JP2019174195A - Support ring inspection device and support ring inspection method of container with support ring - Google Patents
Support ring inspection device and support ring inspection method of container with support ring Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019174195A JP2019174195A JP2018060535A JP2018060535A JP2019174195A JP 2019174195 A JP2019174195 A JP 2019174195A JP 2018060535 A JP2018060535 A JP 2018060535A JP 2018060535 A JP2018060535 A JP 2018060535A JP 2019174195 A JP2019174195 A JP 2019174195A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- support ring
- light
- inspection
- inspection image
- container
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
本発明は、サポートリング付き容器のサポートリングを検査する検査装置及びサポートリング検査方法に関する。 The present invention relates to an inspection apparatus and a support ring inspection method for inspecting a support ring of a container with a support ring.
ペットボトル等の多くの容器では、ネック部分にサポートリング又はネックリングと呼ばれる円環状の突出部分を有する。このサポートリングは、容器の製造段階でネック部分を支持するために用いられる。また、サポートリングには、キャップを閉栓する際の巻締位置確認のための目印となる切欠きマークが設けられることがある。さらに、このサポートリングは、容器を持つ、あるいは、開栓する等の場合に、手に触れる箇所であるので、キズや割れ等の検査を行うことが望ましい。 Many containers such as plastic bottles have an annular protruding portion called a support ring or a neck ring at the neck portion. This support ring is used to support the neck portion during the manufacturing stage of the container. Further, the support ring may be provided with a notch mark as a mark for confirming the winding position when the cap is closed. Furthermore, since this support ring is a part that touches the hand when holding or opening the container, it is desirable to inspect for scratches and cracks.
従来、例えば、ネックリングに環状照明100で均一に光を照射して、ネックリングが基準形状を有しているか判定する技術が開示されている(例えば、特許文献1参照。)。また、サポートリング上方からリングフラット照明で照射して、サポートリングの異常を検出する技術が開示されている(例えば、特許文献2参照。)。さらに、上方からの照明及び撮影でボトルの巻締角度確認マーク及びキャップの巻締角度確認マークを認識し、巻締状態の良否を判定する技術が開示されている(例えば、特許文献3参照。)。 Conventionally, for example, a technique for determining whether a neck ring has a reference shape by irradiating light uniformly to the neck ring with an annular illumination 100 has been disclosed (see, for example, Patent Document 1). Further, a technique for detecting an abnormality of a support ring by irradiating with ring flat illumination from above the support ring is disclosed (for example, see Patent Document 2). Furthermore, a technique for recognizing the bottle winding angle confirmation mark and the cap winding angle confirmation mark by illumination and photographing from above and judging the quality of the winding state is disclosed (for example, see Patent Document 3). ).
上記従来技術ではサポートリングの破損等の異常は検査できるが、サポートリング上面のキズ等の欠陥が検出できない。また、サポートリング外周に発生するバリ欠陥は、手で触ったときに違和感を生じやすいため、検査することが望ましいが、小さなバリ欠陥を高精度に検出することは難しい。また、サポートリングに存在する切欠きマーク(ネックリングインジケータ)とバリ、キズ等との判別が難しく、検査精度が低下する。 Although the above prior art can inspect abnormalities such as breakage of the support ring, defects such as scratches on the upper surface of the support ring cannot be detected. Further, since the burr defect generated on the outer periphery of the support ring tends to cause a sense of incongruity when touched by hand, it is desirable to inspect it, but it is difficult to detect a small burr defect with high accuracy. In addition, it is difficult to discriminate between a notch mark (neck ring indicator) present on the support ring and burrs, scratches, etc., and the inspection accuracy decreases.
そこで、本発明の目的は、バリ、欠け、キズ等の形状欠陥と、上面の黒点、汚れ及び異物等の欠陥とを同時に検出できると共に、切欠きマークも判別でき、高い検査精度を有するサポートリング付き容器のサポートリング検査装置及びサポートリング検査方法を提供することである。 Therefore, an object of the present invention is to provide a support ring that can detect shape defects such as burrs, chips, and scratches and defects such as black spots, dirt, and foreign matters on the upper surface at the same time, and can also detect notch marks and has high inspection accuracy. It is to provide a support ring inspection device and a support ring inspection method for attached containers.
本発明に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、サポートリング付き容器のサポートリングの上方から第1の光を照射する第1光源と、
前記サポートリングの側方から第2の光を照射する第2光源と、
前記サポートリングからの前記第1の光の反射光による第1検査画像及び前記第2の光の反射光による第2検査画像を取得するカメラと、
前記第1検査画像及び前記第2検査画像に基づいて前記サポートリングの欠陥を検出する検査部と、
を備える。
A support ring inspection device for a container with a support ring according to the present invention includes: a first light source that emits first light from above the support ring of the container with a support ring;
A second light source that emits second light from a side of the support ring;
A camera for obtaining a first inspection image by the reflected light of the first light from the support ring and a second inspection image by the reflected light of the second light;
An inspection unit for detecting defects in the support ring based on the first inspection image and the second inspection image;
Is provided.
本発明に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査方法は、サポートリング付き容器のサポートリングの上方から第1の光を照射するステップと、
前記サポートリングの側方から第2の光を照射するステップと、
前記サポートリングからの前記第1の光の反射光による第1検査画像及び前記第2の光の反射光による第2検査画像を取得するステップと、
前記第1検査画像及び前記第2検査画像に基づいて前記サポートリングの欠陥を検出するステップと、
を含む。
The support ring inspection method for a container with a support ring according to the present invention includes the step of irradiating the first light from above the support ring of the container with a support ring;
Irradiating a second light from the side of the support ring;
Obtaining a first inspection image by the reflected light of the first light from the support ring and a second inspection image by the reflected light of the second light;
Detecting a defect of the support ring based on the first inspection image and the second inspection image;
including.
本発明に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置及びサポートリング付き容器のサポートリング検査方法によれば、形状欠陥だけでなく、上面の欠陥も検出できると共に、切欠きマークも判別でき、高い検査精度を有する。 According to the support ring inspection apparatus for a container with a support ring and the support ring inspection method for a container with a support ring according to the present invention, not only a shape defect but also a defect on the upper surface can be detected, and a notch mark can also be determined. Have accuracy.
第1の態様に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、サポートリング付き容器のサポートリングの上方から第1の光を照射する第1光源と、
前記サポートリングの側方から第2の光を照射する第2光源と、
前記サポートリングからの前記第1の光の反射光による第1検査画像及び前記第2の光の反射光による第2検査画像を取得するカメラと、
前記第1検査画像及び前記第2検査画像に基づいて前記サポートリングの欠陥を検出する検査部と、
を備える。
A support ring inspection device for a container with a support ring according to a first aspect includes a first light source that emits first light from above the support ring of the container with a support ring;
A second light source that emits second light from a side of the support ring;
A camera for obtaining a first inspection image by the reflected light of the first light from the support ring and a second inspection image by the reflected light of the second light;
An inspection unit for detecting defects in the support ring based on the first inspection image and the second inspection image;
Is provided.
第2の態様に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、上記第1の態様において、前記第1の光と前記第2の光とは互いに異なる波長を有してもよい。 In the support ring inspection apparatus for a container with a support ring according to the second aspect, in the first aspect, the first light and the second light may have different wavelengths.
第3の態様に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、上記第1又は第2の態様において、前記検査部は、前記第1検査画像と前記第2検査画像とを差分した第3検査画像に基づいて前記サポートリングの検査領域を設定してもよい。 The support ring inspection device for a container with a support ring according to a third aspect is the third inspection according to the first or second aspect, wherein the inspection unit performs a difference between the first inspection image and the second inspection image. The inspection area of the support ring may be set based on the image.
第4の態様に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、上記第1から第3のいずれかの態様において、前記検査部は、前記第1検査画像又は前記第1検査画像と前記第2検査画像とを差分処理した第3検査画像に基づいて前記サポートリングの切欠きマーク領域を検出してもよい。 In the support ring inspection device for a container with a support ring according to a fourth aspect, in any one of the first to third aspects, the inspection unit includes the first inspection image or the first inspection image and the second. The notch mark area of the support ring may be detected based on a third inspection image obtained by performing a difference process on the inspection image.
第5の態様に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、上記第4の態様において、前記検査部は、前記第1検査画像及び前記第2検査画像について、検出された前記切欠きマーク領域をマスクしてそれ以外の領域について前記サポートリングの欠陥を検出してもよい。 The support ring inspection apparatus for a container with a support ring according to a fifth aspect is the above fourth aspect, wherein the inspection unit detects the notch mark region detected for the first inspection image and the second inspection image. The defect of the support ring may be detected in other regions.
第6の態様に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査方法は、サポートリング付き容器のサポートリングの上方から第1の光を照射するステップと、
前記サポートリングの側方から第2の光を照射するステップと、
前記サポートリングからの前記第1の光の反射光による第1検査画像及び前記第2の光の反射光による第2検査画像を取得するステップと、
前記第1検査画像及び前記第2検査画像に基づいて前記サポートリングの欠陥を検出するステップと、
を含む。
A support ring inspection method for a container with a support ring according to a sixth aspect includes the step of irradiating the first light from above the support ring of the container with a support ring;
Irradiating a second light from the side of the support ring;
Obtaining a first inspection image by the reflected light of the first light from the support ring and a second inspection image by the reflected light of the second light;
Detecting a defect of the support ring based on the first inspection image and the second inspection image;
including.
以下、実施の形態に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置及びサポートリング検査方法について、添付図面を参照しながら説明する。なお、図面において実質的に同一の部材については同一の符号を付している。 Hereinafter, a support ring inspection device and a support ring inspection method for a container with a support ring according to embodiments will be described with reference to the accompanying drawings. In the drawings, substantially the same members are denoted by the same reference numerals.
(実施の形態1)
図1は、実施の形態1に係るサポートリング付き容器10のサポートリング検査装置20の構成を示す概略図である。なお、便宜上、サポートリング付き容器10のサポートリング4に沿った方向をx方向とし、サポートリング4に垂直な方向をy方向とし、紙面に垂直な方向をz方向としている。
このサポートリング検査装置20は、第1光源12と、第2光源14と、カメラ16と、検査部18と、を備える。第1光源12によって、サポートリング付き容器10のサポートリング4の上方から第1の光13(−y方向)を照射する。第2光源14によって、サポートリング4の側方から第2の光15を照射する。カメラ16によって、サポートリング4からの第1の光13の反射光による第1検査画像及び第2の光15の反射光による第2検査画像を取得する。検査部18によって、第1検査画像(図4、図8)及び第2検査画像(図5、図9)に基づいてサポートリング4の欠陥42〜44及び47〜48を検出する。
このサポートリング検査装置20によれば、バリ、欠け、異物等の形状欠陥だけでなく、上面のキズ、黒点等の欠陥も検出できると共に、切欠きマークも判別でき、高い検査精度を有する。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a schematic diagram illustrating a configuration of a support
The support
According to the support
以下に、このサポートリング付き容器のサポートリング検査装置20を構成する部材について説明する。
Below, the member which comprises the support ring test |
<サポートリング付き容器>
検査の対象となるサポートリング付き容器10としては、例えば、サポートリングを有するペットボトル等の容器、及び、該容器のプリフォーム等が挙げられる。なお、上記容器としては、例えば飲料用容器を含むが、これに限られない。
<Container with support ring>
Examples of the
<プリフォーム>
プリフォーム10は、例えば、ペットボトル等の容器の前駆体であるプリフォームである。このプリフォーム10は、例えば、樹脂材料を射出成形等によって成形される。図1に示すように、プリフォーム10は、口部1、胴部(側壁)2、底部3、及び、サポートリング4を有する。口部1及びサポートリング4は、その後の高圧流体を吹き込んで延伸する場合にもそのまま維持され、ペットボトル等の口部及びサポートリングとなる。図3の模式図では、サポートリング4の上面の黒点42、内部又は上面のキズ43、44等が存在している様子を示している。なお、欠陥としては、例えば、バリ47、48、欠け等の形状欠陥と、上面の黒点42、キズ43、44、汚れ、異物等の欠陥とを含む。バリ47、48、欠けキズ等の欠陥は、サポートリング4の側方からの第2の光15の反射光による第2検査画像(図5、図9)によって主に検出できる。また、上面の黒点42、汚れ、異物等の欠陥は、サポートリング4の上方からの第1の光13の反射光による第1検査画像(図4、図8)によって主に検出できる。なお、サポートリング4の傾斜等の条件によって第1検査画像及び第2検査画像から検出できる欠陥は異なる場合がある。
<Preform>
The
<第1光源>
第1光源12は、プリフォーム10の上方から第1の光13を照射するように配置される。第1光源12は、プリフォーム10の口部1及びサポートリング4を含む上部全体を照射できるフラット形状の光源、例えば、面光源であってもよい。なお、カメラ16をプリフォーム10の上方に配置しているので、プリフォーム10の鉛直上方部分には開口を設けておく。第1光源12のサポートリング4への照射角度は、鉛直方向(図1のy軸方向)について30度以内であることが好ましい。また、第1光源12には、例えば、ランプ、LED等の通常の光源であれば使用できる。好ましくは拡散光を照射する拡散照明がよい。具体的には、フラット照明(CCS製TH2−150X150RD−CR35:幅162mm×奥行き162mm×高さ15mm)等を用いることができる。このフラット照明12とプリフォーム10の口部1の頂部との間隔d1は約50mmである。また、第1の光13は、例えば、赤色光であってもよい。なお、サポートリング4の上面は僅かな傾斜を有する場合があるため、正反射光成分の強い同軸落射照明よりは、均一な拡散反射光を得られる面照明の方が好ましい。
<First light source>
The
<第2光源>
第2光源14によって、サポートリング4の側方上部から第2の光15を照射する。この第2光源14は、サポートリング4の側方からその全周にわたって照射するので、環状形状を有することが好ましい。第2光源14のサポートリング4への照射角度は、鉛直方向(図1のy軸方向)について45度以上の角度をなすローアングルであることが好ましい。また、第2光源14には、第1光源と同様に、例えば、ランプ、LED等の通常の光源であれば使用できる。具体的には、リング照明(CCS製LDR2−208BL2−LA:外径φ208mm、内径φ174mm、高さ22mm)等を用いることができる。このリング照明14とプリフォーム10の口部1の頂部との間隔d2は約10mmである。また、第2の光15は、第1の光と異なる波長であればよく、例えば、青色光であってもよい。なお、第1の光13の波長と第2の光15の波長とは互いに入れ替えてもよい。
<Second light source>
The second
<カメラ>
図3は、サポートリング4からの第1の光13の反射光及び第2の光15の反射光の合成画像の模式図である。図4は、サポートリング4からの第1の光13の反射光による第1検査画像の模式図である。図5は、サポートリング4からの第2の光15の反射光による第2検査画像の模式図である。図6は、サポートリング4からの第1の光13の反射光による第1検査画像と第2の光の反射光による第2検査画像との差分である第3検査画像の模式図である。図8は、サポートリング4からの第1の光13の反射光による別例の第1検査画像の模式図である。図9は、サポートリング4からの第2の光の反射光による別例の第2検査画像の模式図である。
カメラ16は、図1に示すように、サポートリング4に対して第1光源12と同じ上方に配置される。また、カメラ16は、サポートリング4に対して環状形状の第2光源14の中心軸の鉛直上方に配置される。カメラ16によって、サポートリング4からの第1の光13の反射光による第1検査画像(図3、図8)と、第2の光15の反射光による第2検査画像(図4、図9)とを得る。具体的には、第1の光13の反射光と第2の光15の反射光とを同時に撮像する場合には、第1の光13と第2の光15をサポートリング4に同時に照射して1回の撮像を行い1枚の撮像画像を取得する。得られた撮像画像(図3)から波長分離によってそれぞれの検査画像を得る。つまり、第1の光13の反射光から第1検査画像(図3、図8)を取得し、第2の光15の反射光から第2検査画像(図4、図9)を取得する。
カメラ16は、エリアカメラであって、例えば、CCD、CMOS等の撮像素子と、撮像素子を制御する撮像制御手段とを含んでもよい。また、第1の光13の反射光と、第2の光15の反射光とを切り替えてそれぞれ別々のタイミングで撮像してもよい。この場合には、第1の光13と第2の光15とは、同一波長の光であってもよい。
<Camera>
FIG. 3 is a schematic diagram of a composite image of the reflected light of the
As shown in FIG. 1, the
The
<検査部>
図2Aは、図1のサポートリング検査装置20の検査部18の物理的な構成の一例を示すブロック図である。図2Bは、図1のサポートリング検査装置20の検査部18の機能的な構成の一例を示すブロック図である。
検査部18は、第1光源12、第2光源14及びカメラ16と接続されている。また、検査部18は、第1検査画像及び第2検査画像に基づいてサポートリング4の欠陥を検出するサポートリング欠陥検出部31を有する。このサポートリング欠陥検出部31は、さらに、第1検査画像に基づいてサポートリング4の上面の黒点42、汚れ又は異物を検出する第1検査画像検査部32を含む。また、第2検査画像に基づいてサポートリング4のバリ47,48、欠け及びキズ欠陥のうち少なくとも1種類の欠陥を検出する第2検査画像検査部を含む。
<Inspection Department>
FIG. 2A is a block diagram illustrating an example of a physical configuration of the
The
また、検査部18は、第1検査画像(図4)から第2検査画像(図5)を差分した第3検査画像(図6)を生成する第3検査画像生成部34を有してもよい。差分は、第1検査画像(図4)の各画素の輝度値から第2検査画像(図5)の各画素の輝度値を差し引いてもよい。あるいは、第1検査画像の各画素の輝度値と第2検査画像の各画素の輝度値との差の絶対値を第3検査画像の各画素の輝度値としてもよい。さらに、第3検査画像(図6)に基づいてサポートリング4の切欠きマーク領域41を検出する切欠きマーク領域検出部35を含んでもよい。切欠きマーク領域検出部35では、あらかじめ切欠きマーク領域41の形状を設定しておき、設定された切欠きマーク領域41の形状とのマッチングによって切欠きマーク領域41を検出してもよい。またさらに、第1検査画像(図4)及び第2検査画像(図5)について、検出された切欠きマーク領域41をマスクする切欠きマーク領域マスク部36を含んでもよい。これによって切欠きマーク領域を欠陥として誤認識することを抑制できる。
この検査部18は、例えば、電気回路によって物理的な構成として実現してもよい。あるいは、コンピュータ上で動作するコンピュータソフトウエアによって実現してもよい。コンピュータは、通常の構成要素であるCPU21、ROM、RAM等のメモリ22、ハードディスク等の記憶部23、表示部24、入力部25、インタフェース26等のうち上記動作を実行できる必要最小限の機能を有していればよい。
The
The
<第1検査画像>
図4及び図8の第1検査画像は、サポートリング4の上方からの第1の光13の反射光による画像である。この場合、サポートリング4の上方からの第1の光13は、サポートリング4の上面で反射され、その反射光が上方に配置されたカメラ16によって撮像される。第1の光13の反射光による第1検査画像では、サポートリング4の上面の情報が主に得られる。図4に示すように、サポートリング4及び口部1が反射して反射光によってほぼ白色となっている。また、図4では、上面の切欠きマーク41と、黒点42と、切れ目45、46が黒い点又は黒い線として現れる。
なお、切欠きマーク41はサポートリング4の上面にある場合が多いので、第1検査画像において、切欠きマーク41が識別できる。この場合、あらかじめ切欠きマーク41の形状はわかっているので、パターンマッチングによって切欠きマーク41を特定できる。
<First inspection image>
The first inspection images in FIGS. 4 and 8 are images of reflected light of the
Since the
<第2検査画像>
図5及び図9の第2検査画像は、サポートリング4の側方からの第2の光15の反射光による画像である。この場合、サポートリング4の側方からの第2の光15は、サポートリングや口部の側壁面で拡散反射された光が上方に配置されたカメラ16によって撮像される。第2の光15の反射光による第2検査画像では、サポートリング4のバリ47,48、欠け及びキズ等の形状欠陥の情報が得られる。拡散反射光は、サポートリング4の側方から内部に入り、上方に反射された光を含む。このため、図5では、図4よりもサポートリング4の上面部分は暗くなる。一方、口部1は、サポートリング4よりさらに上方にあるため、照射角度がより浅く、ローアングルとなり、サポートリング4よりも明るくなっている。このことから、第2検査画像において、サポートリング4と口部1とを区別することができる。また、図5では、サポートリング4の内部のキズ43,44による反射で明るくなった線状の欠陥が現れている。また、サポートリング4の側方に突出するバリ47、48があると、側方からの第2の光15がバリ47、48で反射された白色の突出部が観測される。図9では、バリ47、48が、サポートリング4の外縁から突出する白色の突出部として現れている。
なお、切欠きマーク41はサポートリング4の上面にある場合が多いので、第2検査画像では、切欠きマーク41を明瞭に識別できない場合がある。
<Second inspection image>
The second inspection images in FIGS. 5 and 9 are images of the reflected light of the second light 15 from the side of the
Since the
<第3検査画像>
図6の第3検査画像は、図4の第1検査画像と図5の第2検査画像とを差分処理した画像である。具体的には、第3検査画像は、第1検査画像(図4)の輝度から第2検査画像(図5)の輝度を差し引いて得られる。図6に示すように、第1検査画像(図4)と第2検査画像(図5)との間でその輝度が異なるサポートリング4の上面にあたる領域のみが明るくなっている。そこで、第3検査画像によってサポートリング4の検査領域を特定できる。
また、第3検査画像は、第1検査画像に比べて切欠きマーク41のエッジ部分が強調されており、切欠きマーク41を比較的明瞭に識別できる。この場合、あらかじめ切欠きマーク41の形状はわかっているので、パターンマッチングによって切欠きマーク41を特定できる。そこで、第3検査画像(図6)に基づいて切欠きマーク41を検出し、第1検査画像及び第2検査画像において、その領域をマスクすることで、切欠きマーク41を欠陥として誤検出することを抑制できる。
なお、サポートリング4の切欠きマーク41の検出は、第1検査画像又は第3検査画像のいずれで行ってもよい。
<Third inspection image>
The third inspection image in FIG. 6 is an image obtained by performing difference processing on the first inspection image in FIG. 4 and the second inspection image in FIG. 5. Specifically, the third inspection image is obtained by subtracting the luminance of the second inspection image (FIG. 5) from the luminance of the first inspection image (FIG. 4). As shown in FIG. 6, only the area corresponding to the upper surface of the
Further, the edge portion of the
Note that the detection of the
<サポートリングの検査方法>
図7は、実施の形態1に係るサポートリング付き容器10のサポートリング4の検査方法のフローチャートである。
(1)サポートリング付き容器10のサポートリング4の上方から第1光源12によって第1の光13を照射する(S01)。具体的には、サポートリング4の鉛直上方に設けられたフラット形状の第1光源12から第1の光13、例えば赤色光を照射する。
(2)サポートリング4の側方から第2光源14によって第2の光15を照射する(S02)。具体的には、サポートリング4の側方上部に設けられた環状形状の第2光源14から第2の光15、例えば青色光を照射する。
(3)サポートリング4からの第1の光13の反射光による第1検査画像及び第2の光15の反射光による第2検査画像をカメラ16によって取得する(S03)。具体的には、カメラ16において、第1の光13の反射光と第2の光15の反射光とを同時に撮像する場合には、第1の光13の反射光と第2の光15の反射光とを波長分離によってそれぞれの撮像画像を得る。つまり、第1の光13の反射光から第1検査画像を取得し、第2の光15の反射光から第2検査画像を取得する。なお、時分割撮像の場合は、第1の光13の反射光と、第2の光15の反射光とを切り替えてそれぞれ別々のタイミングで撮像して、第1の光13の反射光による第1検査画像及び第2の光15の反射光による第2検査画像を取得する。
(4)第1検査画像及び第2検査画像に基づいてサポートリング4の欠陥を検出する(S04)。具体的には、第1検査画像に基づいてサポートリング4の上面の黒点42又は汚れ、異物欠陥を検出する。また、第2検査画像に基づいてサポートリング4のバリ47,48、欠け及びキズのうち少なくとも1種類の欠陥を検出する。
以上によって、サポートリング付き容器10のサポートリング4の欠陥42〜48を検出することができる。
<Support ring inspection method>
FIG. 7 is a flowchart of a method for inspecting the
(1) The
(2) The second
(3) The first inspection image by the reflected light of the
(4) A defect of the
By the above, the defects 42-48 of the
なお、本開示においては、前述した様々な実施の形態及び/又は実施例のうちの任意の実施の形態及び/又は実施例を適宜組み合わせることを含むものであり、それぞれの実施の形態及び/又は実施例が有する効果を奏することができる。 It should be noted that the present disclosure includes appropriately combining any of the various embodiments and / or examples described above, and each of the embodiments and / or examples. The effect which an Example has can be show | played.
本発明に係るサポートリング検査装置及びサポートリング検査方法によれば、バリ、欠け、キズ等の形状欠陥と、上面の黒点、異物、汚れ等の欠陥とを同時に検出できると共に、切欠きマークも判別でき、高い検査精度を有する。 According to the support ring inspection apparatus and the support ring inspection method of the present invention, it is possible to simultaneously detect shape defects such as burrs, chips and scratches and defects such as black spots on the upper surface, foreign matter and dirt, and also distinguish notch marks. And high inspection accuracy.
1 口部
2 胴部(側壁)
3 底部
4 サポートリング
10 サポートリング付き容器(プリフォーム)
12 第1光源
13 第1の光
14 第2光源
15 第2の光
16 カメラ
18 検査部
20 サポートリング検査装置
21 CPU
22 メモリ
23 記憶部
24 表示部
25 入力部
26 インタフェース
31 サポートリング欠陥検出部
32 第1検査画像検査部
33 第2検査画像検査部
34 第3検査画像生成部
35 切欠きマーク領域検出部
36 切欠きマーク領域マスク部
41 切欠きマーク
42 黒点
43 キズ1
44 キズ2
45、46 切れ目(われ目)
47、48 バリ
1 mouth 2 body (side wall)
3
12
22
44 Scratch 2
45, 46 Cut (break)
47, 48 Bali
Claims (6)
前記サポートリングの側方から第2の光を照射する第2光源と、
前記サポートリングからの前記第1の光の反射光による第1検査画像及び前記第2の光の反射光による第2検査画像を取得するカメラと、
前記第1検査画像及び前記第2検査画像に基づいて前記サポートリングの欠陥を検出する検査部と、
を備えた、サポートリング付き容器のサポートリング検査装置。 A first light source that emits first light from above the support ring of the support ring-equipped container;
A second light source that emits second light from a side of the support ring;
A camera for obtaining a first inspection image by the reflected light of the first light from the support ring and a second inspection image by the reflected light of the second light;
An inspection unit for detecting defects in the support ring based on the first inspection image and the second inspection image;
A support ring inspection device for a container with a support ring.
前記サポートリングの側方から第2の光を照射するステップと、
前記サポートリングからの前記第1の光の反射光による第1検査画像及び前記第2の光の反射光による第2検査画像を取得するステップと、
前記第1検査画像及び前記第2検査画像に基づいて前記サポートリングの欠陥を検出するステップと、
を含む、サポートリング付き容器のサポートリング検査方法。 Irradiating the first light from above the support ring of the container with the support ring;
Irradiating a second light from the side of the support ring;
Obtaining a first inspection image by the reflected light of the first light from the support ring and a second inspection image by the reflected light of the second light;
Detecting a defect of the support ring based on the first inspection image and the second inspection image;
A support ring inspection method for a container with a support ring, including:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018060535A JP7040972B2 (en) | 2018-03-27 | 2018-03-27 | Support ring inspection device and support ring inspection method for containers with support rings |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018060535A JP7040972B2 (en) | 2018-03-27 | 2018-03-27 | Support ring inspection device and support ring inspection method for containers with support rings |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019174195A true JP2019174195A (en) | 2019-10-10 |
JP7040972B2 JP7040972B2 (en) | 2022-03-23 |
Family
ID=68168614
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018060535A Active JP7040972B2 (en) | 2018-03-27 | 2018-03-27 | Support ring inspection device and support ring inspection method for containers with support rings |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7040972B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023243253A1 (en) * | 2022-06-15 | 2023-12-21 | 株式会社Sumco | Wafer assessing method, assessing program, assessing device, wafer manufacturing method, and wafer |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS603542A (en) * | 1983-06-21 | 1985-01-09 | Mitsubishi Electric Corp | Bottle inspecting device |
JP2003114198A (en) * | 2001-10-04 | 2003-04-18 | Japan Crown Cork Co Ltd | Inspection device for bottle-cap assembly |
JP2005308441A (en) * | 2004-04-19 | 2005-11-04 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | Neck ring inspection device and neck ring inspection method |
US20060126060A1 (en) * | 2002-10-25 | 2006-06-15 | Olivier Colle | Lighting method and device for detection of surface defects and/or unfilled finish on the finish of a container |
JP2006313146A (en) * | 2005-04-08 | 2006-11-16 | Omron Corp | Defect inspection method, and defect inspection device using same |
JP2008249568A (en) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Fujifilm Corp | Visual examination device |
JP2009121888A (en) * | 2007-11-13 | 2009-06-04 | Kirin Distillery Co Ltd | Pet preform inspection device |
JP2014228466A (en) * | 2013-05-24 | 2014-12-08 | サントリーホールディングス株式会社 | Inspection device and inspection method |
-
2018
- 2018-03-27 JP JP2018060535A patent/JP7040972B2/en active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS603542A (en) * | 1983-06-21 | 1985-01-09 | Mitsubishi Electric Corp | Bottle inspecting device |
JP2003114198A (en) * | 2001-10-04 | 2003-04-18 | Japan Crown Cork Co Ltd | Inspection device for bottle-cap assembly |
US20060126060A1 (en) * | 2002-10-25 | 2006-06-15 | Olivier Colle | Lighting method and device for detection of surface defects and/or unfilled finish on the finish of a container |
JP2005308441A (en) * | 2004-04-19 | 2005-11-04 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | Neck ring inspection device and neck ring inspection method |
JP2006313146A (en) * | 2005-04-08 | 2006-11-16 | Omron Corp | Defect inspection method, and defect inspection device using same |
JP2008249568A (en) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Fujifilm Corp | Visual examination device |
JP2009121888A (en) * | 2007-11-13 | 2009-06-04 | Kirin Distillery Co Ltd | Pet preform inspection device |
JP2014228466A (en) * | 2013-05-24 | 2014-12-08 | サントリーホールディングス株式会社 | Inspection device and inspection method |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023243253A1 (en) * | 2022-06-15 | 2023-12-21 | 株式会社Sumco | Wafer assessing method, assessing program, assessing device, wafer manufacturing method, and wafer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7040972B2 (en) | 2022-03-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7329855B2 (en) | Optical inspection of glass bottles using multiple cameras | |
US7330251B2 (en) | Method and apparatus for producing reference image in glass bottle inspecting apparatus | |
JP2016540994A (en) | Wet ophthalmic lens inspection system and inspection method | |
JP2010107254A (en) | Device and method for inspecting led chip | |
JP2009016455A (en) | Substrate position detecting device and substrate position detecting method | |
TW201719156A (en) | Wafer inspection method and wafer inspection device | |
JP2006226724A (en) | Label inspection method and label inspection device | |
KR101844496B1 (en) | Inspection of defects in a contact lens | |
JP5608925B2 (en) | Glass bottle printing inspection equipment | |
JP3989739B2 (en) | Inspection device | |
JP7040972B2 (en) | Support ring inspection device and support ring inspection method for containers with support rings | |
JP2007256076A (en) | Inspection device and method of multilayered transparent body | |
JP5773741B2 (en) | Appearance inspection apparatus and appearance inspection method for transparent body bottle | |
KR20140031392A (en) | Container mouth portion inspection method and device | |
JP6647903B2 (en) | Image inspection device, image inspection program, computer-readable recording medium, and recorded device | |
JP6049652B2 (en) | Bottle bottom inspection device | |
JP2009042093A (en) | Electronic component inspection device and electronic component inspection method | |
KR101952971B1 (en) | Method for detecting center of plate-shaped work | |
JP5959430B2 (en) | Bottle cap appearance inspection device and appearance inspection method | |
JP6670428B2 (en) | Preform inspection method and inspection device | |
TWI703320B (en) | Marking inspection apparatus, marking inspection method and article inspection apparatus | |
CN112492887B (en) | Method for inspecting glass bottle and method for manufacturing glass bottle | |
JP2013257245A (en) | Inspection device for articles | |
JP6073261B2 (en) | Bottle bottom inspection device | |
JP2018136268A (en) | Device and method for inspecting middle part of preform |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210128 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20211020 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20211207 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220201 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220222 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220310 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7040972 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |