JP7339044B2 - SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS, SUBSTRATE PROCESSING SYSTEM AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD - Google Patents

SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS, SUBSTRATE PROCESSING SYSTEM AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD Download PDF

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Description

本発明は、半導体ウェハ、液晶ディスプレイ用基板、プラズマディスプレイ用基板、有機EL用基板、FED(Field Emission Display)、光ディスプレイ用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、太陽電池用基板(以下、単に「基板」と称する)に対して、処理液によって処理を行う基板処理装置及び基板処理方法に関する。 The present invention provides a semiconductor wafer, a liquid crystal display substrate, a plasma display substrate, an organic EL substrate, an FED (Field Emission Display), an optical display substrate, a magnetic disk substrate, a magneto-optical disk substrate, a photomask substrate, The present invention relates to a substrate processing apparatus and a substrate processing method for processing a solar cell substrate (hereinafter simply referred to as "substrate") with a processing liquid.

従来、基板の表面に残存するレジストの剥離やその他の有機性の汚染物質を除去するために、洗浄能力の高いカロ酸を生じる硫酸過酸化水素水混合液(SPM:Sulfuric acid/hydrogen Peroxide Mixture)が用いられている。特に、混合液を満たした処理槽内に複
数枚の基板を同時に浸漬して洗浄を行うバッチ式の基板処理装置においては、SPM液内に数十枚の基板を浸漬し、所定時間経過後に基板を取り出した後に、次の基板を浸漬する動作を繰り返す。このように連続的に洗浄を行う場合には、処理槽内のSPM液が基板表面に付着し、処理槽外に持ち出されることにより、SPM液のレベルが低下するので、所定のタイミングで硫酸や過酸化水素水を補充している。
Sulfuric acid/hydrogen peroxide mixture (SPM), which produces Karo's acid with high cleaning ability, is conventionally used to remove resist remaining on the substrate surface and remove other organic contaminants. is used. In particular, in a batch-type substrate processing apparatus in which a plurality of substrates are simultaneously immersed in a processing bath filled with a mixed solution for cleaning, dozens of substrates are immersed in the SPM solution, and after a predetermined time has elapsed, the substrates are washed. After taking out the substrate, the operation of immersing the next substrate is repeated. In the case of continuous cleaning in this manner, the SPM solution in the processing bath adheres to the substrate surface and is carried out of the processing bath, thereby lowering the level of the SPM solution. Refill with hydrogen peroxide.

また、過酸化水素水は比較的不安定な物質であり、徐々に分解して水を生成することから、液レベルの低下に合せて硫酸や過酸化水素水を補充してもSPM液中の硫酸濃度が経時的に低下し、これによりSPM液の洗浄能力も低下する。 In addition, since hydrogen peroxide is a relatively unstable substance and gradually decomposes to generate water, even if sulfuric acid or hydrogen peroxide is replenished as the liquid level drops, The concentration of sulfuric acid decreases over time, which also decreases the cleaning ability of the SPM liquid.

このような過酸化水素水の特性を考慮し、過酸化水素水の補充に関して種々の提案がなされている。例えば、特許文献1では、外槽と内槽とを接続して混合液を循環させる循環ラインに設けられたヒータと、内槽の底部に配置されるSPM供給ノズルとの間の部に過酸化水素水供給ラインが接続されている。ここでは、過酸化水素水供給ラインから循環ラインに供給された過酸化水素水がSPM供給ノズルの吐出孔から吐出するまでの時間が5秒以内、または、過酸化水素水供給ラインの循環ラインへの接続部からSPM供給ノズルの吐出孔までの距離が50cm以下とされている。 Considering such properties of hydrogen peroxide solution, various proposals have been made for replenishment of hydrogen peroxide solution. For example, in Patent Document 1, a heater provided in a circulation line that connects an outer tank and an inner tank to circulate a mixed liquid and an SPM supply nozzle disposed at the bottom of the inner tank are provided with peroxide. A hydrogen water supply line is connected. Here, the time required for the hydrogen peroxide solution supplied from the hydrogen peroxide solution supply line to the circulation line to be discharged from the discharge hole of the SPM supply nozzle is within 5 seconds, or to the circulation line of the hydrogen peroxide solution supply line. The distance from the connection portion of the SPM supply nozzle to the ejection hole of the SPM supply nozzle is 50 cm or less.

特許第5454108号公報Japanese Patent No. 5454108

しかし、このよう構成では、SPM供給ノズルから吐出される混合液においてカロ酸が十分に活性化していない可能性がある。 However, in such a configuration, caro's acid may not be sufficiently activated in the liquid mixture discharged from the SPM supply nozzle.

そこで、開示の技術の1つの側面は、硫酸と過酸化水素水とを含む高活性の混合液を作成し、洗浄能力を向上させることを課題とする。 Therefore, one aspect of the disclosed technique is to prepare a highly active liquid mixture containing sulfuric acid and hydrogen peroxide to improve cleaning performance.

開示の技術の1つの側面は、次のような基板処理装置によって例示される。
すなわち、本基板処理装置は、
基板を処理する基板処理装置において、
硫酸と過酸化水素水とを含む混合液で前記基板を処理する処理槽と、
前記処理槽から溢れた前記混合液を回収する外槽と、
一端が前記外槽に回収された前記混合液中に流通接続され、他端が前記処理槽内に貯留された前記混合液中に流通接続され、前記混合液を前記外槽から前記処理槽に向けて循環させる循環路と、
前記循環路に配置され、前記循環路内を流通する前記混合液を加熱する加熱部と、
前記外槽内における前記循環路の前記一端の近傍に存在する前記混合液又は前記循環路内における前記加熱部よりも上流側に存在する前記混合液に対して前記過酸化水素水を補充する過酸化水素水補充部と、
を備えることを特徴とする。
One aspect of the technology disclosed is exemplified by the following substrate processing apparatus.
That is, the present substrate processing apparatus
In a substrate processing apparatus for processing substrates,
a processing bath for processing the substrate with a mixed solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide;
an outer tank for collecting the mixed liquid overflowing from the processing tank;
One end is circulatingly connected to the mixed solution recovered in the outer tank, the other end is circulatedly connected to the mixed solution stored in the processing tank, and the mixed solution is transferred from the outer tank to the processing tank. A circulation path that circulates toward
a heating unit arranged in the circulation path and heating the mixed liquid flowing through the circulation path;
A excess hydrogen peroxide solution for replenishing the mixed solution existing in the vicinity of the one end of the circulation path in the outer tank or the mixed solution existing upstream of the heating section in the circulation path with the hydrogen peroxide solution. a hydrogen oxide water replenishment unit;
characterized by comprising

このような発明によれば、過酸化水素水が外槽内における循環路の一端の近傍に存在する混合液に補充されることにより、外槽内の混合液に希釈される前に循環路を流通する混合液に過酸化水素水を補充することができる。また、過酸化水素水が循環路内における加熱部よりも上流側に存在する混合液に補充されることにより、加熱部により加熱される前の低温の混合液に補充されるので、分解による過酸化水素水の濃度の低下を抑制することができる。従って、過酸化水素水の濃度が高く、高活性の混合液を作成することでき、基板の洗浄能力が向上する。
ここで、流通接続は、流体が流通可能な態様で接続されていることをいう。
According to such an invention, the hydrogen peroxide solution is replenished to the mixed liquid existing near one end of the circulating path in the outer tank, so that the circulating path is circulated before being diluted with the mixed liquid in the outer tank. Hydrogen peroxide solution can be replenished to the mixed solution to be circulated. Further, by replenishing the mixed liquid existing upstream of the heating section in the circulation path, the hydrogen peroxide solution is replenished to the low-temperature mixed liquid before being heated by the heating section. A decrease in the concentration of hydrogen oxide water can be suppressed. Therefore, it is possible to prepare a mixed liquid having a high concentration of hydrogen peroxide and a high activity, thereby improving the ability to clean the substrate.
Here, the circulation connection means that the fluid is connected in such a manner that the fluid can be circulated.

本発明においては、
前記過酸化水素水補充部は、
前記過酸化水素水を貯留する過酸化水素水貯留槽と、
一端が該過酸化水素水貯留槽に流通接続され、他端が前記外槽に回収された前記混合液中に接続される過酸化水素水補充管と、
を備え、
前記過酸化水素水補充管の前記他端は、前記循環路の前記一端の前記近傍に配置されるようにしてもよい。
In the present invention,
The hydrogen peroxide solution replenishment unit
a hydrogen peroxide water storage tank for storing the hydrogen peroxide water;
a hydrogen peroxide solution replenishment pipe having one end circulatingly connected to the hydrogen peroxide solution storage tank and the other end connected to the mixed liquid collected in the outer tank;
with
The other end of the hydrogen peroxide solution replenishment pipe may be arranged in the vicinity of the one end of the circulation path.

このように本発明によれば、過酸化水素水補充管の他端を循環路の一端の近傍に配することにより、外槽内の混合液に希釈される前に循環路を流通する混合液に過酸化水素水を補充することができる。従って、過酸化水素水の濃度が高く、高活性の混合液を作成することでき、基板の洗浄能力が向上する。 As described above, according to the present invention, by arranging the other end of the hydrogen peroxide solution replenishing pipe near one end of the circulation path, the mixture that flows through the circulation path before being diluted with the mixture in the outer tank can be replenished with hydrogen peroxide. Therefore, it is possible to prepare a mixed liquid having a high concentration of hydrogen peroxide and a high activity, thereby improving the ability to clean the substrate.

本発明においては、
前記循環路の前記加熱部より上流側に、前記外槽で回収された前記混合液を前記処理槽に向けて送液する混合液送液ポンプを備え、
前記混合液送液ポンプにより前記外槽内の前記混合液が前記循環路の前記一端から吸引されるときに周囲の領域よりも負圧となる領域に、前記過酸化水素水補充管の前記他端が配置されるようにしてもよい。
In the present invention,
A mixed solution sending pump for sending the mixed solution collected in the outer tank toward the processing tank is provided on the upstream side of the heating unit in the circulation path,
The hydrogen peroxide solution replenishing pipe is installed in a region where the pressure of the mixed liquid in the outer tank is lower than that of the surrounding region when the mixed liquid in the outer tank is sucked from the one end of the circulation path by the mixed liquid feeding pump. Edges may be arranged.

このように本発明によれば、混合液送液ポンプにより外槽内の混合液が循環路の一端から吸引されるときに周囲の領域よりも負圧となる領域に、過酸化水素水補充管の他端を配置することにより、補充された過酸化水素水が外槽内の混合液に希釈される前に混合液送液ポンプの次の吸引動作によって吸引されて循環路内の混合液に混合される。従って、過酸化水素水の濃度が高く、高活性の混合液を作成することでき、基板の洗浄能力が向上する。 As described above, according to the present invention, the hydrogen peroxide solution replenishing pipe is provided in the region where the pressure becomes more negative than the surrounding region when the mixed liquid in the outer tank is sucked from one end of the circulation path by the mixed liquid feeding pump. By arranging the other end, the replenished hydrogen peroxide solution is sucked into the mixed liquid in the circulation path by the next suction operation of the mixed liquid feeding pump before being diluted with the mixed liquid in the outer tank. mixed. Therefore, it is possible to prepare a mixed liquid having a high concentration of hydrogen peroxide and a high activity, thereby improving the ability to clean the substrate.

本発明においては、
前記過酸化水素水補充部は、
前記過酸化水素水を貯留する過酸化水素水貯留槽と、
一端が該過酸化水素水貯留槽に流通接続され、他端が前記循環路の前記加熱部よりも上
流側に流通接続される過酸化水素水補充管と、
を備えるようにしてもよい。
In the present invention,
The hydrogen peroxide solution replenishment unit
a hydrogen peroxide water storage tank for storing the hydrogen peroxide water;
a hydrogen peroxide solution replenishing pipe having one end circulatingly connected to the hydrogen peroxide solution storage tank and the other end circulatingly connected upstream of the heating section in the circulation path;
may be provided.

このように本発明によれば、過酸化水素水補充管の他端が循環路の加熱部よりも上流側に流通接続されるので、過酸化水素水が循環路内における加熱部よりも上流側に存在する混合液に補充されることとなる。これにより、過酸化水素水が加熱部により加熱される前の低温の混合液に補充されるので、分解による過酸化水素水の濃度の低下を抑制することができる。従って、過酸化水素水の濃度が高く、高活性の混合液を作成することでき、基板の洗浄能力が向上する。 As described above, according to the present invention, the other end of the hydrogen peroxide solution replenishing pipe is connected to the upstream side of the heating section in the circulation path, so that the hydrogen peroxide solution is supplied to the upstream side of the heating section in the circulation path. will be replenished to the mixed liquid present in the As a result, the hydrogen peroxide solution is replenished to the low-temperature mixed liquid before being heated by the heating unit, so that the decrease in concentration of the hydrogen peroxide solution due to decomposition can be suppressed. Therefore, it is possible to prepare a mixed liquid having a high concentration of hydrogen peroxide and a high activity, thereby improving the ability to clean the substrate.

本発明においては、
前記循環路の前記加熱部より上流側に、前記外槽で回収された前記混合液を前記処理槽に向けて送液する混合液送液ポンプを備え、
前記過酸化水素水補充管の前記他端は前記混合液送液ポンプよりも上流側において前記循環路に流通接続されるようにしてもよい。
In the present invention,
A mixed solution sending pump for sending the mixed solution collected in the outer tank toward the processing tank is provided on the upstream side of the heating unit in the circulation path,
The other end of the hydrogen peroxide solution replenishing pipe may be connected to the circulation path on the upstream side of the mixed liquid feeding pump.

このように本発明によれば、混合液送液ポンプの上流側で生じる負圧によって、補充された過酸化水素水の混合液との混合が促進され、混合液の活性化が促進される。従って、高活性の混合液を作成することでき、基板の洗浄能力が向上する。 Thus, according to the present invention, the negative pressure generated on the upstream side of the liquid mixture feed pump promotes mixing of the replenished hydrogen peroxide solution with the liquid mixture, thereby facilitating activation of the liquid mixture. Therefore, a highly active liquid mixture can be prepared, and the ability to clean the substrate is improved.

本発明においては、
前記過酸化水素水補充部は、前記過酸化水素水を前記過酸化水素水補充管に送液する過酸化水素水送液ポンプをさらに有し、
前記混合液送液ポンプと前記過酸化水素水送液ポンプとを制御する制御部を、さらに備え、
前記制御部は、前記混合液送液ポンプの吸引動作が開始される前に、前記過酸化水素水補充部から前記過酸化水素水が補充されるように前記混合液送液ポンプと前記過酸化水素水送液ポンプとを制御するようにしてもよい。
In the present invention,
The hydrogen peroxide solution replenishing unit further has a hydrogen peroxide solution sending pump for sending the hydrogen peroxide solution to the hydrogen peroxide solution replenishing pipe,
further comprising a control unit that controls the mixed liquid feeding pump and the hydrogen peroxide water feeding pump,
The control unit controls the mixed solution sending pump and the peroxide solution so that the hydrogen peroxide solution is replenished from the hydrogen peroxide solution replenishing unit before the suction operation of the mixed solution sending pump is started. A hydrogen water supply pump may be controlled.

このように、本発明によれば、混合液送液ポンプの吸引動作が開始される前に、過酸化水素水補充部から過酸化水素水が補充されるように混合液送液ポンプと過酸化水素水送液ポンプが制御されるので、過酸化水素水の希釈や分解により過酸化水素水の濃度が低下する前に混合液に過酸化水素水が補充される。従って、過酸化水素水の濃度が高く、高活性の混合液を作成することでき、基板の洗浄能力が向上する。 As described above, according to the present invention, the mixed solution sending pump and the peroxide solution are supplied so that the hydrogen peroxide solution is replenished from the hydrogen peroxide solution replenishing unit before the suction operation of the mixed solution sending pump is started. Since the hydrogen water supply pump is controlled, the mixed liquid is replenished with the hydrogen peroxide water before the concentration of the hydrogen peroxide water decreases due to dilution or decomposition of the hydrogen peroxide water. Therefore, it is possible to prepare a mixed liquid having a high concentration of hydrogen peroxide and a high activity, thereby improving the ability to clean the substrate.

本発明においては、
前記処理槽内の前記混合液に対して前記硫酸を補充する硫酸補充部をさらに備えるようにしてもよい。
In the present invention,
A sulfuric acid replenishing unit for replenishing the mixed solution in the processing tank with the sulfuric acid may be further provided.

このように、本発明によれば、硫酸補充部により硫酸を補充することができるので、混合液における硫酸の濃度を適切に維持することができる。従って、高活性の混合液を作成することでき、基板の洗浄能力が向上する。 As described above, according to the present invention, sulfuric acid can be replenished by the sulfuric acid replenishing unit, so that the concentration of sulfuric acid in the liquid mixture can be appropriately maintained. Therefore, a highly active liquid mixture can be prepared, and the ability to clean the substrate is improved.

また、本発明は、前記基板処理装置を備える基板処理システムである。 Moreover, this invention is a substrate processing system provided with the said substrate processing apparatus.

このように、本発明によれば、上述の基板処理装置から基板処理システムを構成することにより、基板処理システムにおける基板の洗浄能力が向上する。 Thus, according to the present invention, by constructing a substrate processing system from the substrate processing apparatus described above, the substrate cleaning capability in the substrate processing system is improved.

また、本発明は、
基板を処理する基板処理方法であって、
硫酸と過酸化水素水とを含む混合液で前記基板を処理する処理槽と、
前記処理槽から溢れた前記混合液を回収する外槽と、
一端が前記外槽に回収された前記混合液中に接続され、他端が前記処理槽内に貯留された前記混合液中に流通接続され、前記混合液を前記外槽から前記処理槽に向けて循環させる循環路と、
前記循環路に配置され、前記循環路内を流通する前記混合液を加熱する加熱部と、
前記循環路の前記加熱部より上流側に、前記外槽で回収された前記混合液を前記処理槽に向けて送液する混合液送液ポンプと、
前記外槽内における前記循環路の前記一端の近傍に存在する前記混合液又は前記循環路内における前記加熱部よりも上流側に存在する前記混合液に対して前記過酸化水素水を補充する過酸化水素水補充部であって、補充すべき前記過酸化水素水を送液する過酸化水素水送液ポンプを有する過酸化水素水補充部と、
を備える基板処理装置において、
前記混合液送液ポンプによって前記混合液を吸引するステップと、
前記混合液送液ポンプによる前記混合液の吸引を開始する前に、前記過酸化水素水送液ポンプによって前記過酸化水素水を吸引するステップと、
を含む基板処理方法である。
In addition, the present invention
A substrate processing method for processing a substrate,
a processing bath for processing the substrate with a mixed solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide;
an outer tank for collecting the mixed liquid overflowing from the processing tank;
One end is connected to the mixed liquid collected in the outer tank, the other end is connected in circulation to the mixed liquid stored in the processing tank, and the mixed liquid is directed from the outer tank to the processing tank. a circulation path that circulates through
a heating unit arranged in the circulation path and heating the mixed liquid flowing through the circulation path;
a mixed liquid feeding pump that feeds the mixed liquid collected in the outer tank toward the processing tank upstream of the heating unit in the circulation path;
A excess hydrogen peroxide solution for replenishing the mixed solution existing in the vicinity of the one end of the circulation path in the outer tank or the mixed solution existing upstream of the heating section in the circulation path with the hydrogen peroxide solution. a hydrogen peroxide solution replenishment unit, the hydrogen peroxide solution replenishment unit having a hydrogen peroxide solution sending pump for sending the hydrogen peroxide solution to be replenished;
In a substrate processing apparatus comprising
a step of sucking the mixed liquid by the mixed liquid feeding pump;
a step of sucking the hydrogen peroxide solution by the hydrogen peroxide solution sending pump before starting to suck the mixed solution by the mixed solution sending pump;
A substrate processing method comprising:

このように、本発明によれば、混合液送液ポンプの吸引動作が開始される前に、過酸化水素水補充部から過酸化水素水が補充されるように混合液送液ポンプと過酸化水素水送液ポンプが制御されるので、過酸化水素水の希釈や分解により過酸化水素水の濃度が低下する前に混合液に過酸化水素水が補充される。従って、過酸化水素水の濃度が高く、高活性の混合液を作成することでき、基板の洗浄能力が向上する。 As described above, according to the present invention, the mixed solution sending pump and the peroxide solution are supplied so that the hydrogen peroxide solution is replenished from the hydrogen peroxide solution replenishing unit before the suction operation of the mixed solution sending pump is started. Since the hydrogen water supply pump is controlled, the mixed liquid is replenished with the hydrogen peroxide water before the concentration of the hydrogen peroxide water decreases due to dilution or decomposition of the hydrogen peroxide water. Therefore, it is possible to prepare a mixed liquid having a high concentration of hydrogen peroxide and a high activity, thereby improving the ability to clean the substrate.

本発明に係る基板処理装置によれば、硫酸と過酸化水素水とを含む高活性の混合液を作成し、洗浄能力を向上させることができる。 According to the substrate processing apparatus of the present invention, it is possible to prepare a highly active liquid mixture containing sulfuric acid and hydrogen peroxide solution, thereby improving the cleaning performance.

図1は、実施例1の基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus of Example 1. As shown in FIG. 図2は、実施例1の基板処理方法を示すフローチャートである。FIG. 2 is a flow chart showing the substrate processing method of the first embodiment. 図3は、実施例2の基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of the substrate processing apparatus of Example 2. As shown in FIG. 図4は、実施例2の基板処理方法の一部を示すフローチャートである。FIG. 4 is a flow chart showing part of the substrate processing method of the second embodiment. 図5は、実施例3の基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus of Example 3. As shown in FIG. 図6は、実施例4の基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。FIG. 6 is a block diagram showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus of Example 4. As shown in FIG. 図7は、実施例5の基板処理システムの概略構成を示す平面図である。FIG. 7 is a plan view showing a schematic configuration of a substrate processing system of Example 5. FIG.

<実施例1>
以下、本発明の実施例1について図面を参照しながら詳細に説明する。なお、以下に示す実施例は、本願発明の一態様であり、本願発明の技術的範囲を限定するものではない。図1は、実施例1に係る基板処理装置1の概略構成を示すブロック図である。
<Example 1>
EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, it demonstrates in detail, referring drawings for Example 1 of this invention. In addition, the example shown below is one aspect of the present invention, and does not limit the technical scope of the present invention. FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus 1 according to a first embodiment.

基板処理装置1は、複数枚の基板Wを一括してSPM液Lで洗浄処理するバッチ式の装置である。この基板処理装置1は、処理槽11とオーバーフロー槽12とを備える。処理槽11は複数枚の基板Wを収容可能な大きさを有し、SPM液Lを貯留して複数枚の基板Wに対してSPM液Lによる洗浄処理を行う。オーバーフロー槽12は、処理槽11の上縁の周囲に設けられ、処理槽11から溢れたSPM液を回収する。ここでは、SPM液が本発明の「混合液」に対応し、オーバーフロー槽12が本発明の「外槽」に対応する。 The substrate processing apparatus 1 is a batch-type apparatus that cleans a plurality of substrates W with an SPM liquid L at once. This substrate processing apparatus 1 includes a processing bath 11 and an overflow bath 12 . The processing tank 11 has a size capable of accommodating a plurality of substrates W, stores the SPM liquid L, and performs a cleaning process on the plurality of substrates W with the SPM liquid L. As shown in FIG. The overflow tank 12 is provided around the upper edge of the processing tank 11 and collects the SPM liquid overflowing from the processing tank 11 . Here, the SPM liquid corresponds to the "mixed liquid" of the invention, and the overflow tank 12 corresponds to the "outer tank" of the invention.

処理槽11とオーバーフロー槽12とは、循環配管13によって流通接続されている。循環配管13は、一端側がオーバーフロー槽12の上部から底部に向って配置され、他端側が処理槽11の底部に配置されたSPM液供給管141,142に接続されている。循環配管13には、オーバーフロー槽12側に設けられたSPM液送液ポンプ15から、処理槽11側、すなわち処理液の下流側に向って、インラインヒータ16、フィルタ17、制御弁18が、その順に配置されている。ここでは、循環配管13が本発明の「循環路」に対応し、SPM液送液ポンプ15が本発明の「混合液送液ポンプ」に対応し、インラインヒータ16が本発明の「加熱部」に対応する。 The processing tank 11 and the overflow tank 12 are circulated and connected by a circulation pipe 13 . One end of the circulation pipe 13 extends from the top to the bottom of the overflow bath 12 , and the other end of the circulation pipe 13 is connected to SPM liquid supply pipes 141 and 142 placed at the bottom of the processing bath 11 . In the circulation pipe 13, an in-line heater 16, a filter 17, and a control valve 18 are connected from an SPM liquid feed pump 15 provided on the overflow tank 12 side toward the processing tank 11 side, that is, toward the downstream side of the processing liquid. are arranged in order. Here, the circulation pipe 13 corresponds to the "circulation path" of the present invention, the SPM liquid transfer pump 15 corresponds to the "mixed liquid transfer pump" of the present invention, and the in-line heater 16 corresponds to the "heating section" of the present invention. corresponds to

SPM液送液ポンプ15は、循環配管13を通じてSPM液を圧送する。インラインヒータ16は、循環配管13を流通するSPM液を加熱し、処理温度(例えば、約120℃~140℃)に温調する。フィルタ17は循環配管13を流通するSPM液中のパーティクル等の異物をろ過して除去する。制御弁18は、循環配管13中における処理液の流通を制御する。SPM液送液ポンプ15がオンされると、オーバーフロー槽12に貯留するSPM液が循環配管13に吸い込まれ、インラインヒータ16による温調と、フィルタ17によるろ過が行われて処理槽11に送られる。 The SPM liquid feed pump 15 pressure-feeds the SPM liquid through the circulation pipe 13 . The in-line heater 16 heats the SPM liquid flowing through the circulation pipe 13 and adjusts the temperature to a processing temperature (for example, approximately 120° C. to 140° C.). The filter 17 filters and removes foreign matter such as particles in the SPM liquid flowing through the circulation pipe 13 . The control valve 18 controls circulation of the processing liquid in the circulation pipe 13 . When the SPM liquid transfer pump 15 is turned on, the SPM liquid stored in the overflow tank 12 is sucked into the circulation pipe 13, subjected to temperature control by the in-line heater 16 and filtration by the filter 17, and sent to the processing tank 11. .

処理槽11には、硫酸を硫酸供給部19から処理槽11に供給する硫酸供給管20の一端が配置されている。硫酸供給部19には硫酸が貯留されている。硫酸供給管20には、硫酸供給部19から処理槽11への硫酸の供給を制御する制御弁21が設けられている。 One end of a sulfuric acid supply pipe 20 for supplying sulfuric acid from a sulfuric acid supply unit 19 to the treatment tank 11 is arranged in the treatment tank 11 . Sulfuric acid is stored in the sulfuric acid supply unit 19 . The sulfuric acid supply pipe 20 is provided with a control valve 21 for controlling the supply of sulfuric acid from the sulfuric acid supply section 19 to the treatment tank 11 .

処理槽11には、過酸化水素水を過酸化水素水供給部22から処理槽11に供給する過酸化水素水供給管23の一端が配置されている。過酸化水素水供給部22には過酸化水素水が貯留されている。過酸化水素水供給管23には、過酸化水素水供給部22から処理槽11への過酸化水素水の供給を制御する制御弁24が設けられている。 One end of a hydrogen peroxide water supply pipe 23 for supplying hydrogen peroxide water from a hydrogen peroxide water supply unit 22 to the processing tank 11 is arranged in the processing tank 11 . A hydrogen peroxide solution is stored in the hydrogen peroxide solution supply unit 22 . A control valve 24 for controlling the supply of the hydrogen peroxide solution from the hydrogen peroxide solution supply unit 22 to the treatment tank 11 is provided in the hydrogen peroxide solution supply pipe 23 .

オーバーフロー槽12には、過酸化水素水貯留槽25からオーバーフロー槽12に過酸化水素水を補充する過酸化水素水補充管26の一端に設けられた吐出口26a(図1では円で囲って示している。)が配置されている。過酸化水素水貯留槽25には過酸化水素水が貯留されている。過酸化水素水補充管26には、過酸化水素水貯留槽25からオーバーフロー槽12への過酸化水素水の供給を制御する制御弁27が設けられている。過酸化水素水貯留槽25は、循環配管13を流通するSPM液に過酸化水素水を補充する。ここでは、過酸化水素水貯留槽25及び過酸化水素水補充管26が、本発明の「過酸化水素水補充部」に対応する。 The overflow tank 12 has a discharge port 26a (indicated by a circle in FIG. 1) provided at one end of a hydrogen peroxide solution replenishment pipe 26 for replenishing the overflow tank 12 with hydrogen peroxide solution from the hydrogen peroxide solution storage tank 25. ) are placed. A hydrogen peroxide solution is stored in the hydrogen peroxide solution storage tank 25 . The hydrogen peroxide solution replenishing pipe 26 is provided with a control valve 27 for controlling the supply of the hydrogen peroxide solution from the hydrogen peroxide solution storage tank 25 to the overflow tank 12 . The hydrogen peroxide water storage tank 25 replenishes the SPM liquid flowing through the circulation pipe 13 with hydrogen peroxide water. Here, the hydrogen peroxide solution storage tank 25 and the hydrogen peroxide solution replenishment pipe 26 correspond to the "hydrogen peroxide solution replenishment part" of the present invention.

ここでは、過酸化水素水補充管26の吐出口26aは、循環配管13の一端である吸引口13a(図1では円で囲って示している。)の近傍に配置される。循環配管13の吸引口13aの近傍とは、SPM液送液ポンプ15の吸引動作により、吸引口13aから吸い込まれる領域であり、換言すれば吸引口13aの周囲の領域であって、その周辺に対して負圧となり圧力差が生じる領域である。SPM液送液ポンプ15の能力により、近傍の具体的な範囲は異なるが、例えば、吸引口13aから半径約100mmの範囲である。このように、過酸化水素水補充管26の吐出口26aを、循環配管13の一端である吸引口13aの近傍に配置することにより、循環配管13の一端である吸引口13aの近傍に存在するSPM液に対して過酸化水素水が補充される。このようにして、循環配管13の吸引口13aの近傍で過酸化水素水が補充されたSPM液は約10~約20秒後にSPM液の反応によって生じるカロ酸の活性が高い状態で処理槽11に到達する。 Here, the discharge port 26a of the hydrogen peroxide solution replenishment pipe 26 is arranged near the suction port 13a (indicated by a circle in FIG. 1) which is one end of the circulation pipe 13 . The vicinity of the suction port 13a of the circulation pipe 13 is the area where the suction port 13a is sucked by the suction operation of the SPM liquid feeding pump 15, in other words, the area around the suction port 13a. On the other hand, it is a region where the pressure becomes negative and a pressure difference occurs. Although the specific range in the vicinity differs depending on the capability of the SPM liquid feed pump 15, it is, for example, a range with a radius of about 100 mm from the suction port 13a. By arranging the discharge port 26a of the hydrogen peroxide solution replenishing pipe 26 in the vicinity of the suction port 13a that is one end of the circulation pipe 13 in this way, A hydrogen peroxide solution is added to the SPM liquid. In this way, the SPM solution replenished with the hydrogen peroxide solution near the suction port 13a of the circulation pipe 13 is discharged into the processing tank 11 after about 10 to about 20 seconds in a state in which the activity of caro's acid generated by the reaction of the SPM solution is high. to reach

このように、過酸化水素水補充管26の吐出口26aを、循環配管13の吸引口13aの近傍に配置することにより、過酸化水素水がオーバーフロー槽12内のSPM液に希釈される前に循環配管13に流通するSPM液に補充することができる。このため、高活性
のSPM液を生成することができ、処理槽11における基板Wの洗浄能力も向上する。
By arranging the discharge port 26a of the hydrogen peroxide solution replenishing pipe 26 in the vicinity of the suction port 13a of the circulation pipe 13 in this way, the hydrogen peroxide solution is diluted with the SPM solution in the overflow tank 12, and The SPM liquid flowing through the circulation pipe 13 can be replenished. Therefore, a highly active SPM liquid can be generated, and the ability to clean the substrates W in the processing bath 11 is also improved.

過酸化水素水貯留槽25は、基板処理装置1内に設けられてもよいし、ファシリティごとの設備として設けられていてもよい。また、制御弁27の下流に流量計を設けてもよい。 The hydrogen peroxide water storage tank 25 may be provided in the substrate processing apparatus 1 or may be provided as equipment for each facility. Also, a flow meter may be provided downstream of the control valve 27 .

処理槽11には、硫酸を硫酸補充部28から処理槽11に供給する硫酸補充管29の一端が配置されている。硫酸補充部28には硫酸が貯留されている。硫酸補充管29には、硫酸補充部28から処理槽11への硫酸の補充を制御する制御弁30が設けられている。 One end of a sulfuric acid replenishing pipe 29 for supplying sulfuric acid from a sulfuric acid replenishing unit 28 to the processing bath 11 is arranged in the processing bath 11 . Sulfuric acid is stored in the sulfuric acid replenishing unit 28 . The sulfuric acid replenishing pipe 29 is provided with a control valve 30 for controlling replenishment of sulfuric acid from the sulfuric acid replenishing unit 28 to the processing bath 11 .

基板Wは、基板保持部31の本体板311の下部に設けられた保持棒312,313,314によって起立姿勢で保持される。昇降ユニット32により、基板保持部31は、図1に示す基板Wが処理槽11内部で処理液に浸漬される処理位置と、処理槽11上方の待機位置との間で昇降移動する。 The substrate W is held in an upright posture by holding rods 312 , 313 , and 314 provided on the lower portion of the main body plate 311 of the substrate holding portion 31 . The elevating unit 32 moves the substrate holder 31 up and down between a processing position where the substrate W is immersed in the processing liquid inside the processing tank 11 shown in FIG. 1 and a standby position above the processing tank 11 .

上述した、SPM液送液ポンプ15、インラインヒータ16、フィルタ17、制御弁18、制御弁21、制御弁24、制御弁27、制御弁30及び昇降ユニット32は、制御部33によって統括制御される。制御部33は、CPU等のプロセッサ、RAMやROM等の主記憶装置、EPROM等の補助記憶装置を有するコンピュータにより構成することができる。補助記憶装置には、各種プログラム、各種テーブル等が格納され、そこに格納されたプログラムを主記憶装置の作業領域にロードして実行し、プログラムの実行を通じて各構成部等が制御されることによって、後述するような、所定の目的に合致した各機能を実現することができる。 The SPM liquid feed pump 15, the in-line heater 16, the filter 17, the control valve 18, the control valve 21, the control valve 24, the control valve 27, the control valve 30, and the lifting unit 32 described above are integrally controlled by the control unit 33. . The control unit 33 can be configured by a computer having a processor such as a CPU, a main storage device such as RAM and ROM, and an auxiliary storage device such as EPROM. Various programs, various tables, etc. are stored in the auxiliary storage device, and the programs stored therein are loaded into the work area of the main storage device and executed, and each component is controlled through the execution of the program. , it is possible to realize each function that meets a predetermined purpose, as will be described later.

(基板処理方法)
以下に、図2のフローチャートを参照して実施例1に係る基板処理方法について説明する。
処理槽11内のSPM液が廃棄され、空になった状態を初期状態として説明する。
(Substrate processing method)
A substrate processing method according to the first embodiment will be described below with reference to the flowchart of FIG.
A state in which the SPM liquid in the processing tank 11 has been discarded and is empty will be described as an initial state.

まず、処理槽11にSPM液Lを供給する(ステップS1)。具体的には、制御部33により制御弁24を制御し、過酸化水素水供給部22から過酸化水素水供給管23を介して処理槽11に過酸化水素水を供給する。同様に、制御部33により制御弁21を制御し、硫酸供給部19から硫酸供給管20を介して処理槽11に供給する。このようにして処理槽11内で生成されたSPM液Lは、処理槽11に貯留されるとともに、処理槽11から溢れてオーバーフロー槽12にも貯留される。 First, the SPM liquid L is supplied to the processing tank 11 (step S1). Specifically, the control unit 33 controls the control valve 24 to supply the hydrogen peroxide solution from the hydrogen peroxide solution supply unit 22 to the treatment tank 11 through the hydrogen peroxide solution supply pipe 23 . Similarly, the control unit 33 controls the control valve 21 to supply sulfuric acid from the sulfuric acid supply unit 19 to the processing bath 11 through the sulfuric acid supply pipe 20 . The SPM liquid L generated in the processing bath 11 in this way is stored in the processing bath 11 and also overflows from the processing bath 11 and is also stored in the overflow bath 12 .

処理槽11及びオーバーフロー槽12に所定量貯留されると、制御部33はSPM液送液ポンプ15をオンし、SPM液が処理槽11、オーバーフロー槽12、循環配管13を循環する(ステップS2)。このとき、制御部33は、インラインヒータ16をオンし、循環配管13を流通するSPM液を120℃~140℃に温調する。 When a predetermined amount is stored in the processing tank 11 and the overflow tank 12, the controller 33 turns on the SPM liquid feeding pump 15, and the SPM liquid circulates through the processing tank 11, the overflow tank 12, and the circulation pipe 13 (step S2). . At this time, the controller 33 turns on the in-line heater 16 to control the temperature of the SPM liquid flowing through the circulation pipe 13 to 120.degree. C. to 140.degree.

送液ポンプ15をオンし、インラインヒータ16がオンした状態で、制御部33は、制御弁27を制御し、過酸化水素水貯留槽25に貯留された過酸化水素水を、過酸化水素水補充管26を介して補充する(ステップS3)。また、必要に応じて、制御部33は、制御弁30を制御し、硫酸補充部28から硫酸補充管29を介して硫酸を補充する。 With the liquid feed pump 15 turned on and the in-line heater 16 turned on, the control unit 33 controls the control valve 27 to convert the hydrogen peroxide water stored in the hydrogen peroxide water storage tank 25 into hydrogen peroxide water. It is replenished through the replenishment pipe 26 (step S3). Further, the control unit 33 controls the control valve 30 as necessary to replenish sulfuric acid from the sulfuric acid replenishing unit 28 through the sulfuric acid replenishing pipe 29 .

SPM液が所定の温度に調整されると、制御部33は、昇降ユニット32を制御し、基板保持部31を待機位置から処理位置へと下降させて、複数の基板Wを処理槽11内に貯留されたSPM液Lに浸漬させる(ステップS4)。 When the SPM liquid is adjusted to a predetermined temperature, the control unit 33 controls the elevating unit 32 to lower the substrate holding unit 31 from the standby position to the processing position, thereby transferring the plurality of substrates W into the processing bath 11. It is immersed in the stored SPM liquid L (step S4).

そして、制御部33は、処理槽11の底部に配置されたSPM液供給管141,142からSPM液Lを供給するとともに、SPM液Lを処理槽11、オーバーフロー槽12及び循環配管13を循環流通させて基板保持部31に保持された基板Wを洗浄する(ステップS5)。 The control unit 33 supplies the SPM liquid L from the SPM liquid supply pipes 141 and 142 arranged at the bottom of the processing tank 11, and circulates the SPM liquid L through the processing tank 11, the overflow tank 12 and the circulation pipe 13. Then, the substrate W held by the substrate holding part 31 is washed (step S5).

洗浄が終了すると、制御部33は、昇降ユニット32を制御し、基板保持部31を処理位置から待機位置へと上昇させ、洗浄処理済みの基板Wを搬送ロボットに受け渡す(ステップS6)。 After the cleaning is completed, the controller 33 controls the elevating unit 32 to raise the substrate holder 31 from the processing position to the standby position, and transfers the cleaned substrate W to the transport robot (step S6).

図2のフローチャートでは説明のためにステップS6で処理を終了しているが、実際には、ステップS3に戻り、必要に応じて過酸化水素水が補充されると、ステップS4に進み次の基板Wの洗浄を行い、この過程が繰り返される。 In the flowchart of FIG. 2, the process ends at step S6 for the sake of explanation, but in reality, the process returns to step S3, and when the hydrogen peroxide solution is replenished as necessary, the process proceeds to step S4 to proceed to the next substrate. A W wash is performed and the process is repeated.

ここでは、ステップS4における基板保持部31の待機位置から処理位置への下降の前に、過酸化水素水を補充しているが、ステップS4とステップS5との間に、過酸化水素水を補充してもよく、過酸化水素水を補充するタイミングはこれに限られない。 Here, the hydrogen peroxide solution is replenished before the substrate holder 31 is lowered from the standby position to the processing position in step S4, but the hydrogen peroxide solution is replenished between steps S4 and S5. The timing of replenishing the hydrogen peroxide solution is not limited to this.

<実施例2>
以下、本発明の実施例2について図面を参照しながら詳細に説明する。図3は、実施例2に係る基板処理装置2の概略構成を示すブロック図である。実施例1と同様の構成については、同様の符号を用いて詳細な説明を省略する。
<Example 2>
A second embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of the substrate processing apparatus 2 according to the second embodiment. Configurations similar to those of the first embodiment are denoted by similar reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

実施例2に係る基板処理装置2は、過酸化水素水貯留槽25に貯留された過酸化水素水を過酸化水素水補充管26に送液する過酸化水素水送液ポンプ34を設けている。ここでは、過酸化水素水貯留槽25、過酸化水素水補充管26及び過酸化水素水送液ポンプ34が、本発明の「過酸化水素水補充部」に対応する。
基板処理装置2の構成は、過酸化水素水送液ポンプ34を除き、実施例1に係る基板処理装置1と同様である。また、基板処理装置2における基板Wの洗浄処理は、基本的に基板処理装置1と同様である。
The substrate processing apparatus 2 according to the second embodiment is provided with a hydrogen peroxide solution feeding pump 34 for feeding the hydrogen peroxide solution stored in the hydrogen peroxide solution storage tank 25 to the hydrogen peroxide solution replenishment pipe 26 . . Here, the hydrogen peroxide solution storage tank 25, the hydrogen peroxide solution replenishment pipe 26, and the hydrogen peroxide solution supply pump 34 correspond to the "hydrogen peroxide solution replenishment unit" of the present invention.
The configuration of the substrate processing apparatus 2 is the same as that of the substrate processing apparatus 1 according to the first embodiment, except for the hydrogen peroxide water supply pump 34 . Also, the cleaning process of the substrate W in the substrate processing apparatus 2 is basically the same as that in the substrate processing apparatus 1 .

以下に、図4に示すフローチャートを参照して、基板処理装置2に特有の基板処理方法について説明する。図4は、図2に示す基板処理方法全体のうち、過酸化水素水を補充する処理(ステップS3)の詳細を示す。
基板処理装置2では、制御部33により、SPM液送液ポンプ15過酸化水素水送液ポンプ34の相互の吸引タイミングを制御する。
A substrate processing method unique to the substrate processing apparatus 2 will be described below with reference to the flowchart shown in FIG. FIG. 4 shows details of the process of replenishing the hydrogen peroxide solution (step S3) in the overall substrate processing method shown in FIG.
In the substrate processing apparatus 2 , the mutual suction timing of the SPM liquid feeding pump 15 and the hydrogen peroxide water feeding pump 34 is controlled by the control section 33 .

まず、過酸化水素水送液ポンプ34及び制御弁27の制御により過酸化水素水貯留槽25から過酸化水素水を吸引して、過酸化水素水補充管26の吐出口26aからオーバーフロー槽12内に過酸化水素水を吐出させる(ステップS31)。 First, the hydrogen peroxide solution is sucked from the hydrogen peroxide solution storage tank 25 under the control of the hydrogen peroxide solution feeding pump 34 and the control valve 27, and is discharged into the overflow tank 12 from the discharge port 26a of the hydrogen peroxide solution replenishment pipe 26. to discharge hydrogen peroxide water (step S31).

そして、SPM液送液ポンプ15の吸引動作によって循環配管13の吸引口13aからオーバーフロー槽12内のSPM液を吸引する(ステップS32)。 Then, the SPM liquid in the overflow tank 12 is sucked from the suction port 13a of the circulation pipe 13 by the suction operation of the SPM liquid feeding pump 15 (step S32).

すなわち、SPM液送液ポンプ15の吸引動作によって循環配管13の吸引口13aからオーバーフロー槽12内のSPM液を吸引する吸引動作を開始する前に、過酸化水素水送液ポンプ34により過酸化水素水貯留槽25から過酸化水素水を吸引して、過酸化水素水補充管26の吐出口26aからオーバーフロー槽12内に過酸化水素水を吐出させる。 That is, before starting the suction operation of sucking the SPM liquid in the overflow tank 12 from the suction port 13 a of the circulation pipe 13 by the suction operation of the SPM liquid transfer pump 15 , hydrogen peroxide is The hydrogen peroxide solution is sucked from the water storage tank 25 and discharged into the overflow tank 12 from the discharge port 26 a of the hydrogen peroxide solution replenishment pipe 26 .

このようにすれば、過酸化水素水の希釈や分解により過酸化水素水の濃度が低下する前にSPM液に過酸化水素水が補充され、過酸化水素水の濃度が高い状態で、循環配管13
を通じて処理槽11にSPM液を送液することができる。従って、処理槽11における基板Wの洗浄能力が向上する。
By doing so, the SPM solution is replenished with hydrogen peroxide solution before the concentration of hydrogen peroxide solution decreases due to dilution or decomposition of hydrogen peroxide solution, and the circulation pipe can 13
The SPM liquid can be sent to the processing tank 11 through the . Therefore, the ability to clean the substrates W in the processing bath 11 is improved.

なお、図4では、過酸化水素水送液ポンプ34とSPM液送液ポンプ15の動作は1回のみ表示しているが、必要に応じて、これらの処理を繰り返す。 Although FIG. 4 shows the operation of the hydrogen peroxide water supply pump 34 and the SPM liquid supply pump 15 only once, these processes are repeated as necessary.

<実施例3>
以下、本発明の実施例3について図面を参照しながら詳細に説明する。図5は、実施例2に係る基板処理装置3の概略構成を示すブロック図である。実施例1と同様の構成については、同様の符号を用いて詳細な説明を省略する。
<Example 3>
Embodiment 3 of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 5 is a block diagram showing a schematic configuration of the substrate processing apparatus 3 according to the second embodiment. Configurations similar to those of the first embodiment are denoted by similar reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

実施例3に係る基板処理装置3は、過酸化水素水貯留槽25からSPM液に過酸化水素水を補充する過酸化水素水補充管26が、循環配管13の吸引口13aとSPM液送液ポンプ15との間の部位13bに接続されている。このように、過酸化水素水補充管26を、循環配管13の吸引口13aとSPM液送液ポンプ15との間の部位13bに接続することにより、循環配管13におけるSPM液送液ポンプ15の上流側、すなわちインラインヒータ16の上流側に存在するSPM液に対して過酸化水素水が補充される。 In the substrate processing apparatus 3 according to the third embodiment, the hydrogen peroxide solution replenishment pipe 26 for replenishing the SPM solution with the hydrogen peroxide solution from the hydrogen peroxide solution storage tank 25 is connected to the suction port 13a of the circulation pipe 13 and the SPM solution feed. It is connected to the portion 13b between the pump 15 and the pump 15. Thus, by connecting the hydrogen peroxide solution replenishing pipe 26 to the portion 13b between the suction port 13a of the circulation pipe 13 and the SPM liquid feeding pump 15, the SPM liquid feeding pump 15 in the circulation pipe 13 The SPM liquid present on the upstream side, that is, on the upstream side of the in-line heater 16 is replenished with the hydrogen peroxide solution.

このようにすれば、SPM液送液ポンプ15の上流側の循環配管13内においてSPM液が負圧となる領域で過酸化水素水が補充されるので、過酸化水素水がSPM液に効率よく混合され、かつ、濃度が低下することもないので、過酸化水素水の濃度が高いSPM液を処理槽11に供給することができる。従って、SPM液Lの活性化が促進され、処理槽11における基板Wの洗浄能力が向上する。 In this way, the hydrogen peroxide solution is replenished in the region where the SPM solution has a negative pressure in the circulation pipe 13 on the upstream side of the SPM solution feeding pump 15, so that the hydrogen peroxide solution efficiently converts to the SPM solution. Since the SPM liquid is mixed and the concentration does not decrease, the SPM liquid having a high concentration of hydrogen peroxide can be supplied to the processing tank 11 . Therefore, the activation of the SPM liquid L is promoted, and the ability to clean the substrates W in the processing tank 11 is improved.

なお、実施例3に係る基板処理装置3においても、実施例2に係る基板処理装置2と同様に、過酸化水素水貯留槽25から過酸化水素水補充管26に過酸化水素水を送液する過酸化水素水送液ポンプ34を設けてもよい。 In the substrate processing apparatus 3 according to the third embodiment, similarly to the substrate processing apparatus 2 according to the second embodiment, the hydrogen peroxide solution is sent from the hydrogen peroxide solution storage tank 25 to the hydrogen peroxide solution replenishment pipe 26. A hydrogen peroxide solution feeding pump 34 may be provided.

<実施例4>
以下、本発明の実施例4について図面を参照しながら詳細に説明する。図6は、実施例3に係る基板処理装置4の概略構成を示すブロック図である。実施例1及び2と同様の構成については、同様の符号を用いて詳細な説明を省略する。
<Example 4>
A fourth embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 6 is a block diagram showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus 4 according to the third embodiment. Configurations similar to those of the first and second embodiments are denoted by similar reference numerals, and detailed descriptions thereof are omitted.

実施例4に係る基板処理装置4は、過酸化水素水貯留槽25からSPM液に過酸化水素水を補充する過酸化水素水補充管26が、循環配管13のSPM液送液ポンプ15とインラインヒータ16との間の部位13cに接続されている。このように、過酸化水素水補充管26を、循環配管13のSPM液送液ポンプ15とインラインヒータ16との間の部位13cに接続することにより、循環配管13におけるインラインヒータ16の上流側に存在するSPM液に対して過酸化水素水が補充される。 In the substrate processing apparatus 4 according to the fourth embodiment, the hydrogen peroxide solution replenishing pipe 26 for replenishing the SPM solution with the hydrogen peroxide solution from the hydrogen peroxide solution storage tank 25 is in-line with the SPM solution feeding pump 15 of the circulation pipe 13 . It is connected to the portion 13c between the heater 16 and the heater 16 . Thus, by connecting the hydrogen peroxide solution replenishing pipe 26 to the portion 13c of the circulation pipe 13 between the SPM liquid feeding pump 15 and the inline heater 16, A hydrogen peroxide solution is added to the existing SPM liquid.

このようにすれば、インラインヒータ16によって加温される前のSPM液に対して、過酸化水素水が補充されるので、過酸化水素水の分解による濃度の低下を抑制することができ、過酸化水素水の濃度が高いSPM液を処理槽11に送液することができる。このように、過酸化水素水の濃度が高く、高活性のSPM液Lを作成することできるので、処理槽11における基板Wの洗浄能力が向上する。 In this way, since the hydrogen peroxide solution is added to the SPM solution before being heated by the in-line heater 16, it is possible to suppress the decrease in the concentration due to the decomposition of the hydrogen peroxide solution. An SPM liquid having a high concentration of hydrogen oxide water can be sent to the processing tank 11 . In this manner, the concentration of the hydrogen peroxide solution is high and the highly active SPM liquid L can be prepared, so that the ability to clean the substrates W in the processing bath 11 is improved.

なお、実施例3に係る基板処理装置3においても、実施例2に係る基板処理装置2と同様に、過酸化水素水貯留槽25から過酸化水素水補充管26に過酸化水素水を送液する過酸化水素水送液ポンプ34を設けてもよい。 In the substrate processing apparatus 3 according to the third embodiment, similarly to the substrate processing apparatus 2 according to the second embodiment, the hydrogen peroxide solution is sent from the hydrogen peroxide solution storage tank 25 to the hydrogen peroxide solution replenishment pipe 26. A hydrogen peroxide solution feeding pump 34 may be provided.

<実施例5>
(基板処理システム)
図7は、本実施例に係る基板処理装置を適用した基板処理システム100の全体構成の概略を示す平面図である。基板処理システム100は、上述の実施例1~4に係る基板処理装置を備えるシステムである。
<Example 5>
(substrate processing system)
FIG. 7 is a plan view showing an outline of the overall configuration of a substrate processing system 100 to which the substrate processing apparatus according to this embodiment is applied. A substrate processing system 100 is a system including the substrate processing apparatuses according to the first to fourth embodiments described above.

基板処理システム100は、複数枚の基板Wを一括して処理するバッチ式の装置である。基板処理システム100は、半導体ウェハなどの円板状の基板Wを収容するキャリアCが搬送されるロードポートLPと、ロードポートLPから搬送された基板Wを薬液やリンス液などの処理液で処理する処理ユニット102と、ロードポートLPと処理ユニット102との間で基板Wを搬送する複数の搬送ロボットと、基板処理システム100を制御する制御装置103とを含む。 The substrate processing system 100 is a batch-type apparatus that processes a plurality of substrates W collectively. The substrate processing system 100 includes a load port LP for transporting a carrier C containing disc-shaped substrates W such as semiconductor wafers, and processing the substrates W transported from the load port LP with a processing liquid such as a chemical liquid or a rinse liquid. , a plurality of transport robots that transport substrates W between the load port LP and the processing units 102 , and a controller 103 that controls the substrate processing system 100 .

処理ユニット102は、複数枚の基板Wが浸漬される第1薬液を貯留する第1薬液処理槽104と、複数枚の基板Wが浸漬される第1リンス液を貯留する第1リンス処理槽105と、複数枚の基板Wが浸漬される第2薬液を貯留する第2薬液処理槽106と、複数枚の基板Wが浸漬される第2リンス液を貯留する第2リンス処理槽107とを含む。処理ユニット102は、さらに、複数枚の基板Wを乾燥させる乾燥処理槽108を含む。本基板処理システム100の第1薬液処理槽104、第2薬液処理槽106を、上述の実施例に係る基板処理装置1,2,3又は4により構成することができる。このように基板処理システム100を構成することにより、基板Wの洗浄能力が向上する。
なお、上述の実施例に係る基板処理装置1,2,3又は4を備える基板処理システムの構成は上述のものに限られない。
The processing unit 102 includes a first chemical treatment bath 104 storing a first chemical solution in which the plurality of substrates W are immersed, and a first rinse treatment bath 105 storing a first rinse solution in which the plurality of substrates W are immersed. , a second chemical solution processing tank 106 storing a second chemical solution in which the plurality of substrates W are immersed, and a second rinse processing bath 107 storing a second rinsing solution in which the plurality of substrates W are immersed. . The processing unit 102 further includes a drying processing bath 108 for drying the plurality of substrates W. As shown in FIG. The first chemical processing bath 104 and the second chemical processing bath 106 of the substrate processing system 100 can be configured by the substrate processing apparatuses 1, 2, 3, or 4 according to the above-described embodiments. By configuring the substrate processing system 100 in this way, the ability to clean the substrate W is improved.
The configuration of the substrate processing system provided with the substrate processing apparatuses 1, 2, 3, or 4 according to the above embodiments is not limited to that described above.

ここでは、第1薬液および第2薬液は、SPM液である。第1リンス液および第2リンス液は、たとえば、純水(脱イオン水)である。第1リンス液および第2リンス液は、純水以外のリンス液であってもよい。第1リンス液および第2リンス液は、互いに異なる種類のリンス液であってもよい。 Here, the first chemical liquid and the second chemical liquid are SPM liquids. The first rinse and second rinse are, for example, pure water (deionized water). The first rinse liquid and the second rinse liquid may be rinse liquids other than pure water. The first rinse and the second rinse may be different types of rinse.

複数の搬送ロボットは、ロードポートLPと処理ユニット102との間でキャリアCを搬送し、複数のキャリアCを収容するキャリア搬送装置109と、キャリア搬送装置109に保持されているキャリアCに対して複数枚の基板Wの搬入および搬出を行い、水平な姿勢と鉛直な姿勢との間で基板Wの姿勢を変更する姿勢変換ロボット110とを含む。姿勢変換ロボット110は、複数のキャリアCから取り出した複数枚の基板Wで1つのバッチを形成するバッチ組み動作と、1つのバッチに含まれる複数枚の基板Wを複数のキャリアCに収容するバッチ解除動作とを行う。 A plurality of transport robots transport carriers C between the load port LP and the processing unit 102. A carrier transport device 109 accommodating the plurality of carriers C and a carrier C held by the carrier transport device 109 It includes an attitude changing robot 110 that carries in and out a plurality of substrates W and changes the attitude of the substrates W between a horizontal attitude and a vertical attitude. The posture changing robot 110 performs a batch assembly operation to form one batch with a plurality of substrates W picked up from a plurality of carriers C, and a batch operation to accommodate a plurality of substrates W included in one batch in a plurality of carriers C. release operation.

複数の搬送ロボットは、さらに、姿勢変換ロボット110と処理ユニット102との間で複数枚の基板Wを搬送する主搬送ロボット111と、主搬送ロボット111と処理ユニット102との間で複数枚の基板Wを搬送する複数の副搬送ロボット112とを含む。複数の副搬送ロボット112は、第1薬液処理槽104と第1リンス処理槽105との間で複数枚の基板Wを搬送する第1副搬送ロボット112Aと、第2薬液処理槽106と第2リンス処理槽107との間で複数枚の基板Wを搬送する第2副搬送ロボット112Bとを含む。 The plurality of transport robots further includes a main transport robot 111 that transports a plurality of substrates W between the posture changing robot 110 and the processing unit 102 and a plurality of substrates W that are transported between the main transport robot 111 and the processing unit 102 . and a plurality of sub-transport robots 112 that transport W. The plurality of sub-transport robots 112 includes a first sub-transport robot 112A that transports a plurality of substrates W between the first chemical processing bath 104 and the first rinse processing bath 105; and a second sub-transfer robot 112B that transfers a plurality of substrates W to and from the rinsing bath 107 .

主搬送ロボット111は、複数枚(たとえば50枚)の基板Wからなる1バッチの基板Wを姿勢変換ロボット110から受け取る。主搬送ロボット111は、姿勢変換ロボット110から受け取った1バッチの基板Wを第1副搬送ロボット112Aおよび第2副搬送ロボット112Bに渡し、第1副搬送ロボット112Aおよび第2副搬送ロボット112Bに保持されている1バッチの基板Wを受け取る。主搬送ロボット111は、さらに、1
バッチの基板Wを乾燥処理槽108に搬送する。
The main transport robot 111 receives one batch of substrates W consisting of a plurality of (for example, 50) substrates W from the posture changing robot 110 . The main transport robot 111 passes the batch of substrates W received from the attitude changing robot 110 to the first sub-transfer robot 112A and the second sub-transfer robot 112B, and holds them in the first sub-transfer robot 112A and the second sub-transfer robot 112B. A batch of substrates W is received. The main transport robot 111 further
A batch of substrates W is transferred to the drying treatment tank 108 .

第1副搬送ロボット112Aは、主搬送ロボット111から受け取った1バッチの基板Wを第1薬液処理槽104と第1リンス処理槽105との間で搬送し、第1薬液処理槽104内の第1薬液または第1リンス処理槽105内の第1リンス液に浸漬させる。同様に、第2副搬送ロボット112Bは、主搬送ロボット111から受け取った1バッチの基板Wを第2薬液処理槽106と第2リンス処理槽107との間で搬送し、第2薬液処理槽106内の第2薬液または第2リンス処理槽107内の第2リンス液に浸漬させる。 The first sub-transfer robot 112A transfers a batch of substrates W received from the main transfer robot 111 between the first chemical treatment tank 104 and the first rinse treatment tank 105, It is immersed in one chemical solution or the first rinse solution in the first rinse treatment bath 105 . Similarly, the second sub-transfer robot 112B transfers one batch of substrates W received from the main transfer robot 111 between the second chemical treatment tank 106 and the second rinse treatment tank 107, and the second chemical treatment tank 106 or the second rinsing solution in the second rinsing bath 107 .

1,2,3,4・・・基板処理装置
11・・・処理槽
12・・・オーバーフロー槽
13・・・循環配管
13a・・吸引口
15・・・SPM液送液ポンプ
16・・・インラインヒータ
25・・・過酸化水素水貯留槽
26・・・過酸化水素水補充管
26a・・吐出口
33・・・制御部
34・・・過酸化水素水送液ポンプ
L・・・・SPM液
W・・・基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,2,3,4... Substrate processing apparatus 11... Processing tank 12... Overflow tank 13... Circulation pipe 13a... Suction port 15... SPM liquid sending pump 16... In-line Heater 25 Hydrogen peroxide water storage tank 26 Hydrogen peroxide water replenishment pipe 26a Discharge port 33 Control unit 34 Hydrogen peroxide water feeding pump L SPM liquid W: Substrate

Claims (7)

基板を処理する基板処理装置において、
硫酸と過酸化水素水とを含む混合液で前記基板を処理する処理槽と、
前記処理槽から溢れた前記混合液を回収する外槽と、
一端が前記外槽に回収された前記混合液中に流通接続され、他端が前記処理槽内に貯留された前記混合液中に流通接続され、前記混合液を前記外槽から前記処理槽に向けて循環させる循環路と、
前記循環路に配置され、前記循環路内を流通する前記混合液を加熱する加熱部と、
前記過酸化水素水を貯留する過酸化水素水貯留槽と、該過酸化水素水貯留槽に一端が流通接続され、前記外槽に回収された前記混合液中に他端が接続される過酸化水素水補充管と、前記過酸化水素水を前記過酸化水素水補充管に送液する過酸化水素水送液ポンプと、を有し、前記外槽内における前記循環路の前記一端の近傍に存在する前記混合液又は前記循環路内における前記加熱部よりも上流側に存在する前記混合液に対して前記過酸化水素水を補充する過酸化水素水補充部と、
前記循環路に設けられ、前記外槽に回収した前記混合液を前記処理槽に向けて送液する混合液送液ポンプと、
前記混合液送液ポンプと前記過酸化水素水送液ポンプとを制御する制御部と、
を備え
前記循環路の前記一端の前記近傍であって、前記混合液送液ポンプが前記外槽内の前記混合液を前記循環路の前記一端から吸引するときに周囲の領域よりも負圧となる領域に、前記過酸化水素水補充管の前記他端を配置し、
前記制御部は、前記混合液送液ポンプの吸引動作が開始される前に、前記過酸化水素水補充部から前記過酸化水素水が補充されるように前記混合液送液ポンプと前記過酸化水素水送液ポンプとを制御することを特徴とする基板処理装置。
In a substrate processing apparatus for processing substrates,
a processing bath for processing the substrate with a mixed solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide;
an outer tank for collecting the mixed liquid overflowing from the processing tank;
One end is circulatingly connected to the mixed solution recovered in the outer tank, the other end is circulatedly connected to the mixed solution stored in the processing tank, and the mixed solution is transferred from the outer tank to the processing tank. A circulation path that circulates toward
a heating unit arranged in the circulation path and heating the mixed liquid flowing through the circulation path;
a hydrogen peroxide solution storage tank for storing the hydrogen peroxide solution; and a peroxide solution having one end circulatingly connected to the hydrogen peroxide solution storage tank and having the other end connected to the mixed liquid recovered in the outer tank. a hydrogen peroxide water replenishment pipe and a hydrogen peroxide water pump for feeding the hydrogen peroxide water to the hydrogen peroxide water replenishment pipe; a hydrogen peroxide solution replenishing unit for replenishing the existing mixed solution or the mixed solution existing upstream of the heating unit in the circulation path with the hydrogen peroxide solution;
a mixed liquid sending pump provided in the circulation path for sending the mixed liquid collected in the outer tank toward the processing tank;
a control unit that controls the mixed liquid feeding pump and the hydrogen peroxide water feeding pump;
with
An area in the vicinity of the one end of the circulation path, where the pressure is lower than that of the surrounding area when the mixed liquid feeding pump sucks the mixed liquid in the outer tank from the one end of the circulation path. , placing the other end of the hydrogen peroxide solution replenishing pipe,
The control unit controls the mixed solution sending pump and the peroxide solution so that the hydrogen peroxide solution is replenished from the hydrogen peroxide solution replenishing unit before the suction operation of the mixed solution sending pump is started. A substrate processing apparatus, characterized by controlling a hydrogen water supply pump .
基板を処理する基板処理装置において、In a substrate processing apparatus for processing substrates,
硫酸と過酸化水素水とを含む混合液で前記基板を処理する処理槽と、a processing bath for processing the substrate with a mixed solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide;
前記処理槽から溢れた前記混合液を回収する外槽と、an outer tank for collecting the mixed liquid overflowing from the processing tank;
一端が前記外槽に回収された前記混合液中に流通接続され、他端が前記処理槽内に貯留された前記混合液中に流通接続され、前記混合液を前記外槽から前記処理槽に向けて循環させる循環路と、One end is circulatingly connected to the mixed solution recovered in the outer tank, the other end is circulatedly connected to the mixed solution stored in the processing tank, and the mixed solution is transferred from the outer tank to the processing tank. A circulation path that circulates toward
前記循環路に配置され、前記循環路内を流通する前記混合液を加熱する加熱部と、a heating unit arranged in the circulation path and heating the mixed liquid flowing through the circulation path;
前記過酸化水素水を貯留する過酸化水素水貯留槽と、該過酸化水素水貯留槽に一端が流通接続され、前記循環路の前記加熱部よりも上流側に他端が流通接続される過酸化水素水補充管と、前記過酸化水素水を前記過酸化水素水補充管に送液する過酸化水素水送液ポンプと、を有し、前記外槽内における前記循環路の前記一端の近傍に存在する前記混合液、又は前記循環路内における前記加熱部よりも上流側に存在する前記混合液に対して前記過酸化水素水を補充する過酸化水素水補充部と、a hydrogen peroxide solution storage tank for storing the hydrogen peroxide solution; A hydrogen peroxide solution replenishment pipe and a hydrogen peroxide solution sending pump for sending the hydrogen peroxide solution to the hydrogen peroxide solution replenishment pipe, and the vicinity of the one end of the circulation path in the outer tank a hydrogen peroxide solution replenishing unit that replenishes the hydrogen peroxide solution to the mixed solution existing in the circulation path or the mixed solution existing on the upstream side of the heating unit in the circulation path;
前記循環路に設けられ、前記外槽に回収した前記混合液を前記処理槽に向けて送液する混合液送液ポンプと、a mixed liquid sending pump provided in the circulation path for sending the mixed liquid collected in the outer tank toward the processing tank;
前記混合液送液ポンプと前記過酸化水素水送液ポンプとを制御する制御部と、a control unit that controls the mixed liquid feeding pump and the hydrogen peroxide water feeding pump;
を備え、with
前記過酸化水素水補充管の前記他端を前記混合液送液ポンプよりも上流側において前記循環路に流通接続し、the other end of the hydrogen peroxide solution replenishing pipe is connected to the circulation path on the upstream side of the mixed solution sending pump;
前記制御部は、前記混合液送液ポンプの吸引動作が開始される前に、前記過酸化水素水補充部から前記過酸化水素水が補充されるように前記混合液送液ポンプと前記過酸化水素水送液ポンプとを制御することを特徴とする基板処理装置。The control unit controls the mixed solution sending pump and the peroxide solution so that the hydrogen peroxide solution is replenished from the hydrogen peroxide solution replenishing unit before the suction operation of the mixed solution sending pump is started. A substrate processing apparatus, characterized by controlling a hydrogen water supply pump.
前記混合液送液ポンプを、前記循環路の前記加熱部よりも上流側に備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の基板処理装置。3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the mixed liquid feeding pump is provided upstream of the heating unit in the circulation path. 前記処理槽内の前記混合液に対して前記硫酸を補充する硫酸補充部をさらに備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の基板処理装置。 3. The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising a sulfuric acid replenishing unit for replenishing said mixed solution in said processing bath with said sulfuric acid. 請求項1乃至のいずれか1項に記載の基板処理装置を備える基板処理システム。 A substrate processing system comprising the substrate processing apparatus according to claim 1 . 基板を処理する基板処理方法であって、
硫酸と過酸化水素水とを含む混合液で前記基板を処理する処理槽と、
前記処理槽から溢れた前記混合液を回収する外槽と、
一端が前記外槽に回収された前記混合液中に接続され、他端が前記処理槽内に貯留された前記混合液中に流通接続され、前記混合液を前記外槽から前記処理槽に向けて循環させる循環路と、
前記循環路に配置され、前記循環路内を流通する前記混合液を加熱する加熱部と、
前記循環路に、前記外槽で回収された前記混合液を前記処理槽に向けて送液する混合液送液ポンプと、
前記外槽内における前記循環路の前記一端の近傍に存在する前記混合液又は前記循環路内における前記加熱部よりも上流側に存在する前記混合液に対して前記過酸化水素水を補充する過酸化水素水補充部であって、補充すべき前記過酸化水素水を送液する過酸化水素水送液ポンプを有する過酸化水素水補充部と、
を備える基板処理装置において、
前記混合液送液ポンプによって前記混合液を吸引するステップと、
前記混合液送液ポンプによる前記混合液の吸引を開始する前に、前記過酸化水素水送液ポンプによって前記過酸化水素水を吸引するステップと、
を含む基板処理方法。
A substrate processing method for processing a substrate,
a processing bath for processing the substrate with a mixed solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide;
an outer tank for collecting the mixed liquid overflowing from the processing tank;
One end is connected to the mixed liquid collected in the outer tank, the other end is connected in circulation to the mixed liquid stored in the processing tank, and the mixed liquid is directed from the outer tank to the processing tank. a circulation path that circulates through
a heating unit arranged in the circulation path and heating the mixed liquid flowing through the circulation path;
a mixed solution sending pump for sending the mixed solution collected in the outer tank toward the processing tank to the circulation path ;
A excess hydrogen peroxide solution for replenishing the mixed solution existing in the vicinity of the one end of the circulation path in the outer tank or the mixed solution existing upstream of the heating section in the circulation path with the hydrogen peroxide solution. a hydrogen peroxide solution replenishment unit, the hydrogen peroxide solution replenishment unit having a hydrogen peroxide solution sending pump for sending the hydrogen peroxide solution to be replenished;
In a substrate processing apparatus comprising
a step of sucking the mixed liquid by the mixed liquid feeding pump;
a step of sucking the hydrogen peroxide solution by the hydrogen peroxide solution sending pump before starting to suck the mixed solution by the mixed solution sending pump;
A substrate processing method comprising:
前記混合液送液ポンプを、前記循環路の前記加熱部より上流側に備えることを特徴とする請求項6に記載の基板処理方法。7. The substrate processing method according to claim 6, wherein the mixed liquid feeding pump is provided upstream of the heating section in the circulation path.
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