JP7249542B2 - 電気反応計測装置、電気反応処理方法及びプログラム - Google Patents
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Description
実施の形態1に係る電気反応計測装置1を説明する。実施の形態1に係る電気反応計測装置1は、隔壁によって各々が電気的に隔てられた複数の測定電極と、1つ以上のリファレンス電極とを有する培養容器と、電位取得部及び制御部を有する電位計測部と、記憶部及び信号処理部を有する処理部とを備える。電気反応計測装置1において、電位計測部は、培養容器の測定電極の各々とリファレンス電極との電位を取得する。電位計測部は、接地電位を基準とした測定電極の電位を取得してもよい。電位計測部は、接地電位を基準としたリファレンス電極の電位を取得してもよい。
実施の形態1に係る電気反応計測装置1の構成を説明する。図1は、実施の形態1に係る電気反応計測装置1の機能的な構成の一例を示すブロック図である。図2は、実施の形態1に係る電気反応計測装置1の構成の一例を模式的に示す斜視図である。図1に示されるように、電気反応計測装置1は、計測部100と、処理部200とを備える。処理部200は、計測部100によって計測された電気信号のデータを処理する。計測部100は、培養容器110と、培養容器110内の電極120と、電位計測部130とを備える。処理部200は、記憶部210と、信号処理部220と、出力部230とを含む。
計測部100の構成を説明する。計測部100は、培養容器110内の対象物の電気的な反応による電位の変化を処理部200に出力する。対象物の例は、細胞及び組織等の生物学的材料である。これに限定するものではないが、本実施の形態では、培養容器110内で培養される培養細胞及び培養組織を、対象物とする。細胞及び培養細胞は、単一細胞、及び、細胞塊等の複数の細胞を含む。
図1及び図2を参照しつつ、処理部200の構成を説明する。処理部200は、電位計測部130から出力される、リファレンス電極の電位を基準とする電位の計測結果から、複数の測定電極120bに共通するノイズを除去し、除去後の結果を出力する。処理部200は、例えば、図2に示すようなコンピュータ装置400の全部又は一部を構成する。処理部200は、記憶部210と、信号処理部220と、出力部230とを備える。ここで、処理部200は、制御回路の一例である。
X1=(X11 ・・・ X1l ・・・ X1p)、・・・、
Xk=(Xk1 ・・・ Xkl ・・・ Xkp)、・・・、
Xm=(Xm1 ・・・ Xml ・・・ Xmp)と表記してもよい。ここで、aをサンプル周期とすると、
X11は時間tに測定された測定電極120b1の電位、・・・、
X1lは時間t+(l-1)×aに測定された測定電極120b1の電位、・・・、
X1pは時間t+(p-1)×aに測定された測定電極120b1の電位であり、・・・、
Xk1は時間tに測定された測定電極120bkの電位、・・・、
Xklは時間t+(l-1)×aに測定された測定電極120bkの電位、・・・、
Xkpは時間t+(p-1)×aに測定された測定電極120bkの電位であり、・・・、
Xm1は時間tに測定された測定電極120bmの電位、・・・、
Xmlは時間t+(l-1)×aに測定された測定電極120bmの電位、・・・、
Xmpは時間t+(p-1)×aに測定された測定電極120bmの電位である。
時間tにおける電位の平均値であるavg1=(X11+・・・+Xk1+・・・+Xm1)/m、・・・、
時間t+(l-1)×aにおける電位の平均値であるavgl=(X1l+・・・+Xkl+・・・+Xml)/m、・・・、
時間t+(p-1)×aにおける電位の平均値であるavgp=(X1p+・・・+Xkp+・・・+Xmp)/mを求める。
avg1=(X11+X21+X31)/3であり、時間tにおける電圧値の平均値を示し、
avg2=(X12+X22+X32)/3であり、時間t+aにおける電圧値の平均値を示し、
avg3=(X13+X23+X33)/3であり、時間t+2aにおける電圧値の平均値を示す。
固有値λ1に対する固有ベクトルを
z1l=u11×X1l+u12×X2l+u13×X3l、(1≦l≦p)
z2l=u21×X1l+u22×X2l+u23×X3l、(1≦l≦p)
次に、実施の形態1に係る電気反応計測装置1の動作を説明する。図8は、実施の形態1に係る電気反応計測装置1の動作の一例を示すフローチャートである。
まず、計測部100は、複数の測定電極120b1~120bmそれぞれとリファレンス電極120aとの電位を同時に取得する。さらに、計測部100は、リファレンス電極120aの電位と測定電極120b1~120bmそれぞれの電位との差を、測定電極120b1~120bmの電位として、予め定められた時間間隔で取得する。計測部100は、処理部200の記憶部210に、測定電極120b1~120bmごとに、取得された電位と、取得された時間とを互いに対応させて記憶させる。記憶部210の記憶内容の例は、図6のように示される。
次いで、処理部200の主成分分析処理部221は、ステップS1100で記憶部210に記憶された測定電極120b1~120bmそれぞれについての電位及び時間の関係を示す時間波形である電位波形に対して、変数X1~Xmを設定する。さらに、主成分分析処理部221は、変数X1~Xmそれぞれについて、変数に対応する電位波形における所定の計測時間毎の電位又は所定の計測時刻の電位を、当該変数の観測値つまりデータ値に決定する。よって、変数X1~Xmはそれぞれ、測定電極120b1~120bmの複数の電位を複数のデータ値として含むデータ系列である。主成分分析処理部221は、変数X1~Xm及びそのデータ系列を用いて主成分分析を行う。
主成分合成部222は、ステップS1200で抽出された予め定められた数の主成分について、主成分係数と主成分得点とを用いて、各測定電極120b1~120bmについて、測定時間すなわちサンプル点ごとに主成分による電位を求め、抽出された主成分によるノイズ波形を合成する。電位波形の合成では、各電位波形における同じサンプル点の電位が加算される。
共通ノイズ除去処理部223は、測定電極120b1~120bmそれぞれの観測値である電位波形から、ステップS1300で合成された測定電極120b1~120bmそれぞれの主成分によるノイズ波形を減算することにより残渣を求める。つまり、共通ノイズ除去処理部223は、測定電極120bk(k=1~m)の電位波形から、同じ測定電極120bkのノイズ波形を減算する。主成分によって生成される電位が複数の測定電極120b1~120bmに共通するノイズとみなされ、このようなノイズが観測値から減算されることで、観測値に含まれるノイズが除去される。このような計算により、共通ノイズ除去処理部223は、測定電極120b1~120bmごとに、計測時間又は計測時刻ごとに計算された残渣からなる電位の時間波形を算出し、それにより、測定電極120b1~120bmそれぞれでのノイズ除去後の電位波形を生成する。
出力部230は、ステップS1400で共通ノイズ除去処理部223によって算出された測定電極120b1~120bmそれぞれのノイズ除去後の電位波形を、電位と当該電位が計測された時間とを合わせた数値列とした信号で出力する。
計測部100の電位計測部130の構成及び動作を説明する。図9は、図1の電位取得部131のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。図9の例では、電位取得部131は、差動アンプ131aとAD(Analog-Digital)変換器131bとで構成される。
まず、差動アンプ131aは、測定電極120b1~120bmそれぞれの電位とリファレンス電極120aの電位とを同時に取得する。
次いで、差動アンプ131aは、測定電極120b1~120bmそれぞれとリファレンス電極120aとの電位の差を求める。つまり、差動アンプ131aは、測定電極120bk(k=1~m)とリファレンス電極120aとの電位差を求める。この差動アンプ131aの動作は差動増幅とも呼ばれる。上述したように、測定電極120b1~120bmそれぞれから差動アンプ131aに出力される信号は、区画部材140の絶縁作用等によって、互いに対して独立している。
次いで、AD変換器131bは、ステップS1120で差動アンプ131aによって求められた測定電極120b1~120bmそれぞれとリファレンス電極120aとの電位差を、予め定められた時間間隔で取得し、数値化する。時間間隔は、制御部133によって決定されてもよい。さらに、制御部133は、測定電極120b1~120bm間において、電位取得の時間又は時刻の同期を行ってもよい。
次いで、AD変換器131bは、ステップS1130で数値化された測定電極120b1~120bmそれぞれの電位差を、電位が数値化された時間又は時刻の情報と合わせて記憶部210に出力する。上記のような電位が数値化された時間又は時刻は、当該電位の計測時間又は計測時刻とされてもよい。
上述したように、実施の形態1に係る電気反応計測装置1において、培養容器110中で測定電極120b1~120bmのそれぞれが区画部材140の隔壁140aによって隔てられている。このような電気反応計測装置1は、1つの測定電極120bk(k=1~m)に1つの細胞又は組織が接触又は近傍に配置されている場合、複数の測定電極120b1~120bmで同時に計測された電位波形に対して主成分分析を行う。さらに、電気反応計測装置1は、測定電極120b1~120bmそれぞれについて主成分から合成される電位波形を、測定電極共通のノイズとみなし、測定電極120b1~120bmそれぞれの計測された電位波形からノイズの電位波形を減算する。これにより、電気反応計測装置1は、測定電極120b1~120bmそれぞれに配置された細胞又は組織が活動する様を反映する電気反応を、当該細胞又は組織ごとに独立して精度よく計測することができる。このように、複数の測定電極120b1~120bmの計測信号に影響を与える、細胞又は組織の外部からのノイズが除去されるため、細胞又は組織の独自の活動による電気反応がより精度よく計測されることが可能になる。よって、ユーザは、上記のような電気反応を用いた電気反応計測装置1の出力結果から、細胞又は組織の活動の良否を判定しやすくなる。また、細胞又は組織の電気反応に基づいて、細胞又は組織の活動の良否を機械学習によって自動判定する技術に電気反応計測装置1が適用される場合、自動判定の処理の機械学習が容易になり、判定精度を高めることが可能になる。機械学習を用いない判定方式に電気反応計測装置1が適用される場合でも、判定基準が定義しやすく。判定精度を高めることが可能になる。電気反応計測装置1は、細胞又は組織の活動の良否の判定を容易にし且つ精度を向上することで、例えば、再生医療のための細胞又は組織の選別を容易にする。
実施の形態1に係る電気反応計測装置1における電極120の変形例1を説明する。実施の形態1では、培養容器110に配置される電極120は、1つのリファレンス電極120aと1つ以上の測定電極120bとを備えたが、本変形例では、複数のリファレンス電極と、1つ以上の測定電極とを備える。本変形例では、複数のリファレンス電極120a1~120a4は、共通の回路に接続されている、つまり、回路上で共通化されている。測定電極120bはそれぞれ、実施の形態1と同様に、互いに独立した回路に接続されている。
実施の形態1に係る電気反応計測装置1における電極120の変形例2を説明する。本変形例では、リファレンス電極の構成が、実施の形態1及び変形例1と異なる。具体的には、リファレンス電極は、ウェル140bの隔壁140aに配置されている。
実施の形態2に係る電気反応計測装置を説明する。実施の形態2に係る電気反応計測装置では、処理部200Aの信号処理部220Aの構成が実施の形態1と異なる。以下において、実施の形態2について、実施の形態1と異なる点を中心に説明する。
実施の形態2に係る電気反応計測装置の処理部200Aの信号処理部220Aの構成を説明する。図13は、実施の形態2に係る電気反応計測装置における信号処理部220Aの機能的な構成の一例を示すブロック図である。図13に示されるように、処理部200Aは、記憶部210と、信号処理部220Aと、出力部230とを含む。信号処理部220Aは、主成分分析処理部221と、主成分合成部222と、相互相関関数処理部224と、グルーピング処理部225と、共通ノイズ除去処理部223とを含む。主成分分析処理部221及び主成分合成部222の構成は、実施の形態1と同様である。
上述のように構成された信号処理部220Aを含む実施の形態2に係る電気反応計測装置の動作を、図14を参照しつつ説明する。図14は、実施の形態2に係る電気反応計測装置の動作の一例を示すフローチャートである。
主成分分析処理部221は、実施の形態1のステップS1100と同様に、ステップS1100の処理を行う。
主成分分析処理部221は、実施の形態1のステップS1200と同様に、ステップS2100の処理を行う。
主成分合成部222は、実施の形態1のステップS1300と同様に、ステップS2200の処理を行う。
相互相関関数処理部224は、ステップS2200で主成分合成部222によって合成された測定電極120b1~120bmごとの各主成分の電位波形である第一合成波形に対して、2つの測定電極間で、2つの異なる主成分の電位波形である第一合成波形について相互相関係数を求める。図15A及び図15BはステップS2300で求められた相互相関係数の一例である。なお、図15A及び図15Bは、実施の形態2に係る電気反応計測装置における相互相関関数処理部224の計算結果の一部の一例を示す図である。ステップS2300の動作の詳細は後述する。
グルーピング処理部225は、ステップS2300で相互相関関数処理部224によって算出された、2つの測定電極間の異なる主成分の相互相関係数の絶対値が、予め定められた閾値以上である主成分の組みあわせを抽出し、これらをグループにまとめるグループ化をする。グルーピング処理部225は、グループごとに、当該クループに含まれる主成分の全分散に対する寄与率を合計し、グループの説明量とする。グルーピング処理部225は、グループを説明量の大きさに従って大きい順に並び替え、上位からの予め定められたグループ数のグループ、又は、説明量が大きいほうからグループの説明量を累積していった値が予め定められた値を超えるグループを選択し、選択されたグループに含まれる主成分を全て、除去対象のノイズとして決定する。ステップS2400の動作の詳細は後述する。
共通ノイズ除去処理部223は、ステップS2400で除去対象のノイズとして決定された主成分について、測定電極120b1~120bmそれぞれの観測値である電位波形から、ステップS2300で合成された測定電極120b1~120bmそれぞれの当該主成分に対応する第一合成波形であるノイズ波形を減算することにより残渣を求める。共通ノイズ除去処理部223は、ステップS2400で決定された全ての主成分についての第一合成波形を減算した残渣の時間波形を、測定電極120b1~120bmそれぞれでのノイズ除去後の電位波形とし、出力部230に出力する。
出力部230は、ステップS2500で共通ノイズ除去処理部223によって算出された測定電極120b1~120bmそれぞれのノイズ除去後の電位波形を、電位と当該電位が計測された時間とを合わせた数値列とした信号で出力する。
図16を参照しつつ、ステップS2300における相互相関関数処理部224の詳細な動作を説明する。図16は、図14のステップS2300の処理の詳細の一例を示すフローチャートである。
相互相関関数処理部224は、測定電極120b1~120bmのうちから抽出される2つの測定電極のペアの全ての組み合わせについて、2つの測定電極の各主成分の第一合成波形同士の相互相関係数の算出を終了したか否かを判定する。相互相関関数処理部224は、上記算出が終了している場合(ステップS2301においてyes)、ステップS2400へ進む。相互相関関数処理部224は、上記算出が終了していない場合(ステップS2301においてno)、ステップS2302へ進む。
相互相関関数処理部224は、主成分の相互相関係数を未だ算出していない測定電極の組み合わせのうちから1つの組み合わせを選択する。
相互相関関数処理部224は、ステップS2302で選択された2つの測定電極の主成分の間において、互いに異なる主成分同士の全ての組み合わせについて、相互相関係数の算出が終了したか否かを判定する。相互相関関数処理部224は、上記算出が終了している場合(ステップS2303においてyes)、ステップS2301へ戻る。相互相関関数処理部224は、上記算出が終了していない場合(ステップS2303においてno)、ステップS2304へ進む。
相互相関関数処理部224は、相互相関係数を未だ算出していない主成分の組み合わせのうちから1つの組み合わせを選択する。
相互相関関数処理部224は、ステップS2304で選択された主成分の組み合わせについて、2つの主成分の第一合成波形同士の相互相関係数を計算する。
図17を参照しつつ、ステップS2400におけるグルーピング処理部225の詳細な動作を説明する。図17は、図14のステップS2400の処理の詳細の一例を示すフローチャートである。
グルーピング処理部225は、測定電極120b1~120bmの組み合わせそれぞれについて、主成分の各組み合わせの相互相関係数の絶対値を算出し、当該測定電極の組み合わせに含まれる全ての主成分の組み合わせについて、主成分の組み合わせごとに相互相関係数の絶対値を平均する。例えば、図15A及び図15Bの例の場合、第1主成分及び第2主成分の組み合わせについて、グルーピング処理部225は、測定電極120bkの第1主成分と測定電極120bk+1の第2主成分との相互相関係数の絶対値、測定電極120bkの第2主成分と測定電極120bk+1の第1主成分との相互相関係数の絶対値、測定電極120bk+2の第1主成分と測定電極120bk+3の第2主成分との相互相関係数の絶対値、及び、測定電極120bk+2の第2主成分と測定電極120bk+3の第1主成分との相互相関係数の絶対値のように、第1主成分及び第2主成分の間で算出された全ての相互相関係数の絶対値の平均値を求める。また、図18は、図15A及び図15Bの例について、主成分の組み合わせごとに相互相関係数の絶対値の平均を計算した結果の一例である。相互相関係数の絶対値は、0以上1以内の範囲の値をとり、1に近い程、2つの主成分が類似することを示す。
グルーピング処理部225は、主成分の組み合わせのうち、ステップS2401で求めた相互相関係数の絶対値の平均が、予め定められた値を超える、主成分の組み合わせを抽出する。予め定められた値は、例えば0.7である。図18の例では、第1主成分及び第3主成分の組み合わせ、並びに、第3主成分及び第4主成分の組み合わせが該当する。
グルーピング処理部225は、ステップS2402で抽出された主成分の組み合わせをグループ化する、つまり、グループ分けする。このとき、まず、グルーピング処理部225は、抽出された2つの組み合わせを1つのグループとする。さらに、グルーピング処理部225は、図18の例のように、抽出された2つの組み合わせの間で、含まれる主成分に重なりがある場合、重なる主成分を含む2つの組み合わせを1つのグループにまとめる。すなわち、図18の例の場合、グルーピング処理部225は、第1主成分及び第3主成分、第3主成分及び第4主成分において、重なる主成分に第3主成分を決定し、第1主成分、第3主成分及び第4主成分を1つのグループとする。よって、1組の主成分のいずれかの主成分と重なりがある主成分の組が1つのグループにまとめられ、当該1組の主成分のいずれの主成分とも重なりがない主成分の組は、別のグループにまとめられる。また、いずれのグループにも含まれなかった主成分は、クループ化されない主成分として扱われる。
グルーピング処理部225は、2つ以上の主成分を含む主成分のグループについて、当該グループに含まれる各主成分のデータ全体の分散に対する寄与率を算出し、当該グループの各主成分の寄与率の合計を、当該グループの説明量とする。さらに、グルーピング処理部225は、ステップS2403でグループ化されなかった主成分をそれぞれ、1つのグループとして、当該グループの説明量を上記と同様に算出する。1つの主成分からなるグループの説明量は、当該主成分の寄与率である。
グルーピング処理部225は、ステップS2403でグループ化されたグループの説明量と、ステップS2403でグループ化されなかった主成分それぞれのグループの説明量とを合わせ、説明量の大きいものから順(降順)に予め定められた数のグループを抽出する。又は、グルーピング処理部225は、説明量の大きいものから順(降順)に、説明量を累積して、予め定められた説明量を超えるまでのグループを抽出する。このように、グループ化されなかった各主成分も1つのグループとして扱われ、全てのグループの説明量を用いて、グループの抽出が行われる。このように抽出されたグループには、ステップS2403でグループ化され且つ2つ以上の主成分を含むグループ、及び、ステップS2403でグループ化されず且つ1つの主成分を含むグループが、含まれ得る。
グルーピング処理部225は、ステップS2405で抽出されたグループに含まれる主成分の全てを、ノイズとして除去する成分として決定する。
上述したように、実施の形態2に係る電気反応計測装置は、主成分の合成波形の相互相関係数を求めて、相互相関係数に基づく合成波形の類似度によって主成分をグルーピングする。つまり、電気反応計測装置は、測定電極の位置、及び、測定電極とリファレンス電極との距離等に起因してノイズの位相がずれることで異なる主成分として抽出され得る同じ主成分を、グループピングしてノイズ除去の対象とする。よって、電気反応計測装置は、影響の大きいノイズが位相ずれによって説明量が小さく且つ影響の小さいノイズとして除去されずに、出力データに残ることを防ぐことができる。
以上、1つ又は複数の態様に係る電気反応計測装置について、実施の形態及び変形例に基づいて説明したが、本開示は、これらの実施の形態及び変形例に限定されるものではない。本開示の趣旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を実施の形態及び変形例に施したものや、異なる実施の形態及び変形例における構成要素を組み合わせて構築される形態も、1つ又は複数の態様の範囲内に含まれてもよい。
110 培養容器
120 電極
120a,120a1~120a4,220a リファレンス電極
120b,120b1~120bm 測定電極
130 電位計測部
131 電位取得部
131a 差動アンプ
131b AD変換器
132 コネクタ
133 制御部
150 液面
200,200A 処理部
210 記憶部
220,220A 信号処理部
221 主成分分析処理部
222 主成分合成部
223 共通ノイズ除去処理部
224 相互相関関数処理部
225 グルーピング処理部
230 出力部
Claims (7)
- 培養容器中の複数の部屋それぞれに配置された複数の測定電極における、少なくとも1つのリファレンス電極に対する電位を計測する電気反応計測装置であって、
前記複数の測定電極と、
前記少なくとも1つのリファレンス電極と、
少なくとも1つの制御回路とを備え、
前記複数の部屋には、計測対象物が配置され、
前記少なくとも1つの制御回路は、
前記複数の測定電極それぞれの前記電位を主成分分析することによって、前記複数の測定電極それぞれについて少なくとも1つの主成分を算出し、
前記複数の測定電極それぞれについて、前記測定電極の前記主成分から前記主成分に対応する電位を推定し、推定された前記電位を合成し、
前記測定電極の合成された前記電位を、前記測定電極で測定された電位から減算し、
減算後の電位を出力する
電気反応計測装置。 - 前記複数の部屋を互いに電気的に隔てる隔壁をさらに備える
請求項1に記載の電気反応計測装置。 - 前記測定電極は、前記部屋を囲む前記隔壁の内側に配置され、
前記リファレンス電極は、前記隔壁に配置される
請求項2に記載の電気反応計測装置。 - 前記少なくとも1つの制御回路は、
前記主成分それぞれについて、計測された電位全体の分散に対する前記主成分の説明量を算出し、
前記主成分のうち、前記説明量が大きいものから順に前記主成分の一部を抽出し、
抽出された前記主成分について、前記主成分に対応する電位を合成する
請求項1~3のいずれか一項に記載の電気反応計測装置。 - 前記少なくとも1つの制御回路は、
前記複数の測定電極それぞれについて少なくとも2つの主成分を算出し、
前記主成分に対応する電位について、2つの前記主成分に対応する電位の相互相関係数を算出し、
前記相互相関係数が所定の値以上である前記2つの主成分をグループ分けし、
前記グループの説明量として、前記グループに含まれる全ての前記主成分の説明量の和を算出し、
前記グループの説明量及び前記グループに含まれない前記主成分の前記説明量について、前記説明量の多いものから、前記グループ及び前記グループに含まれない前記主成分を抽出し、
抽出された前記グループ及び前記グループに含まれない前記主成分に含まれる前記主成分に対応する電位の和を推定し、
前記電位の和を、前記測定電極で測定された電位から減算する
請求項1~3のいずれか一項に記載の電気反応計測装置。 - 培養容器中の複数の部屋それぞれに配置された複数の測定電極における、少なくとも1つのリファレンス電極に対する電位を処理する電気反応計測装置であって前記複数の測定電極と前記少なくとも1つのリファレンス電極と少なくとも1つの制御回路とを備える電気反応計測装置による電気反応処理方法であって、
前記複数の部屋には、計測対象物が配置され、
前記少なくとも1つのリファレンス電極に対する前記複数の測定電極それぞれの電位を取得し、
前記複数の測定電極それぞれの前記電位を主成分分析することによって、前記複数の測定電極それぞれについて少なくとも1つの主成分を算出し、
前記複数の測定電極それぞれについて、前記測定電極の前記主成分から前記主成分に対応する電位を推定し、推定された前記電位を合成し、
前記測定電極それぞれの合成された前記電位を、前記測定電極について取得された前記電位から減算し、
減算後の電位を出力する
電気反応処理方法。 - 複数の測定電極と、少なくとも1つのリファレンス電極と、コンピュータとを備える電気反応計測装置において、
計測対象物が配置される培養容器中の複数の部屋それぞれに配置された前記複数の測定電極のそれぞれと、前記少なくとも1つのリファレンス電極との間の電位を取得し、
前記複数の測定電極それぞれについての前記電位を主成分分析することによって、前記複数の測定電極それぞれについて少なくとも1つの主成分を算出し、
前記複数の測定電極それぞれについて、前記測定電極の前記主成分から前記主成分に対応する電位を推定し、推定された前記電位を合成し、
前記測定電極の合成された前記電位を、前記測定電極について取得された前記電位から減算し、
減算後の電位を出力することを
前記コンピュータに実行させるプログラム。
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