JP7183844B2 - 情報処理装置、方法、およびプログラム - Google Patents
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Description
図1は、本発明の一実施形態に係る情報処理装置1のハードウェア構成図である。
本体部200は、CPU(Central Processing Unit)201、RAM(Random Access Memory)202、HDD(Hard Disk Drive)203、および接続インタフェース(interface:IF)204を有する。CPU201、RAM202、HDD203、および接続IF204は、バスによって相互に接続されている。
操作部100は、本体部200に対する操作入力を受け付けたり、本体部200の状態を表示したりする、入出力装置としての機能を提供する。
<情報処理装置1の機能ブロック>
図2は、本発明の第1の実施形態に係る情報処理装置1の機能ブロック図である。操作部100は、予測部111、画面表示部114を含む。また、操作部100のeMMC103は、カウント情報記憶部112、コントローラ機能部113を含む。以下、それぞれについて説明する。
予測部111は、eMMC103の書き換え回数を取得する。eMMC103の書き換え回数は、カウント情報記憶部112または情報処理装置1内の他のメモリ(例えば、HDD203)に記憶される。
予測部111は、eMMC103の不良ブロックの数を取得する。eMMC103の不良ブロック数は、カウント情報記憶部112または情報処理装置1内の他のメモリ(例えば、HDD203)に記憶される。
予測部111は、書き換え回数および不良ブロック数に基づいて、メモリの故障を予測する。以下、不良ブロック数に基づく例と、不良ブロック数の増加率に基づく例を説明する。
予測部111は、所定の頻度で、メモリ故障予測を行うことができる。例えば、情報処理装置1の稼働時間(初回の起動からの経過時間)が短い場合、または、書き換え回数が少ない場合には、メモリ故障が発生する確率は低いため、低頻度でメモリ故障予測を行う。一方、情報処理装置1の稼働時間が長い場合、または、書き換え回数が多い場合には、メモリ故障が発生する確率が高いため、高頻度でメモリ故障予測を行う。このように、メモリ故障が発生する確率に応じてメモリ故障予測の頻度を変化させることができる。そのため、メモリ故障予測の頻度を抑えることができ、情報処理装置1の処理性能に対する影響を抑えることができる。
次に、第1の実施形態に係る情報処理システム1の処理の詳細について説明する。図6は、本発明の第1の実施形態に係るメモリの故障を予測する処理のフローチャートである。
次に、第2の実施形態を説明する。なお、<第1の実施形態>と異なる点を主に説明する。
図7は、本発明の第2の実施形態に係る情報処理装置1の機能ブロック図である。本体部200は、予測部211を含む。また、本体部200のHDD203は、カウント情報記憶部212を含む。以下、それぞれについて説明する。
予測部211は、HDD203のSMART(Self‐Monitoring, Analysis and Reporting Technology)情報を取得する。HDD203のSMART情報は、カウント情報記憶部212または情報処理装置1内の他のメモリ(例えば、eMMC103)に記憶される。
予測部211は、SMART情報に基づいて、メモリの故障を予測する。例えば、稼働時間(または電源ON/OFF回数)が少ない時に不良ブロック数が多い場合には、デバイス不良が疑われるので、故障警告を出す。一方、稼働時間(または電源ON/OFF回数)の増加とともに不良ブロック数が増加することは通常の利用で発生しうることなので、故障警告を出さない。つまり、稼働時間(または電源ON/OFF回数)が少ない時は不良ブロック数の比重を大きくし、稼働時間(または電源ON/OFF回数)が多い時は不良ブロック数の比重を小さくして故障予測を行う。
予測部211は、SMART情報に基づいた頻度で、メモリ故障予測を行うことができる。例えば、稼働時間(または電源ON/OFF回数)が少ない場合には、メモリ故障が発生する確率は低いため、低頻度でメモリ故障予測を行う。一方、稼働時間(または電源ON/OFF回数)が多い場合には、メモリ故障が発生する確率が高いため、高頻度でメモリ故障予測を行う。図8を参照しながら、メモリ故障予測の頻度の決定の一例を説明する。なお、図8は一例に過ぎず、SMART情報と頻度との関係はこれに限定されない。
次に、第2の実施形態に係る情報処理システム1の処理の詳細について説明する。第2の実施形態では、予測部211は、図6のS601およびS602の代わりに、SMART情報をHDD203から取得する。その後、故障の予測および警告画面の表示は、図6のS603およびS604と同様であるので説明を省略する。
上記の<第1の実施形態>および<第2の実施形態>において、予測部111および予測部211は、メモリの寿命を診断することもできる。図9および図10を参照しながら、HDD203の寿命診断の一例を説明する。なお、HDD203の製品寿命が予め記憶されているものとする。
100 操作部
103 eMMC
111 予測部
112 カウント情報記憶部
113 コントローラ機能部
114 画面表示部
200 本体部
203 HDD
211 予測部
212 カウント情報記憶部
Claims (9)
- メモリの使用度合いと前記メモリの不良ブロック数とに基づいて、前記メモリの故障を予測する、予測部と、
メモリの書き換え回数と不良ブロック数との対応関係と、を有し、
前記メモリの不良ブロック数は前記メモリの使用度合いに応じて重み付けされ、
前記メモリの使用度合いは、前記メモリの書き換え回数であり、
前記予測部は、前記メモリの不良ブロック数が、前記対応関係において前記メモリの書き換え回数に対応する不良ブロック数を越えていると、前記メモリが故障していると判断する、情報処理装置。 - 前記メモリの使用度合いは、前記メモリの書き換え回数であり、
前記予測部は、前記メモリの不良ブロック数が、前記メモリの書き換え回数と前記メモリの書き換え回数に応じた重み付け係数とに基づいて算出した予想不良ブロック数を越えていると、前記メモリが故障していると判断する、請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記メモリの使用度合いは、前記メモリの書き換え回数であり、
前記予測部は、前記メモリの不良ブロック数の増加率が閾値以上であると前記メモリが故障していると判断し、前記増加率または前記閾値は前記メモリの書き換え回数に応じて重み付けされる、請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記メモリの使用度合いは、前記メモリの稼働時間または電源ON/OFF回数であり、
前記予測部は、前記メモリの不良ブロック数が、前記メモリの稼働時間または電源ON/OFF回数と前記メモリの稼働時間または電源ON/OFF回数に応じた重み付け係数とに基づいて算出した予想不良ブロック数を越えていると、前記メモリが故障していると判断する、請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記メモリの使用度合いは、前記メモリの稼働時間または電源ON/OFF回数であり、
前記情報処理装置は、メモリの稼働時間または電源ON/OFF回数と不良ブロック数との対応関係をさらに有し、
前記予測部は、前記メモリの不良ブロック数が、前記対応関係において前記メモリの稼働時間または電源ON/OFF回数に対応する不良ブロック数を越えていると、前記メモリが故障していると判断する、請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記予測部は、前記メモリの使用度合いに基づいて、前記メモリの故障を予測する頻度を決定する、請求項1から5のいずれか一項に記載の情報処理装置。
- 前記予測部は、所定の期間における前記メモリの使用度合いの変化と、前記メモリの製品寿命とに基づいて、前記メモリの残りの寿命を予測する、請求項1から6のいずれか一項に記載の情報処理装置。
- メモリの書き換え回数と不良ブロック数との対応関係を有する情報処理装置が実行する方法であって、
メモリの使用度合いと前記メモリの不良ブロック数とに基づいて、前記メモリの故障を予測するステップを含み、
前記メモリの不良ブロック数は前記メモリの使用度合いに応じて重み付けされ、
前記メモリの使用度合いは、前記メモリの書き換え回数であり、
前記メモリの不良ブロック数が、前記対応関係において前記メモリの書き換え回数に対応する不良ブロック数を越えていると、前記メモリが故障していると判断する、方法。 - メモリの書き換え回数と不良ブロック数との対応関係を有するコンピュータを
メモリの使用度合いと前記メモリの不良ブロック数とに基づいて、前記メモリの故障を予測する、予測部として機能させ、
前記メモリの不良ブロック数は前記メモリの使用度合いに応じて重み付けされ、
前記メモリの使用度合いは、前記メモリの書き換え回数であり、
前記予測部は、前記メモリの不良ブロック数が、前記対応関係において前記メモリの書き換え回数に対応する不良ブロック数を越えていると、前記メモリが故障していると判断する、プログラム。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006309931A (ja) | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Agere Systems Inc | ハードディスク上で発見された欠陥を時間と関連付ける方法と装置 |
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JP2012088937A (ja) | 2010-10-20 | 2012-05-10 | Ricoh Co Ltd | 画像処理装置、画像処理装置のメモリ管理方法、画像処理装置のメモリ管理プログラム及び記録媒体 |
US20150046635A1 (en) | 2013-08-07 | 2015-02-12 | SMART Storage Systems, Inc. | Electronic System with Storage Drive Life Estimation Mechanism and Method of Operation Thereof |
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US5917724A (en) * | 1997-12-20 | 1999-06-29 | Ncr Corporation | Method for predicting disk drive failure by monitoring the rate of growth of defects within a disk drive |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006309931A (ja) | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Agere Systems Inc | ハードディスク上で発見された欠陥を時間と関連付ける方法と装置 |
JP2011081694A (ja) | 2009-10-09 | 2011-04-21 | J&K Car Electronics Corp | 電子機器およびメモリ制御方法 |
JP2012088937A (ja) | 2010-10-20 | 2012-05-10 | Ricoh Co Ltd | 画像処理装置、画像処理装置のメモリ管理方法、画像処理装置のメモリ管理プログラム及び記録媒体 |
US20150046635A1 (en) | 2013-08-07 | 2015-02-12 | SMART Storage Systems, Inc. | Electronic System with Storage Drive Life Estimation Mechanism and Method of Operation Thereof |
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