JP7162439B2 - electromagnetic wave shield - Google Patents
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Description
本発明は電磁波遮蔽体に係り、特には電磁シールド性能を有する材料からなる層状部が基体部に形成された電磁波遮蔽体に関するものである。 The present invention relates to an electromagnetic wave shield, and more particularly to an electromagnetic wave shield in which a layered portion made of a material having electromagnetic shielding performance is formed on a base portion.
ハイブリッド車などの車両には、PCU(パワー・コントロール・ユニット)、ECU(エレクトロニック・コントロール・ユニット)等の電子機器が専用の筐体に収容された状態で搭載されている。近年、この種のユニットはエンジンルーム内に配置されることが主流になりつつある。エンジンルーム内には各種モータ等の電磁波を発生する機器がいくつか存在しており、PCU等は常に電磁波に曝される環境にある。従って、電磁障害(EMI:electromagnetic interference)からPCU等を保護するために、電磁波をシールドする金属製(例えばアルミダイキャスト製)の筐体が従来よく用いられている。 A vehicle such as a hybrid vehicle is equipped with electronic devices such as a PCU (power control unit) and an ECU (electronic control unit) housed in a dedicated housing. In recent years, this type of unit is becoming mainstream to be arranged in the engine room. In the engine room, there are several devices that generate electromagnetic waves, such as various motors, and the PCU and the like are in an environment where they are constantly exposed to electromagnetic waves. Therefore, in order to protect the PCU and the like from electromagnetic interference (EMI), a metal (for example, aluminum die-cast) housing for shielding electromagnetic waves is conventionally used.
ところで、金属製の筐体は電磁波を効果的にシールドできる反面、どうしても重量増につながることから、車両全体の軽量化を図るうえではマイナスに作用してしまう。それゆえ近年では、金属よりも軽い合成樹脂材料を用いて筐体を形成したものが提案されている。しかしながら、合成樹脂製の筐体は軽量で成形性や耐食性等に優れているものの、金属材料とは異なり、合成樹脂材料自体には電磁シールド性能がないという欠点がある。そのため、樹脂材料を基体部とし、その片側面に電磁シールド性能を有する金属材料からなる層(層状部)を形成した電磁波遮蔽用筐体が従来提案されている(例えば、特許文献1、2を参照)。特許文献1においては、樹脂成形体の内面に、層状部としてアルミニウム蒸着層を形成したものが開示されている。また、特許文献2においては、樹脂成形体の内面に、層状部としてアルミニウム箔を貼着したものが開示されている。
By the way, although a metal housing can effectively shield electromagnetic waves, it inevitably leads to an increase in weight, which has a negative effect on reducing the weight of the vehicle as a whole. Therefore, in recent years, proposals have been made to form a housing using a synthetic resin material that is lighter than metal. However, although synthetic resin housings are lightweight and excellent in moldability and corrosion resistance, they have the disadvantage that, unlike metal materials, synthetic resin materials themselves do not have electromagnetic shielding performance. Therefore, an electromagnetic wave shielding housing has been conventionally proposed in which a resin material is used as a base portion and a layer (layered portion) made of a metal material having electromagnetic shielding performance is formed on one side of the base portion (for example, see
上記従来技術の電磁波遮蔽用筐体の場合、金属材料からなる層状部の厚さが少ないと、所望とする電磁シールド性能を付与することができず、PCU等を電磁波から保護することができなくなる。金属材料からなる層状部をある程度厚く形成した場合には、所望とする電磁シールド性能を付与することができる一方で、金属材料の使用量が増加する結果、電磁波遮蔽用筐体の高コスト化、重量増につながってしまう。 In the case of the electromagnetic wave shielding housing of the prior art, if the thickness of the layered portion made of the metal material is small, the desired electromagnetic shielding performance cannot be imparted, and the PCU and the like cannot be protected from electromagnetic waves. . When the layered portion made of a metal material is formed to a certain thickness, it is possible to impart desired electromagnetic shielding performance, but as a result of an increase in the amount of metal material used, the cost of the electromagnetic wave shielding housing increases. lead to weight gain.
本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、基体部に形成される層状部の厚さを抑えつつ、所望とする電磁シールド性能を付与することが可能な電磁波遮蔽体を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an electromagnetic wave shield capable of imparting desired electromagnetic shielding performance while suppressing the thickness of the layered portion formed on the base portion. is to provide
上記課題を解決するために、手段1に記載の発明は、1GHz以上の電磁波に曝露される電磁波遮蔽体であって、表面及び裏面を有する厚さ1.0mm以上のPPS樹脂製の射出成形体である基体部と、前記基体部を形成する材料とは導電率が異なる材料からなり、前記基体部の面方向に沿って形成され、前記基体部の前記表面上及び裏面上にて前記表面及び前記裏面を覆うように形成されることで積層方向に互いに厚さ1.0mm以上離間して配置された複数層の層状部とを備えるとともに、複数層の前記層状部は、いずれもスパッタリングにより形成されたアルミニウム層であるとともに、それぞれが0.1μm以上1.0μm以下の等しい厚さであり、複数層の前記層状部の合計厚さをTとした場合において、評価治具を用いて電磁波シールド材の電磁波透過減衰量の評価を行う同軸管法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能である電磁波透過減衰量が、前記層状部が単層かつ厚さがTであることを除き共通の構造を有する試料を同じ方法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能に比較して高いとともに、前記評価治具に試料を配置しないブランクのときの電磁シールド性能の60dB以上であることを特徴とする電磁波遮蔽体をその要旨とする。
手段2に記載の発明は、1GHz以上の電磁波に曝露される電磁波遮蔽体であって、表面及び裏面を有する厚さ1.0mm以上のPPS樹脂製の射出成形体である基体部と、前記基体部を形成する材料とは導電率が異なる材料からなり、前記基体部の面方向に沿って形成され、前記基体部の前記表面上及び裏面上にて前記表面及び前記裏面を覆うように形成されることで積層方向に互いに厚さ1.0mm以上離間して配置された複数層の層状部とを備えるとともに、複数層の前記層状部は、スパッタリングにより形成された0.2μm以上1.0μm以下の第1のステンレス合金層と、スパッタリングにより形成された0.2μm以上1.0μm以下の第2のステンレス合金層または0.5μmの銅層とであるとともに、前記第2のステンレス合金層または前記銅層が前記第1のステンレス合金層と等しい厚さであり、複数層の前記層状部の合計厚さをTとした場合において、評価治具を用いて電磁波シールド材の電磁波透過減衰量の評価を行う同軸管法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能である電磁波透過減衰量が、前記層状部が単層かつ厚さがTであることを除き共通の構造を有する試料を同じ方法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能に比較して高いとともに、前記評価治具に試料を配置しないブランクのときの電磁シールド性能の50dB以上であることを特徴とする電磁波遮蔽体をその要旨とする。
In order to solve the above problems, the invention described in
The invention described in
従って、手段1、2に記載の発明によると、複数層の層状部を積層方向に互いに離間して配置したことにより、層状部が単層の場合よりも高いシールド性能(面方向に対するシールド性能)を付与することができ、電磁波を効果的に遮蔽することができる。よって、層状部の厚さを抑えつつ、所望とする電磁シールド性能を付与することが可能となる。
Therefore, according to the inventions described in
手段3に記載の発明は、手段1または2において、車両搭載用の電子機器筐体の一部をなすものであることをその要旨とする。
The gist of the invention described in
従って、手段3に記載の発明によると、車両搭載用の電子機器を電磁波から効果的に保護することができる。
Therefore, according to the invention described in
以上詳述したように、請求項1~3に記載の発明によると、基体部に形成される層状部の厚さを抑えつつ、所望とする電磁シールド性能を付与することが可能な電磁波遮蔽体を提供することができる。
As described in detail above, according to the inventions described in
以下、本発明の電磁波遮蔽体を具体化した一実施の形態を図1~図11に基づき詳細に説明する。 An embodiment embodying an electromagnetic wave shield of the present invention will be described in detail below with reference to FIGS. 1 to 11. FIG.
図1に示されるように、本実施形態の電磁波遮蔽体は、エンジンルーム内に配設される車両搭載用のPCUハウジング1(電子機器筐体)の一部をなすものであり、具体的には有底箱状をなすアルミニウム製のハウジング本体2の上部開口を塞ぐための電磁波遮蔽カバー3である。このPCUハウジング1内には、例えばハイブリッド車のモータ制御やエンジン制御を行うための回路が構成された配線基板4が収容されるようになっている。このPCUハウジング1は、例えば100MHz以上の電磁波、特には1GHz以上の電磁波に曝露された状態で使用される。
As shown in FIG. 1, the electromagnetic wave shielding body of the present embodiment forms a part of a vehicle-mounted PCU housing 1 (electronic equipment housing) disposed in an engine room. is an electromagnetic
図2に示されるように、この電磁波遮蔽カバー3は、基体部11と層状部12とを備えている。
As shown in FIG. 2, the electromagnetic
電磁波遮蔽カバー3を構成する基体部11は、表面11a及び裏面11bを有する成形体である。ここで、基体部11は表面11a及び裏面11bを有する形状であればよく、特に限定されないが、例えば一部または全体に板状部を有するものであること、特には平板状部を有するものであることが好ましい。板状部は表面11a及び裏面11bを有しており、複数層の層状部12を形成する場所として適しているからである。なお、板状部は必ずしも平坦でなくてもよく、例えば湾曲していたり段差を有していたりしてもよい。板状部の厚さは任意であって特に限定されないが、例えば0.1mm厚以上、さらには0.5mm厚以上、特には1.0mm厚以上に設定される。また、基体部11の大きさは任意であって、収容すべき配線基板4の大きさに応じて決定される。
The
基体部11を形成する材料としては、特に限定されるわけではなく、例えば合成樹脂、木、紙、セラミック、金属などから広く選択することができるが、車両搭載用のPCUハウジング1の一部として使用される点を鑑みると、軽量で絶縁性がある等の性質があることから、とりわけ合成樹脂が好適である。また、成形体である基体部11を得るための成形方法としては、従来公知の各種の手法を採用することができる。具体的にいうと、例えば、プレス成形や射出成形などのように金型を用いる手法ばかりでなく、金型を用いない手法(切削加工や3Dプリンティングなど)を採用することも許容される。ここで、好適な基体部11としては熱可塑性樹脂製の射出成形体を挙げることができる。熱可塑性樹脂製の射出成形体は、成形性、コスト性、軽量性、加工性、絶縁性等に優れているからである。なお、熱可塑性樹脂の具体例としては、例えば、PPS樹脂、PBT樹脂、PA樹脂、PP樹脂、PPE樹脂、ABS樹脂などがあるが、これらの中でもPPS樹脂を選択することが好適である。PPS樹脂は汎用品であり、比較的安価だからである。これに加え、PPS樹脂は、アルミニウムをはじめ多くの金属材料との相性がよいことから、層状部12の密着性を向上させることができるからである。ここで、PPS樹脂のマトリクス中に無機繊維を含む材料からなる射出成形体を基体部11として選択することが好適であり、これにより形状安定性や層状部12の密着性の高い電磁波遮蔽カバー3が得やすくなる。
The material forming the
電磁波遮蔽カバー3を構成する層状部12は、基体部11の面方向(即ち表面11aや裏面11b)に沿って複数層形成されている。層状部12の層数は2層に限定されるわけではなく、3層あるいは4層等であってもよい。これら複数層の層状部12は、前記面方向と直交する積層方向に互いに離間して配置されている。複数層の層状部12が積層方向に互いに離間しておらず、密接して配置されている場合には、実質的に単層とみなされる状態となる。よって、ある程度厚く形成しないと、所望とする電磁シールド効果を得ることができなくなる。
The
複数層の層状部12のうちの少なくとも1層は、基体部11の表層(即ち表面11aまたは裏面11bの上)に形成されていることがよく、特には表面11a及び裏面11bの上に形成されていることが望ましい。この場合、複数層の層状部12間に基体部11が介在された状態となることから、基体部11の厚さ分に相当する距離を隔てて複数層の層状部12を配置することができる。また、このような配置態様の場合、複数層の層状部12を比較的容易に形成することができる。なお、複数層の層状部12は、基体部11の表面11a及び裏面11bを完全に覆うように形成されていてもよいほか、特定部分のみを覆うように形成されていてもよい。さらに、複数層の層状部12は、基体部11の側面、言い換えると表面11a及び裏面11b間に位置してそれらと直交する面を覆っていてもよく、覆っていなくてもよい。勿論、複数層の層状部12のうちの少なくとも1層は、基体部11の内層に形成されていてもよく、全ての層が内層に形成されていてもよい。ここで、隣接する複数層の層状部12どうしは、基体部11の一部または全部を隔てた状態で離間配置されているばかりでなく、空隙を隔てて離間配置されていてもよい。別の言い方をすると、層状部12は、支持体である基体部11に対して必ずしも直接的に面接触して支持されていなくてもよく、例えば基体部11とは別の支持体を介して点接触などにより支持されていてもよい。
At least one layer of the multiple layers of the layered
複数層の層状部12は、基体部11を形成する材料とは導電率が異なる材料からなり、具体的には基体部11を形成する材料よりも導電率が高い材料からなることが好ましい。このような材料でないと、好適な電界シールド効果を付与することが困難になるからである。また、複数層の層状部12は、基体部11を形成する材料よりも透磁率が高い材料からなることが好ましい。このような材料でないと、好適な磁界シールド効果を付与することが困難になるからである。
The layered
例えば、基体部11が合成樹脂材料で形成されている場合、複数層の層状部12として、金属層、カーボン層、セラミック層などが選択可能であり、とりわけ金属層を選択することが好適である。一般的に金属材料のなかには、合成樹脂材料よりも導電率及び透磁率が高い材料が少なからず存在するため、材料選択の自由度が大きいからである。このような金属層の具体例としては、例えば、金、銀、銅、白金、鉄、アルミニウム、チタン、ニッケル、コバルト、クロム、すず、鉛等からなる金属層や、これら金属を成分として含む合金層(例えばステンレス合金層、はんだ合金層など)を挙げることができる。これらのなかでも、とりわけアルミニウム層が好適である。アルミニウムは廉価な金属材料であるためコスト低減に寄与するとともに、比較的軽量であるため全体の軽量化にも寄与するからである。
For example, when the
複数層の層状部12は、各層で同種の金属材料を用いて形成されていてもよいが、各層で異種の金属材料を用いて形成されていてもよい。前者の具体例としては、例えば、表面11a側にアルミニウム層、裏面11b側にアルミニウム層を形成した態様や、表面11a側に銅層、裏面11b側に銅層を形成した態様や、表面11a側にステンレス合金層、裏面11b側にステンレス合金層を形成した態様、などを挙げることができる。後者の具体例としては、例えば、表面11a側にアルミニウム層、裏面11b側に銅層を形成した態様や、表面11a側にアルミニウム層、裏面11b側にステンレス合金層を形成した態様や、表面11a側に銅層、裏面11b側にステンレス合金層を形成した態様、などを挙げることができる。
Each layer of the layered
アルミニウムに代表される金属層は、例えば、基体部11の表面11aや裏面11bに対して、従来公知の成膜方法、具体的にはめっきや化学蒸着(CVD)、あるいはスパッタリング、真空蒸着、イオンプレーティングなどの物理蒸着(PVD)のような種々の手法により形成可能であり、これらの手法によれば薄くて均一な層を比較的容易に形成することができるからである。そのほか、ロールコート法、スプレーコート法、カーテンコート法により金属を含む液状材料を塗布する方法、当該液状材料を印刷する方法、接着剤等を用いて金属箔を貼着する方法などを採用することも可能である。上記の金属層は、先に挙げた手法のうちスパッタリング等のような物理的成膜方法により形成されることが好ましい。スパッタリング法等により形成された金属薄膜(スパッタリング層)は、薄くても基体部11に対する密着性に優れたものとなるからである。また、スパッタリング層は表面が平滑であることに加え、バリが出ないので異物混入のおそれがないというメリットもあるからである。
The metal layer typified by aluminum is formed on the
複数層の層状部12としての金属層(例えばアルミニウム層)の厚さは限定されず任意であるが、基体部11を合成樹脂材料からなるものとした場合、通常は基体部11よりも薄く形成される。基体部11よりも金属層のほうが厚い場合には、合成樹脂材料に対する金属材料の使用比率が高くなる結果、電磁波遮蔽カバー3の低コスト化、軽量化が達成されにくくなるからである。また、電磁波遮蔽カバー3全体に所望とする物理的強度が付与されにくくなるからである。
The thickness of the metal layer (for example, an aluminum layer) as the layered
金属層(例えばアルミニウム層)の厚さは、例えば各層ごとに1.0μm以下であることがよく、さらには0.2μm以下であることがよく、特には0.1μm以上0.15μm以下であることがよい。その理由は、基体部の表面又は裏面に金属層の合計厚さと同じ厚さの単層を形成した場合に比べて高い電磁シールド効果を付与されるにもかかわらず、金属層自体は極めて薄くて済むので、効果的に低コスト化、軽量化を図ることができるからである。ここで、各層ごとの厚さが1.0μm超であると、効果的に低コスト化、軽量化を図ることが難しくなるおそれがある。逆に、各層ごとの厚さが0.1μm未満であると、所望とする電磁シールド効果を付与することが困難になったり、他の部材が接触した場合に層状部12が剥がれて基体部11が露出しやすくなったりするおそれがある。なお、複数層の層状部12としての金属層(例えばアルミニウム層)の厚さは、各層で等しくてもよいが、異なっていてもよく、厚さが等しい層と異なる層とが混在していてもよい。
The thickness of the metal layers (e.g., aluminum layers) may be, for example, 1.0 μm or less for each layer, preferably 0.2 μm or less, and in particular 0.1 μm or more and 0.15 μm or less. It's good. The reason for this is that the metal layer itself is extremely thin, although a higher electromagnetic shielding effect is imparted than when a single layer having the same thickness as the total thickness of the metal layers is formed on the front or back surface of the base. This is because the cost can be effectively reduced and the weight can be reduced. If the thickness of each layer exceeds 1.0 μm, it may be difficult to effectively reduce the cost and weight. Conversely, if the thickness of each layer is less than 0.1 μm, it may be difficult to impart a desired electromagnetic shielding effect, or the layered
複数層の層状部12をアルミニウム層とした場合、PPS樹脂製の射出成形体からなる基体部11と組み合わせて電磁波遮蔽カバー3を構成することが好ましい。上述したように、PPS樹脂はアルミニウムとの相性がよいことから、基体部11に対する層状部12の密着性を向上させることができるからである。
When the layered
なお、複数層の層状部12の厚さは面方向に沿ってどこも同じであってもよいほか、面方向に異なる場所によって異なっていてもよい。また、複数層の層状部12の厚さは、各層で同じであってもよいが、異なっていてもよい。
The thickness of the layered
ここで、複数層の層状部12の合計厚さをTとした場合において、本実施形態の電磁波遮蔽カバー3を試料とし、これを所定の評価治具を用いて電界シールド性能を測定したと仮定する。同様に、層状部12が単層かつ厚さがTであることを除き共通の構造を有する試料を、当該評価治具を用いて同じ方法にて電界シールド性能を測定したと仮定する。このとき、複数層の層状部12を有する前者(本実施形態)の試料のほうが、単層の層状部12を有する後者の試料に比べて、電界シールド性能が高くなっている。
Here, when the total thickness of the layered
電界用評価治具を用いて電磁波シールド材の評価を行うKEC法(関西電子工業振興センターの方法)により、上記の比較を行った場合、具体的には次のことが言える。即ち、本実施形態のものについて上記KEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける電界シールド性能は、層状部12が単層かつ厚さがTであることを除き共通の構造を有する試料を同じ方法にて測定した300KHz~1GHzにおける電界シールド性能に比較して高くなっている。この場合、上記KEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける電界シールド性能は、電界用評価治具に試料を配置しないブランクのときの電界シールド性能の50dB以上であることが好ましく、60dB以上であることがより好ましく、70dB以上であることが特に好ましい。この程度の差異が設けられていれば、上記周波数範囲において、所望とする十分な電界シールド性能を備えた電磁波遮蔽カバー3であると言うことができる。
When the above comparison is made by the KEC method (method of the Kansai Electronics Industry Development Center) for evaluating electromagnetic shielding materials using an electric field evaluation jig, the following can be specifically said. That is, the electric field shielding performance at 300 kHz to 1 GHz measured by the KEC method for the present embodiment was obtained by measuring samples having a common structure except that the layered
磁界用評価治具を用いて電磁波シールド材の評価を行うKEC法(関西電子工業振興センターの方法)により、上記の比較を行った場合、具体的には次のことが言える。即ち、本実施形態のものについて上記KEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける磁界シールド性能は、層状部12が単層かつ厚さがTであることを除き共通の構造を有する試料を同じ方法にて測定した300KHz~1GHzにおける磁界シールド性能に比較して高くなっている。この場合、上記KEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける磁界シールド性能は、磁界用評価治具に試料を配置しないブランクのときの磁界シールド性能の20dB以上であることが好ましく、30dB以上であることがより好ましく、40dB以上であることが特に好ましい。この程度の差異が設けられていれば、上記周波数範囲において、所望とする十分な磁界シールド性能を備えた電磁波遮蔽カバー3であると言うことができる。
When the above comparison is made by the KEC method (method of the Kansai Electronics Industry Development Center) for evaluating electromagnetic shielding materials using a magnetic field evaluation jig, the following can be specifically said. That is, the magnetic field shielding performance at 300 kHz to 1 GHz measured by the KEC method for the present embodiment was obtained by measuring samples having a common structure except that the layered
電磁波シールド材の電磁波透過減衰量の評価を行う同軸管法により、上記の比較を行った場合、具体的には次のことが言える。即ち、本実施形態のものについて上記同軸管法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能(電磁波透過減衰量)は、層状部12が単層かつ厚さがTであることを除き共通の構造を有する試料を同じ方法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能に比較して高くなっている。この場合、上記同軸管法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能(電磁波透過減衰量)は、評価治具に試料を配置しないブランクのときの電界シールド性能の50dB以上であることが好ましく、60dB以上であることがより好ましく、70dB以上であることが特に好ましい。この程度の差異が設けられていれば、上記周波数範囲において、所望とする十分な電磁シールド性能を備えた電磁波遮蔽カバー3であると言うことができる。
When the above comparison is made by the coaxial tube method for evaluating the electromagnetic wave transmission attenuation of the electromagnetic wave shielding material, the following can be specifically said. That is, the shielding performance (electromagnetic wave transmission attenuation) at 1 GHz to 6 GHz measured by the above-described coaxial tube method for the present embodiment has the same structure except that the layered
以下、本実施形態をより具体化した実施例を紹介するが、本発明は実施例に限定されるものではない。 Examples that embody the present embodiment more concretely will be introduced below, but the present invention is not limited to the examples.
[実施例1]層状部12に同種金属(アルミニウム)を用いた場合の比較試験1
[Example 1]
実施例1では、KEC法により電界シールド性能の比較試験を行うために、以下に示すいくつかのテストピースを作製した。ここでは、市販のPPS樹脂からなる板材(150mm角、厚さ3.0mm)を基体部11として用いた。そして、基体部11の片面または両面の全体を覆うように、層状部12としてのアルミニウム層をスパッタリングにより形成した。
In Example 1, several test pieces shown below were produced in order to conduct a comparative test of electric field shielding performance by the KEC method. Here, a plate material (150 mm square, 3.0 mm thick) made of commercially available PPS resin was used as the
図3のグラフにおいて「AL_0.1μm_片面」とあるのは、基体部11の片面に0.1μmのアルミニウム層(即ち単層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
In the graph of FIG. 3, "AL_0.1 μm_single side" means that a 0.1 μm aluminum layer (that is, a single layered portion 12) is formed on one side of the
「AL_0.1μm_両面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の両面に0.1μmのアルミニウム層(即ち2層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
“AL_0.1 μm_both sides” means that a 0.1 μm aluminum layer (that is, two layered portions 12) is formed on both surfaces of the
「AL_0.2μm_片面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の片面に0.2μmのアルミニウム層(即ち単層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
“AL — 0.2 μm — one side” means that a 0.2 μm aluminum layer (that is, a single layered portion 12) is formed on one side of the
「AL_0.2μm_両面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の両面に0.2μmのアルミニウム層(即ち2層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
“AL_0.2 μm_both sides” means that 0.2 μm aluminum layers (that is, two layers 12) are formed on both surfaces of the
「AL_0.5μm_片面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の片面に0.5μmのアルミニウム層(即ち単層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
"AL_0.5 μm_single side" means that a 0.5 μm aluminum layer (that is, a single layered portion 12) is formed on one side of the
「AL_0.5μm_両面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の両面に0.5μmのアルミニウム層(即ち2層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
“AL_0.5 μm_both sides” means that a 0.5 μm aluminum layer (that is, two layered portions 12) is formed on both surfaces of the
「AL_1.0μm_片面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の片面に1.0μmのアルミニウム層(即ち単層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
“AL — 1.0 μm — one side” means that a 1.0 μm aluminum layer (that is, a single layered portion 12) is formed on one side of the
「AL_1.0μm_両面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の両面に1.0μmのアルミニウム層(即ち2層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
“AL_1.0 μm_both sides” means that a 1.0 μm aluminum layer (that is, two layered portions 12) is formed on both surfaces of the
また、「PPS」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11のどちらの面にもアルミニウム層が形成されていないもののことを意味している。
Also, "PPS" means that the aluminum layer is not formed on either side of the
「ADC12」とあるのは、PPS樹脂の代わりにアルミダイキャスト製の板材を基体部11として用いたものであって、アルミニウム層が形成されていないものであること意味している。
"
「ブランク」とあるのは、評価治具に何も配置しないで測定を行ったことを意味している。 "Blank" means that the measurement was performed without placing anything on the evaluation jig.
図3のグラフにおいて横軸は周波数(GHz)を示し、縦軸は電界用評価治具を用いたKEC法にて測定された電界シールド性能(dB)を示している。200kHzから1GHzまでの範囲において100kHzごとに電界シールド性能(dB)の値を測定し、その測定値をグラフ上にプロットして、各点を線分で結んだ結果を示す。 In the graph of FIG. 3, the horizontal axis indicates frequency (GHz), and the vertical axis indicates electric field shield performance (dB) measured by the KEC method using an electric field evaluation jig. The value of the electric field shielding performance (dB) is measured every 100 kHz in the range from 200 kHz to 1 GHz, the measured values are plotted on a graph, and the results are shown by connecting each point with a line segment.
図3に示されるように、アルミニウム層が形成されていない「PPS」は「ブランク」と測定値がほぼ同じであり、それゆえ、PPS樹脂からなる基体部11だけでは電界シールド性能が発揮されないことがわかった。
As shown in FIG. 3, the "PPS" in which no aluminum layer is formed has almost the same measurement value as the "blank", and therefore, the electric field shielding performance cannot be exhibited only by the
例えば「AL_0.1μm_両面」については、2層の層状部12の合計厚さがT(即ち0.1μm+0.1μm=0.2μm)の試料であると把握することができる。一方、「AL_0.2μm_片面」については、層状部12が単層かつ厚さがT(即ち0.2μm)であることを除き共通の構造を有する試料であると把握することができる。そして、これらについてKEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける電界シールド性能の測定値を比較したところ、グラフ中「AL_0.1μm_両面」を示す線分のほうが「AL_0.2μm_片面」を示す線分よりも全体的に下方に位置していた。ゆえに「AL_0.1μm_両面」の試料のほうが「AL_0.2μm_片面」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「AL_0.1μm_両面」の試料の電界シールド性能は「ブランク」のときより50dB~60dB程度よくなっており、上記周波数範囲において、所望とする十分な電界シールド性能を備えていると言い得るものであった。
For example, "AL_0.1 μm_both sides" can be grasped as a sample in which the total thickness of the two-layered
また、「AL_0.5μm_両面」の試料と「AL_1.0μm_片面」の試料とで300KHz~1GHzにおける電界シールド性能の測定値を比較したところ、上記と同様の結果、つまり「AL_0.5μm_両面」の試料のほうが「AL_1.0μm_片面」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「AL_0.5μm_両面」の試料の電界シールド性能は「ブランク」のときより50dB~70dB程度よくなっており、上記周波数範囲において、所望とする十分な電界シールド性能を備えていると言い得るものであった。 In addition, when the measured values of the electric field shielding performance at 300 kHz to 1 GHz were compared between the "AL_0.5 μm_double-sided" sample and the "AL_1.0 μm_single-sided" sample, the same results as above were obtained, that is, the "AL_0.5 μm_double-sided" The sample was found to perform better overall than the "AL_1.0 μm_single sided" sample. Incidentally, the electric field shielding performance of the "AL_0.5 μm_both sides" sample is about 50 dB to 70 dB better than that of the "blank" sample, and it can be said that it has the desired and sufficient electric field shielding performance in the above frequency range. It was something.
また、「AL_1.0μm_両面」の試料の300KHz~1GHzにおける電界シールド性能の測定値に至っては、「AL_0.5μm_両面」の測定値よりもさらによい結果が得られた。具体的には、前記測定値が「ブランク」のときより80dB~90dB程度よくなっており、「ADC12」に匹敵する極めて低い値となっていたため、好結果が得られることがわかった。 In addition, the measured value of the electric field shielding performance of the "AL_1.0 μm_double-sided" sample at 300 kHz to 1 GHz was even better than the measured value of "AL_0.5 μm_double-sided". Specifically, the measured value was about 80 dB to 90 dB better than that of "blank", which was extremely low value comparable to "ADC12", so it was found that good results were obtained.
[実施例2]層状部12に同種金属(アルミニウム)を用いた場合の比較試験2
実施例2では、実施例1と同じテストピースを用いて、KEC法により磁界シールド性能の比較試験を行った。図4のグラフにおいて横軸は周波数(GHz)を示し、縦軸は磁界用評価治具を用いたKEC法にて測定された磁界シールド性能(dB)を示している。200kHzから1GHzまでの範囲において100kHzごとに磁界シールド性能(dB)の値を測定し、その測定値をグラフ上にプロットして、各点を線分で結んだ結果を示す。
[Example 2]
In Example 2, using the same test piece as in Example 1, a comparative test of magnetic field shielding performance was conducted by the KEC method. In the graph of FIG. 4, the horizontal axis indicates frequency (GHz), and the vertical axis indicates magnetic field shield performance (dB) measured by the KEC method using a magnetic field evaluation jig. The value of the magnetic field shield performance (dB) is measured every 100 kHz in the range from 200 kHz to 1 GHz, the measured values are plotted on a graph, and the results are shown by connecting each point with a line segment.
図4に示されるように、アルミニウム層が形成されていない「PPS」は「ブランク」と測定値がほぼ同じであり、それゆえ、PPS樹脂からなる基体部11だけでは磁界シールド性能が発揮されないことがわかった。 As shown in FIG. 4, "PPS" in which no aluminum layer is formed has almost the same measurement value as "blank". I found out.
「AL_0.1μm_両面」の試料と「AL_0.2μm_片面」の試料とについてKEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける磁界シールド性能の測定値を比較したところ、グラフ中「AL_0.1μm_両面」を示す線分のほうが「AL_0.2μm_片面」を示す線分よりも全体的に下方に位置していた。ゆえに「AL_0.1μm_両面」の試料のほうが「AL_0.2μm_片面」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「AL_0.1μm_両面」の試料の磁界シールド性能は「ブランク」のときより30dB~50dB程度よくなっており、上記周波数範囲において、所望とする十分な磁界シールド性能を備えていると言い得るものであった。 A comparison of the magnetic field shielding performance values from 300 kHz to 1 GHz measured by the KEC method between the sample of "AL_0.1 μm_both sides" and the sample of "AL_0.2 μm_single side" shows "AL_0.1 μm_both sides" in the graph. The line segment was located entirely below the line segment indicating "AL_0.2 μm_one side". Therefore, it was found that the "AL_0.1 μm_both side" sample gave better overall results than the "AL_0.2 μm_single side" sample. Incidentally, the magnetic field shielding performance of the sample of "AL_0.1μm_both sides" is about 30 dB to 50 dB better than that of the "blank" sample, and it can be said that it has the desired and sufficient magnetic shielding performance in the above frequency range. It was something.
また、「AL_0.5μm_両面」の試料と「AL_1.0μm_片面」の試料とで300KHz~1GHzにおける磁界シールド性能の測定値を比較したところ、上記と同様の結果、つまり「AL_0.5μm_両面」の試料のほうが「AL_1.0μm_片面」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「AL_0.5μm_両面」の試料の磁界シールド性能は「ブランク」のときより60dB~80dB程度よくなっており、上記周波数範囲において、所望とする十分な磁界シールド性能を備えていると言い得るものであった。ちなみに、「AL_0.5μm_両面」の試料の測定値は、「ADC12」に匹敵する極めて低い値となっていた。同様に、「AL_1.0μm_両面」の試料についても同様に、「ADC12」に匹敵する好結果が得られることがわかった。 In addition, when the measured values of the magnetic shielding performance at 300 kHz to 1 GHz were compared between the "AL_0.5 μm_double-sided" sample and the "AL_1.0 μm_single-sided" sample, the same results as above were obtained, that is, the "AL_0.5 μm_double-sided" The sample was found to perform better overall than the "AL_1.0 μm_single sided" sample. By the way, the magnetic shielding performance of the "AL_0.5μm_both sides" sample is about 60 dB to 80 dB better than that of the "blank" sample, and it can be said that it has the desired and sufficient magnetic shielding performance in the above frequency range. It was something. Incidentally, the measured value of the "AL_0.5 μm_both sides" sample was extremely low, comparable to "ADC12". Similarly, it was found that the "AL_1.0 μm_both sides" sample also gave good results comparable to "ADC12".
[実施例3]層状部12に同種金属(アルミニウム)を用いた場合の比較試験3
実施例3では、実施例1と同じ樹脂からなるテストピース(30mm角、厚さ1.0mm)を用いて、同軸管法により電磁シールド性能の比較試験を行った。図5のグラフにおいて横軸は周波数(GHz)を示し、縦軸は専用評価治具を用いた同軸管法にて測定された電磁シールド性能(dB)を示している。1GHzから6GHzまでの範囲において0.5GkHzごとに電磁シールド性能(dB)の値を測定し、その測定値をグラフ上にプロットして、各点を線分で結んだ結果を示す。
[Example 3]
In Example 3, a test piece (30 mm square, 1.0 mm thick) made of the same resin as in Example 1 was used, and a comparison test of electromagnetic shielding performance was performed by the coaxial tube method. In the graph of FIG. 5, the horizontal axis indicates frequency (GHz), and the vertical axis indicates electromagnetic shielding performance (dB) measured by the coaxial tube method using a dedicated evaluation jig. The value of the electromagnetic shielding performance (dB) is measured every 0.5 GkHz in the range from 1 GHz to 6 GHz, the measured values are plotted on a graph, and the results are shown by connecting each point with a line segment.
図5に示されるように、アルミニウム層が形成されていない「PPS」は「ブランク」と測定値がほぼ同じであり、それゆえ、PPS樹脂からなる基体部11だけでは電磁シールド性能が発揮されないことがわかった。
As shown in FIG. 5, "PPS" in which no aluminum layer is formed has almost the same measurement value as "blank", and therefore, the
「AL_0.1μm_両面」の試料と「AL_0.2μm_片面」の試料とについて同軸管法にて測定した1GHz~6GHzにおける電磁シールド性能の測定値を比較したところ、グラフ中「AL_0.1μm_両面」を示す線分のほうが「AL_0.2μm_片面」を示す線分よりも全体的に下方に位置していた。ゆえに「AL_0.1μm_両面」の試料のほうが「AL_0.2μm_片面」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「AL_0.1μm_両面」の試料の電磁シールド性能は「ブランク」のときより70dB~80dB程度よくなっており、上記周波数範囲において、所望とする十分な電磁シールド性能を備えていると言い得るものであった。 When comparing the measured values of the electromagnetic shielding performance at 1 GHz to 6 GHz measured by the coaxial tube method for the sample of "AL_0.1 μm_both sides" and the sample of "AL_0.2 μm_single side", "AL_0.1 μm_both sides" in the graph was compared. The line segment indicating "AL_0.2 μm_single side" was located entirely below the line segment indicating "AL_0.2 μm_single side". Therefore, it was found that the "AL_0.1 μm_both side" sample gave better overall results than the "AL_0.2 μm_single side" sample. By the way, the electromagnetic shielding performance of the "AL_0.1μm_both sides" sample is about 70 dB to 80 dB better than that of the "blank" sample, and it can be said that it has the desired and sufficient electromagnetic shielding performance in the above frequency range. It was something.
また、「AL_0.5μm_両面」の試料と「AL_1.0μm_片面」の試料とで1GHz~6GHzにおける電磁シールド性能の測定値を比較したところ、上記と同様の結果、つまり「AL_0.5μm_両面」の試料のほうが「AL_1.0μm_片面」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「AL_0.5μm_両面」の試料の電磁シールド性能は「ブランク」のときより90dB~110dB程度よくなっており、上記周波数範囲において、所望とする十分な電磁シールド性能を備えていると言い得るものであった。ちなみに、「AL_0.5μm_両面」の試料の測定値は、「ADC12」に匹敵する極めて低い値となっていた。同様に、「AL_1.0μm_両面」の試料についても同様に、「ADC12」に匹敵する好結果が得られることがわかった。 In addition, when the measured values of the electromagnetic shielding performance at 1 GHz to 6 GHz were compared between the "AL_0.5 μm_double-sided" sample and the "AL_1.0 μm_single-sided" sample, the same results as above were obtained. The sample was found to perform better overall than the "AL_1.0 μm_single sided" sample. By the way, the electromagnetic shielding performance of the "AL_0.5μm_both sides" sample is about 90 dB to 110 dB better than that of the "blank" sample, and it can be said that it has the desired and sufficient electromagnetic shielding performance in the above frequency range. It was something. Incidentally, the measured value of the "AL_0.5 μm_both sides" sample was extremely low, comparable to "ADC12". Similarly, it was found that the "AL_1.0 μm_both sides" sample also gave good results comparable to "ADC12".
[実施例4]層状部12に同種金属(ステンレス合金)を用いた場合の比較試験4
試験例4では、層状部12としてアルミニウム層の代わりにステンレス合金層(SUS310)を形成したこと以外については、基本的に上記の実施例1に準拠して比較を行った。
[Example 4]
In Test Example 4, a comparison was made basically based on Example 1 above, except that a stainless alloy layer (SUS310) was formed as the layered
図6のグラフにおいて「SUS310_0.1μm_片面」とあるのは、基体部11の片面に0.1μmのステンレス合金層(即ち単層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
In the graph of FIG. 6, "SUS310_0.1 μm_single side" means that a 0.1 μm stainless steel alloy layer (that is, a single layered portion 12) is formed on one side of the
「SUS310_0.1μm_両面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の両面に0.1μmのステンレス合金層(即ち2層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
"SUS310_0.1 μm_both sides" means that a 0.1 μm stainless steel alloy layer (that is, two layered portions 12) is formed on both surfaces of the
「SUS310_0.2μm_片面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の片面に0.2μmのステンレス合金層(即ち単層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
"SUS310_0.2 μm_one side" means that a 0.2 μm stainless steel alloy layer (that is, a single layered portion 12) is formed on one side of the
「SUS310_0.2μm_両面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の両面に0.2μmのステンレス合金層(即ち2層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
"SUS310_0.2 μm_both sides" means that a 0.2 μm stainless steel alloy layer (that is, two layered portions 12) is formed on both surfaces of the
「SUS310_0.5μm_片面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の片面に0.5μmのステンレス合金層(即ち単層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
"SUS310_0.5 μm_one side" means that a 0.5 μm stainless steel alloy layer (that is, a single layered portion 12) is formed on one side of the
「SUS310_0.5μm_両面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の両面に0.5μmのステンレス合金層(即ち2層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
"SUS310_0.5 μm_both sides" means that a 0.5 μm stainless steel alloy layer (that is, two layered portions 12) is formed on both surfaces of the
「SUS310_1.0μm_片面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の片面に1.0μmのステンレス合金層(即ち単層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
“SUS310 — 1.0 μm — one side” means that a 1.0 μm stainless steel alloy layer (that is, a single layered portion 12) is formed on one side of the
「SUS310_1.0μm_両面」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11の両面に1.0μmのステンレス合金層(即ち2層の層状部12)が形成されたもののことを意味している。
"SUS310_1.0 μm_both sides" means that a 1.0 μm stainless steel alloy layer (that is, two layered portions 12) is formed on both surfaces of the
また、「PPS」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11のどちらの面にもステンレス合金層が形成されていないもののことを意味している。
Further, "PPS" means that the stainless alloy layer is not formed on either surface of the
「ADC12」とあるのは、PPS樹脂の代わりにアルミダイキャスト製の板材を基体部11として用いたものであって、ステンレス合金層が形成されていないものであること意味している。
"ADC12" means that an aluminum die-cast plate material is used as the
「ブランク」とあるのは、評価治具に何も配置しないで測定を行ったことを意味している。 "Blank" means that the measurement was performed without placing anything on the evaluation jig.
図6のグラフにおいて横軸は周波数(GHz)を示し、縦軸は電界用評価治具を用いたKEC法にて測定された電界シールド性能(dB)を示している。200kHzから1GHzまでの範囲において100kHzごとに電界シールド性能(dB)の値を測定し、その測定値をグラフ上にプロットして、各点を線分で結んだ結果を示す。 In the graph of FIG. 6, the horizontal axis indicates frequency (GHz), and the vertical axis indicates electric field shield performance (dB) measured by the KEC method using an electric field evaluation jig. The value of the electric field shielding performance (dB) is measured every 100 kHz in the range from 200 kHz to 1 GHz, the measured values are plotted on a graph, and the results are shown by connecting each point with a line segment.
図6に示されるように、ステンレス合金層が形成されていない「PPS」は「ブランク」と測定値がほぼ同じであり、それゆえ、PPS樹脂からなる基体部11だけでは電界シールド性能が発揮されないことがわかった。
As shown in FIG. 6, the "PPS" in which no stainless alloy layer is formed has almost the same measurement value as the "blank", and therefore, the electric field shielding performance cannot be exhibited only by the
例えば「SUS310_0.1μm_両面」については、2層の層状部12の合計厚さがT(即ち0.1μm+0.1μm=0.2μm)の試料であると把握することができる。一方、「SUS310_0.2μm_片面」については、層状部12が単層かつ厚さがT(即ち0.2μm)であることを除き共通の構造を有する試料であると把握することができる。そして、これらについてKEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける電界シールド性能の測定値を比較したところ、グラフ中「SUS310_0.1μm_両面」を示す線分のほうが「SUS310_0.2μm_片面」を示す線分よりも若干下方に位置していた。ゆえに「SUS310_0.1μm_両面」の試料のほうが「SUS310_0.2μm_片面」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「SUS310_0.1μm_両面」の試料の電界シールド性能は「ブランク」のときより20dB~40dB程度よくなっていた。
For example, "SUS310_0.1 μm_both sides" can be grasped as a sample in which the total thickness of the two-layered
また、「SUS310_0.5μm_両面」の試料と「SUS310_1.0μm_片面」の試料とで300KHz~1GHzにおける電界シールド性能の測定値を比較したところ、上記と同様の結果、つまり「AL_0.5μm_両面」の試料のほうが「SUS310_1.0μm_片面」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「SUS310_0.5μm_両面」の試料の電界シールド性能は「ブランク」のときより40dB~50dB程度よくなっており、上記周波数範囲において、所望とする十分な電界シールド性能を備えていると言い得るものであった。 In addition, when the measured values of the electric field shielding performance at 300 kHz to 1 GHz were compared between the "SUS310_0.5 μm_double-sided" sample and the "SUS310_1.0 μm_single-sided" sample, the same results as above were obtained, that is, the "AL_0.5 μm_double-sided" It was found that the sample gave better results overall than the "SUS310_1.0 μm_single-sided" sample. By the way, the electric field shield performance of the "SUS310_0.5 μm_both sides" sample is about 40 dB to 50 dB better than that of the "blank" sample, and it can be said that it has the desired and sufficient electric field shield performance in the above frequency range. It was something.
また、「SUS310_1.0μm_両面」の試料の300KHz~1GHzにおける電界シールド性能の測定値に至っては、「SUS310_0.5μm_両面」の測定値よりもさらによい結果が得られた。具体的には、前記測定値が「ブランク」のときより50dB~80dB程度よくなっており、上記周波数範囲において、所望とする十分な電界シールド性能を備えていると言い得るものであった。 In addition, the measured value of the electric field shielding performance of the sample of "SUS310_1.0 μm_both sides" at 300 kHz to 1 GHz was even better than the measured value of "SUS310_0.5 μm_both sides". Specifically, the measured value is about 50 dB to 80 dB better than the "blank" value, and it can be said that the desired and sufficient electric field shielding performance is provided in the above frequency range.
[実施例5]層状部12に同種金属(ステンレス合金)を用いた場合の比較試験5
実施例5では、実施例4と同じテストピースを用いて、KEC法により磁界シールド性能の比較試験を行った。図7のグラフにおいて横軸は周波数(GHz)を示し、縦軸は磁界用評価治具を用いたKEC法にて測定された磁界シールド性能(dB)を示している。200kHzから1GHzまでの範囲において100kHzごとに磁界シールド性能(dB)の値を測定し、その測定値をグラフ上にプロットして、各点を線分で結んだ結果を示す。
[Example 5]
In Example 5, using the same test piece as in Example 4, a comparative test of magnetic field shielding performance was conducted by the KEC method. In the graph of FIG. 7, the horizontal axis indicates frequency (GHz), and the vertical axis indicates magnetic field shielding performance (dB) measured by the KEC method using a magnetic field evaluation jig. The value of the magnetic field shield performance (dB) is measured every 100 kHz in the range from 200 kHz to 1 GHz, the measured values are plotted on a graph, and the results are shown by connecting each point with a line segment.
図7に示されるように、ステンレス合金層が形成されていない「PPS」は「ブランク」と測定値がほぼ同じであり、それゆえ、PPS樹脂からなる基体部11だけでは磁界シールド性能が発揮されないことがわかった。
As shown in FIG. 7, "PPS" in which no stainless alloy layer is formed has almost the same measurement value as "blank", and therefore, the magnetic field shielding performance cannot be exhibited only by the
「SUS310_0.5μm_両面」の試料と「SUS310_1.0μm_片面」の試料とについてKEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける磁界シールド性能の測定値を比較したところ、グラフ中「SUS310_0.5μm_両面」を示す線分のほうが「SUS310_1.0μm_片面」を示す線分よりも全体的に下方に位置していた。ゆえに「SUS310_0.5μm_両面」の試料のほうが「SUS310_1.0μm_片面」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「SUS310_0.5μm_両面」の試料の磁界シールド性能は「ブランク」のときより20dB~40dB程度よくなっており、上記周波数範囲において、所望とする十分な磁界シールド性能を備えていると言い得るものであった。ただし、「SUS310_0.1μm_両面」の試料と「SUS310_0.2μm_片面」の試料とを比較した場合においては、上記のような関係性は見られなかった。ゆえに、層状部12としてステンレス合金層を選択した場合には、所望とする磁界シールド性能を得るために、少なくともステンレス合金層各層の厚さを若干厚め(例えば0.5μm以上)に設定する必要があるものと考えられた。
When comparing the measured values of the magnetic field shielding performance at 300 kHz to 1 GHz measured by the KEC method between the "SUS310_0.5 μm_double-sided" sample and the "SUS310_1.0 μm_single-sided" sample, the graph shows "SUS310_0.5 μm_double-sided". The line segment was located entirely below the line segment indicating "SUS310_1.0 μm_single side". Therefore, it was found that the sample of "SUS310_0.5 μm_both sides" is overall better than the sample of "SUS310_1.0 μm_single side". By the way, the magnetic shielding performance of the "SUS310_0.5μm_both sides" sample is about 20 dB to 40 dB better than that of the "blank" sample, and it can be said that it has the desired and sufficient magnetic shielding performance in the above frequency range. It was something. However, when the sample of "SUS310_0.1 μm_both sides" and the sample of "SUS310_0.2 μm_single side" were compared, the above relationship was not observed. Therefore, when a stainless alloy layer is selected as the layered
[実施例6]層状部12に同種金属(ステンレス合金)を用いた場合の比較試験6
実施例6では、実施例4と同じ樹脂からなるテストピース(30mm角、厚さ1.0mm)を用いて、同軸管法により電磁シールド性能の比較試験を行った。図8のグラフにおいて横軸は周波数(GHz)を示し、縦軸は専用評価治具を用いた同軸管法にて測定された電磁シールド性能(dB)を示している。1GHzから6GHzまでの範囲において0.5GkHzごとにシールド性能(dB)の値を測定し、その測定値をグラフ上にプロットして、各点を線分で結んだ結果を示す。
[Example 6]
In Example 6, a test piece (30 mm square, 1.0 mm thick) made of the same resin as in Example 4 was used, and a comparison test of electromagnetic shielding performance was conducted by the coaxial tube method. In the graph of FIG. 8, the horizontal axis indicates frequency (GHz), and the vertical axis indicates electromagnetic shielding performance (dB) measured by the coaxial tube method using a dedicated evaluation jig. The value of the shielding performance (dB) is measured every 0.5 GkHz in the range from 1 GHz to 6 GHz, the measured values are plotted on a graph, and the results are shown by connecting each point with a line segment.
図8に示されるように、ステンレス合金が形成されていない「PPS」は「ブランク」と測定値がほぼ同じであり、それゆえ、PPS樹脂からなる基体部11だけでは電磁シールド性能が発揮されないことがわかった。
As shown in FIG. 8, the "PPS" in which the stainless alloy is not formed has almost the same measurement value as the "blank", and therefore, the
「SUS310_0.1μm_両面」の試料と「SUS310_0.2μm_片面」の試料とについて同軸管法にて測定した1GHz~6GHzにおける電磁シールド性能の測定値を比較したところ、グラフ中「SUS310_0.1μm_両面」を示す線分のほうが「SUS310_0.2μm_片面」を示す線分よりも全体的に下方に位置していた。ゆえに「SUS310_0.1μm_両面」の試料のほうが「SUS310_0.2μm_片面」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「SUS310_0.1μm_両面」の試料の電磁シールド性能は「ブランク」のときより40dB~50dB程度よくなっており、上記周波数範囲において、所望とする十分な電磁シールド性能を備えていると言い得るものであった。 When comparing the measured values of the electromagnetic shielding performance at 1 GHz to 6 GHz measured by the coaxial tube method for the "SUS310_0.1 μm_double-sided" sample and the "SUS310_0.2 μm_single-sided" sample, "SUS310_0.1 μm_double-sided" in the graph was compared. The line segment indicating "SUS310_0.2 μm_single side" was located entirely below the line segment indicating "SUS310_0.2 μm_single side". Therefore, it was found that the sample of "SUS310_0.1 μm_both sides" gave better results overall than the sample of "SUS310_0.2 μm_single side". By the way, the electromagnetic shield performance of the "SUS310_0.1 μm_both sides" sample is about 40 dB to 50 dB better than that of the "blank" sample, and it can be said that it has the desired and sufficient electromagnetic shield performance in the above frequency range. It was something.
また、「SUS310_0.5μm_両面」の試料と「SUS310_1.0μm_片面」の試料とで1GHz~6GHzにおける電磁シールド性能の測定値を比較したところ、上記と同様の結果、つまり「SUS310_0.5μm_両面」の試料のほうが「SUS310_1.0μm_片面」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「SUS310_0.5μm_両面」の試料の電磁シールド性能は「ブランク」のときより50dB~80dB程度よくなっており、上記周波数範囲において、所望とする十分な電磁シールド性能を備えていると言い得るものであった。「SUS310_1.0μm_両面」の試料については、さらに好ましい結果が得られることがわかった。 In addition, when the measured values of the electromagnetic shielding performance at 1 GHz to 6 GHz were compared between the "SUS310_0.5 μm_double-sided" sample and the "SUS310_1.0 μm_single-sided" sample, the same results as above were obtained. It was found that the sample gave better results overall than the "SUS310_1.0 μm_single-sided" sample. By the way, the electromagnetic shielding performance of the "SUS310_0.5μm_both sides" sample is about 50 dB to 80 dB better than that of the "blank" sample, and it can be said that it has the desired and sufficient electromagnetic shielding performance in the above frequency range. It was something. It was found that the sample of "SUS310_1.0 μm_both sides" gave more favorable results.
[実施例7]層状部12に異種金属を用いた場合の比較試験1
[Example 7]
実施例7では、KEC法により電界シールド性能の比較試験を行うために、以下に示すいくつかのテストピースを作製した。ここでは、市販のPPS樹脂からなる板材(150mm角、厚さ3.0mm)を基体部11として用いた。そして、基体部11の片面または両面の全体を覆うように、層状部12としてステンレス合金層と銅層とをそれぞれスパッタリングにより形成した。
In Example 7, several test pieces shown below were produced in order to conduct a comparative test of electric field shielding performance by the KEC method. Here, a plate material (150 mm square, 3.0 mm thick) made of commercially available PPS resin was used as the
図9のグラフにおいて「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」とあるのは、基体部11の一方側の面に0.5μmのステンレス合金層が形成され、かつ他方側の面に0.5μmの銅層が形成されたもののことを意味している。これについては、異種金属からなる2層の層状部12を有するものの、2層の層状部12の間に基体部11が介在されており、両者は離間して配置されている。
In the graph of FIG. 9, “SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_layer” means that a 0.5 μm stainless steel alloy layer is formed on one surface of the
「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_積層」とあるのは、基体部11の一方側の面に0.5μmのステンレス合金層が形成され、かつ同じ側の面にて0.5μmの銅層が積層された状態で形成されたもののことを意味している。これについては、2層の層状部12の間に基体部11が介在されておらず、両者は接して配置されている。従って、単層の層状部12とみなすことができる状態となっている。
"SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_Lamination" means that a 0.5μm stainless steel alloy layer is formed on one side surface of the
また、「PPS」とあるのは、PPS樹脂からなる基体部11のどちらの面にも、ステンレス合金層や銅層が形成されていないもののことを意味している。
Further, "PPS" means that neither a stainless alloy layer nor a copper layer is formed on either side of the
「ADC12」とあるのは、PPS樹脂の代わりにアルミダイキャスト製の板材を基体部11として用いたものであって、ステンレス合金層や銅層が形成されていないものであること意味している。
"ADC12" means that an aluminum die-cast plate material is used as the
「ブランク」とあるのは、評価治具に何も配置しないで測定を行ったことを意味している。 "Blank" means that the measurement was performed without placing anything on the evaluation jig.
図9のグラフにおいて横軸は周波数(GHz)を示し、縦軸は電界用評価治具を用いたKEC法にて測定された電界シールド性能(dB)を示している。200kHzから1GHzまでの範囲において100kHzごとに電界シールド性能(dB)の値を測定し、その測定値をグラフ上にプロットして、各点を線分で結んだ結果を示す。 In the graph of FIG. 9, the horizontal axis indicates the frequency (GHz), and the vertical axis indicates the electric field shield performance (dB) measured by the KEC method using the electric field evaluation jig. The value of the electric field shielding performance (dB) is measured every 100 kHz in the range from 200 kHz to 1 GHz, the measured values are plotted on a graph, and the results are shown by connecting each point with a line segment.
ここで、「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」については、2層の層状部12の合計厚さがT(即ち0.5μm+0.5μm=1.0μm)の試料であると把握することができる。一方、「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_積層」との試料については、ステンレス合金層と銅層とが接して配置されていることから、単層かつ厚さT(即ち1.0μm)であることを除き共通の構造を有する試料とみなすことができる。そして、これらについてKEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける電界シールド性能の測定値を比較したところ、グラフ中「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」を示す線分のほうが「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_積層」を示す線分よりも下方に位置していた。ゆえに「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」の試料のほうが「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_積層」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」の試料の電界シールド性能は「ブランク」のときより70dB~80dB程度よくなっており、「ADC12」の電界シールド性能には及ばないもののそれに準ずる優れたものとなっていた。
Here, it can be understood that "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_layer" is a sample in which the total thickness of the two
[実施例8]層状部12に異種金属を用いた場合の比較試験2
実施例8では、実施例7と同じテストピースを用いて、KEC法により磁界シールド性能の比較試験を行った。図10のグラフにおいて横軸は周波数(GHz)を示し、縦軸は磁界用評価治具を用いたKEC法にて測定された磁界シールド性能(dB)を示している。200kHzから1GHzまでの範囲において100kHzごとに磁界シールド性能(dB)の値を測定し、その測定値をグラフ上にプロットして、各点を線分で結んだ結果を示す。
[Embodiment 8]
In Example 8, using the same test piece as in Example 7, a comparative test of magnetic field shielding performance was conducted by the KEC method. In the graph of FIG. 10, the horizontal axis indicates frequency (GHz), and the vertical axis indicates magnetic field shielding performance (dB) measured by the KEC method using a magnetic field evaluation jig. The value of the magnetic field shield performance (dB) is measured every 100 kHz in the range from 200 kHz to 1 GHz, the measured values are plotted on a graph, and the results are shown by connecting each point with a line segment.
「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」の試料と「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_積層」の試料とについて、KEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける磁界シールド性能の測定値を比較したところ、グラフ中「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」を示す線分のほうが「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_積層」を示す線分よりも下方に位置していた。ゆえに「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」の試料のほうが「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_積層」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」の試料の磁界シールド性能は「ブランク」のときより50dB~60dB程度よくなっており、「ADC12」の磁界シールド性能には及ばないもののそれに準ずる優れたものとなっていた。 A sample of "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_layer" and a sample of "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_laminate" were compared in terms of the magnetic field shield performance measured by the KEC method at 300 kHz to 1 GHz. The line segment indicating "5μ_Cu_0.5μ_layer" was located below the line segment indicating "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_laminate". Therefore, it was found that the sample of "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_layer" gave better results overall than the sample of "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_laminate". By the way, the magnetic shielding performance of the sample of "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_ layer" is about 50dB to 60dB better than that of "blank", and although it does not reach the magnetic shielding performance of "ADC12", it is equivalent to it. was becoming
[実施例9]層状部12に異種金属を用いた場合の比較試験3
実施例9では、実施例7と同じ樹脂からなるテストピース(30mm角、厚さ1.0mm)を用いて、同軸管法により電磁シールド性能の比較試験を行った。図11のグラフにおいて横軸は周波数(GHz)を示し、縦軸は専用評価治具を用いた同軸管法にて測定された電磁シールド性能(dB)を示している。1GHzから6GHzまでの範囲において0.5GkHzごとに電磁シールド性能(dB)の値を測定し、その測定値をグラフ上にプロットして、各点を線分で結んだ結果を示す。
[Example 9]
In Example 9, a test piece (30 mm square, 1.0 mm thick) made of the same resin as in Example 7 was used, and a comparison test of electromagnetic shielding performance was conducted by the coaxial tube method. In the graph of FIG. 11, the horizontal axis indicates frequency (GHz), and the vertical axis indicates electromagnetic shielding performance (dB) measured by the coaxial tube method using a dedicated evaluation jig. The value of the electromagnetic shielding performance (dB) is measured every 0.5 GkHz in the range from 1 GHz to 6 GHz, the measured values are plotted on a graph, and the results are shown by connecting each point with a line segment.
「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」の試料と「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_積層」の試料とについて、同軸管法にて測定した1GHz~6GHzにおける電磁シールド性能の測定値を比較したところ、グラフ中「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」を示す線分のほうが「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_積層」を示す線分よりも下方に位置していた。ゆえに「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」の試料のほうが「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_積層」の試料よりも全体的に好結果となることがわかった。ちなみに、「SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_階層」の試料の電磁シールド性能は「ブランク」のときより90dB~110dB程度よくなっており、「ADC12」の電磁シールド性能に匹敵する優れたものとなっていた。 When comparing the measured values of the electromagnetic shielding performance at 1 GHz to 6 GHz measured by the coaxial tube method for the sample of "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_layer" and the sample of "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_laminate", the graph shows "SUS_0 The line segment indicating ".5μ_Cu_0.5μ_layer" was positioned lower than the line segment indicating "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_layer". Therefore, it was found that the sample of "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_layer" gave better results overall than the sample of "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_laminate". By the way, the electromagnetic shielding performance of the sample of "SUS_0.5μ_Cu_0.5μ_ layer" is about 90 dB to 110 dB better than that of "blank", and is comparable to the electromagnetic shielding performance of "ADC12".
[結論] [Conclusion]
従って、本実施の形態によれば以下の効果を得ることができる。 Therefore, according to this embodiment, the following effects can be obtained.
(1)本実施形態の電磁波遮蔽カバー3は、基体部11と複数層の層状部12とを備えるとともに、複数層の層状部12が積層方向に互いに離間して配置されていることを特徴とする。そして、このような配置によると、層状部12が単層の場合よりも高いシールド性能(面方向に対するシールド性能)を付与することができ、電磁波を効果的に遮蔽することができる。よって、層状部12の厚さを抑えつつ、所望とする電磁シールド性能を付与することが可能となる。
(1) The electromagnetic
(2)本実施形態では、複数層の層状部12の合計厚さをTとした場合において、評価治具を用いて測定したシールド性能が、層状部12が単層かつ厚さがTであることを除き共通の構造を有する試料を同じ方法にて測定したシールド性能に比較して高くなっている。このため、層状部が単層の場合よりもシールド性能が高いにもかかわらず、複数層の層状部の合計厚さを少なくすることができ、ひいては低コスト化、軽量化を図ることができる。
(2) In the present embodiment, when the total thickness of the layered
(3)本実施形態では、複数層の層状部12が基体部11の表面11a及び裏面11bを覆うことにより、電磁波の方向によらず良好なシールド性能を得ることができる。また、複数層の層状部12が形成される場所が基体部11の内層ではなく表層であるため、層状部12を比較的容易に形成することができ、両者の離間距離も確保しやすくなる。
(3) In the present embodiment, by covering the
(4)本実施形態では、基体部11が熱可塑性樹脂製の射出成形体であることから、成形性、コスト性、軽量性、加工性、絶縁性等に優れた基体部11とすることができ、様々な用途に適用可能な電磁波遮蔽カバー3とすることができる。
(4) In the present embodiment, since the
(6)本実施形態では、複数層の層状部12がスパッタリング層であることを特徴とする。スパッタリング層は表面が平滑であることに加え、層状部12の密着性を確保しやすいというメリットがある。また、バリが出ないので異物混入のおそれもない。それゆえ、薄くしたときでも高いシールド性能を付与することができる。
(6) This embodiment is characterized in that the layered
(7)本実施形態では、基体部11がPPS樹脂製の射出成形体であり、複数層の層状部12がアルミニウムで形成されている。アルミニウムは比較的安価な金属であるためコスト低減に寄与するとともに、比較的軽量であるため全体の軽量化にも寄与する。また、PPS樹脂は汎用品で比較的安価であることに加え、アルミニウムをはじめ多くの金属材料との相性もよく、層状部12の密着性を向上させることができる。特に本実施形態では、複数層の層状部12であるアルミニウム層を厚さ0.2μm以下にすることができる。この場合、極めて薄い層状部となるので、効果的に低コスト化、軽量化を図ることができる。
(7) In the present embodiment, the
次に、特許請求の範囲に記載された技術的思想のほかに、前述した各実施の形態によって把握される技術的思想を以下に列挙する。 Next, in addition to the technical ideas described in the claims, technical ideas grasped by each of the above-described embodiments are listed below.
(1)請求項1乃至8のいずれか1項において、複数層の前記層状部は、前記基体部よりも薄いこと。
(2)請求項1乃至8のいずれか1項において、前記基体部は絶縁体であること。
(3)請求項1乃至8のいずれか1項において、前記基体部は、無機繊維を含むPPS樹脂により形成されていること。
(4)請求項1乃至8のいずれか1項において、複数層の前記層状部は、各層の厚さが等しいこと。
(5)請求項1乃至8のいずれか1項において、複数層の前記層状部は、各層の厚さが異なること。
(6)請求項1乃至8のいずれか1項において、複数層の前記層状部は、同種の金属材料からなること。
(7)請求項1乃至8のいずれか1項において、複数層の前記層状部は、異種の金属材料からなること。
(8)請求項1乃至8のいずれか1項において、前記電磁波遮蔽体は、1GHz以上の電磁波に晒されるものであること。
(9)請求項1乃至8のいずれか1項において、前記複数層の層状部は、前記基体部を形成する材料よりも導電率が高い材料からなること。
(10)請求項1乃至8のいずれか1項において、前記複数層の層状部は、前記基体部を形成する材料よりも透磁率が高い材料からなること。
(11)請求項1乃至8のいずれか1項において、複数層の前記層状部の合計厚さをTとした場合において、電界用評価治具を用いて電磁波シールド材の評価を行うKEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける電界シールド性能が、前記層状部が単層かつ厚さがTであることを除き共通の構造を有する試料を同じ方法にて測定した300KHz~1GHzにおける電界シールド性能に比較して高いこと。
(12)上記思想11において、前記電界用評価治具を用いて電磁波シールド材の評価を行うKEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける電界シールド性能が、前記電界用評価治具に試料を配置しないブランクのときの電界シールド性能の60dB以上であること。
(13)請求項1乃至8のいずれか1項において、複数層の前記層状部の合計厚さをTとした場合において、磁界用評価治具を用いて電磁波シールド材の評価を行うKEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける磁界シールド性能が、前記層状部が単層かつ厚さがTであることを除き共通の構造を有する試料を同じ方法にて測定した300KHz~1GHzにおける磁界シールド性能に比較して高いこと。
(14)上記思想13において、前記磁界用評価治具を用いて電磁波シールド材の評価を行うKEC法にて測定した300KHz~1GHzにおける磁界シールド性能が、前記磁界用評価治具に試料を配置しないブランクのときの磁界シールド性能の30dB以上であること。
(15)請求項1乃至8のいずれか1項において、複数層の前記層状部の合計厚さをTとした場合において、評価治具を用いて電磁波シールド材の電磁波透過減衰量の評価を行う同軸管法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能(電磁波透過減衰量)が、前記層状部が単層かつ厚さがTであることを除き共通の構造を有する試料を同じ方法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能に比較して高いこと。
(16)上記思想15において、評価治具を用いて電磁波シールド材の電磁波透過減衰量の評価を行う同軸管法にて測定した1GHz~6GHzにおける電磁シールド性能(電磁波透過減衰量)が、前記評価治具に試料を配置しないブランクのときの電磁シールド性能の60dB以上であること。
(1) In any one of
(2) In any one of
(3) In any one of
(4) In any one of
(5) In any one of
(6) In any one of
(7) In any one of
(8) In any one of
(9) In any one of
(10) In any one of
(11) In any one of
(12) In the
(13) In any one of
(14) In the above idea 13, the magnetic field shielding performance at 300 kHz to 1 GHz measured by the KEC method for evaluating the electromagnetic shielding material using the magnetic field evaluation jig does not place the sample on the magnetic field evaluation jig. 30 dB or more of magnetic field shielding performance when blank.
(15) In any one of
(16) In the above idea 15, the electromagnetic shielding performance (electromagnetic wave transmission attenuation) at 1 GHz to 6 GHz measured by the coaxial tube method that evaluates the electromagnetic wave transmission attenuation of the electromagnetic shielding material using an evaluation jig is the above evaluation. 60 dB or more of the electromagnetic shielding performance when the jig is blank with no sample placed on it.
1…車両搭載用の電子機器筐体
3…電磁波遮蔽体としての電磁波遮蔽カバー
11…基体部
11a…表面
11b…裏面
12…層状部
T…複数層の層状部の合計厚さ
DESCRIPTION OF
Claims (3)
表面及び裏面を有する厚さ1.0mm以上のPPS樹脂製の射出成形体である基体部と、
前記基体部を形成する材料とは導電率が異なる材料からなり、前記基体部の面方向に沿って形成され、前記基体部の前記表面上及び裏面上にて前記表面及び前記裏面を覆うように形成されることで積層方向に互いに厚さ1.0mm以上離間して配置された複数層の層状部と
を備えるとともに、
複数層の前記層状部は、いずれもスパッタリングにより形成されたアルミニウム層であるとともに、それぞれが0.1μm以上1.0μm以下の等しい厚さであり、
複数層の前記層状部の合計厚さをTとした場合において、評価治具を用いて電磁波シールド材の電磁波透過減衰量の評価を行う同軸管法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能である電磁波透過減衰量が、前記層状部が単層かつ厚さがTであることを除き共通の構造を有する試料を同じ方法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能に比較して高いとともに、前記評価治具に試料を配置しないブランクのときの電磁シールド性能の60dB以上である
ことを特徴とする電磁波遮蔽体。 An electromagnetic wave shield exposed to electromagnetic waves of 1 GHz or higher ,
a base portion which is an injection-molded PPS resin body having a thickness of 1.0 mm or more and having a front surface and a back surface;
It is made of a material having conductivity different from that of the material forming the base portion, is formed along the surface direction of the base portion, and covers the front surface and the back surface on the front surface and the back surface of the base portion. A plurality of layered portions arranged with a thickness of 1.0 mm or more apart from each other in the stacking direction by being formed ,
The layered portions of the plurality of layers are all aluminum layers formed by sputtering, and each has an equal thickness of 0.1 μm or more and 1.0 μm or less,
Shield performance at 1 GHz to 6 GHz measured by the coaxial tube method for evaluating the electromagnetic wave transmission attenuation amount of the electromagnetic wave shielding material using an evaluation jig, where T is the total thickness of the layered portion of the plurality of layers. The electromagnetic wave transmission attenuation amount is high compared to the shielding performance at 1 GHz to 6 GHz measured by the same method for samples having a common structure except that the layered portion is a single layer and the thickness is T, and the evaluation It is 60 dB or more of the electromagnetic shielding performance when the jig is blank without a sample placed on it.
An electromagnetic wave shield characterized by:
表面及び裏面を有する厚さ1.0mm以上のPPS樹脂製の射出成形体である基体部と、 a base portion which is an injection-molded PPS resin body having a thickness of 1.0 mm or more and having a front surface and a back surface;
前記基体部を形成する材料とは導電率が異なる材料からなり、前記基体部の面方向に沿って形成され、前記基体部の前記表面上及び裏面上にて前記表面及び前記裏面を覆うように形成されることで積層方向に互いに厚さ1.0mm以上離間して配置された複数層の層状部と It is made of a material having conductivity different from that of the material forming the base portion, is formed along the surface direction of the base portion, and covers the front surface and the back surface on the front surface and the back surface of the base portion. A plurality of layered parts arranged with a thickness of 1.0 mm or more apart from each other in the lamination direction by being formed
を備えるとともに、and
複数層の前記層状部は、スパッタリングにより形成された0.2μm以上1.0μm以下の第1のステンレス合金層と、スパッタリングにより形成された0.2μm以上1.0μm以下の第2のステンレス合金層または0.5μmの銅層とであるとともに、前記第2のステンレス合金層または前記銅層が前記第1のステンレス合金層と等しい厚さであり、 The layered portion of the plurality of layers includes a first stainless alloy layer of 0.2 μm or more and 1.0 μm or less formed by sputtering and a second stainless alloy layer of 0.2 μm or more and 1.0 μm or less formed by sputtering. or a copper layer of 0.5 μm, and the second stainless alloy layer or the copper layer has the same thickness as the first stainless alloy layer,
複数層の前記層状部の合計厚さをTとした場合において、評価治具を用いて電磁波シールド材の電磁波透過減衰量の評価を行う同軸管法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能である電磁波透過減衰量が、前記層状部が単層かつ厚さがTであることを除き共通の構造を有する試料を同じ方法にて測定した1GHz~6GHzにおけるシールド性能に比較して高いとともに、前記評価治具に試料を配置しないブランクのときの電磁シールド性能の50dB以上である Shield performance at 1 GHz to 6 GHz measured by the coaxial tube method for evaluating the electromagnetic wave transmission attenuation amount of the electromagnetic wave shielding material using an evaluation jig, where T is the total thickness of the layered portion of the plurality of layers. The electromagnetic wave transmission attenuation amount is high compared to the shielding performance at 1 GHz to 6 GHz measured by the same method for samples having a common structure except that the layered portion is a single layer and the thickness is T, and the evaluation 50 dB or more of the electromagnetic shielding performance when the jig is blank with no sample placed on it
ことを特徴とする電磁波遮蔽体。An electromagnetic wave shield characterized by:
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