JP7314228B2 - コンピュータ断層撮影撮像のための散乱補正 - Google Patents
コンピュータ断層撮影撮像のための散乱補正 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7314228B2 JP7314228B2 JP2021166872A JP2021166872A JP7314228B2 JP 7314228 B2 JP7314228 B2 JP 7314228B2 JP 2021166872 A JP2021166872 A JP 2021166872A JP 2021166872 A JP2021166872 A JP 2021166872A JP 7314228 B2 JP7314228 B2 JP 7314228B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scatter
- image
- aperture plate
- radiation
- aperture
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims description 108
- 238000013170 computed tomography imaging Methods 0.000 title description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 106
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 91
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 59
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 26
- 238000013519 translation Methods 0.000 claims description 11
- 238000012549 training Methods 0.000 claims description 6
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000013528 artificial neural network Methods 0.000 description 34
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 34
- 230000006870 function Effects 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 20
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 17
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 14
- 238000003062 neural network model Methods 0.000 description 14
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000013135 deep learning Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000001314 profilometry Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 238000000333 X-ray scattering Methods 0.000 description 1
- 238000002083 X-ray spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000005094 computer simulation Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000000116 mitigating effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 238000012797 qualification Methods 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000001953 sensory effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/50—Image enhancement or restoration using two or more images, e.g. averaging or subtraction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/316—Accessories, mechanical or electrical features collimators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
- G01N2223/3301—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts beam is modified for scan, e.g. moving collimator
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/401—Imaging image processing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10072—Tomographic images
- G06T2207/10081—Computed x-ray tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/20—Special algorithmic details
- G06T2207/20084—Artificial neural networks [ANN]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/20—Special algorithmic details
- G06T2207/20212—Image combination
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30168—Image quality inspection
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
本出願は、2020年10月9日に出願された「Scatter Correction For Computed Tomography Imaging」と題する米国仮特許出願第63/090,144号の利益を主張し、その全体が参照により組み込まれる。
Claims (14)
- 物体の画像の散乱補正のための方法であって、
撮像システムの放射検出器によって、前記物体の撮像ボリュームを通って透過される放射の検出に基づいて、前記物体の少なくとも1つの散乱画像を表すデータを取得することと、
前記物体と前記放射検出器との間において第1の位置に開口板を配置することであって、前記開口板が、二次元グリッド状に配置された複数の開口を含み、放射線が放射源から前記物体に方向付けられたとき、散乱されない放射線が前記複数の開口を通過し、散乱した放射線の一部が当該開口板によって遮断されるように配置される、配置することと、
前記放射検出器によって、前記開口板が前記第1の位置にあるときに前記物体の前記撮像ボリュームを通って透過される放射の検出に基づいて、少なくとも1つの第1の部分的散乱なし画像を表す第1の部分的散乱なし画像データを取得することと、
前記開口板を、前記第1の位置とは異なる1つ以上の第2の位置に移動させることであって、撮像のために位置決めされた前記物体と前記開口板に関して、前記開口板が前記第1の位置に配置されたときの前記開口の領域と前記開口板が前記1つ以上の第2の位置に配置されたときの前記開口の領域との組み合わせが、前記物体の前記撮像ボリュームを通る放射線が通過する領域を包含するように構成される、移動させることと、
前記放射検出器によって、前記開口板が前記1つ以上の第2の位置にあるときに前記物体の前記撮像ボリュームを通って透過される放射の検出に基づいて、少なくとも1つの第2の部分的散乱なし画像を表す第2の部分的散乱なし画像データを取得することと、
1つ以上のプロセッサを含む分析器によって、前記第1及び第2の部分的散乱なし画像データを受信することと、
前記分析器によって、前記第1の部分的散乱なし画像データから得られた前記複数の開口の領域に対応する画像部分と、前記第2の部分的散乱なし画像データから得られた前記複数の開口の領域に対応する画像部分とを組み合わせることで、少なくとも1つの散乱なし画像を生成することと、
前記分析器によって、前記少なくとも1つの散乱画像の少なくとも一部分及び前記少なくとも1つの散乱なし画像を使用して散乱補正モデルを更新することと、
前記分析器によって、前記更新された散乱補正モデルを出力することと、を含み、
前記散乱補正モデルが、散乱縁部拡散関数を含むデコンボリューションを含み、前記散乱縁部拡散関数が、散乱画像内の散乱を補正するように構成された点拡散関数を更に含み、前記方法が、前記分析器によって、
前記少なくとも1つの散乱画像の少なくとも一部分に前記点拡散関数を適用して、散乱補正画像を生成する適用動作を行うことと、
前記散乱補正画像と前記少なくとも1つの散乱なし画像との間の差を所定の方法によって決定する決定動作を行うことと、
前記差が所定の差を上回るとき、前記点拡散関数のパラメータを更新して、前記差を低減し、前記適用動作及び前記決定動作を繰り返すことと、
前記差が前記所定の差以下であるとき、前記更新された点拡散関数のパラメータを含む前記更新された散乱補正モデルを出力することと、によって前記散乱補正モデルを更新することを更に含む、方法。 - 前記検出された放射がコリメートされる、請求項1に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの散乱なし画像が、前記第1の部分的散乱なし画像データ又は前記第2の部分的散乱なし画像データの補間によって生成されない、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記開口板を移動させることが、一方向並進、双方向並進、又は回転のうちの少なくとも1つを含む、請求項1から3のいずれか1項に記載の方法。
- 前記散乱画像が、複数の画像を含む散乱画像セットである、請求項1から4のいずれか1項に記載の方法。
- 前記開口板が前記第1の位置に配置されたときの前記開口の領域及び前記開口板が前記少なくとも1つの第2の位置に配置されたときの当該開口の領域が、前記物体の前記撮像ボリュームを通る放射線が通過する領域に関する共通領域を少なくとも部分的に有するように互いに重なり合う、請求項1から5のいずれか1項に記載の方法。
- 前記開口板が前記第1の位置に配置されたときの前記開口及び前記開口板が前記少なくとも1つの第2の位置に配置されたときの前記開口が、互いに所定の距離だけ離間している、請求項1から6のいずれか1項に記載の方法。
- 撮像システムであって、
物体に向かって方向付けられた放射を放出するように構成された放射源と、
前記物体の撮像ボリュームを通って透過される、前記放出された放射を検出するように構成された放射検出器と、
前記物体と前記放射検出器との間に位置付けられ、二次元グリッド状に配置された複数の開口を含み、放射線が前記放射源から前記物体に方向付けられたとき、散乱されない放射線が前記複数の開口を通過し、散乱した放射線の一部が開口板によって遮断されるように配置される、移動可能な開口板と、
1つ以上のプロセッサを含む分析器と、を備え、前記分析器が、
前記物体の前記撮像ボリュームを通って透過される放射の検出に基づいて、前記物体の少なくとも1つの散乱画像を表すデータを受信することと、
前記開口板が第1の位置にあるときに前記物体の前記撮像ボリュームを通って透過される放射の検出に基づいて、前記物体の少なくとも1つの第1の部分的散乱なし画像を表す第1の部分的散乱なし画像データを受信することと、
前記開口板が、前記第1の位置とは異なる1つ以上の第2の位置にあるときに、前記物体の前記撮像ボリュームを通って透過される放射の検出に基づいて、少なくとも1つの第2の部分的散乱なし画像を表す第2の部分的散乱なし画像データを受信することであって、
撮像のために位置決めされた前記物体と前記開口板に関して、前記開口板が前記第1の位置に配置されたときの前記開口の領域と前記開口板が前記1つ以上の第2の位置に配置されたときの前記開口の領域との組み合わせが、前記物体の前記撮像ボリュームを通る放射線が通過する領域を包含するように構成される、受信することと、
前記第1の部分的散乱なし画像データから得られた前記複数の開口の領域に対応する画像部分と、前記第2の部分的散乱なし画像データから得られた前記複数の開口の領域に対応する画像部分とを組み合わせることで、少なくとも1つの散乱なし画像を生成することと、
前記少なくとも1つの散乱画像の少なくとも一部分及び前記少なくとも1つの散乱なし画像を使用して散乱補正モデルを訓練することと、
前記分析器によって、前記訓練された散乱補正モデルを出力することと、を行うように構成され、
前記散乱補正モデルが、散乱縁部拡散関数を含むデコンボリューションを含み、前記散乱縁部拡散関数が、散乱画像内の散乱を補正するように構成された点拡散関数を更に含み、前記分析器が、
前記少なくとも1つの散乱画像の少なくとも一部分に前記点拡散関数を適用して、散乱補正画像を生成する適用動作を行うことと、
前記散乱補正画像と前記少なくとも1つの散乱なし画像との間の差を所定の方法によって決定する決定動作を行うことと、
前記差が所定の差を上回るとき、前記点拡散関数のパラメータを更新して、前記差を低減し、前記適用動作及び前記決定動作を繰り返すことと、
前記差が前記所定の差以下であるとき、前記点拡散関数のパラメータを出力することと、によって前記点拡散関数を訓練するように更に構成されている、システム。 - 前記放出された放射をコリメートするように構成されたコリメータを更に備える、請求項8に記載のシステム。
- 前記分析器が、前記第1の部分的散乱なし画像データ又は前記第2の部分的散乱なし画像データの補間によって、前記少なくとも1つの散乱なし画像を生成するように構成されていない、請求項8又は9に記載のシステム。
- 前記第1の位置及び前記少なくとも1つの第2の位置が、一方向並進、双方向並進、又は回転のうちの少なくとも1つによって異なる、請求項8から10のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記散乱画像が、複数の画像を含む散乱画像セットである、請求項8から11のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記開口板が前記第1の位置に配置されたときの前記開口の領域及び前記開口板が前記少なくとも1つの第2の位置に配置されたときの当該開口の領域が、前記物体の前記撮像ボリュームを通る放射線が通過する領域に関する共通領域を少なくとも部分的に有するように互いに重なり合う、請求項8から12のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記開口板が前記第1の位置に配置されたときの前記開口及び前記開口板が前記少なくとも1つの第2の位置に配置されたときの前記開口が、互いに所定の距離だけ離間している、請求項8から13のいずれか1項に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US202063090144P | 2020-10-09 | 2020-10-09 | |
US63/090,144 | 2020-10-09 | ||
US17/492,516 | 2021-10-01 | ||
US17/492,516 US11698349B2 (en) | 2020-10-09 | 2021-10-01 | Scatter correction for computed tomography imaging |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022063257A JP2022063257A (ja) | 2022-04-21 |
JP7314228B2 true JP7314228B2 (ja) | 2023-07-25 |
Family
ID=78073867
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021166872A Active JP7314228B2 (ja) | 2020-10-09 | 2021-10-11 | コンピュータ断層撮影撮像のための散乱補正 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11698349B2 (ja) |
EP (1) | EP3982116A1 (ja) |
JP (1) | JP7314228B2 (ja) |
CN (1) | CN114332266A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20210133589A1 (en) * | 2019-10-30 | 2021-05-06 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Inverse neural network for particle detection in a solid-state -devices |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000321221A (ja) | 1999-04-20 | 2000-11-24 | General Electric Co <Ge> | Ctシステムで投影データを作成する方法およびシステム |
JP2010054356A (ja) | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Anritsu Sanki System Co Ltd | 画像処理装置及びそれを備えたx線異物検出装置並びに画像処理方法 |
US20100140485A1 (en) | 2008-12-10 | 2010-06-10 | General Electric Company | Imaging system and method with scatter correction |
US20160258885A1 (en) | 2015-03-06 | 2016-09-08 | General Electric Company | Imaging system and method with scatter correction |
US20180330233A1 (en) | 2017-05-11 | 2018-11-15 | General Electric Company | Machine learning based scatter correction |
US20190066268A1 (en) | 2017-08-31 | 2019-02-28 | Shhanghai United Imaging Healthcare Co., Ltd. | System and method for determining a trained neural network model for scattering correction |
JP2020049059A (ja) | 2018-09-28 | 2020-04-02 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 医用画像処理装置および方法 |
JP2020527060A (ja) | 2017-06-26 | 2020-09-03 | エレクタ、インク.Elekta, Inc. | ディープ畳み込みニューラルネットワークを使用してコーンビームコンピュータ断層撮影画像を改善する方法 |
JP2020146453A (ja) | 2019-03-05 | 2020-09-17 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 医用処理装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57203426A (en) * | 1981-06-08 | 1982-12-13 | Tokyo Shibaura Electric Co | X-ray diagnostic apparatus |
JPS60181638A (ja) * | 1984-02-29 | 1985-09-17 | Toshiba Corp | 放射線像撮影装置 |
US6618466B1 (en) | 2002-02-21 | 2003-09-09 | University Of Rochester | Apparatus and method for x-ray scatter reduction and correction for fan beam CT and cone beam volume CT |
US6748047B2 (en) * | 2002-05-15 | 2004-06-08 | General Electric Company | Scatter correction method for non-stationary X-ray acquisitions |
JP5284025B2 (ja) * | 2008-09-29 | 2013-09-11 | 株式会社東芝 | X線コンピュータ断層撮影装置及び画像処理装置 |
US8817947B2 (en) * | 2011-01-31 | 2014-08-26 | University Of Massachusetts | Tomosynthesis imaging |
JP5969950B2 (ja) * | 2012-04-20 | 2016-08-17 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置及び放射線撮影システム |
WO2017048548A1 (en) | 2015-03-06 | 2017-03-23 | General Electric Company | Imaging system and method with scatter correction |
-
2021
- 2021-10-01 US US17/492,516 patent/US11698349B2/en active Active
- 2021-10-05 EP EP21201084.7A patent/EP3982116A1/en active Pending
- 2021-10-09 CN CN202111176456.XA patent/CN114332266A/zh active Pending
- 2021-10-11 JP JP2021166872A patent/JP7314228B2/ja active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000321221A (ja) | 1999-04-20 | 2000-11-24 | General Electric Co <Ge> | Ctシステムで投影データを作成する方法およびシステム |
JP2010054356A (ja) | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Anritsu Sanki System Co Ltd | 画像処理装置及びそれを備えたx線異物検出装置並びに画像処理方法 |
US20100140485A1 (en) | 2008-12-10 | 2010-06-10 | General Electric Company | Imaging system and method with scatter correction |
US20160258885A1 (en) | 2015-03-06 | 2016-09-08 | General Electric Company | Imaging system and method with scatter correction |
US20180330233A1 (en) | 2017-05-11 | 2018-11-15 | General Electric Company | Machine learning based scatter correction |
JP2020527060A (ja) | 2017-06-26 | 2020-09-03 | エレクタ、インク.Elekta, Inc. | ディープ畳み込みニューラルネットワークを使用してコーンビームコンピュータ断層撮影画像を改善する方法 |
US20190066268A1 (en) | 2017-08-31 | 2019-02-28 | Shhanghai United Imaging Healthcare Co., Ltd. | System and method for determining a trained neural network model for scattering correction |
JP2020049059A (ja) | 2018-09-28 | 2020-04-02 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 医用画像処理装置および方法 |
JP2020146453A (ja) | 2019-03-05 | 2020-09-17 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 医用処理装置 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
大竹 豊,産業用CT応用におけるX線イメージング技術の重要性,2020年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集,2020年03月01日,pp. 606-607,doi:10.11522/pscjspe.2020S.0_606 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3982116A1 (en) | 2022-04-13 |
CN114332266A (zh) | 2022-04-12 |
US20220113265A1 (en) | 2022-04-14 |
JP2022063257A (ja) | 2022-04-21 |
US11698349B2 (en) | 2023-07-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10481110B2 (en) | Radiographic image generating device | |
US8184767B2 (en) | Imaging system and method with scatter correction | |
US20210131980A1 (en) | Imaging system and method with scatter correction | |
Dewulf et al. | Advances in the metrological traceability and performance of X-ray computed tomography | |
JP6680470B2 (ja) | 画像取得装置及び画像取得方法並びに画像補正プログラム | |
KR20010081097A (ko) | 비파괴 테스트용 컴퓨터 단층 촬영법 및 장치 | |
JP6793469B2 (ja) | データ処理装置、x線ct装置及びデータ処理方法 | |
JP2023166550A (ja) | コンピュータ断層撮影撮像のための散乱補正 | |
JP7314228B2 (ja) | コンピュータ断層撮影撮像のための散乱補正 | |
Stolfi et al. | Error sources | |
JP5675978B2 (ja) | コンピュータ断層撮影方法、コンピュータプログラム、コンピュータデバイスおよびコンピュータ断層撮影システム | |
Lifton | The influence of scatter and beam hardening in X-ray computed tomography for dimensional metrology | |
JP6438021B2 (ja) | 能動画素アレイセンサを用いたx線回折ベースの欠陥画素補正方法 | |
JP6858391B2 (ja) | X線ct装置、画像補正方法及び画像補正プログラム | |
Turner | Erosion and dilation of edges in dimensional X-ray computed tomography images | |
JP4062232B2 (ja) | X線ct装置及びx線ct装置による撮像方法 | |
Fernandez et al. | RT Modelling for NDT Recent and Future Developments in the CIVA RT/CT Module | |
WO2016190218A1 (ja) | 測定方法および放射線撮影装置 | |
EP2715670B1 (en) | Computed tomography method, computer software, computing device and computed tomography system for determining a volumetric representation of a sample | |
Asadchikov et al. | Morphological analysis and reconstruction for computed tomography | |
Hughes | Computed Tomography (CT) Analysis of 3D Printed Lattice Structures | |
JP2024078263A (ja) | 補正装置、方法およびプログラム | |
JP2023005078A (ja) | 角度誤差推定装置、方法およびプログラム | |
Franco et al. | Fan/cone beam CT: visualisation and applications for non-clinical X-ray imaging | |
Herman et al. | Data Collection and Reconstruction of the Head Phantom |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20211228 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20220125 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20220208 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220927 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20221018 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20221209 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230322 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230330 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230704 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230712 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7314228 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |