JP7317600B2

JP7317600B2 - 赤外線測定装置、およびその測定方法

Info

Publication number: JP7317600B2
Application number: JP2019126827A
Authority: JP
Inventors: 弘治齊藤; 崇博北原
Original assignee: Rohm Co Ltd
Current assignee: Rohm Co Ltd
Priority date: 2019-07-08
Filing date: 2019-07-08
Publication date: 2023-07-31
Anticipated expiration: 2039-07-08
Also published as: JP2021012119A

Description

本発明は、近接物に照射した赤外線を測定することができる赤外線測定装置、およびその測定方法に関する。

タッチパネル方式を採用した表示装置を設けた機器（例えば、携帯電話機、スマートフォン、ＰＤＡ（Personal Digital Assistants）など）では、人体の一部がタッチパネルに接触することで誤動作を生じることがある。特に、スマートフォンでは、電話による通話を行う際に耳や顔等をタッチパネルに接触させる必要があり、耳や顔等の接触によりタッチパネルによる誤動作を防止するために、表示装置での表示をオフにしてタッチパネルでの操作を無効にする必要がある。

タッチパネルでの操作を無効にするために、タッチパネルに耳や顔等が近づいたことを検出するための測定装置として赤外線測定装置を採用している。当該赤外線測定装置は、近接物に照射した赤外線を測定することで対象物（たとえば、耳や顔等）が機器に接近したことを検出する光学式の近接センサ（以下、単に近接センサともいう）である。

近接センサは、赤外線ＬＥＤをパルス発光させて、対象物からの反射光を赤外線領域に感度ピークを有するフォトダイオードを用いて測定することで近接物の検出を行っている。しかし、近接センサで近接物を測定する場合、太陽光、白熱灯、ハロゲン光等の赤外線成分を含む周囲光の影響を受けて測定に誤差が生じる場合がある。そのため、近接センサで近接物を測定する場合、周囲光の影響を抑えることが可能な近接センサが開発されている（特許文献１）。

特開２０１０－１８５８５１号公報

特許文献１に示す近接センサでは、フォトダイオードの変化時間を測定、演算して閾値と比較するものであるから、周囲光の測定データが必要である。しかし、白熱灯、ハロゲン光、蛍光灯やＬＥＤ光源などを周囲光とする場合、商用電源の周波数５０／６０Ｈｚで周囲光の明るさが変動（フリッカ）することになる。

周囲光が変動した場合、近接センサでは、周囲光を測定するタイミングと対象物からの反射光を測定するタイミングとで周囲光の明るさが変わるので、周囲光の明るさが変化した分がノイズとして測定される。そのため、近接センサでは、周囲光の変化がノイズとして加算され、対象物からの反射光を精度良く測定することができない。

本発明は、上述した課題を解決するために創案されたものであり、近接測定により赤外反射光を測定する場合に、比較的簡単な測定により、周囲光がノイズとして含まれることを防止し、誤動作を抑制することができる赤外線測定装置、およびその測定方法を提供することを目的としている。

ある実施形態に従うと、近接物に赤外線を照射する赤外発光素子と、赤外発光素子が発光している状態において近接物で反射した赤外反射光、及び赤外発光素子が非発光の状態での周囲の光を測定する測定部と、測定部で測定した周囲の光の変動周期に基づく所定のタイミングで赤外発光素子、および測定部の駆動を制御する制御部と、測定部からの測定データを演算処理し、赤外反射光照度を算出する手段を有する演算処理部とを備え、制御部は、所定の周期ごと変動周期を更新するために、測定部で測定した周囲の光のピークレベルが所定期間変化しているか否かを判断し、測定部で測定した周囲の光のピークレベルが所定期間変化していない場合に変動周期を更新し、更新した変動周期に基づき所定のタイミングとして、測定部が光を測定するまでの第１の待ち時間および第２の待ち時間を算出し、第１の待ち時間は、周囲光の波形のピークからボトムの間でピークおよびボトムを外したタイミングで測定部が光を測定できるように算出される前記ピークからの待ち時間であり、第２の待ち時間は、第１の待ち時間以降において前記変動周期ごと繰り返し測定部が光を測定できるように算出される待ち時間であり、測定部は、所定のタイミングで赤外線が近接物で反射した赤外反射光を測定した第１の測定値と、赤外発光素子が非発光の状態で第１の測定値の測定時刻の前後の時刻で測定された第２の測定値及び第３の測定値を出力し、演算処理部は、第１の測定値から第２の測定値及び第３の測定値の平均を引き算して赤外反射光照度を算出する。

好ましくは、測定部の赤外光を測定する測定回路は、変動周期を測定する測定回路と回路を共有化している。

好ましくは、測定部の赤外光を受光する受光素子は、変動周期を測定するための受光素子と素子を共有化している。

ある実施形態に従うと、近接物に赤外線を照射する赤外発光素子と、赤外発光素子が発光している状態において近接物で反射した赤外反射光、及び赤外発光素子が非発光の状態での周囲の光を測定する測定部と、測定部で測定した周囲の光の変動周期に基づく所定のタイミングで赤外発光素子、および測定部の駆動を制御する制御部と、測定部からの測定データを演算処理し、赤外反射光照度を算出する手段を有する演算処理部とを備える赤外線測定装置で赤外反射光を測定する測定方法であって、測定部で赤外発光素子が非発光の状態での周囲の光を所定の周期ごと測定するステップと、測定部で測定した周囲の光のピークレベルが所定期間変化していない場合に変動周期を更新し、更新した変動周期に基づき所定のタイミングとして、測定部が光を測定するまでの第１の待ち時間および第２の待ち時間を算出するステップと、測定部で、所定のタイミングで赤外線が近接物で反射した赤外反射光を測定した第１の測定値と、赤外発光素子が非発光の状態で第１の測定値の測定時刻の前後の時刻で測定された第２の測定値及び第３の測定値を出力するステップと、演算処理部で、第１の測定値から第２の測定値及び第３の測定値の平均を引き算して赤外反射光照度を算出するステップとを含み、第１の待ち時間は、周囲光の波形のピークからボトムの間でピークおよびボトムを外したタイミングで測定部が光を測定できるように算出されるピークからの待ち時間であり、第２の待ち時間は、第１の待ち時間以降において前記変動周期ごと繰り返し測定部が光を測定できるように算出される待ち時間である。

ある実施形態に従う赤外線測定装置では、変動周期に基づく所定のタイミングで測定することで周囲光がノイズとして含まれることを防止し、誤動作を抑制することができる。

本実施の形態１に係る赤外線測定装置の全体構成を示す図である。本実施の形態１に係る赤外線測定装置の測定タイミングを説明するための図である。本実施の形態１に係る赤外線測定装置での周囲光と反射光との測定タイミングを説明するための図である。本実施の形態１に係る赤外線測定装置での測定を説明するためのフローチャートである。本実施の形態２に係る赤外線測定装置での周囲光と反射光との測定タイミングを説明するための図である。本実施の形態２に係る赤外線測定装置での測定を説明するためのフローチャートである。本実施の形態３に係る赤外線測定装置での２回の測定タイミングを説明するための図である。本実施の形態３に係る赤外線測定装置での周囲光と反射光との測定タイミングを説明するための図である。本実施の形態３に係る赤外線測定装置での測定を説明するためのフローチャートである。本実施の形態４に係る赤外線測定装置での周囲光と反射光との測定タイミングを説明するための図である。本実施の形態４に係る赤外線測定装置での測定を説明するためのフローチャートである。変形例に係る赤外線測定装置の構成を示すブロック図である。変形例に係る赤外線測定装置の受光素子の構成を示す図である。

以下に、本発明の実施の形態に係る赤外線測定装置について図面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一符号は同一または相当部分を示す。

（実施の形態１）
本実施の形態１に係る赤外線測定装置は、近接物に照射した赤外線を測定することで対象物が機器に接近したことを検出する光学式の近接センサを一例として以下に説明する。しかし、これに限られず近接センサと同じような構成で赤外線を測定する赤外線測定装置であれば、いずれの赤外線測定装置であってもよい。

図１は、実施の形態１に係る赤外線測定装置１００の全体構成を示す図である。赤外線測定装置１００は、近接測定部５０、レジスタ回路１４、ＰＳインタフェース１５、ＰＯＲ（パワーオンリセット）１６、Ｉ^２Ｃインタフェース１７等を有している。ここで、ＰＯＲ１６は、電源投入時にＩＣを初期化する。

また、赤外線測定装置１００は、演算処理部であるＭＣＵ（マイクロコントロールユニット）４４、赤外発光ダイオード（赤外発光素子）４２０等を備えている。ＭＣＵ４４は、外部の制御部であり、近接測定部５０のオン－オフ切り替え等を行う。赤外線測定装置１００には、ＬＥＤ用のＧＮＤ端子や回路素子のＧＮＤ端子等も設けられている。電源電圧ＶＤＤの端子には、キャパシタ４３０がＧＮＤとの間に挿入されており、これにより高周波ノイズをカットする。

近接測定部５０は、ＬＥＤパルス発生器１、赤外線ＬＥＤドライバ２、フリッカ測定用の受光素子３ａ、近接測定用の受光素子３ｂ、積分回路４、ＡＤ変換器５、対数変換器６、ＰＳコントロールロジック１８で構成される。ＰＳコントロールロジック１８は、近接測定部５０を制御するためのロジック回路である。また、ＰＳコントロールロジック１８は、ＡＤ変換器５やレジスタ回路１４からのデジタルデータに基づき演算、判定等の処理を行う。ＩＬＥＤの端子に、電源電圧ＶＤＤが供給された赤外発光ダイオード４２０のカソードが接続されている。赤外発光ダイオード４２０は、赤外線領域の光を発光させるダイオードである。

フリッカ測定用の受光素子３ａは、可視光線を感度良く検出するために、可視光や紫外線を透過させる赤外カットフィルタＦ１を受光面に有するフォトダイオードで構成される。また、受光素子３ａは、可視光線領域に感度ピークを有するフォトダイオードで構成されてもよい。近接測定用の受光素子３ｂは、赤外線を感度良く検出するために、可視光や紫外線をカットし、赤外線を透過させる可視光カットフィルタＦ２を受光面に有するフォトダイオードで構成される。また、受光素子３ｂは、赤外線領域に感度ピークを有するフォトダイオードで構成されてもよい。受光素子３ａと受光素子３ｂとは、積分回路４に対して直列に接続されている。受光素子３ａは、スイッチＳＷ１を介して積分回路４に、受光素子３ｂは、スイッチＳＷ２を介して積分回路４にそれぞれ接続されている。そのため、スイッチＳＷ１およびスイッチＳＷ２を切換えることで、積分回路４に入力される信号をフリッカ測定用の受光素子３ａからの信号とするのか、近接測定用の受光素子３ｂからの信号とするのかを切換えることができる。

近接測定による赤外反射光の測定については以下のように行われる。まず、ＬＥＤパルス発生器１で赤外発光ダイオード４２０を発光させるための基礎となるパルスを発生させ、これを赤外線ＬＥＤドライバ２に供給する。赤外線ＬＥＤドライバ２は、ＬＥＤパルス発生器１からのパルス信号に基づき、赤外発光ダイオード４２０を駆動させるためのパルス信号に変える。赤外発光ダイオード４２０が電流駆動であるため、赤外線ＬＥＤドライバ２から出力されるパルス信号は、電流パルス信号である。赤外線ＬＥＤドライバ２では、５ｍＡ～２００ｍＡまでの電流パルス信号を作成することができ、例えば５ｍＡ～１０ｍＡの範囲の電流パルス信号を使用する。また、電流パルス信号のデューティ比は、様々に変化させることができるが、発光期間は、例えば２５０μＳとすることができる。

このように、赤外線ＬＥＤドライバ２から発光ダイオードの駆動用電流パルス信号が赤外発光ダイオード４２０に供給されると、赤外発光ダイオード４２０は、駆動用電流パルス信号のオン期間に発光動作を行い、これを繰り返す。なお、近接測定部５０が周囲光を測定している時には、赤外発光ダイオード４２０を発光させない。赤外発光ダイオード４２０からの受光が周囲光の測定に対して誤差信号とならないようにするためである。

赤外発光ダイオード４２０から放射された赤外線は、近接物（対象物）４０に到達して反射する。近接物４００から反射して戻ってきた赤外反射光は、近接測定用の受光素子３ｂで受光される。つまり、スイッチＳＷ１をＯＦＦにし、スイッチＳＷ２をＯＮにすることで受光素子３ｂを積分回路４に接続する。また、赤外反射光の測定の前後で測定される周囲光は、フリッカ測定用の受光素子３ａで受光することにより、近接測定部５０で測定される。つまり、近接測定部５０は、フリッカ測定部として機能し、スイッチＳＷ１をＯＮにし、スイッチＳＷ２をＯＦＦにすることで受光素子３ａを積分回路４に接続する。赤外反射光は、受光素子３ｂで光電流に変換されて積分回路４に出力される。積分回路４では、光電流を増幅器とキャパシタとによる積分回路で積分し、その値がＡＤ変換器５に出力する。

ＡＤ変換器５は、積分回路４で積分された値をＡＤ変換してデジタル値として出力する。ここで、積分回路４およびＡＤ変換器５とで積分型ＡＤ変換回路を構成している。積分型ＡＤ変換回路では、光電流によるキャパシタへの電荷の充電と、キャパシタからの電荷の一括放電または段階放電とを繰り返すことで、光電流の値を積分して増幅し、増幅した値をデジタル値に変換している。

ＡＤ変換器５の出力は、対数変換器６に入力され、対数に変換される。対数変換器６では、例えば２１ビットの入力データを８ビットの対数データに変換して出力する。対数変換器６からの対数データはレジスタ回路１４に入力され保持される。レジスタ回路１４に保持されているデジタルデータは、Ｉ^２Ｃインタフェース１７を介してＭＣＵ４４に出力される。一方、近接測定が行われ、近接検出されると、ＰＳインタフェース１５を介して割り込み信号がＭＣＵ４４に伝達される。

周囲光の照度測定についても、近接測定部５０で行われる。周囲光の光源４１からの光が受光素子３aで受光されると、受光素子３ａでは光電変換作用により光電流が発生する。この光電流を増幅器とキャパシタとによる積分回路４で積分し、その値がＡＤ変換器５に入力される。ＡＤ変換器５によりＡＤ変換されたデジタル値は、対数変換器６に送信される。対数変換器６では、デジタル値を対数データに変換してレジスタ回路１４に送信し、送信された対数データはレジスタ回路１４で保持される。レジスタ回路１４に保持された周囲光測定データはＩ^２Ｃインタフェース１７を介してＭＣＵ４４に出力される。

赤外線測定装置１００では、上述したように単にフリッカセンサをそのまま追加した構成ではなく、近接測定部５０の回路を使って周囲光測定（発光なし測定）を繰り返し行うことでフリッカ測定を行っている。赤外線測定装置１００では、フリッカ測定用の回路と、近接測定用の回路とを別々に設けるのではなく、回路を一つ設けるだけでよく、回路を共有化できる。つまり、赤外線測定装置１００では、フリッカセンサと近接センサとを単に組み合わせたと考えるより、近接センサで周囲光測定を測定することができるようにシーケンスを変更したと考えることもできる。

次に、赤外線測定装置１００の近接測定における基本的な測定タイミングについて説明する。図２は、本実施の形態１に係る赤外線測定装置１００の測定タイミングを説明するための図である。図２（ａ）では、横軸が時間を示している。周囲光には、商用電源周波数（５０Ｈｚ、６０Ｈｚ）に基づく所定の周期で発光強度が変動している白熱やハロゲン光等の光源から光が含まれているため、周囲光の放射照度も変動する。

このため、赤外線測定装置１００では、赤外発光ダイオード４２０を発光させて対象物からの反射光を測定する前後に、周囲光の赤外線成分を測定し、これらの値の平均を対象物からの赤外反射光測定値から引き算することにより周囲光の赤外線成分を除去することができる。

図２（ａ）に示すように、赤外線測定装置１００は、赤外発光ダイオード４２０を発光させて赤外反射光を測定（反射光測定）する場合、この前後で赤外発光ダイオード４２０を発光させないで周囲光を測定（周囲光測定）する。反射光測定での測定値をＢ、この前後での周囲光の測定値をそれぞれＡ１、Ａ３とする。測定値Ｂには、図２（ｂ）に示すように赤外反射光の成分だけでなく、この時の周囲光の成分も重畳している。そのため、赤外反射光の成分を求めるには、測定値Ｂから周囲光の成分を減算する必要がある。周囲光の成分が、反射光測定時の前後での周囲光の測定値Ａ１と測定値Ａ２との平均値と等しいとすると、赤外反射光の成分は、Ｂ－（Ａ１＋Ａ２）／２で算出できる。この赤外反射光の成分が赤外線測定装置１００からの出力値となる。

ここで、周囲光の測定値Ａ１、Ａ２は、近接測定部５０において、受光素子３ａからの光電流に基づく放射照度として算出され、赤外反射光の測定値Ｂは、近接測定部５０において、受光素子３ｂからの光電流に基づく放射照度として算出される。つまり、図２（ｂ）で示すように、光源４１からの光が受光素子３aで受光され、受光素子３ａからの光電流に基づく放射照度が周囲光の測定値Ａ１、Ａ２である。赤外発光ダイオード４２０を発光させて近接物４００からの反射光と、光源４１からの光とが受光素子３ｂで受光され、受光素子３ｂからの光電流に基づく放射照度が赤外反射光の測定値Ｂである。なお、受光素子３ａ、受光素子３ｂおよび赤外発光ダイオード４２０の制御は、同じ近接測定部５０で行われる。

しかし、上述のように赤外反射光の成分を算出する方法では、測定するタイミングによって、周囲光変動の影響が大きくなる場合がある。図３は、本実施の形態１に係る赤外線測定装置１００での周囲光と反射光との測定タイミングを説明するための図である。なお、図３では、黒丸（図では、ハッチングした丸、以下同じ）が赤外反射光の測定タイミング、白丸が周囲光の測定タイミングをそれぞれ示している。図３（ａ）のように、赤外反射光の測定が周囲光の放射照度がピークとなる測定タイミングＡの場合、周囲光の成分は、赤外反射光の測定時の前後での周囲光の測定値よりも大きくなる。つまり、測定タイミングＡでは、周囲光変動の影響が大きくなる。そのため、赤外反射光の測定値Ｂから周囲光の測定値Ａ１と測定値Ａ２との平均値を減算しても、測定値Ｂから周囲光変動の影響を完全に除くことができない。

一方、図３（ａ）のように、赤外反射光の測定が周囲光の放射照度のピークを外した測定タイミングＢの場合、周囲光の成分は、赤外反射光の測定時の前後での周囲光の測定値のほぼ中間の値となる。つまり、測定タイミングＢでは、周囲光変動の影響が小さくなる。そのため、赤外反射光の測定値Ｂから周囲光の測定値Ａ１と測定値Ａ２との平均値を減算すると、測定値Ｂから周囲光変動の影響をほぼ除くことができる。

このように赤外反射光の成分を算出する方法では、測定タイミングによって周囲光の成分を除去することができず当該成分が残る場合があり、ノイズとして周囲光の成分が加算された赤外反射光の放射照度が算出される。算出した赤外反射光の放射照度にノイズとして周囲光の成分が加わると、近接物がなくても近接物が存在するという判定など、赤外線測定装置の誤動作の原因となる。

上述のような問題を解消するには、図３（ｂ）のように受光素子３ａで周囲光を測定して周囲光変動を把握した上で、周囲光の変動周期のピークを外したタイミングで近接測定部５０が赤外反射光を測定するように制御する必要がある。図３（ｂ）では、周囲光の変動周期のうち測定値の大きいピークを＋Ｐとし、測定値の小さいボトムを－Ｐとしている。そして、例えば、ＭＣＵ４４は、＋Ｐのピークから－Ｐのボトムまでの期間Ｔ１と、－Ｐのボトムから＋Ｐのピークまでの期間Ｔ２とから周囲光の変動周期（Ｔ１＋Ｔ２）の１／４の期間（１／４周期）を求める。ＰＳコントロールロジック１８は、周囲光の変動周期のピークから１／４の期間外れたタイミングを測定タイミングとして近接測定部５０を制御する。

次に、本実施の形態１に係る赤外線測定装置１００での測定をフローチャートに基づいて説明する。図４は、本実施の形態１に係る赤外線測定装置１００での測定を説明するためのフローチャートである。まず、赤外線測定装置１００は、受光素子３ａで周囲光を連続測定する（ステップＳ１０）。

赤外線測定装置１００は、ステップＳ１０で連続測定して得られた結果から、周囲光の変動周期を検出し、変動周期の位相を把握することができたか否かを判断する（ステップＳ１１）。具体的に、赤外線測定装置１００は、図３（ｂ）で示したように周囲光の変動周期（Ｔ１＋Ｔ２）を検出し、周囲光の変動周期のどのタイミングで測定するのかが分かるように変動周期の位相を把握する。変動周期の位相を把握することができない場合（ステップＳ１１でＮＯ）、赤外線測定装置１００は、処理をステップＳ１０に戻し、周囲光の連続測定を継続する。

変動周期の位相を把握することができた場合（ステップＳ１１でＹＥＳ）、赤外線測定装置１００は、把握した位相に基づき赤外反射光の測定タイミングを算出する（ステップＳ１２）。具体的に、赤外線測定装置１００は、図３（ｂ）で示したように周囲光の変動周期のピークから１／４の期間外れたタイミングを測定タイミングとして算出する。なお、測定タイミングは、周囲光の変動周期のピークから１／４の期間外れたタイミングには限定されず、周囲光変動の影響が少ないタイミング（例えば、周囲光の変動周期のピークから外れたタイミング）であればよい。なお、周囲光の変動周期や位相が把握でききない場合、赤外線測定装置１００は、周囲光にフリッカ成分なしと判断して、通常の測定タイミング（デフォルトタイミング）で赤外反射光を測定してもよい。

赤外線測定装置１００は、ステップＳ１２で算出した測定タイミングで赤外反射光を測定する（ステップＳ１３）。赤外線測定装置１００は、図３（ｂ）に示す黒丸のタイミングで赤外反射光を測定する。

赤外線測定装置１００は、測定した赤外反射光の前後の周囲光の平均値との差から赤外反射光照度を算出する（ステップＳ１４）。赤外線測定装置１００は、図３（ｂ）に示す黒丸の前後にある白丸の周囲光の測定値から平均値を求め、黒丸の赤外反射光の測定値から当該平均値を減算する。これにより、赤外線測定装置１００は、周囲光変動の影響をほぼ除いた赤外反射光照度を得ることができる。

以上のように、本実施の形態１に係る赤外線測定装置１００は、赤外発光ダイオード４２０と、測定部である近接測定部５０と、制御部であるＰＳコントロールロジック１８と、演算処理部であるＭＣＵ４４とを備えている。赤外発光ダイオード４２０は、近接物に赤外線を照射する。近接測定部５０は、赤外発光ダイオード４２０が発光している状態において近接物で反射した赤外反射光、あるいは赤外発光ダイオード４２０が非発光の状態での周囲の光を測定する。ＰＳコントロールロジック１８は、近接測定部５０で測定した周囲の光の変動周期に基づく所定のタイミングで赤外発光ダイオード４２０、および近接測定部５０の駆動を制御する。ＭＣＵ４４は、近接測定部５０からの測定データを演算処理し、赤外反射光照度を算出する手段を有する。近接測定部５０は、所定のタイミングで赤外線が近接物で反射した赤外反射光を測定した第１の測定値と、赤外発光ダイオード４２０が非発光の状態で第１の測定値の測定時刻の前後の時刻で測定された第２の測定値及び第３の測定値を出力する。ＭＣＵ４４は、第１の測定値から第２の測定値及び第３の測定値の平均を引き算して赤外反射光照度を算出する。

本実施の形態１に係る赤外線測定装置１００は、変動周期に基づく所定のタイミングで測定することで周囲光変動の影響を緩和して、周囲光がノイズとして含まれることを防止し、誤動作を抑制することができる。

近接測定部５０の赤外光を測定する測定回路は、変動周期を測定する測定回路と回路を共有化してもよい。これにより、変動周期を測定する測定回路を別途も受ける必要がなく、赤外線測定装置１００のコストを低減することができる。また、赤外光を測定する測定回路と、変動周期を測定する測定回路とを共有化することで、周囲光の変動周期の位相を把握でき、赤外線測定装置１００は、適切なタイミングで赤外反射光を測定することができる。なお、図１に示す赤外線測定装置１００では、赤外光を測定する測定回路と、変動周期を測定する測定回路とを共有化した例を示したが、別々に測定回路を設け、変動周期の位相を把握できるように同期させてもよい。

ＰＳコントロールロジック１８は、所定のタイミングを変動周期のピークを外したタイミングとして、近接測定部５０が赤外反射光を測定するように制御してもよい。特に、変動周期のピークを外したタイミングを、変動周期のピークから１／４周期外れたタイミングとすることが好ましい。これにより、赤外線測定装置１００は、周囲光変動の影響を緩和することができ、周囲光がノイズとして含まれることを防止し、誤動作を抑制することができる。

（実施の形態２）
実施の形態１では、１回の測定で周囲光変動の影響を緩和する構成について説明した。本実施の形態２では、２回の測定で周囲光変動の影響を相殺する構成について説明する。

本実施の形態２に係る赤外線測定装置の全体構成は、図１に示す実施の形態１に係る赤外線測定装置の全体構成と同じであるため、同じ構成に同じ符号を付して詳細な説明を繰返さない。

図５は、本実施の形態２に係る赤外線測定装置１００での周囲光と反射光との測定タイミングを説明するための図である。なお、図５では、黒丸が赤外反射光の測定タイミング、白丸が周囲光の測定タイミングをそれぞれ示している。図５（ａ）のように、赤外反射光の測定が周囲光の放射照度がピークとなる測定タイミングＡの場合、周囲光の成分は、赤外反射光の測定時の前後での周囲光の測定値よりも大きくなる。そこで、測定タイミングＡと逆位相の位置にある測定タイミングＣとの測定値の平均値を求めることで、測定タイミングＡでの周囲光変動の影響と、測定タイミングＣでの周囲光変動の影響とを相殺している。

上述のように２回の測定で周囲光変動の影響を相殺するには、図５（ｂ）のように受光素子３ａで周囲光を測定して周囲光変動を把握した上で、所定のタイミングと、所定のタイミングから変動周期の１／２ずれたタイミングとで近接測定部５０が赤外反射光を測定するように制御する必要がある。図５（ｂ）では、周囲光の変動周期のうち測定値の大きいピークを＋Ｐとし、測定値の小さいボトムを－Ｐとしている。そして、例えば、ＭＣＵ４４は、＋Ｐのピークから－Ｐのボトムまでの期間Ｔ１と、－Ｐのボトムから＋Ｐのピークまでの期間Ｔ２とから周囲光の変動周期（Ｔ１＋Ｔ２）の１／２の期間（１／２周期）を求める。ＰＳコントロールロジック１８は、１回目の測定タイミングから変動周期の１／２の期間ずれたタイミングを２回目の測定タイミングとして近接測定部５０を制御する。

次に、本実施の形態２に係る赤外線測定装置１００での測定をフローチャートに基づいて説明する。図６は、本実施の形態２に係る赤外線測定装置１００での測定を説明するためのフローチャートである。まず、赤外線測定装置１００は、受光素子３ａで周囲光を連続測定する（ステップＳ２０）。

赤外線測定装置１００は、ステップＳ２０で連続測定して得られた結果から、周囲光の変動周期を検出し、変動周期の位相を把握することができたか否かを判断する（ステップＳ２１）。具体的に、赤外線測定装置１００は、図５（ｂ）で示したように周囲光の変動周期（Ｔ１＋Ｔ２）を検出し、周囲光の変動周期のどのタイミングで測定するのかが分かるように変動周期の位相を把握する。変動周期の位相を把握することができない場合（ステップＳ２１でＮＯ）、赤外線測定装置１００は、処理をステップＳ２０に戻し、周囲光の連続測定を継続する。なお、周囲光の変動周期や位相が把握でききない場合、赤外線測定装置１００は、周囲光にフリッカ成分なしと判断して、通常の測定タイミング（デフォルトタイミング）で赤外反射光を測定してもよい。

変動周期の位相を把握することができた場合（ステップＳ２１でＹＥＳ）、赤外線測定装置１００は、把握した位相に基づき赤外反射光の測定タイミングを算出する（ステップＳ２２）。具体的に、赤外線測定装置１００は、図５（ｂ）で示したように１回目の測定タイミングから変動周期の１／２の期間ずれタイミングを２回目の測定タイミングとして算出する。なお、２回目の測定タイミングは、１回目の測定タイミングから変動周期の１／２の期間ずれたタイミングには限定されず、周囲光変動の影響を相殺できる期間ずれたタイミングであればよい。

赤外線測定装置１００は、測定タイミングで１回目の赤外反射光を測定する（ステップＳ２３）。赤外線測定装置１００は、図５（ｂ）に示す１つ目の黒丸のタイミングで赤外反射光を測定する。１回目の測定タイミングは、ステップＳ２２で２回目の測定タイミングを算出後すぐのタイミングとしても、所定の期間（例えば、次の周囲光の変動周期のピークまでの期間）を待って後のタイミングとしてもよい。

赤外線測定装置１００は、ステップＳ２３で測定した赤外反射光の前後の周囲光の平均値との差から１回目の赤外反射光照度を算出する（ステップＳ２４）。赤外線測定装置１００は、図５（ｂ）に示す１つ目の黒丸の前後にある白丸の周囲光の測定値から平均値を求め、１つ目の黒丸の赤外反射光の測定値から当該平均値を減算する。

赤外線測定装置１００は、１回目の測定タイミングから変動周期の１／２の期間ずれた測定タイミングで２回目の赤外反射光を測定する（ステップＳ２５）。赤外線測定装置１００は、図５（ｂ）に示す２つ目の黒丸のタイミングで赤外反射光を測定する。

赤外線測定装置１００は、ステップＳ２５で測定した赤外反射光の前後の周囲光の平均値との差から２回目の赤外反射光照度を算出する（ステップＳ２６）。赤外線測定装置１００は、図５（ｂ）に示す２つ目の黒丸の前後にある白丸の周囲光の測定値から平均値を求め、２つ目の黒丸の赤外反射光の測定値から当該平均値を減算する。

赤外線測定装置１００は、１回目の赤外反射光照度と２回目の赤外反射光照度との平均値を算出する（ステップＳ２７）。赤外線測定装置１００は、算出した平均値を赤外反射光照度として出力する。これにより、赤外線測定装置１００は、周囲光変動の影響をほぼ除いた赤外反射光照度を得ることができる。

以上のように、本実施の形態２に係る赤外線測定装置１００は、近接測定部５０が、所定のタイミングと、所定のタイミングから変動周期の１／２ずれたタイミングとで、第１の測定値、第２の測定値および第３の測定値を２回出力し、ＭＣＵ４４は、２回出力された測定値から各々の赤外反射光照度を求め、２回求めた赤外反射光照度の平均を算出する。

本実施の形態２に係る赤外線測定装置１００は、変動周期の１／２ずらせて２回測定することで周囲光変動の影響を相殺して、周囲光がノイズとして含まれることを防止し、誤動作を抑制することができる。

なお、本実施の形態２に係る赤外線測定装置１００は、実施の形態１で説明した構成と組み合わせてもよい。具体的に、本実施の形態２に係る赤外線測定装置１００は、１回目の赤外反射光照度を変動周期のピークから１／４周期外れたタイミングとし、２回目の測定タイミングを１回目の赤外反射光照度から変動周期の１／２ずれたタイミングとする。

（実施の形態３）
実施の形態１および２では、周囲光変動が正弦波あるいは正弦波に近い波形として、周囲光変動の影響を緩和する構成について説明した。しかし、光源４１からの光が調光されている場合、周囲光変動は正弦波ではなく、整流された波形になる。本実施の形態３では、周囲光変動が正弦波とならない場合に周囲光変動の影響を緩和する構成について説明する。

本実施の形態３に係る赤外線測定装置の全体構成は、図１に示す実施の形態１に係る赤外線測定装置の全体構成と同じであるため、同じ構成に同じ符号を付して詳細な説明を繰返さない。

図７は、本実施の形態３に係る赤外線測定装置１００での２回の測定タイミングを説明するための図である。なお、図７では、黒丸が赤外反射光の測定タイミング、白丸が周囲光の測定タイミングをそれぞれ示している。図７のように、周囲光変動の波形は正弦波ではなく整流された波形となっている。そのため、赤外反射光の測定が周囲光の放射照度がピークとなる１回目の測定タイミングＤから変動周期の１／２ずれたタイミングを２回目の測定タイミングＥとしても、測定タイミングＤと測定タイミングＥとが逆位相の位置とならない。そのため、測定タイミングＤと測定タイミングＥとの測定値の平均値を求めても、測定タイミングＤでの周囲光変動の影響と、測定タイミングＥでの周囲光変動の影響とを相殺することができない。

本実施の形態３に係る赤外線測定装置１００では、光源４１からの光が調光されている場合にも対応するため、周囲光を連続測定してフリッカ情報（例えば、変動周期、変動のタイミングなどの情報を含む）を検出して、測定タイミングを算出している。図８は、本実施の形態３に係る赤外線測定装置での周囲光と反射光との測定タイミングを説明するための図である。

図８（ａ）に示すように、赤外線測定装置１００では、スマートフォンの通話中に近接測定を行う前に、非通話時などの期間に周囲光のみを連続測定してフリッカ情報を検出しておく。赤外線測定装置１００は、検出したフリッカ情報に基づいて測定タイミングを算出する。

図８（ｂ）では、ＭＣＵ４４が、測定タイミングとして、近接測定部５０の測定を開始するまでのＷａｉｔ時間Ｂ（第１の待ち時間）、およびＷａｉｔ時間Ｂから次の測定までのＷａｉｔ時間Ｃ（第２の待ち時間）を算出する。つまり、図８（ｂ）のように正弦波でない波形において、ＭＣＵ４４は、周囲光の波形のピーク（データＡ）を外したタイミングをＷａｉｔ時間Ｂとして算出し、その後、波形の繰り返し周期にあわせてＷａｉｔ時間Ｃを算出する。赤外線測定装置１００では、図１で示したように近接測定部５０が周囲光を測定する機能を有しているので、周囲光（フリッカ）の周期と近接測定の周期とを同期させることができる。これにより、赤外線測定装置１００は、周囲光の周期情報だけでなく位相情報も用いることができ、Ｗａｉｔ時間ＢおよびＷａｉｔ時間Ｃの情報を含む測定タイミングを生成することができる。

次に、本実施の形態３に係る赤外線測定装置１００での測定をフローチャートに基づいて説明する。図９は、本実施の形態３に係る赤外線測定装置１００での測定を説明するためのフローチャートである。まず、赤外線測定装置１００は、受光素子３ａで周囲光を連続測定する（ステップＳ３０）。

赤外線測定装置１００は、ステップＳ３０で連続測定して得られた結果から、周囲光の変動周期を検出し、変動周期の位相を把握することができたか否かを判断する（ステップＳ３１）。具体的に、赤外線測定装置１００は、図８（ａ）で示したように周囲光測定のみの期間からフリッカ情報を検出し、周囲光の波形のどのタイミングで測定するのかが分かるように変動周期の位相を把握する。変動周期の位相を把握することができない場合（ステップＳ３１でＮＯ）、赤外線測定装置１００は、処理をステップＳ３０に戻し、周囲光の連続測定を継続する。なお、周囲光の変動周期や位相が把握でききない場合、赤外線測定装置１００は、周囲光にフリッカ成分なしと判断して、通常の測定タイミング（デフォルトタイミング）で赤外反射光を測定してもよい。

変動周期の位相を把握することができた場合（ステップＳ３１でＹＥＳ）、赤外線測定装置１００は、把握した位相に基づき赤外反射光の測定タイミングを算出する（ステップＳ２２）。具体的に、赤外線測定装置１００は、図８（ｂ）で示したようにＷａｉｔ時間Ｂ（第１の待ち時間）およびＷａｉｔ時間Ｃ（第２の待ち時間）を算出する。

赤外線測定装置１００は、波形のピーク（データＡ）からＷａｉｔ時間Ｂ後に１回目の赤外反射光を測定する（ステップＳ３３）。赤外線測定装置１００は、図８（ｂ）に示す１つ目の黒丸のタイミングで赤外反射光を測定する。

赤外線測定装置１００は、ステップＳ３３で測定した赤外反射光の前後の周囲光の平均値との差から１回目の赤外反射光照度を算出する（ステップＳ３４）。赤外線測定装置１００は、図８（ｂ）に示す１つ目の黒丸の前後にある白丸の周囲光の測定値から平均値を求め、１つ目の黒丸の赤外反射光の測定値から当該平均値を減算する。

赤外線測定装置１００は、１回目の測定タイミングからＷａｉｔ時間Ｃ後に２回目の赤外反射光を測定する（ステップＳ３５）。赤外線測定装置１００は、図８（ｂ）に示す２つ目の黒丸のタイミングで赤外反射光を測定する。

赤外線測定装置１００は、ステップＳ３５で測定した赤外反射光の前後の周囲光の平均値との差から２回目の赤外反射光照度を算出する（ステップＳ３６）。赤外線測定装置１００は、図８（ｂ）に示す２つ目の黒丸の前後にある白丸の周囲光の測定値から平均値を求め、２つ目の黒丸の赤外反射光の測定値から当該平均値を減算する。

赤外線測定装置１００は、以降、Ｗａｉｔ時間Ｃごとに赤外反射光を測定する（ステップＳ３７）。その後、赤外線測定装置１００は、近接測定を終了するまで、Ｗａｉｔ時間Ｃごとに測定した赤外反射光の前後の周囲光の平均値との差から２回目以降の赤外反射光照度を算出する。

以上のように、本実施の形態３に係る赤外線測定装置１００は、ＰＳコントロールロジック１８が、所定のタイミングとして、近接測定部５０の測定を開始するまでの第１の待ち時間（Ｗａｉｔ時間Ｂ）、および第１の待ち時間から次の測定までの第２の待ち時間（Ｗａｉｔ時間Ｃ）となるように、近接測定部５０が赤外反射光を測定するように制御する。

本実施の形態３に係る赤外線測定装置１００は、第１の待ち時間（Ｗａｉｔ時間Ｂ）、および第２の待ち時間（Ｗａｉｔ時間Ｃ）を算出することで、周囲光変動が正弦波とならない場合でも周囲光変動の影響が少ないタイミングで測定し周囲光変動の影響を緩和することで、周囲光がノイズとして含まれることを防止し、誤動作を抑制することができる。

（実施の形態４）
実施の形態３では、赤外線測定装置１００では、スマートフォンの通話中に近接測定を行う前に、非通話時などの期間に周囲光のみを連続測定してフリッカ情報を検出しておくと説明した。しかし、光源４１からの光が常に安定していると限らない。本実施の形態４では、周囲光変動が安定しているか否かを確認して、周囲光変動の影響を緩和する構成について説明する。

本実施の形態４に係る赤外線測定装置の全体構成は、図１に示す実施の形態１に係る赤外線測定装置の全体構成と同じであるため、同じ構成に同じ符号を付して詳細な説明を繰返さない。

例えば、スマートフォンを持った人が部屋の中を移動するなどにより、フリッカ以外の要因で赤外線測定装置１００に入射する周囲光が変動する可能性がある。そのため、赤外線測定装置１００は、周囲光変動が安定しているか、所定の周期前に周囲光変動を取得した状態のままかを確認して周囲光変動を新たに取得する必要がある。

本実施の形態４に係る赤外線測定装置１００では、光源４１からの光が安定しているか否かを確認後に、周囲光を連続測定しフリッカ情報（例えば、変動周期、変動のタイミングなどの情報を含む）を検出して、測定タイミングを算出している。図１０は、本実施の形態４に係る赤外線測定装置での周囲光と反射光との測定タイミングを説明するための図である。

図１０に示すように、赤外線測定装置１００では、スマートフォンの通話中に近接測定を行う前に、非通話時などの期間に周囲光のみを連続測定してフリッカ情報を検出しておく。しかし、周囲光変動が安定していなければ正確なフリッカ情報を得ることはできない。そこで、赤外線測定装置１００は、周囲光のみを連続測定して周囲光変動が安定しているか否かを判断し、安定している場合にフリッカ情報を取得する。赤外線測定装置１００は、例えば、図１０に示すように３周期の間、ピークレベルが大きく変化していない場合、安定周期であると判断し、それ以降の周囲光のみを連続測定でフリッカ情報を取得する。

次に、本実施の形態４に係る赤外線測定装置１００での測定をフローチャートに基づいて説明する。図１１は、本実施の形態４に係る赤外線測定装置１００での測定を説明するためのフローチャートである。まず、赤外線測定装置１００は、受光素子３ａで周囲光を連続測定する（ステップＳ４０）。

赤外線測定装置１００は、所定の周期、周囲光の変動周期を検出していないか否かを判断する（ステップＳ４１）。例えば、１００周期（所定の周期）前の周囲光の変動周期で赤外反射光を測定したのでは、人の移動なので周囲光の変動周期が変わり、十分に周囲光変動の影響を緩和することができない。そこで、１００周期（所定の周期）、周囲光の変動周期を検出していないのであれば、変動周期を更新するために再度検出を行う。

所定の周期、周囲光の変動周期を検出していない場合（ステップＳ４１でＹＥＳ）、赤外線測定装置１００は、検出した周囲光の変動周期が安定しているか否かを判断する（ステップＳ４２）。検出した周囲光の変動周期が安定していない場合（ステップＳ４２でＮＯ）、赤外線測定装置１００は、処理をステップＳ４０に戻し、周囲光の連続測定を継続する。

検出した周囲光の変動周期が安定している場合（ステップＳ４２でＹＥＳ）、赤外線測定装置１００は、ステップＳ４０で連続測定して得られた結果から、周囲光の変動周期を検出し、変動周期の位相を把握する（ステップＳ４３）。具体的に、赤外線測定装置１００は、図１０で示したように安定周期であると判断した場合、周囲光測定のみの期間からフリッカ情報を検出し、周囲光の波形のどのタイミングで測定するのかが分かるように変動周期の位相を把握する。なお、周囲光の変動周期や位相が把握でききない場合、赤外線測定装置１００は、周囲光にフリッカ成分なしと判断して、通常の測定タイミング（デフォルトタイミング）で赤外反射光を測定してもよい。

所定の周期、周囲光の変動周期を検出している場合（ステップＳ４１でＮＯ）、またはステップＳ４３で変動周期の位相を把握した場合、赤外線測定装置１００は、把握した位相に基づき赤外反射光の測定タイミングを算出する（ステップＳ４４）。具体的に、赤外線測定装置１００は、図８（ｂ）で示したようにＷａｉｔ時間Ｂ（第１の待ち時間）およびＷａｉｔ時間Ｃ（第２の待ち時間）を算出する。

赤外線測定装置１００は、波形のピーク（データＡ）からＷａｉｔ時間Ｂ後に１回目の赤外反射光を測定する（ステップＳ４５）。赤外線測定装置１００は、図８（ｂ）に示す１つ目の黒丸のタイミングで赤外反射光を測定する。

赤外線測定装置１００は、ステップＳ４５で測定した赤外反射光の前後の周囲光の平均値との差から１回目の赤外反射光照度を算出する（ステップＳ４６）。赤外線測定装置１００は、図８（ｂ）に示す１つ目の黒丸の前後にある白丸の周囲光の測定値から平均値を求め、１つ目の黒丸の赤外反射光の測定値から当該平均値を減算する。

赤外線測定装置１００は、１回目の測定タイミングからＷａｉｔ時間Ｃ後に２回目の赤外反射光を測定する（ステップＳ４７）。赤外線測定装置１００は、図８（ｂ）に示す２つ目の黒丸のタイミングで赤外反射光を測定する。

赤外線測定装置１００は、ステップＳ３５で測定した赤外反射光の前後の周囲光の平均値との差から２回目の赤外反射光照度を算出する（ステップＳ４８）。赤外線測定装置１００は、図８（ｂ）に示す２つ目の黒丸の前後にある白丸の周囲光の測定値から平均値を求め、２つ目の黒丸の赤外反射光の測定値から当該平均値を減算する。

赤外線測定装置１００は、以降、Ｗａｉｔ時間Ｃごとに赤外反射光を測定する（ステップＳ４９）。その後、赤外線測定装置１００は、近接測定を終了するまで、Ｗａｉｔ時間Ｃごとに測定した赤外反射光の前後の周囲光の平均値との差から２回目以降の赤外反射光照度を算出する。

以上のように、本実施の形態３に係る赤外線測定装置１００は、ＰＳコントロールロジック１８が、所定の周期ごとに、近接測定部５０で周囲の光を測定して変動周期を更新する。

本実施の形態４に係る赤外線測定装置１００は、周囲光変動が安定しているか否かを確認して周囲光変動の影響を緩和するので、周囲光がノイズとして含まれることを防止し、誤動作を抑制することができる。

（変形例）
上述の実施の形態では、フリッカ測定と近接測定とで検出したい光の波長が異なるため、赤外線測定装置１００が、フリッカ測定用の受光素子３ａと、近接測定用の受光素子３ｂとを設けてる。フリッカ測定の検出波長を赤外のみに変更して近接測定用の受光素子でフリッカ測定を行ってもよい。

図１２は、変形例に係る赤外線測定装置１００ａの構成を示すブロック図である。図１３は、変形例に係る赤外線測定装置１００ａの受光素子の構成を示す図である。なお、変形例に係る赤外線測定装置１００の全体構成のうち、図１に示す実施の形態１に係る赤外線測定装置の全体構成と同じ構成については、同じ符号を付して詳細な説明を繰返さない。

赤外線測定装置１００ａでは、図１３に示すように、フリッカ測定用の受光素子３ａと近接測定用の受光素子３ｂとを設ける代わりに受光素子３のみ設けている。受光素子３は、赤外線を感度良く検出するために、可視光や紫外線をカットし、赤外線を透過させる可視光カットフィルタＦを受光面に有するフォトダイオードで構成される。また、受光素子３は、赤外線領域に感度ピークを有するフォトダイオードで構成されてもよい。積分回路４には、受光素子３のみが接続されているので、受光素子３ａと受光素子３ｂとを接続する場合のようにスイッチＳＷ１、ＳＷ２は不要である。

赤外線測定装置１００ａは、図１２に示すように、近接測定部５０に周囲光の周期を検出し、変動周期の位相を把握するフリッカ解析部５０ａ、当該フリッカ解析部５０ａで解析したフリッカ情報に基づいて赤外反射光の測定タイミングを算出するタイミング生成部５０ｂを有してもよい。

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

１ＬＥＤパルス発生器、２赤外線ＬＥＤドライバ、３，３ａ，３ｂ受光素子、４積分回路、５ＡＤ変換器、６対数変換器、１４レジスタ回路、１５ＰＳインタフェース、１８ＰＳコントロールロジック、４１光源、５０近接測定部、１００，１００ａ赤外線測定装置、４００近接物、４２０赤外発光ダイオード。

Claims

近接物に赤外線を照射する赤外発光素子と、
前記赤外発光素子が発光している状態において前記近接物で反射した赤外反射光、及び前記赤外発光素子が非発光の状態での周囲の光を測定する測定部と、
前記測定部で測定した周囲の光の変動周期に基づく所定のタイミングで前記赤外発光素子、および前記測定部の駆動を制御する制御部と、
前記測定部からの測定データを演算処理し、赤外反射光照度を算出する手段を有する演算処理部とを備え、
前記制御部は、
所定の周期ごと前記変動周期を更新するために、前記測定部で測定した周囲の光のピークレベルが所定期間変化しているか否かを判断し、
前記測定部で測定した周囲の光のピークレベルが前記所定期間変化していない場合に前記変動周期を更新し、更新した前記変動周期に基づき前記所定のタイミングとして、前記測定部が光を測定するまでの第１の待ち時間および第２の待ち時間を算出し、
前記第１の待ち時間は、周囲光の波形のピークからボトムの間で前記ピークおよび前記ボトムを外したタイミングで前記測定部が光を測定できるように算出される前記ピークからの待ち時間であり、
前記第２の待ち時間は、前記第１の待ち時間以降において前記変動周期ごと繰り返し前記測定部が光を測定できるように算出される待ち時間であり、
前記測定部は、前記所定のタイミングで前記赤外線が前記近接物で反射した赤外反射光を測定した第１の測定値と、前記赤外発光素子が非発光の状態で前記第１の測定値の測定時刻の前後の時刻で測定された第２の測定値及び第３の測定値を出力し、
前記演算処理部は、前記第１の測定値から前記第２の測定値及び前記第３の測定値の平均を引き算して赤外反射光照度を算出する、赤外線測定装置。
前記測定部の赤外光を測定する測定回路は、前記変動周期を測定する測定回路と回路を共有化している、請求項１に記載の赤外線測定装置。
前記測定部の赤外光を受光する受光素子は、前記変動周期を測定するための受光素子と素子を共有化している、請求項１または請求項２に記載の赤外線測定装置。
近接物に赤外線を照射する赤外発光素子と、前記赤外発光素子が発光している状態において前記近接物で反射した赤外反射光、及び前記赤外発光素子が非発光の状態での周囲の光を測定する測定部と、前記測定部で測定した周囲の光の変動周期に基づく所定のタイミングで前記赤外発光素子、および前記測定部の駆動を制御する制御部と、前記測定部からの測定データを演算処理し、赤外反射光照度を算出する手段を有する演算処理部とを備える赤外線測定装置で赤外反射光を測定する測定方法であって、
前記測定部で前記赤外発光素子が非発光の状態での周囲の光を所定の周期ごと測定するステップと、
前記測定部で測定した周囲の光のピークレベルが所定期間変化していない場合に前記変動周期を更新し、更新した前記変動周期に基づき前記所定のタイミングとして、前記測定部が光を測定するまでの第１の待ち時間および第２の待ち時間を算出するステップと、
前記測定部で、前記所定のタイミングで前記赤外線が前記近接物で反射した赤外反射光を測定した第１の測定値と、前記赤外発光素子が非発光の状態で前記第１の測定値の測定時刻の前後の時刻で測定された第２の測定値及び第３の測定値を出力するステップと、
前記演算処理部で、前記第１の測定値から前記第２の測定値及び前記第３の測定値の平均を引き算して赤外反射光照度を算出するステップとを含み、
前記第１の待ち時間は、周囲光の波形のピークからボトムの間で前記ピークおよび前記ボトムを外したタイミングで前記測定部が光を測定できるように算出される前記ピークからの待ち時間であり、
前記第２の待ち時間は、前記第１の待ち時間以降において前記変動周期ごと繰り返し前記測定部が光を測定できるように算出される待ち時間である、測定方法。