JP7261557B2 - 積層セラミック電子部品の製造方法 - Google Patents
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上記セラミック積層チップの上記第1方向における高さ寸法よりも上記第1方向と、上記第1方向及び上記第2方向に直交する第3方向と、に大きな間隔をあけて配置された上記複数のセラミック積層チップの上記側面で、弾性部材上に配置されたセラミックシートを打ち抜くことで、上記側面にサイドマージン部が形成される。
これにより、セラミック積層チップ間のスペースを十分に確保することができ、弾性部材の弾性変形をより促しやすくなる。これにより、サイドマージン部の打ち抜き時の歩留まりをさらに向上させることができる。
これにより、1枚のセラミックシートに対してセラミック積層チップを多数並べることができ、同時に多くのセラミック積層チップにサイドマージン部を設けることができる。したがって、生産性をさらに高めることが可能となる。
これにより、弾性部材の弾性変形をより効果的に促すことができ、サイドマージン部の打ち抜き時の歩留まりをさらに向上させることができる。
図面には、適宜相互に直交するX軸、Y軸、及びZ軸が示されている。X軸、Y軸、及びZ軸は全図において共通である。
図1~3は、本発明の一実施形態に係る積層セラミックコンデンサ10を示す図である。図1は、積層セラミックコンデンサ10の斜視図である。図2は、積層セラミックコンデンサ10の図1のA-A'線に沿った断面図である。図3は、積層セラミックコンデンサ10の図1のB-B'線に沿った断面図である。
図4は、積層セラミックコンデンサ10の製造方法を示すフローチャートである。図5~10は積層セラミックコンデンサ10の製造過程を模式的に示す図である。以下、積層セラミックコンデンサ10の製造方法について、図4に沿って、図5~10を適宜参照しながら説明する。
ステップS01では、容量形成部18を形成するための第1セラミックシート101及び第2セラミックシート102と、カバー部19を形成するための第3セラミックシート103と、を積層し、切断することで、未焼成のセラミック積層チップ(積層チップ)116を作製する。
なお、セラミックシート101,102,103の積層枚数等は、適宜調整可能である。
ステップS02では、積層チップ116の側面116bにサイドマージン部117を形成する。
ステップS03では、ステップS02で得られたセラミック素体111を焼成することにより、図1~3に示す積層セラミックコンデンサ10のセラミック素体11を作製する。焼成温度は、セラミック素体111の焼結温度に基づいて決定することができる。また、焼成は、例えば、還元雰囲気下、又は低酸素分圧雰囲気下において行うことができる。
ステップS04では、ステップS03で得られたセラミック素体11のX軸方向両端部に外部電極14,15を形成する。一例として、まず、導電性ペーストをセラミック素体11のX軸方向両端部に塗布し、この導電性ペーストを焼き付けて下地膜を形成する。次に、下地膜が形成されたセラミック素体11をメッキ液に浸漬させて電解メッキを行うことで、1又は複数のメッキ膜を形成する。
これにより、図1~3に示すような積層セラミックコンデンサ10が形成される。
本実施形態の実施例及び比較例として、上記製造方法によって作製した積層チップのサンプルを所定の間隔で並べて、セラミックシートに押し込んだときの打ち抜き不良率について調べた。
11…セラミック素体
12,13…内部電極
14,15…外部電極
16…積層体
17…サイドマージン部
112,113…未焼成の内部電極
116…未焼成の積層チップ(セラミック積層チップ)
117…未焼成のサイドマージン部
Claims (6)
- 第1方向に積層され、かつ前記第1方向に直交する第2方向に向いた側面から露出した複数の内部電極をそれぞれ有する複数のセラミック積層チップを作製し、
前記セラミック積層チップの前記第1方向における高さ寸法よりも、前記第1方向と、前記第1方向及び前記第2方向に直交する第3方向と、に大きな間隔をあけて配置された前記複数のセラミック積層チップの前記側面を、弾性部材上に配置されたセラミックシートの表面から前記第2方向に前記高さ寸法以上の深さ押し込み、前記セラミックシートを打ち抜くことで、前記側面にサイドマージン部を形成する
積層セラミック電子部品の製造方法。 - 請求項1に記載の積層セラミック電子部品の製造方法であって、
前記セラミック積層チップの前記高さ寸法を0.25mm~0.6mmの範囲とし、前記セラミック積層チップの第3方向の長さ寸法を0.5mm~1.2mmの範囲に設定した、
積層セラミック電子部品の製造方法。 - 第1方向に積層され、かつ前記第1方向に直交する第2方向に向いた側面から露出した複数の内部電極をそれぞれ有する複数のセラミック積層チップを作製し、
前記セラミック積層チップの前記第1方向における高さ寸法よりも、前記第1方向と、前記第1方向及び前記第2方向に直交する第3方向と、に大きな間隔をあけて配置された前記複数のセラミック積層チップの前記側面で、弾性部材上に配置されたセラミックシートを打ち抜くことで、前記側面にサイドマージン部を形成し、
前記第1方向における高さ寸法をTとし、前記複数のセラミック積層チップの第1方向の間隔をD1とし、前記側面で前記セラミックシートを打ち抜くときの前記側面が押し込まれる第2方向の深さをD3としたときに、D1/Tを1よりも大きくし、Tを0.3mm以上とすると共に、D3/Tを0.5以上とする
積層セラミック電子部品の製造方法。 - 請求項1から3のいずれか一項に記載の積層セラミック電子部品の製造方法であって、
前記間隔は、前記高さ寸法の1.2倍以上である
積層セラミック電子部品の製造方法。 - 請求項1から4のいずれか一項に記載の積層セラミック電子部品の製造方法であって、
前記間隔は、前記高さ寸法の2.5倍以下である
積層セラミック電子部品の製造方法。 - 請求項3に記載の積層セラミック電子部品の製造方法であって、
前記側面を、前記セラミックシートの表面から前記第2方向に前記高さ寸法以上の深さ押し込むことで、前記側面にサイドマージン部を形成する
積層セラミック電子部品の製造方法。
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