JP7229092B2 - Foreign matter inspection device and glass container manufacturing method using the same - Google Patents

Foreign matter inspection device and glass container manufacturing method using the same Download PDF

Info

Publication number
JP7229092B2
JP7229092B2 JP2019089324A JP2019089324A JP7229092B2 JP 7229092 B2 JP7229092 B2 JP 7229092B2 JP 2019089324 A JP2019089324 A JP 2019089324A JP 2019089324 A JP2019089324 A JP 2019089324A JP 7229092 B2 JP7229092 B2 JP 7229092B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
axis
foreign matter
glass container
detection area
area line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019089324A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2020186919A (en
Inventor
崇 原田
寿 鈴木
悠貴 伊藤
岳 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyo Glass Co Ltd
Original Assignee
Toyo Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyo Glass Co Ltd filed Critical Toyo Glass Co Ltd
Priority to JP2019089324A priority Critical patent/JP7229092B2/en
Publication of JP2020186919A publication Critical patent/JP2020186919A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7229092B2 publication Critical patent/JP7229092B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、ガラス容器の裾底部に異物が混入しているか否かを検査するための異物検査装置及びそれを用いたガラス容器製造方法に関する。 BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a foreign matter inspection device for inspecting whether or not foreign matter is mixed in the skirt bottom of a glass container, and a glass container manufacturing method using the same.

従来用いられていたこの種の異物検査装置としては、例えば下記の特許文献1等に示されている構成を挙げることができる。すなわち、従来の異物検査装置では、ガラス容器を間に挟むように光源とカメラとを配置して、光源からガラス容器に光を照射している状態でガラス容器のヒール部をカメラで撮像している。そして、カメラにより撮像された画像内で、背景よりも暗く映る部分を異物として判定している。 Conventionally used foreign matter inspection apparatuses of this type include, for example, the configuration disclosed in Patent Document 1 below. That is, in a conventional foreign matter inspection apparatus, a light source and a camera are arranged so as to sandwich the glass container, and the heel of the glass container is imaged by the camera while the light source is irradiating the glass container with light. there is Then, in the image captured by the camera, a portion that appears darker than the background is determined as a foreign object.

特開平11-166906号公報JP-A-11-166906

上記のような従来の異物検査装置では、或る程度の大きさ例えば直径0.8mmの異物であれば見つけることができるが、それ以下の微小異物を発見できず通過させてしまうということがある。ガラス容器の裾底部の内表面に微小異物が残ることにより、ガラス容器が破損してしまうということがある。微小異物を発見するためには、裾底部の内部を高倍率で撮像するとともに、裾底部の内部だけにピントを合わせた被写界深度が浅い画像を得る必要がある。高価な撮像レンズを用いればそのような画像を得ることができるかもしれないが、装置コストが増大してしまう。 In the conventional foreign matter inspection apparatus as described above, foreign matter of a certain size, for example, a diameter of 0.8 mm, can be found, but minute foreign matter smaller than that size cannot be found and may be passed through. . The glass container may be damaged due to minute foreign matter remaining on the inner surface of the skirt bottom portion of the glass container. In order to find minute foreign matter, it is necessary to image the inside of the skirt bottom at a high magnification and obtain an image with a shallow depth of field in which only the inside of the skirt bottom is focused. Although it may be possible to obtain such an image using an expensive imaging lens, the equipment cost increases.

本発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、その目的の一つは、微小異物をより確実に発見できる異物検査装置及びそれを用いたガラス容器製造方法を提供することである。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and one of its objects is to provide a foreign matter inspection device and a glass container manufacturing method using the same, which can more reliably detect minute foreign matter. That is.

本発明に係る異物検査装置は、ガラス容器に光を照射する光源と、ガラス容器の裾底部を撮像するカメラと、カメラが撮像した画像に基づいて裾底部に異物が混入しているか否かを判定する判定装置とを備え、カメラは、カメラ本体と、カメラ本体に取り付けられたリバースリングと、リバースリングを介して表裏反転してカメラ本体に取り付けられた撮像レンズとを有する。 A contaminant inspection apparatus according to the present invention comprises a light source for irradiating a glass container with light, a camera for capturing an image of the hem and bottom of the glass container, and based on the image captured by the camera, it is determined whether or not foreign matter is mixed in the hem and bottom. The camera has a camera body, a reverse ring attached to the camera body, and an imaging lens attached to the camera body while being turned upside down via the reverse ring.

また、本発明に係る異物検査装置は、ガラス容器に光を照射する光源と、ガラス容器の裾底部を撮像するカメラと、カメラが撮像した画像に基づいて裾底部に異物が混入しているか否かを判定する判定装置とを備え、画像は、X軸及びY軸を有する2次元画素データを含んでおり、画像には、X軸の一端側に位置するとともにガラス容器の底部に対応する暗部と、X軸の他端側に位置するとともにガラス容器の裾部に対応する明部とが含まれており、画像において、異物は、ガラス容器の裾部に対応する明部の中に点状の暗部として現れ、判定装置は、X軸の他端側から一端側に向けて暗部を検出したときに暗部が初めて検出されるX軸座標をY軸方向に連ねて検知エリア線を画定する検知エリア線画定部と、Y軸に沿って検知エリア線のX軸座標のずれ量を算出するずれ量算出部と、Y軸の一端から他端に向けてX軸座標のずれ量をスキャンして、異物により検知エリア線が非連続となっている特異領域を検出する特異領域検出部と、特異領域が検出されるとき、スキャンの方向に係る特異領域の前又は後のY軸座標における検知エリア線のX軸座標を用いて検知エリア線を補正する検知エリア線補正部と、補正された検知エリア線とX軸の他端との間で、異物に対応する点状の暗部を検出する異物検出部とを有している。 Further, a foreign matter inspection apparatus according to the present invention comprises a light source for irradiating a glass container with light, a camera for imaging the bottom of the glass container, and whether foreign matter is mixed in the bottom based on the image captured by the camera. the image includes two-dimensional pixel data having an X-axis and a Y-axis, the image including a dark portion located at one end of the X-axis and corresponding to the bottom of the glass container. and a bright portion located on the other end side of the X-axis and corresponding to the skirt of the glass container. The determination device demarcates the detection area line by connecting the X-axis coordinates at which the dark portion is detected for the first time when the dark portion is detected from the other end side to the one end side of the X-axis in the Y-axis direction. an area line demarcation unit, a deviation amount calculation unit that calculates the amount of deviation of the X-axis coordinates of the detection area line along the Y-axis, and a scan of the deviation amount of the X-axis coordinates from one end of the Y-axis toward the other end. , a peculiar area detection unit that detects a peculiar area in which the detection area line is discontinuous due to foreign matter; A detection area line correction unit that corrects the detection area line using the X-axis coordinates of the line, and a foreign matter that detects a dot-like dark part corresponding to the foreign matter between the corrected detection area line and the other end of the X-axis. and a detection unit.

本発明に係るガラス容器製造方法は、上述の異物検査装置を用いてガラス容器の裾底部に異物が混入しているか否かを検査する工程を含む。 A method of manufacturing a glass container according to the present invention includes a step of inspecting whether or not foreign matter is mixed in the skirt bottom portion of the glass container using the foreign matter inspection apparatus described above.

本発明の異物検査装置及びそれを用いたガラス容器製造方法によれば、リバースリングを介して表裏反転してカメラ本体に撮像レンズが取り付けられているので、高価な撮像レンズを用いなくても微小異物の発見に適した画像を得ることができる。これにより、装置コストを抑えつつ、微小異物をより確実に発見できる。また、本発明の異物検査装置及びそれを用いたガラス容器製造方法は、特異領域が検出されるとき検知エリア線を補正した上で、異物に対応する点状の暗部を検出するので、微小異物をより確実に発見できる。 According to the foreign matter inspection apparatus of the present invention and the glass container manufacturing method using the same, since the imaging lens is attached to the camera body while being turned upside down through the reverse ring, even if an expensive imaging lens is not used, fine particles can be detected. It is possible to obtain an image suitable for finding a foreign object. As a result, minute foreign matter can be found more reliably while suppressing apparatus costs. Further, in the foreign matter inspection apparatus and the glass container manufacturing method using the foreign matter inspection apparatus of the present invention, the detection area line is corrected when the peculiar area is detected, and then the dot-like dark portion corresponding to the foreign matter is detected. can be found more reliably.

本発明の実施の形態による異物検査装置の検査対象であるガラス容器を示す正面図である。1 is a front view showing a glass container to be inspected by a foreign substance inspection apparatus according to an embodiment of the present invention; FIG. 図1の裾底部の断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of the hem bottom portion of FIG. 1; 本発明の実施の形態による異物検査装置を示す構成図である。1 is a configuration diagram showing a foreign matter inspection device according to an embodiment of the present invention; FIG. 図3のカメラが撮像した裾底部の画像の一例を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of an image of the skirt bottom captured by the camera in FIG. 3 ; 図3の判定装置の構成を示すブロック図である。4 is a block diagram showing the configuration of the determination device of FIG. 3; FIG. 図5の判定装置による画像処理を示す説明図である。6 is an explanatory diagram showing image processing by the determination device of FIG. 5; FIG. 本発明の実施の形態によるガラス容器製造方法を示すフローチャートである。It is a flow chart which shows a glass container manufacturing method by an embodiment of the invention.

以下、本発明を実施するための形態について、図面を参照して説明する。本発明は各実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、各実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施の形態に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態の構成要素を適宜組み合わせてもよい。 EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the form for implementing this invention is demonstrated with reference to drawings. The present invention is not limited to each embodiment, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention. Moreover, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of constituent elements disclosed in each embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiments. Furthermore, components of different embodiments may be combined as appropriate.

図1は本発明の実施の形態による異物検査装置の検査対象であるガラス容器1を示す正面図であり、図2は図1の裾底部13の断面図である。ガラス容器1は、透明又は半透明なガラスで形成された容器である。ガラスは、無色の透明ガラスであってもよいが、色ガラスであってもよい。本実施の形態では、飲料が充填されるびんとしてガラス容器1を説明する。飲料は、炭酸飲料であり得る。 FIG. 1 is a front view showing a glass container 1 to be inspected by a foreign matter inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view of the hem bottom portion 13 of FIG. The glass container 1 is a container made of transparent or translucent glass. The glass may be colorless transparent glass, or may be colored glass. In this embodiment, a glass container 1 is described as a bottle filled with a beverage. The beverage can be a carbonated beverage.

図1に示すように、ガラス容器1には、口部10、肩部11、胴部12及び裾底部13が設けられている。 As shown in FIG. 1 , the glass container 1 is provided with a mouth portion 10 , a shoulder portion 11 , a body portion 12 and a skirt portion 13 .

口部10は、ガラス容器1の内外を連通する開口を有する筒状の部分であり、ガラス容器1の上部に設けられている。肩部11は、口部10の下端と胴部12の上端とを接続する部分である。肩部11の内径は、口部10から胴部12に向けて徐々に拡大されている。本実施の形態の肩部11の外表面には、模様11aが設けられている。図1では網掛けにより模様11aの存在を示している。模様11aの具体的な形状は任意である。肩部11の外表面に模様11aが設けられていなくてもよい。胴部12は、肩部11の下端と裾底部13の上端とを接続する筒状の部分である。本実施の形態の胴部12の内径は、ガラス容器1の高さ方向に一様とされている。 The mouth portion 10 is a cylindrical portion having an opening that communicates the inside and outside of the glass container 1 , and is provided in the upper portion of the glass container 1 . The shoulder portion 11 is a portion that connects the lower end of the mouth portion 10 and the upper end of the body portion 12 . The inner diameter of the shoulder portion 11 gradually increases from the mouth portion 10 toward the body portion 12 . A pattern 11a is provided on the outer surface of the shoulder portion 11 of the present embodiment. In FIG. 1, the existence of the pattern 11a is indicated by shading. The specific shape of the pattern 11a is arbitrary. The pattern 11 a may not be provided on the outer surface of the shoulder portion 11 . The trunk portion 12 is a tubular portion that connects the lower end of the shoulder portion 11 and the upper end of the hem bottom portion 13 . The inner diameter of the body portion 12 of this embodiment is uniform in the height direction of the glass container 1 .

裾底部13は、胴部12の下部に設けられた部分である。裾底部13は、胴部12の下端に接続された裾部130と、裾部130の下部に設けられた底部131とを含んでいる。裾部130は、胴部12と同様の筒状の部分である。底部131は、ガラス容器1の底を構成する部分である。本実施の形態の底部131の中央部は、ガラス容器1の内部に向かって隆起されている。底部131の外周表面は曲面とされている。ガラス容器1の内部における裾部130と底部131との接続部の表面は曲面とされている。底部131の下面にはナーリングが形成され得る。 The hem bottom portion 13 is a portion provided at the lower portion of the body portion 12 . The hem bottom portion 13 includes a hem portion 130 connected to the lower end of the body portion 12 and a bottom portion 131 provided below the hem portion 130 . The skirt portion 130 is a tubular portion similar to the body portion 12 . The bottom part 131 is a part that constitutes the bottom of the glass container 1 . The central portion of the bottom portion 131 of this embodiment is raised toward the inside of the glass container 1 . The outer peripheral surface of the bottom portion 131 is curved. The surface of the connecting portion between the skirt portion 130 and the bottom portion 131 inside the glass container 1 is curved. A knurling may be formed on the lower surface of the bottom part 131 .

本実施の形態の裾部130の外周面には、リングマーク132が形成されている。図2に現れているように、本実施の形態のリングマーク132は、一対の溝部132aと、それら溝部132aの間の山部132bとによって構成されている。各溝部132a及び山部132bの外表面は、曲率半径3mm程度の円弧面により構成され得る。上方の溝部132aの中心とガラス容器1の底面との離間距離は13mm程度であり得る。溝部132aの中心とは、溝部132aを構成する窪みの最も深い位置と理解することができる。各溝部132aの中心間距離は4mm程度であり得る。図示していないが、裾部130と底部131との間にはバッフルマークと呼ばれる微細な段差が形成されていることがある。 A ring mark 132 is formed on the outer peripheral surface of the skirt portion 130 of the present embodiment. As shown in FIG. 2, the ring mark 132 of this embodiment is composed of a pair of grooves 132a and a peak 132b between the grooves 132a. The outer surface of each groove 132a and peak 132b can be formed by an arcuate surface with a radius of curvature of about 3 mm. The distance between the center of the upper groove portion 132a and the bottom surface of the glass container 1 can be about 13 mm. The center of the groove portion 132a can be understood as the deepest position of the depression that constitutes the groove portion 132a. The center-to-center distance of each groove 132a may be on the order of 4 mm. Although not shown, a fine step called a baffle mark may be formed between the skirt portion 130 and the bottom portion 131 .

ガラス容器1の製造時に裾底部13の内部に異物2が混入することがある。異物2は、ガラス原料以外の物質又は気泡であり得る。異物2を構成する物質は、例えば石、陶器、磁器、金属又は耐熱ガラス等の微細な粒である場合がある。異物2を構成する物質は、裾底部13の壁面に埋まっているか又は裾底部13の壁面に付着している場合がある。異物2を構成する気泡は、裾底部13の壁面に埋まっているか又は壁面に窪みを形成している場合がある。異物2は、例えば0.8mm以下の微小異物であり得る。ガラス容器1を出荷するか又はガラス容器1に飲料を充填する前に、裾底部13に異物2が残留しているガラス容器1を発見する必要がある。 A foreign substance 2 may be mixed into the inside of the skirt bottom portion 13 when the glass container 1 is manufactured. The foreign matter 2 may be substances other than frit or air bubbles. Substances that constitute the foreign object 2 may be, for example, fine grains of stone, pottery, porcelain, metal, heat-resistant glass, or the like. The substance that constitutes the foreign matter 2 may be embedded in the wall surface of the skirt bottom portion 13 or attached to the wall surface of the skirt bottom portion 13 . The air bubbles forming the foreign matter 2 may be buried in the wall surface of the skirt bottom portion 13 or may form a dent in the wall surface. The foreign matter 2 may be, for example, a minute foreign matter of 0.8 mm or less. Before shipping a glass container 1 or filling a glass container 1 with a beverage, it is necessary to find a glass container 1 with a foreign object 2 remaining on the skirt bottom 13 .

次に、図3は、本発明の実施の形態による異物検査装置3を示す構成図である。図3に示す異物検査装置3は、ガラス容器1の裾底部13に異物2が混入しているか否かを検査するための装置である。図3に示すように、本実施の形態の異物検査装置3には、基台30、回転駆動装置31、光源32、カメラ33及び判定装置34を有している。 Next, FIG. 3 is a configuration diagram showing the foreign matter inspection apparatus 3 according to the embodiment of the present invention. The foreign matter inspection device 3 shown in FIG. 3 is a device for inspecting whether or not foreign matter 2 is mixed in the hem bottom portion 13 of the glass container 1 . As shown in FIG. 3, the foreign matter inspection apparatus 3 of this embodiment has a base 30, a rotary drive device 31, a light source 32, a camera 33 and a determination device .

基台30は、ガラス容器1が載せられた台である。図3では、1つのガラス容器1のみを示しているが、複数のガラス容器1が基台30に載せられる場合がある。基台30に載せられた複数のガラス容器1は、カメラ33の前を順に通過するよう搬送される。検査対象たるガラス容器1がカメラ33の前に位置した際、ガラス容器1の搬送が一時的に停止される。 The base 30 is a stand on which the glass container 1 is placed. Although only one glass container 1 is shown in FIG. 3 , a plurality of glass containers 1 may be placed on the base 30 . A plurality of glass containers 1 placed on the base 30 are conveyed so as to pass in front of the camera 33 in order. When the glass container 1 to be inspected is positioned in front of the camera 33, the transportation of the glass container 1 is temporarily stopped.

回転駆動装置31は、カメラ33の前でガラス容器1を回転させるための装置である。ガラス容器1は、ガラス容器1の中心軸1aを中心に回転される。本実施の形態の回転駆動装置31は、駆動軸310及び回転板311を有している。駆動軸310は、図示しないモータの動力により回転駆動される。回転板311は、駆動軸310の上部に取り付けられており、駆動軸310と一体に回転可能とされている。回転板311の外周面はガラス容器1の胴部12の外表面に接触されており、回転板311の回転に応じてガラス容器1が回転される。 The rotation drive device 31 is a device for rotating the glass container 1 in front of the camera 33 . The glass container 1 is rotated around the central axis 1a of the glass container 1 . The rotary drive device 31 of this embodiment has a drive shaft 310 and a rotary plate 311 . The drive shaft 310 is rotationally driven by the power of a motor (not shown). The rotating plate 311 is attached to the upper portion of the drive shaft 310 and is rotatable together with the drive shaft 310 . The outer peripheral surface of the rotating plate 311 is in contact with the outer surface of the body portion 12 of the glass container 1 , and the glass container 1 is rotated according to the rotation of the rotating plate 311 .

光源32は、ガラス容器1に光を照射するための機器である。本実施の形態の光源32は、ガラス容器1の側方に配置されている。図示はしないが、光源32は、複数のLED発光素子と、複数のLED発光素子の前面に配置された拡散板とを有しており、LED発光素子からの光を拡散板で拡散した上で出射させることにより、面光源として機能することができる。光源32からの光の波長は、任意であるが、ガラス容器1が色ガラスにより形成されている場合には、そのガラス容器1に対する透過率が高い波長が好ましい。ガラス容器1が茶系の色ガラスにより形成されている場合、光源32からの光を赤色とすることができる。 The light source 32 is a device for irradiating the glass container 1 with light. The light source 32 of this embodiment is arranged on the side of the glass container 1 . Although not shown, the light source 32 has a plurality of LED light emitting elements and a diffusion plate arranged in front of the plurality of LED light emitting elements. By emitting the light, it can function as a surface light source. The wavelength of the light from the light source 32 is arbitrary, but when the glass container 1 is made of colored glass, a wavelength with high transmittance to the glass container 1 is preferable. When the glass container 1 is made of brown colored glass, the light from the light source 32 can be red.

光源32は、ガラス容器1が透明びん及び色びんであるとき、1700lx以上の照度でガラス容器1に光を照射する高輝度光源であることが好ましい。1700lx以上の照度でガラス容器1に光を照射することで、カメラ33によりガラス容器1の裾底部13を撮像した画像において、模様11a又はリングマーク132等の外乱要素の影をより確実に消すか又は薄くすることができる。外乱要素の影をより確実に消すか又は薄くすることで、その画像に基づく異物2の検出精度を向上させることができる。 The light source 32 is preferably a high-intensity light source that irradiates the glass container 1 with an illuminance of 1700 lx or more when the glass container 1 is a transparent bottle or a colored bottle. By irradiating the glass container 1 with light at an illuminance of 1700 lx or more, the shadow of the disturbance element such as the pattern 11a or the ring mark 132 can be more reliably eliminated in the image of the hem bottom 13 of the glass container 1 captured by the camera 33. Or you can make it thinner. By more reliably erasing or thinning the shadow of the disturbance element, it is possible to improve the detection accuracy of the foreign object 2 based on the image.

なお、後述のライトコントロールフィルム320が光源32に取り付けられているとき、上述の光源32の照度は、ライトコントロールフィルム320から出射される光の照度を意味する。例えばライトコントロールフィルム320が光源32の光を1/5程度しか通過させない場合、光源32自体の照度は、ガラス容器1が透明びん及び色びんであるとき、8500(=1700×5)lx以上であることが好ましい。 When the light control film 320 described later is attached to the light source 32 , the illuminance of the light source 32 described above means the illuminance of light emitted from the light control film 320 . For example, when the light control film 320 allows only about 1/5 of the light from the light source 32 to pass through, the illuminance of the light source 32 itself is 8500 (=1700×5) lx or more when the glass container 1 is a transparent bottle or a colored bottle. Preferably.

本実施の形態の光源32には、光源32からの光の拡散を制限するライトコントロールフィルム320が取り付けられている。ライトコントロールフィルム320は、互いに平行に延在された複数のルーバーが設けられたフィルムである。本実施の形態のライトコントロールフィルム320のルーバーは、鉛直方向に延在されている。ライトコントロールフィルム320は、カメラ33の前に位置するガラス容器1に向かうように光源32の光の向きを整える。ライトコントロールフィルム320は、ガラス容器1の周囲に光が照射されることを制限する。ライトコントロールフィルム320により光の拡散を制限することで、異物検査装置3の周囲に対する光の影響を抑えることができる。ライトコントロールフィルム320は、光源32として上述の高輝度光源を用いる際に特に有用である。 A light control film 320 is attached to the light source 32 of this embodiment to limit the diffusion of light from the light source 32 . The light control film 320 is a film provided with a plurality of louvers extending parallel to each other. The louvers of the light control film 320 of this embodiment extend vertically. Light control film 320 directs light from light source 32 toward glass container 1 positioned in front of camera 33 . The light control film 320 limits the irradiation of light around the glass container 1 . By limiting the diffusion of light with the light control film 320, the influence of the light on the surroundings of the foreign matter inspection apparatus 3 can be suppressed. Light control film 320 is particularly useful when using the high intensity light sources described above as light source 32 .

本実施の形態の光源32の高さは、ガラス容器1の高さよりも高くされており、光源32の上部からの光は斜め上方からガラス容器1に入射される。光源32は、カメラ33の光軸33aの仰角θ1に12°以上かつ22°以下の角度θ2を加えた角度だけ水平に対して傾斜した角度でリングマーク132に光を入射させることが好ましい。リングマーク132は光源32からの光を屈折しやすい。リングマーク132への光の入射角が小さいと、リングマーク132の影がカメラ33の画像に現れることがある。仰角θ1に12°以上の角度θ2を加えた角度だけ水平に対して傾斜した角度でリングマーク132に光を入射させることで、リングマーク132の影がカメラ33の画像に現れる虞を低減できる。22°を超える角度を仰角θ1に加えた角度でリングマーク132に光を入射させても、その光がリングマーク132の影を低減できる効果は小さくなる。 The height of the light source 32 in this embodiment is higher than the height of the glass container 1, and the light from above the light source 32 enters the glass container 1 obliquely from above. It is preferable that the light source 32 illuminates the ring mark 132 at an angle that is an angle obtained by adding an angle θ2 of 12° or more and 22° or less to the elevation angle θ1 of the optical axis 33a of the camera 33 with respect to the horizontal. Ring mark 132 tends to refract light from light source 32 . If the angle of incidence of light on ring mark 132 is small, the shadow of ring mark 132 may appear in the image of camera 33 . By making the light incident on the ring mark 132 at an angle obtained by adding an angle θ2 of 12° or more to the elevation angle θ1, the possibility that the shadow of the ring mark 132 appears in the image of the camera 33 can be reduced. Even if the light is made incident on the ring mark 132 at an angle obtained by adding an angle exceeding 22° to the elevation angle θ1, the effect of the light to reduce the shadow of the ring mark 132 is reduced.

カメラ33は、ガラス容器1の裾底部13を撮像するための機器である。本実施の形態のカメラ33は、カメラ本体330、リバースリング331及び撮像レンズ332を有している。 The camera 33 is a device for capturing an image of the hem bottom portion 13 of the glass container 1 . The camera 33 of this embodiment has a camera body 330 , a reverse ring 331 and an imaging lens 332 .

カメラ本体330は、例えばCCD等の撮像素子を有している。カメラ本体330は、撮像素子が直線状に配置されたラインセンサカメラとすることができる。回転駆動装置31によりカメラ33の前で回転されるガラス容器1をカメラ本体330が撮像し続けることにより、ガラス容器1の全周にわたって裾底部13の画像を得ることできる。 The camera main body 330 has an imaging device such as a CCD, for example. The camera body 330 can be a line sensor camera in which imaging elements are linearly arranged. As the camera body 330 continues to image the glass container 1 rotated in front of the camera 33 by the rotation driving device 31 , an image of the hem bottom 13 can be obtained over the entire circumference of the glass container 1 .

リバースリング331は、カメラ本体330と撮像レンズ332との間に介在された器具である。カメラ本体330と撮像レンズ332との間にリバースリング331が介在されることで、表裏反転して撮像レンズ332をカメラ本体330に取り付けることができる。すなわち、撮像レンズ332は、本来の前玉をカメラ本体330に向け、本来の後玉をガラス容器1に向けた状態で、前後逆にカメラ本体330に取り付けられている。 A reverse ring 331 is a device interposed between the camera body 330 and the imaging lens 332 . By interposing the reverse ring 331 between the camera body 330 and the imaging lens 332 , the imaging lens 332 can be attached to the camera body 330 by turning it upside down. In other words, the imaging lens 332 is attached to the camera body 330 with the original front lens facing the camera body 330 and the original rear lens facing the glass container 1 .

表裏反転して撮像レンズ332をカメラ本体330に取り付けることで、撮像レンズ332の本来の拡大率よりも大きな拡大率で撮像可能となる。これにより、微小な異物2を大きく撮像することができ、異物2の検出精度を向上させることができる。また、表裏反転して撮像レンズ332をカメラ本体330に取り付けることで、カメラ33の被写界深度を数mm程度まで極めて浅くすることができる。これにより、微小な異物2を鮮明に撮像しつつ、リングマーク132等の裾底部13の外表面の外乱要素をぼかして撮像することができ、異物2の検出精度を向上させることができる。 By attaching the imaging lens 332 to the camera main body 330 by flipping it upside down, it is possible to take an image at a larger magnification than the original magnification of the imaging lens 332 . As a result, the minute foreign matter 2 can be imaged in a large size, and the detection accuracy of the foreign matter 2 can be improved. In addition, by mounting the imaging lens 332 on the camera body 330 with the front and back turned upside down, the depth of field of the camera 33 can be made extremely shallow to about several millimeters. As a result, it is possible to image minute foreign matter 2 clearly while blurring disturbance elements on the outer surface of skirt bottom portion 13 such as ring mark 132 , thereby improving detection accuracy of foreign matter 2 .

本実施の形態のカメラ33は、斜め下方から裾底部13を撮像するように配置されている。カメラ33の光軸33aの仰角θ1(水平に対する光軸33aの傾斜角度)は33°以上かつ43°以下であることが好ましい。仰角θ1が33°を下回ると、カメラ33の撮像面が鉛直に近づき、奥行方向に関して限られた領域しか鮮明な画像を得ることができなくなるため、底部131側の異物2を見逃す虞が増えてしまう。一方、仰角θ1が43°を上回ると、カメラ33の撮像面が水平に近づき、高さ方向に関して限られた領域しか鮮明な画像を得ることができなくなるため、裾部130側の異物2を見逃す虞が増えてしまう。仰角θ1が33°以上かつ43°以下であることで、底部131側及び裾部130側の異物2をバランス良く撮像することができ、異物2の検出精度を向上させることができる。仰角θ1は、35°以上かつ41°以下であることがより好ましく、38°であることがさらに好ましい。なお、カメラ33の光軸33aは、カメラ本体330の撮像素子に直交する直線であって、その撮像素子の中心を通る直線と理解することができる。カメラ本体330がラインセンサカメラであるとき、撮像素子の中心は、撮像素子の延在方向中央の位置と理解することができる。 The camera 33 of the present embodiment is arranged so as to capture an image of the skirt bottom portion 13 from obliquely below. The elevation angle θ1 of the optical axis 33a of the camera 33 (the inclination angle of the optical axis 33a with respect to the horizontal) is preferably 33° or more and 43° or less. When the elevation angle θ1 is less than 33°, the imaging surface of the camera 33 approaches the vertical, and a clear image can only be obtained in a limited area in the depth direction. put away. On the other hand, when the elevation angle θ1 exceeds 43°, the imaging surface of the camera 33 becomes nearly horizontal, and a clear image can only be obtained in a limited area in the height direction, so the foreign object 2 on the skirt 130 side is overlooked. Fear increases. When the elevation angle θ1 is 33° or more and 43° or less, the foreign matter 2 on the bottom portion 131 side and the skirt portion 130 side can be imaged in a well-balanced manner, and the detection accuracy of the foreign matter 2 can be improved. The elevation angle θ1 is more preferably 35° or more and 41° or less, and even more preferably 38°. It should be noted that the optical axis 33a of the camera 33 is a straight line orthogonal to the imaging element of the camera body 330 and can be understood as a straight line passing through the center of the imaging element. When the camera body 330 is a line sensor camera, the center of the imaging element can be understood as the position of the center in the extending direction of the imaging element.

カメラ33の被写界深度は1.5mm以上かつ5.0mm以下であることが好ましい。被写界深度が1.5mm未満であると、ピント合わせが困難になる虞がある。一方、被写界深度が5.0mmを超えると、異物2が存在する可能性がある裾底部13の内部のみならず、裾底部13の外表面まで鮮明に撮像し、リングマーク132等の外乱要素により異物2の検出精度が低下する虞がある。被写界深度が1.5mm以上かつ5.0mm以下であることで、ピント合わせの容易さを確保しつつ、外乱要素の影響を抑えて異物2の検出精度を向上できる。被写界深度が2.0mm以上かつ4.5mm以下であることがより好ましく、3.0mm以上かつ4.0mm以下であることがさらに好ましく、3.8mmであることがより一層好ましい。 The depth of field of the camera 33 is preferably 1.5 mm or more and 5.0 mm or less. If the depth of field is less than 1.5 mm, focusing may become difficult. On the other hand, when the depth of field exceeds 5.0 mm, not only the inside of the skirt bottom portion 13 where the foreign matter 2 may exist, but also the outer surface of the skirt bottom portion 13 is clearly imaged, and disturbance such as the ring mark 132 is captured. There is a possibility that the detection accuracy of the foreign object 2 may be lowered depending on the factors. When the depth of field is 1.5 mm or more and 5.0 mm or less, it is possible to improve the detection accuracy of the foreign object 2 by suppressing the influence of disturbance factors while ensuring ease of focusing. The depth of field is more preferably 2.0 mm or more and 4.5 mm or less, further preferably 3.0 mm or more and 4.0 mm or less, and even more preferably 3.8 mm.

なお、撮像レンズ332の焦点距離が短くなるほど、撮像倍率が大きくなり、被写界深度が浅くなる傾向にある。 Note that the shorter the focal length of the imaging lens 332, the higher the imaging magnification and the shallower the depth of field.

カメラ本体330とリバースリング331との間か、又はリバースリング331と撮像レンズ332との間に1つ又は複数の接写リングを介在させることもできる。接写リングを介在させることで、撮像倍率を向上させることができる。接写リングを介在させた場合、被写界深度が浅くなる傾向にある。 One or more close-up rings may also be interposed between the camera body 330 and the reverse ring 331 or between the reverse ring 331 and the imaging lens 332 . Imaging magnification can be improved by interposing the close-up ring. When a close-up ring is interposed, the depth of field tends to be shallow.

判定装置34は、例えばプログラムに基づいて演算処理を行うコンピューター又は専用回路等により構成されるものであり、カメラ33に接続されている。判定装置34は、カメラ33が撮像した画像に基づいて裾底部13に異物2が混入しているか否かを判定する。 The determination device 34 is composed of, for example, a computer or a dedicated circuit that performs arithmetic processing based on a program, and is connected to the camera 33 . The determination device 34 determines whether or not the foreign matter 2 is mixed in the skirt bottom portion 13 based on the image captured by the camera 33 .

次に、図4は、図3のカメラ33が撮像した裾底部13の画像の一例を示す説明図である。図4に示すように、カメラ33が撮像した画像は、X軸及びY軸を有する2次元画素データを含んでいる。X軸はガラス容器1の高さ方向に相当し、Y軸はガラス容器1の周方向に相当する。画像には、暗部40及び明部41が含まれている。暗部40は、ガラス容器1の底部131に対応する部分であり、X軸の一端側(図中左側)に位置している。図4に示す一例としての暗部40の輪郭は、全体として連続的な曲線で構成されている。暗部40には、裾部130と底部131との間のバッフルマークに相当する一対のスパイク部40aも含まれている。スパイク部40aは、連続的な曲線から突出されたとげ状の部分であり、X軸及びY軸の両方に対して傾斜する直線状の輪郭を有している。明部41は、ガラス容器1の裾部130に対応する部分であり、X軸の他端側(図中右側)に位置している。異物2は、ガラス容器1の裾部130に対応する明部41の中に点状の暗部として現れている。 Next, FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of an image of the hem bottom portion 13 captured by the camera 33 of FIG. As shown in FIG. 4, the image captured by camera 33 includes two-dimensional pixel data having an X-axis and a Y-axis. The X-axis corresponds to the height direction of the glass container 1 and the Y-axis corresponds to the circumferential direction of the glass container 1 . The image includes dark portions 40 and bright portions 41 . The dark portion 40 is a portion corresponding to the bottom portion 131 of the glass container 1 and is located on one end side of the X axis (left side in the figure). The outline of the dark area 40, as an example shown in FIG. 4, is generally composed of continuous curves. The dark portion 40 also includes a pair of spikes 40a corresponding to the baffle marks between the skirt portion 130 and the bottom portion 131. FIG. The spike portion 40a is a thorn-like portion protruding from a continuous curve and has a straight contour that is inclined with respect to both the X-axis and the Y-axis. The bright portion 41 is a portion corresponding to the bottom portion 130 of the glass container 1 and is located on the other end side (right side in the figure) of the X-axis. The foreign matter 2 appears as a dot-like dark portion in the bright portion 41 corresponding to the bottom portion 130 of the glass container 1 .

次に、図5は図3の判定装置34の構成を示すブロック図であり、図6は図5の判定装置34による画像処理を示す説明図である。図5に示すように、本実施の形態の判定装置34は、明部輪郭線画定部340、オフセット部341、検知エリア線画定部342、ずれ量算出部343、特異領域検出部344、検知エリア線補正部345及び異物検出部346を有している。 Next, FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of the determination device 34 of FIG. 3, and FIG. 6 is an explanatory diagram showing image processing by the determination device 34 of FIG. As shown in FIG. 5, the determination device 34 of the present embodiment includes a bright contour line demarcation unit 340, an offset unit 341, a detection area line demarcation unit 342, a deviation amount calculation unit 343, a unique area detection unit 344, a detection area It has a line corrector 345 and a foreign object detector 346 .

明部輪郭線画定部340は、画像のX軸の一端から他端側に向けて明部41を検出したときに明部41が初めて検出されるX軸座標をY軸に連ねて、図6(a)にて破線で示す明部輪郭線5を画定する。図6(a)の暗部40中に示す白抜きの矢印は、X軸の一端から他端側に向けて明部41を検出している様子を示している。 The bright-portion outline defining unit 340 connects the X-axis coordinates at which the bright portion 41 is detected for the first time when the bright portion 41 is detected from one end of the image to the other end on the X-axis, and plots the coordinates as shown in FIG. A bright outline 5 indicated by a dashed line is defined in (a). A white arrow shown in the dark portion 40 in FIG. 6A indicates how the bright portion 41 is detected from one end of the X-axis toward the other end.

オフセット部341は、図6(b)に示すように、明部輪郭線画定部340により確定された明部輪郭線5をX軸の他端側にオフセットする。明部輪郭線5のオフセット量は、スパイク部40aから明部輪郭線5が離れるように、X軸に係るスパイク部40aの幅より大きく設定される。 As shown in FIG. 6B, the offset section 341 offsets the bright contour line 5 determined by the bright contour defining section 340 to the other end side of the X axis. The offset amount of the bright contour line 5 is set larger than the width of the spike portion 40a along the X axis so that the bright contour line 5 is separated from the spike portion 40a.

検知エリア線画定部342は、X軸の他端側から一端側に向けて暗部40を検出したときに暗部40が初めて検出されるX軸座標をY軸方向に連ねて検知エリア線6を画定する。スパイク部40a及び異物2がある位置では、検知エリア線6は、暗部40の連続的な曲線部分に一致されず、スパイク部40a及び異物2に沿って画定される。本実施の形態の検知エリア線画定部342は、X軸の他端から暗部40を検出せず、オフセット部341によってオフセットされた明部輪郭線5から一端側に向けて暗部40を検出する。オフセットされた明部輪郭線5から暗部40を検出することで、明部41にリングマーク132等の外乱要素の影が存在したとしても、外乱要素の影をガラス容器1の底部131に対応する暗部40と誤認する虞を低減できる。但し、明部輪郭線5をオフセットする代りに、スパイク部40aよりもX軸の他端側に基準線を設定し、その基準線から一端側に向けて暗部40を検出してもよい。基準線は、任意の線でよいが、例えばY軸と平行に延在する直線とすることができる。また、明部輪郭線画定部340及びオフセット部341が省略されて、検知エリア線画定部342がX軸の他端から暗部40を検出してもよい。 The detection area line defining unit 342 defines the detection area line 6 by connecting the X-axis coordinates at which the dark portion 40 is detected for the first time when the dark portion 40 is detected from the other end side to the one end side of the X-axis in the Y-axis direction. do. At the location where the spike 40a and the foreign object 2 are located, the detection area line 6 is defined along the spike 40a and the foreign object 2, not coincident with the continuous curved portion of the dark area 40. FIG. The detection area line delimiter 342 of the present embodiment does not detect the dark portion 40 from the other end of the X axis, but detects the dark portion 40 toward one end from the bright contour line 5 offset by the offset portion 341 . By detecting the dark portion 40 from the offset bright portion outline 5, even if the shadow of the disturbance element such as the ring mark 132 exists in the bright portion 41, the shadow of the disturbance element can be made to correspond to the bottom portion 131 of the glass container 1. It is possible to reduce the risk of misidentification as the dark portion 40 . However, instead of offsetting the bright contour line 5, a reference line may be set on the other end side of the X axis from the spike portion 40a, and the dark portion 40 may be detected toward one end side from the reference line. The reference line may be any line, but may be, for example, a straight line extending parallel to the Y-axis. Alternatively, the bright portion contour line defining portion 340 and the offset portion 341 may be omitted, and the detection area line defining portion 342 may detect the dark portion 40 from the other end of the X axis.

ずれ量算出部343は、検知エリア線画定部342が検知エリア線6を画定した後に、Y軸に沿って検知エリア線6のX軸座標のずれ量を算出する。本実施の形態のずれ量算出部343は、2つの連続するY軸座標における検知エリア線6のX軸座標のずれ量を算出する。但し、連続していなくても例えば10画素(ピクセル)以内等の近接するY軸座標における検知エリア線6のX軸座標のずれ量を算出してもよい。なお、X軸の1画素は0.015mm程度であり得る。例えば異物2よりもY軸の一端側(上側)では、検知エリア線6が連続的であるためずれ量は小さい。一方、異物2の前後では大きなずれ量が算出されることになる。 After the detection area line defining unit 342 defines the detection area line 6, the shift amount calculation unit 343 calculates the shift amount of the X-axis coordinate of the detection area line 6 along the Y-axis. The shift amount calculator 343 of the present embodiment calculates the shift amount of the X-axis coordinate of the detection area line 6 between two consecutive Y-axis coordinates. However, the amount of deviation of the X-axis coordinates of the detection area line 6 in the Y-axis coordinates that are close to each other, such as within 10 pixels, may be calculated even if they are not continuous. Note that one pixel on the X axis can be about 0.015 mm. For example, since the detection area line 6 is continuous on one end side (upper side) of the Y-axis than the foreign object 2, the deviation amount is small. On the other hand, a large deviation amount is calculated before and after the foreign object 2 .

特異領域検出部344は、Y軸の一端から他端に向けてX軸座標のずれ量をスキャンして、異物2により検知エリア線6が非連続となっている特異領域7を検出する。Y軸の所定座標範囲内で、検知エリア線6のX軸座標がX軸の一端側から他端側に所定量以上をずれるとともに、検知エリア線6のX軸座標がX軸の他端側から一端側に所定量以上をずれる領域を探すことで、特異領域7を検出することができる。検知エリア線6のX軸座標の変化を関連付けて見つけるY軸の座標範囲を適切に設定することで、異物2により検知エリア線6が非連続となっている特異領域7と、スパイク部40aにより検知エリア線6が非連続となっている領域とを区別することができる。例えば、Y軸に関して50画素以内で、検知エリア線6がX軸に関して15画素以上の幅を往復した領域を特異領域7として検出することができる。Y軸方向の分解能が0.06mm/画素であるときY軸の50画素は3mmであり、X軸方向の分解能が0.015mm/画素であるときX軸の15画素は0.225mmである。 The peculiar area detection unit 344 scans the deviation amount of the X-axis coordinates from one end of the Y axis to the other end, and detects the peculiar area 7 where the detection area line 6 is discontinuous due to the foreign matter 2 . Within a predetermined coordinate range of the Y axis, the X axis coordinates of the detection area line 6 deviate from one end side of the X axis to the other end side by a predetermined amount or more, and the X axis coordinate of the detection area line 6 is shifted to the other end side of the X axis. The specific region 7 can be detected by searching for a region that deviates by a predetermined amount or more toward one end from the . By appropriately setting the Y-axis coordinate range to be found in association with the change in the X-axis coordinate of the detection area line 6, the peculiar region 7 where the detection area line 6 is discontinuous due to the foreign matter 2 and the spike portion 40a It is possible to distinguish between areas where the detection area line 6 is discontinuous. For example, an area in which the detection area line 6 reciprocates a width of 15 pixels or more about the X axis within 50 pixels about the Y axis can be detected as the unique area 7 . 50 pixels on the Y-axis are 3 mm when the resolution in the Y-axis direction is 0.06 mm/pixel, and 15 pixels on the X-axis are 0.225 mm when the resolution in the X-axis direction is 0.015 mm/pixel.

検知エリア線補正部345は、特異領域7が検出されるとき、特異領域検出部344によるずれ量のスキャンの方向に係る特異領域7の前又は後のY軸座標における検知エリア線6のX軸座標を用いて検知エリア線6を補正する(図6(d)参照)。上述のように本実施の形態では、特異領域検出部344は、Y軸の一端から他端に向けてX軸座標のずれ量をスキャンする。特異領域7の前のY軸座標は、Y軸の一端側における特異領域7の直前のY軸座標であり得る。同様に、特異領域7の後のY軸座標は、Y軸の他端側における特異領域7の直後のY軸座標であり得る。但し、直前又は直後でなくても、例えば10画素以内等の近接する検知エリア線6のX軸座標を用いて検知エリア線6を補正してもよい。検知エリア線6の補正は、特異領域7中の検知エリア線6のX軸座標を特異領域7の前又は後のX軸座標に置き換えることで行うことができる。図6(d)では、特異領域7中の検知エリア線6のX軸座標を特異領域7の直前の検知エリア線6のX軸座標に置き換えた態様を示している。このため、補正された検知エリア線6では、特異領域7であった部分のX軸座標が一定値をとっている。特異領域7であった部分のX軸座標が特異領域7の前のX軸座標から特異領域7の後のX軸座標に連続的又は断続的に変化するように検知エリア線6を補正してもよい。 When the peculiar region 7 is detected, the detection area line correction unit 345 adjusts the X-axis of the detection area line 6 at the Y-axis coordinate before or after the peculiar region 7 according to the scanning direction of the deviation amount by the peculiar region detection unit 344. The coordinates are used to correct the detection area line 6 (see FIG. 6(d)). As described above, in the present embodiment, the singular region detection unit 344 scans the deviation amount of the X-axis coordinates from one end of the Y-axis toward the other end. The Y-axis coordinate before the singular region 7 can be the Y-axis coordinate immediately before the singular region 7 on one end side of the Y-axis. Similarly, the Y-axis coordinate after the unique region 7 can be the Y-axis coordinate immediately after the unique region 7 on the other end of the Y-axis. However, the detection area line 6 may be corrected using the X-axis coordinates of the detection area line 6 that is close to, for example, within 10 pixels, instead of just before or after. The detection area line 6 can be corrected by replacing the X-axis coordinate of the detection area line 6 in the unique area 7 with the X-axis coordinate before or after the unique area 7 . FIG. 6D shows a mode in which the X-axis coordinates of the detection area line 6 in the peculiar area 7 are replaced with the X-axis coordinates of the detection area line 6 immediately before the peculiar area 7 . Therefore, in the corrected detection area line 6, the X-axis coordinate of the portion that was the peculiar area 7 has a constant value. The detection area line 6 is corrected so that the X-axis coordinates of the portion that was the peculiar area 7 change continuously or intermittently from the X-axis coordinates before the peculiar area 7 to the X-axis coordinates after the peculiar area 7. good too.

異物検出部346は、補正された検知エリア線6とX軸の他端(明部41側)との間で、異物2に対応する点状の暗部を検出する。具体的には、検知エリア線6とX軸の他端(明部41側)との間で所定値以下の面積(又は所定範囲の面積)を有する暗部が存在する場合に、その暗部を異物2として検出する。例えば、異物2は、X軸方向に関して20画素(0.3[mm]/0.015[mm/画素])、Y軸方向に関して5画素(0.3[mm]/0.06[mm/画素])の暗部であり、その面積は100画素となる。面積100画素の暗部を異物2として検出できるように面積の閾値を設定することで、縦横0.3mmの四角形の異物2を発見することができる。 The foreign matter detector 346 detects a dot-like dark portion corresponding to the foreign matter 2 between the corrected detection area line 6 and the other end of the X axis (the bright portion 41 side). Specifically, when there is a dark portion having an area equal to or less than a predetermined value (or an area within a predetermined range) between the detection area line 6 and the other end of the X axis (the bright portion 41 side), the dark portion is detected as a foreign matter. 2 is detected. For example, the foreign object 2 has 20 pixels (0.3 [mm]/0.015 [mm/pixel]) in the X-axis direction and 5 pixels (0.3 [mm]/0.06 [mm/pixel]) in the Y-axis direction. pixel]), and its area is 100 pixels. By setting the threshold value of the area so that a dark portion having an area of 100 pixels can be detected as the foreign matter 2, a square foreign matter 2 of 0.3 mm in length and width can be detected.

異物検出部346は、X軸の他端、補正された検知エリア線6をX軸の他端側にオフセットした線、又はY軸と平行に延在する直線をX軸の他端側の基準として、異物2に対応する点状の暗部を検出することができる。補正された検知エリア線6をX軸の他端側にオフセットした線、及びY軸と平行に延在する直線は、暗部40からX軸の他端側に400画素程度の位置等、X軸の他端よりもX軸の一端側に近い位置に配置される。これらのX軸の他端よりもX軸の一端側に近い位置の線を基準とすることで、異物2に対応する点状の暗部の検査範囲を限定でき、処理速度を向上できる。 The foreign matter detection unit 346 uses the other end of the X-axis, a line obtained by offsetting the corrected detection area line 6 to the other end of the X-axis, or a straight line extending parallel to the Y-axis as a reference for the other end of the X-axis. , a dot-like dark portion corresponding to the foreign object 2 can be detected. A line obtained by offsetting the corrected detection area line 6 to the other end side of the X-axis and a straight line extending parallel to the Y-axis are located at a position of about 400 pixels from the dark portion 40 to the other end side of the X-axis. is arranged at a position closer to one end side of the X axis than the other end of . By using the lines closer to one end of the X-axis than the other end of the X-axis as a reference, it is possible to limit the inspection range of the dot-like dark portion corresponding to the foreign matter 2 and improve the processing speed.

特異領域検出部344によって特異領域7が検出されず、検知エリア線補正部345によって検知エリア線6が補正されない場合、異物検出部346は、検知エリア線画定部342によって確定された検知エリア線6とX軸の他端(明部41側)との間で、異物2に対応する点状の暗部を検出することができる。 If the peculiar region 7 is not detected by the peculiar region detection unit 344 and the detection area line 6 is not corrected by the detection area line correction unit 345, the foreign object detection unit 346 determines the detection area line 6 defined by the detection area line demarcation unit 342. and the other end of the X-axis (the bright portion 41 side), a dot-like dark portion corresponding to the foreign object 2 can be detected.

次に、図7は、本発明の実施の形態によるガラス容器製造方法を示すフローチャートである。図7に示すように、本実施の形態によるガラス容器製造方法は、調合工程(ステップS1)、溶解工程(ステップS2)、成形工程(ステップS3)、徐冷工程(ステップS4)及び検査工程(ステップS5)を含んでいる。 Next, FIG. 7 is a flow chart showing a glass container manufacturing method according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 7, the glass container manufacturing method according to the present embodiment includes a blending step (step S1), a melting step (step S2), a forming step (step S3), a slow cooling step (step S4), and an inspection step ( step S5).

調合工程(ステップS1)では、製造すべきガラス容器の性質に応じて所定比率で原料が混合される。ガラス容器の原料には、例えば珪砂、ソーダ灰、石灰及びカレット等の主原料と、例えば酸化剤、還元剤、清澄材、消色材及び着色剤等の副原料とが含まれる。 In the mixing step (step S1), raw materials are mixed at a predetermined ratio according to the properties of the glass container to be manufactured. Raw materials for the glass container include main raw materials such as silica sand, soda ash, lime and cullet, and auxiliary raw materials such as oxidizing agents, reducing agents, clarifying agents, decolorizing agents and coloring agents.

溶解工程(ステップS2)は、調合工程で調合された原料をガラス溶解窯にて加熱及び溶解することにより溶融ガラスを生成する工程である。 The melting step (step S2) is a step of heating and melting the raw materials blended in the blending step in a glass melting furnace to produce molten glass.

成形工程(ステップS3)は、溶融ガラスからガラス容器を成形する工程である。粗型にて溶融ガラスからパリソンと呼ばれる中間体を成形し、仕上型にてパリソンからガラス容器を成形することができる。 The forming step (step S3) is a step of forming a glass container from molten glass. An intermediate body called a parison can be formed from molten glass in a rough mold, and a glass container can be formed from the parison in a finishing mold.

徐冷工程(ステップS4)は、成形工程で成形されたガラス容器を徐冷窯に導入し、ガラス容器を徐冷する工程である。 The slow cooling step (step S4) is a step of introducing the glass container molded in the molding step into a slow cooling kiln and slowly cooling the glass container.

検査工程(ステップS5)は、本実施の形態の異物検査装置3を用いて、徐冷工程で徐冷されたガラス容器1の裾底部13に異物2が混入しているか否かを検査する工程である。検査工程で裾底部13に異物2が混入していないと判定されたガラス容器1は、例えば包装及び出荷等の次工程に搬送される。一方、裾底部13に異物2が混入していると判定されたガラス容器1は、次工程に搬送されずに、再検査のため貯められるか又は廃棄される。 The inspection step (step S5) is a step of inspecting, using the foreign matter inspection apparatus 3 of the present embodiment, whether or not the foreign matter 2 is mixed in the hem bottom portion 13 of the glass container 1 that has been slowly cooled in the slow cooling step. is. The glass container 1 determined in the inspection process that the hem bottom 13 is not contaminated with the foreign matter 2 is conveyed to the next process such as packaging and shipping. On the other hand, the glass container 1 determined to contain the foreign matter 2 in the hem bottom portion 13 is stored for reinspection or discarded without being transported to the next process.

検査工程には、カメラ33により異物検査装置3の裾底部13を撮像する工程と、カメラ33が撮像した画像に基づいて裾底部13に異物2が混入しているか否かを判定装置34により判定する工程とが含まれている。 The inspection process includes a step of capturing an image of the hem bottom portion 13 of the foreign matter inspection device 3 with the camera 33, and a determination device 34 determining whether or not the hem bottom portion 13 contains foreign matter 2 based on the image captured by the camera 33. It includes the step of

異物2が混入しているか否かを判定装置34により判定する工程には、画像のX軸の他端側から一端側に向けて暗部40を検出したときに暗部40が初めて検出されるX軸座標をY軸方向に連ねて検知エリア線6を画定する検知エリア線画定工程と、Y軸に沿って検知エリア線6のX軸座標のずれ量を算出するずれ量算出工程と、Y軸の一端から他端に向けてX軸座標のずれ量をスキャンして、異物2により検知エリア線6が非連続となっている特異領域7を検出する特異領域検出工程と、特異領域7が検出されるとき、スキャンの方向に係る特異領域7の前又は後のY軸座標における検知エリア線6のX軸座標を用いて検知エリア線6を補正する検知エリア線補正工程と、補正された検知エリア線6とX軸の他端との間で、異物2に対応する点状の暗部を検出する異物検出工程とが含まれる。 In the step of determining whether or not the foreign matter 2 is mixed with the determining device 34, the X-axis detection is performed when the dark portion 40 is detected for the first time when the dark portion 40 is detected from the other end side to the one end side of the image on the X-axis. A detection area line defining step of defining a detection area line 6 by connecting coordinates in the Y-axis direction, a shift amount calculation step of calculating a shift amount of the X-axis coordinate of the detection area line 6 along the Y-axis, a peculiar area detection step of scanning the shift amount of the X-axis coordinate from one end to the other end to detect a peculiar area 7 where the detection area line 6 is discontinuous due to the foreign matter 2; a detection area line correction step of correcting the detection area line 6 using the X-axis coordinate of the detection area line 6 in the Y-axis coordinate before or after the unique area 7 related to the scanning direction, and the corrected detection area and a foreign object detection step of detecting a dot-like dark portion corresponding to the foreign object 2 between the line 6 and the other end of the X axis.

また、異物2が混入しているか否かを判定装置34により判定する工程には、画像のX軸の一端から他端側に向けて明部41を検出したときに明部41が初めて検出されるX軸座標をY軸に連ねて明部輪郭線5を画定する明部輪郭線画定工程と、明部輪郭線5をX軸の他端側にオフセットするオフセット工程とがさらに含まれていてもよい。この場合、検知エリア線画定工程にて、オフセットされた明部輪郭線5からX軸の一端側に向けて暗部40を検出して検知エリア線6を画定することができる。 In addition, in the step of determining whether or not the foreign matter 2 is mixed with the determining device 34, the bright portion 41 is detected for the first time when the bright portion 41 is detected from one end of the image toward the other end of the X axis. and a bright contour defining step of defining a bright contour 5 by joining the X-axis coordinates of the Y-axis to the Y-axis, and an offset step of offsetting the bright contour 5 to the other end of the X-axis. good too. In this case, in the detection area line definition step, the detection area line 6 can be defined by detecting the dark portion 40 from the offset bright portion outline 5 toward one end side of the X axis.

このような異物検査装置及びそれを用いたガラス容器製造方法では、リバースリング331を介して表裏反転してカメラ本体330に撮像レンズ332が取り付けられているので、高価な撮像レンズ332を用いなくても微小異物の発見に適した画像を得ることができる。これにより、装置コストを抑えつつ、微小異物をより確実に発見できる。 In such a foreign matter inspection apparatus and a glass container manufacturing method using the same, since the imaging lens 332 is attached to the camera body 330 while being turned upside down via the reverse ring 331, the expensive imaging lens 332 is not required. It is also possible to obtain an image suitable for finding minute foreign matter. As a result, minute foreign matter can be found more reliably while suppressing apparatus costs.

また、カメラ33は、斜め下方から裾底部13を撮像するように配置されており、カメラ33の光軸33aの仰角が33°以上かつ43°以下であるので、底部131側及び裾部130側の異物2をバランス良く撮像することができ、異物2の検出精度を向上させることができる。 Further, the camera 33 is arranged so as to pick up an image of the skirt bottom portion 13 from obliquely below, and the elevation angle of the optical axis 33a of the camera 33 is 33° or more and 43° or less. of the foreign matter 2 can be imaged in a well-balanced manner, and the detection accuracy of the foreign matter 2 can be improved.

また、カメラ33の被写界深度が1.5mm以上かつ5.0mm以下であるので、ピント合わせの容易さを確保しつつ、外乱要素の影響を抑えて異物2の検出精度を向上できる。 In addition, since the depth of field of the camera 33 is 1.5 mm or more and 5.0 mm or less, it is possible to improve the detection accuracy of the foreign object 2 by suppressing the influence of disturbance factors while ensuring ease of focusing.

また、光源32が1700lx以上の照度でガラス容器1に光を照射するので、カメラ33によりガラス容器1の裾底部13を撮像した画像において、外乱要素の影をより確実に消すか又は薄くすることができ、その画像に基づく異物2の検出精度を向上させることができる。 In addition, since the light source 32 irradiates the glass container 1 with an illuminance of 1700 lx or more, the shadow of the disturbance element can be more reliably erased or reduced in the image of the hem bottom 13 of the glass container 1 captured by the camera 33. can be performed, and the detection accuracy of the foreign matter 2 based on the image can be improved.

また、光源32には、光源32からの光の拡散を制限するライトコントロールフィルム320が取り付けられているので、異物検査装置3の周囲に対する光の影響を抑えることができる。ライトコントロールフィルム320は、光源32として高輝度光源を用いる際に特に有用である。 Moreover, since the light control film 320 is attached to the light source 32 to limit the diffusion of the light from the light source 32, the influence of the light on the surroundings of the foreign matter inspection apparatus 3 can be suppressed. Light control film 320 is particularly useful when using a high intensity light source as light source 32 .

また、光源32は、カメラ33の光軸33aの仰角θ1に12°以上かつ22°以下の角度θ2を加えた角度だけ水平に対して傾斜した角度でリングマーク132に光を入射させるので、リングマーク132の影がカメラ33の画像に現れる虞を低減でき、異物2の検出精度を向上させることができる。 In addition, the light source 32 causes light to enter the ring mark 132 at an angle that is inclined with respect to the horizontal by an angle obtained by adding an angle θ2 of 12° or more and 22° or less to the elevation angle θ1 of the optical axis 33a of the camera 33. The possibility that the shadow of the mark 132 appears in the image of the camera 33 can be reduced, and the detection accuracy of the foreign object 2 can be improved.

また、判定装置34は、特異領域7が検出されるとき検知エリア線6を補正した上で、異物2に対応する点状の暗部を検出するので、微小異物をより確実に発見できる。 Further, when the peculiar area 7 is detected, the determination device 34 corrects the detection area line 6 and then detects the dot-like dark portion corresponding to the foreign matter 2, so that the minute foreign matter can be detected more reliably.

また、検知エリア線画定部342は、オフセットされた明部輪郭線5からX軸の一端側に向けて暗部40を検出して検知エリア線6を画定するので、明部41にリングマーク132等の外乱要素の影が存在したとしても、外乱要素の影をガラス容器1の底部131に対応する暗部40と誤認する虞を低減できる。 Further, since the detection area line delimiter 342 detects the dark portion 40 toward one end side of the X-axis from the offset bright portion contour line 5 and demarcates the detection area line 6, the ring mark 132 or the like is detected in the bright portion 41. Even if the shadow of the disturbance element is present, the possibility of erroneously recognizing the shadow of the disturbance element as the dark portion 40 corresponding to the bottom portion 131 of the glass container 1 can be reduced.

なお、実施の形態では、リバースリング331を介して表裏反転して撮像レンズ332がカメラ本体330に取り付けられるように説明したが、表裏反転せずに撮像レンズ332がカメラ本体330に取り付けられた状態で撮像された画像に基づいて判定装置34が異物2の混入を判定してもよい。 In the embodiment, the imaging lens 332 is attached to the camera body 330 by being turned upside down via the reverse ring 331, but the imaging lens 332 is attached to the camera body 330 without being turned upside down. The determination device 34 may determine the presence of the foreign matter 2 based on the image captured in .

1 ガラス容器
13 裾底部
130 裾部
131 底部
132 リングマーク
2 異物
3 異物検査装置
32 光源
320 ライトコントロールフィルム
33 カメラ
33a 光軸
330 カメラ本体
331 リバースリング
332 撮像レンズ
34 判定装置
340 明部輪郭線画定部
341 オフセット部
342 検知エリア線画定部
343 ずれ量算出部
344 特異領域検出部
345 検知エリア線補正部
346 異物検出部
40 暗部
41 明部
5 明部輪郭線
6 検知エリア線
7 特異領域
Reference Signs List 1 glass container 13 hem bottom portion 130 hem portion 131 bottom portion 132 ring mark 2 foreign matter 3 foreign matter inspection device 32 light source 320 light control film 33 camera 33a optical axis 330 camera body 331 reverse ring 332 imaging lens 34 determination device 340 bright area outline defining unit 341 offset unit 342 detection area line definition unit 343 deviation amount calculation unit 344 unique area detection unit 345 detection area line correction unit 346 foreign object detection unit 40 dark area 41 bright area 5 bright area contour line 6 detection area line 7 unique area

Claims (10)

ガラス容器に光を照射する光源と、
前記ガラス容器の裾底部を撮像するカメラと、
前記カメラが撮像した画像に基づいて前記裾底部に異物が混入しているか否かを判定する判定装置と
を備え、
前記カメラは、
カメラ本体と、
前記カメラ本体に取り付けられたリバースリングと、
前記リバースリングを介して表裏反転して前記カメラ本体に取り付けられた撮像レンズと
を有
前記画像は、X軸及びY軸を有する2次元画素データを含んでおり、
前記画像には、X軸の一端側に位置するとともに前記ガラス容器の底部に対応する暗部と、前記X軸の他端側に位置するとともに前記ガラス容器の裾部に対応する明部とが含まれており、
前記画像において、前記異物は、前記ガラス容器の裾部に対応する明部の中に点状の暗部として現れ、
前記判定装置は、
前記X軸の他端側から一端側に向けて前記暗部を検出したときに前記暗部が初めて検出されるX軸座標を前記Y軸方向に連ねて検知エリア線を画定する検知エリア線画定部と、
前記Y軸に沿って前記検知エリア線のX軸座標のずれ量を算出するずれ量算出部と、
前記Y軸の一端から他端に向けて前記X軸座標のずれ量をスキャンして、前記異物により前記検知エリア線が非連続となっている特異領域を検出する特異領域検出部と、
前記特異領域が検出されるとき、前記スキャンの方向に係る前記特異領域の前又は後のY軸座標における前記検知エリア線のX軸座標を用いて前記検知エリア線を補正する検知エリア線補正部と、
補正された前記検知エリア線と前記X軸の他端との間で、前記異物に対応する点状の暗部を検出する異物検出部と
を有している、
異物検査装置。
a light source that irradiates the glass container with light;
a camera for imaging the hem bottom of the glass container;
a determination device that determines whether or not foreign matter is mixed in the skirt bottom based on the image captured by the camera,
The camera is
camera body and
a reverse ring attached to the camera body;
an imaging lens attached to the camera body by being turned upside down via the reverse ring;
the image includes two-dimensional pixel data having an X-axis and a Y-axis;
The image includes a dark portion located on one end side of the X-axis and corresponding to the bottom of the glass container, and a bright portion located on the other end side of the X-axis and corresponding to the bottom portion of the glass container. and
In the image, the foreign matter appears as a dot-like dark portion in a bright portion corresponding to the bottom portion of the glass container,
The determination device is
a detection area line defining unit that defines a detection area line by connecting in the Y-axis direction the X-axis coordinates at which the dark portion is detected for the first time when the dark portion is detected from the other end side of the X-axis toward one end side; ,
a shift amount calculation unit that calculates a shift amount of the X-axis coordinate of the detection area line along the Y-axis;
a peculiar area detection unit that scans the deviation amount of the X-axis coordinates from one end of the Y-axis toward the other end to detect a peculiar area where the detection area line is discontinuous due to the foreign matter;
A detection area line correction unit for correcting the detection area line using the X-axis coordinate of the detection area line in the Y-axis coordinates before or after the specific area in the scanning direction when the specific area is detected. and,
a foreign object detection unit that detects a dotted dark part corresponding to the foreign object between the corrected detection area line and the other end of the X axis;
have,
Foreign object inspection device.
前記カメラは、斜め下方から前記裾底部を撮像するように配置されており、
前記カメラの光軸の仰角が33°以上かつ43°以下である、
請求項1記載の異物検査装置。
The camera is arranged to capture an image of the hem bottom from obliquely below,
The elevation angle of the optical axis of the camera is 33° or more and 43° or less.
A foreign matter inspection apparatus according to claim 1.
前記カメラの被写界深度が1.5mm以上かつ5.0mm以下である、
請求項1又は請求項2に記載の異物検査装置。
The camera has a depth of field of 1.5 mm or more and 5.0 mm or less.
The foreign matter inspection device according to claim 1 or 2.
前記光源は、1700lx以上の照度で前記ガラス容器に光を照射する、
請求項1から請求項3までのいずれか一項に記載の異物検査装置。
The light source irradiates the glass container with an illuminance of 1700 lx or more.
The foreign matter inspection device according to any one of claims 1 to 3.
前記光源には、前記光源からの光の拡散を制限するライトコントロールフィルムが取り付けられている、
請求項1から請求項4までのいずれか一項に記載の異物検査装置。
The light source is fitted with a light control film that limits the diffusion of light from the light source.
The foreign matter inspection device according to any one of claims 1 to 4.
前記裾底部の外周面には、リングマークが設けられており、
前記光源は、前記カメラの光軸の仰角に12°以上かつ22°以下の角度を加えた角度だけ水平に対して傾斜した角度で前記リングマークに光を入射させる、
請求項1から請求項5までのいずれか1項に記載の異物検査装置。
A ring mark is provided on the outer peripheral surface of the hem bottom,
The light source causes light to enter the ring mark at an angle inclined with respect to the horizontal by an angle equal to or greater than 12° and equal to or less than 22° to the elevation angle of the optical axis of the camera.
The foreign matter inspection device according to any one of claims 1 to 5.
前記判定装置は、
前記X軸の一端から他端側に向けて前記明部を検出したときに前記明部が初めて検出されるX軸座標を前記Y軸に連ねて明部輪郭線を画定する明部輪郭線画定部と、
前記明部輪郭線を前記X軸の他端側にオフセットするオフセット部と
をさらに有しており、
前記検知エリア線画定部は、オフセットされた前記明部輪郭線から一端側に向けて前記暗部を検出して検知エリア線を画定する、
請求項1から請求項6までのいずれか1項に記載の異物検査装置。
The determination device is
Defining a bright portion outline by linking the X-axis coordinates at which the bright portion is detected for the first time when the bright portion is detected from one end of the X axis toward the other end to the Y axis to define a bright portion outline. Department and
and an offset portion that offsets the bright portion contour line to the other end side of the X axis,
The detection area line demarcation unit detects the dark part toward one end side from the offset bright part outline to demarcate the detection area line.
The foreign matter inspection device according to any one of claims 1 to 6 .
ガラス容器に光を照射する光源と、
前記ガラス容器の裾底部を撮像するカメラと、
前記カメラが撮像した画像に基づいて前記裾底部に異物が混入しているか否かを判定する判定装置と
を備え、
前記画像は、X軸及びY軸を有する2次元画素データを含んでおり、
前記画像には、X軸の一端側に位置するとともに前記ガラス容器の底部に対応する暗部と、前記X軸の他端側に位置するとともに前記ガラス容器の裾部に対応する明部とが含まれており、
前記画像において、前記異物は、前記ガラス容器の裾部に対応する明部の中に点状の暗部として現れ、
前記判定装置は、
前記X軸の他端側から一端側に向けて前記暗部を検出したときに前記暗部が初めて検出されるX軸座標を前記Y軸方向に連ねて検知エリア線を画定する検知エリア線画定部と、
前記Y軸に沿って前記検知エリア線のX軸座標のずれ量を算出するずれ量算出部と、
前記Y軸の一端から他端に向けて前記X軸座標のずれ量をスキャンして、前記異物により前記検知エリア線が非連続となっている特異領域を検出する特異領域検出部と、
前記特異領域が検出されるとき、前記スキャンの方向に係る前記特異領域の前又は後のY軸座標における前記検知エリア線のX軸座標を用いて前記検知エリア線を補正する検知エリア線補正部と、
補正された前記検知エリア線と前記X軸の他端との間で、前記異物に対応する点状の暗部を検出する異物検出部と
を有している、
異物検査装置。
a light source that irradiates the glass container with light;
a camera for imaging the hem bottom of the glass container;
a determination device that determines whether or not foreign matter is mixed in the skirt bottom based on the image captured by the camera,
the image includes two-dimensional pixel data having an X-axis and a Y-axis;
The image includes a dark portion located on one end side of the X-axis and corresponding to the bottom of the glass container, and a bright portion located on the other end side of the X-axis and corresponding to the bottom portion of the glass container. and
In the image, the foreign matter appears as a dot-like dark portion in a bright portion corresponding to the bottom portion of the glass container,
The determination device is
a detection area line defining unit that defines a detection area line by connecting in the Y-axis direction the X-axis coordinates at which the dark portion is detected for the first time when the dark portion is detected from the other end side of the X-axis toward one end side; ,
a shift amount calculation unit that calculates a shift amount of the X-axis coordinate of the detection area line along the Y-axis;
a peculiar area detection unit that scans the deviation amount of the X-axis coordinates from one end of the Y-axis toward the other end to detect a peculiar area where the detection area line is discontinuous due to the foreign matter;
A detection area line correction unit for correcting the detection area line using the X-axis coordinate of the detection area line in the Y-axis coordinates before or after the specific area in the scanning direction when the specific area is detected. and,
a foreign object detection unit that detects a dot-like dark part corresponding to the foreign object between the corrected detection area line and the other end of the X-axis,
Foreign object inspection device.
前記判定装置は、
前記X軸の一端から他端側に向けて前記明部を検出したときに前記明部が初めて検出されるX軸座標を前記Y軸に連ねて明部輪郭線を画定する明部輪郭線画定部と、
前記明部輪郭線を前記X軸の他端側にオフセットするオフセット部と
をさらに有しており、
前記検知エリア線画定部は、オフセットされた前記明部輪郭線から一端側に向けて前記暗部を検出して検知エリア線を画定する、
請求項記載の異物検査装置。
The determination device is
Defining a bright portion outline by linking the X-axis coordinates at which the bright portion is detected for the first time when the bright portion is detected from one end of the X axis toward the other end to the Y axis to define a bright portion outline. Department and
and an offset portion that offsets the bright portion contour line to the other end side of the X axis,
The detection area line demarcation unit detects the dark part toward one end side from the offset bright part outline to demarcate the detection area line.
A foreign matter inspection apparatus according to claim 8 .
請求項1から請求項までのいずれか1項に記載の異物検査装置を用いてガラス容器の裾底部に異物が混入しているか否かを検査する工程を含む、
ガラス容器製造方法。
A step of inspecting whether foreign matter is mixed in the bottom of the glass container using the foreign matter inspection device according to any one of claims 1 to 9 ,
Glass container manufacturing method.
JP2019089324A 2019-05-09 2019-05-09 Foreign matter inspection device and glass container manufacturing method using the same Active JP7229092B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019089324A JP7229092B2 (en) 2019-05-09 2019-05-09 Foreign matter inspection device and glass container manufacturing method using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019089324A JP7229092B2 (en) 2019-05-09 2019-05-09 Foreign matter inspection device and glass container manufacturing method using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020186919A JP2020186919A (en) 2020-11-19
JP7229092B2 true JP7229092B2 (en) 2023-02-27

Family

ID=73222738

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019089324A Active JP7229092B2 (en) 2019-05-09 2019-05-09 Foreign matter inspection device and glass container manufacturing method using the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7229092B2 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012122912A (en) 2010-12-10 2012-06-28 Kirin Techno-System Co Ltd Determination method of inspection region and foreign matter inspection device
JP2014085525A (en) 2012-10-24 2014-05-12 Olympus Imaging Corp Interchangeable lens and imaging device using the same
JP2015169442A (en) 2014-03-04 2015-09-28 東洋ガラス機械株式会社 Opening inspection device of glass bottle

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0785061B2 (en) * 1993-04-12 1995-09-13 東洋ガラス株式会社 Foreign substance inspection device at the bottom of the transparent glass container
JPH11166906A (en) * 1997-12-05 1999-06-22 Kirin Techno System:Kk Bottle inspecting device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012122912A (en) 2010-12-10 2012-06-28 Kirin Techno-System Co Ltd Determination method of inspection region and foreign matter inspection device
JP2014085525A (en) 2012-10-24 2014-05-12 Olympus Imaging Corp Interchangeable lens and imaging device using the same
JP2015169442A (en) 2014-03-04 2015-09-28 東洋ガラス機械株式会社 Opening inspection device of glass bottle

Also Published As

Publication number Publication date
JP2020186919A (en) 2020-11-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6778754B2 (en) Burn inspection device for glass containers
TWI426261B (en) End inspection device
US20080094618A1 (en) Machine for inspecting glass containers
US20100085426A1 (en) Machine for Inspecting Glass Containers
KR0145173B1 (en) Apparatus for inspecting a bottom border portion of a transparent glass level
JPH11108643A (en) Method and device for inspecting sealing surface area of container
JP2010107254A (en) Device and method for inspecting led chip
JP6134383B2 (en) Optical method for inspecting transparent or translucent containers with visible patterns
JP4493048B2 (en) Inspection device
JP7382519B2 (en) Glass bottle inspection method, glass bottle manufacturing method, and glass bottle inspection device
JP7229092B2 (en) Foreign matter inspection device and glass container manufacturing method using the same
JP2010091530A (en) Method and apparatus for inspecting foreign substance
KR102205582B1 (en) Container inspection device and container inspection method
JP5726628B2 (en) Appearance inspection apparatus and appearance inspection method for transparent body bottle
JP2012122912A (en) Determination method of inspection region and foreign matter inspection device
KR20140031392A (en) Container mouth portion inspection method and device
JPH0797087B2 (en) Inspection of container split
JP5959430B2 (en) Bottle cap appearance inspection device and appearance inspection method
KR102540808B1 (en) Glass bottle inspection method and glass bottle manufacturing method
US6621573B2 (en) Glass container inspection machine
JPH07104290B2 (en) Bottle inspection equipment
JPS62113050A (en) Bottle mouth inspection system
JP2009162728A (en) Transparent body inspection apparatus, transparent body inspection method, and transparent body inspection system
JP2005189196A (en) Inspection device of foreign matter in liquid
JP2019174195A (en) Support ring inspection device and support ring inspection method of container with support ring

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20211126

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220930

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20221004

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221111

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230131

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230214

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7229092

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150