JP7345939B2 - 状態特定装置、状態特定方法、および状態特定プログラム - Google Patents
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Description
以下、本発明の一側面に係る第1実施形態を、図面に基づいて説明する。なお、各図において、同一の符号を付したものは、同一又は同様の構成を有する。
以下、本発明の一側面に係る第2実施形態を、図面に基づいて説明する。第2実施形態は、検査対象物の状態を特定する方法が第1実施形態と異なる。したがって、以下の説明においては、第1実施形態と相違する構成について主に説明し、第1実施形態と同一のまたは相当する構成については重複する説明を省略する。
以下、本発明の一側面に係る第3実施形態を、図面に基づいて説明する。第3実施形態は、検査対象物の状態を特定する方法が第1実施形態と異なる。したがって、以下の説明においては、第1実施形態と相違する構成について主に説明し、第1実施形態と同一のまたは相当する構成については重複する説明を省略する。
Claims (12)
- 所定の照射条件で、検査対象物に励起光を照射する照射部と、
前記励起光の照射に対して遅延して生じた前記検査対象物からの発光の発光データである第1発光データを測定する測定部と、
前記第1発光データと、前記検査対象物を構成する物質の状態ごとに前記第1発光データと共通する照射条件で前記励起光を照射した場合に測定された前記検査対象物からの発光の発光データである第2発光データとを照合して、前記検査対象物の状態を特定する特定部と、
を備え、
前記第1発光データが、新品又は未使用の状態の前記検査対象物から測定される場合、前記第2発光データは、外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物を構成する物質から測定され、
前記第1発光データが、外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物から測定される場合、前記第2発光データは、新品又は未使用の状態の前記検査対象物を構成する物質から測定され、
前記第1発光データが、外部因子の印加中の状態の前記検査対象物から測定される場合、前記第2発光データは、新品又は未使用の状態、或いは外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物を構成する物質から測定される、
状態特定装置。 - 前記検査対象物からの発光の発光データは、前記励起光の照射に応じて生じた前記検査対象物の遅延蛍光及び/または燐光の発光データである、
請求項1に記載の状態特定装置。 - 前記測定部は、前記発光を100fps以上のフレームレートで撮影する高速カメラを含む、
請求項1または2に記載の状態特定装置。 - 前記特定部は、記憶部に予め格納された前記検査対象物の参照発光データを読み出し、前記読み出した参照発光データと前記測定部により測定された前記第1発光データとを用いて前記検査対象物の状態を特定し、
前記第1発光データが、新品又は未使用の状態の前記検査対象物から測定される場合、前記参照発光データは、外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物を構成する物質から測定され、
前記第1発光データが、外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物から測定される場合、前記参照発光データは、新品又は未使用の状態の前記検査対象物を構成する物質から測定され、
前記第1発光データが、外部因子の印加中の状態の前記検査対象物から測定される場合、前記参照発光データは、新品又は未使用の状態、或いは外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物を構成する物質から測定される、
請求項1から3のいずれか1項に記載の状態特定装置。 - 所定の照射条件で、検査対象物に励起光を照射する照射部と、
前記励起光の照射に対して遅延して生じた前記検査対象物からの発光の発光データとして変化前発光データを測定し、前記検査対象物の外的要因が変化した後に、前記励起光の照射に応じて生じた前記検査対象物からの発光の発光データとして変化後発光データを測定する測定部と、
前記変化前発光データに対する前記変化後発光データの変化度に基づいて、前記検査対象物の外的要因が変化したことに基づく前記検査対象物の状態を特定する特定部と、
を備え、
前記外的要因の変化したことに基づく前記検査対象物の状態は、前記検査対象物に水分が添加されている状態、pH度の異なる状態、前記検査対象物に電磁波が加えられた状態、前記検査対象物が加熱された状態、前記検査対象物が空気や各種気体・ガスに晒された状態、及び前記検査対象物に機械的応力が加えられた状態のうちのいずれか、又はそれらが組み合わされた状態である、
状態特定装置。 - 前記特定部は、記憶部に予め格納された前記検査対象物の劣化度合いごとの発光データと、前記測定部により測定された前記発光データとを照合して、前記検査対象物の状態として、前記検査対象物が劣化した度合いを特定する、
請求項1から5のいずれか1項に記載の状態特定装置。 - 前記励起光の波長は、10nm以上である、
請求項1から6のいずれか1項に記載の状態特定装置。 - 前記発光データは、前記励起光の照射を止めた後に生じる前記検査対象物からの発光の発光データを含む、
請求項1から7のいずれか1項に記載の状態特定装置。 - 所定の照射条件で検査対象物に励起光を照射する照射工程と、
前記励起光の照射に対して遅延して生じた前記検査対象物からの発光の発光データである第1発光データを測定する測定工程と、
前記第1発光データと、前記検査対象物を構成する物質の状態ごとに前記第1発光データと共通の照射条件で前記励起光を照射した場合に測定された前記検査対象物からの発光の発光データである第2発光データとを照合して、前記検査対象物の状態を特定する特定工程と、
を含み、
前記第1発光データが、新品又は未使用の状態の前記検査対象物から測定される場合、前記第2発光データは、外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物を構成する物質から測定され、
前記第1発光データが、外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物から測定される場合、前記第2発光データは、新品又は未使用の状態の前記検査対象物を構成する物質から測定され、
前記第1発光データが、外部因子の印加中の状態の前記検査対象物から測定される場合、前記第2発光データは、新品又は未使用の状態、或いは外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物を構成する物質から測定される、
状態特定方法。 - 前記特定工程においては、記憶部に予め格納された前記検査対象物の参照発光データを読み出し、前記読み出した参照発光データと前記測定部により測定された前記第1発光データとを用いて前記検査対象物の状態を特定し、
前記第1発光データが、新品又は未使用の状態の前記検査対象物から測定される場合、前記参照発光データは、外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物を構成する物質から測定され、
前記第1発光データが、外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物から測定される場合、前記参照発光データは、新品又は未使用の状態の前記検査対象物を構成する物質から測定され、
前記第1発光データが、外部因子の印加中の状態の前記検査対象物から測定される場合、前記参照発光データは、新品又は未使用の状態、或いは外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物を構成する物質から測定される、
請求項9に記載の状態特定方法。 - コンピュータに、
所定の照射条件で検査対象物に励起光を照射する処理と、
前記励起光の照射に対して遅延して生じた前記検査対象物からの発光の発光データである第1発光データを測定する処理と、
前記第1発光データと、前記検査対象物を構成する物質の状態ごとに前記第1発光データと共通の照射条件で前記励起光を照射した場合に測定された前記検査対象物からの発光の発光データである第2発光データとを照合して、前記検査対象物の状態を特定する処理と、
を実行させる状態特定プログラムであって、
前記第1発光データが、新品又は未使用の状態の前記検査対象物から測定される場合、前記第2発光データは、外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物を構成する物質から測定され、
前記第1発光データが、外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物から測定される場合、前記第2発光データは、新品又は未使用の状態の前記検査対象物を構成する物質から測定され、
前記第1発光データが、外部因子の印加中の状態の前記検査対象物から測定される場合、前記第2発光データは、新品又は未使用の状態、或いは外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物を構成する物質から測定される、
状態特定プログラム。 - 所定の照射条件で検査対象物に励起光を照射する照射部と、
前記励起光の照射に対して遅延して生じた前記検査対象物の発光に関する発光データである第1発光データを測定する測定部と、
前記第1発光データと、前記検査対象物を構成する物質の状態ごとに前記所定の照射条件で前記励起光を照射した場合に遅延して生じた発光に関する発光データである第2発光データとに基づいて、前記検査対象物の状態を特定する特定部と、
を備え、
前記第1発光データが、新品又は未使用の状態の前記検査対象物から測定される場合、前記第2発光データは、外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物を構成する物質から測定され、
前記第1発光データが、外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物から測定される場合、前記第2発光データは、新品又は未使用の状態の前記検査対象物を構成する物質から測定され、
前記第1発光データが、外部因子の印加中の状態の前記検査対象物から測定される場合、前記第2発光データは、新品又は未使用の状態、或いは外部因子の印加により変化した状態の前記検査対象物を構成する物質から測定される、
状態特定装置。
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