JP2019174195A

JP2019174195A - Support ring inspection device and support ring inspection method of container with support ring

Info

Publication number: JP2019174195A
Application number: JP2018060535A
Authority: JP
Inventors: 勝志高津; Katsushi Takatsu; 紗代子岩田; Sayoko Iwata
Original assignee: Kurabo Industries Ltd; Kurashiki Spinning Co Ltd
Current assignee: Kurabo Industries Ltd; Kurashiki Spinning Co Ltd
Priority date: 2018-03-27
Filing date: 2018-03-27
Publication date: 2019-10-10
Anticipated expiration: 2038-03-27
Also published as: JP7040972B2

Abstract

To provide a support ring inspection device and support ring inspection method of a container with support ring that can detect not only shape defects but also defects on a top surface, can discriminate a notch mark, and have high inspection accuracy.SOLUTION: A support ring inspection device of a container with support ring includes: a first light source for radiating first light from above the support ring of the container with support ring; a second light source for radiating second light from the side of the support ring; a camera for acquiring a first inspection image by reflected light of the first light and a second inspection image by reflected light of the second light from the support ring; and an inspection unit for detecting a defect of the support ring on the basis of the first inspection image and the second inspection image.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、サポートリング付き容器のサポートリングを検査する検査装置及びサポートリング検査方法に関する。 The present invention relates to an inspection apparatus and a support ring inspection method for inspecting a support ring of a container with a support ring.

ペットボトル等の多くの容器では、ネック部分にサポートリング又はネックリングと呼ばれる円環状の突出部分を有する。このサポートリングは、容器の製造段階でネック部分を支持するために用いられる。また、サポートリングには、キャップを閉栓する際の巻締位置確認のための目印となる切欠きマークが設けられることがある。さらに、このサポートリングは、容器を持つ、あるいは、開栓する等の場合に、手に触れる箇所であるので、キズや割れ等の検査を行うことが望ましい。 Many containers such as plastic bottles have an annular protruding portion called a support ring or a neck ring at the neck portion. This support ring is used to support the neck portion during the manufacturing stage of the container. Further, the support ring may be provided with a notch mark as a mark for confirming the winding position when the cap is closed. Furthermore, since this support ring is a part that touches the hand when holding or opening the container, it is desirable to inspect for scratches and cracks.

従来、例えば、ネックリングに環状照明１００で均一に光を照射して、ネックリングが基準形状を有しているか判定する技術が開示されている（例えば、特許文献１参照。）。また、サポートリング上方からリングフラット照明で照射して、サポートリングの異常を検出する技術が開示されている（例えば、特許文献２参照。）。さらに、上方からの照明及び撮影でボトルの巻締角度確認マーク及びキャップの巻締角度確認マークを認識し、巻締状態の良否を判定する技術が開示されている（例えば、特許文献３参照。）。 Conventionally, for example, a technique for determining whether a neck ring has a reference shape by irradiating light uniformly to the neck ring with an annular illumination 100 has been disclosed (see, for example, Patent Document 1). Further, a technique for detecting an abnormality of a support ring by irradiating with ring flat illumination from above the support ring is disclosed (for example, see Patent Document 2). Furthermore, a technique for recognizing the bottle winding angle confirmation mark and the cap winding angle confirmation mark by illumination and photographing from above and judging the quality of the winding state is disclosed (for example, see Patent Document 3). ).

特開２００５−３０８４４１号公報JP-A-2005-308441 特開２００９−１２１８８８号公報JP 2009-121888 A 特許第４２１７３９９号公報Japanese Patent No. 4217399

上記従来技術ではサポートリングの破損等の異常は検査できるが、サポートリング上面のキズ等の欠陥が検出できない。また、サポートリング外周に発生するバリ欠陥は、手で触ったときに違和感を生じやすいため、検査することが望ましいが、小さなバリ欠陥を高精度に検出することは難しい。また、サポートリングに存在する切欠きマーク（ネックリングインジケータ）とバリ、キズ等との判別が難しく、検査精度が低下する。 Although the above prior art can inspect abnormalities such as breakage of the support ring, defects such as scratches on the upper surface of the support ring cannot be detected. Further, since the burr defect generated on the outer periphery of the support ring tends to cause a sense of incongruity when touched by hand, it is desirable to inspect it, but it is difficult to detect a small burr defect with high accuracy. In addition, it is difficult to discriminate between a notch mark (neck ring indicator) present on the support ring and burrs, scratches, etc., and the inspection accuracy decreases.

そこで、本発明の目的は、バリ、欠け、キズ等の形状欠陥と、上面の黒点、汚れ及び異物等の欠陥とを同時に検出できると共に、切欠きマークも判別でき、高い検査精度を有するサポートリング付き容器のサポートリング検査装置及びサポートリング検査方法を提供することである。 Therefore, an object of the present invention is to provide a support ring that can detect shape defects such as burrs, chips, and scratches and defects such as black spots, dirt, and foreign matters on the upper surface at the same time, and can also detect notch marks and has high inspection accuracy. It is to provide a support ring inspection device and a support ring inspection method for attached containers.

本発明に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、サポートリング付き容器のサポートリングの上方から第１の光を照射する第１光源と、
前記サポートリングの側方から第２の光を照射する第２光源と、
前記サポートリングからの前記第１の光の反射光による第１検査画像及び前記第２の光の反射光による第２検査画像を取得するカメラと、
前記第１検査画像及び前記第２検査画像に基づいて前記サポートリングの欠陥を検出する検査部と、
を備える。 A support ring inspection device for a container with a support ring according to the present invention includes: a first light source that emits first light from above the support ring of the container with a support ring;
A second light source that emits second light from a side of the support ring;
A camera for obtaining a first inspection image by the reflected light of the first light from the support ring and a second inspection image by the reflected light of the second light;
An inspection unit for detecting defects in the support ring based on the first inspection image and the second inspection image;
Is provided.

本発明に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査方法は、サポートリング付き容器のサポートリングの上方から第１の光を照射するステップと、
前記サポートリングの側方から第２の光を照射するステップと、
前記サポートリングからの前記第１の光の反射光による第１検査画像及び前記第２の光の反射光による第２検査画像を取得するステップと、
前記第１検査画像及び前記第２検査画像に基づいて前記サポートリングの欠陥を検出するステップと、
を含む。 The support ring inspection method for a container with a support ring according to the present invention includes the step of irradiating the first light from above the support ring of the container with a support ring;
Irradiating a second light from the side of the support ring;
Obtaining a first inspection image by the reflected light of the first light from the support ring and a second inspection image by the reflected light of the second light;
Detecting a defect of the support ring based on the first inspection image and the second inspection image;
including.

本発明に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置及びサポートリング付き容器のサポートリング検査方法によれば、形状欠陥だけでなく、上面の欠陥も検出できると共に、切欠きマークも判別でき、高い検査精度を有する。 According to the support ring inspection apparatus for a container with a support ring and the support ring inspection method for a container with a support ring according to the present invention, not only a shape defect but also a defect on the upper surface can be detected, and a notch mark can also be determined. Have accuracy.

実施の形態１に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置の構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of the support ring test | inspection apparatus of the container with a support ring which concerns on Embodiment 1. FIG. 図１のサポートリング検査装置の検査部の物理的な構成の一例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an example of a physical structure of the test | inspection part of the support ring test | inspection apparatus of FIG. 図１のサポートリング検査装置の検査部の機能的な構成の一例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an example of a functional structure of the test | inspection part of the support ring test | inspection apparatus of FIG. サポートリングからの第１の光の反射光及び第２の光の反射光の合成画像の模式図である。It is a schematic diagram of the synthesized image of the reflected light of the 1st light and the reflected light of the 2nd light from a support ring. サポートリングからの第１の光の反射光による第１検査画像の模式図である。It is a schematic diagram of the 1st test | inspection image by the reflected light of the 1st light from a support ring. サポートリングからの第２の光の反射光による第２検査画像の模式図である。It is a schematic diagram of the 2nd test | inspection image by the reflected light of the 2nd light from a support ring. サポートリングからの第１の光の反射光による第１検査画像と第２の光の反射光による第２検査画像との差分である第３検査画像の模式図である。It is a schematic diagram of the 3rd inspection image which is the difference of the 1st inspection image by the reflected light of the 1st light from a support ring, and the 2nd inspection image by the reflected light of the 2nd light. 実施の形態１に係るサポートリング検査方法のフローチャートである。3 is a flowchart of a support ring inspection method according to the first embodiment. サポートリングからの第１の光の反射光による別例の第１検査画像の模式図である。It is a schematic diagram of the 1st test | inspection image of another example by the reflected light of the 1st light from a support ring. サポートリングからの第２の光の反射光による別例の第２検査画像の模式図である。It is a schematic diagram of the 2nd test | inspection image of another example by the reflected light of the 2nd light from a support ring.

第１の態様に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、サポートリング付き容器のサポートリングの上方から第１の光を照射する第１光源と、
前記サポートリングの側方から第２の光を照射する第２光源と、
前記サポートリングからの前記第１の光の反射光による第１検査画像及び前記第２の光の反射光による第２検査画像を取得するカメラと、
前記第１検査画像及び前記第２検査画像に基づいて前記サポートリングの欠陥を検出する検査部と、
を備える。 A support ring inspection device for a container with a support ring according to a first aspect includes a first light source that emits first light from above the support ring of the container with a support ring;
A second light source that emits second light from a side of the support ring;
A camera for obtaining a first inspection image by the reflected light of the first light from the support ring and a second inspection image by the reflected light of the second light;
An inspection unit for detecting defects in the support ring based on the first inspection image and the second inspection image;
Is provided.

第２の態様に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、上記第１の態様において、前記第１の光と前記第２の光とは互いに異なる波長を有してもよい。 In the support ring inspection apparatus for a container with a support ring according to the second aspect, in the first aspect, the first light and the second light may have different wavelengths.

第３の態様に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、上記第１又は第２の態様において、前記検査部は、前記第１検査画像と前記第２検査画像とを差分した第３検査画像に基づいて前記サポートリングの検査領域を設定してもよい。 The support ring inspection device for a container with a support ring according to a third aspect is the third inspection according to the first or second aspect, wherein the inspection unit performs a difference between the first inspection image and the second inspection image. The inspection area of the support ring may be set based on the image.

第４の態様に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、上記第１から第３のいずれかの態様において、前記検査部は、前記第１検査画像又は前記第１検査画像と前記第２検査画像とを差分処理した第３検査画像に基づいて前記サポートリングの切欠きマーク領域を検出してもよい。 In the support ring inspection device for a container with a support ring according to a fourth aspect, in any one of the first to third aspects, the inspection unit includes the first inspection image or the first inspection image and the second. The notch mark area of the support ring may be detected based on a third inspection image obtained by performing a difference process on the inspection image.

第５の態様に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、上記第４の態様において、前記検査部は、前記第１検査画像及び前記第２検査画像について、検出された前記切欠きマーク領域をマスクしてそれ以外の領域について前記サポートリングの欠陥を検出してもよい。 The support ring inspection apparatus for a container with a support ring according to a fifth aspect is the above fourth aspect, wherein the inspection unit detects the notch mark region detected for the first inspection image and the second inspection image. The defect of the support ring may be detected in other regions.

第６の態様に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査方法は、サポートリング付き容器のサポートリングの上方から第１の光を照射するステップと、
前記サポートリングの側方から第２の光を照射するステップと、
前記サポートリングからの前記第１の光の反射光による第１検査画像及び前記第２の光の反射光による第２検査画像を取得するステップと、
前記第１検査画像及び前記第２検査画像に基づいて前記サポートリングの欠陥を検出するステップと、
を含む。 A support ring inspection method for a container with a support ring according to a sixth aspect includes the step of irradiating the first light from above the support ring of the container with a support ring;
Irradiating a second light from the side of the support ring;
Obtaining a first inspection image by the reflected light of the first light from the support ring and a second inspection image by the reflected light of the second light;
Detecting a defect of the support ring based on the first inspection image and the second inspection image;
including.

以下、実施の形態に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置及びサポートリング検査方法について、添付図面を参照しながら説明する。なお、図面において実質的に同一の部材については同一の符号を付している。 Hereinafter, a support ring inspection device and a support ring inspection method for a container with a support ring according to embodiments will be described with reference to the accompanying drawings. In the drawings, substantially the same members are denoted by the same reference numerals.

（実施の形態１）
図１は、実施の形態１に係るサポートリング付き容器１０のサポートリング検査装置２０の構成を示す概略図である。なお、便宜上、サポートリング付き容器１０のサポートリング４に沿った方向をｘ方向とし、サポートリング４に垂直な方向をｙ方向とし、紙面に垂直な方向をｚ方向としている。
このサポートリング検査装置２０は、第１光源１２と、第２光源１４と、カメラ１６と、検査部１８と、を備える。第１光源１２によって、サポートリング付き容器１０のサポートリング４の上方から第１の光１３（−ｙ方向）を照射する。第２光源１４によって、サポートリング４の側方から第２の光１５を照射する。カメラ１６によって、サポートリング４からの第１の光１３の反射光による第１検査画像及び第２の光１５の反射光による第２検査画像を取得する。検査部１８によって、第１検査画像（図４、図８）及び第２検査画像（図５、図９）に基づいてサポートリング４の欠陥４２〜４４及び４７〜４８を検出する。
このサポートリング検査装置２０によれば、バリ、欠け、異物等の形状欠陥だけでなく、上面のキズ、黒点等の欠陥も検出できると共に、切欠きマークも判別でき、高い検査精度を有する。 (Embodiment 1)
FIG. 1 is a schematic diagram illustrating a configuration of a support ring inspection device 20 of a container 10 with a support ring according to the first embodiment. For convenience, the direction along the support ring 4 of the container 10 with the support ring is the x direction, the direction perpendicular to the support ring 4 is the y direction, and the direction perpendicular to the paper surface is the z direction.
The support ring inspection device 20 includes a first light source 12, a second light source 14, a camera 16, and an inspection unit 18. The first light source 12 irradiates the first light 13 (−y direction) from above the support ring 4 of the container 10 with the support ring. The second light source 14 irradiates the second light 15 from the side of the support ring 4. The camera 16 acquires a first inspection image by the reflected light of the first light 13 from the support ring 4 and a second inspection image by the reflected light of the second light 15. The inspection unit 18 detects defects 42 to 44 and 47 to 48 of the support ring 4 based on the first inspection image (FIGS. 4 and 8) and the second inspection image (FIGS. 5 and 9).
According to the support ring inspection apparatus 20, not only shape defects such as burrs, chips, and foreign matters but also defects such as scratches and black spots on the upper surface can be detected, and notch marks can be determined, and the inspection accuracy is high.

以下に、このサポートリング付き容器のサポートリング検査装置２０を構成する部材について説明する。 Below, the member which comprises the support ring test | inspection apparatus 20 of this container with a support ring is demonstrated.

＜サポートリング付き容器＞
検査の対象となるサポートリング付き容器１０としては、例えば、サポートリングを有するペットボトル等の容器、及び、該容器のプリフォーム等が挙げられる。なお、上記容器としては、例えば飲料用容器を含むが、これに限られない。 <Container with support ring>
Examples of the container 10 with a support ring to be inspected include a container such as a PET bottle having a support ring, a preform of the container, and the like. In addition, as said container, although the container for drinks is included, for example, it is not restricted to this.

＜プリフォーム＞
プリフォーム１０は、例えば、ペットボトル等の容器の前駆体であるプリフォームである。このプリフォーム１０は、例えば、樹脂材料を射出成形等によって成形される。図１に示すように、プリフォーム１０は、口部１、胴部（側壁）２、底部３、及び、サポートリング４を有する。口部１及びサポートリング４は、その後の高圧流体を吹き込んで延伸する場合にもそのまま維持され、ペットボトル等の口部及びサポートリングとなる。図３の模式図では、サポートリング４の上面の黒点４２、内部又は上面のキズ４３、４４等が存在している様子を示している。なお、欠陥としては、例えば、バリ４７、４８、欠け等の形状欠陥と、上面の黒点４２、キズ４３、４４、汚れ、異物等の欠陥とを含む。バリ４７、４８、欠けキズ等の欠陥は、サポートリング４の側方からの第２の光１５の反射光による第２検査画像（図５、図９）によって主に検出できる。また、上面の黒点４２、汚れ、異物等の欠陥は、サポートリング４の上方からの第１の光１３の反射光による第１検査画像（図４、図８）によって主に検出できる。なお、サポートリング４の傾斜等の条件によって第１検査画像及び第２検査画像から検出できる欠陥は異なる場合がある。 <Preform>
The preform 10 is a preform that is a precursor of a container such as a PET bottle. For example, the preform 10 is formed by injection molding of a resin material. As shown in FIG. 1, the preform 10 includes a mouth portion 1, a trunk portion (side wall) 2, a bottom portion 3, and a support ring 4. The mouth portion 1 and the support ring 4 are maintained as they are even when the high pressure fluid is blown and stretched thereafter, and become the mouth portion and the support ring of a PET bottle or the like. In the schematic diagram of FIG. 3, there are shown black spots 42 on the upper surface of the support ring 4, scratches 43 and 44 on the inside or the upper surface, and the like. The defects include, for example, shape defects such as burrs 47 and 48 and chips, and defects such as black spots 42, scratches 43 and 44 on the upper surface, dirt, and foreign matters. Defects such as burrs 47 and 48 and chipping scratches can be mainly detected by the second inspection image (FIGS. 5 and 9) by the reflected light of the second light 15 from the side of the support ring 4. Further, defects such as black spots 42 on the upper surface, dirt, and foreign matters can be mainly detected by the first inspection image (FIGS. 4 and 8) by the reflected light of the first light 13 from above the support ring 4. Note that the defects that can be detected from the first inspection image and the second inspection image may differ depending on conditions such as the inclination of the support ring 4.

＜第１光源＞
第１光源１２は、プリフォーム１０の上方から第１の光１３を照射するように配置される。第１光源１２は、プリフォーム１０の口部１及びサポートリング４を含む上部全体を照射できるフラット形状の光源、例えば、面光源であってもよい。なお、カメラ１６をプリフォーム１０の上方に配置しているので、プリフォーム１０の鉛直上方部分には開口を設けておく。第１光源１２のサポートリング４への照射角度は、鉛直方向（図１のｙ軸方向）について３０度以内であることが好ましい。また、第１光源１２には、例えば、ランプ、ＬＥＤ等の通常の光源であれば使用できる。好ましくは拡散光を照射する拡散照明がよい。具体的には、フラット照明（ＣＣＳ製ＴＨ２−１５０Ｘ１５０ＲＤ−ＣＲ３５：幅１６２ｍｍ×奥行き１６２ｍｍ×高さ１５ｍｍ）等を用いることができる。このフラット照明１２とプリフォーム１０の口部１の頂部との間隔ｄ１は約５０ｍｍである。また、第１の光１３は、例えば、赤色光であってもよい。なお、サポートリング４の上面は僅かな傾斜を有する場合があるため、正反射光成分の強い同軸落射照明よりは、均一な拡散反射光を得られる面照明の方が好ましい。 <First light source>
The first light source 12 is arranged so as to irradiate the first light 13 from above the preform 10. The first light source 12 may be a flat light source that can irradiate the entire upper portion including the mouth portion 1 and the support ring 4 of the preform 10, for example, a surface light source. Since the camera 16 is disposed above the preform 10, an opening is provided in a vertically upper portion of the preform 10. The irradiation angle of the first light source 12 to the support ring 4 is preferably within 30 degrees in the vertical direction (y-axis direction in FIG. 1). The first light source 12 can be any ordinary light source such as a lamp or LED. Preferably, diffuse illumination that emits diffused light is good. Specifically, flat illumination (TH2-150X150RD-CR35 manufactured by CCS: width 162 mm × depth 162 mm × height 15 mm) or the like can be used. The distance d1 between the flat illumination 12 and the top of the mouth 1 of the preform 10 is about 50 mm. Further, the first light 13 may be red light, for example. In addition, since the upper surface of the support ring 4 may have a slight inclination, surface illumination that can obtain uniform diffuse reflected light is more preferable than coaxial epi-illumination having a strong regular reflection light component.

＜第２光源＞
第２光源１４によって、サポートリング４の側方上部から第２の光１５を照射する。この第２光源１４は、サポートリング４の側方からその全周にわたって照射するので、環状形状を有することが好ましい。第２光源１４のサポートリング４への照射角度は、鉛直方向（図１のｙ軸方向）について４５度以上の角度をなすローアングルであることが好ましい。また、第２光源１４には、第１光源と同様に、例えば、ランプ、ＬＥＤ等の通常の光源であれば使用できる。具体的には、リング照明（ＣＣＳ製ＬＤＲ２−２０８ＢＬ２−ＬＡ：外径φ２０８ｍｍ、内径φ１７４ｍｍ、高さ２２ｍｍ）等を用いることができる。このリング照明１４とプリフォーム１０の口部１の頂部との間隔ｄ２は約１０ｍｍである。また、第２の光１５は、第１の光と異なる波長であればよく、例えば、青色光であってもよい。なお、第１の光１３の波長と第２の光１５の波長とは互いに入れ替えてもよい。 <Second light source>
The second light source 14 emits the second light 15 from the upper side portion of the support ring 4. Since the second light source 14 irradiates the entire circumference from the side of the support ring 4, it preferably has an annular shape. The irradiation angle of the second light source 14 to the support ring 4 is preferably a low angle that forms an angle of 45 degrees or more with respect to the vertical direction (y-axis direction in FIG. 1). For the second light source 14, as with the first light source, any ordinary light source such as a lamp or LED can be used. Specifically, ring illumination (CDR LDR2-208BL2-LA: outer diameter φ208 mm, inner diameter φ174 mm, height 22 mm) or the like can be used. A distance d2 between the ring illumination 14 and the top of the mouth 1 of the preform 10 is about 10 mm. The second light 15 may have a wavelength different from that of the first light, and may be blue light, for example. Note that the wavelength of the first light 13 and the wavelength of the second light 15 may be interchanged.

＜カメラ＞
図３は、サポートリング４からの第１の光１３の反射光及び第２の光１５の反射光の合成画像の模式図である。図４は、サポートリング４からの第１の光１３の反射光による第１検査画像の模式図である。図５は、サポートリング４からの第２の光１５の反射光による第２検査画像の模式図である。図６は、サポートリング４からの第１の光１３の反射光による第１検査画像と第２の光の反射光による第２検査画像との差分である第３検査画像の模式図である。図８は、サポートリング４からの第１の光１３の反射光による別例の第１検査画像の模式図である。図９は、サポートリング４からの第２の光の反射光による別例の第２検査画像の模式図である。
カメラ１６は、図１に示すように、サポートリング４に対して第１光源１２と同じ上方に配置される。また、カメラ１６は、サポートリング４に対して環状形状の第２光源１４の中心軸の鉛直上方に配置される。カメラ１６によって、サポートリング４からの第１の光１３の反射光による第１検査画像（図３、図８）と、第２の光１５の反射光による第２検査画像（図４、図９）とを得る。具体的には、第１の光１３の反射光と第２の光１５の反射光とを同時に撮像する場合には、第１の光１３と第２の光１５をサポートリング４に同時に照射して１回の撮像を行い１枚の撮像画像を取得する。得られた撮像画像（図３）から波長分離によってそれぞれの検査画像を得る。つまり、第１の光１３の反射光から第１検査画像（図３、図８）を取得し、第２の光１５の反射光から第２検査画像（図４、図９）を取得する。
カメラ１６は、エリアカメラであって、例えば、ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等の撮像素子と、撮像素子を制御する撮像制御手段とを含んでもよい。また、第１の光１３の反射光と、第２の光１５の反射光とを切り替えてそれぞれ別々のタイミングで撮像してもよい。この場合には、第１の光１３と第２の光１５とは、同一波長の光であってもよい。 <Camera>
FIG. 3 is a schematic diagram of a composite image of the reflected light of the first light 13 and the reflected light of the second light 15 from the support ring 4. FIG. 4 is a schematic diagram of the first inspection image by the reflected light of the first light 13 from the support ring 4. FIG. 5 is a schematic diagram of the second inspection image by the reflected light of the second light 15 from the support ring 4. FIG. 6 is a schematic diagram of a third inspection image that is a difference between the first inspection image by the reflected light of the first light 13 from the support ring 4 and the second inspection image by the reflected light of the second light. FIG. 8 is a schematic diagram of another first inspection image by the reflected light of the first light 13 from the support ring 4. FIG. 9 is a schematic diagram of another second inspection image by the reflected light of the second light from the support ring 4.
As shown in FIG. 1, the camera 16 is disposed on the same upper side as the first light source 12 with respect to the support ring 4. The camera 16 is arranged vertically above the central axis of the annular second light source 14 with respect to the support ring 4. The first inspection image (FIGS. 3 and 8) by the reflected light of the first light 13 from the support ring 4 and the second inspection image by the reflected light of the second light 15 (FIGS. 4 and 9). ) And get. Specifically, when imaging the reflected light of the first light 13 and the reflected light of the second light 15 at the same time, the first light 13 and the second light 15 are simultaneously irradiated onto the support ring 4. To capture one image and acquire one captured image. Each inspection image is obtained by wavelength separation from the obtained captured image (FIG. 3). That is, the first inspection image (FIGS. 3 and 8) is acquired from the reflected light of the first light 13, and the second inspection image (FIGS. 4 and 9) is acquired from the reflected light of the second light 15.
The camera 16 is an area camera, and may include, for example, an image sensor such as a CCD or a CMOS, and an image control unit that controls the image sensor. Alternatively, the reflected light of the first light 13 and the reflected light of the second light 15 may be switched to capture images at different timings. In this case, the first light 13 and the second light 15 may be light having the same wavelength.

＜検査部＞
図２Ａは、図１のサポートリング検査装置２０の検査部１８の物理的な構成の一例を示すブロック図である。図２Ｂは、図１のサポートリング検査装置２０の検査部１８の機能的な構成の一例を示すブロック図である。
検査部１８は、第１光源１２、第２光源１４及びカメラ１６と接続されている。また、検査部１８は、第１検査画像及び第２検査画像に基づいてサポートリング４の欠陥を検出するサポートリング欠陥検出部３１を有する。このサポートリング欠陥検出部３１は、さらに、第１検査画像に基づいてサポートリング４の上面の黒点４２、汚れ又は異物を検出する第１検査画像検査部３２を含む。また、第２検査画像に基づいてサポートリング４のバリ４７，４８、欠け及びキズ欠陥のうち少なくとも１種類の欠陥を検出する第２検査画像検査部を含む。 <Inspection Department>
FIG. 2A is a block diagram illustrating an example of a physical configuration of the inspection unit 18 of the support ring inspection apparatus 20 of FIG. FIG. 2B is a block diagram illustrating an example of a functional configuration of the inspection unit 18 of the support ring inspection device 20 of FIG.
The inspection unit 18 is connected to the first light source 12, the second light source 14, and the camera 16. In addition, the inspection unit 18 includes a support ring defect detection unit 31 that detects defects in the support ring 4 based on the first inspection image and the second inspection image. The support ring defect detection unit 31 further includes a first inspection image inspection unit 32 that detects black spots 42, dirt or foreign matter on the upper surface of the support ring 4 based on the first inspection image. Further, a second inspection image inspection unit that detects at least one type of defect among burrs 47 and 48 of the support ring 4, chipping and scratches based on the second inspection image is included.

また、検査部１８は、第１検査画像（図４）から第２検査画像（図５）を差分した第３検査画像（図６）を生成する第３検査画像生成部３４を有してもよい。差分は、第１検査画像（図４）の各画素の輝度値から第２検査画像（図５）の各画素の輝度値を差し引いてもよい。あるいは、第１検査画像の各画素の輝度値と第２検査画像の各画素の輝度値との差の絶対値を第３検査画像の各画素の輝度値としてもよい。さらに、第３検査画像（図６）に基づいてサポートリング４の切欠きマーク領域４１を検出する切欠きマーク領域検出部３５を含んでもよい。切欠きマーク領域検出部３５では、あらかじめ切欠きマーク領域４１の形状を設定しておき、設定された切欠きマーク領域４１の形状とのマッチングによって切欠きマーク領域４１を検出してもよい。またさらに、第１検査画像（図４）及び第２検査画像（図５）について、検出された切欠きマーク領域４１をマスクする切欠きマーク領域マスク部３６を含んでもよい。これによって切欠きマーク領域を欠陥として誤認識することを抑制できる。
この検査部１８は、例えば、電気回路によって物理的な構成として実現してもよい。あるいは、コンピュータ上で動作するコンピュータソフトウエアによって実現してもよい。コンピュータは、通常の構成要素であるＣＰＵ２１、ＲＯＭ、ＲＡＭ等のメモリ２２、ハードディスク等の記憶部２３、表示部２４、入力部２５、インタフェース２６等のうち上記動作を実行できる必要最小限の機能を有していればよい。 The inspection unit 18 may include a third inspection image generation unit 34 that generates a third inspection image (FIG. 6) obtained by subtracting the second inspection image (FIG. 5) from the first inspection image (FIG. 4). Good. The difference may be obtained by subtracting the luminance value of each pixel of the second inspection image (FIG. 5) from the luminance value of each pixel of the first inspection image (FIG. 4). Alternatively, the absolute value of the difference between the luminance value of each pixel of the first inspection image and the luminance value of each pixel of the second inspection image may be used as the luminance value of each pixel of the third inspection image. Furthermore, a notch mark area detection unit 35 that detects the notch mark area 41 of the support ring 4 based on the third inspection image (FIG. 6) may be included. The notch mark area detection unit 35 may set the shape of the notch mark area 41 in advance, and detect the notch mark area 41 by matching with the set shape of the notch mark area 41. Furthermore, the first inspection image (FIG. 4) and the second inspection image (FIG. 5) may include a notch mark region mask portion 36 that masks the detected notch mark region 41. This can suppress erroneous recognition of the notch mark region as a defect.
The inspection unit 18 may be realized as a physical configuration by an electric circuit, for example. Or you may implement | achieve by the computer software which operate | moves on a computer. The computer has a minimum necessary function capable of performing the above-described operations among a normal component CPU 21, a memory 22 such as a ROM and a RAM, a storage unit 23 such as a hard disk, a display unit 24, an input unit 25, and an interface 26. It only has to have.

＜第１検査画像＞
図４及び図８の第１検査画像は、サポートリング４の上方からの第１の光１３の反射光による画像である。この場合、サポートリング４の上方からの第１の光１３は、サポートリング４の上面で反射され、その反射光が上方に配置されたカメラ１６によって撮像される。第１の光１３の反射光による第１検査画像では、サポートリング４の上面の情報が主に得られる。図４に示すように、サポートリング４及び口部１が反射して反射光によってほぼ白色となっている。また、図４では、上面の切欠きマーク４１と、黒点４２と、切れ目４５、４６が黒い点又は黒い線として現れる。
なお、切欠きマーク４１はサポートリング４の上面にある場合が多いので、第１検査画像において、切欠きマーク４１が識別できる。この場合、あらかじめ切欠きマーク４１の形状はわかっているので、パターンマッチングによって切欠きマーク４１を特定できる。 <First inspection image>
The first inspection images in FIGS. 4 and 8 are images of reflected light of the first light 13 from above the support ring 4. In this case, the first light 13 from above the support ring 4 is reflected by the upper surface of the support ring 4, and the reflected light is imaged by the camera 16 disposed above. In the first inspection image by the reflected light of the first light 13, information on the upper surface of the support ring 4 is mainly obtained. As shown in FIG. 4, the support ring 4 and the mouth portion 1 are reflected and become almost white by the reflected light. Further, in FIG. 4, the notch mark 41 on the upper surface, the black dot 42, and the cuts 45 and 46 appear as black dots or black lines.
Since the notch mark 41 is often on the upper surface of the support ring 4, the notch mark 41 can be identified in the first inspection image. In this case, since the shape of the notch mark 41 is known in advance, the notch mark 41 can be specified by pattern matching.

＜第２検査画像＞
図５及び図９の第２検査画像は、サポートリング４の側方からの第２の光１５の反射光による画像である。この場合、サポートリング４の側方からの第２の光１５は、サポートリングや口部の側壁面で拡散反射された光が上方に配置されたカメラ１６によって撮像される。第２の光１５の反射光による第２検査画像では、サポートリング４のバリ４７，４８、欠け及びキズ等の形状欠陥の情報が得られる。拡散反射光は、サポートリング４の側方から内部に入り、上方に反射された光を含む。このため、図５では、図４よりもサポートリング４の上面部分は暗くなる。一方、口部１は、サポートリング４よりさらに上方にあるため、照射角度がより浅く、ローアングルとなり、サポートリング４よりも明るくなっている。このことから、第２検査画像において、サポートリング４と口部１とを区別することができる。また、図５では、サポートリング４の内部のキズ４３，４４による反射で明るくなった線状の欠陥が現れている。また、サポートリング４の側方に突出するバリ４７、４８があると、側方からの第２の光１５がバリ４７、４８で反射された白色の突出部が観測される。図９では、バリ４７、４８が、サポートリング４の外縁から突出する白色の突出部として現れている。
なお、切欠きマーク４１はサポートリング４の上面にある場合が多いので、第２検査画像では、切欠きマーク４１を明瞭に識別できない場合がある。 <Second inspection image>
The second inspection images in FIGS. 5 and 9 are images of the reflected light of the second light 15 from the side of the support ring 4. In this case, the second light 15 from the side of the support ring 4 is imaged by the camera 16 in which the light diffusely reflected by the support ring and the side wall surface of the mouth is disposed above. In the second inspection image by the reflected light of the second light 15, information on shape defects such as burrs 47 and 48 of the support ring 4, chips and scratches is obtained. The diffusely reflected light includes light that enters inside from the side of the support ring 4 and is reflected upward. For this reason, in FIG. 5, the upper surface part of the support ring 4 becomes darker than FIG. On the other hand, since the mouth portion 1 is further above the support ring 4, the irradiation angle is shallower, the angle is lower, and the support ring 4 is brighter. Thus, the support ring 4 and the mouth portion 1 can be distinguished from each other in the second inspection image. Further, in FIG. 5, a linear defect that has become bright due to reflection by the scratches 43 and 44 inside the support ring 4 appears. Further, if there are burrs 47 and 48 projecting to the side of the support ring 4, white projecting portions in which the second light 15 from the side is reflected by the burrs 47 and 48 are observed. In FIG. 9, burrs 47 and 48 appear as white protrusions protruding from the outer edge of the support ring 4.
Since the notch mark 41 is often on the upper surface of the support ring 4, the notch mark 41 may not be clearly identified in the second inspection image.

＜第３検査画像＞
図６の第３検査画像は、図４の第１検査画像と図５の第２検査画像とを差分処理した画像である。具体的には、第３検査画像は、第１検査画像（図４）の輝度から第２検査画像（図５）の輝度を差し引いて得られる。図６に示すように、第１検査画像（図４）と第２検査画像（図５）との間でその輝度が異なるサポートリング４の上面にあたる領域のみが明るくなっている。そこで、第３検査画像によってサポートリング４の検査領域を特定できる。
また、第３検査画像は、第１検査画像に比べて切欠きマーク４１のエッジ部分が強調されており、切欠きマーク４１を比較的明瞭に識別できる。この場合、あらかじめ切欠きマーク４１の形状はわかっているので、パターンマッチングによって切欠きマーク４１を特定できる。そこで、第３検査画像（図６）に基づいて切欠きマーク４１を検出し、第１検査画像及び第２検査画像において、その領域をマスクすることで、切欠きマーク４１を欠陥として誤検出することを抑制できる。
なお、サポートリング４の切欠きマーク４１の検出は、第１検査画像又は第３検査画像のいずれで行ってもよい。 <Third inspection image>
The third inspection image in FIG. 6 is an image obtained by performing difference processing on the first inspection image in FIG. 4 and the second inspection image in FIG. 5. Specifically, the third inspection image is obtained by subtracting the luminance of the second inspection image (FIG. 5) from the luminance of the first inspection image (FIG. 4). As shown in FIG. 6, only the area corresponding to the upper surface of the support ring 4 whose brightness differs between the first inspection image (FIG. 4) and the second inspection image (FIG. 5) is bright. Therefore, the inspection area of the support ring 4 can be specified by the third inspection image.
Further, the edge portion of the notch mark 41 is emphasized in the third inspection image as compared with the first inspection image, and the notch mark 41 can be identified relatively clearly. In this case, since the shape of the notch mark 41 is known in advance, the notch mark 41 can be specified by pattern matching. Therefore, the cutout mark 41 is detected based on the third inspection image (FIG. 6), and the cutout mark 41 is erroneously detected as a defect by masking the region in the first inspection image and the second inspection image. This can be suppressed.
Note that the detection of the notch mark 41 on the support ring 4 may be performed on either the first inspection image or the third inspection image.

＜サポートリングの検査方法＞
図７は、実施の形態１に係るサポートリング付き容器１０のサポートリング４の検査方法のフローチャートである。
（１）サポートリング付き容器１０のサポートリング４の上方から第１光源１２によって第１の光１３を照射する（Ｓ０１）。具体的には、サポートリング４の鉛直上方に設けられたフラット形状の第１光源１２から第１の光１３、例えば赤色光を照射する。
（２）サポートリング４の側方から第２光源１４によって第２の光１５を照射する（Ｓ０２）。具体的には、サポートリング４の側方上部に設けられた環状形状の第２光源１４から第２の光１５、例えば青色光を照射する。
（３）サポートリング４からの第１の光１３の反射光による第１検査画像及び第２の光１５の反射光による第２検査画像をカメラ１６によって取得する（Ｓ０３）。具体的には、カメラ１６において、第１の光１３の反射光と第２の光１５の反射光とを同時に撮像する場合には、第１の光１３の反射光と第２の光１５の反射光とを波長分離によってそれぞれの撮像画像を得る。つまり、第１の光１３の反射光から第１検査画像を取得し、第２の光１５の反射光から第２検査画像を取得する。なお、時分割撮像の場合は、第１の光１３の反射光と、第２の光１５の反射光とを切り替えてそれぞれ別々のタイミングで撮像して、第１の光１３の反射光による第１検査画像及び第２の光１５の反射光による第２検査画像を取得する。
（４）第１検査画像及び第２検査画像に基づいてサポートリング４の欠陥を検出する（Ｓ０４）。具体的には、第１検査画像に基づいてサポートリング４の上面の黒点４２又は汚れ、異物欠陥を検出する。また、第２検査画像に基づいてサポートリング４のバリ４７，４８、欠け及びキズのうち少なくとも１種類の欠陥を検出する。
以上によって、サポートリング付き容器１０のサポートリング４の欠陥４２〜４８を検出することができる。 <Support ring inspection method>
FIG. 7 is a flowchart of a method for inspecting the support ring 4 of the container 10 with a support ring according to the first embodiment.
(1) The 1st light 13 is irradiated from the upper direction of the support ring 4 of the container 10 with a support ring by the 1st light source 12 (S01). Specifically, the first light 13, for example, red light, is emitted from the flat first light source 12 provided vertically above the support ring 4.
(2) The second light source 14 emits the second light 15 from the side of the support ring 4 (S02). Specifically, the second light 15, for example, blue light, is emitted from an annular second light source 14 provided on the upper side of the support ring 4.
(3) The first inspection image by the reflected light of the first light 13 from the support ring 4 and the second inspection image by the reflected light of the second light 15 are acquired by the camera 16 (S03). Specifically, when the camera 16 captures the reflected light of the first light 13 and the reflected light of the second light 15 at the same time, the reflected light of the first light 13 and the reflected light of the second light 15 Each captured image is obtained by wavelength separation of reflected light. That is, the first inspection image is acquired from the reflected light of the first light 13, and the second inspection image is acquired from the reflected light of the second light 15. Note that in the case of time-division imaging, the reflected light of the first light 13 and the reflected light of the second light 15 are switched and imaged at different timings, and the first light 13 reflected by the reflected light. The first inspection image and the second inspection image by the reflected light of the second light 15 are acquired.
(4) A defect of the support ring 4 is detected based on the first inspection image and the second inspection image (S04). Specifically, black spots 42 on the upper surface of the support ring 4, dirt, or foreign matter defects are detected based on the first inspection image. Further, at least one type of defect is detected among burrs 47 and 48 of the support ring 4, a chip and a scratch based on the second inspection image.
By the above, the defects 42-48 of the support ring 4 of the container 10 with a support ring can be detected.

なお、本開示においては、前述した様々な実施の形態及び／又は実施例のうちの任意の実施の形態及び／又は実施例を適宜組み合わせることを含むものであり、それぞれの実施の形態及び／又は実施例が有する効果を奏することができる。 It should be noted that the present disclosure includes appropriately combining any of the various embodiments and / or examples described above, and each of the embodiments and / or examples. The effect which an Example has can be show | played.

本発明に係るサポートリング検査装置及びサポートリング検査方法によれば、バリ、欠け、キズ等の形状欠陥と、上面の黒点、異物、汚れ等の欠陥とを同時に検出できると共に、切欠きマークも判別でき、高い検査精度を有する。 According to the support ring inspection apparatus and the support ring inspection method of the present invention, it is possible to simultaneously detect shape defects such as burrs, chips and scratches and defects such as black spots on the upper surface, foreign matter and dirt, and also distinguish notch marks. And high inspection accuracy.

１口部
２胴部（側壁）
３底部
４サポートリング
１０サポートリング付き容器（プリフォーム）
１２第１光源
１３第１の光
１４第２光源
１５第２の光
１６カメラ
１８検査部
２０サポートリング検査装置
２１ＣＰＵ
２２メモリ
２３記憶部
２４表示部
２５入力部
２６インタフェース
３１サポートリング欠陥検出部
３２第１検査画像検査部
３３第２検査画像検査部
３４第３検査画像生成部
３５切欠きマーク領域検出部
３６切欠きマーク領域マスク部
４１切欠きマーク
４２黒点
４３キズ１
４４キズ２
４５、４６切れ目（われ目）
４７、４８バリ 1 mouth 2 body (side wall)
3 Bottom 4 Support ring 10 Container with support ring (preform)
12 first light source 13 first light 14 second light source 15 second light 16 camera 18 inspection unit 20 support ring inspection device 21 CPU
22 memory 23 storage unit 24 display unit 25 input unit 26 interface 31 support ring defect detection unit 32 first inspection image inspection unit 33 second inspection image inspection unit 34 third inspection image generation unit 35 notch mark region detection unit 36 notch Mark area mask part 41 Notch mark 42 Black spot 43 Scratch 1
44 Scratch 2
45, 46 Cut (break)
47, 48 Bali

Claims

A first light source that emits first light from above the support ring of the support ring-equipped container;
A second light source that emits second light from a side of the support ring;
A camera for obtaining a first inspection image by the reflected light of the first light from the support ring and a second inspection image by the reflected light of the second light;
An inspection unit for detecting defects in the support ring based on the first inspection image and the second inspection image;
A support ring inspection device for a container with a support ring.

The support ring inspection apparatus according to claim 1, wherein the first light and the second light have different wavelengths.

3. The support ring inspection apparatus according to claim 1, wherein the inspection unit sets an inspection region of the support ring based on a third inspection image obtained by differentially processing the first inspection image and the second inspection image. .

The inspection unit detects a notch mark region of the support ring based on the first inspection image or a third inspection image obtained by differentially processing the first inspection image and the second inspection image. 4. The support ring inspection device according to any one of 3 above.

The said inspection part masks the said notch mark area | region detected about the said 1st inspection image and the said 2nd inspection image, and detects the defect of the said support ring about other area | regions. Support ring inspection device.

Irradiating the first light from above the support ring of the container with the support ring;
Irradiating a second light from the side of the support ring;
Obtaining a first inspection image by the reflected light of the first light from the support ring and a second inspection image by the reflected light of the second light;
Detecting a defect of the support ring based on the first inspection image and the second inspection image;
A support ring inspection method for a container with a support ring, including: