JP7224790B2 - 磁界発生装置、磁気記録媒体処理装置および磁界発生方法 - Google Patents

Description

本発明は、磁界発生装置、磁気記録媒体処理装置および磁界発生方法に関する。

近年、キャッシュカード等の磁気カードに記録されている情報を詐取するスキミングと言われる犯罪が増えている。そのスキミングへの対応策として、カードリーダのカード挿入口に妨害磁界を発生させる装置を取り付ける技術が考えられている（例えば、特許文献１参照。）。

特表２００８－５０４５９９号公報

上述した一般的な妨害磁界の発生装置は、ランダムなタイミングでコイルに電流を流すことで磁界を発生させ、スキミングヘッドに磁気ノイズを与えて出力を乱し、磁気データの詐取を妨害するものである。しかしながら、コイルを用いた磁界の発生を繰り返し行うと、コイルに流れる電流によってコイルが発熱し、コイルが損傷するおそれがある。

そこで、本発明の目的は、セキュリティ性を維持しながら、コイルの損傷を防止することができる磁界発生装置、磁気記録媒体処理装置および磁界発生方法を提供することである。

上記課題を解決するため、本発明の磁界発生装置は、磁界を発生する磁界発生部と、
前記磁界発生部に電圧を印加する、または前記磁界発生部に電流を流す駆動部と、
前記磁界発生部の温度と共に値が変化する状態情報を取得する監視部と、
前記監視部が取得した状態情報に基づいて、前記駆動部が印加する電圧、または前記駆動部が流す電流を制御する制御部とを有することを特徴とする。

本発明の磁界発生装置では、磁界発生部の温度と共に値が変化する状態情報に応じて、妨害磁界を発生させるために磁界発生部に印加する電圧、または磁界発生部に流す電流の大きさを変化させる。そのため、本発明では、磁界発生部の損傷を回避しながら、スキミングを防止することができる。

本発明において、前記制御部は、前記監視部が取得した状態情報が示す値と所定の閾値との比較の結果に基づいて、前記駆動部が前記磁界発生部に印加する電圧を、現在印加している電圧から該電圧とは異なる電圧へ変更する、または前記駆動部が前記磁界発生部に流す電流を、現在流している電流から該電流とは異なる電流へ変更する。この場合には、状態情報と閾値との比較の結果に基づいて、電圧または電流を変更するため、その変更の制御を容易に行うことができる。

本発明において、磁界発生装置は、前記監視部は、前記状態情報として、前記磁界発生部に流れる電流値を取得し、
前記制御部は、前記監視部が取得した電流値に基づいて、前記駆動部が印加する電圧、または前記駆動部が流す電流を制御する。この場合には、電流値のみを測定するだけで良いため、温度センサなどの追加の装備が不要となり、装置のコストを低減することができる。

本発明において、磁界発生装置は、前記制御部は、前記監視部が取得した電流値が所定の第１の電流閾値を下回った場合、前記駆動部が前記磁界発生部に印加する電圧を、現在印加している第１の電圧の最大値よりも最大値が低い第２の電圧へ変更する。この場合には、電圧を低いものへ変更するための基準を設けることで制御をしやすくすることができる。また、磁界発生部の損傷を未然に防止することができる。

本発明において、磁界発生装置は、前記制御部は、前記磁界発生部に印加する電圧を前記第２の電圧へ変更した後、前記監視部が取得した電流の値が前記第１の電流閾値よりも大きな値である第２の電流閾値を超えた場合、前記磁界発生部に印加する電圧を前記第１の電圧へ変更する。この場合には、電圧を元の値に戻すための基準を設けることで制御をしやすくすることができる。

本発明において、磁界発生装置は、前記制御部は、所定の固定磁界パターンを出力し、
前記駆動部は、前記制御部から出力された固定磁界パターンに応じた電圧を前記磁界発生部に印加し、
前記監視部は、前記駆動部が前記固定磁界パターンに応じた電圧を前記磁界発生部に印加したときの前記磁界発生部に流れる電流値を取得する。この場合には、磁界発生部に流れる電流値を測定しやすくすることができる。

本発明において、磁界発生装置は、電流値と温度とを対応付けたテーブルを有し、
前記制御部は、前記監視部が取得した電流値と対応付けられた温度を前記テーブルから読み出し、該読み出した温度に基づいて、前記駆動部が印加する電圧を制御する。この場合には、磁界発生部の温度を基準として磁界発生部に印加する電圧を制御することができる。

本発明において、磁界発生装置は、前記制御部は、前記テーブルから読み出した温度が所定の第１の温度閾値を超えた場合、前記駆動部が前記磁界発生部に印加する電圧を、現在印加している第１の電圧の最大値よりも最大値が低い第２の電圧へ変更する。この場合には、電圧を低いものへ変更するための基準を設けることで制御をしやすくすることができる。

本発明において、磁界発生装置は、前記磁界発生部に印加する電圧を前記第２の電圧へ変更した後、前記テーブルから読み出した温度が前記第１の温度閾値よりも小さな値である第２の温度閾値を下回った場合、前記駆動部が前記磁界発生部に印加する電圧を前記第１の電圧へ変更する。この場合には、電圧を元の値に戻すための基準を設けることで制御をしやすくすることができる。

上記課題を解決するため、本発明の磁気記録媒体処理装置は、磁気カードが挿入されるカード挿入口と、
前記カード挿入口に挿入された磁気カードから所定の情報を読み取る情報読み取り部と、
前記磁気カードに記録された磁気データの不正な読み取りを妨害するための磁界発生装置であって、
磁界を発生する磁界発生部と、
前記磁界発生部に電圧を印加する、または前記磁界発生部に電流を流す駆動部と、
前記磁界発生部の温度と共に値が変化する状態情報を取得する監視部と、
前記監視部が取得した状態情報に基づいて、前記駆動部が印加する電圧、または前記駆動部が流す電流を制御する制御部とを具備する磁界発生装置とを有することを特徴とする。

本発明の磁気記録媒体処理装置では、挿入された磁気カードから所定の情報を読み取る際、磁界発生部の温度と共に値が変化する状態情報に応じて、妨害磁界を発生させるために磁界発生部に印加する電圧、または磁界発生部に流す電流の大きさを変化させる。そのため、本発明では、磁界発生部の損傷を回避しながら、スキミングを防止することができる。

上記課題を解決するため、本発明の磁界発生方法は、磁界を発生するコイルに電圧を印加する、または前記コイルに電流を流す処理と、
前記コイルの温度と共に値が変化する状態情報を取得する処理と、
前記取得した状態情報に基づいて、前記コイルに印加する電圧、または前記コイルに流す電流を制御する処理とを行うことを特徴とする。

本発明の磁界発生方法では、コイルの温度と共に値が変化する状態情報に応じて、妨害磁界を発生させるためにコイルに印加する電圧、またはコイルに流す電流の大きさを変化させる。そのため、本発明では、コイルの損傷を回避しながら、スキミングを防止することができる。

本発明において、磁界発生方法では、前記取得した状態情報が示す値と所定の閾値とを比較する処理と、
前記比較の結果に基づいて、前記コイルに印加する電圧を、現在印加している電圧から該電圧とは異なる電圧へ変更する、または前記コイルに流す電流を、現在流している電流から該電流とは異なる電流へ変更する処理を行う。この場合には、状態情報と閾値との比較の結果に基づいて、電圧または電流を変更するため、その変更の制御を容易に行うことができる。

本発明において、磁界発生方法では、前記状態情報として前記コイルに流れる電流値を取得する処理と、
前記取得した電流値に基づいて、前記コイルに印加する電圧、または前記コイルに流す電流を制御する処理とを行う。この場合には、電流値のみを測定するだけで良いため、温度センサなどの追加の装備が不要となり、装置のコストを低減することができる。

本発明において、磁界発生方法では、前記取得した電流値が所定の第１の電流閾値を下回った場合、前記コイルに印加する電圧を、現在印加している第１の電圧の最大値よりも最大値が低い第２の電圧へ変更する処理を行う。この場合には、電圧を低いものへ変更するための基準を設けることで制御をしやすくすることができる。

本発明において、磁界発生方法では、前記取得した電流値と対応付けられた温度を、電流値と温度とを対応付けたテーブルから読み出す処理と、
前記テーブルから読み出した温度に基づいて、前記コイルに印加する電圧を制御する処理とを行う。この場合には、コイルの温度を基準としてコイルに印加する電圧を制御することができる。

本発明において、磁界発生方法では、前記テーブルから読み出した温度が所定の第１の温度閾値を超えた場合、前記コイルに印加する電圧を、現在印加している第１の電圧の最大値よりも最大値が低い第２の電圧へ変更する処理を行う。この場合には、電圧を低いものへ変更するための基準を設けることで制御をしやすくすることができる。

以上説明したように、本発明においては、セキュリティ性を維持しながら、コイルの損傷を防止することができる。

本発明の磁界発生装置を搭載したカードリーダの一構成例を示す図である。 本発明の磁界発生装置の第１の実施の形態を示す図である。 一般的な妨害磁界を発生した場合のコイルの温度の時間的変化の様子の一例を示す図である。 図２に示したコイルに流れる電流値とコイルの温度との関係の一例を示すグラフである。 図２に示した制御部における磁界発生の制御の一例を示す図である。 図２に示した制御部が駆動部を用いてコイルに発生させた固定磁界パターンと監視部が測定した電流値との関係の一例を示す図である。 図２に示した磁界発生装置における磁界発生方法の一例を説明するためのフローチャートである。 本発明の磁界発生装置の第２の実施の形態を示す図である。 図８に示した制御部における磁界発生の制御の一例を示す図である。 図８に示した磁界発生装置における磁界発生方法の一例を説明するためのフローチャートである。

以下に本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。

（磁界発生装置の搭載例）
図１は、本発明の磁界発生装置を搭載したカードリーダの一構成例を示す図である。ここで、カードリーダは、所定の情報が磁気的方式を用いて書き込まれた（記録された）磁気カードから情報を読み取り、所定の処理を行う磁気記録媒体処理装置である。磁界発生装置１００は、磁気カードに記録された磁気データの不正な読み取りを妨害するための装置であって、詳細な内部構成については、後述する。磁界発生装置１００を搭載したカードリーダ２００には図１に示すように、カード挿入口２０１と、カード挿入検出機構２０２と、シャッタ２０３と、搬送ローラ２０４と、情報読み取り機構２０５とが具備されている。カード挿入検出機構２０２は、カード挿入口２０１に磁気カードが挿入されたことを検出する。搬送ローラ２０４は、カード挿入口２０１から挿入された磁気カードを搬送する。情報読み取り機構２０５は、挿入された磁気カードから情報を読み取る。

（第１の実施の形態）
図２は、本発明の磁界発生装置の第１の実施の形態を示す図である。本形態における磁界発生装置１００は図１に示したカードリーダ２００に搭載された磁界発生装置であって、図２に示すように、コイル１１０と、駆動部１２０と、監視部１３０と、制御部１４０とを有する。磁界発生装置１００は、磁気カードリーダに設けられているものであって、例えば、磁気を用いて情報が記録された媒体（以下、磁気カードと称する）の挿入口の周辺等の、スキミングヘッドに磁気ノイズ（妨害磁界）を与えることができる位置に設置されている。図２には、本形態における磁界発生装置１００が具備する構成要素のうち、本実施の形態に関わる主要な構成要素の一例を示す。

コイル１１０は、電圧が印加されることで電流が流れ、磁界を発生させる磁界発生部である。
駆動部１２０は、コイル１１０に電圧を印加する。駆動部１２０は、制御部１４０から出力された所定の妨害磁界パターンおよび固定磁界パターンに応じた電圧をコイル１１０に印加する。
監視部１３０は、コイル１１０の温度と共に変化する状態情報を取得する。本形態においてこの状態情報は、コイル１１０に流れる電流値である。監視部１３０は、駆動部１２０が固定磁界パターンに応じた電圧をコイル１１０に印加したときのコイル１１０に流れる電流の電流値を測定（取得）する。また、監視部１３０は、コイル１１０の断線、短絡等を検出する機能を備えていても良い。
制御部１４０は、監視部１３０が取得した状態情報（本形態においては、コイル１１０に流れる電流値）に基づいて、駆動部１２０がコイル１１０に印加する電圧を制御する。制御部１４０は、監視部１３０が測定（取得）した電流値が所定の第１の電流閾値と等しくなった場合、または第１の電流閾値を下回った場合、駆動部１２０がコイル１１０に印加する電圧を、現在印加している電圧（第１の電圧）の最大値よりも最大値が低い電圧（第２の電圧）へ変更する。制御部１４０は、コイル１１０に印加する電圧を第２の電圧へ変更した後、監視部１３０が測定（取得）した電流の値が第１の電流閾値よりも大きな値である第２の電流閾値に達した場合、または第２の電流閾値を超えた場合、コイル１１０に印加する電圧を第１の電圧へ変更する（戻す）。また、制御部１４０は、監視部１３０が電流値を測定するために、所定の固定磁界パターンを出力する。このとき、制御部１４０は、固定磁界パターンを所定の周期（例えば、１秒周期）で出力する。固定磁界パターンは、ランダムなタイミングで出力されるものであっても良い。固定磁界パターンの一例は、駆動部１２０がコイル１１０に所定の電圧をパルス状に１回のみ印加するものである。固定磁界パターンは、駆動部１２０がコイル１１０に所定の電圧をパルス状に２回印加して、その２つのパルス間で電流値を測定するようなものであっても良い。

図３は、一般的な妨害磁界を発生した場合のコイルの温度の時間的変化の様子の一例を示す図である。図３に示すように、コイルに電圧を印加して電流を流すと、磁界が発生する。磁界発生の時間経過に伴ってコイルの温度が上昇する。そして、コイルの温度がある一定の温度に達すると、上昇した熱でコイルが損傷し、磁界の発生が停止する。

本発明は、このようなコイルの損傷を防止するために、コイルの温度の上昇を低減させるような制御を行う。

コイル１１０を構成する導線の抵抗値は、コイル１１０の温度に応じて変化する。具体的には、コイル１１０の温度が低い場合は抵抗値は小さく、コイル１１０の温度が高い場合は抵抗値は大きい。したがって、コイル１１０に印加する電圧値が一定であると、コイル１１０の温度が低い場合はコイル１１０に流れる電流の大きさが大きく、コイル１１０の温度が高い場合はコイル１１０に流れる電流の大きさが小さくなる。

図４は、図２に示したコイル１１０に流れる電流値とコイル１１０の温度との関係の一例を示すグラフである。図４に示すように、コイル１１０に印加する電圧値が一定であると、コイル１１０の温度が低い場合はコイル１１０に流れる電流値が大きく、コイル１１０の温度が高い場合はコイル１１０に流れる電流値が小さくなる。

図５は、図２に示した制御部１４０における磁界発生の制御の一例を示す図である。図５に示した例では、電流の時間的変化が直線的に増加または減少しているように示しているが、これは説明の便宜上の表示であって、実際は必ずしも直線的に変化するとは限らない。

まず、妨害磁界発生の停止状態から、コイル１１０に所定の強さの磁界を発生させるように、電圧（第１の電圧）を印加して電流を流す。この第１の電圧は、その値がランダムなものであり、コイル１１０から発生する磁界によって、スキミングを十分に妨害できるレベルのものである。また、この第１の電圧を印加して行う動作モードを「強モード」とする。その後、コイル１１０の温度が上昇することにより、コイル１１０に流れる電流値が小さくなり、その電流値が第１の電流閾値（閾値ＩＬ）を下回ると、制御部１４０は、駆動部１２０がコイル１１０に印加する電圧を、現在印加している第１の電圧の最大値よりも最大値が低い電圧（第２の電圧）へ変更する。この第２の電圧は、コイル１１０から発生する磁界によって、スキミングをある程度妨害できるレベルのものである。また、この第２の電圧を印加して行う動作モードを「弱モード」とする。すると、コイル１１０の温度が低下し、コイル１１０に流れる電流値が大きくなる。その後、コイル１１０を流れる電流値が、第１の電流閾値よりも大きな第２の電流閾値（閾値ＩＨ）を超えると、制御部１４０は、駆動部１２０がコイル１１０に印加する電圧を、現在印加している第２の電圧から第１の電圧へ変更する（印加する電圧を戻す）。こうすることで、動作モードが「強モード」へ戻る。その後は、コイル１１０に流れる電流値と２つの電流閾値との比較に基づいて、制御部１４０は動作モードを変更する。

図６は、図２に示した制御部１４０が駆動部１２０を用いてコイル１１０に発生させた固定磁界パターンと監視部１３０が測定した電流値との関係の一例を示す図である。図６に示すように、磁界発生装置１００がスキミングを防止する動作中においては、制御部１４０からの制御に従って、駆動部１２０はコイル１１０にランダムなタイミングおよび強さで電圧を印加して磁界を発生させている。制御部１４０は、このランダムな磁界発生の合間に、駆動部１２０を用いてコイル１１０に固定磁界パターンを発生させる。コイル１１０にこの固定磁界パターンを発生させたときの電流Ａを監視部１３０は測定する。電流Ａとしては、固定磁界パターンのうち電流値が安定した箇所の電流が測定しやすい。固定磁界パターンを発生させずに、妨害磁界パターンが発生しているときの電流を測定するようにしても良い。

以下に、図２に示した磁界発生装置１００における磁界発生方法について説明する。図７は、図２に示した磁界発生装置１００における磁界発生方法の一例を説明するためのフローチャートである。

まず、制御部１４０は、駆動部１２０を用いてコイル１１０に電圧（第１の電圧）を印加する（ステップＳ１）。これにより、コイル１１０には電流が流れ、コイル１１０は妨害磁界を発生する。このときの妨害磁界発生の動作モードは「強モード」となる。制御部１４０は、駆動部１２０がコイル１１０に所定の固定磁界パターンに応じた電圧を印加するタイミングであるかどうかを判定する（ステップＳ２）。このタイミングは、あらかじめ設定されたものであっても良いし、磁界発生装置１００の動作状態や周囲の環境状況に応じて算出されるものであっても良い。駆動部１２０がコイル１１０に所定の固定磁界パターンに応じた電圧を印加するタイミングである場合、制御部１４０は、所定の固定磁界パターンを出力し、駆動部１２０は制御部１４０から出力された固定磁界パターンに応じた電圧をコイル１１０に印加する（ステップＳ３）。固定磁界パターンに応じた電圧がコイル１１０に印加されたとき、監視部１３０はコイル１１０に流れる電流値を測定する（ステップＳ４）。

制御部１４０は、監視部１３０が測定した電流値が、あらかじめ設定されている第１の電流閾値と等しくなった、または第１の電流閾値を下回ったかどうかを判定する（ステップＳ５）。監視部１３０が測定した電流値が第１の電流閾値と等しくなった場合、または第１の電流閾値を下回った場合、制御部１４０は、駆動部１２０がコイル１１０に印加する電圧を、現在の電圧の最大値よりも最大値が低い電圧へ変更する（ステップＳ６）。駆動部１２０は変更された電圧をコイル１１０に印加する（ステップＳ７）。このときの妨害磁界発生の動作モードは「弱モード」となる。その後、制御部１４０は、駆動部１２０がコイル１１０に所定の固定磁界パターンに応じた電圧を印加するタイミングであるかどうかを判定する（ステップＳ８）。駆動部１２０がコイル１１０に所定の固定磁界パターンに応じた電圧を印加するタイミングである場合、制御部１４０は、所定の固定磁界パターンを出力し、駆動部１２０は制御部１４０から出力された固定磁界パターンに応じた電圧をコイル１１０に印加する（ステップＳ９）。このステップＳ９の処理はステップＳ３の処理と同じものであっても良いし、そのとき動作している動作モードに応じた電圧を印加するものであって良い。固定磁界パターンに応じた電圧がコイル１１０に印加されたとき、監視部１３０はコイル１１０に流れる電流値を測定する（ステップＳ１０）。

制御部１４０は、監視部１３０が測定した電流値が、あらかじめ設定されている第２の電流閾値に達した、または第２の電流閾値を超えたかどうかを判定する（ステップＳ１１）。監視部１３０が測定した電流値が第２の電流閾値に達した場合、または第２の電流閾値を超えた場合、制御部１４０は、駆動部１２０がコイル１１０に印加する電圧を元の電圧、つまりステップＳ１で印加した電圧へ戻す（ステップＳ１２）。

なお、制御部１４０は、監視部１３０が取得した電流値が所定の第１の電流閾値を下回った場合、駆動部１２０がコイル１１０に電圧を間欠的に印加するものとするものであっても良い。この場合、駆動部１２０がコイル１１０に電圧を印加しない時間は、０に近いほど良いが、実際はコイル１１０に電圧を印加する時間が７ｍｓであり、且つ電圧を印加しない時間が１３ｍｓ程度の使用条件範囲内とすることが好ましい。また、制御部１４０は、監視部１３０が取得した電流値が所定の第１の電流閾値を下回った場合、駆動部１２０がコイル１１０に印加する電圧の周波数を変更する（例えば、周波数の低いものへ変更する）ものであっても良い。

このように、本形態においては、コイルに流れる電流値に応じて、妨害磁界を発生させるためにコイルに印加する電圧の大きさを変化させる。そのため、コイルの損傷を回避しながら、スキミングを防止することができる。

（第２の実施の形態）
図８は、本発明の磁界発生装置の第２の実施の形態を示す図である。本形態における磁界発生装置１０１は図８に示すように、コイル１１１と、駆動部１２１と、監視部１３１と、制御部１４１と、テーブル１５１とを有する。磁界発生装置１０１は、磁気カードリーダに設けられているものであって、例えば、磁気カードの挿入口の周辺等の、スキミングヘッドに磁気ノイズを与えることができる位置に設置されている。図８には、本形態における磁界発生装置１０１が具備する構成要素のうち、本実施の形態に関わる主要な構成要素の一例を示す。

コイル１１１は、電圧が印加されることで電流が流れ、磁界を発生させる磁界発生部である。
駆動部１２１は、コイル１１１に電圧を印加する。駆動部１２１は、制御部１４１から出力された固定磁界パターンに応じた電圧をコイル１１１に印加する。
監視部１３１は、コイル１１１に流れる電流値を測定する。監視部１３１は、駆動部１２１が固定磁界パターンに応じた電圧をコイル１１１に印加したときのコイル１１１に流れる電流の電流値を測定する。
制御部１４１は、監視部１３１が測定した、コイル１１１に流れる電流値と対応付けられた温度をテーブル１５１から読み出す。制御部１４１は、テーブル１５１から読み出した温度に基づいて、駆動部１２１が印加する電圧を制御する。制御部１４１は、テーブル１５１から読み出した温度が所定の第１の温度閾値を超えた場合、駆動部１２１がコイル１１１に印加する電圧を、現在印加している電圧（第１の電圧）の最大値よりも最大値が低い電圧（第２の電圧）へ変更する。制御部１４１は、コイル１１１に印加する電圧を第２の電圧へ変更した後、テーブル１５１から読み出した温度が第１の温度閾値よりも小さな値である第２の温度閾値を下回った場合、コイル１１１に印加する電圧を第１の電圧へ変更する（戻す）。また、制御部１４１は、監視部１３１が電流値を測定するために、所定の固定磁界パターンを出力する。このとき、制御部１４１は、固定磁界パターンを所定の周期で出力するものであっても良い。
テーブル１５１は、電流値と温度とをあらかじめ対応付けて記憶している。テーブル１５１に記憶されている対応付けは、図４に示したようなものであっても良く、コイル１１１に印加する電圧値について、コイル１１１の温度とそのときコイル１１１に流れる電流とが対応付けられている表やグラフであっても良い。この対応付けを用いることで、コイル１１１に流れる電流値を測定するだけで、温度計や温度センサを用いずにコイル１１１の温度を取得することができる。特に、磁界発生装置に温度計や温度センサが具備されておらず、コイル１１１を流れる電流を監視する電流監視回路が具備されている場合に好適となる。

図９は、図８に示した制御部１４１における磁界発生の制御の一例を示す図である。図９に示した例では、電流の時間的変化が直線的に増加または減少しているように示しているが、これは説明の便宜上の表示であって、実際は必ずしも直線的に変化するとは限らない。

まず、妨害磁界発生の停止状態から、コイル１１１に所定の強さの磁界を発生させるように、電圧（第１の電圧）を印加して電流を流す。この第１の電圧は、その値がランダムなものであり、コイル１１１から発生する磁界によって、スキミングを十分に妨害できるレベルのものである。また、この第１の電圧を印加して行う動作モードを「強モード」とする。その後、コイル１１１の温度が上昇し、その温度が第１の温度閾値（閾値ＴＨ）を超えると、制御部１４１は、駆動部１２１がコイル１１１に印加する電圧を、現在印加している第１の電圧の最大値よりも最大値が低い電圧（第２の電圧）へ変更する。この第２の電圧は、コイル１１１から発生する磁界によって、スキミングをある程度妨害できるレベルのものである。また、この第２の電圧を印加して行う動作モードを「弱モード」とする。すると、コイル１１１の温度が低下し、その温度が、第１の温度閾値よりも小さな第２の温度閾値（閾値ＴＬ）を下回ると、制御部１４１は、駆動部１２１がコイル１１１に印加する電圧を、現在印加している第２の電圧から第１の電圧へ変更する（印加する電圧を戻す）。こうすることで、動作モードが「強モード」へ戻る。その後は、コイル１１１の温度と２つの温度閾値との比較に基づいて、制御部１４１は動作モードを変更する。

以下に、図８に示した磁界発生装置１０１における磁界発生方法について説明する。図１０は、図８に示した磁界発生装置１０１における磁界発生方法の一例を説明するためのフローチャートである。

まず、制御部１４１は、駆動部１２１を用いてコイル１１１に電圧（第１の電圧）を印加する（ステップＳ２１）。これにより、コイル１１１には電流が流れ、コイル１１１は妨害磁界を発生する。このときの妨害磁界発生の動作モードは「強モード」となる。制御部１４１は、駆動部１２１がコイル１１１に所定の固定磁界パターンに応じた電圧を印加するタイミングであるかどうかを判定する（ステップＳ２２）。このタイミングは、あらかじめ設定されたものであっても良いし、磁界発生装置１００の動作状態や周囲の環境状況に応じて算出されるものであっても良い。駆動部１２１がコイル１１１に所定の固定磁界パターンに応じた電圧を印加するタイミングである場合、制御部１４１は、所定の固定磁界パターンを出力し、駆動部１２１は制御部１４１から出力された固定磁界パターンに応じた電圧をコイル１１１に印加する（ステップＳ２３）。この固定磁界パターンは、第１の実施の形態で説明したものと同じもので良い。固定磁界パターンに応じた電圧がコイル１１１に印加されたとき、監視部１３１はコイル１１１に流れる電流値を測定する（ステップＳ２４）。

制御部１４１は、監視部１３１が測定した電流値と対応付けられている温度をテーブル１５１から読み出す（ステップＳ２５）。続いて、制御部１４１は、テーブル１５１から読み出した温度が、あらかじめ設定されている第１の温度閾値に達した、または第１の温度閾値を超えたかどうかを判定する（ステップＳ２６）。制御部１４１がテーブル１５１から読み出した温度が第１の温度閾値に達した場合、または第１の温度閾値を超えた場合、制御部１４１は、駆動部１２１がコイル１１１に印加する電圧を、現在の電圧の最大値よりも最大値が低い電圧へ変更する（ステップＳ２７）。駆動部１２１は変更された電圧をコイル１１１に印加する（ステップＳ２８）。このときの妨害磁界発生の動作モードは「弱モード」となる。その後、制御部１４１は、駆動部１２１がコイル１１１に所定の固定磁界パターンに応じた電圧を印加するタイミングであるかどうかを判定する（ステップＳ２９）。駆動部１２１がコイル１１１に所定の固定磁界パターンに応じた電圧を印加するタイミングである場合、制御部１４１は、所定の固定磁界パターンを出力し、駆動部１２１は制御部１４１から出力された固定磁界パターンに応じた電圧をコイル１１１に印加する（ステップＳ３０）。このステップＳ３０の処理はステップＳ２３の処理と同じものであっても良いし、そのとき動作している動作モードに応じた電圧を印加するものであって良い。固定磁界パターンに応じた電圧がコイル１１１に印加されたとき、監視部１３１はコイル１１１に流れる電流値を測定する（ステップＳ３１）。

制御部１４１は、監視部１３１が測定した電流値と対応付けられている温度をテーブル１５１から読み出す（ステップＳ３２）。続いて、制御部１４１は、テーブル１５１から読み出した温度が、あらかじめ設定されている第２の温度閾値と等しくなった、または第２の温度閾値を下回ったかどうかを判定する（ステップＳ３３）。監視部１３１が測定した電流値が第２の温度閾値と等しくなった場合、または第２の温度閾値を下回った場合、制御部１４１は、駆動部１２１がコイル１１１に印加する電圧を元の電圧、つまりステップＳ１１で印加した電圧へ戻す（ステップＳ３４）。

なお、制御部１４１は、テーブル１５１から読み出した温度が所定の第１の温度閾値を超えた場合、駆動部１２１がコイル１１１に電圧を間欠的に印加するものとするものであっても良い。この場合、駆動部１２１がコイル１１１に電圧を印加しない時間は、０に近いほど良いが、実際はコイル１１０に電圧を印加する時間が７ｍｓであり、且つ電圧を印加しない時間が１３ｍｓ程度の使用条件範囲内とすることが好ましい。また、制御部１４１は、テーブル１５１から読み出した温度が所定の第１の温度閾値を超えた場合、駆動部１２１がコイル１１１に印加する電圧の周波数を変更するものであっても良い。

このように、本形態においては、コイルの温度に応じて、妨害磁界を発生させるためにコイルに印加する電圧の大きさを変化させる。つまり、コイルの温度が損傷するような温度まで上昇してしまわないように、コイルに印加する電圧を制御する。そのため、コイルの温度上昇による損傷を回避しながら、スキミングを防止することができる。なお、図１に示したカードリーダ２００に、磁界発生装置１００の代わりに、本形態における磁界発生装置１０１を搭載しても良いことは言うまでもない。

（他の実施の形態）
上述した形態は、本発明の好適な形態の一例であるが、これに限定されるものではなく、本発明の要旨を変更しない範囲において種々変形実施が可能である。例えば、状態情報として、コイルに流れる電流値や温度を用いるものを例に挙げて説明したが、コイルから発生する妨害磁界の振幅や、コイルにかかる電圧値を用いるものであっても良い。妨害磁界の振幅は、ホール素子等を用いて測定するものであっても良い。これにより、例えば、別の用途ですでにホール素子が搭載された装置においては、状態情報を取得する素子（回路）をあらたに追加することなく、上述した効果と同じ効果を得ることができる。また、温度計や温度センサがすでに設けられている装置においては、その温度計や温度センサが検出した温度を用いて上述した処理を行うものであっても良い。
また、上述した形態においては、駆動部１２０，１２１それぞれがコイル１１０，１１１それぞれに印加する電圧を制御部１４０，１４１が制御する構成を例を挙げたが、制御部１４０，１４１は、駆動部１２０，１２１それぞれがコイル１１０，１１１それぞれに流す電流を、電圧同様に制御するものであっても良い。また、上述した形態においては、第２の電圧は第１の電圧よりも、その最大値が低いものを例に挙げたが、その平均値が低いものやその実効値が低いものであっても良い。また、上述した形態においては、２つの閾値を設定してコイル１１０，１１１に印加する電圧を制御する例を挙げたが、温度がさらに低い場合等においては、例えば、第３の電流閾値や第３の温度閾値を設定して、さらに高い電圧をコイル１１０，１１１に印加して行う「高強度モード」等へ変更するようにしても良い。これにより、さらにセキュリティ性を高めることができる。

以上、各構成要素に各機能（処理）それぞれを分担させて説明したが、この割り当ては上述したものに限定しない。また、構成要素の構成についても、上述した形態はあくまでも例であって、これに限定しない。また、各実施の形態を組み合わせたものであっても良い。

１００，１０１ 磁界発生装置
１１０，１１１ コイル
１２０，１２１ 駆動部
１３０，１３１ 監視部
１４０，１４１ 制御部
１５１ テーブル
２００ カードリーダ
２０１ カード挿入口
２０２ カード挿入検出機構
２０３ シャッタ
２０４ 搬送ローラ
２０５ 情報読み取り部

Claims (8)

1. 磁界を発生する磁界発生部と、
   前記磁界発生部に電圧を印加する、または前記磁界発生部に電流を流す駆動部と、
   前記磁界発生部の温度と共に値が変化する状態情報を取得する監視部と、
   前記監視部が取得した状態情報に基づいて、前記駆動部が印加する電圧、または前記駆動部が流す電流を制御する制御部とを有し、
   前記監視部は、前記状態情報として、前記磁界発生部に流れる電流値を取得し、
   前記制御部は、前記監視部が取得した電流値が所定の第１の電流閾値を下回った場合、前記駆動部が前記磁界発生部に印加する電圧を、現在印加している第１の電圧の最大値よりも最大値が低い第２の電圧へ変更し、前記磁界発生部に印加する電圧を前記第２の電圧へ変更した後、前記監視部が取得した電流の値が前記第１の電流閾値よりも大きな値である第２の電流閾値を超えた場合、前記駆動部が前記磁界発生部に印加する電圧を前記第１の電圧へ変更する磁界発生装置。
2. 磁界を発生する磁界発生部と、
   前記磁界発生部に電圧を印加する、または前記磁界発生部に電流を流す駆動部と、
   前記磁界発生部の温度と共に値が変化する状態情報を取得する監視部と、
   前記監視部が取得した状態情報に基づいて、前記駆動部が印加する電圧、または前記駆動部が流す電流を制御する制御部と、
   電流値と温度とを対応付けたテーブルとを有し、
   前記監視部は、前記状態情報として、前記磁界発生部に流れる電流値を取得し、
   前記制御部は、前記監視部が取得した電流値と対応付けられた温度を前記テーブルから読み出し、該読み出した温度が所定の第１の温度閾値を超えた場合、前記駆動部が前記磁界発生部に印加する電圧を、現在印加している第１の電圧の最大値よりも最大値が低い第２の電圧へ変更し、前記磁界発生部に印加する電圧を前記第２の電圧へ変更した後、前記テーブルから読み出した温度が前記第１の温度閾値よりも小さな値である第２の温度閾値を下回った場合、前記駆動部が前記磁界発生部に印加する電圧を前記第１の電圧へ変更する磁界発生装置。
3. 請求項１に記載の磁界発生装置において、
   前記制御部は、前記監視部が取得した状態情報が示す値と所定の閾値との比較の結果に基づいて、前記駆動部が前記磁界発生部に印加する電圧を、現在印加している電圧から該電圧とは異なる電圧へ変更する、または前記駆動部が前記磁界発生部に流す電流を、現在流している電流から該電流とは異なる電流へ変更する磁界発生装置。
4. 請求項１または請求項３に記載の磁界発生装置において、
   前記制御部は、所定の固定磁界パターンを出力し、
   前記駆動部は、前記制御部から出力された固定磁界パターンに応じた電圧を前記磁界発生部に印加し、
   前記監視部は、前記駆動部が前記固定磁界パターンに応じた電圧を前記磁界発生部に印加したときの前記磁界発生部に流れる電流値を取得する磁界発生装置。
5. 磁気カードが挿入されるカード挿入口と、
   前記カード挿入口に挿入された磁気カードから所定の情報を読み取る情報読み取り部と、
   前記磁気カードに記録された磁気データの不正な読み取りを妨害するための磁界発生装置であって、請求項１から４のいずれか１項に記載の磁界発生装置とを有する磁気記録媒体処理装置。
6. 磁界を発生するコイルに電圧を印加する、または前記コイルに電流を流す処理と、
   前記コイルの温度と共に値が変化する状態情報を取得する処理と、
   前記取得した状態情報に基づいて、前記コイルに印加する電圧、または前記コイルに流す電流を制御する処理と、
   前記状態情報として前記コイルに流れる電流値を取得する処理と、
   前記取得した電流値が所定の第１の電流閾値を下回った場合、前記コイルに印加する電圧を、現在印加している第１の電圧の最大値よりも最大値が低い第２の電圧へ変更する処理と、
   前記コイルに印加する電圧を前記第２の電圧へ変更した後、前記取得した電流値が前記第１の電流閾値よりも大きな値である第２の電流閾値を超えた場合、前記コイルに印加する電圧を前記第１の電圧へ変更する処理とを行う磁界発生方法。
7. 磁界を発生するコイルに電圧を印加する、または前記コイルに電流を流す処理と、
   前記コイルの温度と共に値が変化する状態情報を取得する処理と、
   前記取得した状態情報に基づいて、前記コイルに印加する電圧、または前記コイルに流す電流を制御する処理と、
   前記状態情報として前記コイルに流れる電流値を取得する処理と、
   前記取得した電流値と対応付けられた温度を、電流値と温度とを対応付けたテーブルから読み出す処理と、
   前記テーブルから読み出した温度が所定の第１の温度閾値を超えた場合、前記コイルに印加する電圧を、現在印加している第１の電圧の最大値よりも最大値が低い第２の電圧へ変更する処理と、
   前記コイルに印加する電圧を前記第２の電圧へ変更した後、前記テーブルから読み出した温度が前記第１の温度閾値よりも小さな値である第２の温度閾値を下回った場合、前記コイルに印加する電圧を前記第１の電圧へ変更する処理とを行う磁界発生方法。
8. 請求項６または請求項７に記載の磁界発生方法において、
   前記取得した状態情報が示す値と所定の閾値との比較の結果に基づいて、前記コイルに印加する電圧を、現在印加している電圧から該電圧とは異なる電圧へ変更する、または前記コイルに流す電流を、現在流している電流から該電流とは異なる電流へ変更する処理を行う磁界発生方法。

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