JP7283739B2 - Fine Wiring Structure Manufacturing Method and Fine Wiring Structure Manufacturing Apparatus - Google Patents

Fine Wiring Structure Manufacturing Method and Fine Wiring Structure Manufacturing Apparatus Download PDF

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本発明は、微細配線構造の製造方法および微細配線構造の製造装置に関する。 The present invention relates to a fine wiring structure manufacturing method and a fine wiring structure manufacturing apparatus.

従来、集積回路の微細配線は、極めて高価な極端紫外線(EUV: Extreme Ultraviolet)を利用した超微細加工や、減算的なリソグラフィとエッチングとの繰り返しなどにより形成されていたが、これらの方法は、非常に煩雑な工程であることや、より微細なナノメートルレベルの加工サイズに対応するのが困難であるという問題があった。そこで、これらの問題を解決するために、ジブロックコポリマー等の自己組織化材料を用いて、熱処理等により規則的な周期構造を形成させ、数10nm以下のナノメートルレベルサイズの微細なパターン形成を行う誘導自己組織化(DSA:Directed Self-Assembly)リソグラフィ技術が提案されている(例えば、非特許文献1参照)。 Conventionally, fine wiring in integrated circuits has been formed by ultra-fine processing using extremely expensive extreme ultraviolet (EUV), or by repeating subtractive lithography and etching. There are problems that it is a very complicated process and that it is difficult to deal with finer processing sizes on the order of nanometers. Therefore, in order to solve these problems, a self-organizing material such as a diblock copolymer is used to form a regular periodic structure by heat treatment or the like, and a fine pattern with a nanometer level size of several tens of nm or less is formed. Directed Self-Assembly (DSA) lithography technology has been proposed (see, for example, Non-Patent Document 1).

このDSAを利用して貫通電極やバンプ等の微細配線を形成する方法として、本発明者等により、自己組織化する金属粒子とポリマーとを用いて、例えば、ガイドの内側に、ポリマー層を形成し、さらにそのポリマー層の内側に金属柱を形成する方法(例えば、特許文献1参照)や、ブロック共重合体と、そのブロック共重合体の一方の高分子に金属を修飾したものとを混合し、ブロック共重合体を自己組織化させることにより、修飾した金属が連続したナノワイヤの配線を形成する方法(例えば、非特許文献2参照)が開発されている。 As a method for forming fine wiring such as through electrodes and bumps using this DSA, the inventors of the present invention use self-organizing metal particles and a polymer, for example, to form a polymer layer inside the guide. Then, a method of forming a metal column inside the polymer layer (see, for example, Patent Document 1), or a mixture of a block copolymer and one polymer of the block copolymer modified with a metal However, a method has been developed in which a nanowire wiring in which modified metals are continuous is formed by self-organizing a block copolymer (see, for example, Non-Patent Document 2).

なお、一般的な高分子材料は、C,H,N,O等の軽元素で構成されているため、電子線の透過性が良く、そのままでは内部構造を認識するだけのコントラストを得ることが難しい。そこで、高分子材料を電子線散乱性能の高い重金属で染色固定することにより、高分子材料の内部構造を識別可能にする染色方法が開発されている(例えば、非特許文献3または4参照)。 In addition, since general polymer materials are composed of light elements such as C, H, N, and O, they have good electron beam permeability, and it is possible to obtain sufficient contrast to recognize the internal structure. difficult. Therefore, a staining method has been developed that makes it possible to identify the internal structure of a polymer material by staining and fixing the polymer material with a heavy metal having high electron beam scattering performance (see, for example, Non-Patent Documents 3 and 4).

木原尚子、「自己組織化リソグラフィ技術」、東芝レビュー、2012年、Vol.67、No.4、p.44-47Naoko Kihara, "Self-Assembly Lithography Technology", Toshiba Review, 2012, Vol.67, No.4, p.44-47 Takafumi Fukushima, Mariappan Murugesan, and Mitsumasa Koyanagi, “DSA Technology with Metal Nanocomposites for Advanced Interconnections”, 4th International Symposium on DSA, November 11-13, 2018, posterTakafumi Fukushima, Mariappan Murugesan, and Mitsumasa Koyanagi, “DSA Technology with Metal Nanocomposites for Advanced Interconnections”, 4th International Symposium on DSA, November 11-13, 2018, poster 岡村稔、「高分子材料の内部構造観察」、2002年、2002-I号(Vol.15)、p.12-14Minoru Okamura, "Internal Structural Observation of Polymer Materials", 2002, No. 2002-I (Vol.15), p.12-14 Sang-Min Park, Sang-Hyun Yun, Byeong-Hyeok Sohn, “Variations of the Lamellar Period in Thin Films of Diblock Copolymers by Selective Staining Agents”, Macromol. Chem. Phys., 2002, 203, No.14, p.2069-2074Sang-Min Park, Sang-Hyun Yun, Byeong-Hyeok Sohn, “Variations of the Lamellar Period in Thin Films of Diblock Copolymers by Selective Staining Agents”, Macromol. Chem. Phys., 2002, 203, No.14, p. 2069-2074

国際公開WO2016/035625号International publication WO2016/035625

特許文献1に記載の方法は、比較的簡単な方法で貫通電極やバンプ等の微細配線を形成することができるが、自己組織化材料として金属粒子を利用するため、形成される金属柱のサイズが100nm以上になってしまい、より微細なナノメートルレベルの配線にするのは難しいという課題があった。また、非特許文献2に記載の方法では、ナノメートルレベルの微細配線を形成可能であるが、自己組織化の前工程として、高分子に金属を修飾したものを製造する工程が必要となるという課題があった。 The method described in Patent Document 1 can form fine wiring such as through electrodes and bumps by a relatively simple method. has become 100 nm or more, and there has been a problem that it is difficult to make finer nanometer-level wiring. In addition, the method described in Non-Patent Document 2 can form nanometer-level fine wiring, but it is said that a process for manufacturing a polymer modified with a metal is required as a pre-process for self-assembly. I had a problem.

本発明は、このような課題に着目してなされたもので、より少ない工程で、ナノメートルレベルの微細配線を形成することができる微細配線構造の製造方法および微細配線構造の製造装置を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such problems, and provides a fine wiring structure manufacturing method and a fine wiring structure manufacturing apparatus capable of forming nanometer-level fine wiring with fewer steps. for the purpose.

上記目的を達成するために、本発明に係る微細配線構造の製造方法は、熱を加えると相分離する相分離体を所望の位置に配置し、前記相分離体に対して熱処理を行って相分離させる相分離工程と、前記相分離工程で分離した相のうち、少なくとも一つの相に対して、導体または絶縁体を拡散させる拡散工程とを有することを特徴とする。 In order to achieve the above object, a method for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention includes disposing a phase-separated body that phase-separates when heat is applied at a desired position, and performing a heat treatment on the phase-separated body to phase-separate. and a diffusion step of diffusing a conductor or an insulator into at least one of the phases separated in the phase separation step.

本発明に係る微細配線構造の製造方法は、熱処理により分離した相のうち、少なくとも一つの相に導体または絶縁体を拡散させることにより、電気を通しやすい相と通しにくい相とを形成することができる。これにより、電気を通しやすい相を導電体とした微細配線を形成することができる。また、相分離体の自己組織化を利用しているため、ナノメートルレベルの微細配線を形成することができる。本発明に係る微細配線構造の製造方法は、例えば、貫通電極やバンプ、多層配線等の微細配線を形成することができる。 In the method for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention, by diffusing a conductor or an insulator in at least one phase among the phases separated by heat treatment, a phase with which electricity is easily conducted and a phase with which electricity is difficult to conduct can be formed. can. As a result, it is possible to form a fine wiring in which the phase through which electricity is easily conducted is a conductor. Also, since the self-organization of the phase separation is used, nanometer-level fine wiring can be formed. The method for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention can form fine wiring such as through electrodes, bumps, and multilayer wiring.

また、本発明に係る微細配線構造の製造方法は、拡散工程として、比較的簡単な方法を使用することにより、リソグラフィとエッチングとを繰り返す従来の方法や、高分子に金属を修飾したものを製造する前工程を行う方法に比べて、より少ない工程で微細配線を形成することができる。拡散工程は、比較的簡単なものであればいかなる方法を使用してもよく、例えば、非特許文献3または4に記載のような染色方法であってもよい。 In addition, the method for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention uses a relatively simple method as the diffusion process, so that the conventional method in which lithography and etching are repeated, or the manufacturing method in which a polymer is modified with a metal is used. A fine wiring can be formed in a smaller number of steps compared to the method of performing a pre-process. Any relatively simple diffusion process may be used, for example, the dyeing method described in Non-Patent Documents 3 or 4 may be used.

本発明に係る微細配線構造の製造方法で、前記相分離体は、熱を加えると相分離する2種類以上の高分子から成ることが好ましく、特に、ブロック共重合体であることが好ましい。相分離体は、例えば、ポリスチレン(PS)とポリメチルメタクリレート(PMMA)とを含むブロック共重合体や、Poly(styrene-b-4-vinyl pyridine)、Poly(styrene-b-2-vinyl pyridine)、Poly(styrene-b-dimethyl siloxane)、Poly(styrene-b-hydroxystyrene)、Poly(styrene-b-lactic acid)、Poly(styrene-b-trimethylsilylstyrene)、Poly(styrene-b-butadiene)などのブロック共重合体である。 In the method for producing a fine wiring structure according to the present invention, the phase-separated material is preferably composed of two or more types of polymers that phase-separate when heat is applied, and is particularly preferably a block copolymer. The phase separator is, for example, a block copolymer containing polystyrene (PS) and polymethyl methacrylate (PMMA), Poly(styrene-b-4-vinyl pyridine), Poly(styrene-b-2-vinyl pyridine). , Poly(styrene-b-dimethyl siloxane), Poly(styrene-b-hydroxystyrene), Poly(styrene-b-lactic acid), Poly(styrene-b-trimethylsilylstyrene), Poly(styrene-b-butadiene), etc. It is a copolymer.

本発明に係る微細配線構造の製造方法は、前記拡散工程で前記導体または前記絶縁体を拡散した相に存在する高分子を除去する除去工程を有していてもよい。この場合、除去工程により、導体または絶縁体のみを残すことができる。導体を残したときには、電気伝導率を高めて、電気抵抗を低く抑えることができ、絶縁体を残したときには、電気伝導率を小さくして、漏電を防ぐことができる。 The method for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention may have a removing step of removing a polymer present in the phase in which the conductor or the insulator is diffused in the diffusion step. In this case, the removal step can leave only conductors or insulators. When the conductor is left, the electrical conductivity can be increased and the electrical resistance can be kept low, and when the insulator is left, the electrical conductivity can be decreased and electric leakage can be prevented.

本発明に係る微細配線構造の製造方法で、前記相分離工程は、前記相分離体を含む溶液を前記所望の位置に配置してもよい。この場合、所望の位置に容易に微細配線を形成することができる。また、この場合、前記溶液は、導電性の粒子を含んでいてもよい。このとき、相分離工程により、導電性の粒子を少なくとも一つの相に凝集させることができ、微細配線の形成を促進することができる。 In the method for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention, the phase separation step may dispose the solution containing the phase separated body at the desired position. In this case, fine wiring can be easily formed at desired positions. Moreover, in this case, the solution may contain conductive particles. At this time, the phase separation process allows the conductive particles to aggregate into at least one phase, thereby promoting the formation of fine wiring.

本発明に係る微細配線構造の製造方法で、前記拡散工程は、前記相分離工程で分離した相のうちの第1の相を、第1の染色剤を用いて染色することにより、前記第1の相に前記導体を拡散させてもよい。この場合、染色により、比較的容易に導体を拡散させることができる。第1の相および第1の染色剤は、第1の染色剤で染色したときに、第1の相に導電性を有する物質を拡散可能な組合せであれば、いかなるものであってもよい。例えば、前記第1の相は、官能基として、-CH=CH-、-CH-CH-、-NH、または、-CONHを含む高分子から成り、前記第1の染色剤は、四酸化オスミウム(OsO)、四酸化ルテニウム(RuO)、または、リンタングステン酸であってもよい。より具体的には、前記第1の相はポリスチレン(PS)であり、前記第1の染色剤は四酸化ルテニウム(RuO)であってもよく、この場合、前記導体として、第1の相に二酸化ルテニウム(RuO)を拡散することができる。 In the method for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention, the diffusion step dyes the first phase out of the phases separated in the phase separation step using a first staining agent to dye the first phase. the conductor may be diffused into the phase of In this case, the conductor can be diffused relatively easily by dyeing. The first phase and first staining agent may be any combination that allows the diffusion of electrically conductive substances into the first phase when dyed with the first staining agent. For example, the first phase consists of polymers containing -CH=CH-, -CH 2 -CH 2 -, -NH 2 , or -CONH as functional groups, and the first dye is It may be osmium tetroxide ( OsO4 ), ruthenium tetroxide ( RuO4 ), or phosphotungstic acid. More specifically, the first phase may be polystyrene (PS) and the first dye may be ruthenium tetroxide ( RuO4 ), in which case the conductor is a first phase can be diffused with ruthenium dioxide (RuO 2 ).

また、この場合、前記拡散工程で前記第1の相に拡散した前記導体を還元する還元工程を有していてもよい。還元工程で導体を還元することにより、より電気伝導率が高く、電気抵抗が小さい物質にすることができる。例えば、第1の相に拡散した導体が二酸化ルテニウム(RuO)のとき、還元工程により、純ルテニウム(Ru)に還元することができる。 Further, in this case, a reduction step may be provided for reducing the conductor diffused into the first phase in the diffusion step. By reducing the conductor in the reduction step, a material with higher electrical conductivity and lower electrical resistance can be obtained. For example, when the conductor diffused into the first phase is ruthenium dioxide (RuO 2 ), a reduction step can reduce it to pure ruthenium (Ru).

本発明に係る微細配線構造の製造方法で、前記拡散工程は、前記相分離工程で分離した相のうちの第2の相を、第2の染色剤を用いて染色することにより、前記第2の相に前記絶縁体を拡散させてもよい。この場合、染色により、比較的容易に絶縁体を拡散させることができる。第2の相および第2の染色剤は、第2の染色剤で染色したときに、第2の相に絶縁体を拡散可能な組合せであれば、いかなるものであってもよい。具体的には、前記第2の相はポリメチルメタクリレート(PMMA)であり、前記第2の染色剤はトリメチルアルミニウム(C18Al)であってもよく、この場合、前記絶縁体として、第2の相に酸化アルミニウム(Al)を拡散することができる。 In the method for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention, the diffusion step dyes the second phase out of the phases separated in the phase separation step using a second staining agent to dye the second phase. The insulator may be diffused into the phase of In this case, the insulator can be diffused relatively easily by dyeing. The second phase and second stain may be any combination that allows diffusion of the insulator into the second phase when stained with the second stain. Specifically, the second phase may be polymethylmethacrylate (PMMA) and the second dye may be trimethylaluminum ( C6H18Al2 ) , wherein the insulator is , aluminum oxide (Al 2 O 3 ) can diffuse into the second phase.

本発明に係る微細配線構造の製造装置は、熱を加えると相分離する相分離体が相分離するよう、所望の位置に配置された前記相分離体を加熱する加熱手段と、前記加熱手段で前記相分離体を加熱して分離した相のうち、少なくとも一つの相に対して、導体または絶縁体を拡散させる拡散手段とを、有することを特徴とする。 An apparatus for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention includes a heating means for heating the phase separated body arranged at a desired position so that the phase separated body that undergoes phase separation when heat is applied, and the heating means and diffusion means for diffusing a conductor or an insulator into at least one of the phases separated by heating the phase-separated body.

本発明に係る微細配線構造の製造装置は、本発明に係る微細配線構造の製造方法を好適に実施することができる。本発明に係る微細配線構造の製造装置は、加熱手段で相分離体を加熱して分離した相のうち、少なくとも一つの相に導体または絶縁体を拡散させることにより、電気を通しやすい相と通しにくい相とを形成することができる。これにより、電気を通しやすい相を導電体とした微細配線を形成することができる。また、相分離体の自己組織化を利用しているため、ナノメートルレベルの微細配線を形成することができる。本発明に係る微細配線構造の製造装置は、例えば、貫通電極やバンプ、多層配線等の微細配線を形成することができる。 The apparatus for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention can suitably carry out the method for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention. In the apparatus for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention, a conductor or an insulator is diffused into at least one of the phases separated by heating the phase-separated body with a heating means, thereby allowing the phase to conduct electricity easily. can form a difficult phase. As a result, it is possible to form a fine wiring in which the phase through which electricity is easily conducted is a conductor. Also, since the self-organization of the phase separation is used, nanometer-level fine wiring can be formed. The fine wiring structure manufacturing apparatus according to the present invention can form fine wiring such as through electrodes, bumps, and multilayer wiring.

本発明に係る微細配線構造の製造装置で、前記拡散手段は、前記加熱手段で相分離した前記相分離体を染色剤の蒸気にさらすことにより、前記分離した相のうち、少なくとも一つの相に対して、前記導体または前記絶縁体を拡散させるよう構成されていてもよい。この場合、染色方法を利用して、比較的容易に導体または絶縁体を拡散させることができる。 In the apparatus for manufacturing a fine wiring structure according to the present invention, the diffusing means exposes the phase-separated body phase-separated by the heating means to vapor of a staining agent to convert at least one phase out of the separated phases. Alternatively, the conductor or the insulator may be configured to diffuse. In this case, the dyeing method can be used to diffuse the conductor or insulator relatively easily.

本発明によれば、より少ない工程で、ナノメートルレベルの微細配線を形成することができる微細配線構造の製造方法および微細配線構造の製造装置を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the manufacturing method of a fine wiring structure and the manufacturing apparatus of a fine wiring structure which can form a fine wiring of a nanometer level by fewer processes can be provided.

本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法により形成された、誘導自己組織化コンポジットを示す、(a)縦断面全体、(b) (a)中のA領域、(c) (a)中のB領域、(d) (b)中のC領域の、走査型顕微鏡(SEM)写真である。(a) Entire longitudinal section, (b) Region A in (a), (c) (a), showing an induced self-assembled composite formed by the method for manufacturing a fine wiring structure according to an embodiment of the present invention. It is a scanning microscope (SEM) photograph of region B in (d) and region C in (b). 図1(b)に示す誘導自己組織化コンポジットのA領域の、エネルギー分散型X線分析(EDX)による、(a)C、(b)O、(c)Si、(d)Au、(e)Ruの元素マッピング、(f)SEM写真である。(a) C, (b) O, (c) Si, (d) Au, (e) by energy dispersive X-ray analysis (EDX) of the A region of the guided self-assembled composite shown in FIG. ) Elemental mapping of Ru, (f) SEM photograph. 図1に示す誘導自己組織化コンポジットの、Auナノワイヤ(Au nano-wire)での(a)電圧、電流、抵抗測定時のSEM写真、(b)その測定結果を示す電圧-電流関係(図中の破線)および電圧-抵抗関係(図中の実線)のグラフである。(a) SEM photograph when measuring voltage, current, and resistance of the induced self-assembled composite shown in FIG. ) and the voltage-resistance relationship (solid line in the figure). 図1に示す誘導自己組織化コンポジットの、Ruで染色されたPS相(Ru stained PS)での(a)電圧、電流、抵抗測定時のSEM写真、(b)その測定結果を示す電圧-電流関係(図中の破線)および電圧-抵抗関係(図中の実線)のグラフである。(a) SEM photograph during voltage, current, and resistance measurement of Ru-stained PS phase (Ru stained PS) of the induced self-assembled composite shown in FIG. 1, and (b) voltage-current showing the measurement results. 2 is a graph of the relationship (dashed line in the figure) and the voltage-resistance relationship (solid line in the figure). 図1に示す誘導自己組織化コンポジットの、PMMA相(Insulator)とPS相との間の(a)電圧、電流、抵抗測定時のSEM写真、(b)その測定結果を示す電圧-電流関係(図中の破線)および電圧-抵抗関係(図中の実線)のグラフである。(a) SEM photograph when measuring voltage, current, and resistance between PMMA phase (insulator) and PS phase of the induction self-assembled composite shown in FIG. 1, (b) voltage-current relationship showing the measurement results ( Fig. 2 is a graph of the voltage-resistance relationship (solid line in the figure).

以下、実施例等に基づいて、本発明の実施の形態について説明する。
本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法は、相分離工程と拡散工程とを有している。相分離工程は、熱を加えると相分離する相分離体を所望の位置に配置し、その相分離体に対して熱処理を行って相分離させる。相分離体は、例えば、ブロック共重合体など、熱を加えると相分離する2種類以上の高分子から成ることが好ましい。また、相分離工程は、相分離体を含む溶液を、例えば、孔や溝状のガイド内などに配置してもよい。このときの溶液には、導電性の粒子を含んでいてもよい。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described based on examples and the like.
A method of manufacturing a fine wiring structure according to an embodiment of the present invention includes a phase separation step and a diffusion step. In the phase separation step, a phase-separated body that undergoes phase separation when heat is applied is arranged at a desired position, and the phase-separated body is subjected to heat treatment to cause phase separation. The phase-separated body preferably consists of two or more types of polymers that phase-separate when heat is applied, such as a block copolymer. Also, in the phase separation step, the solution containing the phase separated bodies may be placed in, for example, a hole or groove-shaped guide. The solution at this time may contain conductive particles.

拡散工程は、相分離工程で分離した相のうち、少なくとも一つの相に対して、導体または絶縁体を拡散させる。拡散工程は、例えば、相分離工程で分離した相のうちの第1の相を、第1の染色剤を用いて染色することにより、第1の相に導体を拡散させてもよく、さらに、相分離工程で分離した相のうちの第2の相を、第2の染色剤を用いて染色することにより、第2の相に絶縁体を拡散させてもよい。例えば、第1の相が、官能基として、-CH=CH-を含む高分子のとき、第1の染色剤は四酸化オスミウム(OsO)であり、第1の相が、-CH-CH-を含む高分子のとき、第1の染色剤は四酸化ルテニウム(RuO)であり、第1の相が、-NH、または、-CONHを含む高分子のとき、第1の染色剤はリンタングステン酸であることが好ましい。また、第2の相が、ポリメチルメタクリレート(PMMA)のとき、第2の染色剤は、トリメチルアルミニウム(C18Al)であることが好ましい。このとき、第2の相に拡散する絶縁体は、酸化アルミニウム(Al)である。 The diffusion step diffuses the conductor or insulator into at least one of the phases separated in the phase separation step. In the diffusion step, for example, the first phase among the phases separated in the phase separation step may be dyed with a first staining agent to diffuse the conductor into the first phase, and further, The insulator may be diffused into the second phase by dyeing the second phase among the phases separated in the phase separation step with a second dye. For example, when the first phase is a polymer containing -CH=CH- as a functional group, the first dye is osmium tetroxide (OsO 4 ) and the first phase is -CH 2 - When the polymer contains CH 2 —, the first dye is ruthenium tetroxide (RuO 4 ), and when the first phase is a polymer containing —NH 2 or —CONH, the first Preferably, the stain is phosphotungstic acid. Also, when the second phase is polymethylmethacrylate (PMMA), the second dye is preferably trimethylaluminum ( C6H18Al2 ) . At this time, the insulator that diffuses into the second phase is aluminum oxide (Al 2 O 3 ).

本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法は、本発明の実施の形態の微細配線構造の製造装置により好適に実施することができる。本発明の実施の形態の微細配線構造の製造装置は、加熱手段と拡散手段とを有している。加熱手段は、例えばヒーターから成り、熱を加えると相分離する相分離体が相分離するよう、所望の位置に配置された相分離体を加熱するよう構成されている。加熱手段は、本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法の相分離工程を実施することができる。 The fine wiring structure manufacturing method according to the embodiment of the present invention can be suitably carried out by the fine wiring structure manufacturing apparatus according to the embodiment of the present invention. An apparatus for manufacturing a fine wiring structure according to an embodiment of the present invention has heating means and diffusion means. The heating means is composed of, for example, a heater, and is configured to heat the phase-separated body arranged at a desired position so that the phase-separated body undergoes phase separation when heat is applied. The heating means can carry out the phase separation step of the fine wiring structure manufacturing method according to the embodiment of the present invention.

拡散手段は、加熱手段で相分離体を加熱して分離した相のうち、少なくとも一つの相に対して、導体または絶縁体を拡散させるよう構成されている。拡散手段は、本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法の拡散工程を実施することができる。拡散手段は、例えば、染色方法を利用し、加熱手段で相分離した相分離体を、染色剤を含む水溶液に浸漬することにより、導体または絶縁体を拡散させるよう構成されていてもよく、加熱手段で相分離した相分離体を染色剤の蒸気にさらすことにより、導体または絶縁体を拡散させるよう構成されていてもよい。この場合、染色剤を用いて染色を行う拡散工程を実施することができる。 The diffusing means is configured to diffuse the conductor or the insulator into at least one of the phases separated by heating the phase-separated body with the heating means. The diffusing means can perform the diffusing step of the fine wiring structure manufacturing method according to the embodiment of the present invention. The diffusing means may be configured to diffuse the conductor or the insulator by, for example, using a dyeing method and immersing the phase-separated body phase-separated by the heating means in an aqueous solution containing a dye. It may be configured to diffuse the conductor or insulator by exposing the phase-separated body to vapor of the staining agent. In this case, a diffusion step of dyeing with a dye can be carried out.

本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法および微細配線構造の製造装置は、熱処理により分離した相のうち、少なくとも一つの相に導体または絶縁体を拡散させることにより、電気を通しやすい相と通しにくい相とを形成することができる。これにより、電気を通しやすい相を導電体とした微細配線を形成することができる。また、相分離体の自己組織化を利用しているため、ナノメートルレベルの微細配線を形成することができる。本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法および微細配線構造の製造装置は、例えば、貫通電極やバンプ、多層配線等の微細配線を形成することができる。 The fine wiring structure manufacturing method and the fine wiring structure manufacturing apparatus according to the embodiments of the present invention are provided by diffusing a conductor or an insulator into at least one of the phases separated by heat treatment, thereby forming a phase that conducts electricity easily. and impermeable phases can be formed. As a result, it is possible to form a fine wiring in which the phase through which electricity is easily conducted is a conductor. Also, since the self-organization of the phase separation is used, nanometer-level fine wiring can be formed. The fine wiring structure manufacturing method and fine wiring structure manufacturing apparatus according to the embodiments of the present invention can form fine wiring such as through electrodes, bumps, and multilayer wiring.

また、本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法は、拡散工程として、比較的簡単な方法を使用することにより、リソグラフィとエッチングとを繰り返す従来の方法や、高分子に金属を修飾したものを製造する前工程を行う方法に比べて、より少ない工程で微細配線を形成することができる。 Further, the method for manufacturing a fine wiring structure according to the embodiment of the present invention uses a relatively simple method as the diffusion step, so that the conventional method in which lithography and etching are repeated, or the method in which a polymer is modified with a metal is used. Fine wiring can be formed in a smaller number of steps compared to the method of performing a pre-process for manufacturing a product.

本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法は、溶液中に相分離体を混合することにより、相分離工程で、その溶液を所望の位置に容易に配置することができる。また、その溶液に導電性の粒子を含ませることにより、相分離工程で、導電性の粒子を少なくとも一つの相に凝集させることができ、微細配線の形成を促進することができる。また、本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法および微細配線構造の製造装置は、拡散工程または拡散手段で、染色方法を利用することにより、比較的容易に導体や絶縁体を拡散させることができる。 In the method for manufacturing a fine wiring structure according to the embodiment of the present invention, by mixing the phase separator into the solution, the solution can be easily arranged at a desired position in the phase separation step. In addition, by including the conductive particles in the solution, the conductive particles can be aggregated into at least one phase in the phase separation process, and the formation of fine wiring can be promoted. Further, the fine wiring structure manufacturing method and the fine wiring structure manufacturing apparatus according to the embodiment of the present invention use the dyeing method in the diffusion process or the diffusion means to relatively easily diffuse conductors and insulators. be able to.

なお、本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法は、相分離体が高分子を含むとき、拡散工程で導体または絶縁体を拡散した相に存在する高分子を除去する除去工程を有していてもよい。本発明の実施の形態の微細配線構造の製造装置は、相分離体が高分子を含むとき、拡散手段で導体または絶縁体を拡散した相に存在する高分子を除去する除去手段を有していてもよい。これらの場合、除去工程または除去手段により、導体または絶縁体のみを残すことができる。導体を残したときには、電気伝導率を高めて、電気抵抗を低く抑えることができ、絶縁体を残したときには、電気伝導率を小さくして、漏電を防ぐことができる。 The method for manufacturing a fine wiring structure according to the embodiment of the present invention has a removal step of removing the polymer present in the phase in which the conductor or insulator is diffused in the diffusion step when the phase-separated body contains a polymer. You may have An apparatus for manufacturing a fine wiring structure according to an embodiment of the present invention has a removing means for removing a polymer present in a phase in which a conductor or an insulator is diffused by a diffusing means when the phase-separated body contains a polymer. may In these cases, the removal step or means may leave only conductors or insulators. When the conductor is left, the electrical conductivity can be increased and the electrical resistance can be kept low, and when the insulator is left, the electrical conductivity can be decreased and electric leakage can be prevented.

また、本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法は、拡散工程で拡散した導体を還元する還元工程を有していてもよい。本発明の実施の形態の微細配線構造の製造装置は、拡散手段で拡散した導体を還元する還元手段を有していてもよい。これらの場合、還元工程または還元手段で導体を還元することにより、より電気伝導率が高く、電気抵抗が小さい物質にすることができる。 Further, the method for manufacturing a fine wiring structure according to the embodiment of the present invention may have a reduction step of reducing the conductor diffused in the diffusion step. The apparatus for manufacturing a fine wiring structure according to the embodiment of the present invention may have reducing means for reducing the conductor diffused by the diffusing means. In these cases, by reducing the conductor in a reduction step or reduction means, a material with higher electrical conductivity and lower electrical resistance can be obtained.

本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法を用いて、微細配線構造を製造した。まず、相分離体として、ポリスチレン(PS)とポリメチルメタクリレート(PMMA)とを含む、PS-b-PMMAのブロック共重合体を用いた。このブロック共重合体の各構成成分の分子量を、PS 57,000、PMMA 25,000 とした。なお、この組成では、相分離したとき、PMMA がシリンダー型となり、その周囲をPS が覆うナノ構造が形成される。 A fine wiring structure was manufactured using the fine wiring structure manufacturing method according to the embodiment of the present invention. First, a PS-b-PMMA block copolymer containing polystyrene (PS) and polymethyl methacrylate (PMMA) was used as a phase separator. The molecular weight of each component of this block copolymer was PS 57,000 and PMMA 25,000. In this composition, when phase separation occurs, PMMA forms a cylindrical nanostructure surrounded by PS.

また、導電体を含む粒子として、Au-PMMAナノ粒子を用いた。用いたAu-PMMAナノ粒子に含まれるPMMA のMn数平均分子量は、Mn 15,000 である。また、Au に対するPMMA の被覆率は、92.2 %である。また、Auナノ粒子の粒径は、2~5 nm である。 Also, Au-PMMA nanoparticles were used as particles containing a conductor. The Mn number average molecular weight of PMMA contained in the Au-PMMA nanoparticles used is Mn 15,000. Also, the PMMA coverage on Au is 92.2%. Also, the particle size of the Au nanoparticles is 2 to 5 nm.

PS-b-PMMAブロック共重合体 98 vol%と、Au-PMMAナノ粒子 2 vol%とを、20倍に希釈したピリジンに溶解して混合し、その混合溶液を、Si板に形成した直径3μmの孔に注入して乾燥させた。その後、真空中で、280℃で120分間の熱処理を施して相分離させ、さらに、Ruを含む水(RuO4水溶液)中に3日間浸漬して、誘導自己組織化コンポジットを形成した。なお、PS-b-PMMA とAu-PMMA とを混合した後のPS:PMMA比は、およそ1:1である。 PS-b-PMMA block copolymer 98 vol% and Au-PMMA nanoparticles 2 vol% were dissolved in 20-fold diluted pyridine and mixed, and the mixed solution was formed on a Si plate with a diameter of 3 μm. was injected into the pores and allowed to dry. Then, it was subjected to heat treatment at 280° C. for 120 minutes in vacuum to cause phase separation, and then immersed in Ru-containing water (RuO 4 aqueous solution) for 3 days to form an induced self-assembled composite. The PS:PMMA ratio after mixing PS-b-PMMA and Au-PMMA is approximately 1:1.

孔中に形成された誘導自己組織化コンポジットの縦断面の走査型顕微鏡(SEM)写真を、図1に示す。また、その縦断面の一部のエネルギー分散型X線分析(EDX)の結果を、図2に示す。図1に示すように、誘導自己組織化コンポジットは、PSマトリックス相中に、複数のシリンダー状のPMMA相が存在していることが確認された。また、図1(b)、(d)および図2(d)に示すように、PMMA相の中に、Auが連続した、長さ520 nm程度のAuナノワイヤ(Au nano-wire)が存在していることが確認された。また、図1(c)に示すように、PS がRuで染色されて、PS相の中にRuO2が拡散していることが確認された。 A scanning microscope (SEM) photograph of a longitudinal section of the guided self-assembled composite formed in the pores is shown in FIG. FIG. 2 shows the result of energy dispersive X-ray analysis (EDX) of a part of the longitudinal section. As shown in FIG. 1, it was confirmed that the induced self-assembled composite had multiple cylindrical PMMA phases in the PS matrix phase. In addition, as shown in FIGS. 1(b), (d) and 2(d), continuous Au nano-wires with a length of about 520 nm exist in the PMMA phase. It was confirmed that Moreover, as shown in FIG. 1(c), it was confirmed that the PS was stained with Ru, and RuO 2 was diffused in the PS phase.

次に、微小デバイス特性評価装置(ナノプローバ「N-6000SS」;(株)日立ハイテクノロジーズ社製)のナノプローブ(Nano probe)を用いて、孔中に形成された誘導自己組織化コンポジットの縦断面中の所定の区間での電圧、電流、抵抗測定を行った。測定箇所は、Auナノワイヤ、Ruで染色されたPS相、PMMA相とPS相との間である。各測定箇所での測定時のSEM写真および測定結果を、それぞれ図3~図5に示す。 Next, using a nanoprobe of a microdevice characterization device (Nanoprober "N-6000SS"; manufactured by Hitachi High-Technologies Co., Ltd.), the longitudinal section of the induced self-assembled composite formed in the pores was measured. Voltage, current, and resistance measurements were taken in a predetermined section of the inside. The measurement points are the Au nanowire, the Ru-stained PS phase, and between the PMMA phase and the PS phase. SEM photographs and measurement results at each measurement point are shown in FIGS. 3 to 5, respectively.

図3に示すように、Auナノワイヤ(Au nano-wire)は、2回測定を行ったところ、2回とも、電流と電圧とが比例し、抵抗値もほぼ5MΩよりも小さくなっていることが確認された。この結果から、Auナノワイヤは、導電性を有していることいえる。また、図4に示すように、Ruで染色されたPS相(Ru stained PS)は、2回測定を行ったところ、2回とも、Auナノワイヤよりも抵抗は大きいが、電流と電圧とが比例し、抵抗値もほぼ25MΩよりも小さくなっていることが確認された。この結果から、Ruで染色されたPS相も、導電性を有しているといえる。図5に示すように、PMMA相(Insulator)とPS相との間は、電圧をかけているにもかかわらず、ほとんど電流が流れておらず、抵抗も数TΩと非常に大きくなっていることが確認された。この結果から、PMMA相とPS相との間は、絶縁されているといえる。 As shown in FIG. 3, when the Au nano-wire was measured twice, it was found that the current and voltage were proportional to each other, and the resistance value was approximately less than 5 MΩ. confirmed. From this result, it can be said that the Au nanowires have electrical conductivity. In addition, as shown in FIG. 4, the Ru-stained PS phase was measured twice. However, it was confirmed that the resistance value was also smaller than approximately 25 MΩ. From this result, it can be said that the PS phase dyed with Ru also has conductivity. As shown in Fig. 5, almost no current flows between the PMMA phase (insulator) and the PS phase even though a voltage is applied, and the resistance is very large, several TΩ. was confirmed. From this result, it can be said that the PMMA phase and the PS phase are insulated.

以上のように、本発明の実施の形態の微細配線構造の製造方法により、Au-PMMAナノ粒子を使用して、PMMA相中にAuナノワイヤによる微細配線を形成することができた(図3参照)。また、Ruで染色されたPS相にも微細配線を形成することができた(図4参照)。なお、Ruで染色されたPS相は、PMMA相中のAuナノワイヤの存在とは関係なく、導電性を有していることから、Au-PMMAナノ粒子を使用しなくとも、PS相中に微細配線を形成可能であることは明らかである。
As described above, according to the fine wiring structure manufacturing method of the embodiment of the present invention, Au-PMMA nanoparticles were used to form fine wiring by Au nanowires in the PMMA phase (see FIG. 3). ). Fine wiring was also formed on the Ru-dyed PS phase (see FIG. 4). The Ru-stained PS phase has electrical conductivity regardless of the presence of Au nanowires in the PMMA phase. It is clear that wiring can be formed.

Claims (15)

熱を加えると相分離する相分離体を所望の位置に配置し、前記相分離体に対して熱処理を行って相分離させる相分離工程と、
前記相分離工程で分離した相のうち、少なくとも一つの相に対して、導体または絶縁体を拡散させる拡散工程とを
有することを特徴とする微細配線構造の製造方法。
A phase separation step of arranging a phase separation body that phase separates when heat is applied at a desired position, and performing a heat treatment on the phase separation body to cause phase separation;
and a diffusion step of diffusing a conductor or an insulator into at least one of the phases separated in the phase separation step.
前記相分離体は、熱を加えると相分離する2種類以上の高分子から成ることを特徴とする請求項1記載の微細配線構造の製造方法。 2. The method of manufacturing a fine wiring structure according to claim 1, wherein said phase-separated material is composed of two or more kinds of polymers that phase-separate when heat is applied. 前記相分離体は、ブロック共重合体であることを特徴とする請求項1記載の微細配線構造の製造方法。 2. The method of manufacturing a fine wiring structure according to claim 1, wherein the phase separator is a block copolymer. 前記相分離体は、ポリスチレン(PS)とポリメチルメタクリレート(PMMA)とを含むブロック共重合体であることを特徴とする請求項1記載の微細配線構造の製造方法。 2. The method of manufacturing a fine wiring structure according to claim 1, wherein the phase separator is a block copolymer containing polystyrene (PS) and polymethyl methacrylate (PMMA). 前記拡散工程で前記導体または前記絶縁体を拡散した相に存在する高分子を除去する除去工程を有することを特徴とする請求項2乃至4のいずれか1項に記載の微細配線構造の製造方法。 5. The method for manufacturing a fine wiring structure according to any one of claims 2 to 4, further comprising a removing step of removing a polymer existing in a phase in which the conductor or the insulator is diffused in the diffusion step. . 前記相分離工程は、前記相分離体を含む溶液を前記所望の位置に配置することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の微細配線構造の製造方法。 6. The method of manufacturing a fine wiring structure according to claim 1, wherein said phase separation step places a solution containing said phase separated body at said desired position. 前記溶液は、導電性の粒子を含んでいることを特徴とする請求項6記載の微細配線構造の製造方法。 7. The method of manufacturing a fine wiring structure according to claim 6, wherein said solution contains conductive particles. 前記拡散工程は、前記相分離工程で分離した相のうちの第1の相を、第1の染色剤を用いて染色することにより、前記第1の相に前記導体を拡散させることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の微細配線構造の製造方法。 In the diffusion step, the first phase among the phases separated in the phase separation step is dyed with a first dye, thereby diffusing the conductor into the first phase. The method for manufacturing a fine wiring structure according to any one of claims 1 to 7. 前記第1の相は、官能基として、-CH=CH-、-CH-CH-、-NH、または、-CONHを含む高分子から成り、
前記第1の染色剤は、四酸化オスミウム、四酸化ルテニウム、または、リンタングステン酸であることを
特徴とする請求項8記載の微細配線構造の製造方法。
the first phase consists of a polymer containing -CH=CH-, -CH 2 -CH 2 -, -NH 2 or -CONH as a functional group;
9. The method of manufacturing a fine wiring structure according to claim 8, wherein the first dye is osmium tetroxide, ruthenium tetroxide, or phosphotungstic acid.
前記第1の相はポリスチレン(PS)であり、
前記第1の染色剤は四酸化ルテニウムであり、
前記導体は二酸化ルテニウムであることを
特徴とする請求項8記載の微細配線構造の製造方法。
the first phase is polystyrene (PS);
The first dye is ruthenium tetroxide,
9. The method of manufacturing a fine wiring structure according to claim 8, wherein the conductor is ruthenium dioxide.
前記拡散工程で前記第1の相に拡散した前記導体を還元する還元工程を有することを特徴とする請求項8乃至10のいずれか1項に記載の微細配線構造の製造方法。 11. The method of manufacturing a fine wiring structure according to claim 8, further comprising a reduction step of reducing the conductor diffused into the first phase in the diffusion step. 前記拡散工程は、前記相分離工程で分離した相のうちの第2の相を、第2の染色剤を用いて染色することにより、前記第2の相に前記絶縁体を拡散させることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の微細配線構造の製造方法。 In the diffusion step, the second phase among the phases separated in the phase separation step is dyed with a second dye, thereby diffusing the insulator into the second phase. The method for manufacturing a fine wiring structure according to any one of claims 1 to 11. 前記第2の相はポリメチルメタクリレート(PMMA)であり、
前記第2の染色剤はトリメチルアルミニウムであり、
前記絶縁体は酸化アルミニウムであることを
特徴とする請求項12記載の微細配線構造の製造方法。
the second phase is polymethyl methacrylate (PMMA);
the second staining agent is trimethylaluminum;
13. The method of manufacturing a fine wiring structure according to claim 12, wherein the insulator is aluminum oxide.
熱を加えると相分離する相分離体が相分離するよう、所望の位置に配置された前記相分離体を加熱する加熱手段と、
前記加熱手段で前記相分離体を加熱して分離した相のうち、少なくとも一つの相に対して、導体または絶縁体を拡散させる拡散手段とを、
有することを特徴とする微細配線構造の製造装置。
a heating means for heating the phase-separated body arranged at a desired position so that the phase-separated body undergoes phase separation when heat is applied;
Diffusion means for diffusing a conductor or an insulator into at least one of the phases separated by heating the phase-separated body with the heating means,
An apparatus for manufacturing a fine wiring structure, comprising:
前記拡散手段は、前記加熱手段で相分離した前記相分離体を染色剤の蒸気にさらすことにより、前記分離した相のうち、少なくとも一つの相に対して、前記導体または前記絶縁体を拡散させるよう構成されていることを特徴とする請求項14記載の微細配線構造の製造装置。
The diffusing means diffuses the conductor or the insulator into at least one of the separated phases by exposing the phase-separated body phase-separated by the heating means to vapor of a staining agent. 15. The apparatus for manufacturing a fine wiring structure according to claim 14, wherein the apparatus is constructed as follows.
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