JP7256326B1 - GaAsウエハ、GaAsウエハ群及びGaAsインゴットの製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
例えば、特許文献1には、VGF法又はVB法を利用して作成されたn型ヒ化ガリウム基板であって、100cm-2未満の平均転位密度と、5×1016cm-3以上で5×1017cm-3未満のシリコン濃度を有するn型ヒ化ガリウム基板が開示されている。
加えて、GaAsウエハの転移密度は、これらの用途においては特性に大きな影響を及ぼすため、影響を排除するため、ウエハ面に占める転位密度ゼロの領域が大きいことが望ましい。
(1)1.0×1017cm-3以上1.1×1018cm-3未満のシリコン濃度と、
3.0×1018cm-3以上3.0×1019cm-3未満のインジウム濃度と、
2.5×1018cm-3以上のボロン濃度と、を有し、
キャリア濃度が1.0×1016cm-3以上4.0×1017cm-3以下であり、
ウエハの全面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合が91.0%以上であり、
ここで、前記ウエハの全面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合は、ウエハ面を硫酸系鏡面エッチング液(H2SO4:H2O2:H2O=3:1:1(体積比))で前処理した後、液温320℃のKOH融液中に35分間浸積することでエッチピットを発生させたウエハ面の全面からウエハ面の外周から中心に向かって3mm幅の円環状の部分を除いた領域を1mm角のエリアに分割し、各エリアの全範囲を顕微鏡で観察してエッチピットをカウントした場合に、全エリア数に占めるエッチピットのカウント数が0のエリア数の割合で示されることを特徴とする、GaAsウエハ。
(2)平均転位密度が250個/cm2以下であり、
ここで、前記平均転位密度は、ウエハ面を硫酸系鏡面エッチング液(H2SO4:H2O2:H2O=3:1:1(体積比))で前処理した後、液温320℃のKOH融液中に35分間浸積することでエッチピットを発生させたウエハ面の全面に対して等間隔に69点又は37点に直径3mmのエリアを設定して、各エリアを視野直径1.73mmとなる顕微鏡で観察して、最もエッチピットが多く観察される視野を探してエッチピットをカウントし、カウント数を単位面積当たり(個/cm2)に換算した換算値を求め、各エリアの換算値を平均した値で示される、(1)のGaAsウエハ。
(3)ウエハのサイズが3インチ以上である、(1)又は(2)のGaAsウエハ。
(4)同一のGaAsインゴットの直胴部から得られる複数のGaAsウエハにより構成されるGaAsウエハ群であって、
前記複数のGaAsウエハのそれぞれが、
1.0×1017cm-3以上1.1×1018cm-3未満のシリコン濃度と、
3.0×1018cm-3以上3.0×1019cm-3未満のインジウム濃度と、
2.5×1018cm-3以上のボロン濃度と、を有し、
キャリア濃度が1.0×1016cm-3以上4.0×1017cm-3以下であり、
ウエハの全面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合が91.0%以上であり、
ここで、前記ウエハの全面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合は、ウエハ面を硫酸系鏡面エッチング液(H2SO4:H2O2:H2O=3:1:1(体積比))で前処理した後、液温320℃のKOH融液中に35分間浸積することでエッチピットを発生させたウエハ面の全面からウエハ面の外周から中心に向かって3mm幅の円環状の部分を除いた領域を1mm角のエリアに分割し、各エリアの全範囲を顕微鏡で観察してエッチピットをカウントした場合に、全エリア数に占めるエッチピットのカウント数が0のエリア数の割合で示されることを特徴とする、GaAsウエハ群。
(5)前記複数のGaAsウエハのそれぞれが250個/cm2以下の平均転位密度を有し、
ここで、前記平均転位密度は、ウエハ面を硫酸系鏡面エッチング液(H2SO4:H2O2:H2O=3:1:1(体積比))で前処理した後、液温320℃のKOH融液中に35分間浸積することでエッチピットを発生させたウエハ面の全面に対して等間隔に69点又は37点に直径3mmのエリアを設定して、各エリアを視野直径1.73mmとなる顕微鏡で観察して、最もエッチピットが多く観察される視野を探してエッチピットをカウントし、カウント数を単位面積当たり(個/cm2)に換算した換算値を求め、各エリアの換算値を平均した値で示される、(4)のGaAsウエハ群。
(6)前記複数のGaAsウエハが、前記GaAsインゴットの直胴部の中央部から得られ、2.0×1017cm-3未満のキャリア濃度を有するウエハを含む、(5)のGaAsウエハ群。
(7)前記複数のウエハが、前記同一のGaAsインゴットの直胴部から得られるウエハの全枚数の半数以上である、(4)~(6)のいずれかのGaAsウエハ群。
(8)前記複数のウエハが、前記同一のGaAsインゴットの直胴部のシード側からテイル側までの間から得られるウエハの全枚数である、(7)のGaAsウエハ群。
(9)縦型温度傾斜法又は縦型ブリッジマン法により、ドーパントとしてシリコン及びインジウムを使用し、封止剤として酸化ホウ素を使用するGaAsインゴットの製造方法において、
前記GaAsインゴットの直胴部のシード側におけるシリコン濃度よりも直胴部の中央部におけるシリコン濃度が低くなるように前記酸化ホウ素を撹拌して、結晶成長させることを特徴とする、GaAsインゴットの製造方法。
(10)炉内にチャージするGaAsの量に対して、チャージする前記シリコンの量が110wtppm以上150wtppm以下であり、チャージする前記インジウムの量が1000wtppm以上5000wtppm以下である、(9)のGaAsインゴットの製造方法。
(11)前記チャージするシリコンの量が120wtppm以上140wtppm以下であり、前記酸化ホウ素が2モル%以下のシリコンを含有する、(9)又は(10)のGaAsインゴットの製造方法。
(12)前記撹拌の撹拌速度を前記直胴部のシード側からテイル側に向けて増加させ、前記撹拌速度の最大値を6rpm以上とする、(9)~(11)のいずれかのGaAsインゴットの製造方法。
(13)前記直胴部のシード側におけるシリコン濃度が7.0×1017cm-3以上であり、前記直胴部の中央部におけるシリコン濃度が6.0×1017cm-3以下である、(9)~(12)のいずれかのGaAsインゴットの製造方法。
(14)前記GaAsインゴットの直胴部のシード側のキャリア濃度が直胴部のテイル側のキャリア濃度よりも大きい、(9)~(13)のいずれかのGaAsインゴットの製造方法。
(15)前記GaAsインゴットの直胴部の中央部が2.0×1017cm-3未満のキャリア濃度である部分を有する、(9)~(14)のいずれかのGaAsインゴットの製造方法。
(GaAsインゴットのシード側、中央部及びテイル側)
本発明に従うGaAsウエハ及びGaAsウエハ群は、本発明に従うGaAsインゴットの製造方法により得られるGaAsインゴットを切り出すことにより得ることができる。図1は、本発明の製造方法に従い得られるGaAsインゴットの模式図である。GaAsインゴットは種結晶6から増径する領域19(コーン部ともいう)を介して直径が略同一の直胴部18を有する。コーン部から直胴部に変わる位置15から直胴部が終わる位置17までの長さを100%として、前者の位置15を0%、後者の位置17を100%とした場合、1~5%の範囲を直胴部のシード側(以下、単にシード側ともいう)、40~60%の範囲を直胴部の中央部(以下、単に中央部ともいう)、80~92%の範囲を直胴部のテイル側(以下、単にテイル側ともいう)という。図1に、位置15と位置17の中間(50%)の位置16を示す。コーン部から直胴部に変わる位置15から直胴部が終わる位置17までの長さを100%として、各ウエハの位置が直胴部のシード側から何パーセントの位置かを示したものを、「直胴シードからの位置」とも記載する。
測定においては、ウエハの上下2つの面のいずれも測定に使用することができる。
キャリア濃度は、抜き取ったウエハからウエハ中心部の10mm×10mmのサイズを割り取り、インジウム電極を四隅に付けて330~360℃に加熱した後、Van der Pauw法によるホール測定により測定した値とする。
平均転位密度は、エッチピット密度(EPD:Etch Pit Density)の測定によるものであり、抜き取ったウエハの表面を硫酸系鏡面エッチング液(H2SO4:H2O2:H2O=3:1:1(体積比))で前処理した後、液温320℃のKOH融液中に35分間浸積することでエッチピットを発生させ、この数を計測することにより行う。エッチピットは、閃亜鉛鉱型結晶特有の六角形にみえる形状からなり長径(中心を通る対角線の長さ)が20μm以上のものを計測対象とする。
69点又は37点のエリアはウエハ全面にまんべんなく分布させることとする。
6インチウエハの場合は、69点のエリアを15mm間隔で均しく分散させた位置に設定し、3インチウエハの場合は、37点のエリアを10mm間隔で均しく分散させた位置に設定する。
69点のエリアを等しく分散させた位置に設定する場合、各エリアは、2インチウエハの場合は5mm間隔、4インチウエハは10mm間隔、8インチウエハの場合は20mm間隔になる。
図2に、6インチウエハに69点のエリアを設定した模式図を示す。
ウエハ面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合は、上記と同様にしてエッチピットを発生させ、このエッチピットの分布を測定することにより求める。
エッチピットの分布は、ウエハ全面から、ウエハ面の外周から中心に向かって3mm幅の円環状の部分を除いた領域を1mm角のエリアに分割し、10倍対物レンズを使用した顕微鏡で観察し、各エリア中のエッチピットをカウントする。3mm幅の円環状の部分を除いた領域の外周線と1mm角のエリアとが重なる(外周線が1mm角を横断する)位置においては、1mm角のうち外周線内の測定領域に入る面積が大きい場合は当該1mm角の全エリアを測定し、1mm角のうち外周線内の測定領域に入る面積が小さい場合は当該1mm角の全エリアを測定しないものとして、外周線で囲まれる面積に対する1mm角で囲まれる面積が、誤差±2%以内(好ましくは誤差±1.5%以内)となるようにする。例えば、本実施形態において、ウエハ全面での測定する1mm角のエリアの有効数は、3インチウエハ(直径76mm)で3881、4インチウエハ(直径100mm)で6849、6インチウエハ(直径150mm)で16529とすることができる。10倍対物レンズを備えたカメラで各エリアを撮影し、エリア中のエッチピットをカウントしてもよい。全エリア数に占める、エッチピットの数が0のエリア数の割合を、ウエハ面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合とする。
また、各エリアのエッチピットのカウント数のうち、最も大きいカウント数を最大転位密度(個/mm2)とする。
吸収係数を測定する際には、抜き取ったウエハの裏面及び表面の両方を鏡面加工によりダメージフリーの状態とする。この際、ワイヤーソーによりスライシングされたウエハであれば両面合わせて70μm以上研磨し鏡面加工するのが望ましい。吸収係数は、このように鏡面加工が施され、加工後の厚みを計測したGaAsウエハの中央付近から20mm×20mmサイズで切り出したサンプルを使って分光光度計(株)日立ハイテクサイエンス製UH5700)により透過率測定を実施した値とする。測定条件は以下のとおりである。
ベースライン設定:エア校正
開始波長:1300nm
終了波長:850nm
サンプリング間隔:1nm
測定回数:1回
スキャンスピード:60nm/min
スリット幅:2nm
分光光度計で測定した透過率から両面反射モデルを用いて下記式[1]、[2]に従い吸収係数αを求めた。なお、各波長に対する屈折率の算出には”Refractive Index of GaAs_Journal of Applied Physics 1964”に記載の文献値を採用した。
Si濃度、In濃度及びB濃度は、抜き取ったウエハの表面をエッチング液(NH4OH:H2O2:H2O=1:1:10(体積比))により5μmの深さまでエッチングし、純水洗浄後に乾燥したウエハを二次イオン質量分析(SIMS:Secondary Ion Mass Spectrometry)により分析した値とする。
具体的には、SiとBについては、セシウムイオンによるSIMS分析により、イオンエネルギー14.5keVの設定で表面から0.5~1μmの深さまで測定する。Inについては、酸素イオンによるSIMS分析により、イオンエネルギー5.5keVの設定で表面から3μmの深さまで測定する。
次に、本発明に従うGaAsインゴットの製造方法を説明する。本製造方法では、縦型温度傾斜(VGF)法又は縦型ブリッジマン(VB)法により、ドーパントとしてシリコン(Si)及びインジウム(In)を使用し、封止剤として酸化ホウ素(B2O3)を使用し、GaAsインゴットのシード側におけるシリコン濃度よりも中央部におけるシリコン濃度が低くなるように、酸化ホウ素(B2O3)を撹拌して結晶成長させる。
3Si(融液中)+2B2O3 ←→ 3SiO2(B2O3中へ)+4B(融液中)
また、本発明に従うGaAsインゴットの製造方法では、ドーパントとして添加されるシリコンの活性化率を低下させることができ、キャリア濃度、ひいては吸収係数も制御することができる。
図3は、本発明に従うGaAsインゴットの製造方法で使用するための製造装置の一例について、断面図を模式的に示したものである。
図3に示す製造装置は、外部より真空排気及び雰囲気ガス充填が可能な気密容器7と、気密容器7内の中央に配置されたルツボ3と、ルツボ3を収容保持するルツボ収納容器(サセプタ)2と、ルツボ収納容器(サセプタ)2を昇降及び/又は回転させる機構14(昇降・回転ロッドのみ図示する)と、気密容器7内においてルツボ収納容器(サセプタ)2を取り囲むように装備されたヒーター1を備えている。
ルツボ3上部には、回転及び上下移動可能な撹拌翼20を取り付けた上部ロッド21が配置されている。撹拌翼20と上部ロッド21は撹拌手段を形成するが、撹拌翼20は上部ロッド21から取り外し可能であり、上部ロッド21には封止剤収納容器や、他の部材を取り付けることができる。
ルツボ3は、熱分解窒化ホウ素(PBN:Pyrolytic Boron Nitride)よりなるものを用いることができる。図3では、ルツボ3には、種結晶6、化合物半導体原料5、封止剤(B2O3)4が充填され、気密容器7内は一例として不活性ガス8が充填された状態となっている。
本発明に従うGaAsの製造方法においては、結晶成長中に封止剤(B2O3)4を撹拌する。その際、GaAsインゴットのシード側におけるSi濃度よりも、中央部のSi濃度が低くなるように撹拌行う。直胴部のシード側において結晶成長が開始する時点から中央部に至るまでの間(直胴シードからの位置が1~40%まで)で撹拌を開始していることが好ましく、より好ましくは直胴シードからの位置が1~20%の時点で撹拌を開始していることである。その前から撹拌を開始していてもよく、例えば、コーン部の途中からや、コーン部から直胴部に切り替わる部分での結晶成長が開始する時点(直胴シードからの位置が0%付近)で撹拌を開始してもよい。撹拌は、直胴部のテイル側の結晶成長が終わるまで継続することが好ましく、結晶成長が終了するまで継続してもよい。
撹拌手段は、撹拌翼が回転軸の周囲に取り付けられた形状であることができる。
撹拌翼の形状は、特に限定されず、所定形状の板状部材からなることができ、例えば、2~8枚の略四角形状の板状部材からなるものが挙げられ、素材としてカーボン、BN等が挙げられる。板状部材は、GaAsの融液とB2O3が静止状態で形成する界面に対して、45°以上135°以下の傾斜角度で取り付けられていることが好ましい。
撹拌翼は、撹拌手段を回転したときの回転軌跡が形成する面積が、GaAsの融液とB2O3が静止状態で形成する界面の面積の30%以上となる大きさであることが好ましく、より好ましくは70%以上である。
撹拌翼の下端と、GaAsの融液とB2O3が静止状態で形成する界面との距離は2mm未満であることが好ましく、好ましくは1mm以下である。ただし、界面に撹拌翼の下端が接触しないようにすることが好ましい。
種結晶6のサイズは、特に制限されないが、ルツボ3の内径を径とする断面積に対して、例えば1~20%の断面積を有していればよく、3~17%の断面積を有していることが好ましい。成長しようとする結晶の径が100mmを超える場合には、種結晶6の断面積は、ルツボ内径を径とする断面積に対して2~10%とすることができる。
ルツボ3の内径は、目的とするウエハサイズよりも僅かに大きいことが好ましい。目的とするウエハサイズは、例えば2インチ以上とすることができ、3インチ以上が好ましく、6インチ以上がさらに好ましい。ウエハサイズの上限は特に限定されず、例えば8インチ以下とすることができる。
ドーパントとしてシリコン(Si)及びインジウム(In)を使用する。ドーパント(シリコン)10は、高純度Siのショットや高純度Si基板を破砕するなどして所望の濃度となる重量をGaAs多結晶原料9中に添加する。また、ドーパント(インジウム)11は、高純度In、インジウム化合物(例えば、高純度ヒ化インジウム(InAs)等)を使って所望の濃度となる重量をGaAs多結晶原料9中に添加する。
例えば、シリコンチャージ量は、GaAs多結晶原料に対して110wtppm以上150wtppm以下であることができ、好ましくは120wtppm以上140wtppm以下であり、より好ましくは130wtppm以上140wtppm以下である。なお、シリコンチャージ量には、B2O3に含まれているシリコンの量は含めない。
ドーパント(インジウム)11を、ルツボの中央(インゴットの中央部に相当する位置)よりも上に配置する。
ドーパント(インジウム)11を、GaAs結晶またはGaAs多結晶により製造された容器(GaAs容器)の中に入れて、GaAs容器が融ける温度まで中のドーパントが容器の外に出ないようにする。
なお、ドーパント(シリコン)10は、ルツボの中央(インゴットの中央部に相当する位置)よりも下(種結晶側)に配置することが好ましい。ドーパント(シリコン)10をGaAs容器に入れて、GaAs容器が融ける温度まで中のドーパントが容器の外に出ないようにしてもよい。シリコンはGaAsよりも密度が低いため、融液中、ドーパント(シリコン)が浮き上がってしまい、種結晶側のGaAs融液中のシリコン濃度が低くなって、GaAsインゴットのシード側のシリコン濃度が低くなるおそれがあるが、GaAs容器の使用は、そのような事態を回避する上で有効である。
Inが容易に種結晶6の周りに付着しないようにするためにも、種結晶6のサイズは上記の範囲内とすることが好ましい。
封止剤(B2O3)4は、シリコンとの反応促進のため、シリコンの含有量が低減したものを使用することが好ましい。例えば、B2O3中のシリコン濃度は2モル%以下であることができ、好ましくは1モル%以下であり、0モル%であってもよい。B2O3中のシリコン濃度が小さい方が活性化率が低くなる傾向がある。また、1モル%以下とすることで、GaAsウエハ面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合が大きいウエハをインゴットから多く得ることができる。
シリコンは、Si酸化物の形態でB2O3に含まれていてもよい。
少なくとも直胴部の中央部がこのような部分を有することが好ましく、より好ましくは、直胴部のシード側、中央部及びテイル側の全てがこのような部分を有することである。
当該部分は、加えて、平均転位密度が250個/cm2以下であることができ、また、940nmの波長における吸収係数が3.5cm-1以上7.0cm-1以下であることができる。
本発明に従うGaAsインゴットの製造方法により得られたGaAsインゴットのシード側、中央部、テイル側の少なくともいずれかの位置からウエハを切り出すことにより、本発明に従うGaAsウエハを得ることができる。本発明に従うGaAsウエハは、好ましくは中央部から得ることができ、さらに好ましくはシード側、中央及びテイル側の全てから得ることができる。
過剰なSi濃度はフリーキャリア吸収の原因になることと、キャリア濃度の制御の観点から、本発明に従うGaAsウエハのSi濃度は1.0×1017cm-3以上1.1×1018cm-3未満とする。
In添加による転位密度低減の効果を確実に得る一方、過剰なIn濃度となることでGaAs結晶の格子定数やバンドギャップのズレを発生させることを防止する点から、本発明に従うGaAsウエハのIn濃度は3.0×1018cm-3以上3.0×1019cm-3未満とする。
本発明に従うGaAsウエハは、VGF法又はVB法によるGaAsインゴットの結晶成長において、封止剤(B2O3)とドーパントであるSiの反応促進により有利に得ることができるため、B濃度は2.5×1018cm-3以上であり、B濃度は3.0×1018cm-3以上であることが好ましい。B濃度の上限は特に制限されないが、B濃度は3.0×1019cm-3以下であることができる。
封止剤として使用するB2O3によってGaAsインゴット中に混入するB及び酸素(O)を除き、SiとIn以外の元素が、GaAs以外には添加されていないことが好ましく、ドーパントとして添加されるのはSiとInのみであり、それ以外はドーパントとして意図して添加されていないことが好ましい。
例えば、SIMS分析によるGaAs中のAl、C及びZnの各濃度は3×1016cm-3以下(ゼロを含む)であることが好ましい。それ以外のBe、Mg、Ge、Sn、N、S、Se、Te、Cd、Cr及びSbの各濃度は5×1015cm-3以下(ゼロを含む)であることが好ましい。さらにNの濃度は1×1015cm-3以下であることがより好ましい。
本発明に従うGaAsウエハの平均転位密度の値は、250個/cm2以下であることが好ましい。平均転位密度の下限は特に限定されない。平均転位密度が10個/cm2以上、特に30個/cm2以上の場合に、転位密度ゼロ領域の面積の割合を特定することの効果が有効に発揮される。
本発明に従うGaAsウエハは、ウエハ面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合が91.0%以上である。これにより、GaAsウエハを半導体レーザー等の面発光レーザーに使用した場合、これらの用途における良好な特性を実現することができる。ウエハ面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合は、100%であってもよい。
本発明に従うGaAsウエハは、キャリア濃度が1.0×1016cm-3以上4.0×1017cm-3以下である。
940nmの波長における吸収係数は、3.5cm-1以上7.0cm-1以下であることが好ましい。
本発明に従うGaAsインゴットの製造方法により得られたGaAsインゴットのシード側、中央部、テイル側の少なくともいずれかの位置から複数のウエハを切り出すことにより、本発明に従うGaAsウエハ群を得ることができる。本発明に従うGaAsウエハ群は、好ましくは中央部から得ることができ、さらに好ましくはシード側、中央及びテイル側の全てから得ることができる。
複数のウエハが、GaAsインゴットの直胴部の中央部から得られるウエハを含み、この中央部から得られるウエハが、さらに2.0×1017cm-3未満のキャリア濃度を有していることが好ましい。この中央部から得られるウエハのキャリア濃度は1.0×1016cm-3以上とすることができる。
図3に示す構成を有する製造装置を用いて、GaAsインゴットの製造を行った。撹拌翼は、カーボンやBN等、結晶特性に影響しない材質の四角形状の板状部材を4枚、ロッドに取り付けたものであり、回転したときの回転軌跡が形成する面積が、GaAsの融液とB2O3が静止状態で形成する界面の面積の50%以上である。
ルツボとして内径159.9mm、シード部の内径6.0~6.5mmのPBN製のルツボ3を準備した。ルツボには、図4に示すように、6N(純度99.9999%以上)のGaと6NのAsを合成して作成したGaAs多結晶を破砕した20,000±10gのGaAs多結晶原料9Aと(100)面が結晶成長面となるように切り出したGaAs種結晶6を充填した。GaAs種結晶6の直径については、各ルツボのシード部内径より約0.5mm小さくなるように機械研削とエッチングを組み合わせて調整した大きさのものを用いた。GaAs多結晶を充填する途中で、GaAs多結晶原料に対して、ドーパント(シリコン)10として高純度Siのショットを100wtppm及びドーパント(インジウム)11として高純度InAsのショットを2000wtppm(In換算で1210wtppm)充填した。SiとIn以外に、意図して添加した不純物元素はない。なお、粒状のドーパント(シリコン)10とドーパント(インジウム)11はそれぞれ、円筒状のGaAs多結晶9Bの上下を円板状のGaAs多結晶9Cで挟んだGaAs容器の中に入れた状態で充填し、GaAs容器が融ける温度までは中のドーパントがGaAs容器の外に出ないようにした。ドーパント(インジウム)11はルツボ3の中央よりも上に配置し、ドーパント(シリコン)10は、ルツボ3の中央よりも下の種結晶6に近いところに配置した。
これらの原料を充填した後、封止剤であるB2O3(Si濃度5モル%)4を965±10g充填した。充填後のルツボ3をルツボ収納容器(サセプタ)にセットした。図3に示す製造装置の内部を真空排気及びArガス置換を繰り返して不活性ガス雰囲気とした後、VGF法により単結晶を成長させた。
結晶成長工程では、まずGaAs種結晶が融解しないように、種結晶側の温度が低くなるようにPID制御されたヒーターにより温度傾斜をかけながらルツボ内の原料をGaAsの融点の1238℃以上まで昇温させて融液とした。その後、種結晶の上部が融解するように種結晶付近の温度を上昇させた後、温度傾斜をかけながら炉内全体の温度をヒーター制御により10℃/h以下の速度で降温していくことでSiをドーパントとしたn型のGaAsインゴットを成長させた。
コーン部が結晶成長して結晶直胴部に至る箇所までインゴットが成長した後において、封止剤であるB2O3と結晶テイル側の界面と、撹拌翼の下端との距離が3mm以下で、かつ界面には下端が接触しないようにして、撹拌翼を回転させ、B2O3の撹拌を開始した。撹拌翼の回転速度は、小さい回転数から階段状に10rpmまで増やし、10rpmにてテイル側の成長完了まで撹拌を継続した。撹拌翼の回転数は、コーン部が結晶成長して結晶直胴部に至る箇所から直胴部側に25mmの位置(直胴シードからの位置が16%)から50mmの位置までを5rpm、50mmの位置(直胴シードからの位置が30%)から100mmの位置までを7.6rpm、100mmの位置(直胴シードからの位置が61%)以降で10rpmとなるように、階段状に回転数が増加するよう回転数調整を行った。
成長させたGaAsインゴットの直胴部をワイヤーソーでスライスしてウエハ状にした。ウエハサイズは6インチ相当である。最後の切断面は、インゴットの種結晶側と反対の端から(シード側方向に)20mmの位置である。
GaAsインゴット直胴部のシード側、中央部、テイル側で得られたウエハ、並びにシード側と中央部の間、中央部とテイル側の間で得られたウエハについて、評価を行った。
後述する測定には各位置において、それぞれ少なくとも3枚のウエハを使用した。そのうち1枚のインゴットからの切り出し位置は、表1に示すとおりであり、インゴットのコーン部から直胴部に変わる位置から直胴部が終わる位置である最後の切断面まで長さを100%として、前者の位置を0%、後者の位置を100%とする。
なお、エッチピットの数が1000個/cm2以上になった場合は、視野直径3.46mmとなる5倍対物レンズに変更してカウントを行った。
表1に示す条件に変更したほかは、結晶番号1と同様にして、結晶番号2~6及び結晶番号0のGaAsインゴットを製造し、評価を行った。
3インチ用の製造装置を使用して、結晶番号1と同様にしてGaAsインゴットを成長させた。GaAs多結晶原料に対して、ドーパント(シリコン)として高純度Siのショットを130wtppm、高純度InAsのショットを2000wtppm(In換算で1210wtppm)を用いた。成長させたGaAsインゴットの直胴部をワイヤーソーでスライスして、3インチ相当のウエハ状にしたこと以外は、結晶番号1と同様にしてウエハを得て評価を行った。
撹拌翼の回転数を、コーン部が結晶成長して結晶直胴部に至る箇所から直胴部側に12.5mmの位置(直胴シードからの位置が8%)から50mmの位置までを5rpm、50mmの位置から100mmの位置までを7.6rpm、100mmの位置以降で10rpmとなるように、階段状に回転数が増加するよう回転数調整を行った以外は、結晶番号6と同様にして結晶番号8のGaAsインゴットを製造し、ウエハを得て評価を行った。
表1に示す条件のように、Siチャージ量を140wtppmから130wtppmに変更し、B2O3中のSi濃度を0モル%から0.25モル%に変更した以外は、結晶番号8と同様にして、結晶番号9のGaAsインゴットを製造し、評価を行った。
2 ルツボ収納容器(サセプタ)
3 ルツボ
4 封止剤(B2O3)
5 化合物半導体原料
6 種結晶
7 気密容器
8 不活性ガス
9 GaAs多結晶原料
10 ドーパント(シリコン)
11 ドーパント(インジウム)
14 ルツボの昇降・回転機構
15 コーン部から直胴部に変わる位置
16 位置15と位置17の半分の位置
17 直胴部が終わる位置
18 GaAsインゴットの直胴部
19 GaAsインゴットのコーン部
20 撹拌翼
21 上部ロッド
30 6インチウエハ
31 エリア
Claims (15)
- 1.0×1017cm-3以上1.1×1018cm-3未満のシリコン濃度と、
3.0×1018cm-3以上3.0×1019cm-3未満のインジウム濃度と、
2.5×1018cm-3以上のボロン濃度と、を有し、
キャリア濃度が1.0×1016cm-3以上4.0×1017cm-3以下であり、
ウエハの全面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合が91.0%以上であり、
ここで、前記ウエハの全面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合は、ウエハ面を硫酸系鏡面エッチング液(H2SO4:H2O2:H2O=3:1:1(体積比))で前処理した後、液温320℃のKOH融液中に35分間浸積することでエッチピットを発生させたウエハ面の全面からウエハ面の外周から中心に向かって3mm幅の円環状の部分を除いた領域を1mm角のエリアに分割し、各エリアの全範囲を顕微鏡で観察してエッチピットをカウントした場合に、全エリア数に占めるエッチピットのカウント数が0のエリア数の割合で示されることを特徴とする、GaAsウエハ。 - 平均転位密度が250個/cm2以下であり、
ここで、前記平均転位密度は、ウエハ面を硫酸系鏡面エッチング液(H2SO4:H2O2:H2O=3:1:1(体積比))で前処理した後、液温320℃のKOH融液中に35分間浸積することでエッチピットを発生させたウエハ面の全面に対して等間隔に69点又は37点に直径3mmのエリアを設定して、各エリアを視野直径1.73mmとなる顕微鏡で観察して、最もエッチピットが多く観察される視野を探してエッチピットをカウントし、カウント数を単位面積当たり(個/cm2)に換算した換算値を求め、各エリアの換算値を平均した値で示される、請求項1に記載のGaAsウエハ。 - ウエハのサイズが3インチ以上である、請求項1又は2に記載のGaAsウエハ。
- 同一のGaAsインゴットの直胴部から得られる複数のGaAsウエハにより構成されるGaAsウエハ群であって、
前記複数のGaAsウエハのそれぞれが、
1.0×1017cm-3以上1.1×1018cm-3未満のシリコン濃度と、
3.0×1018cm-3以上3.0×1019cm-3未満のインジウム濃度と、
2.5×1018cm-3以上のボロン濃度と、を有し、
キャリア濃度が1.0×1016cm-3以上4.0×1017cm-3以下であり、
ウエハの全面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合が91.0%以上であり、
ここで、前記ウエハの全面に占める転位密度ゼロの領域の面積の割合は、ウエハ面を硫酸系鏡面エッチング液(H2SO4:H2O2:H2O=3:1:1(体積比))で前処理した後、液温320℃のKOH融液中に35分間浸積することでエッチピットを発生させたウエハ面の全面からウエハ面の外周から中心に向かって3mm幅の円環状の部分を除いた領域を1mm角のエリアに分割し、各エリアの全範囲を顕微鏡で観察してエッチピットをカウントした場合に、全エリア数に占めるエッチピットのカウント数が0のエリア数の割合で示されることを特徴とする、GaAsウエハ群。 - 前記複数のGaAsウエハのそれぞれが250個/cm2以下の平均転位密度を有し、
ここで、前記平均転位密度は、ウエハ面を硫酸系鏡面エッチング液(H2SO4:H2O2:H2O=3:1:1(体積比))で前処理した後、液温320℃のKOH融液中に35分間浸積することでエッチピットを発生させたウエハ面の全面に対して等間隔に69点又は37点に直径3mmのエリアを設定して、各エリアを視野直径1.73mmとなる顕微鏡で観察して、最もエッチピットが多く観察される視野を探してエッチピットをカウントし、カウント数を単位面積当たり(個/cm2)に換算した換算値を求め、各エリアの換算値を平均した値で示される、請求項4に記載のGaAsウエハ群。 - 前記複数のGaAsウエハが、前記GaAsインゴットの直胴部の中央部から得られ、2.0×1017cm-3未満のキャリア濃度を有するウエハを含む、請求項5に記載のGaAsウエハ群。
- 前記複数のGaAsウエハが、前記同一のGaAsインゴットの直胴部から得られるウエハの全枚数の半数以上である、請求項4に記載のGaAsウエハ群。
- 前記複数のGaAsウエハが、前記同一のGaAsインゴットの直胴部のシード側からテイル側までの間から得られるウエハの全枚数である、請求項7に記載のGaAsウエハ群。
- 縦型温度傾斜法又は縦型ブリッジマン法により、ドーパントとしてシリコン及びインジウムを使用し、封止剤として酸化ホウ素を使用するGaAsインゴットの製造方法において、
前記GaAsインゴットの直胴部のシード側におけるシリコン濃度よりも直胴部の中央部におけるシリコン濃度が低くなるように前記酸化ホウ素を撹拌して、結晶成長させることを特徴とする、GaAsインゴットの製造方法。 - 炉内にチャージするGaAsの量に対して、チャージする前記シリコンの量が110wtppm以上150wtppm以下であり、チャージする前記インジウムの量が1000wtppm以上5000wtppm以下である、請求項9に記載のGaAsインゴットの製造方法。
- チャージする前記シリコンの量が120wtppm以上140wtppm以下であり、前記酸化ホウ素が2モル%以下のシリコンを含有する、請求項9に記載のGaAsインゴットの製造方法。
- 前記撹拌の撹拌速度を前記直胴部のシード側からテイル側に向けて増加させ、最大の撹拌速度を6rpm以上とする、請求項9に記載のGaAsインゴットの製造方法。
- 前記直胴部のシード側におけるシリコン濃度が7.0×1017cm-3以上であり、前記直胴部の中央部におけるシリコン濃度が6.0×1017cm-3以下である、請求項9に記載のGaAsインゴットの製造方法。
- 前記GaAsインゴットの直胴部のシード側のキャリア濃度が直胴部のテイル側のキャリア濃度よりも大きい、請求項9に記載のGaAsインゴットの製造方法。
- 前記GaAsインゴットの直胴部の中央部が2.0×1017cm-3未満のキャリア濃度である部分を有する、請求項9~14のいずれか一項に記載のGaAsインゴットの製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202280066511.6A CN118043506A (zh) | 2021-09-29 | 2022-09-22 | GaAs晶圆、GaAs晶圆组和GaAs晶锭的制造方法 |
PCT/JP2022/035510 WO2023054202A1 (ja) | 2021-09-29 | 2022-09-22 | GaAsウエハ、GaAsウエハ群及びGaAsインゴットの製造方法 |
TW111136817A TWI824748B (zh) | 2021-09-29 | 2022-09-28 | GaAs晶圓、GaAs晶圓組以及GaAs錠的製造方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021159962 | 2021-09-29 | ||
JP2021159962 | 2021-09-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP7256326B1 true JP7256326B1 (ja) | 2023-04-11 |
JP2023056483A JP2023056483A (ja) | 2023-04-19 |
Family
ID=85872861
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022150699A Active JP7256326B1 (ja) | 2021-09-29 | 2022-09-21 | GaAsウエハ、GaAsウエハ群及びGaAsインゴットの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7256326B1 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003206200A (ja) | 2002-01-10 | 2003-07-22 | Hitachi Cable Ltd | p型GaAs単結晶及びその製造方法 |
JP2012246156A (ja) | 2011-05-25 | 2012-12-13 | Dowa Electronics Materials Co Ltd | GaAs単結晶の製造方法およびGaAs単結晶ウェハ |
WO2021251349A1 (ja) | 2020-06-12 | 2021-12-16 | Dowaエレクトロニクス株式会社 | GaAsインゴットおよびGaAsインゴットの製造方法、ならびにGaAsウエハ |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS649898A (en) * | 1987-07-02 | 1989-01-13 | Nippon Mining Co | Production of silicon-containing gaas single crystal |
-
2022
- 2022-09-21 JP JP2022150699A patent/JP7256326B1/ja active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2003206200A (ja) | 2002-01-10 | 2003-07-22 | Hitachi Cable Ltd | p型GaAs単結晶及びその製造方法 |
JP2012246156A (ja) | 2011-05-25 | 2012-12-13 | Dowa Electronics Materials Co Ltd | GaAs単結晶の製造方法およびGaAs単結晶ウェハ |
WO2021251349A1 (ja) | 2020-06-12 | 2021-12-16 | Dowaエレクトロニクス株式会社 | GaAsインゴットおよびGaAsインゴットの製造方法、ならびにGaAsウエハ |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2023056483A (ja) | 2023-04-19 |
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