JP7187662B2 - アダプタの機能テスト方法及び装置、機器、記憶媒体 - Google Patents

アダプタの機能テスト方法及び装置、機器、記憶媒体 Download PDF

Info

Publication number
JP7187662B2
JP7187662B2 JP2021504459A JP2021504459A JP7187662B2 JP 7187662 B2 JP7187662 B2 JP 7187662B2 JP 2021504459 A JP2021504459 A JP 2021504459A JP 2021504459 A JP2021504459 A JP 2021504459A JP 7187662 B2 JP7187662 B2 JP 7187662B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adapter
voltage
test
test signal
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021504459A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2021532485A (ja
Inventor
ティエン、チェン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guangdong Oppo Mobile Telecommunications Corp Ltd
Original Assignee
Guangdong Oppo Mobile Telecommunications Corp Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guangdong Oppo Mobile Telecommunications Corp Ltd filed Critical Guangdong Oppo Mobile Telecommunications Corp Ltd
Publication of JP2021532485A publication Critical patent/JP2021532485A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7187662B2 publication Critical patent/JP7187662B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40Testing power supplies
    • G01R31/42AC power supplies
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G01R19/1659Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 to indicate that the value is within or outside a predetermined range of values (window)
    • G01R19/16595Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 to indicate that the value is within or outside a predetermined range of values (window) with multi level indication
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40Testing power supplies
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02JCIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
    • H02J7/00Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries
    • H02J7/0029Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries with safety or protection devices or circuits
    • H02J7/00308Overvoltage protection
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02PCONTROL OR REGULATION OF ELECTRIC MOTORS, ELECTRIC GENERATORS OR DYNAMO-ELECTRIC CONVERTERS; CONTROLLING TRANSFORMERS, REACTORS OR CHOKE COILS
    • H02P29/00Arrangements for regulating or controlling electric motors, appropriate for both AC and DC motors
    • H02P29/02Providing protection against overload without automatic interruption of supply
    • H02P29/024Detecting a fault condition, e.g. short circuit, locked rotor, open circuit or loss of load
    • H02P29/0241Detecting a fault condition, e.g. short circuit, locked rotor, open circuit or loss of load the fault being an overvoltage
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16533Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application
    • G01R19/16538Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies
    • G01R19/16547Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies voltage or current in AC supplies
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2827Testing of electronic protection circuits
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10Energy storage using batteries

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Power Sources (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Management Or Editing Of Information On Record Carriers (AREA)

Description

本発明は、電子技術分野に関し、さらに具体的に、アダプタの機能テスト方法及び装置、機器、記憶媒体に関するが、これらに限定されない。
アダプタを介して端末に電力を供給する場合、アダプタの保護メカニズムと充電メカニズムは、端末の安全性にとって非常に重要である。例えば、携帯電話が現在必要とする作動電圧が低電圧又は過電圧である場合、アダプタの保護メカニズムに障害が発生して、アダプタと携帯電話との間の回路をすぐ切断するか又はアダプタをリセットすることはできないと、携帯電話内部の回路が焼損したり、故障したり(breakdown)、携帯電話のバッテリが爆発したりする可能性がある。別の例として、携帯電話が現在必要とする作動電圧は、携帯電話が安全に動作できる電圧であるが、アダプタの充電メカニズムに障害が発生して、例えば、携帯電話に低電圧電流又は過電圧電流を出力すると、同様に携帯電話内部の回路が焼損したり、故障したり、携帯電話のバッテリが爆発したりする可能性がある。
ただし、現在、アダプタのみをテストし、例えば、アダプタが作動モードにある場合、アダプタの構成要素が要件を満たしているか否かを判断するためにテストする。ただし、アダプタが充電モードにある場合、即ちアダプタが端末に接続されて端末を充電するために用いられる場合、アダプタの作動状態をテストすることはできない。
これを考慮して、本出願の実施形態は、関連技術に存在する少なくとも1つの問題を解決するために、アダプタの機能テスト方法及び装置、機器、記憶媒体を提供する。
本発明の第一態様において、アダプタの機能テスト方法が提供される。この方法は、テスト機器に適用される。アダプタの機能テスト方法は、
アダプタにテスト信号を送信することと、
予め設定された第一期間内でアダプタがテスト信号に基づいて出力した第一電圧を検出することと、
第一電圧に基づいてアダプタの作動状態を確定することと、
を含む。
本発明の第二態様において、アダプタの機能テスト装置が提供される。この装置は、アダプタにテスト信号を送信するために用いられる送信モジュールと、予め設定された第一期間内でアダプタがテスト信号に基づいて出力した第一電圧を検出するために用いられるテストモジュールと、第一電圧に基づいて、アダプタの作動状態を確定するために用いられる確定モジュールと、を含む。
本発明の第三態様において、テスト機器が提供される。このテスト機器はメモリ及びプロセッサを含み、メモリにはプロセッサで実行可能なコンピュータプログラムが格納されており、プログラムがプロセッサによって実行されると、アダプタの機能テスト方法を実行する。
本発明の第四態様において、コンピュータプログラムが格納されたコンピュータ可読記憶媒体が提供される。コンピュータプログラムがプロセッサによって実行されると、アダプタの機能テスト方法を実行する。
本出願の実施例において、アダプタの機能テスト方法が提供される。この方法は、テスト機器に適用される。テスト機器は、アダプタにテスト信号を送信してから、予め設定された第一期間内でアダプタがテスト信号に基づいて出力した第一電圧を検出し、第一電圧に基づいてアダプタの作動状態を確定する。このように、テスト機器からアダプタにテスト信号を送信することにより、アダプタがテスト機器に電力を供給するとき、アダプタから出力する第一電圧に基づいて、アダプタの作動状態(保護メカニズムと充電メカニズム)の自動化テストを実現することができ、アダプタのみをテストしてもたらす欠点を補うことができる。
図1Aは、本発明の実施例に係わるアダプタの機能テスト方法のフローチャートである。 図1Bは、本発明の実施例に係わるアダプタの作動状態を確定するプロセスを示すフローチャートである。 図1Cは、本発明の別の実施例に係わるアダプタの作動状態を確定するプロセスを示すフローチャートである。 図2は、本発明の別の実施例に係わるアダプタの機能テスト方法のフローチャートである。 図3は、本発明のさらに別の実施例に係わるアダプタの機能テスト方法のフローチャートである。 図4Aは、本発明の実施例に係わるテストシステムの構造を示す概略図である。 図4Bは、本発明の実施例に係わるテストボードの構造を示す概略図である。 図5Aは、本発明の実施例に係わるアダプタの機能テスト装置の構造を示す概略図である。 図5Bは、本発明の別の実施例に係わるアダプタの機能テスト装置の構造を示す概略図である。 図5Cは、本発明のさらに別の実施例に係わるアダプタの機能テスト装置の構造を示す概略図である。 図6は、本発明の実施例に係わるテスト機器のハードウェア実体を示す概略図である。
以下、添付された図面を参照して本出願の技術方案をさらに詳細に説明する。
本出願の実施例において、アダプタの機能テスト方法が提供される。この方法は、テスト機器に適用される。この方法によって実現できる機能はテスト機器のプロセッサによってプログラムコードを呼び出すことにより実現することができる。プログラムコードは、コンピュータ記憶媒体に格納されることができる。テスト機器は、少なくともプロセッサ及び記憶媒体を含む。
図1Aは、本発明の実施例に係わるアダプタの機能テスト方法のフローチャートである。図1Aに示されたように、この方法は以下の内容を含む。
S101、アダプタにテスト信号を送信する。
S102、予め設定された第一期間内でアダプタがテスト信号に基づいて出力した第一電圧を検出する。
一般的に、第一期間の開始点は、アダプタにテスト信号を送信する送信時間であり、第一期間の終了点は、開始点+アダプタがテスト信号を受信してからかかる理論上の応答時間(例えば、20msである)である。アダプタが出力する第一電圧は、テスト機器の入力電圧であることを理解されるべきである。
S103、第一電圧に基づいて、アダプタの作動状態を確定する。
本出願の実施例において、アダプタの機能テスト方法が提供される。この方法は、テスト機器に適用される。テスト機器は、アダプタにテスト信号を送信してから、予め設定された第一期間内でアダプタがテスト信号に基づいて出力した第一電圧を検出し、第一電圧に基づいてアダプタの作動状態を確定する。このように、テスト機器からアダプタにテスト信号を送信することにより、アダプタがテスト機器に電力を供給するとき、アダプタから出力する第一電圧に基づいて、アダプタの作動状態(保護メカニズムと充電メカニズム)の自動化テストを実現することができ、アダプタのみをテストしてもたらす欠点を補うことができる。
別の実施例において、図1Bに示されたように、テスト信号はアダプタに保護メカニズムを起動するように指示する第一テスト信号であると、ステップS103において、第一電圧に基づいてアダプタの作動状態を確定することは、以下の内容を含むことができる。
S1031A、第一電圧が第一閾値より大きいか否かを検出する。第一電圧が第一閾値より大きい場合、S1032Aを実行し、そうでない場合、S1033Aを実行する。
実際の応用では、保護メカニズムとは、アダプタが端末に電力を供給する際、端末に異常が発生したとしても(例えば、アダプタが低電圧電流又は過電圧電流を出力することを指示する)、アダプタは依然として異常な出力電圧を端末に印加して(例えば、端末に低電圧電流又は過電圧電流を出力する)、端末が焼損したり、故障したり、バッテリが爆発したりする現象が発生することを免れるために、設置した保護機能である。換言すると、保護メカニズムとは、端末に焼損又は故障、さらにバッテリが爆発することなどの危険情況が発生することを免れるために、設置した保護機能である。従ってアダプタの保護メカニズムが正常であるか否かをテストするために、アダプタに保護メカニズムを起動するように指示する第一テスト信号を送信することができ、次にS1031Aを実行して、アダプタの保護メカニズムが正常であるか否かをテストする。さらに、テストコストを節約するために、実際にテストするとき、通常、テスト機器で端末を模擬し、テスト機器はテストボードである。
テスト信号が第一テスト信号である場合、第一テスト信号に基づいて、アダプタがテスト信号に基づいて出力する第一電圧は理論的に0である。アダプタは、アダプタとテスト機器との間の回路を切断するか、又はアダプタとテスト機器との間の回路を切断してから、アダプタとテスト機器との間の回路を再び接続する。即ち、アダプタは、リセット操作によって保護メカニズムを実現する。従って、実際の応用では、第一閾値は通常0に設定される。
S1032A、アダプタの作動状態は、アダプタの保護メカニズムが正常ではないと確定する。
S1033A、アダプタの作動状態は、アダプタの保護メカニズムが正常であると確定する。
第一電圧が第一閾値より大きい場合、アダプタの保護メカニズムが正常ではないと確定する。第一電圧が第一閾値以下である場合、アダプタの保護メカニズムが正常であると確定する。
別の実施例において、第一テスト信号は、アダプタに第三電圧を出力するように指示する第一信号であり、第三電圧はテスト機器(即ち、端末である)が安全に作動することができる第一電圧範囲内になく、即ち、端末に焼損、故障又はバッテリ爆発などの危険情況が発生しない電圧範囲内になく、第三電圧は低電圧又は過電圧であることができる。この情況では、第一信号を送信する前に、テスト機器が現在必要とする作動電圧が第三電圧になるまで、テスト機器の電子負荷を調整してから、第三電圧に基づいて第一信号を生成する。
あるいは、第一テスト信号は、アダプタが識別できない第一通信命令である。アダプタの保護メカニズムが正常である場合、アダプタは、第一通信命令を受信すると、保護メカニズムを起動する。例えば、アダプタとテスト機器との間の回路を切断するか、又はリセット操作を実行する。逆に、アダプタの保護メカニズムが正常ではない場合、アダプタは、第一通信命令を受信すると、保護メカニズムを起動せず、依然としてテスト機器に電圧を出力する。
あるいは、第一テスト信号は、テスト機器が第一タイミングにしたがってアダプタに送信した第二通信命令である。第二通信命令はアダプタが識別できる命令であり、第一タイミングはテスト機器とアダプタとの間の通信プロトコルによって指定されたタイミングではない。
あるいは、第一テスト信号はアダプタの入力交流電圧を指示するために用いられ、入力交流電圧はアダプタが安全に作動できる電圧範囲内にない。実際の応用では、ホストコンピュータによってアダプタの入力交流電圧を設定することができ、且つアダプタの入力交流電圧を携帯する第一テスト信号を生成してテスト機器に送信する。アダプタの現在の入力電圧が第一テスト信号によって指示される入力交流電圧になるように、テスト機器によって第一テスト信号をアダプタに転送する。例えば、ホストコンピュータによって設定されたアダプタの入力交流電圧は70(Volt,V)より低いか、90Vより高い。
別の実施形態において、図1Cに示されたように、テスト信号はアダプタに充電メカニズムを起動するように指示する第二テスト信号である場合、ステップS103において、第一電圧に基づいてアダプタの作動状態を確定することは、以下の内容を含むことができる。
S1031B、第一電圧が第二電圧範囲内にあるか否かを検出する。第一電圧が第二電圧範囲内にある場合、S1032Bを実行し、そうではない場合、S1033Bを実行する。
実際の応用では、充電メカニズムとは、テスト機器が安全に作動できるように、アダプタが第二テスト信号に基づいてテスト機器に電圧を正確に印加するメカニズムである。第二電圧範囲は、第一電圧に対応するテスト機器を安全に作動させる電圧範囲であり、例えば、第一電圧が80Vである場合、対応する第二電圧範囲は[75V、85V]である。
S1032B、アダプタの作動状態は、アダプタの充電メカニズムが正常であると確定する。
S1033B、アダプタの作動状態は、アダプタの充電メカニズムが正常ではないと確定する。
アダプタの充電メカニズムが正常であると、アダプタは第二テスト信号が指示する出力電圧にしたがって出力することを理解することができる。従って、ステップS1031Bによって、アダプタの充電メカニズムが正常であるか否かを検出することができ、第一電圧が第二電圧範囲内にある場合、アダプタの充電メカニズムが正常であると確定することができ、第一電圧が第二電圧範囲内にない場合、アダプタの充電メカニズムが正常ではないと確定することができる。
別の実施例において、第二テスト信号はアダプタに第四電圧を出力するように指示する第二信号であり、第四電圧は第一電圧範囲内にある。実際の応用では、テスト機器に接続されたホストコンピュータによって電四電圧の電圧値を設定することができ、且つホストコンピュータ又はテスト機器によって第二信号にカプセル化されてからアダプタに送信される。あるいは、テスト機器が現在必要とする作動電圧が第四電圧になるまで、テスト機器の電子負荷を調整する。例えば、第四電圧が低電圧値になるまで、テスト機器の電子負荷を減少するか、又は第四電圧が高電圧値になるまで、テスト機器の電子負荷を増加する。次に、第四電圧に基づいて第二信号が生成される。この情況では、第二信号を送信する前に、テスト機器が現在必要とする作動電圧が第四電圧になるまで、テスト機器の電子負荷を調整してから、第四電圧に基づいて第二信号を生成する。
あるいは、第二テスト信号は、アダプタが識別できる第三通信命令である。
あるいは、第二テスト信号は第二タイミングにしたがって送信される第四通信命令であり、第四通信命令はアダプタが認識できる命令であり、第二タイミングはテスト機器とアダプタとの間の通信プロトコルによって指定されたタイミングである。
実際の応用では、テスト機器が現在必要とする作動電圧が第五電圧になるまで、テスト機器の電子負荷を調整することができ、第五電圧は第三電圧又は第四電圧である。次に、第五電圧に基づいて第三信号を生成し、第三信号は第一信号又は第二信号であり、第三信号をアダプタに送信する。
本出願は、別の実施例に係わるアダプタの機能テスト方法を提供する。この方法は、テスト機器に適用される。図2は、本発明の別の実施例に係わるアダプタの機能テスト方法のフローチャートである。図2に示されたように、この方法は、以下の内容を含む。
S201、アダプタに第一テスト信号を送信し、第一テスト信号はアダプタに保護メカニズムを起動するように指示するために用いられる。
第一テスト信号は、S101の動作の説明に記載されているテスト信号の一種であることに留意されたい。
S202、予め設定された第一期間内でアダプタが第一テスト信号に基づいて出力した第一電圧を検出する。
S203、第一電圧が第一閾値より大きいか否かを検出し、第一電圧が第一閾値より大きい場合、S204を実行し、そうではないと、S205を実行する。
S204、アダプタの作動状態は、アダプタの保護メカニズムが正常ではないと確定し、次にS208を実行する。
テスト人員を助けてアダプタの保護メカニズムが正常ではない原因を確定するために、S208を実行するとき、アダプタの保護メカニズムが正常ではない原因(第一テスト信号のタイプである)に基づいてテスト結果を生成することができる。例えば、第一テスト信号はアダプタに第三電圧を出力するように指示する第一信号であり、且つ第三電圧はテスト機器が安全に作動できる第一電圧範囲内にない場合、アダプタは保護メカニズムを起動することはできなく、これに基づいて第一テスト結果を生成する。第一テスト結果は、テスト機器が現在必要とする作動電圧が過電圧又は低電圧である場合、アダプタが保護メカニズムを起動できないことを報告するために用いられる。別の例として、第一テスト信号はアダプタが識別できない第一通信命令であると、アダプタは保護メカニズムを起動することはできなく、これに基づいて第二テスト結果を生成する。第二テスト結果は、テスト機器から送信する通信命令はアダプタが識別できない命令である場合、アダプタは保護メカニズムを起動できないことを報告するために用いられる。別の例として、第一テスト信号はテスト機器が第一タイミングにしたがってアダプタに送信した第二通信命令であり、第二通信命令はアダプタが識別できる命令であり、第一タイミングはテスト機器とアダプタとの間の通信プロトコルによって指定されたタイミングではない場合、アダプタは保護メカニズムを起動することはできなく、これに基づいて第三テスト結果を生成する。第三テスト結果は、テスト機器が通信命令を送信するときの送信タイミングが異常である場合、アダプタは保護メカニズムを起動できないことを報告するために用いられる。
S205、予め設定された第二期間内でアダプタが出力した第二電圧が第二閾値より大きいか否かを検出する。予め設定された第二期間内でアダプタが出力した第二電圧が第二閾値より大きい場合、S206を実行し、そうではないと、S207を実行する。
第二期間は第一期間の後にある。一般的に、第二閾値と第一閾値は等しい。
S206、アダプタの作動状態は、アダプタがリセットされた状態であると確定し、次にS208を実行する。
実際の応用では、テスト人員を助けてアダプタはどのような保護メカニズムによってテスト機器を保護するかを確定するために、S208を実行するとき、アダプタの保護動作に基づいてテスト結果を生成することができる。例えば、第一テスト信号はアダプタに第三電圧を出力するように指示する第一信号であり、且つ第三電圧はテスト機器が安全に作動できる第一電圧範囲内にない場合、アダプタはリセットされ、これに基づいて第四テスト結果を生成する。第四テスト結果は、テスト機器が現在必要とする作動電圧が過電圧又は低電圧である場合、アダプタがリセットされてテスト機器を保護することを報告するために用いられる。別の例として、第一テスト信号はアダプタが識別できない第一通信命令であると、アダプタがリセットされて、これに基づいて第五テスト結果を生成する。第五テスト結果は、テスト機器から送信する通信命令はアダプタが識別できない命令である場合、アダプタがリセットされてテスト機器を保護することを報告するために用いられる。別の例として、第一テスト信号はテスト機器が第一タイミングにしたがってアダプタに送信した第二通信命令であり、第二通信命令はアダプタが識別できる命令であり、第一タイミングはテスト機器とアダプタとの間の通信プロトコルによって指定されたタイミングではない場合、アダプタがリセットされて、これに基づいて第六テスト結果を生成する。第六テスト結果は、テスト機器が通信命令を送信するときの送信タイミングが異常である場合、アダプタがリセットされてテスト機器を保護することを報告するために用いられる。
S207、アダプタの作動状態は、アダプタとテスト機器との間の回路を切断した状態であると確定し、次にS208を実行する。
類似的に、第一テスト信号はアダプタに第三電圧を出力するように指示する第一信号であり、且つ第三電圧はテスト機器が安全に作動できる第一電圧範囲内にない場合、アダプタとテスト機器との間の回路を切断し、即ち出力をオフし、これに基づいて第七テスト結果を生成する。第七テスト結果は、テスト機器が現在必要とする作動電圧が過電圧又は低電圧である場合、アダプタは出力をオフにして、テスト機器を保護することを報告するために用いられる。別の例として、第一テスト信号はアダプタが識別できない第一通信命令であると、アダプタとテスト機器との間の回路を切断し、これに基づいて第八テスト結果を生成する。第八テスト結果は、テスト機器から送信する通信命令はアダプタが識別できない命令である場合、アダプタは出力をオフにして、テスト機器を保護することを報告するために用いられる。別の例として、第一テスト信号はテスト機器が第一タイミングにしたがってアダプタに送信した第二通信命令であり、第二通信命令はアダプタが識別できる命令であり、第一タイミングはテスト機器とアダプタとの間の通信プロトコルによって指定されたタイミングではない場合、アダプタとテスト機器との間の回路を切断し、これに基づいて第九テスト結果を生成する。第九テスト結果は、テスト機器が通信命令を送信するときの送信タイミングが異常である場合、アダプタは出力をオフにして、テスト機器を保護することを報告するために用いられる。
アダプタがリセットされた場合、又はアダプタとテスト機器との間の回路を切断した場合、S208及びS209を実行しなくてもよく、即ちアダプタの保護メカニズムが正常である場合、テスト結果を出力しない。
S208、アダプタの作動状態に基づいて、アダプタの作動状態に一致するテスト結果を生成する。
S209、テスト結果を出力する。
実際の応用では、テスト機器はホストコンピュータに接続されているので、テスト結果をホストコンピュータに出力して表示することができる。
本出願は、さらに別の実施例に係わるアダプタの機能テスト方法を提供する。この方法は、テスト機器に適用される。図3は、本発明のさらに別の実施例に係わるアダプタの機能テスト方法のフローチャートである。図3に示されたように、この方法は以下の内容を含む。
S301、アダプタに第二テスト信号を送信し、第二テスト信号はアダプタに充電メカニズムを起動するように指示するために用いられる。
アダプタの充電メカニズムが正常である場合、アダプタの出力電圧は、アダプタに接続された端末(ここでは、テスト機器によって端末を模擬する)が現在必要とする作動電圧に基づいて決まることを理解することができる。換言すると、アダプタの出力電圧は、アダプタに接続された負荷(携帯電話など)に基づいて決まり、アダプタの能力範囲内で、アダプタはできるだけ携帯電話が必要とする電圧を提供し、もし携帯電話が必要とする電圧はアダプタが提供できる上限電圧よりも高い場合、アダプタはずっと上限電圧を出力する。
第二テスト信号は、S101の動作の説明に記載されているテスト信号の一種であることに留意されたい。
S302、予め設定された第一期間内でアダプタが第二テスト信号に基づいて出力した第一電圧を検出する。
S303、第一電圧が第二電圧範囲内にあるか否かを検出し、第一電圧が第二電圧範囲内にある場合、S304を実行し、そうではないと、S305を実行する。
第二電圧範囲は、第二テスト信号に対応するテスト機器が安全に作動できる電圧範囲である。例えば、第二電圧範囲は、[75V、85V]である。
S304、アダプタの作動状態は、アダプタの充電メカニズムが正常であると確定し、次にS306を実行する。
別の実施例において、アダプタの充電メカニズムが正常であると確定した場合、S306及びS307を実行しなくてもよく、即ち、テスト結果を出力しない。
S305、アダプタの作動状態は、アダプタの充電メカニズムが正常ではないと確定し、次にS306を実行する。
類似的に、テスト人員を助けてアダプタの充電メカニズムが正常ではない原因を確定するために、S306を実行するとき、アダプタの充電メカニズムが正常ではない原因(即ち、第二テスト信号のタイプである)に基づいてテスト結果を生成することができる。例えば、第二テスト信号はアダプタに第四電圧を出力するように指示する第二信号であり、且つ第四電圧は第一電圧範囲内にある場合、アダプタから出力する第一電圧は第二電圧範囲内になく、これに基づいて第十テスト結果を生成する。第十テスト結果は、テスト機器が送信する第二テスト信号はアダプタに第四電圧を出力するように指示する第二信号であり、且つ第四電圧は第一電圧範囲内にある場合、アダプタは第四電圧を出力できないことを報告するために用いられる。別の例として、第二テスト信号はアダプタが識別できる第三通信命令であるが、アダプタから出力する第一電圧は第二電圧範囲内になく、これに基づいて第十一テスト結果を生成する。第十一テスト結果は、テスト機器からアダプタが識別できる第三通信命令を送信したが、アダプタは識別できないことを報告するために用いられる。別の例として、第二テスト信号は第二タイミングにしたがって送信した第四通信命令であり、第四通信命令はアダプタが識別できる命令であり、第二タイミングはテスト機器とアダプタとの間の通信プロトコルによって指定されたタイミングである場合、アダプタから出力する第一電圧は第二電圧範囲内になく、これに基づいて第十二テスト結果を生成する。第十二テスト結果は、テスト機器が正確なタイミングにしたがって通信命令を送信したとき、アダプタは正確なタイミングを識別できないことを報告するために用いられる。
S306、アダプタの作動状態に基づいて、アダプタの作動状態に一致するテスト結果を生成する。
S307、テスト結果を出力する。
実際の応用では、テスト機器はホストコンピュータに接続されているので、テスト結果をホストコンピュータに出力して表示することができる。
本出願の実施例において、テストボード(即ち、テスト機器である)によってアダプタと通信する。例えば、テストボードは通信異常を模擬し、テストボードによってアダプタの出力状態(即ち、第一電圧である)を検出することにより、アダプタが保護状態にあるか否かを判断し、例えば、アダプタが出力をオフにした(即ち、アダプタとテストボードとの間の回路を切断し、第一電圧は0である)か否か、又はアダプタを再起動した(即ち、リセットする)か否かを判断する。
これに基づいて、本出願の実施例は、テストシステムを提供する。図4Aは、本発明の実施例に係わるテストシステムの構造を示す概略図である。図4Aに示されたように、テストシステム40は、ホストコンピュータ401、電子負荷402、テストボード403及びアダプタ404を含む。ホストコンピュータ401は、テストボード403に接続されており、テスト信号の信号タイプ(テスト信号の信号内容)を制御し、テスト信号をテストボード403に送信するために用いられる。電子負荷402はテストボード403に接続されて端末(携帯電話など)を模擬するために用いられる。アダプタ404は、テストボード403及び電子負荷402に電力を供給するために用いられる。
別の実施例において、図4Bに示されるように、テストボード403は、マイクロコントローラーユニット(Microcontroller Unit,MCU)4031、金属酸化物半導体電界効果トランジスタ(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor,MOSFET)4032、抵抗器4033、第一ライン4034、第二ライン4035、第三ライン4036及び第四ライン4037を含む。第一ライン4034の第一端はアダプタ404に接続され、第一ライン4034の第二端はマイクロコントローラーユニット4031に接続され、第一ライン4034の第三端は電子負荷402に接続され、従ってアダプタ404はテストボード403及び電子負荷402に電力を供給する。第二ライン4035の第一端はMCU4031に接続され、第二ライン4035の他端はアダプタ404に接続されて、MCU4031とアダプタ404との間の通信を実現し、即ちアダプタ404に通信信号(上述の実施例に記載されたテスト信号である)を送信する。第三ライン4036の一端はホストコンピュータ401に接続され、第三ライン4036の他端はMCU4031に接続されて、MCU4031とホストコンピュータ401との間の通信を実現し、即ち通信信号をホストコンピュータ401に送信する。第四ライン4037は、アダプタ404が出力をオフにしたとき、MCU4031に電力を供給するために用いられる。MOSFET4032は抵抗器4033に接続されて、電子負荷402以外の他のハードウェア負荷を模擬するために用いられる。
実際の応用では、テストボード403は、現在検出されたアダプタ404の出力状態(電圧及び電流など)をホストコンピュータ401に報告することができることに留意されたい。テストボード403は、通信異常を模擬し、例えば、誤った通信信号(第一通信命令及び第二通信命令など)を送信するとともに、アダプタ404の出力電圧を監視する。例えば、テストボード403は、第一ライン4034が切断されてから特定の期間内に再接続されて電圧および電流を再提供するか否かを検出し、はいの場合、アダプタ404がリセットされたことを確定することができ、第一ライン4034が切断されてから特定の期間内に再接続されなかった場合、アダプタ404は出力をオフする保護状態に入ったことを確定することができる。
上述した実施例に基づいて、本出願の実施例は、アダプタの機能テスト装置を提供する。この装置に含まれる各モジュール、各モジュールに含まれる各ユニットは、装置のプロセッサ又は論理回路によって実現することができる。プロセッサは、中央処理装置(central processing unit,CPU)、マイクロプロセッサ(microprocessor,MPU)、デジタル信号プロセッサ(Digital Signal Processor,DSP)又はフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field-Programmable Gate Array,FPGA)などであることができる。
図5Aは、本発明の実施例に係わるアダプタの機能テスト装置の構造を示す概略図である。図5Aに示されたように、アダプタの機能テスト装置500は、送信モジュール501、テストモジュール502及び確定モジュール503を含む。送信モジュール501は、アダプタにテスト信号を送信するために用いられる。テストモジュール502は、予め設定された第一期間内でアダプタがテスト信号に基づいて出力した第一電圧を検出するために用いられる。確定モジュール503は、第一電圧に基づいて、アダプタの作動状態を確定するために用いられる。
別の実施例において、図5Bに示されたように、前記装置は、生成モジュール504及び出力モジュール505をさらに含む。生成モジュール504は、アダプタの作動状態に基づいて、アダプタの作動状態に一致するテスト結果を生成するために用いられる。出力モジュール505は、テスト結果を出力するために用いられる。
別の実施例において、テスト信号はアダプタに保護メカニズムを起動するように指示する第一テスト信号である場合、確定モジュール503は、第一検出ユニット5031、第一確定ユニット5032及び第二確定ユニット5033を含む。第一検出ユニット5031は、第一電圧が第一閾値より大きいか否かを検出するために用いられる。第一確定ユニット5032は、第一電圧が第一閾値より大きい場合、アダプタの作動状態は、アダプタの保護メカニズムが正常ではないと確定するために用いられる。第二確定ユニット5033は、第一電圧が第一閾値以下である場合、アダプタの作動状態は、アダプタの保護メカニズムが正常であると確定するために用いられる。
別の実施例において、第二確定ユニット5033は、予め設定された第二期間内でアダプタが出力した第二電圧が第二閾値より大きいか否かを検出するために用いられる。第二期間は第一期間の後にある。第二電圧が第二閾値より大きい場合、アダプタの作動状態は、アダプタがリセットされた状態であると確定し、第二電圧が第二閾値以下である場合、アダプタの作動状態は、アダプタとテスト機器との間の回路を切断した状態であると確定する。
別の実施例において、第一テスト信号はアダプタに第三電圧を出力するように指示する第一信号であり、且つ第三電圧はテスト機器が安全に作動できる第一電圧範囲内にない。あるいは、第一テスト信号はアダプタが識別できない第一通信命令である。あるいは、第一テスト信号はテスト機器が第一タイミングにしたがってアダプタに送信した第二通信命令であり、第二通信命令はアダプタが識別できる命令であり、第一タイミングはテスト機器とアダプタとの間の通信プロトコルによって指定されたタイミングではない。あるいは、第一テスト信号はアダプタの入力交流電圧を指示するために用いられ、入力交流電圧はアダプタが安全に作動できる電圧範囲内にない。いくつかの実施例において、図5Cに示されたように、前記装置500は、調整モジュール506をさらに含む。調整モジュール506は、テスト機器が現在必要とする作動電圧が第三電圧になるまで、テスト機器の電子負荷を調整するために用いられる。生成モジュール504は、第三電圧に基づいて第一信号を生成するために用いられる。
別の実施例において、テスト信号はアダプタに充電メカニズムを起動するように指示する第二テスト信号である場合、確定モジュール503は、第二検出ユニット5034、第三確定ユニット5035及び第四確定ユニット5036を含む。第二検出ユニット5034は、第一電圧が第二電圧範囲内にあるか否かを検出するために用いられる。第三確定ユニット5035は、第一電圧が第二電圧範囲内にない場合、アダプタの作動状態は、アダプタの充電メカニズムが正常ではないと確定するために用いられる。第四確定ユニット5036は、第一電圧が第二電圧範囲内にある場合、アダプタの作動状態は、アダプタの充電メカニズムが正常であると確定するために用いられる。
別の実施例において、第二テスト信号はアダプタに第四電圧を出力するように指示する第二信号であり、第四電圧は第一電圧範囲内にある。あるいは、第二テスト信号は、アダプタが識別できる第三通信命令である。あるいは、第二テスト信号は第二タイミングにしたがって送信される第四通信命令であり、第四通信命令はアダプタが認識できる命令であり、第二タイミングはテスト機器とアダプタとの間の通信プロトコルによって指定されたタイミングである。いくつかの実施例において、図5Cに示されるように、前記装置500は、調整モジュール506をさらに含む。調整モジュール506は、テスト機器が現在必要とする作動電圧が第四電圧になるまで、テスト機器の電子負荷を調整するために用いられる。生成モジュール504は、第四電圧に基づいて第二信号を生成するために用いられる。
別の実施例において、図5Cに示されるように、前記装置500は、調整モジュール506及び生成モジュール504をさらに含む。調整モジュール506は、テスト機器が現在必要とする作動電圧が第五電圧になるまで、テスト機器の電子負荷を調整するために用いられ、第五電圧は第三電圧又は第四電圧である。生成モジュール504は、第五電圧に基づいて第三信号を生成し、第三信号は第一信号又は第二信号であり、且つ送信モジュール501をトリガーして第三信号をアダプタに送信するために用いられる。
装置実施例の説明は、方法実施例の説明と類似し、方法実施例と類似する利点がある。本出願の実施例に開示されていない技術的な詳細内容について、方法実施例を参照して理解することができる。
本出願の実施例において、ソフトウェア機能モジュールの形式でアダプタの機能テスト方法を実現し、且つ独立の製品として販売されたり使用されたりする場合、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されてもよい。この理解によれば、本実施例の技術方案の本質、又は従来技術に貢献できた部分は、ソフトウェア製品として表現され得る。このコンピュータソフトウェア製品は、1つの記憶媒体に記憶されており、テスト機器に本出願の実施例に係る方法の全部又は一部を実行させるための複数のコマンドが含まれている。記憶媒体は、USBフラッシュメモリー、モバイルハードディスク、読み出し専用メモリ(ROM、Read-Only Memory)、磁気ディスク又は光ディスクなどの各種のプログラムコードを記憶可能な媒体を含む。このように、本出願の実施例はいかなる特定のソフトウェアとハードウェアの組み合わせに限定されない。
本出願の実施例はテスト機器を提供する。図6は、本発明の実施例に係わるテスト機器のハードウェア実体を示す概略図である。図6に示されたように、テスト機器600は、メモリ601及びプロセッサ602を含む。メモリ601にはプロセッサ602で実行可能なコンピュータプログラムが格納されており、プログラムがプロセッサ602によって実行されると、上述した実施例によって提供されるアダプタの機能テスト方法を実現する。
メモリ601は、プロセッサ602で実行可能な命令及びアプリケーションを格納するために用いられることに留意されたい。メモリ601は、さらにプロセッサ602及びテスト機器600の各モジュールによって処理しようとするか又はもう処理されたデータ(例えば、画像データ、音声データ、音声通信データ及びビデオ通信データなど)をバッファリングすることができる。メモリ601は、フラッシュメモリ又はランダムアクセスメモリ(Random Access Memory,RAM)である。
本出願の実施例は、コンピュータプログラムが格納されたコンピュータ可読記憶媒体を提供する。コンピュータプログラムがプロセッサによって実行されると、上述した実施例によって提供されるアダプタの機能テスト方法を実現する。
記憶媒体実施例及び機器実施例の説明は、方法実施例の説明と類似し、方法実施例と類似する利点がある。記憶媒体実施例及び機器実施例に開示されていない技術的な詳細内容について、方法実施例を参照して理解することができる。
本明細書に記載された「1つの実施例」又は「実施例」は、実施例に関連する特定の特徴、構造、又は特性が本出願の少なくとも1つの実施例に含まれることを意味することを理解されるべきである。従って、明細書の様々な場所に出現される「1つの実施例において」又は「実施例において」は、必ずしも同じ実施例を指すとは限らない。さらに、これらの特定の特徴、構造、又は特性は、任意の適切な方式で1つ又は複数の実施例に組み合わせることができる。本出願の様々な実施例において、上述した各過程のシーケンス番号は実行順序を意味するものではなく、各過程の実行順序はその機能と内部ロジックによって確定されるべきであり、本出願の実施例の実施過程に対していかなる制限を構成してはいけない。本出願の実施形態のシーケンス番号は、ただ説明するために用いられ、実施例の長所および短所を表すものではない。
本明細書において、「備える」、「含む」又はそれらの他の変形は、非排他的な包含をカバーすることを意図するので、一連の要素を含むプロセス、方法、物品又は装置は、それらの要素を含むだけではなく、 明示的にリストされていない他の要素も含み、又はそのようなプロセス、方法、物品又は装置に固有の要素も含む。さらに多い制限がない場合、「...を含む」という句によって限定された要素は、その要素を含むプロセス、方法、物品又は装置に他の同じ要素が含まれることを除外しない。
本出願によって提供される幾つかの実施形態において、開示されるシステム、装置及び方法は、他の形態により実現され得ると理解されるべきである。例えば、上記に説明された装置の実施例は、例示するためのものに過ぎない。例えば、ユニットの分割は、ロジック機能の分割に過ぎず、実際に実現するときに別の分割形態を有してもよい。例えば、複数のユニット又は部品を組み合わせ、又は別のシステムに集積し、又は若干の特徴を無視し、又は実行しなくてもよい。さらに、図示又は検討する相互間の結合や直接結合や通信接続は、いくつかのインタフェース、装置、又はユニットの間接結合や通信接続であってもよいし、電気、機械や他の形態であってもよい。
分離部品として記載されたユニットは、物理的に分離してもよいし、分離しなくてもよい。ユニットとして表示される部品は、物理的なユニットであってもよいし、物理的なユニットではなくておもよい。即ち、一つの箇所に設置してもよいし、複数のネットワークユニットに設置してもよい。実際の要求に応じて一部又は全部のユニットを選択して本実施例の技術方案の目的を実現することができる。
また、本発明に係る各実施例の各機能ユニットは、1つの処理ユニットに集積されてもよいし、物理的に分離された複数のユニットとして存在してもよいし、2つ以上のユニットは1つのユニットに集積してもよい。集積ユニットは、ハードウェアの形式又はハードウェアとソフトウェアの機能ユニットの形式で実現されることができる。
当業者であれば、上述した方法実施例を実現するステップの全部又は一部は、プログラム命令に関連するハードウェアによって完成することができ、上述したプログラムはコンピュータ可読記憶媒体に格納することができ、プログラムが実行されると、上述した方法実施例のステップを実行し、記憶媒体は、携帯記憶装置、読み出し専用メモリ(ROM、Read-Only Memory)、磁気ディスク又は光ディスクなどの各種のプログラムコードを記憶可能な媒体を含むことを理解されるべきである。
あるいは、本出願の上述した集積ユニットは、ソフトウェア機能ユニットとして実現され、独立の製品として販売されたり使用されたりする場合、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されてもよい。この理解によれば、本実施例の技術方案の本質、又は従来技術に貢献できた部分は、ソフトウェア製品として表現され得る。このコンピュータソフトウェア製品は、1つの記憶媒体に記憶されており、テスト機器に本出願の各実施例に係る方法の全部又は一部を実行させる複数のコマンドが含まれている。記憶媒体は、携帯記憶装置、読み出し専用メモリ(ROM、Read-Only Memory)、磁気ディスク又は光ディスクなどの各種のプログラムコードを記憶可能な媒体を含む。
上述したのは、ただ本願の具体的な実施形態であり、本願の保護範囲はこれに限定されるものではない。当業者であれば、本願に開示された技術範囲内で変更又は置換を容易に想到しうることであり、全て本出願の範囲内に含まれるべきである。従って本願の保護範囲は特許請求の範囲によって決めるべきである。
本出願の実施例において、アダプタの機能テスト方法が提供される。この方法は、テスト機器に適用される。テスト機器は、アダプタにテスト信号を送信してから、予め設定された第一期間内でアダプタがテスト信号に基づいて出力した第一電圧をテストし、第一電圧に基づいてアダプタの作動状態を確定する。このように、テスト機器からアダプタにテスト信号を送信することにより、アダプタがテスト機器に電力を供給するとき、アダプタから出力する第一電圧に基づいて、アダプタの作動状態(保護メカニズムと充電メカニズム)の自動化テストを実現することができ、アダプタに対して単体テストのみが実行されてもたらす欠点を補うことができる。

Claims (12)

  1. アダプタの機能テスト方法であって、テスト機器に適用され、
    前記アダプタにテスト信号を送信することと、
    予め設定された第一期間内で前記アダプタが前記テスト信号に基づいて出力した第一電圧を検出することと、
    前記第一電圧に基づいて前記アダプタの作動状態を確定することと、
    を含み、
    前記テスト信号は、前記アダプタに保護メカニズムを起動するように指示する第一テスト信号及び前記アダプタに充電メカニズムを起動するように指示する第二テスト信号のうちの1つであり、
    前記第一期間の開始点は、前記アダプタに前記テスト信号を送信する送信時間であり、前記第一期間の終了点は、前記開始点+前記アダプタが前記テスト信号を受信してからかかる理論上の応答時間である、
    ことを特徴とするアダプタの機能テスト方法。
  2. 前記アダプタの機能テスト方法は、
    前記アダプタの作動状態に基づいて、前記アダプタの作動状態に一致するテスト結果を生成することと、
    前記テスト結果を出力することと、
    をさらに含む、
    ことを特徴とする請求項1に記載のアダプタの機能テスト方法。
  3. 前記テスト信号は前記第一テスト信号であると、前記第一電圧に基づいて前記アダプタの作動状態を確定することは、
    前記第一電圧が第一閾値より大きいか否かを検出することと、
    前記第一電圧が前記第一閾値より大きい場合、前記アダプタの作動状態は、前記アダプタの保護メカニズムが正常ではないと確定することと、
    前記第一電圧が前記第一閾値以下である場合、前記アダプタの作動状態は、前記アダプタの保護メカニズムが正常であると確定することと、
    を含む、
    ことを特徴とする請求項に記載のアダプタの機能テスト方法。
  4. 前記アダプタの作動状態は、前記アダプタの保護メカニズムが正常であると確定することは、
    予め設定された第二期間で前記アダプタが出力した第二電圧が第二閾値より大きいか否かを検出することと、前記第二期間は前記第一期間の後にあり、
    前記第二電圧が前記第二閾値より大きい場合、前記アダプタの作動状態は、前記アダプタがリセットされた状態であると確定することと、
    前記第二電圧が前記第二閾値以下である場合、前記アダプタの作動状態は、前記アダプタと前記テスト機器との間の回路を切断した状態であると確定することと、
    を含む、
    ことを特徴とする請求項に記載のアダプタの機能テスト方法。
  5. 前記第一テスト信号は前記アダプタに第三電圧を出力するように指示する第一信号であり、且つ前記第三電圧は前記テスト機器が安全に作動することができる第一電圧範囲内になく、
    あるいは、前記第一テスト信号は前記アダプタが識別できない第一通信命令であり、
    あるいは、前記第一テスト信号は前記テスト機器が第一タイミングにしたがって前記アダプタに送信した第二通信命令であり、前記第二通信命令は前記アダプタが識別できる命令であり、前記第一タイミングは前記テスト機器と前記アダプタとの間の通信プロトコルによって指定されたタイミングではなく、
    あるいは、前記第一テスト信号は前記アダプタの入力交流電圧を指示するために用いられ、前記入力交流電圧は前記アダプタが安全に作動できる電圧範囲内にない、
    ことを特徴とする請求項に記載のアダプタの機能テスト方法。
  6. 前記アダプタの機能テスト方法は、
    前記テスト機器が現在必要とする作動電圧が第三電圧になるまで、前記テスト機器の電子負荷を調整することと、
    前記第三電圧に基づいて第一信号を生成することと、
    をさらに含む、
    ことを特徴とする請求項に記載のアダプタの機能テスト方法。
  7. 前記テスト信号は前記第二テスト信号である場合、前記第一電圧に基づいて前記アダプタの作動状態を確定することは、
    前記第一電圧が第二電圧範囲内にあるか否かを検出することと、
    前記第一電圧が前記第二電圧範囲内にない場合、前記アダプタの作動状態は、前記アダプタの充電メカニズムが正常ではないと確定することと、
    前記第一電圧が前記第二電圧範囲内にある場合、前記アダプタの作動状態は、前記アダプタの充電メカニズムが正常であると確定することと、
    を含む、
    ことを特徴とする請求項に記載のアダプタの機能テスト方法。
  8. 前記第二テスト信号は前記アダプタに第四電圧を出力するように指示する第二信号であり、前記第四電圧は第一電圧範囲内にあり、
    あるいは、前記第二テスト信号は前記アダプタが識別できる第三通信命令であり、
    あるいは、前記第二テスト信号は第二タイミングにしたがって送信される第四通信命令であり、前記第四通信命令は前記アダプタが認識できる命令であり、前記第二タイミングは前記テスト機器と前記アダプタとの間の通信プロトコルによって指定されたタイミングである、
    ことを特徴とする請求項に記載のアダプタの機能テスト方法。
  9. 前記アダプタの機能テスト方法は、
    前記テスト機器が現在必要とする作動電圧が前記第四電圧になるまで、前記テスト機器の電子負荷を調整することと、
    前記第四電圧に基づいて第二信号を生成することと、
    をさらに含む、
    ことを特徴とする請求項に記載のアダプタの機能テスト方法。
  10. アダプタの機能テスト装置であって、
    前記アダプタにテスト信号を送信するために用いられる送信モジュールと、
    予め設定された第一期間内で前記アダプタが前記テスト信号に基づいて出力した第一電圧を検出するために用いられるテストモジュールと、
    前記第一電圧に基づいて前記アダプタの作動状態を確定するために用いられる確定モジュールと、
    を含み、
    前記テスト信号は、前記アダプタに保護メカニズムを起動するように指示する第一テスト信号及び前記アダプタに充電メカニズムを起動するように指示する第二テスト信号のうちの1つであり、
    前記第一期間の開始点は、前記アダプタに前記テスト信号を送信する送信時間であり、前記第一期間の終了点は、前記開始点+前記アダプタが前記テスト信号を受信してからかかる理論上の応答時間である、
    ことを特徴とするアダプタの機能テスト装置。
  11. テスト機器であって、
    メモリ及びプロセッサを含み、前記メモリには前記プロセッサで実行可能なコンピュータプログラムが格納されており、前記プログラムが前記プロセッサによって実行されると、請求項1~のいずれか一項に記載のアダプタの機能テスト方法を実行する、
    ことを特徴とするテスト機器。
  12. コンピュータプログラムが格納されたコンピュータ可読記憶媒体であって、
    前記コンピュータプログラムがプロセッサによって実行されると、請求項1~のいずれか一項に記載のアダプタの機能テスト方法を実行する、
    ことを特徴とするコンピュータ可読記憶媒体。
JP2021504459A 2018-09-30 2018-09-30 アダプタの機能テスト方法及び装置、機器、記憶媒体 Active JP7187662B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/CN2018/109224 WO2020062309A1 (zh) 2018-09-30 2018-09-30 一种适配器的功能检测方法及装置、设备、存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021532485A JP2021532485A (ja) 2021-11-25
JP7187662B2 true JP7187662B2 (ja) 2022-12-12

Family

ID=69951030

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021504459A Active JP7187662B2 (ja) 2018-09-30 2018-09-30 アダプタの機能テスト方法及び装置、機器、記憶媒体

Country Status (7)

Country Link
US (1) US11561263B2 (ja)
EP (2) EP4043892B1 (ja)
JP (1) JP7187662B2 (ja)
KR (1) KR102557297B1 (ja)
CN (1) CN111263892B (ja)
ES (1) ES2922199T3 (ja)
WO (1) WO2020062309A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111896884B (zh) * 2020-07-31 2023-11-14 北京小米移动软件有限公司 充电检测方法及装置
KR102380534B1 (ko) * 2021-03-03 2022-03-29 성균관대학교산학협력단 3d 프린팅용 폴리젖산―리그닌 복합 재료 및 이의 제조 방법
CN115113719A (zh) * 2022-07-07 2022-09-27 南京微智新科技有限公司 低电量的开机方法、装置、设备及计算机可读存储介质

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040108843A1 (en) 2002-12-05 2004-06-10 Comarco Wireless Technologies, Inc. Tip having active circuitry
US20110254582A1 (en) 2010-04-15 2011-10-20 Atc Logistics & Electronics, Inc. Systems and methods for modular testing of chargers
US20180252777A1 (en) 2017-03-06 2018-09-06 Charter Communications Operating, Llc Redundant power supplies and in-field testing

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3227188B2 (ja) * 1991-12-25 2001-11-12 キヤノン株式会社 情報処理方法及び装置
JP5029056B2 (ja) * 2007-02-16 2012-09-19 富士通セミコンダクター株式会社 検出回路及び電源システム
US8742778B2 (en) * 2012-01-18 2014-06-03 International Business Machines Corporation Testing protection schemes of a power converter
CN106329688B (zh) * 2014-01-28 2019-09-27 Oppo广东移动通信有限公司 电子设备及其电源适配器
US9715244B2 (en) * 2015-02-24 2017-07-25 Intersil Americas LLC System and method for determining adapter current limit
CN104965139B (zh) * 2015-06-26 2017-11-07 广东欧珀移动通信有限公司 一种智能检测适配器性能的方法和终端
CN204882749U (zh) * 2015-08-05 2015-12-16 福建二菱电子有限公司 一种电源适配器的测试装置
CN106471697A (zh) * 2015-12-16 2017-03-01 广东欧珀移动通信有限公司 控制充电的方法、装置、电源适配器和移动终端
CN105896645B (zh) 2016-03-23 2019-01-25 Oppo广东移动通信有限公司 移动终端的充电功能检测方法、装置及系统
CN206020564U (zh) * 2016-09-13 2017-03-15 北京百华悦邦科技股份有限公司 一种带自动报警功能的笔记本电源适配器检测工具
WO2020062296A1 (zh) * 2018-09-30 2020-04-02 Oppo广东移动通信有限公司 一种输出状态的测试方法和系统、及计算机存储介质

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040108843A1 (en) 2002-12-05 2004-06-10 Comarco Wireless Technologies, Inc. Tip having active circuitry
US20110254582A1 (en) 2010-04-15 2011-10-20 Atc Logistics & Electronics, Inc. Systems and methods for modular testing of chargers
US20180252777A1 (en) 2017-03-06 2018-09-06 Charter Communications Operating, Llc Redundant power supplies and in-field testing

Also Published As

Publication number Publication date
JP2021532485A (ja) 2021-11-25
WO2020062309A1 (zh) 2020-04-02
CN111263892A (zh) 2020-06-09
US11561263B2 (en) 2023-01-24
EP3709037A4 (en) 2020-12-09
EP4043892A1 (en) 2022-08-17
EP3709037A1 (en) 2020-09-16
US20200150188A1 (en) 2020-05-14
EP3709037B1 (en) 2022-05-11
EP4043892B1 (en) 2024-06-19
KR102557297B1 (ko) 2023-07-20
KR20210028221A (ko) 2021-03-11
ES2922199T3 (es) 2022-09-09
CN111263892B (zh) 2022-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7187662B2 (ja) アダプタの機能テスト方法及び装置、機器、記憶媒体
JP7487166B2 (ja) アダプタテスト装置、方法及びコンピューター記憶媒体
KR102085684B1 (ko) 충전 보호 방법 및 장치
US20220043067A1 (en) Charging method and device, charging system, electronic equipment and storage medium
CN107834657B (zh) 一种充电方法、终端设备及电源适配器
WO2018076623A1 (zh) 一种检测充电异常的方法、装置及电源适配器
US10978867B2 (en) Battery protection systems
US11658494B2 (en) Charging method and related device
US11545823B2 (en) Power supply with current limit on individual conductors
JP7191083B2 (ja) 充電装置のテストボード、テストシステム及びテスト方法
CN104081311A (zh) 用于管理移动设备的操作的装置和方法
CA2662230A1 (en) Method of setting a ground fault trip function for a trip unit and a trip unit having a defined trip function for ground fault protection
CN104849646A (zh) 可热插拔的测试模块及应用其的测试系统
WO2017152586A1 (zh) 电池保护方法及装置、终端
CN106300252A (zh) 一种漏电检测方法、装置及终端设备
US20190140473A1 (en) Power controller
KR102338637B1 (ko) 충전 장치의 테스트 시스템 및 방법
CN108879589B (zh) 过流保护方法、装置、终端设备及存储介质
WO2016045350A1 (zh) 充电电池、充电电池的使用方法以及充电系统
US10305271B2 (en) Multi-pack and component connectivity detection
CN104407883A (zh) 一种控制方法及电子设备
WO2020062151A1 (zh) 一种供电电路及系统
CN117706434A (zh) 储能系统的熔丝状态检测方法、装置及储能系统
TW202021225A (zh) 電源電路及其保護狀態解除方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210126

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210126

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211217

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220314

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220722

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221020

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20221101

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20221130

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7187662

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150