JP7306673B2 - 評価システム及び評価方法 - Google Patents
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図1は、実施形態に係る評価システム1の全体構成を示すブロック図である。評価システム1は、評価装置2と、スペクトル撮像装置4と、励起光照射部6と、を備える。本発明を適用した評価システム1は、外乱光の影響下にある明るい工場等の屋内環境に設置される。なお、評価システム1は、屋外環境に設置されてもよい。
励起光照射部6は、例えば、紫外線を照射する紫外線照射装置が用いられ、300nm以上400nm以下の紫外線、好ましくは365nmの波長を含む紫外線を照射する光源である。励起光照射部6は、蛍光成分が発光できる励起光が照射されるものであれば、如何なる波長で照射されるものであってもよい。
図2は、スペクトル撮像装置4の構成例を示している。スペクトル撮像装置4は、カラーフィルタを交換する方式のいわゆるマルチスペクトルカメラや、プリズムを用いた方式のいわゆるハイパースペクトルカメラで構成されている。スペクトル撮像装置4は、例えば、200nm以上13μm以下の波長範囲において任意の計測波長範囲を設定することができ、0.1nm以上100nm以下の波長分解能とされている。
評価装置2は、例えば、パーソナルコンピュータ(PC)等を始めとした電子機器で構成されているが、PC以外に、携帯電話、スマートフォン、タブレット型端末、ウェアラブル端末等、他のあらゆる電子機器で具現化されるものであってもよい。
次に、取得ステップS12では、取得部485は、記憶部28に記憶させていた、第1分光データと、第2分光データと、第3分光データと、第4分光データと、を取得する。
次に、算出ステップS13では、取得ステップS12において取得した、第1分光データと、第2分光データと、第3分光データと、第4分光データと、に基づいて、上記した数式(1)により算出値を算出する。
次に、評価ステップS14では、評価部27は、算出ステップS13において算出した算出値に基づいて、検査領域3における検出対象物を評価する。
次に、第2実施形態に係る評価システム1について、説明する。第2実施形態では、第1分光データの取得を省略し、第2分光データと、第3分光データと、第4分光データとに基づいて算出値を算出する点で、第1実施形態と相違する。なお、上述した各構成と同様の場合は、適宜説明を省略する。
次に、第3実施形態に係る評価システム1について、説明する。第3実施形態では、第3分光データと第4分光データの取得を省略し、第1分光データと、第2分光データとに基づいて算出値を算出する点で、第1実施形態と相違する。なお、上述した各構成と同様の場合は、適宜説明を省略する。
分光データ作成ステップS11では、分光データ作成部483は、1次元の波長情報を有する分光データを作成する。分光データ作成部483は、第1分光データと、第2分光データと、を作成する。
次に、取得ステップS12では、取得部485は、記憶部28に記憶させていた、第1分光データと、第2分光データと、を取得する。
次に、算出ステップS13では、取得ステップS12において取得した、第1分光データと、第2分光データと、に基づいて、下記の数式(4)により算出値Sを算出する。
次に、評価ステップS14では、評価部27は、算出ステップS13において算出した算出値に基づいて、検査領域3における検出対象物を評価する。
2 :評価装置
3 :検査領域
4 :スペクトル撮像装置
6 :励起光照射部
7 :被覆材
21 :内部バス
23 :表示部
24 :制御部
25 :操作部
26 :通信部
27 :評価部
28 :記憶部
31 :第2凹凸部
41 :対物レンズ
42 :精密直動ステージ
43 :スリット板
43a :スリット開口部
44 :コリメートレンズ
45 :分光部
46 :結像レンズ
47 :受光部
48 :制御部
51 :結像光学系
52 :分光部
53 :受光部
56 :撮像レンズ
71 :第1凹凸部
481 :撮影制御部
482 :移動制御部
483 :分光データ作成部
484 :算出部
485 :取得部
Claims (7)
- 検査領域における検出対象物を評価する評価システムであって、
1次元の波長情報を有する分光データを取得する取得手段と、
上記分光データに基づいて算出値を算出する算出手段と、
上記算出値に基づいて上記検査領域における検出対象物を評価する評価手段とを備え、
上記検出対象物は、励起光の照射によって発光する任意の第1蛍光成分を含み、
上記取得手段は、
上記検査領域に被覆される被覆材の分光データである第1分光データと、
上記検査領域の分光データである第2分光データと、
励起光が照射された上記被覆材の分光データである第3分光データと、
励起光が照射された上記検査領域の分光データである第4分光データと、を取得し、
上記算出手段は、上記第1分光データと、上記第2分光データと、上記第3分光データと、上記第4分光データと、に基づいて上記算出値を算出すること
を特徴とする評価システム。 - 上記被覆材は、励起光の照射によって発光する任意の第2蛍光成分を含むこと
を特徴とする請求項1記載の評価システム。 - 検査領域における検出対象物を評価する評価システムであって、
1次元の波長情報を有する分光データを取得する取得手段と、
上記分光データに基づいて算出値を算出する算出手段と、
上記算出値に基づいて上記検査領域における検出対象物を評価する評価手段とを備え、
上記検出対象物は、励起光の照射によって発光する任意の第1蛍光成分を含み、
上記取得手段は、
上記検査領域の分光データである第2分光データと、
励起光が照射された上記検査領域に被覆される被覆材の分光データである第3分光データと、
励起光が照射された上記検査領域の分光データである第4分光データと、を取得し、
上記算出手段は、上記第2分光データと、上記第3分光データと、上記第4分光データと、に基づいて上記算出値を算出すること
を特徴とする評価システム。 - 上記検査領域は、凹凸状の第2凹凸部が形成され、
上記被覆材は、上記第2凹凸部に嵌め込まれる第1凹凸部が形成されること
を特徴とする請求項1~3の何れか1項に記載の評価システム。 - 上記分光データを作成する分光データ作成手段を更に備え、
上記取得手段は、上記分光データ作成手段により作成された上記分光データを取得すること
を特徴とする請求項1~4の何れか1項に記載の評価システム。 - 検査領域における検出対象物を評価する評価方法であって、
1次元の波長情報を有する分光データを取得する取得ステップと、
上記分光データに基づいて算出値を算出する算出ステップと、
上記算出値に基づいて上記検査領域における検出対象物を評価する評価ステップとを備え、
上記検出対象物は、励起光の照射によって発光する任意の第1蛍光成分を含み、
上記取得ステップでは、
上記検査領域に被覆される被覆材の分光データである第1分光データと、
上記検査領域の分光データである第2分光データと、
励起光が照射された上記被覆材の分光データである第3分光データと、
励起光が照射された上記検査領域の分光データである第4分光データと、を取得し、
上記算出ステップでは、上記第1分光データと、上記第2分光データと、上記第3分光データと、上記第4分光データと、に基づいて上記算出値を算出すること
を特徴とする評価方法。 - 検査領域における検出対象物を評価する評価方法であって、
1次元の波長情報を有する分光データを取得する取得ステップと、
上記分光データに基づいて算出値を算出する算出ステップと、
上記算出値に基づいて上記検査領域における検出対象物を評価する評価ステップとを備え、
上記検出対象物は、励起光の照射によって発光する任意の第1蛍光成分を含み、
上記取得ステップでは、
上記検査領域の分光データである第2分光データと、
励起光が照射された上記検査領域に被覆される被覆材の分光データである第3分光データと、
励起光が照射された上記検査領域の分光データである第4分光データと、を取得し、
上記算出ステップでは、上記第2分光データと、上記第3分光データと、上記第4分光
データと、に基づいて上記算出値を算出すること
を特徴とする評価方法。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2019001457A JP7306673B2 (ja) | 2019-01-08 | 2019-01-08 | 評価システム及び評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2019001457A JP7306673B2 (ja) | 2019-01-08 | 2019-01-08 | 評価システム及び評価方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020112378A JP2020112378A (ja) | 2020-07-27 |
JP7306673B2 true JP7306673B2 (ja) | 2023-07-11 |
Family
ID=71666756
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019001457A Active JP7306673B2 (ja) | 2019-01-08 | 2019-01-08 | 評価システム及び評価方法 |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7306673B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022138374A1 (ja) * | 2020-12-24 | 2022-06-30 | ソニーグループ株式会社 | データ生成方法、蛍光観察システムおよび情報処理装置 |
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-
2019
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