JP7212901B2 - 集積化プラズモフォトニックバイオセンサおよび使用方法 - Google Patents
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Description
-低屈折率酸化物基板(substrate)SiO2と低屈折率酸化物上板(superstrate)LTOとの間に挟まれる高屈折率窒化ケイ素ストリップを備えるフォトニック導波路のセットと、
-光I/Oとして機能する、センサの両端部の光結合構造と、
-MZIセンサの第1のジャンクションにおける光分割のため、および第1のMZIセンサの第2のジャンクション、特にYジャンクション、方向性カプラまたは多モード干渉カプラ(MMI)における光結合のための光スプリッタおよび光コンバイナと、
-金属と分析物との界面における表面プラズモンポラリトン(SPP)への結合により光伝播を閉じ込める、センサの上方ブランチ内に配置されるプラズモニック導波路と
を備え、
装置は、MZIセンサの基準アーム内に配置されるマッハツェンダ型の追加の光学的に顕著な干渉要素を顕著に備え、MZI要素の両方は、干渉計の両方に最適にバイアスをかけるための熱光学加熱器を備え、全体チップをさらに備え、追加のMZIを備える可変光減衰器VOAは、追加のMZIの第1のジャンクションにおける光分割のため、および追加のMZIの第2のジャンクションにおける光結合のための光スプリッタおよび光コンバイナを配置し、
-各MZIの基準アーム内の光学信号の位相を調整するための熱光学移相器のセットであって、熱光学移相器は、互いに対し平行である2つの金属ストライプを、フォトニック導波路の一部分の上部の上に、および光の伝播の方向に沿って堆積させることにより形成される、熱光学移相器のセットをさらに備える。
-フォトニック導波路の上部酸化物クラッド(cladding)および窒化ケイ素コアをその部分のみでエッチングすることにより形成される空洞を用いて、酸化物上板上に直接堆積された薄い金属ストライプにより構成される「薄膜導波路」(TFW)
-「ハイブリッドプラズモフォトニックスロット導波路」(HPPSW)であって、空洞または追加の処理ステップの必要性なしに、導波路の所定の部分の上部の上に直接堆積される2つの平行な金属ワイヤを備え、金属ストライプの下のフォトニック導波路は、追加のマスクまたは処理ステップなしで、リソグラフィ中に中断され、プラズモニックスロットおよび移相器は、フォトニック導波路のエッチングのない単一のステップにて、および単一金属層堆積ステップで、フォトニック導波路の上部の上に直接堆積され、さらに特に、金属ストライプの離間値(距離Wslot)ならびに金属ストライプの長さおよび幅は、HPPSWおよび熱光学移相器(加熱器)の両方を単一のマスク内に設計するために、センサのマスクの設計中に画定され、よりさらに特に、フォトニック導波路からの光を、プラズモニックスロットへと、そしてフォトニック導波路に戻るように結合するために、方向性結合(directional coupling)が含まれ、プラズモニックスロットの前端および後端のプラズモニックテーパもまた、結合効率の向上のために使用される、「ハイブリッドプラズモフォトニックスロット導波路」
-両方のマッハツェンダ型干渉計に備えられる熱光学加熱器により、可変光減衰器として、干渉計(MZI)に最適にバイアスをかけるステップと、
-第1センサ内に入れ子状に配置される追加の第2の干渉計を有する可変光減衰器(VOA)による、追加の第2の干渉計の第1のジャンクションにおける光分割のため、および第2の干渉計の第2のジャンクションにおける光結合のための光スプリッタおよび光コンバイナを配置するステップと、
-各干渉計(MZI1、MZI2)-(VOA)の基準アーム内の光学信号の位相を、熱光学移相器により調整し、互いに対し平行である2つの金属ストライプを、フォトニック導波路の一部分の上部の上に、および光の伝播の方向に沿って堆積し、それによって熱光学移相器が形成されるステップと
を含み、
-それによって、第1の光干渉センサ内で入れ子状に配置され、その基準アーム内に熱光学移相器を有する追加の光干渉計は、熱光学移相器の駆動信号により制御される可変光減衰器(VOA)として機能し、
-可変光減衰器(VOA)は、第1の干渉センサの基準アーム内の信号の強度を制御するが、第1の干渉センサの基準アーム内の追加の熱光学移相器は、基準アーム内のビームの位相を制御することを可能にし、したがって、干渉計センサが、所望の作業点において電気信号により釣り合わされ、およびバイアスをかけられ得るように、第1の干渉センサの基準アーム内の場の振幅および位相の制御を可能にする。
Claims (16)
- 少なくとも1つの光干渉センサである、チップ上に形成された、10ナノメートル~数100ナノメートルの大きいFSRを有する第1のマッハツェンダ型干渉計(112)を備える装置であって、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)は、
それぞれがフォトニック導波路により形成される上方ブランチおよび下方ブランチと、
それぞれが光入力/出力のそれぞれとして機能する、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の両端部(101、110)の光結合構造と、
前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の第1のジャンクション(102)における光分割のための光スプリッタ、および前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の第2のジャンクション(109)における光結合のための光コンバイナと、
前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記上方ブランチ内に配置されるプラズモニック導波路(107)であって、前記プラズモニック導波路(107)が、前記フォトニック導波路上で平面集積されるプラズモン変換素子として組み込まれ、前記プラズモニック導波路(107)が、金属と分析物との界面における表面プラズモンポラリトンへの結合により光伝播を閉じ込めるように構成される、プラズモニック導波路(107)と、
前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記下方ブランチ内に配置される第2のマッハツェンダ型干渉計(111)であって、前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)は、上方ブランチおよび下方ブランチを備え、前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)が、前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の第1のジャンクションにおける光分割のための光スプリッタ(105)、および前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の第2のジャンクションにおける光結合のための光コンバイナ(108)を備える、第2のマッハツェンダ型干渉計(111)と
を備え、
前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)および前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の両方は、前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)が可変光減衰器として機能するように、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記下方ブランチおよび前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の前記下方ブランチに、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)および前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)に最適にバイアスをかけるための熱光学移相器(104、106)を備え、
前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記熱光学移相器(104)および前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の前記熱光学移相器(106)はそれぞれ、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記下方ブランチ内および前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の前記下方ブランチ内で光学信号の位相を調整するように構成され、前記熱光学移相器(104、106)はそれぞれ、互いに対し平行である2つの金属ストライプを、前記フォトニック導波路の一部分の上部の上に、および光の伝播の方向に沿って堆積させることにより形成される、
装置。 - 前記フォトニック導波路は、SiO2などの低屈折率酸化物基板と、LTOなどの低屈折率酸化物上板との間に挟まれる高屈折率窒化ケイ素ストリップ(303、603)を有する、請求項1記載の装置。
- 前記プラズモニック導波路は、貴金属で作製される、または、
前記プラズモニック導波路は、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、または窒化チタン(TiN)で作製される、請求項1または2記載の装置。 - 前記プラズモニック導波路は、金(Au)または銀(Ag)で作製される、請求項3記載の装置。
- 前記プラズモニック導波路(107)は、薄膜またはハイブリッドスロットを含む、請求項1~4のいずれか1項に記載の装置。
- 前記プラズモニック導波路は、前記フォトニック導波路の上部酸化物クラッドおよび窒化ケイ素コアをその部分のみでエッチングすることにより形成される空洞を用いて酸化物基板上に直接堆積される薄い金属ストライプを備えるいわゆる薄膜導波路(TFW)により構成される導波路で作製される、または、
前記プラズモニック導波路は、空洞または追加の処理ステップの必要性なしに、前記フォトニック導波路の所定の部分の上部の上に直接堆積される2つの平行な金属ワイヤ(202、305)を備えるいわゆるハイブリッドプラズモフォトニックスロット導波路(HPPSW)で作製され、前記金属ワイヤ(202、305)の下の前記フォトニック導波路は、追加のマスクまたは処理ステップなしで、リソグラフィ中に中断され、前記金属ワイヤ(202、305)は、前記フォトニック導波路の上部の上に直接、および前記フォトニック導波路のエッチングのない単一のステップにて、および単一金属層堆積ステップで堆積される、
請求項5記載の装置。 - 前記プラズモニック導波路が、前記ハイブリッドプラズモフォトニックスロット導波路で作製される場合、前記熱光学移相器(104、106)は、前記金属ワイヤ(202、305)と同様に、前記フォトニック導波路の上部の上に直接、および前記フォトニック導波路のエッチングのない単一のステップにて、および単一金属層堆積ステップで堆積され、前記ハイブリッドプラズモフォトニックスロット導波路および前記熱光学移相器(104、106)の両方が単一のマスクを用いて形成されるように、前記金属ワイヤ(202、305)の間の間隔Wslotならびに前記金属ワイヤ(202、305)の長さおよび幅が、前記単一のマスクにより画定される、
請求項6記載の装置。 - 前記装置が、Si、シリコンオンインシュレーター(SOI)、またはTiO2で作製される、または、
前記装置が、Al、Cu、もしくはTiN、またはこれらの材料の化合物で作製される、
請求項1記載の装置。 - 前記プラズモニック導波路(107)と同一寸法の非官能化プラズモニック導波路が、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記下方ブランチ上に設けられ、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)は、前記プラズモニック導波路(107)および前記非官能化プラズモニック導波路の両方を標的分析物が流動するように構成される、請求項1~8のいずれか1項に記載の装置。
- 同一のチップ上で複数の物質を同時に検出するための、請求項1~9のいずれか1項に記載の装置を備える機器であって、前記機器は、複数の第1のマッハツェンダ型干渉計を備え、前記複数の第1のマッハツェンダ型干渉計のそれぞれが、プラズモニック導波路を有する上方ブランチと、熱光学移相器、および可変光減衰器として機能する第2のマッハツェンダ型干渉計を有する下方ブランチとを備え、共通の光スプリッタおよび共通のコンバイナが、すべての前記複数の第1のマッハツェンダ型干渉計に対し、すべての前記複数の第1のマッハツェンダ型干渉計の入力および出力においてそれぞれ配置され、前記複数の第1のマッハツェンダ型干渉計のそれぞれは、前記光スプリッタにより前記複数の第1のマッハツェンダ型干渉計に同時に注入される入力光学信号のうち、前記複数の第1のマッハツェンダ型干渉計の別の第1のマッハツェンダ型干渉計で使用される光学信号の波長とは別個の波長を有する光学信号を使用し、前記複数の第1のマッハツェンダ型干渉計のそれぞれは、前記入力光学信号から、前記複数の第1のマッハツェンダ型干渉計のそれぞれのための波長を有する光学信号を選択するために、前記複数の第1のマッハツェンダ型干渉計のそれぞれの前記上方ブランチおよび前記下方ブランチの入力において、および前記光スプリッタの後に光フィルタを備える、機器。
- 集積化された光源および光学光検出器が、前記複数の第1のマッハツェンダ型干渉計のすべての入力および出力にそれぞれ配置される、請求項10記載の機器。
- 集積化された光源および光学検出器のアレイは、前記複数の第1のマッハツェンダ型干渉計のすべての入力および出力に配置される、請求項10記載の機器。
- 前記熱光学移相器に接続され、前記同一のチップ上に三次元集積化される電子回路により前記熱光学移相器を電気的に制御する、TSVとしても知られる垂直電気ビアを備える、請求項10~12のいずれか1項に記載の機器。
- プラズモン変換素子上で所定の溶液/分析物を流動させるために、前記プラズモニック導波路の表面上に取り付けられる追加の流体チャネルを備える、請求項10~13のいずれか1項に記載の機器。
- 特定の生体および/もしくは化学物質、ならびに/または特定の生体および/もしくは化学分子の検出のための追加の捕獲層が、プラズモン変換素子の表面に生成される、請求項10~14のいずれか1項に記載の機器。
- 請求項1~9のいずれか1項に記載の装置の使用方法であって、前記使用方法は、以下の
前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)および前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の両方に備えられる前記熱光学移相器(104、106)により、前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)が可変光減衰器として機能するように、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)および前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)に最適にバイアスをかけるステップと、
前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記光スプリッタにより、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)に入力される光学信号を前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記上方ブランチおよび前記下方ブランチに分割し、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記光コンバイナにより、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記上方ブランチおよび前記下方ブランチから出力される光学信号を結合するステップと、
前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の前記光スプリッタ(105)により、前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)に入力される光学信号を前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の前記上方ブランチおよび前記下方ブランチに分割し、前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の前記光コンバイナ(108)により、前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の前記上方ブランチおよび前記下方ブランチから出力される光学信号を結合するステップと、
前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記下方ブランチ内および前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の前記下方ブランチ内の光学信号の位相を、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記熱光学移相器(104)および前記第2のマッハツェンダ型干渉計(111)の前記熱光学移相器(106)により調整するステップと
を含み、
前記可変光減衰器は、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記下方ブランチ内の光学信号の強度を制御するが、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記下方ブランチ内の前記熱光学移相器(104)は、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記下方ブランチ内の光学信号の位相を制御することを可能にし、したがって、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)が、所望の作業点において電気信号により釣り合わされ、およびバイアスをかけられ得るように、前記第1のマッハツェンダ型干渉計(112)の前記下方ブランチ内の光学場の振幅および位相の制御を可能にする、
使用方法。
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