JP7257510B2 - 電流検出装置 - Google Patents

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Description

本発明は、電流検出装置に関する。
導体の近傍に配置され、導体に流れる電流に応じて発生される磁場を検出して、導体に流れる電流量を検出する電流検出装置がある。電流検出装置は、例えば、直流を3相交流に変換するインバータから導出される3相の導体の近傍にそれぞれ配置される。
特許文献1には、電流を流す導電部と、導電部に流れる電流によって生じる磁場を検出する検出部と、導電部および検出部を囲うシールドと、を備えた電流センサが開示されている。
特開2017-181415号公報
特許文献1に記載の技術は、隣接する導体に流れる電流による影響を受けて、電流検出精度が悪化する課題がある。
本発明による電流検出装置は、第1電流検出素子と、第2電流検出素子と、第1導体の一部と前記第1電流検出素子とを収納する第1収納空間を形成し、かつ前記第1収納空間と外部とを繋げる第1開口部を形成する第1遮蔽部と、前記第1遮蔽部に隣接し、第2導体の一部と前記第2電流検出素子を収納する第2収納空間を形成し、かつ前記第2収納空間と外部とを繋げる第2開口部を形成する第2遮蔽部と、を備え、前記第1遮蔽部は、前記第2遮蔽部と対向して配置され、かつ前記第2遮蔽部との間隔が一定である第1接続部と、前記第1開口部を形成する一対の端部のうち前記第2遮蔽部に近い側の前記端部を含む部分において、前記第1接続部よりも前記第2遮蔽部との間隔が短く、かつ前記端部に近づくにつれて前記第2遮蔽部との間隔が狭まるように形成された第1屈曲部と、を有し、前記第2遮蔽部は、前記第1遮蔽部と対向して配置され、かつ前記第1遮蔽部との間隔が一定である第2接続部と、前記第2開口部を形成する一対の端部のうち前記第1遮蔽部に近い側の前記端部を含む部分において、前記第2接続部よりも前記第1遮蔽部との間隔が短く、かつ前記端部に近づくにつれて前記第1遮蔽部との間隔が狭まるように形成された第2屈曲部と、を有する。
本発明によれば、隣接する導体に流れる電流による影響を抑えて、電流検出精度の悪化を軽減することができる。
電流検出装置の斜視図である。 電流検出装置の断面図である。 (A)(B)磁気遮蔽部の形状の違いによる外部からの磁場を示す図である。 (A)(B)磁気遮蔽部の形状の違いによる隣相からの磁場を示す図である。
図1は、本実施形態に係る電流検出装置100の斜視図である。
電流検出装置100は、本実施形態では、U相、V相、W相の導体Bu、Bv、Bwに、図示直交する3方向(X軸、Y軸、およびZ軸方向)のうちZ軸方向に流れる電流の値を非接触で検出する。
電流検出装置100は、U相の電流検出装置100u、V相の電流検出装置100v、およびW相の電流検出装置100wを、図示直交する3方向(X軸、Y軸、およびZ軸方向)のうちX軸方向に並列的に設置して構成される。
電流検出装置100uは、U相の導体Buに流れる電流の値を非接触で検出する。電流検出装置100vは、V相の導体Bvに流れる電流の値を非接触で検出する。電流検出装置100wは、W相の導体Bwに流れる電流の値を非接触で検出する。
U相の電流検出装置100uの構成を説明する。U相の導体Buの図示上部の近傍には、基板1uに載置された磁気検出素子2uが設けられる。導体Buの所定の長さ部分と、基板1uおよび磁気検出素子2uは、断面が略U字状の磁気遮蔽部3uに収納される。すなわち、磁気遮蔽部3uは、導体Buの一部分と、基板1uおよび磁気検出素子2uとを収納する収納空間4uを形成し、収納空間4uと外部を繋げる開口部5uを形成する。そして、磁気遮蔽部3uは、開口部5uを形成する端部6u近傍が、端部6uに近づくにつれて、開口部5uの開口面積が大きくなるように形成される。
V相の電流検出装置100vの構成、およびW相の電流検出装置100wの構成は、U相の電流検出装置100uの構成と同様である。
導体Bu、Bv、Bwは、Z軸方向に延伸し、Z軸方向に電流を流す電流導体である。
導体Bu、Bv、Bwは、電流を流す導電性の材料よりなる。導体Bu、Bv、Bwは、電流が流れる値に応じて、周囲に磁場を発生させる。
磁気検出素子2u、2v、2wは、導体Bu、Bv、Bwに流れる電流によって生じる磁場を検出する。磁気検出素子2u、2v、2wは、例えば、図1におけるX軸方向と略平行な磁場を検出する。磁気検出素子2u、2v、2wは、例えば、Si、GaAsなどの半導体が用いられ、検知した磁場(磁界)を電圧に変換し、変換された電圧はモータの制御に用いられる。
磁気遮蔽部3u、3v、3wは、X軸方向の幅をW、Y軸方向の高さをH、Z軸方向の奥行きをL(図示省略)とする。磁気遮蔽部3u、3v、3wは、珪素鋼板で構成され、電流による磁束の集磁と外部からの磁界の遮蔽機能をもつ。例えば、Si-Fe,Ni-Feなどの高飽和磁束密度を持つ磁性材料から構成される。磁気遮蔽部3u、3v、3wは、内側に磁気検出素子2u、2v、2w、および導体Bu、Bv、Bwの一部を配置させ、磁気検出素子2u、2v、2wに外部から入力する磁場を遮蔽して、外乱の影響を低減させる。
図2は、本実施形態に係る電流検出装置100の断面図である。この断面図は、図1のX軸Y軸により形成される面と平行な面の断面である。図1と同一の個所には同一の符号を付してその説明を省略する。U相の電流検出装置100u、V相の電流検出装置100v、およびW相の電流検出装置100wが、図示直交する3方向(X軸、Y軸、およびZ軸方向)のうちX軸方向に並列的に設置される。そして、磁気遮蔽部3u、3v、3wは、開口部5u、5v、5wを形成する端部6u、6v、6w近傍が、端部6u、6v、6wに近づくにつれて、開口部5u、5v、5wの開口面積が大きくなるように形成される。
本実施形態では、電流検出装置100は、U相、V相、W相の3相分の導体Bu、Bv、Bwに流れる電流をそれぞれ検出する。電流検出装置100は、磁気検出素子2u、2v、2wと磁気遮蔽部3u、3v、3wを備えた所謂、コアレス電流センサである。コアレス電流センサは、導体Bu、Bv、Bwが電流の通電により発生する磁場を磁気遮蔽部3u、3v、3wにより集磁して磁束密度を高め、磁気検出素子2u、2v、2wで検出して、電圧出力する。なお、コアレス電流センサではコア式と比較して小型である一方、磁気遮蔽部3u、3v、3wによる磁気遮蔽効果が弱いため、検出対象である導体Bu、Bv、Bwに発生する磁界以外の外乱磁場(クロストークなど)の影響による検出誤差が発生しやすく、電流検出精度が悪化してしまう問題がある。
図3(A)、図3(B)は、磁気遮蔽部3の形状の違いによる外部からの磁場を示す図である。図3(A)は本実施形態の比較例を、図3(B)は本実施形態を示す。図3(A)、図3(B)ではU相の電流検出装置100uの例で説明する。図1、図2と同一の個所には同一の符号を付してその説明を省略する。
図3(A)に示す比較例における磁気遮蔽部3’uは略U字状に形成され、開口部を形成する端部を含めてその開口面積は変わらない。一方、図3(B)に示す本実施形態における磁気遮蔽部3uは、開口部を形成する端部近傍が端部6uに近づくにつれて開口部の開口面積が大きくなるように、屈曲部30uが形成されている。屈曲部30uの屈曲角度θは、20度~60度が好ましい。
図3(A)に示すように、磁気遮蔽部3’uの外部X軸方向から磁場Bが作用した場合、磁気遮蔽部3’uを透過した磁場B’はX軸方向に向けて誘導され、その後Y軸方向へ向かう。一方、本実施形態では、図3(B)に示すように、磁気遮蔽部3uの外部X軸方向から磁場Bが作用した場合、磁気遮蔽部3uを透過した磁場B’は屈曲部30uにより、Y軸方向に誘導される。すなわち、本実施形態では、磁気検出素子2uは外部からの磁場の影響を低減できる。
図4(A)、図4(B)は、磁気遮蔽部3の形状の違いによる隣相からの磁場を示す図である。図4(A)は本実施形態の比較例を、図4(B)は本実施形態を示す。図1、図2と同一の個所には同一の符号を付してその説明を省略する。
図4(A)に示す比較例における磁気遮蔽部3’uは略U字状に形成され、開口部を形成する端部を含めてその開口面積は変わらない。U相とその隣相であるV相に着目すると、V相の導体Bvに流れる電流の影響により、V相からU相へ磁場B’vuが-X軸方向に磁気遮蔽部3’uに入力される。磁場B’vuは、磁気遮蔽部3’uの側面の全面に入力される。すなわち、磁気抵抗が均一のため隣相からの磁束がほぼ均一に流れ込む。このため、比較例では、磁気検出素子2uは外部からの磁場の影響を受けやすい。
一方、図4(B)に示す本実施形態における磁気遮蔽部3u、3vは、開口部5uを形成する端部6u近傍が端部6uに近づくにつれて開口部5uの開口面積が大きくなるように、屈曲部30u、30vが形成されている。U相とその隣相であるV相に着目すると、V相の導体Bvに流れる電流の影響により、V相からU相へ磁場Bvuが磁気遮蔽部3uに入力されるが、磁場Bvuは屈曲部30u、30vに誘導されて、磁気遮蔽部3uの開口部5uの端部6uに集中する。すなわち、隣接する屈曲部30u、30vの空隙が狭いため、部分的に磁気抵抗が小さくなり隣接する屈曲部30u、30vに磁束を集中させることができ、磁気遮蔽部3u内部に流入する磁束を低減できる。このため、本実施形態では、磁気検出素子2uは隣相からの磁場の影響を受けにくくなる。
電流検出装置100は、例えば、直流を3相交流に変換するインバータから導出される3相の導体の近傍に配置され、U相、V相、W相の導体Bu、Bv、Bwに流れる電流の値を非接触で検出する。導体Bu、Bv、Bwに流れる電流はモータへ供給されるが、本実施形態による電流検出装置100により、検出誤差を低減できるので、検出した電流値に基づいてモータのトルク精度を向上させることができる。また、磁気遮蔽部3の磁気遮蔽能力は透磁率に依存するが、磁気遮蔽部3として透磁率が低い材料を採用することも可能である。
本実施形態によれば、磁気遮蔽部3の端部の開口面積を広げ、隣接するX軸成分の外乱磁場をY軸方向に誘導することで、磁気検出素子2が検出する外乱磁場の強度を下げ、検出誤差を低減することができる。換言すれば、磁気遮蔽部3の端部において隣相との磁気結合を高めることで磁気検出素子2の設置位置における隣相からの磁束の流れ込みを低減する。
以上説明した実施形態によれば、次の作用効果が得られる。
(1)電流検出装置100は、第1電流検出素子2uと、第2電流検出素子2vと、第1導体Buの一部と第1電流検出素子2uとを収納する第1収納空間4uを形成し、かつ第1収納空間4uと外部とを繋げる第1開口部5uを形成する第1遮蔽部3uと、第1遮蔽部3uに隣接し、第2導体Bvの一部と第2電流検出素子2vを収納する第2収納空間4vを形成し、かつ第2収納空間4vと外部とを繋げる第2開口部5vを形成する第2遮蔽部3vと、を備え、第1遮蔽部3uは、第1開口部5uを形成する端部6u近傍が端部6uに近づくにつれて第1開口部5uの開口面積が大きくなるように形成され、第2遮蔽部3vは、第2開口部5vを形成する端部6v近傍が端部6vに近づくにつれて第2開口部5vの開口面積が大きくなるように形成される。これにより、隣接する導体に流れる電流による影響を抑えて、電流検出精度の悪化を軽減することができる。
(変形例)
本発明は、以上説明した実施形態を次のように変形して実施することができる。
(1)磁気遮蔽部3は、開口部を形成する端部近傍が端部6に近づくにつれて開口部の開口面積が大きくなるように、屈曲部30の屈曲角度θを定めて、直線的に屈曲する例を示した。しかし、曲線的に屈曲してもよく、端部6に近づくにつれて開口部の開口面積が大きくなれば良い。
(2)磁気遮蔽部3は、開口部を形成する両端部近傍が端部6に近づくにつれて開口部の開口面積が大きくなるように、両端部が屈曲する例を示した。しかし、少なくとも隣相と隣接する側の端部近傍が端部6に近づくにつれて開口部の開口面積が大きくなるように形成すれば良い。
本発明は、上記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の特徴を損なわない限り、本発明の技術思想の範囲内で考えられるその他の形態についても、本発明の範囲内に含まれる。また、上述の実施形態と変形例を組み合わせた構成としてもよい。
1u、1v、1w 基板
2u、2v、2w 磁気検出素子
3u、3v、3w 磁気遮蔽部
4u、4v、4w 収納空間
5u、5v、5w 開口部
6u、6v、6w 端部
Bu、Bv、Bw 導体
100 電流検出装置
100u U相の電流検出装置
100v V相の電流検出装置
100w W相の電流検出装置

Claims (3)

  1. 第1電流検出素子と、
    第2電流検出素子と、
    第1導体の一部と前記第1電流検出素子とを収納する第1収納空間を形成し、かつ前記第1収納空間と外部とを繋げる第1開口部を形成する第1遮蔽部と、
    前記第1遮蔽部に隣接し、第2導体の一部と前記第2電流検出素子を収納する第2収納空間を形成し、かつ前記第2収納空間と外部とを繋げる第2開口部を形成する第2遮蔽部と、を備え、
    前記第1遮蔽部は、前記第2遮蔽部と対向して配置され、かつ前記第2遮蔽部との間隔が一定である第1接続部と、前記第1開口部を形成する一対の端部のうち前記第2遮蔽部に近い側の前記端部を含む部分において、前記第1接続部よりも前記第2遮蔽部との間隔が短く、かつ前記端部に近づくにつれて前記第2遮蔽部との間隔が狭まるように形成された第1屈曲部と、を有し、
    前記第2遮蔽部は、前記第1遮蔽部と対向して配置され、かつ前記第1遮蔽部との間隔が一定である第2接続部と、前記第2開口部を形成する一対の端部のうち前記第1遮蔽部に近い側の前記端部を含む部分において、前記第2接続部よりも前記第1遮蔽部との間隔が短く、かつ前記端部に近づくにつれて前記第1遮蔽部との間隔が狭まるように形成された第2屈曲部と、を有する電流検出装置。
  2. 請求項1に記載の電流検出装置において、
    前記第1屈曲部および前記第2屈曲部は、前記第1接続部および前記第2接続部に対してそれぞれ所定の角度屈曲して形成される電流検出装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の電流検出装置において、
    第3電流検出素子と、
    前記第2遮蔽部に隣接し、第3導体の一部と前記第3電流検出素子とを収納する第3収納空間を形成し、かつ前記第3収納空間と外部とを繋げる第3開口部を形成する第3遮蔽部と、を備え、
    前記第3遮蔽部は、前記第2遮蔽部と対向して配置され、かつ前記第2遮蔽部との間隔が一定である第3接続部と、前記第3開口部を形成する一対の端部のうち前記第2遮蔽部に近い側の前記端部を含む部分において、前記第3接続部よりも前記第2遮蔽部との間隔が短く、かつ前記端部に近づくにつれて前記第2遮蔽部との間隔が狭まるように形成された第3屈曲部と、を有し、
    前記第2遮蔽部は、前記第3遮蔽部と対向して配置され、かつ前記第3遮蔽部との間隔が一定である第4接続部と、前記第2開口部を形成する一対の端部のうち前記第3遮蔽部に近い側の前記端部を含む部分において、前記第4接続部よりも前記第3遮蔽部との間隔が短く、かつ前記端部に近づくにつれて前記第3遮蔽部との間隔が狭まるように形成された第4屈曲部と、を有する電流検出装置。
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