は、前述のように、チップパッケージ150が、回路基板140との間に空気通路APを形成する底面150dを有している。換言すると、チップパッケージ150の底面150dは、回路基板140に接するチップパッケージ150の他の部分よりも、回路基板140の法線方向であるチップパッケージ150の高さ方向において、高い位置に形成されている。 In contrast, in the physical quantity detection device 100 of this embodiment, the chip package 150 has the bottom surface 150d that forms the air passage AP between the chip package 150 and the circuit board 140, as described above. In other words, the bottom surface 150d of the chip package 150 is formed at a higher position than other parts of the chip package 150 that are in contact with the circuit board 140 in the height direction of the chip package 150, which is the normal direction of the circuit board 140. There is.

このような構成により、チップパッケージ150の接続端子153を封止する硬化性封止材141と副通路130との間を連通する空気通路APを形成することができる。この空気通路APは、たとえば、未硬化の硬化性封止材141の塗布時や加熱硬化時に、硬化性封止材141とチップパッケージ150との間の空気や硬化性封止材141中を移動した空気を副通路130へ逃がすことで、空気だまりの発生を抑制することができる。その結果、接続端子153を硬化性封止材141によってより確実に覆うことができ、物理量検出装置100の信頼性を向上させることができる。 With such a configuration, an air passage AP that communicates between the curable sealing material 141 that seals the connection terminals 153 of the chip package 150 and the sub passage 130 can be formed. This air passage AP moves through the air between the curable encapsulant 141 and the chip package 150 or inside the curable encapsulant 141, for example, when the uncured curable encapsulant 141 is applied or heat cured. By allowing the air to escape to the sub passage 130, it is possible to suppress the generation of air pockets. As a result, the connection terminal 153 can be more reliably covered with the curable sealing material 141, and the reliability of the physical quantity detection device 100 can be improved.

また、本実施形態の物理量検出装置100において、チップパッケージ150の接続端子153は、底面150dに交差する基端部150bの側面から回路基板140の実装面140aに沿うチップパッケージ150の幅方向WDへ突出して回路基板140へ向けて曲折されている。そして、チップパッケージ150の基端部150bの側面は、底面150dへ向けて幅方向WDの内側へ傾斜する傾斜面150fを有している。 Furthermore, in the physical quantity detection device 100 of this embodiment, the connection terminal 153 of the chip package 150 extends from the side surface of the base end 150b intersecting the bottom surface 150d to the width direction WD of the chip package 150 along the mounting surface 140a of the circuit board 140. It protrudes and is bent toward the circuit board 140. The side surface of the base end portion 150b of the chip package 150 has an inclined surface 150f that slopes inward in the width direction WD toward the bottom surface 150d.

この構成により、チップパッケージ150の基端部150bの側面から幅方向に突出して回路基板140へ向けて曲折された接続端子153と、基端部150bの側面の間に比較的に大きな空間が形成される。しかし、基端部150bの側面が底面150dへ向けて幅方向WDの内側へ傾斜する傾斜面150fを有している。そのため、接続端子153と傾斜面150fとの間に塗布された未硬化の硬化性封止材141は、回路基板140の法線方向に平行な側面と比較して面積が大きい傾斜面150fに接し、チップパッケージ150の底面150dへ向けて幅方向WDの内側へ流動する。これにより、未硬化の硬化性封止材141のチップパッケージ150に対する濡れ拡がりを促進させ、空気だまりの発生をより効果的に抑制することができる。 With this configuration, a relatively large space is formed between the connecting terminal 153 that protrudes in the width direction from the side surface of the base end portion 150b of the chip package 150 and is bent toward the circuit board 140, and the side surface of the base end portion 150b. be done. However, the side surface of the base end portion 150b has an inclined surface 150f that slopes inward in the width direction WD toward the bottom surface 150d. Therefore, the uncured curable sealing material 141 applied between the connection terminal 153 and the inclined surface 150f is in contact with the inclined surface 150f, which has a larger area than the side surface parallel to the normal direction of the circuit board 140. , flows inward in the width direction WD toward the bottom surface 150d of the chip package 150. This promotes the spread of the uncured curable sealing material 141 on the chip package 150, making it possible to more effectively suppress the formation of air pockets.

また、本実施形態の物理量検出装置100において、回路基板140は、チップパッケージ150の先端部150aに沿って回路室118から副通路130へ延びる延出部140bを有している。また、チップパッケージ150は、先端部150aの流量センサ151よりも先端側に当接部150eを有している。そして、回路基板140の延出部140bとチップパッケージ150の当接部150eとが接している。 Furthermore, in the physical quantity detection device 100 of this embodiment, the circuit board 140 has an extension portion 140b extending from the circuit chamber 118 to the sub passage 130 along the tip portion 150a of the chip package 150. Further, the chip package 150 has a contact portion 150e closer to the tip than the flow rate sensor 151 of the tip portion 150a. The extending portion 140b of the circuit board 140 and the contact portion 150e of the chip package 150 are in contact with each other.

この構成により、チップパッケージ150は、基端部150bの複数の接続端子153と先端部150aの当接部150eが回路基板140に接した状態で、回路基板140上に実装されて固定される。これにより、底面150dと回路基板140との間に空気通路APを形成した状態で、チップパッケージ150を回路基板140上に安定した状態で固定することができる。 With this configuration, the chip package 150 is mounted and fixed on the circuit board 140 with the plurality of connection terminals 153 of the base end 150b and the contact portion 150e of the tip end 150a in contact with the circuit board 140. Thereby, the chip package 150 can be stably fixed on the circuit board 140 with the air passage AP formed between the bottom surface 150d and the circuit board 140.

また、本実施形態の物理量検出装置100において、接続端子153は、接合材142を介して回路基板140に実装されている。この構成により、硬化性封止材141によって、空気だまりの発生を抑制しながら、接続端子153と接合材142を被覆することができる。したがって、接続端子153だけでなく接合材142の腐食も防止することができ、物理量検出装置100の信頼性をより向上させることができる。 Furthermore, in the physical quantity detection device 100 of this embodiment, the connection terminal 153 is mounted on the circuit board 140 via the bonding material 142. With this configuration, the connection terminal 153 and the bonding material 142 can be covered with the curable sealing material 141 while suppressing the generation of air pockets. Therefore, corrosion of not only the connection terminal 153 but also the bonding material 142 can be prevented, and the reliability of the physical quantity detection device 100 can be further improved.

また、本実施形態の物理量検出装置100において、硬化性封止材141は、シリコーン系封止材である。この構成により、たとえば、エポキシ系封止材と比較して、未硬化の硬化性封止材141の粘度、チキソ比などの物性値の制御を容易にすることができ、空気だまりの発生をより確実に抑制することができる。 Furthermore, in the physical quantity detection device 100 of this embodiment, the curable sealant 141 is a silicone sealant. With this configuration, for example, compared to an epoxy-based sealant, it is possible to easily control physical properties such as the viscosity and thixotropic ratio of the uncured curable sealant 141, and the generation of air pockets can be more easily controlled. It can be suppressed reliably.

また、本実施形態の物理量検出装置100において、硬化性封止材141は、図3Bに示すように、チップパッケージ150の先端部150aに接続された基端部150bの一端を除く基端部150bの周囲に配置されて、空気通路APと回路室118との間を封止している。この構成により、副通路130から空気通路APを介して水滴、ダスト、腐食性ガスなどを含む被計測気体2が回路室118に浸入するのを防止して、物理量検出装置100の信頼性をより向上させることができる。 In addition, in the physical quantity detection device 100 of this embodiment, the curable sealing material 141 is attached to the base end portion 150b excluding one end of the base end portion 150b connected to the tip portion 150a of the chip package 150, as shown in FIG. 3B. , and seals between the air passage AP and the circuit chamber 118. This configuration prevents the measurement gas 2 containing water droplets, dust, corrosive gas, etc. from entering the circuit chamber 118 from the sub passage 130 via the air passage AP, thereby increasing the reliability of the physical quantity detection device 100. can be improved.

また、本実施形態の物理量検出装置100は、回路基板140の実装面140aに、温度センサ160、圧力センサ170、および湿度センサ180の少なくとも一つが実装されている。 Furthermore, in the physical quantity detection device 100 of this embodiment, at least one of a temperature sensor 160, a pressure sensor 170, and a humidity sensor 180 is mounted on the mounting surface 140a of the circuit board 140.

この構成により、吸入空気を被計測気体2として、被計測気体2の流量だけでなく、内燃機関10の効率向上に必要な被計測気体2の温度、圧力、および湿度などの物理量を検出することができる。したがって、制御装置4によって内燃機関制御システム1をよりきめ細やかに制御することができ、内燃機関10の燃焼効率を向上させることができる。 With this configuration, by using the intake air as the gas to be measured 2, it is possible to detect not only the flow rate of the gas to be measured 2, but also physical quantities such as the temperature, pressure, and humidity of the gas to be measured 2, which are necessary for improving the efficiency of the internal combustion engine 10. I can do it. Therefore, the internal combustion engine control system 1 can be controlled more precisely by the control device 4, and the combustion efficiency of the internal combustion engine 10 can be improved.

以上、図面を用いて本開示に係る物理量検出装置の実施形態を詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲における設計変更等があっても、それらは本開示に含まれるものである。 Although the embodiment of the physical quantity detection device according to the present disclosure has been described above in detail using the drawings, the specific configuration is not limited to this embodiment, and design changes may be made within the scope of the gist of the present disclosure. etc., they are included in the present disclosure.

2 被計測気体
22 主通路
100 物理量検出装置
118 回路室
130 副通路
140 回路基板
140a 実装面
140b 延出部
141 硬化性封止材
142 接合材
150 チップパッケージ
150a 先端部
150b 基端部
150d 底面
150e 当接部
150f 傾斜面
151 流量センサ
153 接続端子
160 温度センサ
170 圧力センサ
180 湿度センサ
AP 空気通路
WD 幅方向
2 Gas to be measured 22 Main passage 100 Physical quantity detection device 118 Circuit chamber 130 Sub passage 140 Circuit board 140a Mounting surface 140b Extension part 141 Curable sealant 142 Bonding material 150 Chip package 150a Tip part 150b Base part 150d Bottom surface 150e Contact portion 150f Inclined surface 151 Flow rate sensor 153 Connection terminal 160 Temperature sensor 170 Pressure sensor 180 Humidity sensor AP Air passage WD Width direction

Claims (7)

主通路を流れる被計測気体の物理量を検出する物理量検出装置であって、
前記主通路から前記被計測気体を取り込んで迂回させる副通路と、前記副通路を流れる前記被計測気体の流量を検出する流量センサと、前記流量センサを駆動させるチップパッケージと、前記チップパッケージの接続端子が実装される回路基板と、前記回路基板を収容する回路室と、前記接続端子を封止する硬化性封止材と、を備え、
前記チップパッケージは、前記回路室に配置されて前記接続端子が設けられた基端部と、前記副通路に配置されて前記流量センサが設けられた先端部と、前記回路基板との間に空気通路を形成する底面とを有し、
前記空気通路は、前記硬化性封止材と前記副通路との間を連通していることを特徴とする物理量検出装置。
A physical quantity detection device that detects a physical quantity of a gas to be measured flowing through a main passage,
A sub-passage for taking in and detouring the gas to be measured from the main passage, a flow rate sensor for detecting the flow rate of the gas to be measured flowing through the sub-passage, a chip package for driving the flow sensor, and a connection between the chip package. comprising a circuit board on which a terminal is mounted, a circuit chamber that accommodates the circuit board, and a curable sealant that seals the connection terminal,
The chip package has air between a base end portion disposed in the circuit chamber and provided with the connection terminal, a distal end portion disposed in the sub passageway and provided with the flow rate sensor, and the circuit board. a bottom surface forming a passage;
A physical quantity detection device, wherein the air passage communicates between the curable sealing material and the sub-passage.
前記チップパッケージの前記接続端子は、前記底面に交差する前記基端部の側面から前記回路基板の実装面に沿う前記チップパッケージの幅方向へ突出して前記実装面へ向けて曲折され、
前記基端部の前記側面は、前記底面へ向けて前記幅方向の内側へ傾斜する傾斜面を有することを特徴とする請求項1に記載の物理量検出装置。
The connection terminal of the chip package protrudes from a side surface of the base end intersecting the bottom surface in the width direction of the chip package along the mounting surface of the circuit board and is bent toward the mounting surface,
The physical quantity detection device according to claim 1, wherein the side surface of the base end portion has an inclined surface that slopes inward in the width direction toward the bottom surface.
前記回路基板は、前記チップパッケージの前記先端部に沿って前記回路室から前記副通路へ延びる延出部を有し、
前記チップパッケージは、前記先端部の前記流量センサよりも先端側に当接部を有し、
前記回路基板の前記延出部と前記チップパッケージの前記当接部とが接していることを特徴とする請求項1に記載の物理量検出装置。
The circuit board has an extension extending from the circuit chamber to the sub passage along the tip of the chip package,
The chip package has a contact portion closer to the tip than the flow rate sensor at the tip,
The physical quantity detection device according to claim 1, wherein the extending portion of the circuit board and the contact portion of the chip package are in contact with each other.
前記接続端子は、接合材を介して前記回路基板に実装されていることを特徴とする請求項1に記載の物理量検出装置。 The physical quantity detection device according to claim 1, wherein the connection terminal is mounted on the circuit board via a bonding material. 前記硬化性封止材は、シリコーン系封止材であることを特徴とする請求項1に記載の物理量検出装置。 The physical quantity detection device according to claim 1, wherein the curable sealant is a silicone sealant. 前記硬化性封止材は、前記先端部に接続された前記基端部の一端を除く前記基端部の周囲に配置されて前記空気通路と前記回路室との間を封止していることを特徴とする請求項1に記載の物理量検出装置。 The curable sealing material is disposed around the proximal end except for one end of the proximal end connected to the distal end, and seals between the air passage and the circuit chamber. The physical quantity detection device according to claim 1, characterized in that: 前記回路基板の実装面に、温度センサ、圧力センサ、および湿度センサの少なくとも一つが実装されていることを特徴とする請求項1に記載の物理量検出装置。 The physical quantity detection device according to claim 1, wherein at least one of a temperature sensor, a pressure sensor, and a humidity sensor is mounted on the mounting surface of the circuit board.
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