JP7171578B2 - 粉率測定装置、粉率測定システム、高炉操業方法および粉率測定方法 - Google Patents
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Description
(1)塊状の物質の表面に付着した粉の粉率を測定する装置であって、前記塊状の物質を照明する照明装置と、前記塊状の物質からの反射光を分光して分光反射率を測定する分光装置と、前記分光装置で測定された分光反射率から特徴量を抽出し、抽出された特徴量から前記粉率を算出する演算装置と、を備える、粉率測定装置。
(2)前記特徴量は、前記分光装置によって測定された複数の波長の分光反射率を主成分分析して得られた予め定められた一つまたは複数の主成分における基底ベクトルのスコアであり、前記演算装置は、演算部と格納部とを有し、前記格納部には、前記粉率と前記スコアとの関係式が格納されており、前記演算部は、前記複数の波長の分光反射率から前記スコアを算出し、算出された前記スコアと前記関係式とを用いて前記粉率を算出する、(1)に記載の粉率測定装置。
(3)前記特徴量は、前記分光装置によって測定された複数の波長の分光反射率にPLSを適用して得られた一つまたは複数の基底ベクトルのスコアであり、前記演算装置は、演算部と格納部とを有し、前記格納部には、前記粉率と前記スコアとの関係式が格納されており、前記演算部は、前記複数の波長の分光反射率から前記スコアを算出し、算出された前記スコアと前記関係式とを用いて前記粉率を算出する、(1)に記載の粉率測定装置。
(4)前記特徴量は、前記分光装置によって測定された予め定められた一つまたは複数の波長における分光反射率であり、前記演算装置は、演算部と格納部とを有し、前記格納部には、前記粉率と前記波長の分光反射率との関係式が格納されており、前記演算部は、前記波長の分光反射率と前記関係式とを用いて前記粉率を算出する、(1)に記載の粉率測定装置。
(5)(1)から(4)のいずれか1つに記載の前記粉率測定装置と、前記塊状の物質を搬送するコンベアと、を備え、前記粉率測定装置は、前記コンベアの上方に設けられ、前記コンベアで高炉に搬送される塊状の物質の表面に付着した粉の粉率を測定する、粉率測定システム。
(6)(5)に記載の粉率測定システムで、コンベアで高炉に搬送される塊状の物質の表面に付着した粉の粉率を測定するステップと、測定された前記粉率が予め定められた閾値よりも高いか否かを判断するステップと、を含み、前記判断するステップにおいて、前記粉率が予め定められた閾値よりも高いと判断された場合に、前記粉の粒径より大きく塊状の物質の粒径より小さい目開きの篩で前記塊状の物質を篩う、高炉操業方法。
但し、上記数式(1)において、b、a1、a2は、回帰式のパラメータである。
但し、上記数式(2)において、d、c1、c2、・・・、cnは、回帰式のパラメータである。
12 粉率測定装置
14 コンベア
16 分光装置
18 照明装置
20 演算装置
22 演算部
24 格納部
26 コークス
28 ホッパ
30 篩
Claims (4)
- 塊状の物質の表面に付着した粉の粉率を測定する装置であって、
前記塊状の物質を照明する照明装置と、
前記塊状の物質からの反射光を分光して分光反射率を測定する分光装置と、
前記分光装置で測定された分光反射率から特徴量を抽出し、抽出された特徴量から前記粉率を算出する演算装置と、
を備え、
前記特徴量は、前記分光装置によって測定された複数の波長の分光反射率にPLSを適用して得られた前記複数の波長の数の基底ベクトルのスコアから選択された、一つまたは複数でかつ前記複数の波長の数未満の基底ベクトルのスコアであり、
前記複数の波長は、水の吸収波長と水の吸収波長以外の波長とを含み、
前記演算装置は、演算部と格納部とを有し、
前記格納部には、予め、種々の条件において測定された前記塊状物質の分光反射率からPLSを用いて算出された、前記粉率と前記スコアとの関係式が格納されており、
前記演算部は、前記複数の波長の分光反射率から前記スコアを算出し、算出された前記スコアと前記関係式とを用いて前記粉率を算出し、前記複数の波長の数未満の基底ベクトルのスコアは、複数の篩分析データに対する前記粉率の算出精度が平均的に高くなるように、交差検定を組み合わせて前記粉率の変化に相関が少ない因子の影響を排除するように選択されたものである、粉率測定装置。 - 請求項1に記載の前記粉率測定装置と、
前記塊状の物質を搬送するコンベアと、を備え、
前記粉率測定装置は、前記コンベアの上方に設けられ、前記コンベアで高炉に搬送される塊状の物質の表面に付着した粉の粉率を測定する、粉率測定システム。 - 請求項2に記載の粉率測定システムで、コンベアで高炉に搬送される塊状の物質の表面に付着した粉の粉率を測定するステップと、
測定された前記粉率が予め定められた閾値よりも高いか否かを判断するステップと、を含み、
前記判断するステップにおいて、前記粉率が予め定められた閾値よりも高いと判断された場合に、前記粉の粒径より大きく塊状の物質の粒径より小さい目開きの篩で前記塊状の物質を篩う、高炉操業方法。 - 塊状の物質の表面に付着した粉の粉率を測定する粉率測定方法であって、
前記塊状の物質を照明する照明工程と、
前記塊状の物質からの反射光を分光して分光反射率を測定する測定工程と、
前記測定工程で測定された分光反射率から特徴量を抽出し、抽出された特徴量から前記粉率を算出する演算工程と、
を有し、
前記特徴量は、前記分光装置によって測定された複数の波長の分光反射率にPLSを適用して得られた前記複数の波長の数の基底ベクトルのスコアから選択された、一つまたは複数でかつ前記複数の波長の数未満の基底ベクトルのスコアであり、
前記複数の波長は、水分の吸収波長と水分の吸収波長以外の波長とを含み、
前記演算工程は、前記複数の波長の分光反射率から前記スコアを算出し、算出された前記スコアと、予め、種々の条件において測定され前記塊状物質の分光反射率からPLSを用いて算出された、前記粉率と前記スコアとの関係式とを用いて、前記粉率を算出し、前記複数の波長の数未満の基底ベクトルのスコアは、複数の篩分析データに対する前記粉率の算出精度が平均的に高くなるように、交差検定を組み合わせて前記粉率の変化に相関が少ない因子の影響を排除するように選択されたものである、粉率測定方法。
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