JP7299174B2 - 試料分析装置 - Google Patents
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Description
[項目1]
液体試料を保持した試料分析用基板を回転させ停止させて、前記液体試料中のアナライトと磁性粒子の表面に固定化されたリガンドとの結合反応を生じさせる試料分析装置であって、
前記試料分析用基板は、前記試料分析装置への装填および前記試料分析装置からの取り外しが可能であり、所定の厚さを有する板状のベース基板と、前記ベース基板内の、前記結合反応を生じさせる空間であるチャンバーとを有しており、
装填された前記試料分析用基板を支持するターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転させるモータと、
前記モータの回転および停止を制御する駆動回路と、
前記磁性粒子を吸引する力を発生させる磁石ユニットと、
前記磁石ユニットを移動させて前記磁石ユニットと前記試料分析用基板との相対位置を変化させるアクチュエータと、
前記モータ、前記駆動回路、および前記アクチュエータの動作を制御する制御回路と
を備え、前記磁石ユニットは、円またはリングの一部または全部の形状を有しており、
前記チャンバー内の反応物と未反応物とを分離するB/F分離(Bound/Free Separation)時に、前記アクチュエータは、前記チャンバー内の前記磁性粒子が前記磁石ユニットに吸引される位置に前記磁石ユニットを移動させる、試料分析装置。
[項目2]
前記磁石ユニットは、前記形状を有する単一の磁石、または、前記形状に沿って配置された複数の磁石を含む、項目1に記載の試料分析装置。
[項目3]
前記試料分析用基板が円形である場合において、
前記磁石ユニットは、中心角の和が90度以上360度以下の前記円または前記リングの一部または全部の形状を有している、項目1または2に記載の試料分析装置。
[項目4]
前記試料分析用基板が円形であり、かつ、前記磁石ユニットが前記円または前記リングの一部の形状を有している場合において、
前記磁石ユニットの周方向の長さは前記チャンバーの周方向の長さよりも長い、項目1から3のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目5]
前記試料分析用基板が円形である場合において、
前記円または前記リングの半径の大きさは、前記試料分析用基板の回転中心から前記チャンバーまでの距離に応じて決定される、項目1から4のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目6]
前記磁石ユニットが前記リングの一部または全部の形状を有している場合において、
前記アクチュエータは、前記B/F(Bound/Free)分離時に前記磁石ユニットを移動させて、前記リングの半径方向に関する中心位置を、前記試料分析用基板の回転中心から最も離れた前記チャンバー内の位置に一致させる、項目1から5のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目7]
前記アクチュエータは、前記試料分析用基板の回転軸に平行な方向に沿って前記磁石ユニットを移動させる、項目1から6のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目8]
前記アクチュエータは、前記試料分析用基板の回転軸に垂直な方向に沿って前記磁石ユニットを移動させる、項目1から6のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目9]
前記アクチュエータは、前記試料分析用基板の回転軸に平行な方向から見て、前記磁石ユニットと前記試料分析用基板とが重ならない位置まで前記磁石ユニットを移動させる、項目8に記載の試料分析装置。
[項目10]
前記磁石ユニットは、前記試料分析用基板に関して前記ターンテーブルと反対側に位置する、項目1から9のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目11]
前記磁石ユニットは、前記試料分析用基板に関して前記ターンテーブルと同じ側に位置する、項目1から9のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目12]
前記磁石ユニットを第1磁石ユニットとし、前記アクチュエータを第1アクチュエータとするとき、
前記第1磁石ユニットとは異なる第2磁石ユニットと、
前記第2磁石ユニットを前記試料分析用基板の回転軸に垂直な方向に沿って移動させて、前記第2磁石ユニットと前記試料分析用基板との相対位置を変化させる第2アクチュエータと
をさらに備える、項目1から11のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目13]
前記第2磁石ユニットは、円またはリングの一部または全部の形状を有する単一の磁石、または、前記形状に沿って配置された複数の磁石を含む、項目12に記載の試料分析装置。
[項目14]
前記アクチュエータはステッピングモータまたはリニアモータである、項目1から13のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目15]
前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータは、ステッピングモータまたはリニアモータである、項目12または13に記載の試料分析装置。
[項目16]
前記第1磁石ユニットは、前記試料分析用基板に関して前記ターンテーブルと反対側に位置し、
前記第2磁石ユニットは、前記試料分析用基板に関して前記ターンテーブルと同じ側に位置する、項目12から15のいずれかに記載の試料分析装置。
Claims (16)
- 液体試料を保持した試料分析用基板を回転させ停止させて、前記液体試料中のアナライトと磁性粒子の表面に固定化されたリガンドとの結合反応を生じさせる試料分析装置であって、
前記試料分析用基板は、前記試料分析装置への装填および前記試料分析装置からの取り外しが可能であり、所定の厚さを有する板状のベース基板と、前記ベース基板内の、前記結合反応を生じさせる空間であるチャンバーとを有しており、
装填された前記試料分析用基板を支持するターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転させるモータと、
前記モータの回転および停止を制御する駆動回路と、
前記磁性粒子を吸引する力を発生させる磁石ユニットと、
前記磁石ユニットを移動させて前記磁石ユニットと前記試料分析用基板との相対位置を変化させるアクチュエータと、
前記モータ、前記駆動回路、および前記アクチュエータの動作を制御する制御回路と
を備え、前記磁石ユニットは、円またはリングの一部または全部の形状を有しており、
前記チャンバー内の反応物と未反応物とを分離するB/F分離(Bound/Free Separation)時に、前記アクチュエータは、前記チャンバー内の前記磁性粒子が前記磁石ユニットに吸引される位置に前記磁石ユニットを移動させる、試料分析装置。 - 前記磁石ユニットは、前記形状を有する単一の磁石、または、前記形状に沿って配置された複数の磁石を含む、請求項1に記載の試料分析装置。
- 前記試料分析用基板が円形である場合において、
前記磁石ユニットは、中心角の和が90度以上360度以下の前記円または前記リングの一部または全部の形状を有している、請求項1または2に記載の試料分析装置。 - 前記試料分析用基板が円形であり、かつ、前記磁石ユニットが前記円または前記リングの一部の形状を有している場合において、
前記磁石ユニットの周方向の長さは前記チャンバーの周方向の長さよりも長い、請求項1から3のいずれかに記載の試料分析装置。 - 前記試料分析用基板が円形である場合において、
前記円または前記リングの半径の大きさは、前記試料分析用基板の回転中心から前記チャンバーまでの距離に応じて決定される、請求項1から4のいずれかに記載の試料分析装置。 - 前記磁石ユニットが前記リングの一部または全部の形状を有している場合において、
前記アクチュエータは、前記B/F(Bound/Free)分離時に前記磁石ユニットを移動させて、前記リングの半径方向に関する中心位置を、前記試料分析用基板の回転中心から最も離れた前記チャンバー内の位置に一致させる、請求項1から5のいずれかに記載の試料分析装置。 - 前記アクチュエータは、前記試料分析用基板の回転軸に平行な方向に沿って前記磁石ユニットを移動させる、請求項1から6のいずれかに記載の試料分析装置。
- 前記アクチュエータは、前記試料分析用基板の回転軸に垂直な方向に沿って前記磁石ユニットを移動させる、請求項1から6のいずれかに記載の試料分析装置。
- 前記アクチュエータは、前記試料分析用基板の回転軸に平行な方向から見て、前記磁石ユニットと前記試料分析用基板とが重ならない位置まで前記磁石ユニットを移動させる、請求項8に記載の試料分析装置。
- 前記磁石ユニットは、前記試料分析用基板に関して前記ターンテーブルと反対側に位置する、請求項1から9のいずれかに記載の試料分析装置。
- 前記磁石ユニットは、前記試料分析用基板に関して前記ターンテーブルと同じ側に位置する、請求項1から9のいずれかに記載の試料分析装置。
- 前記磁石ユニットを第1磁石ユニットとし、前記アクチュエータを第1アクチュエータとするとき、
前記第1磁石ユニットとは異なる第2磁石ユニットと、
前記第2磁石ユニットを前記試料分析用基板の回転軸に垂直な方向に沿って移動させて、前記第2磁石ユニットと前記試料分析用基板との相対位置を変化させる第2アクチュエータと
をさらに備える、請求項1から11のいずれかに記載の試料分析装置。 - 前記第2磁石ユニットは、円またはリングの一部または全部の形状を有する単一の磁石、または、前記形状に沿って配置された複数の磁石を含む、請求項12に記載の試料分析装置。
- 前記アクチュエータはステッピングモータまたはリニアモータである、請求項1から13のいずれかに記載の試料分析装置。
- 前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータは、ステッピングモータまたはリニアモータである、請求項12または13に記載の試料分析装置。
- 前記第1磁石ユニットは、前記試料分析用基板に関して前記ターンテーブルと反対側に位置し、
前記第2磁石ユニットは、前記試料分析用基板に関して前記ターンテーブルと同じ側に位置する、請求項12から15のいずれかに記載の試料分析装置。
Priority Applications (3)
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JP2020005738A JP7299174B2 (ja) | 2020-01-17 | 2020-01-17 | 試料分析装置 |
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US17/792,951 US20230047389A1 (en) | 2020-01-17 | 2021-01-14 | Sample analysis device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2020005738A JP7299174B2 (ja) | 2020-01-17 | 2020-01-17 | 試料分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2021113708A JP2021113708A (ja) | 2021-08-05 |
JP7299174B2 true JP7299174B2 (ja) | 2023-06-27 |
Family
ID=77076845
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2020005738A Active JP7299174B2 (ja) | 2020-01-17 | 2020-01-17 | 試料分析装置 |
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JP2016114409A (ja) | 2014-12-12 | 2016-06-23 | パナソニックヘルスケアホールディングス株式会社 | 試料分析用基板、試料分析装置、試料分析システムおよび試料分析システム用プログラム |
JP2018163102A (ja) | 2017-03-27 | 2018-10-18 | Phcホールディングス株式会社 | 試料分析装置、試料分析システムおよび試料の発光を測定する方法 |
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2020
- 2020-01-17 JP JP2020005738A patent/JP7299174B2/ja active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2009148735A (ja) | 2007-12-21 | 2009-07-09 | Sharp Corp | マイクロビーズを利用したマイクロ反応路チップ及び化学反応装置 |
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JP2016114409A (ja) | 2014-12-12 | 2016-06-23 | パナソニックヘルスケアホールディングス株式会社 | 試料分析用基板、試料分析装置、試料分析システムおよび試料分析システム用プログラム |
JP2018163102A (ja) | 2017-03-27 | 2018-10-18 | Phcホールディングス株式会社 | 試料分析装置、試料分析システムおよび試料の発光を測定する方法 |
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JP2021113708A (ja) | 2021-08-05 |
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