JP7249559B2 - エッジ検出センサ - Google Patents
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Description
特許文献1のエッジ検出センサは、長手方向に沿って移動される帯状ワークのエッジを検出し、その検出結果を外部機器に出力する。これにより、外部機器においてエッジ検出センサの検出結果に基づく帯状ワークのずれ量に応じた蛇行修正制御が可能となる。
図1に示すように、本実施形態のエッジ検出センサ10は、例えば帯状ワークWのエッジの蛇行状態(ずれ)を検出するものである。なお、本実施形態の検出対象である帯状ワークWは、図示しない搬送部により帯状ワークWの長手方向に移動するものである。
受光部12は、投光部11から出射された光に応じて帯状ワークWのエッジを検出するエッジ検出部12aを有する。エッジ検出部12aは、長手方向に移動される帯状ワークWのエッジを連続的に検出する。エッジ検出部12aで検出された検出エッジ位置情報SKをコントローラ13に出力する。
本実施形態のコントローラ13は、その処理機能の1つとして、エッジ検出部12aにて検出された検出エッジ位置情報SKが予め設定された読み飛ばし条件を満たすとき、検出したエッジ位置を読み飛ばして、すなわちその出力を禁止するとともにその直前の出力値を保持して出力する読み飛ばし制御機能を有する。読み飛ばし条件は、例えば入力部14によりユーザが適宜設定可能である。入力部14では、読み飛ばし条件として「閾値」、「サンプル数」が設定可能で或る。閾値では、タブTであると判定するべく帯状ワークWのタブTの高さ(延出方向長さ)に対する割合(パーセンテージ)を設定する。サンプル数では、後述するメディアンフィルタ22における精度(サンプリング数)を設定する。すなわち、本実施形態の入力部14は、サンプリング数設定部に相当する。
図2に示すように、比較判定部26は、差分値Saと閾値T1とを比較する(ステップS10)。
(1)所定期間の検出エッジ位置情報SKに基づいて算出した算出エッジ位置情報SCと現在の最新エッジ位置情報SNとの差に基づいて異常を判定するため、タブTによるエッジ位置の変化を直ちに判定することが可能となる。また、異常判定時には記憶される保持用エッジ位置情報SHを出力するため、出力されるエッジ位置の情報がタブTによる影響を抑えることができる。
(5)ホールド時間を入力部14により設定可能とすることで、ユーザの帯状ワークWやその他巻取機等の設備に合わせた設定が可能となる。
・上記実施形態では、帯状ワークWのエッジに設けられるタブTを読み飛ばすこととしたが、例えば帯状ワークWのエッジから幅方向に窪んだ凹部を読み飛ばす場合であってもよい。
Claims (10)
- 検出対象を挟んで対向配置される投光部及び受光部と、
前記受光部の受光状態に基づいて前記検出対象のエッジ位置を検出する検出部と、
前記検出部で検出された所定期間における複数回のサンプリングで得られた複数の検出エッジ位置情報に基づき算出エッジ位置情報を算出する算出部と、
前記算出部で算出した前記算出エッジ位置情報を出力する出力部と、
前記検出部で検出された前記検出エッジ位置情報の内の最も新しい最新エッジ位置情報と前記算出部で算出した前記算出エッジ位置情報との差に基づいて前記検出対象の異常を判定する異常判定部と、
前記異常判定部において判定対象となった前記算出エッジ位置情報の直前の算出エッジ位置情報を保持用エッジ位置情報として記憶する記憶部と、
前記異常判定部で異常が判定された場合に、前記出力部による前記算出エッジ位置情報の出力を禁止するとともに、前記記憶部に記憶された前記保持用エッジ位置情報を前記出力部に出力させる出力制御部と、を備えるエッジ検出センサ。 - 前記異常判定部は、前記最新エッジ位置情報及び前記算出エッジ位置情報の差分値と、予め設定される異常検出閾値とを比較して前記差分値が前記異常検出閾値を超えた場合に前記検出対象の異常と判定する、請求項1に記載のエッジ検出センサ。
- 前記複数の検出エッジ位置情報の変化幅を設定可能な異常値設定部と、
前記異常値設定部で設定された変化幅に基づいて前記異常検出閾値を設定する閾値設定部とをさらに備える、請求項2に記載のエッジ検出センサ。 - 前記異常判定部は、前記最新エッジ位置情報及び前記保持用エッジ位置情報の差分値が、予め前記異常検出閾値以下に設定された第1正常検出閾値以下である場合に異常の状態でなくなったと判定し、
前記出力制御部は、異常の状態でなくなったと判定された場合、前記出力部による前記算出エッジ位置情報の出力の禁止を解除して前記算出エッジ位置情報を前記出力部に出力させる、請求項2又は請求項3に記載のエッジ検出センサ。 - 前記異常判定部は、前記最新エッジ位置情報及び前記保持用エッジ位置情報の差分値が、予め前記異常検出閾値以下に設定された第1正常検出閾値以下である場合に異常の状態でなくなったと判定し、
前記出力制御部は、異常の状態でなくなったと判定された場合に、予め設定されたホールド時間の間前記保持用エッジ位置情報を出力させた後、前記出力部による前記算出エッジ位置情報の出力の禁止を解除して前記算出エッジ位置情報を前記出力部に出力させる、請求項2又は請求項3に記載のエッジ検出センサ。 - 前記ホールド時間を設定するホールド時間設定部を備える、請求項5に記載のエッジ検出センサ。
- 前記第1正常検出閾値は前記異常検出閾値より小さい、請求項4~6の何れか1項に記載のエッジ検出センサ。
- 前記算出部は、前記複数の検出エッジ位置情報からその中央値を算出し、その算出した中央値を前記算出エッジ位置情報とする、請求項1~7の何れか1項に記載のエッジ検出センサ。
- 前記算出部で中央値を算出する際の検出エッジ位置情報の情報数を設定するサンプリング数設定部を備える、請求項8に記載のエッジ検出センサ。
- 前記検出対象は、一方向に長い帯状ワークであり、
前記検出部は、前記帯状ワークのエッジ位置を連続的に検出する、請求項1~9の何れか1項に記載のエッジ検出センサ。
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