JP7321881B2 - 検体検査装置 - Google Patents

Description

本発明の実施形態は、検体検査装置に関する。

小型の検体検査装置において、光導波路型センサチップを利用した検査方法が実現化されている。この検査方法では、検体に含まれるウイルス等の検査対象物質を検査液中の磁性粒子と結合させ、光導波路型センサチップの上下に配置した磁場印加部によって検査対象物質の付着した磁性粒子のみをセンサ上に集め、光強度の変化からウイルス等の検査対象物質の量を測定する。測定にはウイルス等の検査対象物質をセンシングエリア上に集める必要があるが、磁場を用いて検査液中の磁性粒子をセンシングエリア上に集めるには数分を要する。したがって、磁力を強化し、磁性粒子をセンシングエリア上に素早く集めることができれば、測定時間を短縮することができる。

ここで、磁力は磁束密度と磁場勾配の積によって定まることから、磁場印加部により生成される磁束密度と磁場勾配のうちの少なくともいずれかを増加させることができれば、磁力を強化することができる。このため、磁場印加部の構造を最適化することで磁力を強化し、効率よくセンシングエリア上に磁性粒子を集め、測定時間を短縮することが望まれている。

特開２０１２－２１５５５３号公報

本実施形態の目的は、磁力を強化して、効率よくセンシングエリア上に磁性粒子を集めることにより、測定時間の短縮を図ることのできる検体検査装置を提供することにある。

本実施形態に係る検体検査装置は、
検査対象物質を光により検出する光学部と、
磁性粒子を含む検査液を収容する検査容器を支持する支持フレームと、
前記検査容器に収容された前記検査液の前記磁性粒子を上方向又は下方向へ移動させる磁場を前記検査容器に印加する磁場印加部と、
前記磁場印加部を磁気的に接続するヨークであって、上ヨークと下ヨークとを備えて構成されており、前記上ヨークと前記下ヨークがそれぞれ前記検査容器の短手方向に前記検査容器を包むように配置され、前記上ヨークと前記下ヨークとの間に間隙が形成される、ヨークと、を備える。

第１実施形態に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図である。 図１に示す検体検査装置の部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である。 第１実施形態に係る検体検査装置における、上ヨークの上側面ヨークと、下ヨークの下側面ヨークとの間の間隙を拡大して説明する図である。 支持フレームと一対の下側面ヨークと検査容器との位置関係を説明する平面図である。 第２実施形態に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図である（間隙をヨークの下端部に形成した場合）。 図５に示す検体検査装置の部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である。 第２実施形態に係る検体検査装置における、上ヨークの上側面ヨークと、下ヨークの下側面ヨークとの間の間隙を拡大して説明する図である。 第２実施形態の変形例に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図である（間隙をヨークの上端部に形成した場合） 図８に示す検体検査装置の部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である。 第３実施形態に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図である（間隙をヨークの下端部に形成した場合）。 図１０に示す検体検査装置の部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である。 第３実施形態に係る検体検査装置における、上ヨークの上側面ヨークと、下ヨークの下側面ヨークとの間の間隙を拡大して説明する図である。 第３実施形態の変形例に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図である（間隙をヨークの上端部に形成した場合）。 図１３に示す検体検査装置の部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である。 第４実施形態に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図である（間隙をヨークの下端部に形成した場合）。 図１５に示す検体検査装置の部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である。 図１５及び図１６に示した検体検査装置におけるＸＶＩＩ－ＸＶＩＩ断面図である。 第４実施形態の変形例に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図である（間隙をヨークの上端部に形成した場合）。 図１８に示す検体検査装置の部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である。 図１８及び図１９に示した検体検査装置におけるＸＸ－ＸＸ断面図である。 第４実施形態の更なる変形例に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図である（間隙を検査容器の側方位置に形成した場合）。 図２１に示す検体検査装置の部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である。 図２１及び図２２に示した検体検査装置におけるＸＸＩＩＩ－ＸＸＩＩＩ断面図である。 図２１及び図２２に示した検体検査装置におけるＸＸＩＶ－ＸＸＩＶ断面図である。 第４実施形態に係る検体検査装置における上横架ヨークを、ヨークの上方から見た状態を示す平面図である（上横架ヨークが矩形状の場合）。 第４実施形態に係る検体検査装置における上横架ヨークを、ヨークの上方から見た状態を示す平面図である（上横架ヨークがＨ字形状の場合）。 第４実施形態に係る検体検査装置における上横架ヨークを、ヨークの上方から見た状態を示す平面図である（上横架ヨークがＸ字状の場合）。 第５実施形態に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である（上拡大部と下拡大部をヨーク内側に向けて水平に形成した場合）。 第５実施形態に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である（上拡大部と下拡大部をヨーク内側に向かって下がるような傾斜をつけて形成した場合）。 第５実施形態に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である（上拡大部をヨーク外側に向けて水平に形成し、下拡大部をヨーク内側に向けて水平に形成した場合）。 第５実施形態に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である（上拡大部を上側面ヨークの下端部に形成して、間隙をヨークの下端部に形成した場合）。 第５実施形態に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である（下拡大部を下側面ヨークの上端部に形成して、間隙をヨークの上端部に形成した場合）。 第６実施形態に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である。 図３３に示す検体検査装置におけるＸＸＸＩＶ断面図（ＸＺ面断面図）である。 第６実施形態の変形例に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である。 図３５に示す検体検査装置１におけるＸＸＸＶＩ断面図（ＸＺ面断面図）である。 第６実施形態の別の変形例に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である。 図３７に示す検体検査装置におけるＸＸＸＶＩ断面図（ＸＺ面断面図）である。 第７実施形態に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図である。 第７実施形態に係る検体検査装置における部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図である。 第７実施形態に係る検体検査装置の斜視図である。 支持手段が、上磁場印加部と上ヨークとを移動可能に支持する構成の一例を説明するブロック図である。 支持手段が、下磁場印加部と下ヨークとを移動可能に支持する構成の一例を説明するブロック図である。 支持手段が、上磁場印加部及び上ヨークと、下磁場印加部及び下ヨークとを、移動可能に支持する構成の一例を説明するブロック図である。

以下、図面を参照しながら、本実施形態に係る検体検査装置を説明する。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行うこととする。

〔第１実施形態〕
図１は、第１実施形態に係る検体検査装置１における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図であり、図２は、そのＹＺ面に関する側面図である。これら図１及び図２に示すように、検体検査装置１は、上磁場印加部１０と、下磁場印加部１２と、支持フレーム１４と、検査容器１６と、光学部１８と、ヨーク２０とを、備えて構成されている。また、ヨーク２０は、上ヨーク２２と、下ヨーク２４とを備えて構成されている。換言すれば、ヨーク２０は、検査容器１６の位置に形成された間隙ＳＰにより、上ヨーク２２と下ヨーク２４とに分割されている。

上磁場印加部１０と下磁場印加部１２には、永久磁石や電磁石を用いる。上磁場印加部１０は、検査容器１６が載置される支持フレーム１４の上方位置しており、下磁場印加部１２は、検査容器１６が載置される支持フレーム１４の下方に位置している。上磁場印加部１０と下磁場印加部１２は、検査容器１６の検査液中に含まれるウイルス等の検査対象物質と特異的に反応するようにした磁性粒子を制御するために用いられる。具体的には、例えば、検査液中の磁性粒子を下向きに移動させて沈降させる場合には、下磁場印加部１２により下向きの磁力を生成する。逆に、検査液中の磁性粒子のうちウイルス等の検査対象物質の付着していない磁性粒子を上向きに移動させる場合には、上磁場印加部１０により上向きの磁力を生成する。

上磁場印加部１０と下磁場印加部１２には、それぞれ、上中央ヨーク３０と下中央ヨーク３２とが貫通している。上中央ヨーク３０は、上磁場印加部１０の中央部分を上下方向（Ｚ方向）に貫通している。上中央ヨーク３０の下側端面は、上磁場印加部１０が動作した場合に磁束を検査容器１６に向けて放出する磁束放出部３０ａを構成している。一方、下中央ヨーク３２は、下磁場印加部１２の中心を上下方向（Ｚ方向）に貫通している。下中央ヨーク３２の上側端面は、下磁場印加部１２が動作した場合に磁束を検査容器１６に向けて放出する磁束放出部３２ａを構成している。これら上磁場印加部１０と下磁場印加部１２とから、本実施形態における磁場印加部を形成している。

支持フレーム１４は、検査容器１６を支持するために用いられる。本実施形態においては、上磁場印加部１０と上ヨーク２２は、図１における横方向（Ｘ方向）、すなわち、検査容器１６の長手方向に移動可能に支持手段により支持されている。ユーザは、上磁場印加部１０と上ヨーク２２とを、セットされる検査容器１６の長手方向に沿った第１方向に移動させ、支持フレーム１４を露出させた上で、検査液を収容した検査容器１６を支持フレーム１４上にセットする。そして、上磁場印加部１０と上ヨーク２２とを、セットした検査容器１６の長手方向に沿った第１方向と反対の第２方向に移動させて、元の位置に戻し、磁束放出部３０ａ、３２ａが検査容器１６に対向するようにする。

また、検査終了後は、ユーザは、支持手段に支持されている上磁場印加部１０と上ヨーク２２とを再び第１方向に移動させ、検査が終了した検査容器１６を露出させて、所定の位置から取り外す。そして、上磁場印加部１０と上ヨーク２２とを第２方向に移動させて、これらを元の位置に戻す。このようにして、ユーザは、検査容器１６を所定の位置に設置したり、所定の位置から取り外したりすることができる。

検査容器１６は、磁性粒子を含む検査液を収容するために使用され、ＡＢＳ（Acrylonitride Butadiene Styrene）樹脂等の樹脂で製作される。検査容器１６は遮光目的で黒色に着色される。検査容器１６には、基板上に光導波路が設けられた光導波路型センサチップが内蔵されている。この光導波路型センサチップにおいては、光導波路の上に検査液を収容する凹部が形成されており、ユーザは、この凹部に検査対象物質と磁性粒子とを含む検査液を注入する。そして、この検査液を注入した検査容器１６を支持フレーム１４上にセットすることにより、検査液に含まれる検査対象物質の物質量が測定される。

光学部１８は、光照射器と受光部とから構成されており、検査対象物質を光により検出する。光照射器には、例えばＬＥＤ（Light Emitting Diode）等のダイオードやキセノンランプ等のランプが用いられており、受光部には、フォトダイオード等の受光素子が用いられている。最終的に上磁場を印加してから所定の時間が経過したときの光強度と、抗原抗体反応前の、基準となる光強度とを比較し、検査対象物質の物質量が測定される。

ヨーク２０は、上磁場印加部１０と下磁場印加部１２で発生した磁束を磁性粒子に効率的に印加するために用いられ、例えば純鉄、電磁鋼板、ＳＰＨＣ（Steel Plate Hot Commercial）、ＳＰＣＣ（Steel Plate Cold Commercial）等の材料が使用される。上磁場印加部１０及び下磁場印加部１２は、検査容器１６と光学部１８と支持フレーム１４とは、干渉しないように配置される。

ヨーク２０は、上磁場印加部１０と下磁場印加部１２とからなる磁場印加部で生成された磁場を磁気的に接続する。本実施形態においては、ヨーク２０は、上ヨーク２２と下ヨーク２４とを備えて構成されており、上ヨーク２２は検査容器１６を、上方から検査容器１６の短手方向（Ｙ方向）に包むように配置されており、下ヨーク２４は検査容器１６を、下方から検査容器１６の短手方向に包むように配置されている。

ヨーク２０のうち、上ヨーク２２は上磁場印加部１０を保持しており、上横架ヨーク２２ａと、一対の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃに加えて、上述した上中央ヨーク３０とにより、構成されている。上横架ヨーク２２ａは、上磁場印加部１０の上方を、検査容器１６の短手方向に横断するように懸架されており、その一端部分から上側面ヨーク２２ｂが垂下しており、その他端部分から上側面ヨーク２２ｃが垂下している。上横架ヨーク２２ａの中央部分からは、上中央ヨーク３０が垂下している。本実施形態においては、上横架ヨーク２２ａと一対の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃとにより、逆Ｕ字状の上ヨーク２２が形成されており、逆Ｕ字状の内側に上磁場印加部１０が包含されるように、上ヨーク２２と上磁場印加部１０とが配置されている。換言すれば、検査容器１６の短手方向に検査容器１６を上方から挟むように、一対の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃが配置されている。

一方、ヨーク２０のうち、下ヨーク２４は下磁場印加部１２を保持しており、下横架ヨーク２４ａと、一対の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃに加えて、上述した下中央ヨーク３２とにより、構成されている。下横架ヨーク２４ａは、下磁場印加部１２の下方を、検査容器１６の短手方向に横断するように懸架されており、その一端部分から下側面ヨーク２４ｂが起立しており、その他端部分から下側面ヨーク２４ｃが起立している。下横架ヨーク２４ａの中央部分からは、下中央ヨーク３２が起立している。本実施形態においては、下横架ヨーク２４ａと下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃとにより、Ｕ字状の下ヨーク２４が形成されており、Ｕ字状の内側に下磁場印加部１２が包含されるように、下ヨーク２４と下磁場印加部１２とが配置されている。また、下ヨーク２４については、Ｕ字状の内側に、光学部１８と支持フレーム１４とが包含されるように、また、支持フレーム１４上に載置された検査容器１６のほとんどが包含されるように、下ヨーク２４と下磁場印加部１２とが配置されている。換言すれば、検査容器１６の短手方向に検査容器１６を下方から挟むように、一対の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃが配置されている。

上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂと、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂとの間には、上述した間隙ＳＰが形成されている。また、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｃと、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｃとの間にも、上述した間隙ＳＰが形成されている。この間隙ＳＰは、ヨーク２０全体から見ると、側面ヨークの切れ目として認識することもできる。つまり、上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃと下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃとをそれぞれ伸長して、可能な限り近づけることにより、間隙ＳＰが形成される。この結果、本実施形態においては、例えば、上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａと下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａとの間の距離よりも、間隙ＳＰの方が、短くなるように構成されている。また、光学部１８と支持フレーム１４と検査容器１６とを合計した厚さよりも、間隙ＳＰの方が短くなるように構成されているともいえる。

このようにすることにより、上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃと下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃとの間のそれぞれの磁束の漏れが低減する。その結果、上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａから放出される磁束量が増加し、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから放出される磁束量が増加する。

また、本実施形態においては、支持フレーム１４が間隙ＳＰを貫通して、支持フレーム１４の端部がヨーク２０の外側にまで達している。すなわち、支持フレーム１４がヨーク２０の外側まではみ出すような構成となっている。より詳細には、検査容器１６の短手方向（Ｙ方向）の支持フレーム１４の幅が、ヨーク２０の短手方向（Ｙ方向）の幅よりも、大きくなるように構成されており、その支持フレーム１４の両端部が、ヨーク２０の間隙ＳＰをそれぞれ貫通するように配置されている。このように支持フレーム１４を構成することにより、ヨーク２０の小型化を図ることができる。すなわち、ヨーク２０内に支持フレーム１４を収容しようとすると、どうしてもヨーク２０が大型化してしまうが、このように、支持フレーム１４を、間隙ＳＰを通ってヨーク２０の外側まで延出させることにより、ヨーク２０の小型化を実現できる。

図３に示すように、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂと、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂとの間の距離である間隙ＳＰの幅Ｗは、例えば、１ｍｍ以上１２．６ｍｍ以下であることが望ましい。これは、間隙ＳＰの幅Ｗが１ｍｍ以下であると加工が困難であり、組立精度の不良により、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂと、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂとが接触してしまう恐れがあるためである。一方、間隙ＳＰの幅Ｗが１２．６ｍｍ以上であると、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂと、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂとの間で、磁束の漏れが大きくなり、上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａから放出される磁束の量を十分に増加させることができず、また、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから放出される磁束の量を十分に増加させることができないためである。さらには、上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａから放出される磁束の量を十分に増加させるため、また、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから放出される磁束の量を十分に増加させるためには、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂと、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂとの間の距離である間隙ＳＰの幅Ｗは、１ｍｍ以上２ｍｍ以下であることがより望ましい。このことは、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｃと、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｃとの間の間隙ＳＰの幅Ｗについても、同様である。

図１及び図２に示すように、本実施形態においては、間隙ＳＰは、支持フレーム１４に支持された検査容器１６の側方位置に形成されている。つまり、検査容器１６を検体検査装置１にセットすべく、ユーザが上磁場印加部１０と上ヨーク２２とを移動させて支持フレーム１４を露出させた場合には、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃの上端部が支持フレーム１４よりも僅かに低い位置で露出する。

図４は、このときの支持フレーム１４と下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃと検査容器１６との位置関係を示す平面図である。この図４からも分かるように、検査容器１６の短手方向（Ｙ方向）を挟む位置に、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃが配置されている。このため、図４においては、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃの上端面が、検査容器１６の短手方向の両側に位置している。上述したように、支持フレーム１４の短手方向の幅は、下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃの短手方向の幅よりも、広くなるように構成されている。このため、支持フレームの短手方向の端部を、下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃと、上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃとがそれぞれ間隔を開けて挟み込むように配置されている。光学部１８は、この支持フレーム１４の下側中央部分に取り付けられている。このような配置により、Ｕ字状の上ヨーク２２と下ヨーク２４の内側に、光学部１８と検査容器１６を位置させて、これらを上ヨーク２２と下ヨーク２４が包含する配置を実現している。

この結果、図１乃至図３に示すように、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃと、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃとの間の間隙ＳＰの幅Ｗを、可及的に狭めることができるようになり、磁束が漏れないように両者を可能な限り近づけることができる。その一方で、検体の検査をするために、検査容器１６を支持フレーム１４上にセットしたり、検査を終えた検査容器１６を支持フレーム１４から取り出したりするために、上磁場印加部１０と上ヨーク２２は、下磁場印加部１２と下ヨーク２４と支持フレーム１４と検査容器１６とは干渉せずに、横方向（Ｘ方向）に移動できるようにする必要があるが、この配置により、これを実現することができる。

次に、この検体検査装置１を用いた検体の検査手順について説明する。まず、（１）ユーザは、上磁場印加部１０と上ヨーク２２とを、光学部１８の上方位置から、検査容器１６の長手方向（Ｘ方向）に沿った第１方向に、スライドして移動させる。続いて、（２）ユーザは、検査容器１６を支持フレーム１４にセットして、このセットした検査容器１６に検査対象物質と磁性粒子とが混ぜ合わさった検査液を滴下した上で、測定を開始する。（３）検体検査装置１は、検査を開始すると、まず、下磁場印加部１２を駆動して下向きの磁力を発生させて、磁性粒子を検査容器１６の光導波路のセンシングエリア上に沈降させる。本実施形態においては、下磁場印加部１２が発生する磁力が従来よりも増大されていることから、この磁性粒子を沈降させることに要する時間を短くすることができる。

次に、（４）検体検査装置１は、下磁場印加部１２の駆動を停止して磁力を止め、光導波路上で、検査対象物質を光導波路におけるセンシングエリアに結合させる。例えば、光導波路のセンシングエリアに一次抗体が固定されており、磁性粒子に二次抗体が固定されており、検査対象物質が抗原である場合には、抗原抗体反応により、磁性粒子が抗原である検査対象物質を介して、光導波路のセンシングエリアに結合する。

次に、（５）検体検査装置１は、上磁場印加部１０を駆動して上向きの磁力を発生させ、光導波路のセンシングエリアに結合していない磁性粒子を検査液の上方に引き上げる。すなわち、上向きの磁力を印加したとしても、検査対象物質を介してセンシングエリア上の一次抗体に結合した磁性粒子は、上方に移動せずに光導波路のセンシングエリアに固定されたままとなる。ここで、上磁場印加部１０が発生する磁力を従来よりも増大させてしまうと、抗原抗体反応でセンシングエリアに結合した磁性粒子まで引き剥がしてしまうおそれがある。このため、本実施形態においては、上磁場印加部１０が発生する磁力を弱めて、従来と同等の磁力とすることにより、上磁場印加部１０で消費される電力量を減少させ、エネルギー消費量の抑制を図っている。

上記の工程（３）から工程（５）の過程で、（６）検体検査装置１は、光導波路を通過する光の変化から、検査液に含まれる検査対象物質の物質量を測定する。すなわち、光導波路を通過した光強度を受光素子により検出して、この光強度の変化から、検査対象物質の物質量を測定する。そして、検体検査装置１は、この測定結果を出力してユーザに通知する。

以上のように、本実施形態に係る検体検査装置１によれば、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃと、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃとの間の間隙ＳＰを可及的に狭めることとしたので、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の磁束の漏れを低減させることができる。これにより、上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａから放出される磁束量を増大させることができ、また、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから放出される磁束量を増大させることができる。この結果、検査容器１６に印加される磁力を増大させて、検査対象物質の測定に要する時間を短縮することができる。

また、このように検査容器１６に印加される磁束を増大させることができることから、上磁場印加部１０や下磁場印加部１２で磁場を発生させる際の消費電力を抑制することができる。このため、この検体検査装置１の全体的な消費電力の低減を図ることができる。

また、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の磁束の漏れを低減することにより、近接する他の検体検査装置１や他の医療用機器に悪影響が生じるのを回避することもできる。これにより、検体検査装置１の設置場所に関する自由度を増大させることができる。

また、検体検査装置１を上方から見た平面視の状態で、検査容器１６を短手方向（Ｙ方向）に跨ぐように、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃと、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃとを配置したので、ヨーク２０の大きさをコンパクトにすることができ、検体検査装置１の大型化を回避することができる。

〔第２実施形態〕
上述した第１実施形態では、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰを、ヨーク２０の中央部分である検査容器１６の側方位置に設けることとしたが、第２実施形態では、ヨーク２０の下端部に設けることにより、磁束放出部３０ａ、３２ａから間隙ＳＰまでの距離を可能な限りと遠ざけて、磁束をより漏れにくくしたものである。以下、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。

図５は、第２実施形態に係る検体検査装置１における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図であり、上述した第１実施形態における図１に対応する図である。図６は、そのＹＺ面に関する側面図であり、上述した第１実施形態における図２に対応する図である。

これら図５及び図６に示すように、第２実施形態に係る検体検査装置１も、上述した第１実施形態と同様に、上ヨーク２２と下ヨーク２４とを備えるヨーク２０を含んでいるが、上ヨーク２２と下ヨーク２４の構造が上述した第１実施形態と異なっている。すなわち、下ヨーク２４は、下横架ヨーク２４ａは備えているが下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃは備えておらず、上ヨーク２２の一対の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃがヨーク２０の下端部の下横架ヨーク２４ａまで延びている構造をしている。

より詳しくは、下ヨーク２４は、下横架ヨーク２４ａと下中央ヨーク３２とを備えて構成されている。上述した第１実施形態と異なり、下ヨーク２４は、下側面ヨーク２４ｂと下側面ヨーク２４ｃは設けられていない。

一方で、上ヨーク２２は、上述した第１実施形態と同様に、上横架ヨーク２２ａと、一対の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃと、上中央ヨーク３０とを備えて構成されている。但し、上述した第１実施形態と異なり、上横架ヨーク２２ａの両端部から垂下する上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃの下端部が、ヨーク２０の下端部に位置する下横架ヨーク２４ａの近傍まで延びている。そして、上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃの下端部と下横架ヨーク２４ａとにより、間隙ＳＰが構成されている。

上述した第１実施形態と同様に、上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃと、下横架ヨーク２４ａとの間は、可能な限り近づくように構成されている。また、図７に示すように、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂと、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａとの間の距離である間隙ＳＰの幅Ｗは、上述した第１実施形態と同様の理由により、例えば、１ｍｍ以上１２．６ｍｍ以下であることが望ましく、１ｍｍ以上２ｍｍ以下であることがより望ましい。ここでは、間隙ＳＰの幅Ｗは、上側面ヨーク２２ｂの下端部の底面と、下横架ヨーク２４ａの上側表面との間の距離で定義される。図７では、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂと、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａとの間の関係を図示しているが、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｃと、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａとの間の間隙ＳＰの幅Ｗも図７と同様である。

このように上ヨーク２２と下ヨーク２４とを構成することにより、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の磁束放出部３０ａ、３２ａと、間隙ＳＰとの間の距離を第１実施形態よりも遠ざけることができ、間隙ＳＰにおける磁束の漏れをより低減することができる。すなわち、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の磁束放出部３０ａ、３２ａから、間隙ＳＰまでの距離を可能な限り遠ざけることにより、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の間の間隙や、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰから、磁束が漏れるのを抑制することができる。

なお、本実施形態においては、図８及び図９に示すように、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰをヨーク２０の上端部に形成することもできる。ここで、図８は、第２実施形態の変形例に係る検体検査装置１における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図であり、上述した図５に対応する図である。図９は、そのＹＺ面に関する側面図であり、上述した図６に対応する図である。

これら図８及び図９に示すように、上ヨーク２２は、上横架ヨーク２２ａは備えているが上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃは備えておらず、下ヨーク２４の一対の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃがヨーク２０の上端部の上横架ヨーク２２ａまで延びている構造をしている。

より詳しくは、上ヨーク２２は、上横架ヨーク２２ａと上中央ヨーク３０とを備えて構成されている。上述した第１実施形態と異なり、上ヨーク２２は、上側面ヨーク２２ｂと上側面ヨーク２２ｃは設けられていない。

一方で、下ヨーク２４は、上述した第１実施形態と同様に、下横架ヨーク２４ａと、下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃと、下中央ヨーク３２とを備えて構成されている。但し、上述した第１実施形態と異なり、下横架ヨーク２４ａの両端部から起立する下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃの上端部が、ヨーク２０の上端部に位置する上横架ヨーク２２ａの近傍まで延びている。そして、下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃの上端部と上横架ヨーク２２ａとにより、間隙ＳＰが構成されている。

このように上ヨーク２２と下ヨーク２４とを構成することによっても、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の磁束放出部３０ａ、３２ａと、間隙ＳＰとの間の距離を第１実施形態よりも遠ざけることができ、間隙ＳＰにおける磁束の漏れをより低減することができる。すなわち、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の磁束放出部３０ａ、３２ａから、間隙ＳＰまでの距離を可能な限り遠ざけることにより、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の間の間隙や、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰから、磁束が漏れるのを抑制することができる。

以上のように、本実施形態の変形例に係る検体検査装置１によっても、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃと、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃとの間の間隙ＳＰを可及的に狭めることができ、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の磁束の漏れを低減させることができる。これにより、上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａから放出される磁束量を増大させることができ、また、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから放出される磁束量を増大させることができる。

また、上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａや下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから、上ヨーク２２と下ヨーク２４の間隙ＳＰまでの距離を、可能な限り遠ざけることができるので、磁束の漏れをより一層低減することができる。その結果、検査容器１６に印加する磁力を増大させることができる。

〔第３実施形態〕
上述した第２実施形態においては、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰを、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃにおける下端部の底面と、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａにおける上側表面との間の距離で定義するようにしたが、第３実施形態においては、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃの内側側面と、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａにおける両端部の端面との間の距離で定義するようにしたものである。以下、上述した第２実施形態と異なる部分を説明する。

図１０は、第３実施形態に係る検体検査装置１における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図であり、上述した第２実施形態における図５に対応する図である。図１１は、そのＹＺ面に関する側面図であり、上述した第２実施形態における図６に対応する図である。

これら図１０及び図１１に示すように、第３実施形態に係る検体検査装置１も、上述した第２実施形態と同様に、下ヨーク２４は、下横架ヨーク２４ａは備えているが下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃは備えておらず、上ヨーク２２の一対の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃがヨーク２０の下端部の下横架ヨーク２４ａまで延びている構造をしている。但し、第３実施形態においては、上ヨーク２２の一対の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃが、それぞれ、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａにおける下側底面まで延びている。そして、上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃの内側側面と、下横架ヨーク２４ａの両端部における端面とにより、間隙ＳＰが構成されている。

上述した第２実施形態と同様に、上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃと、下横架ヨーク２４ａとの間は、可能な限り近づくように構成されている。また、図１２に示すように、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂと、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａとの間の距離である間隙ＳＰの幅Ｗは、上述した第１実施形態と同様の理由により、例えば、１ｍｍ以上１２．６ｍｍ以下であることが望ましく、１ｍｍ以上２ｍｍ以下であることがより望ましい。ここでは、間隙ＳＰの幅Ｗは、上側面ヨーク２２ｂの内側側面と、下横架ヨーク２４ａの左端部の端面との間の距離で定義される。図１２では、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂと、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａの左端部との間の関係を図示しているが、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｃと、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａの右端部との間の間隙ＳＰの幅Ｗも図１２と同様である。

このように上ヨーク２２と下ヨーク２４とを構成することによっても、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の磁束放出部３０ａ、３２ａと、間隙ＳＰとの間の距離を、第１実施形態よりも遠ざけることができ、間隙ＳＰにおける磁束の漏れをより低減することができる。

なお、本実施形態においては、図１３及び図１４に示すように、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰをヨーク２０の上端部に形成することもできる。ここで、図１３は、第３実施形態の変形例に係る検体検査装置１における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図であり、上述した第２実施形態における図８に対応する図である。図１４は、そのＹＺ面に関する側面図であり、上述した第２実施形態における図９に対応する図である。

これら図１３及び図１４に示すように、上ヨーク２２は、上横架ヨーク２２ａは備えているが上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃは備えておらず、下ヨーク２４の一対の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃがヨーク２０上端部の上横架ヨーク２２ａの上側表面まで延びている構造をしている。

より詳しくは、上ヨーク２２は、上横架ヨーク２２ａと上中央ヨーク３０とを備えて構成されている。上述した第１実施形態と異なり、上ヨーク２２は、上側面ヨーク２２ｂと上側面ヨーク２２ｃは設けられていない。そして、下横架ヨーク２４ａの両端部から起立する一対の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃの上端部が、ヨーク２０の上端部に位置する上横架ヨーク２２ａの上側表面まで延びている。そして、下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃの内側側面と、上横架ヨーク２２ａの両端部における端面とにより、間隙ＳＰが構成されている。

このように上ヨーク２２と下ヨーク２４とを構成することによっても、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の磁束放出部３０ａ、３２ａと、間隙ＳＰとの間の距離を、第１実施形態よりも遠ざけることができ、間隙ＳＰにおける磁束の漏れをより低減することができる。

以上のように、本実施形態の変形例に係る検体検査装置１によっても、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃと、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃとの間の間隙ＳＰを可及的に狭めることができ、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の磁束の漏れを低減させることができる。これにより、上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａから放出される磁束量を増大させることができ、また、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから放出される磁束量を増大させることができる。

また、上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａや下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから、上ヨーク２２と下ヨーク２４の間隙ＳＰまでの距離を、可能な限り遠ざけることができるので、磁束の漏れをより一層低減することができる。その結果、検査容器１６に印加する磁力を増大させることができる。

〔第４実施形態〕
上述した第１実施形態乃至第３実施形態においては、上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃ及び下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃは２本であったが、第４実施形態においては、これら側面ヨークを４本設けることにより、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の磁束放出部３０ａ、３２ａから上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰまでの距離をより遠ざけることができるようにしたものである。以下、第４実施形態に係る検体検査装置１について、上述した第２実施形態と異なる部分を説明しながら、その詳細を明らかにする。

図１５は、第４実施形態に係る検体検査装置１における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図であり、上述した第２実施形態における図５に対応する図である。図１６は、そのＹＺ面に関する側面図であり、上述した第２実施形態における図６に対応する図である。図１７は、図１５及び図１６に示した検体検査装置１におけるＸＶＩＩ－ＸＶＩＩ断面図である。この図１７において、図１５は矢印ＸＶ方向から見た検体検査装置１の部分的側面図であり、図１６は矢印ＸＶＩ方向から見た検体検査装置１の部分的側面図である。

これら図１５乃至図１７に示すように、本実施形態に係る検体検査装置１においては、上ヨーク２２の側面ヨークは、４本の上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇにより構成されている。すなわち、本実施形態に係る上ヨーク２２は、上横架ヨーク２２ａと、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇと、上中央ヨーク３０とを備えて構成されている。一方、下ヨーク２４の構成は、上述した第２実施形態と同様に、下横架ヨーク２４ａと、下中央ヨーク３２とを備えて構成されている。

特に図１７から分かるように、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇは、検体検査装置１を上方から見た場合に、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２を中心に、対称に配置されている。また、図１５及び図１６から分かるように、上横架ヨーク２２ａの四隅から垂下する４本の上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇが、それぞれ、ヨーク２０の下端部に位置する下横架ヨーク２４ａの近傍まで延びている。そして、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇの下端部と、下横架ヨーク２４ａとにより、間隙ＳＰがそれぞれ構成されている。

上述した第２実施形態と同様に、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇと、下横架ヨーク２４ａとの間は、可能な限り近づくように構成されているが、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇと、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａとの間の間隙ＳＰの幅Ｗは、上述した第１実施形態と同様の理由により、例えば、１ｍｍ以上１２．６ｍｍ以下であることが望ましく、１ｍｍ以上２ｍｍ以下であることがより望ましい。ここでは、間隙ＳＰの幅Ｗは、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇの下端部の底面と、下横架ヨーク２４ａの上側表面との間の距離でそれぞれ定義される。

このように上ヨーク２２と下ヨーク２４とを構成することにより、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の磁束放出部３０ａ、３２ａと、間隙ＳＰとの間の距離を、Ｘ方向にもＹ方向にもＺ方向にも遠ざけることができ、間隙ＳＰにおける磁束の漏れをより低減することができる。すなわち、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の磁束放出部３０ａ、３２ａから、間隙ＳＰまでの距離を可能な限り遠ざけることにより、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の間の間隙や、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰから、磁束が漏れるのを抑制することができる。その結果、検査容器１６に印加する磁力を増大させることができる。

なお、図１５乃至図１７に示す検体検査装置１においては、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰを、ヨーク２０の下端部に設けることとしたが、この間隙ＳＰをヨーク２０の上端部に設けることも可能である。図１８乃至図２０は、間隙ＳＰをヨーク２０の上端部に設けた検体検査装置１の構造を説明する図である。具体的には、図１８は、第４実施形態の変形例に係る検体検査装置１における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図であり、上述した図１５に対応する図である。図１９は、そのＹＺ面に関する側面図であり、上述した図１６に対応する図である。図２０は、図１８及び図１９に示した検体検査装置１におけるＸＸ－ＸＸ断面図である。この図２０において、図１８は矢印ＸＶＩＩＩ方向から見た検体検査装置１の部分的側面図であり、図１９は矢印ＸＩＸ方向から見た検体検査装置１の部分的側面図である。

これら図１８乃至図２０に示すように、この第４実施形態の変形例に係る検体検査装置１においては、下ヨーク２４の側面ヨークは、４本の下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇにより構成されている。すなわち、本実施形態に係る下ヨーク２４は、下横架ヨーク２４ａと、下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇと、下中央ヨーク３２とを備えて構成されている。一方、上ヨーク２２の構成は、上述した第２実施形態と同様に、上横架ヨーク２２ａと、上中央ヨーク３０とを備えて構成されている。

特に図２０から分かるように、下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇは、検体検査装置１を上方から見た場合に、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２を中心に、対称に配置されている。また、図１８及び図１９から分かるように、下横架ヨーク２４ａの四隅から起立する４本の下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇが、それぞれ、ヨーク２０の上端部に位置する上横架ヨーク２２ａの近傍まで延びている。そして、下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇの上端部と、上横架ヨーク２２ａとにより、間隙ＳＰがそれぞれ構成されている。

上述した第２実施形態と同様に、下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇと、上横架ヨーク２２ａとの間は、可能な限り近づくように構成されているが、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇと、上ヨーク２２の上横架ヨーク２２ａとの間の距離である間隙ＳＰの幅Ｗは、上述した第１実施形態と同様の理由により、例えば、１ｍｍ以上１２．６ｍｍ以下であることが望ましく、１ｍｍ以上２ｍｍ以下であることがより望ましい。ここでは、間隙ＳＰの幅Ｗは、下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇの上端部の上面と、上横架ヨーク２２ａの下側表面との間の距離でそれぞれ定義される。

このように上ヨーク２２と下ヨーク２４とを構成することにより、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の磁束放出部３０ａ、３２ａと、間隙ＳＰとの間の距離を、Ｘ方向にもＹ方向にもＺ方向にも遠ざけることができ、間隙ＳＰにおける磁束の漏れをより低減することができる。その結果、検査容器１６に印加する磁力を増大させることができる。

また、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰは、第１実施形態と同様に、ヨーク２０の中央部分に設けることもできる。図２１乃至図２４は、間隙ＳＰをヨーク２０の中央部分に設けた検体検査装置１の構造を説明する図である。具体的には、図２１は、第４実施形態のさらに別の変形例に係る検体検査装置１における部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図であり、上述した図１５に対応する図である。図２２は、そのＹＺ面に関する側面図であり、上述した図１６に対応する図である。図２３は、図２１及び図２２に示した検体検査装置１におけるＸＸＩＩＩ－ＸＸＩＩＩ断面図である。図２４は、図２１及び図２２に示した検体検査装置１におけるＸＸＩＶ－ＸＸＩＶ断面図である。これら図２３及び図２４において、図２１は矢印ＸＸＩ方向から見た検体検査装置１の部分的側面図であり、図２２は矢印ＸＸＩＩ方向から見た検体検査装置１の部分的側面図である。

これら図２１乃至図２４に示すように、本実施形態に係る検体検査装置１においては、上ヨーク２２の側面ヨークは、４本の上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇにより構成されている。すなわち、本実施形態に係る上ヨーク２２は、上横架ヨーク２２ａと、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇと、上中央ヨーク３０とを備えて構成されている。一方、下ヨーク２４の側面ヨークも、４本の下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇにより構成されている。すなわち、本実施形態に係る下ヨーク２４は、下横架ヨーク２４ａと、下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇと、下中央ヨーク３２とを備えて構成されている。

特に図２４から分かるように、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇは、検体検査装置１を上方から見た場合に、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２を中心に、対称に配置されている。また、図２１及び図２２から分かるように、上横架ヨーク２２ａの四隅から垂下する４本の上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇが、それぞれ、ヨーク２０の中央部分に位置する検査容器１６の側方位置の近傍まで延びている。

また、特に図２３から分かるように、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇは、検体検査装置１を上方から見た場合に、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２を中心に、対称に配置されている。また、図２１及び図２２から分かるように、下横架ヨーク２４ａの四隅から起立する４本の下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇが、それぞれ、ヨーク２０の中央部分に位置する検査容器１６の側方位置の近傍まで延びている。そして、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇの下端部と、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇの上端部とにより、間隙ＳＰがそれぞれ構成されている。

上述した第１実施形態と同様に、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｆの下端部と下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇの上端部との間は、可能な限り近づくように構成されているが、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｆの下端部と下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇの上端部との間の距離である間隙ＳＰの幅Ｗは、上述した第１実施形態と同様の理由により、例えば、１ｍｍ以上１２．６ｍｍ以下であることが望ましく、１ｍｍ以上２ｍｍ以下であることがより望ましい。ここでは、間隙ＳＰの幅Ｗは、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｆの下端部の底面と、下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇの上端部の上面との間の距離でそれぞれ定義される。

このように上ヨーク２２と下ヨーク２４とを構成することにより、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の磁束放出部３０ａ、３２ａと、間隙ＳＰとの間の距離を、Ｘ方向にもＹ方向にも遠ざけることができ、間隙ＳＰにおける磁束の漏れをより低減することができる。また、間隙ＳＰをヨーク２０の中央部分に設けたので、上磁場印加部１０や下磁場印加部１２における検査容器１６の短手方向（Ｙ方向）の幅を広げずとも、支持フレーム１４との干渉を抑制することができる。

これらの第４実施形態に係る検体検査装置１においても、上ヨーク２２の下横架ヨーク２４ａや下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａの構造には、種々のものが適用できる。図２５乃至図２７は、上ヨーク２２における上横架ヨーク２２ａの構造の例を説明する平面図である。すなわち、図２５乃至図２７は、本実施形態に係る検体検査装置１を上方からみた状態を説明する図である。

まず、図２５の例では、上ヨーク２２の上横架ヨーク２２ａは、ヨーク２０を上方から見た状態で、矩形状をなしており、特にこの例では、正方形をなしている。矩形状の上横架ヨーク２２ａの四隅には、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇがそれぞれ結合されている。この上横架ヨーク２２ａの四隅の位置から、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇは、検体検査装置１の下方にそれぞれ延びている。

上横架ヨーク２２ａの中央部分には、上中央ヨーク３０が結合されている。この上横架ヨーク２２ａの中央部分の位置から、上中央ヨーク３０は、検体検査装置１の下方に延びている。この上中央ヨーク３０の周囲には、永久磁石や電磁石などにより上磁場印加部１０が形成されている。

図２６の例では、上ヨーク２２の上横架ヨーク２２ａは、ヨーク２０を上方から見た状態で、Ｈ字形状をなしている。Ｈ字形状の上横架ヨーク２２ａの四隅には、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇがそれぞれ結合若しくは折り曲げ加工により設けられている。この上横架ヨーク２２ａの四隅の位置、すなわちＨ字形状の端部の位置から、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇは、検体検査装置１の下方にそれぞれ延びている。

Ｈ字形状の上横架ヨーク２２ａの中央部分には、上中央ヨーク３０が結合されている。この上横架ヨーク２２ａの中央部分の位置、すなわち、Ｈ字形状の上磁場印加部１０を横断するヨークの中央部分の位置から、上中央ヨーク３０は、検体検査装置１の下方に延びている。この上中央ヨーク３０の周囲には、永久磁石や電磁石などにより上磁場印加部１０が形成されている。この図２６の例では、上中央ヨーク３０は長方形の形状をなしており、Ｈ字形状の上横架ヨーク２２ａにおける中央部分で、上横架ヨーク２２ａからはみ出してＹ方向に延びるように配置されている。

図２７の例では、上ヨーク２２の上横架ヨーク２２ａは、ヨーク２０を上方から見た状態で、Ｘ字形状をなしている。Ｘ字形状の上横架ヨーク２２ａの四隅には、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇがそれぞれ結合若しくは折り曲げ加工により設けられている。この上横架ヨーク２２ａの四隅の位置、すなわちＸ字形状の端部の位置から、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇは、検体検査装置１の下方にそれぞれ延びている。この図２７の例では、上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇは長方形の形状をなしており、Ｘ字状の上ヨーク２２において外周方向に延びる４本のヨーク部材の先端部の辺に沿うように配置されている。

Ｘ字形状の上横架ヨーク２２ａの中央部分には、上中央ヨーク３０が結合されている。この上横架ヨーク２２ａの中央部分の位置、すなわち、Ｘ字形状の交差部分の位置から、上中央ヨーク３０は、検体検査装置１の下方に延びている。この上中央ヨーク３０の周囲には、永久磁石や電磁石などにより上磁場印加部１０が形成されている。この図２７の例では、上中央ヨーク３０は長方形の形状をなしており、Ｘ字形状の上ヨークの交差部分のヨーク部材に設けられて、Ｙ方向に延びるように配置されている。

図２５乃至図２７を用いて上ヨーク２２の上横架ヨーク２２ａの構造を説明したが、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａも、上ヨーク２２の上横架ヨーク２２ａと同様の形状及び構造とすることができる。このとき、上ヨーク２２の上横架ヨーク２２ａの形状及び構造と、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａの形状及び構造とは、同じであっても良いし、異なっていても良い。また、これら上横架ヨーク２２ａ及び下横架ヨーク２４ａの形状及び構造は単なる例示であり、種々の形状及び構造を上横架ヨーク２２ａ及び下横架ヨーク２４ａに採用し得る。

なお、本実施形態においては、側面ヨークを４本配置することとしたが、側面ヨークの本数は４本に限るものではない。例えば、側面ヨークを５本、６本、７本、８本など、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２を中心として対称になるように複数の側面ヨークを配置するようにすることができる。

以上のように、本実施形態に係る検体検査装置１によっても、上ヨーク２２と、下ヨーク２４との間の間隙ＳＰを可及的に狭めることとしたので、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の磁束の漏れを低減させることができる。これにより、上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａから放出される磁束量を増大させることができ、また、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから放出される磁束量を増大させることができる。

また、上中央ヨーク３０及び下中央ヨーク３２の磁束放出部３０ａ、３２ａと、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰとの間の距離を、Ｚ方向のみならず、Ｘ方向にもＹ方向にも遠ざけることができ、ヨーク２０の間隙ＳＰにおける磁束の漏れをより低減することができる。その結果、検査容器１６に印加する磁力を増大させることができる。

〔第５実施形態〕
上述した各実施形態においては、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰは、側面ヨークの上端部及び／又は下端部の端面により構成されていたが、第５実施形態においては、側面ヨークの上端部及び／又は下端部の端面に拡大部を形成することにより、磁束が漏れやすいヨークの切れ目の位置で、対向面積を増大させて、磁束を漏れにくくしたものである。以下、上述した実施形態と異なる部分を説明する。

図２８乃至図３１は、それぞれ、本実施形態に係る検体検査装置１の部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図であり、例えば上述した第１実施形態における図２に対応する図である。但し、これら図２８乃至図３１においては、支持フレーム１４と検査容器１６と光学部１８の図示を省略している。

まず、図２８に示す例では、基本的構造は上述した第１実施形態と同様であるが、上ヨーク２２の一対の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃの下端部に、この下端部の面積を拡大する上拡大部２６ｂ、２６ｃがそれぞれ形成されており、下ヨーク２４の一対の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃの上端部に、この上端部の面積を拡大する下拡大部２８ｂ、２８ｃがそれぞれ形成されている。換言すれば、図２８の例では、上ヨーク２２は、上横架ヨーク２２ａと、上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃと、上拡大部２６ｂ、２６ｃと、上中央ヨーク３０とにより構成されており、下ヨーク２４は、下横架ヨーク２４ａと、下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃと、下拡大部２８ｂ、２８ｃと、下中央ヨーク３２とにより構成されている。

より詳しくは、上ヨーク２２の一対の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃの下端部には、ヨーク２０の内側方向、すなわち、検査容器１６の方向に水平に延びる上拡大部２６ｂ、２６ｃがそれぞれ形成されている。また、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃの上端部には、ヨーク２０の内側方向、すなわち、検査容器１６の方向に水平に延びる下拡大部２８ｂ、２８ｃがそれぞれ形成されている。この図２８の例では、上拡大部２６ｂと下拡大部２８ｂとが互いに平行に延びて対向する位置関係にあり、上拡大部２６ｃと下拡大部２８ｃとが互いに平行に延びて対向する位置関係にある。換言すれば、上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃが、それぞれ、間隙ＳＰを挟んで対向している。

上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃが内側方向に延びる長さは任意に設定可能であるが、図２８においては、上拡大部２６ｂ、２６ｃと、下拡大部２８ｂ、２８ｃは、支持フレーム１４や光学部１８と干渉しない位置、また、支持フレーム１４にセットされた検査容器１６と干渉しない位置まで延びている。

このように上ヨーク２２と下ヨーク２４とを構成することにより、磁束が漏れやすい上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の切れ目で、上ヨーク２２と下ヨーク２４との対向面積を上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃにより増大させることができ、磁束がより漏れにくくすることができる。

また、この図２８の例においても、支持フレーム１４が間隙ＳＰを貫通して、支持フレーム１４の端部がヨーク２０の外側にまで達している。すなわち、支持フレーム１４がヨーク２０の外側まではみ出すような構成となっている。より詳細には、検査容器１６の短手方向（Ｙ方向）の支持フレーム１４の幅が、ヨーク２０の短手方向（Ｙ方向）の幅よりも、大きくなるように構成されており、その支持フレーム１４の両端部が、上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃにより形成される間隙ＳＰをそれぞれ貫通するように配置されている。このように支持フレーム１４を構成することにより、ヨーク２０の小型化を図ることができる。すなわち、ヨーク２０内に支持フレーム１４を収容しようとすると、どうしてもヨーク２０が大型化してしまうが、このように、支持フレーム１４を、間隙ＳＰを通ってヨーク２０の外側まで延出させることにより、ヨーク２０の小型化を実現できる。

一方、図２９の例では、上ヨーク２２の上拡大部２６ｂ、２６ｃと、下拡大部２８ｂ、２８ｃとが、傾斜しつつ対向するように配置されている。具体的には、上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃとは、ヨーク２０の内側方向に向かって下がるような傾斜が形成されている。すなわち、上拡大部２６ｂ、２６ｃは、上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃの下端部に形成されて、ヨーク２０の内側方向に向かって下がるように傾斜しつつ、ヨーク２０の内側に延びている。一方、下拡大部２８ｂ、２８ｃは、下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃの上端部に形成されて、ヨーク２０の外側方向に向かって上がるように傾斜しつつ、ヨーク２０の外側方向に延びている。つまり、下拡大部２８ｂ、２８ｃは、ともに、ヨーク２０の内側方向に向かって下がるように傾斜が形成されている。この図２９の例では、上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃの傾斜は同じである。このため、互いに対向する上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃとは互いに平行であり、両者により形成される間隙ＳＰの幅Ｗは均等で変化は無い。

このように上ヨーク２２と下ヨーク２４とを構成することにより、磁束が漏れやすい上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の切れ目で、上ヨーク２２と下ヨーク２４との対向面積を上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃにより増大させることができ、磁束がより漏れにくくすることができる。また、ユーザが支持フレーム１４に検査容器１６を検体検査装置１の上方からセットする際に、上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃが検体検査装置１の下方に向けて狭まる傾斜を形成しているので、検査容器１６のセット作業がしやすくなる。

また、この図２９の例においても、支持フレーム１４が間隙ＳＰを貫通して、支持フレーム１４の端部がヨーク２０の外側にまで達している。すなわち、支持フレーム１４がヨーク２０の外側まではみ出すような構成となっている。より詳細には、検査容器１６の短手方向（Ｙ方向）の支持フレーム１４の幅が、ヨーク２０の短手方向（Ｙ方向）の幅よりも、広くなるように構成されており、その支持フレーム１４の両端部が、上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃにより形成される間隙ＳＰをそれぞれ貫通するように配置されている。また、上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃとにより構成される間隙ＳＰが上方に傾斜して形成されていることから、当該部分の支持フレーム１４も同様に上方に傾斜して形成されている。これにより、支持フレーム１４が、上拡大部２６ｂ、２６ｃや下拡大部２８ｂ、２８ｃと接触しないように配慮されている。このように支持フレーム１４を構成することにより、ヨーク２０の小型化を図ることができる。すなわち、ヨーク２０内に支持フレーム１４を収容しようとすると、どうしてもヨーク２０が大型化してしまうが、このように、支持フレーム１４を、間隙ＳＰを通ってヨーク２０の外側まで延出させることにより、ヨーク２０の小型化を実現できる。

一方、図３０の例では、上ヨーク２２の上拡大部２６ｂ、２６ｃは、ヨーク２０の外側方向、すなわち、検査容器１６と反対の方向に水平に延びており、下ヨーク２４の下拡大部２８ｂ、２８ｃは、ヨーク２０の内側方向、すなわち、検査容器１６の方向に水平に延びている。つまり、上拡大部２６ｂ、２６ｃが延びる方向と、下拡大部２８ｂ、２８ｃが延びる方向とが逆方向となりつつ、互いに対向して、上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃとにより間隙ＳＰが形成されている。

このため、上ヨーク２２の方が下ヨーク２４よりも小さくなっている。すなわち、上ヨーク２２の上横架ヨーク２２ａの方が、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａよりも短く形成されている。図３０では、上ヨーク２２の上横架ヨーク２２ａの長さをＬ１とし、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａの長さをＬ２とすると、Ｌ１＜Ｌ２の関係が成立する。

また、図３０の例では、上拡大部２６ｂ、２６ｃのそれぞれの長さと、下拡大部２８ｂ、２８ｃのそれぞれの長さは、同等である。上拡大部２６ｂの長さをＬ３とし、上拡大部２６ｃの長さをＬ４とし、下拡大部２８ｂの長さをＬ５とし、下拡大部２８ｃの長さをＬ６とすると、Ｌ３＝Ｌ４＝Ｌ５＝Ｌ６の関係が成立する。

さらには、上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃや下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃの厚さを無視すると、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａの長さＬ２は、上ヨーク２２の上横架ヨーク２２ａの長さＬ１と上拡大部２６ｂの長さＬ３と上拡大部２６ｃの長さＬ４の和と実質的に等しい。この結果、上拡大部２６ｂと下拡大部２８ｂとが磁束が漏れにくい態様で対向するようになり、上拡大部２６ｃと下拡大部２８ｃとが磁束が漏れにくい態様で対向するようになる。

このように上ヨーク２２と下ヨーク２４とを構成することにより、磁束が漏れやすい上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の切れ目で、上ヨーク２２と下ヨーク２４との対向面積を上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃにより増大させることができ、磁束がより漏れにくくすることができる。また、上ヨーク２２を下ヨーク２４よりも小さくできるので、上ヨーク２２の軽量小型化を図ることができる。このため、検査容器１６を支持フレーム１４にセットする際や検査容器１６を支持フレーム１４から取り出す際において、上ヨーク２２を検査容器１６の長手方向（図１のＸ方向）に移動させるユーザの操作性を向上させることができる。

また、この図３０の例においても、支持フレーム１４が間隙ＳＰを貫通して、支持フレーム１４の端部がヨーク２０の外側にまで達している。すなわち、支持フレーム１４がヨーク２０の外側まではみ出すような構成となっている。より詳細には、検査容器１６の短手方向（Ｙ方向）の支持フレーム１４の幅が、ヨーク２０の短手方向（Ｙ方向）の幅よりも、広くなるように構成されており、その支持フレーム１４の両端部が、上拡大部２６ｂ、２６ｃと下拡大部２８ｂ、２８ｃにより形成される間隙ＳＰをそれぞれ貫通するように配置されている。このように支持フレーム１４を構成することにより、ヨーク２０の小型化を図ることができる。すなわち、ヨーク２０内に支持フレーム１４を収容しようとすると、どうしてもヨーク２０が大型化してしまうが、このように、支持フレーム１４を、間隙ＳＰを通ってヨーク２０の外側まで延出させることにより、ヨーク２０の小型化を実現できる。

一方、図３１の例では、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃの下端部がヨーク２０の下端部の近傍まで延びており、その上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃの下端部に、この下端部の面積を拡大する上拡大部２６ｂ、２６ｃが形成されている。一方、下ヨーク２４には下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃも下拡大部２８ｂ、２８ｃも形成されていない。このため、上ヨーク２２の上拡大部２６ｂ、２６ｃは、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａに直接対向している。

すなわち、上ヨーク２２の上横架ヨーク２２ａの両端部から垂下する上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃの下端部は、ヨーク２０の下端部に位置する下横架ヨーク２４ａの近傍まで延びている。そして、上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃのそれぞれの下端部に上拡大部２６ｂ、２６ｃが設けられている。上拡大部２６ｂ、２６ｃは、検体検査装置１の内側方向、すなわち、検査容器１６の方向に水平に延びている。このため、上拡大部２６ｂ、２６ｃは、それぞれ、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａと平行に配置されている。このため、上拡大部２６ｂ、２６ｃは、それぞれが下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａの上側表面に対向している。

このように上ヨーク２２と下ヨーク２４とを構成することにより、磁束が漏れやすい上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の切れ目で、上ヨーク２２と下ヨーク２４との対向面積を上拡大部２６ｂ、２６ｃにより増大させることができ、磁束がより漏れにくくすることができる。また、検査容器１６を支持フレーム１４にセットする際や検査容器１６を支持フレーム１４から取り出す際に、ユーザが上ヨーク２２を図１のＸ方向に移動させると、支持フレーム１４が大きく露出することとなる。このため、ユーザに対する支持フレーム１４の視認性を向上させることができる。

なお、図３１の例では、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の間隙ＳＰをヨーク２０の下端部に形成したが、これをヨーク２０の上端部に形成するようにしてもよい。この場合、図３２に例示するように、上ヨーク２２には上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃも上拡大部２６ｂ、２６ｃも設けずに、下ヨーク２４に下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃを設け、これら下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃをヨーク２０の上端部まで起立させて、その上端部に、この上端部の面積を拡大する下拡大部２８ｂ、２８ｃを形成するようにすればよい。

以上のように、本実施形態に係る検体検査装置１によれば、上ヨーク２２の上側面ヨーク２２ｂ、２２ｃの下端部及び／又は下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｂ、２４ｃの上端部に、拡大部を形成することとしたので、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の切れ目の位置で、対向面積を増大させることができ、間隙ＳＰからの磁束の漏れをより一層削減することができる。

なお、上述した図２８乃至図３１の例では、上拡大部２６ｂ、２６ｃや下拡大部２８ｂ、２８ｃは矩形状の平板で構成したが、その形状や大きさは任意に変更可能である。例えば、上拡大部２６ｂ、２６ｃや下拡大部２８ｂ、２８ｃを円盤状又は三角形の平板で構成してもよいし、或いは、上拡大部２６ｂ、２６ｃや下拡大部２８ｂ、２８ｃを円筒や球体などの三次元的な形状で構成してもよい。

〔第６実施形態〕
第６実施形態は、上述した各実施形態に係る検体検査装置１の磁束放出部３２ａの近傍に追加ヨークを追加的に設け、磁束放出部３２ａから放出された磁束の一部が追加ヨークに流れるようにすることにより、反対側の磁束放出部３０ａに到達する磁束を減少させて、急峻な磁場勾配を生成し、磁力を増大させるようにしたものである。以下、上述した各実施形態と異なる部分を説明する。

図３３は、第６実施形態に係る検体検査装置１における部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図であり、上述した第１実施形態における図２に対応する図である。図３４は、図３３に示す検体検査装置１におけるＸＸＸＩＶ断面図（ＸＺ面断面図）である。すなわち、図３３及び図３４は、第１実施形態の変形例を示している。

これら図３３及び図３４に示すように、本実施形態に係る検体検査装置１は、上述した第１実施形態と同様に、上ヨーク２２と下ヨーク２４とによりヨーク２０が構成されている。上ヨーク２２については上述した第１実施形態と同様の構成であるが、下ヨーク２４については、上述した第１実施形態と比べて、さらに追加ヨーク４０が設けられている。

具体的には、下ヨーク２４を上方から見た状態において、下横架ヨーク２４ａと十文字に交差する位置関係で、追加ヨーク４０が設けられている。この追加ヨーク４０は、下横架ヨーク４０ａと、下側面ヨーク４０ｂ、４０ｃと、傾斜ヨーク４０ｄ、４０ｅとを備えて構成されている。

下横架ヨーク４０ａは、下ヨーク２４を上から見た状態で、下横架ヨーク４０ａと交差する方向に、特に本実施形態においては直交する方向に配置されている。換言すれば、下横架ヨーク２４ａは検査容器１６の短手方向に延びているのに対し、下横架ヨーク４０ａは検査容器１６の長手方向に延びている。

下横架ヨーク４０ａの一端部から下側面ヨーク４０ｂが起立しており、その他端部から下側面ヨーク４０ｃが起立している。下側面ヨーク４０ｂ、４０ｃは、下中央ヨーク３２の高さの途中部分の高さまで延びている。本実施形態においては、下側面ヨーク４０ｂ、４０ｃは、下磁場印加部１２の高さよりも僅かに高い位置まで延びており、その上端部が下磁場印加部１２よりも高く位置している。

そして、下側面ヨーク４０ｂ、４０ｃの上端部から、斜めに、傾斜ヨーク４０ｄ、４０ｅがそれぞれ設けられている。すなわち、下側面ヨーク４０ｂの上端部から、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａ近傍に向けて、傾斜ヨーク４０ｄが設けられており、下側面ヨーク４０ｃの上端部から、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａ近傍に設けて、傾斜ヨーク４０ｅが設けられている。換言すれば、傾斜ヨーク４０ｄ、４０ｅは、それぞれ、下中央ヨーク３２に近づく方向に傾斜しており、その先端部が磁束放出部３２ａに接触しない程度に近接している。

このため、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａに向けて放出された磁束は、その一部が、近接している傾斜ヨーク４０ｄ、４０ｅに流れ込む。この結果、反対側の上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａに流れる磁束は減少する。ここで、上述したように、磁力は磁束密度と磁場勾配の積によって定まることから、下中央ヨーク３２から下中央ヨーク３２までの磁場勾配を急峻にすることにより、磁力を増大させることができる。これにより、下磁場印加部１２を駆動させて下向きの磁場を発生させた際の検査容器１６に印加される磁力を増大させることができる。

なお、本実施形態においては、下ヨーク２４に追加ヨーク４０を設けているが、上ヨーク２２には設けていない。これは、下磁場印加部１２を駆動させて、検査液中を光導波路上まで磁性粒子を沈降させる際には、強い磁力を発生させれば、その分、沈降に要する時間を短縮することができるが、上磁場印加部１０を駆動させて、光導波路上のセンシングエリアに結合していない磁性粒子を検査液の上方に引き上げる際には、あまり強い磁力で磁性粒子を引き上げると、抗原抗体反応によりセンシングエリアに結合している磁性粒子までも引き剥がしてしまう恐れがあるからである。

また、本実施形態においては、下側面ヨーク４０ｂと傾斜ヨーク４０ｄとを別部材で構成し両者を結合させるとともに、下側面ヨーク４０ｃと傾斜ヨーク４０ｅとを別部材で構成し両者を結合させることとしたが、これらをそれぞれ一体部材で形成し折り曲げ加工により構成することもできる。すなわち、１枚のヨーク部材を折り曲げ加工することにより、下側面ヨーク４０ｂと傾斜ヨーク４０ｄを構成し、別の１枚のヨーク部材を折り曲げ加工することにより、下側面ヨーク４０ｃと傾斜ヨーク４０ｅとを構成するようにしてもよい。

図３５は、第６実施形態の変形例に係る検体検査装置１における部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図であり、上述した第４実施形態における図１６に対応する図である。図３６は、図３５に示す検体検査装置１におけるＸＸＸＶＩ断面図（ＸＺ面断面図）である。すなわち、図３５及び図３６は、第４実施形態の変形例を示している。

これら図３５及び図３６に示すように、本実施形態に係る検体検査装置１は、上述した第４実施形態と同様に、上ヨーク２２と下ヨーク２４とによりヨーク２０が構成されている。上ヨーク２２については上述した第４実施形態と同様に４本の上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇを備えて構成されているが、下ヨーク２４については、上述した第４実施形態と比べて、さらに追加ヨーク４０が設けられている。

具体的には、下ヨーク２４を上方から見た状態において、下横架ヨーク２４ａの両端部から下中央ヨーク３２を挟み込むような位置関係で、追加ヨーク４０が設けられている。この追加ヨーク４０は、下側面ヨーク４０ｂ、４０ｃと、水平ヨーク４０ｆ、４０ｈと、傾斜ヨーク４０ｇ、４０ｉとを備えて構成されている。

図３５及び図３６の例では、下ヨーク２４の下横架ヨーク２４ａが矩形平板状をなしていることから、上述した追加ヨーク４０の下横架ヨーク４０ａの役割も果たしている。この下横架ヨーク２４ａの一端部から下側面ヨーク４０ｂが起立しており、その他端部から下側面ヨーク４０ｃが起立している。下側面ヨーク４０ｂ、４０ｃは、下中央ヨーク３２の高さの途中部分の高さまで延びている。本実施形態においては、下側面ヨーク４０ｂ、４０ｃは、下磁場印加部１２の高さよりも僅かに高い位置まで延びており、その上端部が下磁場印加部１２よりも高く位置している。

そして、下側面ヨーク４０ｂ、４０ｃの上端部から、それぞれ、水平ヨーク４０ｆ、４０ｈが下中央ヨーク３２の方向に延びており、これら水平ヨーク４０ｆ、４ｈの先端部から、それぞれ、斜めに、傾斜ヨーク４０ｇ、４０ｉが設けられている。すなわち、下側面ヨーク４０ｂの上端部から、下中央ヨーク３２に向けて水平に水平ヨーク４０ｆが設けられており、さらに、水平ヨーク４０ｆの先端部から下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａ近傍に向けて、傾斜ヨーク４０ｇが設けられている。また、下側面ヨーク４０ｃの上端部から、下中央ヨーク３２に向けて水平に水平ヨーク４０ｈが設けられており、さらに、水平ヨーク４０ｈの先端部から下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａ近傍に向けて、傾斜ヨーク４０ｉが設けられている。換言すれば、傾斜ヨーク４０ｇ、４０ｉは、それぞれ、下中央ヨーク３２に近づく方向に傾斜しており、その先端部が磁束放出部３２ａに接触しない程度に近接している。

このため、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａに向けて放出された磁束は、その一部が、近接している傾斜ヨーク４０ｇ、４０ｉに流れ込む。この結果、反対側の上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａに流れる磁束は減少する。ここで、上述したように、磁力は磁束密度と磁場勾配の積によって定まることから、下中央ヨーク３２から下中央ヨーク３２までの磁場勾配を急峻にすることにより、磁力を増大させることができる。これにより、下磁場印加部１２を駆動させて下向きの磁場を発生させた際の検査容器１６に印加される磁力を増大させることができる。

なお、本実施形態においては、下側面ヨーク４０ｂと水平ヨーク４０ｆと傾斜ヨーク４０ｇとを別部材で構成し、それぞれを結合させるとともに、下側面ヨーク４０ｃと水平ヨーク４０ｈと傾斜ヨーク４０ｉとを別部材で構成し、それぞれを結合させることとしたが、これらをそれぞれ一体部材で形成し折り曲げ加工により構成することもできる。すなわち、１枚のヨーク部材を２回折り曲げ加工することにより、下側面ヨーク４０ｂと水平ヨーク４０ｆと傾斜ヨーク４０ｇを構成し、別の１枚のヨーク部材を２回折り曲げ加工することにより、下側面ヨーク４０ｃと水平ヨーク４０ｈと傾斜ヨーク４０ｉとを構成するようにしてもよい。

図３７は、第６実施形態の別の変形例に係る検体検査装置１における部分的な内部構造のＹＺ面に関する側面図であり、上述した第４実施形態における図２２に対応する図である。図３８は、図３７に示す検体検査装置１におけるＸＸＸＶＩ断面図（ＸＺ面断面図）である。すなわち、図３７及び図３８は、第４実施形態の変形例を示している。

これら図３７及び図３８に示すように、本実施形態に係る検体検査装置１は、上述した第４実施形態と同様に、上ヨーク２２と下ヨーク２４とによりヨーク２０が構成されている。上ヨーク２２は上述した第４実施形態と同様に４本の上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇを備えて構成されており、下ヨーク２４も上述した第４実施形態と同様に４本の下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇを備えて構成されているが、下ヨーク２４については、上述した第４実施形態と比べて、さらに追加ヨーク４０が設けられている。

具体的には、下ヨーク２４を上方から見た状態において、下ヨーク２４の両側から下中央ヨーク３２を挟み込むような位置関係で、追加ヨーク４０が設けられている。追加ヨーク４０は、支持ヨーク４０ｊ、４０ｌと、傾斜ヨーク４０ｋ、４０ｍとを備えて構成されている。

図３７及び図３８の例では、互いに向かい合うように、一対の支持ヨーク４０ｊ、４０ｌが配置されている。すなわち、４本の下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇのうち、互いに隣接する２本の下側面ヨーク２４ｅ、２４ｆの間に支持ヨーク４０ｌが横架されており、互いに隣接する２本の下側面ヨーク２４ｄ、２４ｇの間に支持ヨーク４０ｊが横架されている。

より具体的には、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｆと下側面ヨーク２４ｅとの間に支持ヨーク４０ｌが架け渡されている。この支持ヨーク４０ｌは、下磁場印加部１２の高さとほぼ同等の高さの位置に、下側面ヨーク２４ｆと下側面ヨーク２４ｅとの間を結んで懸架するように設けられている。支持ヨーク４０ｌの中央部分からは、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａに向けて上方に傾斜しながら延びる、傾斜ヨーク４０ｍが設けられている。換言すれば、傾斜ヨーク４０ｍは、下中央ヨーク３２に近づく方向に傾斜しており、その先端部が磁束放出部３２ａに接触しない程度に磁束放出部３２ａに近接している。

同様に、下ヨーク２４の下側面ヨーク２４ｄと下側面ヨーク２４ｇとの間に支持ヨーク４０ｊが架け渡されている。この支持ヨーク４０ｊは、下磁場印加部１２の高さとほぼ同等の高さの位置に、下側面ヨーク２４ｄと下側面ヨーク２４ｇとの間を結んで懸架するように設けられている。支持ヨーク４０ｊの中央部分からは、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａに向けて上方に傾斜しながら延びる、傾斜ヨーク４０ｋが設けられている。換言すれば、傾斜ヨーク４０ｋは、下中央ヨーク３２に近づく方向に傾斜しており、その先端が磁束放出部３２ａに接触しない程度に磁束放出部３２ａに近接している。

このため、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａに向けて放出された磁束は、その一部が、近接している傾斜ヨーク４０ｋ、４０ｍに流れ込む。この結果、反対側の上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａに流れる磁束は減少する。ここで、上述したように、磁力は磁束密度と磁場勾配の積によって定まることから、下中央ヨーク３２から下中央ヨーク３２までの磁場勾配を急峻にすることにより、磁力を増大させることができる。これにより、下磁場印加部１２を駆動させて下向きの磁場を発生させた際の検査容器１６に印加される磁力を増大させることができる。

なお、本実施形態の変形例においては、支持ヨーク４０ｊと傾斜ヨーク４０ｋとを別部材で構成し両者を結合させるとともに、支持ヨーク４０ｌと傾斜ヨーク４０ｍとを別部材で構成し両者を結合させることとしたが、これらをそれぞれ一体部材で形成し折り曲げ加工により構成することもできる。すなわち、１枚のＴ字型のヨーク部材を折り曲げ加工することにより、支持ヨーク４０ｊと傾斜ヨーク４０ｋを構成し、別の１枚のＴ字型のヨーク部材を折り曲げ加工することにより、支持ヨーク４０ｌと傾斜ヨーク４０ｍとを構成するようにしてもよい。

〔第７実施形態〕
第７実施形態は、上述した第６実施形態における図３５及び図３６に示す検体検査装置１に、さらに変形を加えたものである。図３９乃至図４１は、第７実施形態に係る検体検査装置１を示す図である。すなわち、図３９は、本実施形態に係る検体検査装置１の部分的な内部構造のＸＺ面に関する側面図であり、図４０は、そのＹＺ面に関する側面図である。図４１は、本実施形態に係る検体検査装置１の斜視図である。また、図３９は、図４１の矢印ＸＸＸＩＸ方向から見た検体検査装置１の部分的側面図であり、図４０は、図４１の矢印ＸＬ方向から見た検体検査装置１の部分的側面図である。

これら図３９乃至図４１に示すように、本実施形態に係る検体検査装置１は、上述した第６実施形態における図３５及び図３６の例と同様に、上ヨーク２２と下ヨーク２４とによりヨーク２０が構成されている。但し、上ヨーク２２については、４本の上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇを備えて構成されているが、下ヨーク２４については、４本の下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇと、追加ヨーク４０とが設けられている。

具体的には、下ヨーク２４を上方から見た状態において、４本の下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇに加えて、下横架ヨーク２４ａの両端部から下中央ヨーク３２を挟み込むような位置関係で、追加ヨーク４０が設けられている。この追加ヨーク４０は、上述同様に、下側面ヨーク４０ｂ、４０ｃと、水平ヨーク４０ｆ、４０ｈと、傾斜ヨーク４０ｇ、４０ｉとを備えて構成されている。

さらに、本実施形態においては、上ヨーク２２における上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇの下端部には上拡大部２６ｄ～２６ｇがそれぞれ形成されており、下ヨーク２４における下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇの上端部には下拡大部２８ｄ～２８ｇがそれぞれ形成されている。そして、上拡大部２６ｄ～２６ｇと下拡大部２８ｄ～２８ｇとのそれぞれの間の空間が、間隙ＳＰを形成している。すなわち、本実施形態においては、上ヨーク２２と下ヨーク２４との間に、４つの間隙ＳＰが形成されている。このように上ヨーク２２と下ヨーク２４とを構成することにより、磁束が漏れやすい上ヨーク２２と下ヨーク２４との間の切れ目で、上ヨーク２２と下ヨーク２４との対向面積を上拡大部２６ｄ～２６ｇと下拡大部２８ｄ～２８ｇにより増大させて、磁束をより漏れにくくしている。

また、本実施形態においては、上横架ヨーク２２ａと上側面ヨーク２２ｄ～２２ｇと上拡大部２６ｄ～２６ｇは、曲げ加工により一体に形成されている。すなわち、１枚の板状の部材を切断して曲げ加工をすることにより、上ヨーク２２が形成されている。同様に、下横架ヨーク２４ａと下側面ヨーク２４ｄ～２４ｇと下拡大部２８ｄ～２８ｇと追加ヨーク４０とは、曲げ加工により一体に形成されている。すなわち、１枚の板状の部材を切断して曲げ加工をすることにより、下ヨーク２４が形成されている。

このように検体検査装置１を構成することにより、図３５及び図３６に示した検体検査装置１と同様に、下中央ヨーク３２の磁束放出部３２ａから上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａに向けて放出された磁束は、その一部が、近接している傾斜ヨーク４０ｇ、４０ｉに流れ込む。この結果、反対側の上中央ヨーク３０の磁束放出部３０ａに流れる磁束は減少する。ここで、上述したように、磁力は磁束密度と磁場勾配の積によって定まることから、下中央ヨーク３２から上中央ヨーク３０までの磁場勾配を急峻にすることにより、磁力を増大させることができる。これにより、下磁場印加部１２を駆動させて下向きの磁場を発生させた際の検査容器１６に印加される磁力を増大させることができる。

以上、いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例としてのみ提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図したものではない。本明細書で説明した新規な装置および方法は、その他の様々な形態で実施することができる。また、本明細書で説明した装置および方法の形態に対し、発明の要旨を逸脱しない範囲内で、種々の省略、置換、変更を行うことができる。添付の特許請求の範囲およびこれに均等な範囲は、発明の範囲や要旨に含まれるこのような形態や変形例を含むように意図されている。

例えば、上述した各実施形態においては、支持手段により、上磁場印加部１０と上ヨーク２２の横方向への移動が図面におけるＸ方向（検査容器１６の長手方向）にできるように構成したが、これら上磁場印加部１０と上ヨーク２２の移動方向は、支持フレーム１４やこの支持フレーム１４に載置された検査容器１６と干渉しない限り、任意の方向に移動させることができる。例えば、上磁場印加部１０と上ヨーク２２が、図面のＹ方向（検査容器１６の短手方向）にできるように支持手段を構成しても良い。また、上磁場印加部１０と上ヨーク２２が、Ｘ方向とＹ方向のとの間の斜め方向に移動できるように支持手段を構成することもでき、さらには、旋回方向など、種々の方向に移動できるように支持手段を構成することができる。

また、上述した各実施形態では、図４２に示すように、上磁場印加部１０と上ヨーク２２とを支持手段１００により移動可能に支持したが、図４３に示すように、下磁場印加部１２と下ヨーク２４とを移動可能に支持手段１００が支持するようにしてもよい。また、図４４に示すように、上磁場印加部１０と上ヨーク２２とを移動可能に支持手段１００が支持するとともに、下磁場印加部１２と下ヨーク２４も移動可能に支持手段１００が支持するようにしてもよい。すなわち、支持手段１００は、上磁場印加部１０及び上ヨーク２２と、下磁場印加部１２及び下ヨーク２４とのうちの少なくとも一方を、移動可能に支持することができる。換言すれば、支持手段１００は、上ヨーク２２と下ヨーク２４の少なくとも一方を移動可能に支持することができる。

１…検体検査装置、１０…上磁場印加部、１２…下磁場印加部、１４…支持フレーム、１６…検査容器、１８…光学部、２０…ヨーク、２２…上ヨーク、２２ａ…上横架ヨーク、２２ｂ…上側面ヨーク、２２ｃ…上側面ヨーク、２２ｄ…上側面ヨーク、２２ｅ…上側面ヨーク、２２ｆ…上側面ヨーク、２２ｇ…上側面ヨーク、２４…下ヨーク、２４ａ…下横架ヨーク、２４ｂ…下側面ヨーク、２４ｃ…下側面ヨーク、２４ｄ…下側面ヨーク、２４ｅ…下側面ヨーク、２４ｆ…下側面ヨーク、２４ｇ…下側面ヨーク、２６ｂ…上拡大部、２６ｃ…上拡大部、２８ｂ…下拡大部、２８ｃ…下拡大部、３０…上中央ヨーク、３０ａ…磁束放出部、３２…下中央ヨーク、３２ａ…磁束放出部、４０…追加ヨーク、４０ａ…下横架ヨーク、４０ｂ…下側面ヨーク、４０ｃ…下側面ヨーク、４０ｄ…傾斜ヨーク、４０ｅ…傾斜ヨーク、４０ｆ…水平ヨーク、４０ｇ…傾斜ヨーク、４０ｈ…水平ヨーク、４０ｉ…傾斜ヨーク、４０ｊ…支持ヨーク、４０ｋ…傾斜ヨーク、４０ｌ…支持ヨーク、４０ｍ…傾斜ヨーク、ＳＰ…間隙

Claims (22)

1. 検査対象物質を光により検出する光学部と、
   磁性粒子を含む検査液を収容する検査容器を支持する支持フレームと、
   前記検査容器に収容された前記検査液の前記磁性粒子を上方向又は下方向へ移動させる磁場を前記検査容器に印加する磁場印加部と、
   測定時に前記磁場印加部を磁気的に接続するヨークであって、上ヨークと下ヨークとを備えて構成されており、前記上ヨークと前記下ヨークが前記検査容器が支持される位置の周囲に配置され、前記上ヨークと前記下ヨークとの間に間隙が形成される、ヨークと、
   を備える検体検査装置であって、
   前記上ヨークは、前記検査容器の短手方向に前記検査容器を上方から挟むように配置された、一対の上側面ヨークを備えており、
   前記下ヨークは、前記短手方向に前記検査容器を下方から挟むように配置された、一対の下側面ヨークを備えており、
   前記一対の上側面ヨークと前記一対の下側面ヨークとの間に、それぞれ、前記間隙が形成されており、
   前記上ヨークの中央部分には上中央ヨークが設けられており、前記下ヨークの中央部分には下中央ヨークが設けられており、
   前記上中央ヨークと前記下中央ヨークとの間の空間に、前記支持フレームに載置された前記検査容器が位置するように構成されており、
   前記上中央ヨークの磁束放出部と前記下中央ヨークの磁束放出部との間の距離よりも、前記上ヨークの前記上側面ヨークと前記下ヨークの前記下側面ヨークとの間に形成される前記間隙の方が短い、検体検査装置。
2. 検査対象物質を光により検出する光学部と、
   磁性粒子を含む検査液を収容する検査容器を支持する支持フレームと、
   前記検査容器に収容された前記検査液の前記磁性粒子を上方向又は下方向へ移動させる磁場を前記検査容器に印加する磁場印加部と、
   測定時に前記磁場印加部を磁気的に接続するヨークであって、上ヨークと下ヨークとを備えて構成されており、前記上ヨークと前記下ヨークが前記検査容器が支持される位置の周囲に配置され、前記上ヨークと前記下ヨークとの間に間隙が形成される、ヨークと、
   を備える検体検査装置であって、
   前記上ヨークは、前記検査容器の短手方向に前記検査容器を上方から挟むように配置された、一対の上側面ヨークを備えており、
   前記下ヨークは、前記短手方向に前記検査容器を下方から挟むように配置された、一対の下側面ヨークを備えており、
   前記一対の上側面ヨークと前記一対の下側面ヨークとの間に、それぞれ、前記間隙が形成されており、
   前記光学部と前記支持フレームと前記検査容器とを合計した厚さよりも、前記上ヨークの前記上側面ヨークと前記下ヨークの前記下側面ヨークとの間に形成される前記間隙の方が短い、検体検査装置。
3. 前記光学部と前記支持フレームと前記検査容器とを合計した厚さよりも、前記上ヨークの前記上側面ヨークと前記下ヨークの前記下側面ヨークとの間に形成される前記間隙の方が短い、請求項１に記載の検体検査装置。
4. 前記磁場印加部は、前記支持フレームの上方に位置する上磁場印加部と、前記支持フレームの下方に位置する下磁場印加部とを備えており、
   前記上ヨークは前記上磁場印加部を保持しており、前記下ヨークは前記下磁場印加部を保持している、請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の検体検査装置。
5. 前記上ヨークは、前記上磁場印加部の上方で前記上磁場印加部を横架するように配置された上横架ヨークを備えており、前記上横架ヨークの両端部から垂下するように、前記一対の上側面ヨークが構成されており、
   前記下ヨークは、前記下磁場印加部の下方で前記下磁場印加部を横架するように配置された下横架ヨークを備えており、前記下横架ヨークの両端部から起立するように、前記一対の下側面ヨークが構成されている、請求項４に記載の検体検査装置。
6. 検査対象物質を光により検出する光学部と、
   磁性粒子を含む検査液を収容する検査容器を支持する支持フレームと、
   前記検査容器に収容された前記検査液の前記磁性粒子を上方向又は下方向へ移動させる磁場を前記検査容器に印加する磁場印加部と、
   測定時に前記磁場印加部を磁気的に接続するヨークであって、上ヨークと下ヨークとを備えて構成されており、前記上ヨークと前記下ヨークが前記検査容器が支持される位置の周囲に配置され、前記上ヨークと前記下ヨークとの間に間隙が形成される、ヨークと、
   を備える検体検査装置であって、
   前記磁場印加部は、前記支持フレームの上方に位置する上磁場印加部と、前記支持フレームの下方に位置する下磁場印加部とを備えており、
   前記上ヨークは、前記上磁場印加部の上方で前記検査容器の短手方向に前記上磁場印加部を横架するように配置された上横架ヨークと、前記上横架ヨークの両端部から前記検査容器の前記短手方向に前記検査容器を上方から挟むように垂下する一対の上側面ヨークとを、備えており、
   前記下ヨークは、前記下磁場印加部の下方で前記検査容器の前記短手方向に前記下磁場印加部を横架するように配置された下横架ヨークを備えており、
   前記一対の上側面ヨークは、それぞれ、前記下ヨークの前記下横架ヨークにおける下側底面まで延びており、
   前記上側面ヨークの内側側面と、前記下横架ヨークの両端部における端面との間に、それぞれ、前記間隙が形成される、検体検査装置。
7. 検査対象物質を光により検出する光学部と、
   磁性粒子を含む検査液を収容する検査容器を支持する支持フレームと、
   前記検査容器に収容された前記検査液の前記磁性粒子を上方向又は下方向へ移動させる磁場を前記検査容器に印加する磁場印加部と、
   測定時に前記磁場印加部を磁気的に接続するヨークであって、上ヨークと下ヨークとを備えて構成されており、前記上ヨークと前記下ヨークが前記検査容器が支持される位置の周囲に配置され、前記上ヨークと前記下ヨークとの間に間隙が形成される、ヨークと、
   を備える検体検査装置であって、
   前記磁場印加部は、前記支持フレームの上方に位置する上磁場印加部と、前記支持フレームの下方に位置する下磁場印加部とを備えており、
   前記上ヨークは、前記上磁場印加部の上方で前記検査容器の短手方向に前記上磁場印加部を横架するように配置された上横架ヨークを備えており、
   前記下ヨークは、前記下磁場印加部の下方で前記検査容器の前記短手方向に前記下磁場印加部を横架するように配置された下横架ヨークと、前記下横架ヨークの両端部から前記検査容器の前記短手方向に前記検査容器を下方から挟むように起立する一対の下側面ヨークとを、を備えており、
   前記一対の下側面ヨークは、それぞれ、前記上ヨークの前記上横架ヨークにおける上側表面まで延びており、
   前記下側面ヨークの内側側面と、前記上横架ヨークの両端部における端面との間に、それぞれ、前記間隙が形成される、検体検査装置。
8. 検査対象物質を光により検出する光学部と、
   磁性粒子を含む検査液を収容する検査容器を支持する支持フレームと、
   前記検査容器に収容された前記検査液の前記磁性粒子を上方向又は下方向へ移動させる磁場を前記検査容器に印加する磁場印加部と、
   測定時に前記磁場印加部を磁気的に接続するヨークであって、上ヨークと下ヨークとを備えて構成されており、前記上ヨークと前記下ヨークが前記検査容器が支持される位置の周囲に配置され、前記上ヨークと前記下ヨークとの間に間隙が形成される、ヨークと、
   を備える検体検査装置であって、
   前記上ヨークは、前記ヨークの上端部に配置された上横架ヨークと、前記上横架ヨークの中央部分に配置された上中央ヨークと、前記上中央ヨークを中心に対称に配置された、４本の上側面ヨークを備えており、
   前記下ヨークは、前記ヨークの下端部に配置された下横架ヨークと、前記下横架ヨークの中央部分に配置された下中央ヨークと、前記下中央ヨークを中心に対称に配置された、４本の下側面ヨークを備えており、
   前記４本の上側面ヨークと前記４本の下側面ヨークとの間に、それぞれ、前記間隙が形成される、検体検査装置。
9. 検査対象物質を光により検出する光学部と、
   磁性粒子を含む検査液を収容する検査容器を支持する支持フレームと、
   前記検査容器に収容された前記検査液の前記磁性粒子を上方向又は下方向へ移動させる磁場を前記検査容器に印加する磁場印加部と、
   測定時に前記磁場印加部を磁気的に接続するヨークであって、上ヨークと下ヨークとを備えて構成されており、前記上ヨークと前記下ヨークが前記検査容器が支持される位置の周囲に配置され、前記上ヨークと前記下ヨークとの間に間隙が形成される、ヨークと、
   を備える検体検査装置であって、
   前記上ヨークは、前記ヨークの上端部に配置された上横架ヨークと、前記上横架ヨークの中央部分に配置された上中央ヨークと、前記上中央ヨークを中心に対称に配置された、４本の上側面ヨークを備えており、
   前記下ヨークは、前記ヨークの下端部に配置された下横架ヨークを備えており、
   前記４本の上側面ヨークは、前記下横架ヨークの近傍まで延びており、前記４本の上側面ヨークの下端部と前記下横架ヨークとの間に、それぞれ、前記間隙が形成される、検体検査装置。
10. 検査対象物質を光により検出する光学部と、
    磁性粒子を含む検査液を収容する検査容器を支持する支持フレームと、
    前記検査容器に収容された前記検査液の前記磁性粒子を上方向又は下方向へ移動させる磁場を前記検査容器に印加する磁場印加部と、
    測定時に前記磁場印加部を磁気的に接続するヨークであって、上ヨークと下ヨークとを備えて構成されており、前記上ヨークと前記下ヨークが前記検査容器が支持される位置の周囲に配置され、前記上ヨークと前記下ヨークとの間に間隙が形成される、ヨークと、
    を備える検体検査装置であって、
    前記上ヨークは、前記ヨークの上端部に配置された上横架ヨークを備えており、
    前記下ヨークは、前記ヨークの下端部に配置された下横架ヨークと、前記下横架ヨークの中央部分に配置された下中央ヨークと、前記下中央ヨークを中心に対称に配置された、４本の下側面ヨークを備えており、
    前記４本の下側面ヨークは、前記上横架ヨークの近傍まで延びており、前記４本の下側面ヨークの上端部と前記上横架ヨークとの間に、それぞれ、前記間隙が形成される、検体検査装置。
11. 前記上ヨークは、前記上ヨークの前記上側面ヨークのそれぞれの下端部に形成されて、この下端部の面積を拡大する、上拡大部をさらに備えており、
    前記下ヨークは、前記下ヨークの前記下側面ヨークのそれぞれの上端部に形成されて、この上端部の面積を拡大する、下拡大部をさらに備えており、
    互いに対向する前記上拡大部と前記下拡大部との間に、前記間隙が形成される、請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の検体検査装置。
12. 前記上側面ヨークの下端部に形成された前記上拡大部と、前記下側面ヨークの上端部に形成された前記下拡大部とは、前記ヨークの内側方向に水平に延びて互いに対向することにより、前記間隙が形成される、請求項１１に記載の検体検査装置。
13. 前記上側面ヨークの下端部に形成された前記上拡大部は、前記ヨークの内側方向に向かって下がるように傾斜しつつ延びており、
    前記下側面ヨークの上端部に形成された前記下拡大部は、前記ヨークの外側方向に向かって上がるように傾斜しつつ延びており、
    前記上拡大部と前記下拡大部とは、互いに、前記ヨークの内側方向に向かって下がるように傾斜しつつ対向して前記間隙が形成される、請求項１１に記載の検体検査装置。
14. 前記上側面ヨークの下端部に形成された前記上拡大部は、前記ヨークの外側方向に向かって水平に延びており、
    前記下側面ヨークの上端部に形成された前記下拡大部は、前記ヨークの内側方向に向かって水平に延びており、
    前記上拡大部と前記下拡大部とは、互いに対向して前記間隙が形成される、請求項１１に記載の検体検査装置。
15. 検査対象物質を光により検出する光学部と、
    磁性粒子を含む検査液を収容する検査容器を支持する支持フレームと、
    前記検査容器に収容された前記検査液の前記磁性粒子を上方向又は下方向へ移動させる磁場を前記検査容器に印加する磁場印加部と、
    測定時に前記磁場印加部を磁気的に接続するヨークであって、上ヨークと下ヨークとを備えて構成されており、前記上ヨークと前記下ヨークが前記検査容器が支持される位置の周囲に配置され、前記上ヨークと前記下ヨークとの間に間隙が形成される、ヨークと、
    を備える検体検査装置であって、
    前記上ヨークは、前記検査容器の短手方向に前記検査容器を上方から挟むように配置された、一対の上側面ヨークを備えており、
    前記下ヨークは、前記短手方向に前記検査容器を下方から挟むように配置された、一対の下側面ヨークを備えており、
    前記一対の上側面ヨークと前記一対の下側面ヨークとの間に、それぞれ、前記間隙が形成されており、
    前記上ヨークは、前記上ヨークの前記上側面ヨークのそれぞれの下端部に形成されて、この下端部の面積を拡大する、上拡大部をさらに備えており、
    前記下ヨークは、前記下ヨークの前記下側面ヨークのそれぞれの上端部に形成されて、この上端部の面積を拡大する、下拡大部をさらに備えており、
    互いに対向する前記上拡大部と前記下拡大部との間に、前記間隙が形成されており、
    前記上側面ヨークの下端部に形成された前記上拡大部は、前記ヨークの内側方向に向かって下がるように傾斜しつつ延びており、
    前記下側面ヨークの上端部に形成された前記下拡大部は、前記ヨークの外側方向に向かって上がるように傾斜しつつ延びており、
    前記上拡大部と前記下拡大部とは、互いに、前記ヨークの内側方向に向かって下がるように傾斜しつつ対向して前記間隙が形成される、検体検査装置。
16. 検査対象物質を光により検出する光学部と、
    磁性粒子を含む検査液を収容する検査容器を支持する支持フレームと、
    前記検査容器に収容された前記検査液の前記磁性粒子を上方向又は下方向へ移動させる磁場を前記検査容器に印加する磁場印加部と、
    測定時に前記磁場印加部を磁気的に接続するヨークであって、上ヨークと下ヨークとを備えて構成されており、前記上ヨークと前記下ヨークが前記検査容器が支持される位置の周囲に配置され、前記上ヨークと前記下ヨークとの間に間隙が形成される、ヨークと、
    を備える検体検査装置であって、
    前記上ヨークは、前記検査容器の短手方向に前記検査容器を上方から挟むように配置された、一対の上側面ヨークを備えており、
    前記下ヨークは、前記短手方向に前記検査容器を下方から挟むように配置された、一対の下側面ヨークを備えており、
    前記一対の上側面ヨークと前記一対の下側面ヨークとの間に、それぞれ、前記間隙が形成されており、
    前記上ヨークは、前記上ヨークの前記上側面ヨークのそれぞれの下端部に形成されて、この下端部の面積を拡大する、上拡大部をさらに備えており、
    前記下ヨークは、前記下ヨークの前記下側面ヨークのそれぞれの上端部に形成されて、この上端部の面積を拡大する、下拡大部をさらに備えており、
    互いに対向する前記上拡大部と前記下拡大部との間に、前記間隙が形成されており、
    前記上側面ヨークの下端部に形成された前記上拡大部は、前記ヨークの外側方向に向かって水平に延びており、
    前記下側面ヨークの上端部に形成された前記下拡大部は、前記ヨークの内側方向に向かって水平に延びており、
    前記上拡大部と前記下拡大部とは、互いに対向して前記間隙が形成される、検体検査装置。
17. 検査対象物質を光により検出する光学部と、
    磁性粒子を含む検査液を収容する検査容器を支持する支持フレームと、
    前記検査容器に収容された前記検査液の前記磁性粒子を上方向又は下方向へ移動させる磁場を前記検査容器に印加する磁場印加部と、
    測定時に前記磁場印加部を磁気的に接続するヨークであって、上ヨークと下ヨークとを備えて構成されており、前記上ヨークと前記下ヨークが前記検査容器が支持される位置の周囲に配置され、前記上ヨークと前記下ヨークとの間に間隙が形成される、ヨークと、
    を備える検体検査装置であって、
    前記上ヨークは、前記検査容器の短手方向に前記検査容器を上方から挟むように形成された、一対の上側面ヨークと、前記上側面ヨークのそれぞれの下端部に形成されて、前記下端部の面積を拡大する、上拡大部とを、備えており、
    前記下ヨークは、前記ヨークの下端部に配置された下横架ヨークを備えており、
    前記下横架ヨークと、前記下横架ヨークに対向する前記上拡大部とにより、前記間隙が形成される、検体検査装置。
18. 検査対象物質を光により検出する光学部と、
    磁性粒子を含む検査液を収容する検査容器を支持する支持フレームと、
    前記検査容器に収容された前記検査液の前記磁性粒子を上方向又は下方向へ移動させる磁場を前記検査容器に印加する磁場印加部と、
    測定時に前記磁場印加部を磁気的に接続するヨークであって、上ヨークと下ヨークとを備えて構成されており、前記上ヨークと前記下ヨークが前記検査容器が支持される位置の周囲に配置され、前記上ヨークと前記下ヨークとの間に間隙が形成される、ヨークと、
    を備える検体検査装置であって、
    前記上ヨークは、前記検査容器の短手方向に前記検査容器を上方から挟むように配置された、一対の上側面ヨークを備えており、
    前記下ヨークは、前記短手方向に前記検査容器を下方から挟むように配置された、一対の下側面ヨークを備えており、
    前記一対の上側面ヨークと前記一対の下側面ヨークとの間に、それぞれ、前記間隙が形成されており、
    前記上ヨークの中央部分には上中央ヨークが設けられており、前記下ヨークの中央部分には下中央ヨークが設けられており、
    前記上中央ヨークと前記下中央ヨークとの間の空間に、前記支持フレームに載置された前記検査容器が位置するように構成されており、
    前記下ヨークは、前記一対の下側面ヨークの上端部から、前記下中央ヨークの上端部である磁束放出部の近傍まで延びる、一対の追加ヨークを、さらに備える、検体検査装置。
19. 前記下ヨークは、
    互いに向かい合うように配置された一対の支持ヨークであって、前記４本の下側面ヨークのうち、互いに隣接する２本の下側面ヨークの間にそれぞれ懸架された、一対の支持ヨークと、
    前記一対の支持ヨークから、前記下中央ヨークの上端部である磁束放出部の近傍まで上方に向けて傾斜しながら延びる、一対の傾斜ヨークと、
    をさらに備える、請求項８に記載の検体検査装置。
20. 前記上ヨークは、前記検査容器の長手方向に移動可能である、請求項１乃至請求項１９のいずれかに記載の検体検査装置。
21. 前記検査容器の設置または取り外しを行うための位置に、前記上ヨークと前記下ヨークの少なくとも一方を移動可能に支持する支持手段を、さらに備える請求項１乃至請求項２０のいずれかに記載の検体検査装置。
22. 前記上ヨークと前記下ヨークとの間の前記間隙は、前記支持フレームに支持された前記検査容器の側方に位置する、請求項１、請求項８、請求項１１乃至請求項１６、および請求項１８のいずれかに記載の検体検査装置。

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